JPH0216289Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 この考案は、受信信号周波数選択性のあるレベ
ル測定装置に係わり、特に、標準信号発生器を備
え、その出力により高確度に利得校正ができるよ
うにされたレベル測定装置に関する。

一般に、微少な受信信号の測定装置にみられる
ように周波数選択性のあるレベル測定装置は、測
定信号周波数が変わると、同一レベルの信号でも
特に、レベル測定器を構成する高周波増幅部、周
波数変換部の利得が変動し、その結果、確度の高
いレベル測定を行うことが困難になる。

そこで、測定前に標準の信号を入力してレベル
測定装置の利得校正をすることが必要になる。

第１図はかゝる周波数選択性のあるレベル測定
装置の一例を示したもので、１は測定入力端子、
２は校正用の標準信号発生器、３は同調回路をも
つた高周波増幅部、４は周波数変換部、５は局部
発振器、６は中間周波増幅器、７は通過帯域を制
限するためのフイルタ（BPF）、８は中間周波増
幅部器の出力レベルを検出する検波器、９は利得
調整が可能な増幅器、１０は指示計を示す。

なお、SWは測定又は校正の切替えを行うスイ
ツチである。

このような構成のレベル測定装置は、通常、測
定すべき信号の周波数に同調した状態で、スイツ
チSWを校正側に接続し、被測定信号周波数と同
一の信号を標準信号発生器２から供給してレベル
測定装置の利得調整を行い、再びスイツチSWを
測定入力端子１側に接続して被測定信号のレベル
を指示計１０によつて読む。

この場合、前記標準信号発生器２としては被測
定信号と同一の周波数を出力することができる標
準正弦波信号発生器を使用すればよいが、かゝる
発生器は部品点数が多く、かつ、高価であり、測
定装置内に組み込むと測定装置が大形化し、重量
が増加するという欠点がある。

そこで、均一なレベルを持つた多数の高調波信
号を発生するパルス発生器を前記標準信号発生器
２として利用することが考えられている。

この方法は、第２図ａに示すように高周波増幅
器３の同調回路の帯域幅BW₁の中に多数の一定
レベルを持つた高調波（信号）₁，₂，……，_o
が同時に入るようなパルス発生器を標準信号発生
器２として使用するもので、このようなパルス発
生器はそのくり返し周期を厳密に設定する必要は
なく、かつ、デジタル回路で構成できるので測定
装置内に容易に組み込むことができるというメリ
ツトがある。

しかしながら、校正時に多数の高調波信号が同
時に入力されることになるので、中間周波増幅器
６及びフイルタ７を通過する高調波の数も第２図
ｂに示すように多くなり、測定すべき信号の帯域
幅BW₂をイ、又はロに示すように変化すると、
パルスの高周波の数が変化し、校正用信号源のレ
ベルが等価的に変化するという問題がある。

さらに、広帯域に高調波が分布している信号が
加わることになるので、通過帯域制限用のフイル
タ以前の回路で飽和する可能性があり、入出力特
性が直線的にならないという問題もある。

この考案は、かゝる実状にかんがみてなされた
もので、標準信号発生器として使用するパルス発
生器の周波数精度を向上して、その高調波スペク
トラムの位置が明確になるように設定し、校正時
にレベル測定装置の通過帯域内には１個の高調波
信号のみが存在するようにしたレベル測定装置を
提供するものである。

以下、この考案のレベル測定装置を図面に基づ
いて説明する。

第３図はこの考案の一実施例を示すレベル測定
回路のブロツク図を示したもので、１〜１０は第
１図で説明したブロツクと同一部分を示す。

この図において、標準信号発生器２としては極
細のパルスを発生するパルス発生器２ａと、該パ
ルス発生器２ａのくり返し周波数を規制する水晶
発振器２ｂによつて構成されている。

パルス発生器２ａの周波数は、従来のものに
比較して高くしてあり、例えば被測定周波数範囲
が300〜1000MHzの場合、従来の10KHz位に対し
て200KHz位のものが選ばれる。

したがつて、第４図ａに示すように高周波増幅
器３の選択周波数の帯域幅BW₁が数ＫHzとする
と、パルス発生器２ａから出力され、高周波増幅
器３に入力される高調波信号の数はおよそ
BW₁（ＭHz）／0.2（ＭHz）となり、５〜８個位の高調波
信号が 標準信号として入力される。そして、この信号
は、周波数変換器４において中間周波に変換さ
れ、帯域がほぼ120KHzとなつている中間周波増
幅器６に入力されると、フイルタ７に出力される
信号は第４図ｂに示すようにただ１つの高調波信
号_kのみとなる。

したがつて、この高調波信号_kが検出された時
にそのレベルが最大になるように局部発振器５の
周波数を微調（120KHz以内）すれば、このとき、
前記高調波信号_kは中間周波数の通過帯域幅
BW₂の中央に位置することになり、この点で増
幅器９の利得を調整して指示計１０が所定の指示
値を示すように調整して校正を完了する。

次に、スイツチSWを測定入力端子側に接続す
ると、被測定信号のレベルが正確に指示計１０で
読みとれることになる。

この場合、被測定信号の周波数_xと校正時に標
準信号となつている高調波信号_kは完全に一致し
ないこともあるが、その差は多くとも100KHz以
下にすぎない。したがつて、高周波増幅器３の選
択周波数帯域幅BW₁内では、第４図ａにみられ
るようにほとんど同一の信号レベルで出力される
ので、校正が正確に行われる。

以上説明したように、この考案のレベル測定装
置は、標準信号源となるパルス発生器の高調波ス
ペクトラム間隔が、レベル測定装置内の通過帯域
幅を制限している中間周波増幅部のバンド幅より
広く選ばれているので、レベル校正時に出力され
るパルス発生器の高調波成分は１つだけ標準信号
源として検出され、その信号成分（単一の正弦
波）が通過帯域内の中心となつたときに校正する
ことができる。そのため、電界強度測定器に見ら
れるように低レベルで、かつ、占有帯域の未知な
電波を測定する際にも、帯域を可変としながら正
確な測定が行われるという利点を有する。また、
パルス発生器の高調波スペクトラムの間隔を、従
来の方式のものより広く選ぶことにより、中間周
波増幅部の通過帯域制限用のフイルタ以前の回路
に入力されるパルス信号の振幅を減少させること
ができるので、回路の飽和のおそれを軽減でき
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来のレベル測定装置の概要を示すブ
ロツク図、第２図ａ，ｂはそれぞれ校正用の高調
波信号と高調波増幅部、及び中間周波増幅部の帯
域幅の関係を示す図、第３図はこの考案の一実施
例を示すレベル測定装置のブロツク図、第４図
ａ，ｂはこの考案の校正用の高調波信号と、高周
波増幅部、及び中間周波増幅部の帯域幅の関係を
示す図である。 図中、１は測定入力端子、２ａはパルス発生
器、３は高周波増幅器、４は周波数変換器、５は
局部発振器、６は中間周波増幅器、７はフイル
タ、８は検波器、９は増幅器、１０は指示計を示
す。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 被測定信号を増幅する高周波増幅部と、局部発
   振器と、該高周波増幅部の出力と前記局部発振器
   の出力とを混合し、中間周波信号を生成する周波
   数変換部と、所定の帯域幅で前記中間周波信号を
   増幅する中間周波増幅部と、該中間周波増幅部で
   抽出された信号のレベルを検出する検波部と、該
   検波部の出力レベルを増幅して指示する指示部
   と、前記高周波増幅部に所定のレベルの信号を出
   力し、被測定信号の指示を校正するための標準信
   号発生器を備えたレベル測定装置において： 前記標準信号発生器が、均一なレベルの多数の
   高調波信号を前記所定の帯域幅より大なる周波数
   間隔で発生するパルス発生器で構成され、校正時
   に前記高調波信号の１波のみが前記中間周波増幅
   部の帯域内を通過するようになされていることを
   特徴とするレベル測定装置。