JPH0192634A - 半導体差圧センサ - Google Patents
半導体差圧センサInfo
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- JPH0192634A JPH0192634A JP24961487A JP24961487A JPH0192634A JP H0192634 A JPH0192634 A JP H0192634A JP 24961487 A JP24961487 A JP 24961487A JP 24961487 A JP24961487 A JP 24961487A JP H0192634 A JPH0192634 A JP H0192634A
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 43
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- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 abstract description 32
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- 238000005452 bending Methods 0.000 abstract description 10
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 abstract 1
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- Measuring Fluid Pressure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、シリコンなどの半導体単結晶の持つピエゾ抵
抗効果を利用して差圧を電気信号に変換する半導体差圧
センサー係り、特に静圧の影響を除去した半導体差圧セ
ンサに関する。
抗効果を利用して差圧を電気信号に変換する半導体差圧
センサー係り、特に静圧の影響を除去した半導体差圧セ
ンサに関する。
〈従来の技術〉
第4図は従来の半導体差圧センサの構成を示す部分縦断
面図である。
面図である。
10はn形のシリコン単結晶で作られた有底円筒状のセ
ンサチップであり、このセンサデツプ10は周囲に固定
部11を有しこの固定部11の内部側に凹部12を形成
して厚さが薄くなった底部に起歪部13が形成されてい
る。
ンサチップであり、このセンサデツプ10は周囲に固定
部11を有しこの固定部11の内部側に凹部12を形成
して厚さが薄くなった底部に起歪部13が形成されてい
る。
この起歪部13の上面には伝導形がP形として不純物の
拡散によりピエゾ抵抗効果を示すゲージ14が形成され
ている。
拡散によりピエゾ抵抗効果を示すゲージ14が形成され
ている。
センサチップ10の固定部11は中央に導圧孔15を持
つガラス基板16に陽極接合などにより接合され、セン
サチップ10とガラス基板16とのセンサ結合体17を
構成している。
つガラス基板16に陽極接合などにより接合され、セン
サチップ10とガラス基板16とのセンサ結合体17を
構成している。
この導圧孔15には圧力P1を導入するヂュ−ブ18が
挿入され、このチューブ18はケース19に接合されて
いる。
挿入され、このチューブ18はケース19に接合されて
いる。
ケース19は、その下部には有底円筒部20が設けられ
、上部の開放端は閉塞板21で密閉され、その内部に密
閉空間22を形成している。そして、この密閉空間22
の中にセンサ結合体17が収納されている。
、上部の開放端は閉塞板21で密閉され、その内部に密
閉空間22を形成している。そして、この密閉空間22
の中にセンサ結合体17が収納されている。
右底円筒部20の底部22には支持部23があり、その
中央にはチューブ18が貫通し、このチューブ18に平
行して密閉空間22に開放する導圧孔24が形成され、
この導圧孔24には圧力P2が導入される。
中央にはチューブ18が貫通し、このチューブ18に平
行して密閉空間22に開放する導圧孔24が形成され、
この導圧孔24には圧力P2が導入される。
以上のように構成された半導体差圧センサはチューブ1
8に導入された圧力P1が四部12に印加され、導圧孔
24を介して導入された圧力P2はセンサ結合体17の
外周面に一様に印加される。
8に導入された圧力P1が四部12に印加され、導圧孔
24を介して導入された圧力P2はセンサ結合体17の
外周面に一様に印加される。
この結果、圧力P1と圧力P2との差圧により起歪部1
3が歪みこれに伴ないゲージ14がピエゾ抵抗効果によ
りその抵抗値を変更して対応する出力を出す。
3が歪みこれに伴ないゲージ14がピエゾ抵抗効果によ
りその抵抗値を変更して対応する出力を出す。
これと同時にセンサ結合体17には圧力P、とP2の平
均の圧力が全体として静圧として印加される。
均の圧力が全体として静圧として印加される。
〈発明が解決しようとする問題点〉
しかしながら、この様な半導体圧力センサは以下に説明
する問題点がある。
する問題点がある。
既に説明したように、センサチップ10とガラス基板1
6の周囲には静圧として(PI +P2 )/2の大き
さの圧力が印加されている。
6の周囲には静圧として(PI +P2 )/2の大き
さの圧力が印加されている。
一方、ガラス基板16を構成するガラスの圧縮率KIは
センサチップ10を構成するシリコンの圧縮率に2の2
倍の大きさを持つ。
センサチップ10を構成するシリコンの圧縮率に2の2
倍の大きさを持つ。
従って、高圧力下で差圧を測定する場合には、第5図(
イ)に点線で示すようにセンサチップ10とガラス基板
16は共に圧縮されるが、センサデツプ10の圧縮量は
ガラス基板16の圧縮量に比べて小さい。このため、第
5図(ロ)に示すようにセンサチップ10側に突出する
ようにして湾曲する。
イ)に点線で示すようにセンサチップ10とガラス基板
16は共に圧縮されるが、センサデツプ10の圧縮量は
ガラス基板16の圧縮量に比べて小さい。このため、第
5図(ロ)に示すようにセンサチップ10側に突出する
ようにして湾曲する。
いま、センサチップ10とガラス基板16とを合体した
ときの中立軸をN1センサチップ10とガラス基板16
との圧縮率の差に起因する圧縮力をF T 、中立軸N
と接合面までの距離をη1とすれば、曲げモーメントM
、は M+=F 盲 η 1 となるが、この曲げモーメントM1により起歪部13が
変形しこれによりゲージ14が歪み・、ゼロ点が変化す
るという問題がある。これはPI =P2のときでも同
様な関係となる。
ときの中立軸をN1センサチップ10とガラス基板16
との圧縮率の差に起因する圧縮力をF T 、中立軸N
と接合面までの距離をη1とすれば、曲げモーメントM
、は M+=F 盲 η 1 となるが、この曲げモーメントM1により起歪部13が
変形しこれによりゲージ14が歪み・、ゼロ点が変化す
るという問題がある。これはPI =P2のときでも同
様な関係となる。
〈問題点を解決するための手段〉
この発明は、以上の問題点を解決するために、固定部の
内側に四部が形成されて単結晶の厚さの薄くなった起歪
部とこの起歪部に形成されピエゾ抵抗効果により抵抗値
が変化するゲージとを有するセンサチップと、このセン
サチップの凹部を閉塞して接合されこの四部に開口して
第1圧力を導入する第1導圧孔を持つ第1基板と、セン
サチップに対してこの第1基板とは反対側の面でセンサ
チップに接合され起歪部に開口して第2圧力を導入する
第2導圧孔を持つ第2基板とを有し、センサチップと第
1、第2基板とを接合したセンサ結合体の中立軸がセン
サチップの厚さの1/2になるように第1、第2基板を
センサチップに接合するようにしたものである。
内側に四部が形成されて単結晶の厚さの薄くなった起歪
部とこの起歪部に形成されピエゾ抵抗効果により抵抗値
が変化するゲージとを有するセンサチップと、このセン
サチップの凹部を閉塞して接合されこの四部に開口して
第1圧力を導入する第1導圧孔を持つ第1基板と、セン
サチップに対してこの第1基板とは反対側の面でセンサ
チップに接合され起歪部に開口して第2圧力を導入する
第2導圧孔を持つ第2基板とを有し、センサチップと第
1、第2基板とを接合したセンサ結合体の中立軸がセン
サチップの厚さの1/2になるように第1、第2基板を
センサチップに接合するようにしたものである。
く作 用〉
センサチップと第1、第2基板とを結合したセンサ結合
体の中立軸がセンサチップの厚さの1/2になるように
第1、第2基板をセンサチップに互いに対向して接合し
て、静圧に対する曲げモーメントがセンサ結合体に発生
しないようにして静圧誤差を低減する。
体の中立軸がセンサチップの厚さの1/2になるように
第1、第2基板をセンサチップに互いに対向して接合し
て、静圧に対する曲げモーメントがセンサ結合体に発生
しないようにして静圧誤差を低減する。
〈実施例〉
以下、本発明の実施例について図面に基づいて説明する
。なお、従来技術と同一の機能をする部分には同一の記
号を付して適宜にその説明を省略する。
。なお、従来技術と同一の機能をする部分には同一の記
号を付して適宜にその説明を省略する。
第1図は本発明の1実施例の構成を示す部分縦断面図で
ある。
ある。
25はn形のシリコン単結晶で作られた有底円筒状のセ
ンサチップであり、このセンサチップ25は周囲に固定
部26を有しこの固定部26の内部側に凹部27を形成
して厚さが薄くなった底部に起歪部28が形成されてい
る。
ンサチップであり、このセンサチップ25は周囲に固定
部26を有しこの固定部26の内部側に凹部27を形成
して厚さが薄くなった底部に起歪部28が形成されてい
る。
この起歪部28の上面には伝導形がP形として不純物の
拡散によりピエゾ抵抗効果を示すゲージ29が形成され
ている。
拡散によりピエゾ抵抗効果を示すゲージ29が形成され
ている。
この凹部27を覆うように中心部に圧力P、を導入する
導圧孔30をもつガラス基板31がセンサチップ25の
固定部26の下端に例えば陽極接合などにより接合され
ている。
導圧孔30をもつガラス基板31がセンサチップ25の
固定部26の下端に例えば陽極接合などにより接合され
ている。
また、センサチップ25の上面には起歪部28を覆うよ
うにセンサチップ25と対向する面に凹部32を持ち、
かつ中心部に圧力P2を導入する導圧孔33を持つガラ
ス基板34が接合されている。
うにセンサチップ25と対向する面に凹部32を持ち、
かつ中心部に圧力P2を導入する導圧孔33を持つガラ
ス基板34が接合されている。
これ等のセンサチップ25の上下の両側に接合されたガ
ラス基板31.34でセンサ結合体35を構成している
。この場合に、センサチップ25とガラス基板31と3
4を結合したセンサ結合体35の曲げの中立軸Nがセン
サチップの厚さTの1/2の位置になるようにガラス基
板31と34の厚さが選定される。なお、ガラス基板3
1.34はセンサチップ25の熱膨張係数と良くあった
材料を用いると良い。
ラス基板31.34でセンサ結合体35を構成している
。この場合に、センサチップ25とガラス基板31と3
4を結合したセンサ結合体35の曲げの中立軸Nがセン
サチップの厚さTの1/2の位置になるようにガラス基
板31と34の厚さが選定される。なお、ガラス基板3
1.34はセンサチップ25の熱膨張係数と良くあった
材料を用いると良い。
ケース36は、その下部には有底円筒部37が設けられ
、上部の開放端は閉塞板38で密閉され、その内部に密
閉空間39を形成している。そして、この密閉空間39
の中にセンサ結合体35が収納されている。
、上部の開放端は閉塞板38で密閉され、その内部に密
閉空間39を形成している。そして、この密閉空間39
の中にセンサ結合体35が収納されている。
有底円筒部37の底部40には支持部41があり、その
中央には凸部42が形成されこの中心に導圧孔43が穿
設されている。この凸部42にはセンサ結合体35が充
分に剛性が小さくケース35の変形がきかない接着剤で
固定されている。
中央には凸部42が形成されこの中心に導圧孔43が穿
設されている。この凸部42にはセンサ結合体35が充
分に剛性が小さくケース35の変形がきかない接着剤で
固定されている。
さらに、この導圧孔43に平行して密閉空間39に開放
する導圧孔44が形成され、この導圧孔44には圧力P
2が導入される。
する導圧孔44が形成され、この導圧孔44には圧力P
2が導入される。
以上のように構成された半導体差圧センサは導圧孔43
に導入された圧力P1が凹部27に印加され、導圧孔4
4を介して導入された圧力P2はセンサ結合体35の外
周面に一様に印加される。
に導入された圧力P1が凹部27に印加され、導圧孔4
4を介して導入された圧力P2はセンサ結合体35の外
周面に一様に印加される。
この結果、圧力P+ と圧力P2との差圧により起歪部
28が歪みこれに伴ないゲージ29がピエゾ抵抗効果に
よりその抵抗値を変更して対応する出力を出す。
28が歪みこれに伴ないゲージ29がピエゾ抵抗効果に
よりその抵抗値を変更して対応する出力を出す。
ところで、センサ結合体35には(PI +P2 )/
2に相当する静圧が印加される。この静圧の効果につい
て第2図を用いて説明する。
2に相当する静圧が印加される。この静圧の効果につい
て第2図を用いて説明する。
第2図は第1図に示す半導体圧力センサの作用を説明す
る説明図である。
る説明図である。
センサ結合体35はその内外から(PI +P2 )/
2の静圧が印加される。このため、センサ結合体35は
第2図に点線で示すように収縮する。この場合に、セン
サチップ25とガラス基板31との接合面には圧縮力F
2が働き、センサチップ25とガラス基板34との接合
面には圧縮力F3が働く。
2の静圧が印加される。このため、センサ結合体35は
第2図に点線で示すように収縮する。この場合に、セン
サチップ25とガラス基板31との接合面には圧縮力F
2が働き、センサチップ25とガラス基板34との接合
面には圧縮力F3が働く。
従って、圧縮力F2に基づく曲げモーメントM2はM
2 = F 2 X T / 2 、圧縮力F3に基づ
く曲げモーメントM3はM3=F3XT/2となる。
2 = F 2 X T / 2 、圧縮力F3に基づ
く曲げモーメントM3はM3=F3XT/2となる。
しかし、第1図に示すセンサ結合体35は、センサチッ
プ25とガラス基板31と34を結合したセンサ結合体
35の曲げの中立軸Nがセンサチップの厚さTの1/2
の位置になるようにガラス基板31と34の厚さが選定
されているので、ゲージ29には圧縮力F”’F2十F
3が作用するだけで、曲げモーメントは発生しない。従
って、静圧によって起歪部28は変形せず、ゼロ点も変
化しない。
プ25とガラス基板31と34を結合したセンサ結合体
35の曲げの中立軸Nがセンサチップの厚さTの1/2
の位置になるようにガラス基板31と34の厚さが選定
されているので、ゲージ29には圧縮力F”’F2十F
3が作用するだけで、曲げモーメントは発生しない。従
って、静圧によって起歪部28は変形せず、ゼロ点も変
化しない。
第3図は本発明の第2の実施例の構成を承り縦断面図で
ある。
ある。
センサチップ25の凹部27を閉塞するようにガラス基
板45が接合され、このガラス基板45はその中心に導
圧孔46が、その外周面にリング状の溝47がそれぞれ
形成されている。
板45が接合され、このガラス基板45はその中心に導
圧孔46が、その外周面にリング状の溝47がそれぞれ
形成されている。
また、センサチップ25の起歪部28を覆うようにガラ
ス基板48が接合され、このガラス基板48の中心には
導圧孔49が、その外周面にはリング状の溝50がそれ
ぞれ形成されている。
ス基板48が接合され、このガラス基板48の中心には
導圧孔49が、その外周面にはリング状の溝50がそれ
ぞれ形成されている。
このように、ガラス基板45.48に溝を設(プること
によっても第1図に示す半導体差圧センサと同様な効果
を得ることができる。
によっても第1図に示す半導体差圧センサと同様な効果
を得ることができる。
なお、第1図において凸部42とガラス基板31を接合
する接着剤として剛性を持つ材料を使用する場合には、
この剛性と凸部42の剛性をも考慮にいれてガラス基板
31.34の厚みの寸法を決める。
する接着剤として剛性を持つ材料を使用する場合には、
この剛性と凸部42の剛性をも考慮にいれてガラス基板
31.34の厚みの寸法を決める。
また、センサチップに取り付けるガラス基板はこの代り
にセラミックスなど他の材料でも良い。
にセラミックスなど他の材料でも良い。
〈発明の効果〉
以上、実施例と共に具体的に説明したように本発明によ
れば、センサチップの両面に基板を取付けて中立軸に対
して曲げモーメントがセンサチップの両側で同じになる
ようにしたので、静圧誤差を簡単な構成で低減すること
ができる。
れば、センサチップの両面に基板を取付けて中立軸に対
して曲げモーメントがセンサチップの両側で同じになる
ようにしたので、静圧誤差を簡単な構成で低減すること
ができる。
第1図は本発明の1実施例の構成を示す部分縦断面図、
第2図は第1図に示す実施例の作用を説明する説明図、
第3図は本発明の第2の実施例の構成をず部分縦断面図
、第4図は従来の半導体差圧センサの構成を示す部分縦
断面図、第5図は第4図に示す半導体差圧センサの問題
点を説明する説明図である。 10.25・・・センサチップ、11.26・・・固定
部、12.27.32・・・凹部、13.28・・・起
歪部、14.29・・・ゲージ、16.31.34・・
・ガラス基板、17.35・・・センサ結合体、19.
35・・・ケース、22.39・・・密閉空間、47.
5゜・・・溝。 第1図 第2図 −Z5【 第3図
第2図は第1図に示す実施例の作用を説明する説明図、
第3図は本発明の第2の実施例の構成をず部分縦断面図
、第4図は従来の半導体差圧センサの構成を示す部分縦
断面図、第5図は第4図に示す半導体差圧センサの問題
点を説明する説明図である。 10.25・・・センサチップ、11.26・・・固定
部、12.27.32・・・凹部、13.28・・・起
歪部、14.29・・・ゲージ、16.31.34・・
・ガラス基板、17.35・・・センサ結合体、19.
35・・・ケース、22.39・・・密閉空間、47.
5゜・・・溝。 第1図 第2図 −Z5【 第3図
Claims (1)
- 固定部の内側に凹部が形成されて単結晶の厚さの薄くな
った起歪部とこの起歪部に形成されピエゾ抵抗効果によ
り抵抗値が変化するゲージとを有するセンサチップと、
このセンサチップの前記凹部を閉塞して接合されこの凹
部に開口して第1圧力を導入する第1導圧孔を持つ第1
基板と、前記センサチップに対してこの第1基板とは反
対側の面で前記センサチップに接合され前記起歪部に開
口して第2圧力を導入する第2導圧孔を持つ第2基板と
を有し、前記センサチップと前記第1、第2基板とを接
合したセンサ結合体の中立軸が前記センサチップの厚さ
の1/2になるように前記第1、第2基板を前記センサ
チップに接合することを特徴とする半導体差圧センサ
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24961487A JPH0192634A (ja) | 1987-10-02 | 1987-10-02 | 半導体差圧センサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24961487A JPH0192634A (ja) | 1987-10-02 | 1987-10-02 | 半導体差圧センサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0192634A true JPH0192634A (ja) | 1989-04-11 |
Family
ID=17195647
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24961487A Pending JPH0192634A (ja) | 1987-10-02 | 1987-10-02 | 半導体差圧センサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0192634A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5001934A (en) * | 1990-01-02 | 1991-03-26 | Walbro Corporation | Solid state pressure sensor |
JP2015512046A (ja) * | 2012-03-09 | 2015-04-23 | エプコス アクチエンゲゼルシャフトEpcos Ag | 微小機械測定素子 |
-
1987
- 1987-10-02 JP JP24961487A patent/JPH0192634A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5001934A (en) * | 1990-01-02 | 1991-03-26 | Walbro Corporation | Solid state pressure sensor |
JP2015512046A (ja) * | 2012-03-09 | 2015-04-23 | エプコス アクチエンゲゼルシャフトEpcos Ag | 微小機械測定素子 |
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