JPH0945748A - Multi-chamber treatment device - Google Patents
Multi-chamber treatment deviceInfo
- Publication number
- JPH0945748A JPH0945748A JP7212599A JP21259995A JPH0945748A JP H0945748 A JPH0945748 A JP H0945748A JP 7212599 A JP7212599 A JP 7212599A JP 21259995 A JP21259995 A JP 21259995A JP H0945748 A JPH0945748 A JP H0945748A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chamber
- wafer
- load lock
- lock chamber
- chambers
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Furnace Charging Or Discharging (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、マルチ・チャンバ
型処理装置に関し、更に詳細には、処理効率の高いマル
チ・チャンバ型処理装置、特に半導体装置の製造工程で
ウエハを高い作業能率で処理する際に好適なマルチ・チ
ャンバ型処理装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multi-chamber type processing apparatus, and more particularly to a multi-chamber type processing apparatus having a high processing efficiency, and in particular, a wafer is processed with high work efficiency in a manufacturing process of a semiconductor device. In this case, the present invention relates to a multi-chamber type processing apparatus which is suitable.
【0002】[0002]
【従来の技術】半導体装置の製造工場では、半導体装置
の製造効率を向上させるために、近年、マルチ・チャン
バ型処理装置が盛んに使用されるようになっている。従
来のマルチ・チャンバ型処理装置10は、図5に示すよ
うに、外界との間に開閉扉14を有するロードロック室
12と、開閉扉16を介してロードロック室12に隣接
しているチャンバ搬送室18と、チャンバ搬送室18の
両側にそれぞれ開閉扉20A、Bを介して隣接している
第1チャンバ22と第2チャンバ24とを備えている。2. Description of the Related Art In recent years, in a semiconductor device manufacturing plant, a multi-chamber type processing apparatus has been actively used in order to improve the manufacturing efficiency of the semiconductor device. As shown in FIG. 5, a conventional multi-chamber processing apparatus 10 includes a load lock chamber 12 having an opening / closing door 14 between itself and the outside, and a chamber adjacent to the load lock chamber 12 via an opening / closing door 16. The transfer chamber 18 is provided with a first chamber 22 and a second chamber 24 that are adjacent to each other on both sides of the chamber transfer chamber 18 via open / close doors 20A and 20B, respectively.
【0003】ロードロック室12及びチャンバ搬送室1
6には、それぞれ所定の真空圧になるような設備が設け
てあり、またそれぞれに搬入出ロボット26及び搬送ロ
ボット28が備えてある。第1チャンバ22と第2チャ
ンバ24は、別の別のウエハにそれぞれ同じ処理、例え
ば同じ条件でエッチング処理を施すようになっている。
搬入出ロボット26は、装置外のウエハカセットからウ
エハを受け取ってロードロック室12に搬入し、次いで
搬送ロボット28に引き渡す。搬送ロボット28は、受
け取ったウエハを第1チャンバ22又は第2チャンバ2
4に搬送する。ウエハの処理後、搬送ロボット28は、
第1又は第2チャンバ22、24からウエハを受け取
り、搬入出ロボット26に引き渡す。次いで、搬入出ロ
ボット26はウエハをウエハカセットに収納する。Load lock chamber 12 and chamber transfer chamber 1
6 is provided with equipment for achieving a predetermined vacuum pressure, and is equipped with a loading / unloading robot 26 and a transfer robot 28, respectively. In the first chamber 22 and the second chamber 24, another different wafer is subjected to the same processing, for example, the etching processing under the same conditions.
The loading / unloading robot 26 receives the wafer from the wafer cassette outside the apparatus, loads the wafer into the load lock chamber 12, and then delivers it to the transfer robot 28. The transfer robot 28 transfers the received wafer to the first chamber 22 or the second chamber 2.
To 4. After processing the wafer, the transfer robot 28
The wafer is received from the first or second chamber 22 or 24 and delivered to the loading / unloading robot 26. Next, the loading / unloading robot 26 stores the wafer in the wafer cassette.
【0004】更に、図6及び図7を参照して、従来のマ
ルチ・チャンバ型処理装置によるウエハの処理を説明す
る。但し、所要時間は単なる例示である。図6(a)に
示すように、先ず、ウエハWは、搬入出ロボット26に
よりウエハカセットCから受け取られ、ロードロック室
12に取り込まれる。所要時間は約30秒である。次い
で、図6(b)に示すように、ロードロック室12が真
空になるまで、そこに留まる。その所要時間は、約60
秒である。次に、ウエハWは、図6(c)に示すよう
に、搬送ロボット28によりチャンバ搬送室18に搬入
される。その所要時間は、約20秒である。一方、ロー
ドロック室12は、この間に大気に開放されて、次のウ
エハの搬入に備える。Further, with reference to FIGS. 6 and 7, wafer processing by a conventional multi-chamber type processing apparatus will be described. However, the required time is merely an example. As shown in FIG. 6A, first, the wafer W is received from the wafer cassette C by the loading / unloading robot 26 and loaded into the load lock chamber 12. The time required is about 30 seconds. Then, as shown in FIG. 6B, the load lock chamber 12 remains there until a vacuum is obtained. The time required is about 60
Seconds. Next, as shown in FIG. 6C, the wafer W is loaded into the chamber transfer chamber 18 by the transfer robot 28. The required time is about 20 seconds. On the other hand, the load lock chamber 12 is opened to the atmosphere in the meantime to prepare for the next wafer loading.
【0005】ウエハWは、図7(d)に示すように、搬
送ロボット28により第1チャンバ22に搬送され、そ
こで処理が施される。その所要時間は約20秒である。
次に、ウエハWは、図7(e)に示すように、搬送ロボ
ット28により第1チャンバ22からチャンバ搬送室1
8に返される。その所要時間は約20秒である。更に、
ウエハWは、図7(f)に示すように、チャンバ搬送室
18から搬送ロボット28によりロードロック室12に
搬送され、ロードロック室12が大気圧になった後で、
搬入出ロボット26によりウエハカセットCに搬出され
る。その所要時間は約60秒である。一方、第2チャン
バ24で処理されるウエハは、ある時間遅れでウエハW
に追随して同じような手順でウエハカセットと第2チャ
ンバ24との間を往復する。As shown in FIG. 7D, the wafer W is transferred to the first chamber 22 by the transfer robot 28 and processed there. The required time is about 20 seconds.
Next, as shown in FIG. 7E, the wafer W is transferred from the first chamber 22 to the chamber transfer chamber 1 by the transfer robot 28.
Returned to 8. The required time is about 20 seconds. Furthermore,
As shown in FIG. 7F, the wafer W is transferred from the chamber transfer chamber 18 to the load lock chamber 12 by the transfer robot 28, and after the load lock chamber 12 reaches the atmospheric pressure,
The carry-in / carry-out robot 26 carries the wafer to the wafer cassette C. The required time is about 60 seconds. On the other hand, the wafer processed in the second chamber 24 has the wafer W with a certain time delay.
Following this, the wafer cassette and the second chamber 24 are reciprocated in a similar procedure.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】従来のマルチ・チャン
バ型処理装置では、上述のように、第1チャンバで処理
されるウエハと第2チャンバで処理されるウエハとは、
別々にウエハカセットからロードロック室に搬入され、
ロードロック室が真空になるまでロードロック室で待機
し、また処理された後のウエハは、別々にロードロック
室に戻され、ロードロック室が大気圧になるまでそこに
留まる必要があった。また、各ウエハがそれぞれ別々に
搬入出、搬送されるので、ウエハがロードロック室及び
チャンバ搬送室が空になるのを待つ待ち時間が必要であ
った。そのため、ウエハ一枚当たりの処理時間が長くな
り、マルチ・チャンバ型処理装置のスループットの向上
が制約されていた。また、ロードロック室をウエハの搬
入出毎に真空圧、大気圧にする必要があるために、ロー
ドロック室に加えて、常時真空圧に維持されているチャ
ンバ搬送室を必要としていた。そのために、設備費が嵩
み、またマルチ・チャンバ型処理装置の設置面積も増大
すると言う問題があった。In the conventional multi-chamber type processing apparatus, as described above, the wafer processed in the first chamber and the wafer processed in the second chamber are
They are individually loaded into the load lock chamber from the wafer cassette,
It was necessary to wait in the load lock chamber until the load lock chamber became a vacuum, and the wafers after being processed were separately returned to the load lock chamber and remained there until the load lock chamber reached the atmospheric pressure. Further, since each wafer is loaded and unloaded and transported separately, it is necessary to wait for the wafer to be emptied in the load lock chamber and the chamber transport chamber. Therefore, the processing time per wafer becomes long, and improvement of the throughput of the multi-chamber type processing apparatus is restricted. Further, since it is necessary to make the load lock chamber a vacuum pressure and an atmospheric pressure each time a wafer is loaded and unloaded, a chamber transfer chamber that is always kept at a vacuum pressure is required in addition to the load lock chamber. Therefore, there is a problem that the equipment cost increases and the installation area of the multi-chamber type processing apparatus also increases.
【0007】そこで、本発明の目的は、ウエハ1枚当た
りの処理時間を短くしてスループットを向上させ、また
設置に要する面積が小さいマルチ・チャンバ型処理装置
を提供することである。Therefore, an object of the present invention is to provide a multi-chamber type processing apparatus in which the processing time per wafer is shortened to improve the throughput and the area required for installation is small.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に係るマルチ・チャンバ型処理装置は、外部
に対する開閉扉を有するロードロック室と、ロードロッ
ク室の周りにそれぞれ開閉扉を介して配置され、かつ被
加工体を載せる載置台を内部に有する複数個のチャンバ
と、ロードロック室に配置され、被加工体を保持するた
めに少なくともチャンバの室数に等しい段数のアームを
上下に多段に備え、ロードロック室内で回転自在でかつ
各チャンバに向かって自在に進退できる搬送ロボットと
を備え、載置台は、被加工体を載せる載置テーブルと、
載置テーブルから垂直方向上下に同期して自在に伸縮
し、搬送ロボットのアームから被加工体を受け取り、差
し渡す3本の支持柱とを有し、各アームは、被加工体を
載置台の支持柱に差し渡し、受け取る際に、載置台の支
持柱の昇降通路を確保するように形成されていることを
特徴としている。In order to achieve the above object, a multi-chamber type processing apparatus according to the present invention has a load lock chamber having an open / close door to the outside and an open / close door around the load lock chamber. A plurality of chambers which are arranged through the chamber and have a mounting table for mounting the work piece therein, and a load lock chamber, in which an arm having at least the number of stages equal to the number of chambers for holding the work piece is vertically moved. In a multi-stage, equipped with a transfer robot that is rotatable in the load lock chamber and can move back and forth toward each chamber, and the mounting table is a mounting table on which a workpiece is mounted,
It has three support columns that extend and contract freely vertically in a vertical direction in synchronization with each other in the vertical direction and receive and transfer the work piece from the arm of the transfer robot. It is characterized in that it is formed so as to secure an ascending / descending path of the support pillar of the mounting table when it is passed over the support pillar and received.
【0009】本発明では、複数個のチャンバは、同じ条
件で同じ種類の処理を、例えば同じエッチング条件でエ
ッチング処理を各被加工体に施すようにされている。駆
動装置は、搬送ロボットを駆動して回転させ、また各チ
ャンバに対して自在に進退させるための装置で、既知の
手段を使用することができる。ロードロック室及び各チ
ャンバには、所定の圧力で所定のガス雰囲気に維持する
手段が設けられている。また、載置台は、同期して伸縮
する3本の支持柱でウエハを下から支持することによ
り、3点支持で確実にウエハを支持することができる。
支持ピンを載置テーブルから垂直方向上下に同期して自
在に伸縮させる駆動装置も常用の手段、例えば空気圧シ
リンダを使用することができる。ロードロック室の平面
を多角形にすることにより、各辺毎にチャンバを配置す
ることができる。本発明に係るマルチ・チャンバ型処理
装置は、半導体装置を製造する工程において、ウエハを
処理するのに最適である。In the present invention, each of the plurality of chambers is subjected to the same type of treatment under the same conditions, for example, the etching treatment under the same etching conditions, on each workpiece. The drive device is a device for driving and rotating the transfer robot and freely moving back and forth with respect to each chamber, and known means can be used. The load lock chamber and each chamber are provided with means for maintaining a predetermined gas atmosphere at a predetermined pressure. Further, the mounting table supports the wafer from below by the three support columns that expand and contract in synchronization, so that the wafer can be reliably supported by the three-point support.
The drive device for freely expanding and contracting the support pin vertically synchronously from the mounting table can also use a conventional means, for example, a pneumatic cylinder. By making the plane of the load lock chamber polygonal, the chamber can be arranged on each side. The multi-chamber type processing apparatus according to the present invention is most suitable for processing a wafer in the process of manufacturing a semiconductor device.
【0010】[0010]
【発明の実施の形態】以下に、添付図面を参照し、実施
例を挙げて本発明の実施の形態を具体的かつ詳細に説明
する。図1は本発明に係るマルチ・チャンバ型処理装置
の実施例の構成を示す模式的平面図及び図2は図1の実
施例の模式的側面図である。本実施例のマルチ・チャン
バ型処理装置30(以下、簡単に装置30と言う)は、
図1に示すように、外部に対する開閉扉32を有するロ
ードロック室34と、ロードロック室34の一方の側に
開閉扉36を介して配置されている第1チャンバ38
と、他方の側に開閉扉40を介して配置されている第2
チャンバ42とを備えている。第1チャンバ38及び第
2チャンバ42は、それぞれ同じ処理を同じ条件で、例
えばエッチング処理を同じエッチング条件で2枚のウエ
ハにそれぞれに施すことができるように設備されてい
る。Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a schematic plan view showing the configuration of an embodiment of a multi-chamber type processing apparatus according to the present invention, and FIG. 2 is a schematic side view of the embodiment of FIG. The multi-chamber type processing apparatus 30 (hereinafter simply referred to as apparatus 30) of the present embodiment is
As shown in FIG. 1, a load lock chamber 34 having an opening / closing door 32 for the outside, and a first chamber 38 arranged on one side of the load lock chamber 34 via an opening / closing door 36.
And the second that is arranged on the other side through the opening / closing door 40
And a chamber 42. The first chamber 38 and the second chamber 42 are provided so that the same process can be performed on two wafers under the same condition, for example, the etching process under the same etching condition.
【0011】ロードロック室34は、所望の真空圧に維
持できるように真空吸引管44を介して真空装置に接続
され、また開閉弁付き連通管46を介して大気に連通す
ることができる。室内には、ウエハを搬送するために搬
送ロボット48が備えている。The load lock chamber 34 is connected to a vacuum device via a vacuum suction pipe 44 so as to maintain a desired vacuum pressure, and can be connected to the atmosphere via a communication pipe 46 with an opening / closing valve. A transfer robot 48 is provided in the chamber to transfer the wafer.
【0012】搬送ロボット48は、内蔵している駆動装
置により、またはロボットとは別に設けられた駆動装置
により駆動されて、ロードロック室34内をロボットの
軸を中心して回転自在であり、かつ進退自在であるよう
に形成されている。また、搬送ロボット48は、図2に
示すように、第1チャンバ38及び第2チャンバ42で
それぞれ同じ処理を施す2枚のウエハを保持するために
チャンバ数に等しい段数のアーム、本実施例ではチャン
バ数の2に等しい上下に2段のアーム50、52を備え
ている。アームは、同じ面で水平に伸びる2本の棒状部
材で形成され、その長さは少なくとも保持するウエハの
半径より長い。アームは必要に応じて伸縮するようにし
ても良く、またウエハを確実に保持するように真空吸着
させるようにしても良い。The transfer robot 48 is driven by a built-in driving device or by a driving device provided separately from the robot so as to be rotatable in the load lock chamber 34 about the robot axis and move back and forth. It is shaped to be flexible. In addition, as shown in FIG. 2, the transfer robot 48 has an arm having a number of stages equal to the number of chambers in order to hold two wafers to be subjected to the same processing in the first chamber 38 and the second chamber 42, respectively. Two upper and lower arms 50 and 52, which are equal to the number of chambers, are provided. The arm is formed by two rod-shaped members extending horizontally in the same plane, and the length thereof is at least longer than the radius of the wafer to be held. The arm may be expanded and contracted as needed, or may be vacuum-adsorbed so as to securely hold the wafer.
【0013】第1チャンバ38及び第2チャンバ42内
には、それぞれ処理するウエハを載置させる載置台5
4、56が設けてある。載置台54、56は、それぞれ
ウエハを載せる載置テーブル58と、載置テーブル58
から同期して垂直に伸縮する3本の支持ピン60A、
B、Cとを備えている。載置テーブル58は、既知の真
空吸着チャック或いは静電吸着チャックを備えてウエハ
を水平に保持する。In the first chamber 38 and the second chamber 42, a mounting table 5 on which a wafer to be processed is mounted, respectively.
4, 56 are provided. The mounting tables 54 and 56 respectively include a mounting table 58 on which a wafer is mounted and a mounting table 58.
From the three support pins 60A that expand and contract vertically,
It has B and C. The mounting table 58 includes a known vacuum suction chuck or electrostatic suction chuck to hold the wafer horizontally.
【0014】載置台54及び載置台56の支持ピン60
は、それぞれその上端が搬送ロボット48の下段アーム
52及び上段アーム50に載るウエハの下面より少なく
とも高い位置まで上昇し、かつ載置テーブル58のウエ
ハ載置面より下方に下降するように構成されている。一
方、搬送ロボット48が移動を停止して第1チャンバ3
8及び第2チャンバ42の載置台54、56にウエハを
引き渡す位置では、搬送ロボット48のアーム50、5
2が載置台54、56の支持ピン60の昇降に支障のな
いようになっている。支持ピン60を昇降させる機構
は、既知の機構であって、例えば空気圧シリンダのピス
トンロッドの伸縮を利用できる。Support pins 60 for the mounting table 54 and the mounting table 56
Are configured so that their upper ends are elevated to a position at least higher than the lower surface of the wafer mounted on the lower arm 52 and the upper arm 50 of the transfer robot 48, and are lowered below the wafer mounting surface of the mounting table 58. There is. On the other hand, the transfer robot 48 stops moving and the first chamber 3
8 and the positions where the wafer is transferred to the mounting tables 54 and 56 of the second chamber 42, the arms 50 and 5 of the transfer robot 48 are provided.
2 does not hinder the lifting and lowering of the support pins 60 of the mounting tables 54 and 56. A mechanism for raising and lowering the support pin 60 is a known mechanism, and for example, expansion and contraction of a piston rod of a pneumatic cylinder can be used.
【0015】以下に、図3及び図4を参照して、本装置
30の使用方法を説明する。先ず、開閉扉32を開放し
て、ロードロック室34の搬送ロボット48によりロー
ドロック室34の近傍に移送されて来たウエハカセット
から第1チャンバ38及び第2チャンバ42で処理する
2枚のウエハWを受け取り、アーム50、52上に保持
する。次いで、開閉扉32を閉止し、真空装置(図示せ
ず)により真空吸引管44を介してロードロック室34
を所望の真空圧に減圧し、維持する。そして、搬送ロボ
ット48を第1チャンバ38に向け回動させた後、図3
(a)に示すように前進させる。The method of using the device 30 will be described below with reference to FIGS. 3 and 4. First, the open / close door 32 is opened, and the two wafers to be processed in the first chamber 38 and the second chamber 42 from the wafer cassette transferred to the vicinity of the load lock chamber 34 by the transfer robot 48 of the load lock chamber 34. W is received and held on the arms 50, 52. Next, the open / close door 32 is closed, and the load lock chamber 34 is closed by the vacuum device (not shown) via the vacuum suction pipe 44.
Is reduced to and maintained at the desired vacuum pressure. Then, after rotating the transfer robot 48 toward the first chamber 38,
Move forward as shown in (a).
【0016】開閉扉36を開放して、所定位置で搬送ロ
ボット48を停止させる。次いで、図3(b)に示すよ
うに、載置台54の支持ピン60A、B、Cが同期して
伸長し、搬送ロボット48の下段アーム52に載ってい
るウエハWを下段アーム52より多少高く押し上げる。
続いて、搬送ロボット48は停止位置から後退し、一
方、支持ピン60は下降してウエハWを載置テーブル5
8上に載置する。The opening / closing door 36 is opened to stop the transfer robot 48 at a predetermined position. Next, as shown in FIG. 3B, the support pins 60A, B, and C of the mounting table 54 extend synchronously, so that the wafer W placed on the lower arm 52 of the transfer robot 48 is slightly higher than the lower arm 52. Push up.
Subsequently, the transfer robot 48 retracts from the stop position, while the support pins 60 descend to place the wafer W on the mounting table 5.
Place on top.
【0017】次に、搬送ロボット48を第2チャンバ4
2に向け回動させた後、図4(a)に示すように前進さ
せる。開閉扉40を開放して、所定位置で搬送ロボット
48を停止させる。次いで、図4(b)に示すように、
載置台58の支持ピン60A、B、Cが同期して伸長
し、搬送ロボット48の上段アーム50に載っているウ
エハWを上段アーム50より多少高く押し上げる。続い
て、搬送ロボット48は停止位置から後退し、一方、支
持ピン60は下降してウエハWを載置テーブル58上に
載置する。第1チャンバ38及び第2チャンバ42で処
理が終わった時、搬送ロボット48は、上述とは逆の動
作を行って、処理済みの2枚のウエハWを同時にウエハ
カセットに収納する。Next, the transfer robot 48 is moved to the second chamber 4
After being rotated toward 2, it is advanced as shown in FIG. The open / close door 40 is opened and the transfer robot 48 is stopped at a predetermined position. Then, as shown in FIG.
The support pins 60A, B, and C of the mounting table 58 extend synchronously, and push the wafer W mounted on the upper arm 50 of the transfer robot 48 slightly higher than the upper arm 50. Subsequently, the transfer robot 48 retracts from the stop position, while the support pins 60 descend to place the wafer W on the mounting table 58. When the processing is completed in the first chamber 38 and the second chamber 42, the transfer robot 48 performs the operation opposite to that described above, and simultaneously stores the processed two wafers W in the wafer cassette.
【0018】以上の構成により、本装置30では、一度
に2枚のウエハをウエハカセットから受入れ、第1チャ
ンバ38及び第2チャンバ42にウエハを順次搬入し、
搬出し、更に一度に2枚のウエハをウエハカセットに収
納しているので、ロードロック室34を真空又は大気開
放にする工程が一度で済む。また、従来の装置のよう
に、第1チャンバで処理するウエハの搬送及び搬入出の
ために、第2チャンバで処理するウエハの搬送及び搬入
出を待たせる待ち時間を無くすことができる。よって、
ウエハの処理作業の能率が向上する。また、従来のマル
チ・チャンバ型処理装置に設けられていたチャンバ搬送
室を省略できるので、設備費が節減でき、装置の設置面
積を小さくすることができる。With the above structure, the apparatus 30 receives two wafers at a time from the wafer cassette and sequentially carries the wafers into the first chamber 38 and the second chamber 42.
Since the wafer is carried out and two wafers are stored in the wafer cassette at a time, the step of evacuating the load lock chamber 34 or opening it to the atmosphere can be performed once. Further, unlike the conventional apparatus, it is possible to eliminate the waiting time for waiting for the transfer and the loading / unloading of the wafer to be processed in the second chamber for the transfer and the loading / unloading of the wafer to be processed in the first chamber. Therefore,
The efficiency of wafer processing operations is improved. Further, since the chamber transfer chamber provided in the conventional multi-chamber type processing apparatus can be omitted, the facility cost can be reduced and the installation area of the apparatus can be reduced.
【0019】本実施例では、チャンバの数が2個のマル
チ・チャンバ型処理装置を例にして説明したが、チャン
バの数はそれ以上でも良く、その際には、ロードロック
室を多角形の室にして各辺にチャンバを隣接し、搬送ロ
ボットに少なくともチャンバ数と同じ数のアームを設け
る。また、本実施例では、ウエハを被加工体の例にして
説明しているが、勿論、ウエハ以外のものでも良い。In this embodiment, a multi-chamber type processing apparatus having two chambers has been described as an example. However, the number of chambers may be more than that, and in that case, the load lock chamber is formed in a polygonal shape. A chamber is formed by adjoining chambers on each side, and the transfer robot is provided with at least as many arms as the number of chambers. Further, in the present embodiment, the wafer is explained as an example of the object to be processed, but of course, other than the wafer may be used.
【0020】[0020]
【発明の効果】本発明によれば、ロードロック室と、ロ
ードロック室の周りにそれぞれ配置された複数個のチャ
ンバと、少なくともチャンバの室数に等しい段数のアー
ムを上下に多段に備え、ロードロック室内で回転自在で
かつ各チャンバに向かって自在に進退できる搬送ロボッ
トと、垂直方向上下に同期して自在に伸縮する3本の支
持柱を有する載置台を各チャンバに設けることにより、
チャンバの室数に等しいウエハを一度に搬入出し、ほぼ
同時に処理を行うので、またウエハの待ち時間が無くな
り、処理能率が向上する。また、従来のマルチ・チャン
バ型処理装置に設けられていたチャンバ搬送室を省略で
きるので、設備費及び設置面積を節減できる。According to the present invention, a load lock chamber, a plurality of chambers respectively arranged around the load lock chamber, and an arm having a number of stages equal to at least the number of chambers are vertically provided in a multi-stage manner. By providing in each chamber a transfer robot that is rotatable in the lock chamber and that can freely move back and forth toward each chamber, and a mounting table that has three support pillars that freely expand and contract in synchronization vertically in the vertical direction,
The same number of wafers as the number of chambers are loaded and unloaded at one time, and the processing is performed substantially at the same time. Therefore, the wafer waiting time is eliminated, and the processing efficiency is improved. Further, since the chamber transfer chamber provided in the conventional multi-chamber type processing apparatus can be omitted, the equipment cost and the installation area can be reduced.
【図1】本発明に係るマルチ・チャンバ型処理装置の実
施例の構成を示す模式的平面図である。FIG. 1 is a schematic plan view showing the configuration of an embodiment of a multi-chamber type processing apparatus according to the present invention.
【図2】図1の実施例の模式的側面図である。2 is a schematic side view of the embodiment of FIG.
【図3】図3(a)及び(b)は、それぞれ本実施例の
動作を説明する模式的平面図及び側面図である。3A and 3B are a schematic plan view and a side view, respectively, for explaining the operation of the present embodiment.
【図4】図4(a)及び(b)は、それぞれ、図3に続
いて、本実施例の動作を説明する模式的平面図及び側面
図である。4A and 4B are a schematic plan view and a side view, respectively, for explaining the operation of the present embodiment, following FIG.
【図5】従来のマルチ・チャンバ型処理装置の構成を示
す模式的平面図である。FIG. 5 is a schematic plan view showing a configuration of a conventional multi-chamber type processing apparatus.
【図6】図6(a)から(c)は、それぞれ従来のマル
チ・チャンバ型処理装置の動作を説明する模式的平面図
及び側面図である。6A to 6C are a schematic plan view and a side view, respectively, for explaining the operation of the conventional multi-chamber type processing apparatus.
【図7】図7(d)から(f)は、それぞれ、図6
(c)に引き続いて、従来のマルチ・チャンバ型処理装
置の動作を説明する模式的平面図及び側面図である。7 (d) to (f) are respectively FIG.
FIG. 11 is a schematic plan view and a side view for explaining the operation of the conventional multi-chamber type processing apparatus, following (c).
10 従来のマルチ・チャンバ型処理装置 12 ロードロック室 14、16、20 開閉扉 18 チャンバ搬送室 22 第1チャンバ 24 第2チャンバ 26 搬入出ロボット 28 搬送ロボット 30 本発明に係るマルチ・チャンバ型処理装置の実施
例 32、36、40 開閉扉 34 ロードロック室 38 第1チャンバ 42 第2チャンバ 44 真空吸引管 46 連通管 48 搬送ロボット 50、52 アーム 54、56 載置台 58 載置テーブル 60 支持ピン10 Conventional multi-chamber type processing device 12 Load lock chamber 14, 16, 20 Opening / closing door 18 Chamber transfer chamber 22 First chamber 24 Second chamber 26 Loading / unloading robot 28 Transfer robot 30 Multi-chamber type processing device according to the present invention Examples 32, 36, 40 Opening / closing door 34 Load lock chamber 38 First chamber 42 Second chamber 44 Vacuum suction pipe 46 Communication pipe 48 Transfer robot 50, 52 Arms 54, 56 Mounting table 58 Mounting table 60 Support pin
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 // C23C 16/44 H01L 21/30 502J ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Internal reference number FI technical display location // C23C 16/44 H01L 21/30 502J
Claims (3)
ク室と、 ロードロック室の周りにそれぞれ開閉扉を介して配置さ
れ、かつ被加工体を載せる載置台を内部に有する複数個
のチャンバと、 ロードロック室に配置され、被加工体を保持するために
少なくともチャンバの室数に等しい段数のアームを上下
に多段に備え、ロードロック室内で回転自在でかつ各チ
ャンバに向かって自在に進退できる搬送ロボットとを備
え、 載置台は、被加工体を載せる載置テーブルと、載置テー
ブルから垂直方向上下に同期して自在に伸縮し、搬送ロ
ボットのアームから被加工体を受け取り、差し渡す3本
の支持柱とを有し、 各アームは、被加工体を載置台の支持柱に差し渡し、受
け取る際に、載置台の支持柱の昇降通路を確保するよう
に形成されていることを特徴とするマルチ・チャンバ型
処理装置。1. A load lock chamber having an opening / closing door to the outside, a plurality of chambers each having a loading table inside which is arranged around the load lock chamber via the opening / closing door and has a workpiece to be processed therein, A transfer robot which is arranged in the lock chamber and has a plurality of upper and lower arms having a number of stages equal to at least the number of chambers for holding the workpiece, and is rotatable in the load lock chamber and capable of freely moving back and forth toward each chamber. The mounting table includes a mounting table on which the workpiece is mounted, and a vertical table which vertically expands and contracts freely from the mounting table to receive and transfer the workpiece from the arm of the transfer robot. Each arm has a support pillar, and each arm is formed so as to secure an up-and-down passage of the support pillar of the mounting table when the workpiece is transferred to the support pillar of the mounting table and received. Multi-chamber type processing apparatus characterized.
ることを特徴とする請求項1に記載のマルチ・チャンバ
型処理装置。2. The multi-chamber type processing apparatus according to claim 1, wherein the load lock chamber has a polygonal planar shape.
る請求項1に記載のマルチ・チャンバ型処理装置。3. The multi-chamber type processing apparatus according to claim 1, wherein the object to be processed is a wafer.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7212599A JPH0945748A (en) | 1995-07-28 | 1995-07-28 | Multi-chamber treatment device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7212599A JPH0945748A (en) | 1995-07-28 | 1995-07-28 | Multi-chamber treatment device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0945748A true JPH0945748A (en) | 1997-02-14 |
Family
ID=16625368
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7212599A Pending JPH0945748A (en) | 1995-07-28 | 1995-07-28 | Multi-chamber treatment device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0945748A (en) |
-
1995
- 1995-07-28 JP JP7212599A patent/JPH0945748A/en active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4244555B2 (en) | Support mechanism for workpiece | |
JP3437734B2 (en) | manufacturing device | |
US6331095B1 (en) | Transportation system and processing apparatus employing the transportation system | |
US7699574B2 (en) | Work-piece processing system | |
US6225233B1 (en) | Semiconductor device manufacturing machine and method for manufacturing a semiconductor device by using THE same manufacturing machine | |
KR100613674B1 (en) | Method and apparatus for processing wafer | |
US6746195B2 (en) | Semiconductor transfer and manufacturing apparatus | |
TWI442447B (en) | High throughput serial wafer handling end station and a method for handling a plurality of workpieces in an ion implantation system | |
KR101127048B1 (en) | Substrate processing system and substrate processing method | |
JP2002520833A (en) | Multi-position load lock chamber | |
JPH08339948A (en) | Vacuum treater | |
KR101106803B1 (en) | Atmospheric robot handling equipment | |
JP4645696B2 (en) | Support mechanism and load lock chamber of workpiece | |
JP3172331B2 (en) | Vacuum processing equipment | |
CN116895570A (en) | Conveying sheet system and method applied to multiple chambers and multiple processes | |
TW201230233A (en) | Vacuum processing apparatus | |
KR100796052B1 (en) | Processing apparatus system | |
JPH11157649A (en) | Two-flat plate gas auxiliary heating module | |
JPH0945748A (en) | Multi-chamber treatment device | |
JP2003037146A (en) | Semiconductor manufacturing apparatus having buffer mechanism and method | |
JP2022099516A (en) | Board delivery method and board delivery device | |
JP2582578Y2 (en) | Multi-chamber semiconductor processing equipment | |
JPH05160046A (en) | Method and device for heating substrate | |
JPH0219969B2 (en) | ||
JPH08288191A (en) | Semiconductor manufacture device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Effective date: 20051205 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 |
|
A977 | Report on retrieval |
Effective date: 20061106 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20070509 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
|
A02 | Decision of refusal |
Effective date: 20080319 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 |