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JPH09315053A - 識別体及びその製造方法 - Google Patents

識別体及びその製造方法

Info

Publication number
JPH09315053A
JPH09315053A JP8175342A JP17534296A JPH09315053A JP H09315053 A JPH09315053 A JP H09315053A JP 8175342 A JP8175342 A JP 8175342A JP 17534296 A JP17534296 A JP 17534296A JP H09315053 A JPH09315053 A JP H09315053A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
ceramic layer
ceramic
opening
identification mark
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8175342A
Other languages
English (en)
Inventor
Masaaki Shimada
将昭 島田
Osamu Iinuma
修 飯沼
Yuji Shibano
裕二 柴野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
YUSHI SEIHIN KK
Original Assignee
YUSHI SEIHIN KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by YUSHI SEIHIN KK filed Critical YUSHI SEIHIN KK
Priority to JP8175342A priority Critical patent/JPH09315053A/ja
Publication of JPH09315053A publication Critical patent/JPH09315053A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 耐磨耗性に優れた識別体及びその製造方法。 【解決手段】 明度の異なる二層のセラミツク層2,3
を積層した積層体4を備え、一方のセラミツク層2に、
該セラミツク層2の表面2aから他方のセラミツク層3
へ至る開口部6,6…が開設され、一方のセラミツク層
2の表面2aと開口部6に面する他方のセラミツク層3
との明暗で認識できる識別マーク5を形成したこと。積
層体15が金属板18の表面を覆う琺瑯層14であり、
一方のセラミツク層が上釉層12であり、他方のセラミ
ツク層が下釉層13であること。開口部6(16)をブ
ラスト加工又はレーザー加工で開設すること。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、バーコード等の識
別マークを施した耐熱性及び耐磨耗性に優れた識別体及
びその製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、耐熱性に優れた識別体としては、
アルミナ基板の表面に焼成顔料からな識別マークを焼き
付けたもの、または金属基板に付着した琺瑯層の表面に
焼成顔料からな識別マークを焼き付けたものがある(特
公平4−34541号公報参照)。該識別マークは、印
刷法又は転写紙を用いた転写法で描かれた後に、焼成し
て形成される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、印刷法又は転
写法で描かれる識別マークは、その厚みが数μm程度で
あるため、他の物体に接触したり又は高圧洗浄水が衝突
したりすると、簡単に消失する。そのため、搬送用パレ
ツト、搬送用架台又は搬送用容器等に識別体を取り付け
る利用分野においては、耐磨耗性にも優れた識別体の出
現が要請されている。
【0004】そこで、請求項1〜2記載の発明は、上記
要請に応えるために、耐熱性及び耐磨耗性に優れた識別
体の提供を目的とする。更に、請求項3〜5記載の発明
は、上記要請に応えるために、耐熱性及び耐磨耗性に優
れた識別体の製造方法の提供を目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の本発明の
要旨は、明度の異なる二層のセラミツク層を積層した積
層体を備え、一方のセラミツク層に、該セラミツク層の
表面から他方のセラミツク層へ至る開口部が開設され、
一方のセラミツク層の表面と該開口部に面する他方のセ
ラミツク層との明暗で認識できる識別マークを形成した
ことを特徴とする識別体である。本発明の識別体は、積
層した二層のセラミツク層から形成してあるため、それ
自体が耐熱性及び耐磨耗性に優れていると共に、一方の
セラミツク層の表面と開口部に面する他方のセラミツク
層との明暗で識別マークを形成してあるため、磨耗によ
り識別マークが容易に消失することはない。
【0006】請求項2記載の本発明の要旨は、前記積層
体が金属板の表面を覆う琺瑯層であり、前記一方のセラ
ミツク層が上釉層であり、他方のセラミツク層が下釉層
である請求項1記載の識別体である。本発明の識別体
は、金属板を備えているため、曲げ等に対する機械的強
度にも優れている。
【0007】請求項3記載の本発明の要旨は、明度の異
なる二層のセラミツク層を積層した積層体の表層側とな
る一方のセラミツク層を局部的に削り取ることにより、
一方のセラミツク層の表面から他方のセラミツク層へ至
る開口部を開設して、一方のセラミツク層の表面と該開
口部に面する他方のセラミツク層との明暗で認識できる
識別マークを得ることを特徴とする識別体の製造方法で
ある。本発明の製造方法は、一方のセラミツク層を局部
的に削り取ることにより、識別マークを形成するための
開口部を容易に開設することができる。
【0008】請求項4記載の本発明の要旨は、前記削り
取りは、前記一方のセラミツク層を覆うブラスト加工用
マスキングフイルムに形成した非マスク部に向かつて砂
を吹きつけるブラスト加工で行うか、または前記一方の
セラミツク層に向かつてレーザー光を照射する除去加工
で行う請求項3記載の識別体の製造方法である。本発明
の製造方法は、ブラスト加工用マスキングフイルムを用
いた砂の吹付け、またはレーザー光の照射により、識別
マークを形成するための開口部を容易に開設することが
できる。
【0009】請求項5記載の本発明の要旨は、前記積層
体が金属板の表面を覆う琺瑯層であり、前記一方のセラ
ミツク層が上釉層であり、他方のセラミツク層が下釉層
である請求項3又は4記載の識別体の製造方法である。
本発明の製造方法は、金属板を備えているため、曲げ等
に対する機械的強度にも優れた識別体を得ることができ
る。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る識別体(以
下、「本発明識別体」という)及び識別体の製造方法
(以下、「本発明製造方法」という)を図面に示す実施
の形態に基づいて説明する。
【0011】(第1の実施の形態)図1乃至図3は本発
明識別体の第1の実施の形態を示すものであつて、図1
は部分断面した平面図、図2は図1のイ−イ線における
断面図、図3は取り付けの別態様を示す断面図である。
【0012】本実施の形態に係る本発明識別体1は、図
1及び図2に示す如く、明度の異なる二層のセラミツク
層2,3を積層した積層体4からなり、一方のセラミツ
ク層2の表面2a側から認識できる識別マーク5が形成
されている。一方のセラミツク層2には、識別マーク5
を形成するための複数の開口部6,6…が、セラミツク
層2の表面2aから他方のセラミツク層3へ至る深さと
なるように開設されている。識別マーク5は、一方のセ
ラミツク層2の表面2aと各開口部5に面する他方のセ
ラミツク層3の各部分3aとの明暗で認識できるように
なつている。
【0013】前記セラミツク層2,3は、珪酸塩鉱物を
主体とした天然材料を用いて得る陶磁器質等の伝統セラ
ミツクの他に、ガラス質、セメント質、純酸化物からな
る酸化物セラミツク、これ以外の物質で例えば炭化物、
窒化物、硼化物、珪化物、硫化物、ベリリウム化物、金
属、半金属若しくは金属間化合物をそれぞれ単味若しく
は高融点酸化物と組み合わせてセラミツク製造方式で得
られるスペシヤルセラミツク、金属粉末をセラミツク製
造方式を用いて焼結させてなるメタルセラミツク等から
形成される。セラミツク層2,3は、同質のセラミツク
を用いるか、または異質な二種類のセラミツクが用いら
れ、所望の強度が得られる厚みT1,T2に形成されて
いる。更に、セラミツク層2は、磨耗により識別マーク
5が消失しない厚みT1(例えば、T1=0.5〜5.
0mm)となつている。
【0014】前記セラミツク層2,3の接合は、積層体
4を成形するときの焼成若しくは乾燥による自己接着で
行うか、透明若しくは半透明な無機質接着剤層(図示省
略)による接着で行うか、または両者の密着で行う。
【0015】前記セラミツク層2,3の間で明度差を得
るためには、明度の異なる二種類のセラミツクを用いる
方法と、同質のセラミツクであつて明度の異なる着色剤
が添加されたものを用いる方法とがある。例えば、前記
識別マーク5がバーコードの場合には、一方のセラミツ
ク層2に白色を用いる共に他方のセラミツク層3に黒色
を用いるのが一般的である。
【0016】前記識別マーク5を形成するための各開口
部6は、識別マーク5のパターンに応じて適宜形状に開
設され、例えば識別マーク5がバーコードパターンのと
きには、適宜幅Wの短冊状で且つ適宜隣接間隔Pで開設
される。識別マーク5は、バーコードパターンに限定さ
れるものではなく、2次コード、カルラコード、文字又
は数字等からなるパターンであつてもよい。
【0017】本発明識別体1は、積層体4の両側等に取
付孔7,7が穿設されており、取付孔7,7に挿通した
ビス又は釘等の取付具8で搬送用パレツト、搬送用架台
又は搬送用容器等の対象物9に取り付けられる。本発明
識別体1の別態様の取り付け方法としては、図3に示す
如く、積層体4の側縁4aに挟圧したステンレス鋼等か
らなるブラケツト10,10及び取付具8,8で行うこ
ともある。
【0018】本発明識別体1の識別マーク5は、レーザ
ー式スキヤナーのような光学的読取装置で読み取らせる
ことにより、識別される。本発明識別体1は、積層した
二層のセラミツク層2,3から形成してあるため、それ
自体が耐熱性、耐磨耗性及び耐有機溶剤性に優れている
と共に、セラミツク層2の表面2aと開口部6,6…に
面するセラミツク層3の部分3a,3a…との明暗で識
別マーク5を形成してあるため、磨耗により識別マーク
5が容易に消失することはない。
【0019】(第2の実施の形態)図4乃至図5は本発
明識別体の第2の実施の形態を示すものであつて、図4
は部分断面した平面図、図5は図4のロ−ロ線における
断面図である。
【0020】本実施の形態に係る本発明識別体11は、
金属板18と、金属板18の全面または一部を被覆する
琺瑯質の積層体14とからなり、積層体14の表面から
認識できる識別マーク15が形成されている。金属板1
8は、ステンレス鋼板又は炭素鋼板等からなり、強度及
びコスト面からみて厚みが0.3〜1.0mm(好まし
くは、0.5〜0.8mm)程度のものを用いる。積層
体14は、明度の異なる二層の釉薬層であつて、金属板
18に接合する下釉層13と、表面を形成する上釉層1
2とからなる。下釉層13の厚みは100〜120μm
程度で、上釉層12の厚みは100〜150μm程度で
ある。
【0021】該上釉層12には、識別マーク15を形成
するための複数の開口部16,16…が、上釉層12の
表面12aから下釉層13へ至る深さとなるように開設
されている。識別マーク15は、上釉層12の表面12
aと各開口部16に面する下釉層13の各部分13aと
の明暗で認識できるようになつている。上下の釉層1
2,13の間で明度差を得るためには、焼成後の明度が
異なる二種類の釉薬を施釉して行う。例えば、前記識別
マーク15がバーコードの場合には、上釉層12に白色
を用いると共に下釉層13に黒色を用いるのが一般的で
ある。
【0022】前記識別マーク15を形成するための各開
口部16は、前記第1の実施の態様と同様に、識別マー
ク15のパターンに応じて適宜形状に開設され、例えば
識別マーク15がバーコードのときには、適宜幅Wの短
冊状で且つ適宜隣接間隔Pで開設される。識別マーク1
5は、バーコードパターン以外に、2次コード、カルラ
コード、文字又は数字等からなるパターンにすることも
ある。
【0023】本発明識別体11は、両側等に取付孔1
7,17が穿設されており、取付孔17,17に挿通し
たビス等の取付具で搬送用パレツト、搬送用架台又は搬
送用容器等の対象物に取り付けられる。
【0024】本発明識別体11の識別マーク15は、レ
ーザー式スキヤナーのような光学的読取装置で読み取ら
せることにより、識別される。本発明識別体11は、金
属板18を被覆する琺瑯質の積層体14から形成してあ
るため、それ自体が耐熱性、耐磨耗性及び耐有機溶剤性
に優れていると共に、上釉層12の表面12aと開口部
16,16…に面する下釉層13の部分13a,13a
…との明暗で識別マーク15を形成してあるため、磨耗
により識別マーク5が容易に消失することはない。更
に、本発明識別体11は、金属板18を備えているた
め、曲げ等に対する機械的強度にも優れており、琺瑯質
の積層体14を薄くすることも可能である。
【0025】なお、本発明識別体11は、図示は省略し
たが、各開口部16に、開口部16に面する下釉層13
の部分13aの色を認識できる程度の透明性のある透明
釉層を充填して表面を平坦に仕上げ、開口部16に塵等
が侵入しないようにすることもある。
【0026】(第3の実施の態様)図6及び図7は前記
第2の実施の形態に係る識別体11(図4及び図5参
照)を製造する本発明製造方法の実施の形態を示すもの
であつて、図6は琺瑯板の表面にブラスト加工用マスキ
ングフイルムを貼着する前の状態の断面図、図7はブラ
スト加工で開口部を穿設している途中の状態を示す断面
図である。
【0027】本実施の形態の製造は、次の工程に従つて
行われる。第1工程は、図6に示す如く、ステンレス鋼
等からなる金属板18を琺瑯質の積層体14で被覆した
琺瑯板21と、ブラスト加工用マスキングフイルム22
と、シヨツトブラスト機28(図7参照)とを準備する
ことである。琺瑯板21の積層体14は、前述の如く、
明度の異なる二層の釉薬層であつて、金属板18に接合
する下釉層13と、表面を形成する上釉層12とで形成
する。琺瑯板31の製造は、金属板18に下釉層13を
施釉及び焼成した後に、上釉層12を施釉及び焼成して
行う二度焼き方法と、金属板18に下釉層13及び上釉
層12を施釉した後に、両釉層12,13を同時に焼成
する一度焼き方法とがある。
【0028】前記ブラスト加工用マスキングフイルム2
2は、特開平7−3842号公報に記載のものを用いる
ことができる。該マスキングフイルム22は、ポリエチ
レンテレフタレート製等のシート23と、シート23に
分離可能に密着した厚みが150μm程度の紫外線硬化
型樹脂からなるマスキング層24と、マスキング層24
に塗着した粘着層25と、粘着層25に分離可能に密着
した離型シート26とを備えるように製造される。マス
キング層24は、後述するブラスト加工時のブラスト圧
で除去可能な薄肉の非マスク部24a,24a…と、ブ
ラスト圧では破損しないマスク部24b,24b…が所
望の識別マークを得ることができるように形成される。
【0029】第2工程は、マスキングフイルム22の離
型シート26を剥離し、琺瑯板21の表面所定位置にマ
スキングフイルム22を粘着した後にシート23を取り
除き、ブラスト加工が可能な状態にすることである。
【0030】第3工程は、図7に示す如く、シヨツトブ
ラスト機28を使用して、マスキングフイルム22のマ
スキング層24を介して琺瑯板21の積層体14にブラ
スト加工を施して、識別マーク15を得ることである。
ブラスト加工は、シヨツトブラスト機28からマスキン
グ層24に向かつてブラスト用砂S,S…を噴射するこ
とにより、ブラスト用砂で薄肉の非マスク部24a,2
4a…を削り取ると共に、マスク部24bに衝突したブ
ラスト用砂S,S…を跳ね返すようにして行う。そし
て、ブラススト加工は、削り取られた非マスク部24
a,24a…を通過するブラスト用砂S,S…で積層体
14の上釉層12を局部的に削り取り、上釉層12の表
面から下釉層13に至る短冊状等の所望形状の開口部1
6,16…を開設するまで行う。ブラスト加工の一例と
しは、粒径180メツシユ(84μm)のブラスト用砂
S,S…を圧力3気圧で数十秒間噴射して行う。
【0031】第4工程は、ブラススト加工後に、琺瑯板
21からマスキングフイルム22を取り去つて、識別体
11(図4及び図5参照)を得ることである。得られた
識別体11は、上釉層12の表面と開口部16,16…
に露出する下釉層13の部分13a,13a…との明暗
で認識できるバーコードパターン等の識別マーク15が
形成されている。
【0032】なお、前記第1の実施の形態に係る識別体
1(図1及び図2参照)を製造する場合にも、図示は省
略したが、本実施の形態と同様に行うことができる。即
ち、図1に示す積層体14の表面にマスキングフイルム
22を粘着した後にブラスト加工を行い、セラミツク層
12をブラスト加工で局部的に削り取つて開口部6,6
…を開設し、その後にマスキングフイルム22を取り去
つて識別マーク5を得ることができる。
【0033】(第4の実施の態様)図8及び図9は前記
第2の実施の形態に係る識別体11(図4及び図5参
照)を製造する本発明製造方法の別の実施の形態を示す
ものであつて、図8はレーザー加工機に琺瑯板を載置し
た状態の正面図、図9はレーザー加工機で開口部を穿設
している途中の状態を示す断面図である。
【0034】本実施の形態の製造は、次の工程に従つて
行われる。第1工程は、図8に示す如く、琺瑯板21
と、被照射物である琺瑯板21に対するレーザー光線B
の照射位置を記憶させた通りに変更できるレーザー加工
機29とを準備することである。琺瑯板21は、前記第
3の実施の形態と同様に製造して得る。
【0035】レーザー加工機29は、琺瑯板21を載置
してX軸及びY軸方向へ平面移動できる加工テーブル3
0を備え、琺瑯板21に対するレーザー光線Bの照射位
置の変更を行うようにしてある。加工テーブル30は、
レーザー光線Bを照射して琺瑯板21に開設する開口部
16(図9参照)の位置及び形状に応じて平面移動させ
ると共に、レーザー光線Bの削り取り能力に応じた移動
速度で平面移動させる駆動装置31を備え、駆動装置3
1を操作するコンピユーターに平面移動の座標値及び移
動速度値が予め入力される。レーザー光線Bとしては、
ペンタイプマーキングであつてスキヤニング方式のYA
Gレーザーが最も適しており、その他のものとしてCO
レーザー等も使用できる。
【0036】第2工程は、レーザー加工機29の加工テ
ーブル30に琺瑯板21を載置し、図9に示す如く、加
工テーブル30を平面移動させながらレーザー光線Bの
照射と停止とを行い、琺瑯板21の積層体14の上釉層
12をレーザー光線Bで局部的に削り取つて除去加工を
施し、上釉層12の表面から下釉層13に至る短冊状等
の所望形状の開口部16,16…を開設することであ
る。レーザー光線Bによる除去加工の一例としは、ミヤ
チテクノス株式会社製のYAGレーザー装置(ML−4
140)を用い、周波数が2QKHz、レーザー出力が
50Wのレーザー光線Bを用いて、加工テーブル30の
移動速度を10mm/secで行い、加工テーブル30
を開口部16の長手方向へ一回往復させることにより1
50μmの上釉層12を削り取る。このとき、一回往復
して削り取れる溝幅は限定されるため、開口部16の幅
寸法Wに応じて、加工テーブル30を開口部16の長手
方向と直行する方向へ横送りして除去加工が行われる。
【0037】琺瑯板21は、全ての開口部16,16…
が開設されることにより、上釉層12の表面と開口部1
6,16…に露出する下釉層13の部分13a,13a
…との明暗で認識できるバーコードパターン等の識別マ
ーク15が形成される。
【0038】第3工程は、レーザー光線Bによる除去加
工が完了した後に、レーザー加工機29の加工テーブル
30から取り去つた識別体11(図4及び図5参照)を
得ることである。
【0039】なお、前記第1の実施の形態に係る識別体
1(図1及び図2参照)を製造する場合にも、図示は省
略したが、本実施の形態と同様に行うことができる。即
ち、図1に示す積層体14をレーザー加工機29の加工
テーブル30に載置し、レーザー光線Bの照射でセラミ
ツク層2を局部的に削り取つて開口部6,6…を開設
し、識別体1を得ることができる。
【0040】
【発明の効果】以上詳述の如く、本発明は、次の如き優
れた効果を有する。請求項1記載の本発明によれば、積
層した二層のセラミツク層と、一方のセラミツク層に開
設した開口部とで識別体を形成するため、耐熱性は勿論
のこと耐磨耗性にも優れた識別体を得ることができる。
【0041】請求項2記載の本発明によれば、二層のセ
ラミツク層が金属板で補強されるため、曲げ等に対する
機械的強度にも優れた識別体を得ることができる。
【0042】請求項3記載の本発明によれば、積層した
二層のセラミツク層の一方のセラミツク層を局部的に削
り取ることにより識別マークを形成する開口部を開設す
るため、耐熱性は勿論のこと耐磨耗性にも優れた識別体
を製造することができる。
【0043】請求項4記載の本発明によれば、ブラスト
加工用マスキングフイルムを用いた砂の吹付け、または
レーザー光の照射により、耐熱性は勿論のこと耐磨耗性
にも優れた識別体を容易に製造することができる。
【0044】請求項5記載の本発明によれば、二層のセ
ラミツク層を金属板で補強した、曲げ等に対する機械的
強度にも優れた識別体を製造することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明識別体の第1の実施の形態を示すもので
あつて、部分断面した平面図である。
【図2】図1のイ−イ線における断面図である。
【図3】第1の実施の形態における取り付けの別態様を
示す断面図である。
【図4】本発明識別体の第2の実施の形態を示すもので
あつて、部分断面した平面図である。
【図5】図4のロ−ロ線における断面図である。
【図6】本発明製造方法の実施の形態を示すものであつ
て、琺瑯板の表面にブラスト加工用マスキングフイルム
を貼着する前の状態の断面図である。
【図7】同実施の形態において、ブラスト加工で開口部
を穿設している途中の状態を示す断面図である。
【図8】本発明製造方法の別の実施の形態を示すもので
あつて、レーザー加工機に琺瑯板を載置した状態の正面
図である。
【図9】同実施の形態において、レーザー加工機で開口
部を穿設している途中の状態を示す断面図である。
【符号の説明】
2,3…セラミツク層 4…積層体 5(15)…識別マーク 6(16)…開口部 12…上釉層 13…下釉層 14…琺瑯層 18…金属板 B…レーザー光線 S…砂

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 明度の異なる二層のセラミツク層を積層
    した積層体を備え、一方のセラミツク層に、該セラミツ
    ク層の表面から他方のセラミツク層へ至る開口部が開設
    され、一方のセラミツク層の表面と該開口部に面する他
    方のセラミツク層との明暗で認識できる識別マークを形
    成したことを特徴とする識別体。
  2. 【請求項2】 前記積層体が金属板の表面を覆う琺瑯層
    であり、前記一方のセラミツク層が上釉層であり、他方
    のセラミツク層が下釉層である請求項1記載の識別体。
  3. 【請求項3】 明度の異なる二層のセラミツク層を積層
    した積層体の表層側となる一方のセラミツク層を局部的
    に削り取ることにより、一方のセラミツク層の表面から
    他方のセラミツク層へ至る開口部を開設して、一方のセ
    ラミツク層の表面と該開口部に面する他方のセラミツク
    層との明暗で認識できる識別マークを得ることを特徴と
    する識別体の製造方法。
  4. 【請求項4】 前記削り取りは、前記一方のセラミツク
    層を覆うブラスト加工用マスキングフイルムに形成した
    非マスク部に向かつて砂を吹きつけるブラスト加工で行
    うか、または前記一方のセラミツク層に向かつてレーザ
    ー光を照射する除去加工で行う請求項3記載の識別体の
    製造方法。
  5. 【請求項5】 前記積層体が金属板の表面を覆う琺瑯層
    であり、前記一方のセラミツク層が上釉層であり、他方
    のセラミツク層が下釉層である請求項3又は4記載の識
    別体の製造方法。
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