JPH09181154A - 基板熱処理装置 - Google Patents
基板熱処理装置Info
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- JPH09181154A JPH09181154A JP33701695A JP33701695A JPH09181154A JP H09181154 A JPH09181154 A JP H09181154A JP 33701695 A JP33701695 A JP 33701695A JP 33701695 A JP33701695 A JP 33701695A JP H09181154 A JPH09181154 A JP H09181154A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 基板の熱処理を行うとともに、横ずれした基
板の位置の矯正が可能な基板熱処理装置を提供すること
である。 【解決手段】 基板保持プレート1の下方において、固
定軸8に固定された固定ガイド4と回動可能に取り付け
られた回転ガイド5を配置する。固定ガイド4には半径
方向に延びる第1の長孔13が形成されており、回転ガ
イド5には半径方向に対して傾斜した方向に延びる第2
の長孔14が形成されている。基板15の横ずれを矯正
する場合には、回転ガイド5が回転され、当接ピン10
が第1の長孔13と第2の長孔14とによって基板15
を水平方向に移動させ、基板の中心を所定の基準位置に
一致させる。
板の位置の矯正が可能な基板熱処理装置を提供すること
である。 【解決手段】 基板保持プレート1の下方において、固
定軸8に固定された固定ガイド4と回動可能に取り付け
られた回転ガイド5を配置する。固定ガイド4には半径
方向に延びる第1の長孔13が形成されており、回転ガ
イド5には半径方向に対して傾斜した方向に延びる第2
の長孔14が形成されている。基板15の横ずれを矯正
する場合には、回転ガイド5が回転され、当接ピン10
が第1の長孔13と第2の長孔14とによって基板15
を水平方向に移動させ、基板の中心を所定の基準位置に
一致させる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハ等の
基板に所定の熱処理を行うための基板熱処理装置に関す
る。
基板に所定の熱処理を行うための基板熱処理装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】図7は、ベークプレートと称される従来
の基板熱処理装置の構成図である。基板熱処理装置は、
基板33を保持するための基板保持台30を備える。基
板保持台30の表面にはプロキシミティボール31が形
成されている。プロキシミティボール31は、基板33
の裏面が基板保持台30に接触しないように基板保持台
30の表面から一定のギャップをもって基板33を保持
するために設けられている。
の基板熱処理装置の構成図である。基板熱処理装置は、
基板33を保持するための基板保持台30を備える。基
板保持台30の表面にはプロキシミティボール31が形
成されている。プロキシミティボール31は、基板33
の裏面が基板保持台30に接触しないように基板保持台
30の表面から一定のギャップをもって基板33を保持
するために設けられている。
【0003】また、基板熱処理装置は、基板33を上下
移動させるための受け渡しピン32を備えている。基板
33は、搬送アームに保持された状態で基板熱処理装置
に供給される。基板33が供給されると、受け渡しピン
32が上昇して基板33の裏面を支持し、搬送アームか
ら基板33を受け取る。そして、受け渡しピン32は基
板33を水平に支持した状態で下降し、プロキシミティ
ボール31上に基板33を載置する。その後、基板33
に対して加熱や降温等の熱処理が施される。熱処理が終
了後、受け渡しピン32が上昇して基板33を上方の所
定位置に持ち上げ、搬送アームに引き渡して基板33が
排出される。排出された基板33は搬送アームに保持さ
れた状態で次の処理ユニットへ搬送される。
移動させるための受け渡しピン32を備えている。基板
33は、搬送アームに保持された状態で基板熱処理装置
に供給される。基板33が供給されると、受け渡しピン
32が上昇して基板33の裏面を支持し、搬送アームか
ら基板33を受け取る。そして、受け渡しピン32は基
板33を水平に支持した状態で下降し、プロキシミティ
ボール31上に基板33を載置する。その後、基板33
に対して加熱や降温等の熱処理が施される。熱処理が終
了後、受け渡しピン32が上昇して基板33を上方の所
定位置に持ち上げ、搬送アームに引き渡して基板33が
排出される。排出された基板33は搬送アームに保持さ
れた状態で次の処理ユニットへ搬送される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記の基板熱処理装置
では、基板33は受け渡しピン32によって上下方向に
のみ移動するように構成されている。したがって、搬送
アームの正規の位置に保持された基板33は、基板熱処
理装置での処理中に水平方向へのずれが生じない限り、
基板33の排出時においても搬送アームの正規の位置に
基板33を引き渡すことができる。
では、基板33は受け渡しピン32によって上下方向に
のみ移動するように構成されている。したがって、搬送
アームの正規の位置に保持された基板33は、基板熱処
理装置での処理中に水平方向へのずれが生じない限り、
基板33の排出時においても搬送アームの正規の位置に
基板33を引き渡すことができる。
【0005】ところが、上記の基板熱処理装置では、次
のような要因によって基板33の横滑りが生じるという
問題がある。その一つの要因は、基板33を保持して受
け渡しピン32が下降する際、基板33と基板保持台3
0とに挟まれた空気層が緩衝層として基板33の下降を
阻害して基板33を横方向に滑らせることである。特
に、処理効率を向上させるために基板33の下降動作を
早めたり、あるいはプロキシミティボール31を小さく
して基板33を基板保持台30にできる限り近接して保
持させる場合には、基板33と基板保持台30との間の
空気の排出が遅れ、基板33によって圧縮された空気層
上を横滑りしやすくなる。
のような要因によって基板33の横滑りが生じるという
問題がある。その一つの要因は、基板33を保持して受
け渡しピン32が下降する際、基板33と基板保持台3
0とに挟まれた空気層が緩衝層として基板33の下降を
阻害して基板33を横方向に滑らせることである。特
に、処理効率を向上させるために基板33の下降動作を
早めたり、あるいはプロキシミティボール31を小さく
して基板33を基板保持台30にできる限り近接して保
持させる場合には、基板33と基板保持台30との間の
空気の排出が遅れ、基板33によって圧縮された空気層
上を横滑りしやすくなる。
【0006】また、図7に示すように、基板保持台30
の表面の溝をなくして基板33を均一に加熱するように
構成された場合にも、基板33と基板保持台30の間の
空気の逃げ道が減少し、基板33の横滑りが生じやすく
なる。
の表面の溝をなくして基板33を均一に加熱するように
構成された場合にも、基板33と基板保持台30の間の
空気の逃げ道が減少し、基板33の横滑りが生じやすく
なる。
【0007】また、他の要因として、基板保持台30の
水平面が傾いて設定されていたり、あるいは基板熱処理
装置がユニットとして組み込まれた基板処理装置の他の
処理ユニットからの振動が原因となる場合もある。
水平面が傾いて設定されていたり、あるいは基板熱処理
装置がユニットとして組み込まれた基板処理装置の他の
処理ユニットからの振動が原因となる場合もある。
【0008】基板33の水平方向の位置が正規の位置か
らずれていると、受け渡しピン32から搬送アームに基
板33を受け渡す際に搬送アームの正規の位置に基板3
3を受け渡すことができない。また、横ずれ量が大きい
場合には搬送アームから落下してしまうという問題が生
じる。
らずれていると、受け渡しピン32から搬送アームに基
板33を受け渡す際に搬送アームの正規の位置に基板3
3を受け渡すことができない。また、横ずれ量が大きい
場合には搬送アームから落下してしまうという問題が生
じる。
【0009】さらに、正規の位置からずれて搬送アーム
に保持された基板が次の処理ユニットに搬送されると、
次の処理ユニットにおける基板を保持すべき正規の位置
に基板を受け渡すことができない。このため、次の処理
ユニットでは正常な処理が行われないという問題も生じ
る。
に保持された基板が次の処理ユニットに搬送されると、
次の処理ユニットにおける基板を保持すべき正規の位置
に基板を受け渡すことができない。このため、次の処理
ユニットでは正常な処理が行われないという問題も生じ
る。
【0010】本発明の目的は、基板の熱処理を行うとと
もに、横ずれした基板の位置の矯正が可能な基板熱処理
装置を提供することである。
もに、横ずれした基板の位置の矯正が可能な基板熱処理
装置を提供することである。
【0011】
【課題を解決するための手段および発明の効果】第1の
発明に係る基板熱処理装置は、基板保持プレート上に水
平に基板を保持し、基板に対して所定の熱処理を行うと
ともに、基板の中心軸が所定の基準軸に一致するように
基板を水平方向に移動させて基板の位置合わせを行う基
板熱処理装置であって、基板保持プレートを貫通して形
成されており、基準軸を中心とする円の円周上に分散配
置されかつ円の半径方向に移動自在に案内される少なく
とも3本の当接ピンと、少なくとも3本の当接ピンを基
準軸に向かって等距離ずつ移動させて基板の外周端面に
当接させる当接ピン駆動手段とを備えたものである。
発明に係る基板熱処理装置は、基板保持プレート上に水
平に基板を保持し、基板に対して所定の熱処理を行うと
ともに、基板の中心軸が所定の基準軸に一致するように
基板を水平方向に移動させて基板の位置合わせを行う基
板熱処理装置であって、基板保持プレートを貫通して形
成されており、基準軸を中心とする円の円周上に分散配
置されかつ円の半径方向に移動自在に案内される少なく
とも3本の当接ピンと、少なくとも3本の当接ピンを基
準軸に向かって等距離ずつ移動させて基板の外周端面に
当接させる当接ピン駆動手段とを備えたものである。
【0012】なお、本書において「基板の中心軸」は、
水平面内に置かれた基板の中心点を通り、鉛直方向に延
びる直線を指すものとする。第2の発明にかかる基板熱
処理装置は、第1の発明にかかる基板熱処理装置の構成
において、当接ピン駆動手段が、少なくとも3本の当接
ピンがそれぞれ挿入されかつ半径方向に延びる少なくと
も3個の第1の長孔を有する第1のガイド部材と、少な
くとも3本の当接ピンがそれぞれ挿入されかつ円の半径
方向に対して傾斜した方向に延びる少なくとも3個の第
2の長孔を有する第2のガイド部材と、第2のガイド部
材を第1のガイド部材に対して基準軸を中心として回動
させる回動手段とを備えたことを特徴としている。
水平面内に置かれた基板の中心点を通り、鉛直方向に延
びる直線を指すものとする。第2の発明にかかる基板熱
処理装置は、第1の発明にかかる基板熱処理装置の構成
において、当接ピン駆動手段が、少なくとも3本の当接
ピンがそれぞれ挿入されかつ半径方向に延びる少なくと
も3個の第1の長孔を有する第1のガイド部材と、少な
くとも3本の当接ピンがそれぞれ挿入されかつ円の半径
方向に対して傾斜した方向に延びる少なくとも3個の第
2の長孔を有する第2のガイド部材と、第2のガイド部
材を第1のガイド部材に対して基準軸を中心として回動
させる回動手段とを備えたことを特徴としている。
【0013】第3の発明にかかる基板熱処理装置は、第
1および第2の発明に係る基板熱処理装置の構成におい
て、回動手段が、第2のガイド部材に回転力を付与する
回転力付与手段と、第2のガイド部材に付与する回転力
が所定値を越えないように規制する規制手段を有するこ
とを特徴としている。
1および第2の発明に係る基板熱処理装置の構成におい
て、回動手段が、第2のガイド部材に回転力を付与する
回転力付与手段と、第2のガイド部材に付与する回転力
が所定値を越えないように規制する規制手段を有するこ
とを特徴としている。
【0014】第4の発明に係る基板熱処理装置は、第2
および第3の発明に係る基板熱処理装置の構成におい
て、第1のガイド部材および前記第2のガイド部材が取
り付けられた回転軸と、回転軸を回転させる駆動モータ
と、基板保持プレート上に保持された基板の回転基準部
の位置を検出する検出手段と、検出手段から出力された
基板の回転基準部の位置に基づき基板の回転基準部が位
置すべき正規の位置に基板を回転移動させるための回転
量を算出して駆動モータに出力する位置制御部とをさら
に備えたことを特徴としている。
および第3の発明に係る基板熱処理装置の構成におい
て、第1のガイド部材および前記第2のガイド部材が取
り付けられた回転軸と、回転軸を回転させる駆動モータ
と、基板保持プレート上に保持された基板の回転基準部
の位置を検出する検出手段と、検出手段から出力された
基板の回転基準部の位置に基づき基板の回転基準部が位
置すべき正規の位置に基板を回転移動させるための回転
量を算出して駆動モータに出力する位置制御部とをさら
に備えたことを特徴としている。
【0015】第1〜第4の発明に係る基板熱処理装置に
おいては、少なくとも3本の当接ピンが基板の外周端面
に当接して移動する。この当接ピンの移動により、基板
は水平方向に移動され、基板の中心軸が所定の基準軸に
一致するように位置合わせが行われる。少なくとも3本
の当接ピンは、等距離ずつ基準軸に向かって移動され
る。このため、基板を基板保持プレート上に載置する際
に基板の横ずれが生じた場合でも、基板を所定の基準位
置に再び位置合わせすることができる。これにより、次
の処理ユニットに対して、基板を正規の基準位置に位置
合わせした状態で受け渡すことが可能となる。それゆ
え、次の処理ユニットにおいて基板の位置ずれによる処
理むらが発生するのを防止することができる。
おいては、少なくとも3本の当接ピンが基板の外周端面
に当接して移動する。この当接ピンの移動により、基板
は水平方向に移動され、基板の中心軸が所定の基準軸に
一致するように位置合わせが行われる。少なくとも3本
の当接ピンは、等距離ずつ基準軸に向かって移動され
る。このため、基板を基板保持プレート上に載置する際
に基板の横ずれが生じた場合でも、基板を所定の基準位
置に再び位置合わせすることができる。これにより、次
の処理ユニットに対して、基板を正規の基準位置に位置
合わせした状態で受け渡すことが可能となる。それゆ
え、次の処理ユニットにおいて基板の位置ずれによる処
理むらが発生するのを防止することができる。
【0016】特に、第2の発明に係る基板熱処理装置に
おいては、第2の長穴が形成された第2のガイド部材を
回動することによって当接ピンに押圧力を与え、第1の
長穴に沿って当接ピンを所定の基準軸方向に移動させる
ように構成されている。このため、第2のガイド部材を
回動させる一つの動作によって複数の当接ピンを同時に
かつ一様に移動させることができ、簡単な構成で精度よ
く基板の位置合わせ動作を行わせることができる。
おいては、第2の長穴が形成された第2のガイド部材を
回動することによって当接ピンに押圧力を与え、第1の
長穴に沿って当接ピンを所定の基準軸方向に移動させる
ように構成されている。このため、第2のガイド部材を
回動させる一つの動作によって複数の当接ピンを同時に
かつ一様に移動させることができ、簡単な構成で精度よ
く基板の位置合わせ動作を行わせることができる。
【0017】特に、第3の発明に係る基板熱処理装置に
おいては、回動手段に規制手段を設け、第2のガイド部
材に付与する回転力が所定値を越えないように制御して
いる。したがって、当接ピンから過度の押圧力を受けて
基板が損傷するといった不都合を防止することができ
る。
おいては、回動手段に規制手段を設け、第2のガイド部
材に付与する回転力が所定値を越えないように制御して
いる。したがって、当接ピンから過度の押圧力を受けて
基板が損傷するといった不都合を防止することができ
る。
【0018】さらに、第4の発明に係る基板熱処理装置
においては、基板の回転基準部の位置を検出する検出手
段と、検出手段の検出結果に基づいて基板の回転基準部
の回転方向の位置を矯正する位置制御部とをさらに設け
たことにより、基板の水平方向の位置ずれを矯正すると
ともに、回転基準部の回転方向の位置ずれをも矯正する
ことができる。
においては、基板の回転基準部の位置を検出する検出手
段と、検出手段の検出結果に基づいて基板の回転基準部
の回転方向の位置を矯正する位置制御部とをさらに設け
たことにより、基板の水平方向の位置ずれを矯正すると
ともに、回転基準部の回転方向の位置ずれをも矯正する
ことができる。
【0019】
【発明の実施の形態】図1は、本発明の第1の実施例に
よる基板熱処理装置の断面構造図であり、図2は、その
平面構造図である。さらに、図3は、図1中のX−X線
断面図である。
よる基板熱処理装置の断面構造図であり、図2は、その
平面構造図である。さらに、図3は、図1中のX−X線
断面図である。
【0020】基板熱処理装置は、基板15を保持するた
めの基板保持プレート1を備えている。基板保持プレー
ト1の表面には複数のプロキシミティボール2が形成さ
れている。プロキシミティボール2は基板保持プレート
1の上面からわずかに隔たった上方位置に基板15を水
平に保持する。これにより、基板15の裏面が基板保持
プレート1の上面に接触して基板15の裏面が汚染され
るのを防止している。
めの基板保持プレート1を備えている。基板保持プレー
ト1の表面には複数のプロキシミティボール2が形成さ
れている。プロキシミティボール2は基板保持プレート
1の上面からわずかに隔たった上方位置に基板15を水
平に保持する。これにより、基板15の裏面が基板保持
プレート1の上面に接触して基板15の裏面が汚染され
るのを防止している。
【0021】また、基板保持プレート1には、受け渡し
ピン9を通過させる貫通孔16と、当接ピン10を通過
させる貫通孔3が形成されている。受け渡しピン9は、
貫通孔16を通して昇降し、基板15を上下移動させ
る。当接ピン10は、貫通孔3を通して上方に突出して
おり、基板15の外周端面を保持する。
ピン9を通過させる貫通孔16と、当接ピン10を通過
させる貫通孔3が形成されている。受け渡しピン9は、
貫通孔16を通して昇降し、基板15を上下移動させ
る。当接ピン10は、貫通孔3を通して上方に突出して
おり、基板15の外周端面を保持する。
【0022】基板保持プレート1の下方には、基板15
の位置合わせを行うための機構部が設けられている。こ
の基板熱処理装置では、固定軸8の軸芯を基準軸Qと
し、基板15の中心を通る鉛直線(中心軸P)が基準軸
Qに一致するように位置合わせが行なわれる。
の位置合わせを行うための機構部が設けられている。こ
の基板熱処理装置では、固定軸8の軸芯を基準軸Qと
し、基板15の中心を通る鉛直線(中心軸P)が基準軸
Qに一致するように位置合わせが行なわれる。
【0023】固定軸8には固定ガイド4と回転ガイド5
が取り付けられている。固定ガイド4は円板状に形成さ
れ、固定軸8に固定されている。また、回転ガイド5
は、固定ガイド4の下方に配置され、固定軸8に対して
軸受7を介して回動可能に取り付けられている。固定ガ
イド4の下面と回転ガイド5の上面との間には軸受6が
挿入されている。軸受6の動作によって回転ガイド5は
静止した固定ガイド4に対して滑らかに回動する。
が取り付けられている。固定ガイド4は円板状に形成さ
れ、固定軸8に固定されている。また、回転ガイド5
は、固定ガイド4の下方に配置され、固定軸8に対して
軸受7を介して回動可能に取り付けられている。固定ガ
イド4の下面と回転ガイド5の上面との間には軸受6が
挿入されている。軸受6の動作によって回転ガイド5は
静止した固定ガイド4に対して滑らかに回動する。
【0024】回転ガイド5の外周端面には回転ガイド駆
動部20が取り付けられている。回転ガイド駆動部20
は、回転ガイド5の外周端面に当接して回転する駆動円
板21と、駆動円板21に回転力を与える駆動モータ2
3と、駆動モータ23と駆動円板21との間に介在する
トルクコントローラ22から構成されている。
動部20が取り付けられている。回転ガイド駆動部20
は、回転ガイド5の外周端面に当接して回転する駆動円
板21と、駆動円板21に回転力を与える駆動モータ2
3と、駆動モータ23と駆動円板21との間に介在する
トルクコントローラ22から構成されている。
【0025】トルクコントローラ22は、トーションバ
ーやコイルばねを用いたトルク調整機構と、変速機とを
備えている。そして、駆動円板21に加わる負荷が一定
値に達すると、駆動モータ23の回転を駆動円板21に
伝達するのを停止する。これにより、駆動円板21が回
転ガイド5に対して一定値以上のトルクを伝達しないよ
うにトルクコントローラ22によってトルクの伝達量が
制御される。
ーやコイルばねを用いたトルク調整機構と、変速機とを
備えている。そして、駆動円板21に加わる負荷が一定
値に達すると、駆動モータ23の回転を駆動円板21に
伝達するのを停止する。これにより、駆動円板21が回
転ガイド5に対して一定値以上のトルクを伝達しないよ
うにトルクコントローラ22によってトルクの伝達量が
制御される。
【0026】また、固定ガイド4には半径方向に延びる
第1の長孔13が複数箇所(図示の例では6箇所)形成
されている。回転ガイド5には、半径方向に対して傾斜
した方向に延びる第2の長孔14が同数箇所形成されて
いる。固定ガイド4の第1の長孔13と回転ガイド5の
第2の長孔14とは各々の一部分が重なり合うように配
置される。そして、両者の重なり部分に当接ピン10が
挿入されている。
第1の長孔13が複数箇所(図示の例では6箇所)形成
されている。回転ガイド5には、半径方向に対して傾斜
した方向に延びる第2の長孔14が同数箇所形成されて
いる。固定ガイド4の第1の長孔13と回転ガイド5の
第2の長孔14とは各々の一部分が重なり合うように配
置される。そして、両者の重なり部分に当接ピン10が
挿入されている。
【0027】当接ピン10は回転ガイド5の第2の長孔
14、固定ガイド4の第1の長孔13および基板保持プ
レート1の貫通孔3を貫通し、その上端が基板保持プレ
ート1の上面から突出している。当接ピン10は、固定
ガイド4および回転ガイド5を挟み込むように取り付け
られた樹脂製の座金11,12によって鉛直方向に姿勢
が保持されている。
14、固定ガイド4の第1の長孔13および基板保持プ
レート1の貫通孔3を貫通し、その上端が基板保持プレ
ート1の上面から突出している。当接ピン10は、固定
ガイド4および回転ガイド5を挟み込むように取り付け
られた樹脂製の座金11,12によって鉛直方向に姿勢
が保持されている。
【0028】さらに、基板熱処理装置は、基板15を上
下移動させるための受け渡しピン9を備えている。受け
渡しピン9は、基板保持プレート1、固定ガイド4、回
転ガイド5にそれぞれ形成された貫通孔16,17,1
8を通過して上下移動する。
下移動させるための受け渡しピン9を備えている。受け
渡しピン9は、基板保持プレート1、固定ガイド4、回
転ガイド5にそれぞれ形成された貫通孔16,17,1
8を通過して上下移動する。
【0029】本実施例では、固定ガイド4が第1のガイ
ド部材を構成し、回転ガイド5が第2のガイド部材を構
成し、さらに、回転ガイド駆動部20が回動手段を構成
する。また、トルクコントローラ22が規制手段を構成
する。
ド部材を構成し、回転ガイド5が第2のガイド部材を構
成し、さらに、回転ガイド駆動部20が回動手段を構成
する。また、トルクコントローラ22が規制手段を構成
する。
【0030】次に、上記のような構成を有する基板熱処
理装置における基板位置合わせ動作について説明する。
図4は、基板位置合わせ時における当接ピンの移動状態
を示す要部平面図であり、図5は基板の移動状態を示す
平面図である。図5(a)において、種々の横滑りの要
因によって基板15の中心軸Pが、正規の基準軸Qから
距離dだけずれて基板保持プレート1に保持されている
ものとする。
理装置における基板位置合わせ動作について説明する。
図4は、基板位置合わせ時における当接ピンの移動状態
を示す要部平面図であり、図5は基板の移動状態を示す
平面図である。図5(a)において、種々の横滑りの要
因によって基板15の中心軸Pが、正規の基準軸Qから
距離dだけずれて基板保持プレート1に保持されている
ものとする。
【0031】この状態から回転ガイド駆動部20(図1
参照)の駆動モータ23が駆動され、基板15の位置合
わせ動作が開始される。駆動モータ23は駆動円板21
を通して回転ガイド5を所定の方向(図示の場合は反時
計回り)に回転させる。回転ガイド5が回転すると、当
接ピン10は第2の長孔14の内部側面14aに押され
ながら第1の長孔13の内部側面13aに案内されて基
準軸Qに向かって移動する。
参照)の駆動モータ23が駆動され、基板15の位置合
わせ動作が開始される。駆動モータ23は駆動円板21
を通して回転ガイド5を所定の方向(図示の場合は反時
計回り)に回転させる。回転ガイド5が回転すると、当
接ピン10は第2の長孔14の内部側面14aに押され
ながら第1の長孔13の内部側面13aに案内されて基
準軸Qに向かって移動する。
【0032】そして、図5(a)に示すように、まずい
くつかの当接ピン10が基板15の外周端面に当接し、
基板15を水平方向に押しながら移動させる。これによ
って、基板15の中心軸Pが徐々に基準軸Qに近づくよ
うに基板15が移動する。
くつかの当接ピン10が基板15の外周端面に当接し、
基板15を水平方向に押しながら移動させる。これによ
って、基板15の中心軸Pが徐々に基準軸Qに近づくよ
うに基板15が移動する。
【0033】そして、図5(b)に示すように、全ての
当接ピン10が基板15の外周端面に当接した時点で基
板15の中心軸Pは基準軸Qに一致する。当接ピン10
がこれ以上基板15側へ移動できなくなると、トルクコ
ントローラ22が駆動円板21に回転力を伝達するのを
制限する。したがって、当接ピン10にはこれ以上の移
動力が与えられず、基板15は位置合わせされた状態に
保持される。
当接ピン10が基板15の外周端面に当接した時点で基
板15の中心軸Pは基準軸Qに一致する。当接ピン10
がこれ以上基板15側へ移動できなくなると、トルクコ
ントローラ22が駆動円板21に回転力を伝達するのを
制限する。したがって、当接ピン10にはこれ以上の移
動力が与えられず、基板15は位置合わせされた状態に
保持される。
【0034】例えば図3において、固定ガイド4および
回転ガイド5にそれぞれ形成された第1の長孔13およ
び第2の長孔14は、基準軸Qを中心として点対称の位
置に形成されている。このため、第1の長孔13と第2
の長孔14とによってその位置が規定される複数の当接
ピン10は、同様に基準軸Qに対して常に点対称の位置
に保持される。したがって、図5(a)に示すように全
ての当接ピン10は基準軸Qを中心とする仮想円19上
に位置する。そして、回転ガイド5が回動すると、複数
の当接ピン10はこの仮想円19の径を縮めるように移
動する。その結果、基板15は、基板15の中心が仮想
円19の中心上に移動させられることになる。それによ
って、基板15の中心軸Pが基準軸Qに一致する。
回転ガイド5にそれぞれ形成された第1の長孔13およ
び第2の長孔14は、基準軸Qを中心として点対称の位
置に形成されている。このため、第1の長孔13と第2
の長孔14とによってその位置が規定される複数の当接
ピン10は、同様に基準軸Qに対して常に点対称の位置
に保持される。したがって、図5(a)に示すように全
ての当接ピン10は基準軸Qを中心とする仮想円19上
に位置する。そして、回転ガイド5が回動すると、複数
の当接ピン10はこの仮想円19の径を縮めるように移
動する。その結果、基板15は、基板15の中心が仮想
円19の中心上に移動させられることになる。それによ
って、基板15の中心軸Pが基準軸Qに一致する。
【0035】さらに、図6は、本発明の第2の実施例に
よる基板熱処理装置の断面構造図である。第2の実施例
による基板熱処理装置は、第1の実施例による基板熱処
理装置に対し、基板15の回転基準部、例えばオリエン
テーションフラットやノッチ部を一定の向き(回転方向
の位置)に揃える回転位置調整機構をさらに備えるもの
である。なお、第1の実施例と同様の符号を付した構成
要素は第1の実施例の場合と同様であるため、ここでの
説明は省略する。
よる基板熱処理装置の断面構造図である。第2の実施例
による基板熱処理装置は、第1の実施例による基板熱処
理装置に対し、基板15の回転基準部、例えばオリエン
テーションフラットやノッチ部を一定の向き(回転方向
の位置)に揃える回転位置調整機構をさらに備えるもの
である。なお、第1の実施例と同様の符号を付した構成
要素は第1の実施例の場合と同様であるため、ここでの
説明は省略する。
【0036】第2の実施例による基板熱処理装置は、固
定ガイド4および回転ガイド5が回転軸25に取り付け
られており、回転軸25にはさらにモータ26が接続さ
れている。モータ26を回転させると、当接ピン10が
基板15の外周端面を保持した状態で固定ガイド4、回
転ガイド5、当接ピン10、基板15および回転ガイド
駆動部20がモータ26の回転方向に沿って回転する。
定ガイド4および回転ガイド5が回転軸25に取り付け
られており、回転軸25にはさらにモータ26が接続さ
れている。モータ26を回転させると、当接ピン10が
基板15の外周端面を保持した状態で固定ガイド4、回
転ガイド5、当接ピン10、基板15および回転ガイド
駆動部20がモータ26の回転方向に沿って回転する。
【0037】基板15の周縁部上方には位置検出器27
が設けられている。基板15は基板熱処理装置に搬入さ
れる際に回転基準部がほぼ一定の向きに揃えられて供給
されている。したがって、位置検出器27は、ほぼ揃え
られた基板15の回転基準部上に配置されている。
が設けられている。基板15は基板熱処理装置に搬入さ
れる際に回転基準部がほぼ一定の向きに揃えられて供給
されている。したがって、位置検出器27は、ほぼ揃え
られた基板15の回転基準部上に配置されている。
【0038】位置検出器27は、基板15が基板保持プ
レート1上に載置される場合に生じた横ずれによって発
生した回転基準部の回転方向のずれ量を検出する。検出
されたずれ量は位置制御部28に出力される。
レート1上に載置される場合に生じた横ずれによって発
生した回転基準部の回転方向のずれ量を検出する。検出
されたずれ量は位置制御部28に出力される。
【0039】位置制御部28は、位置検出器27から与
えられたずれ量に基づき、モータ26の回転量を算出
し、モータ26に対して位置調整用の回転命令を出力す
る。位置制御部28からの命令を受けてモータ26は回
転し、当接ピン10に保持された基板15をわずかに回
転させて回転基準部の回転方向の位置を正規の位置に矯
正する。
えられたずれ量に基づき、モータ26の回転量を算出
し、モータ26に対して位置調整用の回転命令を出力す
る。位置制御部28からの命令を受けてモータ26は回
転し、当接ピン10に保持された基板15をわずかに回
転させて回転基準部の回転方向の位置を正規の位置に矯
正する。
【0040】一例として8インチウエハの場合、基板1
5は左右回りに±3°、外周縁部における距離にして±
5mmの範囲で矯正できるように構成されている。な
お、基板15の回転基準部の位置の矯正のために基板1
5を回転させる機構としては、上記のように当接ピン1
0で基板15を保持して回転する機構のみならず、基板
保持プレート1のプロキシミティボール2を含む部分を
他の基板保持プレート1の部分から回動可能に円板状に
独立して形成し、この円板状の部分を回転させるように
構成してもよい。
5は左右回りに±3°、外周縁部における距離にして±
5mmの範囲で矯正できるように構成されている。な
お、基板15の回転基準部の位置の矯正のために基板1
5を回転させる機構としては、上記のように当接ピン1
0で基板15を保持して回転する機構のみならず、基板
保持プレート1のプロキシミティボール2を含む部分を
他の基板保持プレート1の部分から回動可能に円板状に
独立して形成し、この円板状の部分を回転させるように
構成してもよい。
【0041】また、上記第1および第2の実施例におけ
る基板15の横ずれの位置合わせ動作は、熱処理中に行
ってもよく、熱処理の前後のいずれかのときにおいて行
ってもよい。熱処理中に行った場合には、熱処理時以外
に行った場合に比べて処理時間が短縮される。
る基板15の横ずれの位置合わせ動作は、熱処理中に行
ってもよく、熱処理の前後のいずれかのときにおいて行
ってもよい。熱処理中に行った場合には、熱処理時以外
に行った場合に比べて処理時間が短縮される。
【0042】さらに、上記第1および第2の実施例で
は、固定ガイド4および回転ガイド5をそれぞれ一枚ず
つ組み合わせて基板の位置合わせを行っているが、回転
ガイド5を2枚の固定ガイド4で上下方向から挟み込む
ように構成してもよい。
は、固定ガイド4および回転ガイド5をそれぞれ一枚ず
つ組み合わせて基板の位置合わせを行っているが、回転
ガイド5を2枚の固定ガイド4で上下方向から挟み込む
ように構成してもよい。
【0043】なお、特に図示していないが、上記実施例
による基板熱処理装置は、装置を構成する本体部、加熱
装置、熱処理空間を構成するための蓋部材等、熱処理に
必要な他の構成を備えるものである。
による基板熱処理装置は、装置を構成する本体部、加熱
装置、熱処理空間を構成するための蓋部材等、熱処理に
必要な他の構成を備えるものである。
【図1】本発明の第1の実施例による基板熱処理装置の
断面構造図である。
断面構造図である。
【図2】図1に示す基板熱処理装置の平面構造図であ
る。
る。
【図3】図1中のX−X線方向の断面構造図である。
【図4】基板熱処理装置の当接ピンの動作説明図であ
る。
る。
【図5】基板熱処理装置の基板位置合わせ動作の説明図
である。
である。
【図6】本発明の第2の実施例による基板熱処理装置の
断面構造図である。
断面構造図である。
【図7】従来の基板熱処理装置の断面構造図である。
1 基板保持プレート 2 プロキシミティボール 3 貫通孔 4 固定ガイド 5 回転ガイド 8 固定軸 9 受け渡しピン 10 当接ピン 13 第1の長孔 14 第2の長孔 15 基板 20 回転ガイド駆動部 21 駆動円板 22 トルクコントローラ 23 駆動モータ 25 回転軸 26 モータ 27 位置検出器 28 位置制御部
Claims (4)
- 【請求項1】 基板保持プレート上に水平に基板を保持
し、前記基板に対して所定の熱処理を行うとともに、前
記基板の中心軸が所定の基準軸に一致するように前記基
板を水平方向に移動させて前記基板の位置合わせを行う
基板熱処理装置であって、 前記基板保持プレートを貫通して形成されており、前記
基準軸を中心とする円の円周上に分散配置されかつ前記
円の半径方向に移動自在に案内される少なくとも3本の
当接ピンと、 前記少なくとも3本の当接ピンを前記基準軸に向かって
等距離ずつ移動させて前記基板の外周端面に当接させる
当接ピン駆動手段とを備えたことを特徴とする基板熱処
理装置。 - 【請求項2】 前記当接ピン駆動手段は、 前記少なくとも3本の当接ピンがそれぞれ挿入されかつ
前記半径方向に延びる少なくとも3個の第1の長孔を有
する第1のガイド部材と、 前記少なくとも3本の当接ピンがそれぞれ挿入されかつ
前記円の半径方向に対して傾斜した方向に延びる少なく
とも3個の第2の長孔を有する第2のガイド部材と、 前記第2のガイド部材を前記第1のガイド部材に対して
前記基準軸を中心として回動させる回動手段とを備えた
ことを特徴とする請求項1記載の基板熱処理装置。 - 【請求項3】 前記回動手段は、 前記第2のガイド部材に回転力を付与する回転力付与手
段と、 前記第2のガイド部材に付与する回転力が所定値を越え
ないように規制する規制手段を有することを特徴とする
請求項1または2記載の基板熱処理装置。 - 【請求項4】 前記第1のガイド部材および前記第2の
ガイド部材が取り付けられた回転軸と、 前記回転軸を回転させる駆動モータと、 前記基板保持プレート上に保持された前記基板の回転基
準部の位置を検出する検出手段と、 前記検出手段から出力された前記基板の回転基準部の位
置に基づき前記基板の回転基準部が位置すべき正規の位
置に前記基板を回転移動させるための回転量を算出して
前記駆動モータに出力する位置制御部とをさらに備えた
ことを特徴とする請求項2または3記載の基板熱処理装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33701695A JPH09181154A (ja) | 1995-12-25 | 1995-12-25 | 基板熱処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33701695A JPH09181154A (ja) | 1995-12-25 | 1995-12-25 | 基板熱処理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09181154A true JPH09181154A (ja) | 1997-07-11 |
Family
ID=18304679
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP33701695A Pending JPH09181154A (ja) | 1995-12-25 | 1995-12-25 | 基板熱処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH09181154A (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR19990074254A (ko) * | 1998-03-09 | 1999-10-05 | 윤종용 | 웨이퍼의 미끄러짐을 방지하는 핫 플레이트를 구비한 오븐 |
KR20030021653A (ko) * | 2001-09-07 | 2003-03-15 | 삼성전자주식회사 | 웨이퍼 스테이지 및 이를 이용한 베이크 장치 |
JP2003100851A (ja) * | 2001-09-26 | 2003-04-04 | Ulvac Japan Ltd | 真空処理装置および真空処理方法 |
JP2005340441A (ja) * | 2004-05-26 | 2005-12-08 | Kyocera Corp | ウェハ支持部材 |
JP2007258450A (ja) * | 2006-03-23 | 2007-10-04 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウエーハの保持機構 |
WO2008029608A1 (fr) * | 2006-09-05 | 2008-03-13 | Tokyo Electron Limited | Dispositif de transfert de substrat, dispositif de traitement de substrat, et procédé de transfert de substrat |
WO2008029609A1 (fr) * | 2006-09-05 | 2008-03-13 | Tokyo Electron Limited | Procédé de positionnement de substrat, procédé de détection de position de substrat, et procédé de récupération de substrat |
US8057153B2 (en) | 2006-09-05 | 2011-11-15 | Tokyo Electron Limited | Substrate transfer device, substrate processing apparatus and substrate transfer method |
JP2017028068A (ja) * | 2015-07-21 | 2017-02-02 | 株式会社東芝 | 研磨装置および半導体製造方法 |
-
1995
- 1995-12-25 JP JP33701695A patent/JPH09181154A/ja active Pending
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR19990074254A (ko) * | 1998-03-09 | 1999-10-05 | 윤종용 | 웨이퍼의 미끄러짐을 방지하는 핫 플레이트를 구비한 오븐 |
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WO2008029608A1 (fr) * | 2006-09-05 | 2008-03-13 | Tokyo Electron Limited | Dispositif de transfert de substrat, dispositif de traitement de substrat, et procédé de transfert de substrat |
WO2008029609A1 (fr) * | 2006-09-05 | 2008-03-13 | Tokyo Electron Limited | Procédé de positionnement de substrat, procédé de détection de position de substrat, et procédé de récupération de substrat |
JP2008066367A (ja) * | 2006-09-05 | 2008-03-21 | Tokyo Electron Ltd | 基板受け渡し装置,基板処理装置,基板受け渡し方法 |
JP2008066372A (ja) * | 2006-09-05 | 2008-03-21 | Tokyo Electron Ltd | 基板位置決め方法,基板位置検出方法,基板回収方法 |
US8057153B2 (en) | 2006-09-05 | 2011-11-15 | Tokyo Electron Limited | Substrate transfer device, substrate processing apparatus and substrate transfer method |
US8135486B2 (en) | 2006-09-05 | 2012-03-13 | Tokyo Electron Limited | Substrate position determining method and substrate position detecting method |
US9082798B2 (en) | 2006-09-05 | 2015-07-14 | Tokyo Electron Limited | Substrate collecting method |
JP2017028068A (ja) * | 2015-07-21 | 2017-02-02 | 株式会社東芝 | 研磨装置および半導体製造方法 |
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