JPH09105605A - Edge detection apparatus - Google Patents
Edge detection apparatusInfo
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- JPH09105605A JPH09105605A JP26424495A JP26424495A JPH09105605A JP H09105605 A JPH09105605 A JP H09105605A JP 26424495 A JP26424495 A JP 26424495A JP 26424495 A JP26424495 A JP 26424495A JP H09105605 A JPH09105605 A JP H09105605A
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、光源と、照明光学
系及び光検出器を有する光学系からなり、試料と相対的
に移動させながら光検出器の出力に基づいて試料のエッ
ジを検出するエッジ検出装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention comprises a light source, an optical system having an illumination optical system and a photodetector, and detects the edge of the sample based on the output of the photodetector while moving relative to the sample. The present invention relates to an edge detection device.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来のエッジ検出装置としては、例えば
特開平5−99619号公報に示されるような構成のも
のがある。図5は、かかる公報に示されているエッジ検
出装置の構成図である。図5に示すように、試料1を両
矢印A方向、つまり対物レンズ6の光軸に対して直交す
る方向に移動可能なステージ2上に載置し、このステー
ジ2の一方の面側に配置されたテレセントリック照明系
は、光源3、ファイバーガイド4、ファイバーガイド4
の端面上の一点よりの光を平行光とする光学系5、ミラ
ー13よりなっている。光源3は基準電圧15より駆動
アンプ14を介して設定した電圧で点灯される。2. Description of the Related Art As a conventional edge detecting device, there is one having a structure as shown in, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 5-99619. FIG. 5 is a block diagram of the edge detection device shown in this publication. As shown in FIG. 5, the sample 1 is placed on a stage 2 that is movable in the direction of the double-headed arrow A, that is, in the direction orthogonal to the optical axis of the objective lens 6, and is arranged on one surface side of the stage 2. The created telecentric illumination system includes a light source 3, a fiber guide 4, and a fiber guide 4.
The optical system 5 and the mirror 13 which make parallel light the light from one point on the end face of the. The light source 3 is turned on at a voltage set via the drive amplifier 14 from the reference voltage 15.
【0003】また、ステージ2の他方の面側には対物レ
ンズ6、結像レンズ7、ピンホール8及び光検出器9が
配置され、対物レンズ6の焦点を試料1の表面に一致さ
せてテレセントリック照明系からの光を対物レンズ6、
結像レンズ7及びピンホール8を経て光検出器9で受光
し、その出力を電流/電圧変換器(以下I/V変換器と
略称する)16を介して比較器10において基準電圧1
1からの所定の閾値と比較してエッジ検出信号を得る。Further, an objective lens 6, an imaging lens 7, a pinhole 8 and a photodetector 9 are arranged on the other surface side of the stage 2, and the focus of the objective lens 6 is made to coincide with the surface of the sample 1 and telecentric. The objective lens 6, the light from the illumination system,
The light is received by the photodetector 9 through the imaging lens 7 and the pinhole 8, and its output is passed through the current / voltage converter (hereinafter abbreviated as I / V converter) 16 and the reference voltage 1 in the comparator 10.
The edge detection signal is obtained by comparing with a predetermined threshold value from 1.
【0004】ここで、基準電圧11による閾値はキャリ
ブレーション作業により、試料エッジの明部と暗部とに
おける光検出器9の出力をモニタ12に表示し、それら
の値に基づいて設定する。Here, the threshold value based on the reference voltage 11 is set by the calibration work by displaying the output of the photodetector 9 in the bright portion and the dark portion of the sample edge on the monitor 12 and based on these values.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来のエッジ検出装置においては、試料照射光の強度
を一定に保つことが難しいという問題があった。即ち、
従来のエッジ検出装置では、光源自身の劣化による光源
輝度の低下や光源周辺部品の熱による機械的位置ずれ等
が発生し、これらはいずれも試料を照射する照射光の強
度を時間的に変化させてしまう。However, the above-mentioned conventional edge detecting device has a problem that it is difficult to keep the intensity of the sample irradiation light constant. That is,
In the conventional edge detection device, deterioration of the light source itself causes deterioration of the light source brightness and mechanical displacement of the light source peripheral parts due to heat, etc., all of which change the intensity of the irradiation light irradiating the sample with time. Will end up.
【0006】この試料照射光に強度変化が発生すると、
図4に示すように試料1のエッジ部における光検出器9
の出力プロファイルも変化し、先に設定した閾値との比
較によるエッジ検出には検出誤差が含まれてしまうこと
になる。When an intensity change occurs in this sample irradiation light,
As shown in FIG. 4, the photodetector 9 at the edge of the sample 1
The output profile also changes, and the detection error is included in the edge detection by comparing with the previously set threshold value.
【0007】このため、従来のエッジ検出装置では閾値
を示す基準電圧11の値を定数として持つことができ
ず、前述のキャリブレーション作業が必要となり、特に
高精度でエッジ検出を行う場合には、このキャリブレー
ション作業という調整作業を頻繁に行う必要があった。For this reason, the conventional edge detecting device cannot hold the value of the reference voltage 11 indicating the threshold value as a constant, and the above-described calibration work is required. Especially, when performing edge detection with high accuracy, It was necessary to frequently perform the adjustment work called the calibration work.
【0008】本発明はこのような従来の問題点に着目と
してなされたもので、試料照射光の強度を安定させるこ
とにより、調整の煩わしさを排除し、常に簡単且つ高精
度に試料のエッジ検出を行うことができるエッジ検出装
置を提供することを目的とする。The present invention has been made in view of such conventional problems. By stabilizing the intensity of the sample irradiation light, the troublesomeness of the adjustment is eliminated, and the edge detection of the sample is always simple and highly accurate. It is an object of the present invention to provide an edge detection device capable of performing.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するため、次のような手段によりエッジ検出装置を構
成するものである。請求項1に対応する発明は、試料
と、照明光学系を通して光源からの光を前記試料を介し
て受光する第1の光検出器を備えた光学系とを相対的に
移動させながら前記第1の光検出器の出力に基づいて前
記試料のエッジを検出するエッジ検出装置において、前
記光源から前記試料に照射される光の強度に比例した値
を検出する第2の光検出器と、この第2の光検出器の出
力が一定になるように前記光源の輝度を変化させる電圧
制御手段とを備えた電圧制御手段を備える。In order to achieve the above-mentioned object, the present invention constitutes an edge detecting device by the following means. In the invention corresponding to claim 1, the sample and the optical system including a first photodetector for receiving the light from the light source through the illumination optical system through the sample are moved relatively to each other. In the edge detection device for detecting the edge of the sample based on the output of the photodetector, a second photodetector for detecting a value proportional to the intensity of light emitted from the light source to the sample; Voltage control means for changing the brightness of the light source so that the output of the second photodetector becomes constant.
【0010】請求項2に対応する発明は、試料と、照明
光学系を通して光源からの光を前記試料を介して受光す
る第1の光検出器を備えた光学系とを相対的に移動させ
ながら前記第1の光検出器の出力に基づいて前記試料の
エッジを検出するエッジ検出装置において、前記光源か
ら前記試料に照射される光の強度に比例した値を出力す
るように配置された第2の光検出器と、前記照明光学系
に移動可能に設けられ試料照射光の強度を変化させる光
学フィルタと、この光学フィルタを前記第2の光検出器
の出力が予め定められた設定値と等しくなるように移動
させる光学フィルタ移動機構とを備える。According to the second aspect of the invention, the sample and the optical system having the first photodetector for receiving the light from the light source through the illumination optical system through the sample are moved relatively to each other. In an edge detection device that detects an edge of the sample based on the output of the first photodetector, a second device arranged to output a value proportional to the intensity of light emitted from the light source to the sample. Photodetector, an optical filter that is movably provided in the illumination optical system and that changes the intensity of the sample irradiation light, and the output of the second photodetector is equal to a preset set value. And an optical filter moving mechanism for moving the optical filter.
【0011】従って、請求項1に対応する発明のエッジ
検出装置にあっては、光源から試料に照射される光の強
度に比例した値を第2の光検出器により検出し、この第
2の光検出器の出力が一定になるように光源の輝度を変
化させることにより、光源の劣化や熱による光源周辺の
機械的位置ずれ等が発生しても、試料照射光の強度は常
に一定となるので、一度エッジ検出の閾値を基準電圧に
より設定すれば、その設定値を装置の定数として持たせ
ることが可能となり、従来のようなキャリブレーション
作業という調整の煩わしさを伴わずに常に高精度でエッ
ジ検出を行うことができる。Therefore, in the edge detecting device according to the first aspect of the invention, the second photodetector detects a value proportional to the intensity of the light emitted from the light source to the sample, and the second photodetector detects the value. By changing the brightness of the light source so that the output of the photodetector is constant, the intensity of the sample irradiation light is always constant even if the light source deteriorates or mechanical displacement around the light source occurs due to heat. Therefore, once the threshold for edge detection is set by the reference voltage, it becomes possible to have that set value as a constant of the device, and always with high accuracy without the troublesome adjustment of the conventional calibration work. Edge detection can be performed.
【0012】また、請求項2に対応する発明のエッジ検
出装置にあっては、光源から試料に照射される光の強度
に比例した値を第2の光検出器により検出し、この第2
の光検出器の出力と予め定められた設定値とが等しくな
るように照明光学系に移動可能に設けられた試料照射光
の強度を変化させる光学フィルタを光学フィルタ移動機
構により移動させることにより、光源の劣化や熱による
光源周辺の機械的位置ずれ等が発生しても、試料照射光
の強度は常に一定となり、上記と同様の効果を得ること
ができる。Further, in the edge detecting apparatus of the invention according to claim 2, a value proportional to the intensity of the light emitted from the light source to the sample is detected by the second photodetector, and the second photodetector is used.
By moving an optical filter that changes the intensity of the sample irradiation light movably provided in the illumination optical system so that the output of the photodetector and a preset setting value become equal, by an optical filter moving mechanism, Even if the light source is deteriorated or mechanical displacement around the light source due to heat occurs, the intensity of the sample irradiation light is always constant, and the same effect as above can be obtained.
【0013】[0013]
【発明の実施の形態】以下本発明の実施の形態を図面を
参照して説明する。図1は本発明によるエッジ検出装置
の第1の実施の形態を示す構成図で、図4と同一部品に
は同一符号を付して示す。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of an edge detecting apparatus according to the present invention, and the same parts as those in FIG. 4 are designated by the same reference numerals.
【0014】図1に示すように、試料1を両矢印A方
向、つまり対物レンズ6の光軸に対して直交する方向に
移動可能なステージ2上に載置し、このステージ2の一
方の面側にはテレセントリック照明系が設けられる。こ
のテレセントリック照明系は、ランプ20、ファイバー
ガイド21、ファイバガイド21の端面上の一点よりの
光を平行光とする光学系22、ハーフミラー23からか
らなり、試料1を照明する。As shown in FIG. 1, the sample 1 is placed on a stage 2 which is movable in the direction of a double arrow A, that is, in the direction orthogonal to the optical axis of the objective lens 6, and one surface of the stage 2 is placed. A telecentric lighting system is provided on the side. This telecentric illumination system includes a lamp 20, a fiber guide 21, an optical system 22 that makes parallel light from a point on the end face of the fiber guide 21, and a half mirror 23, and illuminates the sample 1.
【0015】また、ステージ2の他方の面側には対物レ
ンズ6、結像レンズ7、ピンホール8及び光検出器9が
配置され、対物レンズ6の焦点を試料1の表面に一致さ
せてテレセントリック照明系からの光を対物レンズ6、
結像レンズ7及びピンホール8を経て光検出器9で受光
し、その出力を電流/電圧変換器(以下I/V変換器と
略称する)16を介して比較器10において基準電圧1
1からの所定の閾値と比較してエッジ検出信号を得る。An objective lens 6, an imaging lens 7, a pinhole 8 and a photodetector 9 are arranged on the other surface side of the stage 2, and the focus of the objective lens 6 is made to coincide with the surface of the sample 1 and telecentric. The objective lens 6, the light from the illumination system,
The light is received by the photodetector 9 through the imaging lens 7 and the pinhole 8, and its output is passed through the current / voltage converter (hereinafter abbreviated as I / V converter) 16 and the reference voltage 1 in the comparator 10.
The edge detection signal is obtained by comparing with a predetermined threshold value from 1.
【0016】第1の実施の形態では、テレセントリック
照明系のハーフミラー23の透過側に光検出器24を設
け、この光検出器24の出力を電流/電圧変換器25を
経て差動アンプ26に加え、この差動アンプ26より得
られるI/V変換器25の出力電圧と基準電圧27との
差電圧を差動アンプ28を介してランプ20に入力する
電源電圧制御系を構成するようにしたものである。In the first embodiment, a photodetector 24 is provided on the transmission side of the half mirror 23 of the telecentric illumination system, and the output of this photodetector 24 is passed through a current / voltage converter 25 to a differential amplifier 26. In addition, a power supply voltage control system is configured to input the difference voltage between the output voltage of the I / V converter 25 obtained from the differential amplifier 26 and the reference voltage 27 to the lamp 20 via the differential amplifier 28. It is a thing.
【0017】このような構成のエッジ検出装置におい
て、光検出器24に入射する光の強度は試料照射光の強
度に比例したものであり、その出力も同様に試料照射光
の強度に比例する。In the edge detecting device having such a structure, the intensity of the light incident on the photodetector 24 is proportional to the intensity of the sample irradiation light, and the output thereof is also proportional to the intensity of the sample irradiation light.
【0018】従って、差動アンプ26は設定された基準
電圧27と試料照射光に比例したI/V変換器25の出
力電圧が常に等しくなるようにランプ20の輝度を制御
し、その結果試料照射光の強度は常に一定に保たれる。Therefore, the differential amplifier 26 controls the brightness of the lamp 20 so that the set reference voltage 27 and the output voltage of the I / V converter 25 proportional to the sample irradiation light are always equal, and as a result, the sample irradiation is performed. The light intensity is always kept constant.
【0019】このように第1の実施例では、テレセント
リック照明系のハーフミラー23の透過光を光検出器2
4により検出し、その出力をI/V変換器25を介して
差動アンプ26に与え、この差動アンプ26より得られ
る基準電圧との差電圧により駆動アンプ28を介してラ
ンプ20の輝度を制御するようにしたので、光源の劣化
や熱による光源周辺の機械的位置ずれ等が発生しても、
試料照射光の強度は常に一定のものとなり、試料エッジ
部における光検出器9のプロファイルは崩れることな
く、基準電圧11による閾値はそのままで常に高い精度
でエッジ検出を行うことができる。As described above, in the first embodiment, the light transmitted through the half mirror 23 of the telecentric illumination system is detected by the photodetector 2.
4 and outputs the output to the differential amplifier 26 via the I / V converter 25, and the brightness of the lamp 20 via the drive amplifier 28 by the difference voltage from the reference voltage obtained from the differential amplifier 26. Since it is controlled, even if mechanical displacement around the light source due to deterioration of the light source or heat occurs,
The intensity of the sample irradiation light is always constant, the profile of the photodetector 9 at the sample edge portion does not collapse, and the edge detection can always be performed with high accuracy while the threshold value of the reference voltage 11 remains unchanged.
【0020】従って、一度エッジ検出の閾値を基準電圧
11により設定すれば、その設定値を装置の定数として
持たせることができるので、従来のようなキャリブレー
ション作業という調整の煩わしさを伴わずに常に高精度
でエッジ検出を行うことができる。Therefore, once the threshold for edge detection is set by the reference voltage 11, the set value can be held as a constant of the apparatus, so that there is no need for the conventional adjustment work such as the troublesome adjustment. Edge detection can always be performed with high accuracy.
【0021】図2は本発明によるエッジ検出装置の第2
の実施の形態を示す構成図で、図1と同一部品には同一
符号を付して示してある。第2の実施の形態では、駆動
アンプ28を介して与えられる基準電圧30により点灯
するランプ20と、このランプ20の光が入射されるフ
ァイバガイド21とこのファイバガイド21の端面上の
一点よりの光を平行光とする光学系22と、この光学系
22からの光を試料1側に反射するハーフミラー23と
からなるテレセントリック照明系を構成する。FIG. 2 shows a second edge detection device according to the present invention.
In the configuration diagram showing the embodiment of the present invention, the same parts as those in FIG. 1 are designated by the same reference numerals. In the second embodiment, the lamp 20 that is turned on by the reference voltage 30 applied via the drive amplifier 28, the fiber guide 21 on which the light of the lamp 20 is incident, and a point on the end face of the fiber guide 21 are arranged. A telecentric illumination system is constituted by an optical system 22 that makes parallel light and a half mirror 23 that reflects the light from the optical system 22 toward the sample 1.
【0022】そして、このテレセントリック照明系のフ
ァイバガイド21と光学系22との間に連続NDフィル
タ33を配し、この連続NDフィルタ33を回転移動可
能にモータ32に接続する。A continuous ND filter 33 is arranged between the fiber guide 21 and the optical system 22 of the telecentric illumination system, and the continuous ND filter 33 is rotatably connected to a motor 32.
【0023】この連続NDフィルタ33は、図3(a)
に示すように円板状に形成され、モータ32による正逆
転によりファイバガイド21より光学系22に入射する
光の強度が連続的に調整可能なものである。This continuous ND filter 33 is shown in FIG.
As shown in FIG. 3, the intensity of the light incident on the optical system 22 from the fiber guide 21 can be continuously adjusted by the forward and reverse rotation by the motor 32.
【0024】なお、連続NDフィルタ33として図3
(b)に示すように長形のものを使用し、モータ32の
回動をラックとピニオンの組合わせにより直線運動とし
て伝達するようにしてファイバガイド21より光学系2
2に入射する光の強度を連続的に調整可能にしたもので
もよい。The continuous ND filter 33 shown in FIG.
As shown in (b), a long one is used, and the rotation of the motor 32 is transmitted as a linear motion by a combination of a rack and a pinion so that the optical system 2 is guided by the fiber guide 21.
The intensity of the light incident on 2 may be continuously adjustable.
【0025】一方、ハーフミラー23の透過側に光検出
器24を配設し、この光検出器24の出力をI/V変換
器25を介して差動アンプ26に与え、この差動アンプ
26より得られるI/V変換器25の出力電圧と基準電
圧との差電圧をモータドライバ31に入力する。On the other hand, a photodetector 24 is arranged on the transmission side of the half mirror 23, and the output of this photodetector 24 is given to a differential amplifier 26 via an I / V converter 25. The obtained difference voltage between the output voltage of the I / V converter 25 and the reference voltage is input to the motor driver 31.
【0026】このような構成のエッジ検出装置におい
て、光検出器24に入射する光の強度は試料照射光の強
度に比例したものであり、その出力も同様に試料照射光
の強度に比例する。In the edge detecting device having such a structure, the intensity of the light incident on the photodetector 24 is proportional to the intensity of the sample irradiation light, and the output thereof is also proportional to the intensity of the sample irradiation light.
【0027】従って、差動アンプ26では試料照射光に
比例した電圧信号と基準電圧とが比較され、その差電圧
がモータドライバ31に与える。このモータドライバ3
1では差動アンプ26からの入力に応じてモータ32を
正転又は逆転方向に移動させる。Therefore, the differential amplifier 26 compares the voltage signal proportional to the sample irradiation light with the reference voltage, and the difference voltage is given to the motor driver 31. This motor driver 3
In No. 1, the motor 32 is moved in the forward or reverse direction according to the input from the differential amplifier 26.
【0028】これにより、設定した基準電圧27とI/
V変換器25を介して入力される光検出器24の出力と
が等しくなるように連続NDフィルタ33がモータ32
により制御され、その結果試料照射光の強度は常に一定
に保たれる。As a result, the set reference voltage 27 and I /
The continuous ND filter 33 is connected to the motor 32 so that the output of the photodetector 24 input via the V converter 25 becomes equal.
The result is that the intensity of the sample irradiation light is always kept constant.
【0029】従って、光源の劣化や熱による光源周辺の
機械的位置ずれの発生の下でも試料照射光の強度は一定
であり、従来のようなキャリブレーション作業という調
整の煩わしさを伴わずに常に高精度でエッジ検出を行う
ことができる。Therefore, the intensity of the sample irradiation light is constant even under the occurrence of mechanical displacement around the light source due to deterioration of the light source or heat, and it is always possible to carry out the conventional calibration work without the troublesome adjustment. Edge detection can be performed with high accuracy.
【0030】[0030]
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、試料
照射光の強度を安定させるようにしたので、調整の煩わ
しさを排除し、常に簡単且つ高精度にエッジ検出を行う
ことができるエッジ検出装置を提供できる。As described above, according to the present invention, since the intensity of the sample irradiation light is stabilized, the troublesomeness of the adjustment can be eliminated, and the edge detection can always be performed easily and highly accurately. An edge detection device can be provided.
【図1】本発明によるエッジ検出装置の第1の実施の形
態を示す構成図。FIG. 1 is a configuration diagram showing a first embodiment of an edge detection device according to the present invention.
【図2】本発明によるエッジ検出装置の第2の実施の形
態を示す構成図。FIG. 2 is a configuration diagram showing a second embodiment of an edge detection device according to the present invention.
【図3】同実施の形態において使用される連続NDフィ
ルタの構成例を示す図。FIG. 3 is a diagram showing a configuration example of a continuous ND filter used in the same embodiment.
【図4】従来のエッジ検出装置において、試料照射光に
強度変化による検出誤差を説明するための曲線図。FIG. 4 is a curve diagram for explaining a detection error due to a change in intensity of sample irradiation light in a conventional edge detection device.
【図5】従来のエッジ検出装置を示す構成図。FIG. 5 is a configuration diagram showing a conventional edge detection device.
1……試料、2……ステージ、3……光源、4……ファ
イバーガイド、5……光学系、6……対物レンズ、7…
…結像レンズ、8……ピンホール、9……光検出器、1
0……比較器、11……基準電圧、12……モニタ、2
0……ランプ、21……ファイバーガイド、22……光
学系、23……ハーフミラー、24……光検出器、25
……I/V変換器、26……差動アンプ、27……基準
電圧、28……駆動アンプ、30……基準電圧、31…
…モータドライバ、32……モータ、33……連続ND
フィルタ。1 ... Sample, 2 ... Stage, 3 ... Light source, 4 ... Fiber guide, 5 ... Optical system, 6 ... Objective lens, 7 ...
… Imaging lens, 8 …… pinhole, 9 …… photodetector, 1
0 ... Comparator, 11 ... Reference voltage, 12 ... Monitor, 2
0 ... Lamp, 21 ... Fiber guide, 22 ... Optical system, 23 ... Half mirror, 24 ... Photodetector, 25
... I / V converter, 26 ... Differential amplifier, 27 ... Reference voltage, 28 ... Drive amplifier, 30 ... Reference voltage, 31 ...
… Motor driver, 32 …… Motor, 33 …… Continuous ND
filter.
Claims (2)
光を前記試料を介して受光する第1の光検出器を備えた
光学系とを相対的に移動させながら前記光検出器の出力
に基づいて前記試料のエッジを検出するエッジ検出装置
において、 前記光源から前記試料に照射される光の強度に比例した
値を検出する第2の光検出器と、この第2の光検出器の
出力が一定になるように前記光源の輝度を変化させる電
圧制御手段とを備えたことを特徴とするエッジ検出装
置。1. An output of the photodetector while relatively moving the sample and an optical system including a first photodetector that receives light from a light source through the illumination optical system through the sample. An edge detection device for detecting an edge of the sample based on a second photodetector for detecting a value proportional to the intensity of light emitted from the light source to the sample, and an output of the second photodetector. And a voltage control means for changing the brightness of the light source so that the light source is constant.
光を前記試料を介して受光する第1の光検出器を備えた
光学系とを相対的に移動させながら前記第1の光検出器
の出力に基づいて前記試料のエッジを検出するエッジ検
出装置において、 前記光源から前記試料に照射される光の強度に比例した
値を出力するように配置された第2の光検出器と、前記
照明光学系に移動可能に設けられ試料照射光の強度を変
化させる光学フィルタと、この光学フィルタを前記第2
の光検出器の出力が予め定められた設定値と等しくなる
ように移動させる光学フィルタ移動機構とを備えたこと
を特徴とするエッジ検出装置。2. The first photodetector while relatively moving the sample and an optical system including a first photodetector that receives light from a light source through the illumination optical system through the sample. An edge detection device that detects the edge of the sample based on the output of the second photodetector arranged to output a value proportional to the intensity of light emitted from the light source to the sample, An optical filter movably provided in the illumination optical system and changing the intensity of the sample irradiation light;
And an optical filter moving mechanism for moving the output of the photodetector so that it becomes equal to a preset set value.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26424495A JPH09105605A (en) | 1995-10-12 | 1995-10-12 | Edge detection apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26424495A JPH09105605A (en) | 1995-10-12 | 1995-10-12 | Edge detection apparatus |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09105605A true JPH09105605A (en) | 1997-04-22 |
Family
ID=17400492
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26424495A Withdrawn JPH09105605A (en) | 1995-10-12 | 1995-10-12 | Edge detection apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH09105605A (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001082922A (en) * | 1999-08-30 | 2001-03-30 | Xerox Corp | Position detecting system |
US7053991B2 (en) | 2000-10-03 | 2006-05-30 | Accent Optical Technologies, Inc. | Differential numerical aperture methods |
JP2006184161A (en) * | 2004-12-28 | 2006-07-13 | Seiko Epson Corp | Measuring device, droplet discharge device, and measuring method |
JP2008275505A (en) * | 2007-05-01 | 2008-11-13 | Omron Corp | Positional dimension measuring device |
-
1995
- 1995-10-12 JP JP26424495A patent/JPH09105605A/en not_active Withdrawn
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001082922A (en) * | 1999-08-30 | 2001-03-30 | Xerox Corp | Position detecting system |
US7053991B2 (en) | 2000-10-03 | 2006-05-30 | Accent Optical Technologies, Inc. | Differential numerical aperture methods |
JP2006184161A (en) * | 2004-12-28 | 2006-07-13 | Seiko Epson Corp | Measuring device, droplet discharge device, and measuring method |
JP2008275505A (en) * | 2007-05-01 | 2008-11-13 | Omron Corp | Positional dimension measuring device |
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A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20030107 |