JPH0854340A - 2光子励起顕微鏡 - Google Patents
2光子励起顕微鏡Info
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- JPH0854340A JPH0854340A JP19309394A JP19309394A JPH0854340A JP H0854340 A JPH0854340 A JP H0854340A JP 19309394 A JP19309394 A JP 19309394A JP 19309394 A JP19309394 A JP 19309394A JP H0854340 A JPH0854340 A JP H0854340A
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Abstract
子励起顕微鏡を実現する。 【構成】 試料に対して単光子励起の場合の励起光の2
倍の波長を持つ光子を同時に2光子照射して試料からの
蛍光を観測する2光子励起顕微鏡において、2光子励起
が可能なレーザと、このレーザの出力光が入射され、複
数のマイクロレンズを有する回転板と、複数のマイクロ
レンズからの出力光を透過若しくは反射させ、試料で生
じる蛍光を分離するダイクロイックミラーと、このダイ
クロイックミラーからの透過光若しくは反射光を前記試
料に集光させる対物レンズと、ダイクロイックミラーか
らの光が入射される撮像装置若しくは接眼装置とを設け
る。
Description
し、特に光の利用効率が良く、高速走査が可能な2光子
励起顕微鏡に関する。
第12回講演会論文集」28頁〜35頁の「2光子励起
蛍光顕微鏡法による細胞内カルシウム濃度の3次元計
測」に記載されているように、試料に対して単光子励起
の励起光の2倍の波長を持つ光子を同時に2光子照射す
ることにより、前記試料から蛍光分子を励起する方法で
ある。
量の光子を必要とするため対物レンズの焦点位置でしか
生じない。言い換えれば、共焦点ピンホールを用いるこ
となく共焦点顕微鏡と同様に試料の断面積を得ることが
できる。
の一例を示す構成ブロック図である。図2において1は
パルスレーザ等の2光子励起が可能なレーザ、2はダイ
クロイックミラー、3及び4は走査ミラー、5は対物レ
ンズ、6は試料、7は光電子増倍管等の光検出器であ
る。
2に入射され、ダイクロイックミラー2からの反射光は
走査ミラー3、走査ミラー4及び対物レンズ5を介して
試料6に入射される。
ミラー4及び走査ミラー3を介してダイクロイックミラ
ー2に入射され、試料6からの蛍光はダイクロイックミ
ラー2を透過して光検出器7に入射される。
る。走査ミラー3及び4を機械的に動かすことにより、
レーザ1の出力光は試料6上を走査する。この時、前述
の2光子励起により試料6では蛍光が生じる。
ミラー4及び走査ミラー3を介してダイクロイックミラ
ー2に入射されるが、蛍光の波長はレーザ1の出力光の
波長と異なるためダイクロイックミラー2を透過して光
検出器7で検出される。また、前述のように2光子励起
は対物レンズの焦点位置でしか生じないため、ピンホー
ルを用いることなく共焦点効果を得ることができる。
来例では走査方法として走査ミラー3及び4を用いてい
るため高速走査は困難である。また、構造上、試料6上
を1点の走査光によって走査するため試料6から戻って
くる蛍光の光強度が弱いと言った問題点もある。従って
本発明の目的は、高速走査が可能で、光の利用効率の良
い2光子励起顕微鏡を実現することにある。
るために、本発明では、試料に対して単光子励起の場合
の励起光の2倍の波長を持つ光子を同時に2光子照射し
て前記試料からの蛍光を観測する2光子励起顕微鏡にお
いて、2光子励起が可能なレーザと、このレーザの出力
光が入射され、複数のマイクロレンズを有する回転板
と、前記複数のマイクロレンズからの出力光を透過若し
くは反射させ、前記試料で生じる蛍光を分離するダイク
ロイックミラーと、このダイクロイックミラーからの透
過光若しくは反射光を前記試料に集光させる対物レンズ
と、前記ダイクロイックミラーからの光が入射される撮
像装置若しくは接眼装置とを特徴とするものである。
せて試料上を走査することにより、高速走査が可能にな
り、光の利用効率も良くなる。
図1は本発明に係る2光子励起顕微鏡の一実施例を示す
構成ブロック図である。図1において1aは2光子励起
が可能なレーザ、2aはダイクロイックミラー、5aは
対物レンズ、6aは試料、8は複数のマイクロレンズを
有する回転板、9はレンズ、10はCCDカメラ等の撮
像装置である。
は、例えば、本願出願人の出願に係る特願平3−286
112号に記載したように配列されているものである。
れ、回転板8上に設けられたマイクロレンズ(以下、単
にマイクロレンズと呼ぶ。)を透過した光はダイクロイ
ックミラー2a及び対物レンズ5aを介して試料6aに
入射される。
介してダイクロイックミラー2aに入射され、ダイクロ
イックミラー2aで反射された試料6aからの蛍光はレ
ンズ9を介して撮像装置10に入射される。
る。また、前記マイクロレンズは回転板8上に複数個設
けられているが、説明を簡単にするため図1中”イ”に
示すマイクロレンズについてのみ説明する。
レンズ5aの後側焦点である図1中”ロ”の点にレーザ
1aの出力光を集光させるような位置関係で設けられて
いる。即ち、図1中”ロ”の点にマイクロレンズの焦点
を一致させるようにマイクロレンズを設ける。
6a上にあり、回転板8を回転させることにより試料6
a上を高速で走査することができる。
の焦点位置でのみ生じ、発生した蛍光はダイクロイック
ミラー2aにおいて分離され撮像装置10に入射されて
観測される。
8を回転させて試料6a上を走査することにより、走査
ミラー3及び4で走査する場合と比較して高速走査をす
ることが可能となる。
が設けられており、それぞれのマイクロレンズにより走
査された蛍光が同時に撮像装置10に入射されることに
なるので、試料6aから戻ってくる蛍光の光強度が従来
例と比較して強くなり光の利用効率が向上する。
り、撮像装置10の代わりに接眼装置を用いて直接肉眼
で観測することも可能である。
本発明によれば次のような効果がある。複数のマイクロ
レンズを設けた回転板を回転させて試料上を走査するこ
とにより、高速走査が可能で、光の利用効率の良い2光
子励起顕微鏡を実現することができる。
す構成ブロック図である。
ック図である。
Claims (1)
- 【請求項1】試料に対して単光子励起の場合の励起光の
2倍の波長を持つ光子を同時に2光子照射して前記試料
からの蛍光を観測する2光子励起顕微鏡において、 2光子励起が可能なレーザと、 このレーザの出力光が入射され、複数のマイクロレンズ
を有する回転板と、 前記複数のマイクロレンズからの出力光を透過若しくは
反射させ、前記試料で生じる蛍光を分離するダイクロイ
ックミラーと、 このダイクロイックミラーからの透過光若しくは反射光
を前記試料に集光させる対物レンズと、 前記ダイクロイックミラーからの光が入射される撮像装
置若しくは接眼装置とを備えたことを特徴とする2光子
励起顕微鏡。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19309394A JP3244100B2 (ja) | 1994-08-17 | 1994-08-17 | 2光子励起顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19309394A JP3244100B2 (ja) | 1994-08-17 | 1994-08-17 | 2光子励起顕微鏡 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0854340A true JPH0854340A (ja) | 1996-02-27 |
JP3244100B2 JP3244100B2 (ja) | 2002-01-07 |
Family
ID=16302120
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19309394A Expired - Lifetime JP3244100B2 (ja) | 1994-08-17 | 1994-08-17 | 2光子励起顕微鏡 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3244100B2 (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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- 1994-08-17 JP JP19309394A patent/JP3244100B2/ja not_active Expired - Lifetime
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US9234849B2 (en) | 2005-10-11 | 2016-01-12 | Bt Imaging Pty Limited | Method and system for inspecting indirect bandgap semiconductor structure |
US9909991B2 (en) | 2005-10-11 | 2018-03-06 | Bt Imaging Pty Limited | Method and system for inspecting indirect bandgap semiconductor structure |
CN103558193A (zh) * | 2013-10-24 | 2014-02-05 | 深圳先进技术研究院 | 一种双光子显微镜 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3244100B2 (ja) | 2002-01-07 |
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