JPH084129B2 - 光電変換装置 - Google Patents
光電変換装置Info
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- JPH084129B2 JPH084129B2 JP61273917A JP27391786A JPH084129B2 JP H084129 B2 JPH084129 B2 JP H084129B2 JP 61273917 A JP61273917 A JP 61273917A JP 27391786 A JP27391786 A JP 27391786A JP H084129 B2 JPH084129 B2 JP H084129B2
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Classifications
-
- H01L27/14681—
Landscapes
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、複数個の光センサと、該光センサからの信
号を選択して信号線に出力する複数個の絶縁ゲート型ト
ランジスタとを有する光電変換装置に係り、特に光セン
サからの信号出力を低下させことなく読出すことを企図
した光電変換装置に関する。
号を選択して信号線に出力する複数個の絶縁ゲート型ト
ランジスタとを有する光電変換装置に係り、特に光セン
サからの信号出力を低下させことなく読出すことを企図
した光電変換装置に関する。
[従来技術] 第7図(A)は、従来の光電変換装置における走査ス
イッチ部の概略的回路図、第7図(B)は、その走査ス
イッチ部の構成を示す概略的平面図である。
イッチ部の概略的回路図、第7図(B)は、その走査ス
イッチ部の構成を示す概略的平面図である。
同図(A)において、光センサセルS1〜Snからの信号
は容量CtのコンデンサC1〜Cnに蓄積され、その後トラン
ジスタQ1〜Qnを順次通して信号ライン1へ読出され、出
力アンプ3からシリアルに外部へ出力される。トランジ
スタQ1〜Qnは走査回路2からのパルスφh1〜φhnによっ
てON/OFF動作が制御される。
は容量CtのコンデンサC1〜Cnに蓄積され、その後トラン
ジスタQ1〜Qnを順次通して信号ライン1へ読出され、出
力アンプ3からシリアルに外部へ出力される。トランジ
スタQ1〜Qnは走査回路2からのパルスφh1〜φhnによっ
てON/OFF動作が制御される。
トランジスタQ1〜Qnは、同図(B)に示すようなパタ
ーンのMOS型トランジスタである。各トランジスタは、n
+半導体のドレイン領域4およびソース領域5と、酸化
膜を挟んで設けられたゲート電極6から構成されるnチ
ャネルMOSトランジスタである。各セルのドレイン領域
4は各々コンデンサC1〜Cnに接続され、他方ソース領域
5は信号ライン1に共通に接続されている。したがっ
て、たとえばトランジスタQ1のゲート電極6に走査回路
2から正電圧パルスφh1が印加されると、トランジスタ
Q1は導通してコンデンサC1に蓄積されている信号(信号
電荷Q)を信号ライン1へ転送する。その他のトランジ
スタも同様である。
ーンのMOS型トランジスタである。各トランジスタは、n
+半導体のドレイン領域4およびソース領域5と、酸化
膜を挟んで設けられたゲート電極6から構成されるnチ
ャネルMOSトランジスタである。各セルのドレイン領域
4は各々コンデンサC1〜Cnに接続され、他方ソース領域
5は信号ライン1に共通に接続されている。したがっ
て、たとえばトランジスタQ1のゲート電極6に走査回路
2から正電圧パルスφh1が印加されると、トランジスタ
Q1は導通してコンデンサC1に蓄積されている信号(信号
電荷Q)を信号ライン1へ転送する。その他のトランジ
スタも同様である。
その際、信号ライン1はそれ自体が容量Chを有してい
るために、容量Ctのコンデンサに蓄積された信号電荷Q
が信号ライン1に転送されると、信号ライン1に現われ
る電圧VhはQ/(Ct+Ch)となる。
るために、容量Ctのコンデンサに蓄積された信号電荷Q
が信号ライン1に転送されると、信号ライン1に現われ
る電圧VhはQ/(Ct+Ch)となる。
[発明が解決しようとする問題点] しかしながら、上記従来の光電変換装置では、信号ラ
イン1に各トランジスタのドレイン領域5が接続されて
いる。そのために信号ライン1の浮遊容量Chに占めるド
レイン領域5の容量の割合が大きくなり、その結果、信
号ライン1に現われる電圧Vhが低下し、ひいては最終的
な信号のS/Nを低下させるという問題点を有していた。
この問題点は、多数の光センサが配列された高解像度セ
ンサの場合に顕著となる。
イン1に各トランジスタのドレイン領域5が接続されて
いる。そのために信号ライン1の浮遊容量Chに占めるド
レイン領域5の容量の割合が大きくなり、その結果、信
号ライン1に現われる電圧Vhが低下し、ひいては最終的
な信号のS/Nを低下させるという問題点を有していた。
この問題点は、多数の光センサが配列された高解像度セ
ンサの場合に顕著となる。
例えば、第7図(B)において、信号ライン1に接続
されたトランジスタQ1のドレイン領域5の容量を試算し
てみると、まずドレイン領域5の底面容量は単位面積当
りの容量を5×10-5pF/μm2として約0.005pF、また側面
容量は単位面積当りの容量を1.5pF/μm2として約0.005p
Fとなる。この値を合計して、ドレイン領域5の容量は
約0.01pFとなる。
されたトランジスタQ1のドレイン領域5の容量を試算し
てみると、まずドレイン領域5の底面容量は単位面積当
りの容量を5×10-5pF/μm2として約0.005pF、また側面
容量は単位面積当りの容量を1.5pF/μm2として約0.005p
Fとなる。この値を合計して、ドレイン領域5の容量は
約0.01pFとなる。
したがって、センサが100個(n=100)配列されてい
るとすれば、トランジスタQ1〜Qnによって信号ライン1
に加わる容量は約1pFとなる。この値は出力信号を蓄積
するコンデンサC1〜Cnの各容量が数pFであるから、出力
信号の低下を招くに十分の大きさである。このように、
従来では、特にセンサを多数配列した場合に出力が低下
するという問題を有していた。
るとすれば、トランジスタQ1〜Qnによって信号ライン1
に加わる容量は約1pFとなる。この値は出力信号を蓄積
するコンデンサC1〜Cnの各容量が数pFであるから、出力
信号の低下を招くに十分の大きさである。このように、
従来では、特にセンサを多数配列した場合に出力が低下
するという問題を有していた。
[問題点を解決するための手段] 本発明による光電変換装置は、 複数個の光センサと、該光センサからの信号を選択し
て信号線に出力する複数個の絶縁ゲート型トランジスタ
とを有する光電変換装置において、 前記トランジスタのソース、ドレイン領域の内前記信
号線に接続された方の領域は、複数のトランジスタの共
通の領域として形成されていることを特徴とする。
て信号線に出力する複数個の絶縁ゲート型トランジスタ
とを有する光電変換装置において、 前記トランジスタのソース、ドレイン領域の内前記信
号線に接続された方の領域は、複数のトランジスタの共
通の領域として形成されていることを特徴とする。
[作用] このように信号線に接続された領域を所望個数のトラ
ンジスタで共有するために、この領域の容量を全体とし
て減少させ、信号線の容量を小さくすることができる。
その結果、信号線に読出された光センサの信号レベルを
従来より大幅に向上させることができる。
ンジスタで共有するために、この領域の容量を全体とし
て減少させ、信号線の容量を小さくすることができる。
その結果、信号線に読出された光センサの信号レベルを
従来より大幅に向上させることができる。
[実施例] 以下、本発明の実施例を図面を参照しながら詳細に説
明する。
明する。
第1図は、本発明による光電変換装置の一実施例にお
ける走査スイッチ部の概略的平面図、第2図は、走査ス
イッチ部を構成するトランジスタの概略的断面図であ
る。
ける走査スイッチ部の概略的平面図、第2図は、走査ス
イッチ部を構成するトランジスタの概略的断面図であ
る。
第1図に示す走査スイッチ部は、等価回路としてみれ
ば、第7図(A)に示すものと同一である。したがっ
て、第1図におけるトランジスタQ1〜Qnおよび信号ライ
ン1は、第7図(A)に示すものと同一の機能を有して
いる。
ば、第7図(A)に示すものと同一である。したがっ
て、第1図におけるトランジスタQ1〜Qnおよび信号ライ
ン1は、第7図(A)に示すものと同一の機能を有して
いる。
しかし、走査スイッチ部の具体的な構成は、第1図に
示す本実施例と第7図(B)に示す従来例とでは異なっ
ている。
示す本実施例と第7図(B)に示す従来例とでは異なっ
ている。
本実施例は、第1図に示すように、トランジスタQ1〜
Qnが二個ずつ組となって、それぞれ1個のドレイン領域
7を共有した構成となっている。第2図を参照すれば、
まずp領域8に素子分離領域9が形成され、続いてp領
域8上に酸化膜10を挟んでポリシリコンのゲート電極6
が2個形成される。続いてゲート電極6をマスクとして
ソース・ドレイン領域としてのn+領域4および7が各々
形成される。そして、Al等の金属でソース電極11および
信号ライン1をそれぞれ形成する。
Qnが二個ずつ組となって、それぞれ1個のドレイン領域
7を共有した構成となっている。第2図を参照すれば、
まずp領域8に素子分離領域9が形成され、続いてp領
域8上に酸化膜10を挟んでポリシリコンのゲート電極6
が2個形成される。続いてゲート電極6をマスクとして
ソース・ドレイン領域としてのn+領域4および7が各々
形成される。そして、Al等の金属でソース電極11および
信号ライン1をそれぞれ形成する。
このように、ドレイン領域7を2個のトランジスタで
共有するために、トランジスタQ1〜Qnを多数配列して
も、ドレイン領域の容量が従来に比べて半減する。容量
を試算してみると、まずドレイン領域7の底面容量は単
位面積当りの容量を従来例と同じく5×10-5pF/μm2と
して約0.006pF、また側面容量は単位面積当りの容量を
1.5pF/μm2として約0.004pFとなる。この値を合計した
ものがトランジスタ2個分のドレイン容量であるから、
トランジスタ1個分のドレイン容量は0.005pFとなり、
従来例のドレイン容量の半分となる。
共有するために、トランジスタQ1〜Qnを多数配列して
も、ドレイン領域の容量が従来に比べて半減する。容量
を試算してみると、まずドレイン領域7の底面容量は単
位面積当りの容量を従来例と同じく5×10-5pF/μm2と
して約0.006pF、また側面容量は単位面積当りの容量を
1.5pF/μm2として約0.004pFとなる。この値を合計した
ものがトランジスタ2個分のドレイン容量であるから、
トランジスタ1個分のドレイン容量は0.005pFとなり、
従来例のドレイン容量の半分となる。
したがって、本実施例における信号ライン1の容量Ch
は従来に比べて大幅に減少し、その結果、信号ライン1
に転送されたセンサ信号は従来より増大する。また、信
号ライン1と各ドレイン領域7とのコンタクト部の個数
が従来の半分となるために、光電変換装置を製造する上
での歩留りも向上する。
は従来に比べて大幅に減少し、その結果、信号ライン1
に転送されたセンサ信号は従来より増大する。また、信
号ライン1と各ドレイン領域7とのコンタクト部の個数
が従来の半分となるために、光電変換装置を製造する上
での歩留りも向上する。
次に、本実施例において使用された光センサについて
説明する。
説明する。
第3図(A)は、光センサセルの概略的平面図、第3
図(B)は、そのI−I線断面図、第3図(C)は、そ
の等価回路図である。
図(B)は、そのI−I線断面図、第3図(C)は、そ
の等価回路図である。
各図において、n型基板101上に光センサセルが形成
されライン状に配列されており、各光センサセルは素子
分離領域102によって隣接する光センサセルから電気的
に絶縁されている。
されライン状に配列されており、各光センサセルは素子
分離領域102によって隣接する光センサセルから電気的
に絶縁されている。
各光センサセルは次のような構成を有する。
基板101上にはn-エピタキシャル領域(以下、n-領域
とする。)103が形成され、そこにp領域104およびn+領
域105が後述するように形成されている。n-領域103、p
領域104およびn+領域105は、各々バイポーラトランジス
タのコレクタ、ベースおよびエミッタに相当する。
とする。)103が形成され、そこにp領域104およびn+領
域105が後述するように形成されている。n-領域103、p
領域104およびn+領域105は、各々バイポーラトランジス
タのコレクタ、ベースおよびエミッタに相当する。
このように各領域が形成されたn-領域103上には酸化
膜106が形成され、酸化膜106上に所定の面積を有するキ
ャパシタ電極107がp領域104と対向して形成されてい
る。
膜106が形成され、酸化膜106上に所定の面積を有するキ
ャパシタ電極107がp領域104と対向して形成されてい
る。
こうしてキャパシタ電極107は酸化膜106を挟んでp領
域104と対向し、キャパシタ電極107に所望の電圧を印加
することで浮遊状態にされたp領域104の電位を制御す
ることができる。
域104と対向し、キャパシタ電極107に所望の電圧を印加
することで浮遊状態にされたp領域104の電位を制御す
ることができる。
その他に、n+領域105に接続されたエミッタ電極108、
基板101の裏面に不純物濃度の高いn+領域を介してバイ
ポーラトランジスタのコレクタに電位を与えるための電
極109(図示せず。)がそれぞれ形成されている。
基板101の裏面に不純物濃度の高いn+領域を介してバイ
ポーラトランジスタのコレクタに電位を与えるための電
極109(図示せず。)がそれぞれ形成されている。
次に、基本的な動作を説明する。まず、バイポーラト
ランジスタのベースであるp領域104は初期電位にある
とする。このp領域104に光が入射し、入射光によって
発生した電子・正孔対のうちの正孔がp領域104に蓄積
され、蓄積された正孔によってp領域104の電位が正方
向に上昇する(蓄積動作)。
ランジスタのベースであるp領域104は初期電位にある
とする。このp領域104に光が入射し、入射光によって
発生した電子・正孔対のうちの正孔がp領域104に蓄積
され、蓄積された正孔によってp領域104の電位が正方
向に上昇する(蓄積動作)。
続いて、エミッタ電極108を浮遊状態とし、キャパシ
タ電極107に読出し用の正電圧パルスを印加する。キャ
パシタ電極107に正電圧が印加されると、ベース電位が
上昇してベース・エミッタ間が順バイアス状態となり、
バイポーラトランジスタが動作して浮遊状態としたエミ
ッタ電極108から入射光量に対応した信号を得ることが
できる(読出し動作)。その際、ベースであるp領域10
4の蓄積電荷量はほとんど減少しないために、同一光情
報を繰返して読出すことが可能である。
タ電極107に読出し用の正電圧パルスを印加する。キャ
パシタ電極107に正電圧が印加されると、ベース電位が
上昇してベース・エミッタ間が順バイアス状態となり、
バイポーラトランジスタが動作して浮遊状態としたエミ
ッタ電極108から入射光量に対応した信号を得ることが
できる(読出し動作)。その際、ベースであるp領域10
4の蓄積電荷量はほとんど減少しないために、同一光情
報を繰返して読出すことが可能である。
また、p領域104に蓄積された正孔を除去するには、
エミッタ電極108を接地し、キャパシタ電極107に正電圧
のリフレッシュパルスを印加する。このパルスを印加す
ることでp領域104はn+領域105に対して順方向にバイア
スされ、蓄積された正孔が接地されたエミッタ電極108
を通して除去される。そして、リフレッシュパルスが立
下がった時点でp領域104は初期状態に復帰する(リフ
レッシュ動作)。以後、同様に蓄積、読出し、リフレッ
シュという各動作が繰り返される。
エミッタ電極108を接地し、キャパシタ電極107に正電圧
のリフレッシュパルスを印加する。このパルスを印加す
ることでp領域104はn+領域105に対して順方向にバイア
スされ、蓄積された正孔が接地されたエミッタ電極108
を通して除去される。そして、リフレッシュパルスが立
下がった時点でp領域104は初期状態に復帰する(リフ
レッシュ動作)。以後、同様に蓄積、読出し、リフレッ
シュという各動作が繰り返される。
第4図は、上記光センサセルを用いた本実施例である
ラインセンサの回路図である。
ラインセンサの回路図である。
同図において、光センサセルS1〜Snの各コレクタ電極
109には一定の正電圧Vccが印加されている。各キャパシ
タ電極107は端子110に共通に接続され、端子110には読
出し動作およびリフレッシュ動作を行うためのパルスφ
1が印加される。また、各エミッタ電極108は垂直ライ
ンL1〜Lnに各々接続され、垂直ラインL1〜Lnは各々バッ
ファ用トランジスタQa1〜Qanを介して蓄積用コンデンサ
C1〜Cnに接続されている。トランジスタQa1〜Qanのゲー
ト電極は端子111に共通に接続され、端子111にはパルス
φ2が印加される。
109には一定の正電圧Vccが印加されている。各キャパシ
タ電極107は端子110に共通に接続され、端子110には読
出し動作およびリフレッシュ動作を行うためのパルスφ
1が印加される。また、各エミッタ電極108は垂直ライ
ンL1〜Lnに各々接続され、垂直ラインL1〜Lnは各々バッ
ファ用トランジスタQa1〜Qanを介して蓄積用コンデンサ
C1〜Cnに接続されている。トランジスタQa1〜Qanのゲー
ト電極は端子111に共通に接続され、端子111にはパルス
φ2が印加される。
また、コンデンサC1〜Cnは各々トランジスタQ1〜Qnを
介して出力ライン1に接続されている。トランジスタQ1
〜Qnのゲート電極は走査回路2の並列出力端子に各々接
続され、並列出力端子からはパルスφh1〜φhnが順次出
力される。
介して出力ライン1に接続されている。トランジスタQ1
〜Qnのゲート電極は走査回路2の並列出力端子に各々接
続され、並列出力端子からはパルスφh1〜φhnが順次出
力される。
出力ライン1は、出力ライン1をリフレッシュするた
めのトランジスタQrhを介して接地され、トランジスタQ
rhのゲート電極にはパルスφr2が印加される。
めのトランジスタQrhを介して接地され、トランジスタQ
rhのゲート電極にはパルスφr2が印加される。
また、垂直ラインL1〜Lnは各々バッファ用トランジス
タQb1〜Qbnを介して接地されている。また各トランジス
タのゲート電極は端子112に共通に接続され、端子112に
はパルスφ3が印加される。
タQb1〜Qbnを介して接地されている。また各トランジス
タのゲート電極は端子112に共通に接続され、端子112に
はパルスφ3が印加される。
第5図は、上記ラインセンサの動作を説明するための
タイミングチャートである。
タイミングチャートである。
まず、各光センサセルS1〜Snには入射光の照度に対応
したキャリアが蓄積されているものとする。この状態
で、パルスφ2によってトランジスタQa1〜QanをON、ト
ランジスタQb1〜QbnをOFFにしてエミッタ電極108を浮遊
状態とし、端子111に読出し用正電圧パルスφrを印加
する。これによって、すでに述べたように、浮遊状態の
エミッタ側に各セルの出力信号が読出され、各信号がコ
ンデンサC1〜cnに蓄積される。読出しが終了すると、パ
ルスφ2によってトランジスタQa1〜QanをOFF状態とす
る。
したキャリアが蓄積されているものとする。この状態
で、パルスφ2によってトランジスタQa1〜QanをON、ト
ランジスタQb1〜QbnをOFFにしてエミッタ電極108を浮遊
状態とし、端子111に読出し用正電圧パルスφrを印加
する。これによって、すでに述べたように、浮遊状態の
エミッタ側に各セルの出力信号が読出され、各信号がコ
ンデンサC1〜cnに蓄積される。読出しが終了すると、パ
ルスφ2によってトランジスタQa1〜QanをOFF状態とす
る。
続いて、パルスφ3によってトランジスタQb1〜Qbnを
ON状態として各セルのエミッタ電極108を接地し、端子1
11にリフレッシュパルスφrcを印加する。これによって
既に述べたリフレッシュ動作が行われ、ベース領域104
に蓄積されたホールが消減する。リフレッシュ動作が終
了すると、各セルは蓄積動作を開始する。
ON状態として各セルのエミッタ電極108を接地し、端子1
11にリフレッシュパルスφrcを印加する。これによって
既に述べたリフレッシュ動作が行われ、ベース領域104
に蓄積されたホールが消減する。リフレッシュ動作が終
了すると、各セルは蓄積動作を開始する。
また、リフレッシュ動作と並行して、走査回路2はパ
ルスφh1〜φhnを出力し、トランジスタQ1〜Qnを順次ON
状態にする。これによって、コンデンサC1〜Cnに蓄積さ
れていた各信号が出力ライン1に順次読出され、アンプ
3を通して出力信号Voutとして外部へ出力される。その
際、各信号が出力されるごとに、パルスφr2によってト
ランジスタQrhがONとなり、出力ライン1の前回の残留
キャリアを除去する。
ルスφh1〜φhnを出力し、トランジスタQ1〜Qnを順次ON
状態にする。これによって、コンデンサC1〜Cnに蓄積さ
れていた各信号が出力ライン1に順次読出され、アンプ
3を通して出力信号Voutとして外部へ出力される。その
際、各信号が出力されるごとに、パルスφr2によってト
ランジスタQrhがONとなり、出力ライン1の前回の残留
キャリアを除去する。
こうして全セルS1〜Snの読出し信号を出力すると、次
の読出し動作が開始され、以下同様に上記動作を繰返す
ことによって画像信号を出力することができる。
の読出し動作が開始され、以下同様に上記動作を繰返す
ことによって画像信号を出力することができる。
第6図は、上記光電変換装置を使用した撮像装置の一
例の概略的構成図である。
例の概略的構成図である。
同図において、撮像素子301が第4図に示す光電変換
装置に相当する。撮像素子301の出力信号Voutは信号処
理回路302によってゲイン調整等の処理が行われ、ビデ
オ信号として出力される。
装置に相当する。撮像素子301の出力信号Voutは信号処
理回路302によってゲイン調整等の処理が行われ、ビデ
オ信号として出力される。
また、撮像素子301を駆動するための上記各パルスは
ドライバ303によって供給され、ドライバ303は制御部30
4の制御によって動作する。また、制御部304は撮像素子
301の出力に基いて信号処理回路302のゲイン等を調整す
るとともに、露出制御手段305を制御して撮像素子301に
入射する光量を調整する。
ドライバ303によって供給され、ドライバ303は制御部30
4の制御によって動作する。また、制御部304は撮像素子
301の出力に基いて信号処理回路302のゲイン等を調整す
るとともに、露出制御手段305を制御して撮像素子301に
入射する光量を調整する。
本実施例では高出力の信号Voutを得ることができるた
めに、撮像装置における信号処理回路302の負担を軽減
でき、またS/Nも向上する。
めに、撮像装置における信号処理回路302の負担を軽減
でき、またS/Nも向上する。
[発明の効果] 以上詳細に説明したように本発明による光電変換装置
は、信号線に接続されたソース・ドレイン領域の一方の
領域を所望個数のトランジスタで共有するために、この
領域の容量を全体として減少させ、信号線の容量を小さ
くすることができる。その結果、信号線に読出された光
センサの信号レベルを従来より大幅に向上させることが
でき、また出力信号のS/Nを向上させることができる。
は、信号線に接続されたソース・ドレイン領域の一方の
領域を所望個数のトランジスタで共有するために、この
領域の容量を全体として減少させ、信号線の容量を小さ
くすることができる。その結果、信号線に読出された光
センサの信号レベルを従来より大幅に向上させることが
でき、また出力信号のS/Nを向上させることができる。
第1図は、本発明による光電変換装置の一実施例におけ
る走査スイッチ部の概略的平面図、 第2図は、走査スイッチ部を構成するトランジスタの概
略的断面図、 第3図(A)は、光センサセルの概略的平面図、第3図
(B)は、そのI−I線断面図、第3図(C)は、その
等価回路図、 第4図は、上記光センサセルを用いた本実施例であるラ
インセンサの回路図、 第5図は、上記ラインセンサの動作を説明するためのタ
イミングチャート、 第6図は、上記光電変換装置を使用した撮像装置の一例
の概略的構成図、 第7図(A)は、従来の光電変換装置における走査スイ
ッチ部の概略的回路図、第7図(B)は、その走査スイ
ッチ部の構成を示す概略的平面図である。 1……信号ライン、2……走査回路 3……出力アンプ、4……ドレイン領域 6……ゲート電極 5、7……ソース領域 8……p領域 9……素子分離領域 10……酸化膜 11……ドレイン電極 Q1〜Qn……走査スイッチ部のトランジスタ S1〜Sn……光センサ
る走査スイッチ部の概略的平面図、 第2図は、走査スイッチ部を構成するトランジスタの概
略的断面図、 第3図(A)は、光センサセルの概略的平面図、第3図
(B)は、そのI−I線断面図、第3図(C)は、その
等価回路図、 第4図は、上記光センサセルを用いた本実施例であるラ
インセンサの回路図、 第5図は、上記ラインセンサの動作を説明するためのタ
イミングチャート、 第6図は、上記光電変換装置を使用した撮像装置の一例
の概略的構成図、 第7図(A)は、従来の光電変換装置における走査スイ
ッチ部の概略的回路図、第7図(B)は、その走査スイ
ッチ部の構成を示す概略的平面図である。 1……信号ライン、2……走査回路 3……出力アンプ、4……ドレイン領域 6……ゲート電極 5、7……ソース領域 8……p領域 9……素子分離領域 10……酸化膜 11……ドレイン電極 Q1〜Qn……走査スイッチ部のトランジスタ S1〜Sn……光センサ
Claims (2)
- 【請求項1】複数個の光センサと、該光センサからの信
号を選択して信号線に出力する複数個の絶縁ゲート型ト
ランジスタとを有する光電変換装置において、 前記トランジスタのソース、ドレイン領域の内前記信号
線に接続された方の領域は、複数のトランジスタの共通
の領域として形成されていることを特徴とする光電変換
装置。 - 【請求項2】上記光センサは、半導体トランジスタの制
御電極領域の電位を制御することにより、前記制御電極
領域に光励起によって発生したキャリアを蓄積する蓄積
動作と、該蓄積により発生した蓄積電圧を読み出す読み
出し動作と、蓄積されたキャリアを消滅させるリフレッ
シュ動作とを行う方式のセンサであることを特徴とする
特許請求の範囲第1項記載の光電変換装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61273917A JPH084129B2 (ja) | 1986-11-19 | 1986-11-19 | 光電変換装置 |
US07/116,141 US4868405A (en) | 1986-11-19 | 1987-11-03 | Photoelectric converting apparatus having a common region connecting either sources or drains to a common signal line |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61273917A JPH084129B2 (ja) | 1986-11-19 | 1986-11-19 | 光電変換装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63128664A JPS63128664A (ja) | 1988-06-01 |
JPH084129B2 true JPH084129B2 (ja) | 1996-01-17 |
Family
ID=17534369
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61273917A Expired - Lifetime JPH084129B2 (ja) | 1986-11-19 | 1986-11-19 | 光電変換装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4868405A (ja) |
JP (1) | JPH084129B2 (ja) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0795829B2 (ja) * | 1988-07-26 | 1995-10-11 | 株式会社東芝 | 固体撮像装置 |
US5262850A (en) * | 1988-09-20 | 1993-11-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Photoelectric converting device having reduced line sensor space |
EP0382540B1 (en) * | 1989-02-10 | 1996-06-12 | Canon Kabushiki Kaisha | Sensor chip and photoelectric conversion apparatus using the same |
JPH0785568B2 (ja) * | 1989-04-05 | 1995-09-13 | 富士ゼロックス株式会社 | 密着型イメージセンサ装置 |
JPH02268062A (ja) * | 1989-04-10 | 1990-11-01 | Canon Inc | 光電変換装置 |
JP2530226B2 (ja) * | 1989-07-25 | 1996-09-04 | セイコー電子工業株式会社 | 半導体受光装置 |
JPH04100383A (ja) * | 1990-08-18 | 1992-04-02 | Seiko Instr Inc | 固体撮像素子 |
JP2991354B2 (ja) * | 1990-11-07 | 1999-12-20 | キヤノン株式会社 | 画像読取装置およびそれを備えた画像情報処理装置 |
JP2931088B2 (ja) * | 1990-11-30 | 1999-08-09 | キヤノン株式会社 | マルチチップ型光電変換装置 |
US5406332A (en) * | 1992-03-06 | 1995-04-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Photoelectric converting device |
DE69320709T2 (de) * | 1992-06-25 | 1999-03-25 | Canon K.K., Tokio/Tokyo | Photoelektrischer Wandler und Steuerverfahren dafür |
DE4340260A1 (de) * | 1993-10-01 | 1995-04-06 | Marquardt Gmbh | Schließsystem, insbesondre für Kraftfahrzeuge |
DE4421496B4 (de) * | 1993-10-01 | 2006-09-07 | Marquardt Gmbh | Elektronisches Türschließsystem an einem Kraftfahrzeug |
US6801256B1 (en) | 1998-06-02 | 2004-10-05 | Kabushiki Kaisha Toshiba | High-speed solid-state imaging device capable of suppressing image noise |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US4264930A (en) * | 1979-12-10 | 1981-04-28 | International Business Machines Corporation | Charge coupled device incorporating Laplacian thresholding with TDI array |
JPS56125854A (en) * | 1980-03-10 | 1981-10-02 | Nec Corp | Integrated circuit |
JPS6181087A (ja) * | 1984-09-28 | 1986-04-24 | Olympus Optical Co Ltd | 固体撮像装置 |
-
1986
- 1986-11-19 JP JP61273917A patent/JPH084129B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1987
- 1987-11-03 US US07/116,141 patent/US4868405A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4868405A (en) | 1989-09-19 |
JPS63128664A (ja) | 1988-06-01 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |