JPH0830695B2 - 液体クロマトグラフ・質量分析装置 - Google Patents
液体クロマトグラフ・質量分析装置Info
- Publication number
- JPH0830695B2 JPH0830695B2 JP63332977A JP33297788A JPH0830695B2 JP H0830695 B2 JPH0830695 B2 JP H0830695B2 JP 63332977 A JP63332977 A JP 63332977A JP 33297788 A JP33297788 A JP 33297788A JP H0830695 B2 JPH0830695 B2 JP H0830695B2
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- JP
- Japan
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- sample
- ion
- ionization
- discharge
- mass
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- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、液体クロマトグラフ・質量分析装置（LC-M
S）に関する。
S）に関する。
（従来の技術） 飛行時間型質量分析法は、印加電圧とイオンの電荷に
より与えられるエネルギーにより、イオンを同時に加速
させた時に、質量が大きいほど加速される速度が小さ
く、検出器に到達するまでにかかる時間が長くなるとい
うことを利用して、イオンが検出器に到達する時間によ
ってその質量の分析を行うもので、従って、イオンを同
時に、かつ、パルス的に（断続して）加速する必要があ
るが、このようなパルスイオン化法が可能な方式として
レーザ照射イオン化法が用いられている。しかし、レー
ザイオン化方式ではイオン化できる試料が限定されると
いう問題がある。
より与えられるエネルギーにより、イオンを同時に加速
させた時に、質量が大きいほど加速される速度が小さ
く、検出器に到達するまでにかかる時間が長くなるとい
うことを利用して、イオンが検出器に到達する時間によ
ってその質量の分析を行うもので、従って、イオンを同
時に、かつ、パルス的に（断続して）加速する必要があ
るが、このようなパルスイオン化法が可能な方式として
レーザ照射イオン化法が用いられている。しかし、レー
ザイオン化方式ではイオン化できる試料が限定されると
いう問題がある。
一方、LC-MSにおいて、試料（流出溶液）をイオン化
する方法として、流出溶液を気化させた後、フィラメン
トから放出される電子を試料ガス分子に衝突させる電子
衝撃イオン化法、電圧を印加した電極先端に形成される
コロナ放電によりイオン化させるディスチャージイオン
化法などもあるが、しかし、このようなイオン化法では
連続的にイオン化が行われるので、飛行時間型質量分析
法に適用することは困難であった。
する方法として、流出溶液を気化させた後、フィラメン
トから放出される電子を試料ガス分子に衝突させる電子
衝撃イオン化法、電圧を印加した電極先端に形成される
コロナ放電によりイオン化させるディスチャージイオン
化法などもあるが、しかし、このようなイオン化法では
連続的にイオン化が行われるので、飛行時間型質量分析
法に適用することは困難であった。
加えて、色々なイオン化手段を選択可能にしようとす
ると、それらイオン化手段によるイオン生成空間を共通
にする必要があって、選択できるイオン化法が限定さ
れ、構造的にも複雑になるという問題もあった。
ると、それらイオン化手段によるイオン生成空間を共通
にする必要があって、選択できるイオン化法が限定さ
れ、構造的にも複雑になるという問題もあった。
（発明が解決しようとする課題） そこで本発明は、飛行時間型質量分析装置で、構造的
にも複雑になることがなく、レーザイオン化法以外のイ
オン化法も適用可能にして、分析可能な試料範囲を拡大
することを目的とする。
にも複雑になることがなく、レーザイオン化法以外のイ
オン化法も適用可能にして、分析可能な試料範囲を拡大
することを目的とする。
（課題を解決するための手段） 本発明は、液体クロマトグラフのカラムにベーパライ
ザを介して接続される試料イオン化室と、このイオン化
室よりイオン導入口を介して導入されたイオンを飛行時
間型質量分析法により質量分析する質量分析手段とより
なり、イオン化室内であってベーパライザが形成する噴
流の軸方向に沿って、かつ、その噴流を挟んでイオン導
入口の対向側に、試料にレーザを照射するレーザ照射手
段、試料をイオン化する電子を放射するフィラメント、
ディスチャージイオン化法により試料をイオン化するデ
ィスチャージ電極をこの順に並べて付設し、同じく噴流
を挟んでイオン導入口に対向した位置であってディスチ
ャージ電極部にリペラ電極を配置し、電子衝撃イオン化
法、ディスチャージイオン化法、レーザイオン化法の各
種イオン化法を選択して実施可能状態にする選択手段を
備えると共に、その印加電圧がパルス的にカットされる
イオンビーム偏向電極をイオン導入口と質量分析手段と
の間に配置したものである。
ザを介して接続される試料イオン化室と、このイオン化
室よりイオン導入口を介して導入されたイオンを飛行時
間型質量分析法により質量分析する質量分析手段とより
なり、イオン化室内であってベーパライザが形成する噴
流の軸方向に沿って、かつ、その噴流を挟んでイオン導
入口の対向側に、試料にレーザを照射するレーザ照射手
段、試料をイオン化する電子を放射するフィラメント、
ディスチャージイオン化法により試料をイオン化するデ
ィスチャージ電極をこの順に並べて付設し、同じく噴流
を挟んでイオン導入口に対向した位置であってディスチ
ャージ電極部にリペラ電極を配置し、電子衝撃イオン化
法、ディスチャージイオン化法、レーザイオン化法の各
種イオン化法を選択して実施可能状態にする選択手段を
備えると共に、その印加電圧がパルス的にカットされる
イオンビーム偏向電極をイオン導入口と質量分析手段と
の間に配置したものである。
（作用） 従って、ベーパライザにより形成される噴流に沿わせ
て並べた各種のイオン化手段でその噴流内にイオンを生
成させ、噴流によって生成されたイオンを所定の空間ま
で運ぶので、選択できるイオン化法も自由になり、各種
イオン化手段のイオン生成空間を共通にする必要がな
く、イオン化室の構造も簡単にできる。
て並べた各種のイオン化手段でその噴流内にイオンを生
成させ、噴流によって生成されたイオンを所定の空間ま
で運ぶので、選択できるイオン化法も自由になり、各種
イオン化手段のイオン生成空間を共通にする必要がな
く、イオン化室の構造も簡単にできる。
また、飛行時間型質量分析装置では、イオンを同時
に、かつ、パルス的に加速する必要があるが、レーザイ
オン化法以外のパルス的にイオン化することが難しい電
子衝撃イオン化法、ディスチャージイオン化法を実施す
る場合には、イオン導入口と質量分析手段との間に配置
されているイオンビーム偏向電極の印加電圧をごく短時
間カットし、イオン化室でイオン化されイオン導入口よ
りイオンビーム偏向電極間を通って質量分析空間に入射
するイオンビームをパルス変調するようにしている。
に、かつ、パルス的に加速する必要があるが、レーザイ
オン化法以外のパルス的にイオン化することが難しい電
子衝撃イオン化法、ディスチャージイオン化法を実施す
る場合には、イオン導入口と質量分析手段との間に配置
されているイオンビーム偏向電極の印加電圧をごく短時
間カットし、イオン化室でイオン化されイオン導入口よ
りイオンビーム偏向電極間を通って質量分析空間に入射
するイオンビームをパルス変調するようにしている。
（実施例） 図面に本発明の一実施例を示す。
Ｉはイオン化室で、１はLCから流出してくる試料溶液
を加熱気化するベーパライザで、内径の異なるものを用
いることにより、摩擦によるイオン化も合わせ行うサー
モスプレーイオン化用プローブと交換可能である。２は
イオン化室内Ｉであってベーパライザ１が形成する噴流
の軸方向に沿って、かつ、その噴流を挟んでイオン導入
口６の対向側に付設されたレーザ銃で、レーザ光を窓３
を透過してベーパライザ１から出てくる試料溶液に集中
的に照射することにより、試料溶液を気化すると共にイ
オン化するか、気化された試料をイオン化する。レーザ
光の照射位置はできるだけベーパライザ出口近傍がよ
い。
を加熱気化するベーパライザで、内径の異なるものを用
いることにより、摩擦によるイオン化も合わせ行うサー
モスプレーイオン化用プローブと交換可能である。２は
イオン化室内Ｉであってベーパライザ１が形成する噴流
の軸方向に沿って、かつ、その噴流を挟んでイオン導入
口６の対向側に付設されたレーザ銃で、レーザ光を窓３
を透過してベーパライザ１から出てくる試料溶液に集中
的に照射することにより、試料溶液を気化すると共にイ
オン化するか、気化された試料をイオン化する。レーザ
光の照射位置はできるだけベーパライザ出口近傍がよ
い。
４、５は同じくイオン化室内Ｉであってベーパライザ
１が形成する噴流の軸方向に沿って、かつ、その噴流を
挟んでイオン導入口６の対向側に付設されたフィラメン
ト及びディスチャージ電極で、フィラメント４はイオン
化室Ｉに対し負電圧が印加され、電子を気化された試料
に衝突させてイオン化する。また、ディスチャージ電極
５はコロナ放電により試料をイオン化させる。Ｒは噴流
を挟んでイオン導入口６に対向した位置であってディス
チャージ電極５部に配置されたリペラ電極で、イオンを
イオン導入口６より質量分析手段側へ押出す。７はイオ
ン化室Ｉでイオン化されイオン導入口６を通して押出さ
れたイオンを飛行時間型質量分析器Ｍ内に導入するイオ
ン導入収束レンズ系、８はイオンビーム偏向電極で、通
常は電圧を印加して導入されたイオンを偏向して質量分
析器Ｍにイオンが入射しないようにしておき、分析を行
う時だけ、ごく短時間電圧をカットして質量分析器Ｍに
イオンを導入するようにしている。９はイオンを加速さ
せる加速電極、10はイオンを検出する検出器である。
１が形成する噴流の軸方向に沿って、かつ、その噴流を
挟んでイオン導入口６の対向側に付設されたフィラメン
ト及びディスチャージ電極で、フィラメント４はイオン
化室Ｉに対し負電圧が印加され、電子を気化された試料
に衝突させてイオン化する。また、ディスチャージ電極
５はコロナ放電により試料をイオン化させる。Ｒは噴流
を挟んでイオン導入口６に対向した位置であってディス
チャージ電極５部に配置されたリペラ電極で、イオンを
イオン導入口６より質量分析手段側へ押出す。７はイオ
ン化室Ｉでイオン化されイオン導入口６を通して押出さ
れたイオンを飛行時間型質量分析器Ｍ内に導入するイオ
ン導入収束レンズ系、８はイオンビーム偏向電極で、通
常は電圧を印加して導入されたイオンを偏向して質量分
析器Ｍにイオンが入射しないようにしておき、分析を行
う時だけ、ごく短時間電圧をカットして質量分析器Ｍに
イオンを導入するようにしている。９はイオンを加速さ
せる加速電極、10はイオンを検出する検出器である。
次に測定動作について説明する。レーザ光のみでイオ
ン化する時はレーザ光をパルス的にベーパライザ１の出
射開口付近に照射し、ベーパライザ１から流出する試料
溶液をイオン化する。レーザ光によりイオン化されたイ
オンはリペラ電極Ｒによりイオン化室Ｉからイオン導入
口６を通して押出され、イオン導入収束レンズ系７によ
りイオンビーム偏向電極８間を通過し、加速電極９で加
速されて質量分析空間に入射される。
ン化する時はレーザ光をパルス的にベーパライザ１の出
射開口付近に照射し、ベーパライザ１から流出する試料
溶液をイオン化する。レーザ光によりイオン化されたイ
オンはリペラ電極Ｒによりイオン化室Ｉからイオン導入
口６を通して押出され、イオン導入収束レンズ系７によ
りイオンビーム偏向電極８間を通過し、加速電極９で加
速されて質量分析空間に入射される。
質量数ｍ、電荷Ｚ、印加電圧Ｖとすると、イオンが加
速される速度ｖは、 となり、V/mの大きいイオンから順に検出器10で検出さ
れることとなり、検出時間によって質量分析が行われ
る。
速される速度ｖは、 となり、V/mの大きいイオンから順に検出器10で検出さ
れることとなり、検出時間によって質量分析が行われ
る。
ベーパライザ１、フィラメント４及びディスチャージ
電極５を用いて試料をイオン化する時は、イオン化が連
続的に行われるので、イオンビーム偏向電極８の印加電
圧をパルス的にカットし、イオン化されたイオンをパル
ス変調して質量分析器Ｍに短時間の間だけ入射させる。
電極５を用いて試料をイオン化する時は、イオン化が連
続的に行われるので、イオンビーム偏向電極８の印加電
圧をパルス的にカットし、イオン化されたイオンをパル
ス変調して質量分析器Ｍに短時間の間だけ入射させる。
（発明の効果） 試料により夫々適したイオン化法があるが、本発明に
よれば、多種のイオン化法を選択でき、従って、試料の
種類の制限なしに高感度の飛行時間型質量分析法を利用
することができ、質量分析の測定精度及び感度が向上し
た。
よれば、多種のイオン化法を選択でき、従って、試料の
種類の制限なしに高感度の飛行時間型質量分析法を利用
することができ、質量分析の測定精度及び感度が向上し
た。
図は本発明の一実施例の構成図である。 Ｉ……イオン化室、Ｍ……飛行時間型質量分析器、Ｒ…
…リペラ電極、１……ベーパライザ、２……レーザ銃、
３……窓、４……フィラメント、５……ディスチャージ
電極、６……イオン導入口、７……イオン導入収束レン
ズ系、８……偏向電極、９……加速電極、10……検出器
…リペラ電極、１……ベーパライザ、２……レーザ銃、
３……窓、４……フィラメント、５……ディスチャージ
電極、６……イオン導入口、７……イオン導入収束レン
ズ系、８……偏向電極、９……加速電極、10……検出器
Claims (1)
- 【請求項１】液体クロマトグラフのカラムにベーパライ
ザを介して接続される試料イオン化室と、このイオン化
室よりイオン導入口を介して導入されたイオンを飛行時
間型質量分析法により質量分析する質量分析手段とより
なり、前記試料イオン化室内であって前記ベーパライザ
が形成する噴流の軸方向に沿って、かつ、その噴流を挟
んで前記イオン導入口の対向側に、試料にレーザを照射
するレーザ照射手段、試料をイオン化する電子を放射す
るフィラメント、ディスチャージイオン化法により試料
をイオン化するディスチャージ電極をこの順に並べて付
設し、同じく前記噴流を挟んで前記イオン導入口に対向
した位置であって前記ディスチャージ電極部にリペラ電
極を配置し、電子衝撃イオン化法、ディスチャージイオ
ン化法、レーザイオン化法の各種イオン化法を選択して
動作可能状態にする選択手段を備えると共に、前記イオ
ン導入口と前記質量分析手段との間にその印加電圧がパ
ルス的にカットされるイオンビーム偏向電極を配置した
ことを特徴とする液体クロマトグラフ・質量分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63332977A JPH0830695B2 (ja) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | 液体クロマトグラフ・質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63332977A JPH0830695B2 (ja) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | 液体クロマトグラフ・質量分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02176459A JPH02176459A (ja) | 1990-07-09 |
| JPH0830695B2 true JPH0830695B2 (ja) | 1996-03-27 |
Family
ID=18260938
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63332977A Expired - Fee Related JPH0830695B2 (ja) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | 液体クロマトグラフ・質量分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0830695B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005104181A1 (ja) * | 2004-03-30 | 2005-11-03 | Yamanashi Tlo Co., Ltd. | 質量分析のためのイオン化方法および装置 |
| US7034291B1 (en) * | 2004-10-22 | 2006-04-25 | Agilent Technologies, Inc. | Multimode ionization mode separator |
| JP4958258B2 (ja) * | 2006-03-17 | 2012-06-20 | 株式会社リガク | ガス分析装置 |
| JP4825028B2 (ja) * | 2006-03-17 | 2011-11-30 | 浜松ホトニクス株式会社 | イオン化装置 |
| JP2008209293A (ja) * | 2007-02-27 | 2008-09-11 | Hitachi High-Tech Science Systems Corp | 液体クロマトグラフ質量分析計 |
| JP2010014539A (ja) * | 2008-07-03 | 2010-01-21 | Tokyo Metropolitan Univ | 液体試料イオン化法、質量分析法及びそれらの装置 |
| JP6103764B2 (ja) * | 2013-05-14 | 2017-03-29 | 国立大学法人福井大学 | 試料溶液の質量分析方法及びその装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58175250A (ja) * | 1982-04-07 | 1983-10-14 | Hitachi Ltd | 複合イオン源 |
| JPS61195554A (ja) * | 1985-02-22 | 1986-08-29 | Shimadzu Corp | 飛行時間型質量分析計 |
-
1988
- 1988-12-27 JP JP63332977A patent/JPH0830695B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02176459A (ja) | 1990-07-09 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |