JPH08271344A - 焦電膜を備えたモノリシック感熱検出器およびその製造方法 - Google Patents
焦電膜を備えたモノリシック感熱検出器およびその製造方法Info
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 81
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 58
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 39
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims abstract description 27
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 26
- 238000000137 annealing Methods 0.000 claims abstract description 22
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 42
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 5
- 239000010408 film Substances 0.000 abstract description 31
- 238000001931 thermography Methods 0.000 abstract description 8
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 143
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 26
- 229910052454 barium strontium titanate Inorganic materials 0.000 description 14
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 9
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 9
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 9
- 230000008569 process Effects 0.000 description 8
- 230000008859 change Effects 0.000 description 7
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 6
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 6
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 5
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 description 4
- FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N lanthanum atom Chemical compound [La] FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052451 lead zirconate titanate Inorganic materials 0.000 description 4
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- HFGPZNIAWCZYJU-UHFFFAOYSA-N lead zirconate titanate Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ti+4].[Zr+4].[Pb+2] HFGPZNIAWCZYJU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 description 3
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 2
- 229940075103 antimony Drugs 0.000 description 2
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- NKZSPGSOXYXWQA-UHFFFAOYSA-N dioxido(oxo)titanium;lead(2+) Chemical compound [Pb+2].[O-][Ti]([O-])=O NKZSPGSOXYXWQA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 2
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 2
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XHCLAFWTIXFWPH-UHFFFAOYSA-N [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[V+5].[V+5] Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[V+5].[V+5] XHCLAFWTIXFWPH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WOIHABYNKOEWFG-UHFFFAOYSA-N [Sr].[Ba] Chemical compound [Sr].[Ba] WOIHABYNKOEWFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 229910002113 barium titanate Inorganic materials 0.000 description 1
- JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N barium titanate Chemical compound [Ba+2].[Ba+2].[O-][Ti]([O-])([O-])[O-] JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 1
- XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N hydrogen iodide Chemical compound I XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003331 infrared imaging Methods 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000004297 night vision Effects 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 1
- 238000005546 reactive sputtering Methods 0.000 description 1
- 239000011819 refractory material Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 150000003457 sulfones Chemical class 0.000 description 1
- IBYSTTGVDIFUAY-UHFFFAOYSA-N vanadium monoxide Chemical compound [V]=O IBYSTTGVDIFUAY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001935 vanadium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005019 vapor deposition process Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/10—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
- G01J5/34—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using capacitors, e.g. pyroelectric capacitors
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/10—Integrated devices
- H10F39/12—Image sensors
- H10F39/18—Complementary metal-oxide-semiconductor [CMOS] image sensors; Photodiode array image sensors
- H10F39/184—Infrared image sensors
- H10F39/1843—Infrared image sensors of the hybrid type
-
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 焦電材料から形成される感熱センサを有する
従来の熱的映像システムに関連する欠点および問題が実
質的に減少または除外される。 【解決手段】 1つまたはそれ以上の薄膜層の材料が集
積回路基板上に形成され、そしてモノリシック感熱セン
サを作るために異方性的にエッチングされる。第1の層
の材料が集積回路基板上に置かれ、そして関連する収束
面配列の感熱センサ用の複数個の支持構造を形成するよ
うに異方性的にエッチングされる。収束面配列の感熱セ
ンサは、支持構造上に形成された1つまたはそれ以上の
薄膜層の材料を異方性的にエッチングすることによって
提供できる。熱的絶縁材料の層は、関連する集積回路基
板に損傷を起こすことなく焦電膜層の焼きなましを可能
とするように、集積回路基板と焦電膜層の間に配置され
る。
従来の熱的映像システムに関連する欠点および問題が実
質的に減少または除外される。 【解決手段】 1つまたはそれ以上の薄膜層の材料が集
積回路基板上に形成され、そしてモノリシック感熱セン
サを作るために異方性的にエッチングされる。第1の層
の材料が集積回路基板上に置かれ、そして関連する収束
面配列の感熱センサ用の複数個の支持構造を形成するよ
うに異方性的にエッチングされる。収束面配列の感熱セ
ンサは、支持構造上に形成された1つまたはそれ以上の
薄膜層の材料を異方性的にエッチングすることによって
提供できる。熱的絶縁材料の層は、関連する集積回路基
板に損傷を起こすことなく焦電膜層の焼きなましを可能
とするように、集積回路基板と焦電膜層の間に配置され
る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は全般的に赤外線また
は熱的映像システムに関し、さらには、薄膜焦電(pyroe
lectric)材料を備えたモノリシック感熱センサおよびそ
の製法に関する。
は熱的映像システムに関し、さらには、薄膜焦電(pyroe
lectric)材料を備えたモノリシック感熱センサおよびそ
の製法に関する。
【0002】
【従来の技術】感熱センサの1つの共通的な応用例は、
例えば、夜間視覚機器のような熱的(赤外線)映像装置
においてである。そのようなクラスの熱的映像装置の1
つは、感熱素子を有する感熱センサの収束面配列を含ん
でいる。収束面配列およびその関連感熱センサは、しば
しば、対応の接触パッド、および収束面配列と集積回路
基板間に設けられた熱的アイソレーシヨン構造を備えた
この集積回路基板に結合される。感熱センサは典型的に
は、最終的な熱的映像についての個々の絵素を決めてい
る。
例えば、夜間視覚機器のような熱的(赤外線)映像装置
においてである。そのようなクラスの熱的映像装置の1
つは、感熱素子を有する感熱センサの収束面配列を含ん
でいる。収束面配列およびその関連感熱センサは、しば
しば、対応の接触パッド、および収束面配列と集積回路
基板間に設けられた熱的アイソレーシヨン構造を備えた
この集積回路基板に結合される。感熱センサは典型的に
は、最終的な熱的映像についての個々の絵素を決めてい
る。
【0003】感熱センサの1つの形は、例えば、バリウ
ムストロンチウムチタン酸塩(barium strontium titana
te) (BST)のような、赤外線入射光に応答して焦電
材料の温度変化に依存した電気的分極および/または誘
電率の変化を示す焦電材料から作られる感熱素子を包含
する。1つのそのような感熱センサに対し、赤外線吸収
および共通電極組み立てが、関連する感熱素子の1側面
に配置されてもよい。センサ信号電極はこの感熱素子の
対向側面に配置されてもよい。赤外線吸収および共通電
極組み立ては、典型的には関連する収束面配列の表面に
渡って広がっており、収束面配列中の各感熱センサの感
熱素子に取り付けられる。各感熱素子は好ましくはそれ
自身別のセンサ信号電極を有している。共通電極および
センサ信号電極は容量板を構成している。焦電材料はこ
の容量板間に配置された誘電体または絶縁体を構成す
る。
ムストロンチウムチタン酸塩(barium strontium titana
te) (BST)のような、赤外線入射光に応答して焦電
材料の温度変化に依存した電気的分極および/または誘
電率の変化を示す焦電材料から作られる感熱素子を包含
する。1つのそのような感熱センサに対し、赤外線吸収
および共通電極組み立てが、関連する感熱素子の1側面
に配置されてもよい。センサ信号電極はこの感熱素子の
対向側面に配置されてもよい。赤外線吸収および共通電
極組み立ては、典型的には関連する収束面配列の表面に
渡って広がっており、収束面配列中の各感熱センサの感
熱素子に取り付けられる。各感熱素子は好ましくはそれ
自身別のセンサ信号電極を有している。共通電極および
センサ信号電極は容量板を構成している。焦電材料はこ
の容量板間に配置された誘電体または絶縁体を構成す
る。
【0004】このような感熱センサは、しばしばハイブ
リッド固体形成技術を用いて、熱的映像システム中に組
み込まれる。ある種の感熱センサバリウムストロンチウ
ムチタン酸塩(BST)は、関連する感熱素子を形成す
るために使用されてもよい。そのような感熱素子を形成
するための開始位置は、典型的には約4インチ(2.5
4cm)の直径と0.1インチ(2.54mm)の厚み
を有するバリウムストロンチウムチタン酸塩または他の
適当な焦電材料のウヱーハである。種々のグラインディ
ングおよび/または研磨処理が、BSTウヱーハを約
0.001インチ(0.0254mm)またはそれ以下
の厚みにするために、しばしば使用される。そのような
焦電材料から作られた感熱センサの最終の収束面配列
は、バンプ接合処理またはハイブリッド固体システムの
形成に関する他の技術を用いて、集積回路基板に結合さ
れてもよい。
リッド固体形成技術を用いて、熱的映像システム中に組
み込まれる。ある種の感熱センサバリウムストロンチウ
ムチタン酸塩(BST)は、関連する感熱素子を形成す
るために使用されてもよい。そのような感熱素子を形成
するための開始位置は、典型的には約4インチ(2.5
4cm)の直径と0.1インチ(2.54mm)の厚み
を有するバリウムストロンチウムチタン酸塩または他の
適当な焦電材料のウヱーハである。種々のグラインディ
ングおよび/または研磨処理が、BSTウヱーハを約
0.001インチ(0.0254mm)またはそれ以下
の厚みにするために、しばしば使用される。そのような
焦電材料から作られた感熱センサの最終の収束面配列
は、バンプ接合処理またはハイブリッド固体システムの
形成に関する他の技術を用いて、集積回路基板に結合さ
れてもよい。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明に従えば、焦電
材料から形成される感熱センサを有する従来の熱的映像
システムに関連する欠点および問題が実質的に減少また
は除外される。本発明は、収束面配列および集積回路基
板上に配置された焦電材料薄膜から部分的に形成される
複数の感熱センサを有するモノリシック感熱検出器の作
成を可能にする。
材料から形成される感熱センサを有する従来の熱的映像
システムに関連する欠点および問題が実質的に減少また
は除外される。本発明は、収束面配列および集積回路基
板上に配置された焦電材料薄膜から部分的に形成される
複数の感熱センサを有するモノリシック感熱検出器の作
成を可能にする。
【0006】
【課題を解決するための手段】1つの実施例は、集積回
路基板上に設けられた焦電材料薄膜層を集積回路基板に
関する通常の温度限界以上の温度で焼きなますことを含
んでいる。本発明の他の態様は、集積回路基板上に設け
られた1つまたはそれ以上の異種膜層から部分的に形成
される感熱センサを備えた収束面配列を有するモノリシ
ック感熱検出器を形成するために、1度またはそれ以上
の異方性エッチング処理を使用することを含んでいる。
路基板上に設けられた焦電材料薄膜層を集積回路基板に
関する通常の温度限界以上の温度で焼きなますことを含
んでいる。本発明の他の態様は、集積回路基板上に設け
られた1つまたはそれ以上の異種膜層から部分的に形成
される感熱センサを備えた収束面配列を有するモノリシ
ック感熱検出器を形成するために、1度またはそれ以上
の異方性エッチング処理を使用することを含んでいる。
【0007】1つの実施例の重要な技術的利点は、モノ
リシック感熱検出器を形成するために使用する集積回路
基板上に1つまたはそれ以上の選択された材料の薄膜層
を形成し、そして集積回路基板を損傷することなしに、
集積回路基板に関する温度限界より実質的に高い温度で
この膜層を焼きなますことを含んでいる。集積回路基板
上に1つまたはそれ以上の選択された材料の薄膜層を形
成することにより、コストが実質的に減少し、そして処
理工程全体の効率が改善する。本発明の1つの態様にお
いては、1つまたはそれ以上の薄膜層は、好ましくは関
連する感熱センサ用の感熱素子を提供するために、バリ
ウムストロンチウムチタン酸塩のような焦電材料から形
成される。
リシック感熱検出器を形成するために使用する集積回路
基板上に1つまたはそれ以上の選択された材料の薄膜層
を形成し、そして集積回路基板を損傷することなしに、
集積回路基板に関する温度限界より実質的に高い温度で
この膜層を焼きなますことを含んでいる。集積回路基板
上に1つまたはそれ以上の選択された材料の薄膜層を形
成することにより、コストが実質的に減少し、そして処
理工程全体の効率が改善する。本発明の1つの態様にお
いては、1つまたはそれ以上の薄膜層は、好ましくは関
連する感熱センサ用の感熱素子を提供するために、バリ
ウムストロンチウムチタン酸塩のような焦電材料から形
成される。
【0008】
【発明の実施の形態】本発明の好適実施例およびその利
点は図1−6を参照することにより最良の理解ができ
る。図において、同一部品について全ての図面を通じて
同一番号が使用される。ある種の赤外線検出器および感
熱映像システムは、感熱センサに当たる赤外線入射の結
果生ずる温度変化に起因する電圧変化の発生、または感
熱センサを作るために使用される材料中の光子−電子相
互作用に起因する電圧変化の発生のいずれかに基づいて
いる。この後者の効果は時々内部光電効果と呼ばれる。
他の赤外線検出器および感熱システムは、赤外線入射の
加熱効果によって起こる薄い導電体の抵抗変化に基づい
ている。そのような赤外線検出器は時々ボロメータと呼
ばれる。
点は図1−6を参照することにより最良の理解ができ
る。図において、同一部品について全ての図面を通じて
同一番号が使用される。ある種の赤外線検出器および感
熱映像システムは、感熱センサに当たる赤外線入射の結
果生ずる温度変化に起因する電圧変化の発生、または感
熱センサを作るために使用される材料中の光子−電子相
互作用に起因する電圧変化の発生のいずれかに基づいて
いる。この後者の効果は時々内部光電効果と呼ばれる。
他の赤外線検出器および感熱システムは、赤外線入射の
加熱効果によって起こる薄い導電体の抵抗変化に基づい
ている。そのような赤外線検出器は時々ボロメータと呼
ばれる。
【0009】本発明の教示にしたがって構成された感熱
映像システムおよび感熱検出器は、赤外線入射の結果生
ずる焦電材料の温度変化に起因する電圧および/または
電流変化の発生に基づいて機能できる。しかしながら、
また本発明はボロメータ(bolometer) を含む他のタイプ
の感熱検出器と共に使用されてもよい。
映像システムおよび感熱検出器は、赤外線入射の結果生
ずる焦電材料の温度変化に起因する電圧および/または
電流変化の発生に基づいて機能できる。しかしながら、
また本発明はボロメータ(bolometer) を含む他のタイプ
の感熱検出器と共に使用されてもよい。
【0010】集積回路基板上の耐火性材料の膜層を形成
することに関する問題の1つは、所望の焦電および/ま
たはボロメトリック(bolometric)特性を膜層に作り出す
ために比較的高い温度(600℃またはそれ以上)での
焼きなましにより、および集積回路基板の製作に代表的
に関連する比較的低い温度限界(450℃またはそれ以
下)により発生する。本発明は、関連する集積回路基板
の上限温度を越えることなく、600℃またはそれ以上
で膜層の焼きなましを可能とするために十分な熱的絶縁
を提供することによって、この問題を解決する。
することに関する問題の1つは、所望の焦電および/ま
たはボロメトリック(bolometric)特性を膜層に作り出す
ために比較的高い温度(600℃またはそれ以上)での
焼きなましにより、および集積回路基板の製作に代表的
に関連する比較的低い温度限界(450℃またはそれ以
下)により発生する。本発明は、関連する集積回路基板
の上限温度を越えることなく、600℃またはそれ以上
で膜層の焼きなましを可能とするために十分な熱的絶縁
を提供することによって、この問題を解決する。
【0011】ある種の適用においては、集積回路基板の
表面上に形成された1つまたはそれ以上の膜層の高温焼
きなまし間に、集積回路基板の温度を満足できる限界以
内に制御するために、ヒートシンクすなわち熱交換器が
使用されてもよい。本発明の1つの結果は、焦電または
ボロメトリック材料の少なくとも1つの層を含む異種薄
膜層から形成される収束面配列を有するモノリシック感
熱検出器である。異方性エッチング技術が、異種膜層か
ら所望の感熱センサを形成するために使用されてもよ
い。また本発明は、集積回路基板上に設けられた種々の
タイプの収束面配列を有する多種類のモノリシック感熱
検出器を製作することを可能とする。
表面上に形成された1つまたはそれ以上の膜層の高温焼
きなまし間に、集積回路基板の温度を満足できる限界以
内に制御するために、ヒートシンクすなわち熱交換器が
使用されてもよい。本発明の1つの結果は、焦電または
ボロメトリック材料の少なくとも1つの層を含む異種薄
膜層から形成される収束面配列を有するモノリシック感
熱検出器である。異方性エッチング技術が、異種膜層か
ら所望の感熱センサを形成するために使用されてもよ
い。また本発明は、集積回路基板上に設けられた種々の
タイプの収束面配列を有する多種類のモノリシック感熱
検出器を製作することを可能とする。
【0012】種々のタイプの半導体材料および集積回路
基板が本発明に使用されてもよい。米国特許第4,14
3,269号、『強誘電体映像システム』、MaCormic e
t al、譲受人テキサスインスツルメンツ社は、強誘電体
材料から作られる赤外線検出器およびシリコンスイッチ
ングマトリックスすなわち集積回路基板に関する情報を
提供している。米国特許第5,047,644号、『感
熱映像システム用ポリイミド熱的絶縁メサ』、Meissner
et al、譲受人テキサスインスツルメンツ社は、ポリイ
ミドから作られた熱的絶縁メサ型形状を有する熱的絶縁
構造を開示している。これらの熱的絶縁構造はポリイミ
ドから作られてもよい。
基板が本発明に使用されてもよい。米国特許第4,14
3,269号、『強誘電体映像システム』、MaCormic e
t al、譲受人テキサスインスツルメンツ社は、強誘電体
材料から作られる赤外線検出器およびシリコンスイッチ
ングマトリックスすなわち集積回路基板に関する情報を
提供している。米国特許第5,047,644号、『感
熱映像システム用ポリイミド熱的絶縁メサ』、Meissner
et al、譲受人テキサスインスツルメンツ社は、ポリイ
ミドから作られた熱的絶縁メサ型形状を有する熱的絶縁
構造を開示している。これらの熱的絶縁構造はポリイミ
ドから作られてもよい。
【0013】本発明の一実施例を、図1に感熱検出器1
0の製作途中段階として示す。説明のために、集積回路
基板20の一方の表面に設けられた膜12、14、およ
び16、反対側に設けられたヒートシンク22を示す。
後にさらに詳細に説明するが、膜12、14、および1
6は、熱的障壁として機能するポリイミド、最終的な感
熱センサ用の感熱素子を提供するバリウムストロンチウ
ムチタン酸塩または他の焦電材料のような種々の材料、
および電気的導電膜のような他の種類の材料から形成さ
れる。材料の種類および層の数は、収束面配列デザイン
および集積回路基板20上に形成されるであろう感熱セ
ンサの種類に依存して選択できる。
0の製作途中段階として示す。説明のために、集積回路
基板20の一方の表面に設けられた膜12、14、およ
び16、反対側に設けられたヒートシンク22を示す。
後にさらに詳細に説明するが、膜12、14、および1
6は、熱的障壁として機能するポリイミド、最終的な感
熱センサ用の感熱素子を提供するバリウムストロンチウ
ムチタン酸塩または他の焦電材料のような種々の材料、
および電気的導電膜のような他の種類の材料から形成さ
れる。材料の種類および層の数は、収束面配列デザイン
および集積回路基板20上に形成されるであろう感熱セ
ンサの種類に依存して選択できる。
【0014】酸素に基づく反応イオンエッチ(RIE)
または磁気的に励起された反応イオンエッチ(MERI
E)のような1つまたはそれ以上の異方性エッチング処
理が、集積回路基板20上に最終的な収束面配列を構成
する所望の感熱センサを形成するために、異質の薄膜層
12、14および16に適用される。異方性エッチング
技術の選択および各異方性エッチの適用順序は、各膜1
2、14および16を形成するために使用される材料お
よび最終的な感熱センサの所望の形状に依存する。
または磁気的に励起された反応イオンエッチ(MERI
E)のような1つまたはそれ以上の異方性エッチング処
理が、集積回路基板20上に最終的な収束面配列を構成
する所望の感熱センサを形成するために、異質の薄膜層
12、14および16に適用される。異方性エッチング
技術の選択および各異方性エッチの適用順序は、各膜1
2、14および16を形成するために使用される材料お
よび最終的な感熱センサの所望の形状に依存する。
【0015】ある種の適用例においては、薄膜層14お
よび/または16の熱処理または焼きなましの間、集積
回路基板20を保護するために、層12はポリイミドま
たは他の低熱伝導性材料から形成される。薄膜層14お
よび/または16が比較的高い焼きなまし温度を必要と
するような適用例においては、ヒートシンク22が集積
回路基板20の反対面あるいは表面に設けられて、熱的
絶縁材料の層12と共に集積回路基板20を保護する。
例えば、薄膜層14がバリウムストロンチウムチタン酸
塩のような焦電材料から形成されるなら、要求される焼
きなまし温度は所望の焦電特性を作り出すために900
℃程の高温である。基板内のコンポーネントに損傷を与
えない集積回路基板の製作における温度の上限は典型的
には400から500℃である。熱絶縁層12およびヒ
ートシンク22は相互に協同して、層14および16の
焼きなましの間、集積回路基板の温度をその関連の上限
温度以下に維持する。ある種の適用例においては、ヒー
トシンク22は、焼きなまし処理の間、集積回路基板2
0を積極的に冷却するために使用される熱交換器または
熱電素子でよい。
よび/または16の熱処理または焼きなましの間、集積
回路基板20を保護するために、層12はポリイミドま
たは他の低熱伝導性材料から形成される。薄膜層14お
よび/または16が比較的高い焼きなまし温度を必要と
するような適用例においては、ヒートシンク22が集積
回路基板20の反対面あるいは表面に設けられて、熱的
絶縁材料の層12と共に集積回路基板20を保護する。
例えば、薄膜層14がバリウムストロンチウムチタン酸
塩のような焦電材料から形成されるなら、要求される焼
きなまし温度は所望の焦電特性を作り出すために900
℃程の高温である。基板内のコンポーネントに損傷を与
えない集積回路基板の製作における温度の上限は典型的
には400から500℃である。熱絶縁層12およびヒ
ートシンク22は相互に協同して、層14および16の
焼きなましの間、集積回路基板の温度をその関連の上限
温度以下に維持する。ある種の適用例においては、ヒー
トシンク22は、焼きなまし処理の間、集積回路基板2
0を積極的に冷却するために使用される熱交換器または
熱電素子でよい。
【0016】本発明の重要な特徴は、集積回路基板20
上に形成された種々の薄膜層を熱処理および/または焼
きなますことを可能とするために必要となる冷却を行う
ことである。ある種の適用例においては、熱的絶縁層1
2は、ヒートシンク22を必要としないで集積回路基板
20を十分保護する。
上に形成された種々の薄膜層を熱処理および/または焼
きなますことを可能とするために必要となる冷却を行う
ことである。ある種の適用例においては、熱的絶縁層1
2は、ヒートシンク22を必要としないで集積回路基板
20を十分保護する。
【0017】本発明の他の実施例が図2−5に示され、
それは集積回路基板32上に設けた感熱センサ52を備
えた収束面配列50を有するモノリシック感熱検出器3
0を作る間の種々の段階を示している。接触パッド34
の配列が、個々の感熱センサ52からのセンサ信号を受
けるように集積回路基板32の一方の側または表面36
上に好ましくは設けられる。
それは集積回路基板32上に設けた感熱センサ52を備
えた収束面配列50を有するモノリシック感熱検出器3
0を作る間の種々の段階を示している。接触パッド34
の配列が、個々の感熱センサ52からのセンサ信号を受
けるように集積回路基板32の一方の側または表面36
上に好ましくは設けられる。
【0018】個々の感熱センサ52の支持構造40を提
供するために使用される材料の第1の層38は、好まし
くは第1の表面36上に付着または形成される。異方性
エッチングまたは他の写真印刷技術を用いて、感熱セン
サ52の支持構造40が集積回路基板32の表面36上
に形成される。図2−5に示す本発明の実施例につい
て、各感熱センサ52は、好ましくは、個々の接触パッ
ド34上に設けられている少なくとも1つの支持構造4
0を備えた1対支持構造40を有している。1つの適用
例においては、第1の層38および最終的な支持構造4
0はアルミニウムで形成されてもよい。しかしながら、
集積回路基板32上に作成される感熱センサ52のタイ
プに依存する支持構造40を提供するために、他のタイ
プの材料が使用されてもよい。
供するために使用される材料の第1の層38は、好まし
くは第1の表面36上に付着または形成される。異方性
エッチングまたは他の写真印刷技術を用いて、感熱セン
サ52の支持構造40が集積回路基板32の表面36上
に形成される。図2−5に示す本発明の実施例につい
て、各感熱センサ52は、好ましくは、個々の接触パッ
ド34上に設けられている少なくとも1つの支持構造4
0を備えた1対支持構造40を有している。1つの適用
例においては、第1の層38および最終的な支持構造4
0はアルミニウムで形成されてもよい。しかしながら、
集積回路基板32上に作成される感熱センサ52のタイ
プに依存する支持構造40を提供するために、他のタイ
プの材料が使用されてもよい。
【0019】次に、熱的絶縁材料の第2の層42が、支
持構造40を設けた表面36上に形成される。1つの適
用例としては、第2の層42を形成する絶縁材料とし
て、ポリイミドが選択されてもよい。しかしながら、個
々の感熱センサ52を形成するために使用される薄膜層
に関する焼きなまし温度、および集積回路基板32に関
する温度上限に依存して、本発明においては他の種類の
絶縁材料が使用されてもよい。ある種の適用例において
は、個々の膜層の焼きなましの間に第2の層42が集積
回路基板32を保護する必要がないように、この膜層お
よび関連する支持構造40間に熱的絶縁構造が形成され
てもよい。
持構造40を設けた表面36上に形成される。1つの適
用例としては、第2の層42を形成する絶縁材料とし
て、ポリイミドが選択されてもよい。しかしながら、個
々の感熱センサ52を形成するために使用される薄膜層
に関する焼きなまし温度、および集積回路基板32に関
する温度上限に依存して、本発明においては他の種類の
絶縁材料が使用されてもよい。ある種の適用例において
は、個々の膜層の焼きなましの間に第2の層42が集積
回路基板32を保護する必要がないように、この膜層お
よび関連する支持構造40間に熱的絶縁構造が形成され
てもよい。
【0020】次に、図4に最良に示すように、電気的導
電性材料の第1の層44が熱的絶縁層42および各支持
構造40の上面に形成される。次に、電気的導電性材料
の第1の層44、支持構造40およびそれらの間に設け
た熱的絶縁材料の第2の層42を備えた集積回路基板3
2の表面36上に、焦電材料の薄膜層が形成される。電
気的導電性材料の第2の層48が、次に電気的導電性材
料の第1の層44の反対側の焦電膜層46上に形成され
る。層44および48は、ニッケル、白金のような種々
の材料から形成できる。しかしながら、本発明は、集積
回路基板32上に形成される感熱センサの種類に依存し
て、他の種類の電気的導電性材料が使用されてもよい。
電性材料の第1の層44が熱的絶縁層42および各支持
構造40の上面に形成される。次に、電気的導電性材料
の第1の層44、支持構造40およびそれらの間に設け
た熱的絶縁材料の第2の層42を備えた集積回路基板3
2の表面36上に、焦電材料の薄膜層が形成される。電
気的導電性材料の第2の層48が、次に電気的導電性材
料の第1の層44の反対側の焦電膜層46上に形成され
る。層44および48は、ニッケル、白金のような種々
の材料から形成できる。しかしながら、本発明は、集積
回路基板32上に形成される感熱センサの種類に依存し
て、他の種類の電気的導電性材料が使用されてもよい。
【0021】1つの適用例においては、膜層46は好ま
しくはバリウムストロンチウムチタン酸塩のような焦電
材料から形成される。他の適用例においては、チタン酸
鉛(PT)、鉛ランタンチタン酸塩(lead lanthanum ti
tanate) (PLT)、鉛ジルコン酸塩チタン酸塩(lead
zirconate titanate) (PZT)および鉛ランタンジル
コン酸塩チタン酸塩(lead lanthanum zirconate titana
te)(PZLT)を含むチタン酸鉛類中の材料が、膜層
46を形成するために使用されてもよい。膜層46用の
材料の選択は、集積回路基板32上に形成される感熱セ
ンサの種類に依存する。層42、44、46、および4
8を形成するために使用される材料の種類に依存して、
1つまたはそれ以上の緩衝層すなわち保護層(図示せ
ず)が、集積回路基板32および/または層42、4
4、46、および48間に設けられてもよい。
しくはバリウムストロンチウムチタン酸塩のような焦電
材料から形成される。他の適用例においては、チタン酸
鉛(PT)、鉛ランタンチタン酸塩(lead lanthanum ti
tanate) (PLT)、鉛ジルコン酸塩チタン酸塩(lead
zirconate titanate) (PZT)および鉛ランタンジル
コン酸塩チタン酸塩(lead lanthanum zirconate titana
te)(PZLT)を含むチタン酸鉛類中の材料が、膜層
46を形成するために使用されてもよい。膜層46用の
材料の選択は、集積回路基板32上に形成される感熱セ
ンサの種類に依存する。層42、44、46、および4
8を形成するために使用される材料の種類に依存して、
1つまたはそれ以上の緩衝層すなわち保護層(図示せ
ず)が、集積回路基板32および/または層42、4
4、46、および48間に設けられてもよい。
【0022】膜層46がバリウムストロンチウムチタン
酸塩のような焦電材料から形成されるこのような適用例
においては、電気的導電性の材料である第2の層48を
付ける前に、層46を焼きなますことが望ましいかもし
れない。層46の焼きなましは、最終の感熱センサ52
に要求される所望の焦電材料特性を得るために、一般的
に必要となる。先に示したように、バリウムストロンチ
ウムチタン酸塩用の焼きなまし温度は900℃と高い。
同時に、集積回路基板32内の構成部分に損傷を起こさ
ないで基板32を作成する温度上限は、代表的には40
0−450℃であろう。このように、本発明の重要な特
徴は、集積回路基板32に損傷を与えないで膜層46を
焼きなますために、焦電材料層46と集積回路基板32
間に熱的絶縁層42を設けることを包含する。
酸塩のような焦電材料から形成されるこのような適用例
においては、電気的導電性の材料である第2の層48を
付ける前に、層46を焼きなますことが望ましいかもし
れない。層46の焼きなましは、最終の感熱センサ52
に要求される所望の焦電材料特性を得るために、一般的
に必要となる。先に示したように、バリウムストロンチ
ウムチタン酸塩用の焼きなまし温度は900℃と高い。
同時に、集積回路基板32内の構成部分に損傷を起こさ
ないで基板32を作成する温度上限は、代表的には40
0−450℃であろう。このように、本発明の重要な特
徴は、集積回路基板32に損傷を与えないで膜層46を
焼きなますために、焦電材料層46と集積回路基板32
間に熱的絶縁層42を設けることを包含する。
【0023】集積回路基板32の表面36上に、支持構
造40および所望の材料層42、44、46、および4
8を形成した後に、所望の感熱センサを形成するため、
異方性エッチング処理を含む種々の写真印刷技術が使用
される。層42、44、46、および48形成する材料
の種類に依存して、異方性エッチング処理は酸素ベース
の反応イオンエッチ(RIE)または磁気的に強化され
た反応イオンエッチ(MERIE)を含むことができ
る。最終的な感熱センサ52は好ましくは、焦電材料4
6と集積回路基板32の表面36間に空洞または空き空
間54を包含する。典型的な空き空間54は、感熱セン
サで検出される入射赤外線の波長の1/4に対応する高さ
を有する。1つの適用例においては、支持構造40およ
びその関連空き空間54は約2 1/2ミクロンである。
造40および所望の材料層42、44、46、および4
8を形成した後に、所望の感熱センサを形成するため、
異方性エッチング処理を含む種々の写真印刷技術が使用
される。層42、44、46、および48形成する材料
の種類に依存して、異方性エッチング処理は酸素ベース
の反応イオンエッチ(RIE)または磁気的に強化され
た反応イオンエッチ(MERIE)を含むことができ
る。最終的な感熱センサ52は好ましくは、焦電材料4
6と集積回路基板32の表面36間に空洞または空き空
間54を包含する。典型的な空き空間54は、感熱セン
サで検出される入射赤外線の波長の1/4に対応する高さ
を有する。1つの適用例においては、支持構造40およ
びその関連空き空間54は約2 1/2ミクロンである。
【0024】図5に示すモノリシック感熱検出器30に
ついて、支持構造40はその関連感熱センサ52の機械
的支持を提供すると共にその関連接触パッド34への信
号通路を提供する。後にさらに詳細に説明されるよう
に、本発明は感熱センサとその関連の集積回路基板間の
多種類の信号通路を提供するために使用できる。スパッ
タ付着、反応スパッタリング、化学蒸着および/または
蒸着処理のような種々の処理が層38、42、44、4
6、および48を形成するために適当に使用できる。
ついて、支持構造40はその関連感熱センサ52の機械
的支持を提供すると共にその関連接触パッド34への信
号通路を提供する。後にさらに詳細に説明されるよう
に、本発明は感熱センサとその関連の集積回路基板間の
多種類の信号通路を提供するために使用できる。スパッ
タ付着、反応スパッタリング、化学蒸着および/または
蒸着処理のような種々の処理が層38、42、44、4
6、および48を形成するために適当に使用できる。
【0025】図6に示すように、モノリシック感熱検出
器130の一部を形成する感熱センサ152は本発明の
他の実施例を示す。ある適用例においては、モノリシッ
ク感熱センサ30が好ましくは、本発明の教示に従い集
積回路基板32の表面36上に形成された多数の感熱セ
ンサ152を包含する。感熱センサ152は、電気的に
導電性の材料から成る第2の層44から形成される共通
板160を包含する。共通板160に電気的に結合され
そしてその直下にある1対のピクセル素子162および
164は、膜層46から形成される。本発明は、焦電材
料、非晶質シリコンのようなボロメトリックな材料、お
よび入射赤外線に応答して十分な信号を与えるバナジウ
ム酸化物(VO)および/または他の温度感知材料か
ら、層46および最終的なピクセル素子162および1
64を形成するという意味であることに注意すべきであ
る。
器130の一部を形成する感熱センサ152は本発明の
他の実施例を示す。ある適用例においては、モノリシッ
ク感熱センサ30が好ましくは、本発明の教示に従い集
積回路基板32の表面36上に形成された多数の感熱セ
ンサ152を包含する。感熱センサ152は、電気的に
導電性の材料から成る第2の層44から形成される共通
板160を包含する。共通板160に電気的に結合され
そしてその直下にある1対のピクセル素子162および
164は、膜層46から形成される。本発明は、焦電材
料、非晶質シリコンのようなボロメトリックな材料、お
よび入射赤外線に応答して十分な信号を与えるバナジウ
ム酸化物(VO)および/または他の温度感知材料か
ら、層46および最終的なピクセル素子162および1
64を形成するという意味であることに注意すべきであ
る。
【0026】ピクセル素子162および164は、好ま
しくは一方の側が共通板160に、他方の側が1対の電
極166および168にそれぞれ結合される。ピクセル
素子162および対応する電極166は、共通板160
を除き、ピクセル素子164および対応する電極168
から電気的に絶縁されており、それによって共通板16
0がピクセル素子162および164間に信号通路を提
供する。電極166および168は電気的導電性の材料
44の第1の層から形成される。電極166および16
8は、ピクセル素子162および164と集積回路基板
32間を個々の接触パッド34を介して電気的に結合す
るように設計されている。電極166および168はそ
れぞれ、対応するマウンティング領域170および17
2、フレキシブルアームすなわちリード線174および
176、および接触領域178および180を有する。
フレキシブルリード線174および176はまた、ピク
セル素子164および162間に熱的絶縁を提供するよ
うに設計されている。
しくは一方の側が共通板160に、他方の側が1対の電
極166および168にそれぞれ結合される。ピクセル
素子162および対応する電極166は、共通板160
を除き、ピクセル素子164および対応する電極168
から電気的に絶縁されており、それによって共通板16
0がピクセル素子162および164間に信号通路を提
供する。電極166および168は電気的導電性の材料
44の第1の層から形成される。電極166および16
8は、ピクセル素子162および164と集積回路基板
32間を個々の接触パッド34を介して電気的に結合す
るように設計されている。電極166および168はそ
れぞれ、対応するマウンティング領域170および17
2、フレキシブルアームすなわちリード線174および
176、および接触領域178および180を有する。
フレキシブルリード線174および176はまた、ピク
セル素子164および162間に熱的絶縁を提供するよ
うに設計されている。
【0027】感熱センサ152で示される本発明の実施
例について、第2の層42はピクセル素子162および
164を焼きなますことに先立って取り除かれてもよ
い。このように、第2の層42はポリイミドではなく二
酸化ケイ素(SiO2 )のような材料から形成すること
ができる。各感熱センサ152の種々の構成部品が、集
積回路基板32の表面36に形成された適当な同質の薄
膜層を異方性的にエッチングすることから形成される。
フレキシブルリード線174および176で示される熱
的絶縁構造は、集積回路基板32に損傷を発生させずに
ピクセル素子162および164を焼きなますことを可
能にする。本発明の1つの適用例においては、関連する
集積回路基板32に損傷を発生させずにピクセル素子1
64および162の温度を必要な焼きなまし温度に上げ
るために、光バルブ(図示せず)が十分な熱エネルギー
を提供できる。
例について、第2の層42はピクセル素子162および
164を焼きなますことに先立って取り除かれてもよ
い。このように、第2の層42はポリイミドではなく二
酸化ケイ素(SiO2 )のような材料から形成すること
ができる。各感熱センサ152の種々の構成部品が、集
積回路基板32の表面36に形成された適当な同質の薄
膜層を異方性的にエッチングすることから形成される。
フレキシブルリード線174および176で示される熱
的絶縁構造は、集積回路基板32に損傷を発生させずに
ピクセル素子162および164を焼きなますことを可
能にする。本発明の1つの適用例においては、関連する
集積回路基板32に損傷を発生させずにピクセル素子1
64および162の温度を必要な焼きなまし温度に上げ
るために、光バルブ(図示せず)が十分な熱エネルギー
を提供できる。
【0028】図6に示すように、集積回路基板32は、
ピクセル素子162および164にバイアス電圧を供給
する共通バイアス電圧バス188を包含する。しかしな
がら、本発明のある適用例においては、バイアス電圧は
要求されず、共通バス188は接地電位でもよい。
ピクセル素子162および164にバイアス電圧を供給
する共通バイアス電圧バス188を包含する。しかしな
がら、本発明のある適用例においては、バイアス電圧は
要求されず、共通バス188は接地電位でもよい。
【0029】本発明が特定の種類の感熱センサに要求さ
れるようなパイロ光学材料および/または焦電材料から
薄膜層を形成することを意味することは言うまでもな
い。また、薄膜層が種々のボロメトリック材料から形成
されてもよい。本発明の譲受人であるテキサスインスツ
ルメンツ社にHornbeckより譲受された米国特許第5,0
21,663は、分岐されたリード線を備えたボロメー
タを示している。本発明はボロメータを含む多種類のモ
ノリシック感熱検出器を作るために使用されてもよい。
れるようなパイロ光学材料および/または焦電材料から
薄膜層を形成することを意味することは言うまでもな
い。また、薄膜層が種々のボロメトリック材料から形成
されてもよい。本発明の譲受人であるテキサスインスツ
ルメンツ社にHornbeckより譲受された米国特許第5,0
21,663は、分岐されたリード線を備えたボロメー
タを示している。本発明はボロメータを含む多種類のモ
ノリシック感熱検出器を作るために使用されてもよい。
【0030】感熱センサ52および152の量および形
状は、関連する収束面配列に対する所望のN×Mピクセ
ル解像度に依存する。動作において、感熱検出器30お
よび130は、関連する収束面配列に当たる入射赤外線
に応答して感熱映像を作るために使用されてもよい。感
熱センサ52および152からの総センサ信号出力は入
射赤外線に依存する。
状は、関連する収束面配列に対する所望のN×Mピクセ
ル解像度に依存する。動作において、感熱検出器30お
よび130は、関連する収束面配列に当たる入射赤外線
に応答して感熱映像を作るために使用されてもよい。感
熱センサ52および152からの総センサ信号出力は入
射赤外線に依存する。
【0031】本発明はいくつかの実施例について説明さ
れたが、種々の変更および修正が当業者には示唆され、
そして本発明はそのような変更および修正も付随の特許
請求の範囲中に含むものである。
れたが、種々の変更および修正が当業者には示唆され、
そして本発明はそのような変更および修正も付随の特許
請求の範囲中に含むものである。
【0032】以上の説明に関して以下の項を開示する。 (1)集積回路基板上に設けられた感熱センサの収束面
配列を有するモノリシック感熱検出器を製作する方法で
あって、集積回路基板の1つの表面上に第1の材料の層
を形成する段階と、個々の感熱センサ用の支持構造を形
成するために第1の材料の層を異方性的にエッチングす
る段階と、支持構造が設けられた集積回路基板のこの1
つの表面上に熱的絶縁材料の第2の層を形成する段階
と、この支持構造およびこの絶縁材料の第2の層が設け
られた集積回路基板のこの1つの表面上に感熱材料の薄
膜層を形成する段階と、集積回路基板上に設けられた収
束面配列から成る複数の感熱センサを形成するために、
熱的絶縁材料の層と感熱材料の薄膜層をエッチングする
段階、および薄膜層を焼きなましするために、集積回路
基板の1つの表面と感熱材料の薄膜層との間に設けられ
た熱的絶縁材料の層を備えた感熱材料の薄膜層の1つの
側面を加熱する段階を有する前記の方法。 (2)焦電材料から薄膜層を形成する段階、絶縁材料の
層と焦電膜層との間に電気的導電性材料の第1の層を形
成する段階、および電気的導電性材料の第1の層と反対
側の焦電膜層上に電気的導電性材料の第2の層を形成す
る段階をさらに有する、1項記載の方法。 (3)熱的絶縁材料の第2の層がポリイミドである、1
項記載の方法。 (4)薄膜層がバリウムストロンチウムチタン酸塩、バ
リウムチタン酸塩、アンチモンスルホンヨー化物(antim
ony sulfuiodide)、バナジウム酸化物、チタン酸鉛、鉛
ランタンチタン酸塩、鉛ジルコン酸塩チタン酸塩および
鉛ランタンジルコン酸塩チタン酸塩、および非晶質シリ
コンを含むグループから選択された材料から形成される
1項記載の方法。 (5)異方性的エッチング段階が酸素ベース活性イオン
エッチを使用して達成される、1項記載の方法。
配列を有するモノリシック感熱検出器を製作する方法で
あって、集積回路基板の1つの表面上に第1の材料の層
を形成する段階と、個々の感熱センサ用の支持構造を形
成するために第1の材料の層を異方性的にエッチングす
る段階と、支持構造が設けられた集積回路基板のこの1
つの表面上に熱的絶縁材料の第2の層を形成する段階
と、この支持構造およびこの絶縁材料の第2の層が設け
られた集積回路基板のこの1つの表面上に感熱材料の薄
膜層を形成する段階と、集積回路基板上に設けられた収
束面配列から成る複数の感熱センサを形成するために、
熱的絶縁材料の層と感熱材料の薄膜層をエッチングする
段階、および薄膜層を焼きなましするために、集積回路
基板の1つの表面と感熱材料の薄膜層との間に設けられ
た熱的絶縁材料の層を備えた感熱材料の薄膜層の1つの
側面を加熱する段階を有する前記の方法。 (2)焦電材料から薄膜層を形成する段階、絶縁材料の
層と焦電膜層との間に電気的導電性材料の第1の層を形
成する段階、および電気的導電性材料の第1の層と反対
側の焦電膜層上に電気的導電性材料の第2の層を形成す
る段階をさらに有する、1項記載の方法。 (3)熱的絶縁材料の第2の層がポリイミドである、1
項記載の方法。 (4)薄膜層がバリウムストロンチウムチタン酸塩、バ
リウムチタン酸塩、アンチモンスルホンヨー化物(antim
ony sulfuiodide)、バナジウム酸化物、チタン酸鉛、鉛
ランタンチタン酸塩、鉛ジルコン酸塩チタン酸塩および
鉛ランタンジルコン酸塩チタン酸塩、および非晶質シリ
コンを含むグループから選択された材料から形成される
1項記載の方法。 (5)異方性的エッチング段階が酸素ベース活性イオン
エッチを使用して達成される、1項記載の方法。
【0033】(6)支持構造を形成する段階が写真印刷
処理(photolithographic process) を使用して達成され
る、1項記載の方法。 (7)集積回路基板の1つの表面の反対側の集積回路基
板上にヒートシンクを設置する段階をさらに有する、1
項記載の方法。 (8)感熱センサからの信号をそれぞれ受けるための接
触パッドの配列を備えた集積回路基板の1つの表面上に
設けられた感熱センサの収束面配列を有するモノリシッ
ク感熱検出器を製作する方法であって、集積回路基板の
1つの表面上に第1の材料の層を形成する段階と、個々
の感熱センサ用の接触パッドに隣接して設けられた少な
くとも1つの支持構造を備えた個々の感熱センサ用の支
持構造を形成するために第1の材料の層を異方性的にエ
ッチングする段階と、支持構造が設けられた集積回路基
板のこの1つの表面上に絶縁材料の第2の層を形成する
段階と、この支持構造およびこの絶縁材料の層が設けら
れた集積回路基板のこの1つの表面上に焦電材料の薄膜
層を形成する段階と、集積回路基板上に設けられた収束
面配列から成る感熱センサを形成するために、絶縁材料
の層と焦電材料の薄膜層をエッチングする段階、および
焦電材料の薄膜層を焼きなます段階を有する前記の方
法。 (9)感熱センサとそれらの関連の支持構造との間に個
々の熱的絶縁構造を形成するために焦電材料の薄膜層を
エッチングする段階、および熱的絶縁構造が形成された
後に焦電材料の薄膜層を焼きなましする段階を有する、
8項記載の方法。 (10)絶縁材料の層と焦電膜層との間に電気的導電性
材料の第1の層を形成する段階、および電気的導電性材
料の第1の層と反対側の焦電膜層上に電気的導電性材料
の第2の層を形成する段階をさらに有する、8項記載の
方法。
処理(photolithographic process) を使用して達成され
る、1項記載の方法。 (7)集積回路基板の1つの表面の反対側の集積回路基
板上にヒートシンクを設置する段階をさらに有する、1
項記載の方法。 (8)感熱センサからの信号をそれぞれ受けるための接
触パッドの配列を備えた集積回路基板の1つの表面上に
設けられた感熱センサの収束面配列を有するモノリシッ
ク感熱検出器を製作する方法であって、集積回路基板の
1つの表面上に第1の材料の層を形成する段階と、個々
の感熱センサ用の接触パッドに隣接して設けられた少な
くとも1つの支持構造を備えた個々の感熱センサ用の支
持構造を形成するために第1の材料の層を異方性的にエ
ッチングする段階と、支持構造が設けられた集積回路基
板のこの1つの表面上に絶縁材料の第2の層を形成する
段階と、この支持構造およびこの絶縁材料の層が設けら
れた集積回路基板のこの1つの表面上に焦電材料の薄膜
層を形成する段階と、集積回路基板上に設けられた収束
面配列から成る感熱センサを形成するために、絶縁材料
の層と焦電材料の薄膜層をエッチングする段階、および
焦電材料の薄膜層を焼きなます段階を有する前記の方
法。 (9)感熱センサとそれらの関連の支持構造との間に個
々の熱的絶縁構造を形成するために焦電材料の薄膜層を
エッチングする段階、および熱的絶縁構造が形成された
後に焦電材料の薄膜層を焼きなましする段階を有する、
8項記載の方法。 (10)絶縁材料の層と焦電膜層との間に電気的導電性
材料の第1の層を形成する段階、および電気的導電性材
料の第1の層と反対側の焦電膜層上に電気的導電性材料
の第2の層を形成する段階をさらに有する、8項記載の
方法。
【0034】(11)絶縁材料の第2の層が二酸化ケイ
素から形成される、8項記載の方法。 (12)支持構造上に形成された膜層と絶縁材料の層を
所望の感熱センサに対応するようにパターン化する段
階、および集積回路基板上に設けられた収束面配列から
成る感熱センサを形成するために膜層と絶縁材料の層を
異方性的にエッチングする段階を有する、8項記載の方
法。 (13)絶縁材料がポリイミドである、8項記載の方
法。 (14)異方性的にエッチングする段階が磁気的に強化
された活性イオンエッチを使用する、8項記載の方法。 (15)絶縁材料の層と焦電膜層との間に電気的導電性
材料の第1の層を形成する段階、電気的導電性材料の第
1の層と反対側の焦電膜層上に電気的導電性材料の第2
の層を形成する段階、関連する各感熱センサの所望の信
号通路に対応するように、電気的導電性材料の第1の層
と電気的導電性材料の第2の層をパターン化する段階、
および各感熱センサ用の所望の信号通路を形成するため
に、電気的導電性材料の第1の層と電気的導電性材料の
第2の層を異方性的にエッチングする段階をさらに有す
る、8項記載の方法。
素から形成される、8項記載の方法。 (12)支持構造上に形成された膜層と絶縁材料の層を
所望の感熱センサに対応するようにパターン化する段
階、および集積回路基板上に設けられた収束面配列から
成る感熱センサを形成するために膜層と絶縁材料の層を
異方性的にエッチングする段階を有する、8項記載の方
法。 (13)絶縁材料がポリイミドである、8項記載の方
法。 (14)異方性的にエッチングする段階が磁気的に強化
された活性イオンエッチを使用する、8項記載の方法。 (15)絶縁材料の層と焦電膜層との間に電気的導電性
材料の第1の層を形成する段階、電気的導電性材料の第
1の層と反対側の焦電膜層上に電気的導電性材料の第2
の層を形成する段階、関連する各感熱センサの所望の信
号通路に対応するように、電気的導電性材料の第1の層
と電気的導電性材料の第2の層をパターン化する段階、
および各感熱センサ用の所望の信号通路を形成するため
に、電気的導電性材料の第1の層と電気的導電性材料の
第2の層を異方性的にエッチングする段階をさらに有す
る、8項記載の方法。
【0035】(16)集積回路基板上に形成された感熱
センサを備えた収束面配列を有するモノリシック感熱検
出器であって、第1の材料の層から集積回路基板の1つ
の表面上に形成される支持構造の配列、および 感熱材料の少なくとも1つの薄膜層を異方性的にエッチ
ングすることによって、個々の支持構造上に形成される
感熱センサを有する、前記のモノリシック感熱検出器。 (17)個々の支持構造上に設けられた感熱材料の多重
薄膜層を異方性的にエッチングすることによって形成さ
れる各感熱センサをさらに有する、16項記載の感熱検
出器。 (18)薄膜層がバリウムストロンチウムチタン酸塩か
ら形成される、16項記載の感熱検出器。 (19)個々の感熱センサからの信号を受けるための、
集積回路基板の1つの表面上に設けられた接触パッド配
列、および個々の接触パッドに隣接して設けられた感熱
センサ用の支持構造をさらに有する、16項記載の感熱
検出器。
センサを備えた収束面配列を有するモノリシック感熱検
出器であって、第1の材料の層から集積回路基板の1つ
の表面上に形成される支持構造の配列、および 感熱材料の少なくとも1つの薄膜層を異方性的にエッチ
ングすることによって、個々の支持構造上に形成される
感熱センサを有する、前記のモノリシック感熱検出器。 (17)個々の支持構造上に設けられた感熱材料の多重
薄膜層を異方性的にエッチングすることによって形成さ
れる各感熱センサをさらに有する、16項記載の感熱検
出器。 (18)薄膜層がバリウムストロンチウムチタン酸塩か
ら形成される、16項記載の感熱検出器。 (19)個々の感熱センサからの信号を受けるための、
集積回路基板の1つの表面上に設けられた接触パッド配
列、および個々の接触パッドに隣接して設けられた感熱
センサ用の支持構造をさらに有する、16項記載の感熱
検出器。
【0036】(20)電気的導電性材料の1つまたはそ
れ以上の層を異方性的にエッチングすることによって形
成される各感熱センサに関連する信号通路を有し、この
信号通路は感熱センサをそれらの個々の支持構造に結合
している、16項記載の感熱検出器。 (21)1つまたはそれ以上の薄膜層の材料が集積回路
基板上に形成され、そしてモノリシック感熱センサを作
るために異方性的にエッチングされる。第1の層の材料
が集積回路基板上に置かれ、そして関連する収束面配列
の感熱センサ用の複数個の支持構造を形成するように異
方性的にエッチングされる。収束面配列の感熱センサ
は、支持構造上に形成された1つまたはそれ以上の薄膜
層の材料を異方性的にエッチングすることによって提供
できる。例示的感熱センサにおいて、1つの薄膜層は、
好ましくはバリウムストロンチウムチタン酸塩のような
焦電材料を包含する。熱的絶縁材料の層は、関連する集
積回路基板に損傷を起こすことなく焦電膜層の焼きなま
しを可能とするように、集積回路基板と焦電膜層の間に
配置される。絶縁材料の層に加えて、焦電膜層の焼きな
まし間の集積回路基板の保護のために、焦電膜層と反対
側の集積回路基板上に、ヒートシンクを設けてもよい。
または、熱的絶縁構造が焦電膜層とその関連の支持構造
との間に設けられて、下の回路基板を実質的に加熱せず
に焦電膜層の焼きなましを可能とする。
れ以上の層を異方性的にエッチングすることによって形
成される各感熱センサに関連する信号通路を有し、この
信号通路は感熱センサをそれらの個々の支持構造に結合
している、16項記載の感熱検出器。 (21)1つまたはそれ以上の薄膜層の材料が集積回路
基板上に形成され、そしてモノリシック感熱センサを作
るために異方性的にエッチングされる。第1の層の材料
が集積回路基板上に置かれ、そして関連する収束面配列
の感熱センサ用の複数個の支持構造を形成するように異
方性的にエッチングされる。収束面配列の感熱センサ
は、支持構造上に形成された1つまたはそれ以上の薄膜
層の材料を異方性的にエッチングすることによって提供
できる。例示的感熱センサにおいて、1つの薄膜層は、
好ましくはバリウムストロンチウムチタン酸塩のような
焦電材料を包含する。熱的絶縁材料の層は、関連する集
積回路基板に損傷を起こすことなく焦電膜層の焼きなま
しを可能とするように、集積回路基板と焦電膜層の間に
配置される。絶縁材料の層に加えて、焦電膜層の焼きな
まし間の集積回路基板の保護のために、焦電膜層と反対
側の集積回路基板上に、ヒートシンクを設けてもよい。
または、熱的絶縁構造が焦電膜層とその関連の支持構造
との間に設けられて、下の回路基板を実質的に加熱せず
に焦電膜層の焼きなましを可能とする。
【図1】集積回路基板の1つの側面に配置されたヒート
シンクを備え、本発明の1つの実施例に従い、収束面配
列とその関連の感熱センサを作成するために使用される
集積回路基板の対向側面に設けられた少なくとも3つの
異種膜層を備えた部分的に完成した感熱検出器を示す1
部縦断面概略図。
シンクを備え、本発明の1つの実施例に従い、収束面配
列とその関連の感熱センサを作成するために使用される
集積回路基板の対向側面に設けられた少なくとも3つの
異種膜層を備えた部分的に完成した感熱検出器を示す1
部縦断面概略図。
【図2】本発明の他の実施例に従い、モノリシック感熱
検出器を作成するために使用される集積回路基板の1つ
の側面に設けられた第1の材料の層を示す1部断面概略
図。
検出器を作成するために使用される集積回路基板の1つ
の側面に設けられた第1の材料の層を示す1部断面概略
図。
【図3】図2の集積回路基板上の第1の材料の層から形
成される支持構造を示す1部断面概略図。
成される支持構造を示す1部断面概略図。
【図4】図3の集積回路基板上に配置された多重異質膜
層からモノリシック感熱検出器を形成する間の中間段階
を示す1部断面概略図。
層からモノリシック感熱検出器を形成する間の中間段階
を示す1部断面概略図。
【図5】図4の集積回路基板上に形成された収束面配列
とその関連感熱センサを有するモノリシック感熱検出器
を示す1部断面概略図。
とその関連感熱センサを有するモノリシック感熱検出器
を示す1部断面概略図。
【図6】本発明他の実施例を組み入れた集積回路基板上
に配置された異質膜層から形成された感熱検出器を示す
モノリシック感熱検出器の等角図。
に配置された異質膜層から形成された感熱検出器を示す
モノリシック感熱検出器の等角図。
10 感熱検出器 12、14、16 膜層 20、32 集積回路基板 30 ヒートシンク 34 接触パッド 36 集積回路基板の表面 40 支持構造 42 第2の層 44 電気的導電性材料の第1の層 46 膜層 48 電気的導電性材料の第1の層 50 収束面配列 52 感熱センサ 130 モノリシック感熱検出器 152 感熱センサ 162、164 ピクセル素子
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成8年4月26日
【手続補正1】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図1
【補正方法】変更
【補正内容】
【図1】
【手続補正2】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図2
【補正方法】変更
【補正内容】
【図2】
【手続補正3】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図3
【補正方法】変更
【補正内容】
【図3】
【手続補正4】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図4
【補正方法】変更
【補正内容】
【図4】
【手続補正5】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図5
【補正方法】変更
【補正内容】
【図5】
Claims (2)
- 【請求項1】 集積回路基板上に設けられた感熱センサ
の収束面配列を有するモノリシック感熱検出器を製作す
る方法であって、 集積回路基板の1つの表面上に第1の材料の層を形成す
る段階と、 個々の感熱センサ用の支持構造を形成するために第1の
材料の層を異方性的にエッチングする段階と、 支持構造が設けられた集積回路基板のこの1つの表面上
に熱的絶縁材料の第2の層を形成する段階と、 この支持構造およびこの絶縁材料の第2の層が設けられ
た集積回路基板のこの1つの表面上に感熱材料の薄膜層
を形成する段階と、 集積回路基板上に設けられた収束面配列から成る複数の
感熱センサを形成するために、熱的絶縁材料の層と感熱
材料の薄膜層をエッチングする段階、および薄膜層を焼
きなましするために、集積回路基板の1つの表面と感熱
材料の薄膜層との間に設けられた熱的絶縁材料の層を備
えた感熱材料の薄膜層の1つの側面を加熱する段階を有
する前記の方法。 - 【請求項2】 集積回路基板上に形成された感熱センサ
を備えた収束面配列を有するモノリシック感熱検出器で
あって、 第1の材料の層から集積回路基板の1つの表面上に形成
される支持構造の配列、および感熱材料の少なくとも1
つの薄膜層を異方性的にエッチングすることによって、
個々の支持構造上に形成される感熱センサを有する、前
記のモノリシック感熱検出器。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US368067 | 1995-01-03 | ||
US08/368,067 US5602043A (en) | 1995-01-03 | 1995-01-03 | Monolithic thermal detector with pyroelectric film and method |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08271344A true JPH08271344A (ja) | 1996-10-18 |
Family
ID=23449748
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8000108A Pending JPH08271344A (ja) | 1995-01-03 | 1996-01-04 | 焦電膜を備えたモノリシック感熱検出器およびその製造方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5602043A (ja) |
JP (1) | JPH08271344A (ja) |
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