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JPH0822945A - 半導体装置の製造方法 - Google Patents

半導体装置の製造方法

Info

Publication number
JPH0822945A
JPH0822945A JP15624794A JP15624794A JPH0822945A JP H0822945 A JPH0822945 A JP H0822945A JP 15624794 A JP15624794 A JP 15624794A JP 15624794 A JP15624794 A JP 15624794A JP H0822945 A JPH0822945 A JP H0822945A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resist
wafer
substrate
semiconductor device
manufacturing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP15624794A
Other languages
English (en)
Inventor
Akihiro Usujima
章弘 薄島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP15624794A priority Critical patent/JPH0822945A/ja
Priority to KR1019950017527A priority patent/KR0170558B1/ko
Publication of JPH0822945A publication Critical patent/JPH0822945A/ja
Priority to US08/788,028 priority patent/US5789141A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/16Coating processes; Apparatus therefor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/027Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34
    • H01L21/0271Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34 comprising organic layers
    • H01L21/0273Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34 comprising organic layers characterised by the treatment of photoresist layers
    • H01L21/0274Photolithographic processes
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/0045Photosensitive materials with organic non-macromolecular light-sensitive compounds not otherwise provided for, e.g. dissolution inhibitors

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  • Power Engineering (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 化学増幅レジストを使用して微細なレジスト
パターンを形成する際に、解像度を向上することができ
るレジストパターン形成方法を提供する。 【構成】 処理対象基板を200℃以上で所定時間熱処
理を行う加熱工程と、前記処理対象基板を室温まで冷却
する工程と、前記処理対象基板表面に化学増幅レジスト
を塗布しレジスト膜を形成する工程と、前記レジスト膜
の所定パターン領域を露光する工程と、前記レジスト膜
を現像してレジストパターンを形成する工程と、前記レ
ジストパターンをマスクとして前記処理対象基板表面を
所定の厚さエッチングする工程とを含む。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置の製造方法
に関し、特に、フォトリソグラフィ工程におけるレジス
トパターンの形成方法に関する。
【0002】近年、集積回路の集積度向上の要求に伴
い、回路パターンの微細化が要求されている。回路パタ
ーンの微細化のために、露光装置の高解像度化、露光光
の短波長化が進んでいる。さらに、レジストにも高解像
度化が求められており、光酸発生剤を含む化学増幅レジ
ストが脚光を浴びている。
【0003】
【従来の技術】化学増幅レジストを使用した従来のレジ
ストパターンの形成方法について説明する。
【0004】まず、半導体基板上に化学増幅レジストを
スピン塗布し、プリベーキングを行う。プリベーキング
を施したレジスト膜の所定パターン領域に所定対象物質
をイオン化できる電離照射線を照射することによりパタ
ーン露光を行う。このとき、電離照射線が照射された部
分にのみ酸が発生する。電離照射線にはKrFエキシマ
レーザ光等の紫外線あるいは電子ビーム等が用いられ
る。
【0005】パターン露光後、ポストエクスポーズベー
キングを行う。化学増幅レジストがポジ型であれば、ポ
ストエクスポーズベーキング中に電離照射線照射によっ
て発生した酸がレジストの基材樹脂を可溶化する。ポス
トエクスポーズベーキング後、現像することによりレジ
ストパターンを形成する。このとき、酸が触媒として多
くの基材樹脂を可溶化するため、結果的に露光感度を高
くすることができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】レジストをスピン塗布
する前に基板表面にクリーンルーム中のアンモニア、ア
ミン等の塩基性不純物が付着していると、ポジ型レジス
トの場合、基板界面付近のレジストが難溶化してしま
う。このため、電離照射線を照射した領域の周辺部近傍
において、基板界面付近のレジストが完全に除去されず
残ってしまういわゆる裾引き現象が生じる場合がある。
または、電離照射線を照射した領域において、基板界面
付近のレジストが除去できず、分離解像できなくなると
いった問題が生じる場合もある。
【0007】一方、ネガ型レジストの場合は、基板表面
に付着した塩基性不純物の影響で基板界面付近のレジス
トが可溶化してしまう。このため、電離照射線を照射し
た領域の周辺部近傍において、現像時に基板界面付近の
レジストが溶けてしまういわゆる食い込み現象が生じる
場合がある。
【0008】本発明の目的は、化学増幅レジストを使用
して微細なレジストパターンを形成する際に、解像度を
向上することができるレジストパターン形成方法を提供
することである。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体装置の製
造方法は、処理対象基板を200℃以上で所定時間熱処
理を行う加熱工程と、前記処理対象基板を室温まで冷却
する工程と、前記処理対象基板表面に化学増幅レジスト
を塗布しレジスト膜を形成する工程と、前記レジスト膜
の所定パターン領域を露光する工程と、前記レジスト膜
を現像してレジストパターンを形成する工程と、前記レ
ジストパターンをマスクとして前記処理対象基板表面を
所定の厚さエッチングする工程とを含む。
【0010】
【作用】レジスト塗布前に、200℃以上で熱処理を行
うことにより、基板表面に付着した塩基性不純物を除去
することができる。このため、基板界面付近のレジスト
膜の特性の変化を防止することができる。例えば、ポジ
型レジストであれば、基板界面付近のレジストの難溶
化、ネガ型レジストであれば、可溶化を防止することが
できる。
【0011】難溶化あるいは可溶化を防止できるため、
現像時に裾引きあるいは食い込み現象が発生することを
抑制することができる。このため、レジストパターンの
解像度の向上を図ることが可能になる。
【0012】
【実施例】図1を参照して本発明の実施例について説明
する。図1は、実施例で使用されるベーキング装置及び
レジスト塗布装置を概略的に示す。ベーキング装置は、
予備チャンバ3、メインチャンバ4及びガス排気系から
構成されている。予備チャンバ3はシャッタ5を介して
メインチャンバ4に接続されている。シャッタ5を閉じ
ることによりそれぞれの内部空間は隔離される。また、
シャッタ5を開けることにより、図には示さないウエハ
移載機により、予備チャンバ3とメインチャンバ4間で
ウエハを移動することができる。
【0013】予備チャンバ3内には、ウエハを載置する
ためのウエハステージ15が配置されている。メインチ
ャンバ4内には、内部に冷却水を循環することができる
冷却水循環ステージ14が配置されている。冷却水循環
ステージ14の上方には赤外線ランプ6が取り付けられ
ており、冷却水循環ステージ14上に載置したウエハを
加熱することができる。
【0014】予備チャンバ3内は、真空バルブV1、V
2、V4を介してロータリーポンプ9により予備排気す
ることができる。また、メインチャンバ4内は、真空バ
ルブV3、V4を介してロータリーポンプ9により予備
排気することができる。
【0015】さらに、予備チャンバ3内は、真空バルブ
V1を介してターボ分子ポンプ7により高真空に真空排
気可能である。また、メインチャンバ4内は、真空バル
ブV3、V2を介してターボ分子ポンプ7により高真空
に真空排気可能である。ターボ分子ポンプ7の排気側は
真空バルブV5を介してロータリーポンプ9により排気
されている。
【0016】レジスト塗布装置は、スピナーチャック1
2、モータ13、スピナーチャック12上方に配置され
たディスペンサーノズル10及びレジストが外部に飛散
しないようにスピナーチャック12の周囲に配置された
塗布カップ11から構成されている。ウエハをスピナチ
ャック12上に真空吸着して回転しながら、ディスペン
サーノズル10からレジストを滴下してレジストを塗布
することができる。
【0017】また、製造ライン上に配置されたウエハキ
ャリア、ベーキング装置、及びレジスト塗布装置はイン
ライン接続されており、図には示さない搬送ロボットに
より、それぞれの装置間でウエハを搬送することができ
る。図中、ウエハキャリア1には複数枚のウエハ2が収
容されている。
【0018】次に、図1に示す装置を使用してレジスト
パターンを形成する方法について説明する。まず、シリ
コン基板表面を、塩酸ガス雰囲気で1000℃で約20
分間初期酸化を行い、厚さ約5nmのSiO2 膜を形成
する。次に、反応ガスとしてアンモニアとジクロルシラ
ンを使用し、基板温度800℃で減圧CVDにより厚さ
約115nmのSiN膜を形成する。このように表面に
窒化膜を形成したウエハをウエハキャリア1内に収納す
る。なお、SiN膜は、後にLOCOS(シリコン表面
の選択酸化)工程におけるマスクとして使用されるもの
である。
【0019】ウエハキャリア1内に収納されたウエハ2
を、図には示さない搬送ロボットにより予備チャンバ3
内のウエハステージ15上に載置する。なお、メインチ
ャンバ4内は、通常、高真空状態にされている。予備チ
ャンバ3内を高真空に排気し、シャッタ5を開いてウエ
ハ2をメインチャンバ4内の冷却水循環ステージ14上
に移載する。
【0020】赤外線ランプ6によって、ウエハ2を80
0℃で20分間加熱する。その後、冷却水循環ステージ
14に冷却水を流してウエハ2を冷却する。ウエハ冷却
後、ウエハ2を予備チャンバ3を経由してチャンバから
取り出し、直ちにレジスト塗布装置のスピナーチャック
12上に真空吸着する。スピナーチャック12を所定の
回転数で回転しながらディスペンサーノズル10からポ
ジ型化学増幅レジストを滴下する。このようにして、ウ
エハ2の表面に厚さ約0.7μmのレジスト膜を形成す
る。ポジ型化学増幅レジストとしては、例えば、ポリビ
ニルフェノールの水酸基の40%をt−ブトキシカルボ
ニロキシ化した化合物、トリフェニルスルホニウムトリ
フレート及び乳酸エチルからなるものを使用することが
できる。
【0021】レジスト膜形成後、ホットプレート上で約
110℃で90秒間プリベーキングを行う。その後、波
長248nmのレーザ光を使用してレジスト膜の露光を
行う。露光後、直ちにホットプレート上で90℃で90
秒間ポストベーキングを行う。
【0022】ポストベーキング後、濃度2.38%のテ
トラメチルアンモニウムハイドロオキサイド(TMA
H)水溶液を用いて60秒間パドル現像を行う。ここ
で、パドル現像とは、ウエハ上に表面張力を利用して現
像液を載せて現像を行う現像方法をいう。
【0023】このように、レジスト塗布前にウエハを加
熱すると、ウエハ表面に付着している塩基性不純物が除
去されると考えられる。このため、レジストのウエハ界
面近傍が難溶化されることなく、露光した領域において
レジストはほとんど除去される。
【0024】レジストパターンの境界線が正確に形成さ
れるため、レジストをマスクとしてその下のSiN膜を
所望のパターンに高精度にエッチングすることができ
る。さらに、パターンエッチングしたのち、SiN膜を
マスクとして、例えば、基板温度900℃、H2 O雰囲
気中で選択酸化を行い厚さ400nmのフィールド酸化
膜を形成する。マスクとして使用するSiN膜のパター
ンが高精度に形成されているため、所望の領域に精度よ
くフィールド酸化膜を形成することができる。
【0025】上記実施例では、ポジ型化学増幅レジスト
を使用する場合について説明したが、その他の化学増幅
レジストを使用してもよい。例えば、ポリビニルフェノ
ールをベース樹脂、ヘキサメチルメチロールメラミンを
架橋剤、トリス−2,3−ジブロモプロピルイソシアヌ
レートを酸発生剤、プロピレングリコールモノメチルエ
ーテルアセテート(PGMEA)を溶剤として構成した
ネガ型化学増幅レジストを使用してもよい。この場合
は、プリベーキングを110℃で90秒間、ポストベー
キングを120℃で60秒間行うことが好ましい。
【0026】上記ネガ型化学増幅レジストを使用する場
合は、レジスト塗布前の加熱処理により、レジストのウ
エハ界面近傍の可溶化を防止できる。このため、露光し
た領域において、境界近傍にもウエハとの界面にレジス
トが密着して残り、食い込み現象は発生しないと考えら
れる。
【0027】なお、上記実施例では、レジスト塗布前に
ウエハを800℃に加熱する場合について説明したが、
200℃以上であれば同様の効果を得ることができるで
あろう。
【0028】基板表面に水酸基があると、塩基性不純物
が付着しやすいと考えられる。この水酸基は、ファンデ
アワールス力による結合が支配的であると、100〜4
00℃の加熱によって基板から解離できると期待でき
る。安全をみれば、200℃以上に加熱することによっ
て塩基性不純物の大部分を除去可能と考えられる。
【0029】また、上記実施例におけるレジスト塗布前
のウエハ加熱処理の前に、ウエハ表面の清浄化処理を行
ってもよい。例えば、プラズマアッシャを用いたウエハ
表面の気相処理、硫酸と過酸化水素水の混合溶液による
洗浄、あるいは遠紫外線の照射等を行ってもよい。以下
に、これらの清浄化処理について説明する。
【0030】まず、プラズマアッシャによる表面の気相
処理について説明する。図2は、プラズマアッシャの概
略断面図を示す。放電管37内にウエハを載置するため
のサセプタ27が配置されており、サセプタ27には高
周波電源36から高周波バイアス電圧が印加される。放
電管37には、マグネトロン32から発生した2.5G
Hzのマイクロ波が、導波管31、円形導波管39を通
って上方から照射される。また、放電管37には、反応
性ガスを導入するためのガス導入管34、内部のガスを
排気するための排気口35が設けられている。マグネト
ロン32には、マグネトロン電源33から電力が供給さ
れる。
【0031】放電管37の周囲には、放電管内に磁場を
発生するための電磁コイル38が配置されている。放電
管37は、シャッタ28を介して予備チャンバ29に接
続されている。なお、このプラズマアッシャは図1のベ
ーキング装置及びレジスト塗布装置とインライン接続さ
れている。
【0032】このように構成されたプラズマアッシャの
放電管37内に、ウエハキャリア1から取り出されたウ
エハ2を予備チャンバ29を経由して搬入し、サセプタ
27上に載置する。
【0033】ガス導入管34からO2 ガスを800sc
cmの流量で導入し、放電管37内の圧力が1.2To
rrになるように排気口35から排気する。マグネトロ
ン32から400mWのマイクロ波を発生すると、電磁
コイル38による磁場とマイクロ波との作用により、放
電管37内にプラズマが発生する。このプラズマにより
ウエハ2の表面を3分間気相処理する。その後、放電管
37からウエハ2を取り出し、直ちに図1に示すベーキ
ング装置でベーキングを行う。
【0034】なお、図2に示す実施例では、反応性ガス
としてO2 ガスを使用した場合について説明したが、グ
ロー放電によりガス分子が解離し、原子、イオンあるい
は分子ラジカルになることにより、処理対象ウエハ表面
に形成された化合物の原子、分子と化学反応を起こすよ
うなガスであれば、その他のガスでもよい。例えば、N
3 /H2 Oガス等でもよい。また、プラズマアッシャ
について説明したが、その他のプラズマエッチング装
置、例えばダウンフロー型ドライエッチャ等を使用して
もよい。
【0035】このように、基板加熱前にプラズマ処理を
行なうことにより、基板表面に付着した有機物を除去す
ることができる。また、基板表面に窒化膜が形成されて
いる場合には、表面への酸化膜の形成または酸化作用に
より塩基性不純物の付着を防止することができる。
【0036】次に、硫酸と過酸化水素水の混合液による
洗浄について説明する。図3は、硫酸と過酸化水素水の
混合液による洗浄装置を示す。ウエハ2を真空吸着して
回転することができるスピナーチャック45の上方に、
薬液を滴下するためのディスペンサチューブ42が配置
されている。また、斜め上方にはウエハ2上に純水を吹
き付けるための水洗ノズル43が配置されている。スピ
ナーチャック45の周囲には、ウエハ2から飛散した薬
液等を受け止めるための処理カップ41が配置されてい
る。スピナーチャック45の近傍には、ウエハ2から飛
散した薬液等を回収するための廃液口44が設けられて
いる。
【0037】表面に窒化シリコン膜が形成されたウエハ
2をスピナーチャック45上に真空吸着して高速回転す
る。ウエハ2を回転させながら、硫酸と過酸化水素水を
1:1に混合した溶液をディスペンサチューブ42から
約60秒間滴下し、さらに回転させたまま水洗ノズル4
3から純水をウエハ上に吹き付けて洗浄する。その後、
直ちに図1に示すベーキング装置でベーキングを行う。
【0038】なお、硫酸と過酸化水素水の混合液の代わ
りに、弗酸と純水とを2:100の割合で混合した混合
液、リン酸、あるいは硝酸等、基板表面の有機物等の不
純物を除去可能なその他の酸性の薬液を使用してもよ
い。
【0039】このように、酸性の薬液で洗浄することに
より、有機物の除去、及び塩基性不純物の付着を防止す
ることができる。さらに、洗浄工程はウェット処理のた
め、パーティクルの除去効果も期待できる。
【0040】次に、遠紫外線照射による清浄化処理につ
いて説明する。図4は、遠紫外線照射装置を示す。処理
チャンバ52内にウエハを載置するためのサセプタ55
が配置されている。サセプタ55及びウエハ2は開閉可
能な蓋54で覆われており、蓋54の上方には、水銀ラ
ンプ51が取り付けられている。水銀ランプ51は、波
長254nm及び185nm、電力20Wの遠紫外線を
発生することができる。処理チャンバ52には、内部を
排気するための排気口53が設けられている。
【0041】表面に窒化シリコン膜が形成されたウエハ
2をサセプタ55上に載置する。ウエハ2を蓋54で覆
う。紫外線照射時には、蓋54を開け、水銀ランプ51
によりウエハ2上に遠紫外線を照射する。その後、直ち
に上記実施例の方法によりレジストパターンを形成す
る。
【0042】このように、遠紫外線を照射することによ
り活性化されたO2 等によりウエハ表面の有機物等の汚
れが除去される。以上説明したように、基板加熱処理前
にプラズマ処理、酸性薬液による洗浄、あるいは遠紫外
線照射をすることにより、ウエハとレジスト膜との界面
の汚れに起因するレジストの特性の変化を防止すること
ができる。このため、より正確にレジストパターンを形
成することができる。
【0043】上記実施例では、窒化シリコン膜上にレジ
ストパターンを形成する場合について説明したが、その
他の材料からなる表面上に形成する場合にも適用可能で
ある。例えば、リンシリケートガラス(PSG)膜、リ
ンボロンシリケートガラス(PBSG)膜等の層間絶縁
膜上にレジストパターンを形成する場合にも適用可能で
ある。
【0044】また、上記実施例では、波長248nmの
レーザ光を使用してレジスト膜の露光を行う場合につい
て説明したが、露光光として可視光、紫外線、X線等の
電磁波、電子線、イオン線等の粒子線を用いてもよい。
また、レジスト表面の形状劣化防止や定在波効果低減の
ためにレジスト上にカバー膜を塗布してもよい。
【0045】以上実施例に沿って本発明を説明したが、
本発明はこれらに制限されるものではない。例えば、種
々の変更、改良、組み合わせ等が可能なことは当業者に
自明であろう。
【0046】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
微細なレジストパターンを解像度よく形成することがで
きる。このため、LSIの高集積化が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例で使用したベーキング装置とレ
ジスト塗布装置の概略図である。
【図2】本発明の実施例で使用したプラズマアッシャの
概略断面図である。
【図3】本発明の実施例で使用した洗浄装置の概略断面
図である。
【図4】本発明の実施例で使用した遠紫外線照射装置の
概略断面図である。
【符号の説明】
1 ウエハキャリア 2 ウエハ 3 予備チャンバ 4 メインチャンバ 5 シャッタ 6 赤外線ランプ 7 ターボ分子ポンプ 8 真空バルブ 9 ロータリーポンプ 10 ディスペンサーノズル 11 塗布カップ 12 スピナーチャック 13 モータ 14 冷却水循環ステージ 15 ウエハステージ 27 サセプタ 28 シャッタ 29 予備チャンバ 31 導波管 32 マグネトロン 33 マグネトロン電源 34 ガス導入管 35 排気口 36 高周波電源 37 放電管 38 電磁コイル 39 円形導波管 41 処理カップ 42 ディスペンサーチューブ 43 水洗ノズル 44 廃液口 45 スピナーチャック 51 水銀ランプ 52 処理チャンバ 53 排気口 54 開閉蓋 55 サセプタ
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/304 L H01L 21/30 570

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 処理対象基板を200℃以上で所定時間
    熱処理を行う加熱工程と、 前記処理対象基板を室温まで冷却する工程と、 前記処理対象基板表面に化学増幅レジストを塗布しレジ
    スト膜を形成する工程と、 前記レジスト膜の所定パターン領域を露光する工程と、 前記レジスト膜を現像してレジストパターンを形成する
    工程と、 前記レジストパターンをマスクとして前記処理対象基板
    表面を所定の厚さエッチングする工程とを含む半導体装
    置の製造方法。
  2. 【請求項2】 さらに、前記加熱工程の前に、 グロー放電により分子が解離して原子、イオン及び分子
    ラジカルが生成し前記処理対象基板表面と化学反応を起
    こすガスのプラズマ中で、前記処理対象基板表面を気相
    処理する気相処理工程を含む請求項1記載の半導体装置
    の製造方法。
  3. 【請求項3】 前記気相処理工程は、前記ガスに磁場と
    マイクロ波とを印加してプラズマを発生させる工程を含
    む請求項2記載の半導体装置の製造方法。
  4. 【請求項4】 さらに、前記加熱工程の前に、 前記処理対象基板表面を酸性の薬液に浸して洗浄する工
    程と、 前記処理対象基板表面を純水で洗浄する工程とを含む請
    求項1記載の半導体装置の製造方法。
  5. 【請求項5】 前記酸性の薬液は、硫酸と過酸化水素水
    との混合液、弗酸と純水との混合液、リン酸、及び硝酸
    からなる群より選択された少なくとも1つのものである
    請求項4記載の半導体装置の製造方法。
  6. 【請求項6】 さらに、前記加熱工程の前に、 酸素雰囲気中で、前記処理対象基板表面に酸素をオゾン
    化できる波長領域の紫外線を照射する工程を含む請求項
    1記載の半導体装置の製造方法。
JP15624794A 1994-07-07 1994-07-07 半導体装置の製造方法 Pending JPH0822945A (ja)

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