JPH08219879A - Ｕｖ−ｂ放射量の測定方法及びその放射計 - Google Patents
Ｕｖ−ｂ放射量の測定方法及びその放射計Info
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- JPH08219879A JPH08219879A JP2002195A JP2002195A JPH08219879A JP H08219879 A JPH08219879 A JP H08219879A JP 2002195 A JP2002195 A JP 2002195A JP 2002195 A JP2002195 A JP 2002195A JP H08219879 A JPH08219879 A JP H08219879A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】被測定光源の相対的波長分布の変化に対応して
変化する現存ＵＶ−Ｂ放射計の感度常数を自動的に補正
する。 【構成】現存ＵＶ−Ｂ放射計の出力を電気的変換器を経
て取り出す。該変換器に直線近似回路を組み込む。 【効果】自然光のＵＶ−Ｂ放射量を正確に計測出来る放
射計が安価に得られる。自然光とこれをシュミレートす
る人工光源との相関が容易となる。
変化する現存ＵＶ−Ｂ放射計の感度常数を自動的に補正
する。 【構成】現存ＵＶ−Ｂ放射計の出力を電気的変換器を経
て取り出す。該変換器に直線近似回路を組み込む。 【効果】自然光のＵＶ−Ｂ放射量を正確に計測出来る放
射計が安価に得られる。自然光とこれをシュミレートす
る人工光源との相関が容易となる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】地上にふりそそぐＵＶ−Ｂ域（２
８５〜３１５ｎｍ）の放射量は人類を初めとする動植物
や、諸材料の耐久性に有害な作用をすることは広く知ら
れている通りである。最近、フロンガスによるオゾン層
の破壊が、ＵＶ−Ｂ太陽放射量の増加につながるとして
その生産と使用が規制された。この様な背景から、ＵＶ
−Ｂ太陽放射量を長期間にわたり正確にモニターする必
要が生じた。特にＵＶ−Ｂ放射量の情報が求められる産
業分野は化粧品、塗料、プラスチック、ゴム等自然光に
さらして使用される材料器材を製造し、又それを使用し
ている分野と農業、医学（皮膚）等の分野である。これ
等の分野では、製品のテストを人工光源による自然光を
シミュレートした方法で特性テストを行っているが、人
工光源と自然光の相関性が非常に問題となっている。
８５〜３１５ｎｍ）の放射量は人類を初めとする動植物
や、諸材料の耐久性に有害な作用をすることは広く知ら
れている通りである。最近、フロンガスによるオゾン層
の破壊が、ＵＶ−Ｂ太陽放射量の増加につながるとして
その生産と使用が規制された。この様な背景から、ＵＶ
−Ｂ太陽放射量を長期間にわたり正確にモニターする必
要が生じた。特にＵＶ−Ｂ放射量の情報が求められる産
業分野は化粧品、塗料、プラスチック、ゴム等自然光に
さらして使用される材料器材を製造し、又それを使用し
ている分野と農業、医学（皮膚）等の分野である。これ
等の分野では、製品のテストを人工光源による自然光を
シミュレートした方法で特性テストを行っているが、人
工光源と自然光の相関性が非常に問題となっている。
【０００２】
【従来の技術】ＵＶ−Ｂ太陽放射量は、太陽放射量全体
の０．１％程度しか含まれていない。従ってこれを計測
するためには、残りの９９．９％を除去する必要があ
る。従来技術では、図１に示す如く干渉フィルターと蛍
光膜の組合せによりＵＶ−Ｂ放射量のみを検出する方式
を採用している。一方ＵＶ−Ｂ放射量は波長域２８５〜
３１５ｎｍ間の放射量と定義されているので、理想的に
はこの間は波長に依存しない均一な感度を持つ放射計で
測定しなければならない。
の０．１％程度しか含まれていない。従ってこれを計測
するためには、残りの９９．９％を除去する必要があ
る。従来技術では、図１に示す如く干渉フィルターと蛍
光膜の組合せによりＵＶ−Ｂ放射量のみを検出する方式
を採用している。一方ＵＶ−Ｂ放射量は波長域２８５〜
３１５ｎｍ間の放射量と定義されているので、理想的に
はこの間は波長に依存しない均一な感度を持つ放射計で
測定しなければならない。
【０００３】しかし現存のＵＶ−Ｂ放射計の波長に対す
る感度曲線は、干渉フィルター等より成る光学系を採用
しているため波長に対して均一ではなく図２に示すごと
く、ある波長、例えば３０８ｎｍにピークを持つ実線で
示す感度曲線をもつ。対比のため理想感度曲線を点線で
示した。一方自然光の波長分布はオゾンの量、大気の浮
遊粒子、太陽高度に依存して図２にハッチして示す如く
大きく変わる。従来技術では、ＵＶ−Ｂ放射計の出力を
Ｅとし、この時の放射量をＩとするときこの関係は Ｉ＝ｋＥ （１） の如く比例関係で示されていた。即ち一定の感度常数ｋ
に出力をかけ合わせることにより放射量Ｉを求めてい
た。
る感度曲線は、干渉フィルター等より成る光学系を採用
しているため波長に対して均一ではなく図２に示すごと
く、ある波長、例えば３０８ｎｍにピークを持つ実線で
示す感度曲線をもつ。対比のため理想感度曲線を点線で
示した。一方自然光の波長分布はオゾンの量、大気の浮
遊粒子、太陽高度に依存して図２にハッチして示す如く
大きく変わる。従来技術では、ＵＶ−Ｂ放射計の出力を
Ｅとし、この時の放射量をＩとするときこの関係は Ｉ＝ｋＥ （１） の如く比例関係で示されていた。即ち一定の感度常数ｋ
に出力をかけ合わせることにより放射量Ｉを求めてい
た。
【０００４】又、同じ放射計を利用して各種の人工光源
（クセノン、ハロゲン、蛍光ランプ等）の放射量の計測
を行う場合、人工光源の波長分布が自然光の波長分布と
大きく異なるため、ｋを常数として取り扱うと実際とか
け離れた放射量を与えることとなる。
（クセノン、ハロゲン、蛍光ランプ等）の放射量の計測
を行う場合、人工光源の波長分布が自然光の波長分布と
大きく異なるため、ｋを常数として取り扱うと実際とか
け離れた放射量を与えることとなる。
【０００５】このことは、人工光源のＵＶ−Ｂ放射量で
評価した材料の劣化テストを実際の使用状態で、ある自
然光における耐久性に関連づけることを困難としてい
た。
評価した材料の劣化テストを実際の使用状態で、ある自
然光における耐久性に関連づけることを困難としてい
た。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】式（１）をさらに詳細
に表現すると、即ち測るべき光源の波長分布が変わり、
放射計も波長に対して一定の感度を持っていない場合に
は常数ｋは ｋ＝∫Ｉλｄλ／∫Ｉλ・Ｄλｄλ （２） となる。ここでλは波長を、Ｉλは測定する放射の分光
強度を、Ｄλは放射計の波長特性を示す。即ち、波長に
依存した重みをつけて表現する。
に表現すると、即ち測るべき光源の波長分布が変わり、
放射計も波長に対して一定の感度を持っていない場合に
は常数ｋは ｋ＝∫Ｉλｄλ／∫Ｉλ・Ｄλｄλ （２） となる。ここでλは波長を、Ｉλは測定する放射の分光
強度を、Ｄλは放射計の波長特性を示す。即ち、波長に
依存した重みをつけて表現する。
【０００７】今、図２で示したハッチした範囲で測定す
る放射が太陽高度により相対的波長分布が変わる場合、
常数ｋは前記重みがかかるので、もはや常数でなくな
る。この様子を式（２）で計算して、図３に示す。図３
ではオゾン層の厚み即ちオゾン量の変化に対応したｋの
変化も示してある。図３よりわかることは、この放射の
波長分布の変化に対して常数ｋが４０％も変化すること
である。
る放射が太陽高度により相対的波長分布が変わる場合、
常数ｋは前記重みがかかるので、もはや常数でなくな
る。この様子を式（２）で計算して、図３に示す。図３
ではオゾン層の厚み即ちオゾン量の変化に対応したｋの
変化も示してある。図３よりわかることは、この放射の
波長分布の変化に対して常数ｋが４０％も変化すること
である。
【０００８】即ちｋが常数として扱えないことは放射計
の出力より直接的な比例関係（直線関係）でＵＶ−Ｂ放
射量を得ることは不可能であることを示す。
の出力より直接的な比例関係（直線関係）でＵＶ−Ｂ放
射量を得ることは不可能であることを示す。
【０００９】又、波長分布の全く異なった人工光源を同
じ放射計で計測した場合、光源に依存して異なったｋを
使用しなければならない。この例を図４に示す。
じ放射計で計測した場合、光源に依存して異なったｋを
使用しなければならない。この例を図４に示す。
【００１０】図４は点線で示す波長特性を持つ現存ＵＶ
−Ｂ放射計で計測される各種光源の波長特性の一例を示
す。×は自然光、○はクセノン、△は蛍光ランプを光源
とした場合を示す。又右下の数値は、自然光の或る条件
下（オゾン量、太陽高度等）の感度常数を１とした場合
の上記３種類の感度常数が、それぞれ０．９１１と１．
０５０になることを示す。即ち、この数値をあらかじめ
ＵＶ−Ｂ放射計に回路的に設定しておけば、各種の光源
に対応できるＵＶ−Ｂ放射計とすることができる。
−Ｂ放射計で計測される各種光源の波長特性の一例を示
す。×は自然光、○はクセノン、△は蛍光ランプを光源
とした場合を示す。又右下の数値は、自然光の或る条件
下（オゾン量、太陽高度等）の感度常数を１とした場合
の上記３種類の感度常数が、それぞれ０．９１１と１．
０５０になることを示す。即ち、この数値をあらかじめ
ＵＶ−Ｂ放射計に回路的に設定しておけば、各種の光源
に対応できるＵＶ−Ｂ放射計とすることができる。
【００１１】本発明の解決すべき技術的課題は、この様
に測定対象の波長分布によって常数ｋが変化することに
対応して正確な放射量を得る手法を安価に確実に実現す
ることにある。
に測定対象の波長分布によって常数ｋが変化することに
対応して正確な放射量を得る手法を安価に確実に実現す
ることにある。
【００１２】付言すると、（２）式で波長別の計測が可
能な分光放射計により得た分光強度を積分することによ
りＵＶ−Ｂ放射量を得ることができるが、この方法は分
光放射計が非常に高価であること、又時間分解能がわる
いこと、取扱に熟練が必要であることから現実的な解決
とはなり得ない。
能な分光放射計により得た分光強度を積分することによ
りＵＶ−Ｂ放射量を得ることができるが、この方法は分
光放射計が非常に高価であること、又時間分解能がわる
いこと、取扱に熟練が必要であることから現実的な解決
とはなり得ない。
【００１３】
【課題を解決するための手段】図３に示すごとく、測定
対象の波長分布の変化に対応して常数ｋは大きく変化す
るが、ここで現存ＵＶ−Ｂ放射計の出力と分光放射計等
で測られた正確なＵＶ−Ｂ放射量の関係をプロットする
と、自然光の波長特性の広い範囲（オゾン０．２４〜
０．４ｃｍ）で直線関係ではなく図５に示すごとく２次
曲線関係となることを多くの測定例と計算により見出し
た。図５で縦軸は分光測定で得られた正確なＵＶ−Ｂ放
射量を、横軸は図２に実線で示す感度曲線を持つ現存放
射計の出力を示す。即ち、出力Ｅと放射量Ｉの関係は Ｉ＝ＡＥ2 ＋ＢＥ＋Ｃ （３） で近似できることを暗示している。また式（１）でｋは
微係数ｄＩ／ｄＥであることに注目すると、式（３）を
微分することにより ｋ＝２ＡＥ＋Ｂ （４） であるので、常数ｋは出力Ｅに比例して変わることがわ
かる。
対象の波長分布の変化に対応して常数ｋは大きく変化す
るが、ここで現存ＵＶ−Ｂ放射計の出力と分光放射計等
で測られた正確なＵＶ−Ｂ放射量の関係をプロットする
と、自然光の波長特性の広い範囲（オゾン０．２４〜
０．４ｃｍ）で直線関係ではなく図５に示すごとく２次
曲線関係となることを多くの測定例と計算により見出し
た。図５で縦軸は分光測定で得られた正確なＵＶ−Ｂ放
射量を、横軸は図２に実線で示す感度曲線を持つ現存放
射計の出力を示す。即ち、出力Ｅと放射量Ｉの関係は Ｉ＝ＡＥ2 ＋ＢＥ＋Ｃ （３） で近似できることを暗示している。また式（１）でｋは
微係数ｄＩ／ｄＥであることに注目すると、式（３）を
微分することにより ｋ＝２ＡＥ＋Ｂ （４） であるので、常数ｋは出力Ｅに比例して変わることがわ
かる。
【００１４】よって、得られた情報である放射計の出力
Ｅに比例する様に、常数ｋを自動的に設定できる様にす
れば正確な放射量が得られることになる。具体的には、
図５の実線を数点の区間に分け各区間で勾配（微係
数）、即ちｋを電気回路により設定する手法、即ち接線
近似回路の導入によりこの設定は可能となる。
Ｅに比例する様に、常数ｋを自動的に設定できる様にす
れば正確な放射量が得られることになる。具体的には、
図５の実線を数点の区間に分け各区間で勾配（微係
数）、即ちｋを電気回路により設定する手法、即ち接線
近似回路の導入によりこの設定は可能となる。
【００１５】次にもう一つの問題点、光源の種類により
常数ｋが変化する問題点に対しては、多くの場合人工光
源の波長分布は既知であり、かつ一定であるので、各光
源について図４に示した如き常数ｋを計算又は実測によ
り求め、回路上で設定しておき、測定する光源が決まる
とこの設定値を使用して測定することができる。
常数ｋが変化する問題点に対しては、多くの場合人工光
源の波長分布は既知であり、かつ一定であるので、各光
源について図４に示した如き常数ｋを計算又は実測によ
り求め、回路上で設定しておき、測定する光源が決まる
とこの設定値を使用して測定することができる。
【００１６】
【実施例】図１の現存の放射計の構造概略を示す。
【００１７】トップの石英製ドーム１は、全天候型での
使用を可能とし、かつ放射の全方位よりの入射を可能と
するものである。拡散板２は入射光を拡散し、ランベル
トの法則を満足させるために設けられた。
使用を可能とし、かつ放射の全方位よりの入射を可能と
するものである。拡散板２は入射光を拡散し、ランベル
トの法則を満足させるために設けられた。
【００１８】次に干渉フィルタ３により、所定のＵＶ−
Ｂ光のみを取り出す。さらにブロックフィルタ５上に蛍
光膜を張った蛍光板４がある。ＵＶ光より可視光に変換
された光の光量はセンサ６により、電流に変換される。
さらにこの光電流は、センサ６の近くにある増幅器７に
より計器外に信号を取り出す。本発明においてはこの取
り出された信号を変換器８に導く。この変換器８には図
６で説明する変換回路が内蔵されている。
Ｂ光のみを取り出す。さらにブロックフィルタ５上に蛍
光膜を張った蛍光板４がある。ＵＶ光より可視光に変換
された光の光量はセンサ６により、電流に変換される。
さらにこの光電流は、センサ６の近くにある増幅器７に
より計器外に信号を取り出す。本発明においてはこの取
り出された信号を変換器８に導く。この変換器８には図
６で説明する変換回路が内蔵されている。
【００１９】図６ａにおいて先ず変換回路８の入力はそ
のレベルに応じ、Ｅ1 ，Ｅ2 ，…Ｅn に分別される。分
別回路ＤＩＳは設定抵抗Ｅ1 ，Ｅ2 ，…Ｅn と増幅器Ａ
1 ，Ａ2 ，…Ａn より構成される。信号は分別された
後、ダイオードＤ1 ，Ｄ2 ，…Ｄn を通り決められた常
数に設定する回路ＳＥＴに入力する。ここでは入力レベ
ルに対応した常数ｋ1 ，ｋ2 ，…ｋn をあらかじめ設定
しておく。即ち分別された信号レベルに対しては、同じ
常数ｋで近似されることを意味する。換言するとリニヤ
ライザーそのものである。
のレベルに応じ、Ｅ1 ，Ｅ2 ，…Ｅn に分別される。分
別回路ＤＩＳは設定抵抗Ｅ1 ，Ｅ2 ，…Ｅn と増幅器Ａ
1 ，Ａ2 ，…Ａn より構成される。信号は分別された
後、ダイオードＤ1 ，Ｄ2 ，…Ｄn を通り決められた常
数に設定する回路ＳＥＴに入力する。ここでは入力レベ
ルに対応した常数ｋ1 ，ｋ2 ，…ｋn をあらかじめ設定
しておく。即ち分別された信号レベルに対しては、同じ
常数ｋで近似されることを意味する。換言するとリニヤ
ライザーそのものである。
【００２０】図６ｂにおいては、図６ａの分別回路のか
わりに被測定光源に対応した接点Ｓ1 ，Ｓ2 ，…Ｓn を
有するスイッチ回路が備えつけてある。
わりに被測定光源に対応した接点Ｓ1 ，Ｓ2 ，…Ｓn を
有するスイッチ回路が備えつけてある。
【００２１】これにより測定光源を選択した後、各々の
光源に対応した感度常数Ｃ1 ，Ｃ2，…Ｃn に設定され
た各々の増幅器回路ＡＭＰを通って各々の光源に対応し
た放射量の出力が得られる。
光源に対応した感度常数Ｃ1 ，Ｃ2，…Ｃn に設定され
た各々の増幅器回路ＡＭＰを通って各々の光源に対応し
た放射量の出力が得られる。
【００２２】尚、式（３）又は（４）における常数Ａ、
Ｂは図５の関係よりあらかじめ計算、又は実験により既
知の値である。
Ｂは図５の関係よりあらかじめ計算、又は実験により既
知の値である。
【００２３】
【発明の効果】図６に示す回路は非常に安価でかつ簡単
であるので、放射計の価格上昇には余りつながらず、安
い価格で連続的に自然光のＵＶ−Ｂ放射量を正確に計測
できる放射計が実現し、高価な分光観測を必要としない
観測が可能となり、地域の気象、地形等に依存したＵＶ
−Ｂ放射計測のネットワーク化も可能となる。
であるので、放射計の価格上昇には余りつながらず、安
い価格で連続的に自然光のＵＶ−Ｂ放射量を正確に計測
できる放射計が実現し、高価な分光観測を必要としない
観測が可能となり、地域の気象、地形等に依存したＵＶ
−Ｂ放射計測のネットワーク化も可能となる。
【００２４】又、本発明によれば屋外にさらす材料、器
材等の劣化試験においてその劣化褪色等の実証実験が容
易になる。さらにこれ等の材料は屋内における人工光源
による促進試験が実施されているが、この方法は時間を
短縮し、かつ天候に左右されない試験方法で、この結果
を屋外にさらした場合の劣化性と対応づける必要があ
る。このためには、劣化の主因子であるＵＶ放射量が人
工光と自然光の両者の間で完全な相関性が必要である。
本発明による相関係数を組み込んだＵＶ放射計によっ
て、完全に両者の対応がつく様になる。
材等の劣化試験においてその劣化褪色等の実証実験が容
易になる。さらにこれ等の材料は屋内における人工光源
による促進試験が実施されているが、この方法は時間を
短縮し、かつ天候に左右されない試験方法で、この結果
を屋外にさらした場合の劣化性と対応づける必要があ
る。このためには、劣化の主因子であるＵＶ放射量が人
工光と自然光の両者の間で完全な相関性が必要である。
本発明による相関係数を組み込んだＵＶ放射計によっ
て、完全に両者の対応がつく様になる。
【００２５】以上の説明はＵＶ−Ｂ光を対象として説明
したが、原理的には他の波長域にも適用できる。
したが、原理的には他の波長域にも適用できる。
【図１】現存する放射計の構造を示す概略図である。
【図２】現存のＵＶ−Ｂ放射計の波長特性を・で示し、
ハッチした面積はオゾン層が０．３２ｃｍで太陽天頂角
度Ｚが０°より７０°まで変化した場合の相対的なＵＶ
域での自然光波長特性の変化範囲を示し、又、点線は理
想的なＵＶ−Ｂ放射計の波長に対して均一な波長特性を
示すグラフである。
ハッチした面積はオゾン層が０．３２ｃｍで太陽天頂角
度Ｚが０°より７０°まで変化した場合の相対的なＵＶ
域での自然光波長特性の変化範囲を示し、又、点線は理
想的なＵＶ−Ｂ放射計の波長に対して均一な波長特性を
示すグラフである。
【図３】オゾン層が０．２４〜０．４ｃｍ厚、太陽天頂
角度が０°より７０°まで変わった場合の現存ＵＶ−Ｂ
放射計の相対的感度常数の変化範囲を示すグラフであ
る。
角度が０°より７０°まで変わった場合の現存ＵＶ−Ｂ
放射計の相対的感度常数の変化範囲を示すグラフであ
る。
【図４】点線で示す波長特性を持つ現存ＵＶ−Ｂ放射計
で計測される各種光源の波長特性の一例を示すグラフで
ある。
で計測される各種光源の波長特性の一例を示すグラフで
ある。
【図５】現存ＵＶ−Ｂ放射計の出力と分光放射計等で測
られた正確な放射量との関係をプロットしたグラフであ
る。
られた正確な放射量との関係をプロットしたグラフであ
る。
【図６】現存のＵＶ−Ｂ放射計に本発明により適用する
回路図である。
回路図である。
８…変換回路 ＤＩＳ…分別回路 ＳＥＴ…設定回路 Ｓ1 ，Ｓ2 ，・・・ Ｓn …切換スイッチ接点 ＡＭＰ…増幅回路 Ｃ1 ，Ｃ2 ，・・・ Ｃ
n …感度常数
n …感度常数
Claims (5)
- 【請求項１】 波長に対して不均一な波長特性を持つ放
射計を用いて正確に被測定光源の放射量を求める方法に
おいて、 該放射計の出力と正確な放射量との関係を示す２次曲線
を複数の区間に分け、各区間の曲線を直線近似し、 被測定光源の相対的波長分布の変化に対応して変化する
該放射計の感度常数を補正して放射量を求める、ことを
特徴とする放射量の測定方法。 - 【請求項２】 波長に対して不均一な波長特性を持つ放
射計を用いて正確にＵＶ−Ｂ放射量を求める方法におい
て、 該放射計の出力と正確な放射量との関係を示す２次曲線
を複数の区間に分け、各区間の曲線を直線近似し、 被測定光源の相対的波長分布の変化に対応して変化する
該放射計の感度常数を補正してＵＶ−Ｂ放射量を求め
る、ことを特徴とするＵＶ−Ｂ放射量の測定方法。 - 【請求項３】 波長に対して不均一な波長特性を持つ放
射計を用いて相対的波長分布の異なった各種の被測定光
源からの放射量を正確に求める方法において、 該各種の被測定光源に対応した感度常数を夫々電気回路
的に設定しておき、 被測定光源の種類夫々に応じた電気回路を経て出力を取
り出す、ことを特徴とする各種の被測定光源の放射量測
定方法。 - 【請求項４】 波長に対して不均一な波長特性を持つ放
射計を用いて正確に被測定光源の放射量を求める放射計
であって、 上記不均一な波長特性を持つ放射計の出力に被測定光源
の相対的波長分布の変化に対応して変化する該放射計の
感度常数を補正する変換回路を付加してなり、 該変換回路は、 上記出力のレベルを分別する分別回路と、 該レベルに対応した常数を予め設定した常数回路とより
成る、ことを特徴とする正確に放射量を求める放射計。 - 【請求項５】 波長に対して不均一な波長特性を持つ放
射計を用いて相対的波長分布の異なった各種の被測定光
源からの放射量を正確に求める放射計であって、 上記不均一な波長特性を持つ放射計の出力に被測定光源
の相対的波長分布の変化に対応して変化する該放射計の
感度常数を補正する変換回路を付加してなり、 該変換回路は、 上記各種の被測定光源に夫々対応した接点を有するスイ
ッチ回路と、 該接点に夫々接続されて各種の被測定光源に対応した感
度常数を夫々設定した電気回路とより成る、ことを特徴
とする各種の被測定光源からの放射量を夫々正確に求め
る放射計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002195A JPH08219879A (ja) | 1995-02-08 | 1995-02-08 | Ｕｖ−ｂ放射量の測定方法及びその放射計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002195A JPH08219879A (ja) | 1995-02-08 | 1995-02-08 | Ｕｖ−ｂ放射量の測定方法及びその放射計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08219879A true JPH08219879A (ja) | 1996-08-30 |
Family
ID=12015446
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002195A Pending JPH08219879A (ja) | 1995-02-08 | 1995-02-08 | Ｕｖ−ｂ放射量の測定方法及びその放射計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08219879A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005308648A (ja) * | 2004-04-23 | 2005-11-04 | Fuji Xerox Co Ltd | 紫外線測定法、及び紫外線測定装置 |
| JP2010537363A (ja) * | 2007-08-13 | 2010-12-02 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 適応性がある色を有する照明装置 |
-
1995
- 1995-02-08 JP JP2002195A patent/JPH08219879A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005308648A (ja) * | 2004-04-23 | 2005-11-04 | Fuji Xerox Co Ltd | 紫外線測定法、及び紫外線測定装置 |
| JP2010537363A (ja) * | 2007-08-13 | 2010-12-02 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 適応性がある色を有する照明装置 |
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|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Effective date: 20040323 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 |