JPH07260596A - Temperature measuring method - Google Patents
Temperature measuring methodInfo
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- JPH07260596A JPH07260596A JP7474095A JP7474095A JPH07260596A JP H07260596 A JPH07260596 A JP H07260596A JP 7474095 A JP7474095 A JP 7474095A JP 7474095 A JP7474095 A JP 7474095A JP H07260596 A JPH07260596 A JP H07260596A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、ディジタル電子温度計
に関し、特に、抵抗値の個体差を補正して高精度表示を
可能とする電子温度計の初期論理調整方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a digital electronic thermometer, and more particularly to a method for adjusting the initial logic of an electronic thermometer that corrects individual differences in resistance values to enable high precision display.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、サーミスタ等の感温抵抗を用いた
電子温度計においては、測定温度範囲では温度変化に影
響されず略一定の抵抗値を示す基準抵抗を有しており、
基準抵抗の抵抗値と感温抵抗の抵抗値との比(抵抗比)
を求めて温度に換算(デコード)して表示するようにな
っている。即ち、従来の電子温度計は、サーミスタと基
準抵抗及び初期調整用可変抵抗器を有し、サーミスタと
基準抵抗を切り換えてそれぞれの抵抗値に基づく周波数
を持つパルス信号を発生する抵抗値−周波数変換回路
と、源振クロックを分周して一定計数値に達するまで上
記各パルス信号の通過を許容する計数時限回路と、源振
クロックが一定計数値になる一定計数時間に亘り基準抵
抗に基づく基準パルス信号を計数した後、リセット後に
同じく上記計数時間に亘り感温抵抗に基づく検出パルス
信号を計数する唯一のカウンタ(分周回路)とを有して
おり、基準パルス信号の計数値と検出パルス信号の計数
値とをそれぞれラッチしてから、それらの比(抵抗比)
を算出し、参照メモリでその抵抗比を温度に換算して温
度表示するものである。2. Description of the Related Art Conventionally, an electronic thermometer using a temperature sensitive resistance such as a thermistor has a reference resistance which shows a substantially constant resistance value without being affected by temperature change in a measurement temperature range,
Ratio of resistance value of reference resistance and resistance value of temperature sensitive resistance (resistance ratio)
Is calculated and converted into a temperature (decode) and displayed. That is, the conventional electronic thermometer has a thermistor, a reference resistance, and a variable resistor for initial adjustment, and switches the thermistor and the reference resistance to generate a pulse signal having a frequency based on each resistance value. A circuit, a counting time limit circuit that divides the source oscillation clock and allows the passage of each pulse signal until it reaches a certain count value, and a reference based on a reference resistance over a certain counting time when the source oscillation clock becomes a certain count value. It has a unique counter (dividing circuit) that counts the detection pulse signals based on the temperature-sensitive resistance for the same counting time after counting the pulse signals and after resetting. The count value of the reference pulse signal and the detection pulse After latching the count value of the signal and each of them, their ratio (resistance ratio)
Is calculated, and the resistance ratio is converted to a temperature in the reference memory to display the temperature.
【0003】このような構成の電子温度計は次のように
動作する。まず、第1フェーズにおいては、抵抗値−周
波数変換回路が基準抵抗及び初期調整用可変抵抗器を選
択して両者の直列合成抵抗値を持つ基準パルス信号を発
生する。この基準パルス信号は計数時限回路により特定
される恒常数の計数時間Tに亘りカウンタで計数され、
その基準パルス信号の計数値(第1の計数値N1 )はラ
ッチされて記憶手段によって一時記憶される。そして上
記カウンタがリセットされる。次に、第2フェーズにお
いては、抵抗値−周波数変換回路がサーミスタ(感温抵
抗)を選択してその温度の抵抗値に応じた周波数を持つ
温度検出パルス信号を発生する。この温度検出パルス信
号も計数時限回路により特定される計数時間Tに亘り同
じカウンタで計数されて温度検出パルス信号の計数値
(第2の計数値N2 )が得られる。The electronic thermometer having such a structure operates as follows. First, in the first phase, the resistance value-frequency conversion circuit selects the reference resistance and the initial adjustment variable resistor to generate the reference pulse signal having the series combined resistance value of both. This reference pulse signal is counted by the counter for a constant number of counting time T specified by the counting time circuit,
The count value (first count value N 1 ) of the reference pulse signal is latched and temporarily stored by the storage means. Then, the counter is reset. Next, in the second phase, the resistance value-frequency conversion circuit selects the thermistor (temperature sensitive resistance) and generates a temperature detection pulse signal having a frequency corresponding to the resistance value of the temperature. This temperature detection pulse signal is also counted by the same counter for the counting time T specified by the counting time circuit, and the count value (second count value N 2 ) of the temperature detection pulse signal is obtained.
【0004】そして一時記憶された第1の計数値と第2
の計数値との比(N1 /N2 )が算出され、温度換算に
より温度が表示されるようになっている。このような第
1フェーズと第2フェーズとは繰り返して何度も遂行さ
れ、例えば温度表示値がピークであることが判定された
場合、フェーズの繰り返しが停止されるようになってい
る。Then, the temporarily stored first count value and second count value are stored.
The ratio (N 1 / N 2 ) to the count value of is calculated, and the temperature is displayed by temperature conversion. Such a first phase and a second phase are repeatedly performed many times, and when it is determined that the temperature display value is a peak, the repetition of the phase is stopped.
【0005】このように基準抵抗の抵抗値とサーミスタ
の抵抗値との比から温度表示を得るためには、温度計毎
の換算テーブル等は一定の換算データを持っているた
め、ある一定の温度(例えば室温)においては抵抗比は
どの温度計でも一定値でなければならないが、実際に
は、基準抵抗やサーミスタには抵抗値の個体差(抵抗の
製造バラツキ)が存在することから、それらの抵抗比は
一定とはならない。そこで現実の抵抗比を一定値にする
ために、製造段階の検査工程においては初期調整用可変
抵抗器を動かして基準抵抗との合成直列抵抗値を増減調
整し、抵抗比が一定値になるように合わせ込んでいる
(絶対値精度調整)。このような可変抵抗器を用いた温
度計は特願昭58−234652号に見られる。In order to obtain the temperature display from the ratio between the resistance value of the reference resistance and the resistance value of the thermistor as described above, since the conversion table for each thermometer has constant conversion data, a certain constant temperature is obtained. At room temperature, the resistance ratio must be a constant value for all thermometers, but in reality, there are individual differences in resistance values (manufacturing variations in resistance) between the reference resistance and thermistor. The resistance ratio is not constant. Therefore, in order to make the actual resistance ratio constant, in the inspection process at the manufacturing stage, the initial adjustment variable resistor is moved to increase or decrease the combined series resistance value with the reference resistance so that the resistance ratio becomes constant. (Adjustment of absolute value accuracy). A thermometer using such a variable resistor is found in Japanese Patent Application No. 58-234652.
【0006】しかしながら、上記の初期調整用可変抵抗
器を備えた電子温度計においては次のような問題点があ
った。However, the electronic thermometer provided with the above-mentioned variable resistor for initial adjustment has the following problems.
【0007】 検査工程において一定の温度下に電子
温度計(体温計)を置き、その温度表示値が一定温度に
なるように可変抵抗器に対し手動で抵抗調整を加えるこ
とは、煩雑な手間を要し、殊に厳しい精度が要求される
温度計にあっては、微調整作業も熟練を必要とする。従
って、低い生産性に留まり、低コスト化の障害となって
いた。It is troublesome to place an electronic thermometer (thermometer) at a constant temperature in the inspection process and manually adjust the resistance of the variable resistor so that the temperature display value becomes a constant temperature. However, in the case of a thermometer, which requires particularly strict accuracy, fine adjustment work requires skill. Therefore, the productivity remains low, which is an obstacle to cost reduction.
【0008】 また、上記の電子温度計では可変抵抗
器は固定抵抗器に比して耐環境性に劣り、経時変化(抵
抗値変化)を招き易く、使用時における温度表示の信頼
性に乏しい。Further, in the above-mentioned electronic thermometer, the variable resistor is inferior to the fixed resistor in environmental resistance, is prone to change over time (change in resistance value), and has poor reliability of temperature display during use.
【0009】 更に、可変抵抗器は可動部を有してい
るため、回路系全体の半導体集積化に不向きであり、抵
抗値−周波数変換回路,分周回路,カウンタと共にワン
チップ化ができず、可変抵抗器は外付けのディスクリー
ト部品として基板実装しなければならない。このため、
体温計等に適用する場合には、小型化の障害になると共
に、部品点数の増大により製造コストの上昇に繋がる。Furthermore, since the variable resistor has a movable part, it is not suitable for semiconductor integration of the entire circuit system, and cannot be integrated into one chip together with the resistance value-frequency conversion circuit, frequency dividing circuit, and counter. The variable resistor must be mounted on the board as an external discrete component. For this reason,
When it is applied to a thermometer or the like, it becomes an obstacle to miniaturization, and an increase in the number of parts leads to an increase in manufacturing cost.
【0010】このような問題点を解消するため、本出願
人は、特願昭59−17499号を以て、デジタルによ
る初期論理調整回路(補正回路)を用いた電子温度計に
関する技術を既に開示している。In order to solve such a problem, the present applicant has already disclosed a technique relating to an electronic thermometer using a digital initial logic adjustment circuit (correction circuit) in Japanese Patent Application No. 59-17499. There is.
【0011】図3および図4は特願昭59−17499
号において開示された一例を示してある。この電子温度
計においては、先ず、抵抗値Rtのサーミスタ101お
よび抵抗値R1の基準抵抗102の抵抗値を、抵抗値−
周波数変換回路1によりそれぞれの抵抗値に対応した周
波数の信号、すなわち、検出パルス信号および基準パル
ス信号に変換する。抵抗値−周波数変換回路1は、抵抗
と容量により充放電を繰り返す回路、二重積分AD変換
回路のヘッド部分などにより構成することができる。計
測期間は短時間であるので、その間は時定数が一定とす
る。そして、検出パルス信号を分周回路37により一定
の基準時間(計数時間=T)の間カウントし、そのカウ
ント値をラッチ回路12にてラッチする。そして、ラッ
チした結果をデコーダ13により温度値にデコードし、
液晶表示盤14に表示する。検出パルス信号をカウント
する基準時間Tは、抵抗値−周波数変換回路1の個体差
を排除するために、基準抵抗102から抵抗値−周波数
変換回路1により所定の周波数に変換された基準パルス
信号を用いて設定している。すなわち、基準パスル信号
を分周回路37によりカウントし、ゲート設定出力回路
60において分周回路37のカウント値が予め設定され
た基準カウント値Mに達したか否かを判定する。そし
て、分周回路37のカウント値が基準カウント値Mに達
するまでの期間(基準時間T)に亘り発振回路4のクロ
ック(計時パルス)を独立の分周回路5がカウントして
計時し、基準カウント値Mに達した時点でNOR回路1
1を閉じて基準パルス信号の計数動作を止めさすと共
に、決定した基準時間(計数時間)Tを記憶する。この
ように、基準抵抗102に基づいて決定された基準時間
Tに亘り、分周回路37が検出パルス信号をカウントす
ることにより、今度はそのカウント値Nからサーミスタ
の抵抗値Rtの変動を検出することが可能となる。3 and 4 show Japanese Patent Application No. 59-17499.
The example disclosed in the issue is shown. In this electronic thermometer, first, the resistance values of the thermistor 101 having the resistance value Rt and the reference resistor 102 having the resistance value R1 are set to the resistance value −
The frequency conversion circuit 1 converts the signal into a frequency signal corresponding to each resistance value, that is, a detection pulse signal and a reference pulse signal. The resistance value-frequency conversion circuit 1 can be configured by a circuit that repeats charging and discharging with a resistance and a capacity, a head portion of a double integration AD conversion circuit, and the like. Since the measurement period is short, the time constant is constant during that period. Then, the detection pulse signal is counted by the frequency dividing circuit 37 for a fixed reference time (counting time = T), and the count value is latched by the latch circuit 12. Then, the latched result is decoded into a temperature value by the decoder 13,
It is displayed on the liquid crystal display panel 14. The reference time T for counting the detection pulse signal is the reference pulse signal converted from the reference resistor 102 to a predetermined frequency by the resistance value-frequency conversion circuit 1 in order to eliminate the individual difference of the resistance value-frequency conversion circuit 1. It is set using. That is, the reference pulse signal is counted by the frequency dividing circuit 37, and it is determined whether or not the count value of the frequency dividing circuit 37 has reached the preset reference count value M in the gate setting output circuit 60. Then, the independent frequency dividing circuit 5 counts and clocks the clock (clock pulse) of the oscillation circuit 4 for a period (reference time T) until the count value of the frequency dividing circuit 37 reaches the reference count value M, and When the count value M is reached, the NOR circuit 1
1 is closed to stop the counting operation of the reference pulse signal, and the determined reference time (counting time) T is stored. In this way, the frequency dividing circuit 37 counts the detection pulse signal over the reference time T determined based on the reference resistor 102, and this time, the variation of the resistance value Rt of the thermistor is detected from the count value N. It becomes possible.
【0012】ここで、サーミスタの抵抗値Rtに基づき
基準時間T内にカウントされたカウント値をNとする
と、抵抗値とカウント値は反比例の関係となるので、次
式のような関係が成り立つ。Here, assuming that the count value counted within the reference time T based on the resistance value Rt of the thermistor is N, the resistance value and the count value are in inverse proportion to each other, and the following equation holds.
【0013】 R1×N = Rt×M …(1) しかし、基準抵抗の抵抗値R1は個体差があり、また、
サーミスタの抵抗値Rtも個体差がある。R1 × N = Rt × M (1) However, the resistance value R1 of the reference resistor has individual differences, and
The resistance value Rt of the thermistor also has individual differences.
【0014】実際の基準抵抗の抵抗値R1’と実際のサ
ーミスタの抵抗値Rt’との比が、抵抗値R1とRtと
の比とΔRだけ異なっているとすると以下の通りとな
る。If the ratio between the actual resistance value R1 'of the reference resistance and the actual resistance value Rt' of the thermistor differs from the ratio of the resistance values R1 and Rt by ΔR, the following is obtained.
【0015】 N’=Rt’/R1’×M …(2) Rt/R1=Rt’/R1’×ΔR …(3) 従って、実際の温度を示すNは、 N=Rt’/R1’×ΔR×M …(4) となる。よって、Nを求めるには、MをΔR×Mに変換
すれば良い。N ′ = Rt ′ / R1 ′ × M (2) Rt / R1 = Rt ′ / R1 ′ × ΔR (3) Therefore, N indicating the actual temperature is N = Rt ′ / R1 ′ × ΔR × M (4) Therefore, in order to obtain N, M may be converted to ΔR × M.
【0016】このため、特願昭59−17499号で
は、 ΔR×M=M−ΔM …(5) として補正している。すなわち、基準時間Tを基準パル
ス信号から分周回路37によりカウントする際に、制御
回路(初期値設定回路)38を用いて分周回路37に初
期値ΔMを設定(プリセット)し、分周回路37が基準
パルス信号を実際カウントする計数回数を(M−ΔM)
としている。Therefore, in Japanese Patent Application No. 59-17499, the correction is made as ΔR × M = M−ΔM (5). That is, when the reference time T is counted from the reference pulse signal by the frequency dividing circuit 37, the control circuit (initial value setting circuit) 38 is used to set (preset) the initial value ΔM in the frequency dividing circuit 37, and the frequency dividing circuit 37 37 is the number of times that the reference pulse signal is actually counted (M-ΔM)
I am trying.
【0017】ところで、この制御回路(初期値設定回
路)38は、図4に示すように、初期値ΔMを設定する
ためのプルアップ用のP形MOSトランジスタ51a〜
51d、インバータ52a〜52d、および初期値ΔM
の設定のタイミングを制御するNANDゲート回路(設
定タイミング回路)53a〜53dにより構成されてい
る。そして、基準時間Tを測定する際は、制御回路38
から初期値ΔMをセット優先形リセット付1/2分周回
路55a〜55dを用いて構成された分周回路37に予
めセットし、基準時間Tを個体差に合わせて制御する。By the way, as shown in FIG. 4, the control circuit (initial value setting circuit) 38 includes pull-up P-type MOS transistors 51a to 51a for setting the initial value ΔM.
51d, inverters 52a to 52d, and initial value ΔM
It is configured by NAND gate circuits (setting timing circuits) 53a to 53d that control the timing of the setting. When measuring the reference time T, the control circuit 38
The initial value ΔM is set in advance in the frequency dividing circuit 37 configured using the 1/2 frequency dividing circuits with set priority type reset 55a to 55d, and the reference time T is controlled according to the individual difference.
【0018】 このような電子温度計では、抵抗値バ
ラツキ補正用の可変抵抗器を用いずに、初期論理調整を
行い、個体差のない高精度表示が可能となっている。In such an electronic thermometer, initial logic adjustment is performed without using a variable resistor for resistance value variation correction, and high-precision display without individual difference is possible.
【0019】 また、基準パルス信号の計数値と検出
パルス信号の計数値との比を求めることなく、検出パル
ス信号のカウント値だけに基づいて温度表示ができるの
で、割算処理が不要で、回路系の複雑さや素子形成領域
の大規模化を回避でき、温度計の小型軽量化を図れる。Further, since the temperature can be displayed only on the basis of the count value of the detection pulse signal without obtaining the ratio between the count value of the reference pulse signal and the count value of the detection pulse signal, the division processing is unnecessary and the circuit It is possible to avoid the complexity of the system and the enlargement of the element formation area, and to reduce the size and weight of the thermometer.
【0020】[0020]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、更なる
小型軽量化と低コスト化を目指すには、分周回路37を
構成している回路規模の大きなセット優先形リセット付
1/2分周回路を、回路規模が小さく、素子数も少ない
通常のリセット付1/2分周回路とし、また、初期値設
定のタイミングを制御するNANDゲート53a〜53
dなどを出来る限り削減することが必要である。However, in order to further reduce the size and weight and reduce the cost, a 1/2 frequency divider circuit with a set priority type reset having a large circuit scale, which constitutes the frequency divider circuit 37, is used. The NAND gates 53a to 53 that are a normal 1/2 frequency divider circuit with a small circuit scale and a small number of elements and that control the timing of initial value setting
It is necessary to reduce d etc. as much as possible.
【0021】そこで、本発明の課題は、このような問題
に鑑みて、諸回路の規模を削減し、低コスト、高性能の
電子温度計を実現することを可能とする温度測定方法を
提供することにある。In view of the above problems, an object of the present invention is to provide a temperature measuring method capable of reducing the scale of various circuits and realizing a low-cost, high-performance electronic thermometer. Especially.
【0022】[0022]
【課題を解決するための手段】上記の問題点を解決する
ために、本発明は、基準抵抗の抵抗値に基づく周波数を
持つ基準パルス信号と温度に感応して抵抗値変化する検
出抵抗の抵抗値に基づく周波数を持つ検出パルス信号と
を切り換え可能に発生する抵抗値−周波数変換手段を用
いた温度測定方法において、上記基準パルス信号及び上
記検出パルス信号の一方を第1のパルス信号とすると共
に他方を第2のパルス信号として、計数手段によりその
計数打ち切り値に到るまで第1のパルス信号を計数する
と共に、上記計数手段の第1のパルス信号の計数値が上
記計数打ち切り値に達するまで計数時間決定手段により
計時パルスを計数して測温行程毎上記計数時間を決定す
る第1のフェーズと、次いで、上記計数手段をリセット
してから、上記計数手段により第1のパルス信号の計数
時間と等しい計数時間に亘り第2のパルス信号を計数
し、第2のパルス信号の計数結果をラッチしてこれに基
づいて温度を表示する第2のフェーズとを有しており、
第1のフェーズに先立って抵抗バラツキ補正用データに
応じた上記計数打ち切り値を設定することを特徴とす
る。In order to solve the above problems, the present invention provides a resistance of a detection resistor whose resistance value changes in response to a reference pulse signal having a frequency based on the resistance value of the reference resistor and temperature. In a temperature measuring method using a resistance value-frequency converting means for switchably generating a detection pulse signal having a frequency based on a value, one of the reference pulse signal and the detection pulse signal is used as a first pulse signal. Using the other as the second pulse signal, the counting means counts the first pulse signal until the count cutoff value is reached, and the count value of the first pulse signal of the counting means reaches the count cutoff value. A first phase in which the counting time determining means counts the counting pulses to determine the counting time for each temperature measurement step, and then the counting means is reset, and then the counting A second phase in which the second pulse signal is counted for a counting time equal to the counting time of the first pulse signal by the means, the counting result of the second pulse signal is latched, and the temperature is displayed based on the latched result. Has
Prior to the first phase, the above-mentioned count termination value is set according to the resistance variation correction data.
【0023】[0023]
【作用】第1のフェーズでは第1のパルス信号が計数手
段によって計数されるが、その計数動作は計数値が計数
打ち切り値になるまで継続し、その間に計数時間決定手
段が計時パルスを計数して計数時間を決定する。次に、
第2のフェーズでは上記計数時間決定手段で決定された
計数時間に亘り第2のパルス信号が同じ計数手段によっ
て計数され、その計数結果がラッチされてこれに基づい
て温度表示が行われるようになっている。In the first phase, the first pulse signal is counted by the counting means, and the counting operation continues until the count value reaches the count cutoff value, during which the count time determining means counts the count pulse. To determine the counting time. next,
In the second phase, the second pulse signal is counted by the same counting means for the counting time determined by the counting time determining means, the counting result is latched, and the temperature is displayed based on this. ing.
【0024】本発明においては、抵抗値バラツキ補正用
データに応じて計数打ち切り値を設定するようになって
いるので、温度計の抵抗値−周波数変換手段の個体差
(抵抗値バラツキ)に見合う補正データに応じて計数打
ち切り値を設定すれば、結果的に計数時間を長短調整で
きるので、同一温度における第2の信号パルスの計数結
果を増減させることが可能で、抵抗個体差の補正により
全ての製品で高精度表示が可能となる。In the present invention, since the counting cutoff value is set in accordance with the resistance value variation correction data, the correction is appropriate for the individual difference (resistance value variation) of the thermometer resistance value-frequency conversion means. If the counting cutoff value is set according to the data, the counting time can be adjusted as a result. Therefore, it is possible to increase or decrease the counting result of the second signal pulse at the same temperature. High-precision display is possible on the product.
【0025】第1のパルス信号の計数に先立って計数手
段に初期値をプリセットしておくのではなく、計数打ち
切り値(又はカウントアップ値)を設定できるようにし
ているので、計数手段はセット機能付き分周回路を必要
とせず、リセット機能で充分であるから、計数手段自体
の回路構成の簡略化を図ることができる。ビット数が多
い計数手段を用いて高精度表示を達成するに従い、その
回路規模の縮小化の効果が顕著となる。The counting means is set not to preset the initial value in the counting means before counting the first pulse signal, but to set the count cutoff value (or count-up value). Since the frequency dividing circuit is not required and the reset function is sufficient, the circuit configuration of the counting means itself can be simplified. As high-accuracy display is achieved by using a counting means having a large number of bits, the effect of reducing the circuit scale becomes remarkable.
【0026】また、従来の計数手段に初期値をプリセッ
トする方式では、第1のパルス信号の計数に先立ってセ
ット制御信号により設定タイミング回路から初期値を計
数手段へ送り込むが、第2のパルス信号の計数に際して
はセット制御信号を印加しないように選択制御する必要
があり、設定タイミング回路の回路規模やセット制御信
号の生成回路が必要であった。しかし、本発明ではプリ
セット方式でないため、設定タイミング回路やセット制
御信号の生成回路は不要であり、回路構成の簡素化によ
り小型軽量化及び低コスト化を図ることができる。In the conventional method of presetting the initial value in the counting means, the initial value is sent from the setting timing circuit to the counting means by the set control signal prior to counting the first pulse signal, but the second pulse signal is used. In counting, it was necessary to perform selective control so that the set control signal was not applied, and the circuit scale of the set timing circuit and the set control signal generation circuit were necessary. However, since the preset method is not used in the present invention, a setting timing circuit and a set control signal generation circuit are not necessary, and the simplification of the circuit configuration can reduce the size, weight, and cost.
【0027】本発明において、第1フェーズ(第1のパ
ルス信号の計数過程)と第2フェーズ(第2のパルス信
号の計数過程)とから成る1測温行程を何度も繰り返し
て温度変化の推移を観測する場合、これは電子温度計の
環境温度自体が推移するため、温度依存性のあるキャパ
シタ等の電子要素を含む電子温度計の温度補償について
も充分顧慮する必要がある。本発明における計数時間決
定手段は、第1フェーズの都度、第1のパルス信号が計
数打ち切り値になるまで計時パルスを計数して計数時間
を決定するようにしているため、すべての測温行程では
計数時間は恒常的に一定ではなく、基本的には測温行程
毎で環境温度に応じて計数時間が異なっている。環境温
度が変化しても、計数時間が恒常値(画一値)であれ
ば、第2のパルス信号の計数値自体は温度を反映した値
にならない。かかる場合は第2のパルス信号の計数値の
みに基づいて温度表示を行うことができず、第1のパル
ス信号の計数値と第2のパルス信号の計数値との比を算
出しければならない。しかし、本発明のように、第1の
パルス信号の計数値が計数打ち切り値に達するまでに要
する時間が環境温度の変化によって多少長短変化した場
合でも、その環境温度により長短変化した計数時間をそ
のまま第2フェーズにおける計数時間として受け渡すよ
うにしているため、環境温度変化による誤差が紛れ込ま
ず、また計数値の比を算出する必要がなく、第2のパル
ス信号の計数値だけに基づいて温度表示ができる。この
ため、割算処理が不要で、回路系の複雑さや素子形成領
域の大規模化を回避でき、温度計の小型軽量化を図れ
る。In the present invention, one temperature measurement step consisting of the first phase (counting process of the first pulse signal) and the second phase (counting process of the second pulse signal) is repeated many times to measure the temperature change. When observing the transition, since the environmental temperature itself of the electronic thermometer changes, it is necessary to sufficiently consider the temperature compensation of the electronic thermometer including electronic elements such as capacitors having temperature dependence. The counting time determining means in the present invention counts the counting pulses until the first pulse signal reaches the count cutoff value and determines the counting time each time the first phase is reached. Therefore, in all temperature measurement steps. The counting time is not always constant, and basically the counting time differs depending on the environmental temperature in each temperature measurement process. Even if the environmental temperature changes, if the count time is a constant value (uniform value), the count value of the second pulse signal itself does not reflect the temperature. In such a case, temperature display cannot be performed based on only the count value of the second pulse signal, and the ratio between the count value of the first pulse signal and the count value of the second pulse signal must be calculated. However, as in the present invention, even when the time required for the count value of the first pulse signal to reach the count cutoff value changes a little due to the change in the environmental temperature, the count time that changes depending on the environmental temperature remains unchanged. Since it is passed as the counting time in the second phase, the error due to the environmental temperature change does not mix in, and there is no need to calculate the ratio of the count values, and the temperature display is based only on the count value of the second pulse signal. You can Therefore, the division process is not necessary, the complexity of the circuit system and the enlargement of the element formation region can be avoided, and the thermometer can be made compact and lightweight.
【0028】[0028]
【実施例】本発明の一実施例のブロック図を図1に示
す。サーミスタ101と基準抵抗102は、先に説明し
た特願昭59−17499号と同様に抵抗値に反比例し
た周波数を備えた信号を出力可能な抵抗値−周波数変換
回路1に接続されており、この変換回路1からサーミス
タ101の温度により変動する抵抗値Rsに基づく温度
検出信号が、また、基準抵抗の抵抗値R1に基づく基準
信号が出力される。温度検出信号および基準信号は、N
ORゲート11を介して分周回路2によりカウントさ
れ、基準信号に基づくカウント値は、初期論理調整回路
3によりサーミスタの抵抗値と基準抵抗の抵抗値の個体
差が補正された基準カウント値(計数打ち切り値)によ
り判定される。分周回路5は、発振回路4から発生され
る一定のクロック(計時パルス)を使用して分周回路2
においてカウントし基準時間(計数時間)の設定が可能
であり、その設定は、初期論理調整回路3においてカウ
ント値が計数打ち切り値に達したときに行われる。発振
回路4及び分周回路5は計数時間決定回路を構成してい
る。1 is a block diagram of an embodiment of the present invention. The thermistor 101 and the reference resistor 102 are connected to the resistance value-frequency conversion circuit 1 capable of outputting a signal having a frequency inversely proportional to the resistance value, as in Japanese Patent Application No. 59-17499 described above. The conversion circuit 1 outputs a temperature detection signal based on the resistance value Rs that varies depending on the temperature of the thermistor 101 and a reference signal based on the resistance value R1 of the reference resistance. The temperature detection signal and the reference signal are N
The count value based on the reference signal is counted by the frequency divider circuit 2 via the OR gate 11, and the initial logic adjustment circuit 3 corrects the individual difference between the resistance value of the thermistor and the resistance value of the reference resistor. Judgment value). The frequency dividing circuit 5 uses the constant clock (clock pulse) generated from the oscillation circuit 4 to divide the frequency dividing circuit 2.
It is possible to set the reference time (counting time) by counting at, and the setting is performed when the count value reaches the count abort value in the initial logic adjusting circuit 3. The oscillator circuit 4 and the frequency divider circuit 5 form a counting time determination circuit.
【0029】温度検出信号は、NORゲート11により
分周回路5に設定された基準時間の間、分周回路2に供
給され、分周回路2においてカウントされる。そのカウ
ント値は、ラッチ回路12によりラッチされ、ラッチ回
路12の結果をデコード回路13により温度に変換し、
液晶表示盤14に表示される。The temperature detection signal is supplied to the frequency dividing circuit 2 during the reference time set in the frequency dividing circuit 5 by the NOR gate 11, and is counted in the frequency dividing circuit 2. The count value is latched by the latch circuit 12, and the result of the latch circuit 12 is converted into the temperature by the decode circuit 13,
It is displayed on the liquid crystal display panel 14.
【0030】本例の初期論理調整回路3は、分周回路2
のカウント値が予め設定された基準カウント値Mに達し
たか否かを判定するゲート設定出力回路60、およびサ
ーミスタ101および基準抵抗102の個体差を補正す
るために基準カウント値MをM’に変更する初期設定回
路61により構成されている。従って、本例の電子温度
計においては、先に説明した式(4)において、実際の
温度を示すNを導くための補正であるΔR×Mを直接
M’に変換することができる。すなわち、特願昭59−
17499号においては、式(5)に示すように、ΔR
×MをM−ΔMとして実現しているが、本例において
は、 ΔR×M=M’ …(6) として実現しているのである。この結果、分周回路2
に、基準信号のカウントに先立ち、初期値を設定する必
要がなくなり、分周回路2を通常のリセット付1/2分
周回路により実現することが可能となる。The initial logic adjusting circuit 3 of this example is composed of the frequency dividing circuit 2.
Of the gate setting output circuit 60 for determining whether or not the count value of 1 has reached a preset reference count value M, and the reference count value M is set to M ′ in order to correct the individual difference between the thermistor 101 and the reference resistor 102. It is composed of an initial setting circuit 61 to be changed. Therefore, in the electronic thermometer of this example, ΔR × M, which is the correction for deriving N indicating the actual temperature, can be directly converted into M ′ in the equation (4) described above. That is, Japanese Patent Application No. 59-
In No. 17499, as shown in equation (5), ΔR
Although × M is realized as M−ΔM, in this example, it is realized as ΔR × M = M ′ (6). As a result, the frequency dividing circuit 2
In addition, it is not necessary to set the initial value before counting the reference signal, and the frequency dividing circuit 2 can be realized by a normal 1/2 frequency dividing circuit with reset.
【0031】図2に、分周回路2および初期論理調整回
路3の構成を示してある。分周回路2は、8個のリセッ
ト付1/2分周回路15〜22により構成されており、
それぞれ20 、21 、22 、23 、24 、25 、26 、
27 の分周を担当する。従って、リセットターミナル6
から入力されたリセット信号の後、入力ターミナル23
から入力された基準信号および温度検出信号をカウント
し8ビットの信号として、ラッチ回路12およびゲート
設定出力回路60へ出力することができる。FIG. 2 shows the configurations of the frequency dividing circuit 2 and the initial logic adjusting circuit 3. The frequency dividing circuit 2 is composed of eight 1/2 frequency dividing circuits 15 to 22 with reset,
2 0 , 2 1 , 2 2 , 2 3 , 2 4 , 2 5 , 2 6 , respectively
In charge of the division of 2 7. Therefore, reset terminal 6
After the reset signal input from the input terminal 23
The reference signal and the temperature detection signal input from can be counted and output as an 8-bit signal to the latch circuit 12 and the gate setting output circuit 60.
【0032】初期設定回路61は、4つのPチャネルM
OS31〜34、および4つのEXOR24〜27によ
り構成されている。そして、EXOR24にはPチャネ
ルMOS31の出力とリセット付1/2分周回路15の
出力とが入力され、その出力がゲート設定出力回路60
を構成する多入力NAND29に接続されている。他の
EXOR25〜27においても同様に、それぞれPチャ
ネルMOS32の出力とリセット付1/2分周回路16
の出力、PチャネルMOS33の出力とリセット付1/
2分周回路17の出力、PチャネルMOS34の出力と
リセット付1/2分周回路18の出力が入力され、それ
ぞれのEXOR25〜27の出力がゲート設定出力回路
60を構成する多入力NAND29に接続されている。
この初期設定回路61に用いられているPチャネルMO
S31〜34は、初期値設定のためのプルアップ用MO
Sであり、それぞれのMOS31〜34のソース側が高
電位Vddに接続され、ゲート電極は低電位Vssに接
続されている。そして、EXORゲート24〜27に接
続されているドレイン側には、データ入力ライン7〜1
0がそれぞれ接続されており、このライン7〜10を接
地するか否かにより初期値を設定することができる。The initialization circuit 61 has four P channels M
The OS 31 to 34 and the four EXORs 24 to 27 are included. Then, the output of the P-channel MOS 31 and the output of the 1/2 divider circuit with reset 15 are input to the EXOR 24, and the output thereof is the gate setting output circuit 60.
Is connected to the multi-input NAND 29 that constitutes the. Similarly, in the other EXORs 25 to 27, the output of the P-channel MOS 32 and the 1/2 divider circuit with reset 16 are also provided.
Output, P-channel MOS33 output and 1 / with reset
The output of the divide-by-2 frequency divider circuit 17, the output of the P-channel MOS 34, and the output of the 1/2 divider circuit with reset 18 are input, and the outputs of the respective EXORs 25 to 27 are connected to the multi-input NAND 29 constituting the gate setting output circuit 60. Has been done.
P channel MO used in the initialization circuit 61
S31 to S34 are pull-up MOs for setting initial values.
S, the source side of each of the MOSs 31 to 34 is connected to the high potential Vdd, and the gate electrode is connected to the low potential Vss. The data input lines 7-1 are provided on the drain side connected to the EXOR gates 24-27.
0 are connected to each other, and the initial value can be set depending on whether or not the lines 7 to 10 are grounded.
【0033】初期設定回路61に設定された初期値から
分周回路2によりカウントされたカウント値を判断する
ゲート設定出力回路60は、多入力NAND回路29に
より構成されており、EXORゲート31〜34および
リセット付1/2分周回路20〜22の出力が入力さ
れ、これらの総ての値が1となることにより、インバー
タ30を介してカウント値が所定値(計数打ち切り値)
に達した信号を分周回路5に出力する。The gate setting output circuit 60 for judging the count value counted by the frequency dividing circuit 2 from the initial value set in the initial setting circuit 61 is composed of a multi-input NAND circuit 29, and EXOR gates 31-34. And the outputs of the 1/2 frequency dividers with reset 20 to 22 are input, and all the values become 1, so that the count value becomes a predetermined value (counting abort value) via the inverter 30.
The signal that has reached is output to the frequency dividing circuit 5.
【0034】このように、本例においては、初期設定回
路61によりゲート設定出力回路60において判定され
る基準カウント値を変更し、サーミスタの抵抗値と基準
抵抗の抵抗値との個体差を補正している。実例を上げて
説明すると、設定温度においてサーミスタの抵抗値が2
3.0KΩ、基準抵抗の抵抗値が22.4KΩであった
場合に、サーミスタの抵抗値に係るカウント数を224
カウントに調整するには、(4)および(6)式から 224=22.4/23.0×M’ …(7) となり、M’は230である。従って、本例において
は、初期設定回路61によりMをM’、すなわち、23
0に設定すれば良い。As described above, in this example, the initial setting circuit 61 changes the reference count value determined by the gate setting output circuit 60 to correct the individual difference between the resistance value of the thermistor and the resistance value of the reference resistance. ing. For example, the resistance value of the thermistor is 2 at the set temperature.
When the resistance value of the reference resistance is 3.0 KΩ and the resistance value of the reference resistance is 22.4 KΩ, the number of counts related to the resistance value of the thermistor is 224.
In order to adjust the count, 224 = 22.4 / 23.0 × M ′ ... (7) from the equations (4) and (6), and M ′ is 230. Therefore, in this example, M is set to M ′, that is, 23 by the initial setting circuit 61.
You can set it to 0.
【0035】 M’=230=128+64+32+4 +2 =27 +26 +25 +22 +21 …(8) である。従って、初期設定回路61においてEXOR2
4〜27に印加されるデータのうち、20 、23 、24
のデータを高レベルとするように、データ入力ライン7
〜10の内ライン8、9を低レベルとすれば良い。な
お、本例においては、24 のデータ、すなわち、1/2
分周回路19の信号は、判定時に高レベルとなるよう
に、インバータ28を用いて反転させている。このよう
な設定下において、リセット付1/2分周回路16、1
7の値は、EXOR25、26で反転されずにそのまま
多入力NAND29に入力され、リセット付1/2分周
回路15、18の値は、EXOR24、27で反転され
多入力NAND29に入力される。そして、リセット付
1/2分周回路20の値はインバータ28により反転さ
れ、また、リセット付1/2分周回路21、22の値は
そのまま多入力NAND29に入力される。このため、
本例においては、21 、22 、25 、26 、27 を表す
リセット付1/2分周回路15、18、20、21、2
2の値がそのまま多入力NAND29に入力され、その
他の値は、反転して多入力NAND29に入力される。
従って、分周回路2において、230をカウントした段
階で多入力NAND29は低レベルとなり、このカウン
トに費やした時間が基準時間(計数時間)として分周回
路5に設定される。そして、次に分周回路2により基準
時間(計数時間)の間、温度検出信号をカウントするこ
とにより、補正されたカウント値がラッチ回路12にラ
ッチされ、精度の良い温度が表示される。M ′ = 230 = 128 + 64 + 32 + 4 +2 = 2 7 +2 6 +2 5 +2 2 +2 1 (8) Therefore, in the initialization circuit 61, EXOR2
Of the data applied to 4-27, 2 0 , 2 3 , 2 4
Data input line 7 so that the data of
Lines 8 and 9 of 10 may be set to a low level. In this example, 2 4 data, that is, 1/2
The signal of the frequency dividing circuit 19 is inverted by the inverter 28 so that it becomes a high level at the time of determination. Under such settings, the 1/2 divider circuit with reset 16, 1
The value of 7 is directly input to the multi-input NAND 29 without being inverted by the EXORs 25 and 26, and the values of the 1/2 divider circuits with reset 15 and 18 are inverted by the EXORs 24 and 27 and input to the multi-input NAND 29. Then, the value of the 1/2 frequency divider circuit with reset 20 is inverted by the inverter 28, and the values of the 1/2 frequency divider circuits with reset 21 and 22 are directly input to the multi-input NAND 29. For this reason,
In this example, the 1/2 divider circuits with reset 15, 18, 20, 21, 2 representing 2 1 , 2 2 , 2 5 , 2 6 , 2 7 ,
The value of 2 is directly input to the multi-input NAND 29, and the other values are inverted and input to the multi-input NAND 29.
Therefore, in the frequency dividing circuit 2, the multi-input NAND 29 becomes low level when 230 is counted, and the time spent for this counting is set in the frequency dividing circuit 5 as a reference time (counting time). Then, the frequency detection signal is counted by the frequency dividing circuit 2 for the reference time (counting time), whereby the corrected count value is latched in the latch circuit 12, and the accurate temperature is displayed.
【0036】このように本例においては、分周回路2の
カウント値を比較する基準カウント値を変更するように
しているので、分周回路2に補正用の初期値を設定する
必要がない。このため、分周回路2として、リセット付
1/2分周回路を採用することができ、初期値を設定す
るために採用されていたセット優先形リセット付1/2
分周回路を省くことができる。従って、セット優先形リ
セット付1/2分周回路といった素子数が多く、回路規
模の大きな回路を削除することができ、電子温度計を小
型し、低コストで生産することが可能となる。また、本
例に採用されているEXORは、従来の電子温度計にお
いて、分周回路2からの出力をサーミスタの特性に合わ
せて出力を反転させるために設けられているインバータ
等と比較し、それ程回路規模の大きなゲート回路ではな
く、これによる回路面積への影響は少ない。As described above, in this embodiment, since the reference count value for comparing the count values of the frequency dividing circuit 2 is changed, it is not necessary to set the initial value for correction in the frequency dividing circuit 2. Therefore, a 1/2 divider circuit with reset can be adopted as the divider circuit 2, and a set-priority-type 1/2 divider circuit with reset, which has been adopted to set an initial value, can be adopted.
The frequency divider circuit can be omitted. Therefore, the number of elements such as the set-priority type 1/2 divider circuit with reset is large, and a circuit having a large circuit scale can be eliminated, and the electronic thermometer can be miniaturized and manufactured at low cost. In addition, the EXOR used in this example compares the output from the frequency dividing circuit 2 in the conventional electronic thermometer with an inverter or the like provided to invert the output according to the characteristics of the thermistor, This is not a gate circuit with a large circuit scale, and this has little effect on the circuit area.
【0037】更に、本例においては、セット制御信号が
不要であることから従来の設定タイミング回路のNAN
Dゲートも省くことが可能となり、低コスト化と同時に
電子温度計の計測動作を簡略化できる。Further, in this example, since the set control signal is unnecessary, the NAN of the conventional setting timing circuit is used.
The D gate can be omitted, and the cost can be reduced and the measuring operation of the electronic thermometer can be simplified.
【0038】更にまた、従来に比べると、第2のパルス
信号(検出パスル信号)のカウント値だけに基づいて温
度表示ができるので、割算処理が不要で、回路系の簡素
化に寄与している。Furthermore, as compared with the prior art, temperature display can be performed based only on the count value of the second pulse signal (detection pulse signal), so division processing is not required, which contributes to simplification of the circuit system. There is.
【0039】[0039]
【発明の効果】以上に説明したように、本発明に係る温
度測定方法は、基準パルス信号と検出パルス信号を切り
換え可能に生成する抵抗値−周波数変換手段を用い、基
準パルス信号及び検出パルス信号の一方を第1のパルス
信号とすると共に他方を第2のパルス信号として、第1
フェーズでは計数打ち切り値に到るまで第1のパルス信
号を計数すると共に、その計数時間を計数時間決定手段
で決定し、第2フェーズでは、計数手段をリセットして
から、第1のパルス信号の計数時間と等しい計数時間に
亘り第2のパルス信号を計数し、その計数結果のみを以
て温度表示するものであり、第1のフェーズに先立って
抵抗バラツキ補正用データに応じた前記計数打ち切り値
を設定することを特徴としている。従って、次の効果を
奏する。As described above, the temperature measuring method according to the present invention uses the resistance value-frequency conversion means for switchably generating the reference pulse signal and the detection pulse signal, and uses the reference pulse signal and the detection pulse signal. One is used as the first pulse signal and the other is used as the second pulse signal.
In the phase, the first pulse signal is counted until the count cutoff value is reached, and the counting time is determined by the counting time determining means. In the second phase, the counting means is reset and then the first pulse signal The second pulse signal is counted for a counting time equal to the counting time, and the temperature is displayed only by the counting result, and the counting cutoff value according to the resistance variation correction data is set prior to the first phase. It is characterized by doing. Therefore, the following effects are obtained.
【0040】 打ち切り値が可変できるようになって
いるので、温度計の抵抗値−周波数変換手段の個体差
(抵抗値バラツキ)に見合う補正データに応じて打ち切
り値を設定すれば、計数打ち切り値までの計数時間を長
短調整ができるので、同一温度における第2の信号パル
スの計数結果を増減させることが可能で、抵抗個体差の
補正により全ての製品で高精度表示が可能となる。第1
のパルス信号の計数に先立って計数手段に初期値をプリ
セットしておくのではないため、計数手段はセット付き
分周回路を必要とせず、回路構成の簡略化を図ることが
できる。計数手段のビット数が多くなるに従い、その回
路規模の縮小化が顕著となる。Since the cutoff value can be changed, if the cutoff value is set according to the correction data corresponding to the individual difference (resistance value variation) of the resistance value-frequency conversion means of the thermometer, the count cutoff value can be obtained. Since the counting time of can be adjusted to be shorter or longer, it is possible to increase or decrease the counting result of the second signal pulse at the same temperature, and it is possible to display with high accuracy in all products by correcting the individual resistance difference. First
Since the initial value is not preset in the counting means prior to the counting of the pulse signal, the counting means does not need a frequency divider with a set, and the circuit configuration can be simplified. As the number of bits of the counting means increases, the circuit scale will be significantly reduced.
【0041】 セット制御信号が不要となるので、初
期値の設定タイミング回路やセット制御信号の生成回路
を省くことができ、回路構成の簡素化により小型軽量化
及び低コスト化を図ることができる。Since the set control signal is unnecessary, it is possible to omit the initial value setting timing circuit and the set control signal generating circuit, and it is possible to reduce the size, weight and cost by simplifying the circuit configuration.
【0042】 本発明では、計数時間決定手段により
測温行程毎に計数時間を決定する。この結果、第1のパ
ルス信号の計数値が計数打ち切り値に達するまでに要す
る時間が環境温度の変化によって多少長短変化した場合
でも、その環境温度により長短変化した計数時間をその
まま第2のパルス信号における計数時間として受け渡す
ようにしているため、環境温度変化による誤差が紛れ込
まず、また計数値の比を算出する必要がなく、第2のパ
ルス信号の計数値だけに基づいて温度表示ができるよう
になっている。このため、割算処理が不要で、回路系の
複雑さや素子形成領域の大規模化を回避でき、温度計の
小型軽量化を図れる。In the present invention, the counting time determining means determines the counting time for each temperature measurement process. As a result, even when the time required for the count value of the first pulse signal to reach the count cutoff value changes to some extent due to the change in the environmental temperature, the count time that has changed to a shorter value depending on the environmental temperature is used as it is for the second pulse signal. Since it is passed as the counting time in, the error due to the environmental temperature change is not mixed up, and it is not necessary to calculate the ratio of the count values, and the temperature can be displayed only based on the count value of the second pulse signal. It has become. Therefore, the division process is not necessary, the complexity of the circuit system and the enlargement of the element formation region can be avoided, and the thermometer can be made compact and lightweight.
【図1】本発明の一実施例のブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of the present invention.
【図2】図1に示す分周回路と初期論理調整回路の構成
を示す回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram showing configurations of a frequency dividing circuit and an initial logic adjusting circuit shown in FIG.
【図3】従来例である特願昭59−17499号の実施
例のブロック図である。FIG. 3 is a block diagram of an example of Japanese Patent Application No. 59-17499, which is a conventional example.
【図4】従来例である特願昭59−17499号の実施
例の分周回路と制御回路の構成を示す回路図である。FIG. 4 is a circuit diagram showing a configuration of a frequency dividing circuit and a control circuit of a conventional example of Japanese Patent Application No. 59-17499.
1…抵抗値−周波数変換回路 2…分周回路(計数手段) 3…基準抵抗とサーミスタの抵抗値の補正を行う初期論
理調整回路 4…一定のクロックを発生する発振回路 5…計数時間を決める分周回路 6…分周回路2をリセットするリセット信号入力ライン 7〜10…調整データを入力する論理調整データ入力ラ
イン 11…NOR回路 12…ラッチ回路 13…デコーダ 14…液晶表示盤(LCD) 15〜22…リセット付1/2分周回路 23…分周回路2の入力信号ライン 24〜27…EXOR回路 28、30、39〜45…インバータ 29、44…多入力NANDゲート 31〜34…プルアップ用PチャネルMOSトランジス
タ 35…電源Vssに接続されている端子 36…電源Vddに接続されている端子 37…初期論理調整データの初期セットを行える分周回
路 38…制御回路 47〜50…制セット信号入力ライン 60…ゲート設定出力回路 61…初期値設定回路 101…サーミスタ 102…基準抵抗。DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Resistance value-frequency conversion circuit 2 ... Frequency divider circuit (counting means) 3 ... Initial logic adjustment circuit for correcting resistance values of reference resistance and thermistor 4 ... Oscillation circuit for generating constant clock 5 ... Counting time is determined Frequency dividing circuit 6 ... Reset signal input line for resetting the frequency dividing circuit 7-10 ... Logical adjustment data input line for inputting adjustment data 11 ... NOR circuit 12 ... Latch circuit 13 ... Decoder 14 ... Liquid crystal display (LCD) 15 -22 ... 1/2 divider circuit with reset 23 ... Input signal line of divider circuit 24-27 ... EXOR circuit 28, 30, 39-45 ... Inverter 29, 44 ... Multi-input NAND gate 31-34 ... Pull-up P-channel MOS transistor 35 ... Terminal connected to power supply Vss 36 ... Terminal connected to power supply Vdd 37 ... Initial logic adjustment data A frequency dividing circuit 38 capable of performing initial setting of the data 38 ... Control circuits 47 to 50 ... Control set signal input line 60 ... Gate setting output circuit 61 ... Initial value setting circuit 101 ... Thermistor 102 ... Reference resistance.
Claims (1)
基準パルス信号と温度に感応して抵抗値変化する検出抵
抗の抵抗値に基づく周波数を持つ検出パルス信号とを切
り換え可能に発生する抵抗値−周波数変換手段を用いた
温度測定方法において、 前記基準パルス信号及び前記検出パルス信号の一方を第
1のパルス信号とすると共に他方を第2のパルス信号と
して、計数手段によりその計数打ち切り値に到るまで第
1のパルス信号を計数すると共に、前記計数手段の第1
のパルス信号の計数値が前記計数打ち切り値に達するま
で計数時間決定手段により計時パルスを計数して測温行
程毎前記計数時間を決定する第1のフェーズと、次い
で、前記計数手段をリセットしてから、前記計数手段に
より第1のパルス信号の計数時間と等しい計数時間に亘
り第2のパルス信号を計数し、第2のパルス信号の計数
結果をラッチしてこれに基づいて温度を表示する第2の
フェーズとを有しており、第1のフェーズに先立って抵
抗バラツキ補正用データに応じた前記計数打ち切り値を
設定することを特徴とする温度測定方法。1. A resistance value which is switchably generated between a reference pulse signal having a frequency based on the resistance value of the reference resistance and a detection pulse signal having a frequency based on the resistance value of the detection resistance whose resistance value changes in response to temperature. In the temperature measuring method using the frequency conversion means, one of the reference pulse signal and the detection pulse signal is used as a first pulse signal and the other is used as a second pulse signal, and the counting means reaches the count cutoff value. Counting the first pulse signal until
The first phase in which the counting time is determined by the counting time determining means to determine the counting time for each temperature measurement step until the count value of the pulse signal reaches the counting cutoff value, and then the counting means is reset. From the above, the counting means counts the second pulse signal for a counting time equal to the counting time of the first pulse signal, latches the counting result of the second pulse signal, and displays the temperature based on this. A temperature measurement method, which has two phases, and sets the count-off value according to the resistance variation correction data prior to the first phase.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7474095A JP2527695B2 (en) | 1995-03-31 | 1995-03-31 | Temperature measurement method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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KR101298301B1 (en) * | 2011-09-23 | 2013-08-20 | 삼성전기주식회사 | Device for measuring temperature |
CN104515609A (en) * | 2013-09-26 | 2015-04-15 | 深圳市海洋王照明工程有限公司 | Temperature control circuit and LED illuminating device |
-
1995
- 1995-03-31 JP JP7474095A patent/JP2527695B2/en not_active Expired - Lifetime
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007078440A (en) * | 2005-09-13 | 2007-03-29 | Seiko Epson Corp | R/f conversion circuit and semiconductor integrated circuit equipped therewith |
KR101298301B1 (en) * | 2011-09-23 | 2013-08-20 | 삼성전기주식회사 | Device for measuring temperature |
CN104515609A (en) * | 2013-09-26 | 2015-04-15 | 深圳市海洋王照明工程有限公司 | Temperature control circuit and LED illuminating device |
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