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JPH07122808A - Semiconductor laser modulation circuit device - Google Patents

Semiconductor laser modulation circuit device

Info

Publication number
JPH07122808A
JPH07122808A JP26920493A JP26920493A JPH07122808A JP H07122808 A JPH07122808 A JP H07122808A JP 26920493 A JP26920493 A JP 26920493A JP 26920493 A JP26920493 A JP 26920493A JP H07122808 A JPH07122808 A JP H07122808A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor laser
transmission line
heat sink
metal
circuit device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP26920493A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshizo Honda
芳三 本多
Hiroyuki Ota
裕之 太田
Tokuyasu Oki
十九康 沖
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TERA TEC KK
Original Assignee
TERA TEC KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TERA TEC KK filed Critical TERA TEC KK
Priority to JP26920493A priority Critical patent/JPH07122808A/en
Publication of JPH07122808A publication Critical patent/JPH07122808A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide a semiconductor laser modulation circuit device wherein parasitic inductance can be lowered and a semiconductor laser can be modulated at high frequencies. CONSTITUTION:As a means for connecting an electrode of a semiconductor laser 1 to transmission paths 51, 52, a metallic surface of a heat sink 2 is used to directly connect them, and a metallic wire is made unnecessary. Furthermore, since an upper electrode of the semiconductor laser 1 and the transmission path 51 are connected through a metallic wire 32 via a metallic block 31 whose height is approximately the same as that of the upper electrode of the semiconductor laser 1, the length of a metallic wire can be shortened. Furthermore, since influence of stress which works on an upper electrode of a semiconductor laser is small, a sectional area of a metallic wire can be enlarged.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、超高速光通信等に係
り、高速変調可能な半導体レーザ装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to ultra-high-speed optical communication and the like, and relates to a semiconductor laser device capable of high-speed modulation.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体レーザを高速に変調する半導体レ
ーザ変調回路装置において、高周波における反射特性・
伝達特性の改善は、通常、50Ωのインピーダンスを持
つ変調信号源装置との接続を行う半導体レーザの実装構
造に左右される。
2. Description of the Related Art In a semiconductor laser modulation circuit device for modulating a semiconductor laser at high speed, reflection characteristics at high frequencies
The improvement of the transfer characteristic usually depends on the mounting structure of the semiconductor laser which is connected to the modulation signal source device having the impedance of 50Ω.

【0003】例えば、実装構造の一例として、特開平3
−116990がある。これを参考にした実装構造の従
来技術について、図4および5図を参照して説明する。
図4は、従来の半導体レーザ変調回路装置の回路構成を
示す等価回路図である。半導体レーザ1には、2つの伝
送路51,52の一端が接続され、伝送路52の他端は
終端器7で終端される。一方、伝送路51の他端には変
調信号源9が接続される。
For example, as an example of a mounting structure, Japanese Patent Laid-Open No.
There is -116990. The prior art of the mounting structure with reference to this will be described with reference to FIGS.
FIG. 4 is an equivalent circuit diagram showing a circuit configuration of a conventional semiconductor laser modulation circuit device. One ends of two transmission lines 51 and 52 are connected to the semiconductor laser 1, and the other end of the transmission line 52 is terminated by a terminator 7. On the other hand, the modulation signal source 9 is connected to the other end of the transmission path 51.

【0004】半導体レーザ1は、およそ3〜8Ωの範囲
のインピーダンスを持つ素子であり、変調信号源9は、
通常、50Ωのインピーダンスを有する。このように、
伝送路51,52に挟まれた素子(図4では半導体レー
ザ1)のインピーダンスが比較的小さいならば、伝送路
51,52の特性インピーダンスをおよそ50Ωに設計
することにより、インピーダンスの違いによる反射の影
響を実用上、小さくすることが期待できる。
The semiconductor laser 1 is an element having an impedance in the range of approximately 3 to 8Ω, and the modulation signal source 9 is
It usually has an impedance of 50Ω. in this way,
If the impedance of the element sandwiched between the transmission lines 51 and 52 (semiconductor laser 1 in FIG. 4) is relatively small, the characteristic impedance of the transmission lines 51 and 52 is designed to be about 50Ω, so that the reflection due to the difference in impedance is caused. The effect can be expected to be small in practice.

【0005】図5は従来の半導体レーザ変調回路装置の
構造を示す斜視図である。図において、図4の回路図を
具体化するために、ヒートシンク2、金属ワイヤ32、
33、基板41,42、金属ベース6、光学素子8を付
加した構成である。光学素子8は、半導体レーザ1から
の光出力を外部へ導出する。伝送路51は、基板41お
よび金属ベース6とともにマイクロストリップ線路を形
成しており、伝送路52は、基板42および金属ベース
6とともにマイクロストリップ線路を形成している。伝
送路51と半導体レーザ1との接続には、金属ワイヤ3
2を用いる。この「金属ワイヤ」とは、ボンディング技
術により電気的接続を得るもので、通常、金線が用いら
れており、以下の説明では、その断面が円形であるもの
と、断面が横に広がったリボン状のものを含むことにす
る。
FIG. 5 is a perspective view showing the structure of a conventional semiconductor laser modulation circuit device. In the figure, in order to embody the circuit diagram of FIG. 4, a heat sink 2, metal wires 32,
33, the substrates 41 and 42, the metal base 6, and the optical element 8 are added. The optical element 8 guides the optical output from the semiconductor laser 1 to the outside. The transmission line 51 forms a microstrip line with the substrate 41 and the metal base 6, and the transmission line 52 forms a microstrip line with the substrate 42 and the metal base 6. For connecting the transmission line 51 and the semiconductor laser 1, a metal wire 3
2 is used. The "metal wire" is used to obtain an electrical connection by a bonding technique, and a gold wire is usually used. In the following description, a cross section of which is circular and a ribbon whose cross section is spread laterally. I will include things like.

【0006】一方、伝送路52と半導体レーザ1との接
続には、ヒートシンク2と金属ワイヤ33とを用いる。
ヒートシンク2は、本来、半導体レーザ1が発生する熱
を放熱する目的のために用いられるものであり、熱伝導
率の良い誘電体が用いられ、図5では金属ベース6に熱
を逃がしている。このヒートシンク2の上面全体は、金
属面となっており、半導体レーザ1の下部電極と金属ワ
イヤ33との電気的接続は、この金属面を介して行われ
る。
On the other hand, the heat sink 2 and the metal wire 33 are used to connect the transmission line 52 and the semiconductor laser 1.
The heat sink 2 is originally used for the purpose of radiating the heat generated by the semiconductor laser 1, and is made of a dielectric material having a good thermal conductivity, and the heat is radiated to the metal base 6 in FIG. The entire upper surface of the heat sink 2 is a metal surface, and the lower electrode of the semiconductor laser 1 and the metal wire 33 are electrically connected through this metal surface.

【0007】なお、図5では、半導体レーザ1の下部電
極が接続される伝送路52は、終端されており、半導体
レーザ1の上部電極が接続される伝送路51に変調信号
が入力されている。以下の説明においても便宜上、同じ
記述をするが、半導体レーザ1の下部電極が接続される
伝送路52に変調信号を入力し、半導体レーザ1の上部
電極が接続される伝送路51を終端する構造であって
も、著しい相違は無いものとする。
In FIG. 5, the transmission line 52 to which the lower electrode of the semiconductor laser 1 is connected is terminated, and the modulation signal is input to the transmission line 51 to which the upper electrode of the semiconductor laser 1 is connected. . In the following description, the same description is given for convenience, but a structure in which a modulation signal is input to the transmission line 52 to which the lower electrode of the semiconductor laser 1 is connected and the transmission line 51 to which the upper electrode of the semiconductor laser 1 is connected is terminated. However, there is no significant difference.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した図
5の構造を持つ半導体レーザ変調回路装置では、金属ワ
イヤ32,33による寄生インダクタンスのため、周波
数が高くなるとインピーダンスが上昇し多重反射が増加
し、波形劣化等が生じるとともに、半導体レーザ1への
高周波印加効率、すなわち伝達特性が低下するという問
題が生じる。上記寄生インダクタンスは、図4の回路図
に現れない回路要素であるが、高周波特性を左右する重
要な要素である。
By the way, in the semiconductor laser modulation circuit device having the structure of FIG. 5 described above, due to the parasitic inductance due to the metal wires 32 and 33, the impedance increases and the multiple reflection increases as the frequency increases. However, there is a problem in that the high-frequency application efficiency to the semiconductor laser 1, that is, the transfer characteristic is deteriorated, along with the waveform deterioration and the like. The parasitic inductance is a circuit element that does not appear in the circuit diagram of FIG. 4, but is an important element that influences high frequency characteristics.

【0009】上記寄生インダクタンスを低減するには、
金属ワイヤの断面積を大きくしたり、複数本の金属ワイ
ヤを並べて接続したり、あるいは、金属ワイヤの長さを
短くすればよい。しかしながら、実効的な断面積が増大
すると、熱膨張率が異なる物質同士を、物理的に、強固
に結合することになる。このため、例えば、金属ワイヤ
が半導体レーザ1の上部電極に作用する応力により、半
導体レーザが歪み、正常な動作を阻害するという欠点を
有する。次に、長さについては、短ければ短いほど改善
されるが、半導体レーザ1、およびヒートシンク2の寸
法により、金属ワイヤ長の短縮化には限界があるため、
結果的に、変調周波数の上限を高くできないという問題
がある。
To reduce the parasitic inductance,
The cross-sectional area of the metal wire may be increased, a plurality of metal wires may be arranged and connected, or the length of the metal wire may be shortened. However, when the effective cross-sectional area is increased, the substances having different thermal expansion coefficients are physically and firmly bonded to each other. Therefore, for example, there is a drawback in that the semiconductor laser is distorted due to the stress exerted by the metal wire on the upper electrode of the semiconductor laser 1, and the normal operation is hindered. Next, with respect to the length, the shorter the length, the more improved, but there is a limit to the reduction of the metal wire length due to the dimensions of the semiconductor laser 1 and the heat sink 2.
As a result, there is a problem that the upper limit of the modulation frequency cannot be increased.

【0010】この発明は上述した事情に鑑みてなされた
もので、寄生インダクタンスを低下でき、半導体レーザ
を高周波で変調できる半導体レーザ変調回路装置を提供
することを目的としている。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a semiconductor laser modulation circuit device which can reduce the parasitic inductance and can modulate a semiconductor laser at a high frequency.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上述した問題点を解決す
るために、請求項1記載の発明では、上部電極と下部電
極を有する半導体レーザと、前記半導体レーザに接する
ヒートシンクと、前記半導体レーザの上部電極に一端が
電気的に接続される第1の伝送路と、前記半導体レーザ
の下部電極に一端が電気的に接続される第2の伝送路と
を具備する半導体レーザ変調回路装置において、前記ヒ
ートシンクは前記半導体レーザの下部電極に電気的に接
続された金属面を有し、前記第2の伝送路は前記金属面
を介して前記半導体レーザの下部電極と電気的に接続さ
れることを特徴とする。
In order to solve the above-mentioned problems, according to the invention of claim 1, a semiconductor laser having an upper electrode and a lower electrode, a heat sink in contact with the semiconductor laser, and a semiconductor laser of the semiconductor laser are provided. A semiconductor laser modulation circuit device comprising: a first transmission line whose one end is electrically connected to an upper electrode; and a second transmission line whose one end is electrically connected to a lower electrode of the semiconductor laser. The heat sink has a metal surface electrically connected to the lower electrode of the semiconductor laser, and the second transmission line is electrically connected to the lower electrode of the semiconductor laser via the metal surface. And

【0012】また、請求項2記載の発明では、請求項1
記載の半導体レーザ変調回路装置において、前記第1の
伝送路上に固定され、前記半導体レーザの上部電極とほ
ぼ同じ高さの金属ブロックを有し、前記半導体レーザ1
の上部電極と前記第1の伝送路とは、金属ワイヤによっ
て電気的に接続されることを特徴とする。
According to the invention described in claim 2,
In the semiconductor laser modulation circuit device described above, the semiconductor laser 1 has a metal block fixed on the first transmission line and having substantially the same height as an upper electrode of the semiconductor laser.
The upper electrode and the first transmission line are electrically connected by a metal wire.

【0013】また、請求項3記載の発明では、請求項1
記載の半導体レーザ変調回路装置において、前記ヒート
シンクとほぼ同一の厚さを有し、上部に前記第1の伝送
路および前記第2の伝送路が形成され、その下面が金属
ベースに接する基板に、前記金属ベースに達する穴部を
設け、前記ヒートシンクを前記穴部の中に配置し、前記
ヒートシンクの金属面と前記第2の伝送路とを直接接続
することを特徴とする。
In the invention according to claim 3, the invention according to claim 1
In the semiconductor laser modulation circuit device as described above, a substrate having substantially the same thickness as the heat sink, the first transmission path and the second transmission path are formed in an upper portion, and a lower surface of the substrate is in contact with a metal base, A hole reaching the metal base is provided, the heat sink is arranged in the hole, and the metal surface of the heat sink and the second transmission line are directly connected.

【0014】[0014]

【作用】請求項1記載の発明によれば、ヒートシンクの
適当な金属面により、半導体レーザの下部電極と第2の
伝送路とを直接接続する。このため、金属ワイヤが不要
となり、下部電極と第2の伝送路との接続長は短縮され
る。
According to the first aspect of the present invention, the lower electrode of the semiconductor laser and the second transmission line are directly connected to each other by a suitable metal surface of the heat sink. Therefore, no metal wire is required, and the connection length between the lower electrode and the second transmission line is shortened.

【0015】また、請求項2記載の発明によれば、半導
体レーザの上部電極と、ほぼ同じ高さの金属ブロックの
上面とを金属ワイヤで接続する。このため、金属ワイヤ
の長さが短くでき、かつ、半導体レーザの上部電極に作
用する応力の影響が小さいため、金属ワイヤの断面積を
大きくできる。
According to the second aspect of the present invention, the upper electrode of the semiconductor laser and the upper surface of the metal block having substantially the same height are connected by a metal wire. Therefore, the length of the metal wire can be shortened, and the influence of the stress acting on the upper electrode of the semiconductor laser is small, so that the cross-sectional area of the metal wire can be increased.

【0016】さらに、請求項3記載の発明によれば、基
板に設けられた穴部の中にヒートシンクを埋め込むこと
により、ヒートシンクの金属面と第2の伝送路とを直接
接続する。このため、接続長が高さの違いによる分だけ
さらに短くなる。
According to the third aspect of the invention, the metal surface of the heat sink is directly connected to the second transmission line by embedding the heat sink in the hole provided in the substrate. Therefore, the connection length is further shortened by the difference in height.

【0017】[0017]

【実施例】次に図面を参照してこの発明の実施例につい
て説明する。図1は、本発明の一実施例である半導体レ
ーザ変調回路装置の構造を示す斜視図である。また、図
2は同半導体レーザ変調回路装置の一部の構造を示す断
面図である。なお、図5に対応する部分には同一の符号
を付けて説明を省略する。これら図1および図2におい
て、ヒートシンク2の全ての表面は、金属面で構成され
ている。半導体レーザ1の下部電極はヒートシンク2の
上面と接し、伝送路52はヒートシンク2の下面と接す
るように設けられる。すなわち、半導体レーザ1の下部
電極と伝送路52は電気的に接続されている。同様に、
図2に示す配置においても、ヒートシンク2の表面を部
分的に金属面にしても半導体レーザ1の下部電極と伝送
路52の電気的接続を得る方法は容易に考えられること
は言うまでもない。
Embodiments of the present invention will now be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a perspective view showing the structure of a semiconductor laser modulation circuit device which is an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a sectional view showing the structure of part of the semiconductor laser modulation circuit device. Note that the portions corresponding to those in FIG. In FIGS. 1 and 2, all the surfaces of the heat sink 2 are made of metal. The lower electrode of the semiconductor laser 1 is provided in contact with the upper surface of the heat sink 2, and the transmission path 52 is provided in contact with the lower surface of the heat sink 2. That is, the lower electrode of the semiconductor laser 1 and the transmission line 52 are electrically connected. Similarly,
Even in the arrangement shown in FIG. 2, it goes without saying that a method of electrically connecting the lower electrode of the semiconductor laser 1 and the transmission line 52 can be easily considered even if the surface of the heat sink 2 is partially made of a metal surface.

【0018】また、伝送路51側には、半導体レーザ1
の上部電極とほぼ同じ高さの金属ブロック31が、該伝
送路51の上面に接して配置されている。金属ワイヤ3
2は、金属ブロック31の上面と半導体レーザ1の上部
電極との間を電気的に接続する。この断面積の小さい金
属ワイヤ32の長さは、伝送路52と半導体レーザ1の
上部電極の距離に比べて短くなる。なお、金属ワイヤ3
2を複数本並べて接続したり、断面積のより大きな金属
ワイヤ32を用いてもよく、この場合、さらに寄生イン
ダクタンスを小さくすることができる。
On the side of the transmission line 51, the semiconductor laser 1
A metal block 31 having substantially the same height as that of the upper electrode is disposed in contact with the upper surface of the transmission path 51. Metal wire 3
2 electrically connects the upper surface of the metal block 31 and the upper electrode of the semiconductor laser 1. The length of the metal wire 32 having a small cross-sectional area is shorter than the distance between the transmission line 52 and the upper electrode of the semiconductor laser 1. The metal wire 3
Two or more wires 2 may be arranged side by side and connected, or a metal wire 32 having a larger cross-sectional area may be used. In this case, the parasitic inductance can be further reduced.

【0019】この第1の実施例によれば、ヒートシンク
2を伝送路52に、直接、接続することにより、図5に
示す金属ワイヤ33が不要となり、寄生インダクタンス
が低下し、半導体レーザ1を高速に変調できる。さら
に、半導体レーザ1の上部電極と伝送路51とが、半導
体レーザ1の上部電極と同じ高さの金属ブロック31を
介して、金属ワイヤ32により接続されるので、金属ワ
イヤ32の長さが必要最小限でよく、寄生インダクタン
スが低下し、半導体レーザ1を高速に変調できる。ま
た、金属ワイヤ32が半導体レーザ1の上部電極に作用
する応力が最小限に抑えられることにより、半導体レー
ザの歪みを防止し、正常な動作を阻害しないという利点
が得られる。
According to the first embodiment, by directly connecting the heat sink 2 to the transmission line 52, the metal wire 33 shown in FIG. 5 is unnecessary, the parasitic inductance is reduced, and the semiconductor laser 1 is driven at high speed. Can be modulated to. Further, since the upper electrode of the semiconductor laser 1 and the transmission line 51 are connected by the metal wire 32 via the metal block 31 having the same height as the upper electrode of the semiconductor laser 1, the length of the metal wire 32 is required. The minimum is sufficient, the parasitic inductance is reduced, and the semiconductor laser 1 can be modulated at high speed. In addition, since the stress applied to the upper electrode of the semiconductor laser 1 by the metal wire 32 is suppressed to the minimum, there is an advantage that the distortion of the semiconductor laser is prevented and the normal operation is not disturbed.

【0020】次に、本発明の第2の実施例について図3
を参照して説明する。図3は、第2の実施例における半
導体レーザ変調回路装置の一部構成を示す断面図であ
る。図において、基板4には、穴部49が設けられて
り、この穴部49にヒートシンク2の一部(ほぼ全部)
が配置されている。図示する太線部が金属面50であ
る。半導体レーザ1の下部電極はヒートシンク2の上面
の金属面50と接し、伝送路52の端部がヒートシンク
2の上面の金属面50と直接、接するようになってい
る。
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
Will be described with reference to. FIG. 3 is a sectional view showing a partial configuration of the semiconductor laser modulation circuit device in the second embodiment. In the drawing, a hole portion 49 is provided in the substrate 4, and a part (almost all) of the heat sink 2 is provided in the hole portion 49.
Are arranged. The thick line portion shown is the metal surface 50. The lower electrode of the semiconductor laser 1 contacts the metal surface 50 on the upper surface of the heat sink 2, and the end of the transmission path 52 directly contacts the metal surface 50 on the upper surface of the heat sink 2.

【0021】また、導電材料片34は、伝送路52の端
部とヒートシンク2の金属面50との電気的接続を確実
にするためのものであり、導電性樹脂、半田、もしくは
金属片などを適宜用いる。半導体レーザ1の下部電極と
伝送路52の接続長は、この実施例に示す構造がヒート
シンク2の寸法で決まる幾何学的距離の下限値である。
また、同じ図3の配置に対して、ヒートシンク2の金属
面50の設計は、図示の例の他にも容易に考えられるこ
とはいうまでもない。
The conductive material piece 34 is for ensuring the electrical connection between the end of the transmission path 52 and the metal surface 50 of the heat sink 2, and is made of conductive resin, solder, or a metal piece. Use as appropriate. The connection length between the lower electrode of the semiconductor laser 1 and the transmission line 52 is the lower limit of the geometrical distance determined by the size of the heat sink 2 in the structure shown in this embodiment.
Further, it is needless to say that the design of the metal surface 50 of the heat sink 2 can be easily considered other than the illustrated example with respect to the same arrangement of FIG.

【0022】なお、図3では、半導体レーザ1の上部電
極と伝送路51の高さが同一でない場合には、図1もし
くは図2と同様に、金属ブロック31を介して、半導体
レーザ1の上部電極と伝送路51とを金属ワイヤ32に
より接続するが、これらの高さがほぼ同じ場合には、半
導体レーザ1の上部電極に作用する応力の影響が小さい
ため、図3に示すように、金属ブロック31を設けなく
てもよい。
In FIG. 3, when the height of the upper electrode of the semiconductor laser 1 and the transmission line 51 are not the same, the upper portion of the semiconductor laser 1 is connected via the metal block 31 as in FIG. 1 or 2. The electrodes and the transmission line 51 are connected by the metal wires 32. When the heights of the electrodes are almost the same, the influence of the stress acting on the upper electrode of the semiconductor laser 1 is small, and therefore, as shown in FIG. The block 31 may not be provided.

【0023】上述した第2の実施例では、図2に示す構
造の半導体レーザ変調回路装置に比べて放熱について有
利な点がある。それは、半導体レーザ変調回路装置にお
いて、ヒートシンク2、金属ベース6、基板4で通常用
いられる材料は、例えば、順に、ダイアモンド、銅、ア
ルミナであるが、熱伝導率については、前者2つがほぼ
同程度であるのに対して、基板4はそれに比べて一桁ほ
ど小さい。図2に示す第1の実施例では、半導体レーザ
1の熱は、ヒートシンク2から基板4を経て金属ベース
6に逃げていく。これに対して、図3に示す第3の実施
例では、半導体レーザ1の熱は、ヒートシンク2から直
接金属ベース6へ逃げていく。このため、図3に示す構
造は放熱の点で有利である。
The above-described second embodiment has an advantage in heat dissipation as compared with the semiconductor laser modulation circuit device having the structure shown in FIG. In the semiconductor laser modulation circuit device, the materials that are usually used for the heat sink 2, the metal base 6, and the substrate 4 are, for example, diamond, copper, and alumina in that order, but the former two have about the same thermal conductivity. On the other hand, the substrate 4 is smaller than that by an order of magnitude. In the first embodiment shown in FIG. 2, the heat of the semiconductor laser 1 escapes from the heat sink 2 to the metal base 6 via the substrate 4. On the other hand, in the third embodiment shown in FIG. 3, the heat of the semiconductor laser 1 escapes from the heat sink 2 directly to the metal base 6. Therefore, the structure shown in FIG. 3 is advantageous in terms of heat dissipation.

【0024】このように、第2の実施例では、基板4の
穴部49の中にヒートシンク2を配置するので、伝送路
52の端部がヒートシンク2の上面の金属面50と、直
接、接するため、図5に示す金属ワイヤ33が不要とな
り、寄生インダクタンスを小さくできると共に、ヒート
シンク2が金属ベース6と熱的に接することにより、半
導体レーザ1の放熱が良好で、かつ半導体レーザ1を高
速に変調できる。
As described above, in the second embodiment, since the heat sink 2 is arranged in the hole 49 of the substrate 4, the end of the transmission line 52 directly contacts the metal surface 50 on the upper surface of the heat sink 2. Therefore, the metal wire 33 shown in FIG. 5 is not necessary, the parasitic inductance can be reduced, and the heat sink 2 is in thermal contact with the metal base 6, so that the heat dissipation of the semiconductor laser 1 is good and the semiconductor laser 1 can be operated at high speed. Can be modulated.

【0025】[0025]

【発明の効果】以上、説明したように、請求項1記載の
発明によれば、ヒートシンクの適当な金属面により、半
導体レーザの下部電極と第2の伝送路とを直接接続す
る。このため、金属ワイヤが不要となり、下部電極と第
2の伝送路との接続長は短縮される。この結果、寄生イ
ンダクタンスが低下し、半導体レーザを高周波で変調で
きるという利点が得られる。
As described above, according to the first aspect of the invention, the lower electrode of the semiconductor laser and the second transmission line are directly connected by the appropriate metal surface of the heat sink. Therefore, no metal wire is required, and the connection length between the lower electrode and the second transmission line is shortened. As a result, the parasitic inductance is reduced, and the semiconductor laser can be modulated at a high frequency.

【0026】また、請求項2記載の発明によれば、半導
体レーザの上部電極と、これとほぼ同じ高さの金属ブロ
ックの上面とを金属ワイヤで接続する。このため、金属
ワイヤの長さが短くでき、かつ、半導体レーザの上部電
極に作用する応力の影響が小さいため、金属ワイヤの断
面積を大きくできる。この結果、寄生インダクタンスが
低下し、半導体レーザを高周波で変調できるという利点
が得られる。
According to the second aspect of the present invention, the upper electrode of the semiconductor laser and the upper surface of the metal block having substantially the same height as that of the upper electrode are connected by a metal wire. Therefore, the length of the metal wire can be shortened, and the influence of the stress acting on the upper electrode of the semiconductor laser is small, so that the cross-sectional area of the metal wire can be increased. As a result, the parasitic inductance is reduced, and the semiconductor laser can be modulated at a high frequency.

【0027】さらに、請求項3記載の発明によれば、基
板に設けられた穴部の中にヒートシンクを埋め込むこと
により、ヒートシンクの金属面と第2の伝送路とを直接
接続する。このため、接続長が高さの違いによる分だけ
さらに短くなる。この結果、寄生インダクタンスを小さ
くできると共に、ヒートシンクが金属ベースと熱的に接
することにより、半導体レーザの放熱が良好で、かつ半
導体レーザを高周波で変調できるという利点が得られ
る。
According to the third aspect of the invention, the metal surface of the heat sink and the second transmission line are directly connected by embedding the heat sink in the hole provided in the substrate. Therefore, the connection length is further shortened by the difference in height. As a result, the parasitic inductance can be reduced, and the heat sink is in thermal contact with the metal base, so that the heat dissipation of the semiconductor laser is good and the semiconductor laser can be modulated at a high frequency.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1の実施例の半導体レーザ変調回路
装置の構造を示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing a structure of a semiconductor laser modulation circuit device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】同第1の実施例の半導体レーザ変調回路装置の
断面図である。
FIG. 2 is a sectional view of the semiconductor laser modulation circuit device according to the first embodiment.

【図3】本発明の第2の実施例における半導体レーザ変
調回路装置の断面図である。
FIG. 3 is a sectional view of a semiconductor laser modulation circuit device according to a second embodiment of the present invention.

【図4】従来の半導体レーザ変調回路装置の回路図であ
る。
FIG. 4 is a circuit diagram of a conventional semiconductor laser modulation circuit device.

【図5】従来の半導体レーザ変調回路装置の構造を示す
斜視図である。
FIG. 5 is a perspective view showing a structure of a conventional semiconductor laser modulation circuit device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半導体レーザ 2 ヒートシンク 4,41,42 基板 6 金属ベース 7 終端器 8 光学素子 9 変調信号源 31 金属ブロック 32,33 金属ワイヤ 49 穴部 50 金属面 51 伝送路(第1の伝送路) 52 伝送路(第2の伝送路) 1 Semiconductor Laser 2 Heat Sink 4, 41, 42 Substrate 6 Metal Base 7 Terminator 8 Optical Element 9 Modulation Signal Source 31 Metal Block 32, 33 Metal Wire 49 Hole 50 Metal Surface 51 Transmission Line (First Transmission Line) 52 Transmission Path (second transmission path)

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 上部電極と下部電極を有する半導体レー
ザと、前記半導体レーザに接するヒートシンクと、前記
半導体レーザの上部電極に一端が電気的に接続される第
1の伝送路と、前記半導体レーザの下部電極に一端が電
気的に接続される第2の伝送路とを具備する半導体レー
ザ変調回路装置において、 前記ヒートシンクは前記半導体レーザの下部電極に電気
的に接続された金属面を有し、 前記第2の伝送路は前記金属面を介して前記半導体レー
ザの下部電極と電気的に接続されることを特徴とする半
導体レーザ変調回路装置。
1. A semiconductor laser having an upper electrode and a lower electrode, a heat sink in contact with the semiconductor laser, a first transmission line whose one end is electrically connected to an upper electrode of the semiconductor laser, and a semiconductor laser of the semiconductor laser. A semiconductor laser modulation circuit device comprising: a second transmission line whose one end is electrically connected to the lower electrode, wherein the heat sink has a metal surface electrically connected to the lower electrode of the semiconductor laser, The semiconductor laser modulation circuit device, wherein the second transmission line is electrically connected to the lower electrode of the semiconductor laser via the metal surface.
【請求項2】 前記第1の伝送路上に固定され、前記半
導体レーザの上部電極とほぼ同じ高さの金属ブロックを
有し、 前記半導体レーザ1の上部電極と前記第1の伝送路と
は、金属ワイヤによって電気的に接続されることを特徴
とする請求項1記載の半導体レーザ変調回路装置。
2. A metal block fixed on the first transmission line and having substantially the same height as an upper electrode of the semiconductor laser, wherein the upper electrode of the semiconductor laser 1 and the first transmission line are: The semiconductor laser modulation circuit device according to claim 1, wherein the semiconductor laser modulation circuit device is electrically connected by a metal wire.
【請求項3】 前記ヒートシンクとほぼ同一の厚さを有
し、上部に前記第1の伝送路および前記第2の伝送路が
形成され、その下面が金属ベースに接する基板に、前記
金属ベースに達する穴部を設け、前記ヒートシンクを前
記穴部の中に配置し、前記ヒートシンクの金属面と前記
第2の伝送路とを直接接続することを特徴とする請求項
1記載の半導体レーザ変調回路装置。
3. A substrate having substantially the same thickness as that of the heat sink, the first transmission line and the second transmission line being formed in an upper portion, the lower surface of which is in contact with a metal base, and the metal base being in contact with the metal base. 2. The semiconductor laser modulation circuit device according to claim 1, wherein a hole reaching the hole is provided, the heat sink is arranged in the hole, and the metal surface of the heat sink and the second transmission line are directly connected. .
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