JPH07111305A - 半導体装置の製造方法及びこれに使用する金属支持枠及びモールド金型 - Google Patents
半導体装置の製造方法及びこれに使用する金属支持枠及びモールド金型Info
- Publication number
- JPH07111305A JPH07111305A JP25451193A JP25451193A JPH07111305A JP H07111305 A JPH07111305 A JP H07111305A JP 25451193 A JP25451193 A JP 25451193A JP 25451193 A JP25451193 A JP 25451193A JP H07111305 A JPH07111305 A JP H07111305A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resin
- package
- molding
- air vent
- supporting frame
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
- Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は樹脂モールドによる半導体装置の製
造方法に関し、製造工程の削減、歩留り向上によるコス
ト低減を図ることを目的とする。 【構成】 リードフレーム21のステージ23を支持す
るサポートバー22b〜22dの所定部分にモールド樹
脂注入時のエア抜きのための穴部24a〜24cを形成
する。そして、モールド後に形成された樹脂片29a〜
29cを、切断整形工程においてリード切断と同時に切
断除去する構成とする。
造方法に関し、製造工程の削減、歩留り向上によるコス
ト低減を図ることを目的とする。 【構成】 リードフレーム21のステージ23を支持す
るサポートバー22b〜22dの所定部分にモールド樹
脂注入時のエア抜きのための穴部24a〜24cを形成
する。そして、モールド後に形成された樹脂片29a〜
29cを、切断整形工程においてリード切断と同時に切
断除去する構成とする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、樹脂モールドによる半
導体装置の製造方法に関する。
導体装置の製造方法に関する。
【0002】近年、ICは大容量、高機能が進められて
おり、リードの本数が増大し、パッケージの形状も大き
くなってきている。また、リード間ピッチの狭ピッチ化
等が進み、反面、密着性の良い新タイプ樹脂の開発によ
り、樹脂封止金型においてインナーリード変形、ボイ
ド、ピンホール、ワイヤー変形等の条件出し等のモール
ド成形条件が難しくなってきており、樹脂充填圧力アッ
プ等を行っている。その為、パッケージのコーナー部分
のエアベントが厚く成形されリードフレーム上の樹脂薄
バリ除去工程(ホーニング)の条件を向上させても樹脂
薄バリ除去が難しくなってきている。
おり、リードの本数が増大し、パッケージの形状も大き
くなってきている。また、リード間ピッチの狭ピッチ化
等が進み、反面、密着性の良い新タイプ樹脂の開発によ
り、樹脂封止金型においてインナーリード変形、ボイ
ド、ピンホール、ワイヤー変形等の条件出し等のモール
ド成形条件が難しくなってきており、樹脂充填圧力アッ
プ等を行っている。その為、パッケージのコーナー部分
のエアベントが厚く成形されリードフレーム上の樹脂薄
バリ除去工程(ホーニング)の条件を向上させても樹脂
薄バリ除去が難しくなってきている。
【0003】従って、良品の製作及び、設備の安定稼
働、稼働率アップ、作業安全の為には、樹脂封止金型、
樹脂封止方式、樹脂封止成形金型、樹脂封止成形方法、
部材等を改善する事が要求されている。
働、稼働率アップ、作業安全の為には、樹脂封止金型、
樹脂封止方式、樹脂封止成形金型、樹脂封止成形方法、
部材等を改善する事が要求されている。
【0004】
【従来の技術】図6に、従来の樹脂モールドの説明図を
示す。図6(A)〜(D)はクワッド型の半導体装置の
製造を示したもので、まず図6(A)において、リード
フレーム11のダイステージ(図に表われず)上に半導
体チップ(図に表われず)が搭載され、インナリード
(図に表われず)とワイヤボンディングされる。そし
て、モールド金型により樹脂モールドしてパッケージ1
2を形成する。
示す。図6(A)〜(D)はクワッド型の半導体装置の
製造を示したもので、まず図6(A)において、リード
フレーム11のダイステージ(図に表われず)上に半導
体チップ(図に表われず)が搭載され、インナリード
(図に表われず)とワイヤボンディングされる。そし
て、モールド金型により樹脂モールドしてパッケージ1
2を形成する。
【0005】この場合、モールド金型では、モールド樹
脂を充填するキャビティには、その一隅に樹脂注入ゲー
トのためのゲート用溝が形成されており、他の三隅に樹
脂注入時のエア抜きのためのエアベント(溝)が形成さ
れる。
脂を充填するキャビティには、その一隅に樹脂注入ゲー
トのためのゲート用溝が形成されており、他の三隅に樹
脂注入時のエア抜きのためのエアベント(溝)が形成さ
れる。
【0006】従って、図6(A)に示すように、リード
フレーム11上のパッケージ12のエアベント部分に樹
脂バリ12a〜12cとして残ることになる。そして、
この樹脂バリ12a〜12cをホーニング工程において
除去し、次工程の切断整形工程に移る。
フレーム11上のパッケージ12のエアベント部分に樹
脂バリ12a〜12cとして残ることになる。そして、
この樹脂バリ12a〜12cをホーニング工程において
除去し、次工程の切断整形工程に移る。
【0007】すなわち、図6(B),(C)に示すよう
に、切断整形金型のダイ及びパンチによりリードフレー
ム11の樹脂バリ12a〜12c部分を切断し、図6
(D)に示すようにリード(アウタリード)13が例え
ば表面実装用としてガルウィング形状に折曲される。
に、切断整形金型のダイ及びパンチによりリードフレー
ム11の樹脂バリ12a〜12c部分を切断し、図6
(D)に示すようにリード(アウタリード)13が例え
ば表面実装用としてガルウィング形状に折曲される。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところで、モールドに
使用される樹脂は、クラック等を防止するために密着性
の良いものが使用されてきており、これに伴い樹脂の充
填圧が高くなり、エアベント部分の樹脂バリ12a〜1
2cが厚くなる傾向にある。これにより、ホーニング工
程で樹脂バリ12a〜12cが充分に除去できず、次工
程の切断整形において、装置内搬送中に落下し、金型の
ダイ、パンチに付着し成形品に樹脂塵付着、樹脂打痕等
の製品障害を発生させている。
使用される樹脂は、クラック等を防止するために密着性
の良いものが使用されてきており、これに伴い樹脂の充
填圧が高くなり、エアベント部分の樹脂バリ12a〜1
2cが厚くなる傾向にある。これにより、ホーニング工
程で樹脂バリ12a〜12cが充分に除去できず、次工
程の切断整形において、装置内搬送中に落下し、金型の
ダイ、パンチに付着し成形品に樹脂塵付着、樹脂打痕等
の製品障害を発生させている。
【0009】また、図6(C),(D)に示すようにモ
ールド金型のエアベント部へ樹脂が付着し、ボイド、ピ
ンホール、未充填等の製品不良の発生の原因となってお
り、通常、3〜4時間費やして手作業により削って除去
する。この場合、モールド金型は高温である為、危険な
作業となる。
ールド金型のエアベント部へ樹脂が付着し、ボイド、ピ
ンホール、未充填等の製品不良の発生の原因となってお
り、通常、3〜4時間費やして手作業により削って除去
する。この場合、モールド金型は高温である為、危険な
作業となる。
【0010】このため、樹脂塵付着、樹脂打痕等の目視
検査や手作業による樹脂塵の除去等の手直し作業、及び
切断整形金型内の清掃作業等を行わなければならず、工
数の増加、設備の稼働率低下を招き、コスト高になると
いう問題がある。
検査や手作業による樹脂塵の除去等の手直し作業、及び
切断整形金型内の清掃作業等を行わなければならず、工
数の増加、設備の稼働率低下を招き、コスト高になると
いう問題がある。
【0011】そこで、本発明は上記課題に鑑みなされた
もので、製造工程の削減、歩留り向上によるコスト低減
を図る半導体装置の製造方法を提供することを目的とす
る。
もので、製造工程の削減、歩留り向上によるコスト低減
を図る半導体装置の製造方法を提供することを目的とす
る。
【0012】
【課題を解決するための手段】図1に、本発明の原理説
明図を示す。図1において、金属支持枠上に半導体チッ
プを搭載し、モールド金型内で樹脂モールドしてパッケ
ージングし、該パッケージより延出するリードを該金属
支持枠より切断して折曲する半導体装置の製造方法であ
って、第1の工程では、前記モールド金型内に、前記樹
脂モールド時のエア抜きのための所定厚さのエアベント
部が形成された前記金属支持枠を位置させて該樹脂モー
ルドを行う。第2の工程では、該樹脂モールド後、前記
パッケージより延出するリードを該金属支持枠より切断
すると同時に、該エアベント部に形成された樹脂片を切
断除去する。そして、第3の工程では、該パッケージよ
り延出するリードを所定形状に折曲する。
明図を示す。図1において、金属支持枠上に半導体チッ
プを搭載し、モールド金型内で樹脂モールドしてパッケ
ージングし、該パッケージより延出するリードを該金属
支持枠より切断して折曲する半導体装置の製造方法であ
って、第1の工程では、前記モールド金型内に、前記樹
脂モールド時のエア抜きのための所定厚さのエアベント
部が形成された前記金属支持枠を位置させて該樹脂モー
ルドを行う。第2の工程では、該樹脂モールド後、前記
パッケージより延出するリードを該金属支持枠より切断
すると同時に、該エアベント部に形成された樹脂片を切
断除去する。そして、第3の工程では、該パッケージよ
り延出するリードを所定形状に折曲する。
【0013】
【作用】上述のように、エアベント部が形成された金属
支持枠を使用することにより、樹脂モールドにおいて、
当該エアベント部にもモールド樹脂が注入されて樹脂片
が形成される。従来のモールド金型に形成されたエアベ
ント部においても樹脂片が形成されるが、金属支持枠に
形成するエアベント部を穴部等で形成する場合に、形成
される樹脂片の厚さが厚くなって金属支持枠とモールド
樹脂の密着が強くなり振動時による剥れが防止され樹脂
付着や樹脂打痕という障害を減少させることが可能とな
る。
支持枠を使用することにより、樹脂モールドにおいて、
当該エアベント部にもモールド樹脂が注入されて樹脂片
が形成される。従来のモールド金型に形成されたエアベ
ント部においても樹脂片が形成されるが、金属支持枠に
形成するエアベント部を穴部等で形成する場合に、形成
される樹脂片の厚さが厚くなって金属支持枠とモールド
樹脂の密着が強くなり振動時による剥れが防止され樹脂
付着や樹脂打痕という障害を減少させることが可能とな
る。
【0014】また、この樹脂片をホーニング工程ではな
くリードの切断整形工程で同時に除去することから、製
造工程が削減されると共に、製品の樹脂付着等を防止す
ることが可能となり、歩留り向上によるコストの低減を
図ることが可能となる。
くリードの切断整形工程で同時に除去することから、製
造工程が削減されると共に、製品の樹脂付着等を防止す
ることが可能となり、歩留り向上によるコストの低減を
図ることが可能となる。
【0015】
【実施例】図2に、本発明の第2実施例のリードフレー
ムの構成図を示す。図2(A)はリードフレームの部分
平面図、図2(B),(C)はモールド後の部分平面図
及び側部断面図である。
ムの構成図を示す。図2(A)はリードフレームの部分
平面図、図2(B),(C)はモールド後の部分平面図
及び側部断面図である。
【0016】図2(A)における金属支持枠であるリー
ドフレーム21は、クワッド型のものを示したもので、
中央部分に四隅でサポートバー22a〜22dにより支
持された四角形状のステージ23が配設される。このう
ち、サポートバー22a〜22dであって、後に形成す
るパッケージの四隅部分より外側に掛けてエアベント部
である穴部24a〜24cが形成される。なお、サポー
トバー22aの外側先端はモールド樹脂注入時の入口
(モールド金型のゲートに位置)となる。
ドフレーム21は、クワッド型のものを示したもので、
中央部分に四隅でサポートバー22a〜22dにより支
持された四角形状のステージ23が配設される。このう
ち、サポートバー22a〜22dであって、後に形成す
るパッケージの四隅部分より外側に掛けてエアベント部
である穴部24a〜24cが形成される。なお、サポー
トバー22aの外側先端はモールド樹脂注入時の入口
(モールド金型のゲートに位置)となる。
【0017】また、ステージ23の周囲には複数のリー
ド25が配設される。このリード25は後に切断される
タイバー26により連結されており、形成されるパッケ
ージ内に位置される部分がインナリード25aとなり、
パッケージの外部に延出する部分がアウタリード25b
となる。
ド25が配設される。このリード25は後に切断される
タイバー26により連結されており、形成されるパッケ
ージ内に位置される部分がインナリード25aとなり、
パッケージの外部に延出する部分がアウタリード25b
となる。
【0018】なお、リードフレーム21には位置決め用
孔などが形成される。
孔などが形成される。
【0019】このようなリードフレーム21のステージ
23上に半導体チップ27が載置され、インナリード2
5aとの間でワイヤボンディングされて該半導体チップ
27が搭載状態となる。
23上に半導体チップ27が載置され、インナリード2
5aとの間でワイヤボンディングされて該半導体チップ
27が搭載状態となる。
【0020】そこで、図2(A)に示す半導体チップ2
7が搭載されたリードフレーム21のパッケージングす
る部分を、モールド金型(図示せず)内のキャビティ内
に位置させ、モールド樹脂を上記サポートバー24a部
分より注入してパッケージングを行う。このモールド樹
脂注入時にキャビティ内のエアは、リードフレーム21
に形成された穴部24a〜24cによりエア抜きされ
る。この場合のモールド金型は穴部24a〜24cから
のエアを通す溝や孔が形成されているもので従来のもの
と同じである。
7が搭載されたリードフレーム21のパッケージングす
る部分を、モールド金型(図示せず)内のキャビティ内
に位置させ、モールド樹脂を上記サポートバー24a部
分より注入してパッケージングを行う。このモールド樹
脂注入時にキャビティ内のエアは、リードフレーム21
に形成された穴部24a〜24cによりエア抜きされ
る。この場合のモールド金型は穴部24a〜24cから
のエアを通す溝や孔が形成されているもので従来のもの
と同じである。
【0021】そして、図2(B)に示すように、リード
フレーム21にはパッケージ28が形成され、穴部24
a〜24cに対応する部分に樹脂片29a〜29cが一
体に形成される。この樹脂片29a〜29cは、図2
(C)に示すようにパッケージ28に、リードフレーム
21の厚さtで形成された状態である。このリードフレ
ーム21が切断整形金型に搬送されて切断整形工程に移
行する。この場合、上述のように樹脂片29a〜29c
はリードフレーム21と同一の厚さで形成されることか
ら、リードフレーム21との密着力が強くなるために、
搬送中に振動や衝撃で剥がれることがなく、従来のよう
な製品への樹脂付着や樹脂打痕という障害を防止するこ
とができる。
フレーム21にはパッケージ28が形成され、穴部24
a〜24cに対応する部分に樹脂片29a〜29cが一
体に形成される。この樹脂片29a〜29cは、図2
(C)に示すようにパッケージ28に、リードフレーム
21の厚さtで形成された状態である。このリードフレ
ーム21が切断整形金型に搬送されて切断整形工程に移
行する。この場合、上述のように樹脂片29a〜29c
はリードフレーム21と同一の厚さで形成されることか
ら、リードフレーム21との密着力が強くなるために、
搬送中に振動や衝撃で剥がれることがなく、従来のよう
な製品への樹脂付着や樹脂打痕という障害を防止するこ
とができる。
【0022】続いて、図3に、図2における切断整形金
型の構成図を示す。図3(A)は上金型の下方向からみ
た平面図であり、図3(B)は切断整形金型31の正面
概略図である。図3(A),(B)において切断整形金
型31は、基台32に対して可動部33がシリンダ等に
より上下動自在であり、可動部33に上金型としてのパ
ンチ34が設けられ、基台32に図2(B),(C)に
示すようなパッケージ28が形成されたリードフレーム
21を載置する下金型としてのダイ35が設けられる。
この場合、パンチ34は、切断ブレード34aを折曲部
材34bとにより構成される。
型の構成図を示す。図3(A)は上金型の下方向からみ
た平面図であり、図3(B)は切断整形金型31の正面
概略図である。図3(A),(B)において切断整形金
型31は、基台32に対して可動部33がシリンダ等に
より上下動自在であり、可動部33に上金型としてのパ
ンチ34が設けられ、基台32に図2(B),(C)に
示すようなパッケージ28が形成されたリードフレーム
21を載置する下金型としてのダイ35が設けられる。
この場合、パンチ34は、切断ブレード34aを折曲部
材34bとにより構成される。
【0023】このような切断整形金型31は、ダイ35
上にパッケージ28が形成されたリードフレーム21
(図2(B))が載置され、図3(C)に示すようにパ
ンチ34の切断ブレード34aによりリードフレーム2
1のタイバー26及びアウタリード25bを所定の長さ
で切断すると共に、これと同時に樹脂片29a〜29c
を切断除去する。また、このとき折曲部材34aにより
アウタリード25bを例えばガルウィング形状(図6
(D)参照)に折曲する。
上にパッケージ28が形成されたリードフレーム21
(図2(B))が載置され、図3(C)に示すようにパ
ンチ34の切断ブレード34aによりリードフレーム2
1のタイバー26及びアウタリード25bを所定の長さ
で切断すると共に、これと同時に樹脂片29a〜29c
を切断除去する。また、このとき折曲部材34aにより
アウタリード25bを例えばガルウィング形状(図6
(D)参照)に折曲する。
【0024】なお、切断ブレード34aによる切断と折
曲部材34bによる折曲を同時ではなく別々の動作で行
わせても良いものである。
曲部材34bによる折曲を同時ではなく別々の動作で行
わせても良いものである。
【0025】このように、リード25の切断と同時に樹
脂片29a〜29cの切断除去を行うことから、従来の
ように樹脂片29a〜29cを除去するために行われる
ホーニング工程を行う必要がなく、製造工程が削減され
てコスト低減を図ることができるものである。
脂片29a〜29cの切断除去を行うことから、従来の
ように樹脂片29a〜29cを除去するために行われる
ホーニング工程を行う必要がなく、製造工程が削減され
てコスト低減を図ることができるものである。
【0026】次に、図4に本発明の第2実施例のリード
フレームの構成図を示す。図中、図2と同一構成部分に
は同一符号を付して説明を省略する。図4(A)におけ
るリードフレーム21は、サポートバー22b〜22d
の延長上より孔41a〜41cまで、その両面(片面の
みでもよい)に樹脂モールド時のエア抜きのためのエア
ベント部として溝42a,42b(図4(C))がそれ
ぞれ形成される。この溝42a,42bは、例えばハー
フエッチングにより深30〜55μm で形成される。な
お、リードフレーム21の他の構成は図2(A)と同様
である。
フレームの構成図を示す。図中、図2と同一構成部分に
は同一符号を付して説明を省略する。図4(A)におけ
るリードフレーム21は、サポートバー22b〜22d
の延長上より孔41a〜41cまで、その両面(片面の
みでもよい)に樹脂モールド時のエア抜きのためのエア
ベント部として溝42a,42b(図4(C))がそれ
ぞれ形成される。この溝42a,42bは、例えばハー
フエッチングにより深30〜55μm で形成される。な
お、リードフレーム21の他の構成は図2(A)と同様
である。
【0027】そして、前述と同様にステージ23上に半
導体チップ27を載置してインナリード25aとの間で
ワイヤボンディングが行われる。
導体チップ27を載置してインナリード25aとの間で
ワイヤボンディングが行われる。
【0028】そこで、モールド金型内に位置させ、モー
ルド樹脂を注入することにより、図4(B)に示すよう
にパッケージ28が形成され、図4(B),(C)に示
すように溝42a,42b部分に樹脂片43a1 〜43
c1 ,43a2 〜43c2 がそれぞれ形成される。
ルド樹脂を注入することにより、図4(B)に示すよう
にパッケージ28が形成され、図4(B),(C)に示
すように溝42a,42b部分に樹脂片43a1 〜43
c1 ,43a2 〜43c2 がそれぞれ形成される。
【0029】ここで、図5に、第2実施例におけるモー
ルド金型(下金型)の斜視図を示す。図5における下金
型51は、台盤52上に樹脂供給部53を挟んで所定数
(図4では6個)のポット金型541 〜546 が配置さ
れ、樹脂供給部53のポット53aよりランナ53b1
〜53b6 を介して各ポット金型541 〜546 のラン
ナと連通される。
ルド金型(下金型)の斜視図を示す。図5における下金
型51は、台盤52上に樹脂供給部53を挟んで所定数
(図4では6個)のポット金型541 〜546 が配置さ
れ、樹脂供給部53のポット53aよりランナ53b1
〜53b6 を介して各ポット金型541 〜546 のラン
ナと連通される。
【0030】各ポット金型541 〜546 ではランナよ
りゲートを介して各キャビティ55に連通する。この場
合、各キャビティ55近傍は、従来のようなエアベント
部は形成されず、平坦形状で形成される。
りゲートを介して各キャビティ55に連通する。この場
合、各キャビティ55近傍は、従来のようなエアベント
部は形成されず、平坦形状で形成される。
【0031】なお、上金型においても同様の樹脂供給部
及びポット金型が配置されるが、上金型の樹脂供給部に
はポットにタブレット状のモールド樹脂を供給して加圧
する加熱手段が設けられる。また、上金型及び下金型5
1を加熱する加熱手段が設けられる。
及びポット金型が配置されるが、上金型の樹脂供給部に
はポットにタブレット状のモールド樹脂を供給して加圧
する加熱手段が設けられる。また、上金型及び下金型5
1を加熱する加熱手段が設けられる。
【0032】すなわち、各ポット金型541 〜546 の
各キャビティ55に図4(A)に示すリードフレーム2
1を位置させ、上金型よりタブレット状のモールド樹脂
を供給して加熱し、溶解状態で加圧することによりラン
ナ53b1 〜53b6 ,ゲートを介してキャビティ55
内にモールド樹脂を注入する。この場合、キャビテイ5
5内のエアはリードフレーム21に形成された溝42
a,42b及び孔41a〜41cを介してエア抜きされ
る。そして、図4(B),(C)に示すように、パッケ
ージ28及び樹脂片43a1 〜43c1 ,43a2 〜4
3c2 が形成されるものである。
各キャビティ55に図4(A)に示すリードフレーム2
1を位置させ、上金型よりタブレット状のモールド樹脂
を供給して加熱し、溶解状態で加圧することによりラン
ナ53b1 〜53b6 ,ゲートを介してキャビティ55
内にモールド樹脂を注入する。この場合、キャビテイ5
5内のエアはリードフレーム21に形成された溝42
a,42b及び孔41a〜41cを介してエア抜きされ
る。そして、図4(B),(C)に示すように、パッケ
ージ28及び樹脂片43a1 〜43c1 ,43a2 〜4
3c2 が形成されるものである。
【0033】このように、モールド樹脂注入時のキャビ
ティ55内のエアを金型ではなくリードフレーム21に
形成した溝42a,42bでエア抜きすることから、金
型にはエアベント部を設ける必要がない。このことは、
従来のようなモールド金型への樹脂のエアベント付着や
詰まりがなく、ボイド、ぴンホール、未充填等の製品不
良の発生を防止することができ、歩留りの向上、コスト
低減を図ることができる。
ティ55内のエアを金型ではなくリードフレーム21に
形成した溝42a,42bでエア抜きすることから、金
型にはエアベント部を設ける必要がない。このことは、
従来のようなモールド金型への樹脂のエアベント付着や
詰まりがなく、ボイド、ぴンホール、未充填等の製品不
良の発生を防止することができ、歩留りの向上、コスト
低減を図ることができる。
【0034】また、従来のように3〜4時間費やしたモ
ールド金型のエアベント削りが無くなることから稼働率
が向上し、能力向上が図られ、障害による追加工数(目
視検査、手作業による手直し等の工数)の削減、ひいて
はコスト低減を図ることができる。また、高温による危
険な作業を廃止することができ、作業安全がより図るこ
とができる。
ールド金型のエアベント削りが無くなることから稼働率
が向上し、能力向上が図られ、障害による追加工数(目
視検査、手作業による手直し等の工数)の削減、ひいて
はコスト低減を図ることができる。また、高温による危
険な作業を廃止することができ、作業安全がより図るこ
とができる。
【0035】そこで、図4に戻って説明するに、図4
(B),(C)に示すように、樹脂片43a1 〜43c
1 ,43a2 〜43c2 がリードフレーム21の両面
(又は片面でもよい)で形成されることから密着力が強
くなることから、切断整形工程への搬送中に振動や衝撃
で剥がれることがなく、従来のような部品への樹脂付着
や樹脂打痕という障害を防止することができるものであ
る。
(B),(C)に示すように、樹脂片43a1 〜43c
1 ,43a2 〜43c2 がリードフレーム21の両面
(又は片面でもよい)で形成されることから密着力が強
くなることから、切断整形工程への搬送中に振動や衝撃
で剥がれることがなく、従来のような部品への樹脂付着
や樹脂打痕という障害を防止することができるものであ
る。
【0036】そして、図3に示すような切断整形金型3
1により、不要なリードフレームを切断すると同時に樹
脂片43a1 〜43c1 ,43a2 〜43c2 を切断除
去すると共に、アウタリード25bを図6(D)に示す
ようなガルウィング形状に折曲する。すなわち、第1実
施例と同様に、従来のホーニン工程を行う必要がなく、
製造工程が削減されてコスト低減を図ることができるも
のである。
1により、不要なリードフレームを切断すると同時に樹
脂片43a1 〜43c1 ,43a2 〜43c2 を切断除
去すると共に、アウタリード25bを図6(D)に示す
ようなガルウィング形状に折曲する。すなわち、第1実
施例と同様に、従来のホーニン工程を行う必要がなく、
製造工程が削減されてコスト低減を図ることができるも
のである。
【0037】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、穴部や溝
のエアベント部が形成された金属支持枠を使用し、イベ
ント部で形成された樹脂片をリード切断と同時に切断除
去することにより、ホーニング工程が削減されると共
に、モールド樹脂の密着力が強くなって剥がれが防止さ
れ、製造工程の削減、歩留り向上によるコスト低減を図
ることができる。
のエアベント部が形成された金属支持枠を使用し、イベ
ント部で形成された樹脂片をリード切断と同時に切断除
去することにより、ホーニング工程が削減されると共
に、モールド樹脂の密着力が強くなって剥がれが防止さ
れ、製造工程の削減、歩留り向上によるコスト低減を図
ることができる。
【0038】また、樹脂モールドで使用されるモールド
金型において、キャビティ近傍にエアベント部を形成せ
ずに平坦形状とすることにより、製造工程の削減による
コスト低減、及び従来の安全性を図ることができるもの
である。
金型において、キャビティ近傍にエアベント部を形成せ
ずに平坦形状とすることにより、製造工程の削減による
コスト低減、及び従来の安全性を図ることができるもの
である。
【図1】本発明の原理説明図である。
【図2】本発明の第1の第1実施例のリードフレームの
構成図である。
構成図である。
【図3】図2における切断整形金型の構成図である。
【図4】本発明の第2実施例のリードフレームの構成図
である。
である。
【図5】第2実施例におけるモールド金型(下金型)の
斜視図である。
斜視図である。
【図6】従来の樹脂モードの説明図である。
21 リードフレーム 22a〜22d サポートバー 23 ステージ 24a〜24c 穴部 25 リード 27 半導体チップ 28 パッケージ 29a〜29c,43a1 〜43c1 ,43a2 〜43
c2 樹脂層 31 切断整形金型 34 パンチ 35 ダイ 41a〜41c 孔 42a,42b 溝 51 下金型 53 樹脂供給部 53a ポット 53b1 〜53b6 ランナ 541 〜546 ポット金型 55 キャビティ
c2 樹脂層 31 切断整形金型 34 パンチ 35 ダイ 41a〜41c 孔 42a,42b 溝 51 下金型 53 樹脂供給部 53a ポット 53b1 〜53b6 ランナ 541 〜546 ポット金型 55 キャビティ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/60 301 B 6918−4M
Claims (5)
- 【請求項1】 金属支持枠(21)上に半導体チップ
(27)を搭載し、モールド金型内で樹脂モールドして
パッケージングし、該パッケージ(28)より延出する
リード(25b)を該金属支持枠(21)より切断して
折曲する半導体装置の製造方法において、 前記モールド金型内に、前記樹脂モールド時のエア抜き
のための所定厚さのエアベント部(24a〜24c)が
形成された前記金属支持枠(21)を位置させて該樹脂
モールドを行う工程と、 該樹脂モールド後、前記パッケージ(28)より延出す
るリード(25b)を該金属支持枠(21)より切断す
ると同時に、該エアベント部(24a〜24c)に形成
された樹脂片(29a〜29c)を切断除去する工程
と、 該パッケージ(27)より延出するリード(25b)を
所定形状に折曲する工程と、 を含むことを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 【請求項2】 半導体チップ(27)が搭載され、モー
ルド金型内でモールド樹脂が注入されてパッケージ(2
8)が形成される半導体装置に使用される金属持枠にお
いて、 前記モールド金型内における前記モールド樹脂注入時
に、形成されるパッケージ(28)内のエアを抜くため
のエアベント部(24a〜24c,42a,42b)が
所定数形成されることを特徴とする金属支持枠。 - 【請求項3】 前記エアベント部は、前記半導体チップ
(27)を載置するステージ(23)を支持する部分で
あって、形成されるパッケージ(28)より外側部分に
形成される穴部(24a,24c)により構成されるこ
とを特徴とする請求項2記載の金属支持枠。 - 【請求項4】 前記エアベント部は、前記半導体チップ
(27)を載置するステージ(23)を支持する部分で
あって、形成されるパッケージ(28)より外側部分の
少なくとも片面に形成される溝(42a,42b)によ
り構成されることを特徴とする請求項2記載の金属支持
枠。 - 【請求項5】 半導体チップ(27)を搭載した金属支
持枠(21)のパッケージ(28)形成部分をキャビテ
ィ(55)内に位置させ、樹脂モールドを行うモールド
金型において、 モールド樹脂注入時の前記キャビティ(55)内のエア
を抜くためのエアベント部(42a,42b)が形成さ
れた前記金属支持枠(21)を該キャビティ(55)に
位置させたときの、該エアベント部(42a,42b)
に対応する部分を平坦形状に形成することを特徴とする
モールド金型。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25451193A JPH07111305A (ja) | 1993-10-12 | 1993-10-12 | 半導体装置の製造方法及びこれに使用する金属支持枠及びモールド金型 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25451193A JPH07111305A (ja) | 1993-10-12 | 1993-10-12 | 半導体装置の製造方法及びこれに使用する金属支持枠及びモールド金型 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07111305A true JPH07111305A (ja) | 1995-04-25 |
Family
ID=17266070
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25451193A Pending JPH07111305A (ja) | 1993-10-12 | 1993-10-12 | 半導体装置の製造方法及びこれに使用する金属支持枠及びモールド金型 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07111305A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7326041B2 (en) | 2001-11-12 | 2008-02-05 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Lead frame, resin sealing mold and method for manufacturing a semiconductor device using the same |
JP2010074152A (ja) * | 2008-08-22 | 2010-04-02 | Sumitomo Chemical Co Ltd | リードフレーム、樹脂パッケージ、半導体装置及び樹脂パッケージの製造方法 |
-
1993
- 1993-10-12 JP JP25451193A patent/JPH07111305A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7326041B2 (en) | 2001-11-12 | 2008-02-05 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Lead frame, resin sealing mold and method for manufacturing a semiconductor device using the same |
JP2010074152A (ja) * | 2008-08-22 | 2010-04-02 | Sumitomo Chemical Co Ltd | リードフレーム、樹脂パッケージ、半導体装置及び樹脂パッケージの製造方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2002064114A (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
US5837567A (en) | Lead frame and semiconductor device | |
US5486722A (en) | Lead frame having small pitch between outer leads | |
JPH1022422A (ja) | 2層樹脂封止型集積回路装置及びその製造方法 | |
JPH07111305A (ja) | 半導体装置の製造方法及びこれに使用する金属支持枠及びモールド金型 | |
JP4202632B2 (ja) | 一括封止型半導体パッケージの樹脂封止構造およびその製造装置 | |
JP3475557B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
CN115547969A (zh) | 制造半导体器件的方法、对应的基板和半导体器件 | |
JP3566812B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPH0574999A (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
JPH09239787A (ja) | モールド金型および半導体装置の製造方法 | |
JP2003017643A (ja) | 半導体装置の製造方法および切断装置 | |
JPH04293243A (ja) | 樹脂封止用金型装置とゲートの切断方法 | |
JP4454399B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPH1079463A (ja) | 半導体装置製造用切断装置 | |
JPH10209194A (ja) | 半導体装置、その製造方法およびそれに用いる樹脂モールド工程装置 | |
JPS60138949A (ja) | 半導体装置用リ−ドフレ−ム | |
JPH09246305A (ja) | 絶縁型半導体装置の製造方法 | |
JPH09223706A (ja) | 半導体製造方法およびその製造装置 | |
JPH11135698A (ja) | 半導体装置の製造方法および半導体装置製造用切断装置 | |
JP2828749B2 (ja) | リードフレーム | |
JP3539659B2 (ja) | 半導体装置の製造方法およびその方法において用いられるリードフレーム | |
JP2936768B2 (ja) | 半導体処理装置 | |
JPH07240493A (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
JP2002043344A (ja) | 樹脂封止型半導体装置の製造方法 |