JPH0697163B2 - 変位変換器 - Google Patents
変位変換器Info
- Publication number
- JPH0697163B2 JPH0697163B2 JP60213335A JP21333585A JPH0697163B2 JP H0697163 B2 JPH0697163 B2 JP H0697163B2 JP 60213335 A JP60213335 A JP 60213335A JP 21333585 A JP21333585 A JP 21333585A JP H0697163 B2 JPH0697163 B2 JP H0697163B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lens
- position sensor
- target surface
- measurement target
- incident
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光学式の変位変換器に関するものである。
更に詳しくは、レンズを介して測定対象面に光を照射す
るとともに、測定対象面上に常に焦点が合うようにレン
ズの位置を移動させ、この時のレンズの移動量から前記
測定対象面の変位量を測定するようにした変位変換器に
関するものである。
るとともに、測定対象面上に常に焦点が合うようにレン
ズの位置を移動させ、この時のレンズの移動量から前記
測定対象面の変位量を測定するようにした変位変換器に
関するものである。
従来、光学式の変位変換器の一例としては、第9図に示
す如き装置が実用化されている。図に示す変位変換器
は、光源1から出射された平行光線を、レンズ2を介し
て測定対象面3に照射するとともに、この光束が測定対
象面3上に常に焦点を結ぶようにレンズ2の位置を動か
し、この時のレンズ2の移動量から測定対象面3の変位
量を測定するようにしたものである。ここで、測定対象
面3上に焦点が合っているか否かの検出には、シリンド
リカルレンズ4および4分割センサ5が使用され、測定
対象面3からの反射光をレンズ2の後方に配置したハー
フミラー6によりシリンドリカルレンズ4に導くととも
に、シリンドリカルレンズ4により得られる光スポット
の形状変化を4分割センサ5によって検出している。
す如き装置が実用化されている。図に示す変位変換器
は、光源1から出射された平行光線を、レンズ2を介し
て測定対象面3に照射するとともに、この光束が測定対
象面3上に常に焦点を結ぶようにレンズ2の位置を動か
し、この時のレンズ2の移動量から測定対象面3の変位
量を測定するようにしたものである。ここで、測定対象
面3上に焦点が合っているか否かの検出には、シリンド
リカルレンズ4および4分割センサ5が使用され、測定
対象面3からの反射光をレンズ2の後方に配置したハー
フミラー6によりシリンドリカルレンズ4に導くととも
に、シリンドリカルレンズ4により得られる光スポット
の形状変化を4分割センサ5によって検出している。
すなわち、4分割センサ5上に投影される光スポットの
形状は第10図に示すようなもので、測定対象面3上に焦
点が合っている時(以下、これを合焦状態という)に
は、シリンドリカルレンズ4に入射する光束は平行光線
となっているので、4分割センサ5上の光スポットの形
状は、図中に実線aで示す如く、円形となっている。ま
た、焦点が合っていない時には、シリンドリカルレンズ
4に入射する光束が平行光線ではなくなるので、光スポ
ットは破線bおよびcで示す如く、焦点のずれに応じて
傾きの方向が異なる惰円形となる。したがって、4分割
センサ5における出力S1〜S4を、例えば、(S1+S3)−
(S2+S4)の如く演算処理することにより、光スポット
の形状を検出して、焦点の位置を知ることができる。な
お、この4分割センサ5の出力は、レンズ2を移動させ
て、常に測定対象面3上に焦点を合わせる自動焦点機構
の帰還信号として利用されている。
形状は第10図に示すようなもので、測定対象面3上に焦
点が合っている時(以下、これを合焦状態という)に
は、シリンドリカルレンズ4に入射する光束は平行光線
となっているので、4分割センサ5上の光スポットの形
状は、図中に実線aで示す如く、円形となっている。ま
た、焦点が合っていない時には、シリンドリカルレンズ
4に入射する光束が平行光線ではなくなるので、光スポ
ットは破線bおよびcで示す如く、焦点のずれに応じて
傾きの方向が異なる惰円形となる。したがって、4分割
センサ5における出力S1〜S4を、例えば、(S1+S3)−
(S2+S4)の如く演算処理することにより、光スポット
の形状を検出して、焦点の位置を知ることができる。な
お、この4分割センサ5の出力は、レンズ2を移動させ
て、常に測定対象面3上に焦点を合わせる自動焦点機構
の帰還信号として利用されている。
しかしながら、上記のようなシリンドリカルレンズ4お
よび4分割センサ5を使用した変位変換器においては、
測定対象面3に傾きがあると、第11図に示す如く、4分
割センサ5上に投影される光スポットの位置が中心から
ずれたものとなるので、合焦状態においても、4分割セ
ンサ5の出力S1〜S4がバランスせず、正確な自動焦点動
作を行なうことができなくなってしまう。このため、測
定対象面3の傾きは±1゜以内に抑えなければならな
い。
よび4分割センサ5を使用した変位変換器においては、
測定対象面3に傾きがあると、第11図に示す如く、4分
割センサ5上に投影される光スポットの位置が中心から
ずれたものとなるので、合焦状態においても、4分割セ
ンサ5の出力S1〜S4がバランスせず、正確な自動焦点動
作を行なうことができなくなってしまう。このため、測
定対象面3の傾きは±1゜以内に抑えなければならな
い。
本発明は、上記のような従来装置の欠点をなくし、測定
対象面に比較的大きな傾きがあった場合にも、その変位
量を正確に測定することのできる変位変換器を簡単な構
成により実現することを目的としたものである。
対象面に比較的大きな傾きがあった場合にも、その変位
量を正確に測定することのできる変位変換器を簡単な構
成により実現することを目的としたものである。
また、本発明の他の目的は、測定対象面の変位量と共に
その傾きをも同時に測定することのできる変位変換器を
実現することである。
その傾きをも同時に測定することのできる変位変換器を
実現することである。
本発明の変位変換器は、レンズを介して測定対象面に光
を照射するとともに、この測定対象面上に常に焦点が合
うように前記レンズの位置を移動させ、この時のレンズ
の移動量から前記測定対象面の変位量を測定するように
した変位変換器において、点光源から出射される光束を
レンズを介して測定対象面上に照射するとともに、光の
入射位置を検出することのできるポジションセンサを等
価的に点光源と同じ位置およびこれと一定の間隔をおい
た位置に配置して、前者のポジションセンサの出力をレ
ンズおよび点光源等の位置を移動させる自動焦点機構の
帰還信号として利用するとともに、2つのポジションセ
ンサにおける出力の差を利用して測定対象面の傾きを測
定するようにしたものである。
を照射するとともに、この測定対象面上に常に焦点が合
うように前記レンズの位置を移動させ、この時のレンズ
の移動量から前記測定対象面の変位量を測定するように
した変位変換器において、点光源から出射される光束を
レンズを介して測定対象面上に照射するとともに、光の
入射位置を検出することのできるポジションセンサを等
価的に点光源と同じ位置およびこれと一定の間隔をおい
た位置に配置して、前者のポジションセンサの出力をレ
ンズおよび点光源等の位置を移動させる自動焦点機構の
帰還信号として利用するとともに、2つのポジションセ
ンサにおける出力の差を利用して測定対象面の傾きを測
定するようにしたものである。
このように、光源として点光源を使用するとともに、等
価的に点光源と同じ位置に第1のポジションセンサを配
置するようにすると、合焦状態においては、測定対象面
からの反射光が第1のポジションセンサ(点光源)の位
置で実像を結ぶことになり、しかもこの時の反射光にお
ける第1のポジションセンサへの入射位置は常に一定と
なるので、第1のポジションセンサの出力状態から測定
対象面上に焦点が合っているか否かを検出することがで
き、第1のポジションセンサの出力を自動焦点機構の帰
還信号として利用することにより、測定対象面の変位量
を自動的に測定することができる。また、測定対象面か
らの反射光が実像を結ぶ位置は、光束の経路にかかわら
ず一定(点光源の位置)であるので、測定対象面が傾い
ていた場合にも、その反射光がレンズに入射しさえすれ
ば、変位量の測定を正確に行なうことができる。さら
に、上記のように変位量の測定に使用される第1のポジ
ションセンサに対して、一定の間隔をおいて第2のポジ
ションセンサを配置しているので、第2のポジションセ
ンサの出力は測定対象面の傾きに対応したものとなり、
これらのポジションセンサにおける出力の差を検出する
ことにより、測定対象面の傾きをも同時に測定すること
ができる。
価的に点光源と同じ位置に第1のポジションセンサを配
置するようにすると、合焦状態においては、測定対象面
からの反射光が第1のポジションセンサ(点光源)の位
置で実像を結ぶことになり、しかもこの時の反射光にお
ける第1のポジションセンサへの入射位置は常に一定と
なるので、第1のポジションセンサの出力状態から測定
対象面上に焦点が合っているか否かを検出することがで
き、第1のポジションセンサの出力を自動焦点機構の帰
還信号として利用することにより、測定対象面の変位量
を自動的に測定することができる。また、測定対象面か
らの反射光が実像を結ぶ位置は、光束の経路にかかわら
ず一定(点光源の位置)であるので、測定対象面が傾い
ていた場合にも、その反射光がレンズに入射しさえすれ
ば、変位量の測定を正確に行なうことができる。さら
に、上記のように変位量の測定に使用される第1のポジ
ションセンサに対して、一定の間隔をおいて第2のポジ
ションセンサを配置しているので、第2のポジションセ
ンサの出力は測定対象面の傾きに対応したものとなり、
これらのポジションセンサにおける出力の差を検出する
ことにより、測定対象面の傾きをも同時に測定すること
ができる。
第1図は本発明の変位変換器の一実施例を示す構成図で
ある。図において、前記第9図と同様のものは同一符号
を付して示す。7は例えばレンズ2の軸上に配置された
点光源、8はハーフミラー6を介して等価的に点光源7
と同じ位置に配置された第1のポジションセンサ、9は
ハーフミラー10を介して第1のポジションセンサ8と一
定の間隔をおいた位置に配置された第2のポジションセ
ンサである。点光源7から出射された光束は、レンズ2
の軸に対して一定の角度を有しており、レンズ2を介し
て測定対象面3上に照射されている。また、測定対象面
3により反射された光は、レンズ2およびハーフミラー
6,10を介して第1および第2のポジションセンサ8,9に
入射している。さらに、レンズ2,ハーフミラー6,10,点
光源7およびポジションセンサ8,9は一体に支持される
とともに、自動焦点機構(図示せず)によって移動させ
られ、測定対象面3との距離を任意に調節されている。
ある。図において、前記第9図と同様のものは同一符号
を付して示す。7は例えばレンズ2の軸上に配置された
点光源、8はハーフミラー6を介して等価的に点光源7
と同じ位置に配置された第1のポジションセンサ、9は
ハーフミラー10を介して第1のポジションセンサ8と一
定の間隔をおいた位置に配置された第2のポジションセ
ンサである。点光源7から出射された光束は、レンズ2
の軸に対して一定の角度を有しており、レンズ2を介し
て測定対象面3上に照射されている。また、測定対象面
3により反射された光は、レンズ2およびハーフミラー
6,10を介して第1および第2のポジションセンサ8,9に
入射している。さらに、レンズ2,ハーフミラー6,10,点
光源7およびポジションセンサ8,9は一体に支持される
とともに、自動焦点機構(図示せず)によって移動させ
られ、測定対象面3との距離を任意に調節されている。
第2図はレンズ2を介して入射する反射光の入射位置を
検出するポジションセンサ8,9の一例を示す構成図であ
る。図においては、第1のポジションセンサ8を例示す
る。図に示すように、ポジションセンサ8は高抵抗シリ
コン81(i層)の片面あるいは両面に均一なp形抵抗層
82を設けるとともに、表面層に光電効果を持ったPN接合
を形成し、さらに、層の両端に信号を取り出すための一
対の電極A,Bを設けたものである。このような構成を有
するポジションセンサ8においては、電極A,B間の距離
をL、抵抗をRLとし、電極Aより光の入射位置までの距
離をx、その部分の抵抗をRxとすれば、光の入射位置で
発生した光生成電荷は、光の入射エネルギーに比例する
光電流Ioとなり、抵抗値Rxおよび(RL−Rx)に応じて分
割されて、電流IA,IBとして両端の電極A,Bから取り出さ
れる。したがって、この電流IA,IBは IA=Io(RL−Rx)/RL=Io(L−x)/L IB=Io.Rx/RL=Io・x/L となり、各電流IA,IBの比IA/IBは IA/IB=(L−x)/x となるので、電流IA,IBの値を求めることにより、入射
エネルギーの大きさとは無関係に、光の入射位置を知る
ことができる。
検出するポジションセンサ8,9の一例を示す構成図であ
る。図においては、第1のポジションセンサ8を例示す
る。図に示すように、ポジションセンサ8は高抵抗シリ
コン81(i層)の片面あるいは両面に均一なp形抵抗層
82を設けるとともに、表面層に光電効果を持ったPN接合
を形成し、さらに、層の両端に信号を取り出すための一
対の電極A,Bを設けたものである。このような構成を有
するポジションセンサ8においては、電極A,B間の距離
をL、抵抗をRLとし、電極Aより光の入射位置までの距
離をx、その部分の抵抗をRxとすれば、光の入射位置で
発生した光生成電荷は、光の入射エネルギーに比例する
光電流Ioとなり、抵抗値Rxおよび(RL−Rx)に応じて分
割されて、電流IA,IBとして両端の電極A,Bから取り出さ
れる。したがって、この電流IA,IBは IA=Io(RL−Rx)/RL=Io(L−x)/L IB=Io.Rx/RL=Io・x/L となり、各電流IA,IBの比IA/IBは IA/IB=(L−x)/x となるので、電流IA,IBの値を求めることにより、入射
エネルギーの大きさとは無関係に、光の入射位置を知る
ことができる。
第3図は上記のような動作原理を有するポジションセン
サ8を二次元的に構成したものである。図に示すよう
に、各電極Ax,Ay,Bx,Byから取り出される電流の比は、
光の入射位置におけるX軸方向およびY軸方向の位置情
報を含んでおり、これらを演算処理することにより、二
次元的な入射位置を知ることができる。
サ8を二次元的に構成したものである。図に示すよう
に、各電極Ax,Ay,Bx,Byから取り出される電流の比は、
光の入射位置におけるX軸方向およびY軸方向の位置情
報を含んでおり、これらを演算処理することにより、二
次元的な入射位置を知ることができる。
さて、第1図に戻って、測定対象面3上に焦点が合って
いる場合(合焦状態)には、点光源7とレンズ2との距
離をl1、レンズ2と測定対象面3との距離をl2、レンズ
2の焦点距離をfとすれば、 1/l1+1/l2=1/f の関係式が成り立ち、測定対象面3からの反射光はレン
ズ2を通った後、点光源7の位置で実像を結ぶように返
ってくることになる。この時、点光源7の位置には等価
的に第1のポジションセンサ8が配置されているので、
反射光はこのポジションセンサ8上に入射し、その入射
位置がポジションセンサ8によって検出される。
いる場合(合焦状態)には、点光源7とレンズ2との距
離をl1、レンズ2と測定対象面3との距離をl2、レンズ
2の焦点距離をfとすれば、 1/l1+1/l2=1/f の関係式が成り立ち、測定対象面3からの反射光はレン
ズ2を通った後、点光源7の位置で実像を結ぶように返
ってくることになる。この時、点光源7の位置には等価
的に第1のポジションセンサ8が配置されているので、
反射光はこのポジションセンサ8上に入射し、その入射
位置がポジションセンサ8によって検出される。
以下、第1のポジションセンサ8における反射光の入射
状態に着目して説明を進める。
状態に着目して説明を進める。
いま、測定対象面3が図中の3′の位置まで変位したと
すると、測定対象面3が照射される光束の焦点位置から
外れるので、反射光の経路は破線で示す如く移動し、こ
れに伴って、反射光におけるポジションセンサ8への入
射位置も移動することになる。また、この時には、反射
光の結像位置もポジションセンサ8上からずれているの
で、ポジションセンサ8にはある程度広がりを持ったス
ポットが入射するようになる。
すると、測定対象面3が照射される光束の焦点位置から
外れるので、反射光の経路は破線で示す如く移動し、こ
れに伴って、反射光におけるポジションセンサ8への入
射位置も移動することになる。また、この時には、反射
光の結像位置もポジションセンサ8上からずれているの
で、ポジションセンサ8にはある程度広がりを持ったス
ポットが入射するようになる。
第4図はポジションセンサ8上における反射光の入射位
置とスポットの大きさとの関係を示したものである。図
において、合焦点状態における反射光の入射位置をP0と
すれば、この時のスポット径が最も小さく、測定対象面
3が焦点位置からずれるにつれて、入射位置もP1,P2方
向あるいはP3,P4方向へと移動し、スポット径もしだい
に大きくなってゆく。例えば、測定対象面3が焦点位置
より近くなった時に、入射位置がP1方向へ移動したとす
ると、測定対象面3が焦点位置より遠くなった時には、
入射位置は逆にP3方向へと移動する。
置とスポットの大きさとの関係を示したものである。図
において、合焦点状態における反射光の入射位置をP0と
すれば、この時のスポット径が最も小さく、測定対象面
3が焦点位置からずれるにつれて、入射位置もP1,P2方
向あるいはP3,P4方向へと移動し、スポット径もしだい
に大きくなってゆく。例えば、測定対象面3が焦点位置
より近くなった時に、入射位置がP1方向へ移動したとす
ると、測定対象面3が焦点位置より遠くなった時には、
入射位置は逆にP3方向へと移動する。
このように、ポジションセンサ8を等価的に点光源7と
同じ位置に置いておくと、測定対象面3の位置に応じて
ポジションセンサ8上の反射光の入射位置が変化するの
で、ポジションセンサ8の出力から合焦状態を知ること
ができ、この出力を帰還信号として自動焦点機構を構成
すれば、点光源7から出射された光束が常に測定対象面
3上に焦点を結ぶように、レンズ2等を移動させること
ができ、この時の移動量から測定対象面3の変位量を自
動的に測定することができる。
同じ位置に置いておくと、測定対象面3の位置に応じて
ポジションセンサ8上の反射光の入射位置が変化するの
で、ポジションセンサ8の出力から合焦状態を知ること
ができ、この出力を帰還信号として自動焦点機構を構成
すれば、点光源7から出射された光束が常に測定対象面
3上に焦点を結ぶように、レンズ2等を移動させること
ができ、この時の移動量から測定対象面3の変位量を自
動的に測定することができる。
ここで、測定対象面3に傾きがあった場合を考えてみ
る。この場合には、測定対象面3から反射される光の経
路が第1図の場合と異なることになるが、レンズ2の性
質上、焦点位置が測定対象面3上にあれば、その反射光
が結像する位置は変化しないので、反射光におけるポジ
ションセンサ8上の入射位置も変化せず、上記の場合と
同様に、ポジションセンサ8の出力から合焦状態を正確
に検出することができる。なお、測定対象面3が傾いて
いる時には、ポジションセンサ8における反射光の入射
位置は、例えば第5図の如く変化し、測定対象面3の変
位とともに移動する。図から明らかなように、測定対象
面3が焦点位置にある時の入射位置P0は前記した第4図
の位置と等しいので、この時のポジションセンサ8の出
力も等しい値であり、測定対象面3の傾きの影響を受け
ることなく、変位量の測定を行なうことができる。
る。この場合には、測定対象面3から反射される光の経
路が第1図の場合と異なることになるが、レンズ2の性
質上、焦点位置が測定対象面3上にあれば、その反射光
が結像する位置は変化しないので、反射光におけるポジ
ションセンサ8上の入射位置も変化せず、上記の場合と
同様に、ポジションセンサ8の出力から合焦状態を正確
に検出することができる。なお、測定対象面3が傾いて
いる時には、ポジションセンサ8における反射光の入射
位置は、例えば第5図の如く変化し、測定対象面3の変
位とともに移動する。図から明らかなように、測定対象
面3が焦点位置にある時の入射位置P0は前記した第4図
の位置と等しいので、この時のポジションセンサ8の出
力も等しい値であり、測定対象面3の傾きの影響を受け
ることなく、変位量の測定を行なうことができる。
次に、第2のポジションセンサ9の出力を利用した、測
定対象面3における傾きの測定動作について説明する。
定対象面3における傾きの測定動作について説明する。
前記第1図に示されるように、第2のポジションセンサ
9は第1のポジションセンサ8に対して、等価的に一定
の間隔を持つように配置されている。このため、自動焦
点機構が働き、測定対象面3上に焦点が合っている状態
では、レンズ2を介して戻って来る反射光は、第1のポ
ジションセンサ8に対しては結像状態となって、定位置
(P0)に入射し、第2のポジションセンサ9に対して
は、結像状態からずれた光束が入射するようになる。
9は第1のポジションセンサ8に対して、等価的に一定
の間隔を持つように配置されている。このため、自動焦
点機構が働き、測定対象面3上に焦点が合っている状態
では、レンズ2を介して戻って来る反射光は、第1のポ
ジションセンサ8に対しては結像状態となって、定位置
(P0)に入射し、第2のポジションセンサ9に対して
は、結像状態からずれた光束が入射するようになる。
第6図はこのような第1および第2のポジションセンサ
8,9における反射光の入射状態を、光軸を合わせて例示
したものである。図に示すように、合焦状態において
は、第1のポジションセンサ8における定位置(P0)を
通った光が第2のポジションセンサ9に入射するように
なり、この定位置(P0)は変化しないので、測定対象面
3の傾きに応じて反射光の経路が変化すると、第2のポ
ジションセンサ9における入射位置のみが変化すること
になる。
8,9における反射光の入射状態を、光軸を合わせて例示
したものである。図に示すように、合焦状態において
は、第1のポジションセンサ8における定位置(P0)を
通った光が第2のポジションセンサ9に入射するように
なり、この定位置(P0)は変化しないので、測定対象面
3の傾きに応じて反射光の経路が変化すると、第2のポ
ジションセンサ9における入射位置のみが変化すること
になる。
第7図は第2のポジションセンサ9上における反射光の
入射位置を示したもので、例えば、測定対象面3がX軸
を中心に傾いた時に、その入射位置が矢印xの方向に移
動したとすると、測定対象面3がY軸を中心に傾いた時
には、矢印yの方向に移動することになる。
入射位置を示したもので、例えば、測定対象面3がX軸
を中心に傾いた時に、その入射位置が矢印xの方向に移
動したとすると、測定対象面3がY軸を中心に傾いた時
には、矢印yの方向に移動することになる。
このように、第2のポジションセンサ9における反射光
の入射位置は、測定対象面3の傾きに応じて変化するの
で、第2のポジションセンサ9の出力から測定対象面3
の傾きを測定することが可能である。本発明の変位変換
器では、第1および第2のポジションセンサ8,9におけ
る出力の差を求めるとともに、これを予め測定しておい
たデータと比較することにより、測定対象面3の傾きを
測定している。なお、前記したように、第1のポジショ
ンセンサ8における出力(入射位置)は常に一定である
ので、第2のポジションセンサ9の出力のみから測定対
象面3の傾きを求めることも可能である。
の入射位置は、測定対象面3の傾きに応じて変化するの
で、第2のポジションセンサ9の出力から測定対象面3
の傾きを測定することが可能である。本発明の変位変換
器では、第1および第2のポジションセンサ8,9におけ
る出力の差を求めるとともに、これを予め測定しておい
たデータと比較することにより、測定対象面3の傾きを
測定している。なお、前記したように、第1のポジショ
ンセンサ8における出力(入射位置)は常に一定である
ので、第2のポジションセンサ9の出力のみから測定対
象面3の傾きを求めることも可能である。
また、上記のようにして、第1および第2のポジション
センサ8,9における出力の差から反射光の経路を検出す
ることができるので、この情報を利用すれば、測定時に
反射光がレンズ2におけるどの部分を通過しているのか
を知ることができ、レンズ2の収差による測定誤差を補
正することができる。一般に、レンズ2においては、反
射光が通過する位置によって、受ける収差の影響が異な
るので、予め反射光の経路がわかっていれば、それに応
じて測定結果を補正することができ、より正確な測定を
行なうことができる。
センサ8,9における出力の差から反射光の経路を検出す
ることができるので、この情報を利用すれば、測定時に
反射光がレンズ2におけるどの部分を通過しているのか
を知ることができ、レンズ2の収差による測定誤差を補
正することができる。一般に、レンズ2においては、反
射光が通過する位置によって、受ける収差の影響が異な
るので、予め反射光の経路がわかっていれば、それに応
じて測定結果を補正することができ、より正確な測定を
行なうことができる。
第8図は本発明の変位変換器に使用される自動焦点機構
の一例を示す構成図である。図において、8は第1のポ
ジションセンサであり、前記した如く、反射光の入射位
置に応じた出力信号S(X,Y)を発生する。11はサーボ
アンプで、目標値SETと帰還信号S(X,Y)との差ΔSに
応じて、前記レンズ2等を移動させるための駆動信号Sd
を発生する。12はパワーアンプ、13はレンズ2等を移動
させるモータである。
の一例を示す構成図である。図において、8は第1のポ
ジションセンサであり、前記した如く、反射光の入射位
置に応じた出力信号S(X,Y)を発生する。11はサーボ
アンプで、目標値SETと帰還信号S(X,Y)との差ΔSに
応じて、前記レンズ2等を移動させるための駆動信号Sd
を発生する。12はパワーアンプ、13はレンズ2等を移動
させるモータである。
上記のように構成された自動焦点機構においては、目標
値SETは合焦状態におけるポジションセンサ8の出力S
(X,Y)と等しく設定されており、サーボアンプ11は偏
差ΔSが零となるようにモータ13を駆動するので、レン
ズ2等は照射する光束の焦点が常に測定対象面3上に来
るように移動させられる。したがって、このモータ13の
駆動量は測定対象面3の変位量に比例したものとなるの
で、この駆動量またはレンズ2等の移動量を検出するこ
とにより、測定対象面3の変位量を測定することができ
る。
値SETは合焦状態におけるポジションセンサ8の出力S
(X,Y)と等しく設定されており、サーボアンプ11は偏
差ΔSが零となるようにモータ13を駆動するので、レン
ズ2等は照射する光束の焦点が常に測定対象面3上に来
るように移動させられる。したがって、このモータ13の
駆動量は測定対象面3の変位量に比例したものとなるの
で、この駆動量またはレンズ2等の移動量を検出するこ
とにより、測定対象面3の変位量を測定することができ
る。
また、前記したように、測定対象面3が傾きを持ってい
た場合には、ポジションセンサ8上における反射光の入
射角が変化するので、測定対象面3の変位に対してポジ
ションセンサ8の出力が変化する割合(ゲイン)はこの
測定対象面3の傾きに応じて変化することができる。し
たがって、前記のようにして測定した測定対象面3の傾
きを基にして、これに応じたポジションセンサ8のゲイ
ンを推定し、予め与えられたデータに従ってサーボアン
プ11のサーボゲインを変更するようにすれば、自動焦点
機構における制御性を向上させることができる。
た場合には、ポジションセンサ8上における反射光の入
射角が変化するので、測定対象面3の変位に対してポジ
ションセンサ8の出力が変化する割合(ゲイン)はこの
測定対象面3の傾きに応じて変化することができる。し
たがって、前記のようにして測定した測定対象面3の傾
きを基にして、これに応じたポジションセンサ8のゲイ
ンを推定し、予め与えられたデータに従ってサーボアン
プ11のサーボゲインを変更するようにすれば、自動焦点
機構における制御性を向上させることができる。
なお、上記の説明においては、点光源7をレンズ2の軸
上に配置するとともに、ポジションセンサ8をハーフミ
ラー6を使用して等価的に点光源7と同じ位置に配置し
た場合を例示したが、点光源7とポジションセンサ8と
の配置関係はこれに限られるものではない。また、点光
源7から出射された光および測定対象面3からの反射光
の経路を変更する手段はハーフミラー6,10に限られるも
のではなく、例えば、プリズムや偏光ビームスプリッタ
のようなものであってもよい。さらに、測定対象面3に
光束を照射するとともに、測定対象面3からの反射光を
ポジションセンサ8上に結像させるレンズ2は、一枚の
レンズに限られるものではなく、独立した部分レンズを
組み合わせたものであってもよい。特に、点光源7から
出射された光がレンズ2に入射する位置は常に変化しな
いので、その周囲のレンズ部分は必要とされない場合が
多い。
上に配置するとともに、ポジションセンサ8をハーフミ
ラー6を使用して等価的に点光源7と同じ位置に配置し
た場合を例示したが、点光源7とポジションセンサ8と
の配置関係はこれに限られるものではない。また、点光
源7から出射された光および測定対象面3からの反射光
の経路を変更する手段はハーフミラー6,10に限られるも
のではなく、例えば、プリズムや偏光ビームスプリッタ
のようなものであってもよい。さらに、測定対象面3に
光束を照射するとともに、測定対象面3からの反射光を
ポジションセンサ8上に結像させるレンズ2は、一枚の
レンズに限られるものではなく、独立した部分レンズを
組み合わせたものであってもよい。特に、点光源7から
出射された光がレンズ2に入射する位置は常に変化しな
いので、その周囲のレンズ部分は必要とされない場合が
多い。
また、上記の説明においては、2つのポジションセンサ
8,9を使用して測定対象面3の傾きを測定する場合を例
示したが、レンズ2を一定量だけ移動させ、第1のポジ
ションセンサ8上に第2のポジションセンサ9と等価な
入射状態を作り出すようにすれば、1つのポジションセ
ンサ8のみによっても、測定対象面3の傾きを測定する
ことができる。すなわち、合焦状態からレンズ2等を一
定量だけ変位させるとともに、この時のポジションセン
サ8における出力変化を測定すれば、この時の反射光の
入射位置の変化量および変化する方向は反射光の経路に
対応したものとなっているので、予め測定しておいたデ
ータと比較することにより、測定対象面3の傾きを知る
ことができる。
8,9を使用して測定対象面3の傾きを測定する場合を例
示したが、レンズ2を一定量だけ移動させ、第1のポジ
ションセンサ8上に第2のポジションセンサ9と等価な
入射状態を作り出すようにすれば、1つのポジションセ
ンサ8のみによっても、測定対象面3の傾きを測定する
ことができる。すなわち、合焦状態からレンズ2等を一
定量だけ変位させるとともに、この時のポジションセン
サ8における出力変化を測定すれば、この時の反射光の
入射位置の変化量および変化する方向は反射光の経路に
対応したものとなっているので、予め測定しておいたデ
ータと比較することにより、測定対象面3の傾きを知る
ことができる。
以上説明したように、本発明の変位変換器では、レンズ
を介して測定対象面に光を照射するとともに、測定対象
面上に常に焦点が合うようにレンズの位置を移動させ、
この時のレンズの移動量から前記測定対象面の変位量を
測定するようにした変位変換器において、点光源から出
射される光束をレンズを介して測定対象面上に照射する
とともに、光の入射位置を検出することのできるポジシ
ョンセンサを等価的に点光源と同じ位置およびこれと一
定の間隔をおいた位置に配置して、前者のポジションセ
ンサの出力をレンズおよび点光源等の位置を移動させる
自動焦点機構の帰還信号として利用するとともに、2つ
のポジションセンサにおける出力の差を利用して測定対
象面の傾きを測定するようにしているので、合焦状態に
おいては、測定対象面からの反射光がポジションセンサ
(点光源)の位置で実線を結ぶことになり、しかもこの
時の反射光におけるポジションセンサへの入射位置は常
に一定となるので、ポジションセンサの出力状態から測
定対象面上に焦点が合っているか否かを検出することが
でき、測定対象面に比較的大きな傾きがあった場合に
も、その変位量を正確に測定することができるととも
に、測定対象面における傾きをも同時に測定することの
できる変位変換器を簡単な構成により実現することがで
きる。
を介して測定対象面に光を照射するとともに、測定対象
面上に常に焦点が合うようにレンズの位置を移動させ、
この時のレンズの移動量から前記測定対象面の変位量を
測定するようにした変位変換器において、点光源から出
射される光束をレンズを介して測定対象面上に照射する
とともに、光の入射位置を検出することのできるポジシ
ョンセンサを等価的に点光源と同じ位置およびこれと一
定の間隔をおいた位置に配置して、前者のポジションセ
ンサの出力をレンズおよび点光源等の位置を移動させる
自動焦点機構の帰還信号として利用するとともに、2つ
のポジションセンサにおける出力の差を利用して測定対
象面の傾きを測定するようにしているので、合焦状態に
おいては、測定対象面からの反射光がポジションセンサ
(点光源)の位置で実線を結ぶことになり、しかもこの
時の反射光におけるポジションセンサへの入射位置は常
に一定となるので、ポジションセンサの出力状態から測
定対象面上に焦点が合っているか否かを検出することが
でき、測定対象面に比較的大きな傾きがあった場合に
も、その変位量を正確に測定することができるととも
に、測定対象面における傾きをも同時に測定することの
できる変位変換器を簡単な構成により実現することがで
きる。
第1図は本発明の変位変換器の一実施例を示す構成図、
第2図および第3図は本発明の変位変換器に使用される
ポジションセンサの一例を示す構成図、第4図および第
5図はポジションセンサ上における反射光の入射位置お
よびスポットの状態を示す説明図、第6図および第7図
は第1および第2のポジションセンサ8,9における反射
光の入射状態を示す説明図、第8図は本発明の変位変換
器に使用される自動焦点機構の一例を示す構成図、第9
図は従来の変位変換器の一例を示す構成図、第10図およ
び第11図は第9図に示す変位変換器に使用される4分割
センサにおける入射光のスポット形状を示す説明図であ
る。 1……光源、2……レンズ、3……測定対象面、4……
シリンドリカルレンズ、5……4分割センサ、6,10……
ハーフミラー、7……点光源、8,9……ポジションセン
サ、11……サーボアンプ、12……パワーアンプ、13……
モータ、SW……スイッチ。
第2図および第3図は本発明の変位変換器に使用される
ポジションセンサの一例を示す構成図、第4図および第
5図はポジションセンサ上における反射光の入射位置お
よびスポットの状態を示す説明図、第6図および第7図
は第1および第2のポジションセンサ8,9における反射
光の入射状態を示す説明図、第8図は本発明の変位変換
器に使用される自動焦点機構の一例を示す構成図、第9
図は従来の変位変換器の一例を示す構成図、第10図およ
び第11図は第9図に示す変位変換器に使用される4分割
センサにおける入射光のスポット形状を示す説明図であ
る。 1……光源、2……レンズ、3……測定対象面、4……
シリンドリカルレンズ、5……4分割センサ、6,10……
ハーフミラー、7……点光源、8,9……ポジションセン
サ、11……サーボアンプ、12……パワーアンプ、13……
モータ、SW……スイッチ。
Claims (1)
- 【請求項1】レンズを介して測定対象面に光を照射する
とともにこの測定対象面上に常に焦点が合うように前記
レンズの位置を移動させこの時のレンズの移動量から前
記測定対象面の変位量を測定するようにした変位変換器
において、前記レンズの軸上に配置されこのレンズの軸
に対して一定の角度を持った光束を出射するとともにこ
のレンズとともに移動する点光源と、等価的に前記点光
源と同一位置に配置され前記レンズとともに移動する第
1のポジションセンサと、この第1のポジションセンサ
に対して等価的に一定の間隔をおいた位置に配置された
第2のポジションセンサと、前記第1のポジションセン
サの出力を受けこの出力が一定の値となるように前記レ
ンズの位置を移動させる自動焦点機構とを具備し、前記
レンズの移動量から前記測定対象面の変位量を測定する
とともに、前記第1および第2のポジションセンサにお
ける出力の差から前記測定対象面の傾きを測定するよう
にしてなる変位変換器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60213335A JPH0697163B2 (ja) | 1985-09-26 | 1985-09-26 | 変位変換器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60213335A JPH0697163B2 (ja) | 1985-09-26 | 1985-09-26 | 変位変換器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6271803A JPS6271803A (ja) | 1987-04-02 |
JPH0697163B2 true JPH0697163B2 (ja) | 1994-11-30 |
Family
ID=16637449
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60213335A Expired - Lifetime JPH0697163B2 (ja) | 1985-09-26 | 1985-09-26 | 変位変換器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0697163B2 (ja) |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS597926B2 (ja) * | 1979-12-20 | 1984-02-21 | 横河電機株式会社 | 位置検出装置 |
JPS59154313A (ja) * | 1983-02-24 | 1984-09-03 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 距離および傾斜角測定装置 |
-
1985
- 1985-09-26 JP JP60213335A patent/JPH0697163B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6271803A (ja) | 1987-04-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS6155047B2 (ja) | ||
JPH0697163B2 (ja) | 変位変換器 | |
JPH0619244B2 (ja) | 変位変換器 | |
JPS6275308A (ja) | 変位変換器 | |
JPS6275309A (ja) | 変位変換器 | |
JPS6125011A (ja) | 光学式距離測定装置 | |
JPS6271810A (ja) | 変位変換器 | |
JPH0558483B2 (ja) | ||
JPH0528761B2 (ja) | ||
JPS61112905A (ja) | 光応用計測装置 | |
JPH05164556A (ja) | 合焦点型非接触変位計 | |
JP2609606B2 (ja) | 光ピツクアツプの対物レンズ位置検出装置 | |
JPH0511451Y2 (ja) | ||
JP2529049B2 (ja) | 光学式変位計 | |
JPS635208A (ja) | 表面形状測定装置 | |
JP2594105Y2 (ja) | 光学式変位計 | |
JPS62218802A (ja) | 光学式距離及び傾き計測装置 | |
JPS6012693B2 (ja) | 光学的情報再生装置における自動焦点合せ装置 | |
JPS6281525A (ja) | 変位変換器 | |
JP2674467B2 (ja) | 光学式ピックアップ | |
JP2533879B2 (ja) | 位置検出装置 | |
JP2794855B2 (ja) | 位置検出機構 | |
JPS63169509A (ja) | 傾き計測装置 | |
JPH0968408A (ja) | 光学式変位センサ | |
JPH07113610A (ja) | 物体表面の光軸方向変位検出装置 |