JPH0687531A - 受け渡し治具および装置 - Google Patents
受け渡し治具および装置Info
- Publication number
- JPH0687531A JPH0687531A JP24035292A JP24035292A JPH0687531A JP H0687531 A JPH0687531 A JP H0687531A JP 24035292 A JP24035292 A JP 24035292A JP 24035292 A JP24035292 A JP 24035292A JP H0687531 A JPH0687531 A JP H0687531A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- held
- wafer
- contact
- delivery
- supporting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 受け渡し操作における被保持物の異物などに
よる汚染を確実に防止する事が可能な受け渡し技術を提
供する。 【構成】 平板状の基体部1の一面には、同心円をなす
円弧状に、かつ断面が階段状となるように、段差部2お
よび段差部3が刻設され、内側の段差部2の外径は、受
け渡し操作の対象となるウエハ4の外径よりも小さく、
外側の段差部3の外径はウエハ4の外径よりも僅かに大
きく設定されている。ウエハ4の一方の端縁4aの側を
外側の段差部3の接触面3aに当接させ、他方の端縁4
bを内側の段差部2の接触面2bに当接させた姿勢、お
よび、ウエハ4の端縁4aを内側の段差部2の接触面2
aに当接させ、端縁4bの側を外側の段差部3の接触面
3bに当接させた姿勢、の各々をウエハ4の清浄度のレ
ベルに応じて使い分ける。
よる汚染を確実に防止する事が可能な受け渡し技術を提
供する。 【構成】 平板状の基体部1の一面には、同心円をなす
円弧状に、かつ断面が階段状となるように、段差部2お
よび段差部3が刻設され、内側の段差部2の外径は、受
け渡し操作の対象となるウエハ4の外径よりも小さく、
外側の段差部3の外径はウエハ4の外径よりも僅かに大
きく設定されている。ウエハ4の一方の端縁4aの側を
外側の段差部3の接触面3aに当接させ、他方の端縁4
bを内側の段差部2の接触面2bに当接させた姿勢、お
よび、ウエハ4の端縁4aを内側の段差部2の接触面2
aに当接させ、端縁4bの側を外側の段差部3の接触面
3bに当接させた姿勢、の各々をウエハ4の清浄度のレ
ベルに応じて使い分ける。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、受け渡し技術に関し、
特に半導体ウェハのような高清浄度を維持することが必
要とされる被保持物の受け渡し工程に適用して有効な技
術に関するものである。
特に半導体ウェハのような高清浄度を維持することが必
要とされる被保持物の受け渡し工程に適用して有効な技
術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体装置の製造におけるウエハ処理工
程などでは、半導体ウエハの受け渡しにおいてウエハを
保持し任意の場所に移動させることが出来るハンドリン
グ機構が使われている。
程などでは、半導体ウエハの受け渡しにおいてウエハを
保持し任意の場所に移動させることが出来るハンドリン
グ機構が使われている。
【0003】従来の方式では、ウエハとこの保持部との
接触領域は一定である。つまり常に、保持部の同じ接触
領域によってウエハが保持されている。このことは、例
えば半導体装置の洗浄装置においては、洗浄前に、ウエ
ハを保持した部分と、洗浄後、ウエハを保持する部分と
が同じである事を示している。
接触領域は一定である。つまり常に、保持部の同じ接触
領域によってウエハが保持されている。このことは、例
えば半導体装置の洗浄装置においては、洗浄前に、ウエ
ハを保持した部分と、洗浄後、ウエハを保持する部分と
が同じである事を示している。
【0004】なお、従来における半導体ウエハのハンド
リング技術については、たとえば、株式会社工業調査
会、昭和57年11月18日発行、「電子材料」198
2年11月号P109〜P116、などの文献に記載さ
れている。
リング技術については、たとえば、株式会社工業調査
会、昭和57年11月18日発行、「電子材料」198
2年11月号P109〜P116、などの文献に記載さ
れている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上述の従来の半導体ウ
エハの受け渡し方式では、例えば洗浄装置において、同
一のハンドリング機構を用いて洗浄装置に対するウエハ
の装填および取り出しを行う場合、洗浄前のウエハ裏面
に付いていた異物が、装填時にハンドリング機構に付着
し、高清浄に洗浄したウエハを洗浄後に取り出す際にハ
ンドリング機構に受け取ったときに、当該ハンドリング
機構を介して洗浄済のウエハに再付着して再び汚染して
しまう(クロスコンタミネーション)とういう問題があ
る事を本発明者は見出した。
エハの受け渡し方式では、例えば洗浄装置において、同
一のハンドリング機構を用いて洗浄装置に対するウエハ
の装填および取り出しを行う場合、洗浄前のウエハ裏面
に付いていた異物が、装填時にハンドリング機構に付着
し、高清浄に洗浄したウエハを洗浄後に取り出す際にハ
ンドリング機構に受け取ったときに、当該ハンドリング
機構を介して洗浄済のウエハに再付着して再び汚染して
しまう(クロスコンタミネーション)とういう問題があ
る事を本発明者は見出した。
【0006】このことは、半導体ウエハに形成される半
導体集積回路などの微細化、高性能化に伴って汚染や付
着する異物にたいする許容限度が低下しつつあることを
考慮すれば、半導体装置の信頼度や、歩留り向上などの
観点から重要な問題となるものである。
導体集積回路などの微細化、高性能化に伴って汚染や付
着する異物にたいする許容限度が低下しつつあることを
考慮すれば、半導体装置の信頼度や、歩留り向上などの
観点から重要な問題となるものである。
【0007】本発明の目的は、受け渡し操作における被
保持物の異物などによる汚染を確実に防止する事が可能
な受け渡し技術を提供することにある。
保持物の異物などによる汚染を確実に防止する事が可能
な受け渡し技術を提供することにある。
【0008】本発明の前記並びにその他の目的と新規な
特徴は、本明細書の記述及び添付図面から明らかになる
であろう。
特徴は、本明細書の記述及び添付図面から明らかになる
であろう。
【0009】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
下記のとおりである。
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
下記のとおりである。
【0010】すなわち、本発明は、複数の処理部位の間
における板状の被保持物の受け渡し動作を行う受け渡し
治具において、被保持物を互いに独立に支持可能な複数
の接触面を備え、二つの処理部位間における被保持物の
往復経路または、三以上の処理部位間における被保持物
の移動経路における各経路毎に互いに異なる接触面を使
い分けるようにしたものである。
における板状の被保持物の受け渡し動作を行う受け渡し
治具において、被保持物を互いに独立に支持可能な複数
の接触面を備え、二つの処理部位間における被保持物の
往復経路または、三以上の処理部位間における被保持物
の移動経路における各経路毎に互いに異なる接触面を使
い分けるようにしたものである。
【0011】また、本発明は、請求項1記載の受け渡し
治具において、接触面が、同心円をなす円弧状に刻設さ
れた階段状構造を呈し、被保持物の径方向に互いに異な
る高さに位置する接触面を使い分けて当該被保持物を支
持する構造としたものである。
治具において、接触面が、同心円をなす円弧状に刻設さ
れた階段状構造を呈し、被保持物の径方向に互いに異な
る高さに位置する接触面を使い分けて当該被保持物を支
持する構造としたものである。
【0012】また、本発明は、請求項1または2記載の
受け渡し治具において、階段構造の一部を可動部に刻設
し、被保持物の径方向における階段状構造間の距離を変
化させることにより、互いに異なる接触面を使い分けて
被保持物を支持可能にしたものである。
受け渡し治具において、階段構造の一部を可動部に刻設
し、被保持物の径方向における階段状構造間の距離を変
化させることにより、互いに異なる接触面を使い分けて
被保持物を支持可能にしたものである。
【0013】また、本発明は、請求項1記載の受け渡し
治具において、被保持物を支持する接触面を上下方向に
所定の間隔で重なり合うように配置し、各段の接触面を
使い分けて被保持物を支持する構造としたものである。
治具において、被保持物を支持する接触面を上下方向に
所定の間隔で重なり合うように配置し、各段の接触面を
使い分けて被保持物を支持する構造としたものである。
【0014】また、本発明の受け渡し治具は、被保持物
の載置面に、当該載置面から突出・引込み自在な複数の
支持片を配置し、載置面によって直接的に被保持物を支
持する第1の動作と、載置面から突出させた支持片によ
って被保持物を支持する第2の動作とを可能にしたもの
である。
の載置面に、当該載置面から突出・引込み自在な複数の
支持片を配置し、載置面によって直接的に被保持物を支
持する第1の動作と、載置面から突出させた支持片によ
って被保持物を支持する第2の動作とを可能にしたもの
である。
【0015】また、本発明の受け渡し装置は、第1およ
び第2の処理部位の間に、第1の処理部位から第2の処
理部位への被保持物の支持および移動を専ら行う第1の
受け渡し機構と、第2の処理部位から第1の処理部位へ
の被保持物の支持および移動を専ら行う第2の受け渡し
機構とを備えたものである。
び第2の処理部位の間に、第1の処理部位から第2の処
理部位への被保持物の支持および移動を専ら行う第1の
受け渡し機構と、第2の処理部位から第1の処理部位へ
の被保持物の支持および移動を専ら行う第2の受け渡し
機構とを備えたものである。
【0016】
【作用】上記した本発明の受け渡し治具によれば、各処
理部位の間における被保持物の移動経路毎に、被保持物
を異なる接触面を使い分けて支持するので、たとえば、
洗浄処理などにおいては、洗浄前の被保持物に付着して
いた異物が受け渡し治具を介して洗浄後の被保持物に付
着することによる再汚染が発生したり、あるいは、たと
えば薄膜形成処理などにおいては、薄膜形成中に被保持
物に付着した異物が処理後、受け渡し治具を介して、処
理前の清浄な被保持物に付着して汚染する、などの不具
合が確実に解消され、たとえば清浄度レベルの異なる被
保持物の受け渡し操作における被保持物の異物などによ
る汚染を確実に防止する事が可能となる。
理部位の間における被保持物の移動経路毎に、被保持物
を異なる接触面を使い分けて支持するので、たとえば、
洗浄処理などにおいては、洗浄前の被保持物に付着して
いた異物が受け渡し治具を介して洗浄後の被保持物に付
着することによる再汚染が発生したり、あるいは、たと
えば薄膜形成処理などにおいては、薄膜形成中に被保持
物に付着した異物が処理後、受け渡し治具を介して、処
理前の清浄な被保持物に付着して汚染する、などの不具
合が確実に解消され、たとえば清浄度レベルの異なる被
保持物の受け渡し操作における被保持物の異物などによ
る汚染を確実に防止する事が可能となる。
【0017】また、本発明の受け渡し装置によれば、第
1および第2の処理部位の間における被保持物の移動経
路毎に、専用の第1および第2の受け渡し機構を設けた
ので、第1および第2の処理部位の間における被保持物
の移動に際して、各経路間における受け渡し機構を介し
た異物の相互的な付着が防止され、受け渡し操作におけ
る被保持物の異物などによる汚染を確実に防止する事が
可能となる。
1および第2の処理部位の間における被保持物の移動経
路毎に、専用の第1および第2の受け渡し機構を設けた
ので、第1および第2の処理部位の間における被保持物
の移動に際して、各経路間における受け渡し機構を介し
た異物の相互的な付着が防止され、受け渡し操作におけ
る被保持物の異物などによる汚染を確実に防止する事が
可能となる。
【0018】
【実施例1】以下、図面を参照しながら、本発明の一実
施例である受け渡し治具および装置について詳細に説明
する。
施例である受け渡し治具および装置について詳細に説明
する。
【0019】図1(a)および(b)は、本実施例の受
け渡し治具Aの構成および作用の一例を示す略断面図で
あり、図2は、その平面図である。
け渡し治具Aの構成および作用の一例を示す略断面図で
あり、図2は、その平面図である。
【0020】例えば、平板状の基体部1の一面には、同
心円をなす円弧状に、かつ断面が階段状となるように、
段差部2および段差部3が刻設されている。
心円をなす円弧状に、かつ断面が階段状となるように、
段差部2および段差部3が刻設されている。
【0021】内側の段差部2の外径は、受け渡し操作の
対象となるウエハ4の外径よりも小さく、外側の段差部
3の外径はウエハ4の外径よりも僅かに大きく設定され
ている。これにより、図1の(a)に例示されるよう
に、基体部1の長手方向におけるウエハ4の一方の端縁
4aを外側の段差部3の接触面3aに当接させ、他方の
端縁4bを内側の段差部2の接触面2bに当接させた姿
勢、および、これとは逆に、同図(b)に例示されるよ
うに、ウエハ4の端縁4aを内側の段差部2の接触面2
aに当接させ、端縁4bの側を外側の段差部3の接触面
3bに当接させた姿勢、の各々を使い分けて、当該ウエ
ハ4を支持することが可能になっている。
対象となるウエハ4の外径よりも小さく、外側の段差部
3の外径はウエハ4の外径よりも僅かに大きく設定され
ている。これにより、図1の(a)に例示されるよう
に、基体部1の長手方向におけるウエハ4の一方の端縁
4aを外側の段差部3の接触面3aに当接させ、他方の
端縁4bを内側の段差部2の接触面2bに当接させた姿
勢、および、これとは逆に、同図(b)に例示されるよ
うに、ウエハ4の端縁4aを内側の段差部2の接触面2
aに当接させ、端縁4bの側を外側の段差部3の接触面
3bに当接させた姿勢、の各々を使い分けて、当該ウエ
ハ4を支持することが可能になっている。
【0022】すなわち、前述の各支持姿勢において、ウ
エハ4は、基体部1の同一領域に接することがない。
エハ4は、基体部1の同一領域に接することがない。
【0023】基体部1の一端には、図示しないロボット
ハンドなどに固定するための複数の螺子孔1aが穿設さ
れ、他端部には、当該基体部1に支持されたウエハ4の
下側に必要に応じて図示しない光センサなどによりウエ
ハ4有無等を検知するための逃げ溝1bが開設されてい
る。
ハンドなどに固定するための複数の螺子孔1aが穿設さ
れ、他端部には、当該基体部1に支持されたウエハ4の
下側に必要に応じて図示しない光センサなどによりウエ
ハ4有無等を検知するための逃げ溝1bが開設されてい
る。
【0024】そして、このように構成された本実施例の
受け渡し治具Aによれば、たとえば、特定の位置に位置
決めされているウエハ4の下に基体部1を長手方向に差
し入れ、さらに僅かに持ち上げることによって当該ウエ
ハ4を支持することによって、たとえば、図示しない洗
浄装置と当該洗浄装置の外側に設けられたカセットとの
間でウエハ4の受け渡し動作を行うとき、外側の段差部
3と内側の段差部2の半径の差分ΔS程度にストローク
をずらす動作を行う。
受け渡し治具Aによれば、たとえば、特定の位置に位置
決めされているウエハ4の下に基体部1を長手方向に差
し入れ、さらに僅かに持ち上げることによって当該ウエ
ハ4を支持することによって、たとえば、図示しない洗
浄装置と当該洗浄装置の外側に設けられたカセットとの
間でウエハ4の受け渡し動作を行うとき、外側の段差部
3と内側の段差部2の半径の差分ΔS程度にストローク
をずらす動作を行う。
【0025】これにより、たとえば、カット側から洗浄
装置へ洗浄前のウエハ4を装填する操作では、図1
(a)のように、段差部3の接触面3aと段差部2の接
触面2bとで、ウエハ4の端縁4aおよび4bを支持
し、逆に、洗浄済のウエハ4を洗浄装置から外部のカセ
ットにとり出す場合には、図1(b)のように、段差部
2の接触面2aと段差部3の接触面3bとで、ウエハ4
の端縁4aおよび4bを支持させることができる。
装置へ洗浄前のウエハ4を装填する操作では、図1
(a)のように、段差部3の接触面3aと段差部2の接
触面2bとで、ウエハ4の端縁4aおよび4bを支持
し、逆に、洗浄済のウエハ4を洗浄装置から外部のカセ
ットにとり出す場合には、図1(b)のように、段差部
2の接触面2aと段差部3の接触面3bとで、ウエハ4
の端縁4aおよび4bを支持させることができる。
【0026】すなわち、共通の受け渡し治具Aを用いる
場合でも、清浄度レベルの異なる洗浄前のウエハ4と洗
浄後のウエハ4は、基体部1の同一領域に接触すること
がなくなる。このため、たとえば、洗浄処理の場合に
は、洗浄前のウエハ4に付着していた異物が基体部1を
介して洗浄後のウエハ4に再付着するなどの汚染(クロ
スコンタミネーション)が確実に回避される。
場合でも、清浄度レベルの異なる洗浄前のウエハ4と洗
浄後のウエハ4は、基体部1の同一領域に接触すること
がなくなる。このため、たとえば、洗浄処理の場合に
は、洗浄前のウエハ4に付着していた異物が基体部1を
介して洗浄後のウエハ4に再付着するなどの汚染(クロ
スコンタミネーション)が確実に回避される。
【0027】
【実施例2】図3(a)および(b)は本発明の他の実
施例である受け渡し治具Bの構成および作用の一例を示
す略断面図である。
施例である受け渡し治具Bの構成および作用の一例を示
す略断面図である。
【0028】この実施例2の場合には、段差部2および
段差部3における接触面2bおよび接触面3bの領域
を、ウエハ4の径方向に移動可能に設けられた可動片5
に設け、当該可動片5を送り螺子6およびモータ7を介
して駆動する構成としたものである。又、可動片5を送
り螺子6以外のカム・リンク機構およびモータ7以外の
エアシリンダ等を介して駆動する構成もある。
段差部3における接触面2bおよび接触面3bの領域
を、ウエハ4の径方向に移動可能に設けられた可動片5
に設け、当該可動片5を送り螺子6およびモータ7を介
して駆動する構成としたものである。又、可動片5を送
り螺子6以外のカム・リンク機構およびモータ7以外の
エアシリンダ等を介して駆動する構成もある。
【0029】そして、ウエハ4の支持動作に際しては、
可動片5を拡開方向に移動させ、内側の小径の段差部2
の接触面2aおよび2bによってウエハ4の端縁4aお
よび4bを当接支持する保持姿勢(図3(a))と、可
動片5を縮閉方向に移動させ、外側の大径の段差部3の
接触面3aおよび3bによってウエハ4の端縁4aおよ
び4bを当接支持する保持姿勢(図3(b))を使い分
けることを可能にしたものである。
可動片5を拡開方向に移動させ、内側の小径の段差部2
の接触面2aおよび2bによってウエハ4の端縁4aお
よび4bを当接支持する保持姿勢(図3(a))と、可
動片5を縮閉方向に移動させ、外側の大径の段差部3の
接触面3aおよび3bによってウエハ4の端縁4aおよ
び4bを当接支持する保持姿勢(図3(b))を使い分
けることを可能にしたものである。
【0030】これにより、前記実施例1の場合と同様
に、前記各支持姿勢の各々で、ウエハ4の基体部1の同
一領域に接することがないので、当該基体部1を介した
ウエハ4の汚染が回避される。
に、前記各支持姿勢の各々で、ウエハ4の基体部1の同
一領域に接することがないので、当該基体部1を介した
ウエハ4の汚染が回避される。
【0031】また、一種類の受け渡し治具Bによって、
径寸法の異なる複数種のウエハ4の受け渡し操作を行う
ことができる。
径寸法の異なる複数種のウエハ4の受け渡し操作を行う
ことができる。
【0032】
【実施例3】図4(a)および(b)は、本発明のさら
に他の実施例である受け渡し治具Cの構成および作用の
一例を示す略断面図である。
に他の実施例である受け渡し治具Cの構成および作用の
一例を示す略断面図である。
【0033】この受け渡し治具Cは、基体部10におけ
るウエハ4の載置面10aに、回動動作によって当該載
置面10aから突出し、あるいは、当該載置面10aの
内部に完全に引き込まれる複数の回転接触子11を埋め
込んだものである。
るウエハ4の載置面10aに、回動動作によって当該載
置面10aから突出し、あるいは、当該載置面10aの
内部に完全に引き込まれる複数の回転接触子11を埋め
込んだものである。
【0034】すなわち、本実施例の場合には、回転接触
子11の各々は略三角形を呈し、回転軸11aによって
載置面10aに交差する平面内で回動自在に支持され、
図示しない駆動機構により、突出および引込みのための
回動姿勢が同期して制御される。
子11の各々は略三角形を呈し、回転軸11aによって
載置面10aに交差する平面内で回動自在に支持され、
図示しない駆動機構により、突出および引込みのための
回動姿勢が同期して制御される。
【0035】これにより、図4の(a)に例示されるよ
うに、三角形の複数の回転接触子11の各々の頂点を載
置面10aから突出させ、複数の当該回転接触子11に
よってウエハ4を略点接触によって支持する保持状態
と、同図(b)に例示されるように、複数の回転接触子
11を載置面10aの内部に引込み、当該載置面10a
によって面接触で支持する保持状態とを、たとえば、所
望の処理装置に対するウエハ4の装填および取り出し操
作の各々で使い分けることが可能となり、前述の各実施
例の場合と同様に、洗浄や薄膜形成処理などにおけるウ
エハ4の取扱に際してのクロスコンタミネーションを防
止することができる。
うに、三角形の複数の回転接触子11の各々の頂点を載
置面10aから突出させ、複数の当該回転接触子11に
よってウエハ4を略点接触によって支持する保持状態
と、同図(b)に例示されるように、複数の回転接触子
11を載置面10aの内部に引込み、当該載置面10a
によって面接触で支持する保持状態とを、たとえば、所
望の処理装置に対するウエハ4の装填および取り出し操
作の各々で使い分けることが可能となり、前述の各実施
例の場合と同様に、洗浄や薄膜形成処理などにおけるウ
エハ4の取扱に際してのクロスコンタミネーションを防
止することができる。
【0036】
【実施例4】図5は、本発明のさらに他の実施例である
受け渡し治具Dの構成の一例を示す略側面図である。
受け渡し治具Dの構成の一例を示す略側面図である。
【0037】この実施例4の場合には、基体部20にウ
エハ4が載置される複数のフィンガ21およびフィンガ
22を上下二段に配置し、たとえば、所望の処理装置に
対するウエハ4の装填および取り出し操作の各々で、複
数のフィンガ21およびフィンガ22を使い分けるよう
にしたものである。これにより、前述の各実施例の場合
と同様に、洗浄や薄膜形成処理などにおけるウエハ4の
取扱に際してのクロスコンタミネーションを防止するこ
とができる。
エハ4が載置される複数のフィンガ21およびフィンガ
22を上下二段に配置し、たとえば、所望の処理装置に
対するウエハ4の装填および取り出し操作の各々で、複
数のフィンガ21およびフィンガ22を使い分けるよう
にしたものである。これにより、前述の各実施例の場合
と同様に、洗浄や薄膜形成処理などにおけるウエハ4の
取扱に際してのクロスコンタミネーションを防止するこ
とができる。
【0038】なお、図5ではフィンガを二段に配置した
例を示してあるが、三段以上の構造としてもよいことは
言うまでもない。
例を示してあるが、三段以上の構造としてもよいことは
言うまでもない。
【0039】
【実施例5】図6は、本発明の一実施例である受け渡し
装置Eの構成の一例を示す概念図である。
装置Eの構成の一例を示す概念図である。
【0040】本実施例の受け渡し装置Eは、複数のプロ
セスチャンバ30およびプロセスチャンバ31の間にお
けるウエハ4の受け渡し操作を行うために、ロボット3
2aおよび当該ロボット32aによって駆動されるフィ
ンガ32bからなる受け渡し機構32、およびロボット
33aおよび当該ロボット33aによって駆動されるフ
ィンガ33bからなる受け渡し機構33を多重に配置し
たものである。
セスチャンバ30およびプロセスチャンバ31の間にお
けるウエハ4の受け渡し操作を行うために、ロボット3
2aおよび当該ロボット32aによって駆動されるフィ
ンガ32bからなる受け渡し機構32、およびロボット
33aおよび当該ロボット33aによって駆動されるフ
ィンガ33bからなる受け渡し機構33を多重に配置し
たものである。
【0041】そして、たとえば、プロセスチャンバ30
からプロセスチャンバ31へのウエハ4の移動に際して
は、一方の受け渡し機構32のフィンガ32bを用いて
ウエハ4の受け渡しを行い、プロセスチャンバ31から
のウエハ4の取り出し操作は、他の受け渡し機構33の
フィンガ33bを用いる、というように、各受け渡し工
程で複数の受け渡し機構32および33を使い分けるも
のである。
からプロセスチャンバ31へのウエハ4の移動に際して
は、一方の受け渡し機構32のフィンガ32bを用いて
ウエハ4の受け渡しを行い、プロセスチャンバ31から
のウエハ4の取り出し操作は、他の受け渡し機構33の
フィンガ33bを用いる、というように、各受け渡し工
程で複数の受け渡し機構32および33を使い分けるも
のである。
【0042】これにより、プロセスチャンバ30や31
におけるウエハ4の所定の処理の前後におけるクロスコ
ンタミネーションを防止することができる。
におけるウエハ4の所定の処理の前後におけるクロスコ
ンタミネーションを防止することができる。
【0043】以上、本発明者によってなされた発明を実
施例に基づき説明したが、本発明は前記実施例に限定さ
れるものでなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更
可能である事はいうまでもない。
施例に基づき説明したが、本発明は前記実施例に限定さ
れるものでなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更
可能である事はいうまでもない。
【0044】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野である半導体
製造装置の製造におけるウエハ処理工程での半導体ウエ
ハの受け渡し技術に適用した場合について説明したが、
これに限定されるものではなく、高清浄度が必要とされ
る一般の精密製品の取扱い技術に広く適用できる。
なされた発明をその背景となった利用分野である半導体
製造装置の製造におけるウエハ処理工程での半導体ウエ
ハの受け渡し技術に適用した場合について説明したが、
これに限定されるものではなく、高清浄度が必要とされ
る一般の精密製品の取扱い技術に広く適用できる。
【0045】
【発明の効果】本願において開示される発明の代表的な
ものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下記の
通りである。
ものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下記の
通りである。
【0046】すなわち、本発明の受け渡し治具によれ
ば、被保持物に対する接触領域を、たとえば当該被保持
物の清浄度などのレベルに応じて使い分けることができ
るので、清浄度レベルの異なる被保持物の受け渡し操作
における被保持物の異物などによる汚染を確実に防止す
る事ができるという効果が得られる。
ば、被保持物に対する接触領域を、たとえば当該被保持
物の清浄度などのレベルに応じて使い分けることができ
るので、清浄度レベルの異なる被保持物の受け渡し操作
における被保持物の異物などによる汚染を確実に防止す
る事ができるという効果が得られる。
【0047】また、本発明の受け渡し装置によれば、被
保持物に接触する複数の受け渡し機構を、たとえば当該
被保持物の清浄度などのレベルに応じて使い分けること
ができるので、受け渡し操作における被保持物の異物な
どによる汚染を確実に防止する事ができるという効果が
得られる。
保持物に接触する複数の受け渡し機構を、たとえば当該
被保持物の清浄度などのレベルに応じて使い分けること
ができるので、受け渡し操作における被保持物の異物な
どによる汚染を確実に防止する事ができるという効果が
得られる。
【0048】この結果、たとえば、被保持物であるウエ
ハに形成される半導体装置の特性等に与える異物の影響
を低減でき、信頼度の向上に寄与することができる。
ハに形成される半導体装置の特性等に与える異物の影響
を低減でき、信頼度の向上に寄与することができる。
【図1】(a)および(b)は、本実施例の受け渡し治
具Aの構成および作用の一例を示す略断面図である。
具Aの構成および作用の一例を示す略断面図である。
【図2】その平面図である。
【図3】(a)および(b)は本発明の他の実施例であ
る受け渡し治具Bの構成および作用の一例を示す略断面
図である。
る受け渡し治具Bの構成および作用の一例を示す略断面
図である。
【図4】(a)および(b)は、本発明のさらに他の実
施例である受け渡し治具Cの構成および作用の一例を示
す略断面図である。
施例である受け渡し治具Cの構成および作用の一例を示
す略断面図である。
【図5】本発明のさらに他の実施例である受け渡し治具
Dの構成の一例を示す略側面図である。
Dの構成の一例を示す略側面図である。
【図6】本発明の一実施例である受け渡し装置Eの構成
の一例を示す概念図である。
の一例を示す概念図である。
1 基体部 1a 螺子孔 1b 逃げ溝 2 段差部 2a 接触面 2b 接触面 3 段差部 3a 接触面 3b 接触面 4 ウエハ(被保持物) 4a 端縁 4b 端縁 5 可動片 6 送り螺子 7 モータ 10 基体部 10a 載置面 11 回転接触子(支持片) 11a 回転軸 20 基体部 21 フィンガ 22 フィンガ 30 プロセスチャンバ(第1の処理部位) 31 プロセスチャンバ(第2の処理部位) 32 受け渡し機構(第1の受け渡し機構) 32a ロボット 32b フィンガ 33 受け渡し機構(第2の受け渡し機構) 33a ロボット 33b フィンガ A 受け渡し治具 B 受け渡し治具 C 受け渡し治具 D 受け渡し治具 E 受け渡し装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 田辺 義和 東京都青梅市今井2326番地 株式会社日立 製作所デバイス開発センタ内
Claims (6)
- 【請求項1】 複数の処理部位の間における板状の被保
持物の受け渡し動作を行う受け渡し治具であって、前記
被保持物を互いに独立に支持可能な複数の接触面を備
え、二つの前記処理部位間における前記被保持物の往復
経路または、三以上の前記処理部位間における前記被保
持物の移動経路の各々毎に、互いに異なる前記接触面を
使い分けることを特徴とする受け渡し治具。 - 【請求項2】 前記接触面が、同心円をなす円弧状に刻
設された階段状構造を呈し、前記被保持物の径方向に互
いに異なる高さに位置する前記接触面を使い分けて当該
被保持物を支持することを特徴とする請求項1記載の受
け渡し治具。 - 【請求項3】 前記階段構造の一部が可動部に刻設さ
れ、前記被保持物の径方向における前記階段状構造間の
距離を変化させることにより、互いに異なる前記接触面
を使い分けて前記被保持物を支持可能にしたことを特徴
とする請求項1または2記載の受け渡し治具。 - 【請求項4】 前記被保持物を支持する接触面が上下方
向に所定の間隔で重なり合うように配置され、各段の前
記接触面を使い分けて前記被保持物を支持することを特
徴とする請求項1記載の受け渡し治具。 - 【請求項5】 被保持物の載置面に、当該載置面から突
出・引込み自在な複数の支持片を配置し、前記載置面に
よって直接的に前記被保持物を支持する第1の動作と、
前記載置面から突出させた前記支持片によって前記被保
持物を支持する第2の動作とを使い分けることを可能に
したことを特徴する受け渡し治具。 - 【請求項6】 第1および第2の処理部位の間に、前記
第1の処理部位から第2の処理部位への被保持物の支持
および移動を専ら行う第1の受け渡し機構と、前記第2
の処理部位から第1の処理部位への被保持物の支持およ
び移動を専ら行う第2の受け渡し機構とを備えたことを
特徴とする受け渡し装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24035292A JPH0687531A (ja) | 1992-09-09 | 1992-09-09 | 受け渡し治具および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24035292A JPH0687531A (ja) | 1992-09-09 | 1992-09-09 | 受け渡し治具および装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0687531A true JPH0687531A (ja) | 1994-03-29 |
Family
ID=17058216
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24035292A Pending JPH0687531A (ja) | 1992-09-09 | 1992-09-09 | 受け渡し治具および装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0687531A (ja) |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5711646A (en) * | 1994-10-07 | 1998-01-27 | Tokyo Electron Limited | Substrate transfer apparatus |
JP2010153808A (ja) * | 2008-11-26 | 2010-07-08 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 基板処理装置 |
JP2010206042A (ja) * | 2009-03-05 | 2010-09-16 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板搬送装置 |
CN102205540A (zh) * | 2010-03-31 | 2011-10-05 | 株式会社安川电机 | 基板搬运手和基板搬运机器人 |
JP2012130985A (ja) * | 2010-12-21 | 2012-07-12 | Kawasaki Heavy Ind Ltd | 搬送ロボット用エンドエフェクタ |
JP2014024161A (ja) * | 2012-07-27 | 2014-02-06 | Ebara Corp | ワーク搬送装置 |
JP2016208018A (ja) * | 2015-04-15 | 2016-12-08 | ラム リサーチ コーポレーションLam Research Corporation | 清浄な/汚れた基板のハンドリングのためのエンドエフェクタアセンブリ |
JP2017183593A (ja) * | 2016-03-31 | 2017-10-05 | 平田機工株式会社 | ハンドユニットおよび移載方法 |
CN109427637A (zh) * | 2017-08-30 | 2019-03-05 | 株式会社斯库林集团 | 基板反转装置、基板处理装置及基板支撑装置以及其方法 |
JP2020205386A (ja) * | 2019-06-19 | 2020-12-24 | 信越半導体株式会社 | 半導体ウェーハ搬送治具およびそれを用いた搬送方法 |
JP2022043081A (ja) * | 2020-06-30 | 2022-03-15 | 株式会社荏原製作所 | 基板処理装置 |
CN117260792A (zh) * | 2023-11-17 | 2023-12-22 | 上海普达特半导体设备有限公司 | 具有夹块的机械手及设备 |
CN117373994A (zh) * | 2023-11-17 | 2024-01-09 | 上海普达特半导体设备有限公司 | 用于传输晶圆的机械手以及半导体处理设备 |
-
1992
- 1992-09-09 JP JP24035292A patent/JPH0687531A/ja active Pending
Cited By (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5711646A (en) * | 1994-10-07 | 1998-01-27 | Tokyo Electron Limited | Substrate transfer apparatus |
JP2010153808A (ja) * | 2008-11-26 | 2010-07-08 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 基板処理装置 |
JP2010206042A (ja) * | 2009-03-05 | 2010-09-16 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板搬送装置 |
CN102205540A (zh) * | 2010-03-31 | 2011-10-05 | 株式会社安川电机 | 基板搬运手和基板搬运机器人 |
JP2011228625A (ja) * | 2010-03-31 | 2011-11-10 | Yaskawa Electric Corp | 基板搬送用ハンドおよび基板搬送ロボット |
KR101504796B1 (ko) * | 2010-03-31 | 2015-03-20 | 가부시키가이샤 야스카와덴키 | 기판 반송용 핸드 및 기판 반송 로봇 |
JP2012130985A (ja) * | 2010-12-21 | 2012-07-12 | Kawasaki Heavy Ind Ltd | 搬送ロボット用エンドエフェクタ |
JP2014024161A (ja) * | 2012-07-27 | 2014-02-06 | Ebara Corp | ワーク搬送装置 |
JP2016208018A (ja) * | 2015-04-15 | 2016-12-08 | ラム リサーチ コーポレーションLam Research Corporation | 清浄な/汚れた基板のハンドリングのためのエンドエフェクタアセンブリ |
KR20170113314A (ko) * | 2016-03-31 | 2017-10-12 | 히라따기꼬오 가부시키가이샤 | 핸드 유닛 및 이동탑재 방법 |
JP2017183593A (ja) * | 2016-03-31 | 2017-10-05 | 平田機工株式会社 | ハンドユニットおよび移載方法 |
CN107275268A (zh) * | 2016-03-31 | 2017-10-20 | 平田机工株式会社 | 机械手单元及移载方法 |
US10109515B2 (en) | 2016-03-31 | 2018-10-23 | Hirata Corporation | Hand unit and transfer method |
CN107275268B (zh) * | 2016-03-31 | 2020-09-15 | 平田机工株式会社 | 机械手单元及移载方法 |
US10622242B2 (en) | 2017-08-30 | 2020-04-14 | SCREEN Holdings Co., Ltd. | Substrate inverting device, substrate processing apparatus, and substrate supporting device, and substrate inverting method, substrate processing method, and substrate supporting method |
JP2019046846A (ja) * | 2017-08-30 | 2019-03-22 | 株式会社Screenホールディングス | 基板反転装置、基板処理装置および基板支持装置 |
KR20190024661A (ko) * | 2017-08-30 | 2019-03-08 | 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 | 기판 반전 장치, 기판 처리 장치 및 기판 지지 장치, 그리고, 기판 반전 방법, 기판 처리 방법 및 기판 지지 방법 |
CN109427637A (zh) * | 2017-08-30 | 2019-03-05 | 株式会社斯库林集团 | 基板反转装置、基板处理装置及基板支撑装置以及其方法 |
JP2020205386A (ja) * | 2019-06-19 | 2020-12-24 | 信越半導体株式会社 | 半導体ウェーハ搬送治具およびそれを用いた搬送方法 |
JP2022043081A (ja) * | 2020-06-30 | 2022-03-15 | 株式会社荏原製作所 | 基板処理装置 |
CN117260792A (zh) * | 2023-11-17 | 2023-12-22 | 上海普达特半导体设备有限公司 | 具有夹块的机械手及设备 |
CN117373994A (zh) * | 2023-11-17 | 2024-01-09 | 上海普达特半导体设备有限公司 | 用于传输晶圆的机械手以及半导体处理设备 |
CN117260792B (zh) * | 2023-11-17 | 2024-02-27 | 上海普达特半导体设备有限公司 | 具有夹块的机械手及设备 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4999487B2 (ja) | 基板処理装置 | |
KR100299114B1 (ko) | 기판 반송 장치 | |
JPH0687531A (ja) | 受け渡し治具および装置 | |
JP4680657B2 (ja) | 基板搬送システム | |
JP2009043771A (ja) | チャックテーブル機構および被加工物の保持方法 | |
JP2003243483A (ja) | 板状物の搬送機構および搬送機構を備えたダイシング装置 | |
JP2004140058A (ja) | ウエハ搬送装置およびウエハ処理装置 | |
JP4256132B2 (ja) | 板状物の搬送装置 | |
JP2003086543A (ja) | 板状物の搬送機構および搬送機構を備えたダイシング装置 | |
JP5037379B2 (ja) | 板状物の搬送装置 | |
JP2007184412A (ja) | 研削装置のチャックテーブルの洗浄装置 | |
JP4488590B2 (ja) | 被加工物の分割方法 | |
JPH07130637A (ja) | 半導体製造装置 | |
JP7303635B2 (ja) | ワークの保持方法及びワークの処理方法 | |
JP4119170B2 (ja) | チャックテーブル | |
JP2003297902A (ja) | カセットアダプタ | |
JP4869097B2 (ja) | 基板処理装置 | |
JP2023003507A (ja) | 加工装置 | |
JPH11251284A (ja) | 回転処理装置 | |
JPS63288642A (ja) | ダイシング装置におけるワ−ク搬送方法及び装置 | |
JPS6328765B2 (ja) | ||
KR100583942B1 (ko) | 양면 가공용 웨이퍼의 고정 장치 | |
JP3050910B2 (ja) | 薄板状部材の保持装置 | |
JPH11254306A (ja) | 研磨装置 | |
JP7294969B2 (ja) | バイト切削装置、及び、チャックテーブルの清掃方法 |