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JPH0659267A - Substrate for display device and its production - Google Patents

Substrate for display device and its production

Info

Publication number
JPH0659267A
JPH0659267A JP20927892A JP20927892A JPH0659267A JP H0659267 A JPH0659267 A JP H0659267A JP 20927892 A JP20927892 A JP 20927892A JP 20927892 A JP20927892 A JP 20927892A JP H0659267 A JPH0659267 A JP H0659267A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
indium
copper
transparent electrode
display device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP20927892A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Yamazoe
博司 山添
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP20927892A priority Critical patent/JPH0659267A/en
Publication of JPH0659267A publication Critical patent/JPH0659267A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

PURPOSE:To substantially lower the electric resistance of transparent electrodes by allowing alloy layers consisting of indium and copper and laminated conductors consisting of copper to exist in contact with the transparent electrodes and coupling at least a part of the alloy layers to a substrate or the transparent electrodes. CONSTITUTION:This substrate consists of a glass substrate 1, ITO electrodes 2 which are subjected to fine processing, i.e., are processed to a stripe shape in the case of a simple matrix display device, photoresist 3, indium metallic layers 4, copper metallic layers 5 and the layers 6 consisting of the alloy of the indium-copper. The alloy layers 6 are coupled to the ITO electrodes 2. The indium or indium alloy has the adhesive power to the substrate 1, more specifically, the adhesive power to the ITO electrodes 2 and the glassy substrate 1. The adhesive power of the copper metal in particular is extremely poor for its noble metal characteristic. The electric resistivity is most ideally lowered by using the copper or aluminum.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、液晶表示装置等の表示
装置の基板の製法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a substrate of a display device such as a liquid crystal display device.

【0002】[0002]

【従来の技術】液晶表示装置等の表示装置は、マン・マ
シーン・インターフェースとして重要な技術である。特
に、最近、コンピューター端末等において、ダウン・サ
イジングの意味からも、液晶表示装置は必須となってき
た。
2. Description of the Related Art A display device such as a liquid crystal display device is an important technique as a man-machine interface. Particularly, recently, in computer terminals and the like, liquid crystal display devices have become indispensable also from the viewpoint of downsizing.

【0003】ところで、それに用いられる電極の材料と
しては、電気抵抗値、生産時の制御性、膜の均一性、光
の透過率、微細加工性等の点から、産業的には、圧倒的
に、インジウム−錫の酸化物(いわゆるITO透明電
極)が使われている(「薄膜ハンドブック」、日本学術
振興会第131委員会 編、オーム社刊参照)。
By the way, the electrode material used therefor is industrially overwhelming in view of electric resistance, controllability during production, film uniformity, light transmittance, and fine workability. , An oxide of indium-tin (so-called ITO transparent electrode) is used (see "Thin Film Handbook", edited by Japan Society for the Promotion of Science, 131st Committee, published by Ohmsha).

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】最近、コンピューター
端末等に使われる液晶表示装置において、高品位表示の
要求が現実のものとなってきた。これらの液晶表示装置
においては、STN等、単純モードの液晶表示装置が主
に使われている。これらの液晶表示装置には、表示にお
いて、クロストーク現象等、表示の質の低下が見られる
が、現状では仕方なく使われている。
Recently, in liquid crystal display devices used for computer terminals and the like, the demand for high-quality display has become a reality. In these liquid crystal display devices, simple mode liquid crystal display devices such as STN are mainly used. In these liquid crystal display devices, the display quality is deteriorated due to a crosstalk phenomenon or the like in the display, but it is unavoidably used at present.

【0005】この現象は、透明電極(ITO)の電気抵
抗値が十分、低くなく、従って、CR時定数が大きいこ
とに起因する。現在の技術では、ITOの比電気抵抗率
は、2×10ー4Ωcm程度までしか、達成されていな
い。ちなみに、金や銅、アルミニウムの比抵抗率は、2
×10-6Ωcm程度である。
This phenomenon is caused by the fact that the electric resistance of the transparent electrode (ITO) is not sufficiently low and therefore the CR time constant is large. With the current technology, the specific electric resistivity of ITO has been achieved only up to about 2 × 10 −4 Ωcm. By the way, the resistivity of gold, copper, and aluminum is 2
It is about 10 −6 Ωcm.

【0006】ところが、金や銅、アルミニウムをITO
に接して配線された(いわゆる補助電極)基板の開発が
なされているが、この場合、ITOや基板への接着強度
の欠如が課題となる。
However, gold, copper or aluminum is replaced with ITO.
A substrate in which wiring is formed in contact with the substrate (so-called auxiliary electrode) has been developed, but in this case, lack of adhesion strength to ITO or the substrate becomes a problem.

【0007】また、この補助電極形成のコストは出来る
だけ、低減させることが要求される。
Further, it is required to reduce the cost of forming the auxiliary electrode as much as possible.

【0008】さらに、この課題は、強誘電性液晶表示装
置においてもあてはまる。
Further, this problem also applies to a ferroelectric liquid crystal display device.

【0009】本発明は、このような従来の液晶表示装置
の課題を考慮し、透明電極の電気抵抗を実質上低下させ
ることが出来る表示装置用基板及びその製造方法を提供
することを目的とするものである。
In view of the above problems of the conventional liquid crystal display device, it is an object of the present invention to provide a substrate for a display device capable of substantially reducing the electric resistance of a transparent electrode and a method of manufacturing the same. It is a thing.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明は、基板の主面全
面に亘る所定の形状の透明電極と接して、インジウムと
銅からなる合金層と銅からなる積層導体が存在し、しか
も前記合金層の少なくとも一部が基板又は透明電極と結
合してなる表示装置用基板である。
According to the present invention, an alloy layer made of indium and copper and a laminated conductor made of copper are present in contact with a transparent electrode having a predetermined shape over the entire main surface of a substrate. A substrate for a display device in which at least a part of the layer is bonded to the substrate or the transparent electrode.

【0011】また、本発明は、基板の主面全面に亘る所
定の形状の透明電極と接して、インジウムとアルミニウ
ムからなる合金層とアルミニウムからなる積層導体が存
在し、しかも前記合金層の少なくとも一部が基板又は透
明電極と結合してなる表示装置用基板である。
Further, according to the present invention, an alloy layer made of indium and aluminum and a laminated conductor made of aluminum are present in contact with a transparent electrode having a predetermined shape over the entire main surface of the substrate, and at least one of the alloy layers is provided. A part is a substrate for a display device, which is connected to a substrate or a transparent electrode.

【0012】また、本発明は、基板の主面全面に亘る透
明電極の上に、所望の状態にパターン化されたレジスト
膜を形成し、透明電極の腐食液でサイドエッチ状態にな
るまで微細加工をし、洗浄し、次に透明電極の露出部に
インジウム鍍金を施し、更に、この上に、銅鍍金とイン
ジウム鍍金をこの順に順次施し、洗浄、乾燥させ、レジ
スト膜を除去、洗浄、乾燥させ、この後、所望の温度プ
ロフィールで、所望の最高温度まで熱処理するような表
示装置用基板の製造方法を提供する。
Further, according to the present invention, a resist film patterned in a desired state is formed on a transparent electrode over the entire main surface of a substrate, and fine processing is performed by a corrosive liquid for the transparent electrode until a side-etched state is reached. Then, the exposed portion of the transparent electrode is plated with indium, and further, copper plating and indium plating are sequentially applied on the exposed portion in this order, washed and dried, and the resist film is removed, washed and dried. Then, a method for manufacturing a substrate for a display device is provided, in which a heat treatment is performed to a desired maximum temperature with a desired temperature profile.

【0013】[0013]

【作用】まず、基板への接着力、具体的には、ITO並
びに、ガラス質基板表面への接着力は、インジウムない
し、インジウム合金が付着力が良好である。この現象
は、ガラス用ハンダ等で実証されている。また、特に銅
金属はその貴金属性の故に付着力は極めて乏しい。
First, indium or an indium alloy has a good adhesive force to the substrate, specifically, ITO and the adhesive force to the glass substrate surface. This phenomenon has been verified with glass solder and the like. Further, especially copper metal has extremely poor adhesion due to its noble metal property.

【0014】また、インジウムは、水溶液を使った、電
気鍍金で可能である。インジウムを析出させるため、物
理的析出法を使う必要がない。物理的析出法は、蒸着機
やスパッター装置等、高価な設備が必要である。もちろ
ん、インジウム金属は、物理的手法でも析出可能であ
る。
Indium can be electroplated using an aqueous solution. Since indium is deposited, it is not necessary to use a physical deposition method. The physical precipitation method requires expensive equipment such as a vapor deposition machine and a sputtering apparatus. Of course, indium metal can also be deposited by physical means.

【0015】電気抵抗は、銅、やアルミニウムを使用す
ることにより、最も理想的に下がる。
The electric resistance is most ideally lowered by using copper or aluminum.

【0016】また、製造方法は、ITOの微細加工(こ
れは、従来なされるプロセスである)に、若干のプロセ
スを追加することにより、より低抵抗の電極を得るのが
望ましい。
Further, in the manufacturing method, it is desirable to obtain an electrode having a lower resistance by adding some processes to the fine processing of ITO (this is a conventional process).

【0017】これでは、ITO電極の検査も一度で済
む。最後の熱処理は、インジウムと銅の一部の合金反応
を進めるためと、基板と前記合金との接着力を向上させ
るためである。
With this, the inspection of the ITO electrode can be performed only once. The final heat treatment is for promoting the alloy reaction of a part of indium and copper and for improving the adhesive force between the substrate and the alloy.

【0018】また、前記最高温度は、表示装置作製にお
ける後の工程での少なくとも最高温度にされるべきであ
る。
Further, the maximum temperature should be at least the maximum temperature in a later step in manufacturing the display device.

【0019】なお、前記積層導体において、インジウム
ないしインジウム合金の層は基板への付着力にのみ寄与
するものであり、電気抵抗を下げるには卓効はない。従
って、付着力さえ、満足出来れば、銅やアルミニウムか
らなる層の体積は、前記層に比べて、大であるべきであ
る。
In the above-mentioned laminated conductor, the layer of indium or indium alloy contributes only to the adhesion to the substrate, and is not effective for reducing the electric resistance. Therefore, the volume of the layer made of copper or aluminum should be larger than that of the layer as long as the adhesion can be satisfied.

【0020】[0020]

【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0021】本実施例では、単純型のマトリクス表示装
置について述べる。
In this embodiment, a simple matrix display device will be described.

【0022】(実施例1)図1に従って説明する。本実
施例の構成断面図である図1において、1はガラス基
板、2は微細加工済み、すなわち単純マトリクス表示装
置に関しては、ストライプ状に加工されたITO電極、
3はフォトレジスト、4はインジウム金属層、5は銅金
属層、6はインジウム−銅の合金からなる層である。
(Embodiment 1) A description will be given with reference to FIG. In FIG. 1 which is a cross-sectional view of the structure of the present embodiment, 1 is a glass substrate, 2 is finely processed, that is, for a simple matrix display device, an ITO electrode processed in a stripe shape
3 is a photoresist, 4 is an indium metal layer, 5 is a copper metal layer, and 6 is a layer made of an indium-copper alloy.

【0023】微細加工されたITO電極2を主面に有す
るコーニング社製#7059ガラス基板1を入手した。
東京応化製ポジレジストを使い、公知のフォトリソグラ
フィー法でもって、図1(a)の如く、レジストパター
ン3を作った。次に、O2アッシャーで処理した。
A # 7059 glass substrate 1 manufactured by Corning Co. having a finely processed ITO electrode 2 on its main surface was obtained.
A resist pattern 3 was formed as shown in FIG. 1A by a known photolithography method using a positive resist manufactured by Tokyo Ohka. Then it was treated with an O2 asher.

【0024】次に、硫酸インジウム、約60グラムと、
硫酸ナトリウム、約10グラムを約1リットルの純水に
溶解させた溶液で、約0.1ミクロンの厚みのインジウ
ム鍍金4をITO電極2上に行う。次によく洗浄する。
Next, indium sulfate, about 60 grams,
Indium plating 4 having a thickness of about 0.1 micron is applied on the ITO electrode 2 with a solution of about 10 grams of sodium sulfate dissolved in about 1 liter of pure water. Then wash thoroughly.

【0025】更に、酸性の硫酸銅系の溶液で、この上
に、約2ミクロンの厚みの銅鍍金5を行った。
Further, with an acidic copper sulfate-based solution, a copper plating 5 having a thickness of about 2 μm was performed thereon.

【0026】レジスト3を有機溶剤で剥離し、よく洗浄
し、乾燥させ、図1(b)のものを得た。
The resist 3 was peeled off with an organic solvent, thoroughly washed and dried to obtain the one shown in FIG. 1 (b).

【0027】この後、約150℃まで、徐徐に昇温し、
最終的には約260℃まで、昇温させ、基板を熱処理し
た。この時、インジウム金属層4は、インジウム−銅の
合金層6になっているのが、オージェ電子分析によって
明かになった。かくて、図1(c)を得た。これら、鍍
金層5、6のITO電極2への付着力は実用に耐えるも
のであった。
Thereafter, the temperature is gradually raised to about 150 ° C.,
Finally, the temperature was raised to about 260 ° C. and the substrate was heat-treated. At this time, it was revealed by Auger electron analysis that the indium metal layer 4 was the indium-copper alloy layer 6. Thus, FIG. 1C was obtained. The adhesion of the plating layers 5 and 6 to the ITO electrode 2 was practical.

【0028】ITO電極2のシート抵抗は、約1桁下が
っていた。
The sheet resistance of the ITO electrode 2 was reduced by about one digit.

【0029】通常の如く、この基板に、ポリイミド膜を
形成し、それをレーヨン繊維を用いてラビング処理を行
った。このような2枚の基板を、ITO電極2が対向す
るように、間隙が7.0ミクロンとなるように、貼り合
わせ、この間隙にSTN用ネマティック液晶組成物を充
填した。この様にして製造された液晶表示装置は、クロ
ストークは、ほとんど無く、コントラストも約50%上
昇した。
As usual, a polyimide film was formed on this substrate and was rubbed with rayon fibers. Two such substrates were attached so that the ITO electrodes 2 face each other and the gap was 7.0 μm, and the gap was filled with the nematic liquid crystal composition for STN. The liquid crystal display device manufactured in this manner had almost no crosstalk and the contrast was increased by about 50%.

【0030】(実施例2)図2に従って説明する。本実
施例の構成断面図である図2において、7はガラス基
板、8は微細加工済み、すなわち単純マトリクス表示装
置に関しては、ストライプ状に加工されたITO電極、
9はフォトレジスト、10はインジウム金属層、11は
アルミニウム金属層、12はインジウム−アルミニウム
の合金からなる層である。
(Embodiment 2) Description will be given with reference to FIG. In FIG. 2, which is a cross-sectional view of the configuration of the present embodiment, 7 is a glass substrate, 8 is finely processed, that is, in the case of a simple matrix display device, ITO electrodes processed in stripes,
9 is a photoresist, 10 is an indium metal layer, 11 is an aluminum metal layer, and 12 is a layer made of an indium-aluminum alloy.

【0031】微細加工されたITO電極8を主面に有す
るコーニング社製#7059ガラス基板7を入手した。
東京応化製ネガレジストを使い、公知のフォトリソグラ
フィー法でもって、図2(a)の如く、レジストパター
ン9を作った。次に、O2アッシャーで、処理した。
A # 7059 glass substrate 7 manufactured by Corning Co. having a finely processed ITO electrode 8 on its main surface was obtained.
A resist pattern 9 was formed as shown in FIG. 2A by a known photolithography method using a negative resist manufactured by Tokyo Ohka. Then, it was treated with an O2 asher.

【0032】次に、硫酸インジウム、約60グラムと、
硫酸ナトリウム、約10グラムを約1リットルの純水に
溶解させた溶液で、約0.1ミクロンの厚みのインジウ
ム鍍金10をITO電極8上に行う。次によく洗浄し、
乾燥させた。
Next, indium sulfate, about 60 grams,
Indium plating 10 having a thickness of about 0.1 micron is applied on the ITO electrode 8 with a solution of about 10 grams of sodium sulfate dissolved in about 1 liter of pure water. Then wash well,
Dried.

【0033】更に、非水溶液系の市販のアルミニウム鍍
金液を使用して、この上に、約2ミクロンの厚みのアル
ミニウム鍍金11を行った。
Further, a commercially available non-aqueous solution aluminum plating solution was used, and an aluminum plating 11 having a thickness of about 2 μm was formed thereon.

【0034】ネガレジストを有機塩素系溶剤で剥離し、
よく洗浄し、乾燥させ、図2(b)を得た。
Strip the negative resist with an organic chlorine solvent,
It was thoroughly washed and dried to obtain Fig. 2 (b).

【0035】この後、約150℃まで、徐徐に昇温し、
最終的には約260℃まで、昇温させ、基板を熱処理し
た。この時、インジウム金属層10は、インジウム−ア
ルミニウムの合金層12になっているのが、オージェ電
子分析によって明かになった。かくて、図2(c)を得
た。これら、鍍金層11、12のITO電極8への付着
力は実用に耐えるものであった。
Thereafter, the temperature is gradually raised to about 150 ° C.,
Finally, the temperature was raised to about 260 ° C. and the substrate was heat-treated. At this time, it was revealed by Auger electron analysis that the indium metal layer 10 was the indium-aluminum alloy layer 12. Thus, FIG. 2C was obtained. The adhesion of the plating layers 11 and 12 to the ITO electrode 8 was practical.

【0036】ITO電極8のシート抵抗は、約1桁下が
っていた。
The sheet resistance of the ITO electrode 8 was lowered by about one digit.

【0037】通常の如く、この基板に、ポリイミド膜を
形成し、それをレーヨン繊維を用いて、ラビング処理を
行った。このような2枚の基板を、ITO電極8が対向
するように、間隙が7.0ミクロンとなるように、貼り
合わせ、この間隙にSTN用ネマティック液晶組成物を
充填した。この様にして製造された液晶表示装置は、ク
ロストークは、ほとんど無く、コントラストも約40%
上昇した。
As usual, a polyimide film was formed on this substrate and rubbed with rayon fiber. Two such substrates were bonded so that the ITO electrodes 8 faced each other and the gap was 7.0 μm, and the gap was filled with the nematic liquid crystal composition for STN. The liquid crystal display device manufactured in this manner has almost no crosstalk and a contrast of about 40%.
Rose.

【0038】(実施例3)図3に従って説明する。本実
施例の構成断面図である図3において、13はガラス基
板、14はフォトレジスト、15はITO電極、16は
サイドエッチ部、17は単数ないし複数のインジウム金
属層、18は単数ないし複数の銅金属層、19は単数な
いし複数のインジウム−銅の合金層である。
(Embodiment 3) An explanation will be given with reference to FIG. In FIG. 3, which is a sectional view of the configuration of this embodiment, 13 is a glass substrate, 14 is a photoresist, 15 is an ITO electrode, 16 is a side-etched portion, 17 is a single or plural indium metal layer, and 18 is a single or plural. The copper metal layer 19 is a single or plural indium-copper alloy layer.

【0039】主面全面にITO電極15を有するコーニ
ング社製#7059ガラス基板13を入手した。東京応
化製ポジレジストを使い、公知のフォトリソグラフィー
法でもって、図3(a)の如く、レジストパターン14
を得た。
A Corning # 7059 glass substrate 13 having ITO electrodes 15 on the entire main surface was obtained. As shown in FIG. 3A, the resist pattern 14 is formed by a known photolithography method using a positive resist manufactured by Tokyo Ohka.
Got

【0040】次に、約43℃の沃化水素酸溶液に浸漬
し、図3(b)の如く、レジストパターン14に対し
て、ITO電極15をオーバーエッチ、すなわちサイド
エッチする。約4ミクロン、サイドエッチした。この
後、よく洗浄した。
Next, it is dipped in a hydroiodic acid solution at about 43 ° C., and the ITO electrode 15 is over-etched, that is, side-etched with respect to the resist pattern 14 as shown in FIG. 3B. Side-etched about 4 microns. After this, it was washed well.

【0041】次に、実施例1の如く、約0.1ミクロン
のインジウム金属膜17をサイドエッチ部のITO電極
15側壁に析出させた。さらによく洗浄する。
Next, as in Example 1, an indium metal film 17 of about 0.1 micron was deposited on the side wall of the ITO electrode 15 in the side-etched portion. Wash more thoroughly.

【0042】更に、実施例1の様に、銅金属18を1ミ
クロン以上、このインジウム金属層17の上に析出させ
た。さらによく洗浄する。
Further, as in Example 1, copper metal 18 of 1 micron or more was deposited on the indium metal layer 17. Wash more thoroughly.

【0043】この、インジウム及び銅鍍金を、必要とあ
れば繰り返す。この実施例では、インジウム17、銅1
8、インジウム17の鍍金を繰り返した。かくて、図3
(c)を得た。
This indium and copper plating is repeated if necessary. In this example, indium 17 and copper 1
8. Indium 17 plating was repeated. Thus, Figure 3
(C) was obtained.

【0044】レジスト14を有機溶剤で剥離し、よく洗
浄し、乾燥させる。
The resist 14 is peeled off with an organic solvent, thoroughly washed and dried.

【0045】この後、約150℃まで、徐徐に昇温し、
最終的には約260℃まで、昇温させ、基板を熱処理し
た。この時、インジウム金属層17は、インジウム−銅
の合金層19になっているのが、オージェ電子分析によ
って明かになった。かくて、図3(d)を得た。これ
ら、鍍金層18、19のITO電極15への付着力は実
用に耐えるものであった。
Thereafter, the temperature is gradually raised to about 150 ° C.,
Finally, the temperature was raised to about 260 ° C. and the substrate was heat-treated. At this time, it was revealed by Auger electron analysis that the indium metal layer 17 was the indium-copper alloy layer 19. Thus, FIG. 3 (d) was obtained. The adhesion of the plating layers 18 and 19 to the ITO electrode 15 was practical.

【0046】ITO電極15のシート抵抗は、約1桁下
がっていた。
The sheet resistance of the ITO electrode 15 was lowered by about one digit.

【0047】通常の如く、この基板に、ポリイミド膜を
形成し、それをレーヨン繊維を用いて、ラビング処理を
行った。このような2枚の基板を、ITO電極15が対
向するように、間隙が7.0ミクロンとなるように、貼
り合わせ、この間隙にSTN用ネマティック液晶組成物
を充填した。この様にして製造された液晶表示装置は、
クロストークは、ほとんど無く、コントラストも約30
%上昇した。
As usual, a polyimide film was formed on this substrate and rubbed with rayon fibers. Two such substrates were attached so that the ITO electrodes 15 face each other and the gap was 7.0 μm, and the gap was filled with the nematic liquid crystal composition for STN. The liquid crystal display device manufactured in this way is
There is almost no crosstalk and the contrast is about 30.
%Rose.

【0048】なお、この製造方法は、アルミニウムとイ
ンジウムの合金層の少なくとも一部が基板と結合してな
るものを製造する方法にも適用可能である。
This manufacturing method can also be applied to a method of manufacturing one in which at least a part of an alloy layer of aluminum and indium is bonded to a substrate.

【0049】また、本発明は他の液晶表示装置、あるい
は更にEL表示装置等他の表示装置にも適用可能であ
る。
The present invention can also be applied to other liquid crystal display devices, or other display devices such as EL display devices.

【0050】[0050]

【発明の効果】以上述べたところから明らかなように、
本発明は、透明電極の電気抵抗を実質上低下させること
が出来る表示装置用基板及びそれの製造方法を提供する
ことが出来、産業に貢献するところ大である。
As is apparent from the above description,
INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can provide a substrate for a display device that can substantially reduce the electric resistance of a transparent electrode and a method for manufacturing the same, and greatly contributes to the industry.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の表示装置用基板にかかる一実施例を説
明するための断面工程図である。
FIG. 1 is a sectional process drawing for explaining one embodiment of a display device substrate of the present invention.

【図2】本発明の表示装置用基板にかかる他の実施例を
説明するための断面工程図である。
FIG. 2 is a sectional process drawing for explaining another embodiment of the display device substrate of the present invention.

【図3】本発明の表示装置用基板の製造方法の断面工程
図である。
FIG. 3 is a cross-sectional process diagram of a method for manufacturing a display device substrate of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ガラス基板 2 ストライプ状に加工されたITO電極 3 フォトレジスト 4 インジウム金属層 5 銅金属層 6 インジウム−銅の合金からなる層 7 ガラス基板 8 ストライプ状に加工されたITO電極 9 フォトレジスト 10 インジウム金属層 11 アルミニウム金属層 12 インジウム−アルミニウムの合金からなる層 13 ガラス基板 14 フォトレジスト 15 ITO透明電極 16 サイドエッチ部 17 単数ないし複数のインジウム金属層 18 単数ないし複数の銅金属層 19 単数ないし複数のインジウム−銅の合金層 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Glass substrate 2 ITO electrode 3 processed into a stripe shape 3 Photoresist 4 Indium metal layer 5 Copper metal layer 6 Layer consisting of indium-copper alloy 7 Glass substrate 8 ITO electrode processed into a stripe shape 9 Photoresist 10 Indium metal Layer 11 Aluminum metal layer 12 Layer composed of indium-aluminum alloy 13 Glass substrate 14 Photoresist 15 ITO transparent electrode 16 Side etched part 17 Single or plural indium metal layers 18 Single or plural copper metal layers 19 Single or plural indium − Copper alloy layer

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】基板に形成された所定の形状の透明電極と
接して、インジウムと銅からなる合金層と、銅からなる
積層導体とが形成され、前記合金層の少なくとも一部が
前記基板又は透明電極と結合してなることを特徴とする
表示装置用基板。
1. An alloy layer made of indium and copper and a laminated conductor made of copper are formed in contact with a transparent electrode having a predetermined shape formed on a substrate, and at least a part of the alloy layer is formed on the substrate or A substrate for a display device, which is formed by combining with a transparent electrode.
【請求項2】基板に形成された所定の形状の透明電極と
接して、インジウムとアルミニウムからなる合金層と、
アルミニウムからなる積層導体とが形成され、前記合金
層の少なくとも一部が前記基板又は前記透明電極と結合
してなることを特徴とする表示装置用基板。
2. An alloy layer made of indium and aluminum, which is in contact with a transparent electrode having a predetermined shape formed on a substrate,
A display device substrate, wherein a laminated conductor made of aluminum is formed, and at least a part of the alloy layer is bonded to the substrate or the transparent electrode.
【請求項3】基板に形成された透明電極の上に、所望の
状態にパターン化されたレジスト膜を形成し、前記透明
電極の腐食液で透明電極をサイドエッチ状態になるまで
微細加工をし、洗浄し、次に前記透明電極の露出部にイ
ンジウム鍍金を施し、更に、この上に、銅鍍金とインジ
ウム鍍金をこの順に順次施し、洗浄、乾燥させ、前記レ
ジスト膜を除去、洗浄、乾燥させ、この後、所望の温度
プロフィールで、所望の最高温度まで熱処理することを
特徴とする請求項1記載の表示装置用基板の製造方法。
3. A resist film patterned in a desired state is formed on a transparent electrode formed on a substrate, and the transparent electrode is finely processed by a corrosive solution of the transparent electrode until it is in a side-etched state. Then, the exposed portion of the transparent electrode is subjected to indium plating, and further, copper plating and indium plating are sequentially performed thereon in this order, washed and dried, and the resist film is removed, washed and dried. The method for manufacturing a substrate for a display device according to claim 1, further comprising heat-treating with a desired temperature profile to a desired maximum temperature.
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