JPH0650882A - 光学測定装置 - Google Patents
光学測定装置Info
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- JPH0650882A JPH0650882A JP5170988A JP17098893A JPH0650882A JP H0650882 A JPH0650882 A JP H0650882A JP 5170988 A JP5170988 A JP 5170988A JP 17098893 A JP17098893 A JP 17098893A JP H0650882 A JPH0650882 A JP H0650882A
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- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
- G01N21/648—Specially adapted constructive features of fluorimeters using evanescent coupling or surface plasmon coupling for the excitation of fluorescence
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- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
- G01N21/552—Attenuated total reflection
- G01N21/553—Attenuated total reflection and using surface plasmons
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B17/00—Systems with reflecting surfaces, with or without refracting elements
- G02B17/02—Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system
- G02B17/026—Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system having static image erecting or reversing properties only
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- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B19/00—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics
- G02B19/0004—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the optical means employed
- G02B19/0028—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the optical means employed refractive and reflective surfaces, e.g. non-imaging catadioptric systems
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- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】アライメント誤差が生じない、測定器の構成素
子を動かさずに電磁放射ビームの入射角を変化せること
が可能な光学測定装置。 【構成】本発明は、表面素励起共振（表面プラズモン共
振、ＳＰＲ）装置に適しており、ここではＳＰＲ表面に
対して垂直な方向で電磁放射ビームが生成される。そし
て、ビームを偏向し、選択可能な入射角でＳＰＲ表面へ
供給する。さまざまな角度の入射に対応したＳＰＲ表面
で反射したビームを、前記ＳＰＲ表面に対して垂直な方
向で検出器へ向けて、偏向または回転する。これによ
り、放射源、検出器、ＳＰＲ表面んは相対的な位置に固
定することができ、より安定な構成の装置を得ることが
できる。
子を動かさずに電磁放射ビームの入射角を変化せること
が可能な光学測定装置。 【構成】本発明は、表面素励起共振（表面プラズモン共
振、ＳＰＲ）装置に適しており、ここではＳＰＲ表面に
対して垂直な方向で電磁放射ビームが生成される。そし
て、ビームを偏向し、選択可能な入射角でＳＰＲ表面へ
供給する。さまざまな角度の入射に対応したＳＰＲ表面
で反射したビームを、前記ＳＰＲ表面に対して垂直な方
向で検出器へ向けて、偏向または回転する。これによ
り、放射源、検出器、ＳＰＲ表面んは相対的な位置に固
定することができ、より安定な構成の装置を得ることが
できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は一般に光学測定装置に関
し、特に、選択可能な入射角で放射ビームを反射表面に
投射することによりその反射を測定するための装置に関
するものである。
し、特に、選択可能な入射角で放射ビームを反射表面に
投射することによりその反射を測定するための装置に関
するものである。
【０００２】
【従来の技術】本発明は、表面ブラズモン共振の測定に
特に有効に適用できるものである。表面プラズモン共振
はバイオセンサおいて、免疫および核酸の検出等の分野
で利用されている。基本的には、表面プラズモンは、導
電性材料と非導電性材料の間の界面に沿って生成する電
磁波である。このような表面プラスモンを生成させる典
型的な技術は、電磁放射ビームを臨界角度以上の入射角
でガラス・プリズムへと誘導することにより、内部で全
反射を起こさせる。このような内部反射によって、表面
付近のプリズムの外側の領域に消散電磁波(evanescent
electromagnetic wace)が生成する。プリズムの表面上
に導電性薄膜がディポジットされると、表面プラスモン
が形成される。表面プラズモン共振は、消散電磁波の運
動量（電磁波のベクトル）とエネルギ（周波数）を表面
プラスモンの運動量及びエネルギとそれぞれ適合するよ
うに形成された場合に生ずるものである。反射ビームの
強度が急激に低下するで特徴づけられ、これは、反射ビ
ームのエネルギが共振により表面プラスモンへ伝達され
るからである。
特に有効に適用できるものである。表面プラズモン共振
はバイオセンサおいて、免疫および核酸の検出等の分野
で利用されている。基本的には、表面プラズモンは、導
電性材料と非導電性材料の間の界面に沿って生成する電
磁波である。このような表面プラスモンを生成させる典
型的な技術は、電磁放射ビームを臨界角度以上の入射角
でガラス・プリズムへと誘導することにより、内部で全
反射を起こさせる。このような内部反射によって、表面
付近のプリズムの外側の領域に消散電磁波(evanescent
electromagnetic wace)が生成する。プリズムの表面上
に導電性薄膜がディポジットされると、表面プラスモン
が形成される。表面プラズモン共振は、消散電磁波の運
動量（電磁波のベクトル）とエネルギ（周波数）を表面
プラスモンの運動量及びエネルギとそれぞれ適合するよ
うに形成された場合に生ずるものである。反射ビームの
強度が急激に低下するで特徴づけられ、これは、反射ビ
ームのエネルギが共振により表面プラスモンへ伝達され
るからである。
【０００３】消散電磁波の波ベクトルは次の式によって
定義される。 Ｋe=（ω/C ）n ｓｉｎΘ ここで、ωは入射ビームの角周波数であり、C は真空に
おける光の速度であり、n はガラスの屈折率であり、Θ
は入射角である。表面プラスモンの波ベクトルは次の方
程式によって定義される。 Ｋsp=（ω／C ）√（１／εm + １/εs) ここで、εmは金属の誘電率の実数であり、εs は金属
を囲む被試験物質の（または物質が存在しない場合には
空気の）誘電率である。
定義される。 Ｋe=（ω/C ）n ｓｉｎΘ ここで、ωは入射ビームの角周波数であり、C は真空に
おける光の速度であり、n はガラスの屈折率であり、Θ
は入射角である。表面プラスモンの波ベクトルは次の方
程式によって定義される。 Ｋsp=（ω／C ）√（１／εm + １/εs) ここで、εmは金属の誘電率の実数であり、εs は金属
を囲む被試験物質の（または物質が存在しない場合には
空気の）誘電率である。
【０００４】共振時には消散電磁波の波ベクトルは表面
プラスモンと同じなので、表面から電磁波は反射されな
い。従って、表面プラスモン共振は次の式において生じ
ることになる。 Ｋe = Ｋsp
プラスモンと同じなので、表面から電磁波は反射されな
い。従って、表面プラスモン共振は次の式において生じ
ることになる。 Ｋe = Ｋsp
【０００５】金属薄膜層に格子又は表面音波のような周
期的構造が供給されると、上記の式は以下のようにな
る。 Ｋe ＋Ｋ=Ｋsp ここで、Ｋは周期構造に起因する波ベクトルである。
期的構造が供給されると、上記の式は以下のようにな
る。 Ｋe ＋Ｋ=Ｋsp ここで、Ｋは周期構造に起因する波ベクトルである。
【０００６】上記の式によって、異なる材料のεs の値
の差を測定する有効な手段を得ることができる。また、
物質のεs の値を変化させる物質に存在するトレース表
面化学成分を検出する有効な手段も得ることができる。
共波時に、Ｋe の差を測定することにより、εs の変化
を決定することができる。上記の等式条件を利用した従
来から周知の表面プラスモン共振測定器は全て、共振を
検出するために図２に示すように、Θを変化させ、異な
るΘの値で反射ビームを検出することにより、Ｋe の差
を測定するものであった。このような従来の表面プラス
モン共振測定器では、３つの周知の方法で異なるΘの値
で反射ビームの検出が行われていた。
の差を測定する有効な手段を得ることができる。また、
物質のεs の値を変化させる物質に存在するトレース表
面化学成分を検出する有効な手段も得ることができる。
共波時に、Ｋe の差を測定することにより、εs の変化
を決定することができる。上記の等式条件を利用した従
来から周知の表面プラスモン共振測定器は全て、共振を
検出するために図２に示すように、Θを変化させ、異な
るΘの値で反射ビームを検出することにより、Ｋe の差
を測定するものであった。このような従来の表面プラス
モン共振測定器では、３つの周知の方法で異なるΘの値
で反射ビームの検出が行われていた。
【０００７】第１の方法では、電磁放射源の位置は固定
されている。Θの値を変化させるためにプリズムが回転
される。反射ビームを検出するための検出器も２Θの角
度だけ回転されている。
されている。Θの値を変化させるためにプリズムが回転
される。反射ビームを検出するための検出器も２Θの角
度だけ回転されている。
【０００８】第２の方法では、１９７８年の「Optics C
ommunications」の第２６巻第１号に、E.Kretschmannに
よって記載されている「The ATR Method with Focused
Light - Application to Guided Waves on a Grating"
（集束光を用いたＡＴＲ方式−格子におけるきょう動波
の応用)及び米国特許第４，９９７，２７８号「Biologi
cal Sensors」（生物学的センサ）に記載されているよ
うに、放射源とプリズムの両方が固定されている。そし
て、入射光をΘの値が異なる光ビームの円錐内に拡散さ
せるために屈折光学素子が利用される。反射ビームがダ
イオードアレイによって検出される。反射されたビーム
はダイオードアレイによってで検出される。入射光が拡
散すると、あいにく、その強度は低下する。例えば、照
射のため（発蛍光団(fluorophores) の層として）、ビ
ームの強度を必要とする代表的な適用例では、この方法
は望ましくない。
ommunications」の第２６巻第１号に、E.Kretschmannに
よって記載されている「The ATR Method with Focused
Light - Application to Guided Waves on a Grating"
（集束光を用いたＡＴＲ方式−格子におけるきょう動波
の応用)及び米国特許第４，９９７，２７８号「Biologi
cal Sensors」（生物学的センサ）に記載されているよ
うに、放射源とプリズムの両方が固定されている。そし
て、入射光をΘの値が異なる光ビームの円錐内に拡散さ
せるために屈折光学素子が利用される。反射ビームがダ
イオードアレイによって検出される。反射されたビーム
はダイオードアレイによってで検出される。入射光が拡
散すると、あいにく、その強度は低下する。例えば、照
射のため（発蛍光団(fluorophores) の層として）、ビ
ームの強度を必要とする代表的な適用例では、この方法
は望ましくない。
【０００９】また、欧州特許出願第８９３０４５７０．
８号に開示されている第３の方法では、放射源とプリズ
ムの両方の位置が固定されている。放射源からの光を異
なる入射角でプリズムへと誘導するために回転ミラーが
使用される。放射ビームの反射は別の曲面ミラーによっ
て検出器へ偏向される。あいにく、ビームは異なる角度
から検出器へ入射することより、検出器はさまざまな方
向からの反射ビームを検出する必要がある。このような
必要条件は、検出器が大きい集光立体角を備えていなけ
ればならないが、このような機能を備えた検出器は通常
高価であるかあるいは感度が鈍い。検出器をまた特定の
点、すなわち、湾曲ミラーの焦点に配置させる必要があ
る。これは不便であり、システムはアライメントの誤差
が生じやすくなる。
８号に開示されている第３の方法では、放射源とプリズ
ムの両方の位置が固定されている。放射源からの光を異
なる入射角でプリズムへと誘導するために回転ミラーが
使用される。放射ビームの反射は別の曲面ミラーによっ
て検出器へ偏向される。あいにく、ビームは異なる角度
から検出器へ入射することより、検出器はさまざまな方
向からの反射ビームを検出する必要がある。このような
必要条件は、検出器が大きい集光立体角を備えていなけ
ればならないが、このような機能を備えた検出器は通常
高価であるかあるいは感度が鈍い。検出器をまた特定の
点、すなわち、湾曲ミラーの焦点に配置させる必要があ
る。これは不便であり、システムはアライメントの誤差
が生じやすくなる。
【００１０】
【発明の目的】本発明の目的は、上述の問題点を解消
し、構成素子の位置を変えずに固定したままで、ビーム
の入射角の選択が可能な光学測定装置を得ることにあ
る．
し、構成素子の位置を変えずに固定したままで、ビーム
の入射角の選択が可能な光学測定装置を得ることにあ
る．
【００１１】
【発明の概要】本発明は、表面プラズモン共振装置に有
効に適用できる光学測定装置に関する。本願発明に係る
装置は、反射表面を備える光学媒体と、第１の線に沿っ
た電磁放放射のビームを生成する放射源と、第２の線に
沿った電磁放射ビームを検出する検出器と前記放射ビー
ムを並進(translate)および回転させて選択可能な入射
角で反射表面に送り込まれる入射ビームを形成し、放射
ビームの反射したビームを検出器による検出のため第２
の線に沿って並進および回転させる手段とから構成され
る。本発明により、放射源と検出器と反射表面の位置は
固定されているので、より信頼性に優れた構成にするこ
とができる。
効に適用できる光学測定装置に関する。本願発明に係る
装置は、反射表面を備える光学媒体と、第１の線に沿っ
た電磁放放射のビームを生成する放射源と、第２の線に
沿った電磁放射ビームを検出する検出器と前記放射ビー
ムを並進(translate)および回転させて選択可能な入射
角で反射表面に送り込まれる入射ビームを形成し、放射
ビームの反射したビームを検出器による検出のため第２
の線に沿って並進および回転させる手段とから構成され
る。本発明により、放射源と検出器と反射表面の位置は
固定されているので、より信頼性に優れた構成にするこ
とができる。
【００１２】
【発明の実施例】図１には、表面プラズモン共振を利用
した本発明の一実施例である光学測定装置１００が示さ
れている。光学測定装置１００は、電磁放射のビームが
適切な入射角で投射されると、全内部反射が形成される
表面１０２を有する、ガラス・プリズム１０１等の透明
（電磁放射に対して透明な）材料から成るブロックを備
えている。表面プラズモンを形成するため、プリズム１
０１の表面１０２には薄い金属（例えば、銀）層１０６
がディポジットされる。金属層１０６の上にはその屈折
率が測定される試験材料１１２が設けられる。プリズム
１０１は、上述のアメリカ特許第４、９９７、２７８号
に開示される半円筒形または半球形のプリズムで、電磁
放射は屈折を伴うことなく、さまざまな入射角で入射す
る。
した本発明の一実施例である光学測定装置１００が示さ
れている。光学測定装置１００は、電磁放射のビームが
適切な入射角で投射されると、全内部反射が形成される
表面１０２を有する、ガラス・プリズム１０１等の透明
（電磁放射に対して透明な）材料から成るブロックを備
えている。表面プラズモンを形成するため、プリズム１
０１の表面１０２には薄い金属（例えば、銀）層１０６
がディポジットされる。金属層１０６の上にはその屈折
率が測定される試験材料１１２が設けられる。プリズム
１０１は、上述のアメリカ特許第４、９９７、２７８号
に開示される半円筒形または半球形のプリズムで、電磁
放射は屈折を伴うことなく、さまざまな入射角で入射す
る。
【００１３】表面プラズモンの形成に特性をもつ電磁放
射（例えば、レーザ）１０３のビームがさまざまな入射
角でプリズム１０１に入射するとき、表面プラズモンが
形成される。必要に応じて、電磁放射のビームを適切に
偏向およびコリメートさせる手段（図示せず）が設けら
れている。光源１０３は、プリズム１０１の表面１０２
と垂直であることが望ましい線１１３に沿って、レーザ
・ビームを生成する。放射ビームが並進ステージ１０４
に入ると、角度的に９０度が望ましい偏向または回転が
施される。
射（例えば、レーザ）１０３のビームがさまざまな入射
角でプリズム１０１に入射するとき、表面プラズモンが
形成される。必要に応じて、電磁放射のビームを適切に
偏向およびコリメートさせる手段（図示せず）が設けら
れている。光源１０３は、プリズム１０１の表面１０２
と垂直であることが望ましい線１１３に沿って、レーザ
・ビームを生成する。放射ビームが並進ステージ１０４
に入ると、角度的に９０度が望ましい偏向または回転が
施される。
【００１４】並進ステージから出てくる偏向ビームは、
次に、プリズム１０１の表面１０２に沿った所定の点に
焦点をあてた、球面ミラーまたは放物面ミラー等の第１
の集光ミラー(converting mirror)１０５によってプリ
ズム１０２の表面に対して焦点があてられる。入射角が
臨界角以上になると、レーザ・ビームが内部反射を引き
起こし、この結果、金属層１０６に沿った表面プラズモ
ンが生成される。プリズム１０１から出てきたレーザ・
ビーム反射は、第１の集光ミラー１０５の焦点と重なる
焦点を備えた円形ミラー、放物面ミラー等の第２の集光
ミラー１０７によって偏向が施される。
次に、プリズム１０１の表面１０２に沿った所定の点に
焦点をあてた、球面ミラーまたは放物面ミラー等の第１
の集光ミラー(converting mirror)１０５によってプリ
ズム１０２の表面に対して焦点があてられる。入射角が
臨界角以上になると、レーザ・ビームが内部反射を引き
起こし、この結果、金属層１０６に沿った表面プラズモ
ンが生成される。プリズム１０１から出てきたレーザ・
ビーム反射は、第１の集光ミラー１０５の焦点と重なる
焦点を備えた円形ミラー、放物面ミラー等の第２の集光
ミラー１０７によって偏向が施される。
【００１５】第２の集光ミラー１０７は、反射したレー
ザ・ビームを偏向し、並進ステージ１０４へ戻す。並進
ステージ内では、反射ビームは角度的に９０度の偏向ま
たは回転され、プリズム１０１の表面１０２に対して垂
直な線に沿って、並進ステージ１０４から出て、検出器
１０８に受信される。並進ステージ１０４は、プリズム
１０１の表面１０２に対して垂直であることが望ましい
線に沿って移動可能である。放射ビームは、並進ステー
ジを移動させることによって、複数の平行線の異なる線
に沿って、第１の集光レンズに送ることができるが、や
はり、プリズム１０１の表面１０２における同じ所定の
点に戻るように、フォーカスを施す必要がある。並進ス
テージ１０４を移動させることによって、表面１０２へ
の放射ビームの入射角を変化させることができる。
ザ・ビームを偏向し、並進ステージ１０４へ戻す。並進
ステージ内では、反射ビームは角度的に９０度の偏向ま
たは回転され、プリズム１０１の表面１０２に対して垂
直な線に沿って、並進ステージ１０４から出て、検出器
１０８に受信される。並進ステージ１０４は、プリズム
１０１の表面１０２に対して垂直であることが望ましい
線に沿って移動可能である。放射ビームは、並進ステー
ジを移動させることによって、複数の平行線の異なる線
に沿って、第１の集光レンズに送ることができるが、や
はり、プリズム１０１の表面１０２における同じ所定の
点に戻るように、フォーカスを施す必要がある。並進ス
テージ１０４を移動させることによって、表面１０２へ
の放射ビームの入射角を変化させることができる。
【００１６】第２の集光ミラー１０７の焦点は、第１の
集光ミラーの焦点と重なるので、放射ビームの入射角が
変化する場合でも、反射ビームは、第２の集光ミラー１
０５に入る。反射ビームは、第２の集光ミラー１０７か
ら偏向され、並進ステージ１０４に入り、そこから検出
器１０８に送られる。検出器１０８は、線１１２に沿っ
て反射ビームを検出することができる。上述の従来技術
のように、ある点に固定させる必要がないので、検出器
は誤差の影響を受けにくい。並進ステージ１０４は、角
度的に放射ビームを９０度回転させる第１の反射手段１
１０を備えている。さらに、角度的に反射ビームを９０
度回転させる第２の反射手段１１１も有しており、反射
ビームは検出器１０８によって所定の線に沿って受信す
ることも可能になる。第１の反射手段１１１および／ま
たは第２の反射手段１１１として有効に利用できる光学
デバイスは、１９７９年１月の「Am. J. Phys.」４７
（１）の「Turning a Perfect Corner」にTaylorらによ
って開示されている。ここでは、屈折率が１．５のプリ
ズムに関して述べられている。プリズムの断面は直角等
辺(isosceles right angle)であり、その斜辺は、例え
ば、銀メッキによって反射性になっている。
集光ミラーの焦点と重なるので、放射ビームの入射角が
変化する場合でも、反射ビームは、第２の集光ミラー１
０５に入る。反射ビームは、第２の集光ミラー１０７か
ら偏向され、並進ステージ１０４に入り、そこから検出
器１０８に送られる。検出器１０８は、線１１２に沿っ
て反射ビームを検出することができる。上述の従来技術
のように、ある点に固定させる必要がないので、検出器
は誤差の影響を受けにくい。並進ステージ１０４は、角
度的に放射ビームを９０度回転させる第１の反射手段１
１０を備えている。さらに、角度的に反射ビームを９０
度回転させる第２の反射手段１１１も有しており、反射
ビームは検出器１０８によって所定の線に沿って受信す
ることも可能になる。第１の反射手段１１１および／ま
たは第２の反射手段１１１として有効に利用できる光学
デバイスは、１９７９年１月の「Am. J. Phys.」４７
（１）の「Turning a Perfect Corner」にTaylorらによ
って開示されている。ここでは、屈折率が１．５のプリ
ズムに関して述べられている。プリズムの断面は直角等
辺(isosceles right angle)であり、その斜辺は、例え
ば、銀メッキによって反射性になっている。
【００１７】上述のプリズムは、図１に示す本発明の一
実施例である並進ステージ１０４の第１の反射手段１１
０と第２の反射手段１１１として利用される。上述の文
献によれば、図１に示すように、プリズムに入るとビー
ムは、プリズムを出る前に、初期屈折、２回にわたる内
部屈折、最終屈折を経て、角度的に９０度偏向される。
上述のプリズムの利点は、９０度の角偏向がプリズムの
配向及びガラスの光学指数と実質的に依存しないことで
ある。
実施例である並進ステージ１０４の第１の反射手段１１
０と第２の反射手段１１１として利用される。上述の文
献によれば、図１に示すように、プリズムに入るとビー
ムは、プリズムを出る前に、初期屈折、２回にわたる内
部屈折、最終屈折を経て、角度的に９０度偏向される。
上述のプリズムの利点は、９０度の角偏向がプリズムの
配向及びガラスの光学指数と実質的に依存しないことで
ある。
【００１８】図２に、直角プリズム・ミラー３０１を形
成する２つのミラーを用いた場合の実施例を示す。直角
をなすプリズム・ミラー３０１に対向する表面３０２
は、表面１０２と実質的に平行であることが好ましく、
放射ビーム３１２と反射ビーム３１４が図２に示すよう
に、ミラー表面３０４、３０６によって９０度偏向また
は回転する。
成する２つのミラーを用いた場合の実施例を示す。直角
をなすプリズム・ミラー３０１に対向する表面３０２
は、表面１０２と実質的に平行であることが好ましく、
放射ビーム３１２と反射ビーム３１４が図２に示すよう
に、ミラー表面３０４、３０６によって９０度偏向また
は回転する。
【００１９】欧州特許第３５３９３７号、１９９１年の
「Biosensors and Bioelc.」６，２０１の、「Sensitiv
ity enhancement of optical immunosensors by the us
e ofa surface plasomon resonance fluoroimmunoassa
y」、欧州特許出願第９１１０９４３０．８号で記載さ
れるように、表面プラズモン共振の測定をさらに容易に
するため、発蛍光団が用いられる。この発蛍光団の層が
ほぼ金属層の光学波長内の表面プラズモンによって励起
されると、より波長の長い蛍光が発生する。
「Biosensors and Bioelc.」６，２０１の、「Sensitiv
ity enhancement of optical immunosensors by the us
e ofa surface plasomon resonance fluoroimmunoassa
y」、欧州特許出願第９１１０９４３０．８号で記載さ
れるように、表面プラズモン共振の測定をさらに容易に
するため、発蛍光団が用いられる。この発蛍光団の層が
ほぼ金属層の光学波長内の表面プラズモンによって励起
されると、より波長の長い蛍光が発生する。
【００２０】本発明について、特定の実施例及び構成素
子に関連して詳述してきたが、このような実施例及び構
成素子に変更や修正が可能であることは当業者にとって
自明のことである。例えば、放射ビームや反射ビームを
９０度だけ偏向または回転させることが好ましいが、他
の角度による偏向または回転を利用することは本願発明
より逸脱することなく可能である。このように、本願発
明に係る装置は、試験ブロック、放射源または検出器を
移動させずに入射角を選択し、変更することも可能であ
る。
子に関連して詳述してきたが、このような実施例及び構
成素子に変更や修正が可能であることは当業者にとって
自明のことである。例えば、放射ビームや反射ビームを
９０度だけ偏向または回転させることが好ましいが、他
の角度による偏向または回転を利用することは本願発明
より逸脱することなく可能である。このように、本願発
明に係る装置は、試験ブロック、放射源または検出器を
移動させずに入射角を選択し、変更することも可能であ
る。
【００２１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明ではビーム
の偏向および回転でビーム方向を制御することにより、
検出器や放射源等の構成素子を固定したまままでビーム
の入射角を変化させ、表面素励起の共振を得ることがで
きる．
の偏向および回転でビーム方向を制御することにより、
検出器や放射源等の構成素子を固定したまままでビーム
の入射角を変化させ、表面素励起の共振を得ることがで
きる．
【図１】本発明の一実施例である表面プラズモン共振測
定に適用した光学測定装置の概略図。
定に適用した光学測定装置の概略図。
【図２】本発明の他の実施例である光学測定装置の概略
図。
図。
【図３】従来の表面プラズモン共振測定器の概略図。
１００：光学測定装置 １０１：プリズム １０６：金属層 １０３：放射源 １０８：検出器 １０４：並進ステージ １０５、１０７：ミラー ３０１：プリズム・ミラー
Claims (1)
- 【請求項１】反射表面を備える試験ブロックと、前記第
１の線に沿って電磁放射のビームを供給する検出器と、
前記ビームを前記反射表面に選択可能な角度で入射させ
並進および回転させ、前記入射ビームが前記反射表面で
反射したビームを第２の線に沿って前記検出器に向けて
並進よび回転させる手段を含み、前記ブロック、前記放
射源及び前記検出器の移動なしに前記入射角度が選択可
能であることを特徴とする光学測定装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US90020592A | 1992-06-17 | 1992-06-17 | |
| US900,205 | 1992-06-17 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0650882A true JPH0650882A (ja) | 1994-02-25 |
Family
ID=25412140
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5170988A Pending JPH0650882A (ja) | 1992-06-17 | 1993-06-17 | 光学測定装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0575132A1 (ja) |
| JP (1) | JPH0650882A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010007811A1 (ja) * | 2008-07-15 | 2010-01-21 | オリンパス株式会社 | 光学ユニット |
| JP2010156556A (ja) * | 2008-12-26 | 2010-07-15 | Horiba Ltd | 入射光学系及びラマン散乱光測定装置 |
| WO2012016037A2 (en) * | 2010-07-28 | 2012-02-02 | University Of Delaware | Apparatus and method for performing surface plasmon resonance(spr) spectroscopy with an infrared (ir) spectrometer |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5838453A (en) * | 1995-01-27 | 1998-11-17 | Canon Kabushiki Kaisha | Apparatus and method for measuring optical anisotropy |
| US6088115A (en) * | 1996-06-05 | 2000-07-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Apparatus and method for measuring optical anisotropy |
| US5776785A (en) * | 1996-12-30 | 1998-07-07 | Diagnostic Products Corporation | Method and apparatus for immunoassay using fluorescent induced surface plasma emission |
| GB2326229A (en) * | 1997-06-13 | 1998-12-16 | Robert Jeffrey Geddes Carr | Detecting and analysing submicron particles |
| JP3437170B2 (ja) * | 1997-12-12 | 2003-08-18 | ピーイー コーポレイション （エヌワイ） | 光学共鳴解析システム |
| US7154598B2 (en) | 2002-07-12 | 2006-12-26 | Decision Biomarkers, Inc. | Excitation and imaging of fluorescent arrays |
| NL1022916C2 (nl) * | 2003-03-13 | 2004-09-14 | Ssens B V | Toestel en werkwijze voor onderzoek van een dunne laag opbouw gebruik makend van oppervlakte plasmon resonantie en inrichting en werkwijze voor het regelen van temperatuur. |
| AU2003283445A1 (en) * | 2003-11-19 | 2005-06-08 | Biofons Ltd | Method and device for carrying out surface plasmon resonance measurement |
| WO2008094285A2 (en) * | 2006-06-16 | 2008-08-07 | University Of Washington | Miniaturized surface plasmon resonance imaging system |
| JP5542067B2 (ja) | 2008-02-04 | 2014-07-09 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | エバネセント照射及び蛍光に基づく分子診断システム |
| CN102346143B (zh) * | 2011-11-02 | 2013-05-15 | 中国广州分析测试中心 | 激光表面等离子体共振系统光学扫描装置 |
Family Cites Families (3)
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| GB8817710D0 (en) * | 1988-07-25 | 1988-09-01 | Ares Serono Res & Dev Ltd | Method of assay |
| US5075551A (en) * | 1990-03-12 | 1991-12-24 | Fuji Electric Co., Ltd. | Infrared absorption enhanced spectroscopic apparatus |
| US5106196A (en) * | 1990-08-21 | 1992-04-21 | Brierley Philip R | Single adjustment specular reflection accessory for spectroscopy |
-
1993
- 1993-06-14 EP EP93304605A patent/EP0575132A1/en not_active Withdrawn
- 1993-06-17 JP JP5170988A patent/JPH0650882A/ja active Pending
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| WO2010007811A1 (ja) * | 2008-07-15 | 2010-01-21 | オリンパス株式会社 | 光学ユニット |
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| WO2012016037A2 (en) * | 2010-07-28 | 2012-02-02 | University Of Delaware | Apparatus and method for performing surface plasmon resonance(spr) spectroscopy with an infrared (ir) spectrometer |
| WO2012016037A3 (en) * | 2010-07-28 | 2012-05-31 | University Of Delaware | Apparatus and method for performing surface plasmon resonance(spr) spectroscopy with an infrared (ir) spectrometer |
| US9207117B2 (en) | 2010-07-28 | 2015-12-08 | University Of Delaware | Apparatus and method for performing surface plasmon resonance (SPR) spectroscopy with an infrared (IR) spectrometer |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0575132A1 (en) | 1993-12-22 |
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