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JPH06308105A - Ultrasonic inspecting method and apparatus - Google Patents

Ultrasonic inspecting method and apparatus

Info

Publication number
JPH06308105A
JPH06308105A JP5094514A JP9451493A JPH06308105A JP H06308105 A JPH06308105 A JP H06308105A JP 5094514 A JP5094514 A JP 5094514A JP 9451493 A JP9451493 A JP 9451493A JP H06308105 A JPH06308105 A JP H06308105A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
ultrasonic
level
delay
received data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5094514A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yasuo Hayakawa
泰夫 早川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Construction Machinery Co Ltd filed Critical Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Priority to JP5094514A priority Critical patent/JPH06308105A/en
Publication of JPH06308105A publication Critical patent/JPH06308105A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

PURPOSE:To negate influences by the multiple reflection within a lens, by processing signals without using a plurality of ultrasonic vibrators. CONSTITUTION:A detecting signal from an ultrasonic probe 20 is divided into a pair of detecting/distributing signals by a distributer 26. One of the signals is delayed a predetermined amount by a delay circuit 29, and the level of the signal is adjusted by a level adjusting circuit 30. The differece of the pair of detecting signals is obtained by an operational circuit 28. Accordingly, a signal multi-reflected within an acoustic lens 21 is removed from the detecting signal.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、音響レンズ内の多重反
射の影響を打ち消すことの可能な超音波検査方法および
装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an ultrasonic inspection method and apparatus capable of canceling the influence of multiple reflections in an acoustic lens.

【0002】[0002]

【従来の技術】図7は、この種の超音波検査装置の従来
例を示す図である(特開平2−162255号参照)。
この図において、1は超音波探触子であり、媒体(例え
ば水)2を介して被検体3の上面に接触している。
2. Description of the Related Art FIG. 7 is a diagram showing a conventional example of this type of ultrasonic inspection apparatus (see Japanese Patent Laid-Open No. 162162/1990).
In this figure, reference numeral 1 is an ultrasonic probe, which is in contact with the upper surface of the subject 3 via a medium (for example, water) 2.

【0003】超音波探触子1は、所定形状のケース4の
一端に振動板5とレンズ6とを収容し、他端に同一形
状、同一特性の振動板7とレンズ8を収納して構成され
ている。振動板5とレンズ6とは第1の超音波探触子U
P1を構成し、振動板7とレンズ8とは第2の超音波探
触子UP2を構成し、第1の超音波探触子UP1は媒体
2を介して被検体3に向けて超音波ビームを照射し、第
2の超音波探触子UP2はダミーの照射対象である空気
中に超音波信号を照射するように設置されている。
An ultrasonic probe 1 is constructed by housing a diaphragm 5 and a lens 6 at one end of a case 4 having a predetermined shape, and a diaphragm 7 and a lens 8 having the same shape and characteristics at the other end. Has been done. The diaphragm 5 and the lens 6 are the first ultrasonic probe U.
P1 and the diaphragm 7 and the lens 8 constitute a second ultrasonic probe UP2, and the first ultrasonic probe UP1 directs an ultrasonic beam toward the subject 3 via the medium 2. And the second ultrasonic probe UP2 is installed so as to irradiate the ultrasonic signal into the air which is the dummy irradiation target.

【0004】9、10はそれぞれ矢印で示す方向にのみ
信号を流す循環器、11は励振パルスを発生する送信
機、12は受信機であり、受信機12は出力端子a、b
を介して各超音波探触子UP1、UP2に接続されてい
る。受信機12は、図8に示すように、出力端子bから
の出力信号の極性を反転するとともに空気と媒体2の音
響インピ−ダンスの差異によるレベルを調整する符号変
換器13と、この符号変換器13の出力と出力端子aか
らの出力信号とを加算する加算器14とを備える。加算
器14の出力は出力端子cを介して出力される。
Reference numerals 9 and 10 respectively denote a circulator for flowing a signal only in the directions indicated by arrows, 11 denotes a transmitter for generating an excitation pulse, 12 denotes a receiver, and the receiver 12 has output terminals a and b.
Is connected to each of the ultrasonic probes UP1 and UP2. As shown in FIG. 8, the receiver 12 inverts the polarity of the output signal from the output terminal b and adjusts the level due to the difference in the acoustic impedance of the air and the medium 2, and the code converter 13. And an adder 14 for adding the output of the adder 13 and the output signal from the output terminal a. The output of the adder 14 is output via the output terminal c.

【0005】以上の構成の動作を図9の波形図を参照し
て以下説明する。まず、励振用パルスが各超音波探触子
UP1、UP2に入力されると、各振動板5、7は同時
に超音波を発生する。振動板5で発生した超音波はレン
ズ6を介して被検体3に照射され、レンズ6の出口、被
検体3の表面、欠陥15でそれぞれ反射して得られる超
音波エコー信号PL、Ps、Pfはレンズ6を介して振動
板5によって受信され、その受信信号が出力端子aから
出力される。一方、振動板7で発生した超音波はレンズ
8を介して空気中に照射され、レンズ8の出口で反射し
て得られる擬似エコー信号PLはレンズ8を介して振動
板7によって受信され、その受信信号が出力端子bから
出力される。
The operation of the above configuration will be described below with reference to the waveform chart of FIG. First, when the excitation pulse is input to each of the ultrasonic probes UP1 and UP2, the diaphragms 5 and 7 simultaneously generate ultrasonic waves. The ultrasonic waves generated by the diaphragm 5 are applied to the subject 3 through the lens 6 and are reflected by the exit of the lens 6, the surface of the subject 3 and the defect 15 to obtain ultrasonic echo signals P L , P s. , P f are received by the diaphragm 5 via the lens 6, and the received signal is output from the output terminal a. On the other hand, the ultrasonic wave generated by the diaphragm 7 is irradiated into the air through the lens 8 and the pseudo echo signal P L obtained by being reflected at the exit of the lens 8 is received by the diaphragm 7 through the lens 8. The received signal is output from the output terminal b.

【0006】出力端子bからの擬似エコー信号は、符号
変換器13によって極性が反転されるとともにレベル調
整値の補正などが施され、加算器14に入力される。こ
れにより、加算器14には図9(a)、(b)に示すような
エコー信号が入力される。ここで、Ppおよび−Ppは振
動板5、7に印加された励振用パルス、PL1〜PL3はレ
ンズ6内で多重反射したエコー信号、−PL1〜−PL3
レンズ8内で多重反射して符号変換器13によって極性
が反転されたエコー信号、Psは被検体3の表面で反射
したエコー信号、Pf′はレンズ内多重反射成分PL2
含んだ欠陥15からのエコー信号であり、Ppと−Pp
L1と−PL1、PL2と−PL2、PL3と−PL3とはそれぞ
れ同一位相、同一レベルであり、その極性が反対になっ
ている。
The pseudo echo signal from the output terminal b has its polarity inverted by the code converter 13 and is subjected to level adjustment value correction and the like, and is input to the adder 14. As a result, the echo signal as shown in FIGS. 9A and 9B is input to the adder 14. Here, P p and −P p are excitation pulses applied to the vibrating plates 5 and 7, P L1 to P L3 are echo signals multiple-reflected in the lens 6, and −P L1 to −P L3 are in the lens 8. Is reflected by the code converter 13 and the polarity is inverted by the code converter 13, P s is the echo signal reflected on the surface of the subject 3, and P f ′ is from the defect 15 containing the in-lens multiple reflection component P L2 . Is an echo signal, P p and −P p ,
P L1 and -P L1, P L2 and -P L2, P L3 and -P L3 respectively the same phase is at the same level, the polarity becomes opposite.

【0007】したがって、このようなエコー信号を加算
器14において加算すると、図9(c)に示すように、レ
ンズ内の多重反射によるエコー信号はそれぞれ同一位相
のもの同志で打ち消され、被検体3の表面とその内部の
欠陥15から反射したエコー信号Ps、Pfのみが残って
加算器14の出力端子cから出力される。すなわち、欠
陥15からのエコー信号Pfはレンズ内多重反射成分を
全く含まない形で抽出される。これは、レンズ5と被検
体3との距離あるいは媒体2の厚みが変化してもレンズ
内多重反射の影響を受けることなく抽出される。これに
より、欠陥15の正確な情報を得ることが可能になる。
Therefore, when such an echo signal is added by the adder 14, the echo signals due to the multiple reflections in the lens are canceled by each other with the same phase, as shown in FIG. 9C. Only the echo signals P s and P f reflected from the surface 15 and the defect 15 inside thereof remain and are output from the output terminal c of the adder 14. That is, the echo signal P f from the defect 15 is extracted in a form that does not include multiple reflection components in the lens. This is extracted without being affected by the multiple reflection in the lens even if the distance between the lens 5 and the subject 3 or the thickness of the medium 2 changes. This makes it possible to obtain accurate information on the defect 15.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の超音波検査装置にあっては、同一特性を有する
一対の超音波探触子UP1、UP2の一方UP1を被検
体3に向けてこの被検体3およびレンズ5内からの信号
を得、他方の超音波探触子UP2を空気に向けてレンズ
6内からの信号を得、これら一対の信号によりレンズ内
多重反射成分を打ち消しているが、全く同一の音響特性
を有する一対の超音波探触子UP1、UP2を製作する
ことは現状の技術ではかなり困難であるとともに、超音
波探触子1全体の大型化を招く、という問題があった。
However, in the above-mentioned conventional ultrasonic inspection apparatus, one of the pair of ultrasonic probes UP1 and UP2 having the same characteristics is directed toward the subject 3 and the ultrasonic probe UP1 is turned on. Signals from the specimen 3 and the lens 5 are obtained, the other ultrasonic probe UP2 is directed to the air, and a signal from the lens 6 is obtained, and the in-lens multiple reflection component is canceled by the pair of signals. It is difficult to manufacture a pair of ultrasonic probes UP1 and UP2 having exactly the same acoustic characteristics with the current technology, and there is a problem that the ultrasonic probe 1 as a whole becomes large. .

【0009】本発明の目的は、超音波振動子を複数用い
ることなく信号処理によりレンズ内多重反射の影響を打
ち消すことの可能な超音波検査方法および装置を提供す
ることにある。
It is an object of the present invention to provide an ultrasonic inspection method and apparatus capable of canceling the influence of multiple reflection in a lens by signal processing without using a plurality of ultrasonic transducers.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】一実施例を示す図1に対
応付けて説明すると、請求項1の発明は、音響レンズ2
1を備え、被検体23との間で超音波の送受信を行う超
音波探触子20を用いた超音波検査方法に適用される。
そして、上述の目的は、前記超音波探触子20からの受
信信号を一対の受信分配信号に分岐し、遅延手段29に
よりいずれか一方の前記受信分配信号に所定の遅延を与
え、レベル調整手段30により一対の前記受信分配信号
のレベルを調整し、減算手段28により前記一対の受信
分配信号の差を求めて、前記音響レンズ21内で多重反
射した信号を前記受信信号から除去することにより達成
される。請求項2の発明は、音響レンズ21を備え、被
検体23との間で超音波の送受信を行う超音波探触子2
0を有する超音波検査装置に適用され、そして、上述の
目的は、前記超音波探触子20からの受信信号を一対の
受信分配信号に分岐する分配手段26と、いずれか一方
の前記受信分配信号に所定の遅延を与える遅延手段29
と、一対の前記受信分配信号のレベルを調整するレベル
調整手段30と、前記一対の受信分配信号の差を求める
減算手段28とを設けることにより達成される。ここ
で、前記遅延手段29により与えられる遅延時間を可変
に設定する遅延設定手段31と、前記レベル調整手段3
0により調整される前記受信分配信号のレベルを可変に
設定するレベル設定手段32とを設けてもよい。請求項
4の発明は、前記超音波探触子20からの受信信号を記
憶手段内に受信データとして格納し、遅延手段により前
記受信データに所定の遅延を与えるとともに、レベル調
整手段により前記受信データのレベルを調整して参照デ
ータとし、減算手段により前記受信データと前記参照デ
ータとの差を求め、前記音響レンズ内で多重反射した信
号を前記受信データから除去するような超音波検査方法
により、上述の目的を達成している。また、請求項5の
発明は、前記超音波探触子20からの受信信号を記憶手
段内に受信データとして格納し、抽出手段により、前記
音響レンズ22内で多重反射した多重反射信号と、前記
多重反射信号と検査対象信号とが干渉した干渉信号とを
前記受信データから抽出し、レベル調整手段により前記
多重反射信号と前記干渉信号とのレベルを調整し、減算
手段により前記多重反射信号と前記干渉信号との差を求
め、前記多重反射信号を前記受信データから除去するよ
うな超音波検査方法により、上述の目的を達成してい
る。
An embodiment of the invention of claim 1 will be described with reference to FIG. 1 showing an embodiment.
1 and is applied to an ultrasonic inspection method using the ultrasonic probe 20 that transmits and receives ultrasonic waves to and from the subject 23.
The above-mentioned object is to divide the reception signal from the ultrasonic probe 20 into a pair of reception distribution signals, and to delay one of the reception distribution signals with a predetermined delay by the delay means 29, thereby adjusting the level adjusting means. This is achieved by adjusting the level of the pair of reception distribution signals by 30 and obtaining the difference between the pair of reception distribution signals by the subtracting means 28, and removing the signal multi-reflected in the acoustic lens 21 from the reception signal. To be done. The invention according to claim 2 includes an acoustic lens 21, and an ultrasonic probe 2 for transmitting and receiving ultrasonic waves to and from a subject 23.
0 is applied to the ultrasonic inspection apparatus, and the above-mentioned purpose is to divide the reception signal from the ultrasonic probe 20 into a pair of reception distribution signals, and one of the reception distribution signals. Delay means 29 for giving a predetermined delay to a signal
And level adjustment means 30 for adjusting the level of the pair of received distribution signals, and subtraction means 28 for obtaining the difference between the pair of received distribution signals. Here, the delay setting means 31 for variably setting the delay time given by the delay means 29, and the level adjusting means 3
Level setting means 32 for variably setting the level of the reception distribution signal adjusted by 0 may be provided. According to a fourth aspect of the present invention, the received signal from the ultrasonic probe 20 is stored in the storage means as received data, the delay means gives a predetermined delay to the received data, and the level adjusting means gives the received data. The reference data by adjusting the level of, the difference between the received data and the reference data by subtraction means, by an ultrasonic inspection method such as removing the signal multiple reflected in the acoustic lens from the received data, The above-mentioned purpose is achieved. Further, in the invention of claim 5, the received signal from the ultrasonic probe 20 is stored in the storage means as received data, and the multiple reflected signal which is multiple-reflected in the acoustic lens 22 by the extracting means, and An interference signal in which a multiple reflection signal and a signal to be inspected interfere with each other is extracted from the received data, a level adjusting unit adjusts the levels of the multiple reflection signal and the interference signal, and a subtracting unit adjusts the multiple reflection signal and the interference signal. The above object is achieved by an ultrasonic inspection method in which the difference from the interference signal is obtained and the multiple reflection signal is removed from the received data.

【0011】[0011]

【作用】[Action]

−請求項1− 遅延手段29は、いずれか一方の受信分配信号に所定の
遅延を与え、レベル調整手段30は一対の受信分配信号
のレベルを調整する。音響レンズ21内で多重反射した
信号は、所定の時間間隔で受信され、また、反射回数の
増加に伴って減衰するため、遅延手段29により一方の
受信分配信号に上述の時間間隔だけ遅延を与え、レベル
調整手段30により信号の減衰分を調整して、減算手段
28により一対の受信分配信号の差を求めれば、音響レ
ンズ21内で多重反射した信号を受信信号から除去する
ことができる。 −請求項4− 遅延手段は、記憶手段内に格納された超音波探触子20
からの受信信号である受信データに所定の遅延を与え、
レベル調整手段は、受信データのレベルを調整して参照
データとする。音響レンズ21内で多重反射した信号
は、所定の時間間隔で受信され、また、反射回数の増加
に伴って減衰するため、遅延手段により受信データに上
述の時間間隔だけ遅延を与え、レベル調整手段30によ
り信号の減衰分を調整して、減算手段により受信データ
と参照データとの差を求めれば、音響レンズ21内で多
重反射した信号を受信データから除去することができ
る。 −請求項5− 抽出手段は、音響レンズ22内で多重反射した多重反射
信号と、多重反射信号と検査対象信号とが干渉した干渉
信号とを、記憶手段内に格納された超音波探触子20か
らの受信信号である受信データから抽出し、レベル調整
手段は、多重反射信号と干渉信号とのレベルを調整す
る。音響レンズ21内で多重反射した信号は、所定の時
間間隔で受信され、また、反射回数の増加に伴って減衰
するため、レベル調整手段30により信号の減衰分を調
整して減算手段により多重反射信号と干渉信号との差を
求めれば、多重反射信号を受信データから除去すること
ができる。
-Claim 1-The delay means 29 gives a predetermined delay to one of the reception distribution signals, and the level adjusting means 30 adjusts the levels of the pair of reception distribution signals. The signal multiple-reflected in the acoustic lens 21 is received at a predetermined time interval and is attenuated as the number of reflections increases. Therefore, the delay means 29 delays one reception distribution signal by the time interval described above. By adjusting the attenuation amount of the signal by the level adjusting means 30 and obtaining the difference between the pair of reception distribution signals by the subtracting means 28, the signal multiply reflected in the acoustic lens 21 can be removed from the reception signal. -Claim 4 The delay means is the ultrasonic probe 20 stored in the storage means.
Gives a predetermined delay to the received data which is the received signal from
The level adjusting means adjusts the level of the received data and uses it as reference data. The signal multiple-reflected in the acoustic lens 21 is received at a predetermined time interval and is attenuated as the number of reflections increases. Therefore, the delay means delays the received data by the time interval described above, and the level adjusting means. If the attenuation of the signal is adjusted by 30 and the difference between the received data and the reference data is obtained by the subtracting means, the signal multiply reflected in the acoustic lens 21 can be removed from the received data. According to a fifth aspect of the present invention, the extracting means stores the multiple reflection signal which is multiple reflected in the acoustic lens 22 and the interference signal in which the multiple reflection signal interferes with the inspection target signal, in the storage means. Extracted from the reception data which is the reception signal from 20, the level adjusting means adjusts the levels of the multiple reflection signal and the interference signal. The signal multiple-reflected in the acoustic lens 21 is received at a predetermined time interval and is attenuated as the number of reflections increases. Therefore, the level adjusting unit 30 adjusts the signal attenuation and the subtracting unit multiple-reflects. The multiple reflection signal can be removed from the received data by determining the difference between the signal and the interference signal.

【0012】なお、本発明の構成を説明する上記課題を
解決するための手段と作用の項では、本発明を分かり易
くするために実施例の図を用いたが、これにより本発明
が実施例に限定されるものではない。
Incidentally, in the section of means and action for solving the above problems for explaining the constitution of the present invention, the drawings of the embodiments are used for the purpose of making the present invention easy to understand. It is not limited to.

【0013】[0013]

【実施例】【Example】

−第1実施例− 図1は、本発明による超音波検査装置の第1実施例であ
る超音波探傷装置を示すブロック図である。この図にお
いて、20は超音波探触子であり、音響レンズ21の上
面21aに超音波振動子22が設けられ、この超音波振
動子22で発生して音響レンズ21内を伝播した超音波
がその下部に設けられた凹曲面21bにより集束されて
被検体23に向けて照射される構成になっている。被検
体23には、その表面近傍に欠陥35が存在する。24
は超音波振動子22を励振させるためのパルスを発生す
る送信器、25は図中の矢印で示す方向にのみ信号を流
す循環器である。
First Embodiment FIG. 1 is a block diagram showing an ultrasonic flaw detector which is a first embodiment of the ultrasonic inspection apparatus according to the present invention. In this figure, reference numeral 20 denotes an ultrasonic probe, and an ultrasonic transducer 22 is provided on the upper surface 21a of the acoustic lens 21, and ultrasonic waves generated by the ultrasonic transducer 22 and propagated in the acoustic lens 21 are generated. The concave curved surface 21b provided at the lower part of the concave portion 21b focuses the light and irradiates the subject 23 with the light. The subject 23 has a defect 35 near the surface thereof. 24
Is a transmitter that generates a pulse for exciting the ultrasonic transducer 22, and 25 is a circulator that sends a signal only in the direction shown by the arrow in the figure.

【0014】超音波振動子22により受信された受信信
号は、循環器25を介して分配器26により2本の受信
ライン27a、27bに分配される。一方の受信ライン
27aは直接減算回路28のAポートに接続され、他方
の受信ライン27bには遅延回路29およびレベル調整
回路30が介在され、減算回路28のBポートに接続さ
れている。遅延回路29は、受信ライン27bを流れる
受信信号に所定の遅延を与え、レベル調整回路30は、
同様に受信ライン27bを流れる受信信号を増幅してそ
のレベルを調整する。通常、超音波信号は音響レンズ2
1内を伝播するとその強度が指数関数的に減衰するた
め、レベル調整回路30は対数増幅器を備えていること
が好ましい。遅延回路29が与える遅延時間および減衰
器30の増幅率は、それぞれ遅延時間設定回路31およ
びレベル設定回路32により可変設定される。
The reception signal received by the ultrasonic transducer 22 is distributed to the two reception lines 27a and 27b by the distributor 26 via the circulator 25. One receiving line 27a is directly connected to the A port of the subtracting circuit 28, and the other receiving line 27b is provided with a delay circuit 29 and a level adjusting circuit 30 and is connected to the B port of the subtracting circuit 28. The delay circuit 29 gives a predetermined delay to the reception signal flowing through the reception line 27b, and the level adjustment circuit 30
Similarly, the received signal flowing through the receiving line 27b is amplified and its level is adjusted. Normally, the ultrasonic signal is transmitted to the acoustic lens 2.
The level adjusting circuit 30 preferably includes a logarithmic amplifier, because its intensity exponentially attenuates when propagating in 1. The delay time provided by the delay circuit 29 and the amplification factor of the attenuator 30 are variably set by the delay time setting circuit 31 and the level setting circuit 32, respectively.

【0015】減算回路28は、一対のポートA、Bに入
力された信号の差分を出力する。増幅器33は、減算回
路28の出力を増幅する。この出力は、後段に位置する
周知の画像処理回路等により処理される。34は、減算
回路28のポートA、Bへの入力信号およびこの減算回
路28の出力信号をそれぞれモニタするオシロスコープ
等の波形観察装置である。
The subtraction circuit 28 outputs the difference between the signals input to the pair of ports A and B. The amplifier 33 amplifies the output of the subtraction circuit 28. This output is processed by a well-known image processing circuit or the like located in the subsequent stage. Reference numeral 34 is a waveform observing device such as an oscilloscope that monitors the input signals to the ports A and B of the subtraction circuit 28 and the output signal of the subtraction circuit 28.

【0016】次に、図1および図2の波形図を参照し
て、本実施例の超音波探傷装置の動作について説明す
る。送信器24は超音波探触子20励振用のパルスを発
生し、このパルスは循環器25を介して探触子20の超
音波振動子22に入力される。振動子22はパルスによ
り励振されて超音波を発生し、この超音波は音響レンズ
21を伝播して被検体23に向けて照射される。図3に
示すように、被検体23の表面、欠陥35で反射された
表面エコーPs、欠陥エコーPfは上述の伝播経路を逆に
たどって超音波振動子22により受信される。同時に、
音響レンズ21の凹曲面21bの界面で反射した多重反
射波PL1、PL2(以下、PLで代表して説明することも
ある)も超音波振動子22により受信される。なお、図
3では2重反射波PL2までしか図示していないが、音響
レンズ21は通常減衰率の低い材質で形成されるので、
相当回の多重反射波が振動子22により受信される(以
下、3重反射波をPL3というように添字でその反射回数
を示す)。
Next, the operation of the ultrasonic flaw detector according to this embodiment will be described with reference to the waveform diagrams of FIGS. The transmitter 24 generates a pulse for exciting the ultrasonic probe 20, and the pulse is input to the ultrasonic transducer 22 of the probe 20 via the circulator 25. The oscillator 22 is excited by the pulse to generate an ultrasonic wave, and the ultrasonic wave propagates through the acoustic lens 21 and is irradiated toward the subject 23. As shown in FIG. 3, the surface echo of the surface of the subject 23, the surface echo P s reflected by the defect 35, and the defect echo P f are received by the ultrasonic transducer 22 following the above-mentioned propagation paths in reverse. at the same time,
The multi-reflected waves P L1 and P L2 (hereinafter also referred to as P L in some cases) reflected at the interface of the concave curved surface 21 b of the acoustic lens 21 are also received by the ultrasonic transducer 22. Although only the double reflected wave P L2 is shown in FIG. 3, since the acoustic lens 21 is usually made of a material having a low attenuation factor,
A multiple number of times of multiple reflected waves are received by the oscillator 22 (hereinafter, the number of times of reflection is indicated by a subscript such as P L3 for triple reflected waves).

【0017】超音波振動子22により受信された超音波
は電気信号に変換されて出力され、分配器26はこの振
動子22の受信信号を2本の受信ライン27a、27b
に分配する。受信ライン27aに分配された受信信号は
減算回路28のAポートに直接入力される。一方、受信
ライン27bに分配された受信信号は、遅延時間設定回
路31により設定された遅延時間に基づいて遅延回路2
9により遅延が与えられ、また、レベル設定回路32に
より設定された増幅率に基づいてレベル調整回路30に
よりそのレベルが調整され、減算回路28のBポートに
入力される。減算回路28は、これらポートA、Bに入
力された信号の差分を出力し、この出力信号は増幅器3
3により増幅されて後段の画像処理回路等に出力され
る。
The ultrasonic wave received by the ultrasonic oscillator 22 is converted into an electric signal and output, and the distributor 26 outputs the received signal of the oscillator 22 to the two receiving lines 27a and 27b.
Distribute to. The reception signal distributed to the reception line 27a is directly input to the A port of the subtraction circuit 28. On the other hand, the received signal distributed to the receiving line 27b is delayed by the delay circuit 2 based on the delay time set by the delay time setting circuit 31.
A delay is given by 9 and the level is adjusted by the level adjusting circuit 30 based on the amplification factor set by the level setting circuit 32, and is input to the B port of the subtracting circuit 28. The subtraction circuit 28 outputs the difference between the signals input to these ports A and B, and this output signal is the amplifier 3
It is amplified by 3 and output to an image processing circuit or the like in the subsequent stage.

【0018】図2は、減算回路28のポートA、Bに入
力される入力信号((a)、(b))およびこの減算回路2
8から出力される出力信号((c))を示す波形図であ
る。図中、Ppは振動子22に印加された励振用パルス
である。図示例では、2重反射波PL2と欠陥エコーPf
とが重複しており、そのままではこれらを区別すること
ができない。遅延時間設定回路31は、ポートAへの入
力信号における2重反射波PL2とポートBへの入力信号
における多重反射波PL1とが同一位相となるように、つ
まりポートBの多重反射波PLがポートAの多重反射波
Lに対して1周期分遅延するようにその遅延時間を設
定する。この遅延時間は、超音波が音響レンズ21内を
1往復する伝播時間に略等しい。一方、レベル設定回路
32は、1周期分だけずれた2つの多重反射波PL(例
えば多重反射波PL1と2重反射波PL2)がポートA、B
へ入力される際に互いに同一レベルとなるように、その
増幅率を設定する。この増幅率は、超音波が音響レンズ
21内を1往復する際に与えられる減衰率に対応する。
FIG. 2 shows input signals ((a) and (b)) input to the ports A and B of the subtraction circuit 28 and the subtraction circuit 2
8 is a waveform diagram showing an output signal ((c)) output from FIG. In the figure, P p is an excitation pulse applied to the oscillator 22. In the illustrated example, the double reflected wave P L2 and the defect echo P f
And are redundant, and cannot be distinguished as they are. The delay time setting circuit 31 sets the double reflected wave P L2 in the input signal to the port A and the multiple reflected wave P L1 in the input signal to the port B to have the same phase, that is, the multiple reflected wave P L of the port B. L sets the delay time to delay one cycle with respect to the multiple reflection waves P L port a. This delay time is approximately equal to the propagation time of one round trip of the ultrasonic wave in the acoustic lens 21. On the other hand, in the level setting circuit 32, two multi-reflected waves P L (for example, multi-reflected wave P L1 and double-reflected wave P L2 ) deviated by one cycle are input to ports A and B.
The amplification factors are set so that they are at the same level when they are input to. This amplification factor corresponds to the attenuation factor given when the ultrasonic wave makes one round trip in the acoustic lens 21.

【0019】遅延時間および増幅率の設定方法は任意で
あるが、本実施例では、波形観察装置34により減算回
路28のポートA、Bへの入力信号および減算回路28
の出力信号を観察しつつ遅延時間、増幅率の設定をおこ
なう(波形観察装置34で観察される波形は図2に示す
ようなものになる)。遅延時間、増幅率設定時の被検体
は、探傷対象たる被検体23と同一材質で欠陥の存在し
ない標準被検体であることが好ましい。一方、音響レン
ズ21の材質および寸法から遅延時間、増幅率の大体の
値を見積もることはできるので、見積もられた遅延時
間、増幅率により予め遅延時間設定回路31、レベル設
定回路32の設定を行い、増幅器33からの出力を見な
がら適宜補正してもよい。
The method of setting the delay time and the amplification factor is arbitrary, but in the present embodiment, the input signal to the ports A and B of the subtraction circuit 28 and the subtraction circuit 28 by the waveform observing device 34 are used.
The delay time and the amplification factor are set while observing the output signal of (the waveform observed by the waveform observing device 34 is as shown in FIG. 2). It is preferable that the test object at the time of setting the delay time and the amplification factor is a standard test object having the same material as the test object 23 to be flaw-detected and having no defect. On the other hand, since the delay time and the approximate value of the amplification factor can be estimated from the material and size of the acoustic lens 21, the delay time setting circuit 31 and the level setting circuit 32 are set in advance according to the estimated delay time and the amplification factor. Alternatively, the output may be appropriately corrected while observing the output from the amplifier 33.

【0020】減算回路28のポートA、Bに入力された
入力信号、すなわち図2(a)、(b)に示す信号の差分が
この減算回路28で演算されると、多重反射波PLが1
周期遅れで減算され、かつ、同位相の多重反射波PL
互いに同一レベルに調整されているため、多重反射波の
成分は互いに打ち消し合い、図2(c)に示すように出力
信号には励振パルスPp、表面エコーPsおよび欠陥エコ
ーPfのみが抽出される。これにより、図2に示すよう
に多重反射波PLと欠陥エコーPfとが重複、干渉して受
信された場合でも欠陥エコーPfのみを抽出して測定す
ることができ、欠陥7の正確な情報を得ることが可能に
なる。しかも、レンズ21と被検体23との間の距離な
どが変化しても設定を変更する必要もない。
When the subtraction circuit 28 calculates the difference between the input signals input to the ports A and B of the subtraction circuit 28, that is, the signals shown in FIGS. 2 (a) and 2 (b), the multiple reflected wave P L is obtained. 1
Since the multiple reflected waves P L of the same phase are subtracted with a periodic delay and are adjusted to the same level as each other, the components of the multiple reflected waves cancel each other out, and as shown in FIG. Only the excitation pulse P p , the surface echo P s and the defect echo P f are extracted. As a result, as shown in FIG. 2, even when the multiple reflected waves P L and the defective echo P f overlap and interfere and are received, only the defective echo P f can be extracted and measured, and the defect 7 can be accurately measured. It is possible to obtain various information. Moreover, even if the distance between the lens 21 and the subject 23 changes, it is not necessary to change the setting.

【0021】ここで、本実施例では、上述の従来例のよ
うに複数の探触子UP1、UP2を用いることなく、単
一の探触子20から得られた受信信号を2本の受信ライ
ン27a、27bに分岐し、これら受信ライン27a、
27bを流れる受信信号に所定の信号処理を行うことに
より多重反射波PLの影響を除去しているので、従来例
のように同一特性を有する複数の探触子を作成する手間
が省け、しかも探触子20を含めた全体の小型化を図る
ことができる。
Here, in the present embodiment, the reception signal obtained from the single probe 20 is used for two reception lines without using the plurality of probes UP1 and UP2 as in the above-mentioned conventional example. 27a and 27b, and these reception lines 27a and 27a
Since the influence of the multiple reflected waves P L is removed by performing the predetermined signal processing on the received signal flowing through 27b, it is possible to save the labor of producing a plurality of probes having the same characteristics as in the conventional example, and The entire size including the probe 20 can be reduced.

【0022】−第2実施例− 図4は、本発明による超音波検査装置の第2実施例であ
る超音波探傷装置を示すブロック図である。なお、以下
の説明において、上述の第1実施例と同様の構成要素に
ついては同一の符号を付す。
Second Embodiment FIG. 4 is a block diagram showing an ultrasonic flaw detector which is a second embodiment of the ultrasonic inspection apparatus according to the present invention. In the following description, the same components as those in the above-mentioned first embodiment are designated by the same reference numerals.

【0023】超音波探触子20から出力された受信信号
は、そのままコンピュータ40のA/D変換器41に入
力されてデジタル信号に変換され、CPU42に入力さ
れる。CPU42には第1〜第4のメモリ43a〜43
dが接続されており、CPU42に入力された信号が適
宜格納される。CPU42にはまた、後述する遅延時間
の設定をおこなう遅延設定用テンキー44と、同様にレ
ベル調整の設定を行うレベル調整用テンキー45が接続
されている。CPU42からの出力は、D/A変換器4
6を介してCRT47の画面上に表示される。なお、受
信信号を分岐して一方に遅延、レベル調整をすること等
を除き、その基本的構成(探触子20、送信器26な
ど)は上述の第1実施例と共通であるため、図示および
説明を省略する。
The received signal output from the ultrasonic probe 20 is directly input to the A / D converter 41 of the computer 40, converted into a digital signal, and input to the CPU 42. The CPU 42 includes the first to fourth memories 43a to 43
d is connected, and the signal input to the CPU 42 is appropriately stored. The CPU 42 is also connected to a delay setting numeric keypad 44 for setting a delay time described later and a level adjustment numeric keypad 45 for similarly setting a level adjustment. The output from the CPU 42 is the D / A converter 4
6 is displayed on the screen of the CRT 47. The basic configuration (the probe 20, the transmitter 26, etc.) is the same as that of the above-described first embodiment except that the received signal is branched and delayed, and the level is adjusted to one side. And the description is omitted.

【0024】次に、図5および図6のフローチャート、
および図4を参照して、本実施例の超音波探傷装置の動
作について説明する。図5のフローチャートに示すプロ
グラムは初期設定用のプログラムであり、被検体23の
探傷動作に先立って行われる。基本的には、同一の被検
体23について1回行えばよい。
Next, the flowcharts of FIGS. 5 and 6,
The operation of the ultrasonic flaw detector according to this embodiment will be described with reference to FIGS. The program shown in the flowchart of FIG. 5 is a program for initial setting and is executed prior to the flaw detection operation of the subject 23. Basically, it may be performed once for the same subject 23.

【0025】まず、ステップS1では、超音波探触子2
0により被検体23からのエコーを受信する。すなわ
ち、第1実施例と同様に、CPU42からの指令により
送信器24が超音波探触子20励振用のパルスを発生
し、このパルスは循環器25を介して探触子20の超音
波振動子22に入力される。振動子22はパルスにより
励振されて超音波を発生し、この超音波は音響レンズ2
1を伝播して被検体23に向けて照射される。超音波の
照射により被検体からは表面エコー、欠陥エコーが戻
り、音響レンズ21からは多重反射エコーが戻り、これ
らエコーは超音波探触子20の振動子22により受信さ
れる。超音波振動子22により受信された超音波は電気
信号に変換されて出力され、A/D変換器41でデジタ
ル信号に変換された後、CPU42に入力される。
First, in step S1, the ultrasonic probe 2
The echo from the subject 23 is received by 0. That is, as in the first embodiment, the transmitter 24 generates a pulse for exciting the ultrasonic probe 20 in response to a command from the CPU 42, and the pulse vibrates the ultrasonic wave of the probe 20 via the circulator 25. It is input to the child 22. The oscillator 22 is excited by the pulse to generate an ultrasonic wave, and the ultrasonic wave is generated by the acoustic lens 2.
1 is propagated and irradiated toward the subject 23. Upon irradiation with ultrasonic waves, surface echoes and defect echoes are returned from the subject, multiple reflection echoes are returned from the acoustic lens 21, and these echoes are received by the transducer 22 of the ultrasonic probe 20. The ultrasonic wave received by the ultrasonic transducer 22 is converted into an electric signal and outputted, and after being converted into a digital signal by the A / D converter 41, it is inputted into the CPU 42.

【0026】ステップS2では、CPU42が受信信号
データを読み込み、これを第1のメモリ43aへ格納す
る。ステップS3では、CPU42が第1のメモリ43
aに格納されたデータを読み出し、これをD/A変換器
46に送出することでこの受信信号データをCRT47
上に表示する。
In step S2, the CPU 42 reads the received signal data and stores it in the first memory 43a. In step S3, the CPU 42 causes the first memory 43
The received signal data is read by the CRT 47 by reading the data stored in a and sending it to the D / A converter 46.
Display on top.

【0027】ステップS4では、操作者がCRT47上
に表示されたデータ(第1実施例において図2(a)に相
当する)を観察しつつ、遅延設定用テンキー44を用い
て多重反射エコーの1周期分の遅延時間を設定する。同
様にステップS5では、操作者がCRT47上に表示さ
れたデータを観察しつつ、レベル調整用テンキー45を
用いてレベル調整用のゲインを設定する。このゲイン
は、上述の第1実施例と同様に、1周期分だけずれた2
つの多重反射エコーが等しいレベルになるように設定さ
れる。ステップS6では、ステップS4、5で設定され
た遅延時間、レベル調整設定結果を第2のメモリ43b
内へ格納する。
In step S4, while the operator observes the data displayed on the CRT 47 (corresponding to FIG. 2A in the first embodiment), the delay setting numeric keypad 44 is used to set one of multiple reflection echoes. Set the delay time for the cycle. Similarly, in step S5, the operator sets the gain for level adjustment using the ten keys 45 for level adjustment while observing the data displayed on the CRT 47. This gain is shifted by one cycle, as in the first embodiment described above.
The two multiple reflection echoes are set to the same level. In step S6, the delay time set in steps S4 and 5 and the level adjustment setting result are stored in the second memory 43b.
Store in.

【0028】次いで、プログラムは図6のフローチャー
トに示すプログラムに移行する。まず、ステップS11
では、ステップS1と同様にして超音波探触子20によ
り被検体23からのエコーを受信する。ステップS12
では、超音波探触子20の受信信号データをCPU42
が読み込み、これを第3のメモリ43cへ格納する。
Next, the program shifts to the program shown in the flowchart of FIG. First, step S11
Then, as in step S1, the ultrasonic probe 20 receives an echo from the subject 23. Step S12
Then, the received signal data of the ultrasonic probe 20 is transferred to the CPU 42.
Read and store it in the third memory 43c.

【0029】ステップS13では、CPU42が第2の
メモリ42bに格納された遅延時間、レベル調整設定結
果を読み込む。ステップS14では、CPU42が第3
のメモリ43cに格納された受信信号データを読み込
み、ステップS15では、ステップS14で読み込まれ
た受信信号データに対してステップS13で読み込まれ
た遅延時間だけ遅延を与える。ステップS16では、ス
テップS15で所定の遅延が与えられた受信信号データ
のレベルを、ステップS13で読み込まれたレベル調整
設定に基づいて調整する。ステップS16が終了した時
点での受信信号データは、第1実施例において図2(b)
に相当する。ステップS17では、CPU42が、所定
の遅延およびレベル調整が行われた受信信号データを第
4のメモリ43dに格納する。
In step S13, the CPU 42 reads the delay time and the level adjustment setting result stored in the second memory 42b. In step S14, the CPU 42 causes the third
The received signal data stored in the memory 43c is read, and in step S15, the received signal data read in step S14 is delayed by the delay time read in step S13. In step S16, the level of the received signal data to which the predetermined delay has been added in step S15 is adjusted based on the level adjustment setting read in step S13. The received signal data at the time when step S16 ends is shown in FIG. 2B in the first embodiment.
Equivalent to. In step S17, the CPU 42 stores the received signal data that has undergone the predetermined delay and level adjustment in the fourth memory 43d.

【0030】ステップS18では、CPU42が第3、
第4のメモリ43c、43dからそれぞれデータを読み
込み、これらメモリ43c、43dのデータの差分を算
出する。上述のように、第4のメモリ43dのデータ
は、第3のメモリ43cのデータに対して多重反射エコ
ーの1周期分の遅延時間だけ遅延され、かつ、1周期分
だけずれた2つの多重反射エコーが等しいレベルになる
ようにレベルが調整されているので、差分演算により多
重反射波の成分は互いに打ち消し合い、出力信号には励
振パルス、表面エコーおよび欠陥エコーのみが抽出され
る。この差分信号は、第1実施例において図2(c)に対
応するものとなる。ステップS19では、CPU42が
ステップS18における差分演算結果をD/A変換器4
6に送出することによりこの演算結果をCRT47に表
示する。したがって、本実施例によっても、上述の第1
実施例と同様の作用効果を得ることができる。
In step S18, the CPU 42 causes the third,
The data is read from the fourth memories 43c and 43d, respectively, and the difference between the data in these memories 43c and 43d is calculated. As described above, the data in the fourth memory 43d is delayed from the data in the third memory 43c by the delay time of one cycle of the multiple reflection echo, and the two multiple reflections shifted by one cycle. Since the levels are adjusted so that the echoes have the same level, the components of the multiple reflected waves cancel each other out by the difference calculation, and only the excitation pulse, the surface echo and the defective echo are extracted from the output signal. This difference signal corresponds to that in FIG. 2C in the first embodiment. In step S19, the CPU 42 uses the difference calculation result in step S18 as the D / A converter 4
This calculation result is displayed on the CRT 47 by being sent to the CRT 47. Therefore, according to the present embodiment as well, the above-mentioned first
It is possible to obtain the same effect as that of the embodiment.

【0031】以上説明した実施例と請求の範囲との対応
において、分配器26は分岐手段を、遅延回路29は遅
延手段を、レベル調整回路はレベル調整手段を、減算回
路28は減算器を、遅延時間設定回路31は遅延設定手
段を、レベル設定回路32はレベル設定手段をそれぞれ
構成している。
In the correspondence between the embodiment described above and the claims, the distributor 26 is a branching means, the delay circuit 29 is a delay means, the level adjusting circuit is a level adjusting means, and the subtracting circuit 28 is a subtractor. The delay time setting circuit 31 constitutes delay setting means, and the level setting circuit 32 constitutes level setting means.

【0032】なお、本発明の超音波検査方法および装置
は、その細部が上述の各実施例に限定されず、種々の変
形が可能である。一例として、遅延回路29、レベル調
整回路30をいずれの受信ライン27a、27bに設け
るかは任意であり、いずれか一方のライン27a、27
bに設けられていればよい。また、受信データから多重
反射波のみを取り出し、レベル調整を行ってから受信デ
ータと部分的に差分をとっても同様の結果が得られる。
The details of the ultrasonic inspection method and apparatus of the present invention are not limited to the above-described embodiments, and various modifications are possible. As an example, which of the receiving lines 27a and 27b is provided with the delay circuit 29 and the level adjusting circuit 30 is arbitrary, and only one of the lines 27a and 27b is provided.
It may be provided in b. The same result can be obtained by extracting only the multiple reflected waves from the received data, adjusting the level, and then partially subtracting the difference from the received data.

【0033】[0033]

【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、上述の従来例のように複数の探触子を用いること
なく、単一の超音波探触子から得られた受信信号に所定
の信号処理を行うことにより多重反射波の影響を除去し
ているので、従来例のように同一特性を有する複数の探
触子を作成する手間が省け、しかも探触子を含めた全体
の小型化を図ることができる。
As described in detail above, according to the present invention, a received signal obtained from a single ultrasonic probe is not required, unlike the conventional example described above, which uses a plurality of probes. Since the effect of multiple reflected waves is removed by performing a predetermined signal processing on the above, it is possible to save the labor of creating a plurality of probes having the same characteristics as in the conventional example, and moreover, the whole including the probe. Can be miniaturized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による超音波検査装置が適用された超音
波探傷装置の第1実施例を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of an ultrasonic flaw detector to which an ultrasonic inspection apparatus according to the present invention is applied.

【図2】第1実施例の超音波探傷法の一例を説明するた
めの波形図である。
FIG. 2 is a waveform diagram for explaining an example of the ultrasonic flaw detection method of the first embodiment.

【図3】超音波探触子で受信される反射波を示す図であ
る。
FIG. 3 is a diagram showing a reflected wave received by an ultrasonic probe.

【図4】本発明による超音波検査装置が適用された超音
波探傷装置の第2実施例を示すブロック図である。
FIG. 4 is a block diagram showing a second embodiment of an ultrasonic flaw detector to which the ultrasonic inspection apparatus according to the present invention is applied.

【図5】第2実施例の超音波探傷法の一例を説明するた
めのフローチャートである。
FIG. 5 is a flow chart for explaining an example of the ultrasonic flaw detection method of the second embodiment.

【図6】図5と同様のフローチャートである。FIG. 6 is a flowchart similar to FIG.

【図7】従来の超音波検査装置の一例を示す概略構成図
である。
FIG. 7 is a schematic configuration diagram showing an example of a conventional ultrasonic inspection apparatus.

【図8】図7の受信機の具体的構成を示すブロック図で
ある。
FIG. 8 is a block diagram showing a specific configuration of the receiver of FIG.

【図9】従来の超音波検査装置の作用を説明するための
波形図である。
FIG. 9 is a waveform diagram for explaining the operation of the conventional ultrasonic inspection apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

20 超音波探触子 21 音響レンズ 22 超音波振動子 26 分配器 27a、27b 受信ライン 28 減算回路 29 遅延回路 30 レベル調整回路 31 遅延時間設定回路 32 レベル設定回路 20 ultrasonic probe 21 acoustic lens 22 ultrasonic transducer 26 distributor 27a, 27b reception line 28 subtraction circuit 29 delay circuit 30 level adjusting circuit 31 delay time setting circuit 32 level setting circuit

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 音響レンズを備え、被検体との間で超音
波の送受信を行う超音波探触子を用いた超音波検査方法
において、 前記超音波探触子からの受信信号を一対の受信分配信号
に分岐し、 遅延手段によりいずれか一方の前記受信分配信号に所定
の遅延を与え、レベル調整手段により一対の前記受信分
配信号のレベルを調整し、 減算手段により前記一対の受信分配信号の差を求めて、
前記音響レンズ内で多重反射した信号を前記受信信号か
ら除去することを特徴とする超音波検査方法。
1. An ultrasonic inspection method using an ultrasonic probe including an acoustic lens for transmitting and receiving ultrasonic waves to and from a subject, comprising: receiving a pair of reception signals from the ultrasonic probe. The signal is branched into a distribution signal, a delay unit gives a predetermined delay to one of the reception distribution signals, a level adjusting unit adjusts the levels of the pair of reception distribution signals, and a subtracting unit adjusts the level of the pair of reception distribution signals. Seeking the difference,
An ultrasonic inspection method characterized in that a signal that has been multiple-reflected in the acoustic lens is removed from the received signal.
【請求項2】 音響レンズを備え、被検体との間で超音
波の送受信を行う超音波探触子を有する超音波検査装置
において、 前記超音波探触子からの受信信号を一対の受信分配信号
に分岐する分配手段と、 いずれか一方の前記受信分配信号に所定の遅延を与える
遅延手段と、 一対の前記受信分配信号のレベルを調整するレベル調整
手段と、 前記一対の受信分配信号の差を求める減算手段とを備え
たことを特徴とする超音波検査装置。
2. An ultrasonic inspection apparatus having an ultrasonic probe for transmitting and receiving ultrasonic waves to and from a subject, comprising an acoustic lens, comprising: a pair of reception distribution signals received from the ultrasonic probe. Distribution means for branching into signals, delay means for giving a predetermined delay to one of the reception distribution signals, level adjusting means for adjusting the level of the pair of reception distribution signals, and difference between the pair of reception distribution signals An ultrasonic inspection apparatus comprising: a subtraction unit that obtains
【請求項3】 請求項2に記載の超音波検査装置におい
て、 前記遅延手段により与えられる遅延時間を可変に設定す
る遅延設定手段と、 前記レベル調整手段により調整される前記受信分配信号
のレベルを可変に設定するレベル設定手段とを備えたこ
とを特徴とする超音波検査装置。
3. The ultrasonic inspection apparatus according to claim 2, wherein a delay setting unit that variably sets a delay time given by the delay unit, and a level of the reception distribution signal adjusted by the level adjusting unit. An ultrasonic inspection apparatus comprising: a level setting unit that variably sets.
【請求項4】 音響レンズを備え、被検体との間で超音
波の送受信を行う超音波探触子を用いた超音波検査方法
において、 前記超音波探触子からの受信信号を記憶手段内に受信デ
ータとして格納し、 遅延手段により前記受信データに所定の遅延を与えると
ともに、レベル調整手段により前記受信データのレベル
を調整して参照データとし、 減算手段により前記受信データと前記参照データとの差
を求め、前記音響レンズ内で多重反射した信号を前記受
信データから除去することを特徴とする超音波検査方
法。
4. An ultrasonic inspection method using an ultrasonic probe, comprising an acoustic lens, for transmitting and receiving ultrasonic waves to and from a subject, wherein a received signal from the ultrasonic probe is stored in a storage means. The received data is stored as a received data in the received data, the delay means gives a predetermined delay to the received data, the level adjusting means adjusts the level of the received data to obtain reference data, and the subtracting means stores the received data and the reference data. An ultrasonic inspection method, wherein a difference is obtained, and a signal that is multiple-reflected in the acoustic lens is removed from the received data.
【請求項5】 音響レンズを備え、被検体との間で超音
波の送受信を行う超音波探触子を用いた超音波検査方法
において、 前記超音波探触子からの受信信号を記憶手段内に受信デ
ータとして格納し、 抽出手段により、前記音響レンズ内で多重反射した多重
反射信号と、前記多重反射信号と検査対象信号とが干渉
した干渉信号とを前記受信データから抽出し、 レベル調整手段により前記多重反射信号と前記干渉信号
とのレベルを調整し、 減算手段により前記多重反射信号と前記干渉信号との差
を求め、前記多重反射信号を前記受信データから除去す
ることを特徴とする超音波検査方法。
5. An ultrasonic inspection method using an ultrasonic probe, comprising an acoustic lens, for transmitting and receiving ultrasonic waves to and from an object, the received signal from the ultrasonic probe being stored in a storage means. Stored in the acoustic lens as the received data, and the extracting means extracts from the received data the multiple reflected signal which is multiple reflected in the acoustic lens and the interference signal in which the multiple reflected signal interferes with the signal to be inspected, and the level adjusting means. Adjusting the levels of the multiple reflection signal and the interference signal by means of calculating the difference between the multiple reflection signal and the interference signal by subtracting means, and removing the multiple reflection signal from the received data. Sonography method.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007187631A (en) * 2006-01-16 2007-07-26 Non-Destructive Inspection Co Ltd Method and apparatus for detecting position of boundary surface
JP2011005058A (en) * 2009-06-27 2011-01-13 Nec Corp Mechanical characteristic measuring device and method for using mechanical characteristic measuring device

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