JPH06235634A - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
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- JPH06235634A JPH06235634A JP5290066A JP29006693A JPH06235634A JP H06235634 A JPH06235634 A JP H06235634A JP 5290066 A JP5290066 A JP 5290066A JP 29006693 A JP29006693 A JP 29006693A JP H06235634 A JPH06235634 A JP H06235634A
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- distance
- receiving position
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
- G01S17/06—Systems determining position data of a target
- G01S17/46—Indirect determination of position data
- G01S17/48—Active triangulation systems, i.e. using the transmission and reflection of electromagnetic waves other than radio waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C3/00—Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
- G01C3/02—Details
- G01C3/06—Use of electric means to obtain final indication
- G01C3/08—Use of electric radiation detectors
- G01C3/085—Use of electric radiation detectors with electronic parallax measurement
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/30—Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line
- G02B7/32—Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line using active means, e.g. light emitter
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- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Remote Sensing (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Focusing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 対象物からの反射光を利用して対象物までの
距離を測定する装置において、装置の高価格化や高消費
電流化を生じることなく、測距の精度を高めることを可
能とする。 【構成】 対象物Aに発光ダイオード13からの光を投
射し、その反射光の受光位置を位置検出器16で検出す
る。この位置検出器16は、長さ方向にずらした2つの
リニアラインセンサ161,162で構成し、各リニア
ラインセンサの出力を距離演算回路181,182でそ
れぞれ距離演算してアナログ距離情報を求め、かつこの
アナログ距離情報をA/D変換器191,192でディ
ジタル値に変換し、かつ各ディジタル値を処理回路20
で加算することで、A/D変換器の変換幅の1/2の幅
でA/D変換した場合と同じ分解能のディジタル距離情
報を得ることができ、分解能の低いA/D変換器を用い
ても、高精度の測距が実現される。
距離を測定する装置において、装置の高価格化や高消費
電流化を生じることなく、測距の精度を高めることを可
能とする。 【構成】 対象物Aに発光ダイオード13からの光を投
射し、その反射光の受光位置を位置検出器16で検出す
る。この位置検出器16は、長さ方向にずらした2つの
リニアラインセンサ161,162で構成し、各リニア
ラインセンサの出力を距離演算回路181,182でそ
れぞれ距離演算してアナログ距離情報を求め、かつこの
アナログ距離情報をA/D変換器191,192でディ
ジタル値に変換し、かつ各ディジタル値を処理回路20
で加算することで、A/D変換器の変換幅の1/2の幅
でA/D変換した場合と同じ分解能のディジタル距離情
報を得ることができ、分解能の低いA/D変換器を用い
ても、高精度の測距が実現される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はカメラ等に用いられて撮
影対象物としての被写体までの距離を測定する測距装置
に関し、特にカメラから赤外光を投射し、被写体からの
反射光を検出して測距を行う測距装置に関する。
影対象物としての被写体までの距離を測定する測距装置
に関し、特にカメラから赤外光を投射し、被写体からの
反射光を検出して測距を行う測距装置に関する。
【0002】
【従来の技術】いわゆるアクティブ方式の測距装置とし
て、カメラから赤外光を投射し、被写体からの反射光を
検出して被写体までの距離を測定する方式が採用されて
いる。図7はその概略構成図であり、制御回路1は赤外
光駆動部2を駆動することで赤外光発光器3で赤外光を
発生させ、これを投光レンズ4により集束して被写体A
に投射させる。被写体Aで反射された赤外光は受光レン
ズ5により位置検出器6に結像される。この位置検出器
6はPSDと通称されるリニアラインセンサで構成され
ており、受光レンズ5で結像されたスポット光Sのリニ
アラインセンサ上の位置に応じて共通電極oに対する両
端の2つの電極a,bに得られる電流が変化されるた
め、その電流比を検出することで、位置検出器6上の光
スポット位置を検出する。そして、距離演算回路7で
は、検出された位置検出器上のスポット光の位置に基づ
いて三角法を利用して演算を行ない、被写体Aまでの距
離を算出する。通常、この距離演算回路7は、測距の信
頼性を高めるために、前記した測距動作を繰り返して複
数回行い、それぞれ得られた測距値を平均化手段で平均
し、その平均値を測距値として得る方式がとられること
が多い。
て、カメラから赤外光を投射し、被写体からの反射光を
検出して被写体までの距離を測定する方式が採用されて
いる。図7はその概略構成図であり、制御回路1は赤外
光駆動部2を駆動することで赤外光発光器3で赤外光を
発生させ、これを投光レンズ4により集束して被写体A
に投射させる。被写体Aで反射された赤外光は受光レン
ズ5により位置検出器6に結像される。この位置検出器
6はPSDと通称されるリニアラインセンサで構成され
ており、受光レンズ5で結像されたスポット光Sのリニ
アラインセンサ上の位置に応じて共通電極oに対する両
端の2つの電極a,bに得られる電流が変化されるた
め、その電流比を検出することで、位置検出器6上の光
スポット位置を検出する。そして、距離演算回路7で
は、検出された位置検出器上のスポット光の位置に基づ
いて三角法を利用して演算を行ない、被写体Aまでの距
離を算出する。通常、この距離演算回路7は、測距の信
頼性を高めるために、前記した測距動作を繰り返して複
数回行い、それぞれ得られた測距値を平均化手段で平均
し、その平均値を測距値として得る方式がとられること
が多い。
【0003】このような測距装置では、位置検出器6上
のスポット光S位置、受光レンズ5の焦点距離等を利用
した三角法により測距演算が行われるため、測距精度を
高めるためには位置検出器6上における反射光のスポッ
ト光Sの位置を高精度に検出する必要がある。通常、位
置検出器を構成するリニアセンサは、図8に示すよう
に、リニアラインセンサの長さ方向におけるスポット光
Sの位置変化に応じて共通電極oに対する各電極a,b
の電流I1,I2がアナログ的に変化されるため、その
電流比を検出することでスポット光位置が検出される。
この電流比をとる理由は、電流I1,I2は対象物まで
の距離が同じでも、対象物の反射率でその値が変化され
る。したがって、電流I1,I2の絶対値で対象物まで
の距離を演算することはできない。そこで、電流I1,
I2の比が対象物までの距離の逆数に略比例(所定範囲
内)する性質を利用する方法が用いられることが多い。
そして、測距装置に設けられた距離演算回路7は電流I
1,I2の比に基づいて演算を行い、アナログ距離情報
を求め、この距離情報をA/D変換器8を用いてディジ
タル距離情報に変換し、マイクロコンピュータ等で利用
可能な信号とする。
のスポット光S位置、受光レンズ5の焦点距離等を利用
した三角法により測距演算が行われるため、測距精度を
高めるためには位置検出器6上における反射光のスポッ
ト光Sの位置を高精度に検出する必要がある。通常、位
置検出器を構成するリニアセンサは、図8に示すよう
に、リニアラインセンサの長さ方向におけるスポット光
Sの位置変化に応じて共通電極oに対する各電極a,b
の電流I1,I2がアナログ的に変化されるため、その
電流比を検出することでスポット光位置が検出される。
この電流比をとる理由は、電流I1,I2は対象物まで
の距離が同じでも、対象物の反射率でその値が変化され
る。したがって、電流I1,I2の絶対値で対象物まで
の距離を演算することはできない。そこで、電流I1,
I2の比が対象物までの距離の逆数に略比例(所定範囲
内)する性質を利用する方法が用いられることが多い。
そして、測距装置に設けられた距離演算回路7は電流I
1,I2の比に基づいて演算を行い、アナログ距離情報
を求め、この距離情報をA/D変換器8を用いてディジ
タル距離情報に変換し、マイクロコンピュータ等で利用
可能な信号とする。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】前記したA/D変換器
においてアナログ距離情報をディジタル距離情報に変換
する際には、図9のように、アナログ距離情報を所定の
幅でステップ状に分割して各電流値をディジタル値に変
換することになる。ところが、この際における変換幅が
大きいと、即ちA/D変換器の分解能が低いと、距離情
報が微小に変化された場合にディジタル値が変化されな
い領域が生じ、結果としてこの変換幅の範囲内でディジ
タル値への変換誤差が生じ、これが測距誤差を発生する
原因となる。このような分解能が原因とされる測距誤差
を解消して測距精度を高めるためには、ディジタル変換
幅が小さい高分解能のA/D変換器を用いればよいが、
一般に高分解能のA/D変換器は高価格でかつ高消費電
流であるために、測距装置が高価格、高消費電流とな
り、この種の測距装置を用いるカメラの低価格化や電池
の長寿命化の障害になる。本発明の目的は、装置の高価
格化や高消費電流化を生じることなく、測距の精度を高
めることができる測距装置を提供することにある。
においてアナログ距離情報をディジタル距離情報に変換
する際には、図9のように、アナログ距離情報を所定の
幅でステップ状に分割して各電流値をディジタル値に変
換することになる。ところが、この際における変換幅が
大きいと、即ちA/D変換器の分解能が低いと、距離情
報が微小に変化された場合にディジタル値が変化されな
い領域が生じ、結果としてこの変換幅の範囲内でディジ
タル値への変換誤差が生じ、これが測距誤差を発生する
原因となる。このような分解能が原因とされる測距誤差
を解消して測距精度を高めるためには、ディジタル変換
幅が小さい高分解能のA/D変換器を用いればよいが、
一般に高分解能のA/D変換器は高価格でかつ高消費電
流であるために、測距装置が高価格、高消費電流とな
り、この種の測距装置を用いるカメラの低価格化や電池
の長寿命化の障害になる。本発明の目的は、装置の高価
格化や高消費電流化を生じることなく、測距の精度を高
めることができる測距装置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、対象物に投射
する光を発光する手段と、対象物からの反射光を受光
し、その受光位置を検出する受光位置検出手段と、検出
された受光位置に基づいて対象物までの距離をアナログ
演算する演算手段と、演算されたアナログ値をそれぞれ
異なる閾値でディジタル値に変換する複数のA/D変換
手段と、変換されたこれらのディジタル値を処理して複
数倍の変換精度のディジタル値を得る手段とを備える。
また、対象物に投射する光を発光する手段と、対象物か
らの反射光を受光し、その受光位置を検出する複数の受
光位置検出手段と、検出された各受光位置に基づいて対
象物までの距離をアナログ演算する複数の演算手段と、
演算された各アナログ値を同一閾値でディジタル値に変
換する複数のA/D変換手段と、各A/D変換手段の出
力を合成して測距値を得る処理手段を備え、各受光位置
検出手段を所定寸法だけずらして配置するとともに、各
受光位置検出手段には同一の反射光が結像するように構
成する。この場合、複数の受光位置検出手段にはそれぞ
れ異なる受光系を通して相対的に異なる位置に反射光を
結像するように構成してもよい。或いは、複数の受光位
置検出手段の出力を順序的に選択する手段を設け、選択
された検出出力を単一の演算手段とA/D変換手段で処
理し、順序的に得られたディジタル値を処理して複数倍
の変換精度のディジタル値を得るようにしてもよい。
する光を発光する手段と、対象物からの反射光を受光
し、その受光位置を検出する受光位置検出手段と、検出
された受光位置に基づいて対象物までの距離をアナログ
演算する演算手段と、演算されたアナログ値をそれぞれ
異なる閾値でディジタル値に変換する複数のA/D変換
手段と、変換されたこれらのディジタル値を処理して複
数倍の変換精度のディジタル値を得る手段とを備える。
また、対象物に投射する光を発光する手段と、対象物か
らの反射光を受光し、その受光位置を検出する複数の受
光位置検出手段と、検出された各受光位置に基づいて対
象物までの距離をアナログ演算する複数の演算手段と、
演算された各アナログ値を同一閾値でディジタル値に変
換する複数のA/D変換手段と、各A/D変換手段の出
力を合成して測距値を得る処理手段を備え、各受光位置
検出手段を所定寸法だけずらして配置するとともに、各
受光位置検出手段には同一の反射光が結像するように構
成する。この場合、複数の受光位置検出手段にはそれぞ
れ異なる受光系を通して相対的に異なる位置に反射光を
結像するように構成してもよい。或いは、複数の受光位
置検出手段の出力を順序的に選択する手段を設け、選択
された検出出力を単一の演算手段とA/D変換手段で処
理し、順序的に得られたディジタル値を処理して複数倍
の変換精度のディジタル値を得るようにしてもよい。
【0006】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図1は本発明の一実施例のブロック回路図である。
制御回路11は赤外光駆動部12を駆動することで赤外
光発光ダイオード13で赤外光を発生させ、発生された
赤外光を投光レンズ14により集束して被写体Aに投射
させる。一方、被写体Aで反射された赤外光は受光レン
ズ15により位置検出器16に結像される。この位置検
出器16は、第1及び第2の2個のリニアラインセンサ
161,162で構成され、受光レンズ15により結像
されるスポット光Sの位置によって共通電極oと、両側
の2つのそれぞれの電極a,bとの間に得られる電流が
変化される。そして、前記2つのリニアラインセンサ1
61,162は互いに近接して平行に配置し、前記受光
レンズ15により結像されるスポット光Sがこれら2つ
のリニアラインセンサに同時に結像されるように構成さ
れる。更に、これらのリニアラインセンサ161,16
2は、その長さ方向に微小寸法だけずらして配置されて
いる。
る。図1は本発明の一実施例のブロック回路図である。
制御回路11は赤外光駆動部12を駆動することで赤外
光発光ダイオード13で赤外光を発生させ、発生された
赤外光を投光レンズ14により集束して被写体Aに投射
させる。一方、被写体Aで反射された赤外光は受光レン
ズ15により位置検出器16に結像される。この位置検
出器16は、第1及び第2の2個のリニアラインセンサ
161,162で構成され、受光レンズ15により結像
されるスポット光Sの位置によって共通電極oと、両側
の2つのそれぞれの電極a,bとの間に得られる電流が
変化される。そして、前記2つのリニアラインセンサ1
61,162は互いに近接して平行に配置し、前記受光
レンズ15により結像されるスポット光Sがこれら2つ
のリニアラインセンサに同時に結像されるように構成さ
れる。更に、これらのリニアラインセンサ161,16
2は、その長さ方向に微小寸法だけずらして配置されて
いる。
【0007】前記各リニアラインセンサ161,162
の3つの電極a,b,oはそれぞれ測距演算部17に接
続される。この測距演算部17には前記各リニアライン
センサ161,162に対応する2個の距離演算回路1
81,182と、この距離演算回路181,182の出
力をそれぞれディジタル変換する2個のA/D変換器1
91,192と、前記各A/D変換器191,192の
出力を処理する処理回路20が設けられる。前記各距離
演算回路181,182は、それぞれ対応するリニアラ
インセンサ161,162の出力に基づいて従来と同様
に三角法によりアナログ距離情報を演算するものであ
り、また各A/D変換器191,192は分解能がそれ
程高くない従来と同程度の分解能のものが用いられ、か
つ各A/D変換器の変換基準は同一に設定されている。
更に処理回路20は両A/D変換器191,192から
のディジタル値を加算する加算回路として構成される。
なお、前記距離演算回路181,182は前記制御回路
11により制御が行われる。また、前記2つのリニアラ
インセンサ161,162を長さ方向にずらす量は、図
2(a)に示すように、距離演算回路181,182で
演算されるアナログ距離情報を各A/D変換器191,
192でディジタル距離情報に変換する際に、そのディ
ジタル変換幅が各A/D変換器における変換値の丁度1
/2の幅だけずれるように、各リニアラインセンサ16
1,162のずれ寸法Pを設定する。このずらし量の詳
細は後述する。
の3つの電極a,b,oはそれぞれ測距演算部17に接
続される。この測距演算部17には前記各リニアライン
センサ161,162に対応する2個の距離演算回路1
81,182と、この距離演算回路181,182の出
力をそれぞれディジタル変換する2個のA/D変換器1
91,192と、前記各A/D変換器191,192の
出力を処理する処理回路20が設けられる。前記各距離
演算回路181,182は、それぞれ対応するリニアラ
インセンサ161,162の出力に基づいて従来と同様
に三角法によりアナログ距離情報を演算するものであ
り、また各A/D変換器191,192は分解能がそれ
程高くない従来と同程度の分解能のものが用いられ、か
つ各A/D変換器の変換基準は同一に設定されている。
更に処理回路20は両A/D変換器191,192から
のディジタル値を加算する加算回路として構成される。
なお、前記距離演算回路181,182は前記制御回路
11により制御が行われる。また、前記2つのリニアラ
インセンサ161,162を長さ方向にずらす量は、図
2(a)に示すように、距離演算回路181,182で
演算されるアナログ距離情報を各A/D変換器191,
192でディジタル距離情報に変換する際に、そのディ
ジタル変換幅が各A/D変換器における変換値の丁度1
/2の幅だけずれるように、各リニアラインセンサ16
1,162のずれ寸法Pを設定する。このずらし量の詳
細は後述する。
【0008】この構成の測距装置によれば、赤外光駆動
部12により発光ダイオード13を発光させ、これを投
光レンズ14により被写体Aに投射し、被写体Aからの
反射光を受光レンズ15で受光し、位置検出器の2つの
リニアラインセンサ161,162上にスポット光Sと
して同時に結像させる。これにより、各リニアラインセ
ンサ161,162の電極a,bからはアナログ電流I
1,I2が出力される。そして、距離演算回路181,
182ではこれら電流I1,I2の電流比に基づいてス
ポット光Sの位置を求め、これから三角法により被写体
Aの距離を演算し、これをアナログ距離情報として出力
する。すると、各A/D変換器191,192は所定の
変換幅によりアナログ距離情報をディジタル距離情報に
変換する。このとき、各距離演算回路181,182か
ら出力されるアナログ距離情報は、第1と第2のリニア
ラインセンサ161,162がずれているため、各アナ
ログ距離情報間にはレベル差が生じる。したがって、こ
れらのアナログ距離情報をそれぞれ同一基準のA/D変
換器191,192でA/D変換すると、第1のA/D
変換器191で変換したディジタル値は図2(b)とな
り、第2のA/D変換器192で変換したディジタル値
は図2(c)となり、両者の間には変換幅の1/2のず
れが生じることになる。
部12により発光ダイオード13を発光させ、これを投
光レンズ14により被写体Aに投射し、被写体Aからの
反射光を受光レンズ15で受光し、位置検出器の2つの
リニアラインセンサ161,162上にスポット光Sと
して同時に結像させる。これにより、各リニアラインセ
ンサ161,162の電極a,bからはアナログ電流I
1,I2が出力される。そして、距離演算回路181,
182ではこれら電流I1,I2の電流比に基づいてス
ポット光Sの位置を求め、これから三角法により被写体
Aの距離を演算し、これをアナログ距離情報として出力
する。すると、各A/D変換器191,192は所定の
変換幅によりアナログ距離情報をディジタル距離情報に
変換する。このとき、各距離演算回路181,182か
ら出力されるアナログ距離情報は、第1と第2のリニア
ラインセンサ161,162がずれているため、各アナ
ログ距離情報間にはレベル差が生じる。したがって、こ
れらのアナログ距離情報をそれぞれ同一基準のA/D変
換器191,192でA/D変換すると、第1のA/D
変換器191で変換したディジタル値は図2(b)とな
り、第2のA/D変換器192で変換したディジタル値
は図2(c)となり、両者の間には変換幅の1/2のず
れが生じることになる。
【0009】そして、これらのディジタル値を処理回路
20で加算することにより、図2(d)のステップ特性
のディジタル距離情報が得られる。即ち、各A/D変換
器からのディジタル距離情報が1/2幅だけずれて重ね
られるため、得られるディジタル距離情報は分解能が2
倍の高分解能のA/D変換器によってディジタル値に変
換された場合と同程度の分解能のディジタル値が得られ
ることになる。なお、図2は、説明を簡略化するため
に、各A/D変換器が6ステップの場合を例示してい
る。このようにして得られたディジタル値は、2倍の分
解能のA/D変換器でA/D変換したものと同程度のも
のとなるため、従来と同程度のA/D変換器を用いても
従来の2倍の精度の測距が実現でき、これにより、分解
能が高い高価なA/D変換器が不要となり、測距装置の
低価格化を可能とし、かつ消費電力の無駄な消費が防止
できる。
20で加算することにより、図2(d)のステップ特性
のディジタル距離情報が得られる。即ち、各A/D変換
器からのディジタル距離情報が1/2幅だけずれて重ね
られるため、得られるディジタル距離情報は分解能が2
倍の高分解能のA/D変換器によってディジタル値に変
換された場合と同程度の分解能のディジタル値が得られ
ることになる。なお、図2は、説明を簡略化するため
に、各A/D変換器が6ステップの場合を例示してい
る。このようにして得られたディジタル値は、2倍の分
解能のA/D変換器でA/D変換したものと同程度のも
のとなるため、従来と同程度のA/D変換器を用いても
従来の2倍の精度の測距が実現でき、これにより、分解
能が高い高価なA/D変換器が不要となり、測距装置の
低価格化を可能とし、かつ消費電力の無駄な消費が防止
できる。
【0010】図3は前記リニアラインセンサ161,1
62のずらし量を説明するための図であり、ここでは、
被写体距離D1〜D4(D2=D1/2,D3=D1/
3,D4=D1/4)を4ステップでA/D変換する例
を示している。被写体距離DXと、レンズ14,15間
の距離(基線長)Lと、レンズ15の焦点距離fと、リ
ニアラインセンサ161のスポット光位置S1との間に
は、DX:L=f:S1の関係があるためDX=L・f
/S1となり、これをA/D変換すると「1」となる。
一方、リニアラインセンサ162において、前記同様の
計算式を当てはめると、スポット光位置S2よりDX=
L・f/S2が得られ、これをA/D変換すると「0」
となる。両A/D変換器の出力を加算した後の実質的な
変換幅が均等となるようにするためには、両リニアライ
ンセンサ161,162は、A/D変換ステップ寸法P
の半分、即ちP/2だけずらせば良いことになる。
62のずらし量を説明するための図であり、ここでは、
被写体距離D1〜D4(D2=D1/2,D3=D1/
3,D4=D1/4)を4ステップでA/D変換する例
を示している。被写体距離DXと、レンズ14,15間
の距離(基線長)Lと、レンズ15の焦点距離fと、リ
ニアラインセンサ161のスポット光位置S1との間に
は、DX:L=f:S1の関係があるためDX=L・f
/S1となり、これをA/D変換すると「1」となる。
一方、リニアラインセンサ162において、前記同様の
計算式を当てはめると、スポット光位置S2よりDX=
L・f/S2が得られ、これをA/D変換すると「0」
となる。両A/D変換器の出力を加算した後の実質的な
変換幅が均等となるようにするためには、両リニアライ
ンセンサ161,162は、A/D変換ステップ寸法P
の半分、即ちP/2だけずらせば良いことになる。
【0011】図4は本発明の第2実施例を示し、単一の
リニアセンサからなる位置検出器を用いた例である。こ
こでは図1の例で用いられたものと同じリニアラインセ
ンサを1つだけ用い、このリニアライセンサ163の電
極a,b,oからの出力を1個の距離演算回路183で
演算し、アナログ距離情報を求める。そして、得られた
アナログ距離情報を二分して2個のA/D変換器19
3,194にそれぞれ入力する。ここでは一方のA/D
変換器194は他方のA/D変換器193に対して予め
ディジタル値の変換基準を変換幅の1/2だけずらして
設定しているため、同一のアナログ距離情報に対しても
各A/D変換器193,194のディジタル値が1/2
幅だけずれて変換される。したがって、両A/D変換器
193,914の出力を加算すれば、前記実施例と同様
にして2倍の分解能のディジタル値を得ることができ
る。この例では、1つのリニアラインセンサ163で位
置検出器が構成でき、構造を簡略化できるとともに、第
1実施例のように2つのリニアラインセンサを1/2ピ
ッチだけずらして配置するための構成上の繁雑さを回避
することができる。
リニアセンサからなる位置検出器を用いた例である。こ
こでは図1の例で用いられたものと同じリニアラインセ
ンサを1つだけ用い、このリニアライセンサ163の電
極a,b,oからの出力を1個の距離演算回路183で
演算し、アナログ距離情報を求める。そして、得られた
アナログ距離情報を二分して2個のA/D変換器19
3,194にそれぞれ入力する。ここでは一方のA/D
変換器194は他方のA/D変換器193に対して予め
ディジタル値の変換基準を変換幅の1/2だけずらして
設定しているため、同一のアナログ距離情報に対しても
各A/D変換器193,194のディジタル値が1/2
幅だけずれて変換される。したがって、両A/D変換器
193,914の出力を加算すれば、前記実施例と同様
にして2倍の分解能のディジタル値を得ることができ
る。この例では、1つのリニアラインセンサ163で位
置検出器が構成でき、構造を簡略化できるとともに、第
1実施例のように2つのリニアラインセンサを1/2ピ
ッチだけずらして配置するための構成上の繁雑さを回避
することができる。
【0012】図5は本発明の第3実施例を示す図であ
り、図1と等価な部分には同一符号を付してある。この
実施例では、2つの受光レンズ151,152を投光レ
ンズ14に対して対称位置に配置すると共に、各受光レ
ンズ151,152のそれぞれに位置検出器としてのリ
ニアラインセンサ161,162を配置している。この
場合、一方のリニアラインセンサ161の受光レンズ1
51の光軸に対する位置を基準とすると、他方のリニア
ラインセンサ162は受光レンズ152の光軸に対する
基準位置からA/D変換器の変換幅の1/2だけずらし
ている。なお、破線は受光レンズ152の光軸に対して
中央位置を一致させた状態であり、この状態から前記実
施例と同様にA/D変換ステップ寸法Pの1/2だけず
らしている。また、各リニアラインセンサ161,16
2に対してそれぞれ距離演算回路181,182、A/
D変換器191,192を接続し、更に処理回路20を
接続している構成は前記第1実施例と同じである。
り、図1と等価な部分には同一符号を付してある。この
実施例では、2つの受光レンズ151,152を投光レ
ンズ14に対して対称位置に配置すると共に、各受光レ
ンズ151,152のそれぞれに位置検出器としてのリ
ニアラインセンサ161,162を配置している。この
場合、一方のリニアラインセンサ161の受光レンズ1
51の光軸に対する位置を基準とすると、他方のリニア
ラインセンサ162は受光レンズ152の光軸に対する
基準位置からA/D変換器の変換幅の1/2だけずらし
ている。なお、破線は受光レンズ152の光軸に対して
中央位置を一致させた状態であり、この状態から前記実
施例と同様にA/D変換ステップ寸法Pの1/2だけず
らしている。また、各リニアラインセンサ161,16
2に対してそれぞれ距離演算回路181,182、A/
D変換器191,192を接続し、更に処理回路20を
接続している構成は前記第1実施例と同じである。
【0013】したがって、被写体Aからの反射光は2つ
の受光レンズ151,152によりそれぞれのリニアラ
インセンサ161,162にスポット光Sとして結像さ
れるが、他方のリニアラインセンサ162上のスポット
光Sの位置は受光レンズ152の光軸に対してリニアラ
インセンサ162の中央位置からA/D変換幅の1/2
だけずれた対称位置とされているため、第1実施例と同
様に各リニアラインセンサ161,162から出力され
るアナログ電流は相対的に1/2変換幅だけずれて出力
されることになる。これにより、各リニアラインセンサ
161,162の出力に基づいて距離演算回路181,
182で距離演算を行い、得られたアナログ距離情報を
それぞれA/D変換器191,192でA/D変換し、
処理回路で20で加算すれば、前記実施例と同様にA/
D変換器191,192の各分解能の2倍の分解能のデ
ィジタル値を得ることができ、高精度の測距が実現でき
る。
の受光レンズ151,152によりそれぞれのリニアラ
インセンサ161,162にスポット光Sとして結像さ
れるが、他方のリニアラインセンサ162上のスポット
光Sの位置は受光レンズ152の光軸に対してリニアラ
インセンサ162の中央位置からA/D変換幅の1/2
だけずれた対称位置とされているため、第1実施例と同
様に各リニアラインセンサ161,162から出力され
るアナログ電流は相対的に1/2変換幅だけずれて出力
されることになる。これにより、各リニアラインセンサ
161,162の出力に基づいて距離演算回路181,
182で距離演算を行い、得られたアナログ距離情報を
それぞれA/D変換器191,192でA/D変換し、
処理回路で20で加算すれば、前記実施例と同様にA/
D変換器191,192の各分解能の2倍の分解能のデ
ィジタル値を得ることができ、高精度の測距が実現でき
る。
【0014】図6は本発明の第4実施例を示す図であ
り、図1と等価な部分には同一符号を付してある。この
実施例では、測距演算部17の構成を簡略化しており、
測距演算部17Aを単一の距離演算回路180とA/D
変換器190と処理回路20で構成するとともに、この
測距演算部17Aと前記各リニアラインセンサ161,
162の3つの電極a,b,oとの間に、それぞれ切替
スイッチ21a,21b,21oを介挿し、各リニアラ
インセンサ161,162の出力をこれらの切替スイッ
チ21a,21b,21oにより選択して距離演算部1
7Aに入力させるように構成したものである。前記切替
スイッチ21a,21b,21oは例えば半導体素子で
構成されるアナログスイッチが利用され、制御回路11
からの信号に基づいて切替動作されるように構成され
る。なお、前記測距演算部17Aの距離演算回路18
0,A/D変換器190,処理回路20は前記各実施例
と同様の機能を有しているが、前記処理回路20は内部
に内蔵メモリを備えたものが使用され、距離演算した結
果を一時的に記憶することができるように構成すること
が要求される。
り、図1と等価な部分には同一符号を付してある。この
実施例では、測距演算部17の構成を簡略化しており、
測距演算部17Aを単一の距離演算回路180とA/D
変換器190と処理回路20で構成するとともに、この
測距演算部17Aと前記各リニアラインセンサ161,
162の3つの電極a,b,oとの間に、それぞれ切替
スイッチ21a,21b,21oを介挿し、各リニアラ
インセンサ161,162の出力をこれらの切替スイッ
チ21a,21b,21oにより選択して距離演算部1
7Aに入力させるように構成したものである。前記切替
スイッチ21a,21b,21oは例えば半導体素子で
構成されるアナログスイッチが利用され、制御回路11
からの信号に基づいて切替動作されるように構成され
る。なお、前記測距演算部17Aの距離演算回路18
0,A/D変換器190,処理回路20は前記各実施例
と同様の機能を有しているが、前記処理回路20は内部
に内蔵メモリを備えたものが使用され、距離演算した結
果を一時的に記憶することができるように構成すること
が要求される。
【0015】この構成によれば、受光レンズ15により
被写体Aからの反射光がリニアラインセンサ161,1
62にスポット光Sとして結像され、各リニアラインセ
ンサ161,162の電極a,b,oから電流が出力さ
れるが、切替スイッチ21a,21b,21oにより、
例えば最初はリニアラインセンサ161の出力が測距演
算部17Aの距離演算回路180に取り込まれ、更にA
/D変換器190及び処理回路20においてディジタル
値が得られ、このディジタル値は処理回路20の内蔵メ
モリに記憶される。次いで、制御回路11により切替ス
イッチ21a,21b,21oが切り替えられると、今
度はリニアラインセンサ162の出力が測距演算部17
の距離演算回路180に取り込まれ、更にA/D変換器
190及び処理回路20においてディジタル値が得られ
る。そして、処理回路20では、先に得られて内蔵メモ
リに記憶されているディジタル値と、後に得られたディ
ジタル値を加算することにより、前記各実施例の場合と
同様に分解能が2倍の距離情報としてのディジタル値が
得られることになる。
被写体Aからの反射光がリニアラインセンサ161,1
62にスポット光Sとして結像され、各リニアラインセ
ンサ161,162の電極a,b,oから電流が出力さ
れるが、切替スイッチ21a,21b,21oにより、
例えば最初はリニアラインセンサ161の出力が測距演
算部17Aの距離演算回路180に取り込まれ、更にA
/D変換器190及び処理回路20においてディジタル
値が得られ、このディジタル値は処理回路20の内蔵メ
モリに記憶される。次いで、制御回路11により切替ス
イッチ21a,21b,21oが切り替えられると、今
度はリニアラインセンサ162の出力が測距演算部17
の距離演算回路180に取り込まれ、更にA/D変換器
190及び処理回路20においてディジタル値が得られ
る。そして、処理回路20では、先に得られて内蔵メモ
リに記憶されているディジタル値と、後に得られたディ
ジタル値を加算することにより、前記各実施例の場合と
同様に分解能が2倍の距離情報としてのディジタル値が
得られることになる。
【0016】ここで、 この実施例では、切替スイッチ
21a,21b,21oを付設する必要があるが、測距
演算部17Aをそれぞれ1つの測距演算回路180,A
/D変換器190,処理回路20で構成でき、特にこれ
ら後者の回路は回路規模が比較的に大きく、かつ高価で
あるために、これらの回路を縮小することにより、装置
の小型化、低価格化を実現することができる利点があ
る。ここで、この実施例ではリニアラインセンサ16
1,162が一体に構成された例を示しているが、図5
の実施例で示したようにリニアラインセンサ161,1
62が別体に構成されたものでも同様に適用することが
できる。また、切替スイッチ21a,21b,21oは
機械的なスイッチで構成することも可能である。
21a,21b,21oを付設する必要があるが、測距
演算部17Aをそれぞれ1つの測距演算回路180,A
/D変換器190,処理回路20で構成でき、特にこれ
ら後者の回路は回路規模が比較的に大きく、かつ高価で
あるために、これらの回路を縮小することにより、装置
の小型化、低価格化を実現することができる利点があ
る。ここで、この実施例ではリニアラインセンサ16
1,162が一体に構成された例を示しているが、図5
の実施例で示したようにリニアラインセンサ161,1
62が別体に構成されたものでも同様に適用することが
できる。また、切替スイッチ21a,21b,21oは
機械的なスイッチで構成することも可能である。
【0017】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、対象物か
らの反射光を受光し、その受光位置に応じて距離演算を
行い、得られたアナログ距離情報を複数のA/D変換手
段においてそれぞれ異なる基準でディジタル値に変換
し、かつ得られたディジタル値を処理して複数倍の変換
段数のディジタル値を得る手段を備えているので、得ら
れるディジタル値はA/D変換手段の分解能の複数倍の
分解能で変換した場合と同程度の変換精度を得ることが
できる。これにより、高分解能のディジタル値変換手段
を用いなくとも高精度の測距が実現でき、かつその消費
電流を低減することが可能となる。また、本発明は、複
数個の受光位置検出手段を所定寸法だけずらして配置す
るとともに、各受光位置検出手段には同一の反射光が結
像するように構成し、更に各受光位置検出手段のそれぞ
れに距離演算手段、同一基準のA/D変換手段を設け、
各A/D変換手段から得られたディジタル値を処理して
複数倍の変換段数のディジタル値を得ているので、同様
に得られるディジタル値はA/D変換手段の分解能の複
数倍の分解能で変換した場合と同程度の変換精度を得る
ことができる。更に、複数の受光位置検出手段にはそれ
ぞれ異なる受光系を通して相対的に異なる位置に反射光
を結像するように構成した場合も同様である。或いは、
複数の受光位置検出手段の出力を順序的に選択する手段
を設け、選択された検出出力から順序的に得られたディ
ジタル値を処理して複数倍の変換精度のディジタル値を
得るようにすることで、演算手段やA/D変換手段をそ
れぞれ1つの手段で構成でき、回路構成を簡略化するこ
とも可能となる。したがって、この測距装置をカメラに
用いた場合には、低価格でかつ低消費電流の電池寿命の
長いカメラを構成することができる。
らの反射光を受光し、その受光位置に応じて距離演算を
行い、得られたアナログ距離情報を複数のA/D変換手
段においてそれぞれ異なる基準でディジタル値に変換
し、かつ得られたディジタル値を処理して複数倍の変換
段数のディジタル値を得る手段を備えているので、得ら
れるディジタル値はA/D変換手段の分解能の複数倍の
分解能で変換した場合と同程度の変換精度を得ることが
できる。これにより、高分解能のディジタル値変換手段
を用いなくとも高精度の測距が実現でき、かつその消費
電流を低減することが可能となる。また、本発明は、複
数個の受光位置検出手段を所定寸法だけずらして配置す
るとともに、各受光位置検出手段には同一の反射光が結
像するように構成し、更に各受光位置検出手段のそれぞ
れに距離演算手段、同一基準のA/D変換手段を設け、
各A/D変換手段から得られたディジタル値を処理して
複数倍の変換段数のディジタル値を得ているので、同様
に得られるディジタル値はA/D変換手段の分解能の複
数倍の分解能で変換した場合と同程度の変換精度を得る
ことができる。更に、複数の受光位置検出手段にはそれ
ぞれ異なる受光系を通して相対的に異なる位置に反射光
を結像するように構成した場合も同様である。或いは、
複数の受光位置検出手段の出力を順序的に選択する手段
を設け、選択された検出出力から順序的に得られたディ
ジタル値を処理して複数倍の変換精度のディジタル値を
得るようにすることで、演算手段やA/D変換手段をそ
れぞれ1つの手段で構成でき、回路構成を簡略化するこ
とも可能となる。したがって、この測距装置をカメラに
用いた場合には、低価格でかつ低消費電流の電池寿命の
長いカメラを構成することができる。
【図1】本発明の測距装置の一実施例のブロック構成図
である。
である。
【図2】リニアラインセンサをずらす長さを説明するた
めの拡大図と、各A/D変換器の出力と、その合成出力
をそれぞれ示す図である。
めの拡大図と、各A/D変換器の出力と、その合成出力
をそれぞれ示す図である。
【図3】リニアラインセンサのずらし長さを説明するた
めの模式図である。
めの模式図である。
【図4】本発明の第2実施例の要部のブロック構成図で
ある。
ある。
【図5】本発明の第3実施例のブロック構成図である。
【図6】本発明の第4実施例のブロック構成図である。
【図7】従来の測距装置の一例を示すブロック構成図で
ある。
ある。
【図8】リニアラインセンサとその出力電流特性を示す
図である。
図である。
【図9】アナログ距離情報とディジタル距離情報の関係
を示す図である。
を示す図である。
11 制御回路 12 赤外光駆動部 13 発光ダイオード 14 投光レンズ 15 受光レンズ 16 位置検出器(161〜163 リニアラインセン
サ) 17,17A 測距演算部 180〜183 距離演算回路 190〜194 A/D変換器 20 処理回路
サ) 17,17A 測距演算部 180〜183 距離演算回路 190〜194 A/D変換器 20 処理回路
Claims (4)
- 【請求項1】 対象物に投射する光を発光する手段と、
前記対象物からの反射光を受光し、その受光位置を検出
する受光位置検出手段と、検出された受光位置に基づい
て対象物までの距離をアナログ演算する演算手段と、演
算されたアナログ値をそれぞれ異なる基準でディジタル
値に変換する複数のアナログ−ディジタル変換手段(以
下、A/D変換手段と称する)と、変換されたこれらの
ディジタル値を処理して複数倍の変換精度のディジタル
値を得る手段とを備えることを特徴とする測距装置。 - 【請求項2】 対象物に投射する光を発光する手段と、
前記対象物からの反射光を受光し、その受光位置を検出
する複数の受光位置検出手段と、検出された各受光位置
に基づいて対象物までの距離をアナログ演算する複数の
演算手段と、演算された各アナログ値を同一基準でディ
ジタル値に変換する複数のA/D変換手段と、前記各A
/D変換手段の出力を合成して測距値を得る処理手段を
備え、前記各受光位置検出手段を所定寸法だけずらして
配置するとともに、各受光位置検出手段には同一の反射
光が結像するように構成したことを特徴とする測距装
置。 - 【請求項3】 対象物に投射する光を発光する手段と、
前記対象物からの反射光を受光し、その受光位置を検出
する複数の受光位置検出手段と、検出された受光位置に
基づいて対象物までの距離をアナログ演算する複数の演
算手段と、演算されたアナログ値を同一基準でディジタ
ル値に変換する複数のA/D変換手段と、前記A/D変
換手段の出力を合成して測距値を得る処理手段とを備
え、前記受光位置検出手段にはそれぞれ異なる受光系を
通して相対的に異なる位置に反射光を結像するように構
成したことを特徴とする測距装置。 - 【請求項4】 対象物に投射する光を発光する手段と、
前記対象物からの反射光を受光し、その受光位置を検出
する複数の受光位置検出手段と、複数の受光位置検出手
段の検出出力を順序的に選択する選択手段と、選択され
た受光位置に基づいて対象物までの距離をアナログ演算
する演算手段と、演算されたアナログ値をディジタル値
に変換するA/D変換手段と、前記選択手段の選択動作
に基づいて順序的に得られる前記A/D変換手段の複数
の出力を合成して測距値を得る処理手段を備え、前記各
受光位置検出手段を所定寸法だけずらして配置するとと
もに、各受光位置検出手段には光学的に等価な反射光が
結像するように構成したことを特徴とする測距装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29006693A JP3406656B2 (ja) | 1992-12-19 | 1993-10-26 | 測距装置 |
US08/169,200 US5512997A (en) | 1992-12-19 | 1993-12-20 | Distance measuring device |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4-356025 | 1992-12-19 | ||
JP35602592 | 1992-12-19 | ||
JP29006693A JP3406656B2 (ja) | 1992-12-19 | 1993-10-26 | 測距装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06235634A true JPH06235634A (ja) | 1994-08-23 |
JP3406656B2 JP3406656B2 (ja) | 2003-05-12 |
Family
ID=26557867
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29006693A Expired - Fee Related JP3406656B2 (ja) | 1992-12-19 | 1993-10-26 | 測距装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5512997A (ja) |
JP (1) | JP3406656B2 (ja) |
Cited By (1)
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WO2016092451A1 (en) | 2014-12-09 | 2016-06-16 | Basf Se | Optical detector |
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KR102575104B1 (ko) | 2016-10-25 | 2023-09-07 | 트리나미엑스 게엠베하 | 집적 필터를 가진 적외선 광학 검출기 |
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