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JPH0566820A - Numerical controller having measuring function - Google Patents

Numerical controller having measuring function

Info

Publication number
JPH0566820A
JPH0566820A JP25697491A JP25697491A JPH0566820A JP H0566820 A JPH0566820 A JP H0566820A JP 25697491 A JP25697491 A JP 25697491A JP 25697491 A JP25697491 A JP 25697491A JP H0566820 A JPH0566820 A JP H0566820A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measurement
touch sensor
data
command
position data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP25697491A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Naoki Mimura
直紀 三邨
Keiichi Ota
恵一 太田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Okuma Corp
Original Assignee
Okuma Machinery Works Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Okuma Machinery Works Ltd filed Critical Okuma Machinery Works Ltd
Priority to JP25697491A priority Critical patent/JPH0566820A/en
Publication of JPH0566820A publication Critical patent/JPH0566820A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)
  • Numerical Control (AREA)

Abstract

PURPOSE:To attain the measurement of high accuracy in a short time by allowing the timing at which a touch sensor latches detecting position data of a feed shaft to correspond to a variation by which the touch sensor is turned on and off. CONSTITUTION:To a working program SA, in addition to each data of a measurement execution command and a measurement start point A, a virtual target point B, and a virtual object work surface C, to which of the time when a touch sensor 9 is changed from turn-off to turn-on or the time of the contrary the timing for latching detecting position data of a feed shaft as measurement data in advance is set is commanded. The measurement processing command part 16 in the latch timing control machine inputs an in-machine measurement command, data of points A-C and in-machine measurement relation data SQ being a latch timing command from a working program interpreting part 3, and outputs a latch timing command SM to a latch timing control part 13. On the other hand, based on the data of the points A-C of in-machine measurement relation data, a feed shaft control command SD is outputted to a shaft movement arithmetic part 5.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、タッチセンサを用いた
機内計測機能を有する数値制御装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a numerical controller having an in-machine measuring function using a touch sensor.

【0002】[0002]

【従来の技術】数値制御工作機械の送り軸の軸移動部に
タッチセンサを装備し、送り軸を制御することによりタ
ッチセンサを計測対象物に接触させ、その際のタッチセ
ンサからの信号を利用して計測を行なう数値制御工作機
械の機内計測機能が実用化されている。
2. Description of the Related Art A touch sensor is provided on an axis moving part of a feed axis of a numerically controlled machine tool, and the touch sensor is brought into contact with an object to be measured by controlling the feed axis, and a signal from the touch sensor at that time is used. The in-machine measurement function of a numerically controlled machine tool that performs measurements by using the same has been put to practical use.

【0003】図7は、従来の計測機能を有する数値制御
装置の機能を示すブロック図である。加工プログラム入
力部1により入力された加工プログラムSAは、加工プ
ログラム保存部2に保存される。加工プログラムSAの
中には、機内計測を実行することを指令する機内計測実
行指令と、図6の(A)に示すような機内計測を行なう
際のタッチセンサ9の軸移動開始点となる計測開始点
A、タッチセンサ9の軸移動の目標点である仮想目標点
B、計測対象物10の計測対象面の仮想の位置である仮
想対象ワーク面Cの各データとが指令されている。加工
プログラム解釈部3では、加工プログラム保存部2の加
工プログラムSAをブロック単位で読出しながらその意
味を解釈し、加工プログラムSAの中に機内計測を行な
う機内計測指令があった場合は、機内計測指令及び前記
点A〜Cのデータである機内計測関係データSCを機内
計測処理指令部4に送出する。機内計測処理指令部4は
機内計測関係データSCの点A〜Cのデータをもとに、
タッチセンサ9を計測開始点Aから仮想目標点Bへ軸移
動させるために送り軸制御指令SDを指令する。軸移動
演算部5は軸移動制御指令SDにより軸移動の演算を行
ない、その演算結果SEに基づいて送り軸制御部6がモ
ータ7を制御し、タッチセンサ9の軸移動が行なわれ
る。送り軸の軸移動部に装備されているタッチセンサ9
の現在位置は位置検出部8が常に検出しており、常に検
出位置データSHとして送出されている。
FIG. 7 is a block diagram showing the functions of a conventional numerical controller having a measuring function. The machining program SA input by the machining program input unit 1 is stored in the machining program storage unit 2. In the machining program SA, an in-machine measurement execution command for instructing to execute in-machine measurement, and a measurement serving as an axial movement start point of the touch sensor 9 when performing in-machine measurement as shown in FIG. A start point A, a virtual target point B that is a target point for the axial movement of the touch sensor 9, and each data of a virtual target work surface C that is a virtual position of the measurement target surface of the measurement target 10 are commanded. The machining program interpretation unit 3 interprets the meaning of the machining program SA stored in the machining program storage unit 2 while reading the machining program SA in blocks, and if the machining program SA includes an in-machine measurement command to perform in-machine measurement, an in-machine measurement command is issued. And the in-machine measurement related data SC which is the data of the points A to C is sent to the in-machine measurement processing command section 4. Based on the data of points A to C of the in-machine measurement related data SC, the in-machine measurement processing command unit 4
A feed axis control command SD is issued in order to axially move the touch sensor 9 from the measurement start point A to the virtual target point B. The axis movement calculator 5 calculates the axis movement according to the axis movement control command SD, and the feed axis controller 6 controls the motor 7 based on the calculation result SE, and the touch sensor 9 moves the axis. Touch sensor 9 equipped on the axis moving part of the feed axis
The current position is always detected by the position detector 8 and is always sent as detected position data SH.

【0004】タッチセンサ9は、計測対象物10の対象
ワーク面に接触していない時はOFF状態であり、接触
した瞬間にON状態に変化する。センサ信号検出部11
は、このタッチセンサ9の状態変化を表わすセンサ信号
SIを検出しており、センサ信号SIがOFFからON
に変化した時にセンサラッチ信号SJを送出する。ま
た、計測値データ計測部12は、センサラッチ信号SJ
を入力したときの検出位置データSHを計測対象物10
の対象ワーク面の計測位置データSKとしてラッチし、
その計測位置データSKを機内計測処理指令部4に送出
する。この計測位置データSKが計測結果であり、計測
対象物10の対象ワーク面の計測位置を示すことにな
る。機内計測処理指令部4は、計測位置データSKを入
力すると機内計測が完了したとして、送り軸制御指令S
Dを軸移動演算部5へ出力して送り軸の移動を停止さ
せ、機内計測完了信号SLを加工プログラム解釈部3へ
出力する。また、機内計測処理指令部4は、位置検出部
8より常に検出位置データSHを入力しており、計測位
置データSKを入力する前に検出位置データSHが仮想
目標点Bに等しくなったときも、送り軸制御指令SDを
軸移動演算部5へ出力して送り軸の移動を停止させ、機
内計測完了信号SLを加工プログラム解釈部3へ出力す
る。完了信号SLにより加工プログラム解釈部3は加工
プログラムSAの次の指令、例えば図6の(A)に示す
ように、タッチセンサ9を計測対象物10の対象ワーク
面から離す軸移動指令を実行する。
The touch sensor 9 is in an OFF state when it is not in contact with the target work surface of the measurement object 10, and changes to an ON state at the moment of contact. Sensor signal detector 11
Detects a sensor signal SI indicating a change in the state of the touch sensor 9, and the sensor signal SI changes from OFF to ON.
When it changes to, the sensor latch signal SJ is sent out. In addition, the measured value data measuring unit 12 uses the sensor latch signal SJ.
The detected position data SH when the
Latched as the measurement position data SK of the target work surface of
The measurement position data SK is sent to the in-machine measurement processing command unit 4. The measurement position data SK is the measurement result, and indicates the measurement position of the target work surface of the measurement target 10. When the measurement position data SK is input, the in-machine measurement processing command unit 4 determines that the in-machine measurement has been completed, and the feed axis control command S
D is output to the axis movement calculation unit 5 to stop the movement of the feed axis, and the in-machine measurement completion signal SL is output to the machining program interpretation unit 3. Further, the in-machine measurement processing command unit 4 always inputs the detected position data SH from the position detection unit 8, and even when the detected position data SH becomes equal to the virtual target point B before inputting the measured position data SK. The feed axis control command SD is output to the axis movement calculation unit 5 to stop the movement of the feed axis, and the in-machine measurement completion signal SL is output to the machining program interpretation unit 3. In response to the completion signal SL, the machining program interpreting section 3 executes the next command of the machining program SA, for example, an axial movement command for separating the touch sensor 9 from the target work surface of the measuring object 10 as shown in FIG. ..

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ここで、上述のような
計測機能を有する数値制御装置において、計測対象物の
同じ対象ワーク面を2回計測して、1回目の計測位置デ
ータを利用して2回目の計測を行なうことにより、2回
目の計測によって精度の高い計測データを得る方法を考
える。
Here, in the numerical control device having the above-mentioned measurement function, the same target work surface of the measurement target is measured twice, and the first measurement position data is used. Consider a method of obtaining highly accurate measurement data by performing the second measurement by performing the second measurement.

【0006】従来の計測機能を有する数値制御装置にお
いて、計測対象物の対象ワーク面を2回計測する方法と
しては図6の(B)に示すように、まず計測開始点
、仮想目標点B、仮想対象ワーク面Cとして第1
回目の計測を行ない、次に第1回目の計測位置データS
を第2回目の計測の仮想目標点Bに設定し、計測
開始点A、仮想目標点B、仮想対象ワーク面Cと
し、送り軸の送り速度を1回目の計測より遅くして第2
回目の計測を行なう方法が一般に行なわれている。この
計測方法では、タッチセンサ9が図6の(B)に示すよ
うな経路を移動するように送り軸の軸移動を行なって、
2回の計測を実施しており、タッチセンサ9を計測対象
物10の対象ワーク面に2回接触させて計測を行なうこ
とになる。この理由は、前述のようにセンサ信号SIが
OFFからONに変化したとき、タッチセンサ9が検出
位置データSHを計測対象物10の対象ワーク面の計測
位置データSKとしてラッチするので、タッチセンサ9
のセンサ信号SIがOFFからONに変化する状態を2
回発生させるためである。しかし、タッチセンサ9が図
6(B)に示すような経路を移動するようにして、計測
対象物10の対象ワーク面に2回接触させて計測を行な
うと、計測のために長い時間が必要となり、その間は加
工を行なうことができないので、計測機能として実用上
問題があった。
In a conventional numerical control device having a measuring function, as a method of measuring a target work surface of a measuring object twice, as shown in FIG. 6B, first, a measurement start point A 1 and a virtual target point are measured. B 1 , the first as the virtual target work surface C
The first measurement is performed, and then the first measurement position data S
K 1 is set to the virtual target point B 2 of the second measurement, the measurement start point A 2 , the virtual target point B 2 , and the virtual target work surface C are set, and the feed speed of the feed axis is set slower than that of the first measurement. Second
The method of performing the second measurement is generally performed. In this measuring method, the feed sensor is moved so that the touch sensor 9 moves along a path as shown in FIG.
The measurement is performed twice, and the touch sensor 9 is brought into contact with the target work surface of the measurement target 10 twice to perform the measurement. This is because the touch sensor 9 latches the detected position data SH as the measured position data SK of the target work surface of the measuring object 10 when the sensor signal SI changes from OFF to ON as described above.
The state that the sensor signal SI of changes from OFF to ON is 2
This is because it occurs once. However, if the touch sensor 9 moves along a path as shown in FIG. 6B and is brought into contact with the target work surface of the measurement object 10 twice to perform the measurement, a long time is required for the measurement. Since, during that time, machining cannot be performed, there was a practical problem as a measurement function.

【0007】すなわち、従来の計測機能を有する数値制
御装置のタッチセンサによる計測方法では、タッチセン
サを計測対象物に接触させ、その際タッチセンサがOF
F状態からON状態に変化することを利用して計測を行
なっている。ところが、タッチセンサがOFF状態から
ON状態に変化する際にのみ計測を行なうと、タッチセ
ンサの2回計測による計測では、タッチセンサを計測対
象物に2回接触させる必要があり、機内計測をするため
に長い時間が必要であった。
That is, in the conventional measuring method using the touch sensor of the numerical controller having the measuring function, the touch sensor is brought into contact with the object to be measured, and the touch sensor is OF
The measurement is performed by utilizing the change from the F state to the ON state. However, if the measurement is performed only when the touch sensor changes from the OFF state to the ON state, in the measurement by the twice measurement of the touch sensor, it is necessary to bring the touch sensor into contact with the measurement object twice, and the in-machine measurement is performed. It took a long time for it.

【0008】本発明は上述のような事情によってなされ
たものであり、本発明の目的は、計測機能を有する数値
制御装置において、タッチセンサが送り軸の検出位置デ
ータを計測位置データとしてラッチするタイミングを、
タッチセンサの状態がOFFからONに変化するとき、
又はONからOFFに変化するときとすることにより、
短時間で精度の高い計測を行なうことができる実用的な
計測機能を有する数値制御装置を提供することにある。
The present invention has been made under the above circumstances, and an object of the present invention is, in a numerical controller having a measuring function, a timing at which a touch sensor latches feed shaft detected position data as measured position data. To
When the touch sensor status changes from OFF to ON,
Or by changing from ON to OFF,
An object of the present invention is to provide a numerical control device having a practical measurement function capable of performing highly accurate measurement in a short time.

【0009】[0009]

【発明を解決するための手段】本発明は計測機能を有す
る数値制御装置に関するものであり、本発明の上記目的
は、加工プログラムの指令に、機内計測実行指令及び計
測開始点A、仮想目標点B、仮想対象ワーク面Cの各デ
ータに加えて、予め送り軸の検出位置データを計測位置
データとしてラッチするタイミングを、タッチセンサが
OFFからONへ変化したとき、又はONからOFFへ
変化したときのいずれにするかを指令するラッチタイミ
ング指令を指令しておき、そのラッチタイミング指令に
従って、タッチセンサの状態がOFFからONに変化す
るとき、又はONからOFFに変化するときに、タッチ
センサが送り軸の検出位置データを計測位置データとし
てラッチするようにすることで達成される。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention relates to a numerical controller having a measuring function, and the above object of the present invention is to provide a machining program command, an in-machine measurement execution command, a measurement start point A, and a virtual target point. B, in addition to each data of the virtual target work surface C, the timing of previously latching the detection position data of the feed axis as the measurement position data when the touch sensor changes from OFF to ON or from ON to OFF A latch timing command for instructing which of the two is to be issued is issued, and when the touch sensor state changes from OFF to ON or from ON to OFF according to the latch timing command, the touch sensor sends This is achieved by latching the detected position data of the axis as measured position data.

【0010】[0010]

【作用】本発明の計測機能を有する数値制御装置によれ
ば、タッチセンサの状態がOFFからONに変化すると
き、又はONからOFFに変化するときに、タッチセン
サが送り軸の検出位置データを計測位置データとしてラ
ッチするので、短かい時間で精度の良い計測を行なうこ
とができる。タッチセンサの2回計測による計測を、タ
ッチセンサを計測対象物に1度接触させるだけで行なう
ことができるので、計測を短時間で完了することができ
る。
According to the numerical controller having the measuring function of the present invention, when the state of the touch sensor changes from OFF to ON, or from ON to OFF, the touch sensor outputs the detection position data of the feed axis. Since it is latched as the measurement position data, accurate measurement can be performed in a short time. Since the measurement by the twice measurement of the touch sensor can be performed only by bringing the touch sensor into contact with the measurement object once, the measurement can be completed in a short time.

【0011】[0011]

【実施例】図1は、本発明による計測機能を有する数値
制御装置の機能を示すブロック図である。図7に示す従
来の計測機能を有する数値制御装置と同一箇所には、同
一符号を付して詳細な説明を省略する。本発明の数値制
御装置においては、図7に示す従来の数値制御装置に対
して、ラッチタイミング制御部13、センサ信号変換部
14、センサ信号ON/OFF検出部15、ラッチタイ
ミング制御機内計測処理指令部16が新しく設けられて
いる。加工プログラムSAには、機内計測実行指令及び
計測開始点A、仮想目標点B、仮想対象ワーク面Cの各
データに加えて、予め送り軸の検出位置データを計測位
置データとしてラッチするタイミングを、タッチセンサ
9がOFFからONへ変化したとき、又はONからOF
Fへ変化したときのいずれにするかを指令するラッチタ
イミング指令を指令しておく。ラッチタイミング制御機
内計測処理指令部16は、加工プログラム解釈部3より
機内計測指令、前記点A〜Cのデータ及びラッチタイミ
ング指令である機内計測関係データSQを入力し、ラッ
チタイミング指令SMをラッチタイミング制御部13へ
出力する。その一方、機内計測関係データSQの点A〜
Cのデータを基に、送り軸制御指令SDを軸移動演算部
5に出力する。センサ信号ON/OFF検出部15は、
タッチセンサ9の状態を表わすセンサ信号SIを入力し
ており、センサ信号SIがOFFからONに変化したと
きにセンサ状態変化信号SO1を送出し、センサ信号S
IがONからOFFに変化したときにセンサ状態変化信
号SO2を送出する。
1 is a block diagram showing the function of a numerical controller having a measuring function according to the present invention. The same parts as those of the conventional numerical control device having a measuring function shown in FIG. 7 are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted. In the numerical control device of the present invention, the latch timing control unit 13, the sensor signal conversion unit 14, the sensor signal ON / OFF detection unit 15, the latch timing control in-machine measurement processing command are added to the conventional numerical control device shown in FIG. The part 16 is newly provided. In the machining program SA, in addition to the in-machine measurement execution command and each data of the measurement start point A, the virtual target point B, and the virtual target work surface C, the timing of previously latching the detected position data of the feed axis as the measured position data, When the touch sensor 9 changes from OFF to ON, or from ON to OF
A latch timing command for instructing which one to change to F is issued in advance. The latch timing control in-machine measurement command unit 16 inputs the in-machine measurement command from the machining program interpreting unit 3, the data of the points A to C, and the in-machine measurement related data SQ which is the latch timing command, and the latch timing command SM as the latch timing. Output to the control unit 13. On the other hand, point A of the in-machine measurement related data SQ
Based on the data of C, the feed axis control command SD is output to the axis movement calculator 5. The sensor signal ON / OFF detection unit 15 is
The sensor signal SI representing the state of the touch sensor 9 is input, and when the sensor signal SI changes from OFF to ON, the sensor state change signal SO1 is transmitted, and the sensor signal S
When I changes from ON to OFF, the sensor state change signal SO2 is sent out.

【0012】また、ラッチタイミング制御部13は、ラ
ッチタイミング指令SMにより送り軸の検出位置データ
を計測位置データとしてラッチするタイミングを、タッ
チセンサ9がOFFからONへ変化したときとする場合
はタイミング信号SN1を、タッチセンサ9がONから
OFFへ変化したときとする場合はタイミング信号SN
2を送出する。そして、センサ信号変換部14では、ラ
ッチタイミング制御部13からタイミング信号SN1を
入力している場合は、センサ状態変化信号SO1を入力
した時にセンサラッチ信号SPを出力し、タイミング信
号SN2を入力している場合は、センサ状態変化信号S
O2を入力した時にセンサラッチ信号SPを出力する。
計測値データ計測部12は、センサラッチ信号SPを入
力したときの検出位置データSHを計測対象物10の対
象ワーク面の計測位置データSKとしてラッチし、ラッ
チされた計測位置データSKをラッチタイミング制御機
内計測処理指令部16に送出する。ラッチタイミング制
御機内計測処理指令部16は計測位置データSKを入力
すると、機内計測が完了したとして送り軸制御指令SD
を軸移動演算部5へ出力して送り軸の移動を停止させ、
機内計測完了信号SLを加工プログラム解釈部3へ出力
する。また、ラッチタイミング制御機内計測処理指令部
16は位置検出部8より常に検出位置データSHを入力
しており、計測位置データSKを入力する前に検出位置
データSHが仮想目標点Bに等しくなったときも、送り
軸制御指令SDを軸移動演算部5へ出力して送り軸の移
動を停止させ、機内計測完了信号SLを加工プログラム
解釈部3へ出力する。
Further, the latch timing controller 13 latches the detection position data of the feed axis as the measurement position data by the latch timing command SM when the touch sensor 9 changes from OFF to ON, and a timing signal. Timing signal SN when SN1 is when the touch sensor 9 changes from ON to OFF
2 is sent out. Then, in the sensor signal conversion unit 14, when the timing signal SN1 is input from the latch timing control unit 13, when the sensor state change signal SO1 is input, the sensor latch signal SP is output and the timing signal SN2 is input. If the sensor status change signal S
When O2 is input, the sensor latch signal SP is output.
The measurement value data measuring unit 12 latches the detection position data SH when the sensor latch signal SP is input as the measurement position data SK of the target work surface of the measurement object 10, and the latched measurement position data SK is controlled by the latch timing. It is sent to the in-machine measurement processing command unit 16. Latch timing control When the in-machine measurement processing command section 16 inputs the measurement position data SK, the in-machine measurement is completed and the feed axis control command SD
To the axis movement calculation unit 5 to stop the movement of the feed axis,
The in-machine measurement completion signal SL is output to the machining program interpretation unit 3. Further, the latch timing control in-machine measurement processing command unit 16 always inputs the detected position data SH from the position detection unit 8, and the detected position data SH becomes equal to the virtual target point B before the measured position data SK is input. Also at this time, the feed axis control command SD is output to the axis movement calculation unit 5 to stop the movement of the feed axis, and the in-machine measurement completion signal SL is output to the machining program interpretation unit 3.

【0013】図2の(B)は、タイミング信号SN1又
はタイミング信号SN2が出力されている場合につい
て、センサ信号SIとセンサ状態変化信号SO1、セン
サ状態変化信号SO2、センサラッチ信号SPとの関係
を示すタイムチャートである。いま、図2の(A)に示
すように、タッチセンサ9をまず計測対象物10の対象
ワーク面に接近させるように送り軸を移動させて計測を
行ない、タッチセンサ9が計測対象物10の対象ワーク
面に接触した後、続いて計測対象物10の対象ワーク面
から離れるように送り軸を移動させて計測を行なった場
合を考える。この場合、タッチセンサ9は、OFF状態
→ON状態→OFF状態の様に変化する。そして、タイ
ミング信号SN1が出力されている場合は、センサ状態
変化信号SO1が出力された時にセンサラッチ信号SP
が出力され、タイミング信号SN2が出力されている場
合は、センサ状態変化信号SO2が出力された時にセン
サラッチ信号SPが出力される。
FIG. 2B shows the relationship between the sensor signal SI and the sensor state change signal SO1, the sensor state change signal SO2, and the sensor latch signal SP when the timing signal SN1 or the timing signal SN2 is output. It is a time chart shown. Now, as shown in FIG. 2A, first, the feed sensor is moved so that the touch sensor 9 approaches the target work surface of the measurement object 10, and the measurement is performed. Consider a case in which the feed shaft is moved so as to move away from the target work surface of the measurement target object 10 after contacting the target work surface, and measurement is performed. In this case, the touch sensor 9 changes from OFF state → ON state → OFF state. When the timing signal SN1 is output, the sensor latch signal SP is output when the sensor state change signal SO1 is output.
Is output and the timing signal SN2 is output, the sensor latch signal SP is output when the sensor state change signal SO2 is output.

【0014】図3は、上述した本発明による計測機能を
有する数値制御装置において、計測対象物10の同じ対
象ワーク面を2回計測して、1回目の計測位置データを
利用して2回目の計測を行なうことにより、2回目の計
測によって精度の高い計測データを得る方法である。す
なわち、本発明による数値制御装置においては、第1回
目の計測において送り軸の検出位置データを計測位置デ
ータとしてラッチするタイミングを、タッチセンサ9が
OFFからONへ変化したときとなるように指令して、
計測開始点A、仮想目標点B、仮想対象ワーク面C
として第1回目の計測を行なった後、第1回目の計測位
置データSKを第2回目の計測の計測開始点Aに設
定し、次に第2回目の計測で、送り軸の検出位置データ
を計測位置データとしてラッチするタイミングを、タッ
チセンサ9がONからOFFへ変化したときとなるよう
に指令して、計測開始点A、仮想目標点B、仮想対
象ワーク面Cとして第2回目の計測を行ない、タッチセ
ンサ9が図3に示すような経路を移動するように送り軸
の軸移動を行なって、2回の計測を実施する。この場
合、タッチセンサ9は計測対象物10の対象ワーク面に
は1回接触させるのみで計測を行なうことができる。
FIG. 3 shows the numerical control device having the measuring function according to the present invention described above. The same target work surface of the measuring object 10 is measured twice, and the second measurement position data is used. This is a method of obtaining highly accurate measurement data by performing the second measurement by performing the measurement. That is, in the numerical controller according to the present invention, the timing for latching the detected position data of the feed axis as the measured position data in the first measurement is commanded to be when the touch sensor 9 changes from OFF to ON. hand,
Measurement start point A 1 , virtual target point B 1 , virtual target work surface C
After the first measurement is performed, the first measurement position data SK 1 is set to the measurement start point A 2 of the second measurement, and then the detection position of the feed axis is measured in the second measurement. The timing for latching the data as the measurement position data is commanded to be when the touch sensor 9 changes from ON to OFF, and the measurement start point A 2 , the virtual target point B 2 , and the virtual target work surface C are set to the second position. The second measurement is performed, and the feed sensor is axially moved so that the touch sensor 9 moves along the path shown in FIG. 3, and the measurement is performed twice. In this case, the touch sensor 9 can perform the measurement only by contacting the target work surface of the measurement target object 10 once.

【0015】また、タッチセンサ9の状態変化の特性に
ヒステリシスがある場合は、図1のブロック図で示した
数値制御装置に対して計測値データ補正部17及び計測
補正データ記憶部18を設けた図4に示すような計測機
能を有する数値制御装置を構成する。そして、計測対象
物10の同じ対象ワーク面を、タッチセンサ9がOFF
からONに変化したときにラッチした計測位置データ
と、タッチセンサ9がONからOFFに変化したときに
ラッチした計測位置データとの差を、予め計測方向補正
値SRとして計測補正データ記憶部18に記憶してお
き、計測値データ補正部17で計測位置データSKに補
正をかけるようにして、タッチセンサ9のヒステリシス
の影響のない計測位置データを得ることができる。
When the characteristics of the state change of the touch sensor 9 have hysteresis, the measurement value data correction unit 17 and the measurement correction data storage unit 18 are provided in the numerical controller shown in the block diagram of FIG. A numerical controller having a measuring function as shown in FIG. 4 is configured. Then, the touch sensor 9 is turned off on the same target work surface of the measurement target object 10.
From the ON position to the ON position and the difference between the measurement position data latched when the touch sensor 9 changes from the ON position to the OFF position in the measurement correction data storage unit 18 as the measurement direction correction value SR in advance. The measurement position data SK is stored, and the measurement position data SK is corrected by the measurement value data correction unit 17, so that the measurement position data without the influence of the hysteresis of the touch sensor 9 can be obtained.

【0016】図5は、本発明の計測機能を有する数値制
御装置の動作例を示すフローチャートである。まず、加
工プログラムより機内計測実行指令、計測開始点A、仮
想目標点B、仮想対象ワーク面Cの各データ、及びラッ
チタイミング指令を読込み(ステップS1)、計測開始
点A、仮想目標点B、仮想対象ワーク面Cの各データに
従って軸移動が開始される(ステップS2)。そして、
ラッチタイミング指令が、タッチセンサ9の状態がOF
FからONへ変化したとき、又はONからOFFへ変化
したときのいずれになっているかが判断される(ステッ
プS3)。ラッチタイミング指令が、タッチセンサ9の
状態がOFFからONへ変化したときである場合、軸移
動の途中でタッチセンサ9の状態がOFFからONへ変
化したときは、データ計測が行なわれ(ステップS4、
ステップS6)、タッチセンサ9の状態がONからOF
Fへ変化するか、又は全く変化しない場合は、軸移動を
続行して仮想目標点Bに到達する(ステップS8)。逆
にラッチタイミング指令が、タッチセンサ9の状態がO
NからOFFへ変化したときである場合、軸移動の途中
でタッチセンサ9の状態がONからOFFへ変化したと
きはデータ計測が行なわれ(ステップS5、ステップS
6)、タッチセンサ9の状態がOFFからONへ変化す
るか又は全く変化しない場合は、軸移動を続行して仮想
目標点Bに到達する(ステップS8)。データ計測が完
了すると軸移動は停止し(ステップS7)、機内計測は
終了する。また、データ計測が行なわれないまま仮想目
標点Bに到達した場合は、仮想目標点Bにて軸移動が停
止し(ステップS7)、全ての動作が終了する。
FIG. 5 is a flow chart showing an operation example of the numerical controller having the measuring function of the present invention. First, the in-machine measurement execution command, the measurement start point A, the virtual target point B, each data of the virtual target work surface C, and the latch timing command are read from the machining program (step S1), the measurement start point A, the virtual target point B, The axis movement is started according to each data of the virtual target work surface C (step S2). And
The latch timing command indicates that the touch sensor 9 is in the OF state.
It is determined whether the change from F to ON or the change from ON to OFF occurs (step S3). When the latch timing command is when the state of the touch sensor 9 changes from OFF to ON, and when the state of the touch sensor 9 changes from OFF to ON during the axis movement, data measurement is performed (step S4). ,
Step S6), the state of the touch sensor 9 is changed from ON to OF
If it changes to F or does not change at all, the axis movement is continued to reach the virtual target point B (step S8). On the contrary, the latch timing command indicates that the touch sensor 9 is in the O state.
If it is when the state changes from N to OFF, or when the state of the touch sensor 9 changes from ON to OFF during the axis movement, data measurement is performed (steps S5 and S).
6) If the state of the touch sensor 9 changes from OFF to ON or does not change at all, the axis movement is continued to reach the virtual target point B (step S8). When the data measurement is completed, the axis movement is stopped (step S7), and the in-machine measurement is completed. If the virtual target point B is reached without data measurement, the axis movement stops at the virtual target point B (step S7), and all the operations are completed.

【0017】[0017]

【発明の効果】以上のように本発明の計測機能を有する
数値制御装置によれば、タッチセンサによる機内計測を
高精度に短時間で行なうことができる。すなわち、タッ
チセンサの2回計測による計測を、センサを計測対象物
に1回接触させるだけで行なうことができるので、計測
を短時間で完了できる。
As described above, according to the numerical controller having the measuring function of the present invention, the in-machine measurement by the touch sensor can be performed with high accuracy in a short time. That is, the measurement by the touch sensor twice can be performed only by bringing the sensor into contact with the measurement object once, so that the measurement can be completed in a short time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による計測機能を有する数値制御旋盤の
機能を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing functions of a numerically controlled lathe having a measuring function according to the present invention.

【図2】本発明による計測機能を有する数値制御旋盤に
おいて、実際に計測を行なう際のタイミング信号、セン
サ状態変化信号及びセンサ信号の関係を説明するための
図とタイムチャートである。
FIG. 2 is a diagram and a time chart for explaining a relationship between a timing signal, a sensor state change signal, and a sensor signal when actually measuring in a numerically controlled lathe having a measuring function according to the present invention.

【図3】本発明による計測機能を有する数値制御旋盤に
おいて、計測対象物の同じ対象ワーク面を2回計測し
て、1回目の計測位置データを用いて2回目の計測を行
なうことにより、2回目の計測で精度の高い計測データ
を得る方法を説明するための図である。
FIG. 3 shows a numerical control lathe having a measurement function according to the present invention, in which the same target work surface of a measurement target is measured twice, and the second measurement is performed using the first measurement position data. It is a figure for demonstrating the method of obtaining highly accurate measurement data by the measurement of the 2nd time.

【図4】本発明による計測機能を有する数値制御旋盤に
おいて、タッチセンサの状態変化のヒステリシスを補正
する機能を持つ数値制御装置の機能を示すブロック図で
ある。
FIG. 4 is a block diagram showing a function of a numerical control device having a function of correcting a hysteresis of a state change of a touch sensor in a numerical control lathe having a measuring function according to the present invention.

【図5】本発明による計測機能を有する数値制御旋盤の
動作例を示すフローチャートである。
FIG. 5 is a flowchart showing an operation example of a numerically controlled lathe having a measuring function according to the present invention.

【図6】従来の計測機能を有する数値制御旋盤の機内計
測の方法を説明するための図である。
FIG. 6 is a diagram for explaining a conventional method for in-machine measurement of a numerically controlled lathe having a measuring function.

【図7】従来の計測機能を有する数値制御旋盤の機能を
示すブロック図である。
FIG. 7 is a block diagram showing functions of a conventional numerically controlled lathe having a measuring function.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 加工プログラム入力部 2 加工プログラム保存部 3 加工プログラム解釈部 4 機内計測処理指令部 5 軸移動演算部 6 送り軸制御部 7 モータ 8 位置検出部 9 タッチセンサ 10 計測対象物の対象 11 センサ信号検出部 12 計測データ計測部 13 ラッチタイミング制御部 14 センサ信号変換部 15 センサ信号ON/OFF検出部 16 ラッチタイミング制御機内計測処理部 17 計測値データ補正部 18 計測値補正データ記憶部 1 Machining program input section 2 Machining program storage section 3 Machining program interpretation section 4 In-machine measurement processing command section 5 Axis movement calculation section 6 Feed axis control section 7 Motor 8 Position detection section 9 Touch sensor 10 Target of measurement object 11 Sensor signal detection Part 12 Measurement data measurement part 13 Latch timing control part 14 Sensor signal conversion part 15 Sensor signal ON / OFF detection part 16 Latch timing control in-machine measurement processing part 17 Measurement value data correction part 18 Measurement value correction data storage part

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 タッチセンサを用いた機内計測機能を有
する数値制御装置において、送り軸の検出位置データを
計測位置データとしてラッチするタイミングを、前記タ
ッチセンサがOFFからONへ変化したときと、ONか
らOFFへ変化したときのいずれにするかをプログラム
で指令可能としたことを特徴とする計測機能を有する数
値制御装置。
1. A numerical control device having an in-machine measurement function using a touch sensor, wherein the timing for latching the detection position data of the feed axis as the measurement position data is when the touch sensor changes from OFF to ON and when it is ON. A numerical control device having a measuring function characterized in that it is possible to instruct by a program which one of the states when the state changes from OFF to OFF.
【請求項2】 同一位置において、前記タッチセンサが
OFFからONに変化したときにラッチした計測位置デ
ータと、前記タッチセンサがONからOFFに変化した
ときにラッチした計測位置データとの差を計測方向補正
値として予め保存しておき、計測時に前記タッチセンサ
の移動方向によって求めた前記計測位置データに対して
前記計測方向補正値の補正をかけるようにした請求項1
に記載の計測機能を有する数値制御装置
2. At the same position, the difference between the measured position data latched when the touch sensor changes from OFF to ON and the measured position data latched when the touch sensor changes from ON to OFF is measured. The correction value is stored in advance as a direction correction value, and the measurement position correction value is corrected for the measurement position data obtained by the moving direction of the touch sensor during measurement.
Numerical control device having measurement function described in 1.
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