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JPH0559332U - 微小電流測定器 - Google Patents

微小電流測定器

Info

Publication number
JPH0559332U
JPH0559332U JP126192U JP126192U JPH0559332U JP H0559332 U JPH0559332 U JP H0559332U JP 126192 U JP126192 U JP 126192U JP 126192 U JP126192 U JP 126192U JP H0559332 U JPH0559332 U JP H0559332U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output voltage
current
switch
measured
curve
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP126192U
Other languages
English (en)
Inventor
靖夫 古川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
Priority to JP126192U priority Critical patent/JPH0559332U/ja
Publication of JPH0559332U publication Critical patent/JPH0559332U/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 測定時間を短縮する。 【構成】 基準電位VRを演算増幅器21の非反転入力
端に与え、電位VR−aをスイッチ32を通じて演算増
幅器21の反転入力端へ供給して積分回路23で積分
し、その積分出力電圧Vが基準電位VR+bより越える
と、比較器35の出力が反転してフリップフロップ37
がセットされ、スイッチ32がオフ、31がオンとな
り、電位VR+aが積分回路23へ供給され、その積分
出力電圧VがVR−bよりも低くなると、比較器36の
出力が高レベルに反転してフリップフロップ37がリセ
ットされ、スイッチ31がオフ、32がオンになる。こ
の時の積分出力電圧V(曲線38)が波形デジタイザ2
5で、例えば10μS周期で取り込まれ、最小自乗法で
曲線38の傾斜Iaが演算される。測定対象デバイス1
4から被測定電流Iが入力されると、積分出力電圧V
は、Iが負で曲線39,Iが正で曲線41となり、この
傾斜を最小自乗法で求め、その傾斜からIaを引くこと
により被測定電流Iを求める。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
この考案は、例えばアナログ、デジタル混在のICを試験するIC試験装置に おける、数PAのような微小電流の測定に適用される微小電流測定器に関する。
【0002】
【従来の技術】
図3に従来の微小電流測定器を示す。演算増幅器11の反転入力端と出力端と の間に帰還抵抗器12が接続され、演算増幅器11の非反転入力端は基準電位点 13に接続され、測定対象デバイス14から基準電位点13の電位へ流れ込む、 また逆に流れる電流が帰還抵抗器12に流れ、帰還抵抗器12の降下電圧を電圧 測定器15で測定して測定対象デバイス14に対し流れる電流を測定する。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】
例えば100PAのような微小電流を測定するには、帰還抵抗器12の抵抗値 を100MΩのような高抵抗を用いる必要がある。このような高抵抗の帰還抵抗 器12を用いると、外乱雑音の影響を受け易いため、複数回繰り返し測定してそ の測定値の平均を求め、雑音の影響があまりでないようにしている。このため高 確度の測定を行うには測定回数を多くする必要があり、測定時間が長くなるとい う問題があった。
【0004】
【課題を解決するための手段】
この発明によれば、被測定電流が積分回路により積分され、その積分回路の出 力電圧が波形デジタイザに入力され、その波形デジタイザに取り込まれた所定数 以上のデータから統計的処理により積分回路の出力電圧の傾斜を演算処理部で演 算して、その演算結果から被測定電流の電流値を得る。
【0005】
【実施例】
図1にこの考案の実施例を示す。この考案においては演算増幅器21の反転入 力端と出力端との間にコンデンサ22が接続されて積分回路23が構成される。 演算増幅器21の非反転入力端は基準電位点13に接続される。コンデンサ22 と並列にスイッチ24が接続される。積分回路23の出力側は波形デジタイザ2 5に接続される。
【0006】 必要に応じてスイッチ24をオンとしてコンデンサ22の電荷を放電した後、 積分回路23の入力側に測定対象デバイス14を接続すると、基準電位点13の 電位VRに対し、測定対象デバイス14に電流が流出または流入し、その電流が 積分回路23で積分され、積分回路23の出力電圧Vはその被測定電流Iの極性 に応じて直線的に上昇または下降し、またその勾配は被測定電流Iの大きさに応 じたものとなる。つまり、コンデンサ22の容量をC,積分時間をtとすると、 積分出力電圧VはIt/Cとなる。
【0007】 この積分回路23の出力電圧は波形デジタイザ25で一定周期でサンプリング してデータとして取り込まれ、その各サンプル値がデジタル値に変換される。積 分回路23の出力電圧の傾斜Iは、2つの入力データがあれば直線の式V=It /Cより求めることができる。しかし、2つのデータだけで積分回路23の出力 電圧の傾斜Iを求めるだけでは、雑音の影響を受ける。そこで演算処理部26で 誤差が最小になるように多数の入力データを用いて、いわゆる最小自乗法などの 統計的処理により、出力電圧の傾斜I,つまり被測定電流値を求め、その電流値 を表示器27に表示する。
【0008】 演算増幅器21はその入力電流をゼロとしても電流がゼロにならない。そこで 予め入力電流ゼロの状態での積分回路23の出力電圧の傾斜I0 を求めておき、 被測定電流を入力した時の積分回路23の出力電圧の傾斜IからI0 を差し引け ばよい。また微小電流のみの測定ではなく、ある程度大きい被測定電流も測定し ようとすると、演算増幅器21の出力電圧が飽和してしまい、ある程度の精度で 電流値(出力電圧の傾斜)を演算するに必要とするデータが不足する。このよう な場合は、次のようにすればよい。
【0009】 すなわち、図2Aに図1と対応する部分に同一符号を付けて示すように、基準 電源28から基準電位VRと、その基準電位VRに対してaだけ高い電位VR+ aと、aだけ低い電位VR−aとを出力させ、電位VR+a,VR−aをそれぞ れスイッチ31,32を通じ、更に抵抗器33,34を通じて演算増幅器21の 反転入力端へ供給することができるようにされる。また積分回路23の出力電圧 Vは比較器35,36でそれぞれ電位VR+b,VR−bと比較される。出力電 圧VがVR+bより高くなると、比較器35の出力が高レベルに反転し、出力電 圧VがVR−bより低くなると、比較器36の出力が高レベルに反転するように される。比較器35が高レベルに反転すると、その出力でフリップフロップ37 がセットされ、比較器36が高レベルに反転すると、その出力でフリップフロッ プ37がリセットされる。フリップフロップ37のQ出力が高レベルでスイッチ 31がオンにされ、フリップフロップ37のq出力が高レベルでスイッチ32が オンにされる。
【0010】 抵抗器33,34の各抵抗値をRとすると、スイッチ31がオンで電流Ia= a/Rが積分回路23に流れ込み、スイッチ32がオンで電流Iaが積分回路2 3から基準電源28へ出流する。電流Iaの大きさは、被測定電流Iの最小値の 例えば10倍程度とされる。測定対象デバイス14からの入力電流Iがゼロの状 態で、かつスイッチ24を短時間オンにしてコンデンサ22の電荷をゼロにした 後、フリップフロップ37をリセットすると、スイッチ32がオンになり、積分 回路23の出力電圧Vは電流Iaで上昇し、出力電圧VがVR+bを越えると、 フリップフロップ37がセットされて、スイッチ32がオフ、31がオンになっ て、出力電圧Vは電流Iaで降下し、出力電圧VがVR−bより下になると、フ リップフロップ37がリセットされて、スイッチ31がオフ、32がオンとなり 、出力電圧Vは再び上昇し始める。以下同様のことを繰り返し、図2Bに示す曲 線38に示すように変化する。演算増幅器21が理想的なものであれば、曲線3 8の上昇の傾斜と、下降の傾斜とは同じになる。
【0011】 測定対象デバイス14から被測定電流Iが入力されると、その電流Iが負であ り、積分回路23から電流を流出する方向にあると、積分回路23の出力電圧V は図2Bの曲線39に示すように、スイッチ32がオンの状態で出力電圧Vの傾 斜が曲線38より急になり、スイッチ31がオンの状態で出力電圧Vの傾斜が曲 線38よりゆるやかになる。つまりスイッチ32がオン状態で積分される電流は −(Ia+I)となり、スイッチ31がオン状態で積分される電流はIa−Iと なる。従って、曲線38の傾斜を予め求めておくことにより、入力電流Iを求め ることができる。被測定電流Iが正である場合はスイッチ32がオン状態で積分 される電流は−Ia+Iとなり、スイッチ31がオン状態で積分される電流はI a+Iとなり、積分出力電圧Vは曲線41に示すようになり、この曲線41の傾 斜を求めることにより被測定電流Iを求めることができる。演算増幅器21が非 理想的な場合も、被測定電流Iがゼロの状態の曲線38の上昇時、下降時の各傾 斜を基準にして、その傾斜の変化から被測定電流Iを測定することができる。
【0012】
【考案の効果】
以上述べたように、この考案によれば被測定電流を積分し、その積分出力電圧 を波形デジタイザで周期的に取り込み、その取り込んだサンプル値から積分出力 電圧の傾斜を統計的処理により求めることによりパルシブな雑音を抑圧すること ができ、また積分回路23の特性から高周波雑音の影響を受けない。しかも波形 デジタイザ25は、例えば10μS周期で積分出力電圧を取り込み、その各取り 込んだ値を求めることができ、例えば1000点の取り込みを統計的処理する場 合は、測定時間は10mSであるが、図3に示した従来技術により同程度の精度 で測定する場合は、測定時間は1秒程度となり、測定時間を100分の1に短縮 でき、多くの測定を行う場合には著しく測定時間が短縮される。
【図面の簡単な説明】
【図1】この考案の実施例を示すブロック図。
【図2】Aはこの考案の他の実施例を示すブロック図、
Bはその各種状態における積分出力電圧の変化状態の例
を示す図である。
【図3】従来の微小電流測定器を示すブロック図。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被測定電流を積分する積分回路と、 その積分回路の出力電圧を入力とする波形デジタイザ
    と、 その波形デジタイザに取り込まれた所定数以上のデータ
    から統計的処理により上記積分回路の出力電圧の傾斜を
    演算して、その演算結果から上記被測定電流の電流値を
    得る演算処理部と、 を具備する微小電流測定器。
JP126192U 1992-01-17 1992-01-17 微小電流測定器 Pending JPH0559332U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP126192U JPH0559332U (ja) 1992-01-17 1992-01-17 微小電流測定器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP126192U JPH0559332U (ja) 1992-01-17 1992-01-17 微小電流測定器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0559332U true JPH0559332U (ja) 1993-08-06

Family

ID=11496515

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP126192U Pending JPH0559332U (ja) 1992-01-17 1992-01-17 微小電流測定器

Country Status (1)

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JP (1) JPH0559332U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007172766A (ja) * 2005-12-22 2007-07-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体リーク電流検出器とリーク電流測定方法および電圧トリミング機能付半導体リーク電流検出器とリファレンス電圧トリミング方法およびこれらの半導体集積回路

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4897575A (ja) * 1972-02-22 1973-12-12

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Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19980421