JPH05346585A - 液晶素子 - Google Patents
液晶素子Info
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- JPH05346585A JPH05346585A JP31112792A JP31112792A JPH05346585A JP H05346585 A JPH05346585 A JP H05346585A JP 31112792 A JP31112792 A JP 31112792A JP 31112792 A JP31112792 A JP 31112792A JP H05346585 A JPH05346585 A JP H05346585A
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- JP
- Japan
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- liquid crystal
- substrates
- fluoroalkyl group
- chiral smectic
- crystal device
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 それぞれに透明電極を設けた一対の基板のう
ち、少なくとも一方の基板の液晶側に下記一般式を有す
る長鎖フルオロアルキル基を側鎖として有し、ラビング
処理されたポリイミド配向膜を設け、カイラルスメクチ
ック液晶を用いた液晶素子。 【化25】 (式中、mは3〜10の整数、nは0又は1〜3の整数
である。)
ち、少なくとも一方の基板の液晶側に下記一般式を有す
る長鎖フルオロアルキル基を側鎖として有し、ラビング
処理されたポリイミド配向膜を設け、カイラルスメクチ
ック液晶を用いた液晶素子。 【化25】 (式中、mは3〜10の整数、nは0又は1〜3の整数
である。)
Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、液晶表示素子や液晶−
光シャッター等で用いる液晶素子、特に強誘電性カイラ
ルスメクチック液晶素子に関し、更に詳しくは液晶分子
の配向状態を改善することにより、表示特性を改善した
液晶素子に関するものである。
光シャッター等で用いる液晶素子、特に強誘電性カイラ
ルスメクチック液晶素子に関し、更に詳しくは液晶分子
の配向状態を改善することにより、表示特性を改善した
液晶素子に関するものである。
【0002】
【従来の技術】強誘電性カイラルスメクチック液晶分子
の屈折率異方性を利用して偏光素子との組み合わせによ
り透過光線を制御する型の表示素子がクラーク(Cla
rk)及びラガーウォル(Lagerwall)により
提案されている(米国特許第4,367,924号明細
書等)。この強誘電性液晶は、一般に特定の温度域にお
いて、非らせん構造のカイラルスメクチックC相(Sm
C* )又はH相(SmH* )を有し、この状態におい
て、加えられる電界に応答して第1の光学的安定状態と
第2の光学的安定状態のいずれかを取り、且つ電界の印
加のないときはその状態を維持する性質、即ち双安定性
を有し、また電界の変化に対する応答も速やかであり、
高速ならびに記憶型の表示素子としての広い利用が期待
され、特にその機能から大画面で、高精細なディスプレ
ーとしての応用が期待されている。
の屈折率異方性を利用して偏光素子との組み合わせによ
り透過光線を制御する型の表示素子がクラーク(Cla
rk)及びラガーウォル(Lagerwall)により
提案されている(米国特許第4,367,924号明細
書等)。この強誘電性液晶は、一般に特定の温度域にお
いて、非らせん構造のカイラルスメクチックC相(Sm
C* )又はH相(SmH* )を有し、この状態におい
て、加えられる電界に応答して第1の光学的安定状態と
第2の光学的安定状態のいずれかを取り、且つ電界の印
加のないときはその状態を維持する性質、即ち双安定性
を有し、また電界の変化に対する応答も速やかであり、
高速ならびに記憶型の表示素子としての広い利用が期待
され、特にその機能から大画面で、高精細なディスプレ
ーとしての応用が期待されている。
【0003】この双安定性を有する液晶を用いた光学変
調素子が所定の駆動特性を発揮するためには、一対の平
行基板間に配置される液晶が、電界の印加状態とは無関
係に、上記2つの安定状態の間での変換が効果的に起る
ような分子配列状態にあることが必要である。
調素子が所定の駆動特性を発揮するためには、一対の平
行基板間に配置される液晶が、電界の印加状態とは無関
係に、上記2つの安定状態の間での変換が効果的に起る
ような分子配列状態にあることが必要である。
【0004】また、液晶の複屈折を利用した液晶素子の
場合、直交ニコル下での透過率は、
場合、直交ニコル下での透過率は、
【0005】
【数1】 [式中:I0 は入射光強度、Iは透過光強度、θはチル
ト角、Δnは屈折率異方性、dは液晶層の膜厚、λは入
射光の波長である。]で表わされる、前述の非らせん構
造におけるチルトθは第1と第2の配向状態でのねじれ
配列した液晶分子の平均分子軸方向の角度として現われ
ることになる。上式によれば、かかるチルトθが22.
5°の角度の時最大の透過率となり、双安定性を実現す
る非らせん構造でのチルト角θが22.5°にできる限
り近いことが必要である。
ト角、Δnは屈折率異方性、dは液晶層の膜厚、λは入
射光の波長である。]で表わされる、前述の非らせん構
造におけるチルトθは第1と第2の配向状態でのねじれ
配列した液晶分子の平均分子軸方向の角度として現われ
ることになる。上式によれば、かかるチルトθが22.
5°の角度の時最大の透過率となり、双安定性を実現す
る非らせん構造でのチルト角θが22.5°にできる限
り近いことが必要である。
【0006】ところで、強誘電性液晶の配向方法として
は、大きな面積に亘って、スメクチック液晶を形成する
複数の分子で組織された分子層をその法線に沿って一軸
に配向させることができ、しかも製造プロセス工程も簡
便なラビング処理により実現できるものが望ましい。
は、大きな面積に亘って、スメクチック液晶を形成する
複数の分子で組織された分子層をその法線に沿って一軸
に配向させることができ、しかも製造プロセス工程も簡
便なラビング処理により実現できるものが望ましい。
【0007】強誘電性液晶、特に非らせん構造のカイラ
ルスメクチック液晶のための配向方法としては、例え
ば、米国特許第4,561,726号公報などが知られ
ている。
ルスメクチック液晶のための配向方法としては、例え
ば、米国特許第4,561,726号公報などが知られ
ている。
【0008】しかしながら、これまで用いられてきた配
向方法、特にラビング処理したポリイミド膜による配向
方法を、前述のクラークとラガウォールによって発表さ
れた双安定性を示す非らせん構造の強誘電性液晶に対し
て適用した場合には、下述の如き問題点を有していた。
向方法、特にラビング処理したポリイミド膜による配向
方法を、前述のクラークとラガウォールによって発表さ
れた双安定性を示す非らせん構造の強誘電性液晶に対し
て適用した場合には、下述の如き問題点を有していた。
【0009】即ち、本発明者らの実験によれば、従来の
ラビング処理したポリイミド膜によって配向させて得ら
れた非らせん構造の強誘電性液晶でのチルト角(図2
(b)のθ)がらせん構造をもつ強誘電性液晶でのチル
ト角(図2(a)のΘ)と較べて小さくなっていること
が判明した。特に、従来のラビング処理したポリイミド
膜によって配向させて得た非らせん構造の強誘電性液晶
でのチルト角θは、一般に3°〜8°程度で、その時の
透過率はせいぜい3〜5%程度であった。
ラビング処理したポリイミド膜によって配向させて得ら
れた非らせん構造の強誘電性液晶でのチルト角(図2
(b)のθ)がらせん構造をもつ強誘電性液晶でのチル
ト角(図2(a)のΘ)と較べて小さくなっていること
が判明した。特に、従来のラビング処理したポリイミド
膜によって配向させて得た非らせん構造の強誘電性液晶
でのチルト角θは、一般に3°〜8°程度で、その時の
透過率はせいぜい3〜5%程度であった。
【0010】この様に、クラークとラガウォールによれ
ば双安定性を実現する非らせん構造の強誘電性液晶での
チルト角がらせん構造をもつ強誘電性液晶でのチルト角
と同一の角度をもつはずであるが、実際には非らせん構
造でのチルト角θの方がらせん構造でのチルト角Θより
小さくなっている。しかも、この非らせん構造でのチル
ト角θがらせん構造でのチルト角Θより小さくなる原因
が非らせん構造での液晶分子のねじれ配列に帰因してい
ることが判明した。つまり、非らせん構造をもつ強誘電
性液晶では、液晶分子が基板の法線に対して上基板に隣
接する液晶分子の軸より下基板に隣接する液晶分子の軸
(ねじれ配列の方向)へ連続的にねじれ角δでねじれて
配列しており、このことが非らせん構造でのチルト角θ
がらせん構造でのチルト角Θより小さくなる原因となっ
ている。
ば双安定性を実現する非らせん構造の強誘電性液晶での
チルト角がらせん構造をもつ強誘電性液晶でのチルト角
と同一の角度をもつはずであるが、実際には非らせん構
造でのチルト角θの方がらせん構造でのチルト角Θより
小さくなっている。しかも、この非らせん構造でのチル
ト角θがらせん構造でのチルト角Θより小さくなる原因
が非らせん構造での液晶分子のねじれ配列に帰因してい
ることが判明した。つまり、非らせん構造をもつ強誘電
性液晶では、液晶分子が基板の法線に対して上基板に隣
接する液晶分子の軸より下基板に隣接する液晶分子の軸
(ねじれ配列の方向)へ連続的にねじれ角δでねじれて
配列しており、このことが非らせん構造でのチルト角θ
がらせん構造でのチルト角Θより小さくなる原因となっ
ている。
【0011】また、コントラストを大きくとるために、
偏光板をクロスニコルにし一方の偏光板の方向をチルト
角θにあわせて配置し強誘電性液晶を駆動した場合、白
及び黒への書き込み波形が印加されると、図9のように
液晶分子は一度Θの位置まで移動し、その後θの位置ま
で戻る現象(オーバーシュート)が観測され、これがち
らつきの原因となっていた。
偏光板をクロスニコルにし一方の偏光板の方向をチルト
角θにあわせて配置し強誘電性液晶を駆動した場合、白
及び黒への書き込み波形が印加されると、図9のように
液晶分子は一度Θの位置まで移動し、その後θの位置ま
で戻る現象(オーバーシュート)が観測され、これがち
らつきの原因となっていた。
【0012】また、従来のラビング処理したポリイミド
配向膜によって生じたカイラルスメクチック液晶の配向
状態は、電極と液晶層の間に絶縁体層としてのポリイミ
ド配向膜の存在によって、第1の光学的安定状態(例え
ば、白の表示状態)から第2の光学的安定状態(例え
ば、黒の表示状態)にスイッチングするための一方極性
電圧を印加した場合、この一方極性電圧の印加解除後、
強誘電性液晶層には他方極性の逆電界Vrev が生じ、こ
の逆電界Vrev がディスプレイの際の残像を惹き起して
いた。上述の逆電界発生現象は、例えば吉田明雄著、昭
和62年10月「液晶討論会予稿集」P.142〜14
3の「SSFLCのスイッチング特性」で明らかにされ
ている。
配向膜によって生じたカイラルスメクチック液晶の配向
状態は、電極と液晶層の間に絶縁体層としてのポリイミ
ド配向膜の存在によって、第1の光学的安定状態(例え
ば、白の表示状態)から第2の光学的安定状態(例え
ば、黒の表示状態)にスイッチングするための一方極性
電圧を印加した場合、この一方極性電圧の印加解除後、
強誘電性液晶層には他方極性の逆電界Vrev が生じ、こ
の逆電界Vrev がディスプレイの際の残像を惹き起して
いた。上述の逆電界発生現象は、例えば吉田明雄著、昭
和62年10月「液晶討論会予稿集」P.142〜14
3の「SSFLCのスイッチング特性」で明らかにされ
ている。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は、前述の問題点を解決した液晶素子を提供すること、
特にカイラルスメクチック液晶の非らせん構造での大き
なチルトθを生じ、高コントラストな画像がディスプレ
イされ、且つ残像やちらつきを生じないディスプレイを
達成できる液晶素子、特にカイラルスメクチック液晶素
子を提供することにある。
は、前述の問題点を解決した液晶素子を提供すること、
特にカイラルスメクチック液晶の非らせん構造での大き
なチルトθを生じ、高コントラストな画像がディスプレ
イされ、且つ残像やちらつきを生じないディスプレイを
達成できる液晶素子、特にカイラルスメクチック液晶素
子を提供することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段及び作用】本発明の強誘電
性液晶素子の特徴は、前記したポリイミド配向膜に有
る。即ち、それぞれに透明電極を設けた一対の基板のう
ち少なくとも一方の基板の液晶側に、長鎖フルオロアル
キル基を有するポリイミド配向膜を設けたことを特徴と
する液晶素子、特にカイラルスメクチック液晶素子であ
る。
性液晶素子の特徴は、前記したポリイミド配向膜に有
る。即ち、それぞれに透明電極を設けた一対の基板のう
ち少なくとも一方の基板の液晶側に、長鎖フルオロアル
キル基を有するポリイミド配向膜を設けたことを特徴と
する液晶素子、特にカイラルスメクチック液晶素子であ
る。
【0015】図1は本発明の強誘電性液晶素子の一例を
模式的に描いたものである。
模式的に描いたものである。
【0016】11aと11bはそれぞれIn2 O3 やI
TO(Indium Tin Oxide)等の透明電
極12aと12bで被覆された基板(ガラス板)であ
り、その上に200Å〜1000Å厚の絶縁膜13aと
13b(SiO2 膜、TiO2膜、Ta2 O5 膜など)
と前記ポリイミドで形成した50Å〜1000Å厚の配
向制御膜14aと14bとがそれぞれ積層されている。
TO(Indium Tin Oxide)等の透明電
極12aと12bで被覆された基板(ガラス板)であ
り、その上に200Å〜1000Å厚の絶縁膜13aと
13b(SiO2 膜、TiO2膜、Ta2 O5 膜など)
と前記ポリイミドで形成した50Å〜1000Å厚の配
向制御膜14aと14bとがそれぞれ積層されている。
【0017】この際、同一方向で且つ平行(図1でいえ
ばA方向)となるように、又は同一方向で且つ2°〜1
5°の角度で交差となるように、又は反対方向で且つ平
行となるように、又は反対方向で且つ2°〜15°の角
度で交差となるように一軸配向処理としてラビング処理
(矢印方向)した配向制御膜14aと14bが配置され
ている。基板11aと11bとの間には、強誘電性スメ
クチック液晶15が配置され、基板11aと11bとの
間隔の距離は、強誘電性スメクチック液晶15のらせん
配列構造の形成を抑制するのに十分に小さい距離(例え
ば0.1μm〜3μm)に設定され、強誘電性スメクチ
ック液晶15は双安定性配向状態を生じている。上述の
十分に小さい距離は、基板11aと11bとの間に配置
したビーズスペーサ16(シリカビーズ、アルミナビー
ズ)によって保持される。ラビング処理が基板11aと
11bに対して同一方向で且つ平行の時、分子層22が
図3のような屈曲したシェブロン構造をとり、又、ラビ
ング処理が基板11aと11bに対して反対方向で且つ
平行の時分子層22は傾斜した層を形成する。
ばA方向)となるように、又は同一方向で且つ2°〜1
5°の角度で交差となるように、又は反対方向で且つ平
行となるように、又は反対方向で且つ2°〜15°の角
度で交差となるように一軸配向処理としてラビング処理
(矢印方向)した配向制御膜14aと14bが配置され
ている。基板11aと11bとの間には、強誘電性スメ
クチック液晶15が配置され、基板11aと11bとの
間隔の距離は、強誘電性スメクチック液晶15のらせん
配列構造の形成を抑制するのに十分に小さい距離(例え
ば0.1μm〜3μm)に設定され、強誘電性スメクチ
ック液晶15は双安定性配向状態を生じている。上述の
十分に小さい距離は、基板11aと11bとの間に配置
したビーズスペーサ16(シリカビーズ、アルミナビー
ズ)によって保持される。ラビング処理が基板11aと
11bに対して同一方向で且つ平行の時、分子層22が
図3のような屈曲したシェブロン構造をとり、又、ラビ
ング処理が基板11aと11bに対して反対方向で且つ
平行の時分子層22は傾斜した層を形成する。
【0018】本発明者らの実験によれば、ラビング処理
した特定のポリイミド配向膜による配向方法を用いるこ
とによって、明状態と暗状態での大きな光学的コントラ
ストを示し、特に、米国特許第4,655,561号な
どに開示のマルチプレクシング駆動時の非選択画素に対
して大きなコントラストを生じ、さらにディスプレイ時
の残像の原因となるスイッチング時(マルチプレクシン
グ駆動時)のちらつきと光学応答遅れを生じない配向状
態が達成された。
した特定のポリイミド配向膜による配向方法を用いるこ
とによって、明状態と暗状態での大きな光学的コントラ
ストを示し、特に、米国特許第4,655,561号な
どに開示のマルチプレクシング駆動時の非選択画素に対
して大きなコントラストを生じ、さらにディスプレイ時
の残像の原因となるスイッチング時(マルチプレクシン
グ駆動時)のちらつきと光学応答遅れを生じない配向状
態が達成された。
【0019】本発明で用いるポリイミド配向膜は、カル
ボン酸無水物とフッ素含有ジアミンを縮合反応させるこ
とによって合成されるポリアミド酸を加熱閉環すること
によって得られる。
ボン酸無水物とフッ素含有ジアミンを縮合反応させるこ
とによって合成されるポリアミド酸を加熱閉環すること
によって得られる。
【0020】上記ジアミンとして例えば
【0021】
【化7】 を用いることができる。
【0022】またカルボン酸無水物としては
【0023】
【化8】 を用いることができる。
【0024】本発明で用いられるジアミン成分が長鎖フ
ルオロアルキル基を有するポリイミドは例えば、
ルオロアルキル基を有するポリイミドは例えば、
【0025】
【化9】
【0026】
【化10】
【0027】
【化11】 を用いることができる。
【0028】中でもジアミン成分が長鎖フルオロアルキ
ル基を側鎖として有するものが好ましく、更に好ましく
は該長鎖フルオロアルキル基が下記一般式
ル基を側鎖として有するものが好ましく、更に好ましく
は該長鎖フルオロアルキル基が下記一般式
【0029】
【化12】 (式中、mは3〜10の整数、nは0又は1〜3の整数
である。)で示されるものが望ましい。
である。)で示されるものが望ましい。
【0030】本発明で用いるポリイミド膜を基板上に設
ける際には、ポリイミドの前駆体であるポリアミド酸を
ジメチルフォルムアミド、ジメチルアセトアミド、ジメ
チルスルフォキシド、N−メチルピロリドンなどの溶剤
に溶解して0.01〜40重量%溶液として、該溶液を
スピンナー塗布法、スプレイ塗布法、ロール塗布法など
により基板上に塗布した後、100〜350℃、好まし
くは200〜300℃の温度で加熱して脱水閉環させて
ポリイミド膜を形成することができる。このポリイミド
膜は、しかる後に布などでラビング処理される。又、本
発明で用いるポリイミド膜は30Å〜1μm程度、好ま
しくは200Å〜2000Åの膜厚に設定される。この
際には、図1に示す絶縁膜13aと13bの使用を省略
することができる。また、本発明では、絶縁膜13aと
13bの上にポリイミド膜を設ける際には、このポリイ
ミド膜の膜厚は200Å以下、好ましくは100Å以下
に設定することができる。
ける際には、ポリイミドの前駆体であるポリアミド酸を
ジメチルフォルムアミド、ジメチルアセトアミド、ジメ
チルスルフォキシド、N−メチルピロリドンなどの溶剤
に溶解して0.01〜40重量%溶液として、該溶液を
スピンナー塗布法、スプレイ塗布法、ロール塗布法など
により基板上に塗布した後、100〜350℃、好まし
くは200〜300℃の温度で加熱して脱水閉環させて
ポリイミド膜を形成することができる。このポリイミド
膜は、しかる後に布などでラビング処理される。又、本
発明で用いるポリイミド膜は30Å〜1μm程度、好ま
しくは200Å〜2000Åの膜厚に設定される。この
際には、図1に示す絶縁膜13aと13bの使用を省略
することができる。また、本発明では、絶縁膜13aと
13bの上にポリイミド膜を設ける際には、このポリイ
ミド膜の膜厚は200Å以下、好ましくは100Å以下
に設定することができる。
【0031】本発明の好ましい具体例では、ポリイミド
配向膜は、フッ素含有カルボン酸無水物とジアミンとを
縮合反応させることによって合成されるポリアミド酸を
加熱閉環することによって得られる。
配向膜は、フッ素含有カルボン酸無水物とジアミンとを
縮合反応させることによって合成されるポリアミド酸を
加熱閉環することによって得られる。
【0032】中でもカルボン酸成分が長鎖フルオロアル
キル基を側鎖として有するものが好ましく、更に好まし
くは該長鎖フルオロアルキル基が下記一般式
キル基を側鎖として有するものが好ましく、更に好まし
くは該長鎖フルオロアルキル基が下記一般式
【0033】
【化13】 (式中、mは3〜10の整数、nは0又は1〜3の整数
である。)で示されるものが望ましい。
である。)で示されるものが望ましい。
【0034】長鎖フルオロアルキル基を有するカルボン
酸無水物として、例えば
酸無水物として、例えば
【0035】
【化14】 を用いることができる。またジアミンとしては
【0036】
【化15】 を用いることができる。
【0037】また、本発明で用いるポリイミド膜は、カ
ルボン酸無水物とジアミンとフルオロアルキルアミンと
の縮合反応によって合成されたポリアミド酸を加熱開環
することによって得たポリアミドイミドとすることがで
きる。この場合、カルボン酸無水物は例えば、
ルボン酸無水物とジアミンとフルオロアルキルアミンと
の縮合反応によって合成されたポリアミド酸を加熱開環
することによって得たポリアミドイミドとすることがで
きる。この場合、カルボン酸無水物は例えば、
【0038】
【化16】 等を用いることができる。
【0039】フルオロアルキルアミンは、 C3 F7 CH2 NH2 C6 F13CH2 NH2 C7 F15CH2 NH2 C8 F17CH2 NH2 C5 F11CH2 CH2 NH2 C10F21CH2 NH2 等を用いることができる。
【0040】本発明で用いられるポリイミド又はポリア
ミドは例えば、
ミドは例えば、
【0041】
【化17】
【0042】
【化18】
【0043】
【化19】
【0044】
【化20】 を用いることができる。
【0045】本発明で用いるポリイミド又はポリアミド
膜を基板上に設ける際には、ポリイミドの前駆体である
ポリアミド酸をジメチルフォルムアミド、ジメチルアセ
トアミド、ジメチルスルフォキシド、N−メチルピロリ
ドンなどの溶剤に溶解して0.01〜40重量%溶液と
して、該溶液をスピンナー塗布法、スプレイ塗布法、ロ
ール塗布法などにより基板上に塗布した後、100〜3
50℃、好ましくは200〜300℃の温度で加熱して
脱水閉環させてポリイミド膜を形成することができる。
このポリイミド膜は、しかる後に布などでラビング処理
される。又、本発明で用いるポリイミド膜は30Å〜1
μm程度、好ましくは200Å〜2000Åの膜厚に設
定される。この際には、図1に示す絶縁膜13aと13
bの使用を省略することができる。また、本発明では、
絶縁膜13aと13bの上にポリイミド膜を設ける際に
は、このポリイミド膜の膜厚は200Å以下、好ましく
は100Å以下に設定することができる。
膜を基板上に設ける際には、ポリイミドの前駆体である
ポリアミド酸をジメチルフォルムアミド、ジメチルアセ
トアミド、ジメチルスルフォキシド、N−メチルピロリ
ドンなどの溶剤に溶解して0.01〜40重量%溶液と
して、該溶液をスピンナー塗布法、スプレイ塗布法、ロ
ール塗布法などにより基板上に塗布した後、100〜3
50℃、好ましくは200〜300℃の温度で加熱して
脱水閉環させてポリイミド膜を形成することができる。
このポリイミド膜は、しかる後に布などでラビング処理
される。又、本発明で用いるポリイミド膜は30Å〜1
μm程度、好ましくは200Å〜2000Åの膜厚に設
定される。この際には、図1に示す絶縁膜13aと13
bの使用を省略することができる。また、本発明では、
絶縁膜13aと13bの上にポリイミド膜を設ける際に
は、このポリイミド膜の膜厚は200Å以下、好ましく
は100Å以下に設定することができる。
【0046】本発明で用いる液晶物質としては、降温過
程で等方相、コレステリック相、スメクチックA相を通
してカイラルスメクチックC相を生じる液晶が好まし
い。特に、コレステリック相の時のピッチが0.8μm
以上のものが好ましい(コレステリック相でのピッチ
は、コレステリック相の温度範囲における中央点で測定
したもの)。具体的な液晶としては、下記液晶物質「L
C−1」、「80B」及び「80SI* 」を下記比率で
含有させた液晶組成物が好ましく用いられる。
程で等方相、コレステリック相、スメクチックA相を通
してカイラルスメクチックC相を生じる液晶が好まし
い。特に、コレステリック相の時のピッチが0.8μm
以上のものが好ましい(コレステリック相でのピッチ
は、コレステリック相の温度範囲における中央点で測定
したもの)。具体的な液晶としては、下記液晶物質「L
C−1」、「80B」及び「80SI* 」を下記比率で
含有させた液晶組成物が好ましく用いられる。
【0047】上述のモノアミンとジアミンとの使用量比
は、重量比で、モノアミン:ジアミン=1:99〜9
9:1、好ましくは10:90〜90:10、特に2
0:80〜80:20とするのがよい。また、本発明で
用いたポリイミド又はポリアミドイミドの分子量は、1
0,000〜100,000、好ましくは30,000
〜80,000とするのがよい。
は、重量比で、モノアミン:ジアミン=1:99〜9
9:1、好ましくは10:90〜90:10、特に2
0:80〜80:20とするのがよい。また、本発明で
用いたポリイミド又はポリアミドイミドの分子量は、1
0,000〜100,000、好ましくは30,000
〜80,000とするのがよい。
【0048】
【化21】 液晶 (イ) (LC−1)90/(80B)10 (ロ) (LC−1)80/(80B)20 (ハ) (LC−1)70/(80B)30 (ニ) (LC−1)60/(80B)40 (ホ) 80SI* (表中の添字は、それぞれ重量比を表わしている。) 図2(a)は、強誘電性液晶の動作説明のために、セル
の例を模式的に描いたものである。21aと21bは、
In2 O2 、SnO2 或いはITO等の薄膜からなる透
明電極で被覆された基板(ガラス板)であり、その間に
複数の液晶分子の長軸で組織した複数の液晶分子層22
がガラス面に垂直になるよう配向したSmC* (カイラ
ルスメクチックC)相又はSmH* (カイラルスメクチ
ックH)相の液晶が封入されている。太線で示した線2
3が液晶分子を表わしており、この液晶分子23はその
分子に直交した方向に双極子モーメント24を有してい
る。基板21aと21b上の電極間に一定の閾値以上の
電圧を印加すると、液晶分子23のらせん構造がほど
け、双極子モーメント24が全て電界方向に向くよう、
液晶分子23は配向方向を変えることができる。液晶分
子23は、細長い形状を有しており、その長軸方向と短
軸方向で屈折率異方性を示し、従って例えばガラス面の
上下に互いにクロスニコルの偏光子を置けば、電圧印加
極性によって光学特性が変わる液晶光学変調素子となる
ことは、容易に理解される。
の例を模式的に描いたものである。21aと21bは、
In2 O2 、SnO2 或いはITO等の薄膜からなる透
明電極で被覆された基板(ガラス板)であり、その間に
複数の液晶分子の長軸で組織した複数の液晶分子層22
がガラス面に垂直になるよう配向したSmC* (カイラ
ルスメクチックC)相又はSmH* (カイラルスメクチ
ックH)相の液晶が封入されている。太線で示した線2
3が液晶分子を表わしており、この液晶分子23はその
分子に直交した方向に双極子モーメント24を有してい
る。基板21aと21b上の電極間に一定の閾値以上の
電圧を印加すると、液晶分子23のらせん構造がほど
け、双極子モーメント24が全て電界方向に向くよう、
液晶分子23は配向方向を変えることができる。液晶分
子23は、細長い形状を有しており、その長軸方向と短
軸方向で屈折率異方性を示し、従って例えばガラス面の
上下に互いにクロスニコルの偏光子を置けば、電圧印加
極性によって光学特性が変わる液晶光学変調素子となる
ことは、容易に理解される。
【0049】本発明の液晶素子で用いる双安定性配向状
態の表面安定型強誘電性液晶セルは、その厚さを充分に
薄く(例えば0.1μm〜3μm)することができる。
このように液晶層が薄くなるに従い、図2(b)に示す
ように電界を印加していない状態でも液晶分子のらせん
構造がほどけ、非らせん構造となり、その双極子モーメ
ントは上向き(34a)、又は下向き(34b)のどち
らかの状態をとる。このようなセルに、図2(b)に示
す如く一定の閾値以上の極性の異なる電界Ea又はEb
を電圧印加手段31aと31bにより付与すると、双極
子モーメントは、電界Ea又はEbの電界ベクトルに対
応して上向き34a、又は下向き34bと向きを変え、
それに応じて液晶分子は、第1の安定状態33a或いは
第2の安定状態33bの何れか一方に配向する。
態の表面安定型強誘電性液晶セルは、その厚さを充分に
薄く(例えば0.1μm〜3μm)することができる。
このように液晶層が薄くなるに従い、図2(b)に示す
ように電界を印加していない状態でも液晶分子のらせん
構造がほどけ、非らせん構造となり、その双極子モーメ
ントは上向き(34a)、又は下向き(34b)のどち
らかの状態をとる。このようなセルに、図2(b)に示
す如く一定の閾値以上の極性の異なる電界Ea又はEb
を電圧印加手段31aと31bにより付与すると、双極
子モーメントは、電界Ea又はEbの電界ベクトルに対
応して上向き34a、又は下向き34bと向きを変え、
それに応じて液晶分子は、第1の安定状態33a或いは
第2の安定状態33bの何れか一方に配向する。
【0050】この強誘電性液晶セルによって得られる効
果は、その第1に、応答速度が極めて速いことであり、
第2に液晶分子の配向が双安定性を有することである。
第2の点を、例えば図2(b)によって更に説明する
と、電界Eaを印加すると液晶分子は第1の安定状態3
3aに配向するが、この状態は電界を切っても安定であ
る。また、逆向きの電界Ebを印加すると、液晶分子は
第2の安定状態33bに配向してその分子の向きを変え
るが、やはり電界を切ってもこの状態に留っている。ま
た、与える電界Eaが一定の閾値を超えない限り、それ
ぞれの配向状態にやはり維持されている。
果は、その第1に、応答速度が極めて速いことであり、
第2に液晶分子の配向が双安定性を有することである。
第2の点を、例えば図2(b)によって更に説明する
と、電界Eaを印加すると液晶分子は第1の安定状態3
3aに配向するが、この状態は電界を切っても安定であ
る。また、逆向きの電界Ebを印加すると、液晶分子は
第2の安定状態33bに配向してその分子の向きを変え
るが、やはり電界を切ってもこの状態に留っている。ま
た、与える電界Eaが一定の閾値を超えない限り、それ
ぞれの配向状態にやはり維持されている。
【0051】図3は、本発明の液晶素子の液晶分子の配
向状態を模式的に明らかにした断面図である。
向状態を模式的に明らかにした断面図である。
【0052】図3に示す41a及び41bは、それぞれ
上基板及び下基板を表わしている。40は液晶分子42
で組織された分子層で、液晶分子42が円錐43の底面
44(円形)に沿った位置を変化させて配列している。
上基板及び下基板を表わしている。40は液晶分子42
で組織された分子層で、液晶分子42が円錐43の底面
44(円形)に沿った位置を変化させて配列している。
【0053】図4は、図3のC−ダイレクタを示す図で
ある。図4のU1 は一方の安定配向状態でのC−ダイレ
クタ45で、U2 は他方の安定配向状態でのC−ダイレ
クタ45である。C−ダイレクタ45は、図3に示す分
子層40の法線に対して垂直な仮想面への分子長軸の写
影である。
ある。図4のU1 は一方の安定配向状態でのC−ダイレ
クタ45で、U2 は他方の安定配向状態でのC−ダイレ
クタ45である。C−ダイレクタ45は、図3に示す分
子層40の法線に対して垂直な仮想面への分子長軸の写
影である。
【0054】一方、従来のラビング処理したポリイミド
膜によって生じた配向状態は、図5のC−ダイレクタ図
によって示される。図5に示す配向状態は、上基板41
aから下基板41bに向けて分子軸のねじれが大きいた
め、チルト角θは小さくなっている。
膜によって生じた配向状態は、図5のC−ダイレクタ図
によって示される。図5に示す配向状態は、上基板41
aから下基板41bに向けて分子軸のねじれが大きいた
め、チルト角θは小さくなっている。
【0055】図6(a)は、C−ダイレクタ45が図4
の状態(ユニフォーム配向状態という)でのチルト角θ
を示すための平面図で、図6(b)はC−ダイレクタ4
5が図5の状態(スプレイ配向状態という)でのチルト
角θを示すための平面図である。図中、60は前述した
本発明の特定ポリイミド膜に施したラビング処理軸を示
し、61aは配向状態U1 での平均分子軸、61bは配
向状態U2 での平均分子軸、62aは配向状態S1 での
平均分子軸、62bは配向状態S2 での平均分子軸を示
す。平均分子軸61aと61bとは、互いに閾値電圧を
超えた逆極性電圧の印加によって変換することができ
る。同様のことは平均分子軸62aと62bとの間でも
生じる。
の状態(ユニフォーム配向状態という)でのチルト角θ
を示すための平面図で、図6(b)はC−ダイレクタ4
5が図5の状態(スプレイ配向状態という)でのチルト
角θを示すための平面図である。図中、60は前述した
本発明の特定ポリイミド膜に施したラビング処理軸を示
し、61aは配向状態U1 での平均分子軸、61bは配
向状態U2 での平均分子軸、62aは配向状態S1 での
平均分子軸、62bは配向状態S2 での平均分子軸を示
す。平均分子軸61aと61bとは、互いに閾値電圧を
超えた逆極性電圧の印加によって変換することができ
る。同様のことは平均分子軸62aと62bとの間でも
生じる。
【0056】次に、逆電界Vrev による光学応答の遅れ
(残像)に対するユニフォーム配向状態の有用性につい
て説明する。
(残像)に対するユニフォーム配向状態の有用性につい
て説明する。
【0057】液晶セルの絶縁層(配向制御膜)の容量C
i、液晶層の容量をCLC及び液晶の自発分極をPsとす
ると、残像の原因となるVrev は、下式で表わされる。
i、液晶層の容量をCLC及び液晶の自発分極をPsとす
ると、残像の原因となるVrev は、下式で表わされる。
【0058】Vrev =2・Ps/(Ci+CLC) 図7は、液晶セル内の電荷の分布、Psの方向及び逆電
界の方向を模式的に示した断面図である。図7(a)
は、パルス電界印加前のメモリー状態下における正及び
負電荷の分布状態を示し、この時の自発分極Psの向き
は正電荷から負電荷の方向である。図7(b)は、パル
ス電界解除直後の自発分極Psの向きが図7(a)の時
の向きに対して逆向き(従って、液晶分子は一方の安定
配向状態から他方の安定配向状態に反転を生じている)
であるが、正及び負電荷の分布状態は、図7(a)の時
と同様であるため、液晶内に逆電界Vrev が矢印方向に
生じている。この逆電界Vrev は、しばらくした後、図
7(c)に示す様に消滅し、正及び負電荷の分布状態が
変化する。
界の方向を模式的に示した断面図である。図7(a)
は、パルス電界印加前のメモリー状態下における正及び
負電荷の分布状態を示し、この時の自発分極Psの向き
は正電荷から負電荷の方向である。図7(b)は、パル
ス電界解除直後の自発分極Psの向きが図7(a)の時
の向きに対して逆向き(従って、液晶分子は一方の安定
配向状態から他方の安定配向状態に反転を生じている)
であるが、正及び負電荷の分布状態は、図7(a)の時
と同様であるため、液晶内に逆電界Vrev が矢印方向に
生じている。この逆電界Vrev は、しばらくした後、図
7(c)に示す様に消滅し、正及び負電荷の分布状態が
変化する。
【0059】図8は従来のポリイミド配向膜によって生
じたスプレイ配向状態の光学応答の変化をチルト角θの
変化に換えて示したものである。図8によれば、パルス
電界印加時、印標X1 の方向に沿ってスプレイ配向状態
下の平均分子軸S(A)から最大チルト角Θ付近のユニ
フォーム配向状態下の平均分子軸U2 までオーバーシュ
ートし、パルス電界解除直後においては、図7(b)に
示す逆電界Vrev の作用が働いて、矢標X2 の方向に沿
ってスプレイ配向状態下の平均分子軸S(B)までチル
ト角θが減少し、そして図7(c)に示す逆電界Vrev
の減衰の作用により、矢標X3 の方向に沿ってスプレイ
配向状態下の平均分子軸S(C)までチルト角θが若干
増大した安定配向状態が得られる。この時の光学応答は
図10で明らかにされている。
じたスプレイ配向状態の光学応答の変化をチルト角θの
変化に換えて示したものである。図8によれば、パルス
電界印加時、印標X1 の方向に沿ってスプレイ配向状態
下の平均分子軸S(A)から最大チルト角Θ付近のユニ
フォーム配向状態下の平均分子軸U2 までオーバーシュ
ートし、パルス電界解除直後においては、図7(b)に
示す逆電界Vrev の作用が働いて、矢標X2 の方向に沿
ってスプレイ配向状態下の平均分子軸S(B)までチル
ト角θが減少し、そして図7(c)に示す逆電界Vrev
の減衰の作用により、矢標X3 の方向に沿ってスプレイ
配向状態下の平均分子軸S(C)までチルト角θが若干
増大した安定配向状態が得られる。この時の光学応答は
図10で明らかにされている。
【0060】本発明によれば、前述したフッ素原子含有
のポリイミド膜を用いたことによって得た配向状態で
は、図8に示したスプレイ状態下の平均分子軸S
(A),S(B)及びS(C)を生じることがなく、従
って最大チルト角Θに近いチルト角θを生じる平均分子
軸に配列させることができる。この時の本発明の光学応
答を図11に示す。図11によれば、残像に原因する光
学応答の遅れを生じないことと、メモリー状態下での高
いコントラストを惹き起していることが判る。
のポリイミド膜を用いたことによって得た配向状態で
は、図8に示したスプレイ状態下の平均分子軸S
(A),S(B)及びS(C)を生じることがなく、従
って最大チルト角Θに近いチルト角θを生じる平均分子
軸に配列させることができる。この時の本発明の光学応
答を図11に示す。図11によれば、残像に原因する光
学応答の遅れを生じないことと、メモリー状態下での高
いコントラストを惹き起していることが判る。
【0061】
実施例1 1000Å厚のITO膜が設けられている1.1mm厚
のガラス板を2枚用意し、それぞれのガラス板上に下式
で示すポリアミド酸のN−メチルピロリドン/n−ブチ
ルセロゾルブ=2/1の3.0重量%溶液を回転数30
00rpmで塗布を行なった。
のガラス板を2枚用意し、それぞれのガラス板上に下式
で示すポリアミド酸のN−メチルピロリドン/n−ブチ
ルセロゾルブ=2/1の3.0重量%溶液を回転数30
00rpmで塗布を行なった。
【0062】
【化22】 その後250℃で約1時間加熱焼成処理を施した。この
時の膜厚は400Åであった。この塗布膜にナイロン触
毛布による一方向のラビング処理を行なった。
時の膜厚は400Åであった。この塗布膜にナイロン触
毛布による一方向のラビング処理を行なった。
【0063】その後、平均粒径約1.5μmのアルミナ
ビーズを一方のガラス板上に散布した後、それぞれのラ
ビング軸が互いに平行で同一方向となるように2枚のガ
ラス板を重ね合わせてセルを作成した。
ビーズを一方のガラス板上に散布した後、それぞれのラ
ビング軸が互いに平行で同一方向となるように2枚のガ
ラス板を重ね合わせてセルを作成した。
【0064】このセル内にチッソ(株)社製の強誘電性
スメクチック液晶である「CS−1014」(商品名)
を等方相下で真空注入してから、等方相から0.5℃/
hで30℃まで徐冷することによって配向させることが
できた。この「CS−1014」を用いた本実施例のセ
ルでの相変化は下記の通りであった。
スメクチック液晶である「CS−1014」(商品名)
を等方相下で真空注入してから、等方相から0.5℃/
hで30℃まで徐冷することによって配向させることが
できた。この「CS−1014」を用いた本実施例のセ
ルでの相変化は下記の通りであった。
【0065】
【数2】 (Iso=等方相 Ch=コレステリック相 SmA
=スメクチックA相SmC* =カイラルスメクチックC
相) 上述の液晶セルを一対の90°クロスニコル偏光子の間
に挟み込んでから、50μsecの30Vパルスを印加
してから90°クロスニコルを消光位(最暗状態)にセ
ットし、この時の透過率をホトマルチプレターにより測
定し、続いて50μsecの−30Vパルスを印加し、
この時の透過率(明状態)を同様の方法で測定したとこ
ろ、チルト角θは15°であり、最暗状態時の透過率は
1.8%で、明状態時の透過率は36%であり、従って
コントラスト比は20:1であった。
=スメクチックA相SmC* =カイラルスメクチックC
相) 上述の液晶セルを一対の90°クロスニコル偏光子の間
に挟み込んでから、50μsecの30Vパルスを印加
してから90°クロスニコルを消光位(最暗状態)にセ
ットし、この時の透過率をホトマルチプレターにより測
定し、続いて50μsecの−30Vパルスを印加し、
この時の透過率(明状態)を同様の方法で測定したとこ
ろ、チルト角θは15°であり、最暗状態時の透過率は
1.8%で、明状態時の透過率は36%であり、従って
コントラスト比は20:1であった。
【0066】また、目視によりそのちらつき度を観測し
た。ホトマルチプレターによりオーバーシュートを測定
したところ、図13(a)のようにオーバーシュートは
少なく目視においてもほとんど気にならなかった。
た。ホトマルチプレターによりオーバーシュートを測定
したところ、図13(a)のようにオーバーシュートは
少なく目視においてもほとんど気にならなかった。
【0067】残像の原因となる光学応答の遅れは0.2
秒以下であった。
秒以下であった。
【0068】この液晶セルを図12に示す駆動波形を用
いたマルチプレクシング駆動による表示を行ったとこ
ろ、高コントラストな高品位表示が得られ、また所定の
文字入力による画像表示の後に全画面を白の状態に消去
したところ、残像の発生は判読できなかった。尚、図1
2のSN ,SN+1 ,SN+2 は走査線に印加した電圧波形
を表わしており、Iは体表的な情報線に印加した電圧波
形を表わしている。(I−SN )は情報線Iと走査線S
N との交差部に印加された合成波形である。また、本
実施例では、V0 =5V〜8V,ΔT=20μsec〜
70μsecで行った。
いたマルチプレクシング駆動による表示を行ったとこ
ろ、高コントラストな高品位表示が得られ、また所定の
文字入力による画像表示の後に全画面を白の状態に消去
したところ、残像の発生は判読できなかった。尚、図1
2のSN ,SN+1 ,SN+2 は走査線に印加した電圧波形
を表わしており、Iは体表的な情報線に印加した電圧波
形を表わしている。(I−SN )は情報線Iと走査線S
N との交差部に印加された合成波形である。また、本
実施例では、V0 =5V〜8V,ΔT=20μsec〜
70μsecで行った。
【0069】実施例2〜5 表1に示した配向制御膜及び液晶材料を用いた他は実施
例1と同様にしてセルを得た。
例1と同様にしてセルを得た。
【0070】それぞれに対して実施例1と同様の試験を
行った。
行った。
【0071】コントラスト比及び光学応答の遅れ時間の
結果を表2に示す。
結果を表2に示す。
【0072】また、実施例1と同様のマルチプレクシン
グ駆動による表示を行ったところ、コントラスト及び残
像については実施例1と同様の結果が得られた。
グ駆動による表示を行ったところ、コントラスト及び残
像については実施例1と同様の結果が得られた。
【0073】
【表1】
【0074】
【表2】 比較例1〜4 表3に示した配向制御膜及び液晶材料を用いた他は、実
施例1と全く同様にしてセルを作成した。
施例1と全く同様にしてセルを作成した。
【0075】それぞれのセルに対してコントラスト比及
びちらつき、光学応答の遅れを表4に示した。
びちらつき、光学応答の遅れを表4に示した。
【0076】また実施例1と同様のマルチプレクシング
駆動による表示を行なったところコントラストが本実施
例のものと比較して小さく残像が生じた。また、比較例
1についてホトマルチプレターによりオーバーシュート
の測定を行ったところ、図13(b)に示すように大き
く、白,黒のコントラストも低かった。
駆動による表示を行なったところコントラストが本実施
例のものと比較して小さく残像が生じた。また、比較例
1についてホトマルチプレターによりオーバーシュート
の測定を行ったところ、図13(b)に示すように大き
く、白,黒のコントラストも低かった。
【0077】
【表3】
【0078】
【表4】 実施例6 1000Å厚のITO膜が設けられている1.1mm厚
のガラス板を2枚用意し、それぞれのガラス板上に下式
で示すポリアミド酸のN−メチルピロリドン/n−ブチ
ルセロゾルブ=2/1の3.0重量%溶液を回転数30
00rpmで塗布を行なった。
のガラス板を2枚用意し、それぞれのガラス板上に下式
で示すポリアミド酸のN−メチルピロリドン/n−ブチ
ルセロゾルブ=2/1の3.0重量%溶液を回転数30
00rpmで塗布を行なった。
【0079】
【化23】 その後250℃で約1時間加熱焼成処理を施した。この
時の膜厚は400Åであった。この塗布膜にナイロン触
毛布による一方向のラビング処理を行なった。
時の膜厚は400Åであった。この塗布膜にナイロン触
毛布による一方向のラビング処理を行なった。
【0080】その後、平均粒径約1.5μmのアルミナ
ビーズを一方のガラス板上に散布した後、それぞれのラ
ビング軸が互いに平行で同一方向となるように2枚のガ
ラス板を重ね合わせてセルを作成した。
ビーズを一方のガラス板上に散布した後、それぞれのラ
ビング軸が互いに平行で同一方向となるように2枚のガ
ラス板を重ね合わせてセルを作成した。
【0081】このセル内にチッソ(株)社製の強誘電性
スメクチック液晶である「CS−1014」(商品名)
を等方相下で真空注入してから、等方相から0.5℃/
hで30℃まで徐冷することによって配向させることが
できた。この「CS−1014」を用いた本実施例のセ
ルでの相変化は下記の通りであった。
スメクチック液晶である「CS−1014」(商品名)
を等方相下で真空注入してから、等方相から0.5℃/
hで30℃まで徐冷することによって配向させることが
できた。この「CS−1014」を用いた本実施例のセ
ルでの相変化は下記の通りであった。
【0082】
【数3】 (Iso=等方相 Ch=コレステリック相 SmA
=スメクチックA相SmC* =カイラルスメクチックC
相) 上述の液晶セルを一対の90°クロスニコル偏光子の間
に挟み込んでから、50μsecの30Vパルスを印加
してから90°クロスニコルを消光位(最暗状態)にセ
ットし、この時の透過率をホトマルチプレターにより測
定し、続いて50μsecの−30Vパルスを印加し、
この時の透過率(明状態)を同様の方法で測定したとこ
ろ、チルト角θは15°であり、最暗状態時の透過率は
1.8%で、明状態時の透過率は36%であり、従って
コントラスト比は20:1であった。
=スメクチックA相SmC* =カイラルスメクチックC
相) 上述の液晶セルを一対の90°クロスニコル偏光子の間
に挟み込んでから、50μsecの30Vパルスを印加
してから90°クロスニコルを消光位(最暗状態)にセ
ットし、この時の透過率をホトマルチプレターにより測
定し、続いて50μsecの−30Vパルスを印加し、
この時の透過率(明状態)を同様の方法で測定したとこ
ろ、チルト角θは15°であり、最暗状態時の透過率は
1.8%で、明状態時の透過率は36%であり、従って
コントラスト比は20:1であった。
【0083】また、目視によりそのちらつき度を観測し
た。ホトマルチプレターによりオーバーシュートを測定
したところ、図13(a)のようにオーバーシュートは
少なく目視においてもほとんど気にならなかった。
た。ホトマルチプレターによりオーバーシュートを測定
したところ、図13(a)のようにオーバーシュートは
少なく目視においてもほとんど気にならなかった。
【0084】残像の原因となる光学応答の遅れは0.2
秒以下であった。
秒以下であった。
【0085】この液晶セルを図12に示す駆動波形を用
いたマルチプレクシング駆動による表示を行ったとこ
ろ、高コントラストな高品位表示が得られ、また所定の
文字入力による画像表示の後に全画面を白の状態に消去
したところ、残像の発生は判読できなかった。尚、図1
2のSN ,SN+1 ,SN+2 は走査線に印加した電圧波形
を表わしており、Iは代表的な情報線に印加した電圧波
形を表わしている。(I−SN )は情報線Iと走査線S
N との交差部に印加された合成波形である。また、本実
施例では、V0 =5V〜8V,ΔT=20μsec〜7
0μsecで行った。
いたマルチプレクシング駆動による表示を行ったとこ
ろ、高コントラストな高品位表示が得られ、また所定の
文字入力による画像表示の後に全画面を白の状態に消去
したところ、残像の発生は判読できなかった。尚、図1
2のSN ,SN+1 ,SN+2 は走査線に印加した電圧波形
を表わしており、Iは代表的な情報線に印加した電圧波
形を表わしている。(I−SN )は情報線Iと走査線S
N との交差部に印加された合成波形である。また、本実
施例では、V0 =5V〜8V,ΔT=20μsec〜7
0μsecで行った。
【0086】実施例7 2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニ
ル]プロパン,C10F21CH2 NH2 及び3,3’,
4,4’−テトラカルボキシビフェニル2無水物をN−
メチルピロリドン(NMP)400g中室温で6時間反
応させてポリアミック酸前駆体溶液を調整した。上述の
ジアミン、モノアミン及び酸無水物のそれぞれの使用量
比は重量比でジアミン:モノアミン:酸無水物=10
0:10:100とした。(下式)
ル]プロパン,C10F21CH2 NH2 及び3,3’,
4,4’−テトラカルボキシビフェニル2無水物をN−
メチルピロリドン(NMP)400g中室温で6時間反
応させてポリアミック酸前駆体溶液を調整した。上述の
ジアミン、モノアミン及び酸無水物のそれぞれの使用量
比は重量比でジアミン:モノアミン:酸無水物=10
0:10:100とした。(下式)
【0087】
【化24】 この後実施例6と同様にしてセルを得た。
【0088】実施例6と同様の試験を行なったところ、
コントラスト20:1、光学応答のおくれ0.2se
c、そしてちらつきについても同様にほとんど気になら
なかった。又、実施例6と同様のマルチプレクシング駆
動による表示を行なったところコントラスト及び残像に
ついては実施例6と同様の結果を得た。
コントラスト20:1、光学応答のおくれ0.2se
c、そしてちらつきについても同様にほとんど気になら
なかった。又、実施例6と同様のマルチプレクシング駆
動による表示を行なったところコントラスト及び残像に
ついては実施例6と同様の結果を得た。
【0089】実施例8〜11 表5に示した配向制御膜及び液晶材料を用いた他は実施
例6と同様にしてセルを得た。
例6と同様にしてセルを得た。
【0090】それぞれに対して実施例6と同様の試験を
行った。
行った。
【0091】コントラスト比及び光学応答の遅れ時間の
結果を表6に示す。
結果を表6に示す。
【0092】また、実施例6と同様のマルチプレクシン
グ駆動による表示を行ったところ、コントラスト及び残
像については実施例6と同様の結果が得られた。
グ駆動による表示を行ったところ、コントラスト及び残
像については実施例6と同様の結果が得られた。
【0093】
【表5】
【0094】
【表6】 比較例5〜8 表7に示した配向制御膜及び液晶材料を用いた他は、実
施例6と全く同様にしてセルを作成した。
施例6と全く同様にしてセルを作成した。
【0095】それぞれのセルに対してコントラスト比及
びちらつき、光学応答の遅れを表8に示した。
びちらつき、光学応答の遅れを表8に示した。
【0096】また実施例6と同様のマルチプレクシング
駆動による表示を行なったところコントラストが本実施
例のものと比較して小さく残像が生じた。また、比較例
5についてホトマルチプレターによりオーバーシュート
の測定を行ったところ、図13(b)に示すように大き
く、白,黒のコントラストも低かった。
駆動による表示を行なったところコントラストが本実施
例のものと比較して小さく残像が生じた。また、比較例
5についてホトマルチプレターによりオーバーシュート
の測定を行ったところ、図13(b)に示すように大き
く、白,黒のコントラストも低かった。
【0097】
【表7】
【0098】
【表8】
【0099】
【発明の効果】本発明の強誘電性液晶素子は明状態と暗
状態でのコントラストが高く、特にマルチプレクシング
駆動時の表示コントラストが非常に大きく高品位の表示
が得られ、しかも目ざわりなちらつきや残像現象がな
く、優れた液晶表示素子、液晶−光シャッターを製造す
ることができる。
状態でのコントラストが高く、特にマルチプレクシング
駆動時の表示コントラストが非常に大きく高品位の表示
が得られ、しかも目ざわりなちらつきや残像現象がな
く、優れた液晶表示素子、液晶−光シャッターを製造す
ることができる。
【図1】本発明の強誘電性液晶素子の一例の断面図であ
る。
る。
【図2】カイラルスメクチック液晶の配向状態を示した
斜視図である。
斜視図である。
【図3】本発明の強誘電性液晶素子の液晶分子の配向状
態を示す断面図である。
態を示す断面図である。
【図4】図3に示した液晶分子のユニフォーム配向状態
におけるC−ダイレクタ図である。
におけるC−ダイレクタ図である。
【図5】図3に示した液晶分子のスプレイ配向状態にお
けるC−ダイレクタ図である。
けるC−ダイレクタ図である。
【図6】ユニフォーム配向状態及びスプレイ配向状態に
おけるチルト角θを示す平面図である。
おけるチルト角θを示す平面図である。
【図7】強誘電性液晶セル内の電荷分布を示す断面図で
ある。
ある。
【図8】電界印加時及び後のチルト角θの変化を示す図
である。
である。
【図9】電界印加時及び後のチルト角θの変化を示す図
である。
である。
【図10】従来例における光学応答特性を示す図であ
る。
る。
【図11】本発明の液晶素子の光学応答特性を示す図で
ある。
ある。
【図12】実施例1及び比較例1についてホトマルチプ
レターにより測定したオーバーシュートを示す図であ
る。
レターにより測定したオーバーシュートを示す図であ
る。
11a,11b 基板 12a,12b 透明電極 13a,13b 絶縁膜 14a,14b 配向制御膜 15 強誘電性スメクチック液晶 16 ビーズスペーサ 17a,17b 偏光板 21a,21b 基板 22 液晶分子層 23 液晶分子 24 双極子モーメント 31a,31b 電圧印加手段 33a 第1の安定状態 33b 第2の安定状態 34a,34b 双極子モーメント 41a 上基板 41b 下基板 42 液晶分子 43 円錐 44 底面 45 C−ダイレクタ 60 ラビング処理軸 61a 配向状態U1 での平均分子軸 61b 配向状態U2 での平均分子軸 62a 配向状態S1 での平均分子軸 62b 配向状態S2 での平均分子軸
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成5年6月4日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】図面の簡単な説明
【補正方法】変更
【補正内容】
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の強誘電性液晶素子の一例の断面図で
ある。
ある。
【図2】 カイラルスメクチック液晶の配向状態を示し
た斜視図である。
た斜視図である。
【図3】 本発明の強誘電性液晶素子の液晶分子の配向
状態を示す断面図である。
状態を示す断面図である。
【図4】 図3に示した液晶分子のユニフォーム配向状
態におけるC−ダイレクタ図である。
態におけるC−ダイレクタ図である。
【図5】 図3に示した液晶分子のスプレイ配向状態に
おけるC−ダイレクタ図である。
おけるC−ダイレクタ図である。
【図6】 ユニフォーム配向状態及びスプレイ配向状態
におけるチルト角θを示す平面図である。
におけるチルト角θを示す平面図である。
【図7】 強誘電性液晶セル内の電荷分布を示す断面図
である。
である。
【図8】 電界印加時及び後のチルト角θの変化を示す
図である。
図である。
【図9】 電界印加時及び後のチルト角θの変化を示す
図である。
図である。
【図10】 従来例における光学応答特性を示す図であ
る。
る。
【図11】 本発明の液晶素子の光学応答特性を示す図
である。
である。
【図12】 実施例1で用いた駆動波形を示す図であ
る。
る。
【図13】 実施例1及び比較例1についてホトマルチ
プレターにより測定したオーバーシュートを示す図であ
る。
プレターにより測定したオーバーシュートを示す図であ
る。
【符号の説明】 11a,11b 基板12a,12b 透明電極 13a,13b 絶縁膜 14a,14b 配向制御膜 15 強誘電性スメクチック液晶 16 ビーズスペーサ 17a,17b 偏光板 21a,21b 基板 22 液晶分子層23 液晶分子 24 双極子モーメント 31a,31b 電圧印加手段 33a 第1の安定状態 33b 第2の安定状態 34a,34b 双極子モーメント 41a 上基板 41b 下基板 42 液晶分子 43 円錐 44 底面 45 C−ダイレクタ 60 ラビング処理 61a 配向状態U1 での平均分子軸 61b 配向状態U2 での平均分子軸 62a 配向状態S1 での平均分子軸 62b 配向状態S2 での平均分子軸
Claims (35)
- 【請求項1】 それぞれに透明電極を設けた一対の基板
のうち少なくとも一方の基板の液晶側に、長鎖フルオロ
アルキル基を側鎖として有するポリイミド配向膜を設け
たことを特徴とする液晶素子。 - 【請求項2】 前記長鎖フルオロアルキル基が下記一般
式(1)で示されることを特徴とする請求項1記載の液
晶素子。 【化1】 (式中、mは3〜10の整数、nは0又は1〜3の整数
である。) - 【請求項3】 前記液晶がカイラルスメクチック液晶で
あることを特徴とする請求項1記載の液晶素子。 - 【請求項4】 それぞれ透明電極を設けた一対の基板の
両方の基板のカイラルスメクチック液晶側に、長鎖フル
オロアルキル基を側鎖として有するポリイミド配向膜を
設け、それぞれのポリイミド配向膜に同一方向で且つ平
行な一軸配向処理軸又は同一方向で且つ2°〜15°の
角度で交差した一軸配向処理軸を付与したことを特徴と
する液晶素子。 - 【請求項5】 前記長鎖フルオロアルキル基が下記一般
式(1)で示されることを特徴とする請求項4記載の液
晶素子。 【化2】 (式中、mは3〜10の整数、nは0又は1〜3の整数
である。) - 【請求項6】 前記カイラルスメクチック液晶が該液晶
を形成する複数の分子長軸で組織した複数の同一形状の
屈曲状の層を配列させてなることを特徴とする請求項4
記載の液晶素子。 - 【請求項7】 前記一軸配向処理膜がラビング処理軸で
あることを特徴とする請求項4記載の液晶素子。 - 【請求項8】 それぞれ透明電極を設けた一対の基板の
両方の基板のカイラルスメクチック液晶側に、長鎖フル
オロアルキル基を側鎖として有するポリイミド配向膜を
設け、それぞれのポリイミド配向膜に反対方向で且つ平
行な一軸配向処理軸又は反対方向で且つ2°〜15°の
角度で交差した一軸配向処理軸を付与したことを特徴と
する液晶素子。 - 【請求項9】 前記フルオロアルキル基が下記一般式
(1)で示されることを特徴とする請求項8記載の液晶
素子。 【化3】 (式中、mは3〜10の整数、nは0又は1〜3の整数
である。) - 【請求項10】 前記カイラルスメクチック液晶が該液
晶を形成する複数の分子長軸で組織された複数の同一形
状の傾斜した層を配列させてなることを特徴とする請求
項8記載の液晶素子。 - 【請求項11】 前記一軸配向処理軸がラビング処理軸
であることを特徴とする請求項8記載の液晶素子。 - 【請求項12】 それぞれ透明電極を設けた一対の基板
のうち、少なくとも一方の基板の液晶側に、ジアミン成
分が長鎖フルオロアルキル基を側鎖として有するポリイ
ミド配向膜を設けたことを特徴とする液晶素子。 - 【請求項13】 前記フルオロアルキル基が下記一般式
(1)で示されることを特徴とする請求項12記載の液
晶素子。 【化4】 (式中、mは3〜10の整数、nは0又は1〜3の整数
である。) - 【請求項14】 前記液晶がカイラルスメクチック液晶
であることを特徴とする請求項12記載の液晶素子。 - 【請求項15】 それぞれ透明電極を設けた一対の基板
の両方の基板のカイラルスメクチック液晶側に、ジアミ
ン成分が長鎖フルオロアルキル基を側鎖として有するポ
リイミド配向膜を設け、それぞれのポリイミド配向膜に
同一方向で且つ平行な一軸配向処理軸又は同一方向で且
つ2°〜15°の角度で交差した一軸配向処理軸を付与
したことを特徴とする液晶素子。 - 【請求項16】 前記カイラルスメクチック液晶が該液
晶を形成する複数の分子長軸で組織した複数の同一形状
の屈曲状の層を配列させてなることを特徴とする請求項
15記載の液晶素子。 - 【請求項17】 前記一軸配向処理軸がラビング処理軸
であることを特徴とする請求項16記載の液晶素子。 - 【請求項18】 それぞれ透明電極を設けた一対の基板
の両方の基板のカイラルスメクチック液晶側に、ジアミ
ン成分が長鎖フルオロアルキル基を側鎖として有するポ
リイミド配向膜を設け、それぞれのポリイミド配向膜に
反対方向で且つ平行な一軸配向処理軸又は反対方向で且
つ2°〜15°の角度で交差した一軸配向処理軸を付与
したことを特徴とする液晶素子。 - 【請求項19】 前記カイラルスメクチック液晶が該液
晶を形成する複数の分子長軸で組織した複数の同一形状
の傾斜した層を配列させてなることを特徴とする請求項
18記載の液晶素子。 - 【請求項20】 前記一軸配向処理軸がラビング処理軸
であることを特徴とする請求項19記載の液晶素子。 - 【請求項21】 それぞれ透明電極を設けた一対の基板
のうち、少なくとも一方の基板の液晶側に、カルボン酸
成分が長鎖フルオロアルキル基を側鎖として有するポリ
イミド配向膜を設けたことを特徴とする液晶素子。 - 【請求項22】 前記フルオロアルキル基が下記一般式
(1)で示されることを特徴とする請求項21記載の液
晶素子。 【化5】 (式中、mは3〜10の整数、nは0又は1〜3の整数
である。) - 【請求項23】 前記液晶がカイラルスメクチック液晶
であることを特徴とする請求項21記載の液晶素子。 - 【請求項24】 それぞれ透明電極を設けた一対の基板
の両方の基板のカイラルスメクチック液晶側に、カルボ
ン酸成分が長鎖フルオロアルキル基を側鎖として有する
ポリイミド配向膜を設け、それぞれのポリイミド配向膜
に同一方向で且つ平行な一軸配向処理軸又は同一方向で
且つ2°〜15°の角度で交差した一軸配向処理軸を付
与したことを特徴とする液晶素子。 - 【請求項25】 前記カイラルスメクチック液晶が該液
晶を形成する複数の分子長軸で組織した複数の同一形状
の屈曲状の層を配列させてなることを特徴とする請求項
24記載の液晶素子。 - 【請求項26】 前記一軸配向処理軸がラビング処理軸
であることを特徴とする請求項24記載の液晶素子。 - 【請求項27】 それぞれ透明電極を設けた一対の基板
の両方の基板のカイラルスメクチック液晶側に、カルボ
ン酸成分が長鎖フルオロアルキル基を側鎖として有する
ポリイミド配向膜を設け、それぞれのポリイミド配向膜
に反対方向で且つ平行な一軸配向処理軸又は反対方向で
且つ2°〜15°の角度で交差した一軸配向処理軸を付
与したことを特徴とする液晶素子。 - 【請求項28】 前記カイラルスメクチック液晶が該液
晶を形成する複数の分子長軸で組織した複数の同一形状
の傾斜した層を配列させてなることを特徴とする請求項
27記載の液晶素子。 - 【請求項29】 前記一軸配向処理軸がラビング処理軸
であることを特徴とする請求項27記載の液晶素子。 - 【請求項30】 それぞれ透明電極を設けた一対の基板
のうち、少なくとも一方の基板の液晶側に、長鎖フルオ
ロアルキル基を有するポリイミド配向膜を設けたことを
特徴とする液晶素子。 - 【請求項31】 前記フルオロアルキル基が下記一般式
(1)で示されることを特徴とする請求項30記載の液
晶素子。 【化6】 (式中、mは3〜10の整数、nは0又は1〜3の整数
である。) - 【請求項32】 それぞれ透明電極を設けた一対の基板
の両方の基板のカイラルスメクチック液晶側に、長鎖フ
ルオロアルキル基を有するポリアミドイミド配向膜を設
け、それぞれのポリアミドイミド配向膜に同一方向で且
つ平行な一軸配向処理軸又は同一方向で且つ2°〜15
°の角度で交差した一軸配向処理軸を付与したことを特
徴とする液晶素子。 - 【請求項33】 前記カイラルスメクチック液晶が該液
晶を形成する複数の分子長軸で組織した複数の同一形状
の屈曲状の層を配列させてなることを特徴とする請求項
32記載の液晶素子。 - 【請求項34】 それぞれ透明電極を設けた一対の基板
の両方の基板のカイラルスメクチック液晶側に、長鎖フ
ルオロアルキル基を有するポリアミドイミド配向膜を設
け、それぞれのポリアミドイミド配向膜に反対方向で且
つ平行な一軸配向処理軸又は反対方向で且つ2°〜15
°の角度で交差した一軸配向処理軸を付与したことを特
徴とする液晶素子。 - 【請求項35】 前記カイラルスメクチック液晶が該液
晶を形成する複数の分子長軸で組織した複数の同一形状
の傾斜した層を配列させてなることを特徴とする請求項
34記載の液晶素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4311127A JP2704814B2 (ja) | 1991-10-30 | 1992-10-28 | 液晶素子 |
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31012691 | 1991-10-30 | ||
JP31012791 | 1991-10-30 | ||
JP3-310127 | 1991-10-30 | ||
JP3-310126 | 1991-10-30 | ||
JP4311127A JP2704814B2 (ja) | 1991-10-30 | 1992-10-28 | 液晶素子 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05346585A true JPH05346585A (ja) | 1993-12-27 |
JP2704814B2 JP2704814B2 (ja) | 1998-01-26 |
Family
ID=27339087
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4311127A Expired - Fee Related JP2704814B2 (ja) | 1991-10-30 | 1992-10-28 | 液晶素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2704814B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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WO2000005621A1 (en) * | 1998-07-22 | 2000-02-03 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Display device |
WO2000070398A1 (en) * | 1999-05-14 | 2000-11-23 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Electro-optic display device with electrically insulating layers |
JP2006134959A (ja) * | 2004-11-02 | 2006-05-25 | Canon Inc | 有機トランジスタおよびその製造方法 |
JP2006278534A (ja) * | 2005-03-28 | 2006-10-12 | Canon Inc | 有機トランジスタおよびその製造方法 |
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JPS62175713A (ja) * | 1986-01-29 | 1987-08-01 | Sanyo Electric Co Ltd | 液晶セル |
JPS63234223A (ja) * | 1987-03-23 | 1988-09-29 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置 |
JPH02296220A (ja) * | 1989-05-11 | 1990-12-06 | Canon Inc | 液晶素子 |
-
1992
- 1992-10-28 JP JP4311127A patent/JP2704814B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
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JP4502382B2 (ja) * | 2004-11-02 | 2010-07-14 | キヤノン株式会社 | 有機トランジスタ |
JP2006278534A (ja) * | 2005-03-28 | 2006-10-12 | Canon Inc | 有機トランジスタおよびその製造方法 |
JP4652866B2 (ja) * | 2005-03-28 | 2011-03-16 | キヤノン株式会社 | 有機トランジスタ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2704814B2 (ja) | 1998-01-26 |
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
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