JPH0513205A - 過電流過電圧保護素子 - Google Patents
過電流過電圧保護素子Info
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- JPH0513205A JPH0513205A JP3193498A JP19349891A JPH0513205A JP H0513205 A JPH0513205 A JP H0513205A JP 3193498 A JP3193498 A JP 3193498A JP 19349891 A JP19349891 A JP 19349891A JP H0513205 A JPH0513205 A JP H0513205A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、過電流過電圧保護素子に関し、ヒ
ューズとバリスタの交換を同時にできるようにすると共
に、その取り付けスペースを小さくすることを目的とす
る。 【構成】 板状のバリスタ素体6の片面に、所定の距離
だけ離して第1の電極7と第2の電極8を設け、裏面に
は第2の電極8と対向する位置に第3の電極9を設け
る。また、第1、第2電極7、8間には、ヒューズ片
(可溶体)10を接続する。この構成で、電極8、9間
にバリスタが構成されるので、ヒューズとバリスタを一
体化した素子となる。
ューズとバリスタの交換を同時にできるようにすると共
に、その取り付けスペースを小さくすることを目的とす
る。 【構成】 板状のバリスタ素体6の片面に、所定の距離
だけ離して第1の電極7と第2の電極8を設け、裏面に
は第2の電極8と対向する位置に第3の電極9を設け
る。また、第1、第2電極7、8間には、ヒューズ片
(可溶体)10を接続する。この構成で、電極8、9間
にバリスタが構成されるので、ヒューズとバリスタを一
体化した素子となる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、過電流過電圧保護素子
に関し、更に詳しく言えば、各種の電気機器、例えば家
庭用の空調機器、暖房機器等に用いられ、特に、ヒュー
ズとバリスタを一体化した過電流過電圧保護素子に関す
る。
に関し、更に詳しく言えば、各種の電気機器、例えば家
庭用の空調機器、暖房機器等に用いられ、特に、ヒュー
ズとバリスタを一体化した過電流過電圧保護素子に関す
る。
【0002】
【従来の技術】図7は従来例の説明図であり、図中、1
はヒューズ、2はバリスタ、3は電源用のプラグ、4は
機器本体を示す。
はヒューズ、2はバリスタ、3は電源用のプラグ、4は
機器本体を示す。
【0003】従来、例えば家庭用の空調機器や暖房機器
等では、AC100Vで使用する機器もあれば、AC2
00Vで使用する機器もあった。このように、使用電圧
の異なる電気機器が多数用いられていると、機器の使用
電圧よりも高い電圧の電源に接続するような間違いも発
生する。
等では、AC100Vで使用する機器もあれば、AC2
00Vで使用する機器もあった。このように、使用電圧
の異なる電気機器が多数用いられていると、機器の使用
電圧よりも高い電圧の電源に接続するような間違いも発
生する。
【0004】例えば、使用電圧がAC100V(または
200V)の機器を、間違ってAC200V(または4
00V)の電源に接続したとすると、機器の破損、ある
いは焼損事故となることがある。
200V)の機器を、間違ってAC200V(または4
00V)の電源に接続したとすると、機器の破損、ある
いは焼損事故となることがある。
【0005】このような事故を防止するため、上記のよ
うな電気機器では、図7に示したような構成にしてい
た。すなわち、機器本体4と電源用のプラグ3との間に
は、過電流保護用のヒューズ1と、過電圧保護用のバリ
スタ2とが設けてあった。
うな電気機器では、図7に示したような構成にしてい
た。すなわち、機器本体4と電源用のプラグ3との間に
は、過電流保護用のヒューズ1と、過電圧保護用のバリ
スタ2とが設けてあった。
【0006】この構成の電気機器では、過電流及び過電
圧に対する保護ができるため、仮りに、本来の使用電圧
よりも高い電圧が印加した場合でも、ヒューズ、バリス
タの破損又は焼損のみで、機器本体4の破損や焼損事故
を防止できるものである。
圧に対する保護ができるため、仮りに、本来の使用電圧
よりも高い電圧が印加した場合でも、ヒューズ、バリス
タの破損又は焼損のみで、機器本体4の破損や焼損事故
を防止できるものである。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上記のような従来のも
のにおいては、次のような課題があった。 (1) 例えば電気機器に過電流が流れたり、あるいは過電
圧が印加した場合、バリスタが大電流をアース側へ流
し、ヒューズやバリスタは、焼損あるいは破壊する。こ
のような場合にはヒューズやバリスタを新品と交換する
必要がある。
のにおいては、次のような課題があった。 (1) 例えば電気機器に過電流が流れたり、あるいは過電
圧が印加した場合、バリスタが大電流をアース側へ流
し、ヒューズやバリスタは、焼損あるいは破壊する。こ
のような場合にはヒューズやバリスタを新品と交換する
必要がある。
【0008】ところで通常の場合、ヒューズに過電流が
流れて焼損したような場合には、バリスタも劣化してい
る場合が多い。このため、ヒューズの交換時にはバリス
タも新品と交換する必要がある。
流れて焼損したような場合には、バリスタも劣化してい
る場合が多い。このため、ヒューズの交換時にはバリス
タも新品と交換する必要がある。
【0009】しかし、ヒューズとバリスタは別々の部品
であるからヒューズだけ新品と交換してバリスタの交換
を忘れることがある。このような場合には、劣化したバ
リスタを使用していることになるので、バリスタの劣化
が除々に進行し遂には熱暴走して機器本体の焼損事故と
つながることもある。
であるからヒューズだけ新品と交換してバリスタの交換
を忘れることがある。このような場合には、劣化したバ
リスタを使用していることになるので、バリスタの劣化
が除々に進行し遂には熱暴走して機器本体の焼損事故と
つながることもある。
【0010】(2) ヒューズとバリスタは別々の部品であ
り、その取り付け場所も異なる。従って、所要スペース
が大きくなり、電気機器の小型化の障害にもなってい
た。本発明は、このような従来の課題を解決し、ヒュー
ズとバリスタの交換を同時にできるようにすると共に、
その取り付けスペースを小さくすることを目的とする。
り、その取り付け場所も異なる。従って、所要スペース
が大きくなり、電気機器の小型化の障害にもなってい
た。本発明は、このような従来の課題を解決し、ヒュー
ズとバリスタの交換を同時にできるようにすると共に、
その取り付けスペースを小さくすることを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理図で
あり、図1Aは過電流過電圧保護素子の断面図、図1B
は前記素子の等価回路である。図中、図7と同符号は同
一のものを示す。また、5は過電流過電圧保護素子、6
はバリスタ素体、7は第1の電極、8は第2の電極、9
は第3の電極を示す。
あり、図1Aは過電流過電圧保護素子の断面図、図1B
は前記素子の等価回路である。図中、図7と同符号は同
一のものを示す。また、5は過電流過電圧保護素子、6
はバリスタ素体、7は第1の電極、8は第2の電極、9
は第3の電極を示す。
【0012】(1) 板状のバリスタ素体6の片面に、所定
の距離だけ離して第1の電極7と第2の電極8を設ける
と共に、バリスタ素体6の他面には、第2の電極8と対
向する位置に第3の電極9を設けて、第2、第3の電極
8、9間にバリスタを構成し、更に、第1、第2の電極
7、8間には、ヒューズ片(可溶体)10を接続するこ
とにより、ヒューズとバリスタを一体化して過電流過電
圧保護素子とした。
の距離だけ離して第1の電極7と第2の電極8を設ける
と共に、バリスタ素体6の他面には、第2の電極8と対
向する位置に第3の電極9を設けて、第2、第3の電極
8、9間にバリスタを構成し、更に、第1、第2の電極
7、8間には、ヒューズ片(可溶体)10を接続するこ
とにより、ヒューズとバリスタを一体化して過電流過電
圧保護素子とした。
【0013】(2) 上記構成(1) において、ヒューズ片1
0を、チップ型ヒューズで構成した。 (3) 上記構成(1) または(2) において、第2の電極8と
第3の電極9との間に位置するバリスタ素体6に、溝を
設けた。 (4) 上記構成(1) 、(2) 、または(3) の各電極7、8、
9に、それぞれリード線を取り付けた。
0を、チップ型ヒューズで構成した。 (3) 上記構成(1) または(2) において、第2の電極8と
第3の電極9との間に位置するバリスタ素体6に、溝を
設けた。 (4) 上記構成(1) 、(2) 、または(3) の各電極7、8、
9に、それぞれリード線を取り付けた。
【0014】(5) 上記構成(1) 、(2) 、または(3) にお
いて、バリスタ素体6の両端部にそれぞれ、バリスタ素
体6の端部を覆い、かつ上面から下面まで延びるよう
に、端部電極を設けると共に、一方の端部電極を、第1
の電極7に接続し、他方の端部電極を第2の電極8に接
続することにより、表面実装型の素子とした。
いて、バリスタ素体6の両端部にそれぞれ、バリスタ素
体6の端部を覆い、かつ上面から下面まで延びるよう
に、端部電極を設けると共に、一方の端部電極を、第1
の電極7に接続し、他方の端部電極を第2の電極8に接
続することにより、表面実装型の素子とした。
【0015】
【作用】上記構成に基づく本発明の作用を、図1を参照
しながら説明する。図1Aに示した素子において、第1
の電極7の位置をa、第2の電極8の位置をb、第3の
電極9の位置をcとすると、過電流過電圧保護素子5の
等価回路は図1Bのようになる。
しながら説明する。図1Aに示した素子において、第1
の電極7の位置をa、第2の電極8の位置をb、第3の
電極9の位置をcとすると、過電流過電圧保護素子5の
等価回路は図1Bのようになる。
【0016】図示のように、aとbの間にはヒューズ1
が接続され、bとcの間には、バリスタ2が接続された
等価回路となる。このようにすれば、ヒューズとバリス
タを一体化した素子が得られる。
が接続され、bとcの間には、バリスタ2が接続された
等価回路となる。このようにすれば、ヒューズとバリス
タを一体化した素子が得られる。
【0017】この素子を、ヒューズとバリスタを必要と
する機器に使用した場合には、1つの素子で過電流保護
と過電圧保護とができると共に、素子5の焼損時、ある
いは破壊時に、ヒューズとバリスタを同時に交換でき
る。また、上記素子5に溝を設けることにより、素子5
の小型化が可能となる。
する機器に使用した場合には、1つの素子で過電流保護
と過電圧保護とができると共に、素子5の焼損時、ある
いは破壊時に、ヒューズとバリスタを同時に交換でき
る。また、上記素子5に溝を設けることにより、素子5
の小型化が可能となる。
【0018】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。 (第1実施例の説明)図2、図3は、本発明の第1実施
例を示した図であり、図2は過電流過電圧保護素子を示
した図、図3はヒューズ片(可溶体)の例である。
する。 (第1実施例の説明)図2、図3は、本発明の第1実施
例を示した図であり、図2は過電流過電圧保護素子を示
した図、図3はヒューズ片(可溶体)の例である。
【0019】図中、図1と同符号は同一のものを示す。
また、11A、11B、11Cはリード線、12はチッ
プ型ヒューズ、13はアルミナ基板、14A、14Bは
端子を示す。
また、11A、11B、11Cはリード線、12はチッ
プ型ヒューズ、13はアルミナ基板、14A、14Bは
端子を示す。
【0020】先ず、第1実施例の過電流過電圧保護素子
を、図2に基づいて説明する。図2Aは平面図、図2B
はX−Y線方向の断面図である。図示のように、板状の
バリスタ素体6の片面には、所定の距離だけ離して第1
の電極7と第2の電極8とを設ける。また、バリスタ素
体6の他面には、第2の電極8と対向する位置に第3の
電極9を設ける。
を、図2に基づいて説明する。図2Aは平面図、図2B
はX−Y線方向の断面図である。図示のように、板状の
バリスタ素体6の片面には、所定の距離だけ離して第1
の電極7と第2の電極8とを設ける。また、バリスタ素
体6の他面には、第2の電極8と対向する位置に第3の
電極9を設ける。
【0021】第2の電極8と第3の電極9は、バリスタ
の電極となるため、両電極は、その大きさをほぼ等しく
する。更に、第1の電極7と第2の電極8との間には、
ヒューズ片(可溶体)10を設け、ヒューズ片10の両
端を前記各電極(7、8)に、半田付け等により接続す
る。
の電極となるため、両電極は、その大きさをほぼ等しく
する。更に、第1の電極7と第2の電極8との間には、
ヒューズ片(可溶体)10を設け、ヒューズ片10の両
端を前記各電極(7、8)に、半田付け等により接続す
る。
【0022】上記の第1、第2、第3電極7、8、9
は、例えば厚膜導体で形成(印刷で形成)する。そし
て、各電極7、8、9にはそれぞれリード線11A、1
1B、11Cを半田付け等により接続する。
は、例えば厚膜導体で形成(印刷で形成)する。そし
て、各電極7、8、9にはそれぞれリード線11A、1
1B、11Cを半田付け等により接続する。
【0023】このようにすれば、第2、第3の電極8、
9間にはバリスタが形成され、その一方の電極である第
2の電極8と第1の電極7との間には、ヒューズ片10
が接続されているので、ヒューズとバリスタが接続され
た素子となる。次に、ヒューズ片(可溶体)の具体例を
図3に基づいて説明する。図3Aはチップ型、図3Bは
板状型、図3Cは線状型を示す。
9間にはバリスタが形成され、その一方の電極である第
2の電極8と第1の電極7との間には、ヒューズ片10
が接続されているので、ヒューズとバリスタが接続され
た素子となる。次に、ヒューズ片(可溶体)の具体例を
図3に基づいて説明する。図3Aはチップ型、図3Bは
板状型、図3Cは線状型を示す。
【0024】チップ型ヒューズ12は、アルミナ基板1
3上にヒューズ片10を設けると共に、該アルミナ基板
13の両端部に端子14A、14Bを設けたものであ
る。このチップ型ヒューズ12を、図2に示した素子に
用いる場合は、例えば端子14Aを、第1の電極7に接
続し、端子14Bを第2の電極8に接続すればよい。
3上にヒューズ片10を設けると共に、該アルミナ基板
13の両端部に端子14A、14Bを設けたものであ
る。このチップ型ヒューズ12を、図2に示した素子に
用いる場合は、例えば端子14Aを、第1の電極7に接
続し、端子14Bを第2の電極8に接続すればよい。
【0025】また、板状型のヒューズ片は図3Bに示し
たように構成されており、線状型のヒューズ片は図3C
に示したように構成されている。これらのヒューズ片を
図2に示した素子に用いる場合は、ヒューズ片10の一
方の端部を第1の電極7に接続し、他方の端部を第2の
電極8に接続すればよい。本実施例の場合、ヒューズ片
10としては、上記のいずれを使用してもよい。また他
のヒューズ片を使用することも可能である。
たように構成されており、線状型のヒューズ片は図3C
に示したように構成されている。これらのヒューズ片を
図2に示した素子に用いる場合は、ヒューズ片10の一
方の端部を第1の電極7に接続し、他方の端部を第2の
電極8に接続すればよい。本実施例の場合、ヒューズ片
10としては、上記のいずれを使用してもよい。また他
のヒューズ片を使用することも可能である。
【0026】(第2実施例の説明)図4は第2実施例の
過電流過電圧保護素子を示した図であり、図4Aは平面
図、図4BはS−T線断面図である。図中、図2と同符
号は同一のものを示す。また、16A、16Bは端部電
極を示す。
過電流過電圧保護素子を示した図であり、図4Aは平面
図、図4BはS−T線断面図である。図中、図2と同符
号は同一のものを示す。また、16A、16Bは端部電
極を示す。
【0027】第2実施例の素子は、表面実装型の素子と
した例である。この例では、第1、第2、第3電極7、
8、9及びヒューズ片10の配置は第1実施例と同じで
あるが、端子部の構成が異なる。
した例である。この例では、第1、第2、第3電極7、
8、9及びヒューズ片10の配置は第1実施例と同じで
あるが、端子部の構成が異なる。
【0028】図示のように、バリスタ素体6の両端部に
は、端部電極16A、16Bを設け、端部電極16Aは
第1電極7に接続し、端部電極16Bは第2電極8に接
続する。ただし、端部電極16Bと第3の電極9との間
は、一定の距離だけ離す必要がある。
は、端部電極16A、16Bを設け、端部電極16Aは
第1電極7に接続し、端部電極16Bは第2電極8に接
続する。ただし、端部電極16Bと第3の電極9との間
は、一定の距離だけ離す必要がある。
【0029】この場合、端部電極16A、16Bは、例
えば厚膜導体で形成(印刷)する。なお、第1の電極7
と端部電極16A、及び第2の電極8と端部電極16B
は、同時に連続して形成すればよいが、この時、バリス
タ素体の端部を覆い、かつ上面から下面まで延びるよう
に形成する。
えば厚膜導体で形成(印刷)する。なお、第1の電極7
と端部電極16A、及び第2の電極8と端部電極16B
は、同時に連続して形成すればよいが、この時、バリス
タ素体の端部を覆い、かつ上面から下面まで延びるよう
に形成する。
【0030】この素子を使用する際は、端部電極16
A、16Bは、両端の端子として用いられ、第3の電極
9は、バリスタ側の端子として用いられる。例えば、マ
ザーボード上へ前記素子を実装する際は、マザーボード
上の配線パターンに、端部電極16A、16B及び第3
の電極9を接続する。
A、16Bは、両端の端子として用いられ、第3の電極
9は、バリスタ側の端子として用いられる。例えば、マ
ザーボード上へ前記素子を実装する際は、マザーボード
上の配線パターンに、端部電極16A、16B及び第3
の電極9を接続する。
【0031】(他の実施例)以上実施例について説明し
たが、本発明は次のようにしても実施可能である。図5
は他の実施例の過電流過電圧保護素子(その1)、図6
は他の実施例の過電流過電圧保護素子(その2)を示し
た図である。図中、図2〜図4と同符号は同一のものを
示す。また、18は溝を示す。
たが、本発明は次のようにしても実施可能である。図5
は他の実施例の過電流過電圧保護素子(その1)、図6
は他の実施例の過電流過電圧保護素子(その2)を示し
た図である。図中、図2〜図4と同符号は同一のものを
示す。また、18は溝を示す。
【0032】〔例1〕・・・図5参照
この例は、図4に示した第2実施例の変形例であり、バ
リスタ素体6の一部に、断面がほぼ半円形の溝18を形
成したものである。溝の形状は半円形でなくとも沿面距
離をかせげるものであればよい。
リスタ素体6の一部に、断面がほぼ半円形の溝18を形
成したものである。溝の形状は半円形でなくとも沿面距
離をかせげるものであればよい。
【0033】この溝18は、第3の電極9と端部電極1
6Bとの間に設ける。この場合、バリスタ素体6の厚み
をd、第3電極9と端部電極16B間の直線距離をxと
すると、両電極間に溝がない場合にはx>dの関係が成
り立つように設計することが必要である。
6Bとの間に設ける。この場合、バリスタ素体6の厚み
をd、第3電極9と端部電極16B間の直線距離をxと
すると、両電極間に溝がない場合にはx>dの関係が成
り立つように設計することが必要である。
【0034】このようにすれば、第3と端部の電極間の
沿面距離を長くできるため、距離xを第2実施例のもの
より短くできる。従って、素子の小型化が実現できるこ
とになる。
沿面距離を長くできるため、距離xを第2実施例のもの
より短くできる。従って、素子の小型化が実現できるこ
とになる。
【0035】〔例2〕・・・図6A参照
この例は、図2に示した例の変形例であり、ヒューズ片
10を厚膜(印刷)で構成した例である。
10を厚膜(印刷)で構成した例である。
【0036】〔例3〕・・・図6C参照
この例は、図4に示した例を変形した例であり、ヒュー
ズ片10を厚膜(印刷)で形成した例である。
ズ片10を厚膜(印刷)で形成した例である。
【0037】〔例4〕上記各実施例の素子5に絶縁性の
樹脂を被せる。この場合、外部端子となる部分(例えば
リード線11A、11B、11C、端部電極16A、1
6B、第3の電極9)を除き、他の全ての部分に樹脂を
被せる。 〔例5〕例えば、図2、図6Bに示した素子では、全体
を絶縁性の樹脂でモールドし、リード線11A、11
B、11Cの先端部分を露出させてもよい。
樹脂を被せる。この場合、外部端子となる部分(例えば
リード線11A、11B、11C、端部電極16A、1
6B、第3の電極9)を除き、他の全ての部分に樹脂を
被せる。 〔例5〕例えば、図2、図6Bに示した素子では、全体
を絶縁性の樹脂でモールドし、リード線11A、11
B、11Cの先端部分を露出させてもよい。
【0038】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば次
のような効果がある。 (1) ヒューズとバリスタを一体化したので、その取り付
けスペースが小さくなる。従って、機器の小型化が可能
となる。
のような効果がある。 (1) ヒューズとバリスタを一体化したので、その取り付
けスペースが小さくなる。従って、機器の小型化が可能
となる。
【0039】(2) ヒューズとバリスタの交換が同時にで
きるので、従来のように、ヒューズだけ交換して、バリ
スタの交換を忘れるようなことがなくなる。従って、劣
化したバリスタを使用して、機器を焼損するような事故
は未然に防げる。 (3) バリスタ素体に溝を設けることにより、更に素子の
小型化が可能となる。
きるので、従来のように、ヒューズだけ交換して、バリ
スタの交換を忘れるようなことがなくなる。従って、劣
化したバリスタを使用して、機器を焼損するような事故
は未然に防げる。 (3) バリスタ素体に溝を設けることにより、更に素子の
小型化が可能となる。
【図1】本発明の原理図である。
【図2】本発明の第1実施例の過電流過電圧保護素子を
示した図である。
示した図である。
【図3】ヒューズ片(可溶体)の例を示した図である。
【図4】第2実施例の過電流過電圧保護素子を示した図
である。
である。
【図5】他の実施例の過電流過電圧保護素子(その1)
を示した図である。
を示した図である。
【図6】他の実施例の過電流過電圧保護素子(その2)
を示した図である。
を示した図である。
【図7】従来例の説明図である。
5 過電流過電圧保護素子
6 バリスタ素体
7 第1の電極
8 第2の電極
9 第3の電極
Claims (5)
- 【請求項1】 板状のバリスタ素体(6)の片面に、所
定の距離だけ離して第1の電極(7)と第2の電極
(8)を設けると共に、 バリスタ素体(6)の他面には、第2の電極(8)と対
向する位置に第3の電極(9)を設けて、第2、第3の
電極(8、9)間にバリスタを構成し、 更に、第1、第2の電極(7、8)間には、ヒューズ片
(可溶体)(10)を接続することにより、ヒューズと
バリスタを一体化したことを特徴とする過電流過電圧保
護素子。 - 【請求項2】 上記ヒューズ片(10)として、チップ
型ヒューズ(12)を用いたことを特徴とする請求項1
記載の過電流過電圧保護素子。 - 【請求項3】 上記第2の電極(8)と第3の電極
(9)との間に位置するバリスタ素体(6)に、溝(1
8)を設けたことを特徴とする請求項1または2記載の
過電流過電圧保護素子。 - 【請求項4】 上記第1、第2、第3の各電極(7、
8、9)に、それぞれリード線(11A、11B、11
C)を取り付けたことを特徴とする請求項1、2、また
は3記載の過電流過電圧保護素子。 - 【請求項5】 上記バリスタ素体(6)の両端部にそれ
ぞれ、 前記、バリスタ素体(6)の端部を覆い、かつ上面から
下面まで延びるように、端部電極(16A、16B)を
設けると共に、 一方の端部電極(16A)を、第1の電極(7)に接続
し、 他方の端部電極(16B)を、第2の電極(8)に接続
することにより、 表面実装型の素子としたことを特徴とする請求項1、
2、または3記載の過電流過電圧保護素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3193498A JPH0513205A (ja) | 1991-07-08 | 1991-07-08 | 過電流過電圧保護素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3193498A JPH0513205A (ja) | 1991-07-08 | 1991-07-08 | 過電流過電圧保護素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0513205A true JPH0513205A (ja) | 1993-01-22 |
Family
ID=16309050
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3193498A Withdrawn JPH0513205A (ja) | 1991-07-08 | 1991-07-08 | 過電流過電圧保護素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0513205A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6094128A (en) * | 1998-08-11 | 2000-07-25 | Maida Development Company | Overload protected solid state varistors |
JP2002223523A (ja) * | 2000-11-27 | 2002-08-09 | Otowa Denki Kogyo Kk | 耐雷素子及び耐雷保護装置 |
WO2012070336A1 (ja) * | 2010-11-22 | 2012-05-31 | Tdk株式会社 | チップサーミスタ及びサーミスタ集合基板 |
-
1991
- 1991-07-08 JP JP3193498A patent/JPH0513205A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6094128A (en) * | 1998-08-11 | 2000-07-25 | Maida Development Company | Overload protected solid state varistors |
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US9076576B2 (en) | 2010-11-22 | 2015-07-07 | Tdk Corporation | Chip thermistor and thermistor assembly board |
JP5778690B2 (ja) * | 2010-11-22 | 2015-09-16 | Tdk株式会社 | チップサーミスタ及びサーミスタ集合基板 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19981008 |