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JPH0493375A - Coating material - Google Patents

Coating material

Info

Publication number
JPH0493375A
JPH0493375A JP21113590A JP21113590A JPH0493375A JP H0493375 A JPH0493375 A JP H0493375A JP 21113590 A JP21113590 A JP 21113590A JP 21113590 A JP21113590 A JP 21113590A JP H0493375 A JPH0493375 A JP H0493375A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
coating material
coating
polyether resin
water absorption
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP21113590A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shigeru Sasaki
繁 佐々木
Hideki Kobayashi
秀樹 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kuraray Co Ltd
Original Assignee
Kuraray Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kuraray Co Ltd filed Critical Kuraray Co Ltd
Priority to JP21113590A priority Critical patent/JPH0493375A/en
Publication of JPH0493375A publication Critical patent/JPH0493375A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To obtain a coating material giving a coating film highly adhesive to inorg. and plastic materials without the necessity for thermal curing process by using a specified polyhydroxy-polyether resin. CONSTITUTION:A coating material is prepd. by using a polyhydroxy-polyether resin constituted of the structural units of formula I (wherein X and Y are each halogen or CH3, R is a direct linkage or a divalent group, and p and q are each 0-4), e.g. the resins of formulas II and III. The coating material can form a coating film having a high adhesion to inorg. materials and plastics without the necessity for thermal cure. It is successfully usable as optical thin film such as antireflection coating, semi-transparent film, selective absorption film and the like, or as underlying film of optical thin films, or as water absorption reducing film for optical parts, or as a hard coat.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は特定のコーテイング材に関する。本発明により
提供されるコーテイング材は反射防止膜、半透明膜、選
択吸収膜などの光学薄膜用、光学薄膜の下引膜用、光学
部品等の低吸水化膜用またはハードコート用として好ま
しく使用される。本発明のコーテイング材より得られる
光学薄膜、光学薄膜の下引膜、光学部品等の低吸水化膜
およびハードコートは無機材料、プラスチックなどとの
密着性に優れる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Field of Application] The present invention relates to a specific coating material. The coating material provided by the present invention is preferably used for optical thin films such as anti-reflection films, translucent films, selective absorption films, subbing films for optical thin films, low water absorption films for optical parts, etc., or hard coats. be done. Optical thin films, subbing films for optical thin films, low water absorption films for optical components, and hard coats obtained from the coating material of the present invention have excellent adhesion to inorganic materials, plastics, and the like.

し従来の技術] ガラス、シリコン、化合物半導体などの無機材料または
プラスチックが有する光線透過率、表面硬度、吸水性、
他の材料との密着性などの特性を改善する目的で上記の
無機材料またはプラスチックの表面に誘電体などの無機
材料または有機材料からなる薄膜を形成することがある
。例えば、レンズ、フィルタなど多くの光学部品が組み
合わされてなる光学系を有するカメラ、プロジェクショ
ンテレビ、ビデオカメラなどにおいては、光学系に入射
した光線が光学部品の表面で反射されるために光学系全
体の光線透過率が著しく低下し、さらにフレアおよびゴ
ーストが発生する。これらを防止するために、光学部品
の表面にはMgF2、S ! 02、A 1201など
からなる反射防止膜が形成されている。また、太陽電池
はその表面における反射により光線の利用効率が低下す
る。これを防ぐために、太陽電池の表面には反射防止膜
が形成されている[光学薄膜、共立出版(1985)参
照]。
[Conventional technology] Light transmittance, surface hardness, water absorption,
A thin film made of an inorganic or organic material such as a dielectric may be formed on the surface of the above-mentioned inorganic material or plastic for the purpose of improving properties such as adhesion with other materials. For example, in cameras, projection televisions, video cameras, etc., which have optical systems made up of many optical parts such as lenses and filters, the entire optical system is The light transmittance of the lens is significantly reduced, and flare and ghosting occur. To prevent these, the surfaces of optical components are coated with MgF2, S! An antireflection film made of 02, A 1201, or the like is formed. In addition, the efficiency with which solar cells utilize light rays decreases due to reflection on their surfaces. To prevent this, an antireflection film is formed on the surface of the solar cell [see Optical Thin Film, Kyoritsu Shuppan (1985)].

一方、吸水(吸湿)により上記の光学部品を構などの有
機材料またはSt、N、などの無機材料0からなる低吸
水化膜を光学部品の表面に形成することがある。また、
光学部品の表面に傷が発生することを防ぐために、その
表面にメラミン系樹脂などの高い硬度を有する有機材料
からなるハードコートが形成されることがある。
On the other hand, due to water absorption (moisture absorption), a low water absorption film made of an organic material such as the structure of the optical component or an inorganic material such as St, N, etc., may be formed on the surface of the optical component. Also,
In order to prevent scratches from occurring on the surface of an optical component, a hard coat made of a highly hard organic material such as melamine resin is sometimes formed on the surface.

ガラスなどの無機材料またはプラスチックからなる基体
と、該基体上に形成される上記の反射防止膜、低吸水化
膜、ハードコートなどとの間にこれらと高い密着性を有
する特定のシラン化合物などからなる下引膜がコーティ
ングされることがある。
Made from specific silane compounds that have high adhesion between a substrate made of an inorganic material such as glass or plastic and the above-mentioned antireflection film, low water absorption film, hard coat, etc. formed on the substrate. It may be coated with a subbing film.

[発明か解決しようとする課題] 反射防止膜などとして用いられるMgF、、SiO□、
AI、O,などの無機材料が有する熱膨張係数はプラス
チックが有する熱膨張係数よりも一桁程度小さいために
、プラスチック表面に上記の無機材料からなるコーテイ
ング材を形成した場合、加熱時に発生する歪みにより該
コーテイング材にクラックが生じることがある。また、
上記の無機材料が有する吸水率はプラスチックが有する
吸水率よりも極めて小さいために、湿度が変化すること
により同様に該コーテイング材にクラックが生じること
がある。通常、上記の無機材料は真空蒸着法、スパッタ
リング法、イオンブレーティング法などによってプラス
チック上にコートされるが、これらの方法には高価な真
空装置が必要であるために製造コストか高くなることが
避けられず、しかもプラスチックは耐熱性が低いため、
成膜時にプラスチックの温度が上昇しないように成膜条
件を設定する必要がある。上記の理由から、プラスチッ
ク表面には有機材料からなるコーテイング材を形成する
ことが望ま1.い。また、有機材料からなるコーテイン
グ材はスピンコード法などの簡単な方法でコートするこ
とができ、製造コストを低くすることが可能であること
から、ガラス、シリコン、化合物半導体などの無機材料
表面へのコーテイング材として用いることが望ましい。
[Problem to be solved by the invention] MgF, SiO□, used as an antireflection film, etc.
Since the coefficient of thermal expansion of inorganic materials such as AI, O, etc. is about an order of magnitude smaller than that of plastics, when a coating material made of the above-mentioned inorganic materials is formed on the surface of plastics, distortion occurs during heating. This may cause cracks in the coating material. Also,
Since the water absorption rate of the above-mentioned inorganic materials is much lower than that of plastics, cracks may similarly occur in the coating material due to changes in humidity. Usually, the above-mentioned inorganic materials are coated onto plastics by vacuum evaporation, sputtering, ion blating, etc., but these methods require expensive vacuum equipment, which can increase manufacturing costs. This is unavoidable, and plastic has low heat resistance.
It is necessary to set film formation conditions so that the temperature of the plastic does not rise during film formation. For the above reasons, it is desirable to form a coating material made of an organic material on the plastic surface.1. stomach. In addition, coating materials made of organic materials can be coated using a simple method such as spin-coating, and manufacturing costs can be lowered. It is desirable to use it as a coating material.

プラスチックからなる基体と反射防止膜との間に形成さ
れ、高い硬度を有し、しかもプラスチックおよび反射防
止膜と高い密着性を有する高屈折率の下引膜として、特
定のへキサメトキシメチロールメラミンからなるコーテ
イング材が知られている(特公昭61−48123号公
報参照)。該ヘキサメトキシメチロールメラミンからな
るコーテイング材を形成するためには、プラスチックか
らなる基体上に該ヘキサメトキシメチロールメラミンを
塗布したのちに、例えば130℃、4時間という高温・
長時間の加熱硬化工程が必要であり、ポリメタクリル酸
メチルのような耐熱性において劣るプラスチックからな
る基体への下引膜として上記のコーテイング材を用いる
ことはできない。
A high refractive index undercoating film formed between a plastic substrate and an antireflection film, which has high hardness and high adhesion to the plastic and antireflection film, is made from a specific hexamethoxymethylolmelamine. A coating material is known (see Japanese Patent Publication No. 61-48123). In order to form a coating material made of the hexamethoxymethylol melamine, the hexamethoxymethylol melamine is applied onto a plastic substrate and then heated at a high temperature of, for example, 130° C. for 4 hours.
Since a long heat curing process is required, the above-mentioned coating material cannot be used as an undercoat film on a substrate made of a plastic with poor heat resistance, such as polymethyl methacrylate.

本発明の目的は、加熱硬化工程を要することなく、無機
材料およびプラスチックに対して高い密着性を有する膜
を与えるコーテイング材を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a coating material that provides a film having high adhesion to inorganic materials and plastics without requiring a heat curing step.

[課題を解決するための手段] 本発明によれば、上記の目的は、下記一般式([) [式中、XおよびYはそれぞれハロゲン原子またはメチ
ル基を表し、Rは結合または2価の基を表し、pおよび
qはそれぞれOないし4の整数を表す。コ で示される構造単位から実質的になるポリヒドロキシポ
リエーテル樹脂を含むことを特徴とするコーテイング材
を提供することにより達成される。
[Means for Solving the Problems] According to the present invention, the above object is achieved by the following general formula ([) [wherein X and Y each represent a halogen atom or a methyl group, and R represents a bond or a divalent represents a group, and p and q each represent an integer of O to 4. This is achieved by providing a coating material characterized by containing a polyhydroxypolyether resin consisting essentially of the structural unit represented by ().

上記一般式(I)におけるXおよびYがそれぞれ表すハ
ロゲン原子としては、例えば塩素原子、臭素原子などが
挙げられる。また、Rが表す2価の基としては、例えば
、次のものを挙げることができる。
Examples of the halogen atom represented by X and Y in the above general formula (I) include a chlorine atom, a bromine atom, and the like. Furthermore, examples of the divalent group represented by R include the following.

CH− CH3 CH。CH- CH3 CH.

CH3 CH。CH3 CH.

C− Cト C− c、 H9 C置 C− で示される基としては、例えば、下記の式(n)〜(X
■)で示されるものが挙げられる。
Examples of the group represented by C- C to C- c, H9 C to C- include the following formulas (n) to (X
Examples include those shown in ■).

−数式(I) 数式(工′) で示される構造単位を構成する− Hq CH9 これらの中で、上記の式(n)   (III)(r’
/)、(V)または(IX)で示される基を構造単位の
一部として有するポリヒドロキシポリエーテル樹脂を含
む本発明のコーテイング材は、特にCH。
-Constituting the structural unit represented by Formula (I) Formula (E') - Hq CH9 Among these, the above formula (n) (III) (r'
The coating material of the present invention containing a polyhydroxy polyether resin having a group represented by /), (V) or (IX) as a part of the structural unit is particularly suitable for CH.

高い屈折率を有しており、反射防止膜、半透明膜、選択
吸収膜などの光学薄膜用および光学薄膜の下引膜用とし
て好適に用いられる。上記の式(n)、(III)、(
IX)、(X)または(Kl)で示される基を構造単位
の一部として有するポリヒドロキシポリエーテル樹脂を
含む本発明のコーテイング材は、特に高い硬度を有して
おり、ハードコート用として好適に用いられる。また上
記の式(I[)、(■)、(IX)、(X)、(XI)
、(IN)または(xl)で示される基を構造単位の一
部として有するポリヒドロキシポリエーテル樹脂を含む
本発明のコーテイング材は、特に低い吸水率を有してお
り、光学部品の低吸水化膜用として好適に用いられる。
It has a high refractive index and is suitably used for optical thin films such as antireflection films, translucent films, and selective absorption films, and for subbing films for optical thin films. The above formulas (n), (III), (
The coating material of the present invention containing a polyhydroxy polyether resin having a group represented by IX), (X) or (Kl) as a part of the structural unit has particularly high hardness and is suitable for hard coats. used for. Also, the above formulas (I[), (■), (IX), (X), (XI)
The coating material of the present invention, which contains a polyhydroxy polyether resin having a group represented by , (IN) or (xl) as a part of its structural unit, has a particularly low water absorption rate, and is useful for reducing water absorption of optical components. Suitable for use in membranes.

本発明のコーテイング材を構成するポリヒドロキシポリ
エーテル樹脂は、一般式(1)で示される構造単位に対
応するビスフェノール類とエピクロルヒドリンとを用い
て公知の一般的なポリヒドロキシポリエーテル樹脂の合
成法に従って製造される。本発明において用いるポリヒ
ドロキシポリエーテル樹脂としては、一般式(1)で示
される構造単位に対応する2種以上のビスフェノール類
から得られる共重合体、および一般式(1)で示される
構造単位からなる2種以上のポリヒドロキシポリエーテ
ル樹脂の混合物をも挙げることができる。なお、本発明
において用いるポリヒドロキシポリエーテル樹脂はその
特性を損なわない範囲内において例えばヒドロキノン、
2.6−ナフタレンジオールなどのジオールに由来する
構造単位を含んでいてもよい。
The polyhydroxy polyether resin constituting the coating material of the present invention is produced according to a known general synthesis method for polyhydroxy polyether resin using bisphenols corresponding to the structural unit represented by general formula (1) and epichlorohydrin. Manufactured. The polyhydroxy polyether resin used in the present invention includes a copolymer obtained from two or more types of bisphenols corresponding to the structural unit represented by the general formula (1), and a copolymer obtained from the structural unit represented by the general formula (1). Also mentioned are mixtures of two or more polyhydroxy polyether resins. The polyhydroxy polyether resin used in the present invention may contain, for example, hydroquinone, within a range that does not impair its properties.
It may also contain a structural unit derived from a diol such as 2.6-naphthalenediol.

本発明のコーテイング材をガラス、プラスチックなどの
基体表面にコートする方法としては、本発明のコーテイ
ング材を構成するポリヒドロキシポリエーテル樹脂を溶
媒に溶解して得られた溶液を用いるスピンコード法、ス
プレードライ法、ディッピング法が均一な膜厚のものが
容易に得られる点で好ましい。上記の溶媒としては、ト
ルエン、テトラヒドロフラン、ジオキサン、塩化メチレ
ン、クロロホルム、ジメチルスルホキシド、ジメチル小
ルムアミド、酢酸エチル、アセトン、シクロヘキサノン
、メタノール、エタノールまたはこれらの2種以上の混
合溶媒などが用いられる。
Methods for coating the surface of a substrate such as glass or plastic with the coating material of the present invention include a spin-coating method using a solution obtained by dissolving the polyhydroxy polyether resin constituting the coating material of the present invention in a solvent, and a spray method. The dry method and the dipping method are preferable because a film having a uniform thickness can be easily obtained. As the above-mentioned solvent, toluene, tetrahydrofuran, dioxane, methylene chloride, chloroform, dimethyl sulfoxide, dimethyl alumamide, ethyl acetate, acetone, cyclohexanone, methanol, ethanol, or a mixed solvent of two or more of these can be used.

本発明のコーテイング材は反射防止膜などの光学薄膜用
、光学薄膜の下引膜用、光学部品の低吸水化膜用、ハー
ドコート用などとして好適に用いられる。本発明のコー
テイング材を反射防止膜用として使用する際、基体がプ
ラスチックまたはガラスからなり、該基体が有する屈折
率が1.7以下である場合には、該基体上に本発明のコ
ーテイング材をコートし、コーテイング材より低屈折率
を有するポリアクリル酸アルキル、ポリメタクリル酸ア
ルキル、ポリアクリル酸フルオロアルキル、ポリメタク
リル酸フルオロアルキル、ポリアルキルビニルエーテル
、ポリオレフィンなどからなる樹脂膜を該コーテイング
材層上に積層することによって、十分な反射防止効果が
得られる。基体がシリコン、ゲルマニウム、化合物半導
体などからなり、該基体が有する屈折率が3以上にある
場合には、本発明のコーテイング材が高い屈折率を有し
ていることから、該基体上に本発明のコーテイング材層
からなる反射防止膜を形成することによって、十分な反
射防止効果が得られる。本発明のコーテイング材を構成
するポリヒドロキシポリエーテル樹脂は1.5〜1.7
の範囲の屈折率を有しており、該ポリヒドロキシポリエ
ーテル樹脂として、2種以上のビスフェノール類から得
られる共重合体、または2種以上のポリヒドロキシポリ
エーテル樹脂の混合物を用いることによって、所望の反
射防止効果が実現される屈折率を有するコーテイング材
が得られる。
The coating material of the present invention is suitably used for optical thin films such as antireflection films, subbing films for optical thin films, low water absorption films for optical components, hard coats, and the like. When using the coating material of the present invention for an antireflection film, if the substrate is made of plastic or glass and the refractive index of the substrate is 1.7 or less, the coating material of the present invention is applied on the substrate. A resin film made of polyalkyl acrylate, polyalkyl methacrylate, fluoroalkyl polyacrylate, polyfluoroalkyl methacrylate, polyalkyl vinyl ether, polyolefin, etc. having a lower refractive index than the coating material is coated on the coating material layer. By laminating them, a sufficient antireflection effect can be obtained. When the substrate is made of silicon, germanium, a compound semiconductor, etc., and the substrate has a refractive index of 3 or more, the coating material of the present invention has a high refractive index. A sufficient antireflection effect can be obtained by forming an antireflection film consisting of a coating material layer of. The polyhydroxy polyether resin constituting the coating material of the present invention is 1.5 to 1.7
By using a copolymer obtained from two or more types of bisphenols or a mixture of two or more types of polyhydroxy polyether resin as the polyhydroxy polyether resin, the desired A coating material having a refractive index that achieves an antireflection effect is obtained.

本発明のコーテイング材を光学薄膜の下引膜用として使
用する場合には、基体と同程度の屈折率を有する本発明
のコーテイング材を選択して使用することが、該基体と
下引膜との屈折率差により生じるフレアが減少される点
で好ましい。
When the coating material of the present invention is used as an undercoat film for an optical thin film, it is preferable to select and use a coating material of the present invention having a refractive index similar to that of the base material. This is preferable in that flare caused by the difference in refractive index between the two is reduced.

本発明のコーテイング材に必要に応じて酸化防止剤、紫
外線吸収剤などの安定剤、染料、顔料、帯電防止剤、潤
滑剤などを添加することによってその特性を改善するこ
とができる。本発明のコーテイング材からなるコート層
の表面に凹凸を形成する必要がある場合には、コート後
に加熱エンボス加工を施すことが好ましい。
The properties of the coating material of the present invention can be improved by adding antioxidants, stabilizers such as ultraviolet absorbers, dyes, pigments, antistatic agents, lubricants, etc., as necessary. When it is necessary to form irregularities on the surface of the coating layer made of the coating material of the present invention, it is preferable to perform heat embossing after coating.

[実施例] 以下、実施例により本発明を具体的に説明する。[Example] Hereinafter, the present invention will be specifically explained with reference to Examples.

なお、実施例におけるクロスカット−セロハンテープ剥
離試験はカッターナイフを用いて1mm間隔で縦横11
本の切傷を膜に形成し、合計100個の基盤目を作り、
膜上にセロ/Xンテープを貼り、急激に剥し、膜が剥離
した基盤目の数を数えることにより行った。
In addition, in the cross-cut cellophane tape peeling test in the examples, 11
A book cut is formed on the membrane, creating a total of 100 basic eyes,
The test was carried out by pasting Cero/X-n tape on the membrane, peeling it off rapidly, and counting the number of base lines from which the membrane was peeled off.

実施例1 下記の構造単位。Example 1 Structural unit below.

からなるポリヒドロキシポリエーテル樹脂(屈折率1.
64)をテトラヒドロフランに溶解し、得られた溶液を
スピンコード法により、波長550nmの光線に対する
透過率92.3%を有する架橋アクリル樹脂板[■クラ
レ製、パラリンクスTS−20(商品名):屈折率1.
49]上に膜厚が85nmになるようにコートした。次
に、ポリメタクリル酸2.2,3.3−テトラフルオロ
プロピル(屈折率1.40)をトルエンに溶解し、得ら
れた溶液を同様にスピンコード法により該ポリヒドロキ
シポリエーテル樹脂からなるコーテイング材層上に膜厚
が1100nになるように積層して反射防止膜を形成し
た。反射防止膜か形成された架橋アクリル樹脂板が有す
る波長550 n、 mの光線に対する透過率は963
%であった。反射防止膜が形成された架橋アクリル樹脂
板を60℃、90%RHの条件で120時間放置したの
ちに、クロスカット−セロハンテープ剥離試験に付した
ところ、反射防止膜の剥離は全く認められなかった。
polyhydroxy polyether resin (refractive index 1.
64) in tetrahydrofuran, and the resulting solution was subjected to a spin coding method to obtain a cross-linked acrylic resin plate having a transmittance of 92.3% for light with a wavelength of 550 nm [■ Paralinks TS-20 (trade name) manufactured by Kuraray: Refractive index 1.
49] to a film thickness of 85 nm. Next, polymethacrylic acid 2,2,3,3-tetrafluoropropyl (refractive index 1.40) was dissolved in toluene, and the resulting solution was coated with the polyhydroxypolyether resin using the same spin-coding method. An antireflection film was formed on the material layer by laminating the film to a thickness of 1100 nm. The cross-linked acrylic resin plate on which the anti-reflection film is formed has a transmittance of 963 for light rays with wavelengths of 550 nm and 550 m.
%Met. When the cross-linked acrylic resin plate on which the anti-reflective film was formed was left for 120 hours at 60°C and 90% RH, it was subjected to a cross-cut cellophane tape peeling test, and no peeling of the anti-reflective film was observed. Ta.

実施例2 下記の構造単位。Example 2 Structural unit below.

からなるポリヒドロキシポリエーテル樹脂(屈折率1.
65)をテトラヒドロフランに溶解し、得られた溶液を
スピンコード法により、波長830nmの光線に対する
反射率32.7%を有するシリコン基板上に膜厚が82
nmになるようにコートして反射防止膜を形成した。反
射防止膜が形成されたシリコン基板が有する波長830
 nmの光線に対する反射率は2.2%であった。反射
防止膜が形成されたシリコン基板を60℃、90%RH
の条件で120時間放置したのちに、クロスカット−セ
ロハンテープ剥離試験に付したところ、反射防止膜の剥
離は全く認められなかった。また反射防止膜は高い硬度
を有しており、鉛筆硬度は3Hであった。
polyhydroxy polyether resin (refractive index 1.
65) in tetrahydrofuran, and the resulting solution was coated with a film thickness of 82 nm on a silicon substrate having a reflectance of 32.7% for light with a wavelength of 830 nm using a spin coding method.
An antireflection film was formed by coating the film to a thickness of nm. Wavelength 830 possessed by the silicon substrate on which the antireflection film is formed
The reflectance for nm light was 2.2%. The silicon substrate on which the anti-reflection film was formed was heated to 60°C and 90%RH.
After being left for 120 hours under these conditions, a cross-cut cellophane tape peeling test was performed, and no peeling of the antireflection film was observed. Moreover, the antireflection film had high hardness, and the pencil hardness was 3H.

実施例3 下記の構造単位 キサンに溶解し、得られた溶液をスピンコード法により
ポリカーボネート樹脂基板[三菱瓦斯化学■製、ニーピ
ロン(商品名)層上に膜厚が5μmになるようにコート
してハードコートを形成した。
Example 3 The following structural unit xane was dissolved, and the resulting solution was coated on a polycarbonate resin substrate [manufactured by Mitsubishi Gas Chemical ■, Nipilon (trade name) layer] to a film thickness of 5 μm using a spin coding method. Formed a hard coat.

ハードコートが形成されたポリカーボネート樹脂基板を
60℃、90%RHの条件で120時間放置したのちに
、クロスカット−セロハンテープ剥離試験に付したとこ
ろ、ハードコートの剥離は全く認められなかった。また
、ハードコートの表面を#0OOOのスチールウール(
荷重1kg)で20回摩擦したのちに、その表面を観察
したところ、わずかに傷が付いた程度であった。一方、
ハードコートが施されていないポリカーボネート樹脂の
表面を同様に摩擦したところ、著しい傷の発生が認めら
れた。
When the polycarbonate resin substrate on which the hard coat was formed was left for 120 hours at 60° C. and 90% RH and then subjected to a cross-cut cellophane tape peeling test, no peeling of the hard coat was observed. Also, coat the surface of the hard coat with #0OOO steel wool (
When the surface was observed after being rubbed 20 times under a load of 1 kg, it was found that there were only slight scratches. on the other hand,
When the surface of a polycarbonate resin not coated with a hard coat was similarly rubbed, significant scratches were observed.

実施例4 下記の構造単位 からなるポリヒドロキシポリエーテル樹脂をジオからな
るポリヒドロキシポリエーテル樹脂を塩化メチレンに溶
解し、得られた溶液をディッピング法により、50mm
X50mmX2mmの大きさを有する架橋アクリル樹脂
板[■クラレ製、バラリンクスTS−40(商品名)]
の全面に膜厚が10μmになるようにコートして低吸水
化膜を形成した。低吸水化膜が形成された架橋アクリル
樹脂板が有する吸水率(ASTM  D570.23℃
、24時間)は0.14%であった。一方、低吸水化膜
がコーティングされていない架橋アクリル樹脂板が有す
る吸水率は0.32%であった。
Example 4 A polyhydroxy polyether resin consisting of a polyhydroxy polyether resin consisting of the following structural units was dissolved in methylene chloride, and the resulting solution was diluted to a size of 50 mm by a dipping method.
Cross-linked acrylic resin plate with dimensions of X50mmX2mm [■ Baralinks TS-40 (product name) manufactured by Kuraray]
A low water absorption film was formed by coating the entire surface of the film to a thickness of 10 μm. Water absorption rate of the crosslinked acrylic resin plate on which the low water absorption film is formed (ASTM D570.23℃
, 24 hours) was 0.14%. On the other hand, the crosslinked acrylic resin plate not coated with the low water absorption film had a water absorption rate of 0.32%.

実施例5 下記の構造単位 からなるポリヒドロキシポリエーテル樹脂をテトラヒド
ロフランに溶解し、得られた溶液をスピンコード法によ
り、架橋アク1ノル樹脂板[#aクラレ製、バラリンク
スTS−20(商品名)1上に膜厚が5μmになるよう
にコートしてコーテイング材層を形成した。コーテイン
グ材層が形成された架橋アクリル樹脂板を60℃、90
%RHの条件で120時間放置したのちに、クロスカッ
ト−セロハンテープ剥離試験に付したところ、反射防止
膜の剥離は全く認められなかった。
Example 5 A polyhydroxypolyether resin consisting of the following structural units was dissolved in tetrahydrofuran, and the resulting solution was prepared using a spin code method to prepare a cross-linked ac-1-nor resin plate [#a manufactured by Kuraray Co., Ltd., Baralinks TS-20 (trade name] ) A coating material layer was formed by coating 1 to a thickness of 5 μm. The crosslinked acrylic resin plate on which the coating material layer was formed was heated at 60°C and 90°C.
%RH for 120 hours and then subjected to a cross-cut cellophane tape peeling test, and no peeling of the antireflection film was observed.

実施例6 下記の構造単位。Example 6 Structural unit below.

からなるポリヒドロキシポリエーテル樹脂をテトラヒド
ロフランに溶解し、得られた溶液をスピンコード法によ
り、架橋アクリル樹脂板[@クラレ製、パラリンクスT
S−20(商品名)1上に膜厚が5μmになるようにコ
ートしてコーテイング材層を形成した。コーテイング材
層が形成された架橋アクリル樹脂板を60℃、90%R
Hの条件で120時間放置したのちに、クロスカット−
セロハンテープ剥離試験に付したところ、反射防止膜の
剥離は全く認められなかった。
A polyhydroxypolyether resin consisting of the
A coating material layer was formed by coating S-20 (trade name) 1 to a thickness of 5 μm. Cross-linked acrylic resin plate with coating material layer formed at 60℃, 90%R
After leaving it for 120 hours under H conditions, cross-cut
When subjected to a cellophane tape peel test, no peeling of the antireflection film was observed.

実施例7 下記の構造単位 からなるポリヒドロキシポリエーテル樹脂と、下記の構
造単位: からなるポリヒドロキシポリエーテル樹脂をテトラヒド
ロフランに溶解し、得られた溶液をスピンコード法によ
り、架橋アクリル樹脂板[■クラレ製、パラリンクスT
S−20(商品名)]上に膜厚が5μmになるようにコ
ートしてコーテイング材層を形成した。コーテイング材
層が形成された架橋アクリル樹脂板を60℃、90%R
Hの条件で120時間放置したのちに、クロスカット−
セロハンテープ剥離試験に付したところ、反射防止膜の
剥離は全く認められなかった。
Example 7 A polyhydroxy polyether resin consisting of the following structural units and a polyhydroxy polyether resin consisting of the following structural units were dissolved in tetrahydrofuran, and the resulting solution was processed into a crosslinked acrylic resin plate [■ Made by Kuraray, Paralinks T
S-20 (trade name)] to form a coating material layer to a thickness of 5 μm. Cross-linked acrylic resin plate with coating material layer formed at 60℃, 90%R
After leaving it for 120 hours under H conditions, cross-cut
When subjected to a cellophane tape peel test, no peeling of the antireflection film was observed.

実施例8 下記の構造単位: からなるずリヒドロキシボリエーテル樹脂とを重量比が
等しくなるように溶融混合し、テトラヒドロフランに溶
解して得られた溶液をスピンコード法により、架橋アク
リル樹脂板[■クラレ製、バラリンクスTS−20(商
品名)]上に膜厚が5μmになるようにコートした。コ
ーテイング材層が形成された架橋アクリル樹脂板を60
℃、90%RHの条件で120時間放置したのちに、ク
ロスカット−セロハンテープ剥離試験に付したところ、
反射防止膜の剥離は全く認められなかった。
Example 8 A cross-linked acrylic resin plate [■ Baralinks TS-20 (trade name, manufactured by Kuraray) was coated to a film thickness of 5 μm. 60 pieces of cross-linked acrylic resin plate with coating material layer formed on it
After leaving it for 120 hours at ℃ and 90% RH, it was subjected to a cross-cut cellophane tape peeling test.
No peeling of the antireflection film was observed.

比較例1 実施例1で使用したものと同じ架橋アクリル樹脂板上に
、真空蒸着法により酸化ケイ素(膜厚82nm、屈折率
1.68)とフッ化マグネシウム(膜厚1100n、屈
折率1.38)とをこの顧で積層することにより反射防
止膜を形成した。
Comparative Example 1 Silicon oxide (film thickness 82 nm, refractive index 1.68) and magnesium fluoride (film thickness 1100 nm, refractive index 1.38) were deposited on the same crosslinked acrylic resin plate as used in Example 1 by vacuum evaporation. ) was laminated with this layer to form an antireflection film.

反射防止膜が形成された架橋アクリル樹脂板が有する波
長550nmの光線に対する透過率は高く、96.2%
であったが、この反射防止膜が形成された架橋アクリル
樹脂板を60℃、90%RHの条件で120時間放置し
たのちに、クロスカット−セロハンテープ剥離試験に付
したところ、75個が剥離した。
The cross-linked acrylic resin plate on which the anti-reflection film is formed has a high transmittance of 96.2% for light with a wavelength of 550 nm.
However, when the cross-linked acrylic resin plate on which this anti-reflection film was formed was left at 60°C and 90% RH for 120 hours and then subjected to a cross-cut cellophane tape peeling test, 75 pieces peeled off. did.

比較例2 ポリ2.6−ジクロロスチレン(屈折率1.63)を実
施例2で用いたものと同じシリコン基板上にスピンコー
ド法により膜厚が125nmになるようにコートして反
射防止膜を形成した。反射防止膜が形成されたシリコン
基板が有する波長830nmの光線に対する反射率は低
く、2.6%であったが、この反射防止膜が形成された
シリコン基板を60’C590%RHの条件で120時
間放置したのちにクロスカット−セロハンテープ剥離試
験に付したところ、85個が剥離した。また、この反射
防止膜が有する表面硬度は低く、鉛筆硬度はHBであっ
た。
Comparative Example 2 Poly 2,6-dichlorostyrene (refractive index 1.63) was coated on the same silicon substrate as used in Example 2 to a thickness of 125 nm by spin coding to form an antireflection film. Formed. The silicon substrate on which the anti-reflection film was formed had a low reflectance for light with a wavelength of 830 nm, which was 2.6%. After being left for a certain period of time, a cross-cut cellophane tape peeling test was performed, and 85 pieces were peeled off. Further, the surface hardness of this antireflection film was low, and the pencil hardness was HB.

[発明の効果] 本発明によれば、加熱硬化工程を要することなく、無機
材料およびプラスチックに対して高い密着性を有する膜
を与えるコーテイング材が提供される。
[Effects of the Invention] According to the present invention, a coating material that provides a film having high adhesiveness to inorganic materials and plastics without requiring a heat curing step is provided.

特許8願大  株式会社クラレ 代 理 人  弁理士 本多 堅Patent 8 patents Kuraray Co., Ltd. Representative Patent Attorney Ken Honda

Claims (1)

【特許請求の範囲】 下記一般式( I ) ( I ):▲数式、化学式、表等があります▼ [式中、XおよびYはそれぞれハロゲン原子またはメチ
ル基を表し、Rは結合または2価の基を表し、pおよび
qはそれぞれ0ないし4の整数を表す。] で示される構造単位から実質的になるポリヒドロキシポ
リエーテル樹脂を含むことを特徴とするコーティング材
[Claims] The following general formula (I) (I): ▲ Numerical formulas, chemical formulas, tables, etc. ▼ [In the formula, X and Y each represent a halogen atom or a methyl group, and R represents a bond or a divalent represents a group, and p and q each represent an integer of 0 to 4. ] A coating material characterized by containing a polyhydroxy polyether resin consisting essentially of structural units represented by the following.
JP21113590A 1990-08-08 1990-08-08 Coating material Pending JPH0493375A (en)

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