JPH0481262A - Light beam soldering device - Google Patents
Light beam soldering deviceInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明は、光ビームの熱を利用してはんだ付けを行う光
ビームはんだ付け装置に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention] (Industrial Application Field) The present invention relates to a light beam soldering device that performs soldering using the heat of a light beam.
(従来の技術)
第3図に示されるように、従来の光ビームはんだ付け装
置は、光源(ハロゲンランプまたはキセノンランプ)1
1と、この光源11の周囲に配置されたランプハウス(
楕円反射鏡)12と、このランプハウス12の開口側に
配置された第1平面ミラー13、第2平面ミラー14お
よび集光レンズ(シリンドリカルレンズ)15からなる
光学系16と、この光学系16と基板17との間に配置
されたマスク(自動マスク)18とによって構成されて
いる。前記基板17上には被はんだ付けワークとしての
電子部品19が搭載されている。(Prior Art) As shown in FIG. 3, a conventional light beam soldering device uses a light source (halogen lamp or xenon lamp)
1 and a lamp house (
an optical system 16 consisting of a first plane mirror 13, a second plane mirror 14 and a condensing lens (cylindrical lens) 15 disposed on the opening side of the lamp house 12; A mask (automatic mask) 18 is arranged between the substrate 17 and the substrate 17. An electronic component 19 as a workpiece to be soldered is mounted on the substrate 17.
そうして、一つの光源11から周囲に発光された光が、
ランプハウス12の内面での反射により下方に方向(=
Iけされ、複数の光学系IGにより複数の光ビームに分
岐され、マスク18を経て電子部品19の複数の被はん
だ付け部に照射され、光ビームの熱により単一部品の複
数箇所における局所はんだ付けが一括して行われる。Then, the light emitted from one light source 11 to the surroundings is
downward direction (=
The light beams are split into multiple light beams by multiple optical systems IG, and are irradiated to multiple soldering parts of the electronic component 19 through the mask 18, and the heat of the light beams causes local soldering at multiple locations on the single component. Attachment is done all at once.
(発明が解決しようとする課題)
この第3図に示されるように、一つの光源11から発光
された光が、複数の光学系16により複数の光ビームに
分岐されて、単一電子部品19の複数の被はんだイ1け
部に照射される場合、例えば、第4図に示されるように
、一つの光源11で電子部品(フォード・フラット・パ
ッケージ集積回路)19の4辺リード群19a 、 1
9b 、 19c 、 ]!Nを同時加熱する場合、そ
の各辺リード群19a 、 19b 、 19c 。(Problems to be Solved by the Invention) As shown in FIG. 3, light emitted from one light source 11 is split into a plurality of light beams by a plurality of optical systems 16, and a single electronic component 19 is split into a plurality of light beams. For example, as shown in FIG. 4, one light source 11 illuminates the four-side lead group 19a of the electronic component (Ford flat package integrated circuit) 19, as shown in FIG. 1
9b, 19c, ]! When N is heated simultaneously, each side lead group 19a, 19b, 19c.
+9dの中央部に位置する光軸に近い照射領域(斜線部
分)の温度が高温であるのに対し、光軸から離れた照射
領域の温度が低温となるようなエネルギー密度分布が示
される。したがって、各辺リード群19a 、 19b
、 19c 、 19dの両端部では、中央部に比べ
て放熱エリアが大きいこともあって、熱エネルギーが不
足しやすい。また、一つの光源11で電子部品19の4
辺リード群19a 、 19b 、 19c 。An energy density distribution is shown in which the temperature of the irradiation area (shaded area) near the optical axis located at the center of +9d is high, while the temperature of the irradiation area away from the optical axis is low. Therefore, each side lead group 19a, 19b
, 19c, and 19d, the heat energy is likely to be insufficient at both ends because the heat dissipation area is larger than that at the center. In addition, one light source 11 can cause four electronic components 19 to
Side lead groups 19a, 19b, 19c.
+96を同時加熱したとき、その4辺間の熱エネルギー
に不均一が生じた場合は、各辺間の熱エネルギーが均一
となるように光学系16を調整するが、この光学系16
の調整は容易でない。When heating +96 at the same time, if there is non-uniformity in the thermal energy between the four sides, the optical system 16 is adjusted so that the thermal energy between each side is uniform.
It is not easy to adjust.
また、電子部品19のサイズが変化した場合、従来は第
1平面ミラー13、第2平面ミラー14および集光レン
ズ(シリンドリカルレンズ)15の角度を変えて対応し
ているが、このようにして光学系16の光軸角度を変化
させる場合は、マスク18との関係でエネルギー密度が
変化し、エネルギー密度の均一化が困難であるとともに
、ミラー等の角度を制御する制御機構が必要になり、光
学系16の構成が複雑になる問題もある。Furthermore, when the size of the electronic component 19 changes, conventionally the angles of the first plane mirror 13, second plane mirror 14, and condensing lens (cylindrical lens) 15 are changed. When changing the optical axis angle of the system 16, the energy density changes depending on the relationship with the mask 18, making it difficult to make the energy density uniform and requiring a control mechanism to control the angle of the mirror etc. There is also the problem that the configuration of the system 16 becomes complicated.
さらに、従来の光源11は、ハロゲンランプまたはキセ
ノンランプを使用しているが、これらのランプは、赤外
線により基板温度を必要以上に高めてしまったり、局所
はんだ付け部の周囲に良くない熱影響を与える問題もあ
る。Furthermore, the conventional light source 11 uses a halogen lamp or a xenon lamp, but these lamps use infrared rays to raise the board temperature more than necessary, or have an adverse thermal effect on the area around the local soldering part. There is also the issue of giving.
本発明は、このような様々な問題点を解決することを目
的とするものである。The present invention aims to solve these various problems.
(課題を解決するための手段)
請求項1の発明は、光源21と、この光源21の周囲に
配置されたランプハウス22と、このランプハウス22
の開口側に配置された光学系23と、この光学系23と
被はんだ付けワーク27との間に配置されたマスク26
とを備えた光ビームはんだ付け装置において、前記光源
21、ランプハウス22および光学系23からなる光源
ユニット24が、単一ワークにおける複数の被はんだ付
け部278.27b 、 27c 。(Means for Solving the Problems) The invention of claim 1 includes a light source 21, a lamp house 22 disposed around the light source 21, and a lamp house 22 disposed around the light source 21.
an optical system 23 placed on the opening side, and a mask 26 placed between this optical system 23 and the workpiece 27 to be soldered.
In the light beam soldering apparatus, a light source unit 24 consisting of the light source 21, lamp house 22 and optical system 23 is used to solder a plurality of parts 278.27b, 27c in a single workpiece.
27dに対応して複数組設けられたものである。A plurality of sets are provided corresponding to 27d.
請求項2の発明は、請求項1の光ビームはんだ付け装置
において、光源ユニット24が移動自在に設けられたも
のである。The invention according to claim 2 is the light beam soldering apparatus according to claim 1, in which the light source unit 24 is provided movably.
請求項3の発明は、請求項1または請求項2記載の光ビ
ームはんだイ」け装置において、光源21としてメタル
ハライドランプが設けられたものである。According to a third aspect of the invention, in the light beam soldering apparatus according to the first or second aspect, a metal halide lamp is provided as the light source 21.
(作用)
請求項1の発明は、複数の光源ユニット24が個々の被
はんだ付け部27a 、 27b 、 2’lc 、
27+]を同時加熱する。その際、個々の被はんだ付け
部では、光軸から離れた照射領域で高熱が得られるエネ
ルギー密度分布となる。また、各被はんだ付け部間の熱
エネルギーに不均一が生じた場合は、複数の光源ユニッ
ト24の光源21等を独立に調整する。(Function) In the invention of claim 1, the plurality of light source units 24 have individual soldering parts 27a, 27b, 2'lc,
27+] is heated simultaneously. At this time, each soldering target part has an energy density distribution in which high heat is obtained in the irradiation area away from the optical axis. Moreover, if non-uniformity occurs in the thermal energy between the respective soldered parts, the light sources 21 and the like of the plurality of light source units 24 are adjusted independently.
請求項2の発明は、被はんだ付けワーク27のサイズが
変化した場合、光源ユニット24を全体的に移動させる
ことにより、光学系23の光軸角度を変化させることな
く前記サイズ変化に対応する。According to the second aspect of the invention, when the size of the workpiece 27 to be soldered changes, the light source unit 24 is moved as a whole to cope with the size change without changing the optical axis angle of the optical system 23.
請求項3の発明は、メタルハライドランプからは赤外線
放射が少ないため、基板温度や周囲への熱影響を抑制で
きる。According to the third aspect of the invention, since the metal halide lamp emits less infrared rays, it is possible to suppress the thermal influence on the substrate temperature and the surroundings.
(実施例)
以下、本発明を第1図および第2図に示される実施例を
参照して詳細に説明する。(Example) Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to an example shown in FIGS. 1 and 2.
第1図に示されるように、光源21と、この光源21の
周囲に配置されたランプハウス22と、このランプハウ
ス22の開口側に配置された光学系23とによって、光
源ユニット24が構成されている。光源21、ランプハ
ウス22および光学系23の位置関係は固定されている
が、光源ユニット24は、水平方向に移動自在に設けら
れているので、ユニット全体を動かして照射位置を変化
させることができる。As shown in FIG. 1, a light source unit 24 includes a light source 21, a lamp house 22 placed around the light source 21, and an optical system 23 placed on the opening side of the lamp house 22. ing. Although the positional relationship between the light source 21, lamp house 22, and optical system 23 is fixed, the light source unit 24 is provided so as to be movable in the horizontal direction, so the irradiation position can be changed by moving the entire unit. .
前記光源21としては、ハロゲンランプ、キセノンラン
プまたはメタルハライドランプを使用する。メタルハラ
イドランプは、水銀とハロゲン化金属とを封入した放電
ランプであり、このメタルハライドランプから出る光は
、紫外線から可視光線(400〜800 nm)までの
波長領域が主であり、赤外線放射が少ない点で好ましい
。さらに、このメタルハライドランプは、他のランプよ
り効率が良く小型化が図れるので、複数設ける場合に有
利である。As the light source 21, a halogen lamp, a xenon lamp, or a metal halide lamp is used. A metal halide lamp is a discharge lamp containing mercury and a metal halide.The light emitted from this metal halide lamp is mainly in the wavelength range from ultraviolet rays to visible light (400 to 800 nm), with little infrared radiation. It is preferable. Furthermore, this metal halide lamp is more efficient than other lamps and can be made smaller, so it is advantageous when a plurality of metal halide lamps are provided.
前記ランプハウス22としては楕円反射鏡を使用する。As the lamp house 22, an elliptical reflecting mirror is used.
前記光学系23では、セグメントミラー シリンドリカ
ルレンズまたは非球面レンズを用いて、エネルギーを均
一にする。The optical system 23 uses a segment mirror, a cylindrical lens, or an aspherical lens to make energy uniform.
さらに、前記光学系23と基板25との間には、光ビー
ム照射範囲を限定するマスク(自動マスク)26が配置
されている。このマスク26にはシャッターが設けられ
ており、必要な時点で必要な時間だけ開口制御され、光
ビームが透過される。このマスク26は、光源ユニット
24と一体構造となっていてもかまわない。Further, a mask (automatic mask) 26 is arranged between the optical system 23 and the substrate 25 to limit the range of light beam irradiation. This mask 26 is provided with a shutter, and its aperture is controlled at a necessary time and for a necessary period of time, allowing the light beam to pass through. This mask 26 may have an integral structure with the light source unit 24.
基板25上には被はんだ付けワークとしての電子部品2
7が搭載されている。この電子部品27には複数の被は
んだ付け部が設けられている。On the board 25 are electronic components 2 as workpieces to be soldered.
7 is installed. This electronic component 27 is provided with a plurality of parts to be soldered.
前記光源ユニット24は、単一電子部品27における複
数の被はんだ付け部に対応して複数組設けられている。A plurality of light source units 24 are provided corresponding to a plurality of soldered parts in a single electronic component 27.
前記マスク26は、図示されるように複数枚設けてもよ
いが、1枚でも良い。このマスク位置は、自動的にセッ
トまたは変更される。Although a plurality of masks 26 may be provided as shown in the figure, one mask 26 may be provided. This mask position is automatically set or changed.
そうして、複数の光源ユニット24から照射された光ビ
ーム28がマスク26を経て複数の被はんだ付け部を同
時加熱し、単一部品の複数箇所における局所リフローは
んだ付けが一括して行われる。Then, the light beams 28 irradiated from the plurality of light source units 24 pass through the mask 26 and simultaneously heat the plurality of parts to be soldered, thereby performing local reflow soldering at a plurality of locations of a single component all at once.
例えば、第2図に示されるフォード・フラット・パッケ
ージ・タイプ集積回路のような電子部品27の4辺の被
はんだ付け部(リード群) 27a 。For example, solderable portions (lead groups) 27a on four sides of an electronic component 27 such as a Ford flat package type integrated circuit shown in FIG.
27b 、 27c 、 27dを同時加熱する場合は
、個々の被はんだ付け部(リード群) 27a 、 2
7b 、 27c 。When heating 27b, 27c, and 27d at the same time, the individual soldered parts (lead groups) 27a, 2
7b, 27c.
27dにおいて、光軸から離れた照射領域(斜線部分)
で高熱が得られるエネルギー密度分布となる。At 27d, the irradiation area away from the optical axis (shaded area)
The energy density distribution is such that high heat can be obtained.
したがって、放熱エリアの大きな各辺の被はんだ付け部
(リード群) 27a 、 27b 、 27c 、
27+Iの両端部でも十分な熱エネルギーが得られる。Therefore, the soldered parts (lead groups) 27a, 27b, 27c, on each side with a large heat dissipation area,
Sufficient thermal energy can be obtained at both ends of 27+I.
電子部品27の個々の被はんだ付け部間に熱エネルギー
の不均一性が生じた場合は、個々の光源21を調整する
などして対応する。If non-uniformity of thermal energy occurs between the individual soldered parts of the electronic component 27, the individual light sources 21 are adjusted or the like is taken as a countermeasure.
また、電子部品27のサイズが変化した場合は、個々の
被はんだ付け部27g 、 27b 、 27c 、
2Ldの位置も変化するので、光源ユニット24を全体
的に水平移動させるとともに、マスク26の位置も移動
させて、照射位置を追従変化させる。したがって、光学
系23の光軸角度を変化させることなくサイズ変化に対
応できる。Moreover, when the size of the electronic component 27 changes, the individual soldering parts 27g, 27b, 27c,
Since the position of 2Ld also changes, the entire light source unit 24 is moved horizontally, and the position of the mask 26 is also moved to change the irradiation position accordingly. Therefore, size changes can be accommodated without changing the optical axis angle of the optical system 23.
請求項1の発明によれば、光源、ランプハウスおよび光
学系からなる光源ユニットが、単一ワークにおける複数
の被はんだ付け部に対応して複数組設けられたから、個
々の被はんだ付け部では、光軸から離れた照射領域でも
高熱となるエネルギー密度分布が得られる。また、被は
んだ付け部間の熱エネルギーに不均一が生じた場合は、
個々の光源ユニットの光源等を調整して容易に対応でき
る。According to the invention of claim 1, since a plurality of light source units each consisting of a light source, a lamp house, and an optical system are provided corresponding to a plurality of parts to be soldered in a single workpiece, each part to be soldered can: An energy density distribution that produces high heat can be obtained even in the irradiation area far from the optical axis. Also, if there is unevenness in the thermal energy between the parts to be soldered,
This can be easily handled by adjusting the light source of each light source unit.
請求項2の発明によれば、光源ユニットが移動自在に設
けられたから、被はんだ付けワークのサイズが変化した
場合、光源ユニットを全体的に移動させることによって
、光学系の光軸角度を変化させることなく前記サイズ変
化に容易に対応でき、光軸角度を変化させるときの問題
が生じない。According to the invention of claim 2, since the light source unit is provided movably, when the size of the work to be soldered changes, the optical axis angle of the optical system can be changed by moving the light source unit as a whole. The above-mentioned size change can be easily accommodated without causing any problems when changing the optical axis angle.
すなわち、エネルギー密度の均一性を維持できるととも
に、光源ユニットを単に移動させればよいから、光学系
等の複雑化を防止できる。That is, it is possible to maintain the uniformity of the energy density, and since it is sufficient to simply move the light source unit, it is possible to prevent the optical system and the like from becoming complicated.
請求項3の発明によれば、光源としてのメタルハライド
ランプからは赤外線放射が少ないため、はんだ付け時の
基板温度を抑制できるとともに、周囲への熱影響を抑制
できる。According to the third aspect of the invention, since the metal halide lamp as the light source emits less infrared radiation, it is possible to suppress the substrate temperature during soldering and also suppress the thermal influence on the surroundings.
第1図は本発明の光ビームはんだ付け装置の一実施例を
示す概略図、第2図はその光ビーム照射部の平面図、第
3図は従来の光ビームはんだ付け装置を示す概略図、第
4図はその光ビーム照射部の平面図である。
21・・光源、22・・ランプハウス、23・・光学系
、24・・光源ユニット、26・・マスク、27・・被
はんだ付けワーク、27a 、 27b 、 27c
、 2N・・被はんだ付け部。FIG. 1 is a schematic diagram showing an embodiment of the light beam soldering device of the present invention, FIG. 2 is a plan view of the light beam irradiation part, and FIG. 3 is a schematic diagram showing a conventional light beam soldering device. FIG. 4 is a plan view of the light beam irradiation section. 21...Light source, 22...Lamp house, 23...Optical system, 24...Light source unit, 26...Mask, 27...Work to be soldered, 27a, 27b, 27c
, 2N...Soldered part.
Claims (3)
スと、このランプハウスの開口側に配置された光学系と
、この光学系と被はんだ付けワークとの間に配置された
マスクとを備えた光ビームはんだ付け装置において、 前記光源、ランプハウスおよび光学系からなる光源ユニ
ットが、単一ワークにおける複数の被はんだ付け部に対
応して複数組設けられたことを特徴とする光ビームはん
だ付け装置。(1) A light source, a lamp house placed around this light source, an optical system placed on the opening side of this lamp house, and a mask placed between this optical system and the workpiece to be soldered. A light beam soldering apparatus comprising: a plurality of light source units comprising the light source, a lamp house, and an optical system, each of which is provided in correspondence with a plurality of parts to be soldered in a single workpiece; attaching device.
とする請求項1記載の光ビームはんだ付け装置。(2) The light beam soldering apparatus according to claim 1, wherein the light source unit is movably provided.
とを特徴とする請求項1または請求項2記載の光ビーム
はんだ付け装置。(3) The light beam soldering apparatus according to claim 1 or 2, characterized in that a metal halide lamp is provided as a light source.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19584290A JPH0481262A (en) | 1990-07-24 | 1990-07-24 | Light beam soldering device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP19584290A JPH0481262A (en) | 1990-07-24 | 1990-07-24 | Light beam soldering device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JPH0481262A true JPH0481262A (en) | 1992-03-13 |
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ID=16347917
Family Applications (1)
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JP19584290A Pending JPH0481262A (en) | 1990-07-24 | 1990-07-24 | Light beam soldering device |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JPH0481262A (en) |
-
1990
- 1990-07-24 JP JP19584290A patent/JPH0481262A/en active Pending
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