JPH0448812A - ランプ波形発生回路 - Google Patents
ランプ波形発生回路Info
- Publication number
- JPH0448812A JPH0448812A JP15758490A JP15758490A JPH0448812A JP H0448812 A JPH0448812 A JP H0448812A JP 15758490 A JP15758490 A JP 15758490A JP 15758490 A JP15758490 A JP 15758490A JP H0448812 A JPH0448812 A JP H0448812A
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- Japan
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- resistor
- ramp waveform
- current
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- Pending
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 abstract description 7
- 238000007599 discharging Methods 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 101710129178 Outer plastidial membrane protein porin Proteins 0.000 description 1
- 102100037820 Voltage-dependent anion-selective channel protein 1 Human genes 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、ランプ波形発生回路に関し、特にランプ波形
の傾きの温度補償に好適なランプ波形発生回路に関する
ものである。
の傾きの温度補償に好適なランプ波形発生回路に関する
ものである。
(従来の技術)
従来、ランプ波形発生回路は遅延時間制御回路等に用い
られている。従来のランプ波形発生回路の回路図を第5
図に示す。第5図において、1は定電圧電源回路、Q1
〜Q5はトランジスタ、R1−R4は抵抗、Cra□は
ランプ容量である。トランジスタQ、のコレクタは抵抗
R1を通して電源Vccに接続され、トランジスタQ2
のコレクタは抵抗R2を通して電源VCCに接続され、
トランジスタQ、、 Q2のエミッタは共通接続されて
いる。その共通接続点とトランジスタQ3のコレクタと
が接続され、トランジスタq3のエミッタは抵抗R3を
通して電源VEEに接続される。トランジスタQ4のベ
ースはトランジスタQ1と抵抗R1の中間に接続される
。ランプ容量Cr+a□はトランジスタQ4と並列に接
続される。トランジスタQ3と抵抗R3とにより定電流
源を構成し、トランジスタQ5と抵抗R4とにより定電
流源を構成している。定電圧電源回路1は電圧VRIを
トランジスタQ2のベースに供給し、電圧VCSをトラ
ンジスタQ、、 Q5のベースに供給する。以下、第3
図のランプ波形発生回路の動作を説明する。
られている。従来のランプ波形発生回路の回路図を第5
図に示す。第5図において、1は定電圧電源回路、Q1
〜Q5はトランジスタ、R1−R4は抵抗、Cra□は
ランプ容量である。トランジスタQ、のコレクタは抵抗
R1を通して電源Vccに接続され、トランジスタQ2
のコレクタは抵抗R2を通して電源VCCに接続され、
トランジスタQ、、 Q2のエミッタは共通接続されて
いる。その共通接続点とトランジスタQ3のコレクタと
が接続され、トランジスタq3のエミッタは抵抗R3を
通して電源VEEに接続される。トランジスタQ4のベ
ースはトランジスタQ1と抵抗R1の中間に接続される
。ランプ容量Cr+a□はトランジスタQ4と並列に接
続される。トランジスタQ3と抵抗R3とにより定電流
源を構成し、トランジスタQ5と抵抗R4とにより定電
流源を構成している。定電圧電源回路1は電圧VRIを
トランジスタQ2のベースに供給し、電圧VCSをトラ
ンジスタQ、、 Q5のベースに供給する。以下、第3
図のランプ波形発生回路の動作を説明する。
まず、入力に立ち上がり入力波形が入り、リファレンス
(参照電圧)レベルVRIを越えた電圧になった時、ト
ランジスタQ1はオフからオンとなリ、トランジスタQ
2はオンからオフとなり、抵抗R□にトランジスタQ1
、抵抗R3から成る定電流源より作られる電流工。が流
れる。すると、トランジスタQ4のベースはVCCレベ
ルより(Vcc−1,R,)レベルに変動しようとする
。そして、出力は(■ce−■■。4)から(VccV
−EQ4bRI)に変動しようとして、容量Cramp
に充電が開始される。
(参照電圧)レベルVRIを越えた電圧になった時、ト
ランジスタQ1はオフからオンとなリ、トランジスタQ
2はオンからオフとなり、抵抗R□にトランジスタQ1
、抵抗R3から成る定電流源より作られる電流工。が流
れる。すると、トランジスタQ4のベースはVCCレベ
ルより(Vcc−1,R,)レベルに変動しようとする
。そして、出力は(■ce−■■。4)から(VccV
−EQ4bRI)に変動しようとして、容量Cramp
に充電が開始される。
充電電流IT□−はトランジスタQ5、抵抗R4から成
る定電流源で作られるので、出力はリニアなランプ波形
となる。
る定電流源で作られるので、出力はリニアなランプ波形
となる。
上述したランプ波形発生回路において、温度依存性につ
いて説明する。
いて説明する。
電圧Vct、 VRIはバンドギャップリファレンス回
路等による定電圧電源回路1により発生され、この電圧
レベルは温度により変動しない。■c露レベルは温度に
より変動しないので、温度が高(なると、トランジスタ
Q、、 Q、のベース・エミッタ間電圧■Iが小さくな
るので、抵抗R,,R4の両端電位差が大きくなり、電
流Ig、 Irampが増加する。ここで抵抗R,,R
4の温度係数は正であり、高温では抵抗値は増大するが
、ベース・エミッタ間電圧VRI減少の方が影響が大き
い。電流I rampが高温で増加するので、ランプ出
力波形の傾きは急になる。また、出力のハイレベルはト
ランジスタQ4のベース・エミッタ間電圧Vatの減少
により高くなり、ロウレベルは電流■6の電流増加、抵
抗R1の増大によりトランジスタQ4のベースレベルが
下がるので、その分子がってしまう。従って、第6図に
示すように、出力波形の傾きが高温では急になってしま
う。
路等による定電圧電源回路1により発生され、この電圧
レベルは温度により変動しない。■c露レベルは温度に
より変動しないので、温度が高(なると、トランジスタ
Q、、 Q、のベース・エミッタ間電圧■Iが小さくな
るので、抵抗R,,R4の両端電位差が大きくなり、電
流Ig、 Irampが増加する。ここで抵抗R,,R
4の温度係数は正であり、高温では抵抗値は増大するが
、ベース・エミッタ間電圧VRI減少の方が影響が大き
い。電流I rampが高温で増加するので、ランプ出
力波形の傾きは急になる。また、出力のハイレベルはト
ランジスタQ4のベース・エミッタ間電圧Vatの減少
により高くなり、ロウレベルは電流■6の電流増加、抵
抗R1の増大によりトランジスタQ4のベースレベルが
下がるので、その分子がってしまう。従って、第6図に
示すように、出力波形の傾きが高温では急になってしま
う。
(発明が解決しようとする課題)
このように、上記従来の回路では、高温:こなると、ラ
ンプ波形の傾きが急になり、所定温度での動作補償を確
実にできないという問題があった。
ンプ波形の傾きが急になり、所定温度での動作補償を確
実にできないという問題があった。
本発明の目的は、このような従来の問題を解決し、温度
が変動しても、ランプ波形の傾きの変動を小さくするラ
ンプ波形発生回路を提供することにある。
が変動しても、ランプ波形の傾きの変動を小さくするラ
ンプ波形発生回路を提供することにある。
(課題を解決するための手段)
上記目的を達成するため、本発明のランプ波形発生回路
は、ランプ波形発生回路において、電流源の基準電圧源
としてオペアンプ、トランジスタ、温度係数の少ない外
付は抵抗からなる定電流源回路と、カレントミラー回路
とを併用して、容量の電荷を充電もしくは放電させる電
流源の電流値を温度変動に対し一定に制御することに特
徴がある。
は、ランプ波形発生回路において、電流源の基準電圧源
としてオペアンプ、トランジスタ、温度係数の少ない外
付は抵抗からなる定電流源回路と、カレントミラー回路
とを併用して、容量の電荷を充電もしくは放電させる電
流源の電流値を温度変動に対し一定に制御することに特
徴がある。
(作用)
本発明においては、電流源の基準電圧源としてオペアン
プ、トランジスタ、温度係数の少ない外付は抵抗からな
る定電流源回路と、カレントミラー回路とを併用して、
容量の電荷を充電もしくは放電させる電流源の電流値を
温度変動に対し一定に制御する。
プ、トランジスタ、温度係数の少ない外付は抵抗からな
る定電流源回路と、カレントミラー回路とを併用して、
容量の電荷を充電もしくは放電させる電流源の電流値を
温度変動に対し一定に制御する。
(実施例)
以下、本発明の一実施例を、図面により詳細に説明する
。
。
第1図は本発明の一実施例を示すランプ波形発生回路の
回路図である。
回路図である。
第1図において、1は定電圧電源回路、2はオペアンプ
、01〜Q、、 Q、はトランジスタ、R,〜R4゜R
,は抵抗、Rrefは外付は抵抗、Crampはランプ
容量である。
、01〜Q、、 Q、はトランジスタ、R,〜R4゜R
,は抵抗、Rrefは外付は抵抗、Crampはランプ
容量である。
本実施例では、電流源の基準電圧源としてオペアンプ2
.トランジスタQX、抵抗Rrs fからなる定電流源
回路を用い、カレントミラー回路(トランジスタし、抵
抗R,に対し、トランジスタQs、抵抗R3及びトラン
ジスタQ5、抵抗R4がカレントミラーとなっている)
を併用して、容量Crヮ。2の電荷を充電もしくは放電
させる電流源(トランジスタQ5、抵抗R4)の電流値
I rampを温度変動に対し一定にしている。また、
第1図中、定電圧電源回路1及び破線で囲んだ部分は従
来と同様であるので、上述した従来の技術の説明を参照
されたい。
.トランジスタQX、抵抗Rrs fからなる定電流源
回路を用い、カレントミラー回路(トランジスタし、抵
抗R,に対し、トランジスタQs、抵抗R3及びトラン
ジスタQ5、抵抗R4がカレントミラーとなっている)
を併用して、容量Crヮ。2の電荷を充電もしくは放電
させる電流源(トランジスタQ5、抵抗R4)の電流値
I rampを温度変動に対し一定にしている。また、
第1図中、定電圧電源回路1及び破線で囲んだ部分は従
来と同様であるので、上述した従来の技術の説明を参照
されたい。
第1図のランプ波形発生回路の基本動作については従来
と同様であるので、従来の技術の説明を参照することと
し、以下では本実施例の特徴的な温度依存の抑制につい
て説明する。
と同様であるので、従来の技術の説明を参照することと
し、以下では本実施例の特徴的な温度依存の抑制につい
て説明する。
オペアンプ2により2人力の電位差がほぼO■となるよ
うに、フィードバックがかかる。定電圧電源回路1によ
り発生される電圧VRと同じ電圧■1..が抵抗Rrs
rの両端にかかる。このとき、抵抗Rr e tに流れ
る電流工1..は、で求まる。電圧Vrmtは温度によ
る変動はないので、抵抗Rr@fに温度係数の少ない抵
抗(ICCチップ低抵抗はなく、外付は抵抗にし、温度
係数の少ないもの)を使うことにより、電流Ir1lf
の温度依存を小さく抑えることができる。また、トラン
ジスタQ、、抵抗R,に対し、トランジスタQ、、 R
,及びトランジスタQ5、抵抗R4はそれぞれカレント
ミラーとなっているので、電流す、I−□pの温度依存
は小さく抑えられる。従って、出力ランプ波形はトラン
ジスタQ4のベース・エミッタ間電圧vIBEの減少に
より出力レベルは高くなるが、ランプ波形の傾きは一定
となる。この入出力波形の例を第2図に示す。
うに、フィードバックがかかる。定電圧電源回路1によ
り発生される電圧VRと同じ電圧■1..が抵抗Rrs
rの両端にかかる。このとき、抵抗Rr e tに流れ
る電流工1..は、で求まる。電圧Vrmtは温度によ
る変動はないので、抵抗Rr@fに温度係数の少ない抵
抗(ICCチップ低抵抗はなく、外付は抵抗にし、温度
係数の少ないもの)を使うことにより、電流Ir1lf
の温度依存を小さく抑えることができる。また、トラン
ジスタQ、、抵抗R,に対し、トランジスタQ、、 R
,及びトランジスタQ5、抵抗R4はそれぞれカレント
ミラーとなっているので、電流す、I−□pの温度依存
は小さく抑えられる。従って、出力ランプ波形はトラン
ジスタQ4のベース・エミッタ間電圧vIBEの減少に
より出力レベルは高くなるが、ランプ波形の傾きは一定
となる。この入出力波形の例を第2図に示す。
第3図は本発明を適用した高速遅延時間制御回路の構成
図である。また、第4図にその入出力信号の例を示す。
図である。また、第4図にその入出力信号の例を示す。
本遅延時間制御回路は、ランプ波形発生回路31と、D
/Aコンバータ32とコンパレータ33とから構成され
る。ここで、ランプ波形発生回路31の詳細構成は第1
図と同様である。
/Aコンバータ32とコンパレータ33とから構成され
る。ここで、ランプ波形発生回路31の詳細構成は第1
図と同様である。
D/Aコンバータ32は8ビツトのデータ入力により選
択される、ある直流電圧レベルを発生する。ランプ波形
発生回路31はディジタル入力(VIN)によりランプ
波形(VRIMP)を発生する。これらの波形(VFI
AMP、VDAC)がコンパレータ33に入力される。
択される、ある直流電圧レベルを発生する。ランプ波形
発生回路31はディジタル入力(VIN)によりランプ
波形(VRIMP)を発生する。これらの波形(VFI
AMP、VDAC)がコンパレータ33に入力される。
コンパレータ33はD/Aコンバータ32の出力を比較
電圧としてランプ波形の電圧レベル(V*Amp)が、
その比較、電圧を通過した時、出力(Vout)を反転
させる。D/Aコンバータ32の入力を変更することに
より、データ入力変数を小さくすると、2″ステツプの
高分解能遅延時間制御が可能である。例えば、8ビツト
のD/Aコンバータ32を用いた場合は、256ステツ
プの高分解能が得られる。
電圧としてランプ波形の電圧レベル(V*Amp)が、
その比較、電圧を通過した時、出力(Vout)を反転
させる。D/Aコンバータ32の入力を変更することに
より、データ入力変数を小さくすると、2″ステツプの
高分解能遅延時間制御が可能である。例えば、8ビツト
のD/Aコンバータ32を用いた場合は、256ステツ
プの高分解能が得られる。
第3図の遅延時間制御回路では、ランプ波形発生回路に
第1図の回路を用いているので、温度変動による傾きの
温度依存性を制御でき、遅延時間の温度影響を防止でき
る。従って、遅延時間制御回路の温度に対する動作保証
が確実にできる。
第1図の回路を用いているので、温度変動による傾きの
温度依存性を制御でき、遅延時間の温度影響を防止でき
る。従って、遅延時間制御回路の温度に対する動作保証
が確実にできる。
(発明の効果)
以上説明したように、本発明によれば、周囲温度が変動
しても、ランプ波形の傾きは変動を小さくすることがで
きるので、所定温度に対する回路の動作保証が確実にな
る。
しても、ランプ波形の傾きは変動を小さくすることがで
きるので、所定温度に対する回路の動作保証が確実にな
る。
第1図は本発明の一実施例を示すランプ波形発生回路の
回路図、 第2図は本発明の実施例における入出力波形を示す図、 第3図は本発明を適用した遅延時間制御回路の構成図、 第4図は第3図の入出力信号を示す図、第5図は従来の
ランプ波形発生回路の回路図、第6図は従来の入出力波
形を示す図である。 1・・・定電圧電源回路、 2・・・オペアンプ、Q
1〜Qa、 Qx・・・トランジスタ、R1−R4,R
,・・・抵抗、 Rr@f・・・外付は抵抗、Cr
amp・・・ランプ容量。
回路図、 第2図は本発明の実施例における入出力波形を示す図、 第3図は本発明を適用した遅延時間制御回路の構成図、 第4図は第3図の入出力信号を示す図、第5図は従来の
ランプ波形発生回路の回路図、第6図は従来の入出力波
形を示す図である。 1・・・定電圧電源回路、 2・・・オペアンプ、Q
1〜Qa、 Qx・・・トランジスタ、R1−R4,R
,・・・抵抗、 Rr@f・・・外付は抵抗、Cr
amp・・・ランプ容量。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ランプ波形発生回路において、 電流源の基準電圧源としてオペアンプ、トランジスタ、
温度係数の少ない外付け抵抗からなる定電流源回路と、
カレントミラー回路とを併用して、容量の電荷を充電も
しくは放電させる電流源の電流値を温度変動に対し一定
に制御することを特徴とするランプ波形発生回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15758490A JPH0448812A (ja) | 1990-06-18 | 1990-06-18 | ランプ波形発生回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15758490A JPH0448812A (ja) | 1990-06-18 | 1990-06-18 | ランプ波形発生回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0448812A true JPH0448812A (ja) | 1992-02-18 |
Family
ID=15652897
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15758490A Pending JPH0448812A (ja) | 1990-06-18 | 1990-06-18 | ランプ波形発生回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0448812A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7075474B2 (en) | 2004-07-02 | 2006-07-11 | Fujitsu Limited | Ramp waveform generation circuit, analog/digital conversion circuit, imaging device and control method of imaging device |
US7271632B2 (en) | 2003-11-14 | 2007-09-18 | Stmicroelectronics Sa | Controlled slope voltage ramp generator |
JP2008071218A (ja) * | 2006-09-15 | 2008-03-27 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | 電圧源回路 |
US7816955B2 (en) | 2007-03-20 | 2010-10-19 | Hitachi, Ltd. | Ramp generator and circuit pattern inspection apparatus using the same ramp generator |
-
1990
- 1990-06-18 JP JP15758490A patent/JPH0448812A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7271632B2 (en) | 2003-11-14 | 2007-09-18 | Stmicroelectronics Sa | Controlled slope voltage ramp generator |
US7075474B2 (en) | 2004-07-02 | 2006-07-11 | Fujitsu Limited | Ramp waveform generation circuit, analog/digital conversion circuit, imaging device and control method of imaging device |
JP2008071218A (ja) * | 2006-09-15 | 2008-03-27 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | 電圧源回路 |
US7816955B2 (en) | 2007-03-20 | 2010-10-19 | Hitachi, Ltd. | Ramp generator and circuit pattern inspection apparatus using the same ramp generator |
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