JPH04349686A - Chip carrier - Google Patents
Chip carrierInfo
- Publication number
- JPH04349686A JPH04349686A JP12333091A JP12333091A JPH04349686A JP H04349686 A JPH04349686 A JP H04349686A JP 12333091 A JP12333091 A JP 12333091A JP 12333091 A JP12333091 A JP 12333091A JP H04349686 A JPH04349686 A JP H04349686A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chip carrier
- flexible substrate
- optical semiconductor
- integrated circuit
- base
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 38
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 28
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 22
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 13
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 13
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 6
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 claims description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 claims description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 abstract description 19
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 abstract description 2
- 230000004043 responsiveness Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 8
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 7
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 6
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 5
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 4
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 230000003139 buffering effect Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
Description
[発明の目的] [Purpose of the invention]
【0001】0001
【産業上の利用分野】本発明は、光半導体素子を実装す
るチップキャリアに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a chip carrier for mounting optical semiconductor elements.
【0002】0002
【従来の技術】近年、光通信や光情報処理における伝送
速度,処理速度の高速化にともない、光半導体素子の高
速応答特性が重要になってきた。高速応答特性を実現す
るためには素子自体の高速性とともに、高速応答に適し
た素子の実装が必要である。2. Description of the Related Art In recent years, as transmission speeds and processing speeds in optical communications and optical information processing have increased, high-speed response characteristics of optical semiconductor devices have become important. In order to achieve high-speed response characteristics, it is necessary not only for the element itself to be high-speed, but also to implement an element suitable for high-speed response.
【0003】半導体素子実装用のチップキャリアは、光
半導体素子を搭載するエリアと、光半導体素子の電極と
ワイヤーボンディング等によって接続される電極パッド
とが設けられた最も単純な形態のパッケージである。チ
ップキャリアに実装された光半導体素子は、他の光半導
体素子や集積回路素子と組合せが容易で、光ファイバ等
との光学結合系の設計に自由度が大きいため、様々な用
途に使用されている。A chip carrier for mounting semiconductor elements is the simplest type of package provided with an area for mounting an optical semiconductor element and electrode pads connected to electrodes of the optical semiconductor element by wire bonding or the like. Optical semiconductor devices mounted on chip carriers are easy to combine with other optical semiconductor devices and integrated circuit devices, and have a high degree of freedom in designing optical coupling systems with optical fibers, etc., so they are used for a variety of purposes. There is.
【0004】図7に従来用いられてきたチップキャリア
の例を光半導体素子としてレーザダイオードチップを実
装した場合について示す。FIG. 7 shows an example of a conventionally used chip carrier in which a laser diode chip is mounted as an optical semiconductor element.
【0005】図7において、レーザダイオード1は、金
属製の基台2上に固定したヒートシンク3上に半田によ
って固定される。ヒートシンク3はレーザダイオード1
の発熱を効率よく基台2に放熱すると同時に、レーザダ
イオード1と基台2の熱膨脹の差を吸収する緩衡部材で
ある。レーザダイオード1の電極は金属ワイヤ4により
アノード側は基台2に直接、カソード側はヒートシンク
3上から電極パッド5に接続される。電極パッド5はセ
ラミックで作製され、基台2とは電気的に絶縁されてい
る。電極パッド5上には外部回路と接続するための金属
製のリード6が設けられている。In FIG. 7, a laser diode 1 is fixed by solder onto a heat sink 3 fixed on a metal base 2. As shown in FIG. Heat sink 3 is laser diode 1
This is a buffering member that efficiently dissipates the heat generated by the laser diode 1 and the base 2 to the base 2, and at the same time absorbs the difference in thermal expansion between the laser diode 1 and the base 2. The electrodes of the laser diode 1 are connected by metal wires 4 directly to the base 2 on the anode side and to the electrode pads 5 on the heat sink 3 on the cathode side. The electrode pad 5 is made of ceramic and is electrically insulated from the base 2. A metal lead 6 is provided on the electrode pad 5 for connection to an external circuit.
【0006】このようなチップキャリアを使用すれば、
リード6と基台2とを電極として外部の駆動回路と接続
すればレーザダイオード1を変調することが可能である
。しかしながら、変調速度が数百MHz以上と高速であ
る場合には、レーザダイオード1がいかに高速応答特性
に優れていても実装による寄生インピーダンスの影響に
より高速変調が困難になる。図7に示すチップキャリア
を用いてレーザダイオード1を変調した場合の等価回路
を図8に示す。図8中のLL ,CC はそれぞれリー
ド6の寄生インダクタンス,電極パッド5の寄生キャパ
シタンスである。これらの寄生インダクタンスやキャパ
シタンスはチップキャリアの構造上、無視しうる程小さ
くするには物理的に困難であり、数百MHz以上の高速
の変調信号を伝送した場合は、波形劣化が生じてしまう
ことから、変調可能な速度には限界があった。[0006] If such a chip carrier is used,
The laser diode 1 can be modulated by connecting the leads 6 and the base 2 as electrodes to an external drive circuit. However, when the modulation speed is as high as several hundred MHz or more, high-speed modulation becomes difficult due to the influence of parasitic impedance due to mounting, no matter how excellent the laser diode 1 has high-speed response characteristics. FIG. 8 shows an equivalent circuit when the laser diode 1 is modulated using the chip carrier shown in FIG. LL and CC in FIG. 8 are the parasitic inductance of the lead 6 and the parasitic capacitance of the electrode pad 5, respectively. Due to the structure of the chip carrier, it is physically difficult to reduce these parasitic inductances and capacitances to a negligible level, and when transmitting high-speed modulation signals of several hundred MHz or more, waveform deterioration may occur. Therefore, there was a limit to the speed that could be modulated.
【0007】また、IC化した駆動回路を同一チップキ
ャリア上に実装するような場合には、電極パッド5上に
必要な本数のリードを設ける必要がある。これらのリー
ドは機械的に電極パッド上に固定されるため、加工上の
問題で小型化するには限界があり高密度実装が困難であ
った。[0007] Furthermore, in the case where an IC-based drive circuit is mounted on the same chip carrier, it is necessary to provide a necessary number of leads on the electrode pads 5. Since these leads are mechanically fixed onto the electrode pads, there is a limit to miniaturization due to processing problems, making high-density packaging difficult.
【0008】また、レーザダイオード1は熱電気冷却素
子を用いて温度制御して使用する場合がある。図9に従
来のチップキャリアを使用した熱電気冷却素子内蔵型レ
ーザダイオードモジュールの断面図を示す。基台2はネ
ジ等によって第2の基台8上に固定され、熱電気冷却素
子9上に搭載される。光ファイバ10はレーザダイオー
ド1と光軸調整され、心線部分が半田により第2の基台
8上に固定される。さらに、11はパッケージであり、
チップキャリア,熱電気冷却素子9を収容すると共に、
十分な機械的強度で光ファイバ10及びチップキャリア
のリード6に接続する信号入力端子12が固定されてい
る。このような構成では、熱電気冷却素子9によってチ
ップキャリア部分が例えば摂氏25度になるように温度
制御されていても、パッケージ11外部の環境温度が例
えば80度と高い場合には、外部の熱がチップキャリア
のリード6を通じて流れ込むために、熱電気冷却素子9
を大きな電力で駆動して冷却しなければならず、温度差
が大きい場合には十分な冷却能力が得られないという欠
点が生じていた。また、パッケージの熱膨脹による熱応
力がリード6を通じてチップキャリアに加わるため、レ
ーザダイオード1の光軸ずれを生じ光ファイバ10から
の光出力が変動してしまうという欠点があった。Further, the laser diode 1 may be used with its temperature controlled using a thermoelectric cooling element. FIG. 9 shows a cross-sectional view of a laser diode module with a built-in thermoelectric cooling element using a conventional chip carrier. The base 2 is fixed onto a second base 8 with screws or the like, and mounted on a thermoelectric cooling element 9. The optical axis of the optical fiber 10 is aligned with the laser diode 1, and the core portion is fixed onto the second base 8 by soldering. Furthermore, 11 is a package,
In addition to accommodating a chip carrier and a thermoelectric cooling element 9,
A signal input terminal 12 connected to the optical fiber 10 and the lead 6 of the chip carrier is fixed with sufficient mechanical strength. In such a configuration, even if the temperature of the chip carrier portion is controlled to be, for example, 25 degrees Celsius by the thermoelectric cooling element 9, if the environmental temperature outside the package 11 is as high as, for example, 80 degrees Celsius, the external heat flows through the leads 6 of the chip carrier so that the thermoelectric cooling element 9
must be driven with a large amount of electric power to cool it down, which has the disadvantage that sufficient cooling capacity cannot be obtained when the temperature difference is large. Furthermore, since thermal stress due to thermal expansion of the package is applied to the chip carrier through the leads 6, there is a drawback that the optical axis of the laser diode 1 is shifted and the optical output from the optical fiber 10 fluctuates.
【0009】[0009]
【発明が解決しようとする課題】以上述べたように、従
来のチップキャリアでは、リードや絶縁用部材による寄
生インピーダンスにより、十分な高速応答特性や高密度
実装の実現が困難であった。また、チップキャリアを熱
電気冷却素子上に実装した場合、外部の温度が高いと十
分な冷却能力が得られず,レーザダイオードの光軸ずれ
という問題も生じていた。As described above, in conventional chip carriers, it has been difficult to achieve sufficient high-speed response characteristics and high-density packaging due to parasitic impedance caused by leads and insulating members. Furthermore, when the chip carrier is mounted on a thermoelectric cooling element, sufficient cooling capacity cannot be obtained when the external temperature is high, which also causes the problem of optical axis misalignment of the laser diode.
【0010】本発明は上記の課題を解決すべくなされた
もので、寄生インピーダンスによって高速応答特性を劣
化させることがなく、高密度実装可能で、熱電気冷却素
子上に実装した場合には十分な冷却能力が得られ、光半
導体素子の光軸ずれを生じないチップキャリアを提供す
ることを目的とする。
[発明の構成]The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and is capable of high-density mounting without deteriorating high-speed response characteristics due to parasitic impedance, and has sufficient performance when mounted on a thermoelectric cooling element. It is an object of the present invention to provide a chip carrier that has a cooling capacity and does not cause optical axis deviation of an optical semiconductor element. [Structure of the invention]
【0011】[0011]
【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するた
めに本発明のチップキャリアは、光半導体素子,あるい
は光半導体素子に加えて集積回路素子を載置する基台と
、前記基台上に載置されるフレキシブル配線基板と、前
記光半導体素子あるいは集積回路素子と前記フレキシブ
ル配線基板とを電気的に接続する接続手段とを具備した
ことを特徴とし、前記フレキシブル基板は金属導体層と
ポリイミド絶縁層よりなり、インピーダンス整合された
伝送線路が形成されていることを特徴する。[Means for Solving the Problems] In order to solve the above problems, the chip carrier of the present invention includes a base on which an optical semiconductor element or an integrated circuit element is mounted in addition to the optical semiconductor element, and a base on which an optical semiconductor element or an integrated circuit element is placed in addition to the optical semiconductor element. The flexible wiring board is characterized by comprising: a flexible wiring board placed on a metal conductor layer and a connecting means for electrically connecting the optical semiconductor element or integrated circuit element to the flexible wiring board; It is characterized by forming an impedance-matched transmission line made of an insulating layer.
【0012】0012
【作用】上記構成のチップキャリアでは、光半導体素子
が搭載される基台上にフレキシブル基板を設け、このフ
レキシブル基板には、伝送線路が形成されており、外部
回路と接続した際にインピーダンス整合が容易にでき、
寄生インピーダンスによる影響を受けることはないので
、高周波信号の波形劣化が生じなくなる。また、フレキ
シブル基板の線路の配線パターンは微細加工が可能であ
ることから、複数の配線が必要な場合でも実装面積は小
さくなる。[Function] In the chip carrier with the above configuration, a flexible substrate is provided on the base on which the optical semiconductor element is mounted, and a transmission line is formed on this flexible substrate, so that impedance matching is achieved when connected to an external circuit. easily done,
Since it is not affected by parasitic impedance, waveform deterioration of the high frequency signal does not occur. Further, since the wiring pattern of the lines on the flexible substrate can be microfabricated, the mounting area can be reduced even if a plurality of wirings are required.
【0013】また、フレキシブル基板には高い熱抵抗が
あるので、外部から前記光半導体素子に伝わる熱を低減
させることができる。さらにフレキシブル基板のもつ柔
軟性により外部から加わる応力を吸収できる。Furthermore, since the flexible substrate has high thermal resistance, it is possible to reduce heat transmitted from the outside to the optical semiconductor element. Furthermore, the flexibility of the flexible substrate allows it to absorb stress applied from the outside.
【0014】[0014]
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を用いて説明す
る。Embodiments Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
【0015】図1は、本発明の光半導体素子用チップキ
ャリアの実施例を示した図である。図1に示すチップキ
ャリアは、外部回路(図示せず)とレーザダイオード1
との接続にフレキシブル基板15を用いている。このフ
レキシブル基板15上には伝送線路としてマイクロスト
リップライン14が形成され、金属製の基台2に固定さ
れている。フレキシブル基板15は、例えば図2に示す
ようにポリイミドを用いた絶縁層Aと銅を用いた導体層
B,Cにより形成され、絶縁層A上部の導体層Bのライ
ンパターンはエッチングにより微細加工されたものであ
る。FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of a chip carrier for an optical semiconductor device according to the present invention. The chip carrier shown in Figure 1 has an external circuit (not shown) and a laser diode 1.
A flexible substrate 15 is used for connection. A microstrip line 14 is formed as a transmission line on this flexible substrate 15 and is fixed to a metal base 2. For example, as shown in FIG. 2, the flexible substrate 15 is formed of an insulating layer A made of polyimide and conductor layers B and C made of copper, and the line pattern of the conductor layer B above the insulating layer A is microfabricated by etching. It is something that
【0016】図1に戻り、13は回路を終端するインピ
ーダンス整合抵抗ある。基台2上にヒートシンク3を介
して固定されたレーザダイオード1の電極は、一方がマ
イクロストリップライン14へもう一方はインピーダン
ス整合抵抗13に金属ワイヤ4で接続されている。この
金属ワイヤ4は例えばワイヤーボンディング法でボンデ
ィングされ、10〜100μm程度の直径である。Returning to FIG. 1, reference numeral 13 denotes an impedance matching resistor that terminates the circuit. The electrodes of a laser diode 1 fixed on a base 2 via a heat sink 3 are connected to a microstrip line 14 on one side and an impedance matching resistor 13 on the other side with a metal wire 4. This metal wire 4 is bonded, for example, by a wire bonding method, and has a diameter of about 10 to 100 μm.
【0017】上記構成のチップキャリアを用いて、レー
ザダイオード1を変調した時の等価回路を図3に示す。
図3の回路で、レーザダイオード(LD)を駆動回路か
ら出力される数100MHzの高周波信号で変調する際
は、前記したマイクロストリップライン14の特性イン
ピーダンスと前記インピーダンス整合抵抗を所定の値(
例えば50Ω)に設定しておけば、高周波信号を波形劣
化を生じることなくレーザダイオードに印加させること
ができる。マイクロストリップライン14のインピーダ
ンス設定は、図2に示すフレキシブル基板15の絶縁層
Aの厚さh,ラインパターンの幅w,厚さt,絶縁体の
比誘導率,金属の種類等を変えることによって容易に行
える。従って、従来生じていた寄生インピーダンスによ
る波形劣化は起きず、高速応答に優れたチップキャリア
が実現できる。FIG. 3 shows an equivalent circuit when the laser diode 1 is modulated using the chip carrier having the above structure. In the circuit of FIG. 3, when modulating the laser diode (LD) with a high frequency signal of several hundred MHz output from the drive circuit, the characteristic impedance of the microstrip line 14 and the impedance matching resistor are set to a predetermined value (
For example, if it is set to 50Ω), a high frequency signal can be applied to the laser diode without waveform deterioration. The impedance of the microstrip line 14 can be set by changing the thickness h of the insulating layer A of the flexible substrate 15 shown in FIG. 2, the width w of the line pattern, the thickness t, the specific conductivity of the insulator, the type of metal, etc. It's easy to do. Therefore, waveform deterioration due to parasitic impedance, which conventionally occurs, does not occur, and a chip carrier with excellent high-speed response can be realized.
【0018】ところで前記フレキシブル基板は、特性イ
ンピーダンスの値にもよるが、熱伝導率の高い導体層は
数十ミクロンの薄さにでき、絶縁層は導体層と比べて3
桁程度熱伝導率が小さい。上記したチップキャリアを熱
電気冷却素子上に実装して、図9に示したパッケージ1
1に収容した場合、パッケージと光半導体素子間は高い
熱抵抗で接続することができる。即ち、熱電気冷却素子
によって温度制御されたチップキャリアの温度に対し、
パッケージの周囲の環境温度が高い場合でも、フレキシ
ブル基板の熱抵抗は高いことから、パッケージからの熱
の流れを十分に小さくできる。これにより、熱電気冷却
素子を必要以上に大きな電力で駆動せずに十分な冷却能
力を得ることができる。By the way, in the flexible substrate, the conductor layer with high thermal conductivity can be made as thin as several tens of microns, and the insulating layer can be made thinner than the conductor layer, depending on the value of characteristic impedance.
Thermal conductivity is orders of magnitude lower. Package 1 shown in FIG. 9 is obtained by mounting the above-mentioned chip carrier on a thermoelectric cooling element.
1, the package and the optical semiconductor element can be connected with high thermal resistance. That is, for the temperature of the chip carrier whose temperature is controlled by the thermoelectric cooling element,
Even when the environmental temperature around the package is high, the thermal resistance of the flexible substrate is high, so the flow of heat from the package can be sufficiently reduced. Thereby, sufficient cooling capacity can be obtained without driving the thermoelectric cooling element with unnecessarily large power.
【0019】さらに、前記フレキシブル基板15は、そ
の柔軟性から図9のパッケージ11の熱膨脹によって生
じる応力を吸収できる。パッケージ11周囲の環境温度
が高くなると、パッケージ11は例えば上下左右に拡が
るように熱膨脹を起こす。これに伴ない、パッケージ1
1と接続されているフレキシブル基板には引っ張りなど
の応力が発生するが、フレキシブル基板には柔軟性があ
ることから、この応力を見込んでフレキシブル基板をあ
らかじめ僅かにたるませておくことによって、応力が発
生した場合でもこれを吸収することができる。これによ
り、応力発生によるレーザダイオード1の光軸ずれは生
じることがなく、安定した光ファイバの出力を得ること
ができる。Further, the flexible substrate 15 can absorb stress caused by thermal expansion of the package 11 shown in FIG. 9 due to its flexibility. When the environmental temperature around the package 11 increases, the package 11 thermally expands, for example, expanding vertically and horizontally. Along with this, package 1
Stress such as tension occurs on the flexible board connected to 1, but since the flexible board is flexible, the stress can be reduced by allowing the flexible board to slacken slightly in advance to account for this stress. Even if it occurs, it can be absorbed. As a result, the optical axis of the laser diode 1 is not shifted due to stress generation, and stable output from the optical fiber can be obtained.
【0020】次に第2の実施例を図4を参照して説明す
る。本実施例では第1の実施例と異なり、2本のマイク
ロストリップライン14にレーザダイオード1の各電極
を金属ワイヤ4で接続した構成となっている。この様な
構成によればインピーダンス整合用抵抗(図示せず)に
よる回路の終端をチップキャリア上ではなく、チップキ
ャリアを収容するパッケージで行えるため、抵抗の発熱
がレーザダイオード1へ伝わることによって生じる悪影
響を防止することができる。Next, a second embodiment will be explained with reference to FIG. This embodiment differs from the first embodiment in that each electrode of the laser diode 1 is connected to two microstrip lines 14 with a metal wire 4. With this configuration, the circuit can be terminated using an impedance matching resistor (not shown) in the package that houses the chip carrier, rather than on the chip carrier, thereby reducing the adverse effects caused by the heat generated by the resistor being transmitted to the laser diode 1. can be prevented.
【0021】次に第3の実施例を図5を参照して説明す
る。図5は光半導体素子に加えて、これを駆動する集積
回路素子であるレーザダイオード駆動回路16もチップ
キャリア上に実装した例である。信号源(図示せず)と
集積回路素子16とはインピーダンス整合されたマイク
ロストリップライン14で接続されているため、信号源
から出力される高周波信号は波形劣化することなく集積
回路素子に入力される。集積回路素子を使用するには信
号ラインの他に電源ライン,バイアス調整用ライン等の
複数のライン17を必要とする。フレキシブル基板15
の配線パターンはエッチング等により形成されるのでラ
イン幅,ライン間隔とも100μm程度の加工が可能で
、複数の配線が必要な場合でも実装に必要な面積は小さ
くすることができ、従来,実現困難だった高密度実装が
可能になる。Next, a third embodiment will be explained with reference to FIG. FIG. 5 shows an example in which, in addition to the optical semiconductor element, a laser diode drive circuit 16, which is an integrated circuit element for driving the optical semiconductor element, is also mounted on the chip carrier. Since the signal source (not shown) and the integrated circuit element 16 are connected by the impedance-matched microstrip line 14, the high frequency signal output from the signal source is input to the integrated circuit element without waveform deterioration. . In order to use an integrated circuit element, a plurality of lines 17 such as a power supply line and a bias adjustment line are required in addition to the signal line. Flexible board 15
The wiring pattern is formed by etching, etc., so it is possible to process the line width and line spacing to about 100 μm, and even if multiple wiring is required, the area required for mounting can be reduced, which was previously difficult to achieve. This enables high-density packaging.
【0022】次に第4の実施例について説明する。図6
は光半導体素子として裏面入射型フォトダイオード18
,集積回路素子として例えば電流/電圧変換可能な増幅
回路素子19を用いた第4の実施例を説明する図である
。この例では、フォトダイオード18と集積回路素子で
ある増幅回路素子19とは、フレキシブル基板15に対
してバンプ20を用いたフリップチップ実装法によって
電気的に接続されている。バンプ20は半田や金,合金
等が適用可能である。このような構成によれば集積回路
素子からの高周波出力信号は、次段の電子回路(図示せ
ず)とインピーダンス整合されたマイクロストリップラ
イン14で接続されているため波形劣化を生じることな
く接続することができる。また、高密度実装が可能であ
ることも第3の実施例と同様である。Next, a fourth embodiment will be explained. Figure 6
is a back-illuminated photodiode 18 as an optical semiconductor element.
, is a diagram illustrating a fourth embodiment in which, for example, an amplifier circuit element 19 capable of current/voltage conversion is used as an integrated circuit element. In this example, the photodiode 18 and the amplifier circuit element 19, which is an integrated circuit element, are electrically connected to the flexible substrate 15 by a flip-chip mounting method using bumps 20. The bumps 20 can be made of solder, gold, alloy, or the like. According to this configuration, the high frequency output signal from the integrated circuit element is connected to the next stage electronic circuit (not shown) through the impedance-matched microstrip line 14, so that the high frequency output signal can be connected without causing any waveform deterioration. be able to. Also, similar to the third embodiment, high-density packaging is possible.
【0023】[0023]
【発明の効果】以上述べたように、本発明のチップキャ
リアによれば、高速応答性に優れ、高速変調信号の波形
劣化を防止し得、高密度実装可能で、熱電子冷却素子上
に実装した場合には十分な冷却能力が得られ、光半導体
素子の光軸ずれを防止することができる。[Effects of the Invention] As described above, the chip carrier of the present invention has excellent high-speed response, can prevent waveform deterioration of high-speed modulation signals, can be mounted at high density, and can be mounted on a thermionic cooling element. In this case, sufficient cooling capacity can be obtained and optical axis deviation of the optical semiconductor element can be prevented.
【図1】本発明の第1の実施例を示す図。FIG. 1 is a diagram showing a first embodiment of the present invention.
【図2】本発明に用いられるフレキシブル基板を示す図
。FIG. 2 is a diagram showing a flexible substrate used in the present invention.
【図3】レーザダイオード変調時における等価回路を示
す図。FIG. 3 is a diagram showing an equivalent circuit during laser diode modulation.
【図4】本発明の第2の実施例を示す図。FIG. 4 is a diagram showing a second embodiment of the present invention.
【図5】本発明の第3の実施例を示す図。FIG. 5 is a diagram showing a third embodiment of the present invention.
【図6】本発明の第4の実施例を示す図。FIG. 6 is a diagram showing a fourth embodiment of the present invention.
【図7】従来のチップキャリアを示す図。FIG. 7 is a diagram showing a conventional chip carrier.
【図8】従来のチップキャリアを用いてレーザダイオー
ドを変調した場合の等価回路を示す図。FIG. 8 is a diagram showing an equivalent circuit when a laser diode is modulated using a conventional chip carrier.
【図9】従来のチップキャリアを用いたレーザダイオー
ドモジュールを示す図。FIG. 9 is a diagram showing a laser diode module using a conventional chip carrier.
Claims (9)
基台上に載置されるフレキシブル基板と、前記光半導体
素子と前記フレキシブル基板とを電気的に接続する接続
手段とを具備したことを特徴とするチップキャリア。1. A base comprising a base on which an optical semiconductor element is placed, a flexible substrate placed on the base, and connection means for electrically connecting the optical semiconductor element and the flexible substrate. A chip carrier characterized by:
とを特徴とする請求項1記載のチップキャリア。2. The chip carrier according to claim 1, wherein the connecting means is a metal wire.
特徴とする請求項1記載のチップキャリア。3. The chip carrier according to claim 1, wherein the connecting means is a bump.
置する基台と、前記基台上に載置され複数の線路が形成
されたフレキシブル基板とを具備し、前記光半導体素子
と前記集積回路素子ならびに前記集積回路素子と前記フ
レキシブル基板は接続手段によって電気的に接続されて
いることを特徴とするチップキャリア。4. A base on which an optical semiconductor element and an integrated circuit element are placed, and a flexible substrate placed on the base and on which a plurality of lines are formed, wherein the optical semiconductor element and the integrated circuit element are placed on a flexible substrate. A chip carrier, wherein the element, the integrated circuit element, and the flexible substrate are electrically connected by a connecting means.
ポリイミド絶縁層よりなり、インピーダンス整合された
伝送線路が形成されていることを特徴とする請求項1ま
たは請求項4記載のチップキャリア。5. The chip carrier according to claim 1, wherein the flexible substrate is made of a metal conductor layer and a polyimide insulating layer, and has an impedance-matched transmission line formed thereon.
とを接続する接続手段は金属ワイヤであることを特徴と
する請求項4記載のチップキャリア。6. The chip carrier according to claim 4, wherein the connecting means for connecting the optical semiconductor element and the integrated circuit element is a metal wire.
とを接続する接続手段はバンプであることを特徴とする
請求項4記載のチップキャリア。7. The chip carrier according to claim 4, wherein the connection means for connecting the optical semiconductor element and the integrated circuit element is a bump.
基板とを接続する接続手段は金属ワイヤであることを特
徴とする請求項4記載のチップキャリア。8. The chip carrier according to claim 4, wherein the connecting means for connecting the integrated circuit element and the flexible substrate is a metal wire.
基板とを接続する接続手段はバンプであることを特徴と
する請求項4記載のチップキャリア。9. The chip carrier according to claim 4, wherein the connecting means for connecting the integrated circuit element and the flexible substrate is a bump.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12333091A JPH04349686A (en) | 1991-05-28 | 1991-05-28 | Chip carrier |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12333091A JPH04349686A (en) | 1991-05-28 | 1991-05-28 | Chip carrier |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04349686A true JPH04349686A (en) | 1992-12-04 |
Family
ID=14857892
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12333091A Pending JPH04349686A (en) | 1991-05-28 | 1991-05-28 | Chip carrier |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04349686A (en) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1301061A2 (en) * | 2001-09-28 | 2003-04-09 | Agilent Technologies, Inc. - a Delaware corporation - | Flexible electrical interconnect for optical fibre transceivers |
JP2004146777A (en) * | 2002-08-26 | 2004-05-20 | Sumitomo Electric Ind Ltd | Semiconductor laser module and semiconductor laser |
JP2005286305A (en) * | 2004-03-02 | 2005-10-13 | Mitsubishi Electric Corp | Optical semiconductor device |
JP2006013202A (en) * | 2004-06-28 | 2006-01-12 | Mitsubishi Electric Corp | Optical module |
JP2006237436A (en) * | 2005-02-28 | 2006-09-07 | Opnext Japan Inc | Light emitting element module |
JP2008210962A (en) * | 2007-02-26 | 2008-09-11 | Fujitsu Ltd | Flexible substrate, optical component, optical transmitter, and optical receiver |
-
1991
- 1991-05-28 JP JP12333091A patent/JPH04349686A/en active Pending
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1301061A2 (en) * | 2001-09-28 | 2003-04-09 | Agilent Technologies, Inc. - a Delaware corporation - | Flexible electrical interconnect for optical fibre transceivers |
EP1301061A3 (en) * | 2001-09-28 | 2003-11-12 | Agilent Technologies, Inc. - a Delaware corporation - | Flexible electrical interconnect for optical fibre transceivers |
JP2004146777A (en) * | 2002-08-26 | 2004-05-20 | Sumitomo Electric Ind Ltd | Semiconductor laser module and semiconductor laser |
JP4586337B2 (en) * | 2002-08-26 | 2010-11-24 | 住友電気工業株式会社 | Semiconductor laser module and semiconductor laser device |
JP2005286305A (en) * | 2004-03-02 | 2005-10-13 | Mitsubishi Electric Corp | Optical semiconductor device |
JP2006013202A (en) * | 2004-06-28 | 2006-01-12 | Mitsubishi Electric Corp | Optical module |
JP2006237436A (en) * | 2005-02-28 | 2006-09-07 | Opnext Japan Inc | Light emitting element module |
JP2008210962A (en) * | 2007-02-26 | 2008-09-11 | Fujitsu Ltd | Flexible substrate, optical component, optical transmitter, and optical receiver |
US8283565B2 (en) | 2007-02-26 | 2012-10-09 | Fujitsu Limited | Flexible substrate |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101430634B1 (en) | Optical Modules | |
US11340412B2 (en) | Optical module | |
US6963123B2 (en) | IC package, optical transmitter, and optical receiver | |
JP7545349B2 (en) | Optical Modules | |
JPH04349686A (en) | Chip carrier | |
JPH02112250A (en) | Method of coupling semiconductor chip with substrate | |
JPH09148675A (en) | Mounting structure of optical module | |
US20040173898A1 (en) | Semiconductor apparatus having system-in-package arrangement with improved heat dissipation | |
JP2004335584A (en) | Semiconductor package | |
JP3434473B2 (en) | Silicon platform for optical module | |
JP7020590B1 (en) | Laser light source device | |
US20220149590A1 (en) | Optical semiconductor module | |
JP2001201672A (en) | Conversion module having optical semiconductor and method for manufacturing such conversion module | |
JPH06318763A (en) | Semiconductor laser device | |
JP2001007352A (en) | Optical-electrical mixedly mounted module | |
JP4798863B2 (en) | Opto-electric wiring board | |
JP2000164970A (en) | Optical element module | |
JP3555304B2 (en) | Electronic equipment | |
US20230209718A1 (en) | Optical module | |
JP2855980B2 (en) | Thermoelectric cooling module and cooled semiconductor laser module | |
KR100216523B1 (en) | Structure and manufacturing method of electroabsorption modulator | |
JP2970703B2 (en) | Semiconductor laser module | |
JP3449312B2 (en) | Semiconductor device | |
JP2021141302A (en) | Optical module | |
JP2004296730A (en) | Optical coupling device |