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JPH04302164A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

Info

Publication number
JPH04302164A
JPH04302164A JP3066270A JP6627091A JPH04302164A JP H04302164 A JPH04302164 A JP H04302164A JP 3066270 A JP3066270 A JP 3066270A JP 6627091 A JP6627091 A JP 6627091A JP H04302164 A JPH04302164 A JP H04302164A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
package
semiconductor device
electrodes
semiconductor
lead
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3066270A
Other languages
English (en)
Inventor
Masanori Yoshimoto
吉本 正則
Kazuto Tsuji
和人 辻
Junichi Kasai
純一 河西
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP3066270A priority Critical patent/JPH04302164A/ja
Publication of JPH04302164A publication Critical patent/JPH04302164A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Landscapes

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  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体装置に関する。詳
しくは1つのパッケージに複数個の半導体チップを積み
重ねて収容した半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の半導体装置は図5に示すようにダ
イステージ部8、インナーリード1a、アウターリード
1bより構成されるリードフレーム又はリードベースを
使用して製造される。すなわち、ダイステージ部8へ半
導体チップ3をダイ付けし、該半導体チップ3の電極と
インナーリード1aとの間を金線5等でワイヤボンディ
ングした後、樹脂6で封止しており、1つのパッケージ
に1つの半導体チップが基本であった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】近年の電子機器類の発
展に伴い、半導体装置は小型化・薄型化・大容量化・多
機能化が求められるようになってきている。
【0004】前者の小型化・薄型化に対しては、狭ピッ
チQFP (Quad Flat Package) 
やTSOP(Thin Small  Outline
  Package) 等の開発により対応可能である
が、後者の大容量化・多機能化については、半導体チッ
プの集積度及びプロセス技術に負うところが多く、パッ
ケージング技術によりこの要求を満たすことは困難であ
る。
【0005】本発明は、パッケージング技術により、大
容量化・多機能化した半導体装置を実現しようとする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体装置に於
いては、1つのパッケージ内に複数の同一機能、同一サ
イズの半導体チップが絶縁層を介して階段状に積み重ね
て搭載され、各半導体チップの階段状部分に露出した電
極と、パッケージのインナーリードとが電気的に接続さ
れて成ることを特徴とする。
【0007】また、それに加えて、上記半導体チップは
、その一辺又は隣接する2辺に電極が設けられ、該電極
が露出するように一方向又は2方向にずらして積み重ね
られていることを特徴とする。また、それに加えて、上
記半導体チップの電極とパッケージのインナーリードと
の電気的接続は、ワイヤボンディング技術又はテープオ
ートメイテッドボンディング技術により接続されたもの
であることを特徴とする。
【0008】また、それに加えて、上記半導体チップの
電極とパッケージのインナーリードとのワイヤボンディ
ングにおいて、同一インナーリードに接続される電極は
それぞれ別個のワイヤでインナーリードに接続されるか
又は一本のワイヤで各電極を順次接続し、さらにインナ
ーリードに接続されていることを特徴とする。この構成
を採ることに依り、大容量化・多機能化した半導体装置
が得られる。
【0009】
【作用】一つのパッケージに複数の半導体チップを階段
状に積み重ねて搭載することにより、各半導体チップの
電極とリードフレームのインナーリードとのワイヤボン
ディングが容易となる。また従来に比して1つのパッケ
ージで複数倍の容量・機能を持たすことができ、大容量
化・多機能化が実現される。
【0010】
【実施例】図1は本発明の第1の実施例を示す図であり
、(a)は(b)図のa−a線における断面図、(b)
は平面図である。本実施例はCOL 構造のプラスチッ
クパッケージの半導体装置であり、同図において1,2
はリード、3は半導体チップ、4は絶縁層、5はワイヤ
、6は封止樹脂、7は電極である。
【0011】リード1はインナーリード1aとアウター
リード1bとよりなり、リード2はインナーリード2a
とアウターリード2bと該インナーリード2aとアウタ
ーリード2bをつなぐ中間リード2cとよりなり、複数
のリード1がパッケージの一方の辺に、複数のリード2
が他方の辺に配設され、それぞれのインナーリード1a
,2aがパッケージの一方の辺に集められている。
【0012】また該リード2の中間リード2cはダイス
テージの役目をなし、その上には複数個の同一サイズで
同一機能を有し、且つ電極7が一方の辺に集中して設け
られた半導体チップ3が、それぞれ絶縁層4を介し、且
つ、その電極7が露出するように階段状にずらして積層
されている。
【0013】そして各半導体チップ3の同一作用をなす
電極7は(b)図のイ部分に示すように、同一インナー
リード1a又は2aにワイヤ5でワイヤボンデイングさ
れている。また素子選択用の電極7は(b)図のロ部分
に示すように、それぞれ単独で1つのインナーリード1
a又は2aにワイヤボンディングされている。
【0014】このように構成された本実施例は、外部か
らのチップセレクト信号により、複数個の半導体チップ
3から所要の半導体チップ3を選択し駆動することがで
きる。また本実施例によれば同一パッケージに複数個の
半導体チップを搭載しているため、従来に比して大容量
化・多機能化することができる。
【0015】図2は本発明の第2の実施例を示す図であ
り、(a)は(b)図のa−a線における断面図、(b
)は平面図である。同図において、図1と同一部分は同
一符号を付して示した。本実施例が前実施例と異なると
ころは、本実施例はZIP 型としたことであり、リー
ド1をパッケージの一方の辺に集め、且つダイステージ
部8を有するリードフレームを用いたことである。
【0016】そして、複数の同一大きさ、同一機能の半
導体チップ3を絶縁層4を介し、階段状に積層したこと
、及びワイヤボンディング等は前実施例と同様である。 従って本実施例の作用効果も前実施例と同様である。
【0017】図3は本発明の第3の実施例を説明するた
めの図である。同図において図2と同一部分は同一符号
を付して示した。本実施例は前実施例と同様なZIP 
型プラスチックパッケージであり、前実施例と異なると
ころは、前実施例が、複数の半導体チップ3を一方向に
のみずらせて階段状としたことに対し、本実施例では、
半導体チップ3の隣接する2辺に電極7を設け、該電極
7が露出するように2方向にずらして階段状に積層した
ことである。
【0018】このように構成された本実施例の作用、効
果は前実施例と全く同様である。なお前述した各実施例
では、樹脂封止型半導体装置で説明したが、セラミック
型半導体装置でも同様である。また半導体チップ3の電
極7とインナーリード1a又は2aとの接続方法は、ワ
イヤボンディング方法で説明したが、TAB(テープオ
ートメイテッドボンディング) 方式でも可能である。 また各実施例においては各電極7から直接インナーリー
ド1a又は2aにワイヤボンディングされているが、図
4に示すように同一のインナーリード1aに接続される
各電極7を1本のワイヤ5で順次ボンディングしても良
い。
【0019】
【発明の効果】本発明に依れば、従来と同様なパッケー
ジに、同一機能、同一サイズの半導体チップを複数個搭
載することができ、半導体装置の大容量化・多機能化に
寄与することろ大である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例を示す図で、(a)は(
b)図のa−a線における断面図、(b)は平面図であ
る。
【図2】本発明の第2の実施例を示す図で、(a)は(
b)図のa−a線における断面図、(b)は平面図であ
る。
【図3】本発明の第3の実施例を示す図である。
【図4】本発明の実施例のワイヤボンディングの1例を
示す図である。
【図5】従来の半導体装置を示す図である。
【符号の説明】
1,2…リード 1a,2a…インナーリード 1b,2b…アウターリード 3…半導体チップ 4…絶縁層 5…ワイヤ 6…封止樹脂 7…電極 8…ダイステージ部

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  1つのパッケージ内に、複数の同一機
    能、同一サイズの半導体チップ(3) が絶縁層(4)
     を介して階段状に積み重ねて搭載され、各半導体チッ
    プ(3) の階段状部分に露出した電極(7) とパッ
    ケージのインナーリード(1a,2a)とが電気的に接
    続されて成ることを特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】  上記半導体チップ(3) は、その一
    辺又は隣接する2辺に電極(7) が設けられ、該電極
    (7) が露出するように一方向又は2方向にずらして
    積み重ねられていることを特徴とする請求項1の半導体
    装置。
  3. 【請求項3】  上記半導体チップ(3) の電極(7
    ) とパッケージとインナーリード(1a,2a) と
    の電気的接続は、ワイヤボンディング技術又はテープオ
    ートメイテッドボンディング技術により接続されたもの
    であることを特徴とする請求項1の半導体装置。
  4. 【請求項4】  上記半導体チップ(3) の電極(7
    ) とパッケージのインナーリード(1a,2a) と
    のワイヤボンディングにおいて、同一インナーリードに
    接続される電極(7) はそれぞれ別個のワイヤでイン
    ナーリードに接続されるか、又は一本のワイヤで各電極
    (7) を順次接続し、さらにインナーリード(1a 
    又は2a) に接続されていることを特徴とする請求項
    1の半導体装置。
JP3066270A 1991-03-29 1991-03-29 半導体装置 Pending JPH04302164A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3066270A JPH04302164A (ja) 1991-03-29 1991-03-29 半導体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3066270A JPH04302164A (ja) 1991-03-29 1991-03-29 半導体装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04302164A true JPH04302164A (ja) 1992-10-26

Family

ID=13310988

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3066270A Pending JPH04302164A (ja) 1991-03-29 1991-03-29 半導体装置

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JP (1) JPH04302164A (ja)

Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5780925A (en) * 1992-10-28 1998-07-14 International Business Machines Corporation Lead frame package for electronic devices
US5793108A (en) * 1995-05-30 1998-08-11 Sharp Kabushiki Kaisha Semiconductor integrated circuit having a plurality of semiconductor chips
WO2000045440A1 (en) * 1999-01-28 2000-08-03 Shimadzu Corporation Imaging device and motion picture camera provided with imaging device
KR20010088672A (ko) * 2001-08-20 2001-09-28 심재택 반도체 적층 구조 및 이를 이용한 반도체
US6353265B1 (en) 2001-02-06 2002-03-05 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor device
US6414384B1 (en) * 2000-12-22 2002-07-02 Silicon Precision Industries Co., Ltd. Package structure stacking chips on front surface and back surface of substrate
US6538331B2 (en) 2000-01-31 2003-03-25 Hitachi, Ltd. Semiconductor device and a method of manufacturing the same
KR100395797B1 (ko) * 2001-09-04 2003-08-25 주식회사 바른전자 칩 적층에 적합한 전극 패드 구조를 갖는 반도체 칩 및이를 이용한 적층 패키지 소자
US6828174B2 (en) 2001-06-07 2004-12-07 Renesas Technology Corp. Semiconductor device and a method of manufacturing the same
US7042073B2 (en) 2001-06-07 2006-05-09 Renesas Technology Corp. Semiconductor device and manufacturing method thereof
JP2006294795A (ja) * 2005-04-08 2006-10-26 Toshiba Corp 半導体装置およびその製造方法
JP2007019415A (ja) * 2005-07-11 2007-01-25 Renesas Technology Corp 半導体装置およびその製造方法
US7224052B2 (en) 1999-12-03 2007-05-29 Renesas Technology Corp. IC card with controller and memory chips
JP2007134486A (ja) * 2005-11-10 2007-05-31 Toshiba Corp 積層型半導体装置及びその製造方法
KR100776451B1 (ko) * 2000-04-14 2007-11-16 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 반도체 장치 및 그 제조 방법
US7339257B2 (en) 2004-04-27 2008-03-04 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor device in which semiconductor chip is mounted on lead frame
JP2008244388A (ja) * 2007-03-29 2008-10-09 Nec Electronics Corp 半導体装置
JP2008545278A (ja) * 2005-06-30 2008-12-11 サンディスク コーポレイション 非対称なリードフレームコネクションを有するダイパッケージ
JP2009049118A (ja) * 2007-08-17 2009-03-05 Toshiba Corp 半導体素子とそれを用いた半導体パッケージ
JP2010109206A (ja) * 2008-10-31 2010-05-13 Toshiba Corp 半導体メモリカード
KR100966684B1 (ko) * 2007-02-20 2010-06-29 가부시끼가이샤 도시바 반도체 장치와 그것을 이용한 반도체 모듈

Cited By (48)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5780925A (en) * 1992-10-28 1998-07-14 International Business Machines Corporation Lead frame package for electronic devices
US5793108A (en) * 1995-05-30 1998-08-11 Sharp Kabushiki Kaisha Semiconductor integrated circuit having a plurality of semiconductor chips
US6873361B1 (en) 1999-01-28 2005-03-29 Takeharu Etoh Image sensor having a plurality of chips
WO2000045440A1 (en) * 1999-01-28 2000-08-03 Shimadzu Corporation Imaging device and motion picture camera provided with imaging device
US7768110B2 (en) 1999-12-03 2010-08-03 Renesas Technology Corp. Nonvolatile memory apparatus
US7547961B2 (en) 1999-12-03 2009-06-16 Renesas Technology Corp. IC card with bonding wire connections of different lengths
US7538418B2 (en) 1999-12-03 2009-05-26 Renesas Technology Corp. IC card
US7267287B2 (en) 1999-12-03 2007-09-11 Renesas Technology Corp. IC card
US8018038B2 (en) 1999-12-03 2011-09-13 Renesas Electronics Corporation IC card with terminals for direct access to internal components
US7224052B2 (en) 1999-12-03 2007-05-29 Renesas Technology Corp. IC card with controller and memory chips
US8853864B2 (en) 2000-01-31 2014-10-07 Ps4 Luxco S.A.R.L. Semiconductor device and a method of manufacturing the same
US7348668B2 (en) 2000-01-31 2008-03-25 Elpida Memory, Inc. Semiconductor device and method of manufacturing the same
US7879647B2 (en) 2000-01-31 2011-02-01 Elpida Memory, Inc. Semiconductor device and a method of manufacturing the same
US8067251B2 (en) 2000-01-31 2011-11-29 Elpida Memory, Inc. Semiconductor device and a method of manufacturing the same
US7061105B2 (en) 2000-01-31 2006-06-13 Hitachi, Ltd. Semiconductor device and a method of manufacturing the same
US8159062B2 (en) 2000-01-31 2012-04-17 Elpida Memory, Inc. Semiconductor and a method of manufacturing the same
US7633146B2 (en) 2000-01-31 2009-12-15 Elpida Memory Inc. Semiconductor device and a method of manufacturing the same
US6686663B2 (en) 2000-01-31 2004-02-03 Hitachi, Ltd. Semiconductor device and a method of manufacturing the same
US6538331B2 (en) 2000-01-31 2003-03-25 Hitachi, Ltd. Semiconductor device and a method of manufacturing the same
US8502395B2 (en) 2000-01-31 2013-08-06 Elpida Memory, Inc. Semiconductor device and a method of manufacturing the same
KR100776451B1 (ko) * 2000-04-14 2007-11-16 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 반도체 장치 및 그 제조 방법
US6414384B1 (en) * 2000-12-22 2002-07-02 Silicon Precision Industries Co., Ltd. Package structure stacking chips on front surface and back surface of substrate
KR100445502B1 (ko) * 2001-02-06 2004-08-21 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 반도체 장치
US6353265B1 (en) 2001-02-06 2002-03-05 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor device
US8952527B2 (en) 2001-06-07 2015-02-10 Renesas Electronics Corporation Semiconductor device and manufacturing method thereof
US7531441B2 (en) 2001-06-07 2009-05-12 Renesas Technology Corp. Method of manufacturing semiconductor device
US6841881B2 (en) 2001-06-07 2005-01-11 Renesas Technology Corp. Semiconductor device and a method of manufacturing the same
US8653655B2 (en) 2001-06-07 2014-02-18 Renesas Electronics Corporation Semiconductor device and manufacturing method thereof
US8278147B2 (en) 2001-06-07 2012-10-02 Renesas Electronics Corporation Semiconductor device and manufacturing method thereof
US9613922B2 (en) 2001-06-07 2017-04-04 Renesas Electronics Corporation Semiconductor device and manufacturing method thereof
US7042073B2 (en) 2001-06-07 2006-05-09 Renesas Technology Corp. Semiconductor device and manufacturing method thereof
US8524534B2 (en) 2001-06-07 2013-09-03 Renesas Electronics Corporation Semiconductor device and manufacturing method thereof
US7859095B2 (en) 2001-06-07 2010-12-28 Renesas Electronics Corporation Method of manufacturing semiconductor device
US6828174B2 (en) 2001-06-07 2004-12-07 Renesas Technology Corp. Semiconductor device and a method of manufacturing the same
KR20010088672A (ko) * 2001-08-20 2001-09-28 심재택 반도체 적층 구조 및 이를 이용한 반도체
KR100395797B1 (ko) * 2001-09-04 2003-08-25 주식회사 바른전자 칩 적층에 적합한 전극 패드 구조를 갖는 반도체 칩 및이를 이용한 적층 패키지 소자
US7339257B2 (en) 2004-04-27 2008-03-04 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor device in which semiconductor chip is mounted on lead frame
JP4643341B2 (ja) * 2005-04-08 2011-03-02 株式会社東芝 半導体装置
JP2006294795A (ja) * 2005-04-08 2006-10-26 Toshiba Corp 半導体装置およびその製造方法
US8097495B2 (en) 2005-06-30 2012-01-17 Sandisk Technologies Inc. Die package with asymmetric leadframe connection
JP2008545278A (ja) * 2005-06-30 2008-12-11 サンディスク コーポレイション 非対称なリードフレームコネクションを有するダイパッケージ
JP2007019415A (ja) * 2005-07-11 2007-01-25 Renesas Technology Corp 半導体装置およびその製造方法
JP2007134486A (ja) * 2005-11-10 2007-05-31 Toshiba Corp 積層型半導体装置及びその製造方法
KR100966684B1 (ko) * 2007-02-20 2010-06-29 가부시끼가이샤 도시바 반도체 장치와 그것을 이용한 반도체 모듈
JP2008244388A (ja) * 2007-03-29 2008-10-09 Nec Electronics Corp 半導体装置
JP4496241B2 (ja) * 2007-08-17 2010-07-07 株式会社東芝 半導体素子とそれを用いた半導体パッケージ
JP2009049118A (ja) * 2007-08-17 2009-03-05 Toshiba Corp 半導体素子とそれを用いた半導体パッケージ
JP2010109206A (ja) * 2008-10-31 2010-05-13 Toshiba Corp 半導体メモリカード

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