JPH04278476A - プリント基板テスト用アダプタ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【発明の目的】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明はプリント基板の導通テス
ト等を行なう際に使用するアダプタに関し、特にアダプ
タに対してプリント基板を圧接する時にアダプタのピン
ヘッドが確実にプリント基板と接触できるようにしたア
ダプタにおけるピンヘッドの圧接構造に関するものであ
る。

【０００２】

【発明の背景】ＩＣ等の電子部品を装着するプリント基
板の導通テストを行なう場合には、図９に示すように多
数のブローブと称される接触端子を有するユニバーサル
ヘッドＵに対してアダプタＡを接続し、このアダプタＡ
に設けられる複数のテストピンＴにおけるピンヘッドＨ
をテスト用のプリント基板Ｎに接触させて行なわれてい
る。このような導通テストでは、ピンヘッドＨをプリン
ト基板Ｎのランド部等の検査部位に確実に接触させなけ
ればならないため、一般的にはピンヘッドＨをプリント
基板側に臨むパターンボードＢに対して弾性的に出没自
在な構造とする必要があり、このような対策は既にユニ
バーサルヘッドＵのプローブピンＰが内蔵しているコイ
ルバネＣの作用を利用することによってなされていた。

【０００３】しかし近年、電気製品の小型化や大集積化
に伴い電子部品も小型化され、これに追随してプリント
基板についても、例えばランド間の距離が０．６〜０．
８ｍｍというようにユニバーサルヘッドＵにおけるプロ
ーブピンＰ間の距離２．５４ｍｍに比べて非常に微細な
構造を有するようになってきた。しかしこのような微細
化に対応するとなると、図１０（ａ）に示すようにユニ
バーサルヘッドＵにおけるプローブピンＰの受け端子Ｊ
からテストピンＴを著しく屈曲させてピンヘッドＨをプ
リント基板ＮのランドＲに合うようにしなければならな
いが、この方法ではテストピンＴ同士が互いに接触して
電気的にショートしたり、テストピンＴ同士の摩擦によ
ってテストピンの動きが悪くなったり、またピンヘッド
Ｈの高さ位置が不揃いとなってプリント基板Ｎと接触し
ないピンヘッドＨが出てきたり、更にはテストピンＴの
傾き具合によっては作動中にテストピンＴがプローブピ
ンＰの受け端子Ｊからはずれてしまう等の問題点があっ
た。

【０００４】ところでユニバーサルヘッドＵにおけるプ
ローブピンＰの間隔が決っている以上、これより狭い間
隔のランドＲにピンヘッドＨを対応させるためには、上
記方法の他、途中に間隔を変えるための変換板を設ける
方法が考えられる。しかし、この方法では変換板の存在
によりテストピンＴがプローブピンＰのバネ作用を直接
利用することができない。

【０００５】そこで全く新たな発想としてプローブピン
Ｐの弾発力の利用を止め、テストピンＴの弾性を利用す
ることが考えられ、これを具休化したものとして図１０
（ｂ）に示すように２枚の保持板Ｄの間に更に中間にテ
ストピンＴを保持する屈曲規制板Ｓを設けたものが既に
開発されている。このものは平常は真っすぐなテストピ
ンＴを屈曲規制板Ｓを横方向に引っ張ることで弾性変形
させ、その復原力でピンヘッドＨをプリント基板Ｎに圧
接させるものである。しかし、このような方法において
も屈曲規制板ＳとテストピンＴの中間に保持させるのに
手間が掛かる外、構成自体も複雑化してしまう等の問題
があった。

【０００６】

【開発を試みた技術的事項】本発明はこのような背景に
鑑みなされたものであって、テストピンの弾性復原力を
利用するという技術的思想のもと、屈曲規制板等の別部
材を用いずにテストピンの形態ないし保持状態を変える
ことでテストピン同士が互いに接触せずに弾性変形する
ようにした新規なプリント基板テスト用アダプタの開発
を試みたものである。

【０００７】

【発明の構成】

【目的達成の手段】即ち本出願に係る第一の発明たるプ
リント基板テスト用アダプタは、一定間隔を保って平行
に配設されるパターンボードとパターンガイドボードと
の間に、導通性と弾性とを有する複数のテストピンが保
持されると共に、パターンガイドボード側にはテスト用
プリント基板におけるランドの間隔をユニバーサルヘッ
ドにおけるプローブピンの間隔に変換する変換ボードを
具えて且つ前記テストピンは全てが一定方向にたわみぐ
せを有していることを特徴として成るものである。

【０００８】また本出願に係る第二の発明たるプリント
基板テスト用アダプタは、前記テストピンのパターンボ
ード及びパターンガイドボードにおける各保持部は互い
に一定方向にずれていることを特徴として成るものであ
る。

【０００９】更に第三の発明たるプリント基板テスト用
アダプタは、前記保持部には切り欠き部が形成されるこ
とを特徴として成るものである。

【００１０】更にまた第四の発明たるプリント基板テス
ト用アダプタは、前記保持部はパターンボード又はパタ
ーンガイドボードに対して斜めに形成されることを特徴
として成るものである。これら発明によって前記目的を
達成しようとするものである。

【００１１】

【発明の作用】本発明ではパターンボードとパターンガ
イドボードとの間に保持される複数のテストピンが一定
方向にたわみぐせを有するから、テストピンの先端に荷
重が掛かった時にはすべてのテストピンが互いに接触す
ることなく一定の方向にたわみ、その復原作用によりピ
ンの先端がプリント基板に圧接する。

【００１２】またパターンボード及びパターンガイドボ
ードにおけるテストピンの保持部を互いに一定方向にず
らせば、テストピンは保持部のずれに応じて一定方向へ
のたわみぐせを有するようになる。更に保持部に切り欠
き部を形成すれば、テストピンのたわみぐせが一層助長
されるようになる。更にまた保持部がパターンボード又
はパターンガイドボードに対して斜めに形成されれば、
テストピンが一定方向のたわみぐせを有するようになる
。

【００１３】

【実施例】以下本発明を図示の実施例に基づいて説明す
る。図１は本発明たるプリント基板テスト用アダプタを
適用した基板テスタ１を使用して、プリント基板に印刷
された配線の導通テストを行なうシステムを示すもので
ある。図１中、符号２はプリント基板テスト用アダプタ
であって、このものはテスタ本体３の上面側に内蔵され
るユニバーサルヘッド４の上部にインターボーザー５を
介して設けられる。またテスタ本体３の手前には操作パ
ネル３ａが、右手後方には表示パネル３ｂが、同じく右
手前方にはプリンタ３ｃがそれぞれ設けられると共に、
テスタ本体３の上方には加圧装置６が四本の支持棒７に
支えられて設けられる。

【００１４】そしてこの加圧装置６の下面側には、加圧
装置６内に設けられるシリンダのロッド８に対して押圧
板９が設けられる。因みにこのような基板テスタ１は、
押圧板９によってプリント基板テスト用アダプタ２の上
にセットしたプリント基板Ｎを押し付けることにより、
プリント基板Ｎの配線状態を電気的に検査するものであ
る。尚、プリント基板Ｎの両面にプリント配線がなされ
ている場合には、押圧板９側にもプリント基板テスト用
アダプタ２等を設けて、プリント基板Ｎの両面を一度に
検査できるようにしてもよい。

【００１５】以下本発明が適用されるプリント基板テス
ト用アダプタ２及びその周辺部材について具体的に説明
する。プリント基板テスト用アダプタ２は図２〜５に示
すように、テストするプリント基板側に設けられるパタ
ーンボード１０と、これに平行に設けられるパターンガ
イドボード１１との間に複数のテストピン１２が保持さ
れて成り、更にパターンガイドボード１１のユニバーサ
ルヘッド４側には変換ボード１３を重ねて設けて成る。

【００１６】パターンボード１０とパターンガイドボー
ド１１とは、共にアクリル板に対してそれぞれテスト用
のプリント基板ＮにおけるランドＲの位置に対応して複
数の保持孔１４を形成して成る。尚、この保持孔１４は
テストピン１２の端部を保持するものであるが、このよ
うに保持作用をなす部分を各ボードに対応して保持部１
０ａ、１１ａと定義する。

【００１７】またパターンボード１０とパターンガイド
ボード１１との位置関係は、図５に示すようにそれぞれ
対応関係にある保持部１０ａ、１１ａが互いに横方向に
寸法Ｇだけずれた関係にあり、このようにずれた保持部
１０ａ、１１ａに対してテストピン１２の両端が保持さ
れることにより、図２〜５に誇張的に示すようにすべて
のテストピン１２が一定方向に変形した状態で保持され
る。

【００１８】ここでテストピン１２について説明すると
、このものは保持孔１４に保持される両端部分に太くな
った被保持部１６を形成し、その間に可撓部１７を形成
して成るものであり、また各被保持部１６の先端にはピ
ンヘッド１８を形成する。尚、本発明たるプリント基板
テスト用アダプタは、ブリント基板Ｎに対してピンヘッ
ドを弾性的に圧接する場合に、このテストピン１２の弾
性復原力を利用するものである。

【００１９】因みにこのようなテストピン１２を上記の
ような状態で保持することは本発明の特徴的構成の一つ
であって、これによりテストピン１２にパターンボード
１０と垂直方向の荷重が掛かったときには、すべてのテ
ストピン１２を互いに接触することなく一定方向にたわ
ませることができるのである。またテストピン１２を上
記のように保持させるためには、まず各保持孔１４の位
置が合うようにパターンボード１０とパターンガイドボ
ード１１とをセットし、この状態でテストピン１２を各
保持孔１４に通した後、パターンボード１０とパターン
ガイドボード１１とを互いに逆方向にスライドさせるよ
うにすればよい。

【００２０】次にこのようなテストピン１２を確実に一
定方向にたわませるために保持部１０ａ、１１ａの形態
を変えることもできる。即ち図６（ａ）に示すものは一
例としてパターンボード１０の下面側の保持部１０ａに
切り欠き部１０ｂを形成することにより、可撓部１７な
いしは可撓部１７と被保持部１６との境界部付近をより
たわみやすくしたものである。また図６（ｂ）に示すも
のはパターンガイドボード１１側の保持孔１４を斜めに
形成して、そこにテストピン１２の被保持部１６を斜め
に保持させたものであり、これによりテストピン１２に
おける可撓部１７の屈曲した部分を一箇所とし、テスト
ピン１２のたわみ状態がより一定になるようにしたもの
である。

【００２１】尚、以上の実施例はいずれもパターンボー
ド１０及びパターンガイドボード１１における各保持部
１０ａ、１１ａを一定方向にずらしたものであるが、こ
の他にも例えば各保持部１０ａ、１１ａの位置をずらす
ことなく、一方又は双方の保持孔１４を斜めに形成した
状態でテストピン１２を保持させたり、各保持部１０ａ
、１１ａの位置をずらすことなく例えばテストピン１２
の一部に切れ込み等を入れてたわみぐせをつけるように
してもよい。

【００２２】次にこのようなテストピン１２の一定以上
のたわみを規制する構造について説明する。パターンガ
イドボード１１の周囲には一定高さの縁枠１９が設けら
れ、更にパターンボード１０とこの縁枠１９の上端面と
の間にコイルバネ２０が設けられることにより、その弾
性的な伸張作用により通常時にはパターンボード１０が
縁枠１９の上端面よりも幾らか浮いた状態になっている
。尚、このような状態においてはテストピン１２の上部
のピンヘッド１８はパターンボード１０の上面よりも下
側にあり、コイルバネ２０の弾性に反してパターンボー
ド１０が下方に押し込まれることにより、相対的にピン
ヘッド１８が保持孔１４から上方へ突出するようになる
。

【００２３】従ってテスト用のプリント基板Ｎをパター
ンボード１０の上に乗せた状態で上からプリント基板Ｎ
を押せば、保持孔１４からのピンヘッド１８の突出がプ
リント基板Ｎの存在によって規制されるため、ピンヘッ
ド１８がプリント基板Ｎに圧接した状態でテストピン１
２を変形させることになる。尚、このようなテストピン
１２の変形は、パターンボード１０と縁枠１９の上端面
とが当接することにより規制されるから、縁枠１９の存
在はテストピン１２の必要以上の変形を防止してテスト
ピン１２を保護する作用をもなすものである。またパタ
ーンボード１０の上面にはプリント基板Ｎの位置合わせ
用の突起２１が一例として四ケ所に形成される。

【００２４】次に本発明の他の特徴的構成である変換ボ
ード１３について説明する。この変換ボード１３は、従
来からあるほぼ規格化されたユニバーサルヘッド４をそ
のまま適用するためにプリント基板ＮにおけるランドＲ
の間隔をユニバーサルヘッド４におけるプローブピンの
間隔に変換するためのものである。このものはパターン
ガイドボード１１の下面側に貼設されて成り、この貼設
面側にはパターンガイドボード１１における保持孔１４
に対応してパターン側ランド２２が設けられ、ここにテ
ストピン１２における下部のピンヘッド１８が接触する
。

【００２５】一方、インターボーザー５側の面にはユニ
バーサルヘッド４におけるプローブピンの間隔に対応し
て複数の変換側ランド２３が設けられる。そして各パタ
ーン側ランド２２に対しては、いずれかの変換側ランド
２３を選択して変換ボード１３内の配線構造２４で互い
を接続するのであるが、どの変換側ランド２３を対応さ
せるかは、図７（ａ）に示すようにパターン側ランド２
２の直下に変換側ランド２３がある場合にはこれを対応
させ、その他の場合には原則として最も近い変換側ラン
ド２３を対応させる。尚、図７（ｃ）に示すように２つ
のピンヘッド１８が比較的近接し、最も近い変換側ラン
ド２３に１つのピンヘッド１８を対応させると、他方の
ピンヘッド１８を対応させることができなくなるような
場合には、少し離れた変換側ランド２３まで配線構造２
４を延長してこれと対応させるようにしてもよい。

【００２６】プリント基板テスト用アダプタ２は以上の
ような構造を有するものであるが、以下これが接続させ
るインターボーザー５及びユニバーサルヘッド４の構造
と、これらの各接続状態について説明する。まずインタ
ーボーザー５はアダプタ側に設けられる連絡ボード２５
と、ユニバーサルヘッド４側に設けられる連絡ガイドボ
ード２６との間に連絡ピン２７を保持させて成る。

【００２７】この連絡ピン２７は前記テストピン１２と
異なり弾性変形しないことを前提とし、一端側にピンヘ
ッド２８を形成して成るものであり、このピンヘッド２
８を変換ボード１３の変換側ランド２３に接触させるよ
うにして、連絡ボード２５と連絡ガイドボード２６とに
形成される保持孔２９に各々垂直に保持される。尚、こ
のインターボーザー５にも前記プリント基板テスト用ア
ダプタ２と同様に、連絡ガイドボード２６側に縁枠３０
が設けられ、やはりバネ作用によって、プリント基板テ
スト用アダプタ２を乗せたときだけ連絡ボード２５が沈
みこんで連絡ピン２７のピンヘッド２８が変換ボード１
３側と接触する構造となっている。

【００２８】次にユニバーサルヘッド４について簡単に
説明すると、このものはプローブピン３１を基本的には
２．５４ｍｍの格子間隔に配したヘッド本体３２の上部
に支持ボード３３を設けて成る。尚、プローブピン３１
は前記連絡ピン２７の下端部を受けとめるためのピン受
け部３４がコイルバネ３５の作用によって弾性的に伸縮
自在となったものであり、支持ボード３３はピン受け部
３４の支持作用をなす。また支持ボード３３はバネ３６
の作用により、通常はピン受け部３４を覆う状態で押し
上げられているが、インターポーザー５を乗せることで
支持ボード３３が沈み込み、ピン受け部３４が作用可能
な状態となる。そしてこのようなユニバーサルヘッド４
からは、各プローブピン３１からの配線３７が束状態と
なってテスタ本体３内の適宜の検知部材に接続される。

【００２９】本発明が適用された基板テスタ１は以上述
べたような構造を有するものであり、以下このものを使
用してプリント基板Ｎの導通テストを行なう状態につい
て説明する。まず基板テスタ１を作動状態とし、この状
態でブリント基板テスト用アダプタ２におけるパターン
ボード１０の上に、突起２１により位置合わせしてプリ
ント基板Ｎをセットする。次に操作パネル３ａを操作し
て加圧装置６を駆動させると、押圧板９が下降してプリ
ント基板Ｎを押圧する。これにより各テストピン１２が
すべて一定方向にたわみ、その復原作用により両側のピ
ンヘッド１８がプリント基板Ｎの各ランドＲと変換ボー
ド１３の各パターン側ランド２２に対して圧接する。ま
たこのとき、上方からの押圧作用によって、連絡ピン２
７のピンヘッド２８と他端部側とは、それぞれ変換ボー
ド１３における変換側ランド２３とプローブピン３１の
ピン受け部３４とに確実に接触する。これによりプリン
ト基板Ｎから配線３７までの回路が形成され、ここに電
流を流すことにより、プリント基板Ｎの導通テストを行
なうことができる。尚、検査の結果は電圧値等が表示パ
ネル３ｂに表示され、必要な場合にはプリンタ３ｃに記
録することができる。

【００３０】

【発明の効果】本発明たるプリント基板テスト用アダプ
タ２では、パターンボード１０とパターンガイドボード
１１との間に−定方向のたわみぐせをつけた状態でテス
トピン１２を保持させ、且つパターンガイドボード１１
側には変換ボード１３を設けたから、プリント基板Ｎに
おけるランドＲ間の距離が０．６ｍｍというように、ユ
ニバーサルヘッド４におけるプローブピン３１の距離で
ある２．５４ｍｍよりも極端に小さい場合であっても、
従来のユニバーサルヘッド４をそのまま適用して高い精
度のテストを行なうことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明のプリント基板テスト用アダプタを適用
した基板テスタを一部分解して示す斜視図である。

【図２】本発明のプリント基板テスト用アダプタの取付
部位周辺を拡大して示す斜視図である。

【図３】同上各部の接続構造を示す縦断面図である。

【図４】本発明のプリント基板テスト用アダプタの一部
を拡大して示す透視斜視図である。

【図５】同上縦断面図である。

【図６】パターンボード並びにパターンガイドボードに
おける保持孔の構造を異ならせた他の実施例を示す縦断
面図である。

【図７】変換ボードによる種々の変換態様を示す縦断面
図である。

【図８】プリント基板における電子部品のパターン間距
離並びにランド間距離とユニバーサルヘッドにおけるピ
ン間の距離を対比して示す平面図である。

【図９】従来の基板テスタの基本的構造並びにプローブ
ピン周辺を拡大して示す縦断面図である。

【図１０】従来のプリント基板テスト用アダプタの２種
の実施例を示す骨格的縦断面図である。

【符号の説明】

１　　　　　　基板テスタ ２　　　　　　プリント基板テスト用アダプタ３　　　
　　　テスタ本体 ３ａ　　　　操作パネル ３ｂ　　　　表示パネル ３ｅ　　　　プリンタ ４　　　　　　ユニバーサルヘッド ５　　　　　　インターボーザー ６　　　　　　加圧装置 ７　　　　　　支持棒 ８　　　　　　ロッド ９　　　　　　押圧板 １０　　　　パターンボード １０ａ　　保持部 １０ｂ　　切り欠き部 １１　　　　パターンガイドボード １１ａ　　保持部 １２　　　　テストピン １３　　　　変換ボード １４　　　　保持孔 １６　　　　被保持部 １７　　　　可撓部 １８　　　　ピンヘッド １９　　　　縁枠 ２０　　　　コイルバネ ２１　　　　突起 ２２　　　　パターン側ランド ２３　　　　変換側ランド ２４　　　　配線構造 ２５　　　　連絡ボード ２６　　　　連絡ガイドボード ２７　　　　連絡ピン ２８　　　　ピンヘッド ２９　　　　保持孔 ３０　　　　縁枠 ３１　　　　プローブピン ３２　　　　ヘッド本体 ３３　　　　支持ボード ３４　　　　ピン受け部 ３５　　　　コイルバネ ３６　　　　バネ ３７　　　　配線 Ｇ　　　　寸法 Ｎ　　　　プリント基板 Ｒ　　　　ランド

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】一定間隔を保って平行に配設されるパター
   ンボードとパターンガイドボードとの間に、導通性と弾
   性とを有する複数のテストピンが保持されると共に、パ
   ターンガイドボード側にはテスト用プリント基板におけ
   るランドの間隔をユニバーサルヘッドにおけるプローブ
   ピンの間隔に変換する変換ボードを具えて且つ前記テス
   トピンは全てが一定方向にたわみぐせを有していること
   を特徴とするプリント基板テスト用アダプタ。
2. 【請求項２】前記テストピンのパターンボード及びパタ
   ーンガイドボードにおける各保持部は互いに一定方向に
   ずれていることを特徴とする請求項１記載のプリント基
   板テスト用アダプタ。
3. 【請求項３】前記保持部には切り欠き部が形成されるこ
   とを特徴とする請求項１または２記載のプリント基板テ
   スト用アダプタ。
4. 【請求項４】前記保持部はパターンボード又はパターン
   ガイドボードに対して斜めに形成されることを特徴とす
   る請求項１、２または３記載のプリント基板テスト用ア
   ダプタ。