JPH04237342A - Program testing device - Google Patents
Program testing deviceInfo
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Landscapes
- Debugging And Monitoring (AREA)
- Devices For Executing Special Programs (AREA)
- Feedback Control In General (AREA)
Abstract
Description
【0001】0001
【産業上の利用分野】この発明は、開発したソフトウェ
アのプログラムをテストするためのテストパラメータを
生成するプログラムテスト装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a program testing device for generating test parameters for testing developed software programs.
【0002】0002
【従来の技術】プログラムをテストするためのテストパ
ラメータ生成の背景として、少ないテストランの回数、
所要時間で、高いテスト網羅率(カバレージ値)が期待
できるテストパラメータの動的な自動生成手段が求めら
れている。また、大規模なオンライン・リアルタイム・
システムなどでは、単体ステトを終えたモジュールを部
品として組合せて、1つのシステムを構築する開発方式
が適用され、その結果として、制御構造に着目したテス
トの重要性が高くなっている。従来、伝統的なテストパ
ロメータ作成指針として、ランダム性の高いデータ、或
いは、特異な値の組合せを全て含むようなデータなど、
定性的な属性定義が一般に用いられている。[Prior Art] As a background for generating test parameters for testing a program, it is necessary to reduce the number of test runs.
There is a need for a means for dynamically automatically generating test parameters that can be expected to achieve a high test coverage rate (coverage value) within a required amount of time. In addition, large-scale online real-time
For systems, a development method is used in which modules that have undergone individual testing are combined as parts to construct a single system, and as a result, testing that focuses on control structures has become increasingly important. Conventionally, traditional test parameter creation guidelines include highly random data or data that includes all combinations of unique values.
Qualitative attribute definitions are commonly used.
【0003】0003
【発明が解決しようとする課題】上述のような定性的な
属性定義のデータの場合、テストパラメータを生成する
には、データの数値化が必要であって、このデータ量が
膨大となるので実用的でないという問題点を有する。ま
た、テストパラメータにおける特異な値の組合せの制御
構造に与える作用についての経験的な知識は蓄積されて
いるが、その知識の定量化が困難であるため、テストパ
ラメータ自動生成過程への適用が困難な問題点を有する
。さらにまた、経験に基づくテスト手法では、テスト網
羅率が100%に近付くと、有効なテストパラメータの
生成が極めて困難になり、超高品質システムのコスト上
昇の要因になる問題点を有する。そこで、この発明は、
上述の問題点を解決すると共に、同種のプログラムのデ
バッグやテストで得られた経験的知識を有効に活用して
効率的なテストパラメータの生成ができ、少ないテスト
の回数でテスト網羅率を高めることができ、大規模プロ
グラムにも有効なプログラムテスト装置の提供を目的と
する。[Problem to be solved by the invention] In the case of data with qualitative attribute definitions as described above, in order to generate test parameters, it is necessary to digitize the data, and the amount of this data is enormous, so it is not practical. The problem is that it is not accurate. In addition, although empirical knowledge has been accumulated regarding the effects of unique combinations of test parameters on the control structure, it is difficult to quantify this knowledge, making it difficult to apply it to the automatic test parameter generation process. It has some problems. Furthermore, the empirical testing method has the problem that when the test coverage approaches 100%, it becomes extremely difficult to generate effective test parameters, which increases the cost of ultra-high quality systems. Therefore, this invention
In addition to solving the above-mentioned problems, it is possible to effectively generate test parameters by effectively utilizing the experiential knowledge obtained from debugging and testing similar programs, and to increase test coverage with fewer tests. The purpose of the present invention is to provide a program testing device that is capable of processing large-scale programs and is also effective for large-scale programs.
【0004】0004
【課題を解決するための手段】この発明は、プログラム
中の分岐条件式の右辺値とその左辺値の独立変数との間
のファジイ変数からファジイルールを生成し、プログラ
ムの未テスト経路のテストを実行するためのテストパラ
メータを前記ファジイルールを適用したファジイ推論に
より生成するプログラムテスト装置であることを特徴と
する。[Means for Solving the Problems] This invention generates fuzzy rules from fuzzy variables between the right-hand side value of a branch conditional expression in a program and the independent variable of its left-hand side value, and tests untested paths of the program. The present invention is characterized by a program testing device that generates test parameters for execution by fuzzy inference applying the fuzzy rules.
【0005】[0005]
【作用・効果】この発明によれば、同種のプログラムの
デパッグやテストで得られた経験知識をファジイ変数の
形式で登録することにより、経験知識の利用および定量
化が簡単化され、有効で効率的なテストパラメータの生
成ができる。また、非線形性が著しく偏りのないテスト
データがあまり有効でないプログラムに対して、段階的
に余裕度の大きい設定値を与えてテストパラメータを生
成する場合、生成過程が有効にでき、さらに、偏りのな
いテストパラメータと比較して少ないテストの回数でテ
スト網羅率(カバレージ値)を高めることができ、その
結果、大規模プログラム、超高品質システムのプログラ
ムが高率良く有効に生成できる。[Operation/Effect] According to the present invention, by registering the experiential knowledge obtained through debugging and testing similar programs in the form of fuzzy variables, the use and quantification of experiential knowledge is simplified, effective and efficient. It is possible to generate test parameters. In addition, when generating test parameters by giving setting values with large margins step by step for a program that has significant nonlinearity and unbiased test data is not very effective, the generation process can be made effective and the bias can be reduced. The test coverage rate (coverage value) can be increased with a small number of tests compared to a case where there are no test parameters, and as a result, large-scale programs and programs for ultra-high quality systems can be efficiently generated at a high rate.
【0006】[0006]
【実施例】この発明の一実施例を以下図面に基づいて詳
述する。図面はプログラムテスト装置を示し、図1にお
いて、該プログラムテスト装置は汎用コンピュータを使
用したエンジニアリングワークステーション10と、該
ワークステーション10に対するオペレータの直接的な
アクセスを可能とする端末装置11と、ワークステーシ
ョン10を用いて開発された被デバッグプログラムをデ
バッグするデバッグ実行装置12とで構成している。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. The drawing shows a program testing device, and in FIG. 1, the program testing device includes an engineering workstation 10 using a general-purpose computer, a terminal device 11 that allows an operator to directly access the workstation 10, and a workstation. 10, and a debug execution device 12 for debugging a debug target program developed using the debugger 10.
【0007】上述のワークステーション10は、マイク
ロプロセッサを使用した演算制御装置13を中心として
、RAMからなる内部記憶装置14と、ハードディスク
ドライブ等の外部記憶装置15と、周辺装置に対するイ
ンターフェース回路を備えた入出力装置16とを、各種
のバス17を介して接続して構成し、前述の端末装置1
1およびデバッグ実行装置12は、上述の入出力装置1
6を介して接続している。The above-mentioned workstation 10 is mainly equipped with an arithmetic and control unit 13 using a microprocessor, an internal storage device 14 consisting of a RAM, an external storage device 15 such as a hard disk drive, and an interface circuit for peripheral devices. The input/output device 16 is configured by being connected via various buses 17, and the terminal device 1 described above
1 and the debug execution device 12 are the input/output device 1 described above.
It is connected via 6.
【0008】前述の端末装置11はワークステーション
10に対する直接的なアクセスを可能とするキーボード
18と、ワークステーション10内でのデータ処理状況
を視認し得る形で表示するCRT等のディスプレイ装置
19とで構成し、キーボード18からのコマンド入力に
より、外部記憶装置15に予め格納しておいたコンパイ
ラ、またはアセンブラ等の実行プログラム、ソースプロ
グラム、ロードモジュール等から作られるデータを内部
記憶装置14にロードした後、演算制御装置13におい
てプログラムを実行させることにより、ワークステーシ
ョン10はデバッグ実行装置12を制御しながら全体で
プログラムテスト装置として動作する。The terminal device 11 described above includes a keyboard 18 that allows direct access to the workstation 10, and a display device 19 such as a CRT that displays the data processing status within the workstation 10 in a visible manner. After configuring the program and loading data created from an execution program such as a compiler or assembler, a source program, a load module, etc. stored in advance in the external storage device 15 into the internal storage device 14 by inputting a command from the keyboard 18. By causing the arithmetic and control unit 13 to execute a program, the workstation 10 as a whole operates as a program testing device while controlling the debug execution device 12.
【0009】デバック実行装置12はデバッグすべきプ
ログラムを走らせるマイクロプロセッサを制御部に使用
した被デバッグ装置20と、該被デバッグ装置20とワ
ークステーション10との間にあって、被デバッグ装置
20のマイクロプロセッサに代って該被デバッグ装置2
0を直接制御するエミュレータ21とで構成し、入出力
装置16を通じてワークステーション10側から与えら
れたコマンドに対応して、被デバッグ装置20上のメモ
リの内容を表示し、更新し、或いはまた、被デバッグ装
置20上のプログラムを実行し、停止する等の各種制御
を行った後、その結果をワークステーション10側に返
送することにより、ワークステーション10側で高級言
語によるソースプログラムのテスト処理およびデバッグ
処理を可能とする。The debug execution device 12 is located between a device to be debugged 20 using a microprocessor as a control unit that runs a program to be debugged, and the device to be debugged 20 and the workstation 10, and is located between the device to be debugged 20 and the workstation 10, and is connected to the microprocessor of the device to be debugged. The debugged device 2 instead of
0, and displays and updates the contents of the memory on the debugged device 20 in response to commands given from the workstation 10 side through the input/output device 16, or After executing various controls such as executing and stopping the program on the debug target device 20, the results are returned to the workstation 10, thereby allowing the workstation 10 to perform test processing and debugging of the source program using a high-level language. processing.
【0010】次に、図2のデータフローチャートに基づ
いて、被デバッグ装置20のプログラムテスト動作を説
明する。端末装置11のキーボード18により、被デバ
ッグ装置20のプログラムを入力すると(ステップn1
)、エディタはソースプログラムのファイルを編集して
(ステップn2)、これを記憶する(ステップn3)。Next, the program test operation of the device to be debugged 20 will be explained based on the data flow chart of FIG. When the program of the debugged device 20 is input using the keyboard 18 of the terminal device 11 (step n1
), the editor edits the source program file (step n2) and stores it (step n3).
【0011】コンパイラまたはアセンブラはこのソース
プログラムの高級言語を機械語に翻訳してオブジェクト
コードを生成し(ステップn4)、これを記憶する(ス
テップn5)。リンケージエディタはライブラリファイ
ルに記憶されているデータ(ステップn6)に基づいて
、前述のオブジェクトコードを被デバッグ装置20を動
作させるためのロードモジュールを生成し(ステップn
7)、これを記憶する(ステップn8)。そして、この
ロードモジュールをデバッグ実行装置12のエミュレー
タ21にロードし(ステップn9)、被デバッグ装置2
0を動作する。The compiler or assembler translates the high-level language of this source program into machine language to generate object code (step n4) and stores it (step n5). Based on the data stored in the library file (step n6), the linkage editor generates a load module for operating the debug target device 20 from the object code described above (step n6).
7), store this (step n8). Then, this load module is loaded into the emulator 21 of the debug execution device 12 (step n9), and the debug target device 2
Operate 0.
【0012】前述のステップn3で編集されたソースプ
ログラムより、周知のコンパイラと同様に、構文解析手
段により、分岐条件式を抽出し(ステップn10)、分
岐条件式とその独立変数とのテーブル(図5を参照)を
編集して、これを記憶する(ステップn11)。Similar to a well-known compiler, a syntax analysis means extracts a branching conditional expression from the source program edited in step n3 described above (step n10), and creates a table of branching conditional expressions and their independent variables (Fig. 5) and store it (step n11).
【0013】上述の分岐条件式はそのソースプログラム
に多数形成されており、各式Sn は、図3に示すよう
に、分岐条件式Sn の右辺値Yn が設定値であり、
また、左辺値Xn が独立変数であり、分岐方向がYE
S、NOで与えられる。A large number of the above-mentioned branch conditional expressions are formed in the source program, and each expression Sn has a setting value Yn on the right side of the branching conditional expression Sn, as shown in FIG.
Also, the lvalue Xn is the independent variable, and the branch direction is YE
It is given by S, NO.
【0014】前述のステップn10,n11で編集した
分岐条件式と独立変数とのテストケースのテーブルは、
図4に示すように、各分岐条件式Sn と、各分岐条件
式Sn の経路のテスト結果、および所定のテスト網羅
率が得られたか否かを示すテスト済・未を記録し、そし
て、ファジイ推論を実行する分岐条件式Sn は未テス
ト経路を対象にしている。The test case table of the branch conditional expression and independent variables edited in steps n10 and n11 above is as follows:
As shown in FIG. 4, each branch conditional expression Sn, the test result of the path of each branching conditional expression Sn, and whether or not it has been tested indicating whether a predetermined test coverage rate has been obtained are recorded. The branching conditional expression Sn that executes inference targets untested paths.
【0015】例えば、図4のテストケースNo 1は、
所定のテスト網羅率を得ることができていない未テスト
経路であって、この経路はファジイ推論によってテスト
パラメータが生成されて、図5に示すような設定値Yn
と独立変数Xn のテストパラメータのテーブルを完
成していく。For example, test case No. 1 in FIG.
This is an untested route for which a predetermined test coverage rate has not been obtained, and for this route, test parameters are generated by fuzzy inference and set values Yn as shown in FIG.
and complete the table of test parameters for the independent variable Xn.
【0016】すなわち、分岐条件式Sn の右辺の設定
値Yn と、左辺の独立変数Xn との間のファジイ変
数は、図6および図7で示すように、経験的な知識に基
づいて、設定値Yn および独立変数Xn のそれぞれ
にメンバシップ関数を設定して、ファジイルールを生成
しており、このファジイルールに基づいて図5のテスト
パラメータを生成する。In other words, the fuzzy variables between the set value Yn on the right side of the branch conditional expression Sn and the independent variable Xn on the left side are determined based on empirical knowledge, as shown in FIGS. 6 and 7. Membership functions are set for each of Yn and independent variable Xn to generate a fuzzy rule, and the test parameters shown in FIG. 5 are generated based on this fuzzy rule.
【0017】前述の図2において、キーボード18から
図6で示すファジイルールを入力すると(ステップn1
2)、ファジイエデイタがファジイ変数テーブルを編集
して(ステップn13)、これを記憶し(ステップn1
4)、このテーブルがファジイルールのソース(コード
)となり、ファジイルールゼネレータはこのソースコー
ドを実行されるべき機械語コードに変換して(ステップ
n15)、ファイルを編集する(ステップ16)。In FIG. 2 described above, when the fuzzy rule shown in FIG. 6 is input from the keyboard 18 (step n1
2), the fuzzy editor edits the fuzzy variable table (step n13) and stores it (step n1).
4) This table becomes the source (code) of the fuzzy rule, and the fuzzy rule generator converts this source code into machine language code to be executed (step n15) and edits the file (step 16).
【0018】次にテストパラメータに対して、すなわち
、与えられた未テスト経路の分岐条件式Sn に対して
機械語コードに変換されたファジイ推論を実行して、そ
の独立変数値を置換し(ステップn17)、これを記憶
する(ステップn18)。Next, fuzzy inference converted into machine language code is executed on the test parameters, that is, on the branch conditional expression Sn of the given untested route, and the independent variable values are replaced (step n17) and store it (step n18).
【0019】そして、このテストパラメータをエミュレ
ータ21にロードし(ステップn19)、被デバッグ装
置をテストすることになり、そのテスト結果はテーブル
に戻されて(ステップn20)、図5に示すテストパラ
メータのテーブルの設定値Yn 、独立変数Xn が逐
次埋められ、完成される。Then, the test parameters are loaded into the emulator 21 (step n19) to test the device to be debugged, and the test results are returned to the table (step n20) and the test parameters shown in FIG. The set value Yn and independent variable Xn of the table are sequentially filled in and completed.
【0020】なお、ファジイ推論の必要がないテストパ
ラメータは公知の従来方法で生成される(ステップn2
1)。Note that test parameters that do not require fuzzy inference are generated by a known conventional method (step n2
1).
【0021】図8はテストパラメータ生成とテスト実行
のフローチャートを示し、前述の図2のフローのステッ
プn17〜n21に対応する。FIG. 8 shows a flowchart of test parameter generation and test execution, and corresponds to steps n17 to n21 of the flow of FIG. 2 described above.
【0022】すなわち、周知の生成手段でテストパラメ
ータを生成して(ステップn31)、このテストパラメ
ータでテストを実行し(ステップn32)、そのテスト
結果をテーブルに収納して(ステップn33)、図4に
示すテストケースのテーブルを編集する。That is, test parameters are generated by a well-known generation means (step n31), a test is executed using the test parameters (step n32), and the test results are stored in a table (step n33). Edit the test case table shown in .
【0023】次にテスト網羅率が目標に達したかを判定
し(ステップn34)、目標が達成しているときはテス
トを終了するが、達成していないときは、未テストパス
を抽出して(ステップn35)、分岐条件式Sn の設
定値Yn を設定すると共に(ステップn36)、その
独立変数Xn をファジイ推論によって生成し(ステッ
プn37)、図5の前回の変数に上書きして(ステップ
n38)、新たなテストパラメータのテーブルを編集し
(ステップn39)、ステップn32にリターンする。
このように、プログラム中の分岐条件式の右辺値と
その左辺値の独立変数との間のファジイ変数からファジ
イルールを生成し、プログラムの未テスト経路のテスト
を実行するためのテストパラメータを前記ファジイルー
ルを適用したファジイ推論により生成して、プログラム
をテストすると、同種のプログラムのデパッグやテスト
で得られた経験知識をファジイ変数の形式で登録するこ
とにより、経験知識の利用および定量化が簡単化され、
有効で効率的なテストパラメータの生成ができる。Next, it is determined whether the test coverage rate has reached the target (step n34), and if the target has been achieved, the test is terminated, but if it has not been achieved, untested paths are extracted. (Step n35), sets the setting value Yn of the branch conditional expression Sn (Step n36), generates its independent variable Xn by fuzzy reasoning (Step n37), and overwrites the previous variable in FIG. 5 (Step n38). ), a new test parameter table is edited (step n39), and the process returns to step n32. In this way, fuzzy rules are generated from the fuzzy variables between the right-hand side value of the branch conditional expression in the program and the independent variable of the left-hand side value, and the test parameters for testing the untested path of the program are set as the fuzzy rules. When a program is generated by fuzzy inference applying rules and tested, the experience knowledge obtained from depacking and testing similar programs is registered in the form of fuzzy variables, making it easy to use and quantify the experience knowledge. is,
It is possible to generate valid and efficient test parameters.
【0024】また、非線形性が著しく偏りのないテスト
データがあまり有効でないプログラムに対して、段階的
に余裕度の大きい設定値を与えてテストパラメータを生
成する場合、生成過程が有効にでき、さらに、偏りのな
いテストパラメータと比較して少ないテストの回数でテ
スト網羅率(カバレージ値)を高めることができ、その
結果、大規模プログラム、超高品質システムのプログラ
ムが高率良く有効に生成できる。[0024] Furthermore, when generating test parameters by giving setting values with large margins step by step for a program that has significant non-linearity and unbiased test data is not very effective, the generation process can be made effective; , it is possible to increase the test coverage rate (coverage value) with a small number of tests compared to unbiased test parameters, and as a result, large-scale programs and programs for ultra-high quality systems can be generated effectively at a high rate.
【図1】本発明のプログラムテスト装置の系統図。FIG. 1 is a system diagram of a program test device of the present invention.
【図2】本発明のプログラムテスト装置のデータフロー
チャート。FIG. 2 is a data flow chart of the program test device of the present invention.
【図3】分岐条件式のフローチャート。FIG. 3 is a flowchart of branch conditional expressions.
【図4】テストケースのテーブル説明図。FIG. 4 is an explanatory diagram of a test case table.
【図5】設定値と独立変数のテストパラメータのテーブ
ル説明図。FIG. 5 is an explanatory diagram of a table of test parameters of setting values and independent variables.
【図6】分岐条件式と独立変数との間のファジイ変数テ
ーブル説明図。FIG. 6 is an explanatory diagram of a fuzzy variable table between a branch conditional expression and an independent variable.
【図7】分岐条件式と独立変数との間のファジイ変数説
明図。FIG. 7 is a fuzzy variable explanatory diagram between a branch conditional expression and an independent variable.
【図8】テストパラメータ生成とテスト実行のフローチ
ャート。FIG. 8 is a flowchart of test parameter generation and test execution.
10…エンジニアリングワークステーション11…端末
装置
12…デバッグ実行装置
20…被デバッグ装置
21…エミュレータ10...Engineering workstation 11...Terminal device 12...Debug execution device 20...Debug target device 21...Emulator
Claims (1)
左辺値の独立変数との間のファジイ変数からファジイル
ールを生成し、プログラムの未テスト経路のテストを実
行するためのテストパラメータを前記ファジイルールを
適用したファジイ推論により生成するプログラムテスト
装置。1. A fuzzy rule is generated from a fuzzy variable between the right-hand side value of a branch conditional expression in a program and an independent variable of the left-hand side value, and test parameters for executing a test on an untested path of the program are set as described above. A program test device that generates programs using fuzzy inference using fuzzy rules.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP91118991A JPH04237342A (en) | 1991-01-21 | 1991-01-21 | Program testing device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP91118991A JPH04237342A (en) | 1991-01-21 | 1991-01-21 | Program testing device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04237342A true JPH04237342A (en) | 1992-08-25 |
Family
ID=14750303
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP91118991A Pending JPH04237342A (en) | 1991-01-21 | 1991-01-21 | Program testing device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04237342A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6330692B1 (en) | 1998-02-18 | 2001-12-11 | Fujitsu Limited | Method of determining the route to be tested in a load module test |
-
1991
- 1991-01-21 JP JP91118991A patent/JPH04237342A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6330692B1 (en) | 1998-02-18 | 2001-12-11 | Fujitsu Limited | Method of determining the route to be tested in a load module test |
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