[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JPH04188662A - 半導体素子用リードフレームの製造方法および製造装置 - Google Patents

半導体素子用リードフレームの製造方法および製造装置

Info

Publication number
JPH04188662A
JPH04188662A JP2313683A JP31368390A JPH04188662A JP H04188662 A JPH04188662 A JP H04188662A JP 2313683 A JP2313683 A JP 2313683A JP 31368390 A JP31368390 A JP 31368390A JP H04188662 A JPH04188662 A JP H04188662A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lead frame
insulating film
die pad
insulating substrate
manufacturing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2313683A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeshi Tsunoda
剛 角田
Tomonori Matsuura
友紀 松浦
Yutaka Yagi
裕 八木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dai Nippon Printing Co Ltd filed Critical Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority to JP2313683A priority Critical patent/JPH04188662A/ja
Publication of JPH04188662A publication Critical patent/JPH04188662A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32245Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4911Disposition the connectors being bonded to at least one common bonding area, e.g. daisy chain
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/8319Arrangement of the layer connectors prior to mounting
    • H01L2224/83191Arrangement of the layer connectors prior to mounting wherein the layer connectors are disposed only on the semiconductor or solid-state body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/91Methods for connecting semiconductor or solid state bodies including different methods provided for in two or more of groups H01L2224/80 - H01L2224/90
    • H01L2224/92Specific sequence of method steps
    • H01L2224/922Connecting different surfaces of the semiconductor or solid-state body with connectors of different types
    • H01L2224/9222Sequential connecting processes
    • H01L2224/92242Sequential connecting processes the first connecting process involving a layer connector
    • H01L2224/92247Sequential connecting processes the first connecting process involving a layer connector the second connecting process involving a wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/191Disposition
    • H01L2924/19101Disposition of discrete passive components
    • H01L2924/19107Disposition of discrete passive components off-chip wires

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Die Bonding (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野】
本発明は、少なくとも半導体素子を取り付けるためのダ
イパッドに絶縁性フィルムが張り合わされた半導体装置
用リードフレームの製造方法およびその製造装置に関し
、特に超多ビン化に好適なリードフレームの製造方法お
よびその製造装置に関するものである。
【従来の技術】
従来、半導体装置の組立用部材として用いられるリード
フレーム101は、第9図または第10図に示すような
平面形状を有しており、半導体素子102を取り付ける
ためのダイパッド103と、その周辺に配設され半導体
素子102との結線を行うためのインナーリード104
と、このインナーリード104に連続するアウターリー
ド105とを備えている。 このようなリードフレーム101は、通常、例えばコバ
ール、42合金、銅系合金等の導電性に優ね しかも強
度が高い金属板を、フォトエツチング法やスタンピング
法などにより、ダイパッド103、インナーリード10
4及びアウターリード105を有する形状に加工するこ
とにより製造されている。 第11図に示すように、このようにして製造されたリー
ドフレーム101においては、ダイパッド103に半導
体素子(以下、単に素子ともいう)102を取り付ける
と同時に、該素子102のポンディングパッド(図示せ
ず)とインナーリード104とを金等からなるワイヤ1
06により電気的に接続することにより、半導体装置が
形成される。したがって、通常、インナーリード104
のボンディング位置に金や銀等の貴金属をめっきして、
ワイヤボンディングが確実に行えるようになされている
。 ところで、近年半導体素子が高集積化され、 大田力(
I /P)端子の数が増加するにともない、半導体素子
サイズは増大しているが、その一方で電子機器の小型・
軽量化への要求は強く、そのために半導体パッケージの
より一層の小型化および同一サイズ内での多ピン化が進
行している。このために、 リードフレームに対しても
加工サイズの微細化が求められている。
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このようにリードフレームの多ピン化が
進むにつれ エツチング法及びスタンピング法による加
工には限界が存在し、無制限に微小ピッチの加工ができ
るわけではない。概ね板厚に対して、エツチング法では
80%程度、スタンピング法では板厚程度がスリットの
加工限界となっている。 また半導体装置の組立では、ワイヤボンディング法によ
る電気的接続が主に行われているが、インナーリード1
04へのボンディング時には、ワイヤ長に制限がある。 これは、半導体装置のパッケージをレジンでモールドし
て形成する際のワイヤ流れによるショートを防止するた
めである。このようにワイヤ長に制限があるために、イ
ンナーリード104をダイパッド103から離すことに
より、該インナーリード形成領域を広げ、そのビン数を
増やすこともできない。 したがって、搭載する半導体素子(チップともいう)サ
イズ及びグイバンドサイズが決定されると、インナーリ
ード104の先端に形成領域が決定されることになる。 このようにインナーリード形成領域が決定されると、そ
れぞれの加工法による加工限界ピッチから、最大加工ピ
ッチ数が自ずと決ってしまい、それ以上の多ビン化がで
きないという問題があった。 そこで、搭載するチップサイズやダイパッドサイズを変
更せず、しかもインナーリードにボンディングするワイ
ヤ長をも延長することなく、多ビン化を可能にするため
に、ダイパッドに、半導体素子とインナーリードとの電
気的接続を中継する中間バッドが形成されている絶縁性
フィルムを張り合わせることにより、インナーリードを
ダイパッドから離性させることを可能とし、インナーリ
ードの形成領域を広げ、結果としてインナーリードの数
を増設することを可能とすることが考えられる。その場
合、エアプレス式の熱圧着機により絶縁性フィルムをリ
ードフレームのダイパッド上に張り合わせることが考え
られる。 すなわち、第12図(A)に示すように熱圧着機のステ
ージ107の上にダイパッド103が位置するようにリ
ードフレーム101の材料としてのリードフレーム部材
108をセットする。一方、ポリイミド等の樹脂製フィ
ルム109aの表面に中間パッド109cが形成されて
いるとともにその裏面に接着剤層109bが形成された
絶縁性フィルム109を用意し、同図(B)に示すよう
にこの絶縁性フィルム109を接着剤層109bが下に
なるようにしてグイパッド107上に位置決めし、載置
する。 次いで、同図(C)に示すように熱圧着機の加熱加圧治
具110により、絶縁性フィルム109の上から加熱圧
着する。こうして、同図(D)に示すようにリードフレ
ーム部材108のダイパッド103に絶縁性フィルム1
09が加熱圧着されたリードフレーム101が形成され
る。 しかしながら、エアプレス式の熱圧着機では加熱加圧治
具110が絶縁性フィルム109に接触するまでのスピ
ードを正確に制御することは困難である。したがって、
加熱加圧治具110が勢いよく絶縁性フィルム109に
接触することになり、位置ずれの起こる頻度が非常に高
くなるという問題があっ旭 また、絶縁性フィルム109はダイパッド103に比較
すると熱伝導性が悪いため、絶縁性フィルム109の表
面から加圧加熱した場合には、接着性がよくないという
問題がある。更に、接合用加熱加圧治具110を電気的
接続の中継点である中間バッド109Cに直接押し付け
るようになるため、中間バッド109Cの表面を破損し
てしまうことがあるという問題もある。 本発明は、このような問題に鑑みてなされたものであっ
て、その目的は、絶縁性フィルムをリードフレームのグ
イバンド上に張り合わせる際に、精度よく張り合わせる
ことのできる半導体素子用リードフレームの製造方法お
よび製造装置を提供することである。 本発明の他の目的は、絶縁性フィルムをリードフレーム
のダイパッド上に張り合わせる際に、接着性を良好にし
て強固に張り合わせることのできる半導体素子用リード
フレームの製造方法および製造装置を提供することであ
る。 本発明の更に他の目的は、絶縁性フィルムをリードフレ
ームのダイパッド上に張り合わせる際に、中間バッドの
表面が破損しないように張り合わせることのできる半導
体素子用リードフレームの製造方法および製造装置を提
供することである。
【課題を解決するための手段】
このような課題を解決するために、請求項1の発明は、
絶縁性フィルムまたは絶縁性基板が接着剤によりリード
フレーム部材のダイパッドに張り合わされ、 該絶縁性
フィルムまたは絶縁性基板またはに半導体素子が搭載さ
れるようになっている半導体素子用リードフレームの製
造方法において、絶縁性フィルムまたは絶縁性基板をダ
イパッドに対して位置決めした後該ダイパッドに仮接着
し、その後絶縁性フィルムまたは絶縁性基板をダイバン
ドに加圧 加熱により圧着することを特徴としている。 請求項2の発明は、絶縁性フィルムまたは絶縁性基板が
接着剤によりリードフレーム部材のダイパッドに張り合
わされ 該絶縁性フィルムまたは絶縁性基板またはダイ
パッドに半導体素子が搭載されるようになっている半導
体素子用リードフレームの製造方法において、絶縁性フ
ィルムまたは絶縁性基板をダイパッドに対して位置決め
した後、該絶縁性フィルムまたは絶縁性基板をダイパッ
ドにこのダイパッドの裏面から加圧、加熱により圧着す
ることを特徴としている。 請求項3の発明は、絶縁性フィルムまたは絶縁性基板が
接着剤によりリードフレーム部材のダイパッドに張り合
わされ 該絶縁性フィルムまたは絶縁性基板またはダイ
パッドに半導体素子が搭載されるようになっている半導
体素子用リードフレームの製造方法において、絶縁性フ
ィルムまたは絶縁性基板をダイパッドに対して位置決め
した後該ダイパッドに仮接着し、その後絶縁性フィルム
または絶縁性基板をダイパッドにこのダイパッドの裏面
から加圧 加熱により圧着することを特徴としている。 請求項4の発明は、前記絶縁性フィルムまたは絶縁性基
板は独立電極である中間パッドを備えていることを特徴
としている。 請求項5の発明は、絶縁性フィルムまたは絶縁性基板が
接着剤によりリードフレーム部材のダイパッドに張り合
わされ、 該絶縁性フィルムまたは絶縁性基板またはダ
イパッドに半導体素子が搭載されるようになっている半
導体素子用リードフレームの製造装置において、リード
フレーム部材が搭載される本体と、この本体のリードフ
レーム部材が搭載される部位に形成され、 絶縁性フィ
ルムまたは絶縁性基板が嵌入される凹部と、この凹部内
に上下動可能に配設され、 絶縁性フィルムまたは絶縁
性基板が載置される載置台と、この載置台を上下動する
上下移動手段とを備えていることを特徴としている。 請求項6の発明は、前記凹部の形状は絶縁性フィルムま
たは絶縁性基板の形状と合致するように形成されている
とともに、前記本体にリードフレーム部材を所定の位置
に位置決めするリードフレーム押えが設けられ 前記凹
部は、 リードフレーム部材がリードフレーム押えによ
って位置決めされたときリードフレームのダイパッドが
位置する本体の部位に設けられていることを特徴として
いる。 請求項7の発明は、前記絶縁性フィルムまたは絶縁性基
板は独立電極である中間パッドを備えていることを特徴
としている。 [作用コ このように構成された本発明においては、絶縁性フィル
ムまたは絶縁性基板がダイパッドに強固に接着される前
に仮接着され、 仮接着後に絶縁性フィルムまたは絶縁
性基板がダイバンドに強固に接着されるので、絶縁性フ
ィルムまたは絶縁性基板はダイパッドに対して位置ずれ
をほとんど起こすことなく、張り合わされるようになる
。したがって、張り合わせ精度がより一層向上するもの
となる。 また、本発明においては、絶縁性フィルムまたは絶縁性
基板をダイパッドにこのダイパッド裏面から加圧 加熱
して張り合わせるので、熱伝導が良好となり、効果的に
かつ強固に絶縁性フィルムまたは絶縁性基板がダイパッ
ドに張り合わされるようになる。 しかも、本発明においては、絶縁性フィルムまたは絶縁
性基板がダイパッドに中間バッドと反対側から張り合わ
されるので、中間パッドの表面が破損するようなことは
ない。
【実施例】
以下、図面を用いて本発明の実施例について説明する。 第2図は、この実施例により製造される半導体素子組立
用リードフレームの一例を部分的に示し、(A)はその
平面図、 (B)はIIB−IIB線に沿う断面図、第
3図は、この半導体素子組立用リードフレームを作製す
る前の材料としてのリードフレーム部材を示し、 (A
)はその平面図、 (B)はmB−mB線に沿う断面図
である。 本実施例により製造されるリードフレームAは、第2図
(A)に示す構成単位が図中左右方向に連続されて形成
されているものであり、該構成単位は、同図(B)に示
すように中央に位置するダイパッド1と、その周囲に配
設されたインナーリード2と、該インナーリード2に連
続するアウターリード3とからその基本が構成されてい
る。そして・ ダイパッド1上には、周縁部には中間ノ
くラド(独立電極)6が配設された絶縁性フィルム7が
張り合わされている。 第3図に示すように、 リードフレームAは、材料とし
てのリードフレーム部材A′のダイパッド1の上に半導
体素子取付部の周囲に配設された中間パッド6を有する
絶縁性フィルム7を張り合わせることにより製造される
。 次ニ、 リードフレーム部材A′のダイパッド1上に絶
縁性フィルム7を張り合わせる方法について説明する。 第1図は、本発明に係る半導体素子用リードフレームの
製造方法の一実施例を示し、 (A)〜(F)は、それ
ぞれリードフレームのダイパッド上に絶縁性フィルムを
張り合わせる工程を示す図である。 まず第1図(A)に示すように、第3図に示すリードフ
レーム部材と同様のリードフレームA′と絶縁性フィル
ム7とを用意する。このリードフレームA′は、例えば
板厚150μmの42合金からなる300mm口の合金
板を、 トリクレン脱脂後、0FPR−800[商品名
:東京応化(株)製ポジレジスト]をデイツプ方式にて
レジストコーティング(膜厚6μm)を行い、その後所
定のパターンマスクを用いて露光 次いで常法により現
像及びボストベーク等を行い、その後塩化鉄によるエツ
チング及びさらにその後のアセトンによる剥離を行うこ
とにより作製することができる。 また、絶縁性フィルム7は、例えば厚さ25μmのポリ
イミドフィルムからなるフィルム基材7aの片面に厚さ
18μmの銅箔が、もう片面に高耐熱性の接着剤7bが
ラミネートされている積層フィルムを用いる。更に、前
述のリードフレーム部材A′の場合と同様のエツチング
法により、積層フィルムの表面に、所定パターンからな
る中間バンド6を形成し、その表面にニッケル及び金め
つき等の表面処理を行う。 次に、このように形成されたリードフレーム部材A′と
絶縁性フィルム7とを、同図(B)に示すようにダイパ
ッド1上に絶縁性フィルム7を接着剤層7bが下を向く
ように配し、次に同図(C)に示すように絶縁性フィル
ム7をダイパッド1の上に載置し、これら絶縁性フィル
ム7とダイパッド1との正確な位置合わせを行う。 次いで、同図(D)に示すように小型の接合用加熱治具
10により絶縁性フィルム7の対角となる2つの角を圧
着した後に、同図(E)に示すように大型接合用加熱加
圧治具11により絶縁性フィルム7をダイパッド1に押
圧すると同時に加熱シテ、同図(F)に示すごとく絶縁
性フィルム7とダイパッド1とが確実にかつ強固に、そ
して精度よく張り合わされた本実施例のリードフレーム
Aが製造される。 このように本実施例においては、絶縁性フィルム7がダ
イパッド1に強固に接着される前に仮接着され、 仮接
着後に絶縁性フィルム7がダイパッド1に強固に接着さ
れるので、絶縁性フィルム7はダイパッド1に対して位
置ずれをほとんど起こすことなく、張り合わされるよう
になる。したがって、絶縁性フィルム7とダイパッド1
との張り合わせ精度がより一層向上するようになる。 第4図1−L  本実施例により製造されるリードフレ
ームAを用いて製造した半導体装置において、搭載され
た素子4とインナーリード2との電気的接続の態様を示
す概略説明図である。 第4図に示す半導体装置においては、素子4のポンディ
ングパッド(図示せず)と中間バッド6とをワイヤ5a
で接続し、該中間バッド6とインナーリード2とをワイ
ヤ5bで接続する。このように、中間バッド6を素子4
とインナーリード2との電気的接続の中継点とすること
により、 1本のワイヤ、特にワイヤ5bを従来のワイ
ヤ長より延長することなく、ダイパッド1からインナー
リード2のボンディング位置(通常先端部)を離性させ
ることが可能となる。その結棗 樹脂をモールドする場
合でも、ワイヤが長いことに起因するショート等を起こ
すこともなく、インナーリード2の形成領域を拡張する
ことが可能となる・第5図#瓢 本実施例により製造さ
れるリードフレームAを用いて製造した半導体装置にお
いて、搭載された素子4とインナーリード2との電気的
接続の他の態様を示す概略説明図である。 第5図に示す半導体素子4は、第4図に示す半導体素子
よりも小さいサイズのものである。このように小さいサ
イズの半導体素子4を搭載する場合でも、従来のリード
フレームと同一サイズに形成した本実施例のリードフレ
ームAを使用して、第4図で説明したと同様の電気的接
続を行うことが可能となる。このように1本実施例によ
るリードフレームAは更に一層の汎用性をも有している
。 第6図は本発明の他の実施例を示す第1図と同様のリー
ドフレーム製造方法の各工程を示す図である。なお前述
の実施例と同じ構成要素には同じ符号を付すことにより
、その説明は省略する。 この実施例においても第3図に示すリードフレーム部材
A′と絶縁性フィルム7が用いられる。 また、本実施例では第7図に示すような張り合わせ装置
8が用いられる。この張り合わせ装置8は本体8aの所
定位置に、第2図に示す構成単位の数と同数(図では4
個;すなわち4個の構成単位からなる連成のリードフレ
ーム)の凹部8bが形成されている。この凹部8bの形
状は張り合わせる絶縁性フィルム7の形状に合致するよ
うに形成されている。同図(B)に示すように、各凹部
8bにはそれぞれ絶縁性フィルム7が載置されるステー
ジ8Cがスライドキー8dにより上下動可能に配設され
ている。 また、本体8aの上面には所定数(図では6個)のリー
ドフレーム押え8eが突設されている。これらのリード
フレーム押え8eの最内側部が囲む領域は、二点鎖線で
示すようにリードフレーム部材A′に形状に合致するよ
うに設定されている。 しかも、 リードフレーム押え8eと凹部8bとの相対
位置は、 リードフレーム部材A′をリードフレーム押
え8e内にセットしたとき、そのリードフレーム部材A
′のダイパッド1が位置する箇所に 各凹部8bが位置
するようにされている。したがって、絶縁性フィルム7
を凹部8b内に嵌入してステージ8cに載置した後、本
体8a上面にリードフレーム部材A′を載置したときに
は、絶縁性フィルム7はダイパッド1に正確に位置決め
されるようになる。 次に、本実施例による絶縁性フィルム7の張り合わせ工
程を説明する。 まず第6図(A)に示すように張り合わせ装置8の凹部
8b内に絶縁性フィルム7を接着剤層7bが上を向くよ
うに嵌入してステージ8cに載置する。その場合、凹部
8bの形状が絶縁性フィルム7の形状と合致しているの
で、絶縁性フィルム7は正確に設置される。次いで1本
体8a上面にリードフレーム部材A′を載置する。その
場合。 リードフレーム押え8eによりリードフレーム部材A′
は所定の位置に正確に設置され、 したがってリードフ
レーム部材A′のダイパッド1と絶縁性フィルム7とは
正確にかつ簡単に位置決めされるようになる。 次に、同図(B)に示すようにスライドキー8dを操作
することにより、ステージ8cを上方へ移動することに
より、絶縁性フィルム7を上昇させてダイパッド1に当
接させるとともに、更に絶縁性フィルム7およびリード
フレーム部材A′を上昇させ、 リードフレーム部材A
′を本体8a上面から持ち上げる。 次いで、同図(C)に示すように接合加熱治具10によ
りダイパッド1を絶縁性フィルム7をこ押圧(加圧)す
ると同時に加熱する。こうして、同図(D)に示すよう
に絶縁性フィルム7とダイノくラド1とが強固に張り合
わされた第2図
【こ示すような本実施例のリードフレー
ムAが製造される。 このように 本実施例においては絶縁性フィルム7はダ
イパッド1の裏面から加圧・加熱されてダイパッド1に
張り付けられるようをこなる。したがって、ダイパッド
1が絶縁性フィルム7よりも熱伝導性がよいので、本実
施例では接着性力;きわめて良好になる。これにより、
絶縁性フィルム7の張り付けの際の加圧加熱の均一性の
向上力(達成され、 絶縁性フィルム7をダイ/<ラド
1シこ強固をこ張り付けることができるようになる。 また、絶縁性フィルム7はダイノ(ラド1&こその裏面
から張り付けられることにより、加熱加圧治具11が絶
縁性フィルム7の中間パッド6に直接光たることがなく
なるので、中間パッド6の表面が破損するようなことも
なくなる。 更に 張り合わせ装置8のリードフレーム押え8eによ
りリードフレーム部材A′は所定の位置に正確に設置さ
れ、 したがってリードフレーム部材A′のダイパッド
1と絶縁性フィルム7とが正確に位置決めされるので、
高精度にかつ簡単に絶縁性フィルム8をダイパッド1に
張り合わせることになる。 このリードフレームAにおいても、前述の実施例のリー
ドフレームと同様に第4図および第5図に示すような半
導体装置を製造することができる。 第8図は本発明の更に他の実施例を示す第1図と同様の
リードフレーム製造方法の各工程を示す図である。なお
前述の実施例と同じ構成要素には同じ符号を付すことに
より、その説明は省略する。 第8図(A)に示すように この実施例においても前述
の各実施例の場合と同様に第3図に示すリードフレーム
部材A′と絶縁性フィルム7とが用いられる。同図(B
)に示すように、ダイパッド1上に絶縁性フィルム7を
接着剤層7bが下を向くように配し、絶縁性フィルム7
をダイパッド1の上に載置し、これら絶縁性フィルム7
とダイパッド1との正確な位置合わせを行う。 次いで、同図(C)に示すように小型接合加熱治具10
により絶縁性フィルム7の対角となる2つの角を仮圧着
した後に、同図(D)に示すように仮圧着を行ったリー
ドフレームAを裏面が上となるようにして所定の接合用
ステージ8c上に置き、大型接合用加熱加圧治具11に
より絶縁性フィルム7をダイパッド1に押圧すると同時
に加熱して、同図(E)に示すごとく絶縁性フィルム7
とダイパッド1とが確実にかつ強固に、そして非常に精
度よく張り合わされた本実施例のリードフレー4Aが製
造される。このリードフレームAにおいても、前述の各
実施例のリードフレームと同様に第4図および第5図に
示すような半導体装置を製造することができる。 この実施例においては、前述の二つの実施例の有する作
用効果を有するようになる。 以上、本発明に係るリードフレームの製造方法の実施例
について説明したが、本発明は 前述の実施例に限定さ
れることなく、種々の設計変更が可能である。 例えば、前述の実施例ではリードフレームの形成材料と
して42合金を用いるものとしているが、本発明はこの
他に導電性材料であれば任意の材料を利用することがで
きる。また、前述の実施例では絶縁性フィルムのフィル
ム基材としてポリイミド樹脂を用いるものとしているが
、 このフィルム基材としても絶縁性を備えかつ耐熱性
等の他の要求される性質を備えている材料であれば、任
意の材料が利用できる。 また、前述の実施例では、多ビン化を可能にするために
中間パッドを備えた絶縁性フィルムを張り合わせるもの
としているが、本発明は中間パッドのない絶縁性フ゛イ
ルムをダイパッドに張り合わせる場合にも適用すること
ができる。 【発明の効果】 以上の説明から明らかなようを二 本発明によれば、絶
葱性フィルムまたは絶縁性基板をダイパッドに対して正
確にかつ簡単に張り合わすことができるので、張り合わ
せ精度がより一層向上するとともに、生産性が向上する
。 また、本発明によれば、圧着時における熱伝導が良好と
なり、効果的にかつ強固に絶縁性フィルムまたは絶縁性
基板をダイパッドに張り合わすことができる。 しかも、本発明によれば、絶縁性フィルムまたは絶縁性
基板の張り合わせ時に、中間パッドの表面の破損を確実
に防止することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る半導体素子用リードフレームの製
造方法の一実施例を示し、 (A)〜(F)はそれぞれ
各工程を説明する図、第2図は本発明の各実施例により
製造されるリードフレームを示し、 (A)はその平面
図、 (B)はnB−IIB線に沿う断面図、第3図は
本発明の各実施例に使用されるリードフレーム部材およ
び絶縁性フィルムを示し、 (A)はその平面図、 (
B)はmB−mB線に沿う断面に 第4図および第5図
はは各実施例により製造されたリードフレームを用いで
作製された半導体装置の要部を説明する概略説明図、第
6図は本発明に係るの他の半導体素子用リードフレーム
の製造方法を示し、 (A)〜(D)はそれぞれ各工程
を説明する図、第7図はこの実施例に使用される本発明
に係る半導体素子用リードフレームの製造装置の一実施
例を示し、 (A)はその平面図、 (B)は■B−■
B線に沿う断面図。 第8図は本発明の更に他の実施例を示し、 (A)〜(
E)はそれぞれ各工程を説明する図、第9図および第1
0図は、それぞれ従来のリードフレームの一構成単位を
示す平面図、第11図はこのリードフレームの構成単位
を用いて作製された半導体装置の要部を説明する概略説
明図、第12図は従来の半導体素子用リードフレームの
製造方法を示す図である。 1・・・ダイパッド、2・・・インナーリード、3・・
・アウターリード、4・・・半導体素子(チップ)、5
・・・半導体素子、6・・・中間パッド(独立電極)5
7・・・絶縁性フィルム、7a・・・フィルム基材、7
b・・・接着剤層、8・・・張り合わせ装置、8a・・
・張り合わせ装置の本体 8b・・・凹脈 8c・・・
ステージ、8d・・・スライドキー、 8e・・・リー
ドフレーム押え、 10・・・tJ\型接合用加熱治J
L  11・・・大型用接合加熱加圧油&A・・・リー
ドフレーム、A′・・・リードフレーム部材 特許出願人    大目本印刷株式会社代理人 弁理士
    青木健二(外7名)第2図 (A) (B) 3      ZI    I     J第1図 第3図 (A) (B) 第7図 (B) 第6図 A′ 8図 第11図 第12図

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】絶縁性フィルムまたは絶縁性 基板が接着剤によりリードフレーム部材のダイパッドに
    張り合わされ、該絶縁性フィルムまたは絶縁性基板また
    はダイパッドに半導体素子が搭載されるようになってい
    る半導体素子用リードフレームの製造方法において、 絶縁性フィルムまたは絶縁性基板をダイパッドに対して
    位置決めした後該ダイパッドに仮接着し、その後絶縁性
    フィルムまたは絶縁性基板をダイパッドに加圧、加熱に
    より圧着することを特徴とする半導体素子用リードフレ
    ームの製造方法。
  2. 【請求項2】絶縁性フィルムまたは絶
    縁性 基板が接着剤によりリードフレーム部材のダイパッドに
    張り合わされ、該絶縁性フィルムまたは絶縁性基板また
    はダイパッドに半導体素子が搭載されるようになってい
    る半導体素子用リードフレームの製造方法において、 絶縁性フィルムまたは絶縁性基板をダイパッドに対して
    位置決めした後、該絶縁性フィルムまたは絶縁性基板を
    ダイパッドにこのダイパッドの裏面から加圧、加熱によ
    り圧着することを特徴とする半導体素子用リードフレー
    ムの製造方法。
  3. 【請求項3】絶縁性フィルムまたは絶縁
    性 基板が接着剤によりリードフレーム部材のダイパッドに
    張り合わされ、該絶縁性フィルムまたは絶縁性基板また
    はダイパッドに半導体素子が搭載されるようになってい
    る半導体素子用リードフレームの製造方法において、 絶縁性フィルムまたは絶縁性基板をダイパッドに対して
    位置決めした後該ダイパッドに仮接着し、その後絶縁性
    フィルムまたは絶縁性基板をダイパッドにこのダイパッ
    ドの裏面から加圧、加熱により圧着することを特徴とす
    る半導体素子用リードフレームの製造方法。
  4. 【請求項4】前記絶縁性フィルムまたは絶 縁性基板は独立電極である中間パッドを備えていること
    を特徴とする請求項1ないし3のいずれか1記載の半導
    体素子用リードフレームの製造方法。
  5. 【請求項5】絶縁
    性フィルムまたは絶縁性 基板が接着剤によりリードフレーム部材のダイパッドに
    張り合わされ、該絶縁性フィルムまたは絶縁性基板また
    はダイパッドに半導体素子が搭載されるようになつてい
    る半導体素子用リードフレームの製造装置において、 リードフレーム部材が搭載される本体と、この本体のリ
    ードフレーム部材が搭載される部位に形成され、絶縁性
    フィルムまたは絶縁性基板が嵌入される凹部と、この凹
    部内に上下動可能に配設され、絶縁性フィルムまたは絶
    縁性基板が載置される載置台と、この載置台を上下動す
    る上下移動手段とを備えていることを特徴とする半導体
    素子用リードフレームの製造装置。
  6. 【請求項6】前記凹部の形状は絶縁性フィ ルムまたは絶縁性基板の形状と合致するように形成され
    ているとともに、前記本体にリードフレーム部材を所定
    の位置に位置決めするリードフレーム押えが設けられ、
    前記凹部は、リードフレーム部材がリードフレーム押え
    によって位置決めされたときリードフレームのダイパッ
    ドが位置する本体の部位に設けられていることを特徴と
    する請求項5記載の半導体素子用リードフレームの製造
    装置。
  7. 【請求項7】前記絶縁性フィルムまたは絶 縁性基板は独立電極である中間パッドを備えていること
    を特徴とする請求項5または6記載の半導体素子用リー
    ドフレームの製造装置。
JP2313683A 1990-11-19 1990-11-19 半導体素子用リードフレームの製造方法および製造装置 Pending JPH04188662A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2313683A JPH04188662A (ja) 1990-11-19 1990-11-19 半導体素子用リードフレームの製造方法および製造装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2313683A JPH04188662A (ja) 1990-11-19 1990-11-19 半導体素子用リードフレームの製造方法および製造装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04188662A true JPH04188662A (ja) 1992-07-07

Family

ID=18044258

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2313683A Pending JPH04188662A (ja) 1990-11-19 1990-11-19 半導体素子用リードフレームの製造方法および製造装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04188662A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20030008616A (ko) 리드 프레임을 이용한 범프 칩 캐리어 패키지 및 그의제조 방법
US6271057B1 (en) Method of making semiconductor chip package
JP3103281B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
JPH04188662A (ja) 半導体素子用リードフレームの製造方法および製造装置
JPH0350736A (ja) 半導体チップのバンプ製造方法
JPH0878599A (ja) 集積回路パッケージ及びその製造方法
JPH04119653A (ja) 集積回路素子
JPH02252251A (ja) フィルムキャリヤーテープ
JPS63185035A (ja) 半導体装置
JPH07249708A (ja) 半導体装置及びその実装構造
JPH0496263A (ja) 半導体素子用リードフレームの製造方法
JPH04329659A (ja) 混成集積回路装置およびその製造方法
JPH05283473A (ja) フィルムキャリア半導体装置とその製造方法
JPH0485864A (ja) 半導体素子用リードフレーム
JPS59152656A (ja) 半導体装置
JP3445687B2 (ja) 半導体チップの実装方法
JPS6242549A (ja) 電子部品パツケ−ジ及びその製造方法
JPH05218146A (ja) フィルムキャリアテープの製造方法
JPH0770664B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JPH1064954A (ja) 半導体装置の製造方法および製造装置
JPH0878485A (ja) リード部材及びその製造方法並に半導体装置及びその製造方法
JP2000228457A (ja) 半導体装置、その製造方法及びテープキャリア
JPH04216660A (ja) 半導体素子用リードフレーム
JPH04154137A (ja) フィルムキャリヤーテープの製造方法
JPH04249356A (ja) リードフレーム