JPH04122863A - 接続診断装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概　要〕 電子機器におけるユニット間でデータや制御信号などを
伝送するケーブルの接続異常を検出する接続診断装置に
関する。

各ユニットを接続するケーブルの接続異常発生個所を特
定し得るようにするとともに瞬断についても検出し得る
ようにすることを目的とし、ユニット間をコネクタ部を
介して接続するケーブルと、一方のユニットにおいてこ
のケーブル内の複数の２１線にそれぞれ試験信号を供給
する手段と、他方のユニットにおいてこの複数の導線か
らの試験信号の論理積を得る手段とを設けて接続診断装
置を構成した。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、例えば電子計算機を構成する中央処理装置ユ
ニット、主記憶ユニットなどの電子機器におけるユニッ
ト間でデータや制御信号などを伝送するケーブルの接続
異常を検出する接続診断装置に関する。

〔従来の技術〕

複数のユニットをケーブルで接続して所要の機器を構成
することが広く行われているが、このユニットの数が多
くなると、これらユニットに設けられたソケットとケー
ブルの端部に設けられるプラグとの嵌合によって電気的
な接続を行うコネクタ部における接続不良による機器の
障害も著しく増加する。

例えば電子計算機システムにおいても、そのシステム構
成が複雑化するにつれて障害発生時における不良箇所の
早期の検出が急務となる。

第６図は、複数のユニッ）Ｕ＋、Ｕｚにそれぞれ設けら
れたソケン）Ｓ、、Ｓ、とケーブルＷの両端部に設けら
れたプラグｐ＋、ｐｇとをそれぞれ嵌合したコネクタ部
Ｃ，，Ｃ，によってこれら複数のユニッ）Ｕ＋、Ｕｚ間
を電気的に接続して所要の機器を構成した場合の従来の
接続診断装置の一例を示すものである。

上記ケーブルＷには添設またはケーブル中の導線を使用
した１本の試験線ｔ１が設けられており、この試験線ｔ
１の両端はケーブルＷの両端に設けられたプラグＰ＋、
Ｐアの割当てられた接続ピンにそれぞれ接続されており
、さらに、各プラグＰｌ。

Ｐ２の他の１つの接続ピンからは他のコネクタ部の接続
線に接続するための接続線ｔ３が引出されている。

このプラグＰ、をユニットＵ１に設けられたソケッ）Ｓ
ｔ　に嵌合させた状態を考えると、試験線ｔ１はケーブ
ルＷの他の導線と同様にコネクタ部Ｃ３においでユニッ
ト側のソケットＳ１の対応する接続ピンを介してユニッ
ト内の試験用導線ｔ２と電気的に接続され、この試験用
導線１ｔの他端は前記接続線ｔ３が引出されているプラ
グＰ、の接続ピンと対応するソケットの接続ピンに接続
されているので、プラグＰ１とソケットＳ、との接続が
良好であれば上記試験ｇｔ＋＝ｔｚ”ｔｓの経路で電流
経路ができることになる。

図示のように、従来の試験装置では、各コネクタについ
ての上記試験線ｔＩ＋ｔ！、ｔ２に相当する試験線をす
べて直列に接続し、これらの試験線が閉ループを構成し
ているか否かを例えば抵抗計やランプなどを用いて端子
ｘ、ｙ間の導通試験を行うことによってこれらのコネク
タ部における接続状態を診断している。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかしながら、このような従来の方法では、多数のコネ
クタ部における接続状態を同時に診断することになるた
め、接続異常が検出されたとしても障害が発生したコネ
クタを特定することができないばかりでなく、瞬断によ
る接続異常を検出することができないという問題がある
。

本発明は、各ユニットを接続するケーブルの接続異常発
生個所を特定し得るようにするとともに瞬断についても
検出し得るようにした接続給断装置を提供することを目
的とする。

〔課題を解決するための手段〕

ユニット間をコネクタ部を介して接続するケーブルと、
一方のユニットにおいてこのケーブル内の複数の導線に
それぞれ試験信号を供給する手段と、他方のユニットに
おいてこの複数の導線からの試験信号の論理積を得る手
段とを設けて接続診断装置を構成した。

〔作　用〕

第１図は本発明の原理を示す図であって、２つのユニッ
トＬ、１ｇは、これらユニット１１．１□にそれぞれ設
けられたソケット３１．３ｚとケーブル２の両端に設け
られたプラグ４０，４□とを嵌合したコネクタ部によっ
て互いに接続されており、このケーブル２には試験線５
Ｉ、５□が併設されており、この試験線も上記コネクタ
部において各ユニット内の試験線６１，６□、７１．’
７ｍに接続されている。

上記ユニット１１内の試験線６ｉ、６ｇには、例えば共
通接続することによって、同一の信号が印加されるよう
に構成され、診断を行う際には試験信号Ｔｓがこれらの
試験線６５．６□に供給されるものであり、また、上記
ユニット１□内の試験線７、．７！はそれぞれアンド回
路８の入力端子に接続されている。

したがって、図示しないサービスプロセッサによるスキ
ャンなどによって、上記試験信号Ｔｓが試験線６１，６
□に供給されたとき、コネクタ部におけるソケット３１
．３□とプラグ４．．４．との接触が完全であればこの
試験信号はケーブル２に併設されている試験線５８．５
□を経てユニ、ト１！内の試験線７．、Ｌからアンド回
路８の入力端子に印加されるので、このアンド回路８か
らは試験信号Ｔｓに等しい試験出力ＴＯが出力される。

しかしながら、コネクタ部の接触が不充分である場合に
は、ユニット１．内の試験線７、あるいは７．の少なく
とも一方に試験信号Ｔｓが到来しないのでこのユニット
１．のアンド回路８からは試験出力Ｔｏを生ぜず、これ
によってソケット３゜とプラグ４、間あるいはソケット
３□とプラグ４□間の接続に障害があることが診断でき
る。

なお、上記試験信号としては通常の処理に使用するデー
タを兼用することもできるが、正または負の直流電圧あ
るいはパルスを用いることが処理上から好ましく、また
、その実行時期としては、一定時間間隔などでの定期的
な診断、あるいはケーブルによる接続作業が終了したり
、さらにはシステムの動作に異常が生じたときの診断な
どに適用することができる。

〔実施例〕

第２図は、サービスプロセッサＳＰによって接続診断を
行うようにした本発明の第Ｉ実施例を示すブロック図で
あって、３つのユニット１１．．１１ｚ、１１３間を接
続する２本のケーブル１２．．１２□の接続状態を診断
する場合を示している。

ユニット１１．およびユニットｌ１ｇのそれぞれ３つの
ドライバによって構成された回路と、ユニットｔｘｔお
よびユニット１１３のそれぞれ２つのレシーバと１つの
アンド回路によって構成された回路とが、第１図につい
て説明した診断回路と同一の機能を有することは明らか
であるから、これらの回路の動作についての説明は省略
する。

サービスプロセッサＳＰはスキャン回路ｓｃと試験手段
Ｔとを含んでおり、スキャン回路Ｓｃのユニッ）Ｉｆ、
、１１□に試験信号を出力する出力側スキャナ１３．と
ユニット１１．、ＩＩｓがらの試験出力が入力される入
力側スキャナ１３２との切換接点は互いに同期して切換
えられるものであり、図示の状態では、スキャナ１３．
はユニット１２ｚに試験手段Ｔからの試験信号を送出す
るとともにスキャナ１３□はユニット１１．の試験出力
を試験手段Ｔに供給している。なお、スキャン回路Ｓｃ
のスキャナ１３．．１３□は電子的な切換回路として構
成することが好ましいことはいうまでもない。

したがって、図示の状態で試験手段Ｔから“１”レベル
の試験信号Ｔｓをスキャナ１３１がらユニット１１□に
送出すると、ユニット１１．がらの試験出力Ｔｏがスキ
ャナ１３□がら試験手段Ｔに供給されるので、この試験
手段Ｔはこのスキャナ１３２から″１′″レベルの信号
が返されればユニット１１□、ケーブル１２□、ユニッ
ト１１３間のコネクタ部の接続を含めて接続状態は正常
であるという診断結果を得ることができる。

次にスキャン回１１Ｓｃのスキャナ１３．．１３□の切
換接点が図の位置から左方に１接点だけ移動すると試験
手段Ｔからの“１”レベルの試験信号Ｔｓはスキャナ１
３．からユニット１１１に送出され、またスキャナ１３
．がらはユニット１１□からの試験出力Ｔｏが試験手段
Ｔに供給されるが、もし、この試験手段Ｔのスキャナ１
３□からの入力力び０”レベルであればユニッ）１１．
、ケーブル１２１．ユニット１１８間の接続は遮断状態
にあって接続状態は異常であるという診断結果を得るこ
とができる。

第３図は、診断用の信号線を別個に設けることなく、ユ
ニット間でデータ伝送を行うための伝送路を試験のため
にも兼用して診断を行うようにした実施例を示すもので
、３つのユニット２１．．２１ｇ、２１ｚ間を接続する
２本のケーブル２２１．２２□の接続状態を診断する場
合を示している。なお、Ｄがドライバ、Ｒがレシーバ、
＆がアンド回路を示していることは第２図の実施例と同
様である。

ケーブル２２□で縦続接続されているユニット２１ｇと
ユニット２１．との間の接続試験を例にとって説明する
。

ユニット２１！が搭載している論理回路に２が通常の処
理状態にあるときには、前位のユニット２１、から伝送
路り、ｉ、、Ｌ□、を経てそれぞれ伝送されてきたデー
タなどをそれぞれレシーバＲ２□Ｒ２ｂを介して伝送路
り。＋Ｌ！ｋから受信してデータ処理を行っており、そ
の処理出力は出力伝送路Ｌｔｍ’ｒＬＺｂ′からそれぞ
れ縦続接続された２つのドライバＤ−＋＋、Ｄ□！、Ｄ
　ｍｅｌｔ　Ｄ　８２２および伝送路Ｌ２゜、、Ｌ２゜
１を経て次位のユニット２１．に対してケーブル２２□
を介して送出される。

装置の立上げ時あるいは接続状態の診断時にサービスプ
ロセッサＳＰによる試験が行われるが、次位のユニット
２１．との間の接続試験を行うためにこのユニット２１
□では、上記論理回路などの出力側伝送路Ｌｔｍ’＋Ｌ
２ｂ′に縦続接続された２つのドライバＤ　ａ　ｒ　ｒ
　ｒ　Ｄ　ａ　ｒ　ｚおよびり、ｚ、、　Ｄ、、２の間
の伝送路Ｌ□′、Ｌｚｂ″にそれぞれアンド回路Ａ□。

＋ＡＺｂｏの出力が供給されており、このアンド回路か
らそれぞれの伝送路に試験信号Ｔ　ｉａ＋Ｔｓ＆が入力
される。

すなわち、伝送路Ｌ２．７にその出力が接続されている
アンド回路Ａｔ、。を例にとれば、その一方の入力端子
には各ユニットに共通の母線Ｂ１からサービスプロセッ
サＳＰによって送出された試験信号Ｔ。が、また他方の
入力端子にはスキャナＳＣ１母線ＢＺＩを介してサービ
スプロセッサＳＰからの“１”レベルのゲート信号Ｇ、
が印加されているので、このアンド回路Ａ　２ｓｏから
は試験信号Ｔ□が伝送路り。′に出力され、ドライバＤ
３，２から伝送路Ｌ２゜１、コネクタ部で接続されてい
るケーブル２２．内の線路およびユニット２１３内の伝
送路り８８．を介してアンド回路Ａ３１Ｈの一方の入力
端子に供給される。

上記ゲート信号Ｇ、は、このアンド回路Ａｓｓの他方の
入力端子にも供給されているので、このアンド回路Ａ３
．からは各ユニットに共通の母線Ｂ３に試験出力Ｔ。、
が出力される。

同様にしてユニット２１．のアンド回路Ａ３ｂからの試
験出力Ｔ。わが各ユニットに共通の母線Ｂ４に出力され
、これらの母ｉｌｌ　Ｂ　３．　Ｂ　４からの試験出力
Ｔ　（１１１＋　’ｒ、ｂはサービスプロセッサＳＰの
入力端子に入力されて、その試験手段Ｔ内に点線で示し
たように例えばアンド回路のような論理積手段によって
両試験出力Ｔ　Ｏａ＋　Ｔｏｂの有無によって接続状態
を判断する。

なお、この第３図ではサービスプロセッサＳＰからの試
験信号Ｔ　ｍｍ＊　Ｔｕｂをそれぞれ別個の母線Ｂ３、
Ｂ２に供給するように示したが、第１図について説明し
、あるいはこの第３図の試験手段Ｔ内に点線で示したよ
うに試験信号Ｔ　Ｍａｒ　Ｔｕｂとして同一の信号Ｔｓ
を用いる場合には１本の母線だけを用いてこの試験信号
Ｔｓをこの母線に供給すればよい。

また、各ユニフ）２１内の試験出力を得るためのアンド
回路、例えばユニット２１３のアンド回路Ａ３．および
Ａ、１の出力の論理積をとるアンド回路などを第１図の
場合と同様に設けておけば、各ユニットからは試験出力
Ｔｏを出力することができるので、第３図の母線Ｂ、、
Ｂ、に代えて１本の母線を設ければよく、また、試験手
段Ｔ内には点線で示したような論理積手段も必要としな
いことも明らかであろう。

第４図は瞬断を検出するための瞬断検出回路の例を示す
もので、ドライバ、レシーバなどについては図示を省略
してあり、第５図はその動作を示すタイムチャートであ
って、図中の丸数字は第４図の瞬断検出回路の実施例に
付記した丸数字に対応している。

ユニット３２の瞬断検出回路は、前段のユニット３１か
らの一対の試験信号入力をそれぞれセント入力とするナ
ンド回路Ｎ、と、このナンド回路Ｎ１と組合わさってＳ
Ｒフリップフロップを構成するナンド回路ＮＺと、この
ナンド回路Ｎ２の１つの入力端子にリセット信号を入力
するインバータＩ、および上記ナンド回路Ｎｌの出力を
反転するインバータ１．とによって構成されている。

図示しないサービスプロセッサによってシステムの異常
が検出されると、このサービスプロセンサから第５図の
■の波形図に示したリセットパルスが時刻ｔ１で出力さ
れ、このリセット信号はインバータＩ、を介してナンド
回路Ｎ、の一方の入力端子に供給され、このナンド回路
Ｎ２の出力■を“１”レベルとし、ナンド回路Ｎ１の出
力■を″０″レベルとする。

このリセットされた状態で、前段のユニット３１からの
試験信号■、■がともに“１″を維持していれば、ナン
ド回路Ｎ１の出力は“０”レベルを保ち、したがってイ
ンバータ■２からの試験出力■は“１″レベルとなる。

第５図■に示すように、時刻ｔ２で前段のユニット３１
からの試験信号が瞬断すると、ナンド回Ｎｒ　Ｎ　Ｉの
出力は“１”レベルとなって試験出力■を“０”レベル
にするとともに、ナンド回路Ｎ２の出力もこのナンド回
路Ｎ、の出力によって“０”レベルとし、試験信号の瞬
断が解消してもこれらナンド回路Ｎ　Ｉ、　Ｎ　ｚ間の
交叉接続によってこの状態を維持することができる。

〔発明の効果〕

本発明によれば、接続が不良のコネクタ部を特定するこ
とができるばかりでなく、瞬断による接続異常を検出す
ることができるという格別の効果を奏することができる
。

さらに、試験信号として通常の処理に使用するデータを
用いることができ、加えてデータの伝送に使用する線路
を用いて試験を行うこともできるという効果が達成され
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理を示す図、 第２図および第３図は本発明のそれぞれ異なる実施例を
示すブロック図、 第４図は瞬断検出回路を示す図、 第５図はその動作を示すタイムチャート、第６図は従来
の接続診断装置を説明するための図である。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. ユニット間をコネクタ部を介して接続するケーブルと、
   一方のユニットにおいてこのケーブル内の複数の導線に
   それぞれ試験信号を供給する手段と、他方のユニットに
   おいてこの複数の導線からの試験信号の論理積を得る手
   段とからなることを特徴とする接続診断装置。