JPH04115570A - Master-slice semiconductor integrated circuit - Google Patents
Master-slice semiconductor integrated circuitInfo
- Publication number
- JPH04115570A JPH04115570A JP23471790A JP23471790A JPH04115570A JP H04115570 A JPH04115570 A JP H04115570A JP 23471790 A JP23471790 A JP 23471790A JP 23471790 A JP23471790 A JP 23471790A JP H04115570 A JPH04115570 A JP H04115570A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pull
- channel transistors
- down resistor
- integrated circuit
- semiconductor integrated
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 12
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims description 8
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 5
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 abstract description 3
- 102000004129 N-Type Calcium Channels Human genes 0.000 abstract 5
- 108090000699 N-Type Calcium Channels Proteins 0.000 abstract 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、マスタースライス半導体集積回路において、
プルダウン抵抗用トランジスタの構成に間するものであ
る。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention provides a master slice semiconductor integrated circuit that includes:
This is used in the configuration of a pull-down resistor transistor.
[従来の技術] 従来のマスタースライス半導体集積回路は。[Conventional technology] Conventional master slice semiconductor integrated circuit.
プルダウン抵抗を必要とする場合、チップ外部に抵抗を
付けるか、入出力セルを用いてNチャンネルトランジス
タをプルダウン抵抗用トランジスタとして固定し専用型
であった。When a pull-down resistor was required, a dedicated type was used, either by attaching a resistor to the outside of the chip, or by using an input/output cell to fix an N-channel transistor as a pull-down resistor transistor.
[発明が解決しようとする課題]
しかし前述の従来技術ではチップ外部に抵抗をつけると
、チップ周辺の配線が複雑になりチップを含めた実装効
率が低下し、外付は部品数が増えコスト高になるという
問題点があった。また、入出力セルにプルダウン抵抗を
内蔵している場合、固定された専用型であるため使用し
ないときもチップ面積を必要とし抵抗値が固定であると
いう問題点を有する。[Problems to be solved by the invention] However, in the conventional technology described above, when a resistor is attached to the outside of the chip, the wiring around the chip becomes complicated and the mounting efficiency including the chip decreases, and external attachment increases the number of parts and costs. There was a problem with becoming. Furthermore, when an input/output cell has a built-in pull-down resistor, since it is a fixed, dedicated type, it requires a chip area even when not in use, and the resistance value is fixed.
そこで本発明はこのような問題点を解決するもので、其
の目的とするところは、マスクスライス型ゲートアレイ
で専用論理回路を実現する場合の配線工程のみでプルダ
ウン抵抗ができるマスタースライス半導体集積回路を提
供することが目的である。The present invention is intended to solve these problems, and its purpose is to provide a master slice semiconductor integrated circuit in which a pull-down resistor can be created only by the wiring process when realizing a dedicated logic circuit using a mask slice type gate array. The purpose is to provide
[課題を解決するための手段]
本発明のマスタースライス半導体集積回路は、 a
)多数個の内部論理ゲートセル(以下ベーシックセルと
略す)を2次元行列状に配列してなるマスタースライス
半導体集積回路において
b)チップ外部からの信号が入力される入出力セルのP
チャンネルトランジスタ及びNチャンネルトランジスタ
と
C)ベーシックセル3用いたNチャンネルトランジスタ
と
d)ゲート電極をVdd+に固定された複数個の前記N
チャンネルトランジスタのうち1個以上の前記Nチャン
ネルトランジスタのソス電極をVss−の電位に固定し
、1個以上のNチャンネルトランジスタのドレイン拡散
領域と前記入出力セルを電気的に接続することを特徴と
する、
[実施例コ
以下に本発明について、実施例に基づき詳細に説明する
。[Means for Solving the Problems] The master slice semiconductor integrated circuit of the present invention has the following features: a
) In a master slice semiconductor integrated circuit formed by arranging a large number of internal logic gate cells (hereinafter referred to as basic cells) in a two-dimensional matrix, b) P of the input/output cells into which signals from outside the chip are input.
C) an N-channel transistor using the basic cell 3; and d) a plurality of the N-channel transistors whose gate electrodes are fixed to Vdd+.
The sos electrode of one or more of the N-channel transistors among the channel transistors is fixed at a potential of Vss-, and the drain diffusion region of the one or more N-channel transistor and the input/output cell are electrically connected. [Example] The present invention will be described in detail based on Examples below.
第1図は本発明のマスタースライス半導体集積回路に内
蔵するプルダウン抵抗用Nチャンネルトランジスタの構
成を示すものである。FIG. 1 shows the configuration of an N-channel transistor for a pull-down resistor built into a master slice semiconductor integrated circuit according to the present invention.
第1図において、11は入出力端子、12はプルダウン
抵抗用Nチャンネルトランジスタ、13は入力インバー
タ回路である。プルダウン抵抗用Nチャンネルトランジ
スタ12は入出力端子11および入力インバータ回路1
3に接続されている。また、プルダウン抵抗用Nチャン
ネルトランジスタ12のゲート電極はVdd+に接続し
、ソース電極はVsS−に接続している。つぎにマスタ
ースライス半導体集積回路で前記プルダウン抵抗用Nチ
ャンネルトランジスタを構成する手段について説明する
。In FIG. 1, 11 is an input/output terminal, 12 is an N-channel transistor for a pull-down resistor, and 13 is an input inverter circuit. N-channel transistor 12 for pull-down resistor is connected to input/output terminal 11 and input inverter circuit 1
Connected to 3. Further, the gate electrode of the pull-down resistor N-channel transistor 12 is connected to Vdd+, and the source electrode is connected to VsS-. Next, a description will be given of means for configuring the pull-down resistor N-channel transistor in the master slice semiconductor integrated circuit.
まず第2図はマスタースライス半導体集積回路にアレイ
状に配列される内部論理ゲートセルであるベーシックセ
ルの一例を示すパターン図である。第2図において23
.24は絶縁ゲート電界効果型トランジスタ(以下MO
3FETと略す)のゲート電極となるポリシリコンであ
り、21はN十拡散であり、22はP+拡散である。2
3.24とN十拡散21の重なった部分にそれぞれN型
MO3FET25.26が形成されている。また、ポリ
シリコン23.24とP+拡散22の重なった部分にそ
れぞれP型MO8FET27゜28が形成されている。First, FIG. 2 is a pattern diagram showing an example of basic cells, which are internal logic gate cells arranged in an array in a master slice semiconductor integrated circuit. 23 in Figure 2
.. 24 is an insulated gate field effect transistor (hereinafter MO
3FET), 21 is an N+ diffusion, and 22 is a P+ diffusion. 2
N-type MO3FETs 25 and 26 are formed in the overlapping portions of 3.24 and N+ diffusion 21, respectively. Furthermore, P-type MO8FETs 27 and 28 are formed in the overlapping portions of the polysilicon 23 and 24 and the P+ diffusion 22, respectively.
第3図は第2図のベーシックセルに配線層を加え、プル
ダウン抵抗用Nチャンネルトランジスタとして用いる場
合をしめす。第3図において簡単化のため、ポリシリコ
ンとアルミ配線とを接続するコンタクトホール及びN:
+拡散もしくはP+拡散とアルミ配線とを接続するコン
タクトホールをX印で表し、またコンタクトホールから
取り出されたアルミ配線を1本の直線で表している。さ
てN型MOSFET25のゲートtf!が31.ソース
電極が32.ドレイン電極が33となっている。FIG. 3 shows a case where a wiring layer is added to the basic cell shown in FIG. 2 and used as an N-channel transistor for a pull-down resistor. In Fig. 3, for simplification, contact holes connecting polysilicon and aluminum wiring and N:
A contact hole connecting the + diffusion or P+ diffusion and the aluminum wiring is represented by an X mark, and the aluminum wiring taken out from the contact hole is represented by a straight line. Now, the gate tf of N-type MOSFET25! is 31. The source electrode is 32. The drain electrode is 33.
また、P型MOSFET27のゲートを極が31、ソー
ス電極およびトレイン電極はういている。そして、N型
MOSFET25のソス電極32は負極の電源電位であ
るVssに接続され、N型MOSFET25のゲト電極
31は正極の電源電位であるVdd十に接続され、N型
MOSFET25のドレイン電極33は前記入力インバ
ータ回路および前記入出力端子と信号34で接続されて
いる。Further, the gate of the P-type MOSFET 27 is located at the pole 31, and the source electrode and the train electrode are located at the pole 31. The sos electrode 32 of the N-type MOSFET 25 is connected to the negative power supply potential Vss, the gate electrode 31 of the N-type MOSFET 25 is connected to the positive power supply potential Vdd, and the drain electrode 33 of the N-type MOSFET 25 is connected to the negative power supply potential Vss. It is connected to the input inverter circuit and the input/output terminals through a signal 34.
以上の構成によりプルダウン抵抗用Nチャンネルトラン
ジスタ回路が構成される。The above configuration constitutes an N-channel transistor circuit for a pull-down resistor.
第4図はベーシックセルを複数個並べて。Figure 4 shows multiple basic cells lined up.
N型MOSFETを4個並列に接続した構成図である。It is a configuration diagram in which four N-type MOSFETs are connected in parallel.
第5図は第4図の回路図である。FIG. 5 is a circuit diagram of FIG. 4.
かりに、抵抗51を100キロオームとすると4重亜列
であるから、プルダウン抵抗値は25キロオームとなる
。If the resistor 51 is 100 kilohms, then the pull-down resistance value will be 25 kilohms since it is a quadruple subarray.
第6図はベーシックセルを複数個並べて。Figure 6 shows multiple basic cells lined up.
N型MOSFETを4個直列に接続した構成図である。It is a configuration diagram in which four N-type MOSFETs are connected in series.
第7図は第6図の回路図である。FIG. 7 is a circuit diagram of FIG. 6.
かりに、抵抗71を100キロオームとすると4本直列
であるから、プルダウン抵抗値は400キロオームとな
る。If the resistor 71 is 100 kilohms, there are four resistors connected in series, so the pull-down resistance value is 400 kilohms.
また、ベーシックセルの1例として第2図をあげたが前
述した説明はベーシックセルのかぎられた特定のパター
ンにかかれるものではないので他のベーシックセルにも
適用できる。Furthermore, although FIG. 2 has been given as an example of a basic cell, the above explanation is not limited to a specific pattern of basic cells and can therefore be applied to other basic cells.
[発明の効果]
上述の如く本発明の回路構成をもったマスタースライス
半導体集積回路によれば、マスタースライス型ゲートア
レイで専用論理回路を実現する場合の配線工程のみでプ
ルダウン抵抗ができる効果がある。また、必要に応じて
プルダウン抵抗の抵抗値が可変にできるためチップ面積
の縮小化が可能となりコストパフォーマンスの優れた集
積回路になる。[Effects of the Invention] As described above, according to the master slice semiconductor integrated circuit having the circuit configuration of the present invention, there is an effect that a pull-down resistor can be created only by the wiring process when realizing a dedicated logic circuit with a master slice type gate array. . Furthermore, since the resistance value of the pull-down resistor can be varied as needed, the chip area can be reduced, resulting in an integrated circuit with excellent cost performance.
第1図はプルダウン抵抗用Nチャンネルトランジスタ回
路図、第2図はベーシックセルのパターン図、第3図、
第4図、第6図はプルアップ抵抗用Nチャンネルトラン
ジスタ回路の構成図であり、第5図、第7図はプルダウ
ン抵抗の回路図である。
3°3Figure 1 is a circuit diagram of an N-channel transistor for pull-down resistor, Figure 2 is a pattern diagram of a basic cell, Figure 3,
4 and 6 are configuration diagrams of an N-channel transistor circuit for a pull-up resistor, and FIG. 5 and FIG. 7 are circuit diagrams of a pull-down resistor. 3°3
Claims (1)
クセルと略す)を2次元行列状に配列してなるマスター
スライス半導体集積回路において b)チップ外部からの信号が入力される入出力セルのP
チャンネルトランジスタ及びNチャンネルトランジスタ
と c)ベーシックセルを用いたNチャンネルトランジスタ
と d)ゲート電極をVdd+に固定された複数個の前記N
チャンネルトランジスタのうち1個以上の前記Nチャン
ネルトランジスタのソース電極をVss−の電位に固定
し、 1個以上のNチャンネルトランジスタのドレイン拡散領
域と前記入出力セルを電気的に接続することを特徴とす
るマスタースライス半導体集積回路。(1) a) In a master slice semiconductor integrated circuit formed by arranging a large number of internal logic gate cells (hereinafter referred to as basic cells) in a two-dimensional matrix, b) P of an input/output cell into which signals from outside the chip are input.
c) an N-channel transistor using a basic cell; and d) a plurality of the N-channel transistors with gate electrodes fixed to Vdd+.
The source electrode of one or more of the N-channel transistors among the channel transistors is fixed at a potential of Vss-, and the drain diffusion region of the one or more N-channel transistor is electrically connected to the input/output cell. master slice semiconductor integrated circuit.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23471790A JPH04115570A (en) | 1990-09-05 | 1990-09-05 | Master-slice semiconductor integrated circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23471790A JPH04115570A (en) | 1990-09-05 | 1990-09-05 | Master-slice semiconductor integrated circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04115570A true JPH04115570A (en) | 1992-04-16 |
Family
ID=16975275
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23471790A Pending JPH04115570A (en) | 1990-09-05 | 1990-09-05 | Master-slice semiconductor integrated circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04115570A (en) |
-
1990
- 1990-09-05 JP JP23471790A patent/JPH04115570A/en active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH0638468B2 (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
JPH1065146A (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
JPH04115570A (en) | Master-slice semiconductor integrated circuit | |
JPH04164371A (en) | Semiconductor integrated circuit | |
JPH04115569A (en) | Master-slice semiconductor integrated circuit | |
JPH04115571A (en) | Master-slice semiconductor integrated circuit | |
JPH0122733B2 (en) | ||
JPH04115566A (en) | Master-slice semiconductor integrated circuit | |
JP2001358300A5 (en) | ||
JPH04115568A (en) | Master-slice semiconductor integrated circuit | |
JPH0357314A (en) | Semiconductor device | |
JPH04115567A (en) | Master-slice semiconductor integrated circuit | |
JPH0246767A (en) | Semiconductor integrated circuit of gate array system | |
JPH037964Y2 (en) | ||
JPH0218960A (en) | Complementary clocked nand circuit | |
JPH0350767A (en) | Bipolar cmos gate array semiconductor device | |
JPS6272143A (en) | Pattern formation of semiconductor integrated circuit | |
KR930010078B1 (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
JP2634800B2 (en) | Semiconductor integrated circuit standard cell | |
JPH02270372A (en) | Basic cell circuit | |
JPH03116867A (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
JPH03165565A (en) | Master slice semiconductor integrated circuit | |
JPH0548022A (en) | Semiconductor device | |
JPS585611B2 (en) | Lonely Cairo | |
JPS59181028A (en) | Semiconductor integrated circuit device |