[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JPH04107258A - Production of thin boron nitride film - Google Patents

Production of thin boron nitride film

Info

Publication number
JPH04107258A
JPH04107258A JP22536390A JP22536390A JPH04107258A JP H04107258 A JPH04107258 A JP H04107258A JP 22536390 A JP22536390 A JP 22536390A JP 22536390 A JP22536390 A JP 22536390A JP H04107258 A JPH04107258 A JP H04107258A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
boron nitride
target
film
cubic boron
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP22536390A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shoji Nakagama
詳治 中釜
Nobuhiko Fujita
藤田 順彦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Electric Industries Ltd filed Critical Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority to JP22536390A priority Critical patent/JPH04107258A/en
Priority to DE69119614T priority patent/DE69119614D1/en
Priority to US07/644,586 priority patent/US5096740A/en
Priority to EP91100819A priority patent/EP0439135B1/en
Publication of JPH04107258A publication Critical patent/JPH04107258A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

PURPOSE:To form a thin film of high purity cubic boron nitride on a substrate by irradiating a target containing boron atoms with excimer laser light and also irradiating the surface of a substrate with nitride ions. CONSTITUTION:A target 4 is disposed and also a substrate 5 is disposed in a manner to be opposed to the target 4 in a film formation chamber 9. As the target 4, a simple substance of boron, a sintered compact of hexagonal boron nitride, a single crystal of cubic boron nitride, etc., are used. The distance L between the target 4 and the substrate 5 is kept at about 10-150mm, and the substrate 5 is heated to about 300-1300 deg.C by means of a heater 6. Laser light is emitted by means of an excimer laser device 1 and laser power density is increased by means of a condenser lens 2, and the surface of the target in the film formation chamber 9 is irradiated with the above laser light via an entrance window 3. Further, a nitride ion introducing nozzle 8 and an exhaust hole 7 are provided to the inside of the film formation chamber 9, and the surface of the substrate is irradiated with nitride ions through the nozzle 8. By this method, the high quality thin cubic boron nitride film can be stably obtained.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、超硬工具、絶縁膜、半導体などに用いる立方
晶窒化ホウ素薄膜の作成方法に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a method for producing a cubic boron nitride thin film for use in cemented carbide tools, insulating films, semiconductors, and the like.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

立方晶窒化ホウ素(c−BNと略す)を気相から合成す
る方法としては、例えば次の三つの公知技術がある。
As methods for synthesizing cubic boron nitride (abbreviated as c-BN) from the gas phase, there are, for example, the following three known techniques.

■、特開昭60−18626号公報に言己載される、ホ
ウ素を含有する蒸発源から基体上にホウ素を蒸着させる
と共に、少なくとも窒素を含むイオン種を発生するイオ
ン発生源から基体上に含有イオン種を照射して、該基体
上に窒化ホウ素薄膜を生成させる立方晶窒化ホウ素の製
造方法。
(1), as described in Japanese Patent Application Laid-open No. 18626/1983, boron is evaporated onto a substrate from an evaporation source containing boron, and at least ion species containing nitrogen are deposited on the substrate from an ion source that generates ionic species. A method for producing cubic boron nitride, comprising irradiating ion species to produce a thin film of boron nitride on the substrate.

2、H,+N1プラズマによるボロンの化学輸送を行な
うことによって、基体上に立方晶窒化ホウ素を生成する
方法〔文献l:ココマツ外シャーナルオン マテリアル
ズ サイエンス レターズ、Journal  of 
 Materials  5cience  Lett
ers、   4  (1985)p、51〜54〕。
2. Method for producing cubic boron nitride on a substrate by chemically transporting boron using H, +N1 plasma [Reference 1: Coconut Materials Science Letters, Journal of
Materials 5science Lett
ers, 4 (1985) p, 51-54].

3 、 HCD (Hollow Cathode D
ischargeポロウカソード陰極放電)ガンにてボ
ロンを蒸発させながら、ホロー電極がらN、をイオン化
して基板を照射し、基板には高周波を印加してセルフバ
イアス効果を持たせ、該基板上に立方晶窒化ホウ素を生
成する方法〔文献2:イナガヮ外、ブロシーデインダス
 オン 9ス シンポジウム オンイオン ソース ア
システツド チクノロシイ、Proceedings 
of 91h Symposium on Ion A
ssistedTechnology、 ’  85.
東京、p、299〜302(1985))  。
3. HCD (Hollow Cathode D)
While evaporating boron with a gun (polow cathode discharge), ionize N from the hollow electrode and irradiate the substrate, apply high frequency to the substrate to create a self-bias effect, and create cubic nitride on the substrate. Method for producing boron [Reference 2: Inagawa Gai, Bros. Deindusts on 9th Symposium on Ion Source Assisted Chikunoroshii, Proceedings
of 91h Symposium on Ion A
ssistedTechnology, '85.
Tokyo, p. 299-302 (1985)).

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかし、前記したいずれの方法においても、装置構成が
複雑で高価となり、また現状では、生成窒化ホウ素には
六方晶窒化ホウ素(h−BNと略す)が多量に含まれて
おり、結晶性の優れた立方晶窒化ホウ素が得られている
とは言い難い。
However, in any of the above methods, the equipment configuration is complicated and expensive, and at present, the boron nitride produced contains a large amount of hexagonal boron nitride (abbreviated as h-BN), which has excellent crystallinity. It is difficult to say that cubic boron nitride has been obtained.

本発明はこのような従来法の欠点を解消し、より安価な
装置で高純度の立方晶窒化ホウ素薄膜を基板表面に生成
、析出できる新規な作成方法を提供するものである。
The present invention eliminates the drawbacks of the conventional methods and provides a new method for producing and depositing a highly pure cubic boron nitride thin film on a substrate surface using a less expensive device.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

上記課題を対決する手段として、本発明はホウ素原子を
含むターゲットにエキシマレーザ−光を照射し、且つ該
ターゲットに対向して配置した基板表面に窒素イオンを
照射することにより、該基板上に立方晶窒化ホウ素薄膜
を成膜することを特徴きする窒化ホウ素薄膜の作成方法
を提供する。
As a means to solve the above problems, the present invention irradiates a target containing boron atoms with excimer laser light and irradiates the surface of a substrate placed opposite to the target with nitrogen ions, thereby forming a cubic surface on the substrate. A method for forming a boron nitride thin film is provided, which is characterized by forming a crystalline boron nitride thin film.

以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

第1図は本発明の一興体例であって、成膜チャンバー9
内にターゲット4とこれに対向して基板5が配置されて
いる。ターゲット4としては、ホウ素の単体、および六
方晶窒化ホウ素の焼結体、立方晶窒化ホウ素の単結晶あ
るいは多結晶体等が用いられる。ターゲット4と基板5
の距111Lは10〜150mmの範囲に保たれる。基
板5はヒーター6により300〜1300’Cに加熱さ
れる。エキシマレーザ−装置1によりレーザー光を発光
させ、集光レンズ2によりレーザーパワー密度を高め、
入射窓3を通して成膜チャンバー9内のターゲット4表
面に照射させる。レーザーパワーは0.5〜20J/c
m2の範囲とする。更に成膜チャンバー9内には窒素イ
オン導入ノズル8及び排気ロアが設けられ、ノズル8か
ら窒素イオンが基板表面に照射される。窒素イオンの発
生法は、RF。
FIG. 1 shows an example of an integrated structure of the present invention, in which a film forming chamber 9 is shown.
A target 4 and a substrate 5 are arranged in opposition to the target 4. As the target 4, a simple substance of boron, a sintered body of hexagonal boron nitride, a single crystal or polycrystalline body of cubic boron nitride, etc. are used. Target 4 and substrate 5
The distance 111L is kept within a range of 10 to 150 mm. The substrate 5 is heated to 300 to 1300'C by a heater 6. The excimer laser device 1 emits laser light, the condensing lens 2 increases the laser power density,
The surface of the target 4 in the film forming chamber 9 is irradiated through the incident window 3. Laser power is 0.5-20J/c
The range is m2. Furthermore, a nitrogen ion introduction nozzle 8 and an exhaust lower are provided in the film forming chamber 9, and the substrate surface is irradiated with nitrogen ions from the nozzle 8. The method for generating nitrogen ions is RF.

マイクロ波等のプラズマを用いる方法や、直接イオンを
ビームにして照射する方法が使われる。成膜圧力は10
−’〜totorrとする。このような手法により、基
板上に立方晶窒化ホウ素薄膜を作成することが可能にな
る。
Methods that use plasma such as microwaves or methods that directly irradiate ions in the form of a beam are used. Film forming pressure is 10
-'~totorr. Such a technique makes it possible to create a cubic boron nitride thin film on a substrate.

〔作用〕[Effect]

エキシマレーザ−は、193〜350nmの紫外線領域
に発振波長を有しており、〜F、KrαXeC1’、 
XeFなどの種類がある。本発明において、これらエキ
シマレーザ−を用いる理由は、先ず第一に光子1個のも
つエネルギーが大きいことが挙げられる。例えばArF
エキシマレ〜ザーであれば、発振波長が193nmであ
り、これは6.42 e Vのエネルギーに相当する。
The excimer laser has an oscillation wavelength in the ultraviolet region of 193 to 350 nm, ~F, KrαXeC1',
There are types such as XeF. In the present invention, the reason why these excimer lasers are used is that the energy of one photon is large. For example, ArF
In the case of an excimer laser, the oscillation wavelength is 193 nm, which corresponds to an energy of 6.42 eV.

一方、エキシマレーザ−以外の工業用レーザーとして通
常使用されているCOIレーザーでは、発振波長力<1
0.6umであり、これは高々0.12 e Vのエネ
ルギーしがない。
On the other hand, in COI lasers, which are commonly used as industrial lasers other than excimer lasers, the oscillation wavelength power <1
0.6 um, which has an energy of at most 0.12 eV.

第二にレーザー光はレンズ等の光学系を用いて集光でき
るため、さらにエネルギー密度を高めることができ、こ
の様な高エネルギーなレーザー照射によりターゲットが
分解され、発光をともなう励起種(ブルームと呼ばれる
)が生成されて、立方晶窒化ホウ素の合成が可能となる
ことが挙げられる。
Second, since laser light can be focused using an optical system such as a lens, it is possible to further increase the energy density, and this high-energy laser irradiation decomposes the target and generates excited species (bloom) that emit light. ) is produced, making it possible to synthesize cubic boron nitride.

また本発明において、窒素イオンは立方晶窒化ホウ素の
合成に極めて重要な役割を果たす。おそらく、立方晶窒
化ホウ素の核発生そのもの、あるいは立方晶窒化ホウ素
の合成時に生成してしまう六方晶窒化ホウ素および非晶
質な窒化ホウ素の除去に有効に作用しているものと、本
発明者らは考えている。
Furthermore, in the present invention, nitrogen ions play an extremely important role in the synthesis of cubic boron nitride. The present inventors believe that this is probably due to the nucleation itself of cubic boron nitride, or to the removal of hexagonal boron nitride and amorphous boron nitride that are generated during the synthesis of cubic boron nitride. is thinking.

本発明での窒素イオンの発生法は、RF、マイクロ波等
のプラズマを用いる方法や、直接イオンをビームにして
照射する方法によることができる。
The method of generating nitrogen ions in the present invention can be a method using plasma such as RF or microwave, or a method of directly irradiating ions in the form of a beam.

本発明において、照射する窒素イオンのエネルギーおよ
びイオン量(密度)は、イオンの導入方法並びに他の成
膜パラメータに依存しており、その場合に応じて適宜所
望の値を選択できるものである。すなわち、エネルギー
については、通常イオンビームの場合には数keV以下
のエネルギーが成膜に最適とされており、一方、プラズ
マによるイオン化では数〜数十eV程度であるといわれ
ている。イオン量については、膜中のB/N比を化学量
論比、すなわち、l・lに近づけるように、適宜選択さ
れるべきものである。
In the present invention, the energy and ion amount (density) of nitrogen ions to be irradiated depend on the ion introduction method and other film forming parameters, and desired values can be appropriately selected depending on the case. That is, regarding the energy, it is generally said that an energy of several keV or less is optimal for film formation in the case of an ion beam, whereas it is said to be about several to several tens of eV for ionization by plasma. The amount of ions should be appropriately selected so that the B/N ratio in the film approaches the stoichiometric ratio, that is, l·l.

本発明のターゲットとしては、ホウ素の単体、および六
方晶窒化ホウ素の焼結体、立方晶窒化ホウ素の単結晶あ
るいは多結晶体、ピロリチック窒化ホウ素(p−BNと
略す)、ウルツ晶窒化ホウ素(w−BNと略す)等が用
いられる。
The targets of the present invention include elemental boron, sintered bodies of hexagonal boron nitride, single crystals or polycrystals of cubic boron nitride, pyrrolitic boron nitride (abbreviated as p-BN), and wurtzian boron nitride (abbreviated as p-BN). (abbreviated as w-BN) etc. are used.

本発明において、ターゲット表面におけるレーザーパワ
ーを0.5〜20 J /c++”とする理由は、低す
ぎるとターゲットの励起が不十分になるため膜成長速度
が小さくなるし、一方高すぎるとクラスターが多く発生
し、良好な立方晶窒化ホウ素の成膜が行えなくなるため
である。
In the present invention, the reason why the laser power on the target surface is set to 0.5 to 20 J/c++'' is that if it is too low, the excitation of the target will be insufficient and the film growth rate will be low, while if it is too high, the clusters will form. This is because a large amount of oxidation occurs, making it impossible to form a good cubic boron nitride film.

本発明において、成膜圧力は窒素イオンの基板への照射
の方法により、適宜選択されるものである。例えば窒素
イオンビームを用いる場合には、イオンの平均自由工程
を考慮して、できるだけ高真空度(10−’〜10’t
orr)が望まれるし、プラズマ励起によりガス導入す
る場合には、ガス流れを用いてイオンをチャンバー内に
送り込めるために数torr程度の比較的高い圧力でも
かまわない。
In the present invention, the film forming pressure is appropriately selected depending on the method of irradiating the substrate with nitrogen ions. For example, when using a nitrogen ion beam, the degree of vacuum is as high as possible (10-' to 10't), taking into consideration the mean free path of the ions.
orr), and in the case of introducing a gas by plasma excitation, a relatively high pressure of about several torr is sufficient because ions can be sent into the chamber using a gas flow.

なお、レーザーの照射角度は特に限定されるわけではな
いが、本発明者等の検討によると、ターゲツト面に対し
て45°±20°が好適である。
Note that the irradiation angle of the laser is not particularly limited, but according to studies by the present inventors, a suitable angle is 45°±20° with respect to the target surface.

本発明においては、ターゲットと基板との距離(第1図
中のL)も成膜パラメータとして重要である。他の成膜
パラメータにも依存するが、通常lO〜150mmに保
たれる。その理由は、10mm未満では成膜速度が高す
ぎて膜中B量が増加してしまうためであり、150mm
を越えると発光を伴う励起種が基板に届き難くなり、ま
た成膜速度が極端に低くなり、実際的でないからである
In the present invention, the distance between the target and the substrate (L in FIG. 1) is also important as a film forming parameter. Although it depends on other film forming parameters, it is usually kept at 10 to 150 mm. The reason for this is that if the thickness is less than 10 mm, the film formation rate will be too high and the amount of B in the film will increase;
This is because if the value exceeds 1, it becomes difficult for excited species accompanied by light emission to reach the substrate, and the film forming rate becomes extremely low, which is not practical.

本発明において、これらレーザーパワー、成膜圧力、タ
ーゲットと基板間距離は相互に関連して気相反応を制御
しており、所望の値を選択することが出来る。
In the present invention, these laser power, film forming pressure, and distance between the target and the substrate are mutually related to control the gas phase reaction, and desired values can be selected.

基板温度は、結晶生成のパラメータとして重要である。Substrate temperature is an important parameter for crystal formation.

本発明においては、後記する実施例で示すように、室温
でも立方晶窒化ホウ素の生成が見られた。しかし、更な
る結晶性向上のためには、300℃〜1300°Cの基
板加熱が必要である。
In the present invention, as shown in Examples described later, formation of cubic boron nitride was observed even at room temperature. However, in order to further improve crystallinity, it is necessary to heat the substrate to 300°C to 1300°C.

300℃未満では膜成長面での到達粒子のマイグレーシ
ョンが充分に行われず非晶質膜になる。
If the temperature is lower than 300° C., migration of particles arriving at the film growth surface will not be sufficient, resulting in an amorphous film.

1300℃を越えると、立方晶窒化ホウ素膜が六方晶窒
化ホウ素膜に転位すること及び基板自体の耐熱性が問題
となる場合が多く、実用的でない。
If the temperature exceeds 1300° C., the cubic boron nitride film is often rearranged into a hexagonal boron nitride film, and the heat resistance of the substrate itself often becomes a problem, which is not practical.

本発明による立方晶窒化ホウ素膜の厚さは成膜時間によ
り異なる。
The thickness of the cubic boron nitride film according to the present invention varies depending on the film formation time.

本発明に用いる基板は、当事者がその目的に応じて適宜
選択できるものであり、特に限定されるわけではないが
、引、ダイヤ、M。、WC等を基板として立方晶窒化ホ
ウ素膜を合成できる。
The substrate used in the present invention can be appropriately selected by the person concerned depending on the purpose, and is not particularly limited to, but may include blue, diamond, and M. , WC, etc. can be used as a substrate to synthesize a cubic boron nitride film.

〔実施例〕〔Example〕

以下に本発明を実施例により具体的に説明するが、本発
明はこれに限定されるものではない。
EXAMPLES The present invention will be specifically explained below using Examples, but the present invention is not limited thereto.

第1図の装置により、基板にSIを用いて立方晶窒化ホ
ウ素薄膜を作成した。得られた膜厚は1000〜200
0人程度である。表1に成膜条件とX線回折の結果を示
す。なお、ターゲットと基板の距離りは試料Nα20,
21.22においてそれぞれ5mm、50mm、200
mmとした以外はいずれも60市とした。また、表1に
おいて[u鵜は [マイクロ波Jを意味する。
Using the apparatus shown in FIG. 1, a cubic boron nitride thin film was created using SI as a substrate. The obtained film thickness is 1000-200
Approximately 0 people. Table 1 shows the film formation conditions and X-ray diffraction results. Note that the distance between the target and the substrate is sample Nα20,
5mm, 50mm, 200 respectively at 21.22
In all cases, the city was set at 60. Furthermore, in Table 1, [UUU means [Microwave J].

以下余白 表1において、Nα1−Illα5はレーザーパワl′
依存性を調べたものであり、0.5〜20J/cm”の
範囲で良好な立方晶窒化ホウ素薄膜が得られた。階3と
Nα6.Nα7はNイオンの導入法を、Nα6とNα8
〜Nα11はターゲットの材質を、Nα15〜Nα19
は成膜圧力を、それぞれ変えたもの、Nα20〜Nα2
2は距離りを変化させたもの、Nα23〜Nα26は基
板温度を変えたものであり、Nイオンの照射によって室
温でも立方晶窒化ホウ素のピークが見られた。
In the margin table 1 below, Nα1-Illα5 is the laser power l'
The dependence was investigated, and a good cubic boron nitride thin film was obtained in the range of 0.5 to 20 J/cm.
~Nα11 is the material of the target, Nα15~Nα19
are different film-forming pressures, Nα20 to Nα2
2 was obtained by changing the distance, and Nα23 to Nα26 were obtained by changing the substrate temperature, and the peak of cubic boron nitride was observed even at room temperature due to N ion irradiation.

なお実施例では特に示さなかったが、窒素イオンの成膜
表面への照射効果を更に高めるために、基板にDC,A
C(RF)等の基板バイアスを用いてもよい。基板が絶
縁性の場合には、基板ホルダーを導電性にして、その部
分にDC,AC等を印加しても同様の効果がある。
Although not specifically shown in the examples, in order to further enhance the effect of irradiating the film-forming surface with nitrogen ions, DC, A
A substrate bias such as C (RF) may also be used. If the substrate is insulating, the same effect can be obtained by making the substrate holder conductive and applying DC, AC, etc. to that part.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、本発明ではエキシマレーザ−を用
いて、少なくともホウ素を含むターゲットにレーザーを
照射し、且つ基板表面にNイオンを照射するという新規
な手段により、高品質な立方晶窒化ホウ素薄膜を安定し
で得ることができる。
As explained above, the present invention uses an excimer laser to irradiate a target containing at least boron with the laser and irradiates the substrate surface with N ions, thereby producing a high-quality cubic boron nitride thin film. can be obtained stably.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施態様を示す概略図である。図中
、lはエキシマレーザ−2は集光レンズ、3は入射窓、
4はターゲット、5は基板、6はヒーター 7は排気口
、8は窒素イオン導入ノズル、9は成膜チャンバーを示
す。
FIG. 1 is a schematic diagram showing one embodiment of the present invention. In the figure, l is an excimer laser, 2 is a condenser lens, 3 is an entrance window,
4 is a target, 5 is a substrate, 6 is a heater, 7 is an exhaust port, 8 is a nitrogen ion introduction nozzle, and 9 is a film forming chamber.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 ホウ素原子を含むターゲットにエキシマレ ーザー光を照射し、且つ該ターゲットに対向して配置し
た基板表面に窒素イオンを照射することにより、該基板
上に立方晶窒化ホウ素薄膜を成膜することを特徴とする
窒化ホウ素薄膜の作成方法。
[Claims] A cubic boron nitride thin film is formed on the substrate by irradiating a target containing boron atoms with excimer laser light and irradiating the surface of the substrate facing the target with nitrogen ions. A method for creating a boron nitride thin film characterized by forming a film.
JP22536390A 1990-01-23 1990-08-29 Production of thin boron nitride film Pending JPH04107258A (en)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22536390A JPH04107258A (en) 1990-08-29 1990-08-29 Production of thin boron nitride film
DE69119614T DE69119614D1 (en) 1990-01-23 1991-01-23 Method of making a boron nitride film
US07/644,586 US5096740A (en) 1990-01-23 1991-01-23 Production of cubic boron nitride films by laser deposition
EP91100819A EP0439135B1 (en) 1990-01-23 1991-01-23 Method for producing boron nitride film

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22536390A JPH04107258A (en) 1990-08-29 1990-08-29 Production of thin boron nitride film

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04107258A true JPH04107258A (en) 1992-04-08

Family

ID=16828173

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP22536390A Pending JPH04107258A (en) 1990-01-23 1990-08-29 Production of thin boron nitride film

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04107258A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06299319A (en) * 1993-04-12 1994-10-25 Agency Of Ind Science & Technol Method for subjecting surface of metallic material to vapor deposition

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06299319A (en) * 1993-04-12 1994-10-25 Agency Of Ind Science & Technol Method for subjecting surface of metallic material to vapor deposition

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5096740A (en) Production of cubic boron nitride films by laser deposition
JPH0733243B2 (en) Manufacturing method of hard boron nitride by plasma CVD method combined with light irradiation
JPH04107258A (en) Production of thin boron nitride film
JPH09511280A (en) Method and apparatus for coating a substrate
JPS6277454A (en) Formation of cubic boron nitride film
JPH06226084A (en) Formation of solid-state laser crystal thin film and device for forming solid-state laser crystal thin film
JPH03122266A (en) Production of thin nitride film
JPH04119982A (en) Production of boron nitride film
JPH04191358A (en) Production of boron nitride film
JPH0499261A (en) Production of boron nitride film
JPH054807A (en) Production of boron nitride film
JP2611521B2 (en) Method of forming boron nitride thin film
JPH0518799B2 (en)
JPH03219066A (en) Method for forming boron nitride thin film
JPH031377B2 (en)
JPH1018040A (en) Production of carbon nitride and carbon nitride obtained by same method
JPS63277767A (en) Method for synthesizing high-pressure phase boron nitride in gaseous phase
JPH054808A (en) Production of boron nitride film
JPH02230734A (en) Thin film formation device
JPH08193262A (en) Formation of alumina film
JPH01104763A (en) Production of thin metal compound film
JPH04285154A (en) Formation of carbon thin film
JPH0959086A (en) Formation of thin film
JP2525910B2 (en) Laser excited thin film formation method
JPH05255859A (en) Thin film forming equipment