JP7520081B2 - 誤り率測定装置および誤り率測定方法 - Google Patents

Description

本発明は、被測定物を信号パターン折り返しのステートに遷移させた状態のリンクトレーニング中において、ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６規格で定義されるパラメータ値に基づくテスト信号を被測定物に送信し、テスト信号の送信に伴って被測定物から折り返される被測定信号を受信してビット誤り率（以下、ＢＥＲ：Bit Error Rateとも言う）を測定する誤り率測定装置および誤り率測定方法に関する。

誤り率測定装置は、固定データを含む既知パターンのテスト信号を被測定物に送信し、テスト信号の送信に伴って被測定物から折り返して受信した被測定信号と基準となる参照信号とをビット単位で比較してＢＥＲを測定する装置として従来から知られている。

この種の誤り率測定装置では、例えば下記特許文献１に開示されるように、リンクトレーニングにて被測定物の出力波形のエンファシス調整を行っているが、リンクパートナーである被測定物との通信品質を確保するには、誤り率測定装置から見た送信（Ｔｘ）側のエンファシスと被測定物の受信（Ｒｘ）側のユーザが任意に設定するイコライザの最適な組み合わせが選択される必要がある。このため、ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ５．０規格以前の従来の誤り率測定装置では、被測定物のレシーバに最適な送信（Ｔｘ）側のイコライザ設定をスキャンし、被測定物のレシーバに最適な設定を自動で探索できるマトリックススキャン機能を採用していた。このＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ１－５規格に対応したマトリックススキャン機能では、Ｐｒｅ－ｓｈｏｏｔ１、Ｄｅ－ｅｍｐｈａｓｉｓの２つの係数で三角行列（Ｘ軸、Ｙ軸）をマッピングし、係数によって求められるエンファシス設定で最適なＢＥＲを測定している。

特開２０２２－０４３７３８号公報

しかしながら、従来のマトリックススキャン機能では、係数によって求められるエンファシス設定で最適なＢＥＲを測定する際、Ｆｕｌｌ Ｓｃａｎによる三角行列の全セルの測定と、三角行列において測定開始するセルから後方全ての測定との２種類の測定にしか対応していなかった。ところが、ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６規格では、従来からあったＣｕｒｓｏｒ値（Ｐｒｅ－ｓｈｏｏｔ１、Ｄｅ－ｅｍｐｈａｓｉｓ）に加え、Ｃｕｒｓｏｒ値（Ｐｒｅ－ｓｈｏｏｔ２）が増え、３つの係数でエンファシスを計算するため、測定項目が従来の３倍以上になる。このため、従来のマトリックススキャン機能では、ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６規格のＢＥＲ測定試験に時間を要し、被測定物のデバッグを効率的に行えないという問題があった。

そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６規格のＢＥＲ測定試験を効率的に行ってユーザのデバッグ効率の向上を図ることができる誤り率測定装置および誤り率測定方法を提供することを目的としている。

上記目的を達成するため、本発明の請求項１に記載された誤り率測定装置は、ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６規格で定義されるＦｕｌｌ Ｓｗｉｎｇ値におけるＣ_-2、Ｃ_-1、Ｃ₊₁の各係数値の組み合わせによる三角行列マトリックスの中から選択設定されるスキャン対象のセルのパラメータ値に基づくテスト信号をリンクトレーニング中に被測定物Ｗに送信し、前記テスト信号の送信に伴って前記被測定物から折り返される被測定信号を受信してビット誤り率を測定するマトリックススキャン機能を実行する誤り率測定装置１であって、
前記Ｆｕｌｌ Ｓｗｉｎｇ値に応じた数のタブにより前記Ｃ_-2の係数値を選択可能に表示し、選択したタブの前記Ｃ_-2の係数値における前記Ｃ₊₁の各係数値と前記Ｃ_-1の各係数値の組み合わせの一つ一つを前記セルとして表示画面上にマトリックス表示するとともに、前記Ｃ₊₁と前記Ｃ_-1を横方向座標軸と縦方向座標軸の組み合わせ、前記Ｃ_-2を奥行き方向座標軸として、前記Ｃ_-2、Ｃ_-1、Ｃ₊₁を前記表示画面上に立体的に俯瞰表示する表示制御部６ｂと、
前記マトリックス表示または前記俯瞰表示においてスキャン対象となる少なくとも１つのセルを含む範囲を選択設定する操作表示部２と、
前記操作表示部にて選択設定した範囲のパラメータ値による前記マトリックススキャン機能を実行する制御部６と、を備えたことを特徴とする。

本発明の請求項２に記載された誤り率測定装置は、請求項１の誤り率測定装置において、
異なるパラメータ値の組み合わせのセルからなる複数のシナリオを記憶する記憶部５を備え、
前記制御部は、前記記憶部に記憶された複数のシナリオから一つのシナリオを選択設定し、選択設定したシナリオのパラメータ値によるマトリックススキャン機能を実行することを特徴とする。

本発明の請求項３に記載された誤り率測定装置は、請求項１または２の誤り率測定装置において、
前記シナリオが前記規格で指定するパラメータ値のセルを含むことを特徴とする。

本発明の請求項４に記載された誤り率測定方法は、ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６規格で定義されるＦｕｌｌ Ｓｗｉｎｇ値におけるＣ_-2、Ｃ_-1、Ｃ₊₁の各係数値の組み合わせによる三角行列マトリックスの中から選択設定されるスキャン対象のセルのパラメータ値に基づくテスト信号をリンクトレーニング中に被測定物Ｗに送信し、前記テスト信号の送信に伴って前記被測定物から折り返される被測定信号を受信してビット誤り率を測定するマトリックススキャン機能を実行する誤り率測定方法であって、
前記Ｆｕｌｌ Ｓｗｉｎｇ値に応じた数のタブにより前記Ｃ_-2の係数値を選択可能に表示するステップと、
前記選択したタブの前記Ｃ_-2の係数値における前記Ｃ₊₁の各係数値と前記Ｃ_-1の各係数値の組み合わせの一つ一つを前記セルとして表示画面上にマトリックス表示するステップと、
前記Ｃ₊₁と前記Ｃ_-1を横方向座標軸と縦方向座標軸の組み合わせ、前記Ｃ_-2を奥行き方向座標軸として、前記Ｃ_-2、Ｃ_-1、Ｃ₊₁を前記表示画面上に立体的に俯瞰表示するステップと、
前記マトリックス表示または前記俯瞰表示においてスキャン対象となる少なくとも１つのセルを含む範囲を選択設定するステップと、
前記選択設定した範囲のパラメータ値による前記マトリックススキャン機能を実行するステップと、を含むことを特徴とする。

本発明の請求項５に記載された誤り率測定方法は、請求項４の誤り率測定方法において、
異なるパラメータ値の組み合わせのセルからなる複数のシナリオを記憶するステップと、
前記記憶された複数のシナリオから一つのシナリオを選択設定し、選択設定したシナリオのパラメータ値によるマトリックススキャン機能を実行するステップと、を含むことを特徴とする。

本発明の請求項６に記載された誤り率測定方法は、請求項４または５の誤り率測定方法において、
前記シナリオが前記規格で指定するパラメータ値のセルを含むことを特徴とする。

本発明によれば、従来のマトリックススキャン機能では、Ｆｕｌｌ Ｓｃａｎによる三角行列の全セルの測定と、三角行列において測定開始するセルから後方全ての測定との２種類の測定にしか対応していなかったのに対し、スキャン対象の選択幅が広がり、ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６規格のＢＥＲ測定試験が効率的に行え、ユーザのデバッグ効率の向上を図ることができる。

本発明に係る誤り率測定装置のブロック構成図である。 本発明に係る誤り率測定装置において［Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ］のタブを選択したときのマトリックススキャン表示画面を示す図である。 本発明に係る誤り率測定装置において［Ｓｔａｒｔｉｎｇ Ｐｒｅｓｅｔ］のタブを選択したときのマトリックススキャン表示画面を示す図である。 本発明に係る誤り率測定装置において［Ｓｃａｎ］のタブを選択したときの マトリックススキャン表示画面を示す図である。 本発明に係る誤り率測定装置におけるマトリックススキャン編集画面の一例を示す図である。 本発明に係る誤り率測定装置によるマトリックススキャン機能の動作フローチャートである。 ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６規格で定義される係数値のＰｒｅｓｅｔテーブルを示す図である。 ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６規格で定義されるＣ_-2＝０／２４のときの係数値の三角行列マトリックスを示す図である。 ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６規格で定義されるＣ_-2＝１／２４のときの係数値の三角行列マトリックスを示す図である。 ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６規格で定義されるＣ_-2＝２／２４のときの係数値の三角行列マトリックスを示す図である。

以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面を参照しながら詳細に説明する。

［本発明の概要について］
本発明に係る誤り率測定装置は、例えば拡張バスや拡張スロットの接続規格として、ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ Ｂａｓｅ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎ Ｒｅｖｉｓｉｏｎ ６．０ １６ Ｄｅｃｅｍｂｅｒ ２０２１に示されるＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６．０（以下、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格と言う）に準拠したデバイスを被測定物（ＤＵＴ）とし、被測定物を信号パターン折り返しのステートに遷移させた状態のリンクトレーニング中において、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義されるパラメータ値に基づくテスト信号を被測定物に送信し、このテスト信号の送信に伴って被測定物から折り返して受信した被測定信号のビット誤り率を測定するものである。

なお、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格の８．３．３．３ Ｔｘ Ｅｑｕａｌｉｚａｔｉｏｎ Ｐｒｅｓｅｔｓ ｆｏｒ ８．０，１６．０，３２．０，１ａｎｄ６４．０ＧＴ／ｓには、Ｆｉｇｕｒｅ８－６ Ｄｅｆｉｎｉｔｉｏｎ ｏｆ Ｔｘ Ｖｏｌｔａｇｅ Ｌｅｖｅｌｓ ａｎｄ Ｅｑｕａｌｉｚａｔｉｏｎ Ｒａｔｉｏｓ、Ｔａｂｌｅ８－１ Ｔｘ Ｐｒｅｓｅｔ Ｒａｔｉｏｓ ａｎｄ Ｃｏｒｒｅｓｐｏｎｄｉｎｇ Ｃｏｅｆｆｉｃｉｅｎｔ Ｖａｌｕｅｓ ｆｏｒ ８．０，１６．０，ａｎｄ３２．０ＧＴ／ｓ、Ｔａｂｌｅ８－２ Ｔｘ Ｐｒｅｓｅｔ Ｒａｔｉｏｓ ａｎｄ Ｃｏｒｒｅｓｐｏｎｄｉｎｇ Ｃｏｅｆｆｉｃｉｅｎｔ Ｖａｌｕｅｓ ｆｏｒ ６４．０ＧＴ／ｓ（図７を参照）に示すように、エンファシス プリセット値に関する記述がなされている。

また、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格の８．３．３．８ Ｃｏｅｆｆｉｃｉｅｎｔ Ｒａｎｇｅ ａｎｄ Ｔｏｌｅｒａｎｃｅ ｆｏｒ ８．０，１６．０，３２．０，１ａｎｄ６４．０ＧＴ／ｓには、Ｆｉｇｕｒｅ８－１０ Ｔｒａｎｓｍｉｔ Ｅｑｕａｌｉｚａｔｉｏｎ Ｃｏｅｆｆｉｃｉｅｎｔ Ｓｐａｃｅ Ｔｒｉａｎｇｕｌａｒ Ｍａｔｒｉｘ Ｅｘａｍｐｌｅ ｆｏｒ ６４．０ＧＴ／ｓに示すように、三角行列マトリックスのテーブルに関する記述がなされている。

上記三角行列マトリックスのテーブルの具体例として、図８はＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義されるＣ_-2＝０／２４のときの係数値の三角行列マトリックス、図９は同規格で定義されるＣ_-2＝１／２４のときの係数値の三角行列マトリックス、図１０は同規格で定義されるＣ_-2＝２／２４のときの係数値の三角行列マトリックスを示している。

本発明では、特に、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格に準拠したデバイスである被測定物との間のリンクの状態を管理するためのリンクトレーニング中にＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格に対応したマトリックススキャン機能を実行して被測定物のビットエラー測定を行い、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格における被測定物のレシーバに最適な設定を視覚的に把握することを目的としている。

上記マトリックススキャン機能とは、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義されるＦｕｌｌ Ｓｗｉｎｇ値（２４，４８，６３の何れか）におけるＣ_-2、Ｃ_-1、Ｃ₊₁の各係数値の組み合わせによりマッピングされる三角行列マトリックスの中から選択設定されるスキャン対象のセルのパラメータ値に基づくテスト信号をリンクトレーニング中に被測定物に順次送信し、この送信に伴って被測定物から折り返される被測定信号を受信してビット誤り率を測定することで被測定物のレシーバに最適な設定を自動で探索する機能である。

以下の説明では、リンクトレーニング中にＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格に対応したマトリックススキャン機能を実行して被測定物のビットエラー測定を行うことを「ビットエラー測定」と省略する。

図１に示すように、本実施の形態の誤り率測定装置１は、上記目的を達成するため、操作表示部２、データ送信部３、データ受信部４、記憶部５、制御部６を備えて概略構成される。

図１に示すように、被測定物Ｗは、制御部Ｗ１、データ受信部Ｗ２、データ送信部Ｗ３を備えて概略構成される。以下、被測定物Ｗおよび誤り率測定装置１の構成について図面を参照しながら説明する。

［被測定物の構成について］
制御部Ｗ１は、リンク状態を管理するリンク状態管理機構として、リンク状態管理部（ＬＴＳＳＭ（リンク・トレーニング・ステータス・ステート・マシン：Link Training and Status State Machine）Ｗ１ａを備え、ビットエラー測定を行う際に、データ受信部Ｗ２とデータ送信部Ｗ３を統括制御する。

データ受信部Ｗ２は、ビットエラー測定を行う際に、制御部Ｗ１の制御により、信号パターン折り返しのステート、いわゆるループバックに遷移させた状態で誤り率測定装置１のデータ送信部３から送信されるテスト信号を受信する。

データ受信部Ｗ２は、ユーザが任意に設定するイコライザＷ２ａを備える。イコライザＷ２ａは、誤り率測定装置１のデータ送信部３から受信するテスト信号の周波数特性を調整して受信感度の向上を図っている。

データ送信部Ｗ３は、ビットエラー測定を行う際に、制御部Ｗ１の制御により、データ受信部Ｗ２が誤り率測定装置１のデータ送信部３からテスト信号を受信すると、この受信したテスト信号に対する応答信号を被測定信号として誤り率測定装置１に折り返して送信する。

［誤り率測定装置の構成について］
操作表示部２は、ビットエラー測定に関する各種情報を操作入力する操作部と、ビットエラー測定の設定や測定結果に関する画面を表示する表示部の両方の機能を兼ね備えたグラフィカルユーザインタフェース（ＧＵＩ）で構成される。

操作表示部２は、図２～図４に示す表示形態のマトリックススキャン表示画面１１を表示する。図２～図４のマトリックススキャン表示画面１１の右側上部には、マトリックススキャン機能を実行するときに押下される「Ｓｔａｒｔ」キー１１ａが設けられる。マトリックススキャン表示画面１１は、マトリックススキャン機能を実行するために必要な設定を行うためのパラメータ設定表示領域１１ｂと、マトリックススキャン機能を実行したときの測定結果を表示する測定結果表示領域１１ｃからなる。

操作表示部２は、図２～図４のマトリックススキャン表示画面１１のパラメータ設定表示領域１１ｂにおいて、マトリックススキャン機能を実行するために必要な各種設定を行う。この各種設定は、パラメータ設定表示領域１１ｂの「Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ」のタブ１２ａ、「Ｓｔａｒｔｉｎｇ Ｐｒｅｓｅｔ」のタブ１２ｂ、「Ｓｃａｎ」のタブ１２ｃの何れかを選択した状態で行われる。

まず、図２のパラメータ設定表示領域１１ｂの「Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ」のタブ１２ａを選択した場合について説明する。この場合、「ＢＥＲ Ｍｅａｓ． Ｔｉｍｅ［ｓｅｃ］」では、設定範囲：１～３００ｓｅｃ、ステップ：１ｓｅｃ／ｓｔｅｐでＢＥＲ測定時間を設定することができる。

「Ｒｅｌａｘ Ｔｉｍｅ」では、設定範囲：１～６０ｓｅｃ、ステップ１ｓｅｃ／ｓｔｅｐでＢＥＲ測定を始めるまでのＣｕｒｓｏｒ設定時間を指定して設定することができる。

「Ｂｙｐａｓｓ Ｌｉｎｋ Ｔｒａｉｎｉｎｇ」では、リンクトレーニングの設定でマトリックススキャン機能を実行するかを、プルダウンメニューから１．Ｅｎａｂｌｅｄ（有効）、２．Ｄｉｓａｂｌｅｄ（無効）の選択により設定することができる。図２では、「Ｅｎａｂｌｅｄ」が選択された状態を示している。

「ＣＢＢ Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ」では、プルダウンメニューからＣＢＢ４．０に接続された被測定物Ｗへの電源を制御する設定（Ａｕｔｏ Ｐｏｗｅｒ Ｃｙｃｌｅ）を選択することができる。

次に、図３のパラメータ設定表示領域１１ｂの「Ｓｔａｒｔｉｎｇ Ｐｒｅｓｅｔ」のタブ１２ｂを選択した場合について説明する。この場合、「Ａｌｌ ＯＮ」または「Ａｌｌ ＯＦＦ」のボタンを押下すれば、ビットエラー測定を行うときの初期Ｐｒｅｓｅｔの設定を全て選択または全て解除することができる。また、「Ｑ０」～「Ｑ１０」のボタンの何れかを押下すれば、ビットエラー測定を行うときの初期Ｐｒｅｓｅｔの設定を個別に選択または解除することができる。なお、初期Ｐｒｅｓｅｔの設定は、ＤＵＴ毎の挙動を調整するための初期設定として実行されるものである。

次に、図４のパラメータ設定表示領域１１ｂの「Ｓｃａｎ」のタブ１２ｃを選択した場合について説明する。この場合、「ＦＳ（Ｆｕｌｌ Ｓｗｉｎｇ）」では、プルダウンメニューの設定値：２４、４８、６３の中から選択してマトリックススキャン機能のＦｕｌｌ Ｓｗｉｎｇ値を設定することができる。

「ＬＦ（Ｌｏｗ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ）」には、マトリックススキャン機能のＦｕｌｌ Ｓｗｉｎｇ値から求められるＬｏｗ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙが表示される。図４では、Ｆｕｌｌ Ｓｗｉｎｇ値「２４」から求められるＬｏｗ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ：「８」が表示された状態を示している。

「Ｓｅａｒｃｈ Ｄｉｒｅｃｔｉｏｎ」では、プルダウンメニューの「Ｈｏｒｉｚｏｎｔａｌ」（水平方向）、「Ｖｅｒｔｉｃａｌ」（垂直方向）、「Ｄｅｐｔｈ」（深さ方向）の中から選択してスキャン方向を設定することができる。図４では、「Ｈｏｒｉｚｏｎｔａｌ」を選択した状態を示している。

「Ｆｕｌｌ Ｓｃａｎ」では、全てのセルについてマトリックススキャン機能を実行するときにチェックボックス１３にチェックを入れることで設定することができる。なお、「Ｆｕｌｌ Ｓｃａｎ」のチェックボックス１３にチェックを入れたときは、「Ｓｃａｎ Ｍｏｄｅ」がグレイアウトする。

「Ｓｃａｎ Ｍｏｄｅ」では、「Ｆｕｌｌ Ｓｃａｎ」のチェックボックス１３にチェックが入っていない状態で「Ｓｔａｒｔ ｆｒｏｍ Ｓｅｌｅｃｔｅｄ Ｃｅｌｌ」または「Ｓｃａｎ Ｓｃｅｎａｒｉｏ」を選択してスキャン方法を設定することができる。図４では、「Ｓｃａｎ Ｓｃｅｎａｒｉｏ」を選択した状態を示している。

「Ｆｕｌｌ Ｓｃａｎ」の右側には、３軸（Ｘ：横方向座標軸、Ｙ：縦方向座標軸、Ｚ：奥行き方向座標軸）の立体形式とテーブル形式による２つの形式でスキャン対象を表示する。立体形式によるスキャン対象の表示では、Ｃ₊₁を横方向座標軸（Ｘ軸）、Ｃ_-1を縦方向座標軸（Ｙ軸）、Ｃ_-2を奥行き方向座標軸（Ｚ軸）として、Ｃ_-2、Ｃ_-1、Ｃ₊₁を立体的に俯瞰表示する。また、テーブル形式によるスキャン対象の表示では、立体形式によるスキャン対象の表示の上部にＣ_-2の各係数値（図４では０、１、２）を独立して表示し、Ｃ_-2の各係数値（０、１、２）に対する組み合わせとして、Ｃ₊₁の各係数値（０～８）を横軸（Ｘ軸）、Ｃ_-1の各係数値（０～６）を縦軸（Ｙ軸）としてマトリックス表示する。なお、立体形式とテーブル形式によるスキャン対象の表示では、スキャン対象と非スキャン対象を色分けして識別表示する。例えばスキャン対象を緑色、非スキャン対象を灰色で色分け表示する。

ここで、上述した「Ｆｕｌｌ Ｓｃａｎ」内に設けられる「Ｓｃｅｎａｒｉｏ Ｅｄｉｔ」ボタン１４は、「Ｆｕｌｌ Ｓｃａｎ」のチェックボックス１３にチェックが入っていない状態で「Ｓｔａｒｔ ｆｒｏｍ Ｓｅｌｅｃｔｅｄ Ｃｅｌｌ」または「Ｓｃａｎ Ｓｃｅｎａｒｉｏ」を選択して図５に示すマトリックススキャン編集画面１５を呼び出すときに操作される。

図５のマトリックススキャン編集画面１５は、スキャン対象を選択するための画面であって、「ＦＳ（Ｆｕｌｌ Ｓｗｉｎｇ）表示」には、現在選択されているＦＳ設定を表示する。図５では、現在選択されているＦＳ設定が「２４」の場合を示している。

マトリックススキャン編集画面１５の右側最上部には、編集するスキャン対象をプルダウンメニューから選択するための「Ｅｄｉｔ選択コンボボックス」１６が表示される。

なお、ユーザがスキャン対象を変更する際、Ｆｕｌｌ Ｓｗｉｎｇ値（例えば６３を選択設定）によってはスキャン対象を選ぶ作業が大変な場合がある。その対策として、本実施の形態では、予め事前編集した異なるパラメータ値の組み合わせのセルからなる複数のシナリオ（例えばＳｃｅｎａｒｉｏ０～５）を用意し、「Ｅｄｉｔ選択コンボボックス」１６のプルダウンメニューの中から選択できるようにしている。図５では、「Ｅｄｉｔ選択コンボボックス」１６のプルダウンメニューから「Ｓｃｅｎａｒｉｏ０」が選択された状態を示している。なお、用意するシナリオは、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で指定するパラメータ値（図７のＰｒｅｓｅｔＱ０～Ｑ１０のパラメータ値）のセルを含むようにしてもよい。

「Ｅｄｉｔ選択コンボボックス」１６の下部には、複数のボタン：「Ａｌｌ ＯＮ」、「Ａｌｌ ＯＦＦ」、「ＯＮ」、「ＯＦＦ」が縦並びに表示される。「Ａｌｌ ＯＮ」ボタンは、スキャン対象を全選択するときに操作され、「Ａｌｌ ＯＦＦ」ボタンは、スキャン対象を全解除するときに操作される。また、「ＯＮ」ボタンは、選択したマトリックスをスキャン対象にするときに操作され、「ＯＦＦ」ボタンは、選択したマトックスをスキャン対象から外すときに操作される。

マトリックススキャン編集画面１５の中央には、スキャン対象とするセルをマトリックスからマウスで選択するための「Ｓｃａｎ対象選択マトリックス」１７が表示される。図５はＦｕｌｌ Ｓｗｉｎｇ値が「２４」の場合の「Ｓｃａｎ対象選択マトリックス」１７を示しており、Ｃ_-2：０、１、２、３が独立して表示され、Ｃ_-2：０、１、２、３に対するＣ_-1：０～６，Ｃ₊₁：０～８の組み合わせがマトリックスとして表示される。「Ｓｃａｎ対象選択マトリックス」１７では、選択したセル、ターゲット、非ターゲットが色分け表示される。図５では、Ｃ_-2：０、４に対するＣ_-1：２，Ｃ₊₁：１、Ｃ_-1：２，Ｃ₊₁：２、Ｃ_-1：３，Ｃ₊₁：１、Ｃ_-1：３，Ｃ₊₁：２が選択したセルとして水色（図５では黒塗り部分）で表示され、Ｃ_-2：０、４におけるＣ_-1：２，Ｃ₊₁：５、Ｃ_-1：２，Ｃ₊₁：６、Ｃ_-1：３，Ｃ₊₁：５、Ｃ_-1：５，Ｃ₊₁：０、Ｃ_-1：５，Ｃ₊₁：１、Ｃ_-1：６，Ｃ₊₁：０、Ｃ_-1：６，Ｃ₊₁：１がターゲットとして緑色（図５では右上がり斜線部分）で表示され、残りの部分が非ターゲットとして灰色（図５では白色部分）で表示される。

「Ｓｃａｎ対象選択マトリックス」１７の左側には、Ｃ_-2のスキャン対象を立体的に表すための「Ｓｃａｎ対象図」１８が表示される。「Ｓｃａｎ対象図」１８では、Ｃ₊₁を横方向座標軸（Ｘ軸）、Ｃ_-1を縦方向座標軸（Ｙ軸）、Ｃ_-2を奥行き方向座標軸（Ｚ軸）として、Ｃ_-2、Ｃ_-1、Ｃ₊₁を立体的に俯瞰表示し、Ｃ_-2のスキャン対象を色分け表示する。例えばＣ_-2のスキャン対象を緑色、非スキャン対象を灰色で表示する。「Ｓｃａｎ対象図」１８では、どの面がＣ_-2のスキャン対象となるかを３次元表示している。

マトリックススキャン編集画面１５の右側最下部に設けられる「ＯＫ」ボタンは、編集結果を保存するときに操作される。「ＯＫ」ボタンの右隣の「Ｃａｎｃｅｌ」ボタンは、編集結果を破棄するときに操作される。

操作表示部２は、図２～図４のマトリックススキャン表示画面１１の測定結果表示領域１１ｃにおいて、マトリックススキャン機能を実行したときの測定結果を表示する。なお、図２～図４の測定結果表示領域１１ｃにおいて、ＰＳ２はＰｒｅ－Ｓｈｏｏｔ２（ｄＢ）、ＰＳ１はＰｒｅ－Ｓｈｏｏｔ１（ｄＢ）、ＤＥはＤｅ－Ｅｍｐｈａｓｉｓ（ｄＢ）をそれぞれ示している。

図２～図４に示すように、測定結果表示領域１１ｃは、テーブル表示領域２１と詳細表示領域２２からなる。テーブル表示領域２１には、Ｆｕｌｌ Ｓｗｉｎｇ値に応じた数のタブ（Ｆｕｌｌ Ｓｗｉｎｇ値が２４の場合は４つのタブ、Ｆｕｌｌ Ｓｗｉｎｇ値が４８の場合は７つのタブ、Ｆｕｌｌ Ｓｗｉｎｇ値が６３の場合は９つのタブ）によりＣ_-2の係数値を選択可能に表示する。そして、選択したタブのＣ_-2の係数値とＣ₊₁の各係数値とＣ_-1の各係数値の組み合わせの一つ一つ、すなわち、Ｃ_-2の係数値とＣ₊₁の係数値とＣ_-1の係数値の組み合わせの一つ一つをセルとし、マトリックススキャン機能を実行したときのセルごとのエラーカウント値（図２～図４のＥＣ）とビット誤り率（図２～図４のＢＥＲ）をマトリックス表示するとともに、セルごとのビット誤り率を誤り度合に応じて色分け表示する。

各セルには、後述する補正式（１）～（４）を用いて計算されるＰＳ２、ＰＳ１、ＤＥ、Ｂｏｏｓｔの各値とともに、エラーカウント値とビット誤り率が表示される。その際、セルごとのビット誤り率は、誤り度合として、例えばＬｉｎｋ ｆａｉｌ（図２～図４における黒部分：灰色）、Ｓｙｎｃｌｏｓｓ／Ｃｌｏｃｋ ｌｏｓｓ（図２～図４における白部分：赤色）、ＢＥＲ≧１Ｅ－８（図２～図４における右上がり斜線部分：赤橙色）、１Ｅ－８＞ＢＥＲ≧１Ｅ－９（図２～図４における実線と点線が交互の縦線部分：橙色）、１Ｅ－９＞ＢＥＲ≧１Ｅ－１０（図２～図４における実線と点線が交互の横線部分：黄色）、１Ｅ－１０＞ＢＥＲ≧１Ｅ－１１（図２～図４における実線の横線部分：黄緑色）、１Ｅ－１１＞ＢＥＲ≧１Ｅ－１２（図２～図４における実線の縦線部分：緑色）、Ｅｒｒｏｒ ｆｒｅｅ（図２～図４における右下がり斜線部分：深緑色）に応じて色分け表示される。

なお、図２～図４では、Ｃ₊₁の各係数値を横軸（Ｘ軸）、Ｃ_-1の各係数値を縦軸（Ｙ軸）としてマトリックス表示しているが、Ｃ₊₁の各係数値を縦軸（Ｙ軸）、Ｃ_-1の各係数値を横軸（Ｘ軸）としてマトリックス表示してもよい。

詳細表示領域２２には、セルごとのビット誤り率を誤り度合に応じて色分けした縮小画像をサムネイル表示する。このサムネイル表示では、Ｃ_-2の各係数値（図２～図４では０、１、２）を独立して表示し、Ｃ_-2の各係数値（０、１、２）に対する組み合わせとして、Ｃ₊₁の各係数値（０～８）を横軸（Ｘ軸）、Ｃ_-1の各係数値（０～６）を縦軸（Ｙ軸）としてマトリックス表示し、テーブル表示領域２１の表示と同様に、セルごとのビット誤り率を誤り度合に応じて色分けし、縮小画像によるサムネイルを表示する。

詳細表示領域２２におけるサムネイル表示の左側には、Ｃ₊₁を横方向座標軸（Ｘ軸）、Ｃ_-1を縦方向座標軸（Ｙ軸）、Ｃ_-2を奥行き方向座標軸（Ｚ軸）として、Ｃ_-2、Ｃ_-1、Ｃ₊₁を立体的に俯瞰表示する。これにより、規格の更新によって新たに追加されたＣ_-2を奥行き方向座標軸（Ｚ軸）とすることにより、従来からの表示を活かした立体的な俯瞰表示を行うことができる。

詳細表示領域２２における俯瞰表示のＣ_-2の近傍には、Ｃ_-2の係数値を増減キーの操作により入力するための入力ボックス２３ａが設けられる。同様に、Ｃ_-1の近傍には、Ｃ_-1の係数値を増減キーの操作により入力するための入力ボックス２３ｂが設けられ、Ｃ₊₁近傍には、Ｃ₊₁の係数値を増減キーの操作により入力するための入力ボックス２３ｃが設けられる。そして、各入力ボックス２３ａ，２３ｂ，２３ｃに入力された値によるＣ_-2、Ｃ_-1、Ｃ₊₁の係数値に対応する部分（矩形部分）を例えば緑色に色分けして識別表示している。

なお、立体的な俯瞰表示では、Ｃ₊₁の座標軸とＣ_-1の座標軸をマトリックス表示に合わせている。すなわち、図２～図４では、Ｃ₊₁を横軸（Ｘ軸）、Ｃ_-1を縦軸（Ｙ軸）としてマトリックス表示しているので、Ｃ₊₁を横方向座標軸（Ｘ軸）、Ｃ_-1を縦方向座標軸（Ｙ軸）としている。

詳細表示領域２２における俯瞰表示の下部には、俯瞰表示の入力ボックス２３ａ，２３ｂ，２３ｃに入力されたＣ_-2、Ｃ_-1、Ｃ₊₁の係数値の組み合わせによるセルのＢＥＲ（ビット誤り率）、ＥＣ（エラーカウント値）、ＰＳ２（ｄＢ）、ＰＳ１（ｄＢ）、ＤＥ（ｄＢ）、Ｂｏｏｓｔ（ｄＢ）を表示する。図４では、Ｃ_-2＝０、Ｃ_-1＝０、Ｃ₊₁＝０の組み合わせによるセルのＢＥＲ、ＥＣ、ＰＳ２（ｄＢ）、ＰＳ１（ｄＢ）、ＤＥ（ｄＢ）、Ｂｏｏｓｔ（ｄＢ）を表示している。

なお、操作表示部２では、不図示の設定画面において、被測定物Ｗに送信されるテスト信号の元になるテストパターンの選択を行うことができる。テストパターンは、ＰＲＢＳ（Pseudo Random Bit Sequence：疑似ランダム信号）とＣｏｍｐｌｉａｎｃｅ（ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格に準拠した１ｂ／１ｂエンコードのテストパターン）から選択できる。Ｃｏｍｐｌｉａｎｃｅは、さらにＭＣＰ（ＢＥＲ測定を行うためのテストパターン）、ＣＰ（波形の校正またはＩｎｉｔ Ｔｘ ＥＱ．Ｔｘ ＬＥＱ Ｒｅｓｐｏｎｓｅ Ｔｉｍｅ Ｔｅｓｔに仕様するテストパターン）、Ｊｉｔｔｅｒ Ｍｅｓｕｒｅｍｅｎｔ Ｐａｔｔｅｒｎ（Ｊｉｔｔｅｒを測定するための１，０パターン）から選択可能である。

また、図１では、各種情報を操作入力する操作部と、設定画面や測定画面などを表示する表示部の両方の機能を操作表示部２が兼ね備えた構成として図示しているが、操作表示部２を操作部と表示部にそれぞれ独立させた構成としてもよい。

データ送信部３は、ビットエラー測定を行う際に、テスト信号を生成して被測定物Ｗに送信する。テスト信号は、操作表示部２にて選択されたテストパターンに対し、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義されるプリセットのカーソル値の各係数からマッピングされる三角行列マトリックスのテーブルからなるパラメータ値に基づくエンファシスをかけられた信号である。

さらに説明すると、データ送信部３は、パラメータ設定表示領域１１ｂの［Ｓｃａｎ］のタブ１２ｃを選択した状態で、ＦＳ（Ｆｕｌｌ Ｓｗｉｎｇ）において、設定可能な範囲として２４、４８、６３の何れかの範囲を選択すると、選択した範囲においてＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義される全てまたは指定されたプリセットのＣ_-2、Ｃ_-1、Ｃ₊₁の組み合わせにおけるＰＳ２、ＰＳ１、ＤＥ、Ｂｏｏｓｔに基づくエンファシス（実際の現象としてはデエンファシス）の比率とデータ送信部（信号発生器）３の合計振幅値からＶａ、Ｖｂ、Ｖｃ１、Ｖｃ２、Ｖｄを計算し、計算結果に基づいて生成されるテスト信号を被測定物Ｗに送信する。

データ受信部４は、ビットエラー測定を行う際に、データ送信部３からのテスト信号が被測定物Ｗに送信されると、このテスト信号の送信に伴って被測定物Ｗのデータ送信部Ｗ３が折り返して送信するデータを受信する。

記憶部５は、ビットエラー測定を行う際に操作表示部２により設定される各種設定情報、ビットエラー測定の測定結果、マトリックススキャン編集画面１５におけるシナリオの編集結果などを記憶する。

記憶部５は、ビットエラー測定を行う際のテスト信号を生成するため、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義されるプリセットのカーソル値の各係数からマッピングされる三角行列マトリックスのテーブルからなるパラメータ値を設定範囲（２４、４８、６３）ごとに記憶するとともに、下記に示すＰＳ２、ＰＳ１、ＤＥ、Ｂｏｏｓｔの補正式（１）～（４）を記憶する。

ＰＳ２＝（１－２×Ｃ₊₁－２×Ｃ_-1－２×Ｃ_-2）／（１－２×Ｃ₊₁－２×Ｃ_-1）…補正式（１）
ＰＳ１＝（１－２×Ｃ₊₁）／（１－２×Ｃ₊₁－２×Ｃ_-1）…補正式（２）
ＤＥ＝（１－２×Ｃ₊₁－２×Ｃ_-1）／（１－２×Ｃ_-1）…補正式（３）
Ｂｏｏｓｔ＝１／（１－２×Ｃ₊₁－２×Ｃ_-1）…補正式（４）

制御部６は、リンク状態管理部６ａと表示制御部６ｂを含み、操作表示部２、データ送信部３、データ受信部４、記憶部５を統括制御してマトリックススキャン機能を実行する。

リンク状態管理部６ａは、被測定物Ｗに搭載されたリンク状態管理部Ｗ１ａと同一または同等の機構としてＬＴＳＳＭを有し、使用するＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格に従って動作する。

さらに説明すると、リンク状態管理部６ａは、被測定物Ｗ（データ受信部Ｗ２、データ送信部Ｗ３）との間で通信されるトレーニングパターン（ＴＳ１ Ｏｒｄｅｒｅｄ ＳｅｔｓとＴＳ２ Ｏｒｄｅｒｅｄ Ｓｅｔｓ）により、被測定物Ｗのリンク状態管理部Ｗ１ａの現在のリンク状態を認識する。具体的には、リンク速度、ループバックの有無、レーンを識別するためのレーン番号、リンク番号、パターン信号の発生時間や発生回数、エンファシス量、イコライザの調整値などの各種情報を得る。

表示制御部６ｂは、ビットエラー測定を行う際に、マトリックススキャン機能を実行するために必要な各種情報や測定結果を例えば図２～図４に示す表示形式のマトリックススキャン表示画面１１として表示するべく操作表示部２を制御する。

次に、上記のように構成される誤り率測定装置１でビットエラー測定を行う場合の動作について図６のフローチャートを参照しながら説明する。なお、ビットエラー測定を行う場合は、被測定物Ｗが信号パターン折り返しのステートに遷移しているものとする。

まず、誤り率測定装置１の操作表示部２の操作により、マトリックススキャン機能を実行するために必要な各種設定を行う（ＳＴ１）。必要不可欠な設定内容の一例を示すと、図２のマトリックススキャン表示画面１１のパラメータ設定表示領域１１ｂの［Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ］のタブ１２ａを選択した状態において、「ＢＥＲ Ｍｅａｓ． Ｔｉｍｅ」ではＢＥＲ測定時間を設定し、「Ｂｙｐａｓｓ Ｌｉｎｋ Ｔｒａｉｎｉｎｇ］のプルダウンメニューから「Ｅｎａｂｅｌｅｄ」を選択し、Ｌｉｎｋ Ｔｒａｉｎｉｎｇの設定でマトリックススキャン機能を実行する設定を有効にする。また、マトリックス表示画面１１のパラメータ設定表示領域１１ｂの［Ｓｃａｎ］のタブ１２ｃを選択した状態において、「ＦＳ（Ｆｕｌｌ Ｓｗｉｎｇ）」ではＦｕｌｌ Ｓｗｉｎｇ値（２４、４８、６３の何れか）を選択設定し、「Ｓｅａｒｃｈ Ｄｉｒｅｃｔｉｏｎ」ではスキャン方向（例えばＨｏｒｉｚｏｎｔａｌ（水平方向））を設定し、「Ｆｕｌｌ Ｓｃａｎ」のチェックボックス１３にチェックを入れるか、「Ｓｃａｎ Ｍｏｄｅ」の「Ｓｔａｒｔ ｆｒｏｍ Ｓｅｌｅｃｔｅｄ Ｃｅｌｌ」または「Ｓｃａｎ Ｓｃｅｎａｒｉｏ」を選択してスキャン対象を設定する。

さらに、スキャン対象の設定方法について説明する。まず、全てのセルについてマトリックススキャン機能を実行する場合は、図４のパラメータ設定表示領域１１ｂの「Ｓｃａｎ」のタブ１２ｃを選択した状態で「Ｆｕｌｌ Ｓｃａｎ」のチェックボックス１３にチェックを入れる。

これに対し、任意のセルについてマトリックススキャン機能を実行する場合には、「Ｆｕｌｌ Ｓｃａｎ」のチェックボックス１３にチェックが入っていない状態で「Ｓｔａｒｔ ｆｒｏｍ Ｓｅｌｅｃｔｅｄ Ｃｅｌｌ」または「Ｓｃａｎ Ｓｃｅｎａｒｉｏ」を選択し、「Ｆｕｌｌ Ｓｃａｎ」内の「Ｓｃａｎ Ｅｄｉｔ」ボタン１４を押下して図５のマトリックススキャン編集画面１５を表示させる。

ここで、「Ｆｕｌｌ Ｓｃａｎ」のチェックボックス１３にチェックが入っていない状態で「Ｓｔａｒｔ ｆｒｏｍ Ｓｅｌｅｃｔｅｄ Ｃｅｌｌ」を選択して「Ｓｃａｎ Ｅｄｉｔ」ボタン１４を押下した場合は、図５のマトリックススキャン編集画面１５において、「Ｅｄｉｔ選択コンボボックス」１６からマトリックススキャン機能の実行を開始するセルをマウスで選択し、「ＯＮ」ボタンを押下する。

また、「Ｆｕｌｌ Ｓｃａｎ」のチェックボックス１３にチェックが入っていない状態で「Ｓｃａｎ Ｓｃｅｎａｒｉｏ」を選択して「Ｓｃａｎ Ｅｄｉｔ」ボタン１４を押下した場合には、図５のマトリックススキャン編集画面１５において、「Ｅｄｉｔ選択コンボボックス」１６のプルダウンメニューから編集対象のシナリオ（例えば「Ｓｃｅｎａｒｉｏ０」）を選択し、「スキャン対象選択マトリックス」１７においてスキャン対象とするセルをマトリックスからマウスで選択し、「ＯＮ」ボタンを押下する。

なお、「スキャン対象選択マトリックス」１７のマトリックスからマウスで選択したセルをスキャン対象から外す場合には、スキャン対象から外すセルをマウスで選択した状態で「ＯＦＦ」ボタンを押下する。また、マトリックスの全てのセルをスキャン対象とする場合には、「Ａｌｌ ＯＮ」ボタンを押下し、マトリックスの全てのセルをスキャン対象から解除する場合には、「Ａｌｌ ＯＦＦ」ボタンを押下する。そして、スキャン対象となるセルの編集を終えて「ＯＫ」ボタンが押下されると、編集結果が記憶部５に保存される。

次に、誤り率測定装置１のデータ送信部３は、制御部６の制御により、スキャン対象のパラメータに基づくテスト信号を順次生成し、順次生成したテスト信号を被測定物Ｗに送信する（ＳＴ２）。すなわち、操作表示部２にて選択されたテストパターンに対し、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義されるプリセットのカーソル値の各係数からマッピングされる三角行列マトリックスのテーブルからなるパラメータ値に基づくエンファシスをかけられたテスト信号を順次生成して被測定物Ｗに送信する。

ここで、テスト信号の生成方法について説明する。テスト信号を生成する場合には、スキャン対象となるセルのＣ_-2、Ｃ_-1、Ｃ₊₁におけるＰＳ２、ＰＳ１、ＤＥ、Ｂｏｏｓｔを、記憶部５に記憶される補正式（１）～（４）を用いて計算する。なお、スキャン対象となるセルのＣ_-2、Ｃ_-1、Ｃ₊₁の係数値は、Ｓｗｉｎｇ値／Ｆｕｌｌ Ｓｗｉｎｇ値（２４、４８、６３の何れか）から求めることができる。例えばＣ_-2に関して、Ｓｗｉｎｇ値＝２、Ｆｕｌｌ Ｓｗｉｎｇ値＝２４の場合の係数値は、２／２４＝０．０８３３３３・・・となる。

そして、計算したＰＳ２、ＰＳ１、ＤＥ、Ｂｏｏｓｔに基づくエンファシス（実際の現象としてはデエンファシス）の比率：ＰＳ２＝２０ｌｏｇ₁₀（Ｖｃ２／Ｖｂ）、ＰＳ１＝２０ｌｏｇ₁₀（Ｖｃ１／Ｖｂ）、ＤＥ＝２０ｌｏｇ₁₀（Ｖｂ／Ｖａ）、Ｂｏｏｓｔ＝２０ｌｏｇ₁₀（Ｖｄ／Ｖｂ）とデータ送信部３（信号発生器）の合計振幅値（被測定物Ｗによって決まる値）からＶａ、Ｖｂ、Ｖｃ１、Ｖｃ２、Ｖｄを計算し、操作表示部２にて選択されたテストパターンに対し、上記計算結果に基づくエンファシスをかけられたテスト信号を生成する。

被測定物Ｗは、制御部Ｗ１の制御により、誤り率測定装置１のデータ送信部３から順次送信されるテスト信号をデータ受信部Ｗ２が受信し、受信したテスト信号に対する応答信号をデータ送信部Ｗ３が被測定信号として誤り率測定装置１に折り返して送信する。

誤り率測定装置１は、被測定物Ｗのデータ送信部Ｗ３から折り返して順次送信される被測定信号をデータ受信部４が受信する（ＳＴ３）。データ受信部４は、被測定物Ｗから被測定信号を受信すると、ビットエラー測定部４ａが被測定信号のビットエラーをカウントし、ビット誤り率を測定する（ＳＴ４）。

誤り率測定装置１は、ビットエラー測定部４ａによりビット誤り率が測定されると、表示制御部６ｂの制御により、操作表示部２の表示画面に対し、例えば図２～図４のマトリックススキャン表示画面１１に示すように、測定結果表示領域１１ｃ（テーブル表示領域２１、詳細表示領域２２）に測定結果の表示（セルごとのビット誤り率を誤り度合に応じて色分けしたマトリックス表示、Ｃ_-2とＣ₊₁とＣ_-1の３軸（Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸）による立体的な俯瞰表示、セルごとのビット誤り率を誤り度合に応じて色分けした縮小画像によるサムネイル表示）を行う（ＳＴ５）。

このように、本実施の形態では、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で定義されるＦｕｌｌ Ｓｗｉｎｇ値に応じた数のタブによりＣ_-2の係数値を選択可能に表示し、選択したタブのＣ_-2の係数値とＣ₊₁の各係数値とＣ_-1の各係数値の組み合わせの一つ一つをセルとし、マトリックススキャン機能によって得られるセルごとのエラーカウント値とビット誤り率を表示画面上にマトリックス表示するとともに、セルごとのビット誤り率を表示画面上で誤り度合に応じて色分け表示している。

また、Ｃ₊₁とＣ_-1を横方向座標軸（Ｘ軸）と縦方向座標軸（Ｙ軸）の組み合わせ、Ｃ_-2を奥行き方向座標軸（Ｚ軸）として、Ｃ_-2、Ｃ_-1、Ｃ₊₁を表示画面上に立体的に俯瞰表示している。さらに、セルごとのビット誤り率を誤り度合に応じて色分けした縮小画像として表示画面上にサムネイル表示している。

これにより、従来からあったＣｕｒｓｏｒ値（Ｐｒｅ－ｓｈｏｏｔ１、Ｄｅ－ｅｍｐｈａｓｉｓ）に加え、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格で新たに定義されるＣｕｒｓｏｒ値（Ｐｒｅ－ｓｈｏｏｔ２）に対する（Ｐｒｅ－ｓｈｏｏｔ２、Ｐｒｅ－ｓｈｏｏｔ１、Ｄｅ－ｅｍｐｈａｓｉｓ）の各係数値の組み合わせによりマッピングされる三角行列マトリックスのスキャン対象のセルのビット誤り率をグラフィカルユーザインタフェース（ＧＵＩ）により誤り度合に応じて色分けしたマトリックス表示や立体的（三次元的）な俯瞰表示、さらにはセルごとのビット誤り率を誤り度合に応じて色分けしたサムネイル表示を行うことでＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格における被測定物のレシーバに最適な設定が視覚的に判別可能となる。

さらに、本実施の形態では、上述したマトリックス表示または俯瞰表示においてスキャン対象となる少なくとも１つのセルを含む範囲を選択設定し、選択設定した範囲のパラメータ値によるマトリックススキャン機能を実行している。また、異なるパラメータ値（規格で指定するパラメータ値のセルを含むことも可能）の組み合わせのセルからなる複数のシナリオを記憶し、記憶された複数のシナリオから一つのシナリオを選択設定し、選択設定したシナリオのパラメータ値によるマトリックススキャン機能の実行も可能である。

これにより、従来のマトリックススキャン機能では、Ｆｕｌｌ Ｓｃａｎによる三角行列の全セルの測定と、三角行列において測定開始するセルから後方全ての測定との２種類の測定にしか対応していなかったのに対し、スキャン対象の選択幅が広がり、ＰＣＩｅ Ｇｅｎ６規格のＢＥＲ測定試験が効率的に行え、ユーザのデバッグ効率の向上を図ることができる。

以上、本発明に係る誤り率測定装置および誤り率測定方法の最良の形態について説明したが、この形態による記述および図面により本発明が限定されることはない。すなわち、この形態に基づいて当業者等によりなされる他の形態、実施例および運用技術などはすべて本発明の範疇に含まれることは勿論である。

１ 誤り率測定装置
２ 操作表示部
３ データ送信部
３ａ エンファシス制御部
４ データ受信部
４ａ ビットエラー測定部
５ 記憶部
６ 制御部
６ａ リンク状態管理部
６ｂ 表示制御部
１１ マトリックススキャン表示画面
１１ａ 「Ｓｔａｒｔ」キー
１１ｂ パラメータ設定表示領域
１１ｃ 測定結果表示領域
１２ａ ［Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ］のタブ
１２ｂ ［Ｓｔａｒｔｉｎｇ Ｐｒｅｓｅｔ］のタブ
１２ｃ ［Ｓｃａｎ］のタブ
１３ チェックボックス
１４ 「Ｓｃｅｎａｒｉｏ Ｅｄｉｔ」ボタン
１５ マトリックススキャン編集画面
１６ Ｅｄｉｔ選択コンボボックス
１７ Ｓｃａｎ対象選択マトリックス
１８ Ｓｃａｎ対象図
２１ テーブル表示領域
２２ 詳細表示領域
Ｗ 被測定物
Ｗ１ 制御部
Ｗ１ａ リンク状態管理部
Ｗ２ データ受信部
Ｗ２ａ イコライザ
Ｗ３ データ送信部

Claims (6)

1. ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６規格で定義されるＦｕｌｌ Ｓｗｉｎｇ値におけるＣ_-2、Ｃ_-1、Ｃ₊₁の各係数値の組み合わせによる三角行列マトリックスの中から選択設定されるスキャン対象のセルのパラメータ値に基づくテスト信号をリンクトレーニング中に被測定物（Ｗ）に送信し、前記テスト信号の送信に伴って前記被測定物から折り返される被測定信号を受信してビット誤り率を測定するマトリックススキャン機能を実行する誤り率測定装置（１）であって、
   前記Ｆｕｌｌ Ｓｗｉｎｇ値に応じた数のタブにより前記Ｃ_-2の係数値を選択可能に表示し、選択したタブの前記Ｃ_-2の係数値における前記Ｃ₊₁の各係数値と前記Ｃ_-1の各係数値の組み合わせの一つ一つを前記セルとして表示画面上にマトリックス表示するとともに、前記Ｃ₊₁と前記Ｃ_-1を横方向座標軸と縦方向座標軸の組み合わせ、前記Ｃ_-2を奥行き方向座標軸として、前記Ｃ_-2、Ｃ_-1、Ｃ₊₁を前記表示画面上に立体的に俯瞰表示する表示制御部（６ｂ）と、
   前記マトリックス表示または前記俯瞰表示においてスキャン対象となる少なくとも１つのセルを含む範囲を選択設定する操作表示部（２）と、
   前記操作表示部にて選択設定した範囲のパラメータ値による前記マトリックススキャン機能を実行する制御部（６）と、を備えたことを特徴とする誤り率測定装置。
2. 異なるパラメータ値の組み合わせのセルからなる複数のシナリオを記憶する記憶部（５）を備え、
   前記制御部は、前記記憶部に記憶された複数のシナリオから一つのシナリオを選択設定し、選択設定したシナリオのパラメータ値によるマトリックススキャン機能を実行することを特徴とする請求項１に記載の誤り率測定装置。
3. 前記シナリオが前記規格で指定するパラメータ値のセルを含むことを特徴とする請求項１または２に記載の誤り率測定装置。
4. ＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ６規格で定義されるＦｕｌｌ Ｓｗｉｎｇ値におけるＣ_-2、Ｃ_-1、Ｃ₊₁の各係数値の組み合わせによる三角行列マトリックスの中から選択設定されるスキャン対象のセルのパラメータ値に基づくテスト信号をリンクトレーニング中に被測定物（Ｗ）に送信し、前記テスト信号の送信に伴って前記被測定物から折り返される被測定信号を受信してビット誤り率を測定するマトリックススキャン機能を実行する誤り率測定方法であって、
   前記Ｆｕｌｌ Ｓｗｉｎｇ値に応じた数のタブにより前記Ｃ_-2の係数値を選択可能に表示するステップと、
   前記選択したタブの前記Ｃ_-2の係数値における前記Ｃ₊₁の各係数値と前記Ｃ_-1の各係数値の組み合わせの一つ一つを前記セルとして表示画面上にマトリックス表示するステップと、
   前記Ｃ₊₁と前記Ｃ_-1を横方向座標軸と縦方向座標軸の組み合わせ、前記Ｃ_-2を奥行き方向座標軸として、前記Ｃ_-2、Ｃ_-1、Ｃ₊₁を前記表示画面上に立体的に俯瞰表示するステップと、
   前記マトリックス表示または前記俯瞰表示においてスキャン対象となる少なくとも１つのセルを含む範囲を選択設定するステップと、
   前記選択設定した範囲のパラメータ値による前記マトリックススキャン機能を実行するステップと、を含むことを特徴とする誤り率測定方法。
5. 異なるパラメータ値の組み合わせのセルからなる複数のシナリオを記憶するステップと、
   前記記憶された複数のシナリオから一つのシナリオを選択設定し、選択設定したシナリオのパラメータ値によるマトリックススキャン機能を実行するステップと、を含むことを特徴とする請求項４に記載の誤り率測定方法。
6. 前記シナリオが前記規格で指定するパラメータ値のセルを含むことを特徴とする請求項４または５に記載の誤り率測定方法。

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