JP7505906B2 - 測定データ処理装置 - Google Patents

Description

本発明は、測定データ処理装置に関し、具体的には、測定データの記録や編集を容易に行うための測定データ処理装置に関する。

ワークを測定器で測定した結果はコンピュータ等の外部機器に転送（出力）されて記録されるようになっている。そのための測定システムが種々提案されている（例えば、特許文献１、２）。

例えば、図１の測定システムにおいては、ワークＷをデジタルマイクロメータ１０で測定している。デジタルマイクロメータ１０とコンピュータ１００とは無線または有線で通信接続されている。ユーザがデジタルマイクロメータ１０でワークＷを測定し、データ転送ボタン１１を押す。すると、測定値がデジタルマイクロメータ１０からコンピュータ１００に転送（出力）され、コンピュータ１００が測定値を記録していく。

デジタルマイクロメータ１０からコンピュータ１００へ転送（出力）された測定値は自動的に記録されていくが、その測定値がどのワークのどの箇所に対応しているものであるか整理されていなければならない。例えば図１のように５つの段差をもつワークＷの場合を考える。ユーザは、ワークＷを測定してデータ転送（出力）したら、コンピュータ１００の表示画面を見ながらそのデータがどのワークのどの箇所のデータであるか登録していく。図１の例では、スプレッドシートの所定のセルにデータを記録するようにする。

あるいは、測定手順をコンピュータ１００に予め登録しておき、ユーザは決められた順番通りに測定を進めていくようにしてもよい。例えば、太い方から順番に測定していき、ひとつのワークＷが終わったら次のワークに進むというように測定手順が決まっているとする。この手順通りに測定していけば、自動的に整理された測定データが得られる。

実開平５－５９５９７ 特開２０１２－４８３７７ 特開２０１７－４９０４７

実際の測定作業にあって、ユーザが測定作業もしながらコンピュータ１００を操作してデータを編集したりすることになる。一旦ワークＷとデジタルマイクロメータ１０から手を離し、コンピュータ１００のキーボードかマウスを操作しなければならない。これは大変な手間である。
仮に、測定手順を決めていたとしても測定手順や測定箇所を飛ばしてしまうこともあるし、データ転送ボタン１１の操作ミスもあり得る。この場合、やはり、ユーザはワークＷとデジタルマイクロメータ１０から手を離し、コンピュータ１００のキーボードかマウスを操作しなければならない。

なお、特許文献３（特開２０１７－４９０４７）には、多数のセンサで取得された膨大な測定データを自動的に分析して、その傾向を提示してくれる推定装置が開示されている。推定装置で得られた分析パターンから測定データの傾向を把握し、この傾向に基づいて、センサ群のなかで寄与が大きいセンサを少数に絞りこむことが提案されている。しかしながら、得られた測定データがどのワークのどの箇所の測定データであるかは１つ１つ整理して入力しておかなければならないという事情は変わらない。

測定データの記録や編集を容易に行うための測定データ処理装置が求められている。

そこで、本発明の目的は、測定データの記録や編集を容易に行うための測定データ処理装置を提供することにある。

本発明の測定データ処理装置は、
複数の同種のワークに対して予め決められた複数の測定対象箇所を測定して得られる測定データを自動分類する測定データ処理装置であって、
１つのワークあたりの測定対象箇所の個数を測定箇所数として設定記憶する測定箇所数記憶部と、
１つのワークあたりの測定データの分類の数をクラスタ数として設定記憶するクラスタ数記憶部と、
測定器から転送されてくる測定データを順番に一時記憶する測定データバッファ部と、
前記測定データバッファ部に記憶された測定データを前記測定箇所数と前記クラスタ数とに基づいてクラスタ分析して、測定データをクラスタに分類するクラスタ分類部と、を備える
ことを特徴とする。

本発明では、
さらに、前記測定データバッファ部に記憶された測定データを整理する測定データ整理部を備え、
前記測定データ整理部は、前記クラスタ分類部でのクラスタ分類に基づいて、前記測定データバッファ部に記憶された測定データをワークごとに仕分けする
ことが好ましい。

本発明では、
ワークのなかで最初に測定する箇所はルールづけされており、
前記測定データ整理部は、測定データごとにワーク番号とクラスタ番号とを付与し、
前記ワーク番号を行番号または列番号とし、
前記クラスタ番号を列番号または行番号として、
測定データをマトリックス状に配列する
ことが好ましい。

本発明では、
ユーザに測定箇所数とクラスタ分類数とを入力させるユーザーインターフェースを提供する
ことが好ましい。

本発明では、
さらに、測定箇所数と分類数とを自動で設定する自動設定部を備え、
１つ目のワークについては予め決められた測定対象箇所のすべてを１回ずつ測定するようにルールが決められていて、
前記自動設定部は、前記測定データバッファ部に新しく入力された測定データを既にバッファされている測定データに対比して、
前記新しく入力された測定データと、既にバッファされているいずれかの測定データとの差が予め設定された値以下になったとき、
前記測定データバッファ部に記憶されている測定データの数より１つ少ない値を測定箇所数およびクラスタ分類数として設定する
ことが好ましい。

本発明の測定データ処理プログラムは、
複数の同種のワークに対して予め決められた複数の測定対象箇所を測定して得られる測定データを自動分類する測定データ処理装置にコンピュータを組み込んで、
このコンピュータを、
１つのワークあたりの測定対象箇所の個数を測定箇所数として設定記憶する測定箇所数記憶部と、
１つのワークあたりの測定データの分類の数をクラスタ数として設定記憶するクラスタ数記憶部と、
測定器から転送されてくる測定データを順番に一時記憶する測定データバッファ部と、
前記測定データバッファ部に記憶された測定データを前記測定箇所数と前記クラスタ数とに基づいてクラスタ分析して、測定データをクラスタに分類するクラスタ分類部と、して機能させる
ことを特徴とする。

ワークＷをデジタルマイクロメータで測定する様子の一例を示す図である。 測定データ処理装置の機能ブロック図である。 測定対象物（ワーク）の例を示す図である。 メニュー画面の一例を示す図である。 分類条件設定画面の一例を示す図である。 測定データの例を示す図である。 測定データにクラスタ番号を付した状態を例示する図である。 測定データにクラスタ番号を付した状態を例示する図である。 測定データにクラスタ番号とワーク番号とを付した状態を例示する図である。 測定データをマトリックス状に整理した状態の一例を示す図である。 ユーザが測定対象箇所を飛ばす場合を考慮した動作例を説明するための図である。 ユーザが測定対象箇所を飛ばす場合を考慮した動作例を説明するための図である。 ユーザが測定対象箇所を飛ばす場合を考慮した動作例を説明するための図である。 図１３をマトリックス状に整理した一例を示す図である。 注意メッセージを例示した図である。 測定対象物（ワーク）の例を示す図である。 分類条件設定画面の一例を示す図である。 測定データにクラスタ番号を付した状態を例示する図である。 測定データにクラスタ番号を付した状態を例示する図である。 ユーザが測定対象箇所を飛ばす場合を考慮した動作例を説明するための図である。 ユーザが測定対象箇所を飛ばす場合を考慮した動作例を説明するための図である。 分類条件設定画面の一例を示す図である。 分類条件の設定を「自動」とした場合の動作例を説明するための図である。

本発明の実施形態を図示するとともに図中の各要素に付した符号を参照して説明する。
（第１実施形態）
本発明の測定システムに係る第１実施形態について説明する。
測定システムの概略構成としては図１と同じである。測定システムは、測定器１０と、コンピュータユニット１００と、を具備する。測定器１０としては、デジタル式の小型測定器であってもよい。デジタル式の小型測定器としては、デジタルマイクロメータ１０や、デジタルノギス、デジタルダイヤルゲージなどがある。図中では、デジタルマイクロメータ１０を例示している。ただし、測定器としては、ワークの測定対象箇所の寸法を測定でき、測定データを転送（出力）できればよいのであり、極端な例としては、大型の三次元測定機であってもよい。

デジタルマイクロメータ１０は、コンピュータユニット１００と無線または有線で通信接続されている。デジタルマイクロメータ１０はデータ転送ボタン１１を有し、データ転送ボタン１１が押されると、測定値をコンピュータユニット１００に転送（出力）する。

測定データ処理装置２００としてのコンピュータユニットは、典型的には小型コンピュータであって、コンピュータ本体に入出力機器としてキーボード、マウス、マイク、ディスプレイ、プリンタ、スピーカが内蔵または外付けされている。その他、測定データ処理装置２００は、タブレット端末やスマートフォン（携帯型高機能電話機）であってもよい。

図２は、測定データ処理装置２００の機能ブロック図である。
測定データ処理装置２００は、中央制御部（ＣＰＵ）２９０とメモリ（ＲＯＭ、ＲＡＭ）を有していて、メモリに格納された測定データ処理プログラムを実行することで各機能部の機能を実現するものである。
測定データ処理装置２００は、測定データバッファ部２５０と、分類条件設定記憶部２１０と、クラスタ分類部２６０と、測定データ整理部２７０と、を有する。
分類条件設定記憶部２１０は、測定箇所数記憶部２２０と、クラスタ数記憶部２３０と、分類条件自動設定部２４０と、を有する。
各機能部の動作については、以降の実施例の説明のなかで説明する。

第１実施形態の動作例として、図３のような測定対象物（ワーク）を次々に測定していく場合を説明する。
このワークは、いわゆるＵＳＢコネクタである。このワークは、やや幅広で細長い直方体形状の胴部があって、この胴部の先端側にはやや偏平な直方体形状のコネクタ端子があり、胴部の基端側にはケーブルを保護するために幅狭のケーブルカバー部が設けられている。そして、コネクタ端子の幅と、胴部の幅と、ケーブルカバー部の幅と、を一箇所ずつ測定するとする。
いま、コネクタ端子の幅を第１測定対象箇所とし、ケーブルカバー部の幅を第２測定対象箇所とし、胴部の幅を第３測定対象箇所とする。なお、第１、第２、第３、という順番は便宜上のもので、順番は重要ではない。ただし、第１、第２、第３測定対象箇所の寸法には設計上明らかな差があるとするものとする。

ユーザがワーク（ＵＳＢコネクタ）を次々に取り替えながら各ワークの第１、第２、第３測定対象箇所を次々に測定して順次測定データを転送（出力）していく。このとき、ユーザが逐一コンピュータを操作したり、測定の順番を気にしたりしなくても、さらには、時々測定対象箇所を飛ばしたりしたとしても、各測定データがどのワークのどの測定対象箇所の測定データであるかが自動的に分類されて整理された状態で登録されるようにしたい。

ユーザが測定データ処理装置２００を起動すると、測定データ処理装置２００は入出力制御部２８０を介してユーザにメニュー画面を提供する。
図４はメニュー画面の一例を示す図である。
メニュー画面には、本実施形態の自動分類を適用しないデータ収集モードに加えて、本実施形態の自動分類を適用する自動分類モードの選択肢（アイコンやボタン）が表示されている。いま、ユーザが自動分類モードを選択したとする。

次に、自動分類モードにおいてユーザに提供される分類条件設定画面の一例を図５に示す。
分類条件設定画面において、まず、分類条件の設定モードを自動設定とするか手動設定とするかを選択できる。ここでは、分類条件の設定モードを手動設定とする場合を説明する。
（分類条件の設定モードを自動設定とした場合の動作は第３実施形態で説明する。）

分類条件の設定モードとして手動設定が選択された場合、分類条件設定記憶部２１０は、入出力制御部２８０を介して、ユーザに「分類数」および「測定数」の入力設定を促す。例えば、「手動設定」が選択されたら、分類数と測定数の入力欄をハイライトしたり、カーソルを点滅させたり、音声または表示メッセージで伝えたりして入力を促すようにしてもよい。

まず、「測定数」というのは、１つのワークごとに何カ所測定するか、ということである。つまり、「測定数」というのは、１つのワークに定められた測定対象箇所の数のことである。ここでは、測定対象箇所として第１、第２、第３測定対象箇所があるので、「測定数」は「３」である。

次に、「分類数」というのは、１つのワークごとに得られる測定データが何種類あるか、ということである。つまり、「分類数」というのは、測定データを類似値ごとに分類（クラスタリング）したときの分類（クラスタ）の数のことである。ここでは、第１、第２、第３測定対象箇所の寸法には明らかな差があって、互いに異なる分類（クラスタ）に分けられるので、「分類数」は「３」である。

なお、分類数と測定数とに同じ値を設定するときには、どちらか一方だけ入力されていれば他方はブランクでもよいとしてもよい。或いは、分類数か測定数の一方に値が入力されていて、他方がブランクのときには、自動的に両方に同じ値が設定されるようにしてもよい。

このように入力された分類数はクラスタ数記憶部２３０に記憶される。また、このように入力された測定数は測定箇所数記憶部２２０に記憶される。ここまでで、分類条件の設定は完了である。

分類条件の設定ができたら、ユーザはワークの測定対象箇所を次々に測定して、測定データを測定データ処理装置２００に転送（出力）する。測定データ処理装置２００は、測定データを順番に測定データバッファ部２５０に記憶していく。そして、クラスタ分類部２６０が測定データバッファ部２５０に記憶された測定データを順次クラスタに分類していく。

クラスタ分類部２６０によるクラスタリング動作（分類動作）を説明する。
クラスタ分類（クラスタ分析）の手法自体はいくつか知られている。ここでは、完全な教師無しのクラスタ分析ではなく、分類数が指定（例えばここでは３）されているので、例えば、ｋ－ｍｅａｎｓ法、ｋ－ｍｅａｎｓ＋＋法などを適宜適用していただければよい。

さて、ユーザは、ワークを測定していくにあたり、最初の一つ目のワークについては決められた測定対象箇所を飛ばさずにすべて一回ずつ測定するとする。ここでは、第１、第２、第３測定対象箇所をデジタルマイクロメータ１０で測定して、測定データを測定データ処理装置２００に転送（出力）する。
（なお、測定の順番は問わない。）

最初のワークの測定値として図６のように３つの測定データが得られたとする。いま、測定数は「３」に設定されているから、クラスタ分類部２６０は、３つの測定データが揃ったところでこれら最初の３つの測定データにクラスタ分析を行なう。ここでは、クラスタ分析の対象となる測定データの数と設定された分類数とが同じ値であるから、それぞれの測定データは互いに異なるクラスタ（分類）に分けられる。例えば、図６の測定データ「１２．０７」、「１６．５４」，「１０．１０」はそれぞれ異なるクラスタ（分類）に分けられる。クラスタ（分類）の識別番号としてクラスタ番号をつけるとする。番号は、数字でもアルファベットでもよく、ここでは、１から始まる数字（自然数）でクラスタ番号をつけるとする。すると、図７に例示のように、各測定データにクラスタ番号を付すことができる。

一つ目のワークの測定が終わったら、ユーザは次のワークを測定していく。測定で得られた測定データは次々と測定データ処理装置２００（測定データバッファ部２５０）に転送（出力）され、測定データは、クラスタ分類部２６０での分類によって該当するクラスタに分けられていく。クラスタ分類部２６０は、測定データが新しく入ってきたら、新しい測定データがどのクラスタの重心に近いかを判断して、新しい測定データを順次適切なクラスタに割り振っていく。クラスタに新しいデータが追加されたらクラスタの重心値を更新するようにしてもよい。

クラスタ分類部２６０で測定データがクラスタに分類されるのと並行して、この分類を受けて、測定データ整理部２７０が測定データを整理する。測定データ整理部２７０は、測定データバッファ部２５０に新しく入ってきた測定データがクラスタ分類部２６０で分類されたことを受けて、新しい測定データにクラスタ番号を付与する。すると、図８に例示のように、各測定データにクラスタ番号がつけられていく。

測定データ整理部２７０は、さらに、測定データに付されたクラスタ番号に基づいて、測定データをワークごとに区切って、測定データにワーク番号を付す。
いま、測定数が３に設定されているから、測定データ整理部２７０としては測定データを順番に３つずつの組みに区切っていく。そして、各組みに順番にワーク番号をつけていく。ここでは、１から始まる数字（自然数）でワーク番号をつけるとする。すると、図９に例示のように、各測定データにはクラスタ番号とワーク番号とが付与される。

ワーク番号を行番号とし、クラスタ番号を列番号として測定データをマトリックス状に並べると、図１０のように整理されたデータが得られる。もちろん、ワーク番号を列番号としてクラスタ番号を行番号として、つまり、測定データをマトリックス状に並べてもよい。

上記の例では測定データを上から３つずつ（測定数ずつ）に単純に区切ったが、ユーザが測定対象箇所を飛ばしてもよいことを考慮するには例えば次のようにするとよい。
図１１を参照されたい。
測定数は３に設定されているのであるから、測定データを格納する欄を３つずつに区切っておく。３つの欄で１ブロックとする。１つのブロックには一つ目のワークと同じように３種類の測定データが入るはずである。
（順不同でよい。）

測定データを順番に欄に格納していったときに、１つのブロックのなかに同じ分類のデータが出現したら、それは、測定対象箇所が飛ばされて測定対象が次のワークに移ったということである。
図１２を参照されたい。
いま、７番目の測定データ（１２．０６）がクラスタ番号１に分類され、８番目の測定データ（１０．０３）がクラスタ番号２に分類されたとする。そして、９番目の測定データ（１２．０７）が入ってきたとき、９番目の測定データがクラスタ番号１に分類されたとする。

もし、測定対象箇所を飛ばさずに測定したとしたら、単純に言って、９個目の測定データは３つ目のワークのどこかの測定データのはずである。しかしながら、３つ目のワーク用に用意されたブロックのなかにおいて、クラスタ番号１の測定データが重複してしまっている。（７番目の測定データ（１２．０６）と９番目の測定データ（１２．０７）とは完全に同じではないので、同じワークの同じ箇所を測定して得られたものでもない。）

この場合、９番目の測定データ（１２．０７）は、３つ目のワーク用に用意されたブロックではなく、次のブロックに送られて格納されるとする。
図１３を参照されたい。
９番目の測定データ（１２．０７）は、４つ目のワークの測定データであるとする。つまり、９番目の測定データ（１２．０７）は、ワーク番号が４でクラスタ番号が１である。図１３をマトリックス状に整理すると図１４のようになる。

ここで、付加的機能として、ユーザに測定漏れを注意する機能があってもよい。すなわち、１つのブロックのなかで予定しないクラスタ番号の重複が出現して、１つのブロックの欄がすべて埋められないまま測定データが次のワークのデータであると判定された場合、図１５に例示するような注意メッセージを出すようにしてもよい。（注意メッセージは音声や警告音であってもよい。）

ここでユーザに提供する選択メニューとしては、「戻る」と「無視」がある。
「戻る」が選択された場合は、測定データ処理装置２００は、先の測定データを１つ削除し、ユーザはワークを１つ戻って、飛ばした箇所を測定する。
なお、ユーザが意図的に測定対象箇所を間引きたい場合もあるので、その場合は、この注意メッセージを「無視」したり、以後の注意は不要としたりする選択肢も提供する。

ただ、３つ目のワークにおいて、例えば第１測定対象箇所（クラスタ番号１）を飛ばしたあと、４つ目のワークを測定するときに第１測定対象箇所（クラスタ番号１）から測定を開始してしまうと、測定データ処理装置２００はワークが移ったことをうまく認識できない。このような測定対象箇所の飛ばし方をする場合には、ユーザが手動でワークが次に移ったことを測定データ処理装置２００に伝える必要がある。なんらかのボタン、フットスイッチ、音声等、手段は種々考えられる。

このような構成を備える第１実施形態によれば、測定データがワーク番号とクラスタ番号で整理された測定データが自動的に得られる。ユーザとしては、最初に分類条件を設定しておくだけで、あとは、次々とワークを測定しながら測定データを転送（出力）するだけでよい。

（第２実施形態）
上記第１実施形態では、測定数と分類数とが同じ値の場合を説明した。
第２実施形態としては、測定数と分類数とが違う値の場合を説明する。
例えば、図１６に例示のように、コネクタ端子の幅と、胴部の幅と、ケーブルカバー部の幅と、を測定する。
ここで、コネクタ端子の幅を第１測定対象箇所とし、ケーブルカバー部の幅を第２測定対象箇所とする。さらに、胴部の幅を３箇所で測定して、第３測定対象箇所、第４測定対象箇所、第５測定対象箇所とする。コネクタ端子の幅（第１測定対象箇所）、ケーブルカバー部の幅（第２測定対象箇所）、胴部の幅（第３、第４、第５測定対象箇所）の寸法には設計上明らかな差がある。ただし、第３、第４、第５測定対象箇所は同じ胴部の幅であって、設計上は同じ測定値になるとする。

この場合の分類条件の設定としては、図１７に例示のように、１つのワークあたり５箇所を測定するので「測定数」は「５」である。
胴部の幅である第３、第４、第５測定対象箇所の測定値は同じクラスタ（分類）になることを考えると、「分類数」は「３」である。
第１実施形態と同様に、ユーザに対し、１つ目のワークについては測定対象箇所を飛ばさないですべて測定することをルールづけておく。
このようにして取得される５つの測定データをクラスタ分類部２６０で「３つ」のクラスタに分類し、測定データ整理部２７０により各測定データにクラスタ番号をつける。すると、図１８に例示のように、各測定データにクラスタ番号が付される。
ここでは、コネクタ部の幅（第１測定対象箇所）の測定値にクラスタ番号１、ケーブルカバー部の幅（第２測定対象箇所）の測定値にクラスタ番号３、胴部の幅（第３、４、５測定対象箇所）の測定値にクラスタ番号２が付されている。続けて２つ目のワークを測定すると、図１９に例示のように、２つ目のワークの測定値にもクラスタ番号が付される。（なお、測定対象箇所の測定順は問わない。）

ここで、図２０を参照されたい。
例えば、３つ目のワークの測定において、３つ目のワーク用に用意されたブロック中でクラスタ番号１の測定データが２つ出現した場合には、第１実施形態と同じように、重複したデータは次のワークのデータとして格納する。図２１を参照されたい。

なお、１つ目のワークについてはすべての測定対象箇所を測定していて、１つのワークあたり、クラスタ番号１の測定データは１つ、クラスタ番号２の測定データは３つ、クラスタ番号３の測定データは１つ、であることがすでに学習されている。したがって、１つのブロックにクラスタ番号１の測定データが２つ出現すれば、測定対象箇所を飛ばして次のワークに移ったことがわかる。同じく、１つのブロックにクラスタ番号３の測定データが２つ出現すれば、測定対象箇所を飛ばして次のワークに移ったことがわかる。そして、１つのブロックにクラスタ番号２の測定データが４つ出現すれば、測定対象箇所を飛ばして次のワークに移ったことがわかる。

ただ、３つ目のワークにおいて、第３、第４、第５測定対象箇所（クラスタ番号２）のうちの１つ（例えば第３測定対象箇所）を飛ばしたあと、４つ目のワークを測定するときに、第３、４、５測定対象箇所（クラスタ番号２）のうちの１つ（例えば第４測定対象箇所）から測定を開始してしまうと、本発明はワークが移ったことをうまく認識できない。このような測定対象箇所の飛ばし方をする場合には、ユーザが手動でワークが次に移ったことを測定データ処理装置２００に伝える必要がある。

このような構成を備える第２実施形態によれば、１つのワーク当たりの測定対象箇所の数とクラスタ（分類）の数とが違っていても、測定データがワーク番号とクラスタ番号で整理された測定データが自動的に得られる。ユーザとしては、最初に分類条件を設定しておくだけで、あとは、次々とワークを測定しながら測定データを転送（出力）するだけでよい。

（第３実施形態）
上記第１、第２実施形態では、分類条件（測定数、分類数）を最初に手動で設定するようにしたが、分類条件（測定数、分類数）を自動設定するようにしてもよい。図２２の例では、分類条件の設定は「自動」とし、測定数、分類数の入力欄はグレーアウトしている。

分類条件の設定が「自動」である場合、分類条件自動設定部２４０は次のようにして測定数および分類数を決定する。まず、ユーザに対し、第１、第２実施形態と同様に、１つ目のワークについては測定対象箇所を飛ばさないですべて測定するようにルールを決めておく。ユーザは、１つ目のワークを測定したら次のワークに移っていく。

分類条件自動設定部２４０は、測定データバッファ部２５０に入ってくる測定データをモニタしている。
このとき、測定データバッファ部２５０に新しく入力された測定データを既にバッファされている測定データに対比する。
図２３を参照されたい。
いま、新しく入力された測定データと、既にバッファされているいずれかの測定データとの差が予め設定された値以下になったとする。図２３でいうと、４つ目の測定データが１つ目の測定データと近似した値である。このとき、分類条件自動設定部２４０は、測定データバッファ部２５０に記憶されている測定データの数（ここでは４）より１つ少ない値（ここでは３）を測定数および分類数として設定する。このように測定数と分類数が決まったら、あとの動作は第１実施形態と同じである。

近似値と判断するための「予め設定された値」というのはもちろん任意の値に設定されればよい。例えば、デフォルト値として０．１ｍｍ以内のように設定しておいて、あとは、ユーザが設定変更できるようにしておいてもよい。

分類条件の自動設定は、第１実施形態のように測定数と分類数とが同じである場合には有効であるが、第２実施形態のように測定数と分類数とが違う値のときにはうまくできない。第２実施形態のように測定数と分類数とが違う値のときは手動設定することになる。

なお、本発明は上記実施の形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。
上記実施形態の説明では、測定データ処理装置に新たな測定データが入力されたらリアルタイムにクラスタ分類部が測定データをクラスタ分析して、測定データ整理部により測定データがワーク番号とクラスタ番号で整理された測定データが得られるものとした。
もちろん、測定データ処理装置は測定データを測定データバッファ部に順番に格納しておいて、最後にユーザの指示に応じてクラスタ分析およびデータ整理を実行するようにしてもよい。

ＣＰＵやメモリを配置してコンピュータとして機能できるように構成し、このメモリに所定の測定データ処理プログラムをインストールし、このインストールされたプログラムでＣＰＵ等を動作させて、上記実施形態で説明した各機能部としての機能を実現してもよい。測定データ処理プログラムの配布方法としては、不揮発性記録媒体（ＣＤ－ＲＯＭ、メモリカード等）に記録して配布してもよいし、インターネット回線等を介してダウンロードさせるようにしてもよい。

測定データ処理装置 ２００
分類条件設定記憶部 ２１０
測定箇所数記憶部 ２２０
クラスタ数記憶部 ２３０
分類条件自動設定部 ２４０
測定データバッファ部 ２５０
クラスタ分類部 ２６０
測定データ整理部 ２７０
入出力制御部 ２８０
中央制御部 ２９０

Claims (9)

1. 複数の同種のワークに対して予め決められた複数の測定対象箇所を測定して得られる測定データを自動分類する測定データ処理装置であって、
   1つのワークあたりの測定対象箇所の個数を測定箇所数として設定記憶する測定箇所数記憶部と、
   1つのワークあたりの測定データの分類の数をクラスタ数として設定記憶するクラスタ数記憶部と、
   測定器から転送されてくる測定データを一時記憶する測定データバッファ部と、
   前記測定データバッファ部に記憶された測定データを前記測定箇所数と前記クラスタ数とに基づいてクラスタ分析して、測定データをクラスタに分類するクラスタ分類部と、を備え、
   一つ目のワークについては予め決められた測定対象箇所のすべてを一回ずつ測定するようにルールが決められていて、
   前記クラスタ分類部は、前記予め決められた測定対象箇所のすべてが測定された前記ワークについて得られた測定データを前記測定箇所数と前記クラスタ数とに基づいてクラスタ分析して、前記測定データをクラスタに分類し、
   前記クラスタ分類部は、前記測定データバッファ部に新しく入ってきた測定データに対し、当該新しい測定データがどのクラスタの重心に近いかを判断して、当該新しい測定データをクラスタに割り振る
   ことを特徴とする測定データ処理装置。
2. 複数の同種のワークに対して予め決められた複数の測定対象箇所を測定して得られる測定データを自動分類する測定データ処理装置であって、
   1つのワークあたりの測定対象箇所の個数を測定箇所数として設定記憶する測定箇所数記憶部と、
   1つのワークあたりの測定データの分類の数をクラスタ数として設定記憶するクラスタ数記憶部と、
   測定器から転送されてくる測定データを一時記憶する測定データバッファ部と、
   前記測定データバッファ部に記憶された測定データを前記測定箇所数と前記クラスタ数とに基づいてクラスタ分析して、測定データをクラスタに分類するクラスタ分類部と、
   測定箇所数と分類数とを自動で設定する自動設定部と、を備え、
   一つ目のワークについては予め決められた測定対象箇所のすべてを一回ずつ測定するようにルールが決められていて、
   前記自動設定部は、前記測定データバッファ部に新しく入力された測定データを既にバッファされている測定データに対比して、
   前記新しく入力された測定データと、既にバッファされているいずれかの測定データとの差が予め設定された値以下になったとき、
   前記測定データバッファ部に記憶されている測定データの数より1つ少ない値を測定箇所数およびクラスタ分類数として設定する
   ことを特徴とする測定データ処理装置。
3. 請求項1または請求項2に記載の測定データ処理装置において、
   前記クラスタ分類部は、クラスタに新しいデータが追加されたら、その新しいデータが追加されたクラスタの重心値を更新する
   ことを特徴とする測定データ処理装置。
4. 請求項1から請求項3のいずれかに記載の測定データ処理装置において、
   さらに、前記測定データバッファ部に記憶された測定データを整理する測定データ整理部を備え、
   前記測定データ整理部は、前記クラスタ分類部でのクラスタ分類に基づいて、前記測定データバッファ部に記憶された測定データをワークごとに仕分けする
   ことを特徴とする測定データ処理装置。
5. 請求項4に記載の測定データ処理装置において、
   前記測定データ整理部は、
   前記測定データバッファ部に記憶された測定データをワークごとに仕分けするためのブロックを用意し、
   一つの前記ブロックは、前記測定箇所数に対応する数の欄を有し、前記欄にワークごとに仕分けされた測定データが格納され、
   前記測定データ整理部は、前記クラスタ分析で学習されたクラスタごとの測定データの数をクラスタごとの測定データ数として、前記クラスタ分類部によって新しい測定データが割り振られたクラスタの測定データの数が前記クラスタごとの測定データ数を超えたとき、測定対象が次のワークに移ったと判断して、当該新しい測定データを次のブロックに格納する
   ことを特徴とする測定データ処理装置。
6. 請求項4または請求項5に記載の測定データ処理装置において、
   前記測定データ整理部は、測定データごとにワーク番号とクラスタ番号とを付与し、
   前記ワーク番号を行番号または列番号とし、
   前記クラスタ番号を列番号または行番号として、
   測定データをマトリックス状に配列する
   ことを特徴とする測定データ処理装置。
7. 請求項1から請求項6のいずれかに記載の測定データ処理装置において、
   ユーザに測定箇所数およびクラスタ分類数の少なくとも一方を入力させるユーザーインターフェースを提供する
   ことを特徴とする測定データ処理装置。
8. 複数の同種のワークに対して予め決められた複数の測定対象箇所を測定して得られる測定データを自動分類する測定データ処理装置にコンピュータを組み込んで、
   このコンピュータを、
   1つのワークあたりの測定対象箇所の個数を測定箇所数として設定記憶する測定箇所数記憶部と、
   1つのワークあたりの測定データの分類の数をクラスタ数として設定記憶するクラスタ数記憶部と、
   測定器から転送されてくる測定データを一時記憶する測定データバッファ部と、
   前記測定データバッファ部に記憶された測定データを前記測定箇所数と前記クラスタ数とに基づいてクラスタ分析して、測定データをクラスタに分類するクラスタ分類部と、して機能させる測定データ処理プログラムであって、
   一つ目のワークについては予め決められた測定対象箇所のすべてを一回ずつ測定するようにルールが決められていて、
   前記クラスタ分類部は、前記予め決められた測定対象箇所のすべてが測定された前記ワークについて得られた測定データを前記測定箇所数と前記クラスタ数とに基づいてクラスタ分析して、前記測定データをクラスタに分類し、
   前記クラスタ分類部は、前記測定データバッファ部に新しく入ってきた測定データに対し、当該新しい測定データがどのクラスタの重心に近いかを判断して、当該新しい測定データをクラスタに割り振る
   ことを特徴とする測定データ処理プログラム。
9. 複数の同種のワークに対して予め決められた複数の測定対象箇所を測定して得られる測定データを自動分類する測定データ処理装置にコンピュータを組み込んで、
   このコンピュータを、
   1つのワークあたりの測定対象箇所の個数を測定箇所数として設定記憶する測定箇所数記憶部と、
   1つのワークあたりの測定データの分類の数をクラスタ数として設定記憶するクラスタ数記憶部と、
   測定器から転送されてくる測定データを一時記憶する測定データバッファ部と、
   前記測定データバッファ部に記憶された測定データを前記測定箇所数と前記クラスタ数とに基づいてクラスタ分析して、測定データをクラスタに分類するクラスタ分類部と、
   測定箇所数と分類数とを自動で設定する自動設定部と、して機能させる測定データ処理プログラムであって、
   一つ目のワークについては予め決められた測定対象箇所のすべてを一回ずつ測定するようにルールが決められていて、
   前記自動設定部は、前記測定データバッファ部に新しく入力された測定データを既にバッファされている測定データに対比して、
   前記新しく入力された測定データと、既にバッファされているいずれかの測定データとの差が予め設定された値以下になったとき、
   前記測定データバッファ部に記憶されている測定データの数より1つ少ない値を測定箇所数およびクラスタ分類数として設定する
   ことを特徴とする測定データ処理プログラム。

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