JP7500135B2 - 容器検査システム - Google Patents

Description

本発明は、例えば金型によって製造されたガラスびんやペットボトルなどの容器に発生する欠点を検査するシステムに関する。

従来、例えば、複数の金型で製造されたガラスびんやペットボトルなどの円筒状の容器について、容器に表された金型の型番を示す文字を読み取るとともに、この読み取った型番と検査装置による各容器の項目ごとの検査結果とを金型ごとに集計する容器検査システムが開示されている（特許文献１を参照）。

特許第５７９６０８９号公報

しかしながら、上記特許文献１には、複数の金型の各型番及び欠陥の種類を表す各項目ごとの組み合わせであり、その組み合わせに係る欠陥の発生数の累計値を保存することは記載されているが、この情報に基づく欠陥の発生状況の情報をシステム利用者に対してどのように出力するのかは言及されていない。

そこで、本発明は、このような従来の技術の有する未解決の課題に着目してなされたものであって、対処すべき欠点の発生状況を把握するのに好適な情報を出力することのできる容器検査システム及び管理用サーバを提供することを目的としている。

〔発明１〕 上記目的を達成するために、発明１の容器検査システムは、容器表面に表された該容器の製造に用いられた成形用の型を識別するための識別情報を読み取る識別情報読取手段と、前記型で製造された複数の前記容器に発生する可能性のある複数種類の欠点について、各前記容器の前記欠点の種類ごとの前記欠点を検査する欠点検査手段と、前記欠点検査手段の検査結果の情報及び前記識別情報読取手段で読み取った前記識別情報に基づいて、前記欠点の種類ごと且つ前記識別情報ごとに、当該欠点の種類の情報及び前記識別情報と対応付けて前記検査結果を示す欠点検査情報を収集する欠点検査情報収集手段と、前記欠点検査情報収集手段で収集した前記欠点検査情報に基づいて、前記欠点の種類ごとに該欠点の統計量を算出する欠点統計量算出手段と、前記容器又は前記型に応じて、前記容器に発生する可能性のある前記複数種類の欠点のうち注目すべき種類の欠点に対して属性情報を付与する属性情報付与手段と、前記属性情報付与手段で前記属性情報が付与された前記欠点について、前記欠点統計量算出手段で算出された前記統計量の情報である第１の欠点情報を前記欠点の種類ごとに出力する欠点情報出力手段と、を備える。

このような構成であれば、識別情報読取手段によって、容器表面に表された該容器の製造に用いられた型の識別情報が読み取られ、欠点検査手段により、前記型で製造された複数の容器に発生する可能性のある欠点が欠点の種類ごとに検査される。加えて、欠点検査情報収集手段により、読み取られた識別情報と欠点の検査結果の情報とに基づいて、欠点の種類ごと且つ型の識別情報ごとに、当該欠点の種類の情報及び当該型の識別情報と対応付けて欠点検査情報が収集される。さらに、欠点統計量算出手段により、収集された欠点検査情報に基づいて、欠点の種類ごとに該欠点の統計量が算出され、属性情報付与手段により、容器又は型に応じて、発生する可能性のある注目すべき種類の欠点に対して属性情報が付与される。なおさらに、欠点情報出力手段により、属性情報付与手段で属性情報の付与された欠点について、欠点統計量算出手段で算出された統計量の情報である第１の欠点情報が欠点の種類ごと且つ型の識別情報ごとに出力される。

ここで、本システムは、単一の装置、端末その他の機器として実現するようにしてもよいし、複数の装置、端末その他の機器を通信可能に接続したネットワークシステムとして実現するようにしてもよい。後者の場合、各構成要素は、それぞれ通信可能に接続されていれば、複数の機器等のうちいずれに属していてもよい。

また、上記型の材質は任意の材質でよく、例えばブロー成形を用いて容器を成形する場合は一般に金型が用いられるが、例えば真空成形を用いて容器を成形する場合は、石膏、木材、熱硬化性プラスチックなど、金属以外の加工しやすい材料で作った型を用いることができる。

また、上記識別情報は、型を識別可能な情報であり、例えば型番を示す文字、数字、凹凸形状などが該当するが、これに加えて、例えば複数の型を用いて並列に容器を製造することが可能な製造機における型の配置位置を示す文字、数字、凹凸形状等の情報を含んでいてもよい。

また、上記統計量は、例えば、検出回数、順位、差分、分散、標準誤差、標準偏差、偏差値、平均値、中央値、最頻値、尖度、歪度その他の統計量が含まれる。
また、上記属性情報は、例えば、重大な欠点を示す属性や、他の欠点と同時に検出されると重大となる欠点を示す属性などが該当する。

また、出力とは、システムの構成に応じて、例えば、ファイルへの出力、画面表示による出力、送信出力、印刷出力などが該当する。
〔発明２〕 さらに、発明２の容器検査システムは、発明１の容器検査システムにおいて、前記欠点情報出力手段は、前記第１の欠点情報と、前記欠点検査手段で検査された全ての欠点についての前記欠点統計量算出手段で算出された前記統計量の情報である第２の欠点情報とを対比的に出力する。

このような構成であれば、欠点情報出力手段によって、注目すべき欠点についての第１の欠点情報と、検査された全ての欠点についての統計量の情報である第２の欠点情報とが対比的に出力される。
〔発明３〕 さらに、発明３の容器検査システムは、発明１又は２の容器検査システムにおいて、前記欠点検査情報収集手段は、収集開始時刻から一定時間が経過するごとに、該一定時間が経過する間に前記欠点検査手段で行われた検査の前記欠点検査情報を前記欠点の種類ごと且つ前記識別情報ごとに集計し、前記欠点の種類ごと且つ前記型の識別情報ごとに、当該欠点の種類の情報及び当該型の識別情報と収集時刻の情報と該収集時刻に対応する前記一定時間の前記欠点検査情報の集計結果の情報とを対応付けた欠点集計情報を欠点集計情報記憶手段に登録する欠点集計情報登録手段とを備え、前記欠点統計量算出手段は、前記欠点集計情報記憶手段に記憶された前記一定時間ごとの前記欠点集計情報に基づいて、それぞれ異なる長さの複数種類の期間に集計された前記欠点集計情報にそれぞれ対応する前記統計量を算出し、前記欠点情報出力手段は、前記欠点統計量算出手段で算出された、それぞれ異なる長さの複数種類の期間に対応する前記統計量の情報を前記欠点情報として出力する。

このような構成であれば、欠点検出情報収集手段により、収集開始時刻から一定時間が経過するごとに、該一定時間が経過する間に前記欠点検査手段で行われた検査の前記欠点検査情報が前記欠点の種類ごと且つ前記識別情報ごとに収集される。加えて、欠点集計情報登録手段により、欠点の種類ごと且つ型の識別情報ごとに、当該欠点の種類の情報及び当該型の識別情報と収集時刻の情報と該収集時刻に対応する一定時間の欠点検査情報の集計結果の情報とを対応付けた欠点集計情報が欠点集計情報記憶手段に登録される。さらに、欠点統計量算出手段により、欠点集計情報記憶手段に記憶された一定時間ごとの欠点集計情報に基づいて、それぞれ異なる長さの複数種類の期間に集計された前記欠点集計情報にそれぞれ対応する統計量が算出される。なおさらに、欠点情報出力手段により、前記欠点統計量算出手段で算出された、それぞれ異なる長さの複数種類の期間に対応する前記統計量の情報が前記欠点情報として出力される。

〔発明４〕 さらに、発明４の容器検査システムは、発明１又は２の容器検査システムにおいて、前記欠点検査手段で検査を行った容器の数である欠点検査数を前記型の識別情報ごとに集計する欠点検査数集計手段を備え、前記欠点検査情報収集手段は、欠点検査手段で検査された全ての欠点について、前記識別情報ごと且つ前記欠点の種類ごとに前記欠点の検出数を集計し、前記欠点統計量算出手段は、前記欠点検査手段で検査された全ての欠点について、前記欠点検査数集計手段で集計された前記欠点検査数の情報と、前記欠点検査情報収集手段で集計された前記欠点の検出数の情報とに基づいて、前記識別情報ごと且つ前記欠点の種類ごとに前記欠点の検出率を算出し、前記欠点情報出力手段は、前記欠点統計量算出手段で算出した前記検出率の情報である第３の欠点情報を出力する。

このような構成であれば、欠点検査数集計手段により、欠点検査手段で検査を行った容器の数である欠点検査数が型の識別情報ごとに集計される。加えて、欠点検査情報収集手段により、欠点検査手段で検査された全ての欠点について、識別情報ごと且つ欠点の種類ごとの検出数が算出される。さらに、欠点統計量算出手段により、欠点検査数集計手段で集計された欠点検査数の情報と、欠点検査情報収集手段で集計された欠点の検出数の情報とに基づいて、識別情報ごと且つ欠点の種類ごとに欠点の検出率が算出される。さらに、欠点情報出力手段により、欠点統計量算出手段で算出した検出率の情報である第３の欠点情報が出力される。

〔発明５〕 さらに、発明５の容器検査システムは、発明４の容器検査システムにおいて、前記欠点検査数集計手段は、収集開始時刻から一定時間が経過するごとに、該一定時間が経過する間に前記欠点検査手段で検査を行った容器の数である欠点検査数を前記型の識別情報ごとに集計するように構成され、前記欠点検査情報収集手段は、収集開始時刻から一定時間が経過するごとに、該一定時間が経過するまでの間に前記欠点検査手段で行われた検査の検査結果に基づいて、前記型の識別情報ごと且つ前記欠点の種類ごとに前記一定時間の間の前記欠点の検出数を集計するように構成され、前記型の識別情報ごとに、当該識別情報と収集時刻の情報と該収集時刻に対応する前記一定時間の前記欠点検査数の集計結果の情報とを対応付けた欠点検査数情報を欠点検査数情報記憶手段に登録する欠点検査数情報登録手段と、前記欠点の種類ごと且つ前記型の識別情報ごとに、当該欠点の種類の情報及び当該型の識別情報と収集時刻の情報と該収集時刻に対応する前記一定時間の前記欠点の検出数の情報とを対応付けた欠点検出数情報を欠点検出数情報記憶手段に登録する欠点検出数情報登録手段と、を備える。そして、前記欠点統計量算出手段は、前記欠点検査数情報記憶手段に記憶された前記一定時間ごとの前記欠点検査数情報と、前記欠点検出数情報記憶手段に記憶された前記一定時間ごとの前記欠点検出数情報とに基づいて、それぞれ異なる長さの複数種類の期間に収集された前記欠点検出数情報及び前記欠点検査数情報に対応する前記欠点の検出率を算出し、前記欠点情報出力手段は、前記欠点検査手段で検査された全ての欠点について、前記欠点統計量算出手段で算出された、それぞれ異なる長さの複数種類の期間に対応する前記検出率の情報を、前記第３の欠点情報として出力する。

このような構成であれば、欠点検査数集計手段により、収集開始時刻から一定時間が経過するごとに、該一定時間が経過する間に前記欠点検査手段で検査を行った容器の数である欠点検査数が集計される。加えて、欠点検査情報収集手段により、収集開始時刻から一定時間が経過するごとに、該一定時間が経過するまでの間に前記欠点検査手段で行われた検査の検査結果に基づいて、型の識別情報ごと且つ欠点の種類ごとに一定時間の間の欠点の検出数が集計される。さらに、欠点検査数情報登録手段により、型の識別情報ごとに、当該識別情報と収集時刻の情報と該収集時刻に対応する一定時間の欠点検査数の集計結果の情報とを対応付けた欠点検査数情報が欠点検査数情報記憶手段に登録される。なおさらに、欠点検出数情報登録手段により、欠点の種類ごと且つ型の識別情報ごとに、当該欠点の種類の情報及び当該型の識別情報と収集時刻の情報と該収集時刻に対応する一定時間の欠点検出数の集計結果の情報とを対応付けた欠点検出数情報が欠点検出数情報記憶手段に登録される。さらにまた、欠点統計量算出手段により、欠点検査数情報記憶手段に記憶された一定時間ごとの欠点検査数情報と、欠点検出数情報記憶手段に記憶された一定時間ごとの欠点検出数情報とに基づいて、それぞれ異なる長さの複数種類の期間に集計された欠点検査数情報及び欠点検出数情報に対応する欠点の検出率が算出される。そして、欠点情報出力手段により、前記欠点統計量算出手段で算出された、それぞれ異なる長さの複数種類の期間に対応する検出率の情報が、第３の欠点情報として出力される。

〔発明６〕 さらに、発明６の容器検査システムは、発明１乃至５のいずれか１の容器検査システムにおいて、前記欠点情報出力手段は、前記欠点情報を所定規則で並べて出力する。
このような構成であれば、欠点情報出力手段により、欠点情報が所定規則で並べて出力される。

ここで、所定規則とは、例えば、欠点の統計量を降順に所定順位（例えば１位～１０位）まで並べて出力（例えば、表示出力）したり、昇順に所定順位（例えば１位～１０位）まで並べて出力したりすることが該当する。
〔発明７〕 さらに、発明７の容器検査システムは、発明１乃至６のいずれか１の容器検査システムにおいて、前記属性情報付与手段は、重大な欠点である重大欠点を示す属性情報を付与可能に構成されている。

このような構成であれば、属性情報付与手段により、重大欠点を示す属性情報が付与可能となる。
〔発明８〕 さらに、発明８の容器検査システムは、発明１乃至７のいずれか１の容器検査システムにおいて、過去に製造した前記容器又は前記型に対応する前記注目すべき欠点に対して付与された前記属性情報の履歴情報を属性履歴情報記憶手段に登録する属性履歴情報登録手段を備え、前記属性情報付与手段は、前記属性履歴情報記憶手段に記憶された前記履歴情報を参照して前記属性情報の付与を行うことが可能に構成されている。

このような構成であれば、属性履歴情報登録手段により、過去に製造した容器又は型に対応する注目すべき欠点に対して付与された属性情報の履歴情報が属性履歴情報記憶手段に登録される。加えて、属性情報付与手段により、属性履歴情報記憶手段に記憶された履歴情報を参照して属性情報の付与を行うことが可能となる。

〔発明９〕 さらに、発明９の容器検査システムは、発明１乃至８のいずれか１の容器検査システムにおいて、前記欠点が検出された前記容器について、該容器に表された前記識別情報に対応する型で製造された前記容器を選択的に全数排除する容器全数排除手段を備え、前記欠点情報出力手段は、前記容器全数排除手段で前記全数排除が行われる前記型の識別情報を含む第４の欠点情報を出力する。

このような構成であれば、例えば、型が起因の欠点が見つかったときや、欠点検査手段で検出できず目視検査で欠点が検出されたときに、容器全数排除手段により全数排除が行われると、欠点情報出力手段により、全数排除の対象となった型の識別情報を含む第４の欠点情報が出力される。

〔発明１０〕 また、上記目的を達成するために、発明１０の管理用サーバは、発明１に記載の容器検査システムを管理する管理用サーバであって、前記欠点検査手段の検査結果の情報及び前記識別情報読取手段で読み取った前記識別情報に基づいて、前記欠点の種類ごと且つ前記識別情報ごとに、当該欠点の種類の情報及び前記識別情報と対応付けて前記検査結果を示す欠点検査情報を収集する欠点検査情報収集手段と、前記欠点検査情報収集手段で収集した前記欠点検査情報に基づいて、前記欠点の種類ごとに該欠点の統計量を算出する欠点統計量算出手段と、前記容器に発生する可能性のある前記複数種類の欠点のうち注目すべき種類の欠点に対して、前記容器又は前記型に応じた属性情報を付与する属性情報付与手段と、前記欠点統計量算出手段で算出された前記統計量の情報及び前記属性情報付与手段で付与された前記属性情報に基づいて、前記属性情報の付与された前記欠点の前記統計量の情報である第１の欠点情報を前記欠点の種類ごとに出力する欠点情報出力手段と、を備える。

このような構成であれば、欠点検査情報収集手段により、読み取られた識別情報と欠点の検査結果の情報とに基づいて、欠点の種類ごと且つ型の識別情報ごとに、当該欠点の種類の情報及び当該型の識別情報と対応付けて欠点検査情報が収集される。加えて、欠点統計量算出手段により、収集された欠点検査情報に基づいて、欠点の種類ごとに該欠点の統計量が算出され、属性情報付与手段により、容器又は型に応じて、発生する可能性のある注目すべき種類の欠点に対して属性情報が付与される。さらに、欠点情報出力手段により、欠点統計量算出手段で算出された統計量の情報及び属性情報付与手段で付与された属性情報に基づいて、属性情報の付与された欠点の統計量の情報である第１の欠点情報が欠点の種類ごとに出力される。

〔発明１１〕 また、上記目的を達成するために、発明１１の容器検査システムは、容器表面に表された該容器の製造に用いられた成形用の型又は前記容器に応じて、前記容器に発生する可能性のある複数種類の欠点のうち注目すべき種類の欠点に対して属性情報を付与する属性情報付与手段と、前記属性情報付与手段で前記属性情報が付与された前記欠点について、前記欠点の種類ごとに第１の欠点情報を出力する欠点情報出力手段と、を備え、前記第１の欠点情報は、欠点検査情報に基づいて算出される、前記欠点の種類ごとに該欠点の統計量の情報であり、前記欠点検査情報は、前記型で製造された複数の前記容器に発生する可能性のある複数種類の欠点について各前記容器の前記欠点の種類ごとの前記欠点を検査した検査結果の情報、及び、当該型を識別するための識別情報に基づいて、前記欠点の種類ごと且つ前記識別情報ごとに収集される情報であって、当該欠点の種類の情報及び前記識別情報と対応付けて前記検査結果を示す情報である。

このような構成であれば、属性情報付与手段により、容器表面に表された該容器の製造に用いられた成形用の型又は容器に応じて、容器に発生する可能性のある複数種類の欠点のうち注目すべき種類の欠点に対して属性情報が付与される。加えて、欠点情報出力手段により、属性情報付与手段で属性情報が付与された欠点について、欠点検査情報に基づいて算出される、前記欠点の種類ごとの該欠点の統計量の情報である第１の欠点情報が出力される。即ち、本構成は、識別情報に対応付けられた欠点検査情報を、型番読取手段や欠点検査手段などから得るだけではなく、例えば、データベースに登録された欠点検査情報を取得し、この取得した欠点検査情報に基づいて統計量を算出する構成等も含むものである。

以上説明したように、発明１の容器検査システムによれば、属性情報の付与された注目すべき欠点についての欠点の種類ごとの統計量の情報である第１の欠点情報を出力するようにした。これにより、第１の欠点情報を確認することで、対処すべき種類の欠点の発生状況を容易に把握することができる。

さらに、発明２の容器検査システムによれば、第１の欠点情報と対比させて、検査された全ての欠点についての欠点の種類ごとの統計量の情報である第２の欠点情報を出力するようにした。これにより、注目すべき欠点だけの統計量では把握できない他の欠点が要因の型の不良等を把握することができる。

さらに、発明３の容器検査システムによれば、それぞれ異なる長さの複数種類の期間に算出された欠点統計量情報に対応する第１の欠点情報及び第２の欠点情報を出力できるようにしたので、複数の期間の欠点情報を対比検討することで、例えば期間の長さによっては見逃してしまう欠点の統計量の特異な変化等を把握することが可能となる。

さらに、発明４の容器検査システムによれば、欠点の種類ごとの検出率の情報である第３の欠点情報を出力するようにしたので、欠点の検出率から対処すべき欠点の発生状況を把握することができる。
さらに、発明５の容器検査システムによれば、それぞれ異なる長さの複数種類の期間に収集された情報に基づいて算出された欠点の検出率に対応する第３の欠点情報を出力できるようにしたので、複数の期間の欠点の検出率を対比検討することで、例えば期間の長さによっては見逃してしまう欠点の検出率の特異な変化等を把握することが可能となる。

さらに、発明６の容器検査システムによれば、欠点情報を、例えば降順で表示することで、例えば、検出数の多い順に欠点及び重大欠点の種類を把握したり、検出率の高い順に欠点及び重大欠点の種類を把握したりすることができる。これにより、対処すべき欠点をより把握し易くすることができる。

さらに、発明７の容器検査システムによれば、例えば、１つでも見つかると重大な欠点に対して重大欠点を示す属性情報を付与可能としたので、優先して対処すべき種類の欠点の発生状況をより容易に把握することができる。
さらに、発明８の容器検査システムによれば、同種の容器や類似する容器に対して、過去に設定した属性情報を転用又は参照して属性情報を付与することができるので、属性情報の付与作業を軽減することができる。

さらに、発明９の容器検査システムによれば、例えば、金型起因の欠点や欠点検査手段を掻い潜る欠点などのやっかいな欠点を有する容器を製造した金型の情報及び欠点の種類の情報を把握することができるので、かかる欠点について対処することができる。
さらに、発明１０の管理用サーバによれば、発明１と同等の効果を得ることができる。

さらに、発明１１の容器検査システムによれば、発明１と同等の効果を得ることができる。

本実施の形態に係る容器検査システム１を適用するびん生産工場の一例を示すブロック図である。 本実施の形態に係るびんの標準検査ラインの一例を示す図である。 本実施の形態に係る容器検査システム１の一構成例を示すブロック図である。 管理用サーバ１００のハードウェア構成の一例を示す図である。 ＣＩＤ設定データ履歴（製品情報／型番設定etc）テーブル４００と、ＣＩＤ定時データ履歴（認識本数／排除本数etc）テーブル４１０及びＣＩＤ定時データ履歴（認識本数／排除本数etc）＿３０分ワークテーブル４１０＿１のデータ構造を示す図である。 ＣＩＤ定時データ履歴（欠点情報）テーブル４２０、ＣＩＤ定時データ履歴（欠点情報）_３０分ワークテーブル４２０＿１、ＣＩＤ定時データ履歴（ピックアップ情報）テーブル４３０及びＣＩＤ定時データ履歴（ピックアップ情報）_３０分ワークテーブル４３０＿１のデータ構造を示す図である。 ＣＩＤピックアップ設定履歴テーブル４４０、ＣＩＤ設定データ履歴（ピックアップコード設定）テーブル４５０、ＣＩＤ型番変更履歴テーブル４６０及びＣＩＤ型番割データ履歴テーブル４７０のデータ構造を示す図である。 ＣＩＤ設定データ履歴（警報設定）テーブル４８０、ＣＩＤ定時データ履歴（警報情報）テーブル４９０、びん質量データ履歴テーブル５００及びＣＳ定時データ履歴（ライン別歩留り）テーブル５１０のデータ構造を示す図である。 ＣＩＤ（１）初期画面表示処理を示すフローチャートである。 ＣＩＤ（２）初期設定画面表示処理を示すフローチャートである。 欠点集計情報表示処理の処理手順の一例を示すフローチャートである。 表示条件設定処理及び経時変化画面表示処理の処理手順の一例を示すフローチャートである。 ピックアップコード設定処理の処理手順の一例を示すフローチャートである。 過去データ設定処理の処理手順の一例を示すフローチャートである。 ピックアップコードセッティングデータ登録処理の処理手順の一例を示すフローチャートである。 欠点のワースト５の一覧の表示情報と重大欠点のワースト５の一覧の表示情報とを含む表示画面の初期画面の一例を示す図である。 表示条件設定画面の一例を示す図である。 品質モニタリング警報一覧画面の一例を示す図である。 （ａ）は、仕上型用のカレントモールド画面の一例を示す図であり、（ｂ）は、口型用のカレントモールド画面の一例を示す図である。 ピックアップコードセッティング画面の一例を示す図である。 リジェクトセッティング画面の一例を示す図である。 （ａ）は、過去データ画面の一例を示す図であり、（ｂ）は、製品名設定画面６０７の一例を示す図である。 グラフ種類としてピックアップが選択されている場合の、ピックアップ別検出率の経時変化のグラフ画面の一例を示す図である。 びん質量の経時変化を示す壜質量推移画面７０１の一例を示す図である。 ライン別の歩留りの推移を示すライン別歩留り推移画面７０２の一例を示す図である。 モールドリード（型番読取り）の集計結果を示すモールドリード画面７０３の一例を示す図である。

次に、図面を参照して、本発明の実施の形態を説明する。以下の図面の記載において、同一又は類似の部分には同一又は類似の符号を付している。但し、図面は模式的なものであり、部材ないし部分の縦横の寸法や縮尺は実際のものとは異なることに留意すべきである。従って、具体的な寸法や縮尺は以下の説明を参酌して判断すべきものである。また、図面相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれていることはもちろんである。

また、以下に示す実施の形態は、本発明の技術的思想を具体化するための装置や方法を例示するものであって、本発明の技術的思想は、構成部品の材質、形状、構造、配置等を下記のものに特定するものではない。本発明の技術的思想は、特許請求の範囲に記載された請求項が規定する技術的範囲内において、種々の変更を加えることができる。

〔構成〕
図１乃至図２６は、本実施の形態を示す図である。
まず、本実施の形態の構成を説明する。
以下、容器としてガラス製のびんを生産する場合を例に挙げて説明する。
図１は、本実施の形態に係る容器検査システム１を適用するびん生産工場の一例を示すブロック図である。また、図２は、本実施の形態に係るびんの標準検査ラインの一例を示す図であり、図３は、本実施の形態に係る容器検査システム１の一構成例を示すブロック図である。

最初に、本実施の形態に係る容器検査システム１を適用するびん生産工場３００におけるびんの製造工程について説明する。
このびん生産工場３００では、図１に示すように、まず、ガラスの原料をガラス溶解窯３０１にて１４００［℃］程度の熱で溶解し、この溶解したガラス原料をフォアハース３０２にて温度調整（例えば１１５０［℃］に調整）する。この温度調整されたガラス溶融体は、シヤブレード３２１によって順次びん一本分のゴブ３２２にカットされる。このゴブ３２２は製びん機３０３の各金型３３１に供給される。

ここで、本実施の形態の製びん機３０３は、図１に示すように、セクション１～１２及びセクションごとのキャビティＡ～Ｄで区分けされた製びん位置にそれぞれ金型３３１を配置可能に構成されており、最大で「１２（セクション）×４（キャビティ）＝４８」個の金型３３１を用いて並列にびんの製造を行うことが可能となっている。

各金型３３１は、モールド金型であって、製造するびんの種類ごとに異なる形状に形成されており、びん口を成形する口型及び大まかな形を作る粗型から構成される第１の金型と、びんを最終の形に仕上げる底型及び仕上型から構成されるびん形状をした第２の金型とを有している。製びん機３０３は、供給されたゴブ３２２を第１の金型にてパリソンと呼ばれるびんの原形に成形し、このパリソンを第２の金型に移して、第２の金型にて高圧空気でびん形状に膨らませることでびん成形体ＨＢ（Hot Bottle）を成形する。

本実施の形態では、底型又は仕上型によって、各びん成形体ＨＢの表面（例えば底部や裾部の表面）には、その製造に用いられた金型の識別情報である型番を示す凹凸形状（以下、「ＣＩＤ（Cavity Identification Device）マーク」と称す）が形成される。このＣＩＤマークは、金型ごとに異なる形状に形成されており、型番読取装置１５０（図３を参照）にてＣＩＤマークを読み取り、読み取ったＣＩＤマークの情報を解析することで金型ごとに固有の型番を得るようにしている。なお、底部に型番を示す凹凸形状を設ける構成に限らず、この底部の凹凸形状に加えて、又はこれとは別にびんの裾部分に数字による型番を設ける構成としてもよい。

本実施の形態において、びんを製造する金型を識別する情報（以下、「型番情報」と称す）としては、金型の型番の情報に加えて、金型の配置位置を示すセクション番号（１～１２）及びキャビティ種別（Ａ～Ｄ）の情報がある。例えば、型番２１の金型がセクション１のキャビティＢに配置されている場合、後述するカレントモールド画面にて、これらの関係が管理用サーバ１００のデータベースに登録される。そして、型番２１の金型で製造されたびんの表面には「２１」が型番として得られるように構成されたＣＩＤマークが形成される。型番を示すＣＩＤマークは、びん１本１本に形成され、びんに形成されたＣＩＤマークの示す型番から、そのびんが、どの場所（セクション及びキャビティ）の、どの金型から製造されたかが解るようになっている。

金型３３１によって成形された高温状態のびん成形体ＨＢは、搬送路３０８に沿って徐冷窯３０４へと搬送され、徐冷窯３０４にてゆっくりと時間をかけて冷却される。
また、本実施の形態では、製造された複数のびん成形体ＨＢの一部が抜き取られて、図２に示す電子秤１０によってその質量が人手により検査（測定）される。

一方、徐冷窯３０４で冷却されたびん成形体ＣＢ（Cold Bottle：以下、単に「びん」と称す）は、搬送路３０８に沿って検査棟３０５へと搬送される。
検査棟３０５は、検査装置等３０６と、包装機３０７とが設置された棟である。本実施の形態において、検査装置等３０６には、図２に示すように、寸法測定機１１と、強度検査機１３とが配置されている。加えて、複数種類の欠点を検査する総合検査装置１５と、びんの外観を検査する外観検査機１７と、目視検査による検査結果を通知する目視検査結果通知機１９とが配置されている。

本実施の形態では、複数ラインあるびんの製造ラインの各ラインにおいて、強度検査機１３及び総合検査装置１５の組で構成される検査ラインを、複数ライン（図２の例では２ライン）備えている。そして、これら複数の検査ラインによって並行してびんの強度及び欠点の検査が行われる。また、本実施の形態では、各検査ラインを、「流れ」と称し、例えば、検査ラインが３ラインある場合は、それぞれのラインを流れ１、流れ２、流れ３として区別している。

寸法測定機１１は、びんの各部分の寸法を測定するものであり、複数の検査ステーションを備えている。各検査ステーションにはステーション毎に異なった測定項目を割付けることができ、パラメータで設定された測定動作を行う。測定結果のデータは、寸法データ収集用端末１０８（図３を参照）へと送信される。

強度検査機１３は、送られてきたびんの種類が予め設定された検査対象のびんの種類である場合に、各びんの側壁部及び底部に圧力を加えて側壁部及び底部の強度を検査するものである。強度検査機１３は、強度検査に耐えられたびんを総合検査装置１５に搬送し、強度検査に耐えられなかったびんを廃棄する。

ここで、各検査ラインの強度検査機１３の入口側、即ち各検査ラインの入口には単独検査機排除数センサ２１ａが配置され、各検査ラインの強度検査機１３の出口側、即ち総合検査装置１５の入口側には単独検査機排除数センサ２１ｂが配置されている。単独検査機排除数センサ２１ａは、検査ラインの入口を通過するびんを検知し、単独検査機排除数センサ２１ｂは強度検査機１３を通過したびんを検知するセンサである。これらセンサのＯＦＦ（非検知）状態からＯＮ（検知）状態への変化は、カウントデータ処理装置１０９（図３を参照）によってカウントされる。単独検査機排除数センサ２１ａの非検知状態から検知状態への変化のカウント数（以下、「検知数」と称す）から、単独検査機排除数センサ２１ｂの検知数を減算することで、強度検査機１３で排除されたびんの本数が計算できる。また、単独検査機排除数センサ２１ｂの検知数は、総合検査装置１５に入るびんの本数となる。

総合検査装置１５は、複数種類の欠点についてその有無を種類ごとに順に検査する複数の検査機１５ａ、１５ｂ、１５ｃ・・・を備えており、例えば、１５ａは口部傷検査機、１５ｂは異物検査機、１５ｃは肉厚検査機・・・というように、各検査機により異なる内容の検査が行われる。総合検査装置１５に送り込まれたびんは例えば反時計回りに間欠的に回転しステーションを移動しながら、各検査機１５ａ、１５ｂ、１５ｃ・・・の順で順次検査されていく。各検査機１５ａ、１５ｂ、１５ｃ・・・は、検査装置本体から送られるタイミング信号に基づくタイミングで検査を行い、良否信号を検査装置本体に送り返す。タイミング信号は本体が反時計回りに回転し、ステーションを移動させるごとに所定のタイミングで発するパルスである。

図２の例では、第１ステーションには検査機１５ａ、第２ステーションには検査機１５ｂ、第３ステーションには検査機１５ｃが備えられている。なお、１つのステーションに複数の検査機を設けることもできる。検査を終了したびんは振り分け装置（不図示）に送り込まれ、良品又は不良品に振り分けられる。

振り分け装置は、びんを移動させるコンベアの上にガイドによって区分けされた良品用の搬送路３１０及び不良品用の搬送路（不図示）を有する。不良品用の搬送路は、良品用の搬送路３１０から分岐している。また、不良品用の搬送路の末端にはカレットシュート（不図示）が設けられている。検査装置本体は、それぞれのびんについての各検査機からの良否信号を総合し、そのびんについての総合判定信号（良品（ＯＫ）又は不良品（ＮＧ））を振り分け装置に送る。振り分け装置は、検査装置本体からの総合判定信号に基づき、不良品の排除又は良品の搬送路３１０への誘導を行う。振り分け装置によって搬送路３１０へと誘導されたびんは、搬送路３１０に沿って外観検査機１７へと搬送される。

また、不良品用の搬送路の傍には、総合検査機排除数センサ２３が設けられており、搬送路を搬送されるびんが検知され、その検知数がカウントデータ処理装置１０９にてカウントされる。
総合検査装置１５には、型番読取装置１５０が組み込まれており、検査装置本体は、各検査機の検査結果の情報を、型番ごと及び欠点の種類ごとに、各型番情報及び各欠点の種類の情報に対応付けて欠点データ処理装置１０７（図３を参照）へと送信する。

外観検査機１７は、びんの外観を検査し、外観に欠点が見つかったびんを不良品として排除し、欠点の見つからなかったびんを良品として搬送路３１０に沿って目視検査場へと搬送する。この外観検査機１７によって排除されるびんは、単独検査機排除数センサ２１ｃによって検知され、その検知数が、カウントデータ処理装置１０９にてカウントされる。

以下、単独検査機排除数センサ２１ａ～２１ｃを、総じて「単独検査機排除数センサ２１」と称する。
目視検査場では、目視検査員によるびんの目視検査が行われ、欠点が見つかった場合は、目視検査結果通知機１９にて、見つかった欠点の種類に対応するボタンが押下されることで、見つかった欠点の情報がデータ収集用端末１０３（図３を参照）へと送信される。また、欠点の見つかったびんは不良品として排除される。この排除されるびんは、目視検査結果通知機１９によって検知され、その検知数が、カウントデータ処理装置１０９にてカウントされる。

一方、目視検査にて、良品と判定されたびんは、包装機３０７へと搬送される。包装機３０７へと搬送されたびんは例えば千本単位で包装され、包装されたびんは倉庫に保管される。その後、倉庫に保管されたびんが、トラックによってお得意先へと出荷される。
また、包装機３０７の入口には、包装前通過数センサ２５が設けられており、包装機３０７へと送られるびんが検知され、その検知数が、カウントデータ処理装置１０９にてカウントされる。

次に、本実施の形態に係る容器検査システム１の構成について説明する。
容器検査システム１は、上記説明した各種測定機及び検査機によって、製びん機３０３で製造されたびんの測定及び検査を行い、これら測定結果及び検査結果の情報に基づいて統計量を算出し、算出した統計量の情報を各種端末へと出力するシステムである。

この容器検査システム１は、図３に示すように、検査システム管理用サーバ１００（以下、単に「管理用サーバ１００」と称す）と、成形側端末１０１と、品質検査側端末１０２と、データ収集用端末１０３とを備える。加えて、オフィス端末１０４と、ゲートウェイ端末１０５と、本社ホスト１０６と、欠点データ処理装置１０７と、寸法データ収集用端末１０８と、カウントデータ処理装置１０９とを備える。

電子秤１０、管理用サーバ１００、成形側端末１０１、品質検査側端末１０２、データ収集用端末１０３、オフィス端末１０４、ゲートウェイ端末１０５、欠点データ処理装置１０７、寸法データ収集用端末１０８及びカウントデータ処理装置１０９は、それぞれＨＵＢ１２０を介してイントラネット１９９に接続されている。また、本社ホスト１０６は、インターネット１９８を介して、ゲートウェイ端末１０５に接続されている。

管理用サーバ１００は、データ収集用端末１０３を介して取得した、製造されたびんに係る各種データを管理すると共に、各種データの集計情報を含む統計情報をシステム利用者の利用する各種端末に提供するサーバである。加えて、成形側端末１０１においてびんの製造に用いる金型の型番情報の設定、ピックアップコードセッティングなどを行う機能や、品質検査側端末１０２においてリジェクトセッティングを行う機能等を提供するなど、許可した端末に対して各種設定を行う機能を提供するサーバである。

具体的に、本実施の形態の管理用サーバ１００は、上記各種の機能をＷｅｂシステムにて各端末に提供する。本実施の形態において、各端末の表示装置に表示される初期画面には、金型の型番情報ごとに集計された情報に基づく第１統計情報を表示するための「ＣＩＤ（１）メニュー」、金型に係る各種設定を行うための「ＣＩＤ（２）設定メニュー」を選択するタブが表示される。加えて、カウントデータ処理装置１０９によって収集されたカウントデータ基づく第２統計情報を表示するための「ＣＳ（１）メニュー」、生産予定やロス分析等に係る各種設定を行うための「ＣＳ（２）設定メニュー」、電子秤１０や寸法測定機１１などの各種計量器の測定結果を表示するための「計量器メニュー」を選択するタブが表示される（例えば図１６を参照）。ここで、ＣＳは、「Ｃｏｕｎｔｉｎｇ Ｓｙｓｔｅｍ」の略である。

本実施の形態に係る各メニューの項目は、ＣＩＤ（１）メニューであれば、代表的な項目として、例えば、品質モニタリング警報の一覧を表示する項目（表記は「品質モニタリング」）と、欠点の発生状況を示す情報を表示する項目（表記は「ワースト５」）とがある。加えて、型番読取装置１５０の読取状況の情報を表示する項目（表記は「モールドリード」）と、ピックアップ別検出率の経時変化を表示する項目（表記は「欠点別経時変化」）とがある（例えば図１６を参照）。

また、ＣＩＤ（２）設定メニューであれば、代表的な項目として、例えば、「型番割り」についての設定を行うリジェクトセッティングの項目（表記は「リジェクトセッティング」）がある。ここで、「型番割り」は、検査機で排除できない欠点を有するびん、検査機で排除できなかった欠点を有するびんが発生した場合や、金型起因の欠点が発生した場合に、該当の金型について選択的に全数排除を行う処理である。具体的に、該当する金型で製造されたびんを、設定時間の間だけ全数排除する処理である。

加えて、ＣＩＤ（２）設定メニューの代表的な項目として、例えば、びんの製造に用いる金型の設定を行うための項目（表記は「カレントモールド」）と、製品ごと（びんの種類ごと）に発生する可能性のある欠点を検出する検査機を設定するピックアップコードセッティングを行う項目（表記は「ピックアップコード」）とがある（例えば図２０を参照）。

また、ＣＳ（１）メニューであれば、代表的な項目として、図示省略するが、例えば、ライン別の歩留りの推移を表示する「ライン別歩留り推移」の項目があり、計量器メニューであれば、代表的な項目として、びんの質量の推移を表示するための「びん質量推移」の項目と、びんの寸法の推移を表示するための「びん寸法推移（ＡＭＧ）」の項目とがある。

成形側端末１０１は、製造ラインごとに製びん機３０３の傍に設置された端末であり、びん生産工場で勤務するオペレーターのうち成形に係る仕事を行う成形担当の利用する端末である。成形側端末１０１では、管理用サーバ１００が提供する各種データの統計情報の表示や、製びん機３０３の金型３３１の交換を行った場合の型番情報の管理用サーバ１００のデータベースへの登録等を行うことが可能となっている。

品質検査側端末１０２は、製造ラインごとに設置されるとともに、冷却窯３０４から出たびんが検査棟３０５内に設置される端末である。品質検査側端末１０２は、びん生産工場で勤務するオペレーターのうち品質保証に係る仕事を行う品質検査担当の利用する端末である。品質検査側端末１０２では、管理用サーバ１００が提供する各種データの統計情報の表示や、リジェクトセッティングによって型番割りを行う金型３３１の型番情報の管理用サーバ１００のデータベースへの登録等を行うことが可能となっている。

データ収集用端末１０３は、電子秤１０で測定された質量データと、寸法データ収集用端末１０８で収集された寸法データとを収集する機能を有する端末である。加えて、一定時間（例えば、１０分ごと）ごとに、欠点データ処理装置１０７で各一定時間に収集及び集計された欠点の検査結果の情報を収集するとともに、カウントデータ処理装置１０９で各一定時間（例えば１０分間）に収集及び集計されたカウント情報を収集する機能を有する端末である。さらに、データ収集用端末１０３は、収集した各種データを、一定時間間隔の集計データとして管理用サーバ１００のデータベースに登録する機能と、この一定時間間隔の集計データを用いて各種ワークテーブルを作成する機能とを有している。

加えて、データ収集用端末１０３は、成形側端末１０１で後述するカレントモールド画面を介して登録された、交換された金型の型番情報や、品質検査側端末１０２で後述するリジェクトセッティング画面を介して設定された金型の型番情報を取得し、取得した型番情報を欠点データ処理装置１０７に送信する（書き込む）機能を有している。

オフィス端末１０４は、びん生産工場内のオフィスに設置された端末であり、型番情報の登録等は行えないが、管理用サーバ１００が提供する各種データの統計情報の表示を行うことが可能な端末である。
ゲートウェイ端末１０５は、管理用サーバ１００と、本社ホスト１０６とをインターネット１９８を介して接続する機能を有した端末である。

本社ホスト１０６は、本社に設置されたホストコンピュータであり、本社の社員が利用する各端末からの要求に応じて、ゲートウェイ端末１０５を介して、管理用サーバ１００が提供する各種データの統計情報の各端末への出力処理を制御する機能を有している。
欠点データ処理装置１０７は、総合検査装置１５からの型番情報ごと且つ欠点の種類ごとの検査結果の情報（以下、「欠点検査情報」と称す）を収集するとともに、データ収集用端末１０３からの要求に応じて一定時間の間に収集された欠点検査情報の集計情報をデータ収集用端末１０３に送信する機能を有している。

ここで、本実施の形態の総合検査装置１５は、最大１００個の検査機を搭載可能となっている。各検査機は、「ピックアップ」と呼ばれ、本実施の形態では、例えば、検査機が６０個あるとした場合に、それぞれに、独立なピックアップＮｏが１～６０まで対応付けられる。

そして、本実施の形態の欠点データ処理装置１０７の有する記憶装置には、ピックアップＮｏ１～６０にそれぞれ対応する６０個のアドレスから構成されるアドレス空間が設けられている。ピックアップＮｏ１～６０に対応するアドレスは、各種欠点を検査する検査機の欠点検査情報に基づく欠点検出本数及び排除本数の出力番地を示すアドレスである。各ピックアップＮｏには、製品ごとに、上記ピックアップコードセッティングの項目においてオペレーターによって選択された各欠点の種類が１種類ずつ紐付けられ、総合検査装置１５からの欠点検査情報を、各ピックアップＮｏに対応する欠点の種類ごと且つ型番情報ごとに対応するアドレスに書き込んでいく。

具体的に、型番情報ごとに各種欠点の検出数のカウント数を含む欠点検査情報がピックアップＮｏ順にソートされて各ピックアップＮｏに対応するアドレスに書き込まれる。なお、各アドレスに書き込まれた欠点検査情報は、例えば、一定時間が経過してデータ収集用端末１０３に送信されるごとにクリアされる。

さらに、欠点データ処理装置１０７は、データ収集用端末１０３によって書き込まれた、上記リジェクトセッティングで設定されたリジェクト設定情報に基づいて、振り分け装置を制御し、設定された開始時刻から設定された実行時間の間、設定された型番情報の金型で製造されたびんを全数排除する処理（型番割り）を実行する機能を有している。加えて、型番割りによって排除したびんの排除本数（型番割排除本数）の情報を型番情報ごとに収集するとともに、データ収集用端末１０３からの要求に応じて一定時間の間に収集された型番割排除本数の情報をデータ収集用端末１０３に送信する機能を有している。

寸法データ収集用端末１０８は、寸法測定機１１で測定されたびんの各部の寸法情報を収集し、データ収集用端末１０３からの要求に応じて、収集した寸法情報をデータ収集用端末１０３に送信する機能を有している。
カウントデータ処理装置１０９は、単独検査機排除数センサ２１ａ～２１ｃ、総合検査機排除数センサ２３、目視検査排除数センサ２４及び包装前通過数センサ２５で検知されたびんの検知数をカウントし、そのカウント数情報を収集する機能を有している。そして、データ収集用端末１０３からの要求に応じて、一定時間の間に収集されたカウント数（検知数）の集計情報をデータ収集用端末１０３に送信する機能を有している。

〔管理用サーバ１００のハードウェア構成〕
次に、管理用サーバ１００のハードウェア構成を説明する。
図４は、管理用サーバ１００のハードウェア構成の一例を示す図である。
管理用サーバ１００は、図４に示すように、制御プログラムに基づいて演算及びシステム全体を制御するＣＰＵ（Central Processing Unit）３０と、所定領域に予めＣＰＵ３０の制御プログラム等を格納しているＲＯＭ（Read Only Memory）３２と、ＲＯＭ３２等から読み出したデータやＣＰＵ３０の演算過程で必要な演算結果を格納するためのＲＡＭ（Random Access Memory）３４と、外部装置に対してデータの入出力を媒介するＩ／Ｆ（InterFace）３８とで構成されており、これらは、データを転送するための信号線であるバス３９で相互に且つデータ授受可能に接続されている。なお、Ｉ／Ｆ３８には、ネットワークアダプタの機能も含まれている。

Ｉ／Ｆ３８には、外部装置として、ヒューマンインターフェースとしてデータの入力が可能なキーボードやマウス等からなる入力装置４０と、データやテーブル等をファイルとして格納する記憶装置４２と、画像信号に基づいて画面を表示する表示装置４４と、イントラネット１９９に接続するための信号線とが接続されている。

なお、成形側端末１０１、品質検査側端末１０２、データ収集用端末１０３、オフィス端末１０４、ゲートウェイ端末１０５及び寸法データ収集用端末１０８は、上記管理用サーバ１００と同様に据え置き型を想定した端末から構成されている。
また、欠点データ処理装置１０７及びカウントデータ処理装置１０９は、シーケンサー（ＰＬＣ（Programmable Logic Controller）とも呼ばれる）から構成されている。即ち、欠点データ処理装置１０７及びカウントデータ処理装置１０９は、プロセッサを備えた小型のコンピュータから構成された装置である。

〔各種テーブルについて〕
次に、管理用サーバ１００の記憶装置４２に記憶される各種テーブルについて説明する。
本実施の形態において、各種テーブルの各レコードは、主に、データ収集用端末１０３を介して収集された各種収集データや、成形側端末１０１及び品質検査側端末１０２を介して設定された各種設定データに基づいて管理用サーバ１００にて登録又は更新が行われる。即ち、本実施の形態では、管理用サーバ１００がデータベースサーバとしての機能も有している。

図５は、ＣＩＤ設定データ履歴（製品情報／型番設定etc）テーブル４００、ＣＩＤ定時データ履歴（認識本数／排除本数etc）テーブル４１０、ＣＩＤ定時データ履歴（認識本数／排除本数etc）＿３０分ワークテーブル４１０＿１及び欠点マスタテーブル４１５のデータ構造を示す図である。

管理用サーバ１００の記憶装置４２には、図５（ａ）、（ｂ）及び（ｄ）に示す、ＣＩＤ設定データ履歴（製品情報／型番設定etc）テーブル４００、ＣＩＤ定時データ履歴（認識本数／排除本数etc）テーブル４１０及び欠点マスタテーブル４１５が記憶されている。

ＣＩＤ設定データ履歴（製品情報／型番設定etc）テーブル４００は、びんの製造に使用された金型の情報を管理するテーブルである。
ＣＩＤ設定データ履歴（製品情報／型番設定etc）テーブル４００には、図５（ａ）に示すように、主キー情報として設定される項目ごとに１つのレコードが登録されている。各レコードは、主キー情報として、工場を示す情報（例えば、Ｔ１＝第１工場、Ｔ２＝第２工場、Ｔ３＝第３工場）、ガラス溶解窯の窯Ｎｏ、製造ラインのラインＮｏ及びテーブルの更新を管理するためのＣＩＤ更新Ｎｏ１が登録されている。加えて、これら主キー情報ごとに、更新日時、製品コード、製品名称、回転数、最大セクション数、最大キャビティ数、型番保護最小時間、１Ａ～１２Ａ型番設定日時、１Ａ～１２Ａ型番（現）、１Ａ～１２Ａ型番（旧）の情報が登録されている。さらに、１Ｂ～１２Ｂ型番設定日時、１Ｂ～１２Ｂ型番（現）、１Ｂ～１２Ｂ型番（旧）、１Ｃ～１２Ｃ型番設定日時、１Ｃ～１２Ｃ型番（現）、１Ｃ～１２Ｃ型番（旧）、１Ｄ～１２Ｄ型番設定日時、１Ｄ～１２Ｄ型番（現）、１Ｄ～１２Ｄ型番（旧）、オプション１～１２型番及びその他の情報が登録されている。

ここで、上記ＣＩＤ更新Ｎｏ１は、例えば、テーブルを更新したときの西暦日付、時間（２４時間表記）の情報を含む情報である。他のテーブルのＣＩＤ更新Ｎｏについても同様である。また、上記回転数は、生産速度（ＢＰＭ（Bottle Per Minute））であり、最大セクション数及び最大キャビティ数は、製造ラインで使用する製びん機３０３の最大セクション数及び最大キャビティ数である。ここで、びんの製造においては、型番の摩耗や不具合等によって、製造途中で金型３３１の変更が行われる。変更時点では、変更前の金型で製造されたびんがライン上に残っているため、変更後の金型で製造されるびんと合わせてライン上に２種類の金型３３１にて製造されたびんが混在する期間が発生する。本実施の形態では、混在している期間中は、変更前の金型３３１の情報を保持するようにしている。即ち、上記型番保護最小時間は、混在する期間が終了するまで変更前の金型３３１の情報を保持する時間となる。

また、上記１Ａ～１２Ａ型番設定日時は、後述するカレントモールド画面において設定された、セクション１～１２のキャビティＡにそれぞれ配置された金型の型番の設定日時であり、上記１Ａ～１２Ａ型番（現）は、製びん機３０３のセクション１～１２のキャビティＡに現在配置されている金型の型番であり、上記１Ａ～１２Ａ型番（旧）は、１Ａ～１２Ａ型番（現）の金型の変更前（一世代前）の金型の型番である。このことは、上記セクション１～１２のキャビティＢ～Ｄについても同様である。また、上記オプション１～１２型番は、金型（現）及び金型（旧）として登録されている金型以外の別の金型で製造されたびんがラインに流れている場合に登録される別の金型の型番情報である。

ＣＩＤ定時データ履歴（認識本数／排除本数etc）テーブル４１０は、金型の型番情報ごとに製造されたびんの総合検査装置１５で認識された本数の情報、総合検査装置１５で不良品と判定されて排除された本数の情報等を管理するテーブルである。
ＣＩＤ定時データ履歴（認識本数／排除本数etc）テーブル４１０には、図５（ｂ）に示すように、主キー情報として設定される項目ごとに１つのレコードが登録されている。各レコードは、主キー情報として、工場、窯Ｎｏ、ラインＮｏ、収集日時、流れ、セクション、キャビティ、型番、ＣＩＤ読込及びその他の情報が登録されている。加えて、これら主キー情報ごとに、更新日時、更新端末名、代表更新Ｎｏ、製品コード、口型、認識本数、型番割排除本数、排除本数、現型番、旧型番及びその他の情報が登録されている。

上記ＣＩＤ読込は、型番読取装置１５０による型番の読取状態を示す情報である。例えば、「０＝正常、１＝モールドエラー、２＝コードエラー」などの情報が登録される。また、上記認識本数は、総合検査装置１５によって検査を行ったびんの型番情報ごとの本数であり、上記排除本数は、総合検査装置１５によって不良品と判定されて排除されたびんの型番情報ごとの本数である。また、上記型番割排除本数は、型番割りによって排除されたびんの型番情報ごとの本数である。

なお、ＣＩＤ定時データ履歴（認識本数／排除本数etc）テーブル４１０は、収集開始時刻から一定時間ごとに、一定時間が経過する間に収集及び集計された情報から構成されている。例えば、一定時間が「１０分」であり、収集開始時刻が１０：００である場合は、１０：００～１０：１０、１０：１０～１０：２０、１０：２０～１０：３０・・・と１０分ごとに、各１０分の間に収集及び集計された情報から構成される。以下、一定時間を「１０分」として説明する。

また、本実施の形態の管理用サーバ１００は、各種統計情報の表示処理を行うにあたって、最新１０分、最新３０分、前１時間、前２時間、当シフト、前シフト、当日、前日のうちから任意の期間を選択し、選択した期間についての統計情報を表示する処理を行うようになっている。管理用サーバ１００は、この期間ごとの表示処理を行うために、３０分、１時間、シフト（例えば８時間）及び日（２４時間）の各期間に対するワークテーブルを生成するように構成されている。これらワークテーブルは、記憶装置４２に記憶され、例えば一定時間（例えば１０分）ごとに新たなレコードが生成され、生成されたレコードが追加されるようになっている。このことは、以降説明する他のワークテーブルについても同様となる。

以下、ＣＩＤ定時データ履歴（認識本数／排除本数etc）テーブル４１０のワークテーブルについて、３０分のワークテーブルを例に挙げて説明する。
ＣＩＤ定時データ履歴（認識本数／排除本数etc）＿３０分ワークテーブル４１０＿１（以下、「３０分ワークテーブル４１０＿１）と略記する）は、図５（ｃ）に示すように、管理用サーバ１００において、ＣＩＤ定時データ履歴（認識本数／排除本数etc）テーブル４１０の時系列に連続する３０分ぶんの３つのレコードに基づいて生成されるワークテーブルである。例えば、収集日時の時刻が１０：２０である場合は、収集時刻が１０：００、１０：１０、１０：２０の３つのレコードに基づいてレコードが生成される。具体的に、３０分ワークテーブル４１０＿１は、認識本数、排除本数、型番割排除本数が上記３つのレコードに登録された数値の合計値となったレコードから構成されたテーブルとなる。その他の収集日時及び更新日時以外の情報は３つのレコードと共通となる。

同様に、管理用サーバ１００では、認識本数、排除本数及び型番割排除本数について、１時間分の合計値、シフト分の合計値及び１日分の合計値がそれぞれ登録されたＣＩＤ定時データ履歴（認識本数／排除本数etc）＿１時間、シフト及び１日ワークテーブル４１０＿２、４１０＿３及び４１０＿４が生成され、これら生成されたワークテーブルが記憶装置４２に記憶される。これら各ワークテーブルは、３０分ワークテーブル４１０＿１と同様に前回の収集日時から１０分経過するごとに新たなレコードが追加される。

欠点マスタテーブル４１５は、検査を行う欠点の情報を管理するテーブルである。
欠点マスタテーブル４１５には、図５（ｄ）に示すように、主キー情報として設定される項目ごとに１つのレコードが登録されている。各レコードは、主キー情報として、欠点コードが登録されている。加えて、この主キー情報ごとに、欠点名（短縮）、検査機名、欠点名及び削除フラグの情報が登録されている。

図６は、ＣＩＤ定時データ履歴（欠点情報）テーブル４２０、ＣＩＤ定時データ履歴（欠点情報）_３０分ワークテーブル４２０＿１、ＣＩＤ定時データ履歴（ピックアップ情報）テーブル４３０及びＣＩＤ定時データ履歴（ピックアップ情報）_３０分ワークテーブル４３０＿１のデータ構造を示す図である。

管理用サーバ１００の記憶装置４２には、図６（ａ）及び（ｃ）に示す、ＣＩＤ定時データ履歴（欠点情報）テーブル４２０及びＣＩＤ定時データ履歴（ピックアップ情報）テーブル４３０が記憶されている。
ＣＩＤ定時データ履歴（欠点情報）テーブル４２０は、金型の型番情報ごとに製造されたびんに発生した欠点の情報を管理するテーブルである。

ＣＩＤ定時データ履歴（欠点情報）テーブル４２０には、図６（ａ）に示すように、主キー情報として設定される項目ごとに１つのレコードが登録されている。各レコードは、主キー情報として、工場、窯Ｎｏ、ラインＮｏ、収集日時、流れ、セクション、キャビティ、型番、ＣＩＤ読込及び欠点コードの情報が登録されている。加えて、これら主キー情報ごとに、欠点Ｎｏ、更新日時、更新端末名、代表更新Ｎｏ、製品コード、欠点名称、欠点検出本数及びその他の情報が登録されている。

上記欠点コードは、欠点の種類を示す情報であり、上記欠点Ｎｏは欠点コードの示す種類の欠点に付されたＮｏであり、上記欠点検出本数は、主キー情報の型番の金型で製造されたびんのうち欠点コードの示す種類の欠点が検出されたびんの本数である。
なお、ＣＩＤ定時データ履歴（欠点情報）テーブル４２０は、ＣＩＤ定時データ履歴（認識本数／排除本数etc）テーブル４１０と同様に、収集開始時刻から一定時間ごとに、一定時間が経過する間に収集及び集計された情報から構成されている。以下、一定時間を「１０分」として説明する。

管理用サーバ１００は、ＣＩＤ定時データ履歴（欠点情報）テーブル４２０についても、３０分、１時間、シフト及び日のワークテーブルを生成するようになっている。以下、ＣＩＤ定時データ履歴（欠点情報）テーブル４２０の３０分のワークテーブルを例に挙げて説明する。

ＣＩＤ定時データ履歴（欠点情報）＿３０分ワークテーブル４２０＿１（以下、「３０分ワークテーブル４２０＿１」と略記する）は、図６（ｂ）に示すように、管理用サーバ１００において、ＣＩＤ定時データ履歴（欠点情報）テーブル４２０の最新の収集日時のレコードを含む時系列に連続する３０分ぶんの３つのレコードに基づいて生成されるワークテーブルである。３０分ワークテーブル４２０＿１では、欠点検出本数が、３０分ぶんの３つのレコードに登録された数値の合計値となったレコードから構成されたテーブルとなる。その他の収集日時及び更新日時以外の情報は３つのレコードと共通となる。

同様に、管理用サーバ１００では、欠点検出本数について、１時間分の合計値、シフト分の合計値及び１日分の合計値がそれぞれ登録されたＣＩＤ定時データ履歴（欠点情報）＿１時間、シフト及び１日ワークテーブル４２０＿２、４２０＿３及び４２０＿４が生成され、これら生成されたワークテーブルが記憶装置４２に記憶される。これら各ワークテーブル４２０＿１～４２０＿４は、上記各ワークテーブル４１０＿１～４１０＿４と同様に、前回の収集日時から１０分経過するごとに新たなレコードが追加されるようになっている。

ＣＩＤ定時データ履歴（ピックアップ情報）テーブル４３０は、金型の型番情報ごとに発生する設定されたピックアップの情報を管理するテーブルである。
ＣＩＤ定時データ履歴（ピックアップ情報）テーブル４３０には、図６（ｃ）に示すように、主キー情報として設定される項目ごとに１つのレコードが登録されている。各レコードは、主キー情報として、工場、窯Ｎｏ、ラインＮｏ、収集日時、流れ、セクション、キャビティ、型番、ＣＩＤ読込及びピックアップＮｏの情報が登録されている。加えて、これら主キー情報ごとに、更新日時、更新端末名、代表更新Ｎｏ、製品コード、ピックアップ欠点コード、ピックアップ欠点名称、ピックアップ欠点検出本数、その他の情報が登録されている。

上記ピックアップＮｏは、後述するピックアップコードセッティング画面にて設定された製品（びんの種類）ごとに設定された欠点の種類に紐づけられた番号（例えば１～６０）である。上述した欠点データ処理装置１０７で管理されるピックアップＮｏに対応している。上記ピックアップ欠点コード、ピックアップ欠点名称及びピックアップ欠点検出本数は、設定された欠点に対する欠点コード、欠点名称及び欠点検出本数である。

管理用サーバ１００は、ＣＩＤ定時データ履歴（ピックアップ情報）テーブル４３０についても、３０分、１時間、シフト及び日のワークテーブルを生成するようになっている。以下、ＣＩＤ定時データ履歴（ピックアップ情報）テーブル４３０の３０分のワークテーブルを例に挙げて説明する。

ＣＩＤ定時データ履歴（ピックアップ情報）＿３０分ワークテーブル４３０＿１（以下、「３０分ワークテーブル４３０＿１と略記する）は、図６（ｄ）に示すように、管理用サーバ１００において、ＣＩＤ定時データ履歴（ピックアップ情報）テーブル４３０の最新の収集日時のレコードを含む時系列に連続する３０分ぶんの３つのレコードに基づいて生成されるワークテーブルである。３０分ワークテーブル４３０＿１では、ピックアップ欠点検出本数が、３０分ぶんの３つのレコードに登録された数値の合計値となったレコードから構成されたテーブルとなる。その他の収集日時及び更新日時以外の情報は３つのレコードと共通となる。

同様に、管理用サーバ１００では、ピックアップ欠点検出本数について、１時間分の合計値、シフト分の合計値及び１日分の合計値がそれぞれ登録されたＣＩＤ定時データ履歴（ピックアップ情報）＿１時間、シフト及び１日ワークテーブル４３０＿２、４３０＿３及び４３０＿４が生成され、生成されたワークテーブルが記憶装置４２に記憶される。これら各ワークテーブル４３０＿１～４３０＿４は、上記各ワークテーブル４１０＿１～４１０＿４と同様に、前回の収集日時から１０分経過するごとに新たなレコードが追加されるようになっている。

図７は、ＣＩＤピックアップ設定履歴テーブル４４０、ＣＩＤ設定データ履歴（ピックアップコード設定）テーブル４５０、ＣＩＤ型番変更履歴テーブル４６０及びＣＩＤ型番割データ履歴テーブル４７０のデータ構造を示す図である。
管理用サーバ１００の記憶装置４２には、図７（ａ）～（ｄ）に示す、ＣＩＤピックアップ設定履歴テーブル４４０、ＣＩＤ設定データ履歴（ピックアップコード設定）テーブル４５０、ＣＩＤ型番変更履歴テーブル４６０及びＣＩＤ型番割データ履歴テーブル４７０が記憶されている。

ＣＩＤピックアップ設定履歴テーブル４４０は、上記ピックアップコードセッティングの項目で設定された情報を管理するテーブルである。
ＣＩＤピックアップ設定履歴テーブル４４０には、図７（ａ）に示すように、主キー情報として設定される項目ごとに１つのレコードが登録されている。各レコードは、主キー情報として、工場、窯Ｎｏ、ラインＮｏ、更新日時及びピックアップコードの情報が登録されている。加えて、この主キー情報ごとに、製品名称、ステーションコード、欠点コード及び重大欠点区分の情報が登録されている。

上記ピックアップコードは上記ピックアップＮｏであり、上記ステーションコードは総合検査装置１５のステーションＮｏであり、上記重大欠点区分は、重大欠点として設定されているか否かを示すフラグ情報であり、例えば、「０」が通常の欠点を示し、「１」が重大欠点を示す。重大欠点は、例えば、容器としての機能（密封性、衝撃耐久性等）を損なうような欠点等の容器に与える影響が極めて大きい欠点である。そのため、重大欠点が検出されたびんが１本でもある場合に、万が一検査機で排除されない場合も考慮して、早急に対処する必要がある。加えて、金型に起因する欠点である場合は、リジェクトセッティングによって、その金型で製造されたびんを全数排除するといった対処も行う。

ＣＩＤ設定データ履歴（ピックアップコード設定）テーブル４５０は、ピックアップコードセッティングの設定情報を管理するテーブルである。
ＣＩＤ設定データ履歴（ピックアップコード設定）テーブル４５０には、図７（ｂ）に示すように、主キー情報として設定される項目ごとに１つのレコードが登録されている。各レコードは、主キー情報として、工場、窯Ｎｏ、ラインＮｏ、ＣＩＤ更新Ｎｏ５及びピックアップコードの情報が登録されている。加えて、これら主キー情報ごとに、更新日時、ステーションコード、欠点コード、欠点名称及びその他の情報が登録されている。

ＣＩＤ型番変更履歴テーブル４６０は、金型の型番情報ごとに金型の変更を管理するテーブルである。
ＣＩＤ型番変更履歴テーブル４６０には、図７（ｃ）に示すように、主キー情報として設定される項目ごとに１つのレコードが登録されている。各レコードは、主キー情報として、工場、窯Ｎｏ、ラインＮｏ、型番及び型番変更日時の情報が登録されている。加えて、これら主キー情報ごとに、更新日時、更新端末名、代表更新Ｎｏ、セクション、キャビティ、その他の情報が登録されている。

ＣＩＤ型番割データ履歴テーブル４７０は、型番割りの情報を管理するテーブルである。
ＣＩＤ型番割データ履歴テーブル４７０には、図７（ｄ）に示すように、主キー情報として設定される項目ごとに１つのレコードが登録されている。各レコードは、主キー情報として、工場、窯Ｎｏ、ラインＮｏ、収集日時及びＳＥＱの情報が登録されている。加えて、これら主キー情報ごとに、更新日時、更新端末名、代表更新Ｎｏ、製品コード、型番割ＳＴＡＴＵＳ、実行待ち時間（トータル分）、実行時間（トータル分）、型番割り開始日時、型番割り終了日時、セクション、キャビティ、型番、欠点名称、コメント、型番割本数、その他の情報が登録されている。

上記収集日時は、型番割りが終了した日時の情報であり、上記ＳＥＱは、工場／窯／ライン／日付内でシーケンシャルにもつ数値である。また、上記型番割ＳＴＡＴＵＳは、型番割りの実行状態を示す情報であり、上記実行待ち時間（トータル分）は、型番割りが実行されるまでの待ち時間であり、上記実行時間（トータル分）は、型番割りの実行時間である。

ここで、型番割りの実行中は、オペレーターが欠点の要因を取り除く作業を行うようになっており、要因が取り除けた場合は、設定した時間が経過後に型番割りが終了する。一方、予め設定した時間内で原因が取り除けないときは、型番割りを延長することができる。そのため、実際にかかったトータルの実行待ち時間及び実行時間が登録される。

図８は、ＣＩＤ設定データ履歴（警報設定）テーブル４８０、ＣＩＤ定時データ履歴（警報情報）テーブル４９０、びん質量データ履歴テーブル５００及びＣＳ定時データ履歴（ライン別歩留り）テーブル５１０のデータ構造を示す図である。
管理用サーバ１００の記憶装置４２には、図８（ａ）～（ｄ）に示す、ＣＩＤ設定データ履歴（警報設定）テーブル４８０、ＣＩＤ定時データ履歴（警報情報）テーブル４９０、びん質量データ履歴テーブル５００及びＣＳ定時データ履歴（ライン別歩留り）テーブル５１０が記憶されている。

ＣＩＤ設定データ履歴（警報設定）テーブル４８０は、欠点の検出内容（例えば検出率、検出本数など）に対する警報の設定情報を管理するテーブルである。
ＣＩＤ設定データ履歴（警報設定）テーブル４８０には、図８（ａ）に示すように、主キー情報として設定される項目ごとに１つのレコードが登録されている。各レコードは、主キー情報として、工場、窯Ｎｏ、ラインＮｏ、ＣＩＤ更新Ｎｏ２及び欠点コードの情報が登録されている。加えて、これら主キー情報ごとに、表示順、更新日時、重大欠点区分（１：重大欠点／０：欠点）、欠点検出率上限、欠点検出率下限及びその他の情報が登録されている。

上記表示順は、警報設定画面での欠点の表示順を示す情報であり、上記欠点検出率上限及び欠点検出率下限は、警報の発生条件を決める情報である。
ＣＩＤ定時データ履歴（警報情報）テーブル４９０は、発生条件を満たすことによって発生した警報の発生状況の情報を管理するテーブルである。

ＣＩＤ定時データ履歴（警報情報）テーブル４９０には、図８（ｂ）に示すように、主キー情報として設定される項目ごとに１つのレコードが登録されている。各レコードは、主キー情報として、工場、窯Ｎｏ、ラインＮｏ、収集日時、セクション、キャビティ、型番、ＣＩＤ読込、警報種別、欠点コード及びその他の情報が登録されている。加えて、これら主キー情報ごとに、代表更新Ｎｏ、欠点名称、警報回数、メッセージ内容、備考及びその他の情報が登録されている。

なお、ＣＩＤ定時データ履歴（警報情報）テーブル４９０は、ＣＩＤ定時データ履歴（認識本数／排除本数etc）テーブル４１０と同様に、収集開始時刻から一定時間ごとに、一定時間が経過する間に収集及び集計された情報から構成されている。以下、一定時間を「１０分」として説明する。

そして、図示省略するが、管理用サーバ１００では、ＣＩＤ定時データ履歴（認識本数／排除本数etc）テーブル４１０と同様に、ＣＩＤ定時データ履歴（警報情報）テーブル４９０についてもワークテーブルが生成される。具体的に、警報回数について、３０分ぶんの合計値、１時間分の合計値、シフト分の合計値及び１日分の合計値がそれぞれ登録されたレコードを有するＣＩＤ定時データ履歴（警報情報）＿３０分、１時間、シフト及び日ワークテーブル４９０＿１、４９０＿２、４９０＿３及び４９０＿４が記憶装置４２に記憶されている。これら各ワークテーブル４９０＿１～４９０＿４は、上記各ワークテーブル４１０＿１～４１０＿４と同様に、前回の収集日時から１０分経過するごとに新たなレコードが追加されるようになっている。

びん質量データ履歴テーブル５００は、抜き取りで測定したびんの質量の情報を管理するテーブルである。
びん質量データ履歴テーブル５００には、図８（ｃ）に示すように、主キー情報として設定される項目ごとに１つのレコードが登録されている。各レコードは、主キー情報として、工場、窯Ｎｏ、ラインＮｏ、収集日時及びＳＥＱの情報が登録されている。加えて、これら主キー情報ごとに、代表更新Ｎｏ、標準質量、上限質量、下限質量、びん質量、その他の情報が登録されている。

ＣＳ定時データ履歴（ライン別歩留り）テーブル５１０は、ライン別のびん製造の歩留りの情報を管理するテーブルである。
ＣＳ定時データ履歴（ライン別歩留り）テーブル５１０には、図８（ｄ）に示すように、主キー情報として設定される項目ごとに１つのレコードが登録されている。各レコードは、主キー情報として、工場、窯Ｎｏ、ラインNo、型替順位及び収集日時の情報が登録されている。加えて、これら主キー情報ごとに、代表更新No、勤務名、製品コード、製品名称、規格質量、回転数、目標歩留り、分数、落下数及び冷出数の情報が登録されている。

上記落下数は、歩留りの分母（マシン回転数（ＢＰＭ）×マシン稼働時間（分））であり、上記冷出数は、歩留りの分子であり、包装前通過数センサ２５のびん検知のカウント値（検知数）である。
なお、ＣＳ定時データ履歴（ライン別歩留り）テーブル５１０は、上記ＣＩＤ定時データ履歴（認識本数／排除本数etc）テーブル４１０等と同様に、収集開始時刻から一定時間（例えば１０分）ごとに、一定時間が経過する間に収集及び集計された情報から構成されている。

なお、記憶装置４２に記憶されているテーブルは、上記説明したものに限らず、図示省略するが、他にも、寸法測定データ履歴テーブル、更新Ｎｏ管理テーブルなどが記憶装置４２に記憶されている。
〔動作〕
次に、本実施の形態の動作を説明する。
システム利用者が、成形側端末１０１、品質検査側端末１０２、データ収集用端末１０３、オフィス端末１０４、本社の端末などで、容器検査システム１にて収集された情報に基づく統計情報等を表示するＷｅｂシステムを起動することで、上記した５つのメニューを選択するタブが表示された画面が表示される（例えば図１６を参照）。以下、成形側端末１０１、品質検査側端末１０２、データ収集用端末１０３及びオフィス端末１０４を区別しない場合に、単に「利用者端末」と称する。

また、本実施の形態では、システム利用者は、利用者端末においてＷｅｂブラウザを起動し、容器検査システム１の専用のＵＲＬにアクセスすることで、上記５つのメニューが表示された起動画面が利用者端末の表示装置に表示される。
〔ＣＩＤ（１）初期画面表示処理〕
初めに、システム利用者が利用者端末を介してＣＩＤ（１）メニューの各項目（図１６を参照）のタブを選択した場合に、管理用サーバ１００にて実行される初期画面の表示動作について説明する。

図９は、ＣＩＤ（１）初期画面表示処理を示すフローチャートであり、図１６は、欠点のワースト５の一覧の表示情報と重大欠点のワースト５の一覧の表示情報とを含む表示画面の初期画面の一例を示す図である。また、図１７は、表示条件設定画面の一例を示す図であり、図１８は、品質モニタリング警報一覧画面の一例を示す図である。

管理用サーバ１００のＣＰＵ３０は、ＭＰＵ（Micro-Processing Unit）等からなり、ＲＯＭ３２の所定領域に格納されている所定のプログラムを起動させ、そのプログラムに従って、図９のフローチャートに示すＣＩＤ（１）初期画面表示処理を実行する。
ＣＩＤ（１）初期画面表示処理は、ＣＰＵ３０において実行されると、図９に示すように、まず、ステップＳ１００に移行する。

ステップＳ１００では、利用者端末からの情報に基づいて、ＣＩＤ（１）メニュー中から「ワースト５」の項目が選択されたか否かを判定し、選択されたと判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ１０２に移行し、そうでないと判定した場合（Ｎｏ）は、ステップＳ１１４に移行する。

ステップＳ１０２に移行した場合は、抽出日時（現在の日時）の情報を取得して、ステップＳ１０４に移行する。
ステップＳ１０４では、記憶装置４２に記憶されているＣＩＤ定時データ履歴（認識本数／排除本数etc）＿３０分ワークテーブル４１０＿１の最新のレコードに基づいて、工場、窯Ｎｏ、ラインＮｏ及び製品コードごとに、認識本数、排除本数及び型番割排除本数の合計値の情報を取得する。その後、ステップＳ１０６に移行する。

ステップＳ１０６では、記憶装置４２に記憶されているＣＩＤ定時データ履歴（欠点情報）＿３０分ワークテーブル４２０＿１の最新のレコードに基づいて、工場、窯Ｎｏ、ラインＮｏ及び製品コードごとに欠点検出率又は欠点検出本数（後述する選択ラジオボタン８１の設定によって変わる）の合計値が降順で１位～Ｘ位（Ｘは５以上の自然数）までの欠点コードと、欠点コードごとの欠点検出本数の合計値の情報とを取得する。加えて、工場、窯Ｎｏ、ラインＮｏ、製品コード、セクション、キャビティ及び欠点コードごとに欠点検出本数の合計値の情報を取得する。

さらに、ステップＳ１０６では、ＣＩＤ定時データ履歴（認識本数／排除本数etc）＿３０分ワークテーブル４１０＿１の最新のレコードに基づいて、工場、窯Ｎｏ、ラインＮｏ、製品コード及びセクションごとに認識本数の合計値の情報を取得するとともに、工場、窯Ｎｏ、ラインＮｏ、製品コード、セクション、キャビティ及び欠点コードごとに認識本数の合計値の情報を取得する。

さらにまた、ステップＳ１０６では、記憶装置４２に記憶されているＣＩＤ定時データ履歴（欠点情報）＿３０分ワークテーブル４２０＿１の最新のレコード及びＣＩＤピックアップ設定履歴テーブル４４０に基づいて、工場、窯Ｎｏ、ラインＮｏ、製品コード、セクション、キャビティ及び重大欠点として設定された欠点の欠点コードごとに欠点検出本数の合計値の情報を取得するとともに、欠点検出本数の合計値が降順で１位～Ｘ位までの重大欠点の欠点コードを取得する。その後、ステップＳ１０８に移行する。

ステップＳ１０８では、ステップＳ１０６で取得した情報と同様の情報を、最新の３０分ワークテーブルの収集日時よりも３０分前の収集日時の各ワークテーブルに基づいて取得して、ステップＳ１１０に移行する。
ステップＳ１１０では、記憶装置４２に記憶されている最新のＣＩＤ型番割りデータ履歴テーブル４７０に基づいて、工場、窯Ｎｏ、ラインＮｏ、型番割ＳＴＡＴＵＳ（実行中の状態）及び製品コードごとに、セクション、キャビティ及び型番の情報を取得する。その後、ステップＳ１１２に移行する。

ステップＳ１１２では、ステップＳ１０４～Ｓ１１０で取得した情報に基づいて、全欠点のワースト５及び重大欠点のワースト５を表示するワースト５画面の初期画面（最新３０分が選択された画面）を表示するための情報を要求元の利用者端末へと送信する。その後、一連の処理を終了して元の処理に復帰する。

これにより、利用者端末には、例えば、図１６に示すように、最新３０分のタブが選択されたときの欠点のワースト５の一覧の表示情報と重大欠点のワースト５の一覧の表示情報とを含む表示画面６００（以下、「ワースト５画面６００」と称す）が初期画面として表示される。

〔ワースト５画面６００の説明〕
ワースト５画面６００は、成形担当に対してどの金型でどのような欠点が発生しているのかを知らせる画面であり、発生している欠点を早期に修正し、歩留りを上げる事を目的としている。検査機で排除されているデータであるので、検出率の高い欠点や検出数の多い欠点から対応する事で、歩留りを向上させることができる。

ワースト５画面６００は、図１６に示すように、ブラウザの表示領域の上部に「ＣＩＤ（１）」、「ＣＩＤ（２）設定」等の各メニューを選択するタブ（以下、「メインメニュータブ」と称す）が表示され、その下に、選択状態のＣＩＤ（１）メニューの各項目を選択するタブが表示されている。図１６の例では、「ワースト５」の項目が選択された状態となっている。

各項目タブの左下に表示された「ワースト５＋重大欠点」の文字の下側には、データ収集を行った最新の収集日時の情報を表示する領域である最新収集日時表示領域８０が設けられており、最新収集日時表示領域８０の右側には、欠点の統計情報等を含む欠点情報の表示内容を選択するための選択ラジオボタン８１が表示されており、表示する統計情報として「検出率」と「本数」とを選択できるようになっている。

最新収集日時表示領域８０及び選択ラジオボタン８１の下側には、表示する欠点情報等を生成する情報の収集期間を選択する期間選択ボタン群８２が表示されている。本実施の形態において、期間選択ボタン群８２には、最新１０分ボタン、最新３０分ボタン、前１時間ボタン、前２時間ボタン、当シフトボタン、前シフトボタン、当日ボタン、前日ボタンといったように各期間を選択するボタンがあり、利用者端末の入力装置によって、これらのうちから１つを選択することでシステム利用者（例えば成形担当）の所望の期間を選択できるようになっている。

最新１０分は、最新収集日時で収集された１０分の収集期間を示し、最新３０分、前１時間、前２時間は、最新収集日時の１０分を含む過去３０分、１時間、２時間の収集期間を示す。また、当シフトは、当シフト期間（８時間）内の開始から最新収集日時までの収集期間を示し、前シフトは、１つ前のシフト（８時間）の収集期間を示す。また、当日は、当日期間（２４時間）内の開始から最新収集日時までの収集期間を示し、前日は、当日に対する前日の収集期間（過去２４時間）を示す。

なお、図１６に示す例では、最新３０分ボタンが押下された状態となっている。即ち、最新収集日時の１０分を含む過去３０分に収集された情報に基づいた欠点情報等が表示された状態となっている。
期間選択ボタン群８２の下には、左から順に、検査本数表示領域８３、排除本数表示領域８４、排除率表示領域８５及び型番割排除数表示領域８６が設けられている。図１６の例では、「検査本数＝１２３４本」、「排除本数＝１２本」、「排除率＝１．２３％」、「型番割排除数＝０本」が表示されている。

ここで、検査本数は総合検査装置１５で検査が行われたびんの総検査本数を示し、排除本数は、総合検査装置１５にて不良品と判定されて排除されたびんの総排除本数を示す。また、排除率は、「総排除本数÷総検査本数×１００」で計算される値を示し、型番割排除数は、型番割りによって排除されたびんの総排除本数を示す。

各表示領域８３～８６の下には、欠点一覧８７が表示され、欠点一覧８７の下には重大欠点一覧８８が表示され、重大欠点一覧８８の下には現在の型番割覧８９が表示されている。
欠点一覧８７は、総合検査装置１５で行った全ての欠点の検査について、抽出条件（例えば検出率の降順で１～Ｘ位まで）に従って抽出された欠点情報を一覧表示する表示覧である。欠点情報としては、「欠点の名称（例えば、欠点ａ、欠点ｂ等）」、「セクション・キャビティ（例えば４Ａ、６Ａ等）」、「欠点」及び「セクション・キャビティ」ごとの「総検出率」又は「総本数」、並びに「欠点」ごとの「総検出率」又は「総本数」が表示される。表示順としては、欠点ごとの総検出率の降順で初期画面には１位～５位の欠点情報が上から順に表示される。欠点一覧８７の右端には垂直スクロールバーが設けられており、利用者端末の入力装置にて垂直スクロールバーを下にスクロールすることで、６位～Ｘ位（例えば１０位）までの欠点情報を表示することができるようになっている。

重大欠点一覧８８は、総合検査装置１５で行った全ての重大欠点の検査について、抽出条件（例えば本数の降順で１～Ｘ位まで）に従って抽出された欠点情報を一覧表示する表示覧である。重大欠点一覧８８では、欠点情報を表示する欠点が重大欠点であることと、選択ラジオボタン８１で「検出率」が選択されていても本数のみを表示することとが、欠点一覧８７と異なる。他の検出情報の内容やスクロールにより６位～Ｘ位までを表示できる構成などは欠点一覧８７と同様となっている。このように、本数のみを表示する理由は、オペレーターに重大欠点の発生状況を理解しやすくするためである。

また、本実施の形態においては、欠点一覧８７及び重大欠点一覧８８の「欠点の名称」及び「セクション・キャビティ」にはリンクが張られており、利用者端末の入力装置（例えばマウス）にて、これらを選択（例えばクリック）することでピックアップ検出率の経時変化画面を表示できるようになっている。

また、欠点一覧８７及び重大欠点一覧８８の左側に表示された「↓、－、↑」は、順位の変動を示す表記であり、最新の１つ前（前回）の収集期間の全欠点又は重大欠点の「総検出率」又は「総本数」の順位に対する最新の収集期間の順位の変化を示している。「↓」は前回よりも順位が下がったことを示し、「－」は前回と同じ順位であることを示し、「↑」は前回よりも順位が上がったことを示す。図１６の例では「最新３０分」のボタンが選択されているので、最新３０分の収集日時が例えば１０：００である場合、この収集情報による順位と、これよりも３０分前の収集日時である９：３０の収集情報による順位との順位変動が表示される。

現在の型番割覧８９は、現在、型番割りが発生している金型の型番を、「セクション・キャビティ」毎に表示する覧である。
即ち、本実施の形態においては、同じ画面内に、欠点及び重大欠点の発生率や発生本数の順位情報に加えて、型番割りの発生状況も表示するようになっている。

図９に戻って、ステップＳ１００において、「ワースト５」の項目が選択されずにステップＳ１１４に移行した場合は、利用者端末からの情報に基づいて、ＣＩＤ（１）メニュー中から「欠点別経時変化」の項目が選択されたか否かを判定し、選択されたと判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ１１６に移行し、そうでないと判定した場合（Ｎｏ）は、ステップＳ１２４に移行する。

ステップＳ１１６に移行した場合は、最新のＣＩＤ設定データ履歴（製品情報／型番設定etc）テーブル４００に基づいて、工場、窯Ｎｏ及びラインＮｏごとの製品情報を取得して、ステップＳ１１８に移行する。
ステップＳ１１８では、記憶装置４２に記憶されている最新のＣＩＤ設定データ履歴（ピックアップコード設定）テーブル４５０に基づいて、工場、窯Ｎｏ及びラインＮｏごとのピックアップ設定情報（ピックアップコード、ステーションコード、欠点コード、欠点名称などの情報）を取得する。その後、ステップＳ１２０に移行する。

ステップＳ１２０では、記憶装置４２に記憶されている最新のＣＩＤ設定データ履歴（警報設定）テーブル４８０に基づいて、工場、窯Ｎｏ及びラインＮｏごとの欠点コード、欠点名称、表示順及び欠点検出率上限を取得する。その後、ステップＳ１２２に移行する。

ステップＳ１２２では、ステップＳ１１４～Ｓ１２０で取得した情報に基づいて、ピックアップ別検出率の表示条件設定画面を表示するための情報を要求元の利用者端末へと送信する。その後、一連の処理を終了して元の処理に復帰する。
これにより、利用者端末には、例えば、図１７に示すように、表示条件設定画面６０１が表示される。

〔表示条件設定画面６０１の説明〕
表示条件設定画面６０１は、図１７に示すように、ブラウザの表示領域の上部にメインメニュータブが表示され、その下に、選択状態のＣＩＤ（１）メニューの各項目を選択するタブが表示されている。図１７の例では、「欠点別経時変化」の項目が選択された状態となっている。

各項目タブの左下に表示された「ピックアップ別検出率の経時変化」の文字の下側には、「表示条件」の文字が記載された表示条件タブ９１が表示され、表示条件タブ９１の右側には「グラフ」の文字が記載されたグラフタブ９２が表示されている。
表示条件タブ９１は、表示条件設定画面６０１を選択表示するタブであり、グラフタブ９２は、後述するピックアップ別検出率の経時変化のグラフ画面６０８を選択表示するタブである。図１７では、表示条件タブ９１が選択状態となっており、表示条件設定画面６０１が表示された状態となっている。

表示条件タブ９１の下には、開始日時を設定するためのドロップダウンリスト９３が表示されている（以下、ドロップダウンリストを「ＤＤＬ」と略称する）。ＤＤＬ９３の右側にはセクションを設定するためのＤＤＬ９４が表示され、ＤＤＬ９３の下には表示間隔を設定するためのＤＤＬ９５が表示され、その右側にはキャビティを設定するためのＤＤＬ９６が表示されている。加えて、ＤＤＬ９５の下には率計算間隔を設定するためのＤＤＬ９７が表示され、その右側には流れを設定するためのＤＤＬ９８が表示され、ＤＤＬ９７の下にはグラフの種類を設定するためのＤＤＬ９９が表示されている。ＤＤＬ９９の下側には、欠点名称を選択するためのＤＤＬ２００が表示され、ＤＤＬ２００の右側には、グラフ表示ボタン２０１が表示されている。

各ＤＤＬでは、設定したい内容をドロップダウンリストから選択することで、各種の設定を行うことができる。具体的に、ＤＤＬ９３では、グラフ表示の開始日時を設定することができ、ＤＤＬ９４では、グラフ表示するセクション（例えば、セクションＮｏ、全表示、平均など）を設定することができ、ＤＤＬ９５では、グラフ表示する横軸の期間（例えば、１０時間、２４時間など）を設定することができる。また、ＤＤＬ９６では、グラフ表示するキャビティ（例えばＡ～Ｄ等）を設定することができ、ＤＤＬ９７では、グラフ表示する横軸の時間間隔（例えば、１０分、３０分、１時間など）を設定することができ、ＤＤＬ９８では、グラフ表示する流れ（例えば、全表示、平均など）を設定することができる。また、ＤＤＬ９９では、欠点の種類ごとの欠点検出率をグラフ表示するか、ピックアップ（検査機）ごとの欠点検出率をグラフ表示するかを設定することができる。

ここで、「欠点の種類ごと」と、「ピックアップごと」とでグラフを分けるのは、同じ種類の欠点を、複数の「ピックアップ」で狙う場合があるからである。例えば、欠点ａを、ピックアップＮｏ１、４及び５に対応する３つの「ピックアップ」で狙ったとする。この場合、Ｎｏ１、４及び５のいずれか１つで欠点ａを検出できれば、そのびんは、「欠点ａ」により排除した、というカウントになる。このカウントから算出される欠点ａの検出率が欠点ごとの欠点検出率となる。一方、ピックアップＮｏ１、４及び５のうち例えばＮｏ１のみが欠点ａを検出した場合、Ｎｏ１の欠点ａの検出がカウントされ、このカウントから算出されるＮｏ１の欠点ａの検出率がピックアップごとの欠点検出率となる。

また、ＤＤＬ２００では、ＤＤＬ９９で設定された「欠点」または「ピックアップ」のグラフの表示種類に応じて、それぞれの名称がリストに表示され、そのなかからグラフ表示する欠点の種類又はピックアップを選択して設定することができる。例えば、グラフ種類としてピックアップが設定されている場合は、名称として、例えば、ピックアップＮｏ、ステーションコード及び欠点名の組のリストが表示される。また、グラフ種類として欠点が設定されている場合は、欠点Ｎｏ、ステーションコード及び欠点名の組のリストが表示される。

グラフ表示ボタン２０１は、利用者端末の入力装置を介して選択されることで、設定された表示条件をセッションに保存し、その条件で検出率の経時変化グラフを作成し、グラフ画面を表示する処理を実行するためのボタンである。
図９に戻って、ステップＳ１１４において、「欠点別経時変化」の項目が選択されずにステップＳ１２４に移行した場合は、利用者端末からの情報に基づいて、ＣＩＤ（１）メニュー中から「品質モニタリング警報一覧」の項目が選択されたか否かを判定し、選択されたと判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ１２６に移行し、そうでないと判定した場合（Ｎｏ）は、ステップＳ１３０に移行する。

ステップＳ１２６に移行した場合は、記憶装置４２に記憶されたＣＩＤ定時データ履歴（警報情報）テーブル４９０及びそのワークテーブル４９０＿１～４９０＿４のいずれか１つに基づいて、選択された収集期間の警報情報を取得する。その後、ステップＳ１２８に移行する。

ステップＳ１２８では、ステップＳ１２６で取得した情報に基づいて、品質モニタリング警報一覧画面を表示するための情報を要求元の利用者端末へと送信する。その後、一連の処理を終了して元の処理に復帰する。
これにより、利用者端末には、例えば、図１８に示すように、品質モニタリング警報一覧画面７００が表示される。

〔品質モニタリング警報一覧画面７００の説明〕
品質モニタリング警報一覧画面７００は、図１８に示すように、設定した期間内（図１８の例では当日）において、警報の発生時刻、欠点の名称、各欠点に対する警報内容、警報内容ごとの発生率及び発生回数、対応する金型の型番情報、並びに前回及び今回の発生率の一覧が表示された画面である。

なお、品質モニタリング警報一覧画面７００についても、ワースト５画面６００と同様に、警報に係る情報の収集期間を当日以外にも設定できるようになっている。
図９に戻って、ステップＳ１２４において、「品質モニタリング警報一覧」の項目が選択されずにステップＳ１３０に移行した場合は、利用者端末からの情報に基づいて、ＣＩＤ（１）メニュー中からその他の項目が選択されたか否かを判定し、選択されたと判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ１３２に移行し、そうでないと判定した場合（Ｎｏ）は、一連の処理を終了して元の処理に復帰する。

ステップＳ１３２に移行した場合は、記憶装置４２に記憶された、その他の項目に係るテーブルから、その他の項目に必要な情報を取得して、ステップＳ１３４に移行する。
ステップＳ１３４では、ステップＳ１３２で取得した情報に基づいて、その他の項目の初期画面を表示するための情報を要求元の利用者端末へと送信する。その後、一連の処理を終了して元の処理に復帰する。

これにより、利用者端末の表示装置には、その他の項目の初期画面が表示される。
〔ＣＩＤ（２）初期画面表示処理〕
次に、システム利用者が利用者端末を介してＣＩＤ（２）設定メニューの各項目（図１９を参照）のタブを選択した場合に、管理用サーバ１００にて実行される初期画面の表示動作について説明する。

図１０は、ＣＩＤ（２）初期設定画面表示処理を示すフローチャートである。また、図１９（ａ）は、仕上型用のカレントモールド画面６０２の一例を示す図であり、（ｂ）は、口型用のカレントモールド画面６０３の一例を示す図である。また、図２０は、ピックアップコードセッティング画面の一例を示す図であり、図２１は、リジェクトセッティング画面の一例を示す図である。

ＣＰＵ３０は、ＲＯＭ３２の所定領域に格納されている所定のプログラムを起動させ、そのプログラムに従って、図１０のフローチャートに示すＣＩＤ（２）初期設定画面表示処理を実行する。
ＣＩＤ（２）初期設定画面表示処理は、ＣＰＵ３０において実行されると、図１０に示すように、まず、ステップＳ２００に移行する。

ステップＳ２００では、利用者端末からの情報に基づいて、ＣＩＤ（２）設定メニュー中から「ピックアップコード」の項目が選択されたか否かを判定し、選択されたと判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ２０２に移行し、そうでないと判定した場合（Ｎｏ）は、ステップＳ２０８に移行する。

ステップＳ２０２では、記憶装置４２に記憶されている欠点マスタテーブル４１５に基づいて、欠点コード及び欠点名称の情報を取得して、ステップＳ２０４に移行する。
ステップＳ２０４では、記憶装置４２に記憶されているＣＩＤ設定データ履歴（ピックアップコード設定）テーブル４５０及びＣＩＤ設定データ履歴（警報設定）テーブル４８０に基づいて、工場、窯Ｎｏ、ラインＮｏ及び最新のＣＩＤ更新Ｎｏ５ごとに、ピックアップコード、ステーションコード、欠点コード及び重大欠点区分の情報を取得する。その後、ステップＳ２０６に移行する。

ステップＳ２０６では、ステップＳ２０２～Ｓ２０４で取得した情報に基づいて、ピックアップコードセッティング画面を表示するための情報を要求元の利用者端末へと送信する。その後、一連の処理を終了して元の処理に復帰する。
これにより、利用者端末には、例えば、図２０に示すように、ピックアップコードセッティング画面６０４の初期画面が表示される。

〔ピックアップコードセッティング画面６０４の説明〕
ピックアップコードセッティング画面６０４は、図２０に示すように、ブラウザの表示領域の上部にメインメニュータブが表示され、その下に、選択状態のＣＩＤ（２）設定メニューの各項目を選択するタブが表示されている。図２０の例では、「ピックアップコード」の項目が選択された状態となっている。

各項目タブの左下に表示された「ピックアップコードセッティング」の文字の下側には、参照した製品の表示領域６９が表示され、表示領域６９の下側には矩形の領域であるピックアップコード設定領域６０（以下、「ｐｕ設定領域６０」と略記する）が表示されている。

ｐｕ設定領域６０は、横方向に４つの領域に区分されており、各区分領域の左端にはピックアップＮｏの表示領域であるｐｕ表示領域６０ａが設けられ、左の区分領域から右の区分領域に向かって順に、縦方向に１～１５、１６～３０、３１～４５、４６～６０の連番のピックアップＮｏがそれぞれ表示されている。加えて、各区分領域のｐｕ表示領域６０ａの各ピックアップＮｏの右側にはステーション表示領域６０ｂが表示されており、各ピックアップＮｏに対して設定された欠点コードに対応するステーションコードを設定及び表示できるようになっている。さらに、各区分領域の各ステーション表示領域６０ｂの右側には、欠点コード（ｄｆｔ）の表示領域である欠点コード表示領域６０ｃが表示されており、各ピックアップＮｏに対して欠点コードを設定及び表示できるようになっている。なおさらに、各区分領域の各欠点コード表示領域６０ｃの右側には、欠点コード表示領域６０ｃに設定された各欠点コードの欠点に対して重大欠点か否かを設定及び表示するチェックボックス６０ｄが表示されている。このチェックボックス６０ｄにチェックを入れることで欠点コード表示領域６０ｃに設定された欠点に対して重大欠点の属性を付与することができるようになっている。

ｐｕ設定領域６０の右側で且つ画面の右端には、現在設定されている欠点の欠点コード及び欠点名称の一覧である欠点一覧表６４が表示されており、欠点一覧表６４の左側には、ｐｕ表示領域６０ａで選択したピックアップＮｏの番号を表示する領域である選択Ｐｕ表示領域６５が表示されている。選択Ｐｕ表示領域６５の下側には、欠点一覧表６４で選択した欠点の欠点コードを選択Ｐｕ表示領域６５に表示されている選択Ｐｕの欠点コード表示領域６０ｃに設定するための設定ボタン６６（＜＜と表記されたボタン）が表示されている。設定ボタン６６の下側で且つ画面の下端には、過去データボタン６７が表示されており、過去データボタン６７の右側には、登録ボタン６８が表示されている。

過去データボタン６７は、過去に設定されたピックアップコードの一覧が表示された過去データ画面を表示（例えばポップアップ表示）するためのボタンである。また、登録ボタン６８は、製品名設定画面を表示（例えばポップアップ表示）するためのボタンである。

表示領域６９は、ピックアップコードの設定作業において参照した製品の製品名を表示する領域である。過去データ画面で過去のピックアップコードセッティングデータを参照してピックアップコードを設定した場合に、過去のピックアップコードセッティングデータの製品名が表示される。

図１０に戻って、ステップＳ２００において、「ピックアップコード」の項目が選択されずにステップＳ２０８に移行した場合は、利用者端末からの情報に基づいて、ＣＩＤ（２）設定メニュー中から「リジェクトセッティング」の項目が選択されたか否かを判定し、選択されたと判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ２１０に移行し、そうでないと判定した場合（Ｎｏ）は、ステップＳ２１８に移行する。

ステップＳ２１０に移行した場合は、記憶装置４２に記憶されている最新のＣＩＤ設定データ履歴（製品情報／型番設定etc）テーブル４００に基づいて、工場、窯Ｎｏ及びラインＮｏごとに、製品コード、最大セクション数及び最大キャビティ数の情報を取得する。その後、ステップＳ２１２に移行する。

ステップＳ２１２では、記憶装置４２に記憶されている欠点マスタテーブル４１５に基づいて、欠点コード及び欠点名称（短縮）の情報を取得する。その後、ステップＳ２１４に移行する。
ステップＳ２１４では、記憶装置４２に記憶されているＣＩＤ型番割りデータ履歴テーブル４７０に基づいて、工場、窯Ｎｏ及びラインＮｏごとに、実行待ち時間（トータル分）、セクション、キャビティ、型番、実行時間（トータル分）、欠点名称、コメント、型番割り開始日時、型番割り終了日時、型番割ＳＴＡＴＵＳ、収集日時及びＳＥＱの情報を取得する。その後、ステップＳ２１６に移行する。

ステップＳ２１６では、ステップＳ２１０～Ｓ２１４で取得した情報に基づいて、リジェクトセッティング画面を表示するための情報を要求元の利用者端末へと送信する。その後、一連の処理を終了して元の処理に復帰する。
これにより、利用者端末には、図２１に示す、リジェクトセッティング画面６０５が表示される。

〔リジェクトセッティング画面６０５の説明〕
リジェクトセッティング画面６０５は、基本的には検査機で排除できない又はできていない欠点が発生した場合や金型起因の欠点が発生した場合に、これら欠点の発生したびん及び発生する可能性のあるびんを確実に排除できるように該当の金型を登録するための設定画面である。登録を行うことによって、特定の金型で製造されたびんを一定時間強制的に排除する型番割りの機能を実施することができる。即ち、型番割りは、不良品を流出させないようにする品質重視の機能である。

リジェクトセッティング画面６０５での型番割りを行う金型の登録は品質検査担当が行い、例えば、欠点の状況をペンタブのメッセージシステムで成形担当に連絡する。成形担当は、修正アクションを行いペンタブのメッセージシステムで品質検査担当に連絡する。品質検査担当は修正されたびんを確認し欠点が修正されていれば、登録の解除を行う。一方、修正されていない場合は、型番割りを行う時間を延長し再度成形担当にフィードバックを行う。

成形担当でのアクションの優先度は、最優先が型番割りを行っている金型へのアクションとなり、次点でワースト５画面６００で確認された欠点の発生率が多い金型へのアクションとなる。
リジェクトセッティング画面６０５は、図２１に示すように、ブラウザの表示領域の上部にメインメニュータブが表示され、その下に、選択状態のＣＩＤ（２）設定メニューの各項目を選択するタブが表示されている。図２１の例では、「リジェクトセッティング」の項目が選択された状態となっている。

各項目タブの左下に表示された「リジェクトセッティング」の文字の下側には、型番割情報一覧表示領域２２１が表示され、型番割情報一覧表示領域２２１の下側には型番割入力領域２２２が表示され、型番割入力領域２２２の下側には未登録型番割情報表示領域２２３が表示されている。

未登録型番割情報表示領域２２３の下側の左右中央よりやや左寄りの位置には、↑ボタン２２４が表示され、↑ボタン２２４の右側には、×ボタン２２５が表示され、×ボタン２２５の右側で且つ画面右端には、登録ボタン２２６が表示されている。
型番割情報一覧表示領域２２１は、本実施の形態において、リクエストタイム、セクション・キャビティ（ＳＣ）、型番、型番割時間、欠点名、コメント及び実行時刻の一覧を表示する領域である。

また、型番割入力領域２２２は、リクエストタイム、セクション・キャビティ（ＳＣ）、型番、型番割時間、欠点名、コメントを入力する領域である。なお、ＳＣと型番はいずれか一方のみを入力すればよい。また、未登録型番割情報表示領域２２３は、未登録の型番割情報を表示する領域である。

また、↑ボタン２２４は、未登録型番割情報表示領域２２３に表示されている型番割情報を選択した状態で押下することで、管理用サーバ１００に、選択した未登録の型番割情報を、型番割入力領域２２２に入力する処理を実行させる役割を有するボタンである。
また、×ボタン２２５は、未登録型番割情報表示領域２２３に表示されている型番割情報を選択した状態で押下することで、管理用サーバ１００に、利用者端末に確認メッセージを表示させる処理を実行させるとともに、利用者端末側でＯＫが選択された場合に選択した未登録の型番割情報を削除する処理を実行させる役割を有するボタンである。

登録ボタン２２６は、型番割入力領域２２２に型番割情報が入力された状態で押下することで、管理用サーバ１００に、入力された値をチェックさせ、ＯＫであれば確認メッセージを表示後に型番割情報をＣＩＤ型番割りデータ履歴テーブル４７０に登録する処理を実行させる役割を有するボタンである。

リジェクトセッティング画面６０５でＣＩＤ型番割りデータ履歴テーブル４７０に登録され、型番割情報一覧表示領域２２１に表示された型番割りを実行する金型の設定情報（以下、「リジェクト設定情報」と称す）は、データ収集用端末１０３を介して欠点データ処理装置１０７へと送信される。

欠点データ処理装置１０７は、データ収集用端末１０３を介して受信したリジェクト設定情報に基づいて、リクエストタイムの示す開始時刻になると、該当の金型で製造されびんを排除する型番割りの処理を開始し、設定された型番割時間が経過した時点で型番割りの処理を終了する。

図１０に戻って、ステップＳ２０８において、「リジェクトセッティング」の項目が選択されずにステップＳ２１８に移行した場合は、利用者端末からの情報に基づいて、ＣＩＤ（２）設定メニュー中から「カレントモールド」の項目が選択されたか否かを判定し、選択されたと判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ２２０に移行し、そうでないと判定した場合（Ｎｏ）は、ステップＳ２２４に移行する。

ステップＳ２２０に移行した場合は、記憶装置４２に記憶されている最新のＣＩＤ設定データ履歴（製品情報／型番設定etc）テーブル４００に基づいて、製品名称、回転数、最大セクション数、最大キャビティ数、現型番、旧型番、型番設定日時、オプション型番及び型番保護最小時間の情報を取得する。その後、ステップＳ２２２に移行する。

ステップＳ２２２では、ステップＳ２２０で取得した情報に基づいて、カレントモールド画面を表示するための情報を要求元の利用者端末へと送信する。その後、一連の処理を終了して元の処理に復帰する。
これにより、利用者端末には、図１９（ａ）に示す仕上型用のカレントモールド画面６０２又は図１９（ｂ）に示す口型用のカレントモールド画面６０３が表示される。

〔カレントモールド画面６０２及び６０３の説明〕
仕上型用のカレントモールド画面６０２は、仕上型の型番情報（現在の型番、変更前の型番及びオプション型番の型番情報）を表示するとともに、金型の交換時に、新たな金型の型番情報の設定、オプション型番の型番情報の設定、型番保護期間の設定等をする画面である。

変更前の型番情報（旧金型の型番情報）は、金型を交換したのちに、既に生産したびんを区別して取り扱うために使用される。即ち、交換後は変更前の金型（旧金型）と変更後の金型（現金型）とで製造したびんがライン上に混ざって存在するため、これらを１世代前の旧金型の型番情報と突き合わせて区別する（セクション・キャビティが同じため製びん機３０３での場所が特定できる）。また、型番保護期間は、旧金型の型番情報を保持する期間である。本実施の形態では、旧金型の認識本数及び欠点検出本数と、現金型の認識本数及び欠点検出本数とは、型番保護期間（例えば１２０分）が経過するまでの間は合算してカウントされる。

仕上型用のカレントモールド画面６０２は、図１９（ａ）に示すように、ブラウザの表示領域の上部にメインメニュータブが表示され、その下に、選択状態のＣＩＤ（２）設定メニューの各項目を選択するタブが表示されている。図１９（ａ）の例では、「カレントモールド」の項目が選択された状態となっている。

各項目タブの右下に表示された回転数の文字の下には、ＦＭ（仕上型）とＮＲ（口型）とを選択する選択ラジオボタン５６が表示され、選択ラジオボタン５６よりも下側には、現金型及び旧金型一覧が行列に区切られて表示されている。選択ラジオボタン５６は、図１９（ａ）の例では、ＦＭ（仕上型）が選択されている。

現金型及び旧金型一覧は、一番上の行に、表示領域の左端の列から右端の列に向かってセクションＮｏ１～１２が各列に１つずつ順に表示されており、このセクションＮｏの表示行の下側に、各セクションＮｏの列に対応させてキャビティＡの現金型の型番（１Ａ現型番～１２Ａ現型番（１～１２はセクションＮｏ））の設定及び表示を行う行である１Ａ～１２Ａ現型番表示・設定領域５１Ａが表示されている。１Ａ～１２Ａ現型番表示・設定領域５１Ａの表示行の下側には、各現型番の列に対応させてキャビティＡの現型番に対する旧金型の型番（１Ａ旧型番～１２Ａ旧型番）の表示行である１Ａ～１２Ａ旧型番表示領域５２Ａが表示されている。なお、旧型番は自動設定される。

同様に、１Ａ～１２Ａ旧型番表示領域５２Ａの下側には１Ｂ～１２Ｂ現型番表示・設定領域５１Ｂが表示され、１Ｂ～１２Ｂ現型番表示・設定領域５１Ｂの下側には１Ｂ～１２Ｂ旧型番表示領域５２Ｂが表示されている。同様に、１Ｂ～１２Ｂ旧型番表示領域５２Ｂの下側には１Ｃ～１２Ｃ現型番表示・設定領域５１Ｃが表示され、１Ｃ～１２Ｃ現型番表示・設定領域５１Ｃの下側には１Ｃ～１２Ｃ旧型番表示領域５２Ｃが表示されている。同様に、同様に、１Ｃ～１２Ｃ旧型番表示領域５２Ｃの下側には１Ｄ～１２Ｄ現型番表示・設定領域５１Ｄが表示され、１Ｄ～１２Ｄ現型番表示・設定領域５１Ｄの下側には１Ｄ～１２Ｄ旧型番表示領域５２Ｄが表示されている。

１Ｄ～１２Ｄ旧型番表示領域５２Ｄの下側には、オプション金型の型番（１～２０）を設定及び表示するオプション型番表示・設定領域５３が表示され、オプション金型表示・設定領域５３の下側には、型番保護期間の設定領域である保護期間設定領域５４が表示され、保護期間設定領域５４の右側には登録ボタン５５が表示されている。

上記型番保護期間は、上述した型番保護最小時間と同じであり、変更前の金型及び変更後の金型で製造されたびんがライン上で混在する期間に、変更前の金型で製造されたびんを保護する期間である。
また、本実施の形態の容器検査システム１では、型番割りが実行されているときに、現金型及び旧金型としてＣＩＤ設定データ履歴（製品情報／型番設定etc）テーブル４００に登録されていない金型で製造されたびんは排除されるようになっている。そのため、本実施の形態では、このような状態でラインを流れる良品のびんを排除しないために、該当するびんの金型をオプション金型としてＣＩＤ設定データ履歴（製品情報／型番設定etc）テーブル４００に登録することで該当するびんが排除されないように保護することができるようになっている。

また、上記１Ａ～１２Ａ現型番表示・設定領域５１Ａ、１Ｂ～１２Ｂ現型番表示・設定領域５１Ｂ、１Ｃ～１２Ｃ現型番表示・設定領域５１Ｃ及び１Ｄ～１２Ｄ現型番表示・設定領域５１Ｄには、製びん機３０３の各セクション及び各キャビティで示される位置に配置された金型の型番を入力することができるようになっている。加えて、上記保護期間設定領域５４には、型番保護期間（例えば、１２０分）を入力することができるようになっている。これら情報の入力後に、上記登録ボタン５５を押下することで、入力した内容がＣＩＤ設定データ履歴（製品情報／型番設定etc）テーブル４００に登録されるようになっている。

なお、仕上型用のカレントモールド画面６０２を介してＣＩＤ設定データ履歴（製品情報／型番設定etc）テーブル４００に登録された型番情報は、データ収集用端末１０３を介して、欠点データ処理装置１０７に送信される。
一方、口型用のカレントモールド画面６０３は、仕上型と同様に、口型の型番情報（現型番、旧型番）を表示するとともに、口型の交換時に、新たな口型の型番情報の設定、型番保護期間の設定等をする画面である。

口型用のカレントモールド画面６０３は、図１９（ｂ）に示すように、図１９（ａ）の仕上型用のカレントモールド画面６０２において、選択ラジオボタン５６がＮＲ（口型）を選択した状態となっている。加えて、１Ａ～１２Ａ、１Ｂ～１２Ｂ、１Ｃ～１２Ｃ及び１Ｄ～１２Ｄ現型番表示・設定領域５１Ａ、５１Ｂ、５１Ｃ及び５１Ｄに代えて、現口型のセクション及びキャビティごとの型番の設定及び表示を行う領域である１Ａ～１２Ａ、１Ｂ～１２Ｂ、１Ｃ～１２Ｃ及び１Ｄ～１２Ｄ現口型表示・設定領域５７Ａ、５７Ｂ、５７Ｃ及び５７Ｄが表示された構成となっている。以下、１Ａ～１２Ａ、１Ｂ～１２Ｂ、１Ｃ～１２Ｃ及び１Ｄ～１２Ｄを、「１Ａ～１２Ｄ」と略記する。

さらに、１Ａ～１２Ｄ旧型番表示領域５２Ａ、５２Ｂ、５２Ｃ及び５２Ｄに代えて、旧口型のセクション及びキャビティごとの型番を表示する領域である、１Ａ～１２Ｄ旧口型表示領域５８Ａ、５８Ｂ、５８Ｃ及び５８Ｄが表示された構成となっている。なお、口型用のカレントモールド画面６０３では、オプション型番表示・設定領域５３が非表示となっている。

また、上記１Ａ～１２Ｄ現口型表示・設定領域５７Ａ、５７Ｂ、５７Ｃ及び５７Ｄには、製びん機３０３の各セクション及び各キャビティで示される位置に配置された口型の型番を入力することができるようになっている。加えて、上記保護期間設定領域５４には、口型の型番保護期間を入力することができるようになっている。これら情報の入力後に、上記登録ボタン５５を押下することで、入力した内容がＣＩＤ設定データ履歴（製品情報／型番設定etc）テーブル４００に登録されるようになっている。

図１０に戻って、ステップＳ２１８において、「カレントモールド」の項目が選択されずにステップＳ２２４に移行した場合は、利用者端末からの情報に基づいて、ＣＩＤ（２）設定メニュー中からその他の項目が選択されたか否かを判定し、選択されたと判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ２２６に移行し、そうでないと判定した場合（Ｎｏ）は、一連の処理を終了して元の処理に復帰する。

ステップＳ２２６に移行した場合は、記憶装置４２に記憶された、その他の項目に係るテーブルから、その他の項目に必要な情報を取得して、ステップＳ２２８に移行する。
ステップＳ２２８では、ステップＳ２２６で取得した情報に基づいて、その他の項目の初期画面を表示するための情報を要求元の利用者端末へと送信する。その後、一連の処理を終了して元の処理に復帰する。

これにより、利用者端末の表示装置には、その他の項目の初期画面が表示される。
〔欠点情報表示処理〕
次に、ワースト５画面を介して行われる欠点に係る各種欠点情報の表示処理の動作について説明する。
ここで、図１１は、欠点情報表示処理の処理手順の一例を示すフローチャートである。

ＣＰＵ３０は、ＲＯＭ３２の所定領域に格納されている所定のプログラムを起動させ、そのプログラムに従って、図１１のフローチャートに示す欠点情報表示処理を実行する。
欠点情報表示処理は、ＣＰＵ３０において実行されると、図１１に示すように、まず、ステップＳ３００に移行する。

ステップＳ３００では、利用者端末からの情報に基づいて、期間選択ボタン群８２のうち最新１０分、最新３０分、前１時間、前２時間、当シフト、前シフト、当日及び前日ボタンのうちいずれか１つが選択されたか否かを判定する。そして、選択されたと判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ３０２に移行し、そうでないと判定した場合（Ｎｏ）は、ステップＳ３１４に移行する。

ここで、以降のステップＳ３０２～Ｓ３１０の処理は、各種情報の取得に、選択された期間に対応するＣＩＤ定時データ履歴テーブル又はそのワークテーブルを用いる点が異なるのみで、上記ステップＳ１０２～Ｓ１１０と同様の処理となるため説明を省略する。
なお、最新１０分ボタンが選択された場合は、例えば、ステップＳ３０４であれば、最新のＣＩＤ定時データ履歴（認識本数／排除本数etc）テーブル４１０に基づいて情報を取得する。一方、最新１０分以外の他の期間が選択された場合は、各ワークテーブル４１０＿１～４１０＿４のうち、選択された期間に対応するワークテーブルに基づいて情報を取得する。

ステップＳ３１２では、ステップＳ３０４～Ｓ３１０で取得した情報に基づいて、選択された各期間に対応する全欠点及び重大欠点のワースト５画面を表示するための情報を要求元の利用者端末へと送信する。その後、一連の処理を終了して元の処理に復帰する。
これにより、利用者端末には、選択された期間に対応する全欠点の欠点情報の一覧（１位～Ｘ位まで）及び重大欠点の欠点情報の一覧（１位～Ｘ位まで）が表示されたワースト５画面が表示される。このとき、選択ラジオボタン８１で「検出率」が選択されている場合、欠点一覧８７には、欠点の種類ごとに総検出率で降順にソートされた順番で１位～Ｘ位までの欠点情報が表示される。一方、重大欠点一覧８８は、選択ラジオボタン８１で「検出率」が選択されていても、重大欠点の種類ごとに総検出本数で降順にソートされた順番で１位～Ｘ位までの欠点情報が表示される。但し、欠点一覧８７及び重大欠点一覧８８は、初期表示時において、画面内に表示されるのは１位～５位まで（ワースト５）となっている。右端の垂直スクロールバーを下にスクロールすることで６位～Ｘ位までの欠点情報を表示することができる。

一方、選択ラジオボタン８１で「本数」が選択されている場合、欠点一覧８７及び重大欠点一覧８８には、欠点及び重大欠点の種類ごとに検出率の表示を総検出本数の表示に変更した欠点情報が検出率を表示したときの順位のまま１位～Ｘ位まで表示される。
一方、ステップＳ３００において、収集期間が選択されずにステップＳ３１４に移行した場合は、選択ラジオボタン８１の選択内容が変更されたか否かを判定し、変更されたと判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ３１６に移行し、そうでないと判定した場合（Ｎｏ）は、ステップＳ３２２に移行する。

ステップＳ３１６に移行した場合は、利用者端末からの情報に基づいて、検出率が選択されたか否かを判定し、選択されたと判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ３１８に移行し、そうでないと判定した場合（Ｎｏ）は、ステップＳ３２０に移行する。
ステップＳ３１８に移行した場合は、欠点一覧８７について検出率を表示し且つ本数を非表示にしたワースト５画面を表示するための情報を要求元の利用者端末に送信する。その後、一連の処理を終了して元の処理に復帰する。

これにより、利用者端末の表示装置には、欠点一覧８７について、総検出率で降順にソートされた欠点情報が表示される。この欠点情報の表示内容としては、具体的に、欠点の名称（即ち、欠点の種類を示す名称）、セクション・キャビティ、欠点の名称及びセクション・キャビティごとの検出率、並びに欠点の名称ごとの総検出率が表示され、本数及び総検出本数は非表示となる。

一方、本数が選択されてステップＳ３２０に移行した場合は、欠点一覧８７について本数を表示し、且つ検出率を非表示にしたワースト５画面を表示するための情報を要求元の利用者端末に送信する。その後、一連の処理を終了して元の処理に復帰する。
これにより、利用者端末の表示装置には、欠点一覧８７について、検出率の表示を総検出本数の表示に変更した欠点情報が検出率を表示したときの順位のまま表示される。この欠点情報の表示内容としては、具体的に、欠点の名称、セクション・キャビティ、欠点及びセクション・キャビティごとの検出本数、並びに欠点ごとの総検出本数が表示され、検出率及び総検出率は非表示となる。

また、ステップＳ３１４において、選択ラジオボタン８１の選択内容が変更されずにステップＳ３２２に移行した場合は、利用者端末からの情報に基づいて、ワースト５画面中の「欠点」のリンクが選択されたか否かを判定する。そして、選択されたと判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ３２４に移行し、そうでないと判定した場合（Ｎｏ）は、ステップＳ３２６に移行する。

ステップＳ３２４に移行した場合は、選択されている収集期間に対応する表示条件に従って、選択された欠点に対するピックアップ別検出率の経時変化のグラフ画面を表示するための情報を要求元の利用者端末に送信する。その後、一連の処理を終了して元の処理に復帰する。

ここで、「欠点」のリンクは、各欠点名称に張られたリンクを示す。即ち、本実施の形態では、欠点名称を利用者端末の入力装置で選択（マウス等でクリック）することで、選択した欠点のピックアップ別検出率の経時変化のグラフ画面へと遷移することができるようになっている。

また、本実施の形態において、表示条件としては、収集期間の設定が「最新１０分」、「最新３０分」、「前１時間」、「前２時間」及び「当シフト」の場合、例えば、「開始日時:最新収集日時」、「表示間隔:１０時間」、「率計算間隔：１０分」、「グラフ種類:欠点」、「欠点コード：該当行の欠点コード」、「セクション：全て」、「キャビティ：全て」、「流れ：平均」の表示条件でピックアップ別検出率の経時変化のグラフ画面が表示される。また、収集日時が「当日」の場合、上記表示条件のうち、「表示間隔」が「２４時間」、「率計算間隔」が「３０分」となり、「前シフト」の場合、上記表示条件のうち、「開始日時」が「当シフトの－１０分」となる。また、収集日時が「前日」の場合、上記表示条件のうち、「開始日時」が「当日の－１０分」、「表示間隔」が「２４時間」、「率計算間隔」が「３０分」となる。

なお、上記表示条件については、以下の「セクション・キャビティ」のリンクが選択された場合についても同様となる。
一方、ステップＳ３２２で「欠点」のリンクが選択されずにステップＳ３２６に移行した場合は、利用者端末からの情報に基づいて、「セクション・キャビティ」のリンクが選択されたか否かを判定する。そして、選択されたと判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ３２８に移行し、そうでないと判定した場合（Ｎｏ）は、一連の処理を終了し元の処理に復帰する。

ステップＳ３２８に移行した場合は、選択されている収集期間に対応する表示条件に従って、選択された「セクション・キャビティ」に対するピックアップ別検出率の経時変化のグラフ画面を表示するための情報を要求元の利用者端末に送信する。その後、一連の処理を終了して元の処理に復帰する。

ここで、「セクション・キャビティ」のリンクは、各「セクション・キャビティ」に張られたリンクを示す。即ち、本実施の形態では、「セクション・キャビティ」を入力装置で選択（マウス等でクリック）することで、選択した「セクション・キャビティ」のピックアップ別検出率の経時変化のグラフ画面へと遷移することができるようになっている。

ここで、図２３は、グラフ種類としてピックアップが選択されている場合の、ピックアップ別検出率の経時変化のグラフ画面の一例を示す図である。
グラフ画面６０８は、図２３に示すように、上側の表示条件タブ９１及びグラフタブ９２までの表示内容が表示条件設定画面６０１と同様となっている。表示条件タブ９１の下側に、最新収集日時の表示領域２１１が表示され、表示領域２１１の右隣に表示条件として設定された欠点名称の表示領域２１２が表示されている。図２３の例では、表示領域２１１には「２０１３／９／１２（木） ０４：００」が表示され、表示領域２１２には「欠点ｓ」が表示されている。表示領域２１２の右側で且つグラフタブ９２の下側には、スケールを再設定するためのＤＤＬ２１３が表示され、ＤＤＬ２１３の右隣には、グラフ内にプロットを表示するか否かのチェックボックス２１４が表示されている。チェックボックス２１４の右隣には、表示ボタン２１５が表示されている。

表示領域２１１及び２１２、ＤＤＬ２１３並びにチェックボックス２１４の下側には、ピックアップ別検出率の経時変化のグラフ２１６が表示されており、図２３の例では、グラフ２１６中に検出率の時点データのリスト２１７が表示された状態となっている。
グラフ２１６は、表示条件設定画面６０１で設定された表示条件と、上部のＤＤＬ２１３で設定されたスケールと、チェックボックス２１４のチェック内容とに基づいて表示されるグラフであり、折れ線グラフとなっている。グラフ２１６において、縦軸が欠点（図２３の例では欠点ｓ）の検出率、横軸が時間となっている。

グラフ２１６では、表示間隔については「１０時間」が設定されており、セクション及びキャビティの表示条件については「全体」が設定されている。
ＤＤＬ２１３にてスケールを再設定し、チェックボックス２１４のチェック内容を再設定してから表示ボタン２１５が押下されることで、設定された内容でグラフ２１６が再表示される。なお、図示省略するが、チェックボックス２１４にチェックが入っている場合は、グラフ２１６内にプロットが表示される。

また、図示省略するが、グラフ２１６は、グラフ種類として欠点が設定されている場合、その欠点の警報設定上限値が赤線で表示されるようになっている。
リスト２１７は、利用者端末の入力装置によって、グラフ２１６の表示領域が選択（マウス等でクリック）されたときに、その時点での検出率を表示したものである。

〔表示条件設定処理及び経時変化画面表示処理〕
次に、表示条件設定画面６０１を介して行われる表示条件設定処理及び経時変化画面表示処理の動作について説明する。
ここで、図１２は、表示条件設定処理及び経時変化画面表示処理の処理手順の一例を示すフローチャートである。

ＣＰＵ３０は、ＲＯＭ３２の所定領域に格納されている所定のプログラムを起動させ、そのプログラムに従って、図１２のフローチャートに示す表示条件設定処理及び経時変化画面表示処理を実行する。
表示条件設定処理及び経時変化画面表示処理は、ＣＰＵ３０において実行されると、図１２に示すように、まず、ステップＳ３５０に移行する。

ステップＳ３５０では、利用者端末からの情報に基づいて、ピックアップ別検出率の経時変化のグラフについて、以下の複数の表示条件の設定項目（ＤＤＬ９３～９９、２００）のうちいずれか１つが選択されたか否かを判定する。そして、選択されたと判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ３５２に移行し、そうでないと判定した場合（Ｎｏ）は、ステップＳ３５８に移行する。

ステップＳ３５２に移行した場合は、選択された項目のリストを表示して、ステップＳ３５６に移行する。
ステップＳ３５６では、リストから選択された条件（例えば、表示間隔１０時間、率計算間隔１０分など）を設定して一連の処理を終了し、元の処理に復帰する。

一方、ステップＳ３５０において、ＤＤＬが選択されずにステップＳ３５８に移行した場合は、利用者端末からの情報に基づいて、「グラフ表示ボタン２０１」が押下されたか否かを判定し、押下されたと判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ３６０に移行し、そうでないと判定した場合（Ｎｏ）は、ステップＳ３５０に移行する。

ステップＳ３６０に移行した場合は、表示条件が全て設定されているか否かを判定し、全て設定されていると判定した場合（Ｙｅｓ）は、設定された条件をセッションに保存して、ステップＳ３６２に移行し、そうでないと判定した場合（Ｎｏ）は、ステップＳ３５０に移行する。

ステップＳ３６２に移行した場合は、記憶装置４２に記憶されている表示条件に関連するテーブルに基づいて、設定された表示条件に対応する情報を取得し、取得した情報に基づいて設定された表示条件に対応するピックアップ別検出率の経時変化のグラフ画面を生成する。そして、生成したグラフ画面を表示するための情報を要求元の利用者端末に送信する。その後、一連の処理を終了して元の処理に復帰する。

ここで、表示条件をセッションに保存しておくことで、次回、欠点別経時変化の項目が選択されたときに、表示条件設定画面６０１に移行することなく保存された表示条件で経時変化グラフを作成し、そのグラフ画面を表示する処理を実行するようになっている。
これにより、利用者端末の表示装置には、例えば、図２３に示すようなピックアップ別検出率の経時変化のグラフ画面６０８が表示される。

〔ピックアップコード設定処理〕
次に、ピックアップコードセッティング画面６０４を介して行われるピックアップコード設定処理の動作について説明する。ここで、ピックアップコードセッティング画面６０４における以下に説明する各種設定を、品質検査側端末１０２にて行う場合の動作を説明する。

ここで、図１３は、ピックアップコード設定処理の処理手順の一例を示すフローチャートである。また、図２２（ａ）は、過去データ画面６０６の一例を示す図であり、（ｂ）は、製品名設定画面６０７の一例を示す図である。
ＣＰＵ３０は、ＲＯＭ３２の所定領域に格納されている所定のプログラムを起動させ、そのプログラムに従って、図１３のフローチャートに示すピックアップコード設定処理を実行する。

ピックアップコード設定処理は、ＣＰＵ３０において実行されると、図１３に示すように、まず、ステップＳ４００に移行する。
ステップＳ４００では、品質検査側端末１０２からの情報に基づいて、ピックアップＮｏが選択されたか否かを判定し、選択されたと判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ４０２に移行し、そうでないと判定した場合（Ｎｏ）は、ステップＳ４０８に移行する。

ステップＳ４０２に移行した場合は、欠点一覧表６４から欠点が選択されたか否かを判定し、選択されたと判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ４０４に移行し、そうでないと判定した場合（Ｎｏ）は、ステップＳ４０８に移行する。
ステップＳ４０４に移行した場合は、品質検査側端末１０２からの情報に基づいて、設定ボタン６６（「＜＜」と表記）が押下されたか否かを判定し、押下されたと判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ４０６に移行し、そうでないと判定した場合（Ｎｏ）は、一連の処理を終了して元の処理に復帰する。

ステップＳ４０６に移行した場合は、選択された欠点コードを、選択されたピックアップＮｏに対して設定するとともに、この欠点コードをステーション表示領域６０ｂに表示するための情報を要求元の品質検査側端末１０２に送信する。その後、一連の処理を終了して元の処理に復帰する。

これにより、品質検査側端末１０２の表示装置に表示された、選択されたピックアップＮｏに対応するステーション表示領域６０ｂに、選択された欠点コードが表示される。
一方、ステップＳ４０２において欠点が選択されずにステップＳ４０８に移行した場合は、重大欠点のチェックボックス６０ｄがチェックされたか否かを判定し、チェックされたと判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ４１０に移行し、そうでないと判定した場合（Ｎｏ）は、一連の処理を終了し元の処理に復帰する。

ステップＳ４１０に移行した場合は、チェックボックス６０ｄがチェック状態（例えば重大フラグ＝１）の場合は非チェック状態（例えば重大フラグ＝０）に設定し、非チェック状態の場合はチェック状態に設定する。その後、一連の処理を終了して元の処理に復帰する。

また、ステップＳ４００において、ピックアップＮｏが選択されずにステップＳ４１２に移行した場合は、品質検査側端末１０２の入力装置を介して過去データボタン６７が押下されたか否かを判定する。そして、押下されたと判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ４１４に移行し、そうでないと判定した場合（Ｎｏ）は、ステップＳ４１８に移行する。

ステップＳ４１４に移行した場合は、記憶装置４２に記憶されているＣＩＤ設定データ履歴（ピックアップコード設定）テーブル４５０に基づいて、工場、窯Ｎｏ及びラインＮｏごとに、予め設定された最大数（例えば３００件）の過去に設定されたピックアップコード設定の情報（製品名称、更新日時）を取得して、ステップＳ４１６に移行する。

ステップＳ４１６では、ステップＳ４１４で取得した情報に基づいて、過去のピックアップコードセッティングデータ（以下、「過去データ」と称す）の一覧が表示された過去データ画面を表示するための情報を要求元の品質検査側端末１０２に送信する。その後、一連の処理を終了して元の処理に復帰する。

これにより、例えば、図２２（ａ）に示すような、過去データ画面６０６（初期画面）が、品質検査側端末１０２の表示装置に表示される。
〔過去データ画面６０６の説明〕
ここで、過去データ画面６０６は、過去に設定されたピックアップコードセッティングデータ（過去データ）のタイトル（製品名称）一覧を表示した画面であり、任意の過去データに対応する製品名称を一覧表から選択して、現在の製品のピックアップコードの設定に利用することができる。また、製品名を入力することで絞り込み検索を行うこともできるようになっている。即ち、過去に製造した同じ製品又は似たような製品の過去データを利用することでピックアップコードの設定にかかる負荷を軽減することを目的としている。

過去データ画面６０６は、図２２（ａ）に示すように、ウィンドウの表示領域の上部に「ピックアップコードセッティング：過去データ」の文字が表示され、その下側に、検索対象の製品名を入力且つ表示する検索製品名入力領域７０が表示されている。図２２（ａ）の例では、検索対象の製品名として「製品Ａ」が表示されている。

検索製品名入力領域７０の右側には表示ボタン７１が表示され、検索製品名入力領域７０の下側には過去データに対応する製品名及び更新日時の一覧である過去データ一覧７２が表示されている。図２２（ａ）の例では、一覧の一番上に製品名として「製品Ｂ」が、更新日として「２０１３／０９／１０ １０：１２」が表示されている。また、過去データ一覧７２の右端には垂直スクロールバーが設けられており、品質検査側端末１０２の入力装置にて、垂直スクロールバーを下にスクロールすることで、画面に表示されていない過去データを表示することができるようになっている。例えば、最大で３００件までの過去データを表示できるようになっている。

ここで、上記表示ボタン７１は、検索製品名入力領域７０に入力されている製品名で絞り込み検索をかけるためのボタンである。この検索によって索出された過去データの一覧が過去データ一覧７２に表示される。
過去データ一覧７２の下側には、左から順に削除ボタン７３、選択ボタン７４及び戻るボタン７５が表示されている。

ここで、削除ボタン７３は、過去データ一覧７２で選択されている行の過去データを削除するためのボタンである。また、選択ボタン７４は、過去データ一覧７２で選択されている行の過去データをピックアップコードセッティング画面６０４に反映するためのボタンである。また、戻るボタン７５は、過去データ画面６０６からピックアップコードセッティング画面６０４に戻るためのボタンである。

図１３に戻って、ステップＳ４１２において、過去データボタン６７が押下されずにステップＳ４１８に移行した場合は、品質検査側端末１０２からの情報に基づいて、登録ボタン６８が押下されたか否かを判定する。そして、押下されたと判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ４２０に移行し、そうでないと判定した場合（Ｎｏ）は、一連の処理を終了して元の処理に復帰する。

ステップＳ４２０に移行した場合は、ピックアップコードセッティング画面６０４にて入力された情報の内容をチェックし、内容に問題がない（ＯＫ）と判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ４２２に移行し、そうでない（ＮＧ）と判定した場合（Ｎｏ）は、エラーメッセージを表示する。その後、一連の処理を終了して元の処理に復帰する。

ステップＳ４２２に移行した場合は、重大欠点の設定処理を行って、ステップＳ４２４に移行する。
重大欠点の設定処理は、ピックアップＮｏ１～６０にそれぞれ設定された欠点コードのなかに、同一の欠点コードがＮ個（Ｎは２以上の自然数）ある場合で且つＮ個のうちいずれかＭ個（ＭはＮ＞Ｍの自然数）の重大欠点のチェックボックス６０ｄがチェック状態となっており、（Ｎ－Ｍ）個が非チェック状態となっている場合に、同じ欠点コードに対する非チェック状態のチェックボックス６０ｄを全てチェック状態とする処理となる。

ステップＳ４２４では、製品名設定画面を表示するための情報を要求元の品質検査側端末１０２に送信して、一連の処理を終了し元の処理に復帰する。
これにより、例えば、図２２（ｂ）に示すような、製品名設定画面６０７が、品質検査側端末１０２の表示装置に表示される。

〔製品名設定画面６０７の説明〕
ここで、製品名設定画面６０７は、ピックアップコード設定をした登録対象の製品の製品名を設定する画面である。
製品名設定画面６０７は、図２２（ｂ）に示すように、ウィンドウの表示領域の上部に、製品名を選択及び表示するためのＤＤＬであるＤＤＬ７６が表示されている。ＤＤＬ７６の下側には、左端から順番に、登録ボタン７７、過去データ登録ボタン７８及び戻るボタン７９が表示されている。

登録ボタン７７は、現在のピックアップコードセッティングデータを新規にＣＩＤ設定データ履歴（ピックアップコード設定）テーブル４５０に登録するためのボタンである。また、過去データ登録ボタン７８は、現在のピックアップコードセッティングデータを過去データとしてＣＩＤ設定データ履歴（ピックアップコード設定）テーブル４５０に登録するためのボタンである。また、戻るボタン７９は、製品名設定画面６０７からピックアップコードセッティング画面６０４に戻るためのボタンである。

〔過去データ設定処理〕
次に、過去データ画面６０６を介して行われる過去データ設定処理の動作について説明する。
ここで、図１４は、過去データ設定処理の処理手順の一例を示すフローチャートである。
ＣＰＵ３０は、ＲＯＭ３２の所定領域に格納されている所定のプログラムを起動させ、そのプログラムに従って、図１４のフローチャートに示す過去データ設定処理を実行する。

過去データ設定処理は、ＣＰＵ３０において実行されると、図１４に示すように、まず、ステップＳ４５０に移行する。
ステップＳ４５０では、品質検査側端末１０２からの情報に基づいて、表示ボタン７１が押下されたか否かを判定し、押下されたと判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ４５２に移行し、そうでないと判定した場合（Ｎｏ）は、ステップＳ４５６へと移行する。

ここで、検索製品名入力領域７０に製品名称が入力されていない状態で表示ボタン７１が押下された場合はエラーを表示する。
ステップＳ４５２に移行した場合は、管理用サーバ１００の記憶装置４２に記憶されているＣＩＤ設定データ履歴（ピックアップコード設定）テーブル４５０に基づいて、工場、窯Ｎｏ、ラインＮｏ及び検索製品名入力領域７０に入力されている製品名称ごとに、過去データの情報（製品名称、更新日時）を取得して、ステップＳ４５４に移行する。

ステップＳ４５４では、ステップＳ４５２で取得した情報に基づいて、絞り込み検索によって索出した過去データの一覧を過去データ一覧７２に表示するための情報を要求元の品質検査側端末１０２に送信して、一連の処理を終了し元の処理に復帰する。
これにより、品質検査側端末１０２の表示装置に表示されている過去データ画面６０６の過去データ一覧には、絞り込み検索によって索出された過去データの製品名及び更新日時の一覧が表示される。

一方、ステップＳ４５０において、表示ボタン７１が押下されずにステップＳ４５６に移行した場合は、品質検査側端末１０２からの情報に基づいて、選択ボタン７４が押下されたか否かを判定する。そして、選択ボタン７４が押下されたと判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ４５８に移行し、そうでないと判定した場合（Ｎｏ）は、ステップＳ４６２に移行する。

ステップＳ４５８に移行した場合は、選択された製品の過去データを取得して、ステップＳ４６０に移行する。
ステップＳ４６０では、取得した過去データをピックアップコードセッティング画面６０４に反映し、過去データ画面６０６を閉じるとともに、過去データの反映されたピックアップコードセッティング画面６０４を表示するための情報を品質検査側端末１０２に送信する。その後、一連の処理を終了して元の処理に復帰する。

これにより、品質検査側端末１０２の表示装置において、過去データ画面６０６が閉じられるとともに、選択した過去データの反映されたピックアップコードセッティング画面６０４が表示される。
また、ステップＳ４５６において、選択ボタン７４が押下されずにステップＳ４６２に移行した場合は、品質検査側端末１０２からの情報に基づいて、削除ボタン７３が押下されたか否かを判定する。そして、押下されたと判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ４６４に移行し、そうでないと判定した場合（Ｎｏ）は、ステップＳ４６６に移行する。

ステップＳ４６４に移行した場合は、管理用サーバ１００の記憶装置４２に記憶されているＣＩＤ設定データ履歴（ピックアップコード）テーブル４５０から、選択された製品名称に対応する過去データ（レコード）を削除する。その後、一連の処理を終了し元の処理に復帰する。

また、ステップＳ４６２において、削除ボタン７３が押下されずにステップＳ４６６に移行した場合は、品質検査側端末１０２からの情報に基づいて、戻るボタン７５が押下されたか否かを判定する。そして、押下されたと判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ４６８に移行し、そうでないと判定した場合（Ｎｏ）は、一連の処理を終了して元の処理に復帰する。

ステップＳ４６８に移行した場合は、過去データ画面６０６を閉じてピックアップコードセッティング画面６０４を表示するための情報を品質検査側端末１０２に送信する。その後、一連の処理を終了して元の処理に復帰する。
これにより、品質検査側端末１０２の表示装置において、過去データ画面６０６が閉じられるとともに、ピックアップコードセッティング画面６０４が表示される。

〔ピックアップコードセッティングデータ登録処理〕
次に、製品名設定画面６０７を介して行われるピックアップコードセッティングデータ登録処理の動作について説明する。
ここで、図１５は、ピックアップコードセッティングデータ登録処理の処理手順の一例を示すフローチャートである。

ＣＰＵ３０は、ＲＯＭ３２の所定領域に格納されている所定のプログラムを起動させ、そのプログラムに従って、図１５のフローチャートに示すピックアップコードセッティングデータ登録処理を実行する。
ピックアップコードセッティングデータ登録処理は、ＣＰＵ３０において実行されると、図１５に示すように、まず、ステップＳ４８０に移行する。

ステップＳ４８０では、品質検査側端末１０２からの情報に基づいて、登録ボタン７７が押下されたか否かを判定し、押下されたと判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ４８２に移行し、そうでないと判定した場合（Ｎｏ）は、ステップＳ４８６へと移行する。
ここで、製品名称が選択されていない又は入力されていない状態で登録ボタン７７が押下された場合はエラーを表示する。

ステップＳ４８２に移行した場合は、ピックアップコードセッティング画面６０４で入力された情報の内容をチェックして、内容に問題が無い（ＯＫ）と判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ４８４に移行し、そうでない（ＮＧ）と判定した場合（Ｎｏ）は、エラーメッセージを表示する。その後、一連の処理を終了して元の処理に復帰する。

ステップＳ４８４に移行した場合は、ピックアップコードセッティングデータの新規登録処理を実行して、一連の処理を終了し元の処理に復帰する。
具体的に、登録処理のロジックに対して渡す引数の設定を行う。例えば、ピックアップＮｏ１～６０にそれぞれ対応するステーションコード、欠点コード及び重大欠点の引数と、新規登録を示す引数とを含む引数の配列データを生成し、生成した配列データを登録処理用のビジネスロジックに引き渡す。これにより、ピックアップコードセッティング画面６０４で入力されたピックアップコードセッティングデータがＣＩＤ設定データ履歴（ピックアップコード設定）テーブル４５０に登録される。

一方、ステップＳ４８０において、登録ボタン７７が押下されずにステップＳ４８６に移行した場合は、品質検査側端末１０２からの情報に基づいて、過去データ登録ボタン７８が押下されたか否かを判定する。そして、押下されたと判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ４８８に移行し、そうでないと判定した場合（Ｎｏ）は、ステップＳ４９２に移行する。

ステップＳ４８８に移行した場合は、ピックアップコードセッティング画面６０４で入力された情報の内容をチェックして、内容に問題が無い（ＯＫ）と判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ４９０に移行し、そうでない（ＮＧ）と判定した場合（Ｎｏ）は、エラーメッセージを表示する。その後、一連の処理を終了して元の処理に復帰する。

ステップＳ４９０に移行した場合は、ピックアップコードセッティングデータを過去データとしてＣＩＤ設定データ履歴（ピックアップコード設定）テーブル４５０に登録する過去データ登録処理を実行して、一連の処理を終了し元の処理に復帰する。
例えば、ピックアップＮｏ１～６０にそれぞれ対応するステーションコード、欠点コード及び重大欠点の引数と、過去データとしての登録を示す引数とを含む引数の配列データを生成し、生成した配列データを登録処理用のビジネスロジックに引き渡す。これにより、ピックアップコードセッティング画面６０４で入力されたピックアップコードセッティングデータが過去データとしてＣＩＤ設定データ履歴（ピックアップコード設定）テーブル４５０に登録される。

また、ステップＳ４８６において、過去データ登録ボタン７８が押下されずにステップＳ４９２に移行した場合は、品質検査側端末１０２からの情報に基づいて、戻るボタン７９が押下されたか否かを判定する。そして、押下されたと判定した場合（Ｙｅｓ）は、ステップＳ４９４に移行し、そうでないと判定した場合（Ｎｏ）は、一連の処理を終了して元の処理に復帰する。

ステップＳ４９４に移行した場合は、製品名設定画面６０７を閉じてピックアップコードセッティング画面６０４を表示するための情報を品質検査側端末１０２に送信する。その後、一連の処理を終了して元の処理に復帰する。
これにより、品質検査側端末１０２の表示装置において、製品名設定画面６０７が閉じられるとともに、ピックアップコードセッティング画面６０４が表示される。

ここで、図２４は、びん質量の経時変化を示す壜質量推移画面７０１の一例を示す図であり、図２５は、ライン別の歩留りの推移を示すライン別歩留り推移画面７０２の一例を示す図であり、図２６は、モールドリード（型番読取り）の集計結果を示すモールドリード画面７０３の一例を示す図である。

本実施の形態の容器検査システム１では、上記説明した統計情報以外にも、図２４に示す壜質量推移画面７０１、図２４に示すライン別歩留り推移画面７０２及び図２６に示すモールドリード画面７０３を表示することができる。他にも、図示省略するが、びん寸法の推移を示す画面、ロス分析グラフ画面、モールドヒストリー画面（型番の設定履歴画面）などを表示することができる。

壜質量推移画面７０１は、管理用サーバ１００の記憶装置４２に記憶されているびん質量データ履歴テーブル５００（図８（ｃ）を参照）に基づいて生成される画面である。この壜質量推移画面７０１は、図２４に示すように、縦軸がびんの質量を示し、横軸が時間を示すグラフ画面である。図２４に示す例では、標準質量が１２３４．０[ｇ]に設定され、上限質量が２２２２．２[ｇ]に設定され、下限質量が１１１１．１[ｇ]に設定されている。

グラフ中には、これら標準質量、上限質量及び下限質量の数値が示されているとともに、測定された質量がプロットされている。また、グラフの左側には、標準質量、上限質量及び下限質量の数値が表示され、これらの下側には、平均質量（図２４の例では１２１２．１）と標準偏差（図２４の例では１２３．４）とが表示されている。

この壜質量推移画面７０１から、びんの質量が許容範囲内に収まっているか否かを把握することができる。
また、ライン別歩留り推移画面７０２は、管理用サーバ１００の記憶装置４２に記憶されているＣＳ定時データ履歴（ライン別歩留り）テーブル５１０（図８（ｄ）を参照）に基づいて生成される画面である。このライン別歩留り推移画面７０２は、図２５に示すように、ライン別の歩留りの時間推移を示す表を表示する画面である。

図２５中の上部に表示された「窯１・ライン１」～「窯１・ライン５」、「窯２・ライン１」～「窯２・ライン４」、「窯３・ライン１」～「窯３・ライン３」は、窯Ｎｏ及びラインＮｏを示しており、例えば、窯Ｎｏ１のラインＮｏ１であれば、「窯１・ライン１」となる。表の左端には、上から順に０７－０８、０８－０９、０９－１０・・・といったように１時間ごとの時刻範囲が順に記載されている。これら各時刻範囲に対してラインごとの歩留りの割合（％）が表示されている。

図２５に示す例では、歩留りの割合が例えば８８[％]未満の箇所を例えば赤色で表示するなど色を変えて表示しており、このライン別歩留り推移画面７０２から、歩留りの悪いラインをすぐに把握できるようになっている。
また、モールドリード画面７０３は、管理用サーバ１００の記憶装置４２に記憶されているＣＩＤ定時データ履歴（認識本数／排除本数etc）テーブル４１０（図５（ｂ）を参照）に登録されているＣＩＤ読込情報に基づいて生成される画面である。このモールドリード画面７０３は、図２６に示すように、左側に、金型のセクション及びキャビティごと且つ流れごとの型番が正常に読み取られたびんの総本数が表形式で表示されている。この表の右側には、流れごとの正常に読み取られたびんの総本数と、読み取りエラーの発生率と、発生したエラーの種類ごとの検出数と、全流れに対する正常に読み取られたびんの総本数と、読み取りエラーの発生率と、発生したエラーの種類ごとの検出数とが表形式で表示されている。

このモールドリード画面７０３から、型番読取装置１５０によるびんに記された金型の型番の読取状況を把握することができる。
〔対応関係〕
本実施の形態において、型番読取装置１５０は、発明１及び１０の識別情報読取手段に対応し、総合検査装置１５は、発明１乃至５、９及び１０の欠点検査手段に対応している。

また、本実施の形態において、データ収集用端末１０３及び欠点データ処理装置１０７における、総合検査装置１５によって検査された欠点の検査結果の情報（欠点の検査数等）を型番情報に対応付けて収集する機能は、発明１及び１０の欠点検査情報収集手段に対応している。

また、本実施の形態において、データ収集用端末１０３及び欠点データ処理装置１０７において欠点の総検出本数や総検出率等の統計量を算出する機能は、発明１、３、４、５及び１０の欠点統計量算出手段に対応し、ステップＳ４００、Ｓ４０２、Ｓ４０８及びＳ４１０は、発明１、７、８及び１０の属性情報付与手段に対応している。

また、本実施の形態において、ステップＳ１００～Ｓ１１２及びＳ３００～Ｓ３１２は、発明１乃至６、９及び１０の欠点情報出力手段に対応し、管理用サーバ１００による欠点の検出数の集計情報を管理用サーバ１００の記憶装置４２に登録する処理は、発明３の欠点集計情報登録手段及び発明５の欠点検出数情報登録手段に対応している。

また、本実施の形態において、記憶装置４２は、発明３の欠点集計情報記憶手段、発明５の欠点検査数情報記憶手段及び欠点検出数情報記憶手段に対応し、管理用サーバ１００による欠点の検査数（認識本数）の集計情報を管理用サーバ１００の記憶装置４２に登録する処理は、欠点検査数情報登録手段に対応する。

また、本実施の形態において、データ収集用端末１０３及び欠点データ処理装置１０７における、総合検査装置１５によって検査された型番情報ごとのびんの総数である欠点検査数を集計する機能は、発明４及び５の欠点検査数集計手段に対応している。
また、本実施の形態において、ステップＳ４８６～Ｓ４９０は、発明８の属性履歴情報登録手段に対応し、重大欠点一覧８８に表示される型番情報ごとの重大欠点の総検出数の情報及び製品ごとの重大欠点の総検出数の情報は、発明１、２、３及び１０の第１の欠点情報に対応している。

また、本実施の形態において、欠点一覧８７に表示される型番情報ごとの欠点の総検出数の情報及び製品ごとの欠点の総検出数の情報は、発明２及び３の第２の欠点情報に対応し、欠点一覧８７に表示される型番情報ごとの欠点の検出率の情報及び製品ごとの欠点の検出率の情報は、発明４及び５の第３の欠点情報に対応している。

また、本実施の形態において、型番割覧８９に表示される、現在、型番割りが発生している金型の型番の情報は、発明９の第４の欠点情報に対応している。
〔本実施の形態の効果〕
次に、本実施の形態の効果を説明する。
本実施の形態では、管理用サーバ１００は、データ収集用端末１０３を介して、総合検査装置１５で検査された各種欠点について、欠点の種類ごと且つ型番情報ごとに、びんの認識本数の情報と、欠点の検出本数の情報と、びんの排除数の情報とを含む欠点検査情報を収集するようにした。加えて、製造するびんに発生する可能性のある複数種類の欠点のうち、注目すべき欠点（優先して対処すべき重大な欠点）について、重大欠点であることを示す属性を付与するようにした。そして、属性を付与した重大欠点について収集した欠点検査情報の統計情報である第１の欠点情報を算出し、算出した第１の欠点情報を、利用者端末からの要求に応じて、利用者端末に対して出力するようにした。具体的に、型番情報ごとの各種重大欠点の総検出本数の情報と、製品ごとの各種重大欠点の総検出本数の情報とを含む重大欠点の第１の欠点情報の一覧である重大欠点一覧８８が表示されるワースト５画面を、利用者端末の表示装置に表示出力するようにした（図１６を参照）。

この構成であれば、重大欠点の型番情報ごとの総検出本数及び製品ごとの総検出本数の情報を確認することで、優先して対処すべき重大欠点の発生状況を容易に把握することができる。
また、本実施の形態では、総合検査装置１５で検査された全て種類の欠点について収集された欠点検査情報の統計情報である第２の欠点情報を算出し、算出した第２の欠点情報を、第１の欠点情報と対比させて、利用者端末に対して出力するようにした。具体的に、型番情報ごとの各種欠点の総検出本数の情報と、製品ごとの各種欠点の総検出本数の情報とを含む第２の欠点情報の一覧である欠点一覧８７が重大欠点一覧８８と対比させて表示されるワースト５画面を、利用者端末の表示装置に表示出力するようにした。

この構成であれば、重大欠点だけの統計量では把握できない他の欠点が要因の金型の不良等を把握することができる。
また、本実施の形態では、最新１０分、最新３０分、前１時間、前２時間、当シフト、前シフト、当日及び前日のそれぞれ異なる収集期間のうちから任意の１期間を選択して、選択した期間に収集された欠点検査情報に基づいて第１の欠点情報及び第２の欠点情報を算出するようにした。加えて、算出した第１の欠点情報及び第２の欠点情報を利用者端末からの要求に応じて、利用者端末の表示装置に表示出力するようにした（図１６を参照）。

この構成であれば、それぞれ異なる長さの複数種類の収集期間に収集された欠点の検出数の情報に対応する第１の欠点情報及び第２の欠点情報を表示出力することができるので、複数の期間の欠点の検出数を対比検討することで、例えば期間の長さによっては見逃してしまう欠点の検出数の特異な変化等を把握することが可能となる。

また、本実施の形態では、総合検査装置１５で検査された全て種類の欠点について、統計情報として欠点の種類ごとの検出率の情報である第３の欠点情報を算出し、算出した第２の欠点情報を、第１の欠点情報と対比させて、利用者端末に対して出力するようにした。具体的に、型番情報ごとの各種欠点の検出率の情報と、製品ごとの各種欠点の検出率の情報とを含む第３の欠点情報の一覧である欠点一覧８７が重大欠点一覧８８と対比させて表示されるワースト５画面を、利用者端末の表示装置に表示出力するようにした（図１６を参照）。なお、第２の欠点情報（総検出本数）と、第３の欠点情報（検出率）とは、選択ラジオボタン８１によって、切り替えて表示するようにした。

この構成であれば、欠点の検出本数に加えて、欠点の検出率から対処すべき欠点の発生状況を把握することができる。
また、本実施の形態では、最新１０分、最新３０分、前１時間、前２時間、当シフト、前シフト、当日及び前日のそれぞれ異なる収集期間のうちから任意の１期間を選択して、選択した期間に収集された欠点検査情報に基づいて第３の欠点情報を算出するようにした。加えて、算出した第３の欠点情報を利用者端末からの要求に応じて、利用者端末の表示装置に表示出力するようにした（図１６を参照）。

この構成であれば、それぞれ異なる長さの複数種類の収集期間に収集された欠点検査情報に基づく欠点の統計量の情報に対応する第３の欠点情報（検出率）を表示出力することができるので、複数の期間の欠点の検出率を対比検討することで、例えば期間の長さによっては見逃してしまう欠点の検出率の特異な変化等を把握することが可能となる。

また、本実施の形態では、欠点一覧８７については、第２の欠点情報又は第３の欠点情報を、製品ごとの総検出率が降順で１～Ｘ位（例えば１０位）までに入る欠点について順位順に並べて表示するようにした。加えて、重大欠点一覧８８について、第１の欠点情報を、製品ごとの総検出数が降順で１～Ｘ位（例えば１０位）までに入る重大欠点について順位順に並べて表示するようにした。

この構成であれば、検出数の多い順に重大欠点の種類を把握したり、検出率の高い順に欠点の種類を把握したりすることができるので、対処すべき欠点をより把握し易くすることができる。
また、本実施の形態では、過去に製造した同じ製品又は似たような製品の重大欠点の付与情報を含むピックアップコードセッティングデータの過去データを利用（参照）できるようにしたので、重大欠点の属性を付与する作業を含むピックアップコードセッティングにかかる負荷を軽減することができる。

また、本実施の形態では、総合検査装置１５や外観検査機１７の検査を良品で抜けたにもかかわらず目視検査で欠点が検出されたびんや、金型起因の欠点が検出されたびんについて、これらの製造に用いられた金型で製造されたびんを全数排除する型番割りを行うようにした。そして、型番割りを行っている金型の型番情報を、ワースト５画面にて欠点一覧８７及び重大欠点一覧８８とともに表示するようにした。

この構成であれば、例えば、金型起因の欠点や検査機を掻い潜る欠点などのやっかいな欠点を有するびんを製造した金型の情報及び欠点の種類の情報を把握することができるので、かかる欠点について最優先に対処することができる。
また、本実施の形態では、欠点一覧８７及び重大欠点一覧８８の各欠点の順位の横に、期間選択ボタン群８２で選択した期間の１つ前の期間に対する順位変動を示す情報（↓、－、↑のいずれか１つ）を表示するようにした。

この構成であれば、選択された収集期間の１つ前の収集期間に対する順位変動が解るので、急激に順位を上げている欠点や、ずっと同じ順位にい続けている欠点などを把握することが可能となる。
〔変形例〕
なお、上記実施の形態においては、ガラスびんの生産工場に本発明を適用する例を説明したが、ガラスびんに限らず、例えばペットボトルや缶等の他の容器に適用してもよい。

また、上記実施の形態及びその変形例においては、欠点検出情報の統計量として、総検出数及び検出率を表示する構成を例に挙げて説明したが、この構成に限らず、他の統計量を表示する構成としてもよい。
また、上記実施の形態及びその変形例においては、欠点一覧８７において、総検出数と検出率とを切り替えて表示する構成としたが、この構成に限らず、両者を同時に表示する構成としてもよい。

また、上記実施の形態及び変形例においては、欠点一覧８７において、検出率のラジオボタンが選択されているときに、総検出率でソートをした順位で１～Ｘ位までの欠点の検出率の情報を表示する構成とし、この状態で検出数のラジオボタンが選択された場合でも、この順位を変えずに検出率の情報を検出数の情報に変更して表示する構成とした。この構成に限らず、例えば、検出数のラジオボタンが選択された場合に、総検出数でソートし直した順位で欠点の検出数の情報を表示する構成としてもよい。

また、上記実施の形態及びその変形例においては、イントラネット１９９からなるネットワークシステムに適用した場合について説明したが、これに限らず、例えば、イントラネット１９９と同一方式により通信を行ういわゆるインターネットに適用してもよい。もちろん、イントラネット１９９と同一方式により通信を行うネットワークに限らず、任意の通信方式のネットワークに適用することができる。

また、上記実施の形態及びその変形例において、図９乃至図１５のフローチャートに示す処理を実行するにあたってはいずれも、ＲＯＭに予め格納されているプログラムを実行する場合について説明したが、これに限らず、これらの手順を示したプログラムが記憶された記憶媒体から、そのプログラムをＲＡＭに読み込んで実行するようにしてもよい。

また、上記実施の形態及びその変形例において、ＡＩ（Artificial Intelligence）により、総合検査装置１５等の検査機の検査結果に対して行うべきアクションの推奨を行う構成とすることが可能である。ＡＩを用いた構成として、例えば、次の構成を採用することができる。

〔構成１〕 この構成は、ＡＩにより排除すべき容器に関する情報を提示する構成である。例えば、ＡＩは、型番読取装置１５０で読み取った型番と、総合検査装置１５等の検査機の検査結果と、容器検査システム１を構成する装置又は人が容器（びん）を排除（又は非排除）した結果とが対応づけられた学習データに基づいて学習を行う。学習したＡＩは、型番読取装置１５０で読み取った型番及び検査機の検査結果を入力し、入力した型番及び検査結果に適合する１又は複数の排除（又は非排除）すべき容器に関する情報（例えば装置又は人への指示情報）を出力する。ここで、適合とは、例えば、学習結果からみて、入力した型番及び検査結果に対して、排除（又は非排除）すべき容器を決定するための妥当な情報（例えば、学習された複数の「装置又は人が容器を排除（又は非排除）した結果」から得られる排除（又は非排除）すべき容器に関する情報のうち入力した型番及び検査結果に応じて分類される情報をいう。以下、妥当の意味については同様である。）が挙げられる。そして、ＡＩが出力した排除（又は非排除）すべき容器に関する情報を提示する。

〔構成２〕 この構成は、ＡＩにより再検査（又は非再検査）すべき容器に関する情報（例えば装置又は人への指示情報）を提示する構成である。例えば、ＡＩは、型番読取装置１５０で読み取った型番と、総合検査装置１５等の検査機の検査結果と、容器検査システム１を構成する装置又は人が容器（びん）を再検査（又は非再検査）した結果とが対応づけられた学習データに基づいて学習を行う。学習したＡＩは、型番読取装置１５０で読み取った型番及び検査機の検査結果を入力し、入力した型番及び検査結果に適合する１又は複数の再検査（又は非再検査）すべき容器に関する情報（例えば装置又は人への指示情報）を出力する。ここで、適合とは、例えば、学習結果からみて、入力した型番及び検査結果に対して、再検査（又は非再検査）すべき容器を決定するための妥当な「再検査（又は非再検査）すべき容器に関する情報」が挙げられる。そして、ＡＩが出力した再検査（又は非再検査）すべき容器に関する情報を提示する。

〔構成３〕 この構成は、ＡＩにより保守（又は非保守）すべき金型に関する情報（例えば装置又は人への指示情報）を提示する構成である。例えば、ＡＩは、型番読取装置１５０で読み取った型番と、総合検査装置１５等の検査機の検査結果と、容器検査システム１を構成する装置又は人が金型を保守（又は非保守）した結果とが対応づけられた学習データに基づいて学習を行う。学習したＡＩは、型番読取装置１５０で読み取った型番及び検査機の検査結果を入力し、入力した型番及び検査結果に適合する１又は複数の保守（又は非保守）すべき金型に関する情報（例えば装置又は人への指示情報）を出力する。ここで、適合とは、例えば、学習結果からみて、入力した型番及び検査結果に対して、保守（又は非保守）すべき金型を決定するための妥当な情報が挙げられる。そして、ＡＩが出力した保守（又は非保守）すべき金型に関する情報を提示する。

〔構成４〕 この構成は、ＡＩにより交換（又は非交換）すべき金型に関する情報（例えば装置又は人への指示情報）を提示する構成である。例えば、ＡＩは、型番読取装置１５０で読み取った型番と、総合検査装置１５等の検査機の検査結果と、容器検査システム１を構成する装置又は人が金型を交換（又は非交換）した結果とが対応づけられた学習データに基づいて学習を行う。学習したＡＩは、型番読取装置１５０で読み取った型番及び検査機の検査結果を入力し、入力した型番及び検査結果に適合する１又は複数の交換（又は非交換）すべき金型に関する情報（例えば装置又は人への指示情報）を出力する。ここで、適合とは、例えば、学習結果からみて、入力した型番及び検査結果に対して、交換（又は非交換）すべき金型を決定するための妥当な情報が挙げられる。そして、ＡＩが出力した交換（又は非交換）すべき金型に関する情報を提示する。

〔構成５〕 この構成は、ＡＩにより、ワースト５画面６００の重大欠点一覧８８に表示される重大欠点の統計量（例えば総検出本数）の情報を含む欠点情報（第１の欠点情報）を提示する構成である。例えば、ＡＩは、型番読取装置１５０で読み取った型番と、総合検査装置１５の検査結果と、第１の欠点情報とが対応づけられた学習データに基づいて学習を行う。学習したＡＩは、型番読取装置１５０で読み取った型番及び検査機の検査結果を入力し、入力した型番及び検査結果に適合する１又は複数の第１の欠点情報を出力する。ここで、適合とは、例えば、学習結果からみて、入力した型番及び検査結果に対して、ワースト５画面６００の重大欠点一覧８８に表示すべき欠点情報を決定する上で妥当な第１の欠点情報が挙げられる。そして、ＡＩが出力した第１の欠点情報を提示する。

〔構成６〕 この構成は、ＡＩにより、ワースト５画面６００の欠点一覧８７に表示される全欠点の統計量（例えば総検出本数）の情報を含む欠点情報（第２の欠点情報）を提示する構成である。例えば、ＡＩは、型番読取装置１５０で読み取った型番と、総合検査装置１５の検査結果と、第２の欠点情報とが対応づけられた学習データに基づいて学習を行う。学習したＡＩは、型番読取装置１５０で読み取った型番及び検査機の検査結果を入力し、入力した型番及び検査結果に適合する１又は複数の第２の欠点情報を出力する。ここで、適合とは、例えば、学習結果からみて、入力した型番及び検査結果に対して、ワースト５画面６００の欠点一覧８７に表示すべき欠点情報を決定する上で妥当な第２の欠点情報が挙げられる。そして、ＡＩが出力した第２の欠点情報を提示する。

〔構成７〕 この構成は、ＡＩにより、ワースト５画面６００の欠点一覧８７に表示される全欠点の統計量（総検率）の情報を含む欠点情報（第３の欠点情報）を提示する構成である。例えば、ＡＩは、型番読取装置１５０で読み取った型番と、総合検査装置１５の検査結果と、第３の欠点情報とが対応づけられた学習データに基づいて学習を行う。学習したＡＩは、型番読取装置１５０で読み取った型番及び検査機の検査結果を入力し、入力した型番及び検査結果に適合する１又は複数の第３の欠点情報を出力する。ここで、適合とは、例えば、学習結果からみて、入力した型番及び検査結果に対して、ワースト５画面６００の欠点一覧８７に表示する欠点情報を決定する上で妥当な第３の欠点情報が挙げられる。そして、ＡＩが出力した第３の欠点情報を提示する。

１…容器検査システム、 １０…電子秤、 １１…寸法測定機、 １２…側壁部強度検査機、 １３…底部強度検査機、 １５…総合検査装置、 １７…外観検査機、 １９…目視検査結果通知機、 ２０…徐冷窯出入口数センサ、 ２１…単独検査機排除数センサ、 ２３…総合検査機排除数センサ、 ２４…目視検査排除数センサ、 ２５…包装前通過数センサ、 ３０…ＣＰＵ、 ３２…ＲＯＭ、 ３４…ＲＡＭ、 ３８…Ｉ／Ｆ、 ３９…バス、 ４０…入力装置、 ４２…記憶装置、 ４４…表示装置、 ５１Ａ～５１Ｄ…１Ａ～１２Ｄ現型番表示・設定領域、 ５２Ａ～５２Ｄ…１Ａ～１２Ｄ旧型番表示領域、 ５３…オプション型番表示・設定領域、 ５４…保護期間設定領域、 ５５，６８，７７，２２６…登録ボタン、 ５６，８１…選択ラジオボタン、 ５７Ａ～５７Ｄ…１Ａ～１２Ｄ現口型表示・設定領域、 ５８Ａ～５８Ｄ…１Ａ～１２Ｄ旧口型表示領域、 ６０…ｐｕ設定領域、 ６０ａ…ｐｕ表示領域、 ６０ｂ…ステーション表示領域、 ６０ｃ…欠点コード表示領域、 ６０ｄ，２１４…チェックボックス、 ６４…欠点一覧表、 ６５…選択Ｐｕ表示領域、 ６６…設定ボタン、 ６７…過去データボタン、 ６９…表示領域、 ７０…検索製品名入力領域、 ７１…表示ボタン、 ７２…過去データ一覧、 ７３…削除ボタン、 ７４…選択ボタン、 ７５，７９…戻るボタン、 ７６，９３～９９，２００，２１３…ＤＤＬ、 ７８…過去データ登録ボタン、 ８０…最新収集日時表示領域、 ８２…期間選択ボタン群、 ８３…検査本数表示領域、 ８４…排除本数表示領域、 ８５…排除率表示領域、 ８６…型番排除数表示領域、 ８７…欠点一覧、 ８８…重大欠点一覧、 ８９…現在の型番割覧、 ９１…表示条件タブ、 ９２…グラフタブ、 １００…管理用サーバ、 １０１…成形側端末、 １０２…品質検査側端末、 １０３…データ収集用端末、 １０４…オフィス端末、 １０５…ゲートウェイ端末、 １０６…本社ホスト、 １０７…欠点データ処理装置、 １０８…寸法データ収集用端末、 １０９…カウントデータ処理装置、 １５０…型番読取装置、 ３００…びん生産工場、 ３０１…ガラス溶解窯、３０２…フォアハース、 ３０３…製びん機、 ３０４…徐冷窯、 ３０５…検査棟、 ３０７…包装機、 １９８…インターネット、 １９９…イントラネット、 ４００…ＣＩＤ設定データ履歴（製品情報／型番設定etc）テーブル、 ４１０…ＣＩＤ定時データ履歴（認識本数／排除本数etc）テーブル、 ４２０…ＣＩＤ定時データ履歴（欠点情報）テーブル、 ４３０…ＣＩＤ定時データ履歴（ピックアップ情報）テーブル、 ４４０…ＣＩＤピックアップ設定履歴テーブル、 ４５０…ＣＩＤ設定データ履歴（ピックアップコード）テーブル、 ４６０…ＣＩＤ型番変更履歴テーブル、 ４７０…ＣＩＤ型番割りデータ履歴テーブル、 ４８０…ＣＩＤ設定データ履歴（警報設定）テーブル、 ４９０…ＣＩＤ定時データ履歴（警報情報）テーブル、 ５００…びん質量データ履歴テーブル、 ５１０…ＣＳ定時データ履歴（ライン別歩留り）テーブル、 ６００…ワースト５画面、 ６０１…表示条件設定画面、 ６０２…仕上型用のカレントモールド画面、 ６０３…口型用のカレントモールド画面、 ６０４…ピックアップコードセッティング画面、 ６０５…リジェクトセッティング画面、 ６０６…過去データ画面、 ６０７…製品名設定画面、 ６０８…グラフ画面、 ７００…品質モニタリング警報一覧画面、 ７０１…壜質量推移画面、 ７０２…ライン別歩留り推移画面、 ７０３…モールドリード画面

Claims (17)

1. 容器表面に表された該容器の製造に用いられた成形用の型を識別するための識別情報を読み取る識別情報読取手段と、
   前記容器に発生する可能性のある複数種類の欠点のそれぞれについて当該欠点を検査する欠点検査手段と、
   前記欠点検査手段の検査結果の情報及び前記識別情報読取手段で読み取った識別情報に基づいて、前記欠点の種類ごと且つ前記識別情報ごとに、当該欠点の種類の情報及び当該識別情報と対応付けて前記検査結果に関する欠点検査情報を収集する欠点検査情報収集手段と、
   前記欠点検査情報収集手段で収集した欠点検査情報に基づいて、前記欠点の種類ごとに当該欠点の統計量を算出する欠点統計量算出手段と、
   前記容器又は前記型に応じて、前記複数種類の欠点のうち注目すべき欠点に対して属性情報を付与する属性情報付与手段と、
   前記属性情報が付与された欠点について前記欠点統計量算出手段で算出した統計量の情報である第１の欠点情報と、前記欠点検査手段で検査した全ての欠点について前記欠点統計量算出手段で算出した統計量の情報である第２の欠点情報とを対比的に出力する欠点情報出力手段とを備えることを特徴とする容器検査システム。
2. 請求項１において、
   前記欠点情報出力手段は、前記属性情報が付与され前記欠点検査手段で検査した一部の欠点について前記欠点統計量算出手段で算出した統計量の情報である前記第１の欠点情報と、前記第２の欠点情報とを対比的に出力することを特徴とする容器検査システム。
3. 容器表面に表された該容器の製造に用いられた成形用の型を識別するための識別情報を読み取る識別情報読取手段と、
   前記容器に発生する可能性のある複数種類の欠点のそれぞれについて当該欠点を検査する欠点検査手段と、
   前記欠点検査手段の検査結果の情報及び前記識別情報読取手段で読み取った識別情報に基づいて、前記欠点の種類ごと且つ前記識別情報ごとに、当該欠点の種類の情報及び当該識別情報と対応付けて前記検査結果に関する欠点検査情報を収集する欠点検査情報収集手段と、
   前記欠点検査情報収集手段で収集した欠点検査情報に基づいて、前記欠点の種類ごとに当該欠点の統計量を算出する欠点統計量算出手段と、
   前記容器又は前記型に応じて、前記複数種類の欠点のうち注目すべき欠点に対して属性情報を付与する属性情報付与手段と、
   前記属性情報が付与された欠点のうち前記統計量が上位所定数の欠点について前記欠点統計量算出手段で算出した統計量の情報である第１の欠点情報と、前記欠点検査手段で検査した全ての欠点のうち前記統計量が上位所定数の欠点について前記欠点統計量算出手段で算出した統計量の情報である第２の欠点情報とを対比的に出力する欠点情報出力手段とを備えることを特徴とする容器検査システム。
4. 請求項１において、
   前記統計量の種類である第１種及び第２種の選択を受け付ける種別選択手段を備え、
   前記欠点情報出力手段は、前記第１種の統計量の情報である前記第１の欠点情報と、前記種別選択手段で選択された種類の統計量の情報である前記第２の欠点情報とを対比的に出力することを特徴とする容器検査システム。
5. 容器表面に表された該容器の製造に用いられた成形用の型を識別するための識別情報を読み取る識別情報読取手段と、
   前記容器に発生する可能性のある複数種類の欠点のそれぞれについて当該欠点を検査する欠点検査手段と、
   前記欠点検査手段の検査結果の情報及び前記識別情報読取手段で読み取った識別情報に基づいて、前記欠点の種類ごと且つ前記識別情報ごとに、当該欠点の種類の情報及び当該識別情報と対応付けて前記検査結果に関する欠点検査情報を収集する欠点検査情報収集手段と、
   前記欠点検査情報収集手段で収集した欠点検査情報に基づいて、前記欠点の種類ごとに当該欠点の統計量を算出する欠点統計量算出手段と、
   前記容器又は前記型に応じて、前記複数種類の欠点のうち注目すべき欠点に対して属性情報を付与する属性情報付与手段と、
   前記属性情報が付与された欠点について前記欠点統計量算出手段で算出した統計量の情報である第１の欠点情報を出力する欠点情報出力手段と、
   過去に製造した前記容器又は前記型について前記属性情報を付与した履歴であって、当該容器又は当該型ごとに前記属性情報を付与するための付与情報を検索対象情報と対応づけて付与情報記憶手段に登録する付与情報登録手段と、
   前記付与情報記憶手段から前記検索対象情報を取得する検索対象情報取得手段と、
   前記検索対象情報取得手段で取得した検索対象情報のなかからいずれかの選択を受け付ける検索対象情報選択手段と、
   前記検索対象情報選択手段で選択された検索対象情報に対応する前記付与情報を前記付与情報記憶手段から取得する付与情報取得手段とを備え、
   前記属性情報付与手段は、前記付与情報取得手段で取得した付与情報に基づいて、前記注目すべき欠点に対して前記属性情報を付与することを特徴とする容器検査システム。
6. 請求項５において、
   前記検索対象情報取得手段は、与えられた検索キーに対応する前記検索対象情報を前記付与情報記憶手段から取得することを特徴とする容器検査システム。
7. 請求項５において、
   前記付与情報登録手段は、前記検索対象情報及び前記付与情報の登録又は更新の時期に関する時期情報と対応づけて当該付与情報を登録し、
   前記検索対象情報取得手段は、前記検索対象情報及び前記時期情報を前記付与情報記憶手段から取得し、
   前記検索対象情報選択手段は、前記検索対象情報取得手段で取得した検索対象情報及び時期情報を提示し、提示した検索対象情報のなかからいずれかの選択を受け付けることを特徴とする容器検査システム。
8. 請求項１乃至７のいずれか１項において、
   前記欠点検査情報収集手段は、収集開始時刻から一定時間が経過するごとに、該一定時間が経過する間に前記欠点検査手段で行われた検査の前記欠点検査情報を前記欠点の種類ごと且つ前記識別情報ごとに収集し、
   前記欠点の種類ごと且つ前記型の識別情報ごとに、当該欠点の種類の情報及び当該型の識別情報と収集時刻の情報と該収集時刻に対応する前記一定時間の前記欠点検査情報の集計結果の情報とを対応付けた欠点集計情報を欠点集計情報記憶手段に登録する欠点集計情報登録手段とを備え、
   前記欠点統計量算出手段は、前記欠点集計情報記憶手段に記憶された前記一定時間ごとの前記欠点集計情報に基づいて、それぞれ異なる長さの複数種類の期間に集計された前記欠点集計情報にそれぞれ対応する前記統計量を算出し、
   前記欠点情報出力手段は、前記欠点統計量算出手段で算出した、それぞれ異なる長さの複数種類の期間に対応する前記統計量の情報を前記欠点情報として出力することを特徴とする容器検査システム。
9. 請求項１乃至７のいずれか１項において、
   前記欠点検査手段で検査を行った容器の数である欠点検査数を前記型の識別情報ごとに集計する欠点検査数集計手段を備え、
   前記欠点検査情報収集手段は、前記欠点検査手段で検査した全ての欠点について、前記識別情報ごと且つ前記欠点の種類ごとに前記欠点の検出数を集計し、
   前記欠点統計量算出手段は、前記欠点検査手段で検査した全ての欠点について、前記欠点検査数集計手段で集計した前記欠点検査数の情報と、前記欠点検査情報収集手段で集計した前記欠点の検出数の情報とに基づいて、前記識別情報ごと且つ前記欠点の種類ごとに前記欠点の検出率を算出し、
   前記欠点情報出力手段は、前記欠点統計量算出手段で算出した前記検出率の情報である第３の欠点情報を出力することを特徴とする容器検査システム。
10. 請求項９において、
    前記欠点検査数集計手段は、収集開始時刻から一定時間が経過するごとに、該一定時間が経過する間に前記欠点検査手段で検査を行った容器の数である欠点検査数を前記型の識別情報ごとに集計し、
    前記欠点検査情報収集手段は、収集開始時刻から一定時間が経過するごとに、該一定時間が経過するまでの間に前記欠点検査手段で行われた検査の検査結果に基づいて、前記型の識別情報ごと且つ前記欠点の種類ごとに前記一定時間の間の前記欠点の検出数を集計し、
    前記型の識別情報ごとに、当該識別情報と収集時刻の情報と該収集時刻に対応する前記一定時間の前記欠点検査数の集計結果の情報とを対応付けた欠点検査数情報を欠点検査数情報記憶手段に登録する欠点検査数情報登録手段と、
    前記欠点の種類ごと且つ前記型の識別情報ごとに、当該欠点の種類の情報及び当該型の識別情報と収集時刻の情報と該収集時刻に対応する前記一定時間の前記欠点の検出数の情報とを対応付けた欠点検出数情報を欠点検出数情報記憶手段に登録する欠点検出数情報登録手段とを備え、
    前記欠点統計量算出手段は、前記欠点検査数情報記憶手段に記憶された前記一定時間ごとの前記欠点検査数情報と、前記欠点検出数情報記憶手段に記憶された前記一定時間ごとの前記欠点検出数情報とに基づいて、それぞれ異なる長さの複数種類の期間に収集された前記欠点検出数情報及び前記欠点検査数情報に対応する前記欠点の検出率を算出し、
    前記欠点情報出力手段は、前記欠点検査手段で検査した全ての欠点について、前記欠点統計量算出手段で算出した、それぞれ異なる長さの複数種類の期間に対応する前記検出率の情報を、前記第３の欠点情報として出力することを特徴とする容器検査システム。
11. 請求項１乃至７のいずれか１項において、
    前記欠点情報出力手段は、前記欠点情報を所定規則で並べて出力することを特徴とする容器検査システム。
12. 請求項１乃至７のいずれか１項において、
    前記属性情報付与手段は、重大な種類の欠点である重大欠点を示す属性情報を付与可能に構成されていることを特徴とする容器検査システム。
13. 請求項１乃至７のいずれか１項において、
    前記欠点が検出された前記容器について、該容器に表された前記識別情報に対応する型で製造された前記容器を選択的に全数排除する容器全数排除手段を備え、
    前記欠点情報出力手段は、前記容器全数排除手段で前記全数排除が行われる前記型の識別情報を含む第４の欠点情報を出力することを特徴とする容器検査システム。
14. 請求項１記載の識別情報読取手段及び欠点検査手段を利用する管理用サーバであって、
    前記欠点検査手段の検査結果の情報及び前記識別情報読取手段で読み取った識別情報に基づいて、前記欠点の種類ごと且つ前記識別情報ごとに、当該欠点の種類の情報及び当該識別情報と対応付けて前記検査結果に関する欠点検査情報を収集する欠点検査情報収集手段と、
    前記欠点検査情報収集手段で収集した欠点検査情報に基づいて、前記欠点の種類ごとに当該欠点の統計量を算出する欠点統計量算出手段と、
    前記容器又は前記型に応じて、前記複数種類の欠点のうち注目すべき欠点に対して属性情報を付与する属性情報付与手段と、
    前記属性情報が付与された欠点について前記欠点統計量算出手段で算出した統計量の情報である第１の欠点情報と、前記欠点検査手段で検査した全ての欠点について前記欠点統計量算出手段で算出した統計量の情報である第２の欠点情報とを対比的に出力する欠点情報出力手段とを備えることを特徴とする管理用サーバ。
15. 請求項３記載の識別情報読取手段及び欠点検査手段を利用する管理用サーバであって、
    前記欠点検査手段の検査結果の情報及び前記識別情報読取手段で読み取った識別情報に基づいて、前記欠点の種類ごと且つ前記識別情報ごとに、当該欠点の種類の情報及び当該識別情報と対応付けて前記検査結果に関する欠点検査情報を収集する欠点検査情報収集手段と、
    前記欠点検査情報収集手段で収集した欠点検査情報に基づいて、前記欠点の種類ごとに当該欠点の統計量を算出する欠点統計量算出手段と、
    前記容器又は前記型に応じて、前記複数種類の欠点のうち注目すべき欠点に対して属性情報を付与する属性情報付与手段と、
    前記属性情報が付与された欠点のうち前記統計量が上位所定数の欠点について前記欠点統計量算出手段で算出した統計量の情報である第１の欠点情報と、前記欠点検査手段で検査した全ての欠点のうち前記統計量が上位所定数の欠点について前記欠点統計量算出手段で算出した統計量の情報である第２の欠点情報とを対比的に出力する欠点情報出力手段とを備えることを特徴とする管理用サーバ。
16. 請求項５記載の識別情報読取手段及び欠点検査手段を利用する管理用サーバであって、
    前記欠点検査手段の検査結果の情報及び前記識別情報読取手段で読み取った識別情報に基づいて、前記欠点の種類ごと且つ前記識別情報ごとに、当該欠点の種類の情報及び当該識別情報と対応付けて前記検査結果に関する欠点検査情報を収集する欠点検査情報収集手段と、
    前記欠点検査情報収集手段で収集した欠点検査情報に基づいて、前記欠点の種類ごとに当該欠点の統計量を算出する欠点統計量算出手段と、
    前記容器又は前記型に応じて、前記複数種類の欠点のうち注目すべき欠点に対して属性情報を付与する属性情報付与手段と、
    前記属性情報が付与された欠点について前記欠点統計量算出手段で算出した統計量の情報である第１の欠点情報を出力する欠点情報出力手段と、
    過去に製造した前記容器又は前記型について前記属性情報を付与した履歴であって、当該容器又は当該型ごとに前記属性情報を付与するための付与情報を検索対象情報と対応づけて付与情報記憶手段に登録する付与情報登録手段と、
    前記付与情報記憶手段から前記検索対象情報を取得する検索対象情報取得手段と、
    前記検索対象情報取得手段で取得した検索対象情報のなかからいずれかの選択を受け付ける検索対象情報選択手段と、
    前記検索対象情報選択手段で選択された検索対象情報に対応する前記付与情報を前記付与情報記憶手段から取得する付与情報取得手段とを備え、
    前記属性情報付与手段は、前記付与情報取得手段で取得した付与情報に基づいて、前記注目すべき欠点に対して前記属性情報を付与することを特徴とする管理用サーバ。
17. 請求項５記載の容器又は型に応じて、請求項５記載の注目すべき欠点に対して属性情報を付与する属性情報付与手段と、
    請求項５記載の第１の欠点情報を出力する欠点情報出力手段と、
    請求項５記載の付与情報登録手段、検索対象情報取得手段、検索対象情報選択手段及び付与情報取得手段とを備え、
    前記属性情報付与手段は、前記付与情報取得手段で取得した付与情報に基づいて、前記注目すべき欠点に対して前記属性情報を付与することを特徴とする容器検査システム。

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