JP7579649B2 - Resin composition for printed circuit boards and resin molded body - Google Patents
Resin composition for printed circuit boards and resin molded body Download PDFInfo
- Publication number
- JP7579649B2 JP7579649B2 JP2020130172A JP2020130172A JP7579649B2 JP 7579649 B2 JP7579649 B2 JP 7579649B2 JP 2020130172 A JP2020130172 A JP 2020130172A JP 2020130172 A JP2020130172 A JP 2020130172A JP 7579649 B2 JP7579649 B2 JP 7579649B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resin composition
- group
- composition according
- structural unit
- fluorine
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000011342 resin composition Substances 0.000 title claims description 100
- 239000011347 resin Substances 0.000 title claims description 60
- 229920005989 resin Polymers 0.000 title claims description 60
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 claims description 46
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 44
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 41
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 claims description 41
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 37
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims description 17
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 claims description 16
- 125000005010 perfluoroalkyl group Chemical group 0.000 claims description 16
- 239000004088 foaming agent Substances 0.000 claims description 12
- 229920002313 fluoropolymer Polymers 0.000 claims description 11
- 125000004093 cyano group Chemical group *C#N 0.000 claims description 10
- 239000004811 fluoropolymer Substances 0.000 claims description 10
- 239000003361 porogen Substances 0.000 claims description 10
- 125000001033 ether group Chemical group 0.000 claims description 8
- 125000000524 functional group Chemical group 0.000 claims description 8
- 125000001153 fluoro group Chemical group F* 0.000 claims description 7
- 125000004018 acid anhydride group Chemical group 0.000 claims description 6
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 125000003700 epoxy group Chemical group 0.000 claims description 4
- IQPQWNKOIGAROB-UHFFFAOYSA-N isocyanate group Chemical group [N-]=C=O IQPQWNKOIGAROB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 125000002915 carbonyl group Chemical group [*:2]C([*:1])=O 0.000 claims description 3
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 3
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 3
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 claims description 2
- 150000002484 inorganic compounds Chemical class 0.000 claims description 2
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 19
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 17
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 17
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 17
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 11
- 239000010408 film Substances 0.000 description 10
- 239000000047 product Substances 0.000 description 10
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 9
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 9
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 9
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 9
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 9
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 7
- BZPCMSSQHRAJCC-UHFFFAOYSA-N 1,2,3,3,4,4,5,5,5-nonafluoro-1-(1,2,3,3,4,4,5,5,5-nonafluoropent-1-enoxy)pent-1-ene Chemical compound FC(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)=C(F)OC(F)=C(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)F BZPCMSSQHRAJCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- -1 perfluoromethoxymethyl group Chemical group 0.000 description 6
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 5
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 5
- PPVPVKZXQJZBRA-UHFFFAOYSA-N (2,3,4,5,6-pentafluorobenzoyl) 2,3,4,5,6-pentafluorobenzenecarboperoxoate Chemical compound FC1=C(F)C(F)=C(F)C(F)=C1C(=O)OOC(=O)C1=C(F)C(F)=C(F)C(F)=C1F PPVPVKZXQJZBRA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- RFJVDJWCXSPUBY-UHFFFAOYSA-N 2-(difluoromethylidene)-4,4,5-trifluoro-5-(trifluoromethyl)-1,3-dioxolane Chemical compound FC(F)=C1OC(F)(F)C(F)(C(F)(F)F)O1 RFJVDJWCXSPUBY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- ZQBFAOFFOQMSGJ-UHFFFAOYSA-N hexafluorobenzene Chemical compound FC1=C(F)C(F)=C(F)C(F)=C1F ZQBFAOFFOQMSGJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 4
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 4
- 238000005191 phase separation Methods 0.000 description 4
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229920000106 Liquid crystal polymer Polymers 0.000 description 3
- 239000004977 Liquid-crystal polymers (LCPs) Substances 0.000 description 3
- 150000008065 acid anhydrides Chemical group 0.000 description 3
- 125000000753 cycloalkyl group Chemical group 0.000 description 3
- 238000003682 fluorination reaction Methods 0.000 description 3
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 3
- 239000011256 inorganic filler Substances 0.000 description 3
- 229910003475 inorganic filler Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 3
- 238000001000 micrograph Methods 0.000 description 3
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 3
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 3
- BFKJFAAPBSQJPD-UHFFFAOYSA-N tetrafluoroethene Chemical group FC(F)=C(F)F BFKJFAAPBSQJPD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- PIACQYNIZOSFHY-UHFFFAOYSA-N 1,1,1,2,2,3,3,4,4,5,5,6,6-tridecafluoro-6-(1,2,2-trifluoroethenoxy)hexane Chemical compound FC(F)=C(F)OC(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)F PIACQYNIZOSFHY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BRWBDEIUJSDQGV-UHFFFAOYSA-N 1,1,1,2,2,3,3,4,4,5,5,6,6-tridecafluoro-6-methoxyhexane Chemical compound COC(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)F BRWBDEIUJSDQGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RIQRGMUSBYGDBL-UHFFFAOYSA-N 1,1,1,2,2,3,4,5,5,5-decafluoropentane Chemical compound FC(F)(F)C(F)C(F)C(F)(F)C(F)(F)F RIQRGMUSBYGDBL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OFNISBHGPNMTMS-UHFFFAOYSA-N 3-methylideneoxolane-2,5-dione Chemical compound C=C1CC(=O)OC1=O OFNISBHGPNMTMS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KNDQHSIWLOJIGP-UHFFFAOYSA-N 826-62-0 Chemical compound C1C2C3C(=O)OC(=O)C3C1C=C2 KNDQHSIWLOJIGP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MOYAFQVGZZPNRA-UHFFFAOYSA-N Terpinolene Chemical compound CC(C)=C1CCC(C)=CC1 MOYAFQVGZZPNRA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QYKIQEUNHZKYBP-UHFFFAOYSA-N Vinyl ether Chemical class C=COC=C QYKIQEUNHZKYBP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ORILYTVJVMAKLC-UHFFFAOYSA-N adamantane Chemical compound C1C(C2)CC3CC1CC2C3 ORILYTVJVMAKLC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 2
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 239000012787 coverlay film Substances 0.000 description 2
- 238000005187 foaming Methods 0.000 description 2
- 230000009477 glass transition Effects 0.000 description 2
- XMGQYMWWDOXHJM-UHFFFAOYSA-N limonene Chemical compound CC(=C)C1CCC(C)=CC1 XMGQYMWWDOXHJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- FPYJFEHAWHCUMM-UHFFFAOYSA-N maleic anhydride Chemical compound O=C1OC(=O)C=C1 FPYJFEHAWHCUMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 239000013638 trimer Substances 0.000 description 2
- 230000004580 weight loss Effects 0.000 description 2
- DSSYKIVIOFKYAU-XCBNKYQSSA-N (R)-camphor Chemical compound C1C[C@@]2(C)C(=O)C[C@@H]1C2(C)C DSSYKIVIOFKYAU-XCBNKYQSSA-N 0.000 description 1
- XJSRKJAHJGCPGC-UHFFFAOYSA-N 1,1,1,2,2,3,3,4,4,5,5,6,6-tridecafluorohexane Chemical compound FC(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)F XJSRKJAHJGCPGC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SKRWRXWNQFQGRU-UHFFFAOYSA-N 1,1,1,2,2,3,3,4,4,5,5,6,6-tridecafluorooctane Chemical compound CCC(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)F SKRWRXWNQFQGRU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OKIYQFLILPKULA-UHFFFAOYSA-N 1,1,1,2,2,3,3,4,4-nonafluoro-4-methoxybutane Chemical compound COC(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)F OKIYQFLILPKULA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QKAGYSDHEJITFV-UHFFFAOYSA-N 1,1,1,2,2,3,4,5,5,5-decafluoro-3-methoxy-4-(trifluoromethyl)pentane Chemical compound FC(F)(F)C(F)(F)C(F)(OC)C(F)(C(F)(F)F)C(F)(F)F QKAGYSDHEJITFV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BYEAHWXPCBROCE-UHFFFAOYSA-N 1,1,1,3,3,3-hexafluoropropan-2-ol Chemical compound FC(F)(F)C(O)C(F)(F)F BYEAHWXPCBROCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RKIMETXDACNTIE-UHFFFAOYSA-N 1,1,2,2,3,3,4,4,5,5,6,6-dodecafluorocyclohexane Chemical group FC1(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C1(F)F RKIMETXDACNTIE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PWMJXZJISGDARB-UHFFFAOYSA-N 1,1,2,2,3,3,4,4,5,5-decafluorocyclopentane Chemical group FC1(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C1(F)F PWMJXZJISGDARB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XLKWQAQYRNTVKF-UHFFFAOYSA-N 1,1,2,3,3,4,5-heptafluoro-5-(1,2,3,3,4,5,5-heptafluoropenta-1,4-dienoxy)penta-1,4-diene Chemical compound FC(F)=C(F)C(F)(F)C(F)=C(F)OC(F)=C(F)C(F)(F)C(F)=C(F)F XLKWQAQYRNTVKF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AJDIZQLSFPQPEY-UHFFFAOYSA-N 1,1,2-Trichlorotrifluoroethane Chemical compound FC(F)(Cl)C(F)(Cl)Cl AJDIZQLSFPQPEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RRZIJNVZMJUGTK-UHFFFAOYSA-N 1,1,2-trifluoro-2-(1,2,2-trifluoroethenoxy)ethene Chemical class FC(F)=C(F)OC(F)=C(F)F RRZIJNVZMJUGTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JWKJOADJHWZCLL-UHFFFAOYSA-N 1,2,3,4,5,5,6,6,6-nonafluoro-1-(1,2,3,4,5,5,6,6,6-nonafluorohexa-1,3-dienoxy)hexa-1,3-diene Chemical compound FC(OC(F)=C(F)C(F)=C(F)C(F)(F)C(F)(F)F)=C(F)C(F)=C(F)C(F)(F)C(F)(F)F JWKJOADJHWZCLL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YYTSGNJTASLUOY-UHFFFAOYSA-N 1-chloropropan-2-ol Chemical compound CC(O)CCl YYTSGNJTASLUOY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DFUYAWQUODQGFF-UHFFFAOYSA-N 1-ethoxy-1,1,2,2,3,3,4,4,4-nonafluorobutane Chemical compound CCOC(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)F DFUYAWQUODQGFF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001169 1-methyl-4-propan-2-ylcyclohexa-1,4-diene Substances 0.000 description 1
- HECLRDQVFMWTQS-RGOKHQFPSA-N 1755-01-7 Chemical compound C1[C@H]2[C@@H]3CC=C[C@@H]3[C@@H]1C=C2 HECLRDQVFMWTQS-RGOKHQFPSA-N 0.000 description 1
- BYKNGMLDSIEFFG-UHFFFAOYSA-N 2,2,3,3,4,4,5,5,6,6,7,7-dodecafluoroheptan-1-ol Chemical compound OCC(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)F BYKNGMLDSIEFFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YGRNTCHOLZBOOY-UHFFFAOYSA-N 2,2,3,3,4,4,5,5-octafluoro-5-[1,1,1,2,3,3-hexafluoro-3-(1,2,2-trifluoroethenoxy)propan-2-yl]oxypentanenitrile Chemical compound FC(F)=C(F)OC(F)(F)C(F)(C(F)(F)F)OC(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C#N YGRNTCHOLZBOOY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UEOZRAZSBQVQKG-UHFFFAOYSA-N 2,2,3,3,4,4,5,5-octafluorooxolane Chemical group FC1(F)OC(F)(F)C(F)(F)C1(F)F UEOZRAZSBQVQKG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JUGSKHLZINSXPQ-UHFFFAOYSA-N 2,2,3,3,4,4,5,5-octafluoropentan-1-ol Chemical compound OCC(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)F JUGSKHLZINSXPQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LYIPDZSLYLDLCU-UHFFFAOYSA-N 2,2,3,3-tetrafluoro-3-[1,1,1,2,3,3-hexafluoro-3-(1,2,2-trifluoroethenoxy)propan-2-yl]oxypropanenitrile Chemical compound FC(F)=C(F)OC(F)(F)C(F)(C(F)(F)F)OC(F)(F)C(F)(F)C#N LYIPDZSLYLDLCU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QNYIHHWPWARRGJ-UHFFFAOYSA-N 2,2,3,3-tetrafluoro-3-[1,1,1,2,3,3-hexafluoro-3-[1,1,1,2,3,3-hexafluoro-3-(1,2,2-trifluoroethenoxy)propan-2-yl]oxypropan-2-yl]oxypropanenitrile Chemical compound FC(F)=C(F)OC(F)(F)C(F)(C(F)(F)F)OC(F)(F)C(F)(C(F)(F)F)OC(F)(F)C(F)(F)C#N QNYIHHWPWARRGJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XYSCZRKCVCNOSF-UHFFFAOYSA-N 2,2-difluoro-2-[1,1,1,2,3,3-hexafluoro-3-(1,2,2-trifluoroethenoxy)propan-2-yl]oxyacetonitrile Chemical compound FC(F)=C(F)OC(F)(F)C(F)(C(F)(F)F)OC(F)(F)C#N XYSCZRKCVCNOSF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HKQLBWSONJEDQW-UHFFFAOYSA-N 2-[difluoro(1,2,2-trifluoroethenoxy)methyl]-2,3,3,3-tetrafluoropropanenitrile Chemical compound FC(F)=C(F)OC(F)(F)C(F)(C#N)C(F)(F)F HKQLBWSONJEDQW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VQSUVCXRDBILER-UHFFFAOYSA-N 2-[difluoro-[1,1,1,2,3,3-hexafluoro-3-(1,2,2-trifluoroethenoxy)propan-2-yl]oxymethyl]-2,3,3,3-tetrafluoropropanenitrile Chemical compound FC(F)=C(F)OC(F)(F)C(F)(C(F)(F)F)OC(F)(F)C(F)(C#N)C(F)(F)F VQSUVCXRDBILER-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VZIQXGLTRZLBEX-UHFFFAOYSA-N 2-chloro-1-propanol Chemical compound CC(Cl)CO VZIQXGLTRZLBEX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GRJRKPMIRMSBNK-UHFFFAOYSA-N 3,3,4,4,5,5,6,6,7,7,8,8,8-tridecafluorooctan-1-ol Chemical compound OCCC(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)F GRJRKPMIRMSBNK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- COAUHYBSXMIJDK-UHFFFAOYSA-N 3,3-dichloro-1,1,1,2,2-pentafluoropropane Chemical compound FC(F)(F)C(F)(F)C(Cl)Cl COAUHYBSXMIJDK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HMGDEQANNRNNKX-UHFFFAOYSA-N 4,4,5,5,6,6,7,7,8,8,9,9,9-tridecafluorononan-1-ol Chemical compound OCCCC(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)F HMGDEQANNRNNKX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SIJLTAVFEHEPTJ-UHFFFAOYSA-N 4,4,5-trifluoro-2,5-bis(trifluoromethyl)-1,3-dioxolane-2-carboxylic acid Chemical compound OC(=O)C1(C(F)(F)F)OC(F)(F)C(F)(C(F)(F)F)O1 SIJLTAVFEHEPTJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000723346 Cinnamomum camphora Species 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical group [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OTMSDBZUPAUEDD-UHFFFAOYSA-N Ethane Chemical compound CC OTMSDBZUPAUEDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N Potassium Chemical compound [K] ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 125000004453 alkoxycarbonyl group Chemical group 0.000 description 1
- 239000012300 argon atmosphere Substances 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 229930008380 camphor Natural products 0.000 description 1
- 229960000846 camphor Drugs 0.000 description 1
- 239000011203 carbon fibre reinforced carbon Substances 0.000 description 1
- 125000005587 carbonate group Chemical group 0.000 description 1
- 125000003178 carboxy group Chemical group [H]OC(*)=O 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- UUAGAQFQZIEFAH-UHFFFAOYSA-N chlorotrifluoroethylene Chemical group FC(F)=C(F)Cl UUAGAQFQZIEFAH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006482 condensation reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000003851 corona treatment Methods 0.000 description 1
- 229930007927 cymene Natural products 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000018044 dehydration Effects 0.000 description 1
- 238000006297 dehydration reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007607 die coating method Methods 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 description 1
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000001125 extrusion Methods 0.000 description 1
- 125000006005 fluoroethoxy group Chemical group 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 238000007756 gravure coating Methods 0.000 description 1
- 150000004820 halides Chemical group 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 125000006343 heptafluoro propyl group Chemical group 0.000 description 1
- 229920001519 homopolymer Polymers 0.000 description 1
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 230000002209 hydrophobic effect Effects 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 1
- 238000007759 kiss coating Methods 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 235000001510 limonene Nutrition 0.000 description 1
- 229940087305 limonene Drugs 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000007760 metering rod coating Methods 0.000 description 1
- XGLLQDIWQRQROJ-UHFFFAOYSA-N methyl 3,3,3-trifluoro-2-oxopropanoate Chemical compound COC(=O)C(=O)C(F)(F)F XGLLQDIWQRQROJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010295 mobile communication Methods 0.000 description 1
- 125000002950 monocyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 1
- 229930003658 monoterpene Natural products 0.000 description 1
- 150000002773 monoterpene derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 235000002577 monoterpenes Nutrition 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- JFNLZVQOOSMTJK-KNVOCYPGSA-N norbornene Chemical compound C1[C@@H]2CC[C@H]1C=C2 JFNLZVQOOSMTJK-KNVOCYPGSA-N 0.000 description 1
- JRZJOMJEPLMPRA-UHFFFAOYSA-N olefin Natural products CCCCCCCC=C JRZJOMJEPLMPRA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HFPZCAJZSCWRBC-UHFFFAOYSA-N p-cymene Chemical compound CC(C)C1=CC=C(C)C=C1 HFPZCAJZSCWRBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CFJYNSNXFXLKNS-UHFFFAOYSA-N p-menthane Chemical compound CC(C)C1CCC(C)CC1 CFJYNSNXFXLKNS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000006340 pentafluoro ethyl group Chemical group FC(F)(F)C(F)(F)* 0.000 description 1
- RVZRBWKZFJCCIB-UHFFFAOYSA-N perfluorotributylamine Chemical compound FC(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)N(C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)F RVZRBWKZFJCCIB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000007875 phellandrene derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 238000000053 physical method Methods 0.000 description 1
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 description 1
- 125000003367 polycyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 239000003505 polymerization initiator Substances 0.000 description 1
- 230000000379 polymerizing effect Effects 0.000 description 1
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011591 potassium Substances 0.000 description 1
- 159000000001 potassium salts Chemical class 0.000 description 1
- 239000011164 primary particle Substances 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000010526 radical polymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 239000011163 secondary particle Substances 0.000 description 1
- 238000007764 slot die coating Methods 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 description 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010345 tape casting Methods 0.000 description 1
- 229930006978 terpinene Natural products 0.000 description 1
- 150000003507 terpinene derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 125000002023 trifluoromethyl group Chemical group FC(F)(F)* 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
Description
本発明は、プリント基板用樹脂組成物及び樹脂成形体、特に高周波数帯域の電波を利用する電子機器が備えるプリント基板の材料に適した樹脂組成物及び樹脂成形体、に関する。 The present invention relates to a resin composition and a resin molded body for printed circuit boards, in particular a resin composition and a resin molded body suitable as materials for printed circuit boards in electronic devices that use radio waves in the high frequency band.
情報通信機器などの電子機器は、電子部品が実装され、電子回路として動作するプリント回路板(printed circuit board)を備えている。プリント回路板は、通常、パターン回路が形成された金属層と、金属層を支持する基材とを含む積層構造を有する。プリント回路板と同様に、電子部品が実装される前のプリント配線板(printed wiring board)も、上記の積層構造を有する。本明細書では、プリント回路板及びプリント配線板を単に「プリント基板(printed board)」と呼ぶ。 Electronic devices such as information and communication devices are equipped with printed circuit boards on which electronic components are mounted and which function as electronic circuits. Printed circuit boards usually have a laminated structure including a metal layer on which a patterned circuit is formed and a substrate that supports the metal layer. Like printed circuit boards, printed wiring boards before electronic components are mounted also have the above-mentioned laminated structure. In this specification, printed circuit boards and printed wiring boards are simply referred to as "printed boards."
プリント基板に含まれる基材は、例えば、樹脂組成物から形成される。基材を形成するための樹脂組成物は、絶縁性、耐水性などの観点から、含フッ素重合体を含んでいることが好ましい。例えば、特許文献1及び2には、含フッ素重合体と、無機フィラー又は液晶ポリマーとが混合された樹脂組成物の用途としてプリント基板が例示されている。特許文献1及び2の実施例では、含フッ素重合体として、テトラフルオロエチレン(TFE)に由来する単量体単位を含むものが開示されている。 The substrate included in the printed circuit board is formed, for example, from a resin composition. From the viewpoints of insulation, water resistance, etc., it is preferable that the resin composition for forming the substrate contains a fluorine-containing polymer. For example, Patent Documents 1 and 2 exemplify printed circuit boards as an application of a resin composition in which a fluorine-containing polymer is mixed with an inorganic filler or a liquid crystal polymer. In the examples of Patent Documents 1 and 2, a fluorine-containing polymer containing a monomer unit derived from tetrafluoroethylene (TFE) is disclosed.
近年、情報通信の分野では、処理すべき情報量の増加に伴い、高周波数帯域の電波を利用する検討が行われている。例えば、第5世代移動通信システム(5G)では、28GHz程度の周波数の電波が利用される。しかし、利用する電波の周波数が高くなれば高くなるほど、プリント基板における信号の伝送損失が増加する。従来のプリント基板用樹脂組成物では、高周波数帯域の電波が利用される場合に、プリント基板における信号の伝送損失の増加を十分に抑制することが難しい。 In recent years, in the field of information and communications, the use of radio waves in the high frequency band has been considered in response to the increasing amount of information to be processed. For example, the fifth generation mobile communication system (5G) uses radio waves with a frequency of about 28 GHz. However, the higher the frequency of the radio waves used, the greater the signal transmission loss in the printed circuit board. With conventional resin compositions for printed circuit boards, it is difficult to sufficiently suppress the increase in signal transmission loss in the printed circuit board when radio waves in the high frequency band are used.
そこで、本発明は、高周波数帯域の電波が利用される場合であっても、プリント基板における信号の伝送損失の増加を抑制することに適したプリント基板用樹脂組成物を提供することを目的とする。 The present invention aims to provide a resin composition for printed circuit boards that is suitable for suppressing an increase in signal transmission loss in printed circuit boards, even when radio waves in the high frequency band are used.
本発明は、
下記式(1)で表される構成単位(A)を有する含フッ素重合体を含む、プリント基板用樹脂組成物を提供する。
The present invention provides a resin composition for printed circuit boards, which comprises a fluorine-containing polymer having a structural unit (A) represented by the following formula (1):
さらに本発明は、
下記式(1)で表される構成単位(A)を有する含フッ素重合体を含む、プリント基板用樹脂成形体を提供する。
The present invention provides a resin molded article for printed circuit boards, which comprises a fluorine-containing polymer having a structural unit (A) represented by the following formula (1):
本発明によれば、高周波数帯域の電波が利用される場合であっても、プリント基板における信号の伝送損失の増加を抑制することに適したプリント基板用樹脂組成物を提供できる。 The present invention provides a resin composition for printed circuit boards that is suitable for suppressing an increase in signal transmission loss in printed circuit boards, even when radio waves in the high frequency band are used.
以下、本発明の実施形態を説明するが、以下の説明は、本発明を特定の実施形態に制限する趣旨ではない。 The following describes an embodiment of the present invention, but the following description is not intended to limit the present invention to a specific embodiment.
[プリント基板用樹脂組成物]
本実施形態のプリント基板用樹脂組成物(以下、単に「樹脂組成物」と呼ぶことがある)は、下記式(1)で表される構成単位(A)を有する含フッ素重合体を含む。構成単位(A)は、高周波数帯域における樹脂組成物の比誘電率を低下させることに適した構成単位である。構成単位(A)を含む含フッ素重合体は、溶媒に溶解しやすいといった特徴もある。
The resin composition for printed circuit boards of this embodiment (hereinafter sometimes simply referred to as "resin composition") contains a fluoropolymer having a structural unit (A) represented by the following formula (1). The structural unit (A) is a structural unit suitable for lowering the relative dielectric constant of the resin composition in the high frequency band. The fluoropolymer containing the structural unit (A) also has the characteristic of being easily soluble in a solvent.
式(1)中、Rff 1~Rff 4は各々独立に、フッ素原子、炭素数1~7のパーフルオロアルキル基、又は炭素数1~7のパーフルオロアルキルエーテル基を表す。Rff 1及びRff 2は、連結して環を形成してもよい。「パーフルオロ」は、炭素原子に結合している全ての水素原子がフッ素原子に置換されていることを意味する。式(1)において、パーフルオロアルキル基の炭素数は、1~5が好ましく、1~3がより好ましく、1であることがさらに好ましい。パーフルオロアルキル基は、直鎖状であってもよく、分岐鎖状であってもよい。パーフルオロアルキル基としては、トリフルオロメチル基、ペンタフルオロエチル基、ヘプタフルオロプロピル基などが挙げられる。 In formula (1), R ff 1 to R ff 4 each independently represent a fluorine atom, a perfluoroalkyl group having 1 to 7 carbon atoms, or a perfluoroalkyl ether group having 1 to 7 carbon atoms. R ff 1 and R ff 2 may be linked to form a ring. "Perfluoro" means that all hydrogen atoms bonded to carbon atoms are substituted with fluorine atoms. In formula (1), the number of carbon atoms in the perfluoroalkyl group is preferably 1 to 5, more preferably 1 to 3, and even more preferably 1. The perfluoroalkyl group may be linear or branched. Examples of the perfluoroalkyl group include a trifluoromethyl group, a pentafluoroethyl group, and a heptafluoropropyl group.
式(1)において、パーフルオロアルキルエーテル基の炭素数は、1~5が好ましく、1~3がより好ましい。パーフルオロアルキルエーテル基は、直鎖状であってもよく、分岐鎖状であってもよい。パーフルオロアルキルエーテル基としては、パーフルオロメトキシメチル基などが挙げられる。 In formula (1), the number of carbon atoms in the perfluoroalkyl ether group is preferably 1 to 5, and more preferably 1 to 3. The perfluoroalkyl ether group may be linear or branched. Examples of perfluoroalkyl ether groups include a perfluoromethoxymethyl group.
Rff 1及びRff 2が連結して環を形成している場合、当該環は、5員環であってもよく、6員環であってもよい。この環としては、パーフルオロテトラヒドロフラン環、パーフルオロシクロペンタン環、パーフルオロシクロヘキサン環などが挙げられる。 When R ff 1 and R ff 2 are linked to form a ring, the ring may be a 5-membered ring or a 6-membered ring. Examples of the ring include a perfluorotetrahydrofuran ring, a perfluorocyclopentane ring, and a perfluorocyclohexane ring.
構成単位(A)の具体例としては、例えば、下記式(A1)~(A8)で表される構成単位が挙げられる。
構成単位(A)は、上記式(A1)~(A8)で表される構成単位のうち、構成単位(A2)、すなわち下記式(2)で表される構成単位であることが好ましい。
構成単位(A)は、例えば、下記式(3)で表される化合物に由来する。式(3)において、Rff
1~Rff
4は、式(1)と同じである。
上記式(3)で表される化合物の具体例としては、例えば、下記式(M1)~(M8)で表される化合物が挙げられる。
含フッ素重合体は、構成単位(A)を1種又は2種以上含んでいてもよい。含フッ素重合体は、例えば、構成単位(A)を主成分として含む。本明細書において、「主成分」は、含フッ素重合体にモル基準で最も多く含まれる構成単位を意味する。含フッ素重合体における構成単位(A)の含有率は、例えば80モル%以上であり、好ましくは90モル%以上であり、より好ましくは95モル%以上である。含フッ素重合体は、例えば、実質的に構成単位(A)からなる。含フッ素重合体における構成単位(A)の含有率は、99モル%以下であってもよい。 The fluorine-containing polymer may contain one or more types of structural unit (A). The fluorine-containing polymer contains, for example, the structural unit (A) as a main component. In this specification, "main component" means the structural unit contained most abundantly in the fluorine-containing polymer on a molar basis. The content of the structural unit (A) in the fluorine-containing polymer is, for example, 80 mol% or more, preferably 90 mol% or more, and more preferably 95 mol% or more. The fluorine-containing polymer is, for example, substantially composed of the structural unit (A). The content of the structural unit (A) in the fluorine-containing polymer may be 99 mol% or less.
含フッ素重合体は、構成単位(A)以外に、カルボニル含有基、ヒドロキシル基、エポキシ基、イソシアネート基及びシアノ基からなる群より選ばれる少なくとも1つの官能基(F)を有する構成単位(B)を含んでいてもよい。構成単位(B)は、樹脂組成物の接着性を向上させることに適した構成単位である。十分な接着性を有する樹脂組成物から形成された樹脂成形体は、プリント基板の金属層と容易に接合することができる。 The fluorine-containing polymer may contain, in addition to the structural unit (A), a structural unit (B) having at least one functional group (F) selected from the group consisting of a carbonyl-containing group, a hydroxyl group, an epoxy group, an isocyanate group, and a cyano group. The structural unit (B) is a structural unit suitable for improving the adhesiveness of the resin composition. A resin molded product formed from a resin composition having sufficient adhesiveness can be easily bonded to a metal layer of a printed circuit board.
構成単位(B)は、上述した官能基(F)を有している限り、特に限定されない。構成単位(B)は、例えば、炭素-炭素二重結合及び官能基(F)を有する化合物に由来する。構成単位(B)は、水素原子を含まないことが好ましいが、水素原子を含んでいてもよい。構成単位(B)に含まれる炭素原子に結合している水素原子は、フッ素原子に置換されていてもよい。 The structural unit (B) is not particularly limited as long as it has the above-mentioned functional group (F). The structural unit (B) is derived, for example, from a compound having a carbon-carbon double bond and a functional group (F). The structural unit (B) preferably does not contain hydrogen atoms, but may contain hydrogen atoms. The hydrogen atoms bonded to the carbon atoms contained in the structural unit (B) may be substituted with fluorine atoms.
官能基(F)のカルボニル含有基としては、例えば、酸無水物基、カルボキシ基、酸ハライド基、アルコキシカルボニル基及びカーボネート基が挙げられ、好ましくは酸無水物基である。構成単位(B)は、樹脂組成物の接着性を向上させる観点から、酸無水物基、エポキシ基、イソシアネート基及びシアノ基からなる群より選ばれる少なくとも1つを有することが好ましく、酸無水物基を有することがより好ましい。構成単位(B)がシアノ基を含む場合、含フッ素重合体は、シアノ基を介して三量体を形成することができる。含フッ素重合体の三量体は、樹脂組成物から形成された樹脂成形体の耐久性を向上させることに適している。 Examples of the carbonyl-containing group of the functional group (F) include an acid anhydride group, a carboxy group, an acid halide group, an alkoxycarbonyl group, and a carbonate group, and an acid anhydride group is preferred. From the viewpoint of improving the adhesiveness of the resin composition, the structural unit (B) preferably has at least one selected from the group consisting of an acid anhydride group, an epoxy group, an isocyanate group, and a cyano group, and more preferably has an acid anhydride group. When the structural unit (B) contains a cyano group, the fluorine-containing polymer can form a trimer via the cyano group. The trimer of the fluorine-containing polymer is suitable for improving the durability of a resin molded product formed from the resin composition.
構成単位(B)は、環構造を有していてもよい。構成単位(B)の環構造は、単環式であってもよく、多環式であってもよい。構成単位(B)の環構造の炭素数は、例えば4~10であり、好ましくは4~6である。構成単位(B)において、環構造が置換基として官能基(F)を有していてもよく、環構造自体が官能基(F)を含んでいてもよい。構成単位(B)の環構造は、好ましくは酸無水物環である。構成単位(B)の環構造に含まれる炭素原子が含フッ素重合体の主鎖を形成していてもよい。 The structural unit (B) may have a ring structure. The ring structure of the structural unit (B) may be monocyclic or polycyclic. The number of carbon atoms in the ring structure of the structural unit (B) is, for example, 4 to 10, and preferably 4 to 6. In the structural unit (B), the ring structure may have a functional group (F) as a substituent, or the ring structure itself may contain a functional group (F). The ring structure of the structural unit (B) is preferably an acid anhydride ring. The carbon atoms contained in the ring structure of the structural unit (B) may form the main chain of the fluorine-containing polymer.
酸無水物環を含む構成単位(B)の具体例としては、イタコン酸無水物に由来する構成単位、マレイン酸無水物に由来する構成単位、5-ノルボルネン-2,3-ジカルボン酸無水物に由来する構成単位などが挙げられる。すなわち、酸無水物環を含む構成単位(B)を形成する化合物としては、イタコン酸無水物、マレイン酸無水物、5-ノルボルネン-2,3-ジカルボン酸無水物などが挙げられる。 Specific examples of the structural unit (B) containing an acid anhydride ring include a structural unit derived from itaconic anhydride, a structural unit derived from maleic anhydride, and a structural unit derived from 5-norbornene-2,3-dicarboxylic anhydride. That is, examples of compounds that form the structural unit (B) containing an acid anhydride ring include itaconic anhydride, maleic anhydride, and 5-norbornene-2,3-dicarboxylic anhydride.
シアノ基を含む構成単位(B)としては、例えば、シアノ基を含むビニルエーテル化合物に由来する構成単位が挙げられる。シアノ基を含むビニルエーテル化合物は、全フッ素化されていてもよく、例えば、パーフルオロ(5-シアノ-3-オキサ-1-ヘキセン)(Perfluoro(5-cyano-3-oxa-l-hexene))、パーフルオロ(7-シアノ-5-メチル-3,6-ジオキサ-1-ヘプテン)(Perfluoro-(7-cyano-5-methyl-3,6-dioxa-1-heptene))、パーフルオロ(8-シアノ-5-メチル-3,6-ジオキサ-1-オクテン)(Perfluoro-(8-cyano-5-methyl-3,6-dioxa-1-octene))、パーフルオロ(10-シアノ-5-メチル-3,6-ジオキサ-1-デセン)(Perfluoro-(10-cyano-5-methyl-3,6-dioxa-1-decene))、パーフルオロ(11-シアノ-5,8-ジメチル-3,6,9-トリオキサ-1-ウンデセン)(Perfluoro-(11-cyano-5,8-dimethyl-3,6,9-trioxa-1-undecene))、パーフルオロ(8-シアノ-5-メチル-3,6-ジオキサ-1-ノネン)(Perfluoro(8-cyano-5-methyl-3,6-dioxa-1-nonene))などが挙げられる。シアノ基を含むビニルエーテル化合物の製造方法は、例えば、米国特許第4281092号明細書に記載されている。 Examples of the structural unit (B) containing a cyano group include structural units derived from vinyl ether compounds containing a cyano group. The vinyl ether compounds containing a cyano group may be fully fluorinated, and examples of such structural units include perfluoro(5-cyano-3-oxa-1-hexene), perfluoro(7-cyano-5-methyl-3,6-dioxa-1-heptene), perfluoro(8-cyano-5-methyl-3,6-dioxa-1-octene), and perfluoro(9-cyano-5-methyl-3,6-dioxa-1-octene). Examples include perfluoro-(10-cyano-5-methyl-3,6-dioxa-1-decene), perfluoro-(11-cyano-5,8-dimethyl-3,6,9-trioxa-1-undecene), and perfluoro(8-cyano-5-methyl-3,6-dioxa-1-nonene). A method for producing a vinyl ether compound containing a cyano group is described, for example, in U.S. Pat. No. 4,281,092.
含フッ素重合体は、構成単位(B)を1種又は2種以上含んでいてもよい。含フッ素重合体における構成単位(B)の含有率は、例えば20モル%以下であり、好ましくは10モル%以下であり、より好ましくは5モル%以下である。含フッ素重合体は、構成単位(B)を含んでいなくてもよい。構成単位(B)の含有率は、1モル%以上であってもよい。含フッ素重合体における構成単位(B)の含有率を1モル%~20モル%の範囲に調節することによって、高周波数帯域における樹脂組成物の比誘電率を低下させつつ、樹脂組成物の接着性を向上できる傾向がある。 The fluorine-containing polymer may contain one or more types of structural unit (B). The content of structural unit (B) in the fluorine-containing polymer is, for example, 20 mol % or less, preferably 10 mol % or less, and more preferably 5 mol % or less. The fluorine-containing polymer may not contain structural unit (B). The content of structural unit (B) may be 1 mol % or more. By adjusting the content of structural unit (B) in the fluorine-containing polymer to the range of 1 mol % to 20 mol %, there is a tendency to improve the adhesiveness of the resin composition while reducing the relative dielectric constant of the resin composition in the high frequency band.
含フッ素重合体は、構成単位(A)及び構成単位(B)以外の他の構成単位(C)をさらに含んでいてもよい。他の構成単位(C)を形成する化合物としては、例えば、テトラフルオロエチレン、クロロトリフルオロエチレンなどのフッ素含有オレフィン化合物;パーフルオロプロピルビニルエーテルなどのパーフルオロビニルエーテル化合物;パーフルオロアリルビニルエーテル、パーフルオロブテニルビニルエーテルなどの2つ以上の重合性二重結合を有し、かつ環化重合可能な含フッ素化合物が挙げられる。ただし、高周波数帯域における樹脂組成物の比誘電率の観点から、含フッ素重合体は、他の構成単位(C)を含まないことが好ましい。 The fluorine-containing polymer may further contain other structural units (C) other than the structural units (A) and (B). Examples of compounds that form the other structural units (C) include fluorine-containing olefin compounds such as tetrafluoroethylene and chlorotrifluoroethylene; perfluorovinyl ether compounds such as perfluoropropyl vinyl ether; and fluorine-containing compounds having two or more polymerizable double bonds and capable of cyclopolymerization, such as perfluoroallyl vinyl ether and perfluorobutenyl vinyl ether. However, from the viewpoint of the relative dielectric constant of the resin composition in the high frequency band, it is preferable that the fluorine-containing polymer does not contain other structural units (C).
含フッ素重合体の重合方法は、特に限定されず、例えば、ラジカル重合などの一般的な重合方法を利用できる。含フッ素重合体を重合するための重合開始剤は、全フッ素化された化合物であってもよい。 The polymerization method for the fluorine-containing polymer is not particularly limited, and a general polymerization method such as radical polymerization can be used. The polymerization initiator for polymerizing the fluorine-containing polymer may be a perfluorinated compound.
含フッ素重合体の重量平均分子量は、例えば、50,000~1,000,000である。含フッ素重合体のガラス転移温度(Tg)は、例えば、100℃~140℃である。本明細書において、Tgは、JIS K7121:1987の規定に準拠して求められる中間点ガラス転移温度 (Tmg)を意味する。含フッ素重合体の1%重量減少温度は、例えば、220℃以上である。本明細書において、1%重量減少温度は、熱重量分析(TGA)計を用いて、空気雰囲気下、昇温速度10℃/分で含フッ素重合体を室温(20℃±15℃)から加熱した場合に、含フッ素重合体の重量が測定開始前の重量から1%減少したときの温度を意味する。 The weight average molecular weight of the fluoropolymer is, for example, 50,000 to 1,000,000. The glass transition temperature (Tg) of the fluoropolymer is, for example, 100° C. to 140° C. In this specification, Tg means the midpoint glass transition temperature (T mg ) determined in accordance with the provisions of JIS K7121:1987. The 1% weight loss temperature of the fluoropolymer is, for example, 220° C. or higher. In this specification, the 1% weight loss temperature means the temperature at which the weight of the fluoropolymer decreases by 1% from the weight before the start of measurement when the fluoropolymer is heated from room temperature (20° C.±15° C.) at a heating rate of 10° C./min in an air atmosphere using a thermogravimetric analyzer (TGA).
含フッ素重合体の融点は、例えば、100℃以上330℃以下であり、好ましくは120℃以上300℃以下である。100℃以上330℃以下の融点を有する含フッ素重合体は、溶融成形に適している。 The melting point of the fluoropolymer is, for example, 100°C or higher and 330°C or lower, and preferably 120°C or higher and 300°C or lower. A fluoropolymer having a melting point of 100°C or higher and 330°C or lower is suitable for melt molding.
樹脂組成物における含フッ素重合体の含有率は、例えば70wt%以上であり、好ましくは90wt%以上である。樹脂組成物は、例えば、実質的に含フッ素重合体からなる。樹脂組成物が後述する溶媒を含む場合、樹脂組成物における含フッ素重合体の含有率は、10wt%~50wt%であってもよく、20wt%~40wt%であってもよい。 The content of the fluorine-containing polymer in the resin composition is, for example, 70 wt % or more, and preferably 90 wt % or more. The resin composition is, for example, substantially composed of a fluorine-containing polymer. When the resin composition contains a solvent described below, the content of the fluorine-containing polymer in the resin composition may be 10 wt % to 50 wt %, or may be 20 wt % to 40 wt %.
樹脂組成物は、含フッ素重合体以外の他の成分をさらに含んでいてもよい。他の成分としては、例えば、中空粒子、発泡剤、ポロゲン(細孔形成剤)及び溶媒が挙げられる。樹脂組成物は、例えば、発泡剤及びポロゲンからなる群より選ばれる少なくとも1つを含んでいてもよい。中空粒子は、高周波数帯域における樹脂組成物の比誘電率を低下させることに適している場合がある。中空粒子によれば、樹脂組成物から形成される成形体について、機械特性を向上させる、又は低線膨張を実現することができる可能性もある。中空粒子は、無機化合物で構成されていることが好ましく、特に中空シリカ粒子を含むことが好ましい。中空粒子は、中空シリカ粒子と他の中空粒子との混合物であってもよいし、中空シリカ粒子のみで構成されていてもよい。 The resin composition may further contain other components other than the fluorine-containing polymer. Examples of the other components include hollow particles, a foaming agent, a porogen (pore-forming agent), and a solvent. The resin composition may contain, for example, at least one selected from the group consisting of a foaming agent and a porogen. The hollow particles may be suitable for reducing the relative dielectric constant of the resin composition in the high frequency band. The hollow particles may improve the mechanical properties or realize low linear expansion of a molded body formed from the resin composition. The hollow particles are preferably composed of an inorganic compound, and particularly preferably contain hollow silica particles. The hollow particles may be a mixture of hollow silica particles and other hollow particles, or may be composed of hollow silica particles alone.
中空粒子の平均粒径は、10nm~200nmの範囲にあることが好ましく、50nm~120nmの範囲にあることがより好ましい。中空粒子の平均粒径は、例えば、次の方法によって特定することができる。まず、樹脂組成物を透過型電子顕微鏡(TEM)で観察する。得られた電子顕微鏡像において、特定の中空粒子の面積を画像処理によって算出する。算出された面積と同じ面積を有する円の直径をその特定の中空粒子の粒径(粒子の直径)とみなす。任意の個数(少なくとも50個)の中空粒子の粒径をそれぞれ算出し、算出値の平均値を中空粒子の平均粒径とみなす。中空粒子の形状は、特に限定されず、球状であってもよく、楕円体状であってもよく、鱗片状であってもよく、繊維状であってもよい。 The average particle size of the hollow particles is preferably in the range of 10 nm to 200 nm, and more preferably in the range of 50 nm to 120 nm. The average particle size of the hollow particles can be determined, for example, by the following method. First, the resin composition is observed with a transmission electron microscope (TEM). In the obtained electron microscope image, the area of a specific hollow particle is calculated by image processing. The diameter of a circle having the same area as the calculated area is regarded as the particle size (particle diameter) of the specific hollow particle. The particle sizes of an arbitrary number of hollow particles (at least 50 particles) are calculated, and the average of the calculated values is regarded as the average particle size of the hollow particles. The shape of the hollow particles is not particularly limited, and may be spherical, ellipsoidal, scaly, or fibrous.
樹脂組成物における中空粒子の含有率は、特に限定されず、例えば1wt%~90wt%の範囲にあることが好ましく、1wt%~80wt%の範囲にあることがより好ましく、5wt%~70wt%の範囲にあることがさらに好ましく、30wt%~70wt%であってもよい。場合によっては、樹脂組成物における中空粒子の含有率は、1wt%~30wt%であってもよく、1wt%~25wt%であってもよく、5wt%~25wt%であってもよい。樹脂組成物における中空粒子の含有率は、例えば、上記の電子顕微鏡像における樹脂組成物部分の面積と中空粒子部分の面積との割合から算出することができる。 The hollow particle content in the resin composition is not particularly limited, and is preferably in the range of 1 wt% to 90 wt%, more preferably in the range of 1 wt% to 80 wt%, even more preferably in the range of 5 wt% to 70 wt%, and may be 30 wt% to 70 wt%. In some cases, the hollow particle content in the resin composition may be 1 wt% to 30 wt%, 1 wt% to 25 wt%, or 5 wt% to 25 wt%. The hollow particle content in the resin composition can be calculated, for example, from the ratio of the area of the resin composition portion to the area of the hollow particle portion in the above electron microscope image.
中空粒子は、樹脂組成物中に均一に分散していることが好ましく、凝集体(すなわち二次粒子)を形成せずに、一次粒子の状態で分散していることが好ましい。分散性の観点から、中空粒子は、例えば疎水処理などの表面処理が施されていることが好ましい。 The hollow particles are preferably uniformly dispersed in the resin composition, and are preferably dispersed in the form of primary particles without forming aggregates (i.e., secondary particles). From the viewpoint of dispersibility, it is preferable that the hollow particles have been subjected to a surface treatment, such as a hydrophobic treatment.
樹脂組成物に含まれる発泡剤としては、例えば、公知の物理型発泡剤及び化学型発泡剤が挙げられる。樹脂組成物が発泡剤を含む場合、発泡剤により樹脂組成物を発泡させることによって、多孔質構造を有する樹脂成形体を得ることができる。 Examples of the foaming agent contained in the resin composition include known physical foaming agents and chemical foaming agents. When the resin composition contains a foaming agent, a resin molded body having a porous structure can be obtained by foaming the resin composition with the foaming agent.
ポロゲンは、例えば、上記の含フッ素重合体の重合時に、反応誘起相分離を生じさせる溶剤である。反応誘起相分離が生じた樹脂組成物からポロゲンを除去することによって、多孔質構造を有する樹脂成形体を得ることができる。ポロゲンとしては、直鎖状炭化水素、環状炭化水素などが挙げられる。特に、相分離性と除去性の観点から、環状炭化水素、特に多環式炭化水素、が好適に使用される。環状炭化水素としては、特に、メンタン、リモネン、フェランドレン、テルピノレン、テルピネン、シメン、カンファー等のモノテルペン;ノルボルネン、アダマンタン、ジシクロペンタジエン等の多環式炭化水素が好ましい。 The porogen is, for example, a solvent that causes reaction-induced phase separation during polymerization of the above-mentioned fluorine-containing polymer. By removing the porogen from the resin composition in which reaction-induced phase separation has occurred, a resin molded product having a porous structure can be obtained. Examples of the porogen include linear hydrocarbons and cyclic hydrocarbons. In particular, from the viewpoint of phase separation and removability, cyclic hydrocarbons, particularly polycyclic hydrocarbons, are preferably used. As the cyclic hydrocarbons, in particular, monoterpenes such as menthane, limonene, phellandrene, terpinolene, terpinene, cymene, and camphor; and polycyclic hydrocarbons such as norbornene, adamantane, and dicyclopentadiene are preferred.
樹脂組成物における発泡剤又はポロゲンの含有率は、発泡剤の種類、ポロゲンの種類、樹脂組成物の組成などに応じて定められ、例えば1wt%~90wt%の範囲にある。 The content of the foaming agent or porogen in the resin composition is determined according to the type of foaming agent, the type of porogen, the composition of the resin composition, etc., and is, for example, in the range of 1 wt% to 90 wt%.
樹脂組成物に含まれる溶媒は、例えば、含フッ素重合体を溶解又は分散させるものであることが好ましい。溶媒としては、例えば、1H-トリデカフルオロヘキサン(旭硝子社製、アサヒクリン(登録商標)AC2000)、1,1,1,2,2,3,3,4,4,5,5,6,6-トリデカフルオロオクタン(旭硝子社製、アサヒクリン(登録商標)AC6000)、1,1,2,2-テトラフルオロ-1-(2,2,2-トリ‘“フルオロエトキシ)エタン(旭硝子社製、アサヒクリン(登録商標)AE3000)、ジクロロペンタフルオロプロパン(旭硝子社製、アサヒクリン(登録商標)AK-225)、1,1,1,2,3,4,4,5,5,5-デカフルオロ-3-メトキシ-2-(トリフルオロメチル)ペンタン(旭硝子社製、サイトップ(登録商標)CT-solv100E)、1-メトキシノナフルオロブタン(スリーエムジャパン社製、Novec(登録商標)7100)、1-エトキシノナフルオロブタン(スリーエムジャパン社製、Novec(登録商標)7200)、パーフルオロヘキシルメチルエーテル(スリーエムジャパン社製、Novec(登録商標)7300)、1,1,1,2,3,3-ヘキサフルオロ-4-(1,1,2,3,3,3-ヘキサフルオロプロポキシ)ペンタン(スリーエムジャパン社製、Novec(登録商標)7600)、2H,3H-パーフルオロペンタン(三井・ケマーズフロロケミカル社製、Vertrel(登録商標)XF)、3,3,4,4,5,5,6,6,7,7,8,8,8-トリデカフルオロ-1-オクタノール、4,4,5,5,6,6,7,7,8,8,9,9,9-トリデカフルオロ-1-ノナノール、ヘキサフルオロベンゼン、ヘキサフルオロ-2-プロパノール、2,2,3,3,4,4,5,5-オクタフルオロ-1-ペンタノール、1H,1H,7H-ドデカフルオロ-1-ヘプタノールなどの含フッ素化合物類、及び、これら以外の市販のフッ素系溶媒(例えば、スリーエムジャパン社製のフロリナート(登録商標)FC-770、FC-72及び、セントラル硝子社製のセレフィン(登録商標)1233Z)が挙げられる。樹脂組成物は、これらの溶媒を1種又は2種以上含んでいてもよい。樹脂組成物に含まれる成分の溶解性の観点から、溶媒としては、ヘキサフルオロベンゼン、パーフルオロヘキシルメチルエーテル及び2H,3H-パーフルオロペンタンが好ましい。 The solvent contained in the resin composition is preferably one that dissolves or disperses the fluorine-containing polymer. Examples of the solvent include 1H-tridecafluorohexane (manufactured by Asahi Glass Co., Ltd., Asahiklin (registered trademark) AC2000), 1,1,1,2,2,3,3,4,4,5,5,6,6-tridecafluorooctane (manufactured by Asahi Glass Co., Ltd., Asahiklin (registered trademark) AC6000), 1,1,2,2-tetrafluoro-1-(2,2,2-tri'"fluoroethoxy)ethane (manufactured by Asahi Glass Co., Ltd., Asahiklin (registered trademark) AE3000), dichloropentafluoropropane (manufactured by Asahi Glass Co., Ltd., Asahiklin (registered trademark) AK-225), 1,1,1,2,3,4,4,5, 5,5-Decafluoro-3-methoxy-2-(trifluoromethyl)pentane (manufactured by Asahi Glass Co., Ltd., Cytop (registered trademark) CT-solv100E), 1-methoxynonafluorobutane (manufactured by 3M Japan, Ltd., Novec (registered trademark) 7100), 1-ethoxynonafluorobutane (manufactured by 3M Japan, Ltd., Novec (registered trademark) 7200), perfluorohexyl methyl ether (manufactured by 3M Japan, Ltd., Novec (registered trademark) 7300), 1,1,1,2,3,3-hexafluoro-4-(1,1,2,3,3,3-hexafluoro (3M Japan, Novec (registered trademark) 7600), 2H,3H-perfluoropentane (Mitsui-Chemours Fluorochemicals, Vertrel (registered trademark) XF), 3,3,4,4,5,5,6,6,7,7,8,8,8-tridecafluoro-1-octanol, 4,4,5,5,6,6,7,7,8,8,9,9,9-tridecafluoro-1-nonanol, hexafluorobenzene, hexafluoro-2-propanol, 2,2,3,3,4,4,5,5-octafluoro-1-pentanol, 1H, Examples of the solvent include fluorine-containing compounds such as 1H,7H-dodecafluoro-1-heptanol, and other commercially available fluorine-based solvents (for example, Fluorinert (registered trademark) FC-770 and FC-72 manufactured by 3M Japan, and Cerefin (registered trademark) 1233Z manufactured by Central Glass Co., Ltd.). The resin composition may contain one or more of these solvents. From the viewpoint of the solubility of the components contained in the resin composition, the solvent is preferably hexafluorobenzene, perfluorohexyl methyl ether, or 2H,3H-perfluoropentane.
樹脂組成物は、機械的特性を向上させる観点から、液晶ポリマー、又は、中空粒子以外の無機フィラーを含んでいてもよい。ただし、高周波数帯域における樹脂組成物の比誘電率の観点から、樹脂組成物は、液晶ポリマー、又は、中空粒子以外の無機フィラーを含まないことが好ましい。場合によっては、樹脂組成物は、中空粒子を含んでいなくてもよい。 From the viewpoint of improving mechanical properties, the resin composition may contain liquid crystal polymers or inorganic fillers other than hollow particles. However, from the viewpoint of the relative dielectric constant of the resin composition in the high frequency band, it is preferable that the resin composition does not contain liquid crystal polymers or inorganic fillers other than hollow particles. In some cases, the resin composition may not contain hollow particles.
本実施形態の樹脂組成物は、例えば、周波数28GHzにおける比誘電率が2.40以下である。樹脂組成物の周波数28GHzにおける比誘電率は、好ましくは2.30以下であり、より好ましくは2.20以下であり、さらに好ましくは2.15以下であり、特に好ましくは2.10以下であり、とりわけ好ましくは2.05以下である。樹脂組成物の周波数28GHzにおける比誘電率の下限値は、特に限定されず、例えば、1.50である。樹脂組成物の周波数28GHzにおける比誘電率は、例えば、ファブリペロー法や日本産業規格(JIS)R1641:2007の規定に準拠した空洞共振器法により求めることができる。なお、樹脂組成物が溶媒を含む場合には、樹脂組成物から溶媒を除去してから比誘電率を測定すべきである。本明細書において、比誘電率は、23℃±2℃、60±5%RHの環境下での値を意味する。 The resin composition of this embodiment has a relative dielectric constant of 2.40 or less at a frequency of 28 GHz. The relative dielectric constant of the resin composition at a frequency of 28 GHz is preferably 2.30 or less, more preferably 2.20 or less, even more preferably 2.15 or less, particularly preferably 2.10 or less, and particularly preferably 2.05 or less. The lower limit of the relative dielectric constant of the resin composition at a frequency of 28 GHz is not particularly limited, and is, for example, 1.50. The relative dielectric constant of the resin composition at a frequency of 28 GHz can be determined, for example, by the Fabry-Perot method or the cavity resonator method in accordance with the provisions of Japanese Industrial Standards (JIS) R1641:2007. In addition, when the resin composition contains a solvent, the relative dielectric constant should be measured after removing the solvent from the resin composition. In this specification, the relative dielectric constant means a value in an environment of 23°C ± 2°C and 60 ± 5% RH.
なお、誘電体の伝送損失αは、下記式(i)によって表される。そのため、樹脂組成物の周波数28GHzにおける比誘電率が2.40以下であれば、高周波数帯域の電波が利用される場合であっても、プリント基板における信号の伝送損失の増加を十分に抑制することができる傾向がある。下記式(i)において、Kは比例定数を示し、fは周波数を示し、εrは比誘電率を示し、tanδは誘電正接を示している。
樹脂組成物は、28GHzより高い周波数帯域においても、比誘電率が低いことが好ましい。一例として、樹脂組成物の周波数75GHzにおける比誘電率は、好ましくは2.40以下であり、より好ましくは2.30以下であり、さらに好ましくは2.15以下であり、特に好ましくは2.10以下であり、とりわけ好ましくは2.05以下である。樹脂組成物の周波数75GHzにおける比誘電率の下限値は、特に限定されず、例えば、1.50である。樹脂組成物の周波数75GHzにおける比誘電率は、例えば、ファブリペロー法やJIS R1660-1:2004の規定に準拠した空洞共振器法により求めることができる。 It is preferable that the resin composition has a low dielectric constant even in frequency bands higher than 28 GHz. As an example, the dielectric constant of the resin composition at a frequency of 75 GHz is preferably 2.40 or less, more preferably 2.30 or less, even more preferably 2.15 or less, particularly preferably 2.10 or less, and especially preferably 2.05 or less. The lower limit of the dielectric constant of the resin composition at a frequency of 75 GHz is not particularly limited, and is, for example, 1.50. The dielectric constant of the resin composition at a frequency of 75 GHz can be determined, for example, by the Fabry-Perot method or the cavity resonator method in accordance with the provisions of JIS R1660-1:2004.
樹脂組成物は、高周波数帯域における誘電正接が低いことが好ましい。上記の式(i)からわかるとおり、誘電正接tanδが低ければ低いほど、高周波数帯域の電波が利用される場合であっても、プリント基板における信号の伝送損失の増加を抑制できる傾向がある。一例として、樹脂組成物の周波数28GHzにおける誘電正接は、好ましくは0.001以下であり、より好ましくは0.0005以下であり、さらに好ましくは0.0003以下である。樹脂組成物の周波数28GHzにおける誘電正接の下限値は、特に限定されず、例えば0.0001である。樹脂組成物の周波数28GHzにおける誘電正接は、例えば、ファブリペロー法やJIS R1641:2007の規定に準拠した空洞共振器法により求めることができる。 It is preferable that the resin composition has a low dielectric tangent in the high frequency band. As can be seen from the above formula (i), the lower the dielectric tangent tan δ, the more likely it is that the increase in signal transmission loss in the printed circuit board can be suppressed, even when radio waves in the high frequency band are used. As an example, the dielectric tangent of the resin composition at a frequency of 28 GHz is preferably 0.001 or less, more preferably 0.0005 or less, and even more preferably 0.0003 or less. The lower limit of the dielectric tangent of the resin composition at a frequency of 28 GHz is not particularly limited, and is, for example, 0.0001. The dielectric tangent of the resin composition at a frequency of 28 GHz can be determined, for example, by the Fabry-Perot method or the cavity resonator method in accordance with the provisions of JIS R1641:2007.
樹脂組成物は、28GHzより高い周波数帯域においても、誘電正接が低いことが好ましい。一例として、樹脂組成物の周波数75GHzにおける誘電正接は、好ましくは0.001以下であり、より好ましくは0.0005以下であり、さらに好ましくは0.0003以下である。樹脂組成物の周波数75GHzにおける誘電正接の下限値は、特に限定されず、例えば、0.0001である。樹脂組成物の周波数75GHzにおける誘電正接は、例えば、ファブリペロー法やJIS R1660-1:2004の規定に準拠した空洞共振器法により求めることができる。 It is preferable that the resin composition has a low dielectric tangent even in a frequency band higher than 28 GHz. As an example, the dielectric tangent of the resin composition at a frequency of 75 GHz is preferably 0.001 or less, more preferably 0.0005 or less, and even more preferably 0.0003 or less. The lower limit of the dielectric tangent of the resin composition at a frequency of 75 GHz is not particularly limited, and is, for example, 0.0001. The dielectric tangent of the resin composition at a frequency of 75 GHz can be determined, for example, by the Fabry-Perot method or the cavity resonator method in accordance with the provisions of JIS R1660-1:2004.
[プリント基板用樹脂成形体]
本実施形態のプリント基板用樹脂成形体(以下、単に「樹脂成形体」と呼ぶことがある)は、上述した樹脂組成物を成形加工することによって得られる。そのため、樹脂成形体は、上述した含フッ素重合体、すなわち構成単位(A)を有する含フッ素重合体、を含む。樹脂成形体の組成は、例えば、発泡剤、ポロゲン及び溶媒を含まないことを除いて、樹脂組成物の組成と同じである。
[Resin molded body for printed circuit boards]
The resin molded product for printed circuit boards of this embodiment (hereinafter, sometimes simply referred to as "resin molded product") is obtained by molding the above-mentioned resin composition. Therefore, the resin molded product contains the above-mentioned fluorine-containing polymer, i.e., a fluorine-containing polymer having the structural unit (A). The composition of the resin molded product is the same as the composition of the resin composition, except that it does not contain, for example, a foaming agent, a porogen, or a solvent.
樹脂成形体は、樹脂組成物と同様に、周波数28GHzにおける比誘電率が低い傾向がある。樹脂成形体の周波数28GHzにおける比誘電率は、例えば2.40以下であり、好ましくは2.30以下であり、より好ましくは2.20以下であり、さらに好ましくは2.15以下であり、特に好ましくは2.10以下であり、とりわけ好ましくは2.05以下である。樹脂成形体の周波数28GHzにおける比誘電率の下限値は、特に限定されず、例えば、1.50である。樹脂成形体の周波数28GHzにおける比誘電率は、樹脂組成物について上述した測定方法によって求めることができる。 Like the resin composition, the resin molded body tends to have a low relative dielectric constant at a frequency of 28 GHz. The relative dielectric constant of the resin molded body at a frequency of 28 GHz is, for example, 2.40 or less, preferably 2.30 or less, more preferably 2.20 or less, even more preferably 2.15 or less, particularly preferably 2.10 or less, and especially preferably 2.05 or less. The lower limit of the relative dielectric constant of the resin molded body at a frequency of 28 GHz is not particularly limited, and is, for example, 1.50. The relative dielectric constant of the resin molded body at a frequency of 28 GHz can be determined by the measurement method described above for the resin composition.
樹脂成形体は、28GHzより高い周波数帯域においても、比誘電率が低いことが好ましい。一例として、樹脂成形体の周波数75GHzにおける比誘電率は、好ましくは2.40以下であり、より好ましくは2.30以下であり、さらに好ましくは2.15以下であり、特に好ましくは2.10以下であり、とりわけ好ましくは2.05以下である。樹脂成形体の周波数75GHzにおける比誘電率の下限値は、特に限定されず、例えば、1.50である。樹脂成形体の周波数75GHzにおける比誘電率は、樹脂組成物について上述した測定方法によって求めることができる。 It is preferable that the resin molding has a low dielectric constant even in frequency bands higher than 28 GHz. As an example, the dielectric constant of the resin molding at a frequency of 75 GHz is preferably 2.40 or less, more preferably 2.30 or less, even more preferably 2.15 or less, particularly preferably 2.10 or less, and especially preferably 2.05 or less. The lower limit of the dielectric constant of the resin molding at a frequency of 75 GHz is not particularly limited, and is, for example, 1.50. The dielectric constant of the resin molding at a frequency of 75 GHz can be determined by the measurement method described above for the resin composition.
樹脂成形体は、高周波数帯域における誘電正接が低いことが好ましい。一例として、樹脂成形体の周波数28GHzにおける誘電正接は、好ましくは0.001以下であり、より好ましくは0.0005以下であり、さらに好ましくは0.0003以下である。樹脂成形体の周波数28GHzにおける誘電正接の下限値は、特に限定されず、例えば、0.0001である。樹脂成形体の周波数28GHzにおける誘電正接は、樹脂組成物について上述した測定方法によって求めることができる。 It is preferable that the resin molding has a low dielectric loss tangent in the high frequency band. As an example, the dielectric loss tangent of the resin molding at a frequency of 28 GHz is preferably 0.001 or less, more preferably 0.0005 or less, and even more preferably 0.0003 or less. The lower limit of the dielectric loss tangent of the resin molding at a frequency of 28 GHz is not particularly limited, and is, for example, 0.0001. The dielectric loss tangent of the resin molding at a frequency of 28 GHz can be determined by the measurement method described above for the resin composition.
樹脂成形体は、28GHzより高い周波数帯域においても、誘電正接が低いことが好ましい。一例として、樹脂成形体の周波数75GHzにおける誘電正接は、好ましくは0.001以下であり、より好ましくは0.0005以下であり、さらに好ましくは0.0003以下である。樹脂成形体の周波数75GHzにおける誘電正接の下限値は、特に限定されず、例えば、0.0001である。樹脂成形体の周波数75GHzにおける誘電正接は、樹脂組成物について上述した測定方法によって求めることができる。 It is preferable that the resin molding has a low dielectric loss tangent even in frequency bands higher than 28 GHz. As an example, the dielectric loss tangent of the resin molding at a frequency of 75 GHz is preferably 0.001 or less, more preferably 0.0005 or less, and even more preferably 0.0003 or less. The lower limit of the dielectric loss tangent of the resin molding at a frequency of 75 GHz is not particularly limited, and is, for example, 0.0001. The dielectric loss tangent of the resin molding at a frequency of 75 GHz can be determined by the measurement method described above for the resin composition.
樹脂成形体は、多孔質構造を有することが好ましい。多孔質構造は、高周波数帯域における樹脂成形体の比誘電率を低下させることに適している場合がある。樹脂成形体の多孔質構造は、中空粒子に起因していてもよく、発泡剤による樹脂組成物の発泡によって形成されたものであってもよく、ポロゲンによる樹脂組成物の反応誘起相分離によって形成されたものであってもよい。樹脂成形体の多孔質構造は、互いに独立した孔(独立孔)によって構成されていることが好ましいが、樹脂成形体の内部で連なった孔(連通孔)を含んでいてもよい。 The resin molded body preferably has a porous structure. The porous structure may be suitable for reducing the relative dielectric constant of the resin molded body in the high frequency band. The porous structure of the resin molded body may be due to hollow particles, may be formed by foaming the resin composition with a foaming agent, or may be formed by reaction-induced phase separation of the resin composition with a porogen. The porous structure of the resin molded body is preferably composed of pores that are independent of each other (independent pores), but may also include pores that are connected inside the resin molded body (connected pores).
樹脂成形体の孔の平均直径は、10nm~100μmの範囲にあることが好ましく、10nm~10μmの範囲にあることがより好ましく、50nm~1μmの範囲にあることがさらに好ましい。樹脂成形体の孔の平均直径は、例えば、次のように特定することができる。まず、樹脂成形体を切断する。樹脂成形体の切断面を透過型電子顕微鏡で観察する。得られた電子顕微鏡像において、孔の最大径を算出し、算出値をその特定の孔の直径とみなす。任意の個数(少なくとも50個)の孔の直径をそれぞれ算出し、算出値の平均値を孔の平均直径とみなす。 The average diameter of the pores in the resin molded body is preferably in the range of 10 nm to 100 μm, more preferably in the range of 10 nm to 10 μm, and even more preferably in the range of 50 nm to 1 μm. The average diameter of the pores in the resin molded body can be determined, for example, as follows. First, the resin molded body is cut. The cut surface of the resin molded body is observed with a transmission electron microscope. In the obtained electron microscope image, the maximum diameter of the pores is calculated, and the calculated value is regarded as the diameter of that specific pore. The diameters of an arbitrary number of pores (at least 50 pores) are calculated, and the average of the calculated values is regarded as the average diameter of the pores.
樹脂成形体の空孔率は、例えば1%~90%であり、1%~80%であってもよく、5%~70%であってもよく、30%~70%であってもよい。樹脂成形体の空孔率は、樹脂成形体の体積V(cm3)、真比重D(g/cm3)及び質量M(g)から、式:空孔率(%)={1-M/(V×D)}×100により求めることができる。 The porosity of the resin molded body is, for example, 1% to 90%, or may be 1% to 80%, 5% to 70%, or 30% to 70%. The porosity of the resin molded body can be calculated from the volume V (cm 3 ), true specific gravity D (g/cm 3 ), and mass M (g) of the resin molded body by the formula: porosity (%) = {1 - M/(V x D)} x 100.
樹脂成形体は、例えば、フィルムの形状を有する。フィルム状の樹脂成形体は、プリント基板の基材に適している。フィルム状の樹脂成形体は、等方性を有していることが好ましい。フィルム状の樹脂成形体の厚さは、特に限定されず、例えば3μm~5mmであり、好ましくは5μm~800μmであり、より好ましくは10μm~200μmである。 The resin molded body has, for example, a film shape. The film-shaped resin molded body is suitable as a base material for a printed circuit board. It is preferable that the film-shaped resin molded body has isotropy. The thickness of the film-shaped resin molded body is not particularly limited, and is, for example, 3 μm to 5 mm, preferably 5 μm to 800 μm, and more preferably 10 μm to 200 μm.
樹脂成形体を得るための成形方法としては、押出成形法、プレス成形法、インフレーション成形法などが挙げられる。樹脂組成物が溶媒を含む場合、任意の基材の上に樹脂組成物を塗布し、得られた塗布膜を乾燥させることによって樹脂成形体を作製することもできる。 Molding methods for obtaining resin molded bodies include extrusion molding, press molding, and inflation molding. When the resin composition contains a solvent, the resin composition can be applied to any substrate and the resulting coating film can be dried to produce a resin molded body.
[プリント基板]
本実施形態のプリント基板は、例えば、基材、金属層及び絶縁層を備え、金属層が基材及び絶縁層の間に位置する。プリント基板において、基材及び絶縁層のうちの少なくとも1つは、典型的には、上述した樹脂成形体である。絶縁層は、樹脂成形体ではなく、公知のソルダーレジストで構成されていてもよい。金属層には、例えば、パターン回路が形成されている。金属層の材料は、特に限定されないが、銅であることが好ましい。
[Printed circuit board]
The printed circuit board of the present embodiment includes, for example, a substrate, a metal layer, and an insulating layer, and the metal layer is located between the substrate and the insulating layer. In the printed circuit board, at least one of the substrate and the insulating layer is typically the above-mentioned resin molded body. The insulating layer may be composed of a known solder resist instead of the resin molded body. For example, a pattern circuit is formed on the metal layer. The material of the metal layer is not particularly limited, but is preferably copper.
プリント基板は、基材、金属層及び絶縁層以外の他の層をさらに含んでいてもよい。他の層の材料としては、例えば、ガラス、セラミックス、及び、上述した樹脂組成物以外の他の樹脂組成物が挙げられる。他の層は、プリプレグであってもよく、絶縁層の上に配置されたカバーレイフィルムであってもよい。カバーレイフィルムは、例えば、ポリイミドフィルムである。 The printed circuit board may further include layers other than the substrate, metal layer, and insulating layer. Examples of materials for the other layers include glass, ceramics, and resin compositions other than the above-mentioned resin compositions. The other layers may be prepregs or coverlay films disposed on the insulating layer. The coverlay film is, for example, a polyimide film.
プリント基板は、例えば、次の方法で作製することができる。まず、上述した樹脂成形体の上に、パターン回路を形成する前の金属膜を形成する。金属膜は、例えば、金属箔を樹脂成形体の上に積層させ、これらを熱圧着などにより接合させることによって作製できる。金属膜は、スパッタリング、蒸着、イオンプレーティングなどの物理的な方法、又は、無電解めっき、電解めっきなどの化学的な方法を利用して作製してもよい。さらに、金属膜は、スクリーン印刷法、インクジェット法などによって導電性インクを樹脂成形体に塗布することによって作製することもできる。金属膜との接着性を向上させるため、樹脂成形体には、予め表面処理が施されていてもよい。表面処理としては、例えば、プラズマ処理、コロナ処理、火炎処理及びイトロ処理が挙げられる。次に、エッチングによって金属膜にパターン回路を形成する。これにより、基材(樹脂成形体)及び金属層の積層体が得られる。 The printed circuit board can be produced, for example, by the following method. First, a metal film before forming a pattern circuit is formed on the above-mentioned resin molded body. The metal film can be produced, for example, by laminating a metal foil on the resin molded body and bonding them by thermocompression bonding or the like. The metal film may be produced by using a physical method such as sputtering, vapor deposition, or ion plating, or a chemical method such as electroless plating or electrolytic plating. Furthermore, the metal film can also be produced by applying a conductive ink to the resin molded body by a screen printing method, an inkjet method, or the like. In order to improve adhesion with the metal film, the resin molded body may be subjected to a surface treatment in advance. Examples of the surface treatment include plasma treatment, corona treatment, flame treatment, and itro treatment. Next, a pattern circuit is formed on the metal film by etching. This results in a laminate of the substrate (resin molded body) and the metal layer.
次に、金属層の上に、絶縁層の材料を含む塗布液を塗布する。樹脂組成物が溶媒を含む場合、塗布液として樹脂組成物をそのまま用いることができる。塗布液を塗布する方法としては、例えば、スプレー法、ロールコート法、スピンコート法、バーコート法、グラビアコート法、マイクログラビアコート法、グラビアオフセット法、ナイフコート法、キスコート法、ダイコート法、ファウンテンメイヤーバー法及びスロットダイコート法が挙げられる。次に、得られた塗布膜を乾燥させることによって、絶縁層が形成される。塗布膜の乾燥には、オーブン、連続乾燥炉、及び、赤外線などの熱線照射を利用できる。これにより、プリント基板を作製できる。 Next, a coating liquid containing the material for the insulating layer is applied onto the metal layer. When the resin composition contains a solvent, the resin composition can be used as is as the coating liquid. Examples of methods for applying the coating liquid include spraying, roll coating, spin coating, bar coating, gravure coating, microgravure coating, gravure offset, knife coating, kiss coating, die coating, fountain-meyer bar, and slot die coating. Next, the resulting coating film is dried to form an insulating layer. The coating film can be dried using an oven, a continuous drying furnace, or by irradiation with heat rays such as infrared rays. This allows a printed circuit board to be produced.
以下に、実施例及び比較例により本発明をさらに詳細に説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。 The present invention will be described in more detail below with reference to examples and comparative examples, but the present invention is not limited thereto.
(実施例1)
<ポリ(パーフルオロ-4-メチル-2-メチレン-1,3-ジオキソラン)の合成>
まず、2-クロロ-1-プロパノール、1-クロロ-2-プロパノール及びトリフルオロピルビン酸メチルの脱水縮合反応により反応物を得た。反応物を精製することによって2-カルボメチル-2-トリフルオロメチル-4-メチル-1,3-ジオキソランを得た。次に、2-カルボメチル-2-トリフルオロメチル-4-メチル-1,3-ジオキソランのフッ素化処理を行った。フッ素化処理の溶媒としては1,1,2-トリクロロトリフルオロエタンを用いた。フッ素化処理では、まず、窒素ガス及びフッ素ガスを各々一定の流速で反応槽に流した。窒素及びフッ素の雰囲気下で、2-カルボメチル-2-トリフルオロメチル-4-メチル-1,3-ジオキソランを反応槽にゆっくり加えた。これにより、2-カルボメチル-2-トリフルオロメチル-4-メチル-1,3-ジオキソランがフッ素化処理された。得られたフッ素化処理物について蒸留を行うことによって、パーフルオロ-2,4-ジメチル-1,3-ジオキソラン-2-カルボン酸を得た。これを水酸化カリウム水溶液で中和し、パーフルオロ-2,4-ジメチル-2-カルボン酸カリウム-1,3-ジオキソランを得た。このカリウム塩を真空乾燥し、さらにアルゴン雰囲気下で、この塩を分解することによって、パーフルオロ-4-メチル-2-メチレン-1,3-ジオキソラン(PFMMD)を得た。
Example 1
<Synthesis of poly(perfluoro-4-methyl-2-methylene-1,3-dioxolane)>
First, a reaction product was obtained by a dehydration condensation reaction of 2-chloro-1-propanol, 1-chloro-2-propanol, and methyl trifluoropyruvate. The reaction product was purified to obtain 2-carbomethyl-2-trifluoromethyl-4-methyl-1,3-dioxolane. Next, fluorination treatment of 2-carbomethyl-2-trifluoromethyl-4-methyl-1,3-dioxolane was carried out. 1,1,2-trichlorotrifluoroethane was used as a solvent for the fluorination treatment. In the fluorination treatment, first, nitrogen gas and fluorine gas were each flowed into the reaction tank at a constant flow rate. Under an atmosphere of nitrogen and fluorine, 2-carbomethyl-2-trifluoromethyl-4-methyl-1,3-dioxolane was slowly added to the reaction tank. As a result, 2-carbomethyl-2-trifluoromethyl-4-methyl-1,3-dioxolane was fluorinated. The obtained fluorinated product was distilled to obtain perfluoro-2,4-dimethyl-1,3-dioxolane-2-carboxylic acid. This was neutralized with an aqueous potassium hydroxide solution to obtain potassium perfluoro-2,4-dimethyl-2-carboxylate-1,3-dioxolane. This potassium salt was vacuum dried and further decomposed under an argon atmosphere to obtain perfluoro-4-methyl-2-methylene-1,3-dioxolane (PFMMD).
次に、パーフルオロ-4-メチル-2-メチレン-1,3-ジオキソランとパーフルオロベンゾイルパーオキサイドをガラスチューブに入れ、これを冷凍/解凍真空機で脱気した。次に、ガラスチューブ内にアルゴンを充填し、数時間加熱した。これにより、内容物が固化し、透明なポリマーを得た。ポリマーは、パーフルオロ-4-メチル-2-メチレン-1,3-ジオキソランの単独重合体(poly-PFMMD)であった。次に、このポリマーを用いてシート状の試験片を作製した。 Next, perfluoro-4-methyl-2-methylene-1,3-dioxolane and perfluorobenzoyl peroxide were placed in a glass tube, which was degassed using a freeze/thaw vacuum machine. The glass tube was then filled with argon and heated for several hours. This caused the contents to solidify, yielding a transparent polymer. The polymer was a homopolymer of perfluoro-4-methyl-2-methylene-1,3-dioxolane (poly-PFMMD). Next, a sheet-shaped test specimen was made using this polymer.
(実施例2)
実施例1で得られたpoly-PFMMD10.0gと中空シリカ粒子(平均粒径110nm)3.0gを簡易混錬機(東洋機械製ラボプラストミル)に投入し、230℃60rpmで30分混和した。これにより、乳白色の樹脂混錬物13.0gを得た。この樹脂混錬物を用いてシート状の試験片を作製した。
Example 2
10.0 g of poly-PFMMD obtained in Example 1 and 3.0 g of hollow silica particles (average particle size 110 nm) were put into a simple kneader (Labo Plastomill manufactured by Toyo Kikai Co., Ltd.) and mixed at 230°C and 60 rpm for 30 minutes. As a result, 13.0 g of a milky white resin kneaded product was obtained. A sheet-shaped test piece was produced using this resin kneaded product.
(実施例3)
実施例1で得られたパーフルオロ-4-メチル-2-メチレン-1,3-ジオキソラン(PFMMD)、パーフルオロプロピルビニルエーテル(PFPVE)及びパーフルオロベンゾイルパーオキサイドをガラスチューブに入れ、これを冷凍/解凍真空機で脱気した。PFPVEに対するPFMMDの重量比率(PFMMD/PFPVE)は、95/5であった。次に、ガラスチューブ内にアルゴンを充填し、数時間加熱した。これにより、内容物が固化し、透明なポリマーが得られた。次に、このポリマーを用いてシート状の試験片を作製した。
Example 3
Perfluoro-4-methyl-2-methylene-1,3-dioxolane (PFMMD), perfluoropropyl vinyl ether (PFPVE) and perfluorobenzoyl peroxide obtained in Example 1 were placed in a glass tube, which was degassed using a freeze/thaw vacuum machine. The weight ratio of PFMMD to PFPVE (PFMMD/PFPVE) was 95/5. Next, argon was filled into the glass tube, and the tube was heated for several hours. This solidified the contents, and a transparent polymer was obtained. Next, a sheet-shaped test piece was prepared using this polymer.
(比較例1)
パーフルオロプロピルビニルエーテル及びパーフルオロベンゾイルパーオキサイドをガラスチューブに入れ、これを冷凍/解凍真空機で脱気した。次に、ガラスチューブ内にアルゴンを充填し、数時間加熱した。これにより、内容物が固化し、透明なポリマーが得られた。次に、このポリマーを用いてシート状の試験片を作製した。
(Comparative Example 1)
Perfluoropropyl vinyl ether and perfluorobenzoyl peroxide were placed in a glass tube and degassed using a freeze/thaw vacuum machine. The glass tube was then filled with argon and heated for several hours. This caused the contents to solidify, resulting in a transparent polymer. Sheet-shaped test specimens were then made using this polymer.
(比較例2)
パーフルオロヘキシルビニルエーテル(PFOVE)及びパーフルオロベンゾイルパーオキサイドをガラスチューブに入れ、これを冷凍/解凍真空機で脱気した。次に、ガラスチューブ内にアルゴンを充填し、数時間加熱した。これにより、内容物が固化し、透明なポリマーが得られた。次に、このポリマーを用いてシート状の試験片を作製した。
(Comparative Example 2)
Perfluorohexyl vinyl ether (PFOVE) and perfluorobenzoyl peroxide were placed in a glass tube and degassed using a freeze/thaw vacuum machine. The glass tube was then filled with argon and heated for several hours. This caused the contents to solidify, resulting in a transparent polymer. Sheet-shaped test specimens were then made using this polymer.
(比誘電率)
ファブリペロー法を用いて、実施例及び比較例の試験片の周波数28GHzにおける比誘電率及び周波数75GHzにおける比誘電率を測定した。実施例1については、ファブリペロー法を用いて、誘電正接も測定した。結果を表1に示す。
(Dielectric constant)
The dielectric constants of the test pieces of the examples and comparative examples at a frequency of 28 GHz and at a frequency of 75 GHz were measured using the Fabry-Perot method. For the test piece of Example 1, the dielectric loss tangent was also measured using the Fabry-Perot method. The results are shown in Table 1.
表1からわかるとおり、構成単位(A)を有する含フッ素重合体を含む実施例1~3の樹脂組成物は、比較例1及び2に比べて、高周波数帯域での比誘電率が低い。上述した式(i)を踏まえると、実施例1~3の樹脂組成物は、高周波数帯域の電波が利用される場合であっても、プリント基板における信号の伝送損失の増加を抑制することに適していると言える。 As can be seen from Table 1, the resin compositions of Examples 1 to 3, which contain a fluorinated polymer having structural unit (A), have a lower relative dielectric constant in the high frequency band compared to Comparative Examples 1 and 2. In light of the above formula (i), it can be said that the resin compositions of Examples 1 to 3 are suitable for suppressing an increase in signal transmission loss in a printed circuit board, even when radio waves in the high frequency band are used.
本実施形態の樹脂組成物及び樹脂成形体は、プリント基板、特に高周波数帯域の電波を利用する電子機器に用いられるプリント基板、の材料に適している。 The resin composition and resin molded body of this embodiment are suitable as materials for printed circuit boards, particularly printed circuit boards used in electronic devices that use radio waves in the high frequency band.
Claims (18)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020130172A JP7579649B2 (en) | 2020-07-31 | 2020-07-31 | Resin composition for printed circuit boards and resin molded body |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020130172A JP7579649B2 (en) | 2020-07-31 | 2020-07-31 | Resin composition for printed circuit boards and resin molded body |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022026614A JP2022026614A (en) | 2022-02-10 |
JP7579649B2 true JP7579649B2 (en) | 2024-11-08 |
Family
ID=80264180
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020130172A Active JP7579649B2 (en) | 2020-07-31 | 2020-07-31 | Resin composition for printed circuit boards and resin molded body |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7579649B2 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2023175994A1 (en) * | 2022-03-18 | 2023-09-21 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002284997A (en) | 2000-10-10 | 2002-10-03 | Shipley Co Llc | Composition for porous organo polysilica dielectric substance formation |
WO2006062138A1 (en) | 2004-12-09 | 2006-06-15 | Asahi Glass Company, Limited | Laminate for printed wiring board |
WO2006067970A1 (en) | 2004-12-20 | 2006-06-29 | Asahi Glass Company, Limited | Laminate for flexible printed wiring boards |
JP5838707B2 (en) | 2011-10-12 | 2016-01-06 | 日産自動車株式会社 | Power transmission device |
JP2018177931A (en) | 2017-04-11 | 2018-11-15 | Agc株式会社 | Resin composition and molded article |
WO2019008876A1 (en) | 2017-07-07 | 2019-01-10 | Agc株式会社 | Method for manufacturing laminated body, laminated body, and method for manufacturing flexible printed board |
JP2019183005A (en) | 2018-04-11 | 2019-10-24 | Agc株式会社 | Fluorine resin sheet, laminate, and manufacturing method therefor |
JP2020059784A (en) | 2018-10-09 | 2020-04-16 | 東ソー株式会社 | Production method of fluororesin particles containing fluorine-containing aliphatic ring structure |
-
2020
- 2020-07-31 JP JP2020130172A patent/JP7579649B2/en active Active
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002284997A (en) | 2000-10-10 | 2002-10-03 | Shipley Co Llc | Composition for porous organo polysilica dielectric substance formation |
WO2006062138A1 (en) | 2004-12-09 | 2006-06-15 | Asahi Glass Company, Limited | Laminate for printed wiring board |
WO2006067970A1 (en) | 2004-12-20 | 2006-06-29 | Asahi Glass Company, Limited | Laminate for flexible printed wiring boards |
JP5838707B2 (en) | 2011-10-12 | 2016-01-06 | 日産自動車株式会社 | Power transmission device |
JP2018177931A (en) | 2017-04-11 | 2018-11-15 | Agc株式会社 | Resin composition and molded article |
WO2019008876A1 (en) | 2017-07-07 | 2019-01-10 | Agc株式会社 | Method for manufacturing laminated body, laminated body, and method for manufacturing flexible printed board |
JP2019183005A (en) | 2018-04-11 | 2019-10-24 | Agc株式会社 | Fluorine resin sheet, laminate, and manufacturing method therefor |
JP2020059784A (en) | 2018-10-09 | 2020-04-16 | 東ソー株式会社 | Production method of fluororesin particles containing fluorine-containing aliphatic ring structure |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2022026614A (en) | 2022-02-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7396403B2 (en) | Liquid composition and method for producing films and laminates using the liquid composition | |
KR102060088B1 (en) | Circuit materials, circuit laminates, and methods of manufacture therof | |
JP7151140B2 (en) | Fluororesin sheet, laminate and method for producing the same | |
JP7363818B2 (en) | Powder dispersion, laminate and printed circuit board | |
TWI694751B (en) | Materials for printed circuit boards, metal laminates, methods for manufacturing them, and methods for manufacturing printed circuit boards | |
TWI826452B (en) | Method for manufacturing resin-coated metal foil, resin-coated metal foil, laminate and printed circuit board | |
KR20130024805A (en) | Polymer resin composition, poly-imide resin film, preparation method of the poly-imide resin film, metallic laminate, and circuit board | |
TWI824049B (en) | Dispersions | |
TW201725952A (en) | Production method for wiring substrate | |
WO2018043682A1 (en) | Wiring board and method for manufacturing same | |
JP7283208B2 (en) | Powder dispersion, method for producing laminate, method for producing laminate and printed circuit board | |
TW201731675A (en) | Production method for wiring substrate | |
CN112203844B (en) | Method for producing resin-coated metal foil and resin-coated metal foil | |
JP7579649B2 (en) | Resin composition for printed circuit boards and resin molded body | |
JP2019104843A (en) | Resin composition, laminate, metal laminate and printed wiring board | |
JP2022011017A (en) | Powder dispersion and laminate manufacturing method | |
JP2004083680A (en) | Film having low dielectric dissipation factor and wiring film | |
TWI849363B (en) | Copper-clad laminate, method of forming the same and printed circuit board | |
US20240124698A1 (en) | Composition, as well as metal-clad laminate and method for its production | |
JP3944430B2 (en) | Heat resistant porous resin multilayer substrate | |
JP2004083681A (en) | Composite film between resin composition having low dielectric dissipation factor and liquid-crystal polymer and flexible circuit board using the same | |
JP2020070401A (en) | Dispersion liquid | |
JP2020093196A (en) | Method of manufacturing treated metal substrate | |
EP4223831A1 (en) | Fluororesin film | |
JP7553751B1 (en) | Fluororesin film, method for producing fluororesin film, sheet-like attachment film for flexible copper-clad laminates, flexible copper-clad laminates and circuit boards |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20230728 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20240201 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20240426 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20240507 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20240705 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20241001 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20241028 |