JP7557138B2 - 検知プログラム、検知方法、および検知装置 - Google Patents
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Description
図6は、検知装置100が実行するモデル作成処理の一例を表すフローチャートである。図6で例示するように、空間変換部24は、記憶部23に記憶されている測定温度データを取得する(ステップS1)。この測定温度データは、ユーザが予め指定した正常状態の測定温度データおよび異常状態の測定温度データである。各測定温度データは、時間窓範囲を有する。
図7は、検知装置100が実行する異常検知処理の一例を表すフローチャートである。まず、空間変換部24は、記憶部23に記憶されている測定温度データを取得する(ステップS11)。次に、空間変換部24は、ある時間窓幅でF-k空間図を作成する(ステップS12)。それにより、照合用のF-k空間図が得られる。
図13は、検知装置100aが実行するモデル作成処理の一例を表すフローチャートである。図13で例示するように、空間変換部24は、記憶部23に記憶されている測定歪みデータを取得する(ステップS21)。この測定歪みデータは、ユーザが予め指定した正常状態の測定歪みデータおよび異常状態の測定歪みデータである。各測定歪みデータは、時間窓範囲を有する。
図14は、検知装置100aが実行する異常検知処理の一例を表すフローチャートである。まず、空間変換部24は、記憶部23に記憶されている測定歪みデータを取得する(ステップS31)。次に、空間変換部24は、ある時間窓幅でF-k空間図を作成する(ステップS32)。それにより、照合用のF-k空間図が得られる。
(付記)
(付記1)
コンピュータに、
所定の経路に沿って配置された光ファイバのサンプリング位置についての、前記光ファイバからの後方散乱光量の測定データを、照合用の周波数・波数空間図に変換する処理と、
前記照合用の周波数・波数空間図と、周波数・波数空間図のモデルとを照合する処理と、を実行させることを特徴とする検知プログラム。
(付記2)
前記光ファイバにおける空間分解能に基づいて、前記測定データを前記照合用の周波数・波数空間図に変換することを特徴とする付記1に記載の検知プログラム。
(付記3)
前記照合する処理において、画像認識処理を用いて、前記照合用の周波数・波数空間図と前記モデルとを照合することを特徴とする付記1または付記2に記載の検知プログラム。
(付記4)
前記モデルは、異常状態の前記測定データを周波数・波数空間図に変換した異常モデルと、正常状態の前記測定データを周波数・波数空間図に変換した正常モデルとを含み、
前記照合する処理において、前記照合用の周波数・波数空間図と前記異常モデルとの類似度と、前記照合用の周波数・波数空間図と前記正常モデルとの類似度とを算出することを特徴とする付記1から付記3のいずれか一項に記載の検知プログラム。
(付記5)
前記モデルは、正常状態の前記測定データを周波数・波数空間図に変換した正常モデルを含み、
前記照合する処理において、前記照合用の周波数・波数空間図と前記正常モデルとの乖離度を算出することを特徴とする付記1から付記3のいずれか一項に記載の検知プログラム。
(付記6)
前記モデルは、複数種類の異常状態の前記測定データを周波数・波数空間図に変換した複数の異常モデルを含み、
前記照合する処理において、前記照合用の周波数・波数空間図と前記複数の異常モデルのそれぞれとの類似度を算出することを特徴とする付記1から付記3のいずれか一項に記載の検知プログラム。
(付記7)
前記測定データは、温度測定データまたは歪み測定データであることを特徴とする付記1から付記6のいずれか一項に記載の検知プログラム。
(付記8)
前記コンピュータに、
前記照合する処理の結果を表示装置に表示する処理を実行させることを特徴とする付記1から付記7のいずれか一項に記載の検知プログラム。
(付記9)
所定の経路に沿って配置された光ファイバのサンプリング位置についての、前記光ファイバからの後方散乱光量の測定データを、照合用の周波数・波数空間図に変換し、
前記照合用の周波数・波数空間図と、周波数・波数空間図のモデルとを照合する、処理をコンピュータが実行することを特徴とする検知方法。
(付記10)
前記光ファイバにおける空間分解能に基づいて、前記測定データを前記照合用の周波数・波数空間図に変換することを特徴とする付記9に記載の検知方法。
(付記11)
前記照合する処理において、画像認識処理を用いて、前記照合用の周波数・波数空間図と前記モデルとを照合することを特徴とする付記9または付記10に記載の検知方法。
(付記12)
前記モデルは、異常状態の前記測定データを周波数・波数空間図に変換した異常モデルと、正常状態の前記測定データを周波数・波数空間図に変換した正常モデルとを含み、
前記照合する処理において、前記照合用の周波数・波数空間図と前記異常モデルとの類似度と、前記照合用の周波数・波数空間図と前記正常モデルとの類似度とを算出することを特徴とする付記9から付記11のいずれか一項に記載の検知方法。
(付記13)
前記モデルは、正常状態の前記測定データを周波数・波数空間図に変換した正常モデルを含み、
前記照合する処理において、前記照合用の周波数・波数空間図と前記正常モデルとの乖離度を算出することを特徴とする付記9から付記11のいずれか一項に記載の検知方法。
(付記14)
前記モデルは、複数種類の異常状態の前記測定データを周波数・波数空間図に変換した複数の異常モデルを含み、
前記照合する処理において、前記照合用の周波数・波数空間図と前記複数の異常モデルのそれぞれとの類似度を算出することを特徴とする付記9から付記11のいずれか一項に記載の検知方法。
(付記15)
前記測定データは、温度測定データまたは歪み測定データであることを特徴とする付記9から付記14のいずれか一項に記載の検知方法。
(付記16)
前記コンピュータが、
前記照合する処理の結果を表示装置に表示する処理を実行することを特徴とする付記9から付記15のいずれか一項に記載の検知方法。
(付記17)
所定の経路に沿って配置された光ファイバのサンプリング位置についての、前記光ファイバからの後方散乱光量の測定データを、照合用の周波数・波数空間図に変換する変換部と、
前記照合用の周波数・波数空間図と、周波数・波数空間図のモデルとを照合する照合部と、備えることを特徴とする検知装置。
(付記18)
前記変換部は、前記光ファイバにおける空間分解能に基づいて、前記測定データを前記照合用の周波数・波数空間図に変換することを特徴とする付記17に記載の検知装置。
(付記19)
前記照合部は、画像認識処理を用いて、前記照合用の周波数・波数空間図と前記モデルとを照合することを特徴とする付記17または付記18に記載の検知装置。
(付記20)
前記モデルは、異常状態の前記測定データを周波数・波数空間図に変換した異常モデルと、正常状態の前記測定データを周波数・波数空間図に変換した正常モデルとを含み、
前記照合部は、前記照合用の周波数・波数空間図と前記異常モデルとの類似度と、前記照合用の周波数・波数空間図と前記正常モデルとの類似度とを算出することを特徴とする付記17から付記19のいずれか一項に記載の検知装置。
(付記21)
前記モデルは、正常状態の前記測定データを周波数・波数空間図に変換した正常モデルを含み、
前記照合部は、前記照合用の周波数・波数空間図と前記正常モデルとの乖離度を算出することを特徴とする付記17から付記19のいずれか一項に記載の検知装置。
(付記22)
前記モデルは、複数種類の異常状態の前記測定データを周波数・波数空間図に変換した複数の異常モデルを含み、
前記照合部は、前記照合用の周波数・波数空間図と前記複数の異常モデルのそれぞれとの類似度を算出することを特徴とする付記17から付記19のいずれか一項に記載の検知装置。
(付記23)
前記測定データは、温度測定データまたは歪み測定データであることを特徴とする付記17から付記22のいずれか一項に記載の検知装置。
(付記24)
前記照合する処理の結果を表示する表示装置を備えることを特徴とする付記17から付記23のいずれか一項に記載の検知装置。
11 レーザ
12 ビームスプリッタ
13 光スイッチ
14 フィルタ
15a,15b 検出器
16 レーザ
17 光サーキュレータ
18 検出器
20,20a 演算装置
21 指示部
22 温度測定部
23 記憶部
24 空間変換部
25 モデル作成部
26 異常検知部
30 光ファイバ
100,100a 検知装置
Claims (10)
- コンピュータに、
所定の経路に沿って配置された光ファイバのサンプリング位置についての、前記光ファイバからの後方散乱光量の測定データを、照合用の周波数・波数空間図に変換する処理と、
前記照合用の周波数・波数空間図と、周波数・波数空間図のモデルとを照合する処理と、を実行させることを特徴とする検知プログラム。 - 前記光ファイバにおける空間分解能に基づいて、前記測定データを前記照合用の周波数・波数空間図に変換することを特徴とする請求項1に記載の検知プログラム。
- 前記照合する処理において、画像認識処理を用いて、前記照合用の周波数・波数空間図と前記モデルとを照合することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の検知プログラム。
- 前記モデルは、異常状態の前記測定データを周波数・波数空間図に変換した異常モデルと、正常状態の前記測定データを周波数・波数空間図に変換した正常モデルとを含み、
前記照合する処理において、前記照合用の周波数・波数空間図と前記異常モデルとの類似度と、前記照合用の周波数・波数空間図と前記正常モデルとの類似度とを算出することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の検知プログラム。 - 前記モデルは、正常状態の前記測定データを周波数・波数空間図に変換した正常モデルを含み、
前記照合する処理において、前記照合用の周波数・波数空間図と前記正常モデルとの乖離度を算出することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の検知プログラム。 - 前記モデルは、複数種類の異常状態の前記測定データを周波数・波数空間図に変換した複数の異常モデルを含み、
前記照合する処理において、前記照合用の周波数・波数空間図と前記複数の異常モデルのそれぞれとの類似度を算出することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の検知プログラム。 - 前記測定データは、温度測定データまたは歪み測定データであることを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか一項に記載の検知プログラム。
- 前記コンピュータに、
前記照合する処理の結果を表示装置に表示する処理を実行させることを特徴とする請求項1から請求項7のいずれか一項に記載の検知プログラム。 - 所定の経路に沿って配置された光ファイバのサンプリング位置についての、前記光ファイバからの後方散乱光量の測定データを、照合用の周波数・波数空間図に変換し、
前記照合用の周波数・波数空間図と、周波数・波数空間図のモデルとを照合する、処理をコンピュータが実行することを特徴とする検知方法。 - 所定の経路に沿って配置された光ファイバのサンプリング位置についての、前記光ファイバからの後方散乱光量の測定データを、照合用の周波数・波数空間図に変換する変換部と、
前記照合用の周波数・波数空間図と、周波数・波数空間図のモデルとを照合する照合部と、備えることを特徴とする検知装置。
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