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JP7435001B2 - Anisotropic conductive adhesive film, connected structure and manufacturing method thereof - Google Patents

Anisotropic conductive adhesive film, connected structure and manufacturing method thereof Download PDF

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JP7435001B2
JP7435001B2 JP2020024529A JP2020024529A JP7435001B2 JP 7435001 B2 JP7435001 B2 JP 7435001B2 JP 2020024529 A JP2020024529 A JP 2020024529A JP 2020024529 A JP2020024529 A JP 2020024529A JP 7435001 B2 JP7435001 B2 JP 7435001B2
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  • Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)

Description

本発明は、異方導電性接着フィルム、接続構造体及びその製造方法に関する。 The present invention relates to an anisotropically conductive adhesive film, a connected structure, and a method for manufacturing the same.

従来、テレビ、PCモニタ、携帯電話、スマートホン、携帯型ゲーム機、タブレット端末、ウェアラブル端末、車載用モニタ等の各種表示手段として、液晶表示装置、有機ELパネル等が用いられている。近年、このような表示装置においては、ファインピッチ化、軽量薄型化等の観点から、駆動用ICを直接表示パネルのガラス基板上に実装するいわゆるCOG(chip on glass)が採用されている。 Conventionally, liquid crystal display devices, organic EL panels, and the like have been used as various display means for televisions, PC monitors, mobile phones, smart phones, portable game machines, tablet terminals, wearable terminals, vehicle monitors, and the like. In recent years, in such display devices, so-called COG (chip on glass), in which a driving IC is directly mounted on a glass substrate of a display panel, has been adopted from the viewpoints of finer pitch, lighter weight, and thinner design.

例えばCOG実装方式が採用された液晶表示パネルにおいては、ガラス基板等の透明基板に、ITO(酸化インジウムスズ)等からなる透明電極が複数形成されおり、これらの透明電極上に液晶駆動用IC等の半導体素子が接続される。例えば液晶駆動用ICを用いる場合、その実装面に透明電極に対応した複数の電極端子が形成されており、異方導電性接着フィルムを介して液晶駆動用ICが透明基板上に熱圧着されることにより、電極端子と透明電極とが接続されて、接続構造体が得られる。 For example, in a liquid crystal display panel that uses the COG mounting method, a plurality of transparent electrodes made of ITO (indium tin oxide), etc. are formed on a transparent substrate such as a glass substrate, and liquid crystal driving ICs, etc. are mounted on these transparent electrodes. semiconductor elements are connected. For example, when using a liquid crystal driving IC, a plurality of electrode terminals corresponding to transparent electrodes are formed on its mounting surface, and the liquid crystal driving IC is thermocompression bonded onto a transparent substrate via an anisotropic conductive adhesive film. As a result, the electrode terminal and the transparent electrode are connected to obtain a connected structure.

異方導電性接着フィルムは、接着成分に導電性粒子を配合してフィルム状としたものである。異方導電性接着フィルムを介して2つの導体が加熱圧着されると、導電性粒子によって導体間の電気的導通がとられ、接着成分によって導体間の機械的接続が保持される。接着成分としては、熱硬化性のバインダー樹脂、光硬化性のバインダー樹脂、又は光及び熱の併用により硬化するバインダー樹脂が用いられる。 The anisotropically conductive adhesive film is made into a film by blending conductive particles into an adhesive component. When two conductors are heat-pressed and bonded via an anisotropic conductive adhesive film, electrical continuity between the conductors is established by the conductive particles, and mechanical connection between the conductors is maintained by the adhesive component. As the adhesive component, a thermosetting binder resin, a photocuring binder resin, or a binder resin that is cured by a combination of light and heat is used.

近年、曲面を有するディスプレイ(フレキシブルディスプレイ)が提案され、一部実用化されているフレキシブルディスプレイでは、基材としてガラスに替えて可撓性を有するプラスチック基板が用いられるため、駆動用IC等の各種電子部品もプラスチック基板に実装されることとなる。そのような実装の方法として、異方導電性接着フィルムを用いるCOP(chip on plastic)が検討されている(例えば特許文献1)。 In recent years, displays with curved surfaces (flexible displays) have been proposed, and in some flexible displays that have been put into practical use, flexible plastic substrates are used instead of glass as base materials, so various types of driving ICs, etc. Electronic components will also be mounted on plastic substrates. As such a mounting method, COP (chip on plastic) using an anisotropic conductive adhesive film is being considered (for example, Patent Document 1).

特開2016-54288号公報JP2016-54288A

ところで、COPで用いられるプラスチック基板は、熱的性質及び機械的性質の点で、COGに用いられるガラス基板とは異なる。そのため、本発明者らの検討によれば、COGに用いられる異方導電性接着フィルムをそのままCOPに用いた場合、得られる接続構造体において、接着強度、ピール強度、及び接続抵抗(特に高温高湿環境下に置かれた後の接続抵抗)の点で満足な特性が得られないことがある。 By the way, the plastic substrate used in COP is different from the glass substrate used in COG in terms of thermal properties and mechanical properties. Therefore, according to the studies of the present inventors, when the anisotropically conductive adhesive film used for COG is used as is for COP, the bonding strength, peel strength, and connection resistance (particularly high temperature and Satisfactory characteristics may not be obtained in terms of connection resistance (after being placed in a humid environment).

そこで、本発明は、プラスチック基板を有する電子部品の接続において、接着強度、ピール強度、及び高温高湿環境下に置かれた後の接続抵抗に優れた接続構造体を得ることが可能な異方導電性接着フィルムを提供することを目的とする。 Therefore, the present invention provides an anisotropic connection structure that can provide an excellent bonding strength, peel strength, and connection resistance after being placed in a high temperature and high humidity environment when connecting electronic components having plastic substrates. The purpose of the present invention is to provide a conductive adhesive film.

本発明の一側面は、熱硬化性の接着成分と、導電性粒子と、を含有する異方導電性接着フィルムであって、異方導電性接着フィルムを200℃、1時間の条件で熱硬化させた硬化物が、40℃において0.7GPa~1.5GPaの貯蔵弾性率を有する、異方導電性接着フィルムである。 One aspect of the present invention is an anisotropically conductive adhesive film containing a thermosetting adhesive component and conductive particles, the anisotropically conductive adhesive film being thermoset at 200°C for 1 hour. The cured product is an anisotropically conductive adhesive film having a storage modulus of 0.7 GPa to 1.5 GPa at 40°C.

本発明の他の一側面は、プラスチック基板、及びプラスチック基板上に設けられた電極を有する第一の電子部材と、第二の電子部材と、第一の電子部材と第二の電子部材とを互いに電気的に接続する接続部材と、を備え、接続部材が、上記の異方導電性接着フィルムの硬化物である、接続構造体である。 Another aspect of the present invention includes a plastic substrate, a first electronic member having an electrode provided on the plastic substrate, a second electronic member, and a first electronic member and a second electronic member. and a connecting member electrically connected to each other, the connecting member being a cured product of the above-mentioned anisotropically conductive adhesive film.

本発明の他の一側面は、プラスチック基板、及びプラスチック基板上に設けられた電極を有する第一の電子部材と、第二の電子部材との間に、上記の異方導電性接着フィルムを配置し、異方導電性接着フィルムを介して第一の電子部材と第二の電子部材とを熱圧着して、第一の電子部材と第二の電子部材とを電気的に接続する工程を備える、接続構造体の製造方法である。 Another aspect of the present invention is that the above-described anisotropically conductive adhesive film is disposed between a first electronic component having a plastic substrate and an electrode provided on the plastic substrate, and a second electronic component. and a step of thermocompression bonding the first electronic member and the second electronic member via an anisotropic conductive adhesive film to electrically connect the first electronic member and the second electronic member. , a method for manufacturing a connected structure.

本発明によれば、プラスチック基板を有する電子部品の接続において、接着強度、ピール強度、及び高温高湿環境下に置かれた後の接続抵抗に優れた接続構造体を得ることが可能な異方導電性接着フィルムを提供できる。 According to the present invention, when connecting electronic components having plastic substrates, it is possible to obtain an anisotropic connection structure that has excellent adhesive strength, peel strength, and connection resistance after being placed in a high temperature and high humidity environment. A conductive adhesive film can be provided.

接着フィルムの一実施形態を示す模式断面図である。FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing one embodiment of an adhesive film. 接続構造体の製造方法の一実施形態を示す模式断面図である。FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing an embodiment of a method for manufacturing a connected structure.

以下、図面を適宜参照しながら、本発明の実施形態について詳細に説明する。ただし、本発明は以下の実施形態に限定されるものではない。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings as appropriate. However, the present invention is not limited to the following embodiments.

図1は、異方導電性接着フィルム(以下、単に「接着フィルム」ともいう)の一実施形態を示す模式断面図である。図1に示すように、一実施形態に係る接着フィルム1は、接着成分2と、接着成分2中に分散された導電性粒子3とを含有している。接着成分2は、導電性粒子3以外の固形分として定義される。 FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing one embodiment of an anisotropic conductive adhesive film (hereinafter also simply referred to as "adhesive film"). As shown in FIG. 1, an adhesive film 1 according to one embodiment contains an adhesive component 2 and conductive particles 3 dispersed in the adhesive component 2. Adhesive component 2 is defined as solid content other than conductive particles 3.

接着成分2は、加熱されることにより硬化する熱硬化性の成分である。接着成分2は、例えば、150℃以上の加熱により硬化する成分であってよく、250℃以下の加熱により硬化する成分であってよい。接着成分2は、硬化性化合物の1種又は2種以上を含んでいる。硬化性化合物は、硬化反応を生じさせる反応性基を有している。反応性基は、例えば、ラジカル重合反応、イオン重合反応又は重付加反応を生じさせる公知の基であってよい。硬化性化合物は、反応性基を1つ有していてよく、2つ以上有していてもよい。硬化性化合物は、モノマー、オリゴマー又はポリマーのいずれであってもよい。 The adhesive component 2 is a thermosetting component that hardens when heated. The adhesive component 2 may be, for example, a component that is cured by heating at 150°C or higher, or may be a component that is cured by heating at 250°C or lower. The adhesive component 2 contains one or more curable compounds. The curable compound has a reactive group that causes a curing reaction. The reactive group may be, for example, a known group that causes a radical polymerization reaction, an ionic polymerization reaction or a polyaddition reaction. The curable compound may have one reactive group, or may have two or more reactive groups. The curable compound may be a monomer, oligomer or polymer.

ラジカル重合反応を生じさせる反応性基としては、例えば、(メタ)アクロイル基が挙げられる。(メタ)アクロイル基を有する硬化性化合物としては、エポキシ(メタ)アクリレート、(ポリ)ウレタン(メタ)アクリレート、メチル(メタ)アクリレート、ポリエーテル(メタ)アクリレート、ポリエステル(メタ)アクリレート、ポリブタジエン(メタ)アクリレート、シリコーンアクリレート、エチル(メタ)アクリレート、2-シアノエチル(メタ)アクリレート、2-(2-エトキシエトキシ)エチル(メタ)アクリレート、2-エトキシエチル(メタ)アクリレート、2-エチルヘキシル(メタ)アクリレート、n-ヘキシル(メタ)アクリレート、2-ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、イソプロピル(メタ)アクリレート、ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、イソブチル(メタ)アクリレート、イソボルニル(メタ)アクリレート、イソデシル(メタ)アクリレート、イソオクチル(メタ)アクリレート、n-ラウリル(メタ)アクリレート、2-メトキシエチル(メタ)アクリレート、2-フェノキシエチル(メタ)アクリレート、テトラヒドロフルフリール(メタ)アクリレート、2-(メタ)アクリロイロキシエチルフォスフェート、N,N-ジメチルアミノエチル(メタ)アクリレート、N,N-ジメチルアミノプロピル(メタ)アクリレート、エチレングリコールジアクリレート、ジエチレングリコールジアクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、テトラメチロールメタンテトラ(メタ)アクリレート、ポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリアルキレングリコールジ(メタ)アクリレート、シクロヘキシル(メタ)アクリレート、ジシクロペンテニル(メタ)アクリレート、ジシクロペンテニロキシエチル(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトール(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、イソシアヌル酸変性2官能(メタ)アクリレート、イソシアヌル酸変性3官能(メタ)アクリレート、トリシクロデカニルアクリレート、トリシクロデカンジメタノールジアクリレート、2-ヒドロキシ-1,3-ジアクリロキシプロパン、2,2-ビス[4-(アクリロキシメトキシ)フェニル]プロパン、2,2-ビス[4-(アクリロキシポリエトキシ)フェニル]プロパン、2,2-ジ(メタ)アクリロイロキシジエチルフォスフェート、2-(メタ)アクリロイロキシエチルアシッドフォスフェート等が挙げられる。 Examples of the reactive group that causes a radical polymerization reaction include a (meth)acroyl group. Examples of curable compounds having a (meth)acryloyl group include epoxy (meth)acrylate, (poly)urethane (meth)acrylate, methyl (meth)acrylate, polyether (meth)acrylate, polyester (meth)acrylate, and polybutadiene (meth)acrylate. ) acrylate, silicone acrylate, ethyl (meth)acrylate, 2-cyanoethyl (meth)acrylate, 2-(2-ethoxyethoxy)ethyl (meth)acrylate, 2-ethoxyethyl (meth)acrylate, 2-ethylhexyl (meth)acrylate , n-hexyl (meth)acrylate, 2-hydroxyethyl (meth)acrylate, isopropyl (meth)acrylate, hydroxypropyl (meth)acrylate, isobutyl (meth)acrylate, isobornyl (meth)acrylate, isodecyl (meth)acrylate, isooctyl (meth)acrylate, n-lauryl (meth)acrylate, 2-methoxyethyl (meth)acrylate, 2-phenoxyethyl (meth)acrylate, tetrahydrofurfuryl (meth)acrylate, 2-(meth)acryloyloxyethylphos Phate, N,N-dimethylaminoethyl (meth)acrylate, N,N-dimethylaminopropyl (meth)acrylate, ethylene glycol diacrylate, diethylene glycol diacrylate, trimethylolpropane tri(meth)acrylate, tetramethylolmethanetetra(meth)acrylate, ) acrylate, polyethylene glycol di(meth)acrylate, polyalkylene glycol di(meth)acrylate, cyclohexyl(meth)acrylate, dicyclopentenyl(meth)acrylate, dicyclopentenyloxyethyl(meth)acrylate, neopentyl glycol di( meth)acrylate, pentaerythritol (meth)acrylate, dipentaerythritol hexa(meth)acrylate, isocyanuric acid-modified bifunctional (meth)acrylate, isocyanuric acid-modified trifunctional (meth)acrylate, tricyclodecanyl acrylate, tricyclodecanedi Methanol diacrylate, 2-hydroxy-1,3-diacryloxypropane, 2,2-bis[4-(acryloxymethoxy)phenyl]propane, 2,2-bis[4-(acryloxypolyethoxy)phenyl] Examples include propane, 2,2-di(meth)acryloyloxydiethyl phosphate, and 2-(meth)acryloyloxyethyl acid phosphate.

(メタ)アクロイル基を有する硬化性化合物は、アクリル樹脂、フェノキシ樹脂、ポリウレタン樹脂等の熱可塑性樹脂の末端又は側鎖に(メタ)アクリロイル基を導入した化合物(例えば、ポリウレタン(メタ)アクリレート)であってもよい。この場合、硬化性化合物の重量平均分子量は、例えば、3000以上であってよく、5000以上であってよく、1万以上であってよく、100万以下であってよく、50万以下であってよく、25万以下であってよい。なお、重量平均分子量は、以下の条件に従って、ゲル浸透クロマトグラフ(GPC)より標準ポリスチレンによる検量線を用いて測定される。
(測定条件)
装置:東ソー株式会社製 GPC-8020
検出器:東ソー株式会社製 RI-8020
カラム:日立化成株式会社製 Gelpack GLA160S+GLA150S
試料濃度:120mg/3mL
溶媒:テトラヒドロフラン
注入量:60μL
圧力:2.94×10Pa(30kgf/cm
流量:1.00mL/min
A curable compound having a (meth)acryloyl group is a compound in which a (meth)acryloyl group is introduced into the terminal or side chain of a thermoplastic resin such as an acrylic resin, a phenoxy resin, or a polyurethane resin (for example, polyurethane (meth)acrylate). There may be. In this case, the weight average molecular weight of the curable compound may be, for example, 3,000 or more, 5,000 or more, 10,000 or more, 1,000,000 or less, and 500,000 or less. Generally, it may be 250,000 or less. The weight average molecular weight is measured by gel permeation chromatography (GPC) using a standard polystyrene calibration curve according to the following conditions.
(Measurement condition)
Equipment: GPC-8020 manufactured by Tosoh Corporation
Detector: Tosoh Corporation RI-8020
Column: Gelpack GLA160S+GLA150S manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.
Sample concentration: 120mg/3mL
Solvent: Tetrahydrofuran Injection volume: 60μL
Pressure: 2.94×10 6 Pa (30 kgf/cm 2 )
Flow rate: 1.00mL/min

イオン重合反応又は重付加反応を生じさせる反応性基としては、例えばエポキシ基が挙げられる。エポキシ基を有する硬化性化合物としては、エピクロルヒドリンと、ビスフェノールA、F、AD等との反応生成物であるビスフェノール型エポキシ樹脂、エピクロルヒドリンと、フェノールノボラック、クレゾールノボラック等との反応生成物であるエポキシノボラック樹脂、ナフタレン環を含んだ骨格を有するナフタレン系エポキシ樹脂、グリシジルアミン、グリシジルエーテル等の1分子内に2個以上のグリシジル基を有するエポキシ化合物などが挙げられる。 Examples of reactive groups that cause ionic polymerization reactions or polyaddition reactions include epoxy groups. Curable compounds having epoxy groups include bisphenol-type epoxy resins, which are the reaction products of epichlorohydrin and bisphenols A, F, AD, etc., and epoxy novolaks, which are the reaction products of epichlorohydrin, and phenol novolacs, cresol novolaks, etc. Examples include resins, naphthalene-based epoxy resins having a skeleton containing a naphthalene ring, and epoxy compounds having two or more glycidyl groups in one molecule such as glycidyl amine and glycidyl ether.

硬化性化合物の含有量は、接着成分2の全質量基準で、10質量%以上、20質量%以上、又は30質量%以上であってよく、60質量%以下、55質量%以下、又は50質量%以下であってよい。 The content of the curable compound may be 10% by mass or more, 20% by mass or more, or 30% by mass or more, and 60% by mass or less, 55% by mass or less, or 50% by mass, based on the total mass of adhesive component 2. % or less.

硬化性化合物がラジカル重合反応を生じさせる反応性基を含む場合、接着成分2は、例えば、熱ラジカル重合開始剤を更に含有する。熱ラジカル重合開始剤は、熱により分解して遊離ラジカルを発生する。熱ラジカル重合開始剤としては、有機過酸化物及びアゾ化合物が挙げられる。 When the curable compound contains a reactive group that causes a radical polymerization reaction, the adhesive component 2 further contains, for example, a thermal radical polymerization initiator. A thermal radical polymerization initiator is decomposed by heat to generate free radicals. Examples of thermal radical polymerization initiators include organic peroxides and azo compounds.

有機過酸化物の具体例としては、1,1,3,3-テトラメチルブチルパーオキシネオデカノエート、ジ(4-t-ブチルシクロヘキシル)パーオキシジカーボネート、ジ(2-エチルヘキシル)パーオキシジカーボネート、クミルパーオキシネオデカノエート、ジラウロイルパーオキサイド、1-シクロヘキシル-1-メチルエチルパーオキシネオデカノエート、t-ヘキシルパーオキシネオデカノエート、t-ブチルパーオキシネオデカノエート、t-ブチルパーオキシピバレート、1,1,3,3-テトラメチルブチルパーオキシ-2-エチルヘキサノエート、2,5-ジメチル-2,5-ジ(2-エチルヘキサノイルパーオキシ)ヘキサン、t-ヘキシルパーオキシ-2-エチルヘキサノエート、t-ブチルパーオキシ-2-エチルヘキサノエート、t-ブチルパーオキシネオヘプタノエート、t-アミルパーオキシ-2-エチルヘキサノエート、ジ-t-ブチルパーオキシヘキサヒドロテレフタレート、t-アミルパーオキシ-3,5,5-トリメチルヘキサノエート、3-ヒドロキシ-1,1-ジメチルブチルパーオキシネオデカノエート、t-アミルパーオキシネオデカノエート、t-アミルパーオキシ-2-エチルヘキサノエート、ジ(3-メチルベンゾイル)パーオキサイド、ジベンゾイルパーオキサイド、ジ(4-メチルベンゾイル)パーオキサイド、t-ヘキシルパーオキシイソプロピルモノカーボネート、t-ブチルパーオキシマレイン酸、t-ブチルパーオキシ-3,5,5-トリメチルヘキサノエート、t-ブチルパーオキシラウレート、2,5-ジメチル-2,5-ジ(3-メチルベンゾイルパーオキシ)ヘキサン、t-ブチルパーオキシ-2-エチルヘキシルモノカーボネート、t-ヘキシルパーオキシベンゾエート、2,5-ジメチル-2,5-ジ(ベンゾイルパーオキシ)ヘキサン、t-ブチルパーオキシベンゾエート、ジブチルパーオキシトリメチルアジペート、t-アミルパーオキシノルマルオクトエート、t-アミルパーオキシイソノナノエート、t-アミルパーオキシベンゾエート等が挙げられる。 Specific examples of organic peroxides include 1,1,3,3-tetramethylbutylperoxyneodecanoate, di(4-t-butylcyclohexyl)peroxydicarbonate, di(2-ethylhexyl)peroxy Dicarbonate, cumyl peroxy neodecanoate, dilauroyl peroxide, 1-cyclohexyl-1-methylethyl peroxy neodecanoate, t-hexyl peroxy neodecanoate, t-butyl peroxy neodecanoate , t-butylperoxypivalate, 1,1,3,3-tetramethylbutylperoxy-2-ethylhexanoate, 2,5-dimethyl-2,5-di(2-ethylhexanoylperoxy) Hexane, t-hexylperoxy-2-ethylhexanoate, t-butylperoxy-2-ethylhexanoate, t-butylperoxyneoheptanoate, t-amylperoxy-2-ethylhexanoate , di-t-butylperoxyhexahydroterephthalate, t-amylperoxy-3,5,5-trimethylhexanoate, 3-hydroxy-1,1-dimethylbutylperoxyneodecanoate, t-amylperoxy Oxyneodecanoate, t-amylperoxy-2-ethylhexanoate, di(3-methylbenzoyl) peroxide, dibenzoyl peroxide, di(4-methylbenzoyl) peroxide, t-hexylperoxyisopropyl Monocarbonate, t-butylperoxymaleic acid, t-butylperoxy-3,5,5-trimethylhexanoate, t-butylperoxylaurate, 2,5-dimethyl-2,5-di(3- Methylbenzoylperoxy)hexane, t-butylperoxy-2-ethylhexyl monocarbonate, t-hexylperoxybenzoate, 2,5-dimethyl-2,5-di(benzoylperoxy)hexane, t-butylperoxybenzoate , dibutylperoxytrimethyladipate, t-amylperoxynormal octoate, t-amylperoxyisononanoate, t-amylperoxybenzoate and the like.

アゾ化合物の具体例としては、2,2’-アゾビス-2,4-ジメチルバレロニトリル、1,1’-アゾビス(1-アセトキシ-1-フェニルエタン)、2,2’-アゾビスイソブチロニトリル、2,2’-アゾビス(2-メチルブチロニトリル)、4,4’-アゾビス(4-シアノバレリン酸)、1,1’-アゾビス(1-シクロヘキサンカルボニトリル)等が挙げられる。 Specific examples of azo compounds include 2,2'-azobis-2,4-dimethylvaleronitrile, 1,1'-azobis(1-acetoxy-1-phenylethane), 2,2'-azobisisobutyro Nitrile, 2,2'-azobis(2-methylbutyronitrile), 4,4'-azobis(4-cyanovaleric acid), 1,1'-azobis(1-cyclohexanecarbonitrile) and the like.

熱ラジカル重合開始剤の含有量は、接着成分2の全質量基準で、0.1質量%以上、0.5質量%以上、又は1質量%以上であってよく、15質量%以下、10質量%以下、又は5質量%以下であってよい。 The content of the thermal radical polymerization initiator may be 0.1% by mass or more, 0.5% by mass or more, or 1% by mass or more, and 15% by mass or less, 10% by mass, based on the total mass of adhesive component 2. % or less, or 5% by mass or less.

硬化性化合物がラジカル重合反応を生じさせる反応性基を含む場合、接着成分2は、例えば、重合禁止剤を更に含んでよい。重合禁止剤は、ハイドロキノン、メチルエーテルハイドロキノン等であってよい。重合禁止剤の含有量は、接着成分2の全質量基準で、0.05質量%以上であってよく、5質量%以下であってよい。 When the curable compound contains a reactive group that causes a radical polymerization reaction, the adhesive component 2 may further contain, for example, a polymerization inhibitor. The polymerization inhibitor may be hydroquinone, methyl ether hydroquinone, or the like. The content of the polymerization inhibitor may be 0.05% by mass or more and 5% by mass or less based on the total mass of adhesive component 2.

硬化性化合物がイオン重合反応又は重付加反応を生じさせる反応性基を含む場合、接着成分2は、例えば、当該反応性基と反応して硬化性化合物を重合させる重合開始剤(硬化剤とも呼ばれる)を更に含有する。重合開始剤としては、メラミン又はその誘導体、ヒドラジド、三フッ化ホウ素-アミン錯体、スルホニウム塩、アミンイミド、ジアミノマレオニトリル、ポリアミン又はその塩、ジシアンジアミド、ポリメルカプタン、ポリフェノール、酸無水物等が挙げられる。重合開始剤の含有量は、接着成分2の全質量基準で、1質量%以上であってよく、15質量%以下であってよい。 When the curable compound contains a reactive group that causes an ionic polymerization reaction or a polyaddition reaction, the adhesive component 2 is, for example, a polymerization initiator (also called a curing agent) that reacts with the reactive group to polymerize the curable compound. ). Examples of the polymerization initiator include melamine or its derivatives, hydrazide, boron trifluoride-amine complex, sulfonium salt, amine imide, diaminomaleonitrile, polyamine or its salt, dicyandiamide, polymercaptan, polyphenol, acid anhydride, and the like. The content of the polymerization initiator may be 1% by mass or more and 15% by mass or less based on the total mass of adhesive component 2.

接着成分2は、熱可塑性樹脂を更に含有してもよい。熱可塑性樹脂としては、例えば、フェノキシ樹脂、ポリエステル樹脂、ポリアミド樹脂、ポリウレタン樹脂、ポリエステルウレタン樹脂、フェノール樹脂等が挙げられる。熱可塑性樹脂の含有量は、接着成分2の全質量基準で、30質量%以上、40質量%以上、又は50質量%以上であってよく、80質量%以下、75質量%以下、又は70質量%以下であってよい。 Adhesive component 2 may further contain a thermoplastic resin. Examples of the thermoplastic resin include phenoxy resin, polyester resin, polyamide resin, polyurethane resin, polyester urethane resin, and phenol resin. The content of the thermoplastic resin may be 30% by mass or more, 40% by mass or more, or 50% by mass or more, and 80% by mass or less, 75% by mass or less, or 70% by mass, based on the total mass of adhesive component 2. % or less.

接着成分2は、カップリング剤を更に含有してもよい。カップリング剤としては、(メタ)アクリロイル基、メルカプト基、アミノ基、イミダゾール基、エポキシ基等の有機官能基を有するシランカップリング剤が挙げられる。カップリング剤の含有量は、接着成分2の全質量基準で、1質量%以上であってよく、10質量%以下であってよい。 Adhesive component 2 may further contain a coupling agent. Examples of the coupling agent include silane coupling agents having organic functional groups such as (meth)acryloyl groups, mercapto groups, amino groups, imidazole groups, and epoxy groups. The content of the coupling agent may be 1% by mass or more and 10% by mass or less based on the total mass of adhesive component 2.

接着成分2は、充填材、軟化剤、促進剤、老化防止剤、着色剤、難燃化剤、チキソトロピック剤などを更に含有してもよい。 The adhesive component 2 may further contain fillers, softeners, accelerators, anti-aging agents, colorants, flame retardants, thixotropic agents, and the like.

接着成分2の含有量は、接着フィルム1の全体積基準で、50体積%以上であってよく、98体積%以下であってよい。 The content of the adhesive component 2 may be 50% by volume or more and 98% by volume or less based on the total volume of the adhesive film 1.

導電性粒子3は、例えば、ポリスチレン等のポリマー粒子と、該ポリマー粒子を被覆する金属層とを備えている。ポリマー粒子は、好ましくはその表面の実質的に全体が金属層で被覆されているが、ポリマー粒子の表面の一部が金属層で被覆されずに露出していてもよい。 The conductive particles 3 include, for example, polymer particles such as polystyrene and a metal layer covering the polymer particles. Although substantially the entire surface of the polymer particle is preferably coated with a metal layer, a portion of the surface of the polymer particle may be exposed without being coated with a metal layer.

ポリマー粒子を構成するポリマーは、例えば、スチレン及びジビニルベンゼンから選ばれる少なくとも1種のモノマーをモノマー単位として含むポリマーであってよい。ポリマー粒子の直径は、例えば、1μm以上又は2μm以上であってよく、40μm以下、30μm以下、又は20μm以下であってよい。 The polymer constituting the polymer particles may be, for example, a polymer containing as a monomer unit at least one monomer selected from styrene and divinylbenzene. The diameter of the polymer particles may be, for example, 1 μm or more, or 2 μm or more, and 40 μm or less, 30 μm or less, or 20 μm or less.

金属層は、Ni、Ni/Au、Ni/Pd、Cu、NiB、Ag、Ru等の金属により形成されていてよい。金属層は、めっき、蒸着、スパッタ等で作製される薄膜であってもよい。 The metal layer may be formed of a metal such as Ni, Ni/Au, Ni/Pd, Cu, NiB, Ag, or Ru. The metal layer may be a thin film produced by plating, vapor deposition, sputtering, or the like.

導電性粒子3は、絶縁性向上の観点から、金属層の外側に設けられた、金属層を覆う絶縁層を更に備えていてもよい。絶縁層は、シリカ、アクリル等の絶縁性材料から形成された層であってよい。 From the viewpoint of improving insulation, the conductive particles 3 may further include an insulating layer provided outside the metal layer and covering the metal layer. The insulating layer may be a layer formed from an insulating material such as silica or acrylic.

導電性粒子3は、その表面に複数の突起部を有していてもよい。突起部を有する導電性粒子は、例えば、ポリマー粒子の表面上に金属メッキによって金属層を形成することによって得ることができる。 The conductive particles 3 may have a plurality of protrusions on their surfaces. Conductive particles having protrusions can be obtained, for example, by forming a metal layer on the surface of polymer particles by metal plating.

導電性粒子3の平均粒径は、1μm以上又は2μm以上であってよく、40μm以下、30μm以下、又は20μm以下であってよい。本明細書では、任意の導電粒子300個(pcs)について、走査型電子顕微鏡(SEM)を用いた観察により粒径の測定を行い、得られた粒径の平均値を平均粒径とする。 The average particle size of the conductive particles 3 may be 1 μm or more or 2 μm or more, and may be 40 μm or less, 30 μm or less, or 20 μm or less. In this specification, the particle size of 300 arbitrary conductive particles (pcs) is measured by observation using a scanning electron microscope (SEM), and the average value of the obtained particle sizes is defined as the average particle size.

導電性粒子の含有量は、接続する電極の精細度等に応じて決められ、接着フィルム1の全体積基準で、2体積%以上であってよく、50体積%以下であってよい。 The content of the conductive particles is determined depending on the fineness of the electrodes to be connected, and may be 2% by volume or more and 50% by volume or less based on the total volume of the adhesive film 1.

以上説明した接着フィルム1は、硬化された後に特定の貯蔵弾性率を有する。具体的には、接着フィルム1を200℃、1時間の条件で熱硬化させた硬化物が、40℃において0.7GPa~1.5GPaの貯蔵弾性率を有する、接着フィルム1の硬化物がこのような貯蔵弾性率を有することにより、プラスチック基板を有する電子部品の接続において、接着強度、ピール強度、及び高温高湿環境下に置かれた後の接続抵抗に優れた接続構造体を得ることが可能となる。上記の効果がより好適に得られる観点から、当該貯蔵弾性率の下限値は、好ましくは0.8GPa以上、より好ましくは0.9GPa以上、更に好ましくは1.0GPa以上である。上記の効果がより好適に得られる観点から、当該貯蔵弾性率の上限値は、好ましくは1.4GPa以下、より好ましくは1.3GPa以下、更に好ましくは1.2GPa以下である。 The adhesive film 1 described above has a specific storage modulus after being cured. Specifically, the cured product obtained by thermally curing the adhesive film 1 at 200°C for 1 hour has a storage modulus of 0.7 GPa to 1.5 GPa at 40°C. By having such a storage modulus, it is possible to obtain a connection structure with excellent adhesive strength, peel strength, and connection resistance after being placed in a high temperature and high humidity environment when connecting electronic components having plastic substrates. It becomes possible. From the viewpoint of more preferably obtaining the above effects, the lower limit of the storage elastic modulus is preferably 0.8 GPa or more, more preferably 0.9 GPa or more, and still more preferably 1.0 GPa or more. From the viewpoint of more preferably obtaining the above effects, the upper limit value of the storage modulus is preferably 1.4 GPa or less, more preferably 1.3 GPa or less, still more preferably 1.2 GPa or less.

なお、200℃、1時間という熱硬化時の条件は、接着フィルム1を用いて実際に接続構造体を製造する際の接着フィルム1の熱硬化の条件と同等であるので、当該条件により硬化させた接着フィルム1の硬化物の貯蔵弾性率は、接続構造体の製造における接着フィルム1の硬化物の物性を反映するものとして理解することができる。 Note that the heat curing conditions of 200° C. for 1 hour are equivalent to the heat curing conditions of the adhesive film 1 when actually manufacturing a connected structure using the adhesive film 1, so the heat curing conditions were as follows: The storage elastic modulus of the cured product of the adhesive film 1 can be understood as reflecting the physical properties of the cured product of the adhesive film 1 in manufacturing the connected structure.

上記貯蔵弾性率は、以下の方法により測定される。
まず、接着フィルム1を200℃の加熱炉に入れ、1時間加熱することで、接着フィルム1を硬化させて硬化物を得る。その硬化物を2.0mm×20.0mmの短冊状に切り出し、測定試料とする。なお、接着フィルム1の短辺が2.0mm未満である場合は、その短辺の長さ×20.0mmの短冊状に切り出して測定試料とする。その測定試料について、動的粘弾性測定装置(例えば、装置名RSA III、ティー・エイ・インスツルメント社製)を用いて、周波数10Hz、昇温速度10℃/分の条件で、40℃における貯蔵弾性率を測定する。
The storage modulus is measured by the following method.
First, the adhesive film 1 is placed in a heating furnace at 200° C. and heated for 1 hour to cure the adhesive film 1 and obtain a cured product. The cured product is cut into a strip of 2.0 mm x 20.0 mm and used as a measurement sample. In addition, when the short side of the adhesive film 1 is less than 2.0 mm, a measurement sample is cut out into a strip having the length of the short side x 20.0 mm. The measurement sample was measured at 40℃ using a dynamic viscoelasticity measuring device (for example, device name: RSA III, manufactured by TA Instruments) at a frequency of 10Hz and a heating rate of 10℃/min. Measure storage modulus.

接着フィルム1の貯蔵弾性率は、接着成分2の組成によって調整することができる。具体的には、例えば、硬化性化合物1分子中の反応性基の数を増やすと硬化後の架橋密度が増加し、貯蔵弾性率が増加する傾向にある。また、硬化性化合物の分子構造が剛直である(例えばナフタレン骨格を有する)と、貯蔵弾性率が増加する傾向にある。あるいは、熱可塑性樹脂として、ガラス転移温度の高いフェノキシ樹脂又はポリエステルウレタン樹脂を用いると、貯蔵弾性率が増加する傾向にある。 The storage modulus of the adhesive film 1 can be adjusted by the composition of the adhesive component 2. Specifically, for example, when the number of reactive groups in one molecule of the curable compound is increased, the crosslink density after curing increases, and the storage modulus tends to increase. Furthermore, when the molecular structure of the curable compound is rigid (for example, it has a naphthalene skeleton), the storage modulus tends to increase. Alternatively, when a phenoxy resin or a polyester urethane resin having a high glass transition temperature is used as the thermoplastic resin, the storage modulus tends to increase.

接着フィルム1は、電子部材同士を接続するために好適に用いられる。以下、接着フィルム1を用いた接続構造体の製造方法を説明する。図2は、接続構造体の製造方法の一実施形態を示す模式断面図である。この製造方法では、まず、図2(a)に示すように、第一の基板4及び第一の基板4上に設けられた電極(第一の電極)5を有する第一の電子部材6と、第二の基板7及び第二の基板7上に設けられた第二の電極8を有する第二の電子部材9とを用意する。 The adhesive film 1 is suitably used for connecting electronic components. Hereinafter, a method for manufacturing a connected structure using adhesive film 1 will be explained. FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing one embodiment of a method for manufacturing a connected structure. In this manufacturing method, first, as shown in FIG. 2(a), a first electronic member 6 having a first substrate 4 and an electrode (first electrode) 5 provided on the first substrate 4; , a second substrate 7 and a second electronic member 9 having a second electrode 8 provided on the second substrate 7 are prepared.

次に、第一の電子部材6と第二の電子部材9とを、第一の電極5と第二の電極8とが対向するように配置し、第一の電子部材6と第二の電子部材9との間に接着フィルム1を配置する。 Next, the first electronic member 6 and the second electronic member 9 are arranged so that the first electrode 5 and the second electrode 8 face each other, and the first electronic member 6 and the second electronic member An adhesive film 1 is placed between the member 9 and the member 9.

そして、矢印A及びB方向に全体を加圧しながら、加熱することにより、接着フィルム1を硬化させる。加圧時の圧力は、例えば、総接続面積あたり、1MPa以上であってよく、10MPa以下であってよい。加熱温度は、例えば、150℃以上であってよく、250℃以下であってよい。加圧及び加熱を行う時間は、例えば、1秒間以上であってよく、160秒間以下であってよい。このように、第一の電子部材6と第二の電子部材9とが、接着フィルム1(接着フィルム1の硬化物)を介して熱圧着される。 Then, the adhesive film 1 is cured by heating while pressurizing the entire film in the directions of arrows A and B. The pressure during pressurization may be, for example, 1 MPa or more and 10 MPa or less per total connected area. The heating temperature may be, for example, 150°C or higher and 250°C or lower. The time for applying pressure and heating may be, for example, 1 second or more and 160 seconds or less. In this way, the first electronic component 6 and the second electronic component 9 are thermocompression bonded via the adhesive film 1 (cured product of the adhesive film 1).

このようにして得られる接続構造体11は、図2(b)に示すように、第一の基板4及び第一の基板4上に設けられた第一の電極5を有する第一の電子部材6と、第二の基板7及び第二の基板7上に設けられた第二の電極8を有する第二の電子部材9と、第一の電子部材6と第二の電子部材9との間に配置され、第一の電極5と第二の電極8とを互いに電気的に接続する接続部材10と、を備える。接続部材10は、接着フィルム1の硬化物により構成されており、接着成分2の硬化物12と、該硬化物12中に分散された導電性粒子3とからなっている。接続構造体11では、導電性粒子3が第一の電極5と第二の電極8との間に介在することにより、第一の電子部材6と第二の電子部材9とが互いに電気的に接続されている。 The connected structure 11 obtained in this way is a first electronic member having a first substrate 4 and a first electrode 5 provided on the first substrate 4, as shown in FIG. 2(b). 6, a second electronic member 9 having a second substrate 7 and a second electrode 8 provided on the second substrate 7, and between the first electronic member 6 and the second electronic member 9. A connecting member 10 is provided to electrically connect the first electrode 5 and the second electrode 8 to each other. The connecting member 10 is composed of a cured product of the adhesive film 1, and includes a cured product 12 of the adhesive component 2 and conductive particles 3 dispersed in the cured product 12. In the connection structure 11, the conductive particles 3 are interposed between the first electrode 5 and the second electrode 8, so that the first electronic member 6 and the second electronic member 9 are electrically connected to each other. It is connected.

第一の基板4は、プラスチック基板であり、可撓性を有している。第二の基板7は、ポリマー基板、ガラス基板、セラミックス基板等であってよい。 The first substrate 4 is a plastic substrate and has flexibility. The second substrate 7 may be a polymer substrate, a glass substrate, a ceramic substrate, or the like.

第一の基板4(プラスチック基板)の弾性率は、例えば、接続構造体11に求められるフレキシビリティ(屈曲性)、及び、第二の電子部材9との接続強度を考慮して決められる。第一の基板4(プラスチック基板)の弾性率は、例えば、2000MPa以上であってよく、4100MPa以下であってよい。 The elastic modulus of the first substrate 4 (plastic substrate) is determined, for example, in consideration of the flexibility required for the connection structure 11 and the connection strength with the second electronic member 9. The elastic modulus of the first substrate 4 (plastic substrate) may be, for example, 2000 MPa or more and 4100 MPa or less.

プラスチック基板は、例えば、ポリイミド(PI)、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリカーボネート(PC)及びポリエチレンナフタレート(PEN)から選ばれる少なくとも1種の熱可塑性樹脂で形成されていてよい。第一の基板4は、例えば二層以上のプラスチック層から形成されていてもよく、具体的には、例えば、PET等の第一のプラスチック層と、PI等の第二のプラスチック層とを備えていてもよい。この場合、第二のプラスチック層は第一のプラスチック層よりも耐熱性に優れており、第一の電極5は、第二のプラスチック層上に設けられる。 The plastic substrate may be made of, for example, at least one thermoplastic resin selected from polyimide (PI), polyethylene terephthalate (PET), polycarbonate (PC), and polyethylene naphthalate (PEN). The first substrate 4 may be formed of, for example, two or more plastic layers, and specifically includes, for example, a first plastic layer such as PET and a second plastic layer such as PI. You can leave it there. In this case, the second plastic layer has better heat resistance than the first plastic layer, and the first electrode 5 is provided on the second plastic layer.

第一の電極5及び第二の電極8を形成する電極材料としては、Agペースト、Ni、Al、Au、Cu、Ti及びMo等の金属、並びに、ITO、IZO、銀ナノワイヤ及びカーボンナノチューブ等の透明導電体が挙げられる。 The electrode materials forming the first electrode 5 and the second electrode 8 include Ag paste, metals such as Ni, Al, Au, Cu, Ti, and Mo, and metals such as ITO, IZO, silver nanowires, and carbon nanotubes. Examples include transparent conductors.

第一の電子部材6は、二以上の部材を接着するために接着剤層を有していてもよい。ただし、接着剤層の弾性率は一般に0.1MPa~1.0MPaであり、第一の電子部材6を構成する材料の中で最も柔らかくなるため、プラスチック基板の屈曲による影響が接着剤層に現れやすい。したがって、接着剤層の変形が第一の電子部材6全体の変形に影響を及ぼし得るため、この点を考慮して接着剤層を選定することが好ましい。 The first electronic component 6 may have an adhesive layer for bonding two or more components together. However, the elastic modulus of the adhesive layer is generally 0.1 MPa to 1.0 MPa, making it the softest of the materials constituting the first electronic component 6. Therefore, the influence of bending of the plastic substrate appears on the adhesive layer. Cheap. Therefore, since the deformation of the adhesive layer can affect the deformation of the entire first electronic component 6, it is preferable to select the adhesive layer in consideration of this point.

以上説明した接続構造体11の具体例として、有機EL素子が規則的に配置されたプラスチック基板に、映像表示用のドライバである駆動回路素子が実装されたフレキシブルな有機電界発光カラーディスプレイ(有機ELディスプレイ)が挙げられる。また、別の具体例として、有機ELディスプレイのような表示素子とタッチパッドのような位置入力装置を組み合わせたいわゆるタッチパネルでもよい。接続構造体11は、例えば、スマートホン、タブレット、テレビ、乗り物のナビゲーションシステム、ウェアラブル端末等であってよい。 As a specific example of the connection structure 11 described above, a flexible organic electroluminescent color display (organic EL display). Further, as another specific example, it may be a so-called touch panel that combines a display element such as an organic EL display and a position input device such as a touch pad. The connection structure 11 may be, for example, a smart phone, a tablet, a television, a vehicle navigation system, a wearable terminal, or the like.

上記のような具体例における第一の電子部材6では、例えば、PET、PEN等のプラスチック基板(第一の基板4)上に、有機TFT等の画素駆動回路及び複数の有機EL素子R、G、Bがマトリクス状に規則配列されることにより表示領域が形成されている。この表示領域には、映像表示用の信号線及び走査線が互いに直交する方向に形成されている。有機ELディスプレイは、例えば、それぞれ赤、緑、青の光を発光する有機EL素子R、G、Bの組が一つのピクセルを構成する。有機EL素子が形成された有機層は、保護層に被覆されるとともに、接着層を介して封止基板により封止されている。 In the first electronic member 6 in the above specific example, a pixel drive circuit such as an organic TFT and a plurality of organic EL elements R, G are mounted on a plastic substrate (first substrate 4) such as PET or PEN. , B are arranged regularly in a matrix to form a display area. In this display area, signal lines and scanning lines for displaying video are formed in directions perpendicular to each other. In an organic EL display, for example, a set of organic EL elements R, G, and B, each of which emits red, green, and blue light, constitutes one pixel. The organic layer on which the organic EL element is formed is covered with a protective layer and sealed with a sealing substrate via an adhesive layer.

第一の電子部材6は、表示領域の外側に、映像表示用の信号線及び走査線の各電極が引き出され、それぞれ映像表示用のドライバである駆動回路素子が接続される。駆動回路素子と接続される信号線及び走査線の各電極(第一の電極5)は、駆動回路素子に設けられたバンプの配列に応じて配列されている。なお、プラスチック基板(第一の基板4)として、光透過性を有する基板を用いることにより、有機EL素子の光を基板の背面側から取り出すことができる。 In the first electronic member 6, electrodes of a signal line and a scanning line for video display are drawn out to the outside of the display area, and each electrode is connected to a drive circuit element that is a driver for video display. Each electrode (first electrode 5) of the signal line and scanning line connected to the drive circuit element is arranged in accordance with the arrangement of bumps provided on the drive circuit element. Note that by using a light-transmissive substrate as the plastic substrate (first substrate 4), light from the organic EL element can be extracted from the back side of the substrate.

上記のような具体例における第二の電子部材9は、半導体電子部材であってよく、具体的には、例えば、ICチップであってよく、LEDなどの光学素子であってよい。このような第二の電子部材9における第二の電極8は、金スタッドバンプ、ハンダバンプ等のバンプ電極であってよい。 The second electronic member 9 in the above specific example may be a semiconductor electronic member, specifically, for example, an IC chip or an optical element such as an LED. The second electrode 8 in such a second electronic member 9 may be a bump electrode such as a gold stud bump or a solder bump.

以下、本発明の実施例を説明するが、本発明は、これらの実施例に限定されるものではない。 Examples of the present invention will be described below, but the present invention is not limited to these Examples.

<異方導電性接着フィルムの作製>
以下の表1,2に示す配合で接着成分を調製した後、ポリマー粒子と当該ポリマー粒子を被覆するNiめっき層とを備える導電性粒子(平均粒径:3μm)を接着成分中に分散させて、接着成分と導電性粒子の混合物を得た。このとき、導電性粒子の粒子密度が30,000個/mmとなるような量の導電性粒子を用いた。得られた混合物を、乾燥後の厚みが20μmとなるように、剥離処理されたPETフィルム上に塗布し、各実施例及び比較例の異方導電性接着フィルムを作製した。
<Preparation of anisotropically conductive adhesive film>
After preparing an adhesive component with the formulation shown in Tables 1 and 2 below, conductive particles (average particle size: 3 μm) comprising polymer particles and a Ni plating layer covering the polymer particles are dispersed in the adhesive component. , a mixture of adhesive component and conductive particles was obtained. At this time, conductive particles were used in an amount such that the particle density of the conductive particles was 30,000 particles/mm 2 . The obtained mixture was applied onto a PET film that had been subjected to a peeling process so that the thickness after drying was 20 μm, thereby producing anisotropically conductive adhesive films of each example and comparative example.

<貯蔵弾性率の測定>
得られた各異方導電性接着フィルムを200℃の加熱炉に入れ、1時間加熱することで硬化させた。異方導電性接着フィルムの硬化物をPETフィルムから剥離し、2.0mm×20.0mmの短冊状に切り出し、測定試料とした。その測定試料について、動的粘弾性測定装置(装置名RSA III、ティー・エイ・インスツルメント社製)を用いて、周波数10Hz、昇温速度10℃/分の条件で、40℃における貯蔵弾性率を測定した。結果を表1,2に示す。
<Measurement of storage modulus>
Each of the obtained anisotropically conductive adhesive films was placed in a 200° C. heating furnace and heated for 1 hour to be cured. The cured product of the anisotropically conductive adhesive film was peeled off from the PET film and cut into a strip of 2.0 mm x 20.0 mm, which was used as a measurement sample. The storage elasticity of the measurement sample at 40°C was measured using a dynamic viscoelasticity measurement device (device name: RSA III, manufactured by TA Instruments) at a frequency of 10Hz and a heating rate of 10°C/min. The rate was measured. The results are shown in Tables 1 and 2.

<評価>
-接続抵抗(導通抵抗)の評価-
作製した各異方導電性接着フィルムを用いて、金バンプ付きICチップ(0.9mm×20.3mm、厚み:0.3mm)と、Ti/Al/Ti回路付きプラスチック基板(厚み:0.05mm)との接続を以下のとおり行った。なお、金バンプの面積は12μm×100μmであった。金バンプ間のスペース(ピッチ)は12μmであった。金バンプの高さは15μmであった。
<Evaluation>
- Evaluation of connection resistance (continuity resistance) -
Using each of the produced anisotropic conductive adhesive films, an IC chip with gold bumps (0.9 mm x 20.3 mm, thickness: 0.3 mm) and a plastic substrate with Ti/Al/Ti circuit (thickness: 0.05 mm) were fabricated. ) was connected as follows. Note that the area of the gold bump was 12 μm×100 μm. The space (pitch) between gold bumps was 12 μm. The height of the gold bump was 15 μm.

続いて、異方導電性接着フィルムを2.0mm幅に切り出し、異方導電性接着フィルムがTi/Al/Ti回路付きプラスチック基板に接するように、Ti/Al/Ti付きプラスチック基板に貼り付けた。異方導電性接着フィルム上に、金バンプ付きICチップを配置した後、ヒートツールを10mm×50mmで用い、緩衝材として厚み50μmのテフロン(登録商標)を介し、170℃、60MPaの条件で、5秒間加熱及び加圧することで、接続構造体を得た。 Subsequently, the anisotropically conductive adhesive film was cut out to a width of 2.0 mm and attached to the Ti/Al/Ti plastic substrate so that the anisotropically conductive adhesive film was in contact with the Ti/Al/Ti circuit-attached plastic substrate. . After placing the IC chip with gold bumps on the anisotropic conductive adhesive film, using a heat tool of 10 mm x 50 mm, using Teflon (registered trademark) with a thickness of 50 μm as a cushioning material, under the conditions of 170 ° C. and 60 MPa, A connected structure was obtained by heating and pressurizing for 5 seconds.

作製した接続構造体について、温度85℃及び湿度85%RHの条件で500時間保管後の接続抵抗(導通抵抗)を4端子法により測定した。株式会社アドバンテスト製の定電流電源装置R-6145を用いて、一定電流(1mA)を接続構造体サンプルのICチップ電極-ポリイミド基板電極間(接続部分)に印加した。電流の印加時における接続部分の電位差を、株式会社アドバンテスト製のデジタルマルチメーター(R-6557)を用いて測定した。電位差を任意の14点で測定し、その平均値を求めた。電位差の平均値を接続抵抗値に換算した。得られた接続抵抗値を下記の基準に基づき評価した。結果を表1,2に示す。
A:接続抵抗値が5Ω未満
B:接続抵抗値が5Ω以上
The connection resistance (continuity resistance) of the produced connected structure after being stored for 500 hours at a temperature of 85° C. and a humidity of 85% RH was measured by a four-terminal method. Using a constant current power supply R-6145 manufactured by Advantest Co., Ltd., a constant current (1 mA) was applied between the IC chip electrode and the polyimide substrate electrode (connection portion) of the connected structure sample. The potential difference between the connected parts when a current was applied was measured using a digital multimeter (R-6557) manufactured by Advantest Corporation. The potential difference was measured at 14 arbitrary points, and the average value was determined. The average value of the potential difference was converted into a connection resistance value. The obtained connection resistance values were evaluated based on the following criteria. The results are shown in Tables 1 and 2.
A: Connection resistance value is less than 5Ω B: Connection resistance value is 5Ω or more

-接着強度の評価-
評価電子部材として、金バンプ付きICチップ(1.7mm×17mm、厚み:0.5mm)とプラスチック基材(厚み:0.05mm)を用いた。
異方導電性接着フィルムを2.5mm幅に切り出し、異方導電性接着フィルムがプラスチック基板に接するように、プラスチック基材に貼り付けた。異方導電性接着フィルム上に、金バンプ付きICチップ配置した後、ヒートツールを10mm×50mmで用い、緩衝材として厚み50μmのテフロン(登録商標)を介し、170℃、60MPaの条件で、5秒間加熱及び加圧することで、接続構造体を得た。
-Evaluation of adhesive strength-
As the electronic components for evaluation, an IC chip with gold bumps (1.7 mm x 17 mm, thickness: 0.5 mm) and a plastic base material (thickness: 0.05 mm) were used.
The anisotropically conductive adhesive film was cut out to a width of 2.5 mm and was attached to a plastic substrate so that the anisotropically conductive adhesive film was in contact with the plastic substrate. After placing an IC chip with gold bumps on the anisotropic conductive adhesive film, it was heated at 170°C and 60 MPa using a heat tool measuring 10 mm x 50 mm and using Teflon (registered trademark) with a thickness of 50 μm as a cushioning material. A connected structure was obtained by heating and pressurizing for seconds.

作製した接続構造体について、初期の接着強度を、接着力試験器(4000Puls Nordson社製)を用い、測定速度16μm/秒で金バンプ付きICチップを押し出して測定した。得られた接着強度を下記の基準に基づき評価した。結果を表1,2に示す。
A:接着強度が10MPa以上
B:接着強度が10MPa未満
The initial adhesive strength of the produced connected structure was measured by extruding an IC chip with gold bumps at a measurement speed of 16 μm/sec using an adhesive strength tester (4000 Puls manufactured by Nordson). The obtained adhesive strength was evaluated based on the following criteria. The results are shown in Tables 1 and 2.
A: Adhesive strength is 10 MPa or more B: Adhesive strength is less than 10 MPa

-ピール強度の評価-
評価電子部材として、金バンプ付きICチップ(1.7mm×17mm、厚み:0.5mm)とプラスチック基板(厚み:0.05mm)を用いた。
異方導電性接着フィルムを2.5mm幅に切り出し、異方導電性接着フィルムがプラスチック基板に接するように、プラスチック基板に貼り付けた。異方導電性接着フィルム上に、金バンプ付きICチップ配置した後、ヒートツールを10mm×50mmで用い、緩衝材として厚み50μmのテフロン(登録商標)を介し、170℃、60MPaの条件で、5秒間加熱及び加圧することで、接続構造体を得た。
作製した接続構造体について、初期のピール強度を、引張り試験器(STA-1150、株式会社オリエンテック製)を用い、測定速度50mm/分でプラスチック基板を引上げて測定した。得られたピール強度を下記の基準に基づき評価した。結果を表1,2に示す。
A:ピール強度が100N/m以上
B:ピール強度が100N/m未満
-Evaluation of peel strength-
As the electronic components for evaluation, an IC chip with gold bumps (1.7 mm x 17 mm, thickness: 0.5 mm) and a plastic substrate (thickness: 0.05 mm) were used.
The anisotropically conductive adhesive film was cut out to a width of 2.5 mm and was attached to a plastic substrate so that the anisotropically conductive adhesive film was in contact with the plastic substrate. After placing an IC chip with gold bumps on the anisotropic conductive adhesive film, it was heated at 170°C and 60 MPa using a heat tool measuring 10 mm x 50 mm and using Teflon (registered trademark) with a thickness of 50 μm as a cushioning material. A connected structure was obtained by heating and pressurizing for seconds.
The initial peel strength of the produced connected structure was measured using a tensile tester (STA-1150, manufactured by Orientec Co., Ltd.) by pulling up the plastic substrate at a measurement speed of 50 mm/min. The obtained peel strength was evaluated based on the following criteria. The results are shown in Tables 1 and 2.
A: Peel strength is 100 N/m or more B: Peel strength is less than 100 N/m

Figure 0007435001000001
Figure 0007435001000001

Figure 0007435001000002
Figure 0007435001000002

表1,2中の各成分は以下のとおりである。なお、表1,2に記載のFX293、PKHC、FX316、UR-4800、UR-8200、UR-4125、UR-5537及びUA-5500-70Tの配合量は、固形分としての配合量である。 Each component in Tables 1 and 2 is as follows. The blending amounts of FX293, PKHC, FX316, UR-4800, UR-8200, UR-4125, UR-5537, and UA-5500-70T listed in Tables 1 and 2 are the blending amounts as solid content.

FX293:ビフェニル・フルオレン型フェノキシ樹脂(新日鉄住金化学株式会社製、酢酸エチル/トルエン=50/50(質量比)の混合溶媒に40質量%溶解させたもの)
PKHC:ビスフェノールA型フェノキシ樹脂(巴工業株式会社製、酢酸エチル/トルエン=50/50(質量比)の混合溶媒に40質量%溶解させたもの)
ZX1356-2:ビスフェノールA型とビスフェノールF型の共重合型フェノキシ樹脂(新日鉄住金化学株式会社製、酢酸エチル/トルエン=50/50(質量比)の混合溶媒に45質量%溶解させたもの)
FX316:ビスフェノールF型フェノキシ樹脂(新日鉄住金化学株式会社製、酢酸エチル/トルエン=50/50(質量比)の混合溶媒に60質量%溶解させたもの)
HP-4032D:ナフタレン型エポキシ樹脂(DIC株式会社製)
EXA-4850:ポリアルキレンオキシ化ビスフェノールA型エポキシ樹脂(DIC株式会社)
SH-6040:シランカップリング剤(東レ・ダウコーニング株式会社製)
SI-60LA:重合開始剤(三新化学工業株式会社製)
UR-4800:共重合ポリエステルウレタン樹脂(東洋紡株式会社、メチルエチルケトン/トルエン=50/50(質量比)の混合溶媒に32質量%溶解させたもの)
UR-8200:共重合ポリエステルポリウレタン樹脂(東洋紡株式会社、メチルエチルケトン/トルエン=50/50(質量比)の混合溶媒に30質量%溶解させたもの)
UR-4125:共重合ポリエステルポリウレタン樹脂(東洋紡株式会社、メチルエチルケトン/トルエン=50/50(質量比)の混合溶媒に23質量%溶解させたもの)
UR-5537:共重合ポリエステルポリウレタン樹脂(東洋紡株式会社、メチルエチルケトン/トルエン=50/50(質量比)の混合溶媒に30質量%溶解させたもの)
UA-5500-70T:ウレタンアクリレート(新中村化学工業株式会社、トルエンに70質量%溶解させたもの)
DCPA:トリシクロデカンジメタノールジアクリレート(共栄社化学株式会社製)
M215:イソシアヌル酸EO変性ジアクリレート(東亜合成株式会社製)
M315:イソシアヌル酸EO変性トリアクリレート(東亜合成株式会社製)
KBE502:3-メタアクリロキシプロピルメチルジエトキシシラン(信越化学工業株式会社製)
ナイパーBMT-K40:重合開始剤(日油株式会社製)
LA7RT:重合禁止剤(旭電化工業株式会社製)
FX293: Biphenyl fluorene type phenoxy resin (manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., 40% by mass dissolved in a mixed solvent of ethyl acetate/toluene = 50/50 (mass ratio))
PKHC: Bisphenol A type phenoxy resin (manufactured by Tomoe Kogyo Co., Ltd., 40% by mass dissolved in a mixed solvent of ethyl acetate/toluene = 50/50 (mass ratio))
ZX1356-2: Copolymerized phenoxy resin of bisphenol A type and bisphenol F type (manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., 45% by mass dissolved in a mixed solvent of ethyl acetate/toluene = 50/50 (mass ratio))
FX316: Bisphenol F type phenoxy resin (manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., 60% by mass dissolved in a mixed solvent of ethyl acetate/toluene = 50/50 (mass ratio))
HP-4032D: Naphthalene type epoxy resin (manufactured by DIC Corporation)
EXA-4850: Polyalkylene oxylated bisphenol A type epoxy resin (DIC Corporation)
SH-6040: Silane coupling agent (manufactured by Toray Dow Corning Co., Ltd.)
SI-60LA: Polymerization initiator (manufactured by Sanshin Chemical Industry Co., Ltd.)
UR-4800: Copolymerized polyester urethane resin (Toyobo Co., Ltd., 32% by mass dissolved in a mixed solvent of methyl ethyl ketone/toluene = 50/50 (mass ratio))
UR-8200: Copolymerized polyester polyurethane resin (Toyobo Co., Ltd., 30% by mass dissolved in a mixed solvent of methyl ethyl ketone/toluene = 50/50 (mass ratio))
UR-4125: Copolymerized polyester polyurethane resin (Toyobo Co., Ltd., 23% by mass dissolved in a mixed solvent of methyl ethyl ketone/toluene = 50/50 (mass ratio))
UR-5537: Copolymerized polyester polyurethane resin (Toyobo Co., Ltd., 30% by mass dissolved in a mixed solvent of methyl ethyl ketone/toluene = 50/50 (mass ratio))
UA-5500-70T: Urethane acrylate (Shin Nakamura Chemical Co., Ltd., 70% by mass dissolved in toluene)
DCPA: Tricyclodecane dimethanol diacrylate (manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd.)
M215: Isocyanuric acid EO modified diacrylate (manufactured by Toagosei Co., Ltd.)
M315: Isocyanuric acid EO modified triacrylate (manufactured by Toagosei Co., Ltd.)
KBE502: 3-methacryloxypropylmethyldiethoxysilane (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.)
Niper BMT-K40: Polymerization initiator (manufactured by NOF Corporation)
LA7RT: Polymerization inhibitor (manufactured by Asahi Denka Kogyo Co., Ltd.)

表1,2の結果から、実施例1~8の異方導電性接着フィルムを200℃、1時間の条件で熱硬化させた硬化物が40℃において0.7GPa~1.5GPaの貯蔵弾性率を有する場合、高温高湿環境下に置かれた後の接続抵抗、接着強度及びピール強度に優れた接続構造体が得られた。一方、当該貯蔵弾性率が1.5GPaを超える比較例1、2及び比較例5、6では、接着強度及びピール強度の点で劣っていた。また、当該貯蔵弾性率が0.7GPa未満である比較例3、4及び7、8では、高温高湿環境下に置かれた後の接続抵抗及び接着強度の点で劣っていた。 From the results in Tables 1 and 2, the cured products obtained by thermally curing the anisotropically conductive adhesive films of Examples 1 to 8 at 200°C for 1 hour have a storage modulus of 0.7GPa to 1.5GPa at 40°C. In the case where the bonded structure had the following properties, a connected structure having excellent connection resistance, adhesive strength and peel strength after being placed in a high temperature and high humidity environment was obtained. On the other hand, Comparative Examples 1 and 2 and Comparative Examples 5 and 6, in which the storage modulus exceeds 1.5 GPa, were inferior in adhesive strength and peel strength. In addition, Comparative Examples 3, 4, 7, and 8, in which the storage modulus was less than 0.7 GPa, were inferior in connection resistance and adhesive strength after being placed in a high temperature and high humidity environment.

1…接着フィルム、2…接着成分、3…導電性粒子、4…第一の基板(プラスチック基板)、5…電極(第一の電極)、6…第一の電子部材、7…第二の基板、8…第二の電極、9…第二の電子部材、10…接続部材(接着フィルムの硬化物)、11…接続構造体。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Adhesive film, 2... Adhesive component, 3... Conductive particles, 4... First substrate (plastic substrate), 5... Electrode (first electrode), 6... First electronic member, 7... Second Substrate, 8... Second electrode, 9... Second electronic member, 10... Connection member (cured adhesive film), 11... Connection structure.

Claims (3)

熱硬化性の接着成分と、導電性粒子と、を含有する異方導電性接着フィルムであって、
前記異方導電性接着フィルムを200℃、1時間の条件で熱硬化させた硬化物が、40℃において0.7GPa~1.5GPaの貯蔵弾性率を有する、異方導電性接着フィルム(ただし、エポキシ樹脂と、エポキシ樹脂硬化剤と、平均粒径300nm以下のシリコーン微粒子と、を含有する異方導電性接着フィルムを除く)
An anisotropic conductive adhesive film containing a thermosetting adhesive component and conductive particles,
An anisotropically conductive adhesive film (however, the cured product obtained by thermally curing the anisotropically conductive adhesive film at 200°C for 1 hour has a storage modulus of 0.7 GPa to 1.5 GPa at 40°C ) (excluding anisotropic conductive adhesive films containing an epoxy resin, an epoxy resin curing agent, and silicone fine particles with an average particle size of 300 nm or less) .
プラスチック基板、及び前記プラスチック基板上に設けられた電極を有する第一の電子部材と、
第二の電子部材と、
前記第一の電子部材と前記第二の電子部材とを互いに電気的に接続する接続部材と、を備え、
前記接続部材が、請求項1に記載の異方導電性接着フィルムの硬化物である、接続構造体。
a first electronic member having a plastic substrate and an electrode provided on the plastic substrate;
a second electronic member;
a connecting member that electrically connects the first electronic member and the second electronic member to each other;
A connected structure, wherein the connecting member is a cured product of the anisotropically conductive adhesive film according to claim 1.
プラスチック基板、及び前記プラスチック基板上に設けられた電極を有する第一の電子部材と、第二の電子部材との間に、請求項1に記載の異方導電性接着フィルムを配置し、前記異方導電性接着フィルムを介して前記第一の電子部材と前記第二の電子部材とを熱圧着して、前記第一の電子部材と前記第二の電子部材とを電気的に接続する工程を備える、接続構造体の製造方法。 The anisotropic conductive adhesive film according to claim 1 is disposed between a first electronic member having a plastic substrate and an electrode provided on the plastic substrate, and a second electronic member, and a step of thermocompression bonding the first electronic member and the second electronic member via a conductive adhesive film to electrically connect the first electronic member and the second electronic member; A method for manufacturing a connected structure.
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