JP7467431B2 - エポキシ樹脂組成物 - Google Patents
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Description
(a)エポキシ樹脂、
(b)式C22またはC31のシロキサン型硬化剤
RC1、RC2、RC3は、メチル、エチルおよび1-プロピルから独立して選択され;
XC31は、式-XC32-AC1-[XC32-AC2]p-XC32-のC10~C30アルキルアリールから選択される二価の基であり;
AC1は、いずれも非置換でも、C1~C4アルキルにより置換されていてもよい、ビフェニレン基、ナフチレン基、アントラセニレン基、フェナントレニレン基、ピレニレン基、およびフルオレニレン基、好ましくはビフェニレン基またはナフチレン基から選択され;
AC2は、非置換でも、C1~C4アルキルにより置換されていてもよいフェニレン基から選択され;
pは、0、1または2であり;
XC32は、化学結合またはC1~C4アルカンジイル、好ましくは化学結合またはメタンジイルであり;
RC31は、H、C1~C6アルキル、C6~C30アリールまたはアルキルアリール、および
XC22は、C1~C4アルカンジイル、およびC6~C30アリールまたはアルキルアリールから選択される二価の基であり;
mは、繰返し単位の平均数であり、1.05~20であり、
AC6は、非置換でも、C1~C4アルキルにより置換されていてもよい、C6~C30アリールまたはアルキルアリールから選択される二価の基から選択され;
XC51、XC52は、化学結合および直鎖状または分岐状のC1~C6アルカンジイルから独立して選択され;
nは、繰返し単位の平均数であり、1.05~1000、好ましくは1.5~500、最も好ましくは2~100である]
を含み、フッ化物または臭化物を本質的に含有しない、樹脂組成物に関する。
[式中、
RC1、RC2、RC3は、メチル、エチルおよび1-プロピル、最も好ましくはメチルから独立して選択され;
mは、1.05~20、特に2.5~5の平均数であり;
nは、繰返し単位の平均数であり、1.05~1000、好ましくは1.5~500、最も好ましくは2~100であり、
RCA1、RCA2は、HおよびC1~C4アルキル、好ましくはH、メチルおよびエチル、最も好ましくはHから独立して選択される]
に関する。
(a)エポキシ樹脂、
(b)式C11のシロキサン型硬化剤:
RC1はメチルおよびエチルから選択され;
RC2、RC3は直鎖状または分岐状のC1~C3アルキルおよび直鎖状のC4~C6アルキル基、好ましくはメチルおよびエチルから独立して選択され;
XC11は非置換でも、C1~C6アルキルにより置換されていてもよい、ナフチル基、ビピリジル基、-AC1-XC32-AC2-基、または-XC41-AC3-XC42-基を含むかまたはこれらからなるXC11から選択される二価の基であり、AC1、AC2またはAC3基は1以上の
AC1はいずれも非置換でも、C1~C4アルキルにより置換されていてもよい、フェニレン基、ビフェニレン基、ナフチレン基、アントラセニレン基、フェナントレニレン基、ピレニレン基、およびフルオレニレン基、好ましくはビフェニレン基またはナフチレン基から選択され;
AC2は非置換でも、C1~C4アルキルにより置換されていてもよい、フェニレン基またはナフチレン基から選択され;
AC3は非置換でも、C1~C4アルキルにより置換されていてもよい、C6~C20アリール基により置換されたメタンジイルから選択され;
XC32は、化学結合またはC1~C4アルカンジイル、好ましくは化学結合またはメタンジイルであり、
XC41、XC42はC1~C6アルカンジイルから独立して選択される]
を含み、フッ化物または臭化物を本質的に含有しない、樹脂組成物である。
(a)エポキシ樹脂、
(b)シロキサン型硬化剤、
(c)任意に無機充填材、
(d)任意に非シロキサン型硬化剤、
(e)任意にアルコキシオリゴマー、
(f)任意に促進剤、
(g)任意に熱可塑性樹脂、
(h)任意にゴム粒子、および
(i)任意に難燃剤
から本質的になり、好ましくは以上のものからなる。
本発明で使用されるエポキシ樹脂は、特に限定されることはないが、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ビスフェノールAF型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、tert-ブチル-カテコール型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、直鎖状の脂肪族エポキシ樹脂、ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、複素環式エポキシ樹脂、スピロ環を含有するエポキシ樹脂、シクロヘキサンジメタノール型エポキシ樹脂、トリメチロール型エポキシ樹脂、およびハロゲン化エポキシ樹脂でよい。これらは単独またはこれらの2種類以上の組合せで使用できる。
DICのEPICOLON HP 4710
本発明の樹脂組成物はさらに、絶縁特性および機械的特性を改良するシロキサン化合物を含む硬化剤(「シロキサン型硬化剤」)を含む。
ポリマー性硬化剤は、ポリマー骨格に結合しているかまたはポリマー骨格中に組み込まれているシロキサン基を有し得る。
RC1、RC2、RC3は、メチル、エチルおよび1-プロピル、好ましくはメチルから独立して選択され;
XC31は、式-XC32-AC1-[XC32-AC2]p-XC32-のC10~C30アルキルアリールから選択される二価の基から選択され;
AC1は、いずれも非置換でも、C1~C4アルキルにより置換されていてもよい、ビフェニレン基、ナフチレン基、アントラセニレン基、フェナントレニレン基、ピレニレン基、およびフルオレニレン基、好ましくはビフェニレン基またはナフチレン基から選択され;
AC2は、非置換でも、C1~C4アルキルにより置換されていてもよいフェニレン基から選択され;
pは、0、1または2であり;
XC32は、化学結合またはC1~C4アルカンジイル、好ましくは化学結合またはメタンジイルであり;
RC31は、H、C1~C6アルキル、C6~C30アリールまたはアルキルアリール、および
XC22は、C1~C4アルカンジイル、およびC6~C30アリールまたはアルキルアリールから選択され;
mは、繰返し単位の平均数であり、1.05~20である]
である。
RC1、RC2は、メチル、エチルおよび1-プロピル、好ましくはメチルから独立して選択され;
AC6は、非置換でも、C1~C4アルキルにより置換されていてもよいC6~C30アリールまたはアルキルアリールから選択される二価の基から選択され;
XC51、XC52は、化学結合および直鎖状または分岐状のC1~C6アルカンジイルから独立して選択され;
nは、繰返し単位の平均数であり、1.05~1000、好ましくは1.5~500、最も好ましくは2~100である]
である。
RC1、RC2はメチル、エチルおよび1-プロピル、好ましくはメチルから独立して選択され;
RCA1、RCA2はHおよび直鎖状または分岐状のC1~C4アルキル、好ましくはH、メチルおよびエチルから独立し選択され;
nは繰返し単位の平均数であり、1.05~1000、好ましくは1.5~500、最も好ましくは2~100である]
である。
二官能性のエポキシモノマーと結合して二官能性の硬化剤は直鎖状の樹脂骨格(直鎖状の硬化エポキシ樹脂ともいう)を形成する。かかる直鎖状の硬化エポキシ樹脂は熱可塑性またデュロプラスチック(duroplastic)であり得る。
RC1はメチルおよびエチルから選択され;
RC2、RC3は直鎖状または分岐状のC1~C3アルキルおよび直鎖状のC4~C6アルキル基、好ましくはメチルおよびエチルから独立して選択され;
XC11は非置換でも、C1~C6アルキルにより置換されていてもよい、ナフチル基、ビピリジル基、-AC1-XC32-AC2-基、または-XC41-AC3-XC42基から選択される二価の基であり、1以上の
AC1はいずれも非置換でも、C1~C4アルキルにより置換されていてもよい、フェニレン基、ビフェニレン基またはナフチレン基、アントラセニレン基、フェナントレニレン基、ピレニレン基、およびフルオレニレン基から、好ましくはビフェニレン基またはナフチレン基から選択され;
AC2は非置換でも、C1~C4アルキルにより置換されていてもよい、フェニレン基またはナフチレン基から選択され、;
AC3は非置換でも、C1~C4アルキルにより置換されていてもよいC6~C20アリール基により置換されたメタンジイルから選択され;
XC32は化学結合またはC1~C4アルカンジイル、好ましくは化学結合またはメタンジイルであり、
XC41、XC42はC1~C6アルカンジイルから独立して選択される]
である。
RC1、RC2、RC3はメチル、エチルおよび1-プロピル、好ましくはメチルから独立して選択され;
RC11、RC12はメチル、エチルおよび1-プロピル、好ましくはメチルから独立して選択され;
RCA1、RCA2はHおよび直鎖状または分岐状のC1~C4アルキルから、好ましくはH、メチルおよびエチルから独立して選択される]
である。
RC1、RC2、RC3はメチル、エチルおよび1-プロピル、好ましくはメチルから独立して選択され;
RCA1、RCA2はHおよび直鎖状または分岐状のC1~C4アルキル、好ましくはH、メチルおよびエチルから独立して選択される]
である。
AC4は非置換でも、直鎖状もしくは分岐状のC1~C6アルキルにより置換されていてもよいC6~C20アリールから、好ましくは非置換でも、直鎖状もしくは分岐状のC1~C4アルキルにより置換されていてもよいC6~C12アリールから選択され;
RC1、RC2、RC3はメチル、エチルおよび1-プロピル、好ましくはメチルから独立して選択され;
XC41、XC42はC1~C6アルカンジイルから、好ましくはC1~C4アルカンジイルから、最も好ましくはメタンジイルおよびエタンジイルから独立して選択され;
RC4はHおよび直鎖状または分岐状のC1~C6アルキルから、好ましくはHおよびC1~C4アルキルから、最も好ましくはH、メチルおよびエチルから選択される]
である。
RC1、RC2、RC3はメチル、エチルおよび1-プロピル、好ましくはメチルから独立して選択され;
XC41、XC42はC1~C6アルカンジイルから、好ましくはC1~C4アルカンジイルから、最も好ましくはメタンジイルおよびエタンジイルから独立して選択され;
RC4はHおよびC1~C4アルキルから、好ましくはH、メチルまたはエチルから、最も好ましくはHまたはメチルから選択され;
RCA1はHおよびC1~C4アルキルから、好ましくはH、メチルおよびエチル、最も好ましくはHから選択される]
である。
RC1、RC2、RC3はメチル、エチルおよび1-プロピル、好ましくはメチルから独立して選択され;
RCA1、RCA2はHおよびC1~C4アルキルから、好ましくはH、メチルおよびエチル、最も好ましくはHから独立して選択される]
である。
本発明で使用される無機充填材は特に限定されない。その例として、シリカ、アルミナ、硫酸バリウム、タルク、粘土、雲母粉末、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、酸化マグネシウム、窒化ホウ素、ホウ酸アルミニウム、チタン酸バリウム、チタン酸ストロンチウム、チタン酸カルシウム、チタン酸マグネシウム、チタン酸ビスマス、酸化チタン、ジルコン酸バリウム、およびジルコン酸カルシウムが挙げられる。これらのうち、シリカが好ましい。さらに、非晶質シリカ、微粉シリカ、ヒュームドシリカ、結晶シリカ、合成シリカおよび中空シリカのようなシリカが好ましく、ヒュームドシリカがより好ましい。球状シリカがシリカとして好ましい。これらは単独で使用しても、その2種類以上を組み合わせて使用してもよい。
本発明の樹脂組成物の用途は特に限定されない。樹脂組成物は樹脂組成物が必要とされる広範囲の用途で、たとえば絶縁樹脂シート、たとえば接着膜およびプリプレグ、回路基板(積層体、多層プリント配線板、等向けの用途)、ソルダーレジスト、アンダーフィル材料、ダイボンディング材料、半導体シーリング材料、ホールプラッギング樹脂、およびモジュール埋め込み樹脂に使用することができる。これらのうち、本発明の樹脂組成物は多層プリント配線板の製造における絶縁層を形成するための樹脂組成物(多層プリント配線板の絶縁層のための樹脂組成物)として適切に使用することができる。また、本発明の樹脂組成物は、多層プリント配線板の製造において導電層がメッキにより形成される絶縁層を形成するための樹脂組成物(導電層がメッキにより形成される多層プリント配線板の絶縁層のための樹脂組成物)として適切に使用することができる。本発明の樹脂組成物は絶縁層を形成するためにワニス状態で回路基板に塗布することができるが、一般に、シート形状の積層材料、たとえば接着膜およびプリプレグの形態で樹脂組成物を使用するのが工業的に好ましい。シート形状の積層材料の積層特性の観点から、樹脂組成物の軟化点は好ましくは40~150℃である。
・アンテナモジュール
・パーソナルコンピューター
・携帯電話
・電気部品およびアンテナ基材
・電熱回路(ETC)
に必要である。
以下に記載するように本発明に従う組成物にはさらなる添加剤が存在してもよい。
シロキサン化合物は他の公知の硬化剤と組み合わせて使用してもよい。1つの好ましい実施形態においては本発明に従うシロキサン型硬化剤を唯一の硬化剤として使用する。別の好ましい実施形態において本発明に従うシロキサン型硬化剤は、下記硬化剤の少なくとも1種と組み合わせて使用する。組み合わせて使用する場合シロキサン型硬化剤の量は20%~99質量%、好ましくは30~90質量%、最も好ましくは50~90質量%である。
米国特許出願公開第2014/087152号に記載されているアルコキシオリゴマーは本発明に従う組成物に有利に使用できる。アルコキシオリゴマーとは、有機の基とアルコキシシリル基の両方を有する低分子量の樹脂をいい、特に限定されることなく、メチル基を含有するアルコキシシリル樹脂、フェニル基を含有するアルコキシシリル樹脂、エポキシ基を含有するアルコキシシリル樹脂、メルカプト基を含有するアルコキシシリル樹脂、アミノ基を含有するアルコキシシリル樹脂、アクリル基を含有するアルコキシシリル樹脂、メタクリル基を含有するアルコキシシリル樹脂、ウレイド基を含有するアルコキシシリル樹脂、イソシアネート基を含有するアルコキシシリル樹脂、およびビニル基を含有するアルコキシシリル樹脂でよい。これらのうち、エポキシ基を含有するアルコキシシリル樹脂、メルカプト基を含有するアルコキシシリル樹脂、およびアミノ基を含有するアルコキシシリル樹脂が好ましく、アミノ基を含有するアルコキシシリル樹脂がより好ましい。これらは単独で、またはこれらの2種類以上の組合せで使用できる。アルコキシオリゴマーは1種類または2種類以上の有機の基を有し得る。
本発明の樹脂組成物がさらに促進剤(触媒ともいわれる)を含有すると、エポキシ樹脂および硬化剤は効率的に硬化することができる。促進剤は、特に限定されることはないが、アミンをベースとする促進剤、グアニジンをベースとする促進剤、イミダゾールをベースとする促進剤、ホスホニウムをベースとする促進剤、および金属をベースとする促進剤でよい。これらは単独で、またはこれらの2種類以上の組合せで使用できる。
本発明の樹脂組成物がさらに熱可塑性樹脂を含有すると、硬化した生成物の機械的強度を改良することができる。また、樹脂組成物を接着膜の形態で使用する場合、膜成形性も改良することができる。かかる熱可塑性樹脂はフェノキシ樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリスルホン樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂、およびポリエステル樹脂でよい。これらの熱可塑性樹脂は単独で、またはこれらの2種類以上の組合せで使用できる。熱可塑性樹脂の質量平均分子量は好ましくは5000~200000の範囲内である。質量平均分子量がこの範囲未満であると、膜成形性および機械的強度を改良する効果が充分に発揮されないようである。質量平均分子量がこの範囲を超えると、シアネートエステル樹脂およびナフトール型エポキシ樹脂との適合性が充分でなく、硬化後の表面のむらが増大し、高密度微細配線の形成が困難になる傾向がある。本発明において質量平均分子量は(ポリスチレンに対して)ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法によって測定される。具体的には、GPC法において、質量平均分子量は、測定装置としてShimadzu Corporationにより製造されたLC-9A1RID-6Aを、カラムとしてShowa Denko K.K.により製造されたShodex K-800P/K-804L1K-804Lを、移動相としてクロロホルムなどを用い、標準ポリスチレンの較正曲線を使用する計算を行なって、40℃のカラム温度で決定することができる。
本発明の樹脂組成物がさらにゴム粒子を含有すると、メッキ剥離強度を改良することができ、ドリル加工特性を改良し、誘電損失係数を低下させ、かつ応力を緩和する効果を得ることができる。本発明で使用することができるゴム粒子は、たとえば、樹脂組成物のワニスの製造に使用される有機溶媒に不溶性で、必須成分としてのシアネートエステル樹脂およびエポキシ樹脂と不相溶性であるものである。したがって、ゴム粒子は本発明の樹脂組成物のワニス中に分散状態で存在する。一般に、かかるゴム粒子は、ゴム成分が有機溶媒および樹脂に不溶性になる程度までゴム成分の分子量を増大させ、それを顆粒状態に変換することにより製造することができる。
本発明の樹脂組成物がさらに難燃剤を含有すると、組成物に難燃性を付与することができる。難燃剤の例としては有機リンをベースとする難燃剤、有機窒素を含有するリン化合物、窒素化合物、シリコーンをベースとする難燃剤、および金属水酸化物が挙げられる。有機リンをベースとする難燃剤はフェナントレン型リン化合物、たとえばSANKO CO., LTD.から入手可能なHCA、HCA-HQ、およびHCA-NQ、リンを含有するベンゾキサジン化合物、たとえばShowa High Polymer Co., Ltd.から入手可能なHFB-2006M、リン酸エステル化合物、たとえばAjinomoto Fine-Techno Co., Inc.から入手可能なREOFOS 30、50、65、90、110、TPP、RPD、BAPP、CPD、TCP、TXP、TBP、TOP、KP140、およびTIBP、HOKKO CHEMICAL INDUSTRY CO., LTD.から入手可能なTPPOおよびPPQ、Clariant Ltd.から入手可能なOP930、およびDAIHACHI CHEMICAL INDUSTRY CO., LTD.から入手可能なPX200、リンを含有するエポキシ樹脂、たとえばTohto Kasei Co., Ltd.から入手可能なFX289、FX305、およびTX0712、リンを含有するフェノキシ樹脂、たとえばTohto Kasei Co., Ltd.から入手可能なERFOOI、ならびにリンを含有するエポキシ樹脂、たとえばJapan Epoxy Resin Co., Ltd.から入手可能なYL7613でよい。有機窒素を含有するリン化合物はリン酸エステルアミド化合物、たとえばShikoku Chemicals Corporationから入手可能なSP670およびSP703、ならびにホスファゼン化合物、たとえばOtsuka Chemical Co., Ltd.から入手可能なSPB100およびSPEI00、およびFUSHIMI Pharmaceutical Co., Ltd.から入手可能なFP-シリーズでよい。金属水酸化物は水酸化マグネシウム、たとえばUbe Material Industries, Ltd.から入手可能なUD65、UD650、およびUD653、ならびに水酸化アルミニウム、たとえばTomoe Engineering Co., Ltd.から入手可能なB-30、B-325、B-315、B-308、B-303、およびUFH-20でよい。
本発明の接着膜は、当業者に公知の方法により、たとえば、樹脂組成物を有機溶媒に溶解させた樹脂ワニスを製造し、その樹脂ワニスをダイコーターなどで支持体に塗布し、さらに加熱したり、熱風を吹き付けたり、などにより有機溶媒を乾燥することにより、樹脂組成物層を形成することによって製造することができる。
次に、このように製造された接着膜を使用して多層プリント配線板を製造する方法の一例を記載する。
本発明のプリプレグは、ホットメルト法または溶媒法を用いて本発明の樹脂組成物を繊維製のシート形状強化用基材に含侵させた後得られたものを加熱することにより半硬化させることによって製造することができる。すなわち、プリプレグは、本発明の樹脂組成物が繊維から作成されたシート形状の強化用基材に含侵するように形成することができる。繊維で作成されたシート形状の強化用基材として、たとえば、ガラス繊維布およびアラミド繊維のようなプリプレグとして一般的に使用される繊維製のものを使用することができる。
次に、そのようにして製造されたプリプレグを用いて多層プリント配線板を製造する方法の一例を記載する。本発明のプリプレグの一枚のシートまたは任意に複数のシートを回路基板上に積み重ね、剥離フィルムを介して金属プレートによりサンドイッチ状に挟み、続いて圧縮加熱条件下で真空プレス積層する。圧縮加熱条件は好ましくは5~40kgf/cm2(49×104~392×104N/m2)の圧力、120~200℃の温度で、20~100分の期間である。また、真空積層法によりプリプレグを回路基板上に積層し、次いで接着膜を使用する場合と同様に熱硬化を実行することも可能である。その後、多層プリント配線板は、硬化したプリプレグの表面を粗面化した後上記と同じようにしてメッキすることにより導電層を形成することによって製造することができる。
本発明の多層プリント配線板を用いて半導体素子を製造することができる。半導体素子は本発明の多層プリント配線板の導電性部品上に半導体チップを取り付けることにより製造することができる。「導電性部分」とは、「多層プリント配線板の電気信号を伝導する部分」を意味し、これは多層プリント配線板の表面上に配置されていてもよいし、または配線板中に埋め込まれた部分であってもよい。半導体チップは、チップが半導体材料からできた電気回路素子である限り特に限定されない。
BBUL法1):半導体チップをアンダーフィル剤により多層プリント配線板の凹部に実装する方法
BBUL法2):半導体チップを接着膜またはプリプレグにより多層プリント配線板の凹部に実装する方法
工程1)多層プリント配線板の両面から導電層を除去し、レーザーまたは機械式ドリルにより多層プリント配線板にスルーホールを形成する。
工程2)粘着テープを多層プリント配線板の片側に付け、半導体チップの底部をスルーホール内に配置して、半導体チップを粘着テープ上に固定する。その時、半導体チップはスルーホールの高さより低い位置に配置するのが好ましい。
工程3)アンダーフィル剤をスルーホールと半導体チップの間の空間に注入装填して半導体チップをスルーホールに固定する。
工程4)その後、粘着テープを剥ぎ取って、半導体チップの底部を露出させる。
工程5)半導体チップの底側に本発明の接着膜またはプリプレグを積層して半導体チップを覆う。
工程6)接着膜またはプリプレグを硬化させた後レーザーにより穴を開けて半導体チップの底部のボンディングパッドを露出させ、続いて上記のように粗面化処理、無電解メッキおよび電解メッキを行なって配線を接続する。必要ならば、接着膜またはプリプレグをさらに積層してもよい。
工程1)多層プリント配線板の両面の導電層上にフォトレジスト膜を形成し、フォトレジスト膜の片側のみにフォトリソグラフィー法により開口部を形成する。
工程2)開口部内に露出した導電層を、エッチング溶液を用いて除去して絶縁層を露出させた後、両面上のレジスト膜を除去する。
工程3)露出させた絶縁層のすべてを除去し、レーザーまたはドリルにより穴開けを行なって凹部を形成する。銅のレーザー吸収が減少し、絶縁層のレーザー吸収が増大するようにレーザーエネルギーを調節することができるレーザーを使用するのが好ましく、炭酸ガスレーザーを使用するのがより好ましい。かかるレーザーの使用により、導電層の開口部の反対側の導電層を貫通することなく絶縁層のみを除去することが可能になる。
工程4)半導体チップを凹部に配置して、半導体チップの底部が開口部側に面するようにし、本発明の接着膜またはプリプレグを開口部側から積層して半導体チップを覆い、半導体チップと凹部の間の空間に埋め込む。半導体チップは凹部の高さより低い位置に配置するのが好ましい。
工程5)接着膜またはプリプレグを硬化させた後、レーザーにより穴を開けて半導体チップの底部上のボンディングパッドを露出させる。
工程6)上記のように粗面化処理、非電解メッキ、および電解メッキを行なって配線を接続し、必要ならば、接着膜またはプリプレグをさらに積層してもよい。
40mmの直径と20-100μmの範囲の厚さを有するフィルムサンプルを測定に使用した。フィルムの厚さはマイクロメートルゲージ(Mitutoyo、Japanの製品、0.001-5mm)で測定した。誘電率測定はスプリットポスト誘電体共振器(SPDR)(QWED、Polandの製品)を用いて10GHz、ベクトルネットワークアナライザーE5071C(keysight Technologiesの製品)で行なった。
樹脂
DER332(DOWから入手可能):
Nippon Kayakuから入手可能なXD 1000
Nippon Kayakuから入手可能なGTR 1800
Nippon Kayakuから入手可能なNC3000L
DIC Corporationから入手可能なEPICOLON HP4700
BASFから入手可能なMPPG:
LA7054:フェノールベースのノボラック樹脂、DIC。
BASFから入手可能なLupragen(商標) N700:
Admatechsから入手可能なシリカSE203G SXJ
メチルエチルケトン(MEK)。
トルエン(1000ml)、ヒドロキシ化合物(1molのヒドロキシル基)および1-メチルイミダゾール(1mol)の混合物を丸底フラスコに入れた。均一な溶液が得られるまで混合物を室温で撹拌した。その後溶液を40℃に加熱し、クロロトリメチルシラン(1mol)をゆっくり加えた。添加完了後混合物を100℃に6時間加熱し、室温で一晩放置した。液体をろ過によって沈殿した物質から分離した。その後残留する溶媒を真空蒸留により除去した。得られた生成物はそのまま使用した。
GPH-65、Nippon Kayaku Co., Ltd
シロキサン変性ビフェニルフェノールノボラック樹脂(SBN)
エポキシ樹脂と硬化剤の混合物を使い捨て式の金属ビーカーに入れた。混合物を加熱し、対応する温度で1分間2000rpmにおいて混合した。その後促進剤を対応する温度で混合物に直接加え、再び2000rpmで1分間混合した。硬化剤対エポキシ樹脂の比は化学量論1:1と計算された。材料を寸法36・24・0.5cmのステンレス鋼モールドに注型した。ニートのエポキシ組成物を180℃で90分間硬化させた。金属モールドを室温に冷却し、開き、得られたエポキシ板をそのままさらなる分析および性能試験に使用した。
エポキシ樹脂、シロキサン変性硬化剤、シリカ充填材、溶媒および触媒を含むエポキシ樹脂組成物を、2000rpmの撹拌機(Speed Mixer)内各工程10分間で段階的に成分を混合することで製造した。均一なエポキシ組成物を基板のPETフィルム上にブレード塗工により100μmの薄いフィルムとして付着させた。次いで、エポキシの薄いフィルムを140℃で2時間硬化させた。硬化したフィルムをさらなる分析および性能試験に使用した。
樹脂(a)と硬化剤(b)の混合物を使い捨て式の金属ビーカーに入れた。混合物を加熱し、対応する温度で1分間2000rpmで混合した。その後促進剤を対応する温度で直接混合物に加え、再び2000rpmで1分間混合した。硬化剤対樹脂の比は1:1であった。材料を寸法36・24・0.5cmのステンレス鋼モールドに注型した。充填したモールドをオーブンに入れ、180℃で90分間硬化させた。硬化後モールドを室温に冷却し、開き、得られたエポキシ板を取り出した。この薄い板はそのまま使用した。
GPPに従って、100部の樹脂(a)DER 332、107.5部の硬化剤BPA-Si(b)および1部の促進剤(c)EMIM-DCAを室温で混合し、室温のモールドに注型し、硬化させた。
GPPに従って、100部の樹脂DER 332、107.5部の硬化剤BPA-Siおよび1部の促進剤Lupragen N700を室温で混合し、室温のモールドに注型し、硬化させた。
GPPに従って、100部の樹脂DER 332、65.9部の硬化剤ビスフェノールAおよび1部の促進剤EMIM-DCAを175℃で混合し、>150℃でモールドに注型し、硬化させた。
GPPに従って、100部の樹脂DER 332、90.2部の硬化剤ビスフェノールAジアセテートおよび1部の促進剤EMIM-DCAを175℃で混合し、>150℃のモールドに注型し、硬化させた。
GPPに従って、100部の樹脂DER 332、107.5部の硬化剤BPA-Siおよび1部の促進剤EMIM-DCAを室温で混合し、室温のモールドに注型し、硬化させた。
GPPに従って、100部の樹脂MPPG、117.7部の硬化剤BPA-Siおよび1部の促進剤EMIM-DCAを室温で混合し、室温のモールドに注型し、硬化させた。
GPPに従って、100部の樹脂DER332、87.9部の硬化剤2,7-Naph-Siおよび1部の促進剤EMIM-DCAを100℃で混合し、100℃のモールドに注型し、硬化させた。
GPPに従って、100部の樹脂DER332、87.9部の硬化剤1,5-Naph-Siおよび1部の促進剤EMIM-DCAを100℃で混合し、100℃のモールドに注型し、硬化させた。
GPPに従って、100部の樹脂DEN438、103.9部の硬化剤BPA-Siおよび1部の促進剤EMIM-DCAを130℃で混合し、130℃のモールドに注型し、硬化させた。
Claims (15)
- 樹脂組成物であって、
(a)エポキシ樹脂、
(b)式C22のシロキサン型硬化剤
RC1、RC2、RC3は、メチル、エチルおよび1-プロピルから独立して選択され;
XC31は、式-XC32-AC1-[XC32-AC2]p-XC32-のC10~C30アルキルアリーレンから選択される二価の基であり;
AC1は、いずれも非置換でも、C1~C4アルキルにより置換されていてもよい、ビフェニレン基、ナフチレン基、アントラセニレン基、フェナントレニレン基、ピレニレン基、およびフルオレニレン基から選択され;
AC2は、非置換でも、C1~C4アルキルにより置換されていてもよいフェニレン基から選択され;
pは、0、1または2であり;
XC32は、化学結合またはC1~C4アルカンジイルであり;
RC31は、H、C1~C6アルキル、C6~C30アリールまたはアルキルアリール、および
XC22は、C1~C4アルカンジイル、およびC6~C30 アリーレンまたはアルキルアリーレンから選択される二価の基であり;
mは、繰返し単位の平均数であり、1.05~20である]
を含み、前記樹脂組成物のフッ化物または臭化物の含有量が、1質量%以下である樹脂組成物。 - AC1が、いずれも非置換でも、メチルもしくはエチルにより置換されていてもよい、ビフェニレン基およびナフチレン基から選択され;AC2が、非置換でも、メチルもしくはエチルにより置換されていてもよいフェニレン基から選択される、請求項1に記載の樹脂組成物。
- pが1である、請求項1または2に記載の樹脂組成物。
- mが1.5~10である、請求項1または2に記載の樹脂組成物。
- RC1、RC2 がメチルである、請求項1から5のいずれか一項に記載の樹脂組成物。
- さらに無機充填材を含む、請求項1から6のいずれか一項に記載の樹脂組成物。
- 絶縁膜を回路基板上に付着させるための、請求項7に記載の樹脂組成物を使用する方法。
- 請求項7に記載の樹脂組成物を硬化させて絶縁層を形成した後の前記樹脂組成物を含む絶縁層であって、23℃及び10GHzで3以下の誘電率Dkおよび0.02以下の損失正接Dfを有する、絶縁層。
- 樹脂組成物であって、
(a)エポキシ樹脂、
(b)シロキサン型硬化剤、
を含み、且つ
前記シロキサン型硬化剤が式C14の化合物
[式中、
A C4 は非置換でも、直鎖状もしくは分岐状のC 1 ~C 6 アルキルにより置換されていてもよいC 6 ~C 20 アリールから選択され;
R C1 、R C2 、R C3 はメチル、エチルおよび1-プロピルから独立して選択され;
X C41 、X C42 はC 1 ~C 6 アルカンジイルから独立して選択され;
R C4 はHおよび直鎖状または分岐状のC 1 ~C 6 アルキルから選択される]
であり、且つ
前記樹脂組成物のフッ化物または臭化物の含有量が、1質量%以下である、樹脂組成物。 - さらに無機充填材を含む、請求項11又は12に記載の樹脂組成物。
- 絶縁膜を回路基板上に付着させるための、請求項13に記載の樹脂組成物を使用する方法。
- 請求項13に記載の樹脂組成物を硬化させて絶縁層を形成した後の前記樹脂組成物を含む絶縁層であって、23℃及び10GHzで3以下の誘電率Dkおよび0.02以下の損失正接Dfを有する、絶縁層。
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