JP7311284B2 - バックグラインドテープ - Google Patents
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Description
1つの実施形態においては、上記基材の引っ張り弾性率は1500MPa以上である。
1つの実施形態においては、上記基材の厚みは30μm~200μmである。
1つの実施形態においては、上記基材を構成する樹脂は、ポリエチレンテレフタレート樹脂、ポリイミド系樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリエチレンナフタレート樹脂、ポリフェニルサルファイド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂からなる群より選択される少なくとも1種である。
1つの実施形態においては、上記粘着剤層は活性エネルギー線硬化型粘着剤組成物で形成される。
図1は本発明の1つの実施形態におけるバックグラインドテープの概略断面図である。図示例のバックグラインドテープ100は、基材20と、該基材20の一方の面に形成された粘着剤層10とを備える。実用的には、使用までの間、粘着剤層10を適切に保護するために、粘着剤層10にはセパレーターが剥離可能に仮着される。バックグラインドテープ100は、通常、半導体ウエハ作製の工程が終了した後、粘着剤層10に活性エネルギーが照射され、粘着剤層が硬化することによって粘着力が小さくなり、被着体(半導体ウエハ)から剥離される。
粘着剤層は任意の適切な粘着剤組成物を用いて形成され得る。粘着剤組成物は、好ましくは活性エネルギー線硬化型粘着剤組成物である。活性エネルギー線硬化型粘着剤組成物は、活性エネルギー線を照射されることにより粘着力が低下し得る。活性エネルギー線硬化型粘着剤組成物を用いることにより、軽剥離性のバックグラインドテープが得られ得る。活性エネルギー線としては、例えば、ガンマ線、紫外線、可視光線、赤外線(熱線)、ラジオ波、アルファ線、ベータ線、電子線、プラズマ流、電離線、粒子線等が挙げられる。好ましくは、紫外線である。
上記基材20は、曲げ剛性が0.2N・mm2以上、かつ、波長400nmにおける光線透過率が10%以上である。基材20を構成する樹脂は融点が200℃以上である。このような基材を備えることにより、バックグラインドテープの耐熱性が向上し、高真空高温処理にも好適に用いることができる。
I=E×w×h3/12
(式中、Iは曲げ剛性(N・mm2)を、Eは引っ張り弾性率(MPa)を、wは試験片幅(mm)を、hは試験片厚み(mm)をそれぞれ表す)。
本発明のバックグラインドテープは、上記基材上に、上記粘着剤組成物を塗工することにより製造され得る。粘着剤の塗工方法としては、バーコーター塗工、エアナイフ塗工、グラビア塗工、グラビアリバース塗工、リバースロール塗工、リップ塗工、ダイ塗工、ディップ塗工、オフセット印刷、フレキソ印刷、スクリーン印刷等の種々の方法を採用することができる。また、別途、セパレータに粘着剤層を形成した後、それを基材に貼り合せる方法等を採用してもよい。
アクリル酸ブチル100重量部と、アクリル酸-2-ヒドロキシルエチル8重量部と、重合開始剤(2,2’-アゾビス-イソブチロニトリル(AIBN))0.3重量部と、溶媒(メチルエチルケトン(MEK))とを混合してモノマー組成物を調製した。
該モノマー組成物を、1L丸底セパラブルフラスコに、セパラブルカバー、分液ロート、温度計、窒素導入管、リービッヒ冷却器、バキュームシール、撹拌棒、撹拌羽が装備された重合用実験装置に投入し、撹拌しながら、常温で6時間、窒素置換した。その後、窒素を流入下、撹拌しながら、65℃下で6時間保持して重合し、樹脂溶液を得た。
得られた樹脂溶液を室温まで冷却した。その後、該樹脂溶液に、重合性炭素-炭素二重結合を有する化合物として、2-イソシアナトエチルメタクリレート(昭和電工社製、商品名:カレンズMOI)4重量部を加えた。さらに、ジラウリン酸ジブチルスズIV(和光純薬工業社製)0.11重量部を添加し、空気雰囲気下、50℃で24時間撹拌し、ポリマー溶液を得た。
得られたポリマー溶液100重量部に、架橋剤(東ソー社製、商品名:コロネートL)1重量部、開始剤(BASF社製、商品名:イルガキュア369)1重量部、重合禁止剤(BASF社製、商品名:イルガノックス1010)0.1重量部、硬化補助剤1(ADEKA社製、商品名:EDP300)0.5重量部、硬化補助剤2(ADEKA社製、商品名:EDP1100)2.5重量部を混合し、粘着剤組成物を得た。
ポリエチレンナフタレートフィルム1(帝人デュポン社製、商品名:テオネックス(登録商標)Q51、厚み50μm)の一方の面にコロナ処理を施したものを基材として用いた。
製造例1で調製した粘着剤組成物をセパレーター(ポリエステル系フィルム(三菱化学社製、商品名:MRF38、厚み:38μm)の一方の面にシリコーン系剥離剤を塗布したもの)の剥離処理面に塗布し、120℃で2分間加熱して、粘着剤層(厚み:50μm)を形成した。
上記基材のコロナ処理面と上記セパレーターに形成した粘着剤層とを貼り合わせ、50℃で2日間エージングを行い、バックグラインドテープを得た。
ポリエチレンナフタレートフィルム1に代えて、ポリエステル系フィルム(クラボウ社製、商品名:トルセナ、厚み50μm)を用いた以外は実施例1と同様にして、バックグラインドテープを得た。
ポリエチレンナフタレートフィルム1に代えて、ポリイソシアネート系フィルム1(I.S.T社製、商品名:TORMED TypeX、厚み50μm)を用いた以外は実施例1と同様にして、バックグラインドテープを得た。
ポリエチレンナフタレートフィルム1に代えて、ポリエチレンナフタレートフィルム2(帝人デュポン社製、商品名:テオネックス(登録商標)Q83、厚み25μm)を用いた以外は実施例1と同様にして、バックグラインドテープを得た。
ポリエチレンナフタレートフィルム1に代えて、ポリエーテルエーテルケトンフィルム(クラボウ社製、商品名:エクスピーク、厚み25μm)を用いた以外は実施例1と同様にして、バックグラインドテープを得た。
ポリエチレンナフタレートフィルム1に代えて、ポリイソシアネート系フィルム2(I.S.T社製、商品名:TORMED TSypeS、厚み25μm)を用いた以外は実施例1と同様にして、バックグラインドテープを得た。
ポリエチレンナフタレートフィルム1に代えて、ポリイソシアネート系フィルム3(東レデュポン社製、商品名:カプトン 200V、厚み50μm)を用いた以外は実施例1と同様にして、バックグラインドテープを得た。
実施例および比較例で用いた基材、または、得られたバックグラインドテープを下記(1)~(5)の評価に供した。結果を表1に示す。
基材として用いた各フィルムの波長400nmの光線透過率を紫外可視分光光度計(島津製作所製、商品名:SolidSpec-3700)を用いて測定した。
示差走査熱量計(TA Instrument社製、製品名:Q2000)を用いて、基材として用いたフィルムの融点を測定した。なお、400℃まで融解ピークが検出されないものは溶解不可とした。
基材として用いたフィルムを幅10mm×長さ100mmのサイズに切り出し、試験片として用いた。各試験片の引っ張り弾性率をJIS K 7161に準拠して測定した。試験片のサイズおよび引っ張り弾性率の結果から、以下の式により曲げ剛性を算出した。
I=E×w×h3/12
(式中、Iは曲げ剛性(N・mm2)を、Eは引っ張り弾性率(MPa)を、wは試験片幅(mm)を、hは試験片厚み(mm)をそれぞれ表す)。
得られたバックグラインドテープを幅20mmにカットし、シリコンミラーウエハに貼り付け、高圧水銀ランプ(70mW/cm2)を10秒間照射した。次いで、JIS Z 0237(2000)に準じた方法(貼り合わせ条件:2kgローラー1往復、剥離速度:300mm/min、剥離角度:180°)で粘着力を測定した。粘着力が1N/20mm未満であれば〇、粘着力が1N/20mm以上であれば×とした。
得られたバックグラインドテープをシリコンミラーウエハに貼り付け、真空オーブン(ヤマト科学社製、製品名:DP-31)に投入し、加温250℃、真空度0.1torrの状態に10分間置いた。その後、真空オーブンから取り出し、粘着剤層とシリコンミラーウエハとの間のデラミの有無を目視で確認した。デラミが生じていないものを○、デラミが生じているものを×とした。
20 基材
100 バックグラインドテープ
Claims (4)
- 基材と、該基材の一方の面に形成された粘着剤層とを備え、
該基材の幅10mmの試験片で測定した曲げ剛性が0.2N・mm2以上、かつ、波長400nmにおける光線透過率が50%以上であり、
該基材を構成する樹脂の融点が200℃以上であり、
該粘着剤層が活性エネルギー線硬化型粘着剤組成物で形成され、
該活性エネルギー線硬化型粘着剤組成物が、(メタ)アクリル酸エステルと共重合可能なヒドロキシル基含有モノマーから形成されるアクリルコポリマー樹脂をベースポリマーとして含み、該ヒドロキシル基含有モノマー由来の構成単位の含有割合が、ベースポリマー100重量部に対して、2.5重量部から15重量部である、バックグラインドテープ。 - 前記基材の引っ張り弾性率が1500MPa以上である、請求項1に記載のバックグラインドテープ。
- 前記基材の厚みが30μm~200μmである、請求項1または2に記載のバックグラインドテープ。
- 前記基材を構成する樹脂が、ポリエチレンテレフタレート樹脂、ポリイミド系樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリエチレンナフタレート樹脂、ポリフェニルサルファイド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂からなる群より選択される少なくとも1種である、請求項1から3のいずれかに記載のバックグラインドテープ。
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Families Citing this family (2)
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Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003176464A (ja) | 2001-12-12 | 2003-06-24 | Toyo Chem Co Ltd | 半導体ウエハ保護用シート |
JP2004051736A (ja) | 2002-07-18 | 2004-02-19 | Nitto Denko Corp | 紫外線硬化型粘着シート |
JP2004106515A (ja) | 2002-07-26 | 2004-04-08 | Nitto Denko Corp | 加工用粘着シートとその製造方法 |
JP2004253625A (ja) | 2003-02-20 | 2004-09-09 | Mitsui Chemicals Inc | 半導体ウェハ表面保護用粘着フィルム及び該粘着フィルムを用いる半導体ウェハの保護方法 |
JP2005019666A (ja) | 2003-06-26 | 2005-01-20 | Nitto Denko Corp | 半導体ウエハの研削方法および半導体ウエハ研削用粘着シート |
JP2005343997A (ja) | 2004-06-02 | 2005-12-15 | Lintec Corp | 半導体加工用粘着シートおよび半導体チップの製造方法 |
JP2009277860A (ja) | 2008-05-14 | 2009-11-26 | Toyobo Co Ltd | バックグラインドテープ |
JP2012119641A (ja) | 2010-12-03 | 2012-06-21 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 半導体装置の製造方法 |
JP2016086013A (ja) | 2014-10-23 | 2016-05-19 | 矢崎総業株式会社 | フィルム状プリント回路板及びその製造方法 |
JP2017205901A (ja) | 2016-05-16 | 2017-11-24 | 三井化学東セロ株式会社 | 成形品の外観不良を抑制するプロセス用離型フィルム、その用途、及びそれを用いた樹脂封止半導体の製造方法 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3410371B2 (ja) * | 1998-08-18 | 2003-05-26 | リンテック株式会社 | ウエハ裏面研削時の表面保護シートおよびその利用方法 |
JP2010241967A (ja) * | 2009-04-07 | 2010-10-28 | Nitto Denko Corp | 再剥離性粘着シート及びこれを用いた被着体の加工方法 |
JP2011151163A (ja) | 2010-01-21 | 2011-08-04 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 半導体ウエハ表面保護テープ、樹脂製基材フィルム |
JP5419226B2 (ja) * | 2010-07-29 | 2014-02-19 | 日東電工株式会社 | フリップチップ型半導体裏面用フィルム及びその用途 |
CN105027273B (zh) * | 2013-03-07 | 2019-01-22 | 住友电木株式会社 | 粘接膜、叠层体及其固化物、和半导体装置及其制造方法 |
JP2015137299A (ja) * | 2014-01-21 | 2015-07-30 | 住友ベークライト株式会社 | 樹脂組成物、接着シート、ダイシングテープ一体型接着シート、バックグラインドテープ一体型接着シート、バックグラインドテープ兼ダイシングテープ一体型接着シート、および電子装置 |
JP6109220B2 (ja) * | 2015-03-06 | 2017-04-05 | 古河電気工業株式会社 | 半導体ウエハ表面保護用粘着テープ |
JP2017005072A (ja) * | 2015-06-09 | 2017-01-05 | 日東電工株式会社 | 半導体ウエハ保護用粘着シート |
TWI692519B (zh) * | 2015-06-11 | 2020-05-01 | 日商三井化學東賽璐股份有限公司 | 電子零件保護膜、電子零件保護構件、電子零件的製造方法及封裝的製造方法 |
TWI605502B (zh) * | 2015-10-30 | 2017-11-11 | Furukawa Electric Co Ltd | Semiconductor wafer surface protection adhesive tape and semiconductor wafer processing method |
-
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2020
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Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003176464A (ja) | 2001-12-12 | 2003-06-24 | Toyo Chem Co Ltd | 半導体ウエハ保護用シート |
JP2004051736A (ja) | 2002-07-18 | 2004-02-19 | Nitto Denko Corp | 紫外線硬化型粘着シート |
JP2004106515A (ja) | 2002-07-26 | 2004-04-08 | Nitto Denko Corp | 加工用粘着シートとその製造方法 |
JP2004253625A (ja) | 2003-02-20 | 2004-09-09 | Mitsui Chemicals Inc | 半導体ウェハ表面保護用粘着フィルム及び該粘着フィルムを用いる半導体ウェハの保護方法 |
JP2005019666A (ja) | 2003-06-26 | 2005-01-20 | Nitto Denko Corp | 半導体ウエハの研削方法および半導体ウエハ研削用粘着シート |
JP2005343997A (ja) | 2004-06-02 | 2005-12-15 | Lintec Corp | 半導体加工用粘着シートおよび半導体チップの製造方法 |
JP2009277860A (ja) | 2008-05-14 | 2009-11-26 | Toyobo Co Ltd | バックグラインドテープ |
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