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JP7374272B2 - ophthalmology equipment - Google Patents

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JP7374272B2
JP7374272B2 JP2022145002A JP2022145002A JP7374272B2 JP 7374272 B2 JP7374272 B2 JP 7374272B2 JP 2022145002 A JP2022145002 A JP 2022145002A JP 2022145002 A JP2022145002 A JP 2022145002A JP 7374272 B2 JP7374272 B2 JP 7374272B2
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Description

この発明は、眼科装置に関する。 TECHNICAL FIELD This invention relates to an ophthalmological device.

近年、光の干渉を利用して物体の表面形態や内部形態を画像化するOCT(Opcital Coherence Tomography)が注目を集めている。OCTは、X線CTのような人体に対する侵襲性を持たないことから、特に医療分野や生物学分野における展開が期待されている。例えば、眼科分野においては、眼底や角膜を画像化する装置が実用化されている。 In recent years, optical coherence tomography (OCT), which uses light interference to image the surface and internal forms of objects, has been attracting attention. Since OCT is not invasive to the human body like X-ray CT, it is expected to be used particularly in the medical and biological fields. For example, in the field of ophthalmology, devices that image the fundus of the eye and the cornea have been put into practical use.

OCTを用いた眼科装置では、被検眼の注目部位がOCT計測による画像化範囲の好適な位置に描出されるように、測定光の光路長と参照光の光路長との差が調整される。 In an ophthalmological apparatus using OCT, the difference between the optical path length of the measurement light and the optical path length of the reference light is adjusted so that the target region of the eye to be examined is depicted at a suitable position in the imaging range by OCT measurement.

例えば、特許文献1には、OCT計測による画像化範囲に注目部位が描出されるように好適な光路長差を探索する自動処理(オートZ)を実行する眼科装置が開示されている。この眼科装置では、オートZにより得られた好適な描出位置を維持する自動処理(Zロック)を実行することで、注目部位が画像化範囲の所定のz位置(深さ位置)に描出されている状態が維持されるように光路長差の制御が行われる。 For example, Patent Document 1 discloses an ophthalmologic apparatus that executes automatic processing (auto Z) to search for a suitable optical path length difference so that a region of interest is depicted in an imaging range by OCT measurement. In this ophthalmological device, by executing automatic processing (Z lock) to maintain a suitable depiction position obtained by auto-Z, the region of interest is depicted at a predetermined z position (depth position) in the imaging range. The optical path length difference is controlled so that this state is maintained.

特開2016-041221号公報Japanese Patent Application Publication No. 2016-041221

しかしながら、従来の技術ではzロックで維持されているz位置が固定されている。それにより、OCT計測による計測範囲がxy方向に広くなったりz方向に深くなったりすると、眼球の湾曲状態によっては注目部位が画像化範囲の端に描出されたり、画像化範囲から外れたりする。 However, in the prior art, the z position maintained by the z lock is fixed. As a result, when the measurement range by OCT measurement becomes wider in the x-y direction or deeper in the z-direction, the region of interest may be depicted at the edge of the imaging range or out of the imaging range, depending on the curvature state of the eyeball.

特に、強度近視眼に対して広い範囲でOCT計測を行う場合、画像化範囲の上端又は下端で途切れてしまったり、折り返して表示されたりする。従って、検者がOCT計測の様子を注視し続ける必要があり、OCT計測を行う検者の負担が重くなる。或いは、計測結果を確認して必要に応じて再計測を行ったりする必要があり、OCT計測を受ける被検者の負担が重くなる。 In particular, when OCT measurement is performed over a wide range for a highly myopic eye, the image may be interrupted at the upper or lower end of the imaging range, or the display may be folded back. Therefore, it is necessary for the examiner to keep watching the OCT measurement, which increases the burden on the examiner who performs the OCT measurement. Alternatively, it is necessary to check the measurement results and perform re-measurement as necessary, which increases the burden on the subject undergoing OCT measurement.

本発明は、このような事情を鑑みてなされたものであり、その目的は、OCT計測を行う場合の検者又は被検者の負担を軽減するための新たな技術を提供することにある。 The present invention has been made in view of these circumstances, and its purpose is to provide a new technique for reducing the burden on examiners or subjects when performing OCT measurements.

実施形態の1つの態様は、測定光路と参照光路との光路長差を変更可能に構成され、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光路を経由した前記測定光を被検眼に照射し、前記被検眼からの戻り光と前記参照光路を経由した前記参照光との干渉光を検出する干渉光学系と、前記干渉光の検出結果に基づいて前記被検眼の画像を形成する画像形成部と、前記画像形成部により形成された前記画像中の網膜色素上皮層に基づいて前記被検眼に対する第1のBスキャンの深さ方向の第1基準位置を特定すると共に、前記第1基準位置を基準に前記被検眼の屈折度に応じて前記被検眼に対する第2のBスキャンの深さ方向の第2基準位置を特定する解析部と、前記被検眼のスキャン範囲に対して前記第1のBスキャンと前記第2のBスキャンとを含む複数のBスキャンを実行する場合に、前記干渉光の検出結果に基づく像が前記第1基準位置配置されるように記干渉光学系を制御して前記光路長差を変更することにより記被検眼のスキャン範囲に対して前記第1のBスキャンを実行させ、前記像が前記第2基準位置に配置されるように前記干渉光学系を制御して前記光路長差を変更することにより前記被検眼のスキャン範囲に対して前記第2のBスキャンを実行させる制御部と、を含む眼科装置である。 One aspect of the embodiment is that the optical path length difference between the measurement optical path and the reference optical path can be changed, the light from the light source is divided into the measurement light and the reference light, and the measurement light that has passed through the measurement optical path is divided into the measurement light and the reference light. an interference optical system that irradiates the eye to be examined and detects interference light between return light from the eye to be examined and the reference light that has passed through the reference optical path; identifying a first reference position in the depth direction of a first B-scan for the eye to be examined based on an image forming unit to form and a retinal pigment epithelial layer in the image formed by the image forming unit; an analysis unit that specifies a second reference position in the depth direction of a second B scan for the eye to be examined according to the refractive power of the eye to be examined based on the first reference position; When performing a plurality of B-scans including the first B-scan and the second B-scan, the interference is performed such that an image based on the detection result of the interference light is placed at the first reference position. The first B-scan is performed on the scan range of the eye to be examined by controlling the optical system to change the optical path length difference, and the image is placed at the second reference position. The ophthalmologic apparatus includes a control unit that controls an interference optical system to change the optical path length difference to execute the second B-scan in the scan range of the eye to be examined .

本発明によれば、OCT計測を行う場合の検者又は被検者の負担を軽減することができるようになる。 According to the present invention, it is possible to reduce the burden on the examiner or subject when performing OCT measurement.

実施形態に係る眼科装置の構成の一例を表す概略図である。FIG. 1 is a schematic diagram showing an example of the configuration of an ophthalmologic apparatus according to an embodiment. 実施形態に係る眼科装置の構成の一例を表す概略図である。FIG. 1 is a schematic diagram showing an example of the configuration of an ophthalmologic apparatus according to an embodiment. 実施形態に係る眼科装置の構成の一例を表す概略ブロック図である。FIG. 1 is a schematic block diagram showing an example of the configuration of an ophthalmologic apparatus according to an embodiment. 実施形態に係る眼科装置の構成の一例を表す概略ブロック図である。FIG. 1 is a schematic block diagram showing an example of the configuration of an ophthalmologic apparatus according to an embodiment. 実施形態に係る眼科装置が実行する処理を説明するための概略図である。It is a schematic diagram for explaining processing performed by an ophthalmologic apparatus according to an embodiment. 実施形態に係る眼科装置が実行する処理を説明するための概略図である。It is a schematic diagram for explaining processing performed by an ophthalmologic apparatus according to an embodiment. 実施形態に係る眼科装置が実行する処理を説明するための概略図である。It is a schematic diagram for explaining processing performed by an ophthalmologic apparatus according to an embodiment. 実施形態に係る眼科装置が実行する処理を説明するための概略図である。It is a schematic diagram for explaining processing performed by an ophthalmologic apparatus according to an embodiment. 実施形態に係る眼科装置が実行する処理を説明するための概略図である。It is a schematic diagram for explaining processing performed by an ophthalmologic apparatus according to an embodiment. 実施形態に係る眼科装置が実行する処理を説明するための概略図である。It is a schematic diagram for explaining processing performed by an ophthalmologic apparatus according to an embodiment. 実施形態に係る眼科装置が実行する処理を説明するための概略図である。It is a schematic diagram for explaining processing performed by an ophthalmologic apparatus according to an embodiment. 実施形態に係る眼科装置が実行する処理を説明するための概略図である。It is a schematic diagram for explaining processing performed by an ophthalmologic apparatus according to an embodiment. 実施形態に係る眼科装置が実行する処理を説明するための概略図である。It is a schematic diagram for explaining processing performed by an ophthalmologic apparatus according to an embodiment. 実施形態に係る眼科装置が実行する処理を説明するための概略図である。It is a schematic diagram for explaining processing performed by an ophthalmologic apparatus according to an embodiment. 実施形態に係る眼科装置の動作例を表すフローチャートである。It is a flow chart showing an example of operation of an ophthalmologic device concerning an embodiment.

この発明に係る眼科装置の実施形態の例について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、この明細書において引用された文献の記載内容や任意の公知技術を、以下の実施形態に援用することが可能である。 An example of an embodiment of an ophthalmologic apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings. Note that the contents of the documents cited in this specification and any known technology can be incorporated into the following embodiments.

実施形態に係る眼科装置は、OCTを用いて被検眼の断層像、正面画像、及び3次元画像を形成することが可能である。この明細書では、OCTによって取得される画像をOCT画像と総称することがある。また、OCT画像を形成するための計測動作をOCT計測と呼ぶことがある。 The ophthalmological apparatus according to the embodiment can form a tomographic image, a frontal image, and a three-dimensional image of the eye to be examined using OCT. In this specification, images acquired by OCT may be collectively referred to as OCT images. Furthermore, a measurement operation for forming an OCT image is sometimes referred to as OCT measurement.

いくつかの実施形態に係る眼科装置は、眼科撮影装置と、眼科測定装置と、眼科治療装置とのうちのいずれか1つ以上を含む。いくつかの実施形態の眼科装置に含まれる眼科撮影装置は、例えば、眼底カメラ、走査型レーザ検眼鏡、スリットランプ検眼鏡、手術用顕微鏡等のうちのいずれか1つ以上である。また、いくつかの実施形態の眼科装置に含まれる眼科測定装置は、例えば、眼屈折検査装置、眼圧計、スペキュラーマイクロスコープ、ウェーブフロントアナライザ、視野計、マイクロペリメータ等のうちのいずれか1つ以上である。また、いくつかの実施形態の眼科装置に含まれる眼科治療装置は、例えば、レーザ治療装置、手術装置、手術用顕微鏡等のうちのいずれか1つ以上である。 The ophthalmologic apparatus according to some embodiments includes any one or more of an ophthalmologic imaging device, an ophthalmologic measurement device, and an ophthalmologic treatment device. The ophthalmologic imaging device included in the ophthalmologic apparatus of some embodiments is, for example, one or more of a fundus camera, a scanning laser ophthalmoscope, a slit lamp ophthalmoscope, a surgical microscope, and the like. In addition, the ophthalmological measuring device included in the ophthalmological apparatus of some embodiments is, for example, any one or more of an eye refraction test device, a tonometer, a specular microscope, a wavefront analyzer, a perimeter, a microperimeter, etc. It is. Further, the ophthalmologic treatment device included in the ophthalmologic device of some embodiments is, for example, one or more of a laser treatment device, a surgical device, a surgical microscope, and the like.

以下の実施形態に係る眼科装置は、OCT計測が可能なOCT装置と眼底カメラとを含む。このOCT装置にはスウェプトソースOCTが適用されているが、OCTのタイプはこれに限定されず、他のタイプのOCT(スペクトラルドメインOCT、タイムドメインOCT、アンファスOCT等)が適用されてもよい。また、以下の実施形態に係る構成を、単体のOCT装置に組み込むことも可能である。 The ophthalmological apparatus according to the following embodiments includes an OCT apparatus capable of OCT measurement and a fundus camera. Although swept source OCT is applied to this OCT apparatus, the type of OCT is not limited to this, and other types of OCT (spectral domain OCT, time domain OCT, unfavorable OCT, etc.) may be applied. Further, it is also possible to incorporate the configuration according to the following embodiments into a single OCT apparatus.

以下においては、眼底の画像を取得する場合について詳しく説明するが、撮影対象である眼の部位は眼底に限定されない。例えば、角膜等の前眼部のOCT計測を行うための装置に、この実施形態に係る構成を適用することが可能である。また、眼底と前眼部の双方のOCT計測が可能な装置に対してこの実施形態の構成を適用することも可能である。この場合の例として、以下に説明する眼底撮影用の装置に、前眼部撮影用のアタッチメント(対物レンズ、前置レンズ等)を加えた構成を採用することができる。 In the following, a case in which an image of the fundus of the eye is acquired will be described in detail, but the part of the eye to be photographed is not limited to the fundus of the eye. For example, the configuration according to this embodiment can be applied to an apparatus for performing OCT measurement of the anterior segment of the eye, such as the cornea. Furthermore, it is also possible to apply the configuration of this embodiment to an apparatus capable of OCT measurement of both the fundus and the anterior segment of the eye. As an example of this case, it is possible to employ a configuration in which an attachment (an objective lens, a front lens, etc.) for photographing the anterior segment is added to a device for photographing the fundus described below.

<構成>
〔光学系〕
図1に示すように、眼科装置1は、眼底カメラユニット2、OCTユニット100及び演算制御ユニット200を含む。眼底カメラユニット2には、被検眼Eの正面画像を取得するための光学系や機構が設けられている。OCTユニット100には、OCTを実行するための光学系や機構の一部が設けられている。OCTを実行するための光学系や機構の他の一部は、眼底カメラユニット2に設けられている。演算制御ユニット200は、各種の演算や制御を実行する1以上のプロセッサを含む。これらに加え、被検者の顔を支持するための部材(顎受け、額当て等)や、OCTの対象部位を切り替えるためのレンズユニット(例えば、前眼部OCT用アタッチメント)等の任意の要素やユニットが眼科装置1に設けられてもよい。
<Configuration>
〔Optical system〕
As shown in FIG. 1, the ophthalmologic apparatus 1 includes a fundus camera unit 2, an OCT unit 100, and an arithmetic control unit 200. The fundus camera unit 2 is provided with an optical system and a mechanism for acquiring a frontal image of the eye E to be examined. The OCT unit 100 is provided with an optical system and part of a mechanism for performing OCT. Other parts of the optical system and mechanism for performing OCT are provided in the fundus camera unit 2. Arithmetic control unit 200 includes one or more processors that perform various calculations and controls. In addition to these, optional elements such as members for supporting the subject's face (chin rest, forehead rest, etc.) and lens units for switching the target area of OCT (for example, attachment for anterior segment OCT) or a unit may be provided in the ophthalmological apparatus 1.

本明細書において「プロセッサ」は、例えば、CPU(Central Processing Unit)、GPU(Graphics Processing Unit)、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)、プログラマブル論理デバイス(例えば、SPLD(Simple Programmable Logic Device)、CPLD(Complex Programmable Logic Device)、FPGA(Field Programmable Gate Array))等の回路を意味する。プロセッサは、例えば、記憶回路や記憶装置に格納されているプログラムを読み出し実行することで、実施形態に係る機能を実現する。 In this specification, "processor" refers to, for example, a CPU (Central Processing Unit), a GPU (Graphics Processing Unit), an ASIC (Application Specific Integrated Circuit), a programmable logic device (e.g. , SPLD (Simple Programmable Logic Device), CPLD (Complex It means a circuit such as a programmable logic device (programmable logic device) or FPGA (field programmable gate array). The processor realizes the functions according to the embodiment by, for example, reading and executing a program stored in a storage circuit or a storage device.

[眼底カメラユニット]
眼底カメラユニット2には、被検眼Eの眼底Efを撮影するための光学系が設けられている。取得される眼底Efの画像(眼底像、眼底写真等と呼ばれる)は、観察画像、撮影画像等の正面画像である。観察画像は、近赤外光を用いた動画撮影により得られる。撮影画像は、フラッシュ光を用いた静止画像である。更に、眼底カメラユニット2は、被検眼Eの前眼部Eaを撮影して正面画像(前眼部像)を取得することができる。
[Fundus camera unit]
The fundus camera unit 2 is provided with an optical system for photographing the fundus Ef of the eye E to be examined. The acquired image of the fundus Ef (referred to as a fundus image, fundus photograph, etc.) is a frontal image such as an observation image or a photographed image. Observation images are obtained by video shooting using near-infrared light. The photographed image is a still image using flash light. Furthermore, the fundus camera unit 2 can photograph the anterior segment Ea of the eye E to be examined to obtain a frontal image (anterior segment image).

眼底カメラユニット2は、照明光学系10と撮影光学系30とを含む。照明光学系10は被検眼Eに照明光を照射する。撮影光学系30は、被検眼Eからの照明光の戻り光を検出する。OCTユニット100からの測定光は、眼底カメラユニット2内の光路を通じて被検眼Eに導かれ、その戻り光は、同じ光路を通じてOCTユニット100に導かれる。 The fundus camera unit 2 includes an illumination optical system 10 and a photographing optical system 30. The illumination optical system 10 irradiates the eye E to be examined with illumination light. The photographing optical system 30 detects the return light of the illumination light from the eye E to be examined. The measurement light from the OCT unit 100 is guided to the eye E through the optical path within the fundus camera unit 2, and the return light is guided to the OCT unit 100 through the same optical path.

照明光学系10の観察光源11から出力された光(観察照明光)は、曲面状の反射面を有する反射ミラー12により反射され、集光レンズ13を経由し、可視カットフィルタ14を透過して近赤外光となる。更に、観察照明光は、撮影光源15の近傍にて一旦集束し、ミラー16により反射され、リレーレンズ17、18、絞り19及びリレーレンズ20を経由する。そして、観察照明光は、孔開きミラー21の周辺部(孔部の周囲の領域)にて反射され、ダイクロイックミラー46を透過し、対物レンズ22により屈折されて被検眼E(眼底Ef又は前眼部Ea)を照明する。被検眼Eからの観察照明光の戻り光は、対物レンズ22により屈折され、ダイクロイックミラー46を透過し、孔開きミラー21の中心領域に形成された孔部を通過し、ダイクロイックミラー55を透過する。ダイクロイックミラー55を透過した戻り光は、撮影合焦レンズ31を経由し、ミラー32により反射される。更に、この戻り光は、ハーフミラー33Aを透過し、ダイクロイックミラー33により反射され、集光レンズ34によりイメージセンサ35の受光面に結像される。イメージセンサ35は、所定のフレームレートで戻り光を検出する。なお、撮影光学系30のフォーカスは、眼底Ef又は前眼部Eaに合致するように調整される。 The light (observation illumination light) output from the observation light source 11 of the illumination optical system 10 is reflected by the reflection mirror 12 having a curved reflection surface, passes through the condensing lens 13, and passes through the visible cut filter 14. It becomes near-infrared light. Further, the observation illumination light is once converged near the photographing light source 15, reflected by a mirror 16, and passes through relay lenses 17, 18, an aperture 19, and a relay lens 20. The observation illumination light is reflected at the periphery of the apertured mirror 21 (the area around the aperture), passes through the dichroic mirror 46, is refracted by the objective lens 22, and is refracted by the objective lens 22. Part Ea) is illuminated. The return light of the observation illumination light from the subject's eye E is refracted by the objective lens 22, passes through the dichroic mirror 46, passes through the hole formed in the central region of the perforated mirror 21, and passes through the dichroic mirror 55. . The returning light that has passed through the dichroic mirror 55 passes through the photographic focusing lens 31 and is reflected by the mirror 32. Further, this returned light passes through the half mirror 33A, is reflected by the dichroic mirror 33, and is imaged by the condenser lens 34 on the light receiving surface of the image sensor 35. The image sensor 35 detects the returned light at a predetermined frame rate. Note that the focus of the photographing optical system 30 is adjusted to match the fundus Ef or the anterior segment Ea.

撮影光源15から出力された光(撮影照明光)は、観察照明光と同様の経路を通って眼底Efに照射される。被検眼Eからの撮影照明光の戻り光は、観察照明光の戻り光と同じ経路を通ってダイクロイックミラー33まで導かれ、ダイクロイックミラー33を透過し、ミラー36により反射され、集光レンズ37によりイメージセンサ38の受光面に結像される。 The light output from the photographing light source 15 (photographing illumination light) passes through the same path as the observation illumination light and is irradiated onto the fundus Ef. The return light of the imaging illumination light from the eye E is guided to the dichroic mirror 33 through the same path as the return light of the observation illumination light, passes through the dichroic mirror 33, is reflected by the mirror 36, and is reflected by the condenser lens 37. An image is formed on the light receiving surface of the image sensor 38.

LCD(Liquid Crystal Display)39は固視標や視力測定用視標を表示する。LCD39から出力された光束は、その一部がハーフミラー33Aにて反射され、ミラー32に反射され、撮影合焦レンズ31及びダイクロイックミラー55を経由し、孔開きミラー21の孔部を通過する。孔開きミラー21の孔部を通過した光束は、ダイクロイックミラー46を透過し、対物レンズ22により屈折されて眼底Efに投射される。 An LCD (Liquid Crystal Display) 39 displays a fixation target and a visual acuity measurement target. A portion of the light beam output from the LCD 39 is reflected by the half mirror 33A, then reflected by the mirror 32, passes through the photographic focusing lens 31 and the dichroic mirror 55, and then passes through the hole of the perforated mirror 21. The light beam that has passed through the hole of the perforated mirror 21 is transmitted through the dichroic mirror 46, refracted by the objective lens 22, and projected onto the fundus Ef.

LCD39の画面上における固視標の表示位置を変更することにより、被検眼Eの固視位置を変更できる。固視位置の例として、黄斑を中心とする画像を取得するための固視位置や、視神経乳頭を中心とする画像を取得するための固視位置や、黄斑と視神経乳頭との間の眼底中心を中心とする画像を取得するための固視位置や、黄斑から大きく離れた部位(眼底周辺部)の画像を取得するための固視位置などがある。いくつかの実施形態に係る眼科装置1は、このような固視位置の少なくとも1つを指定するためのGUI(Graphical User Interface)等を含む。いくつかの実施形態に係る眼科装置1は、固視位置(固視標の表示位置)をマニュアルで移動するためのGUI等を含む。 By changing the display position of the fixation target on the screen of the LCD 39, the fixation position of the eye E to be examined can be changed. Examples of fixation positions include a fixation position for acquiring an image centered on the macula, a fixation position for acquiring an image centered on the optic disc, and a fixation position for acquiring an image centered on the optic disc, and the center of the fundus between the macula and optic disc. There is a fixation position for acquiring an image centered on the macula, and a fixation position for acquiring an image of a region far away from the macula (periphery of the fundus). The ophthalmological apparatus 1 according to some embodiments includes a GUI (Graphical User Interface) and the like for specifying at least one of such fixation positions. The ophthalmologic apparatus 1 according to some embodiments includes a GUI, etc. for manually moving the fixation position (the display position of the fixation target).

移動可能な固視標を被検眼Eに提示するための構成はLCD等の表示装置には限定されない。例えば、光源アレイ(発光ダイオード(LED)アレイ等)における複数の光源を選択的に点灯させることにより、移動可能な固視標を生成することができる。また、移動可能な1以上の光源により、移動可能な固視標を生成することができる。 The configuration for presenting a movable fixation target to the eye E to be examined is not limited to a display device such as an LCD. For example, a movable fixation target can be generated by selectively lighting up a plurality of light sources in a light source array (such as a light emitting diode (LED) array). Furthermore, a movable fixation target can be generated using one or more movable light sources.

また、眼科装置1には、1以上の外部固視光源が設けられてもよい。1以上の外部固視光源の1つは、被検眼Eの僚眼に固視光を投射することが可能である。僚眼における固視光の投射位置は、変更可能である。僚眼に対する固視光の投射位置を変更することにより、被検眼Eの固視位置を変更することができる。外部固視光源による固視位置は、LCD39を用いた被検眼Eの固視位置と同様であってよい。例えば、複数の外部固視光源を選択的に点灯させることにより、移動可能な固視標を生成することができる。また、移動可能な1以上の外部固視光源により、移動可能な固視標を生成することができる。 Additionally, the ophthalmological device 1 may be provided with one or more external fixation light sources. One of the one or more external fixation light sources is capable of projecting fixation light onto the companion eye of the eye E to be examined. The projection position of the fixation light on the companion eye can be changed. By changing the projection position of the fixation light to the companion eye, the fixation position of the eye E to be examined can be changed. The fixation position by the external fixation light source may be the same as the fixation position of the eye E using the LCD 39. For example, a movable fixation target can be generated by selectively lighting up a plurality of external fixation light sources. Furthermore, a movable fixation target can be generated by one or more movable external fixation light sources.

アライメント光学系50は、被検眼Eに対する光学系のアライメントに用いられるアライメント指標を生成する。LED51から出力されたアライメント光は、絞り52及び53並びにリレーレンズ54を経由し、ダイクロイックミラー55により反射され、孔開きミラー21の孔部を通過する。孔開きミラー21の孔部を通過した光は、ダイクロイックミラー46を透過し、対物レンズ22により被検眼Eに投射される。アライメント光の角膜反射光は、観察照明光の戻り光と同じ経路を通ってイメージセンサ35に導かれる。その受光像(アライメント指標像)に基づいてマニュアルアライメントやオートアライメントを実行できる。 The alignment optical system 50 generates an alignment index used for alignment of the optical system with respect to the eye E to be examined. The alignment light output from the LED 51 passes through the apertures 52 and 53 and the relay lens 54, is reflected by the dichroic mirror 55, and passes through the hole of the perforated mirror 21. The light that has passed through the hole of the perforated mirror 21 is transmitted through the dichroic mirror 46 and is projected onto the eye E by the objective lens 22. The corneal reflected light of the alignment light is guided to the image sensor 35 through the same path as the return light of the observation illumination light. Manual alignment or auto alignment can be performed based on the received light image (alignment index image).

フォーカス光学系60は、被検眼Eに対するフォーカス調整に用いられるスプリット指標を生成する。フォーカス光学系60は、撮影光学系30の光路(撮影光路)に沿った撮影合焦レンズ31の移動に連動して、照明光学系10の光路(照明光路)に沿って移動される。反射棒67は、照明光路に対して挿脱可能である。フォーカス調整を行う際には、反射棒67の反射面が照明光路に傾斜配置される。LED61から出力されたフォーカス光は、リレーレンズ62を通過し、スプリット指標板63により2つの光束に分離され、二孔絞り64を通過し、ミラー65により反射され、集光レンズ66により反射棒67の反射面に一旦結像されて反射される。更に、フォーカス光は、リレーレンズ20を経由し、孔開きミラー21に反射され、ダイクロイックミラー46を透過し、対物レンズ22により屈折されて眼底Efに投射される。フォーカス光の眼底反射光は、アライメント光の角膜反射光と同じ経路を通ってイメージセンサ35に導かれる。その受光像(スプリット指標像)に基づいてマニュアルフォーカスやオートフォーカスを実行できる。 The focus optical system 60 generates a split index used for focus adjustment for the eye E to be examined. The focus optical system 60 is moved along the optical path of the illumination optical system 10 (illumination optical path) in conjunction with the movement of the photographic focusing lens 31 along the optical path of the photographic optical system 30 (photographic optical path). The reflection rod 67 can be inserted into and removed from the illumination optical path. When performing focus adjustment, the reflective surface of the reflective rod 67 is arranged at an angle to the illumination optical path. The focus light output from the LED 61 passes through a relay lens 62 , is separated into two beams by a split indicator plate 63 , passes through a two-hole diaphragm 64 , is reflected by a mirror 65 , and is reflected by a condensing lens 66 into a reflecting rod 67 . Once the image is formed on the reflective surface of the image, it is reflected. Further, the focus light passes through the relay lens 20, is reflected by the apertured mirror 21, passes through the dichroic mirror 46, is refracted by the objective lens 22, and is projected onto the fundus Ef. The fundus reflected light of the focus light is guided to the image sensor 35 through the same path as the corneal reflected light of the alignment light. Manual focus or autofocus can be performed based on the received light image (split index image).

ダイクロイックミラー46は、眼底撮影用光路とOCT用光路とを合成する。ダイクロイックミラー46は、OCTに用いられる波長帯の光を反射し、眼底撮影用の光を透過させる。OCT用光路(測定光の光路)には、OCTユニット100側からダイクロイックミラー46側に向かって順に、コリメータレンズユニット40、光路長変更部41、光スキャナ42、OCT合焦レンズ43、ミラー44、及びリレーレンズ45が設けられている。 The dichroic mirror 46 combines the fundus imaging optical path and the OCT optical path. The dichroic mirror 46 reflects light in a wavelength band used for OCT and transmits light for fundus photography. The OCT optical path (the optical path of measurement light) includes, in order from the OCT unit 100 side to the dichroic mirror 46 side, a collimator lens unit 40, an optical path length changing section 41, an optical scanner 42, an OCT focusing lens 43, a mirror 44, and a relay lens 45 are provided.

光路長変更部41は、図1に示す矢印の方向に移動可能とされ、OCT用光路の長さを変更する。この光路長の変更は、眼軸長に応じた光路長補正や、干渉状態の調整などに利用される。光路長変更部41は、コーナーキューブと、これを移動する機構とを含む。 The optical path length changing unit 41 is movable in the direction of the arrow shown in FIG. 1, and changes the length of the OCT optical path. This change in optical path length is used to correct the optical path length according to the axial length of the eye, adjust interference conditions, and the like. The optical path length changing unit 41 includes a corner cube and a mechanism for moving the corner cube.

光スキャナ42は、被検眼Eの瞳孔と光学的に共役な位置に配置される。光スキャナ42は、OCT用光路を通過する測定光LSを偏向する。光スキャナ42は、例えば、2次元走査が可能なガルバノスキャナである。 The optical scanner 42 is arranged at a position optically conjugate with the pupil of the eye E to be examined. The optical scanner 42 deflects the measurement light LS passing through the OCT optical path. The optical scanner 42 is, for example, a galvano scanner capable of two-dimensional scanning.

OCT合焦レンズ43は、OCT用の光学系のフォーカス調整を行うために、測定光LSの光路に沿って移動される。撮影合焦レンズ31の移動、フォーカス光学系60の移動、及びOCT合焦レンズ43の移動を連係的に制御することができる。 The OCT focusing lens 43 is moved along the optical path of the measurement light LS in order to perform focus adjustment of the optical system for OCT. Movement of the imaging focusing lens 31, movement of the focusing optical system 60, and movement of the OCT focusing lens 43 can be controlled in a coordinated manner.

[OCTユニット]
図2に例示するように、OCTユニット100には、スウェプトソースOCTを実行するための光学系が設けられている。この光学系は、干渉光学系を含む。この干渉光学系は、波長可変光源(波長掃引型光源)からの光を測定光と参照光とに分割する機能と、被検眼Eからの測定光の戻り光と参照光路を経由した参照光とを重ね合わせて干渉光を生成する機能と、この干渉光を検出する機能とを備える。干渉光学系により得られた干渉光の検出結果(検出信号)は、干渉光のスペクトルを示す信号であり、演算制御ユニット200に送られる。
[OCT unit]
As illustrated in FIG. 2, the OCT unit 100 is provided with an optical system for performing swept source OCT. This optical system includes an interference optical system. This interference optical system has the function of splitting the light from the wavelength variable light source (wavelength swept type light source) into the measurement light and the reference light, and the return light of the measurement light from the eye E and the reference light via the reference optical path. It has a function of superimposing the two to generate interference light, and a function of detecting this interference light. The detection result (detection signal) of the interference light obtained by the interference optical system is a signal indicating the spectrum of the interference light, and is sent to the arithmetic and control unit 200.

光源ユニット101は、例えば、出射光の波長を高速で変化させる近赤外波長可変レーザを含む。光源ユニット101から出力された光L0は、光ファイバ102により偏波コントローラ103に導かれてその偏光状態が調整される。偏光状態が調整された光L0は、光ファイバ104によりファイバカプラ105に導かれて測定光LSと参照光LRとに分割される。 The light source unit 101 includes, for example, a near-infrared variable wavelength laser that changes the wavelength of emitted light at high speed. Light L0 output from the light source unit 101 is guided to a polarization controller 103 by an optical fiber 102, and its polarization state is adjusted. The light L0 whose polarization state has been adjusted is guided to a fiber coupler 105 by an optical fiber 104 and is split into a measurement light LS and a reference light LR.

参照光LRは、光ファイバ110によりコリメータ111に導かれて平行光束に変換され、光路長補正部材112及び分散補償部材113を経由し、コーナーキューブ114に導かれる。光路長補正部材112は、参照光LRの光路長と測定光LSの光路長とを合わせるよう作用する。分散補償部材113は、参照光LRと測定光LSとの間の分散特性を合わせるよう作用する。コーナーキューブ114は、参照光LRの入射方向に移動可能であり、それにより参照光LRの光路長が変更される。 The reference light LR is guided to a collimator 111 by an optical fiber 110, converted into a parallel light beam, and guided to a corner cube 114 via an optical path length correction member 112 and a dispersion compensation member 113. The optical path length correction member 112 acts to match the optical path length of the reference light LR and the optical path length of the measurement light LS. The dispersion compensation member 113 acts to match the dispersion characteristics between the reference light LR and the measurement light LS. The corner cube 114 is movable in the direction of incidence of the reference light LR, thereby changing the optical path length of the reference light LR.

コーナーキューブ114を経由した参照光LRは、分散補償部材113及び光路長補正部材112を経由し、コリメータ116によって平行光束から集束光束に変換され、光ファイバ117に入射する。光ファイバ117に入射した参照光LRは、偏波コントローラ118に導かれてその偏光状態が調整され、光ファイバ119によりアッテネータ120に導かれて光量が調整され、光ファイバ121によりファイバカプラ122に導かれる。 The reference light LR that has passed through the corner cube 114 passes through the dispersion compensating member 113 and the optical path length correcting member 112, is converted from a parallel beam into a convergent beam by the collimator 116, and enters the optical fiber 117. The reference light LR incident on the optical fiber 117 is guided to a polarization controller 118 to have its polarization state adjusted, guided to an attenuator 120 by an optical fiber 119 to have its light amount adjusted, and then guided to a fiber coupler 122 by an optical fiber 121. It will be destroyed.

一方、ファイバカプラ105により生成された測定光LSは、光ファイバ127により導かれてコリメータレンズユニット40により平行光束に変換され、光路長変更部41、光スキャナ42、OCT合焦レンズ43、ミラー44及びリレーレンズ45を経由する。リレーレンズ45を経由した測定光LSは、ダイクロイックミラー46により反射され、対物レンズ22により屈折されて被検眼Eに入射する。測定光LSは、被検眼Eの様々な深さ位置において散乱・反射される。被検眼Eからの測定光LSの戻り光は、往路と同じ経路を逆向きに進行してファイバカプラ105に導かれ、光ファイバ128を経由してファイバカプラ122に到達する。 On the other hand, the measurement light LS generated by the fiber coupler 105 is guided by the optical fiber 127 and converted into a parallel light beam by the collimator lens unit 40. and relay lens 45 . The measurement light LS passing through the relay lens 45 is reflected by the dichroic mirror 46, refracted by the objective lens 22, and enters the eye E to be examined. The measurement light LS is scattered and reflected at various depth positions of the eye E to be examined. The return light of the measurement light LS from the eye E to be examined travels in the same direction as the outgoing path, is guided to the fiber coupler 105, and reaches the fiber coupler 122 via the optical fiber 128.

ファイバカプラ122は、光ファイバ128を介して入射された測定光LSと、光ファイバ121を介して入射された参照光LRとを合成して(干渉させて)干渉光を生成する。ファイバカプラ122は、所定の分岐比(例えば1:1)で干渉光を分岐することにより、一対の干渉光LCを生成する。一対の干渉光LCは、それぞれ光ファイバ123及び124を通じて検出器125に導かれる。 The fiber coupler 122 combines (interferes with) the measurement light LS incident through the optical fiber 128 and the reference light LR incident through the optical fiber 121 to generate interference light. The fiber coupler 122 generates a pair of interference lights LC by branching the interference lights at a predetermined branching ratio (for example, 1:1). A pair of interference lights LC are guided to a detector 125 through optical fibers 123 and 124, respectively.

検出器125は、例えばバランスドフォトダイオードである。バランスドフォトダイオードは、一対の干渉光LCをそれぞれ検出する一対のフォトディテクタを含み、これらフォトディテクタにより得られた一対の検出結果の差分を出力する。検出器125は、この出力(検出信号)をDAQ(Data Acquisition System)130に送る。 Detector 125 is, for example, a balanced photodiode. The balanced photodiode includes a pair of photodetectors that respectively detect a pair of interference lights LC, and outputs a difference between a pair of detection results obtained by these photodetectors. The detector 125 sends this output (detection signal) to a DAQ (Data Acquisition System) 130.

DAQ130には、光源ユニット101からクロックKCが供給される。クロックKCは、光源ユニット101において、波長可変光源により所定の波長範囲内で掃引される各波長の出力タイミングに同期して生成される。光源ユニット101は、例えば、各出力波長の光L0を分岐することにより得られた2つの分岐光の一方を光学的に遅延させた後、これらの合成光を検出した結果に基づいてクロックKCを生成する。DAQ130は、検出器125から入力される検出信号をクロックKCに基づきサンプリングする。DAQ130は、検出器125からの検出信号のサンプリング結果を演算制御ユニット200に送る。 The DAQ 130 is supplied with a clock KC from the light source unit 101. The clock KC is generated in the light source unit 101 in synchronization with the output timing of each wavelength swept within a predetermined wavelength range by the variable wavelength light source. For example, the light source unit 101 optically delays one of the two branched lights obtained by branching the light L0 of each output wavelength, and then outputs the clock KC based on the result of detecting these combined lights. generate. The DAQ 130 samples the detection signal input from the detector 125 based on the clock KC. The DAQ 130 sends the sampling result of the detection signal from the detector 125 to the arithmetic control unit 200.

本例では、測定光LSの光路(測定光路、測定アーム)の長さを変更するための光路長変更部41と、参照光LRの光路(参照光路、参照アーム)の長さを変更するためのコーナーキューブ114の双方が設けられている。しかしながら、光路長変更部41とコーナーキューブ114のいずれか一方のみが設けられもよい。また、これら以外の光学部材を用いて、測定光路長と参照光路長との差を変更することも可能である。 In this example, an optical path length changing unit 41 is used to change the length of the optical path (measurement optical path, measurement arm) of the measurement light LS, and an optical path length changing unit 41 is used to change the length of the optical path (reference optical path, reference arm) of the reference light LR. Both corner cubes 114 are provided. However, only one of the optical path length changing section 41 and the corner cube 114 may be provided. It is also possible to change the difference between the measurement optical path length and the reference optical path length using optical members other than these.

[演算制御ユニット]
演算制御ユニット200は、DAQ130から入力される検出信号を解析して眼底EfのOCT画像を形成する。そのための演算処理は、従来のスウェプトソースタイプのOCT装置と同様である。
[Calculation control unit]
The arithmetic control unit 200 analyzes the detection signal input from the DAQ 130 and forms an OCT image of the fundus Ef. The arithmetic processing for this purpose is similar to that of a conventional swept source type OCT device.

また、演算制御ユニット200は、眼底カメラユニット2、表示装置3、及びOCTユニット100の各部を制御する。 Further, the arithmetic control unit 200 controls each part of the fundus camera unit 2, the display device 3, and the OCT unit 100.

眼底カメラユニット2の制御として、演算制御ユニット200は、観察光源11、撮影光源15、及びLED51、61の動作制御、LCD39の動作制御、撮影合焦レンズ31の移動制御、OCT合焦レンズ43の移動制御、反射棒67の移動制御、フォーカス光学系60の移動制御、光路長変更部41の移動制御、光スキャナ42の動作制御などを行う。 In order to control the fundus camera unit 2, the arithmetic control unit 200 controls the operation of the observation light source 11, the photographing light source 15, and the LEDs 51 and 61, controls the operation of the LCD 39, controls the movement of the photographic focusing lens 31, and controls the OCT focusing lens 43. It performs movement control, movement control of the reflection rod 67, movement control of the focus optical system 60, movement control of the optical path length changing section 41, operation control of the optical scanner 42, and the like.

OCTユニット100の制御として、演算制御ユニット200は、光源ユニット101の動作制御、偏波コントローラ103、118の動作制御、アッテネータ120の動作制御、検出器125の動作制御、DAQ130の動作制御などを行う。 To control the OCT unit 100, the arithmetic control unit 200 controls the operation of the light source unit 101, the polarization controllers 103 and 118, the attenuator 120, the detector 125, the DAQ 130, etc. .

演算制御ユニット200は、例えば、従来のコンピュータと同様に、マイクロプロセッサ、RAM、ROM、ハードディスクドライブ、通信インターフェイスなどを含んで構成される。ハードディスクドライブ等の記憶装置には、眼科装置1を制御するためのコンピュータプログラムが記憶されている。演算制御ユニット200は、各種の回路基板、例えばOCT画像を形成するための回路基板を備えていてもよい。また、演算制御ユニット200は、キーボードやマウス等の操作デバイス(入力デバイス)や、LCD等の表示デバイスを備えていてもよい。 The arithmetic control unit 200 is configured to include, for example, a microprocessor, RAM, ROM, hard disk drive, communication interface, etc., like a conventional computer. A computer program for controlling the ophthalmologic apparatus 1 is stored in a storage device such as a hard disk drive. The arithmetic control unit 200 may include various circuit boards, for example, a circuit board for forming an OCT image. Further, the arithmetic control unit 200 may include an operation device (input device) such as a keyboard and a mouse, and a display device such as an LCD.

眼底カメラユニット2、表示装置3、OCTユニット100、及び演算制御ユニット200は、一体的に(つまり単一の筺体内に)構成されていてもよいし、2つ以上の筐体に別れて構成されていてもよい。 The fundus camera unit 2, display device 3, OCT unit 100, and arithmetic control unit 200 may be configured integrally (that is, in a single housing), or may be configured separately in two or more housings. may have been done.

〔制御系〕
図3及び図4に、眼科装置1の制御系の構成例を示す。図3及び図4において、眼科装置1に含まれる構成要素の一部が省略されている。制御部210、画像形成部220及びデータ処理部230は、例えば、演算制御ユニット200に設けられる。
[Control system]
3 and 4 show examples of the configuration of the control system of the ophthalmologic apparatus 1. In FIGS. 3 and 4, some of the components included in the ophthalmologic apparatus 1 are omitted. The control section 210, the image forming section 220, and the data processing section 230 are provided in the arithmetic control unit 200, for example.

(制御部)
制御部210は、各種の制御を実行する。制御部210は、主制御部211と記憶部212とを含む。
(control unit)
The control unit 210 executes various controls. Control section 210 includes a main control section 211 and a storage section 212.

(主制御部)
主制御部211は、プロセッサを含み、眼科装置1の各部を制御する。例えば、主制御部211は、眼底カメラユニット2の光路長変更部41、光スキャナ42、撮影合焦レンズ31(合焦駆動部31A)、及びフォーカス光学系60、OCT合焦レンズ43(合焦駆動部43A)、イメージセンサ35、38、LCD39、光学系全体(移動機構150)などを制御する。さらに、主制御部211は、OCTユニット100の光源ユニット101、コーナーキューブ114(参照駆動部114A)、アッテネータ120、偏波コントローラ103、118、検出器125、DAQ130などを制御する。
(Main control part)
The main control unit 211 includes a processor and controls each part of the ophthalmologic apparatus 1 . For example, the main control unit 211 controls the optical path length changing unit 41 of the fundus camera unit 2, the optical scanner 42, the imaging focusing lens 31 (focusing drive unit 31A), the focusing optical system 60, the OCT focusing lens 43 (focusing The driving unit 43A), the image sensors 35, 38, the LCD 39, the entire optical system (the moving mechanism 150), and the like are controlled. Furthermore, the main control section 211 controls the light source unit 101, corner cube 114 (reference drive section 114A), attenuator 120, polarization controllers 103, 118, detector 125, DAQ 130, etc. of the OCT unit 100.

例えば、主制御部211は、手動又は自動で設定された固視位置に対応するLCD39の画面上の位置に固視標を表示する。また、主制御部211は、LCD39に表示されている固視標の表示位置を(連続的に又は段階的に)変更することができる。それにより、固視標を移動することができる(つまり、固視位置を変更することができる)。固視標の表示位置や移動態様は、マニュアルで又は自動的に設定される。マニュアルでの設定は、例えばGUIを用いて行われる。自動的な設定は、例えば、データ処理部230により行われる。 For example, the main control unit 211 displays a fixation target at a position on the screen of the LCD 39 that corresponds to a fixation position that is manually or automatically set. Further, the main control unit 211 can change the display position of the fixation target displayed on the LCD 39 (continuously or stepwise). Thereby, the fixation target can be moved (that is, the fixation position can be changed). The display position and movement mode of the fixation target are set manually or automatically. Manual settings are performed using, for example, a GUI. The automatic setting is performed, for example, by the data processing unit 230.

合焦駆動部31Aは、撮影光学系30の光軸方向に撮影合焦レンズ31を移動させるとともに、照明光学系10の光軸方向にフォーカス光学系60を移動させる。それにより、撮影光学系300の合焦位置が変更される。合焦駆動部31Aは、撮影合焦レンズ31を移動させる機構と、フォーカス光学系60を移動させる機構とを個別に有していてよい。合焦駆動部31Aは、フォーカス調整を行うときなどに制御される。 The focus drive section 31A moves the photographic focusing lens 31 in the optical axis direction of the photographic optical system 30, and also moves the focus optical system 60 in the optical axis direction of the illumination optical system 10. Thereby, the focusing position of the photographing optical system 300 is changed. The focus drive section 31A may have a mechanism for moving the photographic focusing lens 31 and a mechanism for moving the focus optical system 60, separately. The focus drive unit 31A is controlled when performing focus adjustment.

合焦駆動部43Aは、測定光路の光軸方向にOCT合焦レンズ43を移動させる。それにより、測定光LSの合焦位置が変更される。測定光LSの合焦位置は、測定光LSのビームウェストの深さ位置(z位置)に相当する。 The focusing drive unit 43A moves the OCT focusing lens 43 in the optical axis direction of the measurement optical path. Thereby, the focal position of the measurement light LS is changed. The focal position of the measurement light LS corresponds to the depth position (z position) of the beam waist of the measurement light LS.

移動機構150は、例えば、少なくとも眼底カメラユニット2(光学系)を3次元的に移動する。典型的な例において、移動機構150は、少なくとも眼底カメラユニット2をx方向(左右方向)に移動するための機構と、y方向(上下方向)に移動するための機構と、z方向(奥行き方向、前後方向)に移動するための機構とを含む。x方向に移動するための機構は、例えば、x方向に移動可能なxステージと、xステージを移動するx移動機構とを含む。y方向に移動するための機構は、例えば、例えば、y方向に移動可能なyステージと、yステージを移動するy移動機構とを含む。z方向に移動するための機構は、例えば、z方向に移動可能なzステージと、zステージを移動するz移動機構とを含む。各移動機構は、パルスモータ等のアクチュエータを含み、主制御部211からの制御を受けて動作する。 The moving mechanism 150 moves at least the fundus camera unit 2 (optical system) three-dimensionally, for example. In a typical example, the moving mechanism 150 includes at least a mechanism for moving the fundus camera unit 2 in the x direction (horizontal direction), a mechanism for moving the fundus camera unit 2 in the y direction (vertical direction), and a mechanism for moving the fundus camera unit 2 in the z direction (depth direction). , and a mechanism for moving in the front-back direction). The mechanism for moving in the x direction includes, for example, an x stage movable in the x direction and an x movement mechanism that moves the x stage. The mechanism for moving in the y direction includes, for example, a y stage that is movable in the y direction, and a y movement mechanism that moves the y stage. The mechanism for moving in the z direction includes, for example, a z stage that is movable in the z direction and a z moving mechanism that moves the z stage. Each moving mechanism includes an actuator such as a pulse motor, and operates under control from the main control unit 211.

移動機構150に対する制御は、アライメントやトラッキングにおいて用いられる。トラッキングとは、被検眼Eの眼球運動に合わせて装置光学系を移動させるものである。トラッキングを行う場合には、事前にアライメントとフォーカス調整が実行される。トラッキングは、装置光学系の位置を眼球運動に追従させることにより、アライメントとピントが合った好適な位置関係を維持する機能である。いくつかの実施形態では、参照光の光路長(よって、測定光の光路と参照光の光路との間の光路長差)を変更するために移動機構150の制御を行うように構成される。 Control over the moving mechanism 150 is used for alignment and tracking. Tracking refers to moving the optical system of the apparatus in accordance with the eyeball movement of the eye E to be examined. When tracking is performed, alignment and focus adjustment are performed in advance. Tracking is a function that maintains a suitable positional relationship that is aligned and in focus by causing the position of the device optical system to follow the movement of the eyeballs. In some embodiments, the movement mechanism 150 is configured to be controlled to change the optical path length of the reference beam (and thus the optical path length difference between the optical path of the measurement beam and the optical path of the reference beam).

マニュアルアライメントの場合、光学系に対する被検眼Eの変位がキャンセルされるようにユーザが後述のユーザインターフェイス240に対して操作することにより光学系と被検眼Eとを相対移動させる。例えば、主制御部211は、ユーザインターフェイス240に対する操作内容に対応した制御信号を移動機構150に出力することにより移動機構150を制御して光学系と被検眼Eとを相対移動させる。 In the case of manual alignment, the optical system and the eye E are moved relative to each other by a user operating the user interface 240 (described later) so that the displacement of the eye E with respect to the optical system is canceled. For example, the main control unit 211 outputs a control signal corresponding to the operation content on the user interface 240 to the moving mechanism 150, thereby controlling the moving mechanism 150 to relatively move the optical system and the eye E to be examined.

オートアライメントの場合、光学系に対する被検眼Eの変位がキャンセルされるように主制御部211が移動機構150を制御することにより光学系と被検眼Eとを相対移動させる。いくつかの実施形態では、主制御部211は、光学系の光軸が被検眼Eの軸に略一致し、かつ、被検眼Eに対する光学系の距離が所定の作動距離になるように制御信号を移動機構150に出力することにより移動機構150を制御して光学系と被検眼Eとを相対移動させる。ここで、作動距離とは、対物レンズ22のワーキングディスタンスとも呼ばれる既定値であり、光学系を用いた測定時(撮影時)における被検眼Eと光学系との間の距離に相当する。 In the case of auto-alignment, the main control unit 211 controls the moving mechanism 150 to relatively move the optical system and the eye E so that the displacement of the eye E with respect to the optical system is canceled. In some embodiments, the main control unit 211 sends a control signal so that the optical axis of the optical system substantially coincides with the axis of the eye E to be examined, and the distance of the optical system to the eye E to be examined becomes a predetermined working distance. By outputting this to the moving mechanism 150, the moving mechanism 150 is controlled to relatively move the optical system and the eye E to be examined. Here, the working distance is a default value also called the working distance of the objective lens 22, and corresponds to the distance between the eye E to be examined and the optical system at the time of measurement using the optical system (during photographing).

主制御部211は、眼底カメラユニット2等を制御することにより眼底撮影を制御する。また、主制御部211は、眼底カメラユニット2及びOCTユニット100等を制御することによりOCT計測を制御する。主制御部211は、OCT計測を行う前に複数の予備的な動作を実行可能である。予備的な動作としては、アライメント、フォーカス粗調整、光路長差調整、偏光調整、フォーカス微調整などがある。複数の予備的な動作は、所定の順序で実行される。いくつかの実施形態では、複数の予備的な動作は、上記の順序で実行される。 The main control unit 211 controls fundus photography by controlling the fundus camera unit 2 and the like. The main control unit 211 also controls OCT measurement by controlling the fundus camera unit 2, the OCT unit 100, and the like. The main control unit 211 can execute a plurality of preliminary operations before performing OCT measurement. Preliminary operations include alignment, coarse focus adjustment, optical path length difference adjustment, polarization adjustment, and fine focus adjustment. The plurality of preliminary operations are performed in a predetermined order. In some embodiments, the preliminary operations are performed in the order described above.

なお、予備的な動作の種別や順序はこれに限定されるものではなく、任意である。例えば、被検眼Eが小瞳孔眼であるか否か判定するための予備動作(小瞳孔判定)を予備的な動作に加えることができる。小瞳孔判定は、例えば、フォーカス粗調整と光路長差調整との間に実行される。いくつかの実施形態では、小瞳孔判定は、以下の一連の処理を含む:被検眼Eの正面画像(前眼部像)の取得する処理;瞳孔に相当する画像領域を特定する処理;特定された瞳孔領域のサイズ(径、周長など)を求める処理;求められたサイズに基づき小瞳孔眼か否か判定する処理(閾値処理);小瞳孔眼であると判定された場合に絞り19を制御する処理。いくつかの実施形態では、瞳孔サイズを求めるために瞳孔領域を円近似または楕円近似する処理を更に含む。 Note that the type and order of the preliminary operations are not limited to these and are arbitrary. For example, a preliminary operation for determining whether or not the eye E to be examined has a small pupil (small pupil determination) can be added to the preliminary operation. The small pupil determination is performed, for example, between coarse focus adjustment and optical path length difference adjustment. In some embodiments, the small pupil determination includes the following series of processes: obtaining a frontal image (anterior segment image) of the eye E to be examined; specifying an image region corresponding to the pupil; Process for determining the size of the pupil area (diameter, circumference, etc.); Process for determining whether the eye has a small pupil based on the determined size (threshold processing); If it is determined that the eye has a small pupil, the aperture 19 is Process to control. Some embodiments further include a process of approximating the pupil area to a circle or an ellipse to determine the pupil size.

フォーカス粗調整は、前述のスプリット指標を用いたフォーカス調整である。なお、あらかじめ取得された眼屈折力と撮影合焦レンズ31の位置とを関連付けた情報と、被検眼Eの屈折力の測定値とに基づいて撮影合焦レンズ31の位置を決定することにより、フォーカス粗調整を行うこともできる。 The coarse focus adjustment is focus adjustment using the aforementioned split index. Note that by determining the position of the photographing focusing lens 31 based on information associating the eye refractive power and the position of the photographing focusing lens 31 acquired in advance and the measured value of the refractive power of the eye E, You can also make rough focus adjustments.

一方、フォーカス微調整は、OCT計測の干渉感度に基づいて行われる。例えば、被検眼EのOCT計測を行って干渉信号を取得して干渉強度(干渉感度)をモニタすることにより、干渉強度が最大となるようなOCT合焦レンズ43の位置を求め、その位置にOCT合焦レンズ43を移動させることにより、フォーカス微調整を実行することができる。 On the other hand, focus fine adjustment is performed based on the interference sensitivity of OCT measurement. For example, the position of the OCT focusing lens 43 at which the interference intensity is maximized is determined by performing OCT measurement of the eye E to obtain an interference signal and monitoring the interference intensity (interference sensitivity). Fine focus adjustment can be performed by moving the OCT focusing lens 43.

光路長差調整においては、被検眼Eの対象部位がOCT画像のフレーム内における所定のz位置に描出されるように制御される。この制御は、光路長変更部41及び参照駆動部114Aの少なくとも一方に対して行われる。それにより、測定光路と参照光路との間の光路長差が調整される。光路長差調整の基準となる対象部位としては、OCT画像において特徴的な輝度を呈する部位(或いは、反射強度プロファイルにおいて特徴的な反射強度を呈する部位)があらかじめ設定される。具体例として、眼底のOCT計測においては網膜色素上皮層を基準として設定することができ、前眼部のOCT計測においては角膜表面を基準として設定することができる。このように好適な光路長差を探索する自動処理はオートZと呼ばれる。 In the optical path length difference adjustment, control is performed so that the target region of the eye E to be examined is depicted at a predetermined z position within the frame of the OCT image. This control is performed on at least one of the optical path length changing section 41 and the reference driving section 114A. Thereby, the optical path length difference between the measurement optical path and the reference optical path is adjusted. A region exhibiting a characteristic brightness in an OCT image (or a region exhibiting a characteristic reflection intensity in a reflection intensity profile) is set in advance as a target region serving as a reference for optical path length difference adjustment. As a specific example, in OCT measurement of the fundus, the retinal pigment epithelial layer can be set as a reference, and in OCT measurement of the anterior segment, the corneal surface can be set as a reference. This automatic process of searching for a suitable optical path length difference is called auto-Z.

光路長差調整はオートZには限定されない。例えば、オートZにより達成された好適な画像描出位置を維持する自動処理を実行することが可能である。このような処理はZロックと呼ばれる。Zロックにおいては、例えば、光路長差調整の基準となる対象部位がフレーム内の所定のz位置に描出されている状態が維持されるように光路長変更部41及び参照駆動部114Aの少なくとも一方の制御が行われる。 Optical path length difference adjustment is not limited to auto-Z. For example, it is possible to perform an automatic process that maintains the preferred image rendering position achieved by auto-Z. Such processing is called Z lock. In Z-lock, for example, at least one of the optical path length changing unit 41 and the reference driving unit 114A is adjusted so that the target region serving as a reference for optical path length difference adjustment is maintained at a predetermined Z position within the frame. control is performed.

この実施形態では、Zロックの基準位置(z位置)を指定可能である。すなわち、指定された基準位置(又は当該基準位置に基づいて特定されたZロック位置)に被検眼の対象部位が描出されている状態が維持されるように光路長差調整が行われる。いくつかの実施形態では、OCT仮計測等により得られた干渉光の検出結果に基づいてZロックの基準位置が設定される。いくつかの実施形態では、干渉光の検出結果に基づいて形成されたOCT画像の解析結果に基づいてZロックの基準位置が設定される。いくつかの実施形態では、OCT画像を解析することにより特定されたアーチファクトに基づいてZロックの基準位置が設定される。なお、表示部240Aに表示されたOCT画像に対して操作部240Bを用いてZロックの基準位置が指定可能であってもよい。 In this embodiment, the Z lock reference position (z position) can be specified. That is, the optical path length difference adjustment is performed so that the state in which the target region of the eye to be examined is depicted at the designated reference position (or the Z-lock position specified based on the reference position) is maintained. In some embodiments, the Z-lock reference position is set based on the detection result of interference light obtained by OCT temporary measurement or the like. In some embodiments, the Z-lock reference position is set based on the analysis result of an OCT image formed based on the detection result of interference light. In some embodiments, the Z-lock reference position is established based on artifacts identified by analyzing OCT images. Note that the Z-lock reference position may be able to be specified with respect to the OCT image displayed on the display section 240A using the operation section 240B.

偏光調整においては、測定光LSと参照光LRとの干渉効率を最適化するために参照光LRの偏光状態が調整される。 In the polarization adjustment, the polarization state of the reference light LR is adjusted to optimize the interference efficiency between the measurement light LS and the reference light LR.

(記憶部)
記憶部212は、各種のデータを記憶する。記憶部212に記憶されるデータとしては、例えば、OCT画像の画像データ、眼底像の画像データ、被検眼情報などがある。被検眼情報は、患者IDや氏名などの被検者に関する情報や、左眼/右眼の識別情報などの被検眼に関する情報を含む。また、記憶部212には、眼科装置1を動作させるための各種プログラムやデータが記憶されている。
(Storage part)
The storage unit 212 stores various data. Examples of the data stored in the storage unit 212 include image data of an OCT image, image data of a fundus image, and eye information to be examined. The eye information to be examined includes information regarding the examinee such as a patient ID and name, and information regarding the eye to be examined such as left eye/right eye identification information. Furthermore, the storage unit 212 stores various programs and data for operating the ophthalmologic apparatus 1.

(画像形成部)
画像形成部220は、検出器125からの検出信号をDAQ130でサンプリングすることにより得られたサンプリングデータに基づいて、被検眼EのOCT画像を形成する。画像形成部220により形成されるOCT画像には、Aスキャン画像、Bスキャン画像(断層像)、Cスキャン画像などがある。この処理には、従来のスウェプトソースタイプの光コヒーレンストモグラフィと同様に、ノイズ除去(ノイズ低減)、フィルタ処理、分散補償、FFT(Fast Fourier Transform)などの処理が含まれている。他のタイプのOCT装置の場合、画像形成部220は、そのタイプに応じた公知の処理を実行する。
(Image forming section)
The image forming unit 220 forms an OCT image of the eye E based on sampling data obtained by sampling the detection signal from the detector 125 with the DAQ 130. OCT images formed by the image forming unit 220 include A-scan images, B-scan images (tomographic images), C-scan images, and the like. Similar to conventional swept source type optical coherence tomography, this processing includes processing such as noise removal (noise reduction), filter processing, dispersion compensation, and FFT (Fast Fourier Transform). In the case of other types of OCT devices, the image forming unit 220 executes known processing depending on the type.

画像形成部220は、例えば、前述の回路基板を含んで構成される。なお、この明細書では、「画像データ」と、それに基づく「画像」とを同一視することがある。 The image forming unit 220 is configured to include, for example, the above-described circuit board. Note that in this specification, "image data" and "images" based on the same may be equated.

(データ処理部)
データ処理部230は、被検眼Eの撮影やOCT計測により取得されたデータを処理する。例えば、データ処理部230は、画像形成部220により形成された画像に対して各種の画像処理や解析処理を施す。例えば、データ処理部230は、画像の輝度補正等の各種補正処理を実行する。また、データ処理部230は、眼底カメラユニット2により得られた画像(眼底像、前眼部像等)に対して各種の画像処理や解析処理を施す。
(Data processing section)
The data processing unit 230 processes data acquired by photographing the eye E to be examined and performing OCT measurement. For example, the data processing section 230 performs various image processing and analysis processing on the image formed by the image forming section 220. For example, the data processing unit 230 executes various correction processes such as image brightness correction. Further, the data processing unit 230 performs various image processing and analysis processing on the images (fundus image, anterior segment image, etc.) obtained by the fundus camera unit 2.

データ処理部230は、断層像の間の画素を補間する補間処理などの公知の画像処理を実行して、眼底Efの3次元画像の画像データを形成する。なお、3次元画像の画像データとは、3次元座標系により画素の位置が定義された画像データを意味する。3次元画像の画像データとしては、3次元的に配列されたボクセルからなる画像データがある。この画像データは、ボリュームデータ或いはボクセルデータなどと呼ばれる。ボリュームデータに基づく画像を表示させる場合、データ処理部230は、このボリュームデータに対してレンダリング処理(ボリュームレンダリングやMIP(Maximum Intensity Projection:最大値投影)など)を施して、特定の視線方向から見たときの擬似的な3次元画像の画像データを形成する。表示部240A等の表示デバイスには、この擬似的な3次元画像が表示される。 The data processing unit 230 executes known image processing such as interpolation processing for interpolating pixels between tomographic images to form image data of a three-dimensional image of the fundus Ef. Note that the image data of a three-dimensional image means image data in which pixel positions are defined by a three-dimensional coordinate system. Image data of a three-dimensional image includes image data consisting of voxels arranged three-dimensionally. This image data is called volume data or voxel data. When displaying an image based on volume data, the data processing unit 230 performs rendering processing (volume rendering, MIP (Maximum Intensity Projection), etc.) on this volume data so that the image can be viewed from a specific viewing direction. image data of a pseudo three-dimensional image is created. This pseudo three-dimensional image is displayed on a display device such as the display section 240A.

また、3次元画像の画像データとして、複数の断層像のスタックデータを形成することも可能である。スタックデータは、複数のスキャンラインに沿って得られた複数の断層像を、スキャンラインの位置関係に基づいて3次元的に配列させることで得られる画像データである。すなわち、スタックデータは、元々個別の2次元座標系により定義されていた複数の断層像を、1つの3次元座標系により表現する(つまり1つの3次元空間に埋め込む)ことにより得られる画像データである。 It is also possible to form stack data of a plurality of tomographic images as image data of a three-dimensional image. Stack data is image data obtained by three-dimensionally arranging a plurality of tomographic images obtained along a plurality of scan lines based on the positional relationship of the scan lines. In other words, stack data is image data obtained by expressing multiple tomographic images, which were originally defined by individual two-dimensional coordinate systems, using one three-dimensional coordinate system (that is, embedding them in one three-dimensional space). be.

データ処理部230は、取得された3次元データセット(ボリュームデータ、スタックデータ等)に各種のレンダリングを施すことで、任意断面におけるBモード画像(縦断面像、軸方向断面像)、任意断面におけるCモード画像(横断面像、水平断面像)、プロジェクション画像、シャドウグラムなどを形成することができる。Bモード画像やCモード画像のような任意断面の画像は、指定された断面上の画素(ピクセル、ボクセル)を3次元データセットから選択することにより形成される。プロジェクション画像は、3次元データセットを所定方向(Z方向、深さ方向、軸方向)に投影することによって形成される。シャドウグラムは、3次元データセットの一部(たとえば特定層に相当する部分データ)を所定方向に投影することによって形成される。Cモード画像、プロジェクション画像、シャドウグラムのような、被検眼の正面側を視点とする画像を正面画像(en-face画像)と呼ぶ。いくつかの実施形態では、画像形成部220が被検眼Eの正面画像を形成する。 The data processing unit 230 performs various types of rendering on the acquired three-dimensional data set (volume data, stack data, etc.) to create a B-mode image (longitudinal image, axial cross-sectional image) in an arbitrary cross section, It is possible to form C-mode images (cross-sectional images, horizontal sectional images), projection images, shadowgrams, and the like. An image of an arbitrary cross section, such as a B-mode image or a C-mode image, is formed by selecting pixels (pixels, voxels) on a specified cross-section from a three-dimensional data set. A projection image is formed by projecting a three-dimensional data set in a predetermined direction (Z direction, depth direction, axial direction). A shadowgram is formed by projecting a part of a three-dimensional data set (for example, partial data corresponding to a specific layer) in a predetermined direction. An image, such as a C-mode image, a projection image, or a shadowgram, whose viewpoint is the front side of the subject's eye is called an en-face image. In some embodiments, the image forming unit 220 forms a frontal image of the eye E to be examined.

データ処理部230は、OCTにより時系列に収集されたデータ(例えば、Bスキャン画像データ)に基づいて、網膜血管や脈絡膜血管が強調されたBモード画像や正面画像(血管強調画像、アンギオグラム)を構築することができる。例えば、被検眼Eの略同一部位を反復的にスキャンすることにより、時系列のOCTデータを収集することができる。 The data processing unit 230 generates a B-mode image or a frontal image (vessel-enhanced image, angiogram) in which retinal blood vessels and choroidal blood vessels are emphasized based on data collected in time series by OCT (for example, B-scan image data). can be constructed. For example, time-series OCT data can be collected by repeatedly scanning substantially the same region of the eye E to be examined.

データ処理部230は、部位特定部231と、アーチファクト特定部232と、Zロック位置取得部233と、光路長差変更量取得部234とを含む。 The data processing section 230 includes a region specifying section 231 , an artifact specifying section 232 , a Z lock position obtaining section 233 , and an optical path length difference change amount obtaining section 234 .

部位特定部231は、OCTユニット100により得られた干渉光の検出結果を解析することにより被検眼Eの所定の部位を特定し、特定された部位のz位置(深さ位置)を特定する。この実施形態では、部位特定部231は、干渉光の検出結果に基づいて画像形成部220において形成されたOCT画像を解析して、所定の部位のz位置を特定する。所定の部位として、被検眼Eにおいて干渉強度が高い部位が望ましい。いくつかの実施形態では、所定の部位は、眼底Efにおける網膜色素上皮層である。いくつかの実施形態では、所定の部位は、前眼部における角膜前面である。 The site specifying unit 231 specifies a predetermined site of the eye E by analyzing the detection result of the interference light obtained by the OCT unit 100, and specifies the z position (depth position) of the specified site. In this embodiment, the region identifying section 231 analyzes the OCT image formed by the image forming section 220 based on the detection result of interference light, and identifies the z position of a predetermined region. As the predetermined region, a region in the eye E to be examined where the interference intensity is high is desirable. In some embodiments, the predetermined site is the retinal pigment epithelial layer in the fundus Ef. In some embodiments, the predetermined site is the anterior surface of the cornea in the anterior segment of the eye.

アーチファクト特定部232は、OCTユニット100により得られた干渉光の検出結果を解析することによりアーチファクトを特定し、アーチファクトの描出位置に基づいてZロックの基準位置を求める。この実施形態では、アーチファクト特定部232は、干渉光の検出結果に基づいて形成されたOCT画像を解析してアーチファクトを特定し、Zロックの基準位置を求める。いくつかの実施形態では、複数のBスキャンにより得られたスキャン結果に基づいてスキャン範囲に対応した被検眼Eの正面画像(プロジェクション画像等)が形成される。アーチファクト特定部232は、形成された被検眼Eの正面画像に基づいてアーチファクトを特定し、特定されたアーチファクトの描出位置に基づいてZロックの基準位置を求める。アーチファクト特定部232は、正面画像に描出されたOCT画像(Bスキャン画像)における所定の部位(網膜、網膜色素上皮層等)の折り返しに起因した折り返しアーチファクトを特定する。いくつかの実施形態では、所定の部位は、部位特定部231により特定される。 The artifact identification unit 232 identifies an artifact by analyzing the detection result of the interference light obtained by the OCT unit 100, and determines a reference position for Z lock based on the rendered position of the artifact. In this embodiment, the artifact identifying unit 232 analyzes an OCT image formed based on the detection result of interference light, identifies artifacts, and determines a Z-lock reference position. In some embodiments, a front image (projection image, etc.) of the eye E to be examined corresponding to the scan range is formed based on the scan results obtained by a plurality of B scans. The artifact identifying unit 232 identifies an artifact based on the formed frontal image of the eye E, and determines a reference position for Z lock based on the rendered position of the identified artifact. The artifact identification unit 232 identifies an aliasing artifact caused by aliasing of a predetermined portion (retina, retinal pigment epithelial layer, etc.) in an OCT image (B scan image) depicted in a frontal image. In some embodiments, the predetermined region is specified by the region identification unit 231.

図5に、実施形態に係るアーチファクト特定部232の動作説明図を示す。図5は、所定のスキャンエリア内で複数のBスキャンB1、B2、B3、・・・が実行されたときの折り返しに起因したアーチファクトを模式的に表したものである。 FIG. 5 shows an explanatory diagram of the operation of the artifact identification unit 232 according to the embodiment. FIG. 5 schematically shows artifacts caused by aliasing when a plurality of B scans B1, B2, B3, . . . are executed within a predetermined scan area.

Zロック位置が好適でない場合、BスキャンB1、B2、B3、・・・により得られたスキャン結果に基づいて画像形成部220により形成されたBスキャン画像では、網膜等の所定の部位が折り返して表示される。この場合、Zロック位置(又はZロックの基準位置)を変更することで、折り返しの発生しない画像を取得することができる。 If the Z-lock position is not suitable, the B-scan image formed by the image forming unit 220 based on the scan results obtained by B-scans B1, B2, B3, . Is displayed. In this case, by changing the Z lock position (or Z lock reference position), it is possible to obtain an image without folding.

データ処理部230は、各Bスキャン画像の上端における折り返し位置P1、P2、P3、・・・の少なくとも1つの深さ位置を含む深さ方向のプロジェクション画像等の正面画像FI0を、複数のBスキャンB1、B2、B3、・・・により得られたスキャン結果に基づいて形成する。正面画像FI0の周辺領域には、各Bスキャンにおける折り返し位置の軌跡に対応した折り返しアーチファクトが描出される。周辺領域には、右上領域、右領域、右下領域、下領域、左下領域、左領域、左上領域、上領域などがある。アーチファクト特定部232は、正面画像FI0の左端又は右端を基準に、正面画像FI0の上端又は下端におけるアーチファクトの折り返し位置までの距離LLに基づいてZロックの基準位置を特定する。アーチファクト特定部232は、正面画像等の輝度情報に基づいてアーチファクトの折り返し位置を特定することが可能である。いくつかの実施形態では、距離LLに対応してZロックの基準位置が関連付けられた制御情報が、例えばアーチファクト特定部232又は記憶部212にあらかじめ記憶される。アーチファクト特定部232は、当該制御情報を参照することによりZロックの基準位置を求める。 The data processing unit 230 converts the front image FI0, such as a projection image in the depth direction, including at least one depth position of folding positions P1, P2, P3, . . . at the upper end of each B-scan image, into multiple B-scan It is formed based on the scan results obtained by B1, B2, B3, . A folding artifact corresponding to the locus of the folding position in each B-scan is depicted in the peripheral area of the front image FI0. The peripheral areas include an upper right area, a right area, a lower right area, a lower area, a lower left area, a left area, an upper left area, an upper area, and the like. The artifact specifying unit 232 specifies a Z-lock reference position based on the distance LL to the turning position of the artifact at the upper end or lower end of the front image FI0, with the left end or right end of the front image FI0 as a reference. The artifact specifying unit 232 is capable of specifying the turning position of the artifact based on brightness information such as a front image. In some embodiments, control information in which a Z-lock reference position is associated with the distance LL is stored in advance in, for example, the artifact identification unit 232 or the storage unit 212. The artifact identifying unit 232 determines the Z-lock reference position by referring to the control information.

いくつかの実施形態では、アーチファクト特定部232は、画像形成部220により形成された被検眼Eの断層像に基づいてZロックの基準位置を求める。アーチファクト特定部232は、取得された断層像に基づいて被検眼Eの網膜における所定の層領域(例えば、網膜色素上皮層)を特定し、断層像の上端から上記の特定された所定の層領域までの距離に基づいてZロック位置の基準位置を求めることができる。 In some embodiments, the artifact identification unit 232 determines the Z-lock reference position based on the tomographic image of the eye E formed by the image forming unit 220. The artifact identifying unit 232 identifies a predetermined layer region (for example, retinal pigment epithelium layer) in the retina of the eye E based on the acquired tomographic image, and extracts the specified layer region from the upper end of the tomographic image. The reference position of the Z lock position can be determined based on the distance to.

Zロック位置取得部233は、事前に設定されるスキャンエリアにおけるBスキャンに対するZロック位置(z位置)を取得(特定)する。前述のように、この実施形態では、Zロックの基準位置が指定可能である。当該スキャンエリアにおいて複数のBスキャンが行われる場合に、少なくとも1つのBスキャンに対して指定されたZロックの基準位置に基づいて他のBスキャンのZロック位置が取得される。いくつかの実施形態では、Zロック位置取得部233は、Zロックの基準位置z0が指定されたとき、他のBスキャンのいずれかに対してZロック位置(z0+Δz)及び(z0-Δz)の少なくとも1つを取得する。残りのBスキャンのZロック位置は、指定されたZロックの基準位置又はZロック位置取得部233により取得されたZロック位置に基づいて特定される。このZロック位置は、線形補間、2次以上のスプライン曲線、又は所定の関数に従って特定される。 The Z lock position acquisition unit 233 acquires (specifies) a Z lock position (z position) for B scan in a preset scan area. As described above, in this embodiment, the Z-lock reference position can be specified. When a plurality of B-scans are performed in the scan area, Z-lock positions of other B-scans are acquired based on a Z-lock reference position specified for at least one B-scan. In some embodiments, when the Z lock reference position z0 is specified, the Z lock position acquisition unit 233 determines the Z lock position (z0+Δz) and (z0−Δz) for any of the other B scans. Get at least one. The remaining B-scan Z lock positions are specified based on the designated Z lock reference position or the Z lock position acquired by the Z lock position acquisition unit 233. This Z-lock position is specified according to linear interpolation, a quadratic or higher order spline curve, or a predetermined function.

いくつかの実施形態では、Δzは固定値である。いくつかの実施形態では、Δzは、スキャン位置、スキャン範囲、被検眼Eの屈折度、被検眼Eが強度近視眼か否かを示す情報、被検眼EのOCT画像(Bスキャン画像)、及び当該Bスキャンに交差する方向のBスキャンにより得られた被検眼EのBスキャン画像の少なくとも1つに応じて設定される。例えば、スキャン位置等に対応してΔzが関連付けられた制御情報が、例えばZロック位置取得部233又は記憶部212にあらかじめ記憶される。Zロック位置取得部233は、当該制御情報を参照することによりZロック位置を取得する。 In some embodiments, Δz is a fixed value. In some embodiments, Δz includes a scan position, a scan range, a refractive power of the eye E to be examined, information indicating whether the eye E to be examined is highly myopic, an OCT image (B scan image) of the eye E to be examined, and the It is set according to at least one of the B-scan images of the eye E obtained by the B-scan in the direction intersecting the B-scan. For example, control information in which Δz is associated with a scan position or the like is stored in advance in, for example, the Z lock position acquisition unit 233 or the storage unit 212. The Z-lock position acquisition unit 233 acquires the Z-lock position by referring to the control information.

光路長差変更量取得部234は、オートZ又はZロックの制御を行うために、測定光路の光路長と参照光路の光路長との差の変更量を特定する。 The optical path length difference change amount acquisition unit 234 specifies the amount of change in the difference between the optical path length of the measurement optical path and the optical path length of the reference optical path in order to control auto-Z or Z-lock.

オートZを行うとき、眼科装置1は、光学系を制御して被検眼E(例えば、眼底Ef)のOCT計測を実行する。このOCT計測においては、例えば、被検眼Eが所定の周波数で反復的にスキャンされる。すなわち、固視標が提示されている被検眼Eに対し、同じスキャンパターンでのOCT計測が繰り返し実行される。いくつかの実施形態では、被検眼Eの実質的に同じ断面がスキャンされる。光路長差変更量取得部234は、このOCT計測により繰り返し取得される干渉光LCの検出結果(反射強度プロファイル、OCT画像など)を解析することで、当該検出結果に基づく像(眼底Efの像)をフレームの特定位置に配置させるための光路長差の変更量を取得する。 When performing auto-Z, the ophthalmological apparatus 1 controls the optical system to perform OCT measurement of the eye E (for example, the fundus Ef). In this OCT measurement, for example, the eye E to be examined is repeatedly scanned at a predetermined frequency. That is, OCT measurement using the same scan pattern is repeatedly performed on the eye E to be examined to which the fixation target is presented. In some embodiments, substantially the same cross section of the eye E to be examined is scanned. The optical path length difference change amount acquisition unit 234 analyzes the detection results (reflection intensity profile, OCT image, etc.) of the interference light LC repeatedly acquired by this OCT measurement, and generates an image (image of the fundus Ef) based on the detection results. ) to a specific position in the frame.

いくつかの実施形態では、光路長差変更量取得部234は、部位特定部231により特定された所定の部位のz位置とZロック位置との差分を求め、求められた差分に対応した光路長差の変更量を取得する。 In some embodiments, the optical path length difference change amount acquisition unit 234 calculates the difference between the Z position of the predetermined part specified by the part identification unit 231 and the Z lock position, and calculates the optical path length corresponding to the calculated difference. Get the difference change amount.

なお、光路長差変更量取得部234により取得される情報は、光路長差(光路長)の変更量そのものには限定されない。例えば、光路長変更部41又は参照駆動部114Aの制御内容(送信パルス数など)や、この変更量を取得する処理の途中で得られる情報(フレーム内における画像のz方向の位置のずれ量など)のように、光路長差の変更量と実質的に同値な情報であってよい。 Note that the information acquired by the optical path length difference change amount acquisition unit 234 is not limited to the amount of change in the optical path length difference (optical path length) itself. For example, the content of control of the optical path length changing unit 41 or the reference drive unit 114A (such as the number of transmitted pulses), and the information obtained during the process of acquiring the amount of change (such as the amount of shift in the position of the image in the z direction within the frame, etc.) ) may be information that is substantially equivalent to the amount of change in the optical path length difference.

いくつかの実施形態では、Zロック位置に対する所定の部位のz位置との差分に対応して光路長差の変更量(又は当該変更量に対応した制御情報)があらかじめ関連付けられた制御情報が光路長差変更量取得部234(又は記憶部212)に記憶されている。光路長差変更量取得部234は、制御情報を参照することにより、変更すべき光路長差の変更量を取得する。 In some embodiments, control information is associated in advance with the amount of change in optical path length difference (or control information corresponding to the amount of change) corresponding to the difference between the Z position of a predetermined portion with respect to the Z lock position. It is stored in the length difference change amount acquisition unit 234 (or storage unit 212). The optical path length difference change amount obtaining unit 234 obtains the change amount of the optical path length difference to be changed by referring to the control information.

主制御部211は、光路長差変更量取得部234により取得された変更量に基づいて光路長変更部41及び参照駆動部114Aの少なくとも一方を制御することでオートZを実行する。このようなオートZの制御については、特開2016-041221号公報と同様であるため、詳細な説明を省略する。 The main control unit 211 executes auto-Z by controlling at least one of the optical path length change unit 41 and the reference drive unit 114A based on the change amount acquired by the optical path length difference change amount acquisition unit 234. Such auto-Z control is the same as that in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2016-041221, so a detailed explanation will be omitted.

Zロックにおいても、オートZの場合と同様に、被検眼E(例えば、眼底Ef)の断面が所定の周波数で反復的にスキャンされる。いくつかの実施形態では、被検眼Eの実質的に同じ断面がスキャンされる。さらに、光路長差変更量取得部234は、このOCT計測により繰り返し取得される干渉光LCの検出結果を解析することで、Zロック位置に所定の部位の像を配置させるための光路長差の変更量を取得する。 In Z-lock, as in the case of auto-Z, a cross-section of the eye E (for example, fundus Ef) is repeatedly scanned at a predetermined frequency. In some embodiments, substantially the same cross section of the eye E to be examined is scanned. Furthermore, the optical path length difference change amount acquisition unit 234 analyzes the detection results of the interference light LC repeatedly acquired by this OCT measurement, thereby determining the optical path length difference for placing the image of a predetermined part at the Z lock position. Get the amount of change.

いくつかの実施形態では、光路長差変更量取得部234は、直前に行われたスキャンに対して設定されたZロック位置と当該スキャンに設定されたZロック位置との差分を求め、求められた当該差分に対応した光路長差の変更量を取得する。いくつかの実施形態では、光路長差変更量取得部234は、部位特定部231により特定された所定の部位のz位置とZロック位置との差分をスキャン毎に求め、求められた差分に対応した光路長差の変更量を取得する。 In some embodiments, the optical path length difference change amount acquisition unit 234 calculates the difference between the Z lock position set for the scan performed immediately before and the Z lock position set for the scan, and The amount of change in the optical path length difference corresponding to the difference is obtained. In some embodiments, the optical path length difference change amount obtaining unit 234 obtains the difference between the Z position of the predetermined part specified by the part specifying part 231 and the Z lock position for each scan, and corresponds to the obtained difference. Obtain the amount of change in the optical path length difference.

主制御部211は、光路長差変更量取得部234により取得された変更量に基づいて光路長変更部41及び参照駆動部114Aの少なくとも一方を制御することでZロックを実行する。このようなZロックの制御については、特開2016-041221号公報と同様であるため、詳細な説明を省略する。 The main control unit 211 executes Z lock by controlling at least one of the optical path length changing unit 41 and the reference drive unit 114A based on the change amount acquired by the optical path length difference change amount acquisition unit 234. Such Z-lock control is the same as that in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2016-041221, so a detailed explanation will be omitted.

以上のように機能するデータ処理部230は、例えば、前述のマイクロプロセッサ、RAM、ROM、ハードディスクドライブ、回路基板等を含んで構成される。ハードディスクドライブ等の記憶装置には、上記機能をマイクロプロセッサに実行させるコンピュータプログラムがあらかじめ格納されている。 The data processing unit 230, which functions as described above, includes, for example, the aforementioned microprocessor, RAM, ROM, hard disk drive, circuit board, and the like. A computer program that causes a microprocessor to execute the above functions is stored in advance in a storage device such as a hard disk drive.

(ユーザインターフェイス)
ユーザインターフェイス240には、表示部240Aと操作部240Bとが含まれる。表示部240Aは、前述した演算制御ユニット200の表示デバイスや表示装置3を含んで構成される。操作部240Bは、前述した演算制御ユニット200の操作デバイスを含んで構成される。操作部240Bには、眼科装置1の筐体や外部に設けられた各種のボタンやキーが含まれていてもよい。例えば眼底カメラユニット2が従来の眼底カメラと同様の筺体を有する場合、操作部240Bは、この筺体に設けられたジョイスティックや操作パネル等を含んでいてもよい。また、表示部240Aは、眼底カメラユニット2の筺体に設けられたタッチパネルなどの各種表示デバイスを含んでいてもよい。
(user interface)
User interface 240 includes a display section 240A and an operation section 240B. The display section 240A includes the display device of the arithmetic and control unit 200 and the display device 3 described above. The operation section 240B is configured to include the operation device of the arithmetic and control unit 200 described above. The operation unit 240B may include various buttons and keys provided on the housing or outside of the ophthalmological apparatus 1. For example, when the fundus camera unit 2 has a housing similar to a conventional fundus camera, the operation section 240B may include a joystick, an operation panel, etc. provided in this housing. Furthermore, the display section 240A may include various display devices such as a touch panel provided on the housing of the fundus camera unit 2.

なお、表示部240Aと操作部240Bは、それぞれ個別のデバイスとして構成される必要はない。例えばタッチパネルのように、表示機能と操作機能とが一体化されたデバイスを用いることも可能である。その場合、操作部240Bは、このタッチパネルとコンピュータプログラムとを含んで構成される。操作部240Bに対する操作内容は、電気信号として制御部210に入力される。また、表示部240Aに表示されたグラフィカルユーザインターフェイス(GUI)と、操作部240Bとを用いて、操作や情報入力を行うようにしてもよい。 Note that the display section 240A and the operation section 240B do not need to be configured as separate devices. For example, it is also possible to use a device such as a touch panel that has a display function and an operation function integrated. In that case, the operation unit 240B is configured to include this touch panel and a computer program. The content of the operation on the operation unit 240B is input to the control unit 210 as an electrical signal. Further, operations and information input may be performed using a graphical user interface (GUI) displayed on the display section 240A and the operation section 240B.

〔測定光のスキャン及びOCT画像について〕
ここで、測定光LSのスキャンおよびOCT画像について説明しておく。
[About measurement light scan and OCT image]
Here, the scan of the measurement light LS and the OCT image will be explained.

眼科装置1による測定光LSのスキャン態様としては、例えば、水平スキャン、垂直スキャン、十字スキャン、放射スキャン、円スキャン、同心円スキャン、螺旋(渦巻)スキャンなどがある。これらのスキャン態様は、被検眼Eの観察部位、解析対象(網膜厚など)、スキャンに要する時間、スキャンの精密さなどを考慮して適宜に選択的に使用される。 Examples of scanning modes of the measurement light LS by the ophthalmologic apparatus 1 include horizontal scan, vertical scan, cross scan, radial scan, circle scan, concentric circle scan, and spiral (spiral) scan. These scanning modes are selectively used as appropriate, taking into account the observation site of the eye E, the target of analysis (retinal thickness, etc.), the time required for scanning, the precision of scanning, and the like.

水平スキャンは、スキャン部位を測定光LSで水平方向(x方向)にスキャンさせるものである。水平スキャンには、垂直方向(y方向)に配列された複数の水平方向に延びるスキャンラインに沿って測定光LSでスキャンさせる態様も含まれる。この態様においては、スキャンラインの間隔を任意に設定することが可能である。また、隣接するスキャンラインの間隔を十分に狭くすることにより、前述の3次元画像を形成することができる(3次元スキャン)。垂直スキャンについても同様である。 In the horizontal scan, the scanned region is scanned in the horizontal direction (x direction) with the measurement light LS. The horizontal scan also includes a mode in which the measurement light LS is scanned along a plurality of horizontally extending scan lines arranged in the vertical direction (y direction). In this aspect, it is possible to arbitrarily set the interval between scan lines. Further, by sufficiently narrowing the interval between adjacent scan lines, the aforementioned three-dimensional image can be formed (three-dimensional scan). The same applies to vertical scanning.

十字スキャンは、互いに直交する2本の直線状の軌跡(直線軌跡)からなる十字型の軌跡に沿って測定光LSでスキャン部位をスキャンさせるものである。放射スキャンは、所定の角度を介して配列された複数の直線軌跡からなる放射状の軌跡に沿って測定光LSでスキャン部位をスキャンさせるものである。なお、十字スキャンは放射スキャンの一例である。 In the cross scan, the measurement light LS scans the scanned region along a cross-shaped locus made up of two linear trajectories (straight line trajectories) that are orthogonal to each other. In the radiation scan, a scan site is scanned with the measurement light LS along a radial trajectory consisting of a plurality of linear trajectories arranged at a predetermined angle. Note that the cross scan is an example of a radiation scan.

円スキャンは、円形状の軌跡に沿ってスキャン部位を測定光LSでスキャンさるものである。同心円スキャンは、所定の中心位置の周りに同心円状に配列された複数の円形状の軌跡に沿ってスキャン部位を測定光LSでスキャンさせるものである。円スキャンは同心円スキャンの一例である。螺旋スキャンは、回転半径を次第に小さく(または大きく)させながら螺旋状(渦巻状)の軌跡に沿ってスキャン部位を測定光LSでスキャンさせるものである。 In the circular scan, a scanning region is scanned with the measurement light LS along a circular trajectory. In the concentric scan, a scanning region is scanned with the measurement light LS along a plurality of circular trajectories arranged concentrically around a predetermined center position. A circular scan is an example of a concentric scan. In the helical scan, the scanning region is scanned with the measurement light LS along a spiral (spiral) trajectory while gradually decreasing (or increasing) the radius of rotation.

光スキャナ42は、互いに直交する方向にスキャン部位を測定光LSでスキャンするように構成されているので、測定光LSでx方向およびy方向にそれぞれ独立にスキャンできる。さらに、光スキャナ42に含まれる2つのガルバノミラーの向きを同時に制御することで、xy面上の任意の軌跡に沿って測定光LSでスキャンすることが可能である。それにより、上記のような各種のスキャン態様を実現できる。 The optical scanner 42 is configured to scan the scanned region with the measurement light LS in directions orthogonal to each other, so it can scan independently in the x direction and the y direction with the measurement light LS. Furthermore, by simultaneously controlling the orientations of the two galvanometer mirrors included in the optical scanner 42, it is possible to scan with the measurement light LS along an arbitrary trajectory on the xy plane. Thereby, various scanning modes as described above can be realized.

上記のような態様で測定光LSでスキャンすることにより、スキャンライン(走査軌跡)に沿う方向と眼底深度方向(z方向)とにより張られる面における断層像を取得することができる。また、特にスキャンラインの間隔が狭い場合には、前述の3次元画像を取得することができる。 By scanning with the measurement light LS in the manner described above, it is possible to obtain a tomographic image in a plane defined by the direction along the scan line (scanning locus) and the fundus depth direction (z direction). Moreover, especially when the interval between scan lines is narrow, the above-mentioned three-dimensional image can be obtained.

上記のような測定光LSの走査対象となる被検眼E上の領域、つまりOCT計測の対象となる被検眼E上の領域をスキャンエリアと呼ぶ。3次元スキャンにおけるスキャンエリアは、複数の水平スキャンが配列された矩形の領域である。また、同心円スキャンにおけるスキャンエリアは、最大径の円スキャンの軌跡により囲まれる円盤状の領域である。また、放射スキャンにおけるスキャンエリアは、各スキャンラインの両端位置を結んだ円盤状(或いは多角形状)の領域である。 The area on the subject's eye E that is the scanning target of the measurement light LS as described above, that is, the area on the subject's eye E that is the subject of OCT measurement is called a scan area. A scan area in three-dimensional scanning is a rectangular area in which a plurality of horizontal scans are arranged. Further, the scan area in the concentric scan is a disk-shaped area surrounded by the locus of the circular scan with the largest diameter. Further, the scan area in the radiation scan is a disk-shaped (or polygonal) area connecting both end positions of each scan line.

〔Zロック位置の指定について〕
例えば、主制御部211は、当該スキャン中の画像を表示部240Aにライブ表示させる。
[About specifying the Z lock position]
For example, the main control unit 211 causes the display unit 240A to display the image being scanned live.

図6に、表示部240Aに表示される画像の一例を示す。図6は、表示部240Aの表示画面における表示領域DRに設けられた断層像表示領域DR1と正面画像表示領域DR2とを模式的に表したものである。 FIG. 6 shows an example of an image displayed on the display section 240A. FIG. 6 schematically represents a tomographic image display area DR1 and a front image display area DR2 provided in the display area DR on the display screen of the display unit 240A.

例えば、主制御部211は、眼底カメラユニット2を制御することにより取得された眼底像を表示部240Aに表示させる。ユーザは、操作部240Bに対して所定の操作を行うことにより、表示部240Aに表示された眼底像における所望の位置にスキャンエリアを指定することが可能である。主制御部211は、OCTユニット100等を制御することにより、指定されたスキャンエリアに対してOCT計測を実行する。主制御部211は、得られたスキャン結果(干渉光の検出結果)に基づいてBスキャン画像を画像形成部220に形成させると共に、当該スキャン結果を用いてプロジェクション画像をデータ処理部230に形成させる。主制御部211は、形成されたBスキャン画像を断層像表示領域DR1にライブ表示させる。また、主制御部211は、形成されたプロジェクション画像を正面画像表示領域DR2に表示させる。 For example, the main control unit 211 controls the fundus camera unit 2 to display the acquired fundus image on the display unit 240A. The user can specify a scan area at a desired position in the fundus image displayed on the display section 240A by performing a predetermined operation on the operation section 240B. The main control unit 211 executes OCT measurement on the designated scan area by controlling the OCT unit 100 and the like. The main control unit 211 causes the image forming unit 220 to form a B-scan image based on the obtained scan result (detection result of interference light), and causes the data processing unit 230 to form a projection image using the scan result. . The main control unit 211 causes the formed B-scan image to be displayed live in the tomographic image display area DR1. The main control unit 211 also causes the formed projection image to be displayed in the front image display area DR2.

いくつかの実施形態では、正面画像表示領域DR2に表示された眼底像又はプロジェクション画像に対し、操作部240Bに対する操作によりスキャンエリアが指定される。 In some embodiments, a scan area is specified by operating the operation unit 240B on the fundus image or projection image displayed in the front image display area DR2.

以下、アーチファクト特定部232により指定されるZロックの基準位置と、Zロック位置取得部233により指定されるZロック位置について説明する。 The Z-lock reference position specified by the artifact identification unit 232 and the Z-lock position specified by the Z-lock position acquisition unit 233 will be described below.

(Zロック位置の第1指定例)
図7に、実施形態に係るZロック位置の指定例を説明するための概略図を示す。
(First specification example of Z lock position)
FIG. 7 shows a schematic diagram for explaining an example of specifying the Z lock position according to the embodiment.

例えば、被検眼Eの眼底Efの正面画像(眼底像、又はプロジェクション画像)FIに対してスキャンエリアSAと、スキャンエリアSA内で行われる複数のBスキャンB1~BN(Nは2以上の整数)のスキャン位置とが設定される。各Bスキャンは、ラインスキャンであるものとする。主制御部211は、設定されたスキャンエリアSAに対応した部位に対して複数のBスキャンB1~BN(Nは2以上の整数)を順次に実行する。説明の便宜上、BスキャンB1からBスキャンBNの順序で実行されるものとする。アーチファクト特定部232は、OCT仮計測等により得られた正面画像に基づいて、複数のBスキャンB1~BNの1つであるBスキャンBj(1≦j≦N、jは整数)に対してZロックの基準位置zjを指定する。いくつかの実施形態では、アーチファクト特定部232は、事前のOCT仮計測等により得られた断層像に基づいてZロックの基準位置zjを指定する。 For example, for a front image (fundus image or projection image) FI of the fundus Ef of the eye E to be examined, there is a scan area SA and a plurality of B scans B1 to BN (N is an integer of 2 or more) performed within the scan area SA. The scan position is set. It is assumed that each B-scan is a line scan. The main control unit 211 sequentially executes a plurality of B scans B1 to BN (N is an integer greater than or equal to 2) on a region corresponding to the set scan area SA. For convenience of explanation, it is assumed that the B scans are executed in the order from B scan B1 to B scan BN. The artifact identification unit 232 determines Z for a B scan Bj (1≦j≦N, j is an integer), which is one of the plurality of B scans B1 to BN, based on the frontal image obtained by OCT provisional measurement or the like. Specify the lock reference position zz. In some embodiments, the artifact identifying unit 232 specifies the Z-lock reference position zz based on a tomographic image obtained by preliminary OCT temporary measurement or the like.

主制御部211は、指定されたZロックの基準位置zjに基づいて、他のBスキャンB1~B(j-1)、B(j+1)~BNに対してZロック位置zjを設定する。光路長差変更量取得部234は、指定されたZロックの位置zjに所定の部位の像を配置させるための光路長差の変更量を取得する。主制御部211は、各Bスキャンにおいて、取得された変更量に基づいて光路長変更部41及び参照駆動部114Aの少なくとも一方を制御することで複数のBスキャンB1~BNを順次に実行する。 The main control unit 211 sets Z-lock positions zj for other B-scans B1 to B(j-1) and B(j+1) to BN based on the specified Z-lock reference position zz. The optical path length difference change amount acquisition unit 234 acquires the amount of change in the optical path length difference for arranging the image of a predetermined part at the designated Z-lock position zz. In each B-scan, the main control unit 211 sequentially executes a plurality of B-scans B1 to BN by controlling at least one of the optical path length changing unit 41 and the reference drive unit 114A based on the obtained change amount.

(Zロック位置の第2指定例)
図8に、実施形態に係るZロック位置の指定例を説明するための概略図を示す。
(Second designation example of Z lock position)
FIG. 8 shows a schematic diagram for explaining an example of specifying the Z lock position according to the embodiment.

本指定例においても、第1指定例と同様に、アーチファクト特定部232は、複数のBスキャンB1~BNの1つであるBスキャンBjに対してZロックの基準位置zjを指定する。 In this designation example, as in the first designation example, the artifact identifying unit 232 designates the Z-lock reference position zz for B-scan Bj, which is one of the plurality of B-scans B1 to BN.

Zロック位置取得部233は、指定されたZロックの基準位置zjに基づいて、BスキャンBi(1≦i<j、iは整数)とBスキャンk(j<k≦N、kは整数)に対するZロック位置(zj-Δz)(Δzは正の数)(又は(zj+Δz))を取得する。Zロック位置取得部233は、BスキャンBiに設定されたzロック位置(zj-Δz)、BスキャンBjに設定されたzロック位置zj、及びBスキャンBkに設定されたzロック位置(zj-Δz)に基づいて所定の補間処理(例えば、線形補間、スプライン補間)を行うことにより残りのBスキャンに対するZロック位置を取得する。ここで、残りのBスキャンは、BスキャンB1~B(i-1)、B(i+1)~B(j-1)、B(j+1)~B(k-1)、B(k+1)~BNである。 The Z-lock position acquisition unit 233 performs B-scan Bi (1≦i<j, i is an integer) and B-scan k (j<k≦N, k is an integer) based on the specified Z-lock reference position zzj. Obtain the Z lock position (zj-Δz) (Δz is a positive number) (or (zz+Δz)) for the The Z-lock position acquisition unit 233 acquires the z-lock position (zj-Δz) set for B-scan Bi, the z-lock position zj set for B-scan Bj, and the z-lock position (zj-Δz) set for B-scan Bk. Z lock positions for the remaining B scans are obtained by performing predetermined interpolation processing (for example, linear interpolation, spline interpolation) based on Δz). Here, the remaining B scans are B scans B1 to B(i-1), B(i+1) to B(j-1), B(j+1) to B(k-1), and B(k+1) to BN. It is.

すなわち、BスキャンBj(第1のBスキャン)に対してZロックの基準位置zj(第1基準位置)が設定された場合、BスキャンBi(第2のBスキャン)に対し、基準位置zjに対し深さ方向にシフトしたZロック位置zi(第2基準位置)が設定され、BスキャンBk(第3のBスキャン)に対し、基準位置zjとZロック位置ziとに基づいてZロック位置Zk(第3基準位置)が設定される。 That is, when the Z lock reference position zz (first reference position) is set for B scan Bj (first B scan), the reference position zz is set for B scan Bi (second B scan). On the other hand, a Z lock position zi (second reference position) shifted in the depth direction is set, and the Z lock position Zk is set based on the reference position zzj and the Z lock position zi with respect to the B scan Bk (third B scan). (third reference position) is set.

主制御部211は、指定されたZロックの基準位置zjと取得されたZロック位置と基づいて、他のBスキャンB1~B(i-1)、B(i+1)~B(j-1)、B(j+1)~B(k-1)、B(k+1)~BNに対してZロック位置を設定する。光路長差変更量取得部234は、Bスキャン毎に、指定されたZロックの位置に所定の部位の像を配置させるための光路長差の変更量を取得する。主制御部211は、各Bスキャンにおいて、取得された変更量に基づいて光路長変更部41及び参照駆動部114Aの少なくとも一方を制御することで複数のBスキャンB1~BNを順次に実行する。 The main control unit 211 controls other B scans B1 to B(i-1), B(i+1) to B(j-1) based on the specified Z-lock reference position zz and the acquired Z-lock position. , B(j+1) to B(k-1), and B(k+1) to BN. The optical path length difference change amount acquisition unit 234 acquires the amount of change in the optical path length difference for arranging the image of a predetermined part at the designated Z-lock position for each B-scan. In each B-scan, the main control unit 211 sequentially executes a plurality of B-scans B1 to BN by controlling at least one of the optical path length changing unit 41 and the reference drive unit 114A based on the obtained change amount.

前述のように、Δzは、固定値又は可変値である。 As mentioned above, Δz is a fixed value or a variable value.

(Zロック位置の第3指定例)
図9に、実施形態に係るZロック位置の指定例を説明するための概略図を示す。
(Third example of specifying Z lock position)
FIG. 9 shows a schematic diagram for explaining an example of specifying the Z lock position according to the embodiment.

本指定例においては、アーチファクト特定部232は、複数のBスキャンB1~BNのいずれか2つであるBスキャンBi、Bkに対して、それぞれZロックの基準位置zi、zkを指定する。 In this specification example, the artifact specifying unit 232 specifies Z-lock reference positions zi and zk for B scans Bi and Bk, which are any two of the plurality of B scans B1 to BN, respectively.

Zロック位置取得部233は、指定されたZロックの基準位置zi、zkに対して、BスキャンBjに対するZロック位置zjを取得する。Zロック位置取得部233は、BスキャンBiに設定されたzロック位置ziと、BスキャンBkに設定されたzロック位置zkとに基づいて所定の補間処理(例えば、線形補間、スプライン補間)を行うことによりBスキャンBjのZロック位置zjを取得する。同様に、Zロック位置取得部233は、BスキャンB1~B(i-1)、B(i+1)~B(j-1)、B(j+1)~B(k-1)、B(k+1)~BNに対して、それぞれZロック位置を取得する。 The Z-lock position acquisition unit 233 acquires the Z-lock position zz for the B-scan Bj with respect to the specified Z-lock reference positions zi, zk. The Z lock position acquisition unit 233 performs a predetermined interpolation process (for example, linear interpolation, spline interpolation) based on the z lock position zi set in the B scan Bi and the z lock position zk set in the B scan Bk. By doing this, the Z lock position zz of the B scan Bj is obtained. Similarly, the Z lock position acquisition unit 233 performs B scans B1 to B(i-1), B(i+1) to B(j-1), B(j+1) to B(k-1), B(k+1) ~ Acquire the Z lock position for each BN.

すなわち、BスキャンBi(第1のBスキャン)に対してZロックの基準位置zi(第1基準位置)が設定され、BスキャンBk(第2のBスキャン)に対してZロックの基準位置zk(第2基準位置)が設定される。また、BスキャンBj(第3のBスキャン)に対して、基準位置zi、zkに基づいて特定されたZロック位置zj(第3基準位置)が設定される。 That is, the Z-lock reference position zi (first reference position) is set for the B-scan Bi (first B-scan), and the Z-lock reference position zk is set for the B-scan Bk (second B-scan). (second reference position) is set. Further, a Z lock position zz (third reference position) specified based on the reference positions zi and zk is set for the B scan Bj (third B scan).

主制御部211は、指定されたZロックの基準位置zi、zkと取得されたZロック位置と基づいて、他のBスキャンB1~B(i-1)、B(i+1)~B(k-1)、B(k+1)~BNに対してZロック位置を設定する。光路長差変更量取得部234は、Bスキャン毎に、指定されたZロックの位置に所定の部位の像を配置させるための光路長差の変更量を取得する。主制御部211は、各Bスキャンにおいて、取得された変更量に基づいて光路長変更部41及び参照駆動部114Aの少なくとも一方を制御することで複数のBスキャンB1~BNを順次に実行する。 The main control unit 211 controls other B scans B1 to B(i-1), B(i+1) to B(k- 1) Set the Z lock position for B(k+1) to BN. The optical path length difference change amount acquisition unit 234 acquires the amount of change in the optical path length difference for arranging the image of a predetermined part at the designated Z-lock position for each B-scan. In each B-scan, the main control unit 211 sequentially executes a plurality of B-scans B1 to BN by controlling at least one of the optical path length changing unit 41 and the reference drive unit 114A based on the obtained change amount.

(Zロック位置の第4指定例)
図10に、実施形態に係るZロック位置の指定例を説明するための概略図を示す。
(Fourth designation example of Z lock position)
FIG. 10 shows a schematic diagram for explaining an example of specifying the Z lock position according to the embodiment.

本指定例においては、アーチファクト特定部232は、複数のBスキャンB1~BNのいずれか3つであるBスキャンBi、Bj、Bkに対して、それぞれZロックの基準位置zi、zj、zkを指定する。例えば、順次に実行される複数のBスキャンB1~BNを前期、中期、後期に分割した場合、前期に実行されるBスキャンBiに対してZロックの基準位置ziを指定し、中期に実行されるBスキャンBjに対してZロックの基準位置zjを指定し、後期に実行されるBスキャンBkに対してZロックの基準位置zkを指定する。 In this specification example, the artifact specifying unit 232 specifies Z-lock reference positions zi, zz, and zk for any three B scans Bi, Bj, and Bk of the plurality of B scans B1 to BN, respectively. do. For example, if multiple B-scans B1 to BN that are executed sequentially are divided into early, middle, and late periods, specify the Z-lock reference position zi for the B-scan Bi that is executed in the early period, and A Z-lock reference position zz is specified for the B-scan Bj to be executed, and a Z-lock reference position zk is specified for the B-scan Bk to be executed later.

いくつかの実施形態では、第2指定例において、中期に実行されるBスキャンBjに対してZロックの基準位置zjが指定されたとき、前期に実行されるBスキャンBiに対してZロックの基準位置ziとしてZロック位置(zj-Δz1)(又は(zj+Δz1))が設定され、後期に実行されるBスキャンBkに対してZロックの基準位置zkとしてZロック位置(zj-Δz2)(又は(zj+Δz2))が設定されてもよい。いくつかの実施形態では、Δz1はΔz2と等しい。Δzと同様に、Δz1、Δz2は、固定値又は可変値であってよい。 In some embodiments, in the second designation example, when the Z-lock reference position zz is specified for the B-scan Bj executed in the middle period, the Z-lock reference position zz for the B-scan Bi executed in the earlier period is specified. The Z lock position (zj - Δz1) (or (zj + Δz1)) is set as the reference position zi, and the Z lock position (zj - Δz2) (or (zz+Δz2)) may be set. In some embodiments, Δz1 is equal to Δz2. Like Δz, Δz1, Δz2 may be fixed values or variable values.

残りのBスキャンのZロック位置は、指定されたZロックの基準位置又はZロック位置取得部233により取得されたZロック位置に基づいて特定される。 The remaining B-scan Z lock positions are specified based on the designated Z lock reference position or the Z lock position acquired by the Z lock position acquisition unit 233.

すなわち、BスキャンBj(第1のBスキャン)に対してZロックの基準位置zj(第1基準位置)が設定され、BスキャンBk(第2のBスキャン)に対してZロックの基準位置zk(第2基準位置)が設定される。また、BスキャンB(j+1)~B(k-1)のいずれか(第3のBスキャン)に対して、基準位置zj、zkに基づいて特定されたZロック位置(第3基準位置)が設定される。 That is, a Z-lock reference position zj (first reference position) is set for B-scan Bj (first B-scan), and a Z-lock reference position zk is set for B-scan Bk (second B-scan). (second reference position) is set. Also, for any one of B scans B(j+1) to B(k-1) (third B scan), the Z lock position (third reference position) specified based on the reference positions zzj and zk is Set.

主制御部211は、指定されたZロックの基準位置zi、zj、zkと、取得されたZロック位置と基づいて、他のBスキャンB1~B(i-1)、B(i+1)~B(j-1)、B(j+1)~B(k-1)、B(k+1)~BNに対してZロック位置を設定する。光路長差変更量取得部234は、Bスキャン毎に、指定されたZロックの位置に所定の部位の像を配置させるための光路長差の変更量を取得する。主制御部211は、各Bスキャンにおいて、取得された変更量に基づいて光路長変更部41及び参照駆動部114Aの少なくとも一方を制御することで複数のBスキャンB1~BNを順次に実行する。 The main control unit 211 controls other B scans B1 to B(i-1) and B(i+1) to B based on the specified Z lock reference positions zi, zz, and zk and the acquired Z lock position. Set Z lock positions for (j-1), B(j+1) to B(k-1), and B(k+1) to BN. The optical path length difference change amount acquisition unit 234 acquires the amount of change in the optical path length difference for arranging the image of a predetermined part at the designated Z-lock position for each B-scan. In each B-scan, the main control unit 211 sequentially executes a plurality of B-scans B1 to BN by controlling at least one of the optical path length changing unit 41 and the reference drive unit 114A based on the obtained change amount.

(その他)
いくつかの実施形態では、上記のΔz、Δz1、Δz2は、前述のように、スキャン位置、スキャン範囲、被検眼Eの屈折度、被検眼Eが強度近視眼か否かを示す情報、被検眼EのOCT画像(Bスキャン画像)、及び当該Bスキャンに交差する方向のBスキャンにより得られた被検眼EのBスキャン画像の少なくとも1つに応じて設定される。
(others)
In some embodiments, the above Δz, Δz1, and Δz2 include the scan position, scan range, refractive power of the eye E, information indicating whether the eye E is highly myopic, and the eye E It is set according to at least one of an OCT image (B-scan image) of , and a B-scan image of the eye E obtained by a B-scan in a direction intersecting the B-scan.

実施形態に係る眼科装置1は、被検眼Eに対する装置光学系のアライメント完了後におけるスキャン中心位置に対し、スキャン中心位置が変位した1以上のスキャンエリアを設けることで、より広範囲のスキャンデータを収集することが可能である。 The ophthalmological apparatus 1 according to the embodiment collects scan data over a wider range by providing one or more scan areas in which the scan center position is displaced from the scan center position after the alignment of the apparatus optical system with respect to the eye E is completed. It is possible to do so.

図11~図13に、実施形態に係る眼科装置1により設定可能なスキャン範囲の一例を示す。 11 to 13 show examples of scan ranges that can be set by the ophthalmologic apparatus 1 according to the embodiment.

図11では、アライメント完了後のスキャン中心位置Oにより規定されるスキャンエリアSC0に対し、スキャン中心位置Oを含むようにスキャンエリアSC1~SC4が設定される。各スキャンエリアは、周辺領域が隣接するスキャンエリアの周辺領域と重複するように配置される。いくつかの実施形態では、スキャンエリアSC0~SC5のスキャンエリアのサイズは同一である。 In FIG. 11, scan areas SC1 to SC4 are set to include scan center position O with respect to scan area SC0 defined by scan center position O after alignment is completed. Each scan area is arranged so that its peripheral area overlaps with the peripheral area of an adjacent scan area. In some embodiments, the scan area sizes of scan areas SC0-SC5 are the same.

図12では、アライメント完了後のスキャン中心位置Oにより規定されるスキャンエリアSC0の周辺領域が重複するようにスキャンエリアSC1~SC4が設定される。いくつかの実施形態では、スキャンエリアSC0~SC5のスキャンエリアのサイズは同一である。 In FIG. 12, scan areas SC1 to SC4 are set so that the peripheral areas of scan area SC0 defined by scan center position O after completion of alignment overlap. In some embodiments, the scan area sizes of scan areas SC0-SC5 are the same.

図13では、図12と同様に、アライメント完了後のスキャン中心位置Oにより規定されるスキャンエリアSC0の周辺領域が重複するようにスキャンエリアSC1~SC4が設定される。なお、スキャンエリアSC3の右辺側の周辺領域は、スキャンエリアSC2、SC4の左辺側の周辺領域と重複するように配置される。スキャンエリアSC1の左辺側の周辺領域は、スキャンエリアSC2、SC4の右辺側の周辺領域と重複するように配置される。いくつかの実施形態では、スキャンエリアSC0、SC2、SC4のスキャンエリアのサイズは同一であり、スキャンエリアSC1、SC3のスキャンエリアのサイズは同一であり、スキャンエリアSC1のサイズはスキャンエリアSC0のサイズより大きい。 In FIG. 13, similarly to FIG. 12, scan areas SC1 to SC4 are set so that the peripheral areas of scan area SC0 defined by scan center position O after completion of alignment overlap. Note that the peripheral area on the right side of scan area SC3 is arranged so as to overlap the peripheral area on the left side of scan areas SC2 and SC4. The peripheral area on the left side of scan area SC1 is arranged so as to overlap the peripheral area on the right side of scan areas SC2 and SC4. In some embodiments, the size of the scan area of scan areas SC0, SC2, SC4 is the same, the size of the scan area of scan areas SC1, SC3 is the same, and the size of scan area SC1 is the size of scan area SC0. bigger.

いくつかの実施形態では、上記のΔz、Δz1、Δz2は、図11~図13に示すスキャンエリアの位置(スキャン位置、撮影位置、撮影部位)に対応してあらかじめ決められている。 In some embodiments, the above Δz, Δz1, and Δz2 are predetermined in correspondence with the scan area positions (scanning position, imaging position, imaging site) shown in FIGS. 11 to 13.

いくつかの実施形態では、スキャンエリアSC1~SC4のいずれかにおけるBスキャンに対してZロック位置を設定するためのΔz、Δz1、Δz2は、スキャンエリアSC0における所定のBスキャンのスキャン位置と当該Bスキャンのスキャン位置との距離に応じて設定される。 In some embodiments, Δz, Δz1, Δz2 for setting the Z-lock position for a B-scan in any of scan areas SC1-SC4 is the scan position of a given B-scan in scan area SC0 and the corresponding B-scan. It is set according to the distance from the scan position.

いくつかの実施形態では、スキャンエリアSC1~SC4のいずれかにおけるBスキャンに対してZロック位置を設定するためのΔz、Δz1、Δz2は、スキャンエリアSC0の代表位置(例えば、スキャン中心位置O)と当該スキャンエリアの代表位置との距離に応じて設定される。 In some embodiments, Δz, Δz1, and Δz2 for setting the Z lock position for the B scan in any of scan areas SC1 to SC4 are representative positions of scan area SC0 (for example, scan center position O) and the representative position of the scan area.

いくつかの実施形態では、スキャンエリアSC1~SC4のいずれかにおけるBスキャンに対してZロック位置を設定するためのΔz、Δz1、Δz2は、スキャンエリアSC1~SC4をスキャンするための眼科装置1の制御情報に応じて設定される。当該制御情報の例として、スキャンエリアSC1~SC4をスキャンするために固視位置を変更するためのLCD39に対する制御情報、スキャンエリアSC1~SC4をスキャンするために光スキャナ42を制御するための制御情報がある。 In some embodiments, Δz, Δz1, Δz2 for setting the Z-lock position for the B-scan in any of the scan areas SC1-SC4 are the same as those of the ophthalmological device 1 for scanning the scan areas SC1-SC4. Set according to control information. Examples of the control information include control information for the LCD 39 to change the fixation position to scan the scan areas SC1 to SC4, and control information to control the optical scanner 42 to scan the scan areas SC1 to SC4. There is.

図14に、実施形態に係る眼科装置1により設定可能なスキャン範囲の他の例を示す。 FIG. 14 shows another example of the scan range that can be set by the ophthalmologic apparatus 1 according to the embodiment.

図14では、アライメント完了後のスキャン中心位置Oにより規定されるスキャンエリアSC0に対し、スキャン中心位置Oを含むようにスキャンエリアSC1が設定される。スキャンエリアSC1のサイズは、スキャンエリアSC0のサイズより大きい。 In FIG. 14, a scan area SC1 is set to include the scan center position O with respect to a scan area SC0 defined by the scan center position O after alignment is completed. The size of scan area SC1 is larger than the size of scan area SC0.

いくつかの実施形態では、上記のΔz、Δz1、Δz2は、スキャンエリアのサイズに対応してあらかじめ決められている。 In some embodiments, the above Δz, Δz1, and Δz2 are predetermined corresponding to the size of the scan area.

いくつかの実施形態では、スキャンエリアSC1におけるBスキャンに対してZロック位置を設定するためのΔz、Δz1、Δz2は、スキャンエリアSC0のサイズ(3次元スキャン範囲)に対するスキャンエリアSC1のサイズ(3次元スキャン範囲)に応じて設定される。図13においても、同様に、スキャンエリアSC1(SC3)におけるBスキャンに対してZロック位置を設定するためのΔz、Δz1、Δz2は、スキャンエリアSC0のサイズ(3次元スキャン範囲)に対するスキャンエリアSC1(SC3)のサイズ(3次元スキャン範囲)に応じて設定される。 In some embodiments, Δz, Δz1, Δz2 for setting the Z-lock position for B-scan in scan area SC1 is the size of scan area SC1 (3-dimensional scan range) relative to the size of scan area SC0 (3-dimensional scan range). dimensional scan range). Similarly, in FIG. 13, Δz, Δz1, and Δz2 for setting the Z lock position for the B scan in the scan area SC1 (SC3) are the scan area SC1 for the size of the scan area SC0 (three-dimensional scan range). It is set according to the size (three-dimensional scan range) of (SC3).

いくつかの実施形態では、上記のΔz、Δz1、Δz2は、被検眼Eの情報に対応してあらかじめ決められている。被検眼Eの情報として、例えば、別途に被検眼Eに対して行われたレフ測定により得られたレフ測定結果(屈折度)、被検眼Eが強度近視眼であるか否かを示す情報などがある。すなわち、Zロックの基準位置z0が設定されたBスキャン以外のBスキャンに対し、被検眼Eが強度近視眼であるとき基準位置z0に対して第1シフト値だけシフトした位置にZロック位置が設定され、被検眼Eが強度近視眼ではないとき基準位置z0に対して第1シフト値より小さい第2シフト値だけシフトしたZロック位置が設定される。いくつかの実施形態では、レフ測定結果又は被検眼Eが強度近視眼であるか否かを示す情報は、被検眼情報に含まれる。 In some embodiments, the above Δz, Δz1, and Δz2 are predetermined in accordance with information about the eye E to be examined. Information on the eye E to be examined includes, for example, a reflex measurement result (refractive power) obtained by a reflex measurement separately performed on the eye E to be examined, information indicating whether the eye E to be examined is highly myopic, etc. be. That is, for B scans other than the B scan in which the Z lock reference position z0 is set, when the eye E to be examined is severely myopic, the Z lock position is set at a position shifted by the first shift value with respect to the reference position z0. When the eye E to be examined is not severely myopic, a Z lock position is set that is shifted by a second shift value smaller than the first shift value with respect to the reference position z0. In some embodiments, the reflex measurement result or information indicating whether or not the eye E to be examined is highly myopic is included in the eye information to be examined.

いくつかの実施形態では、上記のΔz、Δz1、Δz2は、多数の正常眼の測定結果から統計的に導出された標準データに基づいて取得される。 In some embodiments, the above Δz, Δz1, and Δz2 are obtained based on standard data statistically derived from measurement results of a large number of normal eyes.

いくつかの実施形態では、Zロックの基準位置z0が設定されたBスキャン以外のBスキャンに対し、基準位置z0に対して、あらかじめ決められた複数のシフト値から選択されたシフト値だけシフトするように設定される。複数のシフト値は、上記の標準データに基づいてあらかじめ決定されてよい。 In some embodiments, for B-scans other than the B-scan in which the Z-lock reference position z0 is set, the reference position z0 is shifted by a shift value selected from a plurality of predetermined shift values. It is set as follows. The plurality of shift values may be predetermined based on the above standard data.

いくつかの実施形態では、上記のΔz、Δz1、Δz2は、被検眼EのOCT画像(Bスキャン画像)の解析結果に対応してあらかじめ決められている。被検眼EのOCT画像として、例えば、当該3次元スキャン中に実行されたBスキャンにより得られたBスキャン画像、当該Bスキャンに交差する方向のBスキャンにより得られた被検眼EのBスキャン画像などがある。すなわち、いくつかの実施形態では、Zロックの基準位置z0が設定されたBスキャン以外のBスキャンに対し、OCT計測により得られた干渉光の検出結果に基づく像に基づいてZロック位置が設定される。また、いくつかの実施形態では、Zロックの基準位置z0が設定されたBスキャン以外のBスキャンに対し、Zロックの基準位置z0が設定されたBスキャンのスキャン方向と交差する方向のスキャンにより得られた干渉光の検出結果に基づいて設定される。当該Bスキャンに交差する方向のBスキャンのスキャン態様として、例えば、水平スキャン、垂直スキャン、十字スキャン、放射スキャン、円スキャン、同心円スキャン、螺旋(渦巻)スキャンなどが用いられる。 In some embodiments, Δz, Δz1, and Δz2 are predetermined in accordance with an analysis result of an OCT image (B-scan image) of the eye E to be examined. As an OCT image of the eye E to be examined, for example, a B-scan image obtained by a B-scan performed during the three-dimensional scan, a B-scan image of the eye E to be examined obtained by a B-scan in a direction intersecting the B-scan. and so on. That is, in some embodiments, for B scans other than the B scan in which the Z lock reference position z0 is set, the Z lock position is set based on an image based on the detection result of interference light obtained by OCT measurement. be done. Furthermore, in some embodiments, for B scans other than the B scans in which the Z lock reference position z0 is set, by scanning in a direction that intersects the scanning direction of the B scan in which the Z lock reference position z0 is set. It is set based on the obtained interference light detection result. As the scanning mode of the B-scan in the direction intersecting the B-scan, for example, a horizontal scan, a vertical scan, a cross scan, a radial scan, a circle scan, a concentric circle scan, a spiral (spiral) scan, etc. are used.

上記の実施形態において、画像形成部220又はデータ処理部230は、実施形態に係る「画像形成部」の一例である。また、データ処理部230は、実施形態に係る「解析部」の一例である。
[動作]
実施形態に係る眼科装置1の動作について説明する。
In the embodiments described above, the image forming section 220 or the data processing section 230 is an example of an "image forming section" according to the embodiment. Further, the data processing unit 230 is an example of an “analysis unit” according to the embodiment.
[motion]
The operation of the ophthalmologic apparatus 1 according to the embodiment will be described.

図15に、実施形態に係る眼科装置1の動作例のフローチャートを示す。 FIG. 15 shows a flowchart of an example of the operation of the ophthalmologic apparatus 1 according to the embodiment.

(S1:スキャンエリアを設定)
まず、ユーザは、操作部240Bを用いて被検眼Eに対してスキャンエリアを設定する。
(S1: Set scan area)
First, the user sets a scan area for the eye E using the operation unit 240B.

(S2:アライメント)
主制御部211は、アライメントを実行する。すなわち、主制御部211は、アライメント光学系50を制御して、被検眼Eにアライメント指標を投影させる。このとき、被検眼Eには、LCD39による固視標も投影される。主制御部211は、例えばイメージセンサ35により取得された受光像に基づいて特定された光学系の移動量に基づいて移動機構150を制御し、被検眼Eに対して光学系を当該移動量だけ相対的に移動させる。主制御部211は、この処理を繰り返し実行させる。
(S2: Alignment)
The main control unit 211 executes alignment. That is, the main control unit 211 controls the alignment optical system 50 to project the alignment index onto the eye E to be examined. At this time, a fixation target by the LCD 39 is also projected onto the eye E to be examined. The main control unit 211 controls the moving mechanism 150 based on the amount of movement of the optical system specified based on the received light image acquired by the image sensor 35, for example, and moves the optical system with respect to the eye E by the amount of movement. Move relatively. The main control unit 211 repeatedly executes this process.

(S3:フォーカス)
アライメントが終了すると、主制御部211は、フォーカス調整を開始する。例えば、主制御部211は、眼底Efの正面画像の取得を開始させ、フォーカス光学系60を制御して眼底Efにスプリット指標を投影させる。主制御部211は、例えばイメージセンサ35により取得された受光像に基づいて特定された光学系の移動量に基づいて合焦駆動部31Aを制御し、撮影合焦レンズ31を当該移動量だけ移動させる。ここで、主制御部211は、合焦駆動部43Aを制御してOCT合焦レンズ43を当該移動量だけ移動させる。主制御部211は、この処理を繰り返し実行させる。
(S3: Focus)
When the alignment is completed, the main control unit 211 starts focus adjustment. For example, the main control unit 211 starts acquiring a front image of the fundus Ef, and controls the focus optical system 60 to project a split index onto the fundus Ef. The main control unit 211 controls the focusing drive unit 31A based on the amount of movement of the optical system specified based on the received light image acquired by the image sensor 35, for example, and moves the photographing focusing lens 31 by the amount of movement. let Here, the main control unit 211 controls the focusing drive unit 43A to move the OCT focusing lens 43 by the amount of movement. The main control unit 211 repeatedly executes this process.

いくつかの実施形態では、ステップS2又はステップS3において、複数の予備的な動作が実行される。予備的な動作としては、アライメント、フォーカス粗調整、光路長差調整、偏光調整、フォーカス微調整などがある。 In some embodiments, multiple preliminary operations are performed in step S2 or step S3. Preliminary operations include alignment, coarse focus adjustment, optical path length difference adjustment, polarization adjustment, and fine focus adjustment.

(S4:オートZ)
主制御部211は、OCT計測を開始させる。このOCT計測においては、被検眼E(例えば、眼底Ef)の実質的に同じ断面が所定の周波数で反復的にスキャンされる。続いて、主制御部211は、特開2016-041221号公報で開示された手法と同様に、取得されたOCT画像(または反射強度プロファイルなど)に基づいてオートZを実行する。
(S4: Auto Z)
The main control unit 211 starts OCT measurement. In this OCT measurement, substantially the same cross section of the eye E to be examined (for example, the fundus Ef) is repeatedly scanned at a predetermined frequency. Next, the main control unit 211 executes auto-Z based on the acquired OCT image (or reflection intensity profile, etc.), similar to the method disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2016-041221.

ここで、主制御部211は、OCT画像を表示部240Aにライブ表示させる。 Here, the main control unit 211 causes the display unit 240A to display the OCT image live.

(S5:OCT仮計測)
次に、主制御部211は、OCTユニット100等を制御することによりOCT仮計測を実行する。続いて、主制御部211は、画像形成部220及びデータ処理部230を制御することにより、被検眼Eのプロジェクション画像を形成させる。
(S5: OCT provisional measurement)
Next, the main control unit 211 executes OCT provisional measurement by controlling the OCT unit 100 and the like. Next, the main control unit 211 controls the image forming unit 220 and the data processing unit 230 to form a projection image of the eye E to be examined.

(S6:Zロックの基準位置を指定)
続いて、主制御部211は、ステップS5において形成されたプロジェクション画像に基づいて折り返しに起因したアーチファクトを特定し、特定されたアーチファクトの描出位置に対応したZロックの基準位置を所定のBスキャンに対して設定する。
(S6: Specify the reference position of Z lock)
Next, the main control unit 211 identifies artifacts caused by aliasing based on the projection image formed in step S5, and sets the Z-lock reference position corresponding to the rendering position of the identified artifact to a predetermined B-scan. Set against.

なお、ステップS6においてアーチファクトが特定されない場合、所定のBスキャンに対して予め決められたZロックの基準位置が設定される。 Note that if no artifact is identified in step S6, a predetermined Z-lock reference position is set for a predetermined B scan.

(S7:Zロック位置を取得)
主制御部211は、ステップS6において指定されたZロックの基準位置に基づいて、上記のように他のBスキャンに対するZロック位置をZロック位置取得部233に取得させる。
(S7: Obtain Z lock position)
The main control unit 211 causes the Z lock position acquisition unit 233 to acquire the Z lock position for other B scans as described above based on the Z lock reference position specified in step S6.

(S8:光路長差を変更)
続いて、主制御部211は、順次にBスキャンを実行する。例えば、主制御部211は、ステップS7において取得されたZロック位置に基づいて光路長差の変更量を光路長差変更量取得部234に取得させる。その後、主制御部211は、取得された光路長差の変更量に基づいて光路長変更部41及び参照駆動部114Aの少なくとも一方を制御する。
(S8: Change optical path length difference)
Subsequently, the main control unit 211 sequentially executes B scans. For example, the main control unit 211 causes the optical path length difference change amount acquisition unit 234 to acquire the change amount of the optical path length difference based on the Z lock position acquired in step S7. Thereafter, the main control section 211 controls at least one of the optical path length changing section 41 and the reference driving section 114A based on the obtained change amount of the optical path length difference.

(S9:スキャン)
主制御部211は、光スキャナ42を制御することにより測定光LSを偏向し、被検眼Eに対してBスキャンを実行する。
(S9: Scan)
The main control unit 211 deflects the measurement light LS by controlling the optical scanner 42 and performs a B scan on the eye E to be examined.

(S10:断層像を形成)
主制御部211は、ステップS9により得られたスキャン結果に基づいて断層像を画像形成部220に形成させる。
(S10: Form a tomographic image)
The main control unit 211 causes the image forming unit 220 to form a tomographic image based on the scan result obtained in step S9.

(S11:表示)
主制御部211は、ステップS10において形成された断層像を表示部240Aの断層像表示領域DR1に表示させる。
(S11: Display)
The main control unit 211 displays the tomographic image formed in step S10 in the tomographic image display region DR1 of the display unit 240A.

(S12:次?)
主制御部211は、次のBスキャンを実行するか否かを判定する。主制御部211は、ステップS1において設定されたスキャンエリア、又は操作部240Bに対する操作内容に基づいて、次のBスキャンを実行するか否かを判別する。
(S12: Next?)
The main control unit 211 determines whether to perform the next B scan. The main control unit 211 determines whether to perform the next B scan based on the scan area set in step S1 or the operation details on the operation unit 240B.

次のBスキャンを実行すると判別されたとき(S12:Y)、眼科装置1の動作は、ステップS8に移行する。次のBスキャンを実行しないと判別されたとき(S12:N)、眼科装置1の動作は、ステップS13に移行する。 When it is determined that the next B-scan is to be performed (S12: Y), the operation of the ophthalmologic apparatus 1 moves to step S8. When it is determined that the next B-scan is not to be performed (S12:N), the operation of the ophthalmologic apparatus 1 moves to step S13.

(S13:正面画像を形成)
ステップS12において次のBスキャンを実行しないと判別されたとき(S12:N)、主制御部211は、ステップS1において設定されたスキャンエリアのスキャンデータに基づいてプロジェクション画像をデータ処理部230に形成させる。
(S13: Form frontal image)
When it is determined in step S12 that the next B scan is not to be performed (S12: N), the main control unit 211 causes the data processing unit 230 to form a projection image based on the scan data of the scan area set in step S1. let

(S14:表示)
続いて、主制御部211は、ステップS13において形成されたプロジェクション画像を表示部240Aの正面画像表示領域DR2に表示させる。以上で、眼科装置1の動作は終了である(エンド)。
(S14: Display)
Next, the main control unit 211 displays the projection image formed in step S13 in the front image display area DR2 of the display unit 240A. This is the end of the operation of the ophthalmologic apparatus 1 (END).

[効果]
実施形態に係る眼科装置、及びその制御方法について説明する。
[effect]
An ophthalmologic apparatus and a control method thereof according to an embodiment will be described.

いくつかの実施形態は、干渉光学系(OCTユニット100に含まれる光学系)と、画像形成部(220、データ処理部230)と、解析部(データ処理部230)と、制御部(210)と、を含む眼科装置(1)である。干渉光学系は、測定光路と参照光路との光路長差を変更可能に構成される。干渉光学系は、光源(光源ユニット101)からの光(L0)を測定光(LS)と参照光(LR)とに分割し、測定光路を経由した測定光を被検眼(E)に照射し、被検眼からの戻り光と参照光路を経由した参照光との干渉光(LC)を検出する。画像形成部は、干渉光の検出結果に基づいて被検眼の画像を形成する。解析部は、画像形成部により形成された画像(プロジェクション画像、断層像)を解析することにより、被検眼に対するBスキャンの深さ方向の基準位置(Zロックの基準位置)を特定する。制御部は、干渉光の検出結果に基づく像が基準位置に配置されるように各Bスキャンにおいて干渉光学系を制御して光路長差を変更することにより、被検眼のスキャン範囲に対して複数のBスキャンを実行させる。 Some embodiments include an interference optical system (an optical system included in the OCT unit 100), an image forming section (220, data processing section 230), an analysis section (data processing section 230), and a control section (210). An ophthalmologic apparatus (1) comprising: The interference optical system is configured to be able to change the optical path length difference between the measurement optical path and the reference optical path. The interference optical system splits the light (L0) from the light source (light source unit 101) into measurement light (LS) and reference light (LR), and irradiates the eye (E) with the measurement light via the measurement optical path. , detects interference light (LC) between the return light from the subject's eye and the reference light that has passed through the reference optical path. The image forming unit forms an image of the eye to be examined based on the detection result of the interference light. The analysis unit specifies a reference position in the depth direction of the B scan (Z-lock reference position) for the eye to be examined by analyzing the image (projection image, tomographic image) formed by the image forming unit. The control unit controls the interference optical system and changes the optical path length difference in each B-scan so that the image based on the detection result of the interference light is placed at the reference position. Execute B-scan.

このような構成では、被検眼に対して実行されるBスキャンに対して、被検眼の画像に基づいて深さ方向の基準位置を特定し、干渉光の検出結果に基づく像が基準位置に配置されるように被検眼に対して複数のBスキャンを実行させる。それにより、OCT計測による計測範囲がxy方向に広くなったりz方向に深くなったりした場合でも、眼球の湾曲状態によっては注目部位が画像化範囲の端に描出されたり、画像化範囲から外れたりする事態を回避することができるようになる。その結果、OCT計測を行う場合の検者や被検者の負担を軽減することが可能になる。 In such a configuration, for the B scan performed on the eye to be examined, a reference position in the depth direction is specified based on the image of the eye to be examined, and an image based on the detection result of interference light is placed at the reference position. A plurality of B-scans are performed on the eye to be examined so that the eye is examined. As a result, even if the measurement range by OCT measurement becomes wider in the x-y direction or deeper in the z-direction, depending on the curvature of the eyeball, the region of interest may be depicted at the edge of the imaging range or may fall outside the imaging range. You will be able to avoid situations where this happens. As a result, it becomes possible to reduce the burden on examiners and subjects when performing OCT measurements.

いくつかの実施形態では、解析部は、複数のBスキャンにより得られたスキャン結果に基づいてスキャン範囲に対応した被検眼の正面画像に基づいて基準位置を特定する。 In some embodiments, the analysis unit identifies the reference position based on a frontal image of the eye to be examined that corresponds to a scan range based on scan results obtained from a plurality of B-scans.

このような構成によれば、被検眼の正面画像に基づいてZロックの基準位置を特定するようにしたので、眼球の湾曲状態によっては注目部位が画像化範囲の端に描出されたり、画像化範囲から外れたりする事態を確実に回避することができるようになる。 According to this configuration, the reference position for Z lock is specified based on the frontal image of the subject's eye, so depending on the curvature state of the eyeball, the region of interest may be depicted at the edge of the imaging range, or the You will be able to reliably avoid situations where you are out of range.

いくつかの実施形態では、解析部は、正面画像に描出されたBスキャン画像における折り返しに起因したアーチファクトに基づいて基準位置を特定する。 In some embodiments, the analysis unit identifies the reference position based on artifacts caused by aliasing in the B-scan image depicted in the frontal image.

このような構成によれば、折り返しの発生しないBスキャン画像を容易に取得することが可能になり、OCT計測を行う場合の検者や被検者の負担を軽減することが可能になる。 According to such a configuration, it becomes possible to easily obtain a B-scan image without aliasing, and it becomes possible to reduce the burden on the examiner and the subject when performing OCT measurement.

いくつかの実施形態では、解析部は、正面画像の左端又は右端から正面画像の上端又は下端におけるアーチファクトの位置までの距離に基づいて基準位置を特定する。 In some embodiments, the analysis unit identifies the reference position based on the distance from the left or right edge of the front image to the position of the artifact at the top or bottom of the front image.

このような構成によれば、非常に簡素な処理でアーチファクトを特定することが可能になり、OCT計測を行う場合の検者や被検者の負担を容易に軽減することが可能になる。 According to such a configuration, it becomes possible to identify artifacts with very simple processing, and it becomes possible to easily reduce the burden on examiners and subjects when performing OCT measurement.

いくつかの実施形態では、画像形成部は、干渉光の検出結果に基づいて被検眼の断層像を形成し、解析部は、断層像に基づいて基準位置を特定する。 In some embodiments, the image forming unit forms a tomographic image of the eye to be examined based on the detection result of the interference light, and the analyzing unit identifies the reference position based on the tomographic image.

このような構成によれば、被検眼の断層像に基づいてZロックの基準位置を特定するようにしたので、眼球の湾曲状態によっては注目部位が画像化範囲の端に描出されたり、画像化範囲から外れたりする事態を確実に回避することができるようになる。 According to this configuration, the reference position for Z lock is specified based on the tomographic image of the eye to be examined, so depending on the curvature of the eyeball, the region of interest may be depicted at the edge of the imaging range, or the You will be able to reliably avoid situations where you are out of range.

いくつかの実施形態では、解析部は、断層像に基づいて被検眼の網膜における所定の層領域を特定し、断層像の上端から上記の特定された所定の層領域までの距離に基づいて基準位置を特定する。 In some embodiments, the analysis unit identifies a predetermined layer region in the retina of the subject's eye based on the tomographic image, and determines the reference based on the distance from the top of the tomographic image to the identified predetermined layer region. Locate.

このような構成によれば、非常に簡素な処理でアーチファクトを特定することが可能になり、OCT計測を行う場合の検者や被検者の負担を容易に軽減することが可能になる。 According to such a configuration, it becomes possible to identify artifacts with very simple processing, and it becomes possible to easily reduce the burden on examiners and subjects when performing OCT measurement.

いくつかの実施形態では、複数のBスキャンは、第1のBスキャンと、第2のBスキャンと、第3のBスキャンとを含み、解析部は、第1のBスキャンに対して第1基準位置を特定し、第2のBスキャンに対して第2基準位置を特定し、第3のBスキャンに対して第1基準位置と第2基準位置とに基づいて第3基準位置を特定し、制御部は、干渉光学系を制御することにより第1のBスキャン、第2のBスキャン、及び第3のBスキャンを実行させる。 In some embodiments, the plurality of B-scans includes a first B-scan, a second B-scan, and a third B-scan, and the analyzer includes a first B-scan for the first B-scan. identifying a reference position, identifying a second reference position for a second B-scan, and identifying a third reference position for a third B-scan based on the first reference position and the second reference position; , the control unit executes the first B-scan, the second B-scan, and the third B-scan by controlling the interference optical system.

このような構成によれば、少なくとも2つの基準位置を指定することができるようになるため、眼球の湾曲状態によっては注目部位が画像化範囲の端に描出されたり、画像化範囲から外れたりする事態を容易に回避することができるようになる。その結果、OCT計測を行う場合の検者や被検者の負担を軽減することができるようになる。 With such a configuration, at least two reference positions can be specified, so depending on the curvature state of the eyeball, the region of interest may be depicted at the edge of the imaging range or out of the imaging range. Situations can be easily avoided. As a result, it becomes possible to reduce the burden on examiners and subjects when performing OCT measurements.

いくつかの実施形態では、解析部は、第2のBスキャンに対して、第1基準位置に対し深さ方向にシフトすることにより第2基準位置を設定する。 In some embodiments, the analysis unit sets the second reference position for the second B-scan by shifting in the depth direction with respect to the first reference position.

このような構成によれば、複数のBスキャンに対して複数のZロックの基準位置を設定することができるので、眼球の湾曲状態によっては注目部位が画像化範囲の端に描出されたり、画像化範囲から外れたりする事態を回避することができるようになる。その結果、OCT計測を行う場合の検者や被検者の負担を軽減することが可能になる。 With this configuration, multiple Z-lock reference positions can be set for multiple B-scans, so depending on the curvature state of the eyeball, the region of interest may be depicted at the edge of the imaging range, or the image may This will allow you to avoid situations where you are out of range. As a result, it becomes possible to reduce the burden on examiners and subjects when performing OCT measurements.

いくつかの実施形態では、解析部は、第1のBスキャンのスキャン位置と第2のBスキャンのスキャン位置との距離に応じて第2基準位置を設定する。 In some embodiments, the analysis unit sets the second reference position according to the distance between the scan position of the first B-scan and the scan position of the second B-scan.

このような構成によれば、スキャン位置に応じてZロック位置が設定されるため、計測範囲が広くなったり、強度近視眼のように眼球の湾曲度が大きくなったりした場合でも、注目部位が画像化範囲の端に描出されたり、画像化範囲から外れたりする事態を回避することが可能になる。 With such a configuration, the Z-lock position is set according to the scan position, so even if the measurement range becomes wide or the degree of curvature of the eyeball increases, such as in severe myopia, the part of interest will not be visible in the image. This makes it possible to avoid situations where the image is drawn at the edge of the imaging range or out of the imaging range.

いくつかの実施形態では、解析部は、第1のBスキャンを含む3次元スキャン範囲に対する第2のBスキャンを含む3次元スキャン範囲に応じて第2基準位置を設定する。 In some embodiments, the analysis unit sets the second reference position according to a three-dimensional scan range including the second B-scan with respect to a three-dimensional scan range including the first B-scan.

このような構成によれば、スキャン範囲に応じてZロック位置が設定されるため、計測範囲が広くなったり、強度近視眼のように眼球の湾曲度が大きくなったりした場合でも、注目部位が画像化範囲の端に描出されたり、画像化範囲から外れたりする事態を回避することが可能になる。 With this configuration, the Z-lock position is set according to the scan range, so even if the measurement range is wide or the degree of curvature of the eyeball is large, such as in severe myopia, the part of interest will not be visible in the image. This makes it possible to avoid situations where the image is drawn at the edge of the imaging range or out of the imaging range.

いくつかの実施形態では、解析部は、被検眼の屈折度に応じて第2基準位置を設定する。 In some embodiments, the analysis unit sets the second reference position according to the refractive power of the eye to be examined.

このような構成によれば、被検眼の屈折度に応じてZロック位置が設定されるため、計測範囲が広くなったり、強度近視眼のように眼球の湾曲度が大きくなったりした場合でも、注目部位が画像化範囲の端に描出されたり、画像化範囲から外れたりする事態を回避することが可能になる。 With this configuration, the Z-lock position is set according to the refractive power of the eye to be examined, so even if the measurement range is wide or the degree of curvature of the eyeball is large, such as in severely myopic eyes, It is possible to avoid situations in which the site is depicted at the edge of the imaging range or out of the imaging range.

いくつかの実施形態では、解析部は、被検眼が強度近視眼であるとき第1基準位置に対して第1シフト値だけシフトした位置に第2基準位置を設定し、被検眼が強度近視眼ではないとき第2基準位置に対して第1シフト値より小さい第2シフト値だけシフとした位置に第2基準位置を設定する。 In some embodiments, the analysis unit sets the second reference position to a position shifted by the first shift value with respect to the first reference position when the eye to be examined is highly myopic, and the analysis unit sets the second reference position to a position shifted by the first shift value when the eye to be examined is not highly myopic. At this time, the second reference position is set at a position shifted by a second shift value smaller than the first shift value with respect to the second reference position.

このような構成によれば、被検眼が強度近視眼であるか否かを示す情報に応じてZロック位置が設定されるため、計測範囲が広くなったり、強度近視眼のように眼球の湾曲度が大きくなったりした場合でも、注目部位が画像化範囲の端に描出されたり、画像化範囲から外れたりする事態を回避することが可能になる。 According to such a configuration, the Z lock position is set according to information indicating whether or not the eye to be examined is highly myopic, so the measurement range is widened and the degree of curvature of the eyeball is Even if the target region becomes larger, it is possible to avoid situations where the target region is depicted at the edge of the imaging range or moves out of the imaging range.

いくつかの実施形態では、解析部は、第1基準位置に対して、あらかじめ決められた複数のシフト値から選択されたシフト値だけシフトするように第2基準位置を設定する。 In some embodiments, the analysis unit sets the second reference position to be shifted by a shift value selected from a plurality of predetermined shift values with respect to the first reference position.

このような構成によれば、あらかじめ決められた複数のシフト値の中から選択されたシフト値を用いてZロック位置が設定されるため、計測範囲が広くなったり、強度近視眼のように眼球の湾曲度が大きくなったりした場合でも、注目部位が画像化範囲の端に描出されたり、画像化範囲から外れたりする事態を容易に回避することが可能になる。 According to such a configuration, the Z lock position is set using a shift value selected from a plurality of predetermined shift values, so the measurement range is widened, and the measurement range is widened and the shift value is Even when the degree of curvature increases, it is possible to easily avoid situations in which the region of interest is depicted at the edge of the imaging range or deviates from the imaging range.

いくつかの実施形態では、解析部は、第1のBスキャンのスキャン方向と交差する方向のスキャンにより得られた干渉光の検出結果に基づいて第2基準位置を設定する。 In some embodiments, the analysis unit sets the second reference position based on the detection result of interference light obtained by scanning in a direction intersecting the scanning direction of the first B-scan.

このような構成によれば、第1のBスキャンのスキャン方向と交差する方向のスキャンにより得られた干渉光の検出結果に基づいてZロック位置が設定されるため、注目部位が画像化範囲の端に描出されたり、画像化範囲から外れたりする事態を推測しやすくなる。それにより、計測範囲が広くなったり、強度近視眼のように眼球の湾曲度が大きくなったりした場合でも、注目部位が画像化範囲の端に描出されたり、画像化範囲から外れたりする事態を確実に回避することが可能になる。 According to such a configuration, the Z lock position is set based on the detection result of interference light obtained by scanning in a direction intersecting the scan direction of the first B scan, so that the target region is within the imaging range. This makes it easier to predict situations where the image is drawn at the edge or out of the imaging range. As a result, even if the measurement range becomes wider or the degree of curvature of the eyeball increases, such as in highly myopic eyes, it will be ensured that the area of interest will not be depicted at the edge of the imaging range or will fall outside the imaging range. It becomes possible to avoid this.

いくつかの実施形態では、制御部は、第1のBスキャンのスキャン方向と交差する方向に、第1のBスキャン、第3のBスキャン、及び第2のBスキャンの順序で実行させる。 In some embodiments, the controller causes the first B-scan, the third B-scan, and the second B-scan to be performed in order in a direction intersecting the scan direction of the first B-scan.

このような構成によれば、第3のBスキャンに対して特定された基準位置を用いた場合でも、注目部位が画像化範囲の端に描出されたり、画像化範囲から外れたりする事態を回避し易くなる。 According to such a configuration, even when using the reference position specified for the third B-scan, the situation where the region of interest is depicted at the edge of the imaging range or deviates from the imaging range can be avoided. It becomes easier to do.

上記の実施形態は、スキャンエリア中の任意の数のBスキャンに対してZロックの基準位置を指定する場合に適用することが可能である。例えば、4以上の任意のBスキャンに対してZロックの基準位置を指定することが可能である。 The above embodiment can be applied to specifying a Z-lock reference position for any number of B-scans in a scan area. For example, it is possible to specify the Z lock reference position for any four or more B scans.

上記の実施形態を実現するためのコンピュータプログラムを、コンピュータによって読み取り可能な任意の記録媒体に記憶させることができる。この記録媒体としては、例えば、半導体メモリ、光ディスク、光磁気ディスク(CD-ROM/DVD-RAM/DVD-ROM/MO等)、磁気記憶媒体(ハードディスク/フロッピー(登録商標)ディスク/ZIP等)などを用いることが可能である。 A computer program for implementing the above embodiments can be stored in any computer-readable recording medium. Examples of this recording medium include semiconductor memory, optical disk, magneto-optical disk (CD-ROM/DVD-RAM/DVD-ROM/MO, etc.), magnetic storage medium (hard disk/floppy (registered trademark) disk/ZIP, etc.), etc. It is possible to use

また、インターネットやLAN等のネットワークを通じてこのプログラムを送受信することも可能である。 It is also possible to send and receive this program via a network such as the Internet or LAN.

1 眼科装置
2 眼底カメラユニット
10 照明光学系
30 撮影光学系
31 撮影合焦レンズ
41 光路長変更部
42 光スキャナ
50 アライメント光学系
60 フォーカス光学系
100 OCTユニット
101 光源ユニット
200 演算制御ユニット
210 制御部
211 主制御部
212 記憶部
220 画像形成部
230 データ処理部
231 部位特定部
232 アーチファクト特定部
233 Zロック位置取得部
234 光路長差変更量取得部
240A 表示部
240B 操作部
E 被検眼
LS 測定光
LR 参照光
LC 干渉光
1 Ophthalmological apparatus 2 Fundus camera unit 10 Illumination optical system 30 Photographic optical system 31 Photographic focusing lens 41 Optical path length changing section 42 Optical scanner 50 Alignment optical system 60 Focusing optical system 100 OCT unit 101 Light source unit 200 Arithmetic control unit 210 Control section 211 Main control unit 212 Storage unit 220 Image forming unit 230 Data processing unit 231 Site identification unit 232 Artifact identification unit 233 Z lock position acquisition unit 234 Optical path length difference change amount acquisition unit 240A Display unit 240B Operation unit E Eye to be examined LS Measuring light LR Reference Optical LC interference light

Claims (2)

測定光路と参照光路との光路長差を変更可能に構成され、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光路を経由した前記測定光を被検眼に照射し、前記被検眼からの戻り光と前記参照光路を経由した前記参照光との干渉光を検出する干渉光学系と、
前記干渉光の検出結果に基づいて前記被検眼の画像を形成する画像形成部と、
前記画像形成部により形成された前記画像中の網膜色素上皮層に基づいて前記被検眼に対する第1のBスキャンの深さ方向の第1基準位置を特定すると共に、前記第1基準位置を基準に前記被検眼の屈折度に応じて前記被検眼に対する第2のBスキャンの深さ方向の第2基準位置を特定する解析部と、
前記被検眼のスキャン範囲に対して前記第1のBスキャンと前記第2のBスキャンとを含む複数のBスキャンを実行する場合に、前記干渉光の検出結果に基づく像が前記第1基準位置配置されるように記干渉光学系を制御して前記光路長差を変更することにより記被検眼のスキャン範囲に対して前記第1のBスキャンを実行させ、前記像が前記第2基準位置に配置されるように前記干渉光学系を制御して前記光路長差を変更することにより前記被検眼のスキャン範囲に対して前記第2のBスキャンを実行させる制御部と、
を含む眼科装置。
The optical path length difference between the measurement optical path and the reference optical path can be changed, and the light from the light source is divided into measurement light and reference light, and the measurement light that has passed through the measurement optical path is irradiated onto the subject's eye. an interference optical system that detects interference light between the return light from the optometry and the reference light that has passed through the reference optical path;
an image forming unit that forms an image of the eye to be examined based on the detection result of the interference light;
Identifying a first reference position in the depth direction of a first B-scan for the eye to be examined based on the retinal pigment epithelial layer in the image formed by the image forming unit, and using the first reference position as a reference. an analysis unit that specifies a second reference position in the depth direction of a second B-scan for the eye to be examined according to the refractive power of the eye to be examined;
When performing a plurality of B-scans including the first B-scan and the second B-scan for the scan range of the eye to be examined, an image based on the detection result of the interference light is located at the first reference position. The first B -scan is executed for the scan range of the eye to be examined by controlling the interference optical system and changing the optical path length difference so that the image is located at the second B - scan. a control unit that controls the interference optical system to be placed at a reference position and changes the optical path length difference to execute the second B-scan for the scan range of the eye to be examined;
ophthalmological equipment including;
前記解析部は、前記被検眼が強度近視眼であるとき前記第1基準位置に対して第1シフト値だけシフトした位置に前記第2基準位置を設定し、前記被検眼が強度近視眼ではないとき前記第2基準位置に対して前記第1シフト値より小さい第2シフト値だけシフトした位置に前記第2基準位置を設定する
ことを特徴とする請求項1に記載の眼科装置。
The analysis unit sets the second reference position at a position shifted by a first shift value with respect to the first reference position when the eye to be examined is a highly myopic eye, and sets the second reference position to a position shifted by a first shift value with respect to the first reference position when the eye to be examined is not a highly myopic eye. The ophthalmologic apparatus according to claim 1, wherein the second reference position is set at a position shifted by a second shift value smaller than the first shift value with respect to the second reference position.
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