JP7231977B2 - 試験プローブ及び試験プローブ・チップ - Google Patents
試験プローブ及び試験プローブ・チップ Download PDFInfo
- Publication number
- JP7231977B2 JP7231977B2 JP2015257610A JP2015257610A JP7231977B2 JP 7231977 B2 JP7231977 B2 JP 7231977B2 JP 2015257610 A JP2015257610 A JP 2015257610A JP 2015257610 A JP2015257610 A JP 2015257610A JP 7231977 B2 JP7231977 B2 JP 7231977B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resistive
- component
- test probe
- test
- plunger
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06772—High frequency probes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06716—Elastic
- G01R1/06722—Spring-loaded
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06766—Input circuits therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
- H01R13/02—Contact members
- H01R13/22—Contacts for co-operating by abutting
- H01R13/24—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
- H01R13/2407—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means
- H01R13/2421—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means using coil springs
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05G—CONTROL DEVICES OR SYSTEMS INSOFAR AS CHARACTERISED BY MECHANICAL FEATURES ONLY
- G05G1/00—Controlling members, e.g. knobs or handles; Assemblies or arrangements thereof; Indicating position of controlling members
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R2101/00—One pole
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R2201/00—Connectors or connections adapted for particular applications
- H01R2201/20—Connectors or connections adapted for particular applications for testing or measuring purposes
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F1/00—Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
弾力性アセンブリと、
該弾力性アセンブリと結合されるよう構成され、円形棒状抵抗器である抵抗性/インピーダンス要素と、
該抵抗性/インピーダンス要素と結合されるよう構成されるチップ部品と
を具えている。
上記弾力性アセンブリが、
上記抵抗性/インピーダンス要素と結合されるよう構成されるプランジャ部品と、
該プランジャ部品を受け、該プランジャ部品が内部で同軸状にスライドするよう構成される円筒型部品と、
該円筒型部品内に配置され、該円筒型部品内で内部方向へ上記プランジャ部品がスライドするのに応答して上記プランジャ部品に作用するスプリング機構と
を含んでいる。
試験プローブ本体と、
該試験プローブ本体と一体化される少なくとも1つの試験プローブ・チップと
を具え、上記試験プローブ・チップのそれぞれが、
弾力性アセンブリと、
該弾力性アセンブリと結合されるよう構成され、円形棒状抵抗器である抵抗性/インピーダンス要素と、
該抵抗性/インピーダンス要素と結合されるよう構成されるチップ部品と
を含んでいる。
プランジャ部品と、
該プランジャ部品を受け、該プランジャ部品が内部で同軸状にスライドするよう構成される円筒型部品と、
該円筒型部品内に配置され、該円筒型部品内で内部方向へ上記プランジャ部品がスライドするのに応答して上記プランジャ部品に作用するスプリング機構と
を含んでいる。
プランジャ部品と、
該プランジャ部品を受け、該プランジャ部品が内部で同軸状にスライドするよう構成される円筒型部品と、
該円筒型部品内に配置され、該円筒型部品内で内部方向へ上記プランジャ部品がスライドするのに応答して上記プランジャ部品に作用するスプリング機構と
を含んでいる。
102 円筒型部品
104 プランジャ基部部品
106 抵抗性/インピーダンス要素
106a 抵抗性/インピーダンス要素の第1端面
106b 抵抗性/インピーダンス要素の第2端面
108 チップ部品
200 試験プローブ・チップ
202 円筒型部品
204 プランジャ基部部品
206 抵抗性/インピーダンス要素
208 チップ部品
300 単一チップ試験プローブ
302 試験プローブ本体
304 試験プローブ・チップ
400 差動プローブ
402 プローブ本体
404 試験プローブ・チップ
406 試験プローブ・チップ
Claims (4)
- 弾力性アセンブリと、
該弾力性アセンブリと結合される第1端面を有し、外側周囲上の抵抗性コーティングだけに電気が流れる構造の円形棒状抵抗器である抵抗性/インピーダンス要素と、
該抵抗性/インピーダンス要素の第2端面と電気的及び機械的に直接結合されるよう構成されるチップ部品と
を具える試験プローブ・チップ。 - 上記弾力性アセンブリが、
上記抵抗性/インピーダンス要素の上記第1端面と結合されるよう構成されるプランジャ部品と、
該プランジャ部品を受け、該プランジャ部品が内部で同軸状にスライドするよう構成される円筒型部品と、
該円筒型部品内に配置され、該円筒型部品内で内部方向へ上記プランジャ部品がスライドするのに応答して上記プランジャ部品に作用するスプリング機構と
を含む請求項1の試験プローブ・チップ。 - 試験プローブ本体と、
該試験プローブ本体と一体化される少なくとも1つの試験プローブ・チップと
を具え、
上記試験プローブ・チップのそれぞれが、
弾力性アセンブリと、
該弾力性アセンブリと結合される第1端面を有し、外側周囲上の抵抗性コーティングだけに電気が流れる構造の円形棒状抵抗器である抵抗性/インピーダンス要素と、
該抵抗性/インピーダンス要素の第2端面と電気的及び機械的に直接結合されるよう構成されるチップ部品と
を含む試験プローブ。 - 上記弾力性アセンブリが、
上記抵抗性/インピーダンス要素の上記第1端面と結合されるよう構成されるプランジャ部品と、
該プランジャ部品を受け、該プランジャ部品が内部で同軸状にスライドするよう構成される円筒型部品と、
該円筒型部品内に配置され、該円筒型部品内で内部方向へ上記プランジャ部品がスライドするのに応答して上記プランジャ部品に作用するスプリング機構と
を含む請求項3の試験プローブ。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US14/587703 | 2014-12-31 | ||
US14/587,703 US9810715B2 (en) | 2014-12-31 | 2014-12-31 | High impedance compliant probe tip |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016126018A JP2016126018A (ja) | 2016-07-11 |
JP7231977B2 true JP7231977B2 (ja) | 2023-03-02 |
Family
ID=55068911
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015257610A Active JP7231977B2 (ja) | 2014-12-31 | 2015-12-29 | 試験プローブ及び試験プローブ・チップ |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9810715B2 (ja) |
EP (1) | EP3056912B1 (ja) |
JP (1) | JP7231977B2 (ja) |
CN (1) | CN105938152A (ja) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
HUP1700051A2 (hu) | 2017-02-02 | 2018-08-28 | Equip Test Kft | Kontaktáló eszköz, fejegység ahhoz, valamint eljárások kontaktáló eszköz és fejegység elõállítására |
US10753961B2 (en) * | 2017-05-10 | 2020-08-25 | Tektronix, Inc. | Shielded probe tip interface |
CN109752574A (zh) * | 2017-11-07 | 2019-05-14 | 特克特朗尼克公司 | 探头末端和探头组件 |
US10845384B2 (en) * | 2017-11-07 | 2020-11-24 | Tektronix. Inc. | Surface-mountable apparatus for coupling a test and measurement instrument to a device under test |
JP1623280S (ja) * | 2018-02-02 | 2019-01-28 | ||
JP1622968S (ja) * | 2018-02-02 | 2019-01-28 | ||
JP1623279S (ja) * | 2018-02-02 | 2019-01-28 | ||
JP1622969S (ja) * | 2018-02-02 | 2019-01-28 | ||
USD873161S1 (en) * | 2018-02-02 | 2020-01-21 | Kabushiki Kaisha Nihon Micronics | Electric contact |
JP1622970S (ja) * | 2018-02-02 | 2019-01-28 | ||
JP1626668S (ja) * | 2018-02-02 | 2019-03-18 | ||
JP1626667S (ja) * | 2018-02-02 | 2019-03-18 | ||
US11079408B2 (en) * | 2018-05-18 | 2021-08-03 | Tektronix, Inc. | Resistive test-probe tips |
US10886588B2 (en) | 2018-09-26 | 2021-01-05 | Keysight Technologies, Inc. | High dynamic range probe using pole-zero cancellation |
USD904212S1 (en) * | 2019-04-15 | 2020-12-08 | Ingun Prüfmittelbau Gmbh | Self-cleaning head shape |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2849681A (en) | 1955-12-21 | 1958-08-26 | Prec Apparatus Co Inc | Electrical probe |
US5106312A (en) | 1991-06-27 | 1992-04-21 | Yeh Ming H | Coaxial cable output terminal safety plug device |
JP2000260601A (ja) | 1999-03-08 | 2000-09-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 抵抗器およびその製造方法 |
JP3268302B2 (ja) | 1996-09-06 | 2002-03-25 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 液相メタノール合成触媒 |
US20030222665A1 (en) | 2002-04-18 | 2003-12-04 | Dascher David J. | Voltage probe systems having improved bandwidth capability |
JP2006337361A (ja) | 2005-05-31 | 2006-12-14 | Agilent Technol Inc | 信号プローブ及びプローブアセンブリ |
JP2007121284A (ja) | 2005-10-27 | 2007-05-17 | Agilent Technol Inc | インピーダンス制御されたばねコンタクトピン又は先端抵抗器ばねコンタクトピンを有するプローブアセンブリ |
DE102009008156A1 (de) | 2009-02-09 | 2010-08-19 | Ingun Prüfmittelbau Gmbh | Elektrische Prüfstiftvorrichtung |
JP5175002B2 (ja) | 2009-04-21 | 2013-04-03 | インディアン・スペース・リサーチ・オーガニゼイション | フラッシュ大気データシステム(fads)の圧力検知における障害を検出し分離するためのシステム及び方法 |
JP6267710B2 (ja) | 2012-09-13 | 2018-01-24 | ザ リージェンツ オブ ザ ユニヴァーシティー オブ カリフォルニアThe Regents Of The University Of California | 医用画像中の肺結節を自動検出するためのシステム及び方法 |
Family Cites Families (37)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3136973A (en) * | 1961-09-18 | 1964-06-09 | Cons Electronics Ind | Sealed resistor |
US3174123A (en) * | 1963-01-28 | 1965-03-16 | Blossy D Frederico | High power hybrid-l coaxial attenuator with t-fitting for inner conductors |
US3578428A (en) * | 1968-11-04 | 1971-05-11 | Jobling & Co James A | Methods of producing ceramic material in rod or tube form |
US3859568A (en) * | 1974-01-16 | 1975-01-07 | Gen Electric | Overvoltage surge arrester with improved voltage grading circuit |
DE8417746U1 (de) | 1984-06-12 | 1986-01-09 | Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg | Kontaktelement |
DE3533227A1 (de) | 1984-09-27 | 1986-04-03 | Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg | Federkontaktstift |
US4884034A (en) * | 1989-01-03 | 1989-11-28 | Hermilo Guzman | Ground fault detector and locator |
US5045780A (en) * | 1989-12-04 | 1991-09-03 | Everett/Charles Contact Products, Inc. | Electrical test probe contact tip |
JP2559875B2 (ja) * | 1990-03-16 | 1996-12-04 | 日本碍子株式会社 | 抵抗体素子 |
US5136237A (en) | 1991-01-29 | 1992-08-04 | Tektronix, Inc. | Double insulated floating high voltage test probe |
JPH05175002A (ja) * | 1991-12-20 | 1993-07-13 | Rohm Co Ltd | 円筒型電子部品 |
JPH0613202A (ja) * | 1992-06-26 | 1994-01-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 抵抗器 |
JP3112765B2 (ja) * | 1993-03-15 | 2000-11-27 | 日本碍子株式会社 | 熱式流量計 |
JPH0886808A (ja) * | 1994-07-20 | 1996-04-02 | Sony Tektronix Corp | 高電圧プローブ |
US6222378B1 (en) | 1999-05-28 | 2001-04-24 | Tektronix, Inc. | Probe adapter for a ball-grid-array package |
WO2002010675A1 (en) | 2000-07-31 | 2002-02-07 | Lecroy Corporation | Electrical test probe flexible spring tip |
USD444401S1 (en) | 2000-07-31 | 2001-07-03 | Lecroy Corporation | Electrical test probe wedge tip |
US6538424B1 (en) | 2000-07-31 | 2003-03-25 | Le Croy Corporation | Notched electrical test probe tip |
USD444721S1 (en) | 2000-07-31 | 2001-07-10 | Lecroy Corporation | Electrical test probe probing head |
US6462529B1 (en) | 2000-07-31 | 2002-10-08 | Lecroy Corporation | Legs for trimming a tripod with an electrical test probe tip |
US6518780B1 (en) | 2000-07-31 | 2003-02-11 | Lecroy Corporation | Electrical test probe wedge tip |
USD444720S1 (en) | 2000-07-31 | 2001-07-10 | Lecroy Corporation | Notched electrical test probe tip |
US6605934B1 (en) | 2000-07-31 | 2003-08-12 | Lecroy Corporation | Cartridge system for a probing head for an electrical test probe |
US6433527B1 (en) * | 2001-06-01 | 2002-08-13 | Maxim Integrated Products, Inc. | Phase failure detector for multi-phase switching regulators |
US6956362B1 (en) | 2001-12-14 | 2005-10-18 | Lecroy Corporation | Modular active test probe and removable tip module therefor |
US6822463B1 (en) | 2001-12-21 | 2004-11-23 | Lecroy Corporation | Active differential test probe with a transmission line input structure |
US7173439B1 (en) | 2003-02-14 | 2007-02-06 | Lecroy Corporation | Guide for tip to transmission path contact |
US7317312B1 (en) | 2003-02-14 | 2008-01-08 | Lecroy Corporation | Guide for tip to transmission path contact |
US7371128B2 (en) | 2003-10-14 | 2008-05-13 | Precision Interconnect, Inc. | Cable terminal with air-enhanced contact pins |
US7221179B1 (en) | 2003-12-18 | 2007-05-22 | Lecroy Corporation | Bendable conductive connector |
WO2005060719A2 (en) | 2003-12-18 | 2005-07-07 | Lecroy Corporation | Resistive probe tips |
US7295020B2 (en) | 2003-12-18 | 2007-11-13 | Lecroy Corporation | Cap at resistors of electrical test probe |
US7262614B1 (en) | 2005-02-10 | 2007-08-28 | Lecroy Corporation | Planar on edge probing tip with flex |
US7321234B2 (en) | 2003-12-18 | 2008-01-22 | Lecroy Corporation | Resistive test probe tips and applications therefor |
US7894174B2 (en) * | 2004-08-23 | 2011-02-22 | Monolithic Power Systems, Inc. | Method and apparatus for fault detection scheme for cold cathode fluorescent lamp (CCFL) integrated circuits |
US8134377B1 (en) | 2005-08-31 | 2012-03-13 | Lecroy Corporation | Adherable holder and locater tool |
US7671613B1 (en) | 2006-01-06 | 2010-03-02 | Lecroy Corporation | Probing blade conductive connector for use with an electrical test probe |
-
2014
- 2014-12-31 US US14/587,703 patent/US9810715B2/en active Active
-
2015
- 2015-12-29 JP JP2015257610A patent/JP7231977B2/ja active Active
- 2015-12-30 EP EP15203192.8A patent/EP3056912B1/en active Active
- 2015-12-31 CN CN201511036011.6A patent/CN105938152A/zh active Pending
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2849681A (en) | 1955-12-21 | 1958-08-26 | Prec Apparatus Co Inc | Electrical probe |
US5106312A (en) | 1991-06-27 | 1992-04-21 | Yeh Ming H | Coaxial cable output terminal safety plug device |
JP3268302B2 (ja) | 1996-09-06 | 2002-03-25 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 液相メタノール合成触媒 |
JP2000260601A (ja) | 1999-03-08 | 2000-09-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 抵抗器およびその製造方法 |
US20030222665A1 (en) | 2002-04-18 | 2003-12-04 | Dascher David J. | Voltage probe systems having improved bandwidth capability |
JP2006337361A (ja) | 2005-05-31 | 2006-12-14 | Agilent Technol Inc | 信号プローブ及びプローブアセンブリ |
JP2007121284A (ja) | 2005-10-27 | 2007-05-17 | Agilent Technol Inc | インピーダンス制御されたばねコンタクトピン又は先端抵抗器ばねコンタクトピンを有するプローブアセンブリ |
DE102009008156A1 (de) | 2009-02-09 | 2010-08-19 | Ingun Prüfmittelbau Gmbh | Elektrische Prüfstiftvorrichtung |
JP5175002B2 (ja) | 2009-04-21 | 2013-04-03 | インディアン・スペース・リサーチ・オーガニゼイション | フラッシュ大気データシステム(fads)の圧力検知における障害を検出し分離するためのシステム及び方法 |
JP6267710B2 (ja) | 2012-09-13 | 2018-01-24 | ザ リージェンツ オブ ザ ユニヴァーシティー オブ カリフォルニアThe Regents Of The University Of California | 医用画像中の肺結節を自動検出するためのシステム及び方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9810715B2 (en) | 2017-11-07 |
EP3056912B1 (en) | 2021-04-07 |
JP2016126018A (ja) | 2016-07-11 |
US20160187382A1 (en) | 2016-06-30 |
CN105938152A (zh) | 2016-09-14 |
EP3056912A1 (en) | 2016-08-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7231977B2 (ja) | 試験プローブ及び試験プローブ・チップ | |
US10241133B2 (en) | Probe tip and probe assembly | |
KR101415722B1 (ko) | 콘택트 프로브 및 프로브 유닛 | |
CN107843750B (zh) | 插销式探针 | |
CN104897934B (zh) | 弹簧套筒式探针 | |
JP2016520835A (ja) | テストプローブ、テストプローブアセンブリ及びテストプラットフォーム | |
TW201502518A (zh) | 具回授測試功能之探針模組 | |
US10119992B2 (en) | High impedance compliant probe tip | |
US20170244189A1 (en) | Spring contact in a testing apparatus for integrated circuits | |
JP2015004614A (ja) | コンタクトプローブ | |
JP3878578B2 (ja) | コンタクトプローブ、これを用いた半導体及び電気検査装置 | |
TWI582434B (zh) | 探針裝置 | |
JP2019086519A (ja) | 試験プローブ及び試験プローブ・チップ | |
CN207472929U (zh) | 测试治具的探针安装结构 | |
TW201638589A (zh) | 探針結構與探針卡 | |
JP3183676U (ja) | 半導体検査用プローブピン | |
JP7409783B2 (ja) | 試験プローブ・チップ及び抵抗性要素 | |
TW201837476A (zh) | 探針、探針單元及具備探針單元之半導體檢查裝置 | |
US10845384B2 (en) | Surface-mountable apparatus for coupling a test and measurement instrument to a device under test | |
JP7509365B2 (ja) | 試験測定装置を被試験デバイスに結合する装置、試験測定システム及び被試験デバイスの動作モードを設定する方法 | |
TWI529395B (zh) | Probe module with feedback test function | |
US20140266277A1 (en) | Semiconductor testing probe needle | |
TWI599778B (zh) | Test probe unit group | |
US9485671B2 (en) | Inter-stage test structure for wireless communication apparatus | |
TWI617811B (zh) | 探針卡 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A625 | Written request for application examination (by other person) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A625 Effective date: 20181214 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20191009 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20191023 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20200123 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20200323 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200410 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200901 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20201201 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20210201 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210301 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20210803 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20211203 |
|
C60 | Trial request (containing other claim documents, opposition documents) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C60 Effective date: 20211203 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20211213 |
|
C21 | Notice of transfer of a case for reconsideration by examiners before appeal proceedings |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C21 Effective date: 20211214 |
|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20220128 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20220201 |
|
C211 | Notice of termination of reconsideration by examiners before appeal proceedings |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C211 Effective date: 20220201 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20220201 |
|
C22 | Notice of designation (change) of administrative judge |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C22 Effective date: 20220419 |
|
C22 | Notice of designation (change) of administrative judge |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C22 Effective date: 20220510 |
|
C13 | Notice of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C13 Effective date: 20220621 |
|
C22 | Notice of designation (change) of administrative judge |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C22 Effective date: 20220705 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220921 |
|
C23 | Notice of termination of proceedings |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C23 Effective date: 20221108 |
|
C03 | Trial/appeal decision taken |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C03 Effective date: 20221206 |
|
C30A | Notification sent |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C3012 Effective date: 20221206 |
|
R155 | Notification before disposition of declining of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R155 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20230217 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7231977 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |