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JP7204770B2 - 両面冷却型パワーモジュールおよびその製造方法 - Google Patents

両面冷却型パワーモジュールおよびその製造方法 Download PDF

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JP7204770B2
JP7204770B2 JP2020550787A JP2020550787A JP7204770B2 JP 7204770 B2 JP7204770 B2 JP 7204770B2 JP 2020550787 A JP2020550787 A JP 2020550787A JP 2020550787 A JP2020550787 A JP 2020550787A JP 7204770 B2 JP7204770 B2 JP 7204770B2
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    • H01L2224/32238Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation the layer connector connecting to a bonding area protruding from the surface of the item
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Description

本発明は、電気自動車、ハイブリッド自動車、燃料電池自動車などのエコカー、およびエアコンなどの家電機器に備えられる両面冷却型パワーモジュールならびにその製造方法に関するものである。
一般的に、電気自動車、ハイブリッド自動車、燃料電池自動車などのエコカーや、エアコンなどの家電機器には、駆動手段としてのモータが備えられる。このようなモータは、コントローラのPWM(Pulse Width Modulation)信号によって直流電圧を三相電圧に変換するインバータからの電力ケーブルを介して伝達される三相電流によって駆動される。
上記インバータには、電源供給部から供給される電源を利用してモータを駆動するための電源を供給する動作を行うパワー素子が備えられている。パワー素子は、スイッチング動作によりモータを駆動するための電源を供給することができる。このようなパワー素子としては、従来では、GTO(Gate Turn-Off thyristor)半導体素子が使用されていたが、現在では、IGBT(Insulated Gate Bipolar mode Transistor)半導体素子が使用されているのが実情である。
パワー素子のスイッチング動作時には、パワー素子と、それを含むパワーモジュール内部と、の温度が高くなる。内部の温度が過度に高くなることで、パワー素子が損傷する可能性が存在する。パワー素子が損傷した場合、モータの動作が正常に行われないことがある。よって、パワー素子およびパワーモジュールの過熱を防止するためには、適切な冷却方法が必須的に導入されなければならない。
このために、パワー素子を含むパワーモジュールは、スイッチング動作時のチップアセンブリの冷却のためのヒートシンクを含むことができる。上記ヒートシンクは、チップアセンブリの上面および下面のいずれか1つの面に付着される片面ヒートシンクと、両面に付着される両面ヒートシンクと、を含むことができる。
このうち、両面ヒートシンクを有する両面冷却型パワーモジュールは、片面ヒートシンクを有する片面冷却型パワーモジュールに比べて冷却性能が優れるので、その使用が増加する傾向にある。
ただし、従来の両面冷却型パワーモジュールの場合、パワー素子の上部電極のうちのゲート電極を信号ピンまたは端子と連結させるためのワイヤなどの連結部材が含まれていた。このような連結部材の使用により、コンパクトなパワーモジュールの具現が困難であり、追加的な連結工程が追加されることで、工程の単純化および製造時間の減少も難しいという問題が存在する。
本発明が解決しようとする課題は、パワー素子のゲート電極を信号ピンまたは端子と連結するためのワイヤなどの連結部材を備えずに製造可能であることにより、製造工程を単純化し、製造時間を減少させ、よりコンパクトなサイズを有する両面冷却型パワーモジュールを提供することである。
本発明の実施例に係るパワーモジュールは、金属プレートが一面に形成された第1基板と、第1基板と離隔され、第1基板の複数の金属プレートと対向する一面に複数の金属プレートが形成された第2基板と、第1基板と第2基板との間に備えられる複数のパワー素子と、複数のパワー素子のそれぞれの第1面に形成される第1電極と、複数のパワー素子のそれぞれの第2面に形成される第2電極と、を有し、複数のパワー素子は、第1電極が第2基板の複数の金属プレートと接合される第1パワー素子と、第1電極が第1基板の複数の金属プレートと接合される第2パワー素子と、を有する。
一実施例によれば、複数のパワー素子は、IGBT半導体素子を有し、第1電極は、ゲート電極およびエミッタ電極を有し、第2電極は、コレクタ電極を有することができる。
第1基板および第2基板のそれぞれに形成された複数の金属プレートのうちのいずれか1つは、ゲート電極と一部が接合され、他の一部が信号ピンまたは端子と接合される。
パワーモジュールは、ゲート電極と信号ピンまたは端子とを連結するワイヤを備えなくてもよい。
第1基板の複数の金属プレートのうちのいずれか1つは、第1パワー素子のコレクタ電極および第2パワー素子のエミッタ電極と電気的に連結される。
コレクタ電極にはスペーサが接合され、いずれか1つの金属プレートは、第1パワー素子のコレクタ電極に接合されたスペーサおよび第2パワー素子のエミッタ電極と接合される。
一実施例によれば、第1基板および第2基板のそれぞれの金属プレートのうちの第1金属プレートは、信号ピンおよび端子と接合され、第1金属プレートには、少なくとも1つの隙間を有するようにする少なくとも1つのスリットが形成される。
一実施例によれば、第1金属プレートは、少なくとも1つのスリットによって複数の金属プレートに区分される。
第1基板の他面および第2基板の他面のそれぞれに金属プレートが形成される。
本発明の実施例に係るパワーモジュールの製造方法は、第1基板と第2基板とが対向する一面のそれぞれに接合材料を印刷するステップと、第1基板と第2基板との間に複数のパワー素子を実装するステップと、第1基板、第2基板および複数のパワー素子が接合されるように焼結(sintering)するステップと、を有し、複数のパワー素子は、第1面に形成される第1電極および第1面の反対面である第2面に形成される第2電極を有し、実装するステップは、複数のパワー素子のうちの第1パワー素子を、第1面に形成された第1電極が第2基板を向くように実装するステップと、複数のパワー素子のうちの第2パワー素子を、第1面に形成された第1電極が第1基板を向くように実装するステップと、を有することができる。
一実施例によれば、実装するステップは、第1基板と第2基板との間に複数のパワー素子、複数のダイオードならびに信号ピンおよび端子を有するリードフレームを実装するステップを有することができる。
焼結するステップは、第1基板および第2基板のそれぞれの第1金属プレートが、複数のパワー素子のうちのいずれか1つのゲート電極と一部が接合され、信号ピンまたは端子と他の一部が接合されるように焼結するステップを有することができる。
パワーモジュールの製造方法は、焼結された第1基板と第2基板との間に絶縁材料がモールド(モールディング)されるステップと、リードフレームのうち信号ピンおよび端子を除いたフレームがカットされ、信号ピンおよび端子が予め設定された形態に形成(フォーミング)されるステップと、信号ピンおよび端子の絶縁のための絶縁材料がモールドされるステップと、をさらに有することができる。
本発明の実施例によれば、上面基板および下面基板に形成された一金属プレートがパワー素子のゲート電極と信号ピンとを連結するように形成されることで、別途のワイヤを必要としないパワーモジュールを提供することができる。よって、よりコンパクトなパワーモジュールの製造が可能である。
また、別途のワイヤ連結工程が行われることなく、1回の焼結工程だけで基板とパワー素子との接合が可能であるので、製造工程が単純化されるだけではなく、製造時間も効果的に減少させることができる。
さらに、第1パワー素子と第2パワー素子とが異なる方向を向くように配置されることで、上面基板の一金属プレートが第1パワー素子のコレクタ電極および第2パワー素子のエミッタ電極と電気的に連結されるように形成され、ハーフブリッジ回路がより簡単に具現される。
また、基板のそれぞれの金属プレートのうちの信号ピンおよび端子と接合される金属プレートには、熱による膨張時の基板の変形を防止するためのスリットが形成される。よって、金属プレートとセラミック基板との熱膨張係数の差により発生する基板の変形による破損や損傷などを防止することができる。
パワーモジュールに備えられるパワー素子の一実施例を示す図である。 パワーモジュールに備えられるパワー素子の一実施例を示す図である。 パワーモジュールに備えられるパワー素子の一実施例を示す図である。 図1に図示されたパワー素子を含むサブモジュールの一部の構造を概略的に示す断面図である。 本発明の実施例に係る両面冷却型パワーモジュールの製造過程を説明するフローチャートである。 図3に図示された両面冷却型パワーモジュールの製造過程を各ステップ別に示す例示図である。 図3に図示された両面冷却型パワーモジュールの製造過程を各ステップ別に示す例示図である。 図3に図示された両面冷却型パワーモジュールの製造過程を各ステップ別に示す例示図である。 図3に図示された両面冷却型パワーモジュールの製造過程を各ステップ別に示す例示図である。 図3に図示された両面冷却型パワーモジュールの製造過程を各ステップ別に示す例示図である。 図3に図示された両面冷却型パワーモジュールの製造過程を各ステップ別に示す例示図である。 図3に図示された両面冷却型パワーモジュールの製造過程を各ステップ別に示す例示図である。 図3に図示された両面冷却型パワーモジュールの製造過程を各ステップ別に示す例示図である。 図3に図示された両面冷却型パワーモジュールの製造過程を各ステップ別に示す例示図である。 図3に図示された両面冷却型パワーモジュールの製造過程を各ステップ別に示す例示図である。 図3に図示された両面冷却型パワーモジュールの製造過程を各ステップ別に示す例示図である。 図3に図示された両面冷却型パワーモジュールの製造過程を各ステップ別に示す例示図である。 図3に図示された両面冷却型パワーモジュールの製造過程を各ステップ別に示す例示図である。
以下、添付された図面を参照して、本明細書に開示された実施例を詳しく説明するが、同一または類似する構成要素は、同じ参照番号を付し、それに対する重なる説明は、省略することにする。以下の説明で用いられる構成要素に対する接尾辞「モジュール」および「部」は、明細書を容易に作成するために付与または混用されるものであり、それ自体で相互に区別される意味または役割を持つものではない。また、本明細書に開示された実施例の説明において、関連公知技術に関する具体的な説明が、本明細書に開示された実施例の要旨を不明確にすると判断される場合、その詳細な説明を省略する。また、添付された図面は、本明細書に開示された実施例を容易に理解できるようにするためのものであり、添付された図面によって本明細書に開示された技術的思想が限定されるものではなく、本発明の思想および技術範囲に含まれる全ての変更、均等物ないし代替物を含むものと理解されるべきである。
第1、第2などのように序数を含む用語は、多様な構成要素を説明するために用いられることがあるが、上記構成要素は、上記用語によって限定されるものではない。上記用語は、1つの構成要素を他の構成要素から区別するためにのみ用いられる。
ある構成要素が他の構成要素に「連結」または「接続」されていると記載される場合、その他の構成要素に直接連結または接続されている場合もあるが、間に他の構成要素が存在する可能性もあると理解されるべきである。一方、ある構成要素が他の構成要素に「直接連結」または「直接接続」されていると記載される場合、間に他の構成要素が存在しないと理解されるべきである。
単数の表現は、文脈上明白に違うように意味しない限り複数の表現を含む。
本出願で、「含む」または「有する」などの用語は、明細書に記載された特徴、数字、段階、動作、構成要素、部品またはこれらを組合せたものが存在することを指定しようとするものであって、1つまたは複数の他の特徴や数字、段階、動作、構成要素、部品またはこれらを組合せたものの存在または付加可能性を予め排除するものではないと理解されるべきである。
以下、本明細書に添付された図面を参照して、本発明の実施例を詳しく説明する。
図1a~図1cは、パワーモジュールに備えられるパワー素子の一実施例を示す図面である。
図1a~図1cを参照すると、パワー素子100およびこれを含むパワーモジュールは、電源供給(バッテリなど)から供給される電力を、スイッチング動作によりモータを駆動するための電源に変換して供給する動作を行うことができる。
パワー素子100は、IGBT(Insulated Gate Bipolar mode Transistor)半導体で具現することができるが、これに限定されるものではない。
パワー素子100は、半導体層101、第1電極102、103および第2電極104を含むことができる。
第1電極102、103は、半導体層101の第1面(例えば、半導体層101の上面)に形成され、第2電極104は、第1面の反対面である第2面(例えば、半導体層101の下面)に形成される。第1電極102、103は、パワー素子100の上部電極に該当し、第2電極104は、パワー素子100の下部電極に該当する。
本明細書では、パワー素子100が第1電極としてのゲート電極102およびエミッタ(emitter)電極103を含み、第2電極としてコレクタ(collector)電極104を含むものと図示されているが、実施例によって、第1電極および第2電極は、多様な形態を有することができる。
一方、パワー素子100の一面(例えば、第2電極104が形成された面)には、スペーサ131が接合される。スペーサ131が上記一面と接合されるために、上記一面とスペーサ131との間には、接合部132が形成される。接合部132は、はんだ(solder)または銀(Ag)などの導電性物質の接合材料が上記一面(例えば、第2電極104)に印刷される形態で形成され、スペーサ131は、はんだ付け(soldering)または焼結(sintering)工法によってパワー素子100の一面と接合される。
スペーサ131は、高い熱伝導率と低い熱抵抗、低い電気抵抗を有するので通電性の低下を防止し、パワー素子100から発生する熱を外部に伝達することができる。一般的に、スペーサ131は、Al-Si-C、Cu-Mo、Cuなどの物質で具現することができる。
一方、スペーサ131は、所定の厚さを有するように具現されてもよい、よって、スペーサ131は、後述される第1基板110と第2基板120との間の絶縁距離を確保し、異なる厚さの素子(パワー素子100およびダイオードなど)を利用してパワーモジュールを製造する際に、素子間の厚さの段差を補正することができる。また、スペーサ131が所定の厚さを有することで、パワー素子100から発生する瞬間的な熱による影響を最小にするための熱容量が確保される。
図2は、図1に図示されたパワー素子を含むサブモジュールの一部の構造を概略的に示す断面図である。
図2を参照すると、両面冷却型パワーモジュールは、少なくとも1つのサブモジュール10を含むことができる。
サブモジュール10は、複数のパワー素子100a、100b、第1基板110および第2基板120を含むことができる。本明細書では、第1基板110は、サブモジュール10の上面に配置される基板に該当し、第2基板120は、サブモジュール10の下面に配置される基板に該当するものと定義する。
複数のパワー素子100a、100bのそれぞれには、図1cに示されたスペーサ131が接合される。
第1基板110の一面は、上面ヒートシンク30(図13a参照)と接し、他面は、パワー素子100a、100bと接合される。第2基板120の一面は、下面ヒートシンク20(図12a参照)と接し、他面は、パワー素子100a、100bと接合される。
パワー素子100a、100bは、動作時に高電力で動作し、これによって発熱も一般的なチップに比べて高いことがある。よって、サブモジュール10に備えられる第1基板110および第2基板120は、一般的な基板に比べて熱伝導性が優れる必要があり、高電流の移動が可能であり、高い電気的絶縁性を有する必要がある。また、高い温度においても十分動作可能である必要がある。
一般的に、第1基板110および第2基板120は、DBC(Direct Bonded Copper)基板で具現することができる。この場合、第1基板110は、セラミックプレート111、およびセラミックプレート111の両面に形成される金属プレート112、113、114を含むことができる。第2基板120も第1基板110と同様に、セラミックプレート121、およびセラミックプレート121の両面に形成される金属プレート122、123、124、125を含むことができる。金属プレート112~114、122~125は、銅(Cu)で具現することができる。ただし、本発明の実施例による第1基板110および第2基板120は、DBC基板に限定されるものではなく、サブモジュール10に用いることのできる公知の各種基板で具現することもできる。
第1基板110および第2基板120は、金属プレート112~114、122~125の間に熱伝導性が高いセラミックプレート111、121が備えられることで、パワー素子100a、100bから発生する熱を外部のヒートシンク20、30に効果的に伝達することができる。
一方、複数のパワー素子100a、100bのそれぞれは、ゲート電極102およびエミッタ電極103が第2基板120を向くように配置される第1パワー素子100aと、ゲート電極102およびエミッタ電極103が第1基板110を向くように配置される第2パワー素子100bと、を含むことができる。金属プレート112~114、122~125は、接合されるパワー素子の電極に対応するように、特定のパターン(または形状)を有することができる。
例えば、第1基板110の金属プレート112~114のうち、パワー素子100a、100bを向く金属プレート112、113は、第2パワー素子100bのゲート電極102と接合される金属プレート112と、第1パワー素子100aのコレクタ電極104と電気的に連結されるように、スペーサ131と接合され、同時に第2パワー素子100bのエミッタ電極103と接合される金属プレート113と、を含むことができる。
特に、金属プレート113は、第1パワー素子100aのコレクタ電極104および第2パワー素子100bのエミッタ電極103と電気的に連結されるように具現される。従来の場合、パワー素子100a、100bが同じ方向を向くように配置されることで、金属プレート113がパワー素子100a、100bのそれぞれに分離(大電流パターンが分離)されて接合されていた。しかしながら、本発明の場合、金属プレート113が分離されないので、工程がより単純になる。また、金属プレート113が第1パワー素子100aのコレクタ電極104と第2パワー素子100bのエミッタ電極103とを電気的に連結させることで、別途の電気的連結のための工程なしでもハーフブリッジ(half bridge)回路を簡単に具現することができる。
一方、第2基板120の金属プレート122~125のうち、パワー素子100a、100bを向く金属プレート122~124は、第1パワー素子100aのゲート電極102と接合される金属プレート122、第1パワー素子100aのエミッタ電極103と接合される金属プレート123、および第2パワー素子100bのコレクタ電極104と電気的に連結されるようにスペーサ131と接合される金属プレート124を含むことができる。
図4で後述されるように、ゲート電極102と接合される金属プレート112、122は、端子と連結されるようにパターンが形成される。すなわち、パワー素子100a、100bのゲート電極102は、金属プレート112、122によって端子と連結されるので、従来のように、ゲート電極と端子とを連結させるための別途のワイヤを備えなくてもよい。よって、別途のワイヤを連結させる工程が省略され、工程の単純化および工程時間の減少が可能であり、ワイヤが備えられないので、よりコンパクトなサブモジュール10および両面冷却型パワーモジュールの製造が可能である。
金属プレート112~113、122~123とパワー素子100a、100bとの間、または金属プレート113、124とスペーサ131との間には、接合材料が印刷されて形成される接合部133~135が含まれてもよい。接合部133~135は、パワー素子100a、100bから発生した熱を、第1基板110および第2基板120に伝達するための物質で具現することができる。例えば、接合部133~135は、はんだ(solder)、銀(Ag)などの物質で具現することができる。
また、第1基板110と第2基板120との間には、絶縁のための絶縁部140が形成される。絶縁部140は、絶縁材料がモールド(mold)されて形成される。
以下、図3~図13bを参照して、本発明の実施例に係る両面冷却型パワーモジュールの製造過程について説明することにする。
図3は、本発明の実施例に係る両面冷却型パワーモジュールの製造過程を説明するフローチャートである。
図3を参照すると、両面冷却型パワーモジュールの製造過程は、大別して、接合材料の印刷過程、部品接合過程、端子形成過程およびヒートシンク組立て過程を含むことができる。
例えば、上記接合材料の印刷過程はS100ステップを含み、部品接合過程はS110ステップ~S130ステップを含み、端子形成過程はS140ステップ~S150ステップを含み、ヒートシンク組立て過程はS160ステップを含むことができる。
以下、各ステップについて説明する。
まず、第1基板110および第2基板120のそれぞれに接合材料が印刷される(S100)。
サブモジュール10内に備えられる複数のパワー素子100、ダイオードおよびリードフレームを、第1基板110と第2基板120との間に接合させるために、第1基板110および第2基板120のそれぞれに接合材料が印刷される。第1基板110が上面基板に該当し、第2基板120が下面基板に該当すると仮定すると、接合材料は、第1基板110の下面と第2基板120の上面とにそれぞれ印刷される。上記接合材料は、上述したように銀(Ag)やはんだ(solder)などを含むことができる。接合材料が印刷されることで、第1基板110および第2基板120のそれぞれに接合部133~135が形成される。
次に、第2基板120上に部品が実装(mount)される(S110)。
上記部品は、複数のパワー素子、複数のダイオードおよびリードフレームを含むことができる。上記部品のそれぞれは、第2基板120上の接合位置上に実装される。このとき、第1パワー素子100aは、第1電極102、103が第2基板120を向くように実装され、第2パワー素子100bは、第2電極104が第2基板120を向くように実装される。
部品が実装された後、基板110、120および上記部品の焼結が行われる(S120)。
上記焼結が行われることで、第1基板110と第2基板120とは、相互に対向して加圧され、接合部133~135は、所定の温度に加熱される。これによって、基板110、120と部品とが相互に接合される。本発明の場合、別途のワイヤが備えられないので、一回の焼結動作で基板110、120および部品が全て接合される。
次に、第1基板110と第2基板120との間に絶縁材料がモールドされる(S130)。
焼結が行われた後、パワー素子100の絶縁耐圧を確保するために、第1基板110と第2基板120との間に絶縁材料がモールドされる。また、絶縁材料がモールドされることで、パワー素子100が外部に露出されないので、パワー素子100が効果的に保護される。
以後、信号ピンおよび端子を含むリードフレームのうち、信号ピンおよび端子を除いた残りの部分がカットされ、信号ピンおよび端子が予め設定された形態に形成される(S140)。
リードフレームは、複数の信号ピンおよび端子と、上記信号ピンおよび端子が固定されるフレームと、を含むことができる。上記リードフレームが基板110、120に接合された後、上記信号ピンおよび端子は、基板110、120に固定されるので、上記フレームは、カットされて除去される。
以後、上記信号ピンおよび端子は、所定の形態に形成される(例えば、曲げられる)。
信号ピンおよび端子が形成されると、信号ピンおよび端子の絶縁のために絶縁材料がモールドされる(S150)。S150ステップが行われることで、両面冷却型パワーモジュールに備えられるサブモジュール10の製造が完了する。
例えば、両面冷却型パワーモジュール1(図13b参照)には、複数のサブモジュール10が備えられる。
複数のサブモジュール10の両面にヒートシンクが組立てられ(S160)、その結果、両面冷却型パワーモジュール1(図13b参照)が製造される。
以下、図4~図13bを参照して、両面冷却型パワーモジュールの製造過程をより具体的に説明する。
図4~図13bは、図3に図示された両面冷却型パワーモジュールの製造過程を各ステップ別に示す例示図である。
図4を参照すると、下面基板に該当する第2基板120の上面には、複数の金属プレート122~124、126が形成される。
図2で上述したように、第2基板120の上面には、パワー素子100のゲート電極102と接合される金属プレート122、エミッタ電極103と接合される金属プレート123、およびコレクタ電極104と連結されるようにスペーサ131と接合される金属プレート124が形成される。また、第2基板120の上面には、信号ピンおよび端子と接合される少なくとも1つの金属プレート126が形成される。少なくとも1つの金属プレート126は、金属プレート123、124と連結されるか、金属プレート123、124と離隔された形態を有することができる。
一方、ゲート電極102と接合される金属プレート122は、一部がゲート電極102と接合され、他の一部は信号ピンまたは端子と接合される。すなわち、金属プレート122は、ゲート電極102と信号ピン(または端子)とを電気的に連結させることができる。よって、従来のパワーモジュール1に備えられるワイヤなしでも、ゲート電極102と信号ピンとを連結させることができる。
一方、信号ピンおよび端子と接合される少なくとも1つの金属プレート126には、上記信号ピンおよび端子を通じて電流が流れることで熱が発生する。この場合、セラミック基板121と金属プレート126との間の熱膨張係数の差によって応力(stress)が発生し、このような応力によって、第2基板120が曲がったり歪んで第2基板120または部品の破損や損傷が発生することがある。
これを防止するためには、信号ピンおよび端子と接合される金属プレート126には、複数のスリット127が形成される。上記スリット127によって、図4に示すように、金属プレート126は、複数のプレートに区分されるか、金属プレート126に所定の方向に複数の隙間が形成される。
このようなスリット127によって、金属プレート126の膨張時に上記隙間の幅が減少して第2基板120の曲がりや歪みが最小になり、その結果、第2基板120または部品の破損や損傷を防止することができる。
図示されていないが、上面基板に該当する第1基板110の下面にも上記金属プレート126と対応する金属プレートが備えられ、上記金属プレートにも複数のスリットが形成される。
図5を参照すると、金属プレート122~124、126上に接合材料が印刷される。接合材料が印刷されることで、第2基板120上には、接合部133~137が形成される。上述したように、上記接合材料は、銀(Ag)またははんだ(solder)などの物質を含むことができる。
接合部133~137は、図2で上述したように、パワー素子100のゲート電極102を金属プレート122に接合させる接合部133、エミッタ電極103を金属プレート123に接合させる接合部134、コレクタ電極104を金属プレート124に接合させる接合部135を含むことができる。また、接合部133~137は、ダイオードを金属プレート123、124に接合させる接合部136と、リードフレーム(信号ピンおよび端子)を金属プレート126に接合させる接合部137と、を含むことができる。
このような接合部133~137は、以後の焼結工程において圧力および熱が加えられることで、パワー素子100、ダイオードおよびリードフレームを、第1基板110と第2基板120との間に接合させることができる。
図6および図7を参照すると、接合材料が第1基板110および第2基板120に印刷された後、部品(パワー素子100a、100b、ダイオード150およびリードフレーム160)が、第1基板110および第2基板120上に実装される。
部品が実装された後、焼結工程が行われることで、第1基板110部品および第2基板120が相互に接合される。特に、本発明の実施例に係るサブモジュール10は、ワイヤが備えられないので、1回の焼結工程だけで基板110、120および部品を接合させることができる。
図8を参照すると、基板110、120および部品が接合された後、第1基板110と第2基板120との間に絶縁材料がモールドされることで、絶縁部140が形成される。例えば、上記絶縁部140は、EMC(Epoxy Molding Compound)などの物質を含むことができる。EMCは、シリカ、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、カーボンブラック、難燃剤などの複数の原料が含まれている物質であってもよい。
絶縁部140が形成されることで、パワー素子100a、100bの絶縁耐圧が確保され、外部の水分や異物質、衝撃等からパワー素子100a、100bが効果的に保護される。
図9~図11を参照すると、リードフレーム160のうち、信号ピン161および端子162を除いたフレーム部分が除去(カット)され、信号ピン161および端子162は、予め設定され形態に形成される(曲げられる)。
信号ピン161および端子162が形成された後、信号ピン162および端子162の絶縁を確保するために絶縁材料がモールドされることで、信号ピンおよび端子絶縁部170が形成される。
信号ピンおよび端子絶縁部170が形成されることで、サブモジュール10が製造される。
図12a~図13bを参照すると、複数のサブモジュール10a~10cは、下面ヒートシンク20および上面ヒートシンク30との間に取り付けられ、これによってパワーモジュール1が製造される。本明細書では、パワーモジュール1が3つのサブモジュール10a~10cを含むが、パワーモジュール1に含まれるサブモジュールの数は、これに限定されるものではない。
具体的には、図12aを参照すると、下面ヒートシンク20は、サブモジュール10a~10cが安着される安着部210a~210c、上面ヒートシンク30と取り付けられるための複数の取付溝230を含むことができる。
下面ヒートシンク20は、両面冷却型パワーモジュール1の下部を形成し、サブモジュール10a~10cの下部を外部から遮蔽することができる。
一実施例によれば、下面ヒートシンク20および上面ヒートシンク30は、内部に冷却水が流動する空間を形成することができる。例えば、上記冷却水は、冷却水流入口(図示されない)を介して下面ヒートシンク20の空間に流入し、下面ヒートシンク20に形成された第1通路221を介して上面ヒートシンク30の空間に流動することができる。上面ヒートシンク30内の空間に流動された冷却水は、第2通路222を介して下面ヒートシンク20に流動し、下面ヒートシンク20に流動された冷却水は、冷却水流出口(図示されない)を介して外部に流出することができる。
よって、サブモジュール10a~10cから発生する熱は、熱伝導現象によって上面ヒートシンク30および下面ヒートシンク20に伝導される。上面ヒートシンク30および下面ヒートシンク20の内部の空間に冷却水が流れる場合、上面ヒートシンク30および下面ヒートシンク20に伝導された熱が冷却水で再伝導されることで、上面ヒートシンク30および下面ヒートシンク20の温度が低下する。その後、サブモジュール10a~10cの熱が上面ヒートシンク30および下面ヒートシンク20に再伝導されることで、サブモジュール10a~10cの温度が低下する。
図12bを参照すると、下面ヒートシンク20の安着部210a~210c上に放熱材料が印刷される。例えば、放熱材料は、サーマルグリス、熱伝導性接着剤などのTIM(Thermal Interface Material)を含むことができる。上記放熱材料が印刷されることで放熱部211a~211cが形成される。図示されていないが、放熱部の上面ヒートシンク30にも対応するように形成される。
図12cを参照すると、放熱材料が印刷された後、サブモジュール10a~10cが安着部210a~210c上に安着(または実装)される。
図13aを参照すると、サブモジュール10a~10cが安着部210a~210c上に装着された後、上面ヒートシンク30が組み立てられる。上面ヒートシンク30は、両面冷却型パワーモジュール1の上部を形成し、サブモジュール10a~10cの上部を外部から遮蔽することができる。
例えば、上面ヒートシンク30は、下面ヒートシンク20の取付溝230と対応する取付溝310が形成される。上面ヒートシンク30に形成された取付溝310を介して、取付ねじ40は、上面ヒートシンク30を通過して下面ヒートシンク20の取付溝230に挿入および固定される。これによって、上面ヒートシンク30が下面ヒートシンク20と組立てられる。
上記した詳細な説明は、制限的に解釈されてはならず、例示的なものであると考慮されるべきである。本発明の範囲は、添付された請求の範囲の合理的解釈によって決定されるべきであり、本発明の等価的範囲内における全ての変更は、本発明の範囲に含まれる。

Claims (11)

  1. 複数の金属プレートが一面に形成された第1基板と、
    前記第1基板と離隔され、前記第1基板の複数の金属プレートと対向する一面に複数の金属プレートが形成された第2基板と、
    前記第1基板と前記第2基板との間に備えられ、IGBT(insulated gate bipolar mode transistor)半導体素子を有する複数のパワー素子と、
    前記複数のパワー素子のそれぞれの第1面に形成され、ゲート(gate)電極およびエミッタ(emitter)電極を有する第1電極と、
    前記複数のパワー素子のそれぞれの第2面に形成され、コレクタ(collector)電極を有する第2電極と、を有し、
    前記複数のパワー素子は、
    前記第1電極が前記第2基板の金属プレートのうちの前記ゲート電極および前記エミッタ電極がそれぞれ接続される金属プレートと接合され、前記第2電極が前記第1基板の金属プレートのうちの前記コレクタ電極が接続される金属プレートと接合される第1パワー素子と、
    前記第1電極が前記第1基板の金属プレートのうちの前記ゲート電極および前記エミッタ電極がそれぞれ接続される金属プレートと接合され、前記第2電極が前記第2基板の金属プレートのうちの前記コレクタ電極が接続される金属プレートと接合される第2パワー素子と、を有し、
    前記第1基板および前記第2基板のそれぞれの金属プレートのうちの信号ピンおよび端子が接合される金属プレートは、少なくとも1つの隙間を有するようにする少なくとも1つのスリットが形成され、前記少なくとも1つのスリットによって複数の金属プレートに区分される、パワーモジュール。
  2. 前記第1基板および第2基板のそれぞれに形成された複数の金属プレートのうちの前記ゲート電極が接続される金属プレートは、前記ゲート電極と一部が接合され、他の一部が前記信号ピンまたは端子と接合される、請求項1に記載のパワーモジュール。
  3. 前記パワーモジュールは、前記ゲート電極と前記信号ピンまたは端子とを連結するワイヤを備えていない、請求項2に記載のパワーモジュール。
  4. 前記第1基板の複数の金属プレートのうちのいずれか1つは、前記第1パワー素子のコレクタ電極に接続される金属プレートと前記第2パワー素子のエミッタ電極に接続される金属プレートとにより提供され、
    前記いずれかの金属プレートは、前記第1パワー素子のコレクタ電極と前記第2パワー素子のエミッタ電極とを電気的に連結する、請求項1に記載のパワーモジュール。
  5. 前記コレクタ電極にはスペーサが接合され、
    前記いずれか1つの金属プレートは、前記第1パワー素子のコレクタ電極に接合されたスペーサおよび前記第2パワー素子のエミッタ電極と接合される、請求項4に記載のパワーモジュール。
  6. 前記第1基板の他面および前記第2基板の他面のそれぞれに金属プレートがさらに形成される、請求項1に記載のパワーモジュール。
  7. パワーモジュールの製造方法であって、
    第1基板と第2基板とが対向する一面のそれぞれに接合材料を印刷するステップと、
    前記第1基板と前記第2基板との間に複数のパワー素子を実装するステップと、
    前記第1基板、前記第2基板および前記複数のパワー素子が接合されるように焼結(sintering)するステップと、を有し、
    前記複数のパワー素子は、第1面に形成される第1電極および前記第1面の反対面である第2面に形成される第2電極を有し、
    前記実装するステップは、
    前記複数のパワー素子のうちの第1パワー素子を、第1面に形成された第1電極が前記第2基板を向くように実装するステップと、
    前記複数のパワー素子のうちの第2パワー素子を、第1面に形成された第1電極が前記第1基板を向くように実装するステップと、を有する、パワーモジュールの製造方法。
  8. 前記複数のパワー素子は、IGBT半導体素子を有し、
    前記第1電極は、ゲート電極およびエミッタ電極を有し、
    前記第2電極は、コレクタ電極を有する、請求項に記載のパワーモジュールの製造方法。
  9. 前記実装するステップは、前記第1基板と前記第2基板との間に、前記複数のパワー素子、複数のダイオード、ならびに信号ピンおよび端子を有するリードフレームを実装するステップを有する、請求項に記載のパワーモジュールの製造方法。
  10. 前記焼結するステップは、前記第1基板および前記第2基板のそれぞれの第1金属プレートが、前記複数のパワー素子のうちのいずれか1つのゲート電極と一部が接合され、前記信号ピンまたは端子と他の一部が接合されるように焼結するステップを有する、請求項に記載のパワーモジュールの製造方法。
  11. 前記焼結された第1基板と第2基板との間に絶縁材料がモールドされるステップと、
    前記リードフレームのうち、前記信号ピンおよび端子を除いたフレームがカットされ、前記信号ピンおよび端子が予め設定された形態に形成されるステップと、
    前記信号ピンおよび端子の絶縁のための絶縁材料がモールドされるステップと、をさらに有する、請求項に記載のパワーモジュールの製造方法。
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