JP7114424B2 - SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS AND SUBSTRATE PROCESSING METHOD - Google Patents
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 470
- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims description 253
- 238000003672 processing method Methods 0.000 title claims description 6
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 59
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 34
- 230000032258 transport Effects 0.000 claims description 26
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims description 11
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims description 11
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 11
- 230000036544 posture Effects 0.000 description 83
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 description 11
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 9
- 230000008569 process Effects 0.000 description 9
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 7
- 102100038423 Claudin-3 Human genes 0.000 description 6
- 108090000599 Claudin-3 Proteins 0.000 description 6
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 6
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 5
- 101000702132 Homo sapiens Protein spinster homolog 1 Proteins 0.000 description 3
- 101000629319 Homo sapiens Spindlin-1 Proteins 0.000 description 3
- 102100027005 Spindlin-1 Human genes 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
- 230000003749 cleanliness Effects 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- FGRBYDKOBBBPOI-UHFFFAOYSA-N 10,10-dioxo-2-[4-(N-phenylanilino)phenyl]thioxanthen-9-one Chemical compound O=C1c2ccccc2S(=O)(=O)c2ccc(cc12)-c1ccc(cc1)N(c1ccccc1)c1ccccc1 FGRBYDKOBBBPOI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000007261 regionalization Effects 0.000 description 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67703—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
- H01L21/67718—Changing orientation of the substrate, e.g. from a horizontal position to a vertical position
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- H—ELECTRICITY
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
- H01L21/304—Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67739—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
- H01L21/67742—Mechanical parts of transfer devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67739—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
- H01L21/67745—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber characterized by movements or sequence of movements of transfer devices
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67763—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
- H01L21/67766—Mechanical parts of transfer devices
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67763—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
- H01L21/67775—Docking arrangements
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67763—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
- H01L21/67778—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading involving loading and unloading of wafers
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Description
本発明は、基板処理装置および基板処理方法に関する。 The present invention relates to a substrate processing apparatus and a substrate processing method.
従来、半導体デバイスの製造では、半導体基板(以下、単に「基板」という。)に対して様々な処理を行う基板処理装置が用いられている。例えば、特許文献1の基板処理装置では、反転ユニットにおいて基板の表面と裏面とが反転され、裏面洗浄ユニットにおいて裏面の洗浄が行われる。また、当該基板処理装置では、インデクサロボットとメインロボットとの間に、2つの反転ユニットが設けられ、第1の反転ユニットが処理前の基板の受け渡しの際に用いられ、第2の反転ユニットが処理後の基板の受け渡しの際に用いられる。これにより、基板の受け渡し時に、処理後の基板が処理前の基板により汚染されることが防止される。
2. Description of the Related Art Conventionally, in the manufacture of semiconductor devices, substrate processing apparatuses are used to perform various processes on semiconductor substrates (hereinafter simply referred to as "substrates"). For example, in the substrate processing apparatus of
なお、特許文献2の基板処理装置では、搬入用基板収容器において、互いに隣り合う複数の収容位置を収容ブロックとして、複数の収容ブロックを設け、処理済みの基板を搬入用基板収容器に搬入する際に、同一のプロセスジョブに対応する基板の収容位置を共通の収容ブロックとする手法が開示されている。また、清浄度の高い基板の上方に、清浄度の低い基板が収容されることを防止して、ダストの落下による基板汚染を抑制する手法も開示されている。
In the substrate processing apparatus of
ところで、特許文献1の基板処理装置では、例えば、複数の基板に対する処理を開始する際に、1つの反転ユニットのみを用いて処理前の基板を反転することになるため、複数の基板の洗浄ユニットへの搬送に長時間を要してしまう。複数の基板の洗浄ユニットへの搬送において、2つの反転ユニットを用いることも考えられる。しかしながら、この場合、処理前の基板の反転、および、処理済みの基板の反転が、同一の反転ユニットにより行われることとなるため、処理前の基板のダストが反転ユニットを介して処理済みの基板に付着し、処理済みの基板が汚染される可能性がある。
By the way, in the substrate processing apparatus of
本発明は上記課題に鑑みなされたものであり、処理済みの基板が汚染されることを抑制しつつ、複数の基板を効率よく処理することを目的としている。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to efficiently process a plurality of substrates while suppressing contamination of processed substrates.
請求項1に記載の発明は、基板処理装置であって、複数の基板を収納する収納容器が載置される容器載置部と、それぞれが基板に対して処理を行う複数の処理部を有する処理ユニットと、前記容器載置部と前記処理ユニットとの間に配置され、基板を反転する第1反転部と、前記容器載置部と前記処理ユニットとの間に配置され、基板を反転する第2反転部と、前記収納容器と前記第1および第2反転部との間で基板を搬送する容器側搬送部と、前記第1および第2反転部と前記複数の処理部との間で基板を搬送する処理部側搬送部と、前記第1反転部、前記第2反転部、前記容器側搬送部および前記処理部側搬送部を制御することにより、前記収納容器内の未処理の基板を前記第1または第2反転部で反転していずれかの処理部に搬入するとともに、前記処理部による処理済みの基板を前記第1または第2反転部で反転して前記収納容器内に戻す制御部とを備え、各反転部が、前記容器側搬送部により前記収納容器内の未処理の基板が挿入される送出スロットと、前記処理部側搬送部により前記処理部による処理済みの基板が挿入される取込スロットと、前記送出スロットおよび前記取込スロットを一体的に反転することにより、前記容器側搬送部による未処理の基板の挿入に対応付けられた位置に前記送出スロットを配置した送出姿勢と、前記処理部側搬送部による処理済みの基板の挿入に対応付けられた位置に前記取込スロットを配置した取込姿勢とを切り替える反転機構とを備え、前記制御部の指令により、前記容器側搬送部が、前記収納容器内の未処理の基板を前記送出姿勢の前記第1または第2反転部の前記送出スロットに挿入し、前記処理部側搬送部が、前記処理部による処理済みの基板を前記取込姿勢の前記第1または第2反転部の前記取込スロットに挿入し、いずれかの処理部における処理の完了を待って当該処理部へと搬送されるべき未処理の基板が前記収納容器内に存在する高稼働状態において、前記制御部が、前記送出スロットおよび前記取込スロットに基板が挿入されておらず、かつ、前記取込姿勢である前記第1または第2反転部を前記送出姿勢とし、前記送出姿勢とされた前記第1または第2反転部の前記送出スロットに、前記容器側搬送部により前記未処理の基板を挿入する。 According to a first aspect of the present invention, there is provided a substrate processing apparatus comprising a container mounting section on which a storage container for containing a plurality of substrates is placed, and a plurality of processing sections each performing processing on the substrates. a processing unit, a first reversing unit disposed between the container mounting portion and the processing unit for reversing the substrate, and a first reversing portion disposed between the container mounting portion and the processing unit for reversing the substrate. between a second reversing section, a container-side transfer section for transferring substrates between the storage container and the first and second reversing sections, and between the first and second reversing sections and the plurality of processing sections By controlling the processing section-side transport section for transporting the substrate, the first reversing section, the second reversing section, the container-side transport section, and the processing section-side transport section, unprocessed substrates in the container are controlled. is reversed by the first or second reversing section and carried into one of the processing sections, and the substrate processed by the processing section is reversed by the first or second reversing section and returned to the storage container. each reversing unit includes a delivery slot into which unprocessed substrates in the storage container are inserted by the container-side transport unit; By integrally inverting the intake slot to be inserted and the delivery slot and the intake slot, the delivery slot is arranged at a position corresponding to the insertion of the unprocessed substrate by the container-side transfer section. a reversing mechanism for switching between a sending posture and a taking-in posture in which the taking-in slot is arranged at a position corresponding to the insertion of the processed substrate by the processing-side transport unit; The container-side transfer unit inserts an unprocessed substrate in the storage container into the delivery slot of the first or second reversing unit in the delivery posture, and the processing unit-side transfer unit performs processing by the processing unit. A finished substrate is inserted into the take-in slot of the first or second reversing portion in the take-in posture, and an unprocessed substrate to be transported to the processing portion after completion of processing in one of the processing portions. In a high operation state in which substrates are present in the storage container, the control unit controls the first or second loading posture in which substrates are not inserted into the delivery slot and the loading slot and the substrate is in the loading posture. The reversing section is set to the delivery posture, and the unprocessed substrate is inserted into the delivery slot of the first or second reversing section set to the delivery posture by the container-side transfer section.
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の基板処理装置であって、前記高稼働状態において、前記第1および第2反転部のうち、一方の反転部の前記送出スロットおよび前記取込スロットに基板が挿入されておらず、かつ、前記一方の反転部が前記取込姿勢となっており、さらに、他方の反転部の前記送出スロットに未処理の基板が挿入される場合に、前記制御部が、前記一方の反転部を前記送出姿勢とする。
The invention according to
請求項3に記載の発明は、請求項1または2に記載の基板処理装置であって、前記各反転部の前記送出姿勢において、前記送出スロットが前記取込スロットの下方に位置する、または、前記各反転部の前記取込姿勢において、前記取込スロットが前記送出スロットの上方に位置する。
The invention according to
請求項4に記載の発明は、請求項3に記載の基板処理装置であって、前記各反転部の前記送出姿勢において、前記送出スロットが前記取込スロットの下方に位置し、かつ、前記各反転部が、前記送出スロットに未処理の基板が挿入された状態で前記取込姿勢となる場合に、前記処理部側搬送部により、前記送出スロットの前記未処理の基板が取り出された後、前記取込スロットに処理済みの基板が挿入される、または、前記各反転部の前記取込姿勢において、前記取込スロットが前記送出スロットの上方に位置し、かつ、前記各反転部が、前記取込スロットに処理済みの基板が挿入された状態で前記送出姿勢となる場合に、前記容器側搬送部により、前記取込スロットの前記処理済みの基板が取り出された後、前記送出スロットに未処理の基板が挿入される。
The invention according to
請求項5に記載の発明は、請求項1ないし4のいずれか1つに記載の基板処理装置であって、前記送出スロットおよび前記取込スロットの両方に基板が入った状態において、前記反転機構による反転動作が禁止される。
The invention according to
請求項6に記載の発明は、請求項1ないし5のいずれか1つに記載の基板処理装置であって、前記複数の基板のそれぞれが、パターンが形成されたパターン面と、前記パターン面とは反対側の裏面とを有し、前記収納容器において、前記複数の基板のそれぞれが前記パターン面を上方に向けて保持され、前記複数の処理部において、基板の前記裏面に対して処理が行われる。
The invention according to
請求項7に記載の発明は、基板処理装置における基板処理方法であって、前記基板処理装置が、複数の基板を収納する収納容器が載置される容器載置部と、それぞれが基板に対して処理を行う複数の処理部を有する処理ユニットと、前記容器載置部と前記処理ユニットとの間に配置され、基板を反転する第1反転部と、前記容器載置部と前記処理ユニットとの間に配置され、基板を反転する第2反転部と、前記収納容器と前記第1および第2反転部との間で基板を搬送する容器側搬送部と、前記第1および第2反転部と前記複数の処理部との間で基板を搬送する処理部側搬送部とを備え、各反転部が、前記容器側搬送部により前記収納容器内の未処理の基板が挿入される送出スロットと、前記処理部側搬送部により前記処理部による処理済みの基板が挿入される取込スロットと、前記送出スロットおよび前記取込スロットを一体的に反転することにより、前記容器側搬送部による未処理の基板の挿入に対応付けられた位置に前記送出スロットを配置した送出姿勢と、前記処理部側搬送部による処理済みの基板の挿入に対応付けられた位置に前記取込スロットを配置した取込姿勢とを切り替える反転機構とを備え、前記基板処理方法が、a)前記容器側搬送部により、前記収納容器内の未処理の基板を前記送出姿勢のいずれかの反転部の前記送出スロットに挿入する工程と、b)前記反転部を前記取込姿勢として前記基板を反転する工程と、c)前記処理部側搬送部により、前記基板を前記反転部からいずれかの処理部に搬入する工程と、d)前記処理部において前記基板に対して処理を行う工程と、e)前記処理部による処理済みの前記基板を、前記処理部側搬送部により前記取込姿勢のいずれかの反転部の前記取込スロットに挿入する工程と、f)前記反転部を前記送出姿勢として前記基板を反転する工程と、g)前記容器側搬送部により、前記基板を前記反転部から前記収納容器内に戻す工程と、h)前記a)ないしg)工程に部分的に並行しつつ、前記収納容器内の他の未処理の基板に対して前記a)ないしg)工程と同様の動作を行う工程と、i)いずれかの処理部における処理の完了を待って当該処理部へと搬送されるべき未処理の基板が前記収納容器内に存在する高稼働状態において、前記送出スロットおよび前記取込スロットに基板が挿入されておらず、かつ、前記取込姿勢である前記第1または第2反転部を前記送出姿勢とする工程と、j)前記i)工程において前記送出姿勢とされた前記第1または第2反転部の前記送出スロットに、前記容器側搬送部により前記未処理の基板を挿入する工程とを備える。 According to a seventh aspect of the present invention, there is provided a substrate processing method in a substrate processing apparatus, wherein the substrate processing apparatus includes a container mounting section on which a storage container for containing a plurality of substrates is mounted, and a container mounting section for each substrate. a processing unit having a plurality of processing sections for performing processing on the substrate; a first reversing section disposed between the container mounting section and the processing unit for reversing the substrate; and the container mounting section and the processing unit. a second reversing section arranged between the and a processing unit-side transport unit that transports substrates between the plurality of processing units, and each reversing unit is a delivery slot into which unprocessed substrates in the storage container are inserted by the container-side transport unit. , an intake slot into which a substrate processed by the processing unit is inserted by the processing unit-side transport unit, and an unprocessed substrate by the container-side transport unit by integrally reversing the delivery slot and the intake slot; a delivery posture in which the delivery slot is arranged at a position corresponding to the insertion of the substrate of the above; a) the container-side transfer unit inserts an unprocessed substrate in the storage container into the delivery slot of the reversal unit in one of the delivery postures. b) reversing the substrate with the reversing portion as the take-in posture; and c) carrying the substrate from the reversing portion to one of the processing portions by the processing portion-side transfer portion. d) performing processing on the substrate in the processing section; f) reversing the substrate with the reversing portion as the sending posture; and g) returning the substrate from the reversing portion to the storage container by the container-side transfer portion. and h) partially parallel to the steps a) to g), performing the same operations as in the steps a) to g) on other unprocessed substrates in the storage container; ) In a high operating state in which unprocessed substrates to be transported to one of the processing sections after completion of processing in the processing section exist in the storage container, substrates are placed in the delivery slot and the intake slot. The first or second reversing portion that is not inserted and is in the capturing posture and j) inserting the unprocessed substrate into the delivery slot of the first or second reversing section set to the delivery posture in step i) by the container-side transfer section. and a step.
本発明によれば、処理済みの基板が汚染されることを抑制しつつ、複数の基板を効率よく処理することができる。 According to the present invention, it is possible to efficiently process a plurality of substrates while suppressing contamination of processed substrates.
図1は、本発明の一の実施の形態に係る基板処理装置1の構成を示す図である。図1では、互いに直交する3つの方向をX方向、Y方向およびZ方向として示している。典型的には、Z方向は上下方向(鉛直方向)であり、X方向およびY方向は水平方向である。
FIG. 1 is a diagram showing the configuration of a
基板処理装置1は、後述の処理部61において円板状の基板9を1枚ずつ処理する枚葉式の装置である。基板9は、デバイス形成面である一の主面(以下、「パターン面」という。)と、デバイス非形成面である他の主面(以下、「裏面」という。)とを有する。パターン面には、製造途上のデバイスのパターンが形成される。裏面は、パターン面とは反対側の面である。後述の処理例では、処理部61において、裏面を上方に向けた状態で保持される基板9の当該裏面に対して処理液等による処理が行われる。
The
基板処理装置1は、容器載置部2と、インデクサロボット3と、第1および第2反転部41a,41bと、センタロボット5と、処理ユニット6と、制御ユニット7とを備える。制御ユニット7は、例えばCPU等を含むコンピュータであり、基板処理装置1の全体制御を担う。制御ユニット7の機能については後述する。容器載置部2、インデクサロボット3、第1および第2反転部41a,41b、並びに、センタロボット5は、この順序でY方向に並ぶ。処理ユニット6における、後述する複数の処理部61は、センタロボット5の周囲に配置される。
The
容器載置部2は、複数の容器載置台21を有する。複数の容器載置台21はX方向に並ぶ。各容器載置台21には、複数の基板9を収納する収納容器Cが載置される。収納容器Cは、複数の基板9を多段に収納するキャリアである。収納容器Cでは、パターン面を上方に向けた状態で、複数の基板9が収納される。
The
インデクサロボット3は、収納容器Cと第1および第2反転部41a,41bとの間で基板9を搬送する容器側搬送部(または、容器側搬送装置)である。インデクサロボット3は、容器載置部2と第1および第2反転部41a,41bとの間に配置される。インデクサロボット3は、移動部35を備える。移動部35は、X方向に移動可能であり、かつ、上下方向(Z方向)に平行な軸を中心として回動可能である。また、移動部35は、上下方向に昇降可能である。インデクサロボット3は、1つのハンド群310をさらに備える。ハンド群310は、多関節型アーム33を介して移動部35に接続される。多関節型アーム33は、ハンド群310を一定姿勢に維持しつつ水平方向に進退させる。ハンド群310は、2つのハンド31を有する。2つのハンド31は、上下方向に並んで設けられる。また、各ハンド31には、2つの保持部が設けられる。2つの保持部は、上下方向に並んで設けられる。各保持部は、基板9の下方を向く裏面の外周縁に接触して当該基板9を保持する。インデクサロボット3では、駆動源としてモータ等が用いられる。
The
以下の説明では、2つのハンド31を区別する場合に、上側に配置されるハンド31、および、下側に配置されるハンド31をそれぞれ「上ハンド31」および「下ハンド31」という。また、各ハンド31において、2つの保持部を区別する場合に、上側および下側の保持部をそれぞれ「上保持部」および「下保持部」という。上保持部にて保持される基板9が下保持部に接触することはなく、下保持部にて保持される基板9が上保持部に接触することもない。なお、インデクサロボット3の上記構造は一例に過ぎず、適宜変更されてよい。例えば、2つのハンド31に対して多関節型アーム33が個別に設けられてもよい。
In the following description, when distinguishing between the two
図2は、(+Y)側から(-Y)方向を向いて見た基板処理装置1を示す図であり、第1および第2反転部41a,41bとセンタロボット5とを示している。図1に示すように、第1および第2反転部41a,41bは、インデクサロボット3と、センタロボット5および処理ユニット6との間に配置される。図2に示すように、第1反転部41aは、第2反転部41bの上方に配置される。既述のインデクサロボット3は、第1および第2反転部41a,41bの双方にアクセス可能である。センタロボット5も同様である。第1および第2反転部41a,41bは互いに同様の構造を有する。なお、第1および第2反転部41a,41bは、必ずしも上下方向に並ぶ必要はない。以下の説明では、第1および第2反転部41a,41bを区別しない場合に、両者を単に「反転部41」という。
FIG. 2 is a diagram showing the
図3は、反転部41の構成を示す図である。反転部41は、複数のスロット42,43と、スロット支持部44と、反転機構45とを備える。各スロット42,43は、水平状態で基板9を保持可能な基板保持部である。各スロット42,43では、モータまたはエアシリンダ等を利用して、基板9の保持および解除が可能である。図3の例では、4個のスロット42,43が設けられる。4個のスロット42,43のうち、2つのスロット42が上下方向に互いに隣接して配置され、残りのスロット43が上下方向に互いに隣接して配置される。以下の説明では、図3に示す状態において、下側に配置される2つのスロット42を「送出スロット42」といい、上側に配置される2つのスロット43を「取込スロット43」という。送出スロット42と取込スロット43の違いについては後述する。
FIG. 3 is a diagram showing the configuration of the inverting
スロット支持部44は、2つの送出スロット42および2つの取込スロット43を一体的に支持する枠状部材である。スロット支持部44では、Y方向の両側が開口する。インデクサロボット3は、スロット支持部44の(-Y)側の開口から送出スロット42および取込スロット43にアクセス可能である。センタロボット5は、スロット支持部44の(+Y)側の開口から送出スロット42および取込スロット43にアクセス可能である。反転機構45は、例えば、モータを有し、X方向に平行な軸を中心としてスロット支持部44を180度だけ回動する。これにより、2つの送出スロット42および2つの取込スロット43が一体的に反転し、送出スロット42または取込スロット43に保持される基板9も反転される。
The
反転部41では、制御ユニット7の指令により、上記反転動作が繰り返される。換言すると、反転部41において、送出スロット42が取込スロット43の下方に配置される図3に示す姿勢(以下、「送出姿勢」という。)と、取込スロット43が送出スロット42の下方に配置される姿勢(以下、「取込姿勢」という。)とが切り替えられる。反転部41では、送出スロット42および取込スロット43の両方に基板9が入った状態において、反転機構45による反転動作が禁止されている。反転部41の上記構造は、適宜変更されてよい。
In the reversing
図1に示すセンタロボット5は、第1および第2反転部41a,41bと複数の処理部61との間で基板9を搬送する処理部側搬送部(または、処理部側搬送装置)である。センタロボット5は、第1および第2反転部41a,41bの(+Y)側に配置される。図4は、センタロボット5の構成を示す図である。センタロボット5は、ベース部56と、昇降回動部55とを備える。昇降回動部55は、ベース部56に対して、上下方向に平行な軸を中心として回動可能であり、上下方向に昇降可能である。
The
センタロボット5は、2つのハンド群510をさらに備える。一方のハンド群510は、他方のハンド群510よりも上方に配置される。各ハンド群510は、多関節型アーム53を介して昇降回動部55に接続される。2つの多関節型アーム53は、図示省略の駆動機構により互いに独立して駆動され、ハンド群510を一定姿勢に維持しつつ水平方向に進退させる。各ハンド群510は、2つのハンド51を有する。2つのハンド51は、上下方向に並んで設けられる。既述のように、第1および第2反転部41a,41bでは、基板9が反転されており、各ハンド51は、基板9の下方を向くパターン面の外周縁に接触して当該基板9を保持する。センタロボット5では、駆動源としてモータ等が用いられる。
The
以下の説明では、2つのハンド群510を区別する場合に、上側に配置されるハンド群510、および、下側に配置されるハンド群510をそれぞれ「上ハンド群510」および「下ハンド群510」という。また、2つのハンド51を区別する場合に、上側に配置されるハンド51、および、下側に配置されるハンド51をそれぞれ「上ハンド51」および「下ハンド51」という。上ハンド51にて保持される基板9が下ハンド51に接触することはなく、下ハンド51にて保持される基板9が上ハンド51に接触することもない。なお、センタロボット5の上記構造は一例に過ぎず、適宜変更されてよい。例えば、4個のハンド51に対して多関節型アーム53が個別に設けられてもよい。
In the following description, when distinguishing between the two
図1に示す処理ユニット6は、複数の処理部61を有する。各処理部61では、センタロボット5により搬入される基板9がチャック部により水平状態で保持される。チャック部は、必要に応じて基板9と共に回転する。例えば、当該基板9の上方を向く主面に向けて、ノズルから処理液が供給され、当該主面に対して処理液による処理が行われる。処理部61では、基板9に対して処理ガスによる処理が行われてもよい。処理ユニット6の一例では、図2に示すように、上下方向に積層された4個の処理部61が積層ユニット62として設けられ、図1に示すように、センタロボット5の周囲に4個の積層ユニット62が配置される。処理ユニット6の上記構成は一例に過ぎず、処理ユニット6に設けられる処理部61の個数および配置は適宜変更されてよい。
The
図5は、制御ユニット7の機能構成を示すブロック図である。図5では、インデクサロボット3、センタロボット5、第1反転部41a、第2反転部41bおよび複数の処理部61もブロックで図示している。制御ユニット7は、制御部71と、出入力部72と、記憶部73とを備える。出入力部72は、操作者からの入力を受け付けるとともに、ディスプレイへの表示等により操作者に対する通知を行う。記憶部73は、各種情報を記憶する。制御部71は、スケジューリング部711と、処理指令部712とを備える。スケジューリング部711は、操作者からの入力に基づいて、処理対象の複数の基板9に対して、インデクサロボット3、センタロボット5、第1反転部41a、第2反転部41bおよび複数の処理部61における動作のタイミングを計画する。処理指令部712は、スケジューリング部711により計画された動作タイミングに従って、インデクサロボット3、センタロボット5、第1反転部41a、第2反転部41bおよび複数の処理部61に対して指令信号を出力するとともに、これらからの完了応答等を受け取る。基板処理装置1では、インデクサロボット3、センタロボット5、第1反転部41a、第2反転部41bおよび複数の処理部61の動作が、制御部71により制御される。
FIG. 5 is a block diagram showing the functional configuration of the
図6は、裏面処理動作の流れを示す図である。裏面処理動作は、基板9の裏面に対して処理部61による処理を行うための一連の動作である。以下、1つの基板9(以下、「注目基板9」という。)に注目して、裏面処理動作について説明する。基板処理装置1では、スケジューリング部711により計画された動作タイミングに基づいて、複数の基板9に対する裏面処理動作が互いに並行して行われるが、複数の基板9に対する裏面処理動作については後述する。
FIG. 6 is a diagram showing the flow of the back surface processing operation. The back surface processing operation is a series of operations for performing processing by the
裏面処理動作では、まず、第1または第2反転部41a,41bのいずれを未処理の注目基板9の反転に利用するかが、処理指令部712により確認される。第1反転部41aを利用する場合に(ステップS11)、インデクサロボット3により、収納容器C内の注目基板9(未処理の基板9)が取り出され、第1反転部41aの送出スロット42に挿入される(ステップS12a)。このとき、第1反転部41aは、送出スロット42が下側に位置する送出姿勢となっている。第1反転部41aでは、スロット支持部44が反転される。これにより、第1反転部41aが、送出スロット42が上側に位置する取込姿勢となるとともに、注目基板9が反転される(ステップS13a)。既述のように、収納容器Cでは、パターン面を上方に向けた状態で注目基板9が収納されており、反転後の注目基板9では、裏面が上方を向く。センタロボット5により、送出スロット42の注目基板9が取り出され、いずれかの処理部61に搬入される(ステップS14a)。そして、当該処理部61において上方を向く裏面に対して処理液等による処理が行われる(ステップS15)。
In the back surface processing operation, first, the
一方、ステップS11において、第2反転部41bを利用することが処理指令部712により確認された場合、インデクサロボット3により、収納容器C内の注目基板9が、第2反転部41bの送出スロット42に挿入される(ステップS12b)。このとき、第2反転部41bは、送出スロット42が下側に位置する送出姿勢となっている。第2反転部41bでは、スロット支持部44が反転される。これにより、第2反転部41bが、送出スロット42が上側に位置する取込姿勢となるとともに、注目基板9が反転される(ステップS13b)。センタロボット5により、送出スロット42の注目基板9が取り出され、いずれかの処理部61に搬入される(ステップS14b)。そして、当該処理部61において上方を向く裏面に対して処理液等による処理が行われる(ステップS15)。
On the other hand, in step S11, when the
処理部61における処理が完了すると、処理指令部712により、処理済みの注目基板9の反転において第1または第2反転部41a,41bのいずれを利用するかが確認される。第1反転部41aを利用する場合に(ステップS16)、センタロボット5により、処理部61内の注目基板9(処理済みの基板9)が取り出され、第1反転部41aの取込スロット43に挿入される(ステップS17a)。このとき、第1反転部41aは、取込スロット43が下側に位置する取込姿勢となっている。第1反転部41aでは、スロット支持部44が反転される。これにより、第1反転部41aが、取込スロット43が上側に位置する送出姿勢となるとともに、注目基板9が反転される(ステップS18a)。反転後の注目基板9では、パターン形成面が上方を向く。インデクサロボット3により、取込スロット43の注目基板9が取り出され、収納容器C内に戻される(ステップS19a)。なお、注目基板9は、未処理時に収納されていた収納容器Cとは異なる収納容器Cに戻されてもよい。
When the processing in the
一方、ステップS16において、第2反転部41bを利用することが処理指令部712により確認された場合、センタロボット5により、処理部61内の注目基板9が取り出され、第2反転部41bの取込スロット43に挿入される(ステップS17b)。このとき、第2反転部41bは、取込スロット43が下側に位置する取込姿勢となっている。第2反転部41bでは、スロット支持部44が反転される。これにより、第2反転部41bが、取込スロット43が上側に位置する送出姿勢となるとともに、注目基板9が反転される(ステップS18b)。インデクサロボット3により、取込スロット43の注目基板9が取り出され、収納容器C内に戻される(ステップS19b)。
On the other hand, in step S16, when the
上記ステップS11に関して、スケジューリング部711では、原則として、収納容器C内の注目基板9が処理部61により早く搬送可能なように、第1または第2反転部41a,41bの一方が選択されている。既述のように、インデクサロボット3は、送出姿勢の反転部41a,41bの送出スロット42に基板9を挿入する。したがって、例えば、第1反転部41aが送出姿勢であり、かつ、送出スロット42に基板9が挿入されておらず、第2反転部41bが取込姿勢であり、かつ、取込スロット43に基板9が挿入されていない状態では、第1反転部41aが選択される。これにより、インデクサロボット3が、基板9を直ぐに送出スロット42に挿入することが可能である。
Regarding step S11, in principle, the
また、第1反転部41aが送出姿勢であり、かつ、送出スロット42に基板9が挿入されており、第2反転部41bが取込姿勢であり、かつ、取込スロット43に基板9が挿入されている状態では、第2反転部41bが選択される。この場合に、仮に、第1反転部41aを利用するときには、第1反転部41aの反転動作、センタロボット5による基板9の取り出し、および、第1反転部41aの反転動作を待つ必要がある。一方、第2反転部41bを利用する場合、第2反転部41bの反転動作のみを待てば、インデクサロボット3が、基板9を送出スロット42に挿入することが可能である。
Further, the first reversing
上記ステップS16に関して、スケジューリング部711では、原則として、処理部61内の注目基板9が収納容器Cにより早く搬送可能なように、第1または第2反転部41a,41bの一方が選択されている。既述のように、センタロボット5は、取込姿勢の反転部41a,41bの取込スロット43に基板9を挿入する。したがって、例えば、第1反転部41aが送出姿勢であり、かつ、送出スロット42に基板9が挿入されておらず、第2反転部41bが取込姿勢であり、かつ、取込スロット43に基板9が挿入されていない状態では、第2反転部41bが選択される。これにより、センタロボット5が、基板9を直ぐに取込スロット43に挿入することが可能である。
Regarding step S16, in principle, the
以上のように、好ましいスケジューリング部711では、各反転部41a,41bの姿勢、および、各反転部41a,41bにおける基板9の保持の有無等に基づいて、注目基板9をより早く搬送可能な反転部41a,41bが選択される。
As described above, in the preferred
実際の基板処理装置1では、図7に示すように、処理対象の複数の基板9に対して裏面処理動作が行われる(ステップS21)。このとき、後述するように、一の基板9に対する裏面処理動作に部分的に並行しつつ、収納容器C内の他の未処理の基板9に対して裏面処理動作が行われる。また、全ての処理部61において基板9が処理されており、いずれかの処理部61における処理の完了を待って当該処理部61へと搬送されるべき未処理の基板9が収納容器C内に存在する高稼働状態では、所定の空反転条件が成立する場合に、第1または第2反転部41a,41bの空反転が行われる(ステップS22)。本実施の形態における空反転は、特に言及する場合を除き、送出スロット42および取込スロット43に基板9が挿入されておらず、かつ、取込姿勢である第1または第2反転部41a,41bを送出姿勢とする動作である。空反転条件については後述する。そして、処理対象の全ての基板9に対する裏面処理動作が終了すると、基板処理装置1における複数の基板9の処理が完了する(ステップS23)。
In the actual
次に、複数の基板9に対する裏面処理動作における各構成要素の動作タイミング(すなわち、スケジューリング部711により計画された動作タイミング)について詳細に説明する。図8は、高稼働状態の基板処理装置1におけるタイムチャートを示す図である。図8(並びに、後述の図9ないし図14)において、STは容器載置部2、IRはインデクサロボット3、RVP1は第1反転部41a、RVP2は第2反転部41b、CRはセンタロボット5、SPIN1~SPIN6は第1ないし第6処理部61を示す。ここでは、図示の都合上、6個の処理部61のみを示している。ブロック内に示すアルファベットは、容器載置部2、インデクサロボット3、第1反転部41a、第2反転部41b、センタロボット5、第1ないし第6処理部61における動作の対象となる基板9を識別するためのものである。
Next, the operation timing of each component in the back surface processing operation for a plurality of substrates 9 (that is, the operation timing planned by the scheduling unit 711) will be described in detail. FIG. 8 is a diagram showing a time chart in the
STとIRとの間の矢印は、容器載置部2とインデクサロボット3との間の基板9の受け渡しを示し、IRとRVP1またはRVP2との間の矢印は、インデクサロボット3と第1または第2反転部41a,41bとの間の基板9の受け渡しを示す。RVP1またはRVP2とCRとの間の矢印は、第1または第2反転部41a,41bとセンタロボット5との間の基板9の受け渡しを示し、CRとSPIN1~SPIN6との間の矢印は、センタロボット5と第1ないし第6処理部61との間の基板9の受け渡しを示す。RVP1およびRVP2におけるブロックの下側に示す「REVERSE」は、第1および第2反転部41a,41bにおける反転動作を示す。SPIN1~SPIN6におけるブロックの下側に示す「PROCESS」は、第1ないし第6処理部61における処理の開始を示す。
The arrow between ST and IR indicates the transfer of the
図9は、高稼働状態における第1および第2反転部41a,41bの動作を示す図である。図9では、各反転部41a,41b(RVP1またはRVP2)の2つの取込スロット43に対して「1」および「2」の番号を付し、2つの送出スロット42に対して「3」および「4」の番号を付している。また、反転動作を示す矢印A1(1つの矢印に符号A1aを付す。)の左側に、反転動作の直前におけるスロットの並びを番号で示し、矢印A1の右側に、反転動作の直後におけるスロットの並びを番号で示している。後述の図12ないし図14において同様である。
FIG. 9 is a diagram showing operations of the first and second reversing
図9では、インデクサロボット3およびセンタロボット5において基板9を保持する位置(保持部またはハンド)も示している。IRの右側に示すUp-Upは上ハンド31の上保持部を示し、Lw-Upは上ハンド31の下保持部を示し、Up-Lwは下ハンド31の上保持部を示し、Lw-Lwは下ハンド31の下保持部を示す。また、CRの右側に示すUp-Upは上ハンド群510の上ハンド51を示し、Up-Lwは下ハンド群510の上ハンド51を示し、Lw-Upは上ハンド群510の下ハンド51を示し、Lw-Lwは下ハンド群510の下ハンド51を示す。後述するように、インデクサロボット3では、未処理の基板9は、上ハンド31または下ハンド31の下保持部で保持され、処理済みの基板9は、上ハンド31または下ハンド31の上保持部で保持される。また、センタロボット5では、未処理の基板9は、上ハンド群510または下ハンド群510の下ハンド51で保持され、処理済みの基板9は、上ハンド群510または下ハンド群510の上ハンド51で保持される。
FIG. 9 also shows positions (holding units or hands) for holding the
ここでは、全ての処理部61に基板9が搬入されており、いずれかの処理部61における処理の完了を待って当該処理部61へと搬送されるべき未処理の基板9が収納容器C内に存在する状態、すなわち、高稼働状態であるものとする。一部の処理部61における基板9の処理の完了が近づくと、容器載置部2上の収納容器C内の「F」および「G」の未処理基板9がインデクサロボット3により取り出される。このとき、「F」および「G」の未処理基板9は、上ハンド31の下保持部、および、下ハンド31の下保持部によりそれぞれ保持される。
Here, the
「F」および「G」の未処理基板9は、第1反転部41aの「3」および「4」の送出スロット42にそれぞれ挿入される。「3」および「4」の送出スロット42は下側に位置しており、第1反転部41aは送出姿勢である。第1反転部41aの反転動作により、「F」および「G」の未処理基板9が反転される。また、「3」および「4」の送出スロット42が上側に位置し、第1反転部41aが取込姿勢となる。第1反転部41aの「G」および「F」の未処理基板9は、センタロボット5により取り出される。このとき、「G」および「F」の未処理基板9は、上ハンド群510の下ハンド51、および、下ハンド群510の下ハンド51によりそれぞれ保持される。その後、上ハンド群510では、上ハンド51で第1処理部61内の「a」の処理済み基板9が取り出され、下ハンド51で保持している「G」の未処理基板9が第1処理部61内のチャック部に受け渡される(すなわち、「G」の未処理基板9が第1処理部61内に搬入される)。また、下ハンド群510では、上ハンド51で第2処理部61内の「b」の処理済み基板9が取り出され、下ハンド51で保持している「F」の未処理基板9が第2処理部61内に搬入される。これにより、センタロボット5では、「a」および「b」の処理済み基板9を保持した状態となる。第1および第2処理部61では、「G」および「F」の未処理基板9に対して処理が開始される。
The "F" and "G"
ここで、本実施の形態では、高稼働状態において、一方の反転部の送出スロット42および取込スロット43に基板9が挿入されておらず、かつ、当該一方の反転部が取込姿勢となっており、さらに、他方の反転部の送出スロット42に未処理基板が挿入されることが、当該一方の反転部の空反転条件となる。「F」および「G」の未処理基板9が取り出されることにより、第1反転部41aの送出スロット42および取込スロット43にいずれの基板9も挿入されておらず、かつ、第1反転部41aが取込姿勢となっている。また、後述するように、第1反転部41aの上記反転動作(「F」および「G」の未処理基板9の反転動作)に並行して、第2反転部41bの送出スロット42に未処理基板9が挿入される。したがって、第1反転部41aの空反転条件が成立し、図9中に矢印A1aで示すように、第1反転部41aの空反転が行われる。これにより、第1反転部41aが送出姿勢となる。図8では、内部に平行斜線を付すブロックB1により空反転を示している。空反転後の第1反転部41aの動作については後述する。
Here, in the present embodiment, in the high operating state, the
インデクサロボット3では、上述の「F」および「G」の未処理基板9の第1反転部41aへの搬送後、収納容器C内の「H」および「I」の未処理基板9が取り出される。このとき、「H」および「I」の未処理基板9は、上ハンド31の下保持部、および、下ハンド31の下保持部によりそれぞれ保持される。「H」および「I」の未処理基板9は、第2反転部41bの「3」および「4」の送出スロット42にそれぞれ挿入される。「3」および「4」の送出スロット42は下側に位置しており、第2反転部41bは送出姿勢である。第2反転部41bの反転動作により、「H」および「I」の未処理基板9が反転される。また、「3」および「4」の送出スロット42が上側に位置し、第2反転部41bが取込姿勢となる。
In the
第2反転部41bの「I」および「H」の未処理基板9は、センタロボット5の上ハンド群510の下ハンド51、および、下ハンド群510の下ハンド51によりそれぞれ保持され、取り出される。このとき、センタロボット5は、「a」および「b」の処理済み基板9を、上ハンド群510の上ハンド51、および、下ハンド群510の上ハンド51により保持している。続いて、「a」および「b」の処理済み基板9が、取込姿勢の第2反転部41bにおける、「2」および「1」の取込スロット43にそれぞれ挿入される。このようにして、センタロボット5と第2反転部41bとの間において、2つの未処理基板9と2つの処理済み基板9との交換(以下、単に「基板交換」ともいう。)が行われる。
The "I" and "H"
このとき、センタロボット5では、「a」および「b」の処理済み基板9、および、「I」および「H」の未処理基板9が一時的に同時に保持されるが、いずれの処理済み基板9も上ハンド51に保持され、いずれの未処理基板9も下ハンド51に保持される。したがって、未処理基板9からのダストの落下により処理済み基板9が汚染されることはない。また、未処理基板9のダストがハンド51を介して処理済み基板9に付着することも防止される。さらに、第2反転部41bでは、下側に位置する取込スロット43に処理済み基板9が挿入されるが、処理済み基板9の挿入前に、送出スロット42から未処理基板9が取り出される。したがって、送出スロット42内の未処理基板9からのダストの落下により、取込スロット43内の処理済み基板9が汚染されることはない。
At this time, the
その後、第2反転部41bの反転動作により、「a」および「b」の処理済み基板9が反転される。また、「1」および「2」の取込スロット43が上側に位置し、第2反転部41bが送出姿勢となる。センタロボット5の上ハンド群510では、第3処理部61内の「c」の処理済み基板9が取り出され、「I」の未処理基板9が第3処理部61内に搬入される。下ハンド群510では、第4処理部61内の「d」の処理済み基板9が取り出され、「H」の未処理基板9が第4処理部61内に搬入される。これにより、センタロボット5では、「c」および「d」の処理済み基板9を保持した状態となる。第3および第4処理部61では、「I」および「H」の未処理基板9に対して処理が開始される。
Thereafter, the processed
インデクサロボット3では、センタロボット5と第2反転部41bとの間における上記基板交換に並行して、収納容器C内の「J」および「K」の未処理基板9が取り出される。「J」および「K」の未処理基板9は、空反転により送出姿勢となった第1反転部41aの「3」および「4」の送出スロット42にそれぞれ挿入される。第1反転部41aの反転動作により、「J」および「K」の未処理基板9が反転されるとともに、第1反転部41aが取込姿勢となる。
In the
第1反転部41aの「K」および「J」の未処理基板9は、センタロボット5の上ハンド群510の下ハンド51、および、下ハンド群510の下ハンド51によりそれぞれ保持され、取り出される。このとき、センタロボット5は、「c」および「d」の処理済み基板9を、上ハンド群510の上ハンド51、および、下ハンド群510の上ハンド51により保持している。続いて、「c」および「d」の処理済み基板9が、取込姿勢の第1反転部41aにおける、「2」および「1」の取込スロット43にそれぞれ挿入される。このようにして、センタロボット5と第1反転部41aとの間において、2つの未処理基板9と2つの処理済み基板9との交換(すなわち、基板交換)が行われる。ここでの基板交換は、第1反転部41aを空反転し、第1反転部41aに2つの未処理基板9を投入しておくことにより可能となる。また、センタロボット5が第3および第4処理部61にアクセスしている間に、第1反転部41aの上記反転動作(「J」および「K」の未処理基板9の反転動作)が行われるため、センタロボット5では過度な待ち時間なく、第1反転部41aとの間の基板交換が可能となる。その後、第1反転部41aの反転動作により、「c」および「d」の処理済み基板9が反転される。「K」および「J」の未処理基板9に対するその後の動作は、既述の未処理基板9と同様であるため、説明を省略する。
The "K" and "J"
一方、第2反転部41bでは、取込スロット43内の「a」および「b」の処理済み基板9の反転が完了しており、第2反転部41bが送出姿勢となっている。収納容器C内の「L」および「M」の未処理基板9が、インデクサロボット3の上ハンド31の下保持部、および、下ハンド31の下保持部によりそれぞれ保持され、送出姿勢の第2反転部41bの「3」および「4」の送出スロット42にそれぞれ挿入される。続いて、「1」および「2」の取込スロット43内の「b」および「a」の処理済み基板9が、上ハンド31の上保持部、および、下ハンド31の上保持部により保持され、収納容器C内に戻される。このようにして、インデクサロボット3と第2反転部41bとの間において、2つの未処理基板9と2つの処理済み基板9との交換(すなわち、基板交換)が行われる。
On the other hand, in the second reversing
このとき、インデクサロボット3では、いずれの処理済み基板9も上保持部に保持され、いずれの未処理基板9も下保持部に保持される。したがって、未処理基板9のダストがハンド31を介して処理済み基板9に付着することが防止される。また、第2反転部41bでは、「b」および「a」の処理済み基板9、および、「L」および「M」の未処理基板9が一時的に同時に保持されるが、上側に位置する取込スロット43に処理済み基板9が保持され、下側に位置する送出スロット42に未処理基板9が保持される。したがって、未処理基板9からのダストの落下により処理済み基板9が汚染されることはない(第1反転部41aにおいて同様)。また、未処理基板9は送出スロット42に挿入され、処理済み基板9は取込スロット43に挿入される。したがって、未処理基板9のダストがスロットを介して処理済み基板9に付着することも防止される。「L」および「M」の未処理基板9に対するその後の動作は、既述の未処理基板9と同様であるため、説明を省略する。
At this time, in the
また、第1反転部41aでは、既述のように、取込スロット43内の「c」および「d」の処理済み基板9の反転が行われ、第1反転部41aが送出姿勢となっている。インデクサロボット3では、収納容器C内の「N」および「O」の未処理基板9が、第1反転部41aの2つの送出スロット42にそれぞれ挿入される。このとき、インデクサロボット3が、「a」および「b」の処理済み基板9を収納容器Cに戻す上記動作に並行して、第1反転部41aの上記反転動作(「c」および「d」の処理済み基板9の反転動作)が行われていることにより、インデクサロボット3では、過度な待ち時間なく、「N」および「O」の未処理基板9の第1反転部41aへの投入が可能である。その後、2つの取込スロット43内の「c」および「d」の処理済み基板9が、収納容器C内に戻される。このようにして、インデクサロボット3と第1反転部41aとの間において、2つの未処理基板9と2つの処理済み基板9との交換(すなわち、基板交換)が行われる。「N」および「O」の未処理基板9に対するその後の動作は、既述の未処理基板9と同様であるため、説明を省略する。
Further, in the first reversing
図10は、複数の基板9に対する裏面処理動作の開始直後におけるタイムチャートを示す図である。図10に示すように、複数の基板9に対する裏面処理動作の開始直後には、複数の処理部61に対して収納容器C内の未処理基板9を順次搬入する必要がある。この場合、各反転部41a,41bにおいて未処理基板9を反転し、当該未処理基板9を取り出した後、内部に平行斜線を付すブロックB2に示すように、空反転が行われる。同様に、複数の基板9に対する裏面処理動作の終了直前には、複数の処理部61から収納容器C内に処理済み基板9を順次戻す必要がある。この場合も、各反転部41a,41bにおいて処理済み基板9を反転し、当該処理済み基板9を取り出した後、空反転が行われる。一方、図8中にブロックB1に示す空反転は、高稼働状態において空反転条件に従って行われるものであり、複数の基板9に対する裏面処理動作の開始直後、および、終了直前に行われる上記空反転とは異なる。
FIG. 10 is a diagram showing a time chart immediately after starting the rear surface processing operation for the plurality of
高稼働状態における空反転条件は、第1または第2反転部41a,41bの空反転を行うことにより、基板処理装置1におけるスループットが向上する条件であればよく、図8および図9を参照して説明した空反転条件以外であってもよい。例えば、第1または第2反転部41a,41bの空反転を行うことにより、インデクサロボット3と当該反転部41a,41bとの間、または、センタロボット5と当該反転部41a,41bとの間で、2つの未処理基板9と2つの処理済み基板9との交換(すなわち、基板交換)が可能となる場合に、空反転が行われることが好ましい。
The idling reversal condition in the high operating state may be any condition as long as the throughput in the
一例では、高稼働状態において、第1および第2反転部41a,41bの双方が未処理基板9を保持しておらず、かつ、双方の反転部41a,41bが取込姿勢である場合、少なくとも一方の反転部41a,41bの空反転が行われることが好ましい。空反転の後、当該反転部41a,41bの送出スロット42に未処理基板9が挿入され、さらに、当該反転部41a,41bの反転動作が行われることにより、当該反転部41a,41bが未処理基板9を保持した状態で取込姿勢となる。上記のように、未処理基板9を保持していない双方の反転部41a,41bが取込姿勢である場合、センタロボット5が未処理基板9を保持して処理部61にアクセスしており、処理部61から処理済み基板9を搬出すると考えられる。反転部41a,41bにおける反転動作にはある程度の時間を要するが、センタロボット5が処理部61にアクセスしている間に、第1または第2反転部41a,41bを、未処理基板9を保持した状態で取込姿勢としておくことにより、上記処理済み基板9と未処理基板9との交換を過度な待ち時間なく行うことが可能となる。
In one example, in the high operation state, when both the first and second reversing
次に、第1または第2反転部41a,41bの一方を省略し、1つの反転部のみを用いる比較例の基板処理装置について述べる。比較例の基板処理装置における反転部では、送出スロット42と取込スロット43とは区別されない。また、インデクサロボット3により下側の2つのスロットに未処理基板9が挿入され、センタロボット5により下側の2つのスロットに処理済み基板9が挿入される。
Next, a substrate processing apparatus of a comparative example in which one of the first and second reversing
図11は、比較例の基板処理装置におけるタイムチャートを示す図であり、図12は、反転部の動作を示す図である。図11および図12は、図8および図9にそれぞれ対応する。また、図11および図12中のRVPは上記1つの反転部を示す。比較例の基板処理装置では、インデクサロボット3およびセンタロボット5が反転部の動作の完了を待つ時間が長くなり、全体としての稼働率が低下してしまう。また、反転部では、未処理基板9が挿入されるスロットと、処理済み基板9が挿入されるスロットとが区別されないため、未処理基板9のダストがスロットを介して処理済み基板9に付着する可能性がある。
FIG. 11 is a diagram showing a time chart in the substrate processing apparatus of the comparative example, and FIG. 12 is a diagram showing the operation of the reversing section. 11 and 12 correspond to FIGS. 8 and 9, respectively. Also, RVP in FIGS. 11 and 12 indicates the one inverting portion. In the substrate processing apparatus of the comparative example, the time for which the
これに対し、図1の基板処理装置1では、2つの反転部41a,41bが設けられる。これにより、インデクサロボット3およびセンタロボット5が、反転部41a,41bの動作の完了を待つ時間を、比較例の基板処理装置に比べて短くする(または、無くす)ことができ、稼働率を向上することができる。一例では、基板9の反転を行わない場合とほぼ同等の稼働率を実現することができる。また、各反転部41a,41bが、未処理基板9が挿入される送出スロット42と、処理済み基板9が挿入される取込スロット43とを備える。これにより、未処理基板9のダストがスロットを介して処理済み基板9に付着して、処理済み基板9が汚染されることを抑制することができる。
On the other hand, in the
また、高稼働状態において、送出スロット42および取込スロット43に基板9が挿入されておらず、かつ、取込姿勢である第1または第2反転部41a,41bが、所定の条件において、空反転により送出姿勢とされる。そして、送出姿勢とされた当該反転部41a,41bの送出スロット42に、インデクサロボット3により未処理基板9が挿入される。このように、高稼働状態において、基板9が挿入されていない第1または第2反転部41a,41bの反転(空反転)を行うことにより、当該反転部41a,41bとセンタロボット5との間で未処理基板9と処理済み基板9との交換を行うことができ、複数の基板9を効率よく処理することができる。
Further, in the high operation state, the
好ましくは、高稼働状態において、第1および第2反転部41a,41bのうち、一方の反転部の送出スロット42および取込スロット43に基板9が挿入されておらず、かつ、当該一方の反転部が取込姿勢となっており、さらに、他方の反転部の送出スロット42に未処理基板9が挿入される場合に、当該一方の反転部が空反転により送出姿勢とされる。これにより、当該一方の反転部41a,41bとセンタロボット5との間で未処理基板9と処理済み基板9との交換を行って、複数の基板9を効率よく処理することができる。
Preferably, in the high operation state, the
基板処理装置1では、各反転部41a,41bの送出姿勢において、送出スロット42が取込スロット43の下方に位置する。これにより、送出姿勢の当該反転部41a,41bにおいて、処理済み基板9が未処理基板9の下方に配置されることを防止して、処理済み基板9が未処理基板9により汚染されることを抑制することができる。加えて、各反転部41a,41bが、送出スロット42に未処理基板9が挿入された状態で取込姿勢となる場合に、センタロボット5により、送出スロット42の未処理基板9が取り出された後、取込スロット43に処理済み基板9が挿入される。これにより、取込姿勢の反転部41a,41bにおいて、処理済み基板9が未処理基板9の下方に配置されることを防止して、処理済み基板9が未処理基板9により汚染されることを抑制することができる。
In the
各反転部41a,41bでは、送出スロット42および取込スロット43の両方に基板9が入った状態において、反転機構45による反転動作が禁止される。これにより、反転動作により、処理済み基板9が未処理基板9の下方に配置されることを防止することができる。
In each of the reversing
各反転部41a,41bにおいて、送出スロット42および取込スロット43のそれぞれの個数は、2以外であってもよい。図13では、送出スロット42および取込スロット43のそれぞれの個数が1である場合を示し、図14では、送出スロット42および取込スロット43のそれぞれの個数が4である場合を示している。図13および図14の例でも、高稼働状態において、第1反転部41a(RVP1)の送出スロット42および取込スロット43に基板9が挿入されておらず、かつ、第1反転部41aが取込姿勢となっており、さらに、第2反転部41bの送出スロット42に未処理基板9が挿入される場合に、第1反転部41aの空反転条件が成立する。これにより、第1反転部41aの空反転が行われる(矢印A1aの反転動作参照)。その結果、当該第1反転部41aとセンタロボット5との間で未処理基板9と処理済み基板9との交換を行って、複数の基板9を効率よく処理することができる。第2反転部41bの空反転条件が成立する場合も同様である。
In each of the reversing
上記処理例では、複数の基板9に対して裏面処理動作が行われるが、基板処理装置1では、処理部61において、基板9のパターン面を上方に向けて、パターン面に対して処理液等による処理が行われてもよい。基板9のパターン面に対して処理部61による処理を行うための一連の動作(以下、「パターン面処理動作」という。)では、インデクサロボット3により第1または第2反転部41a,41bの送出スロット42に未処理基板9が挿入され、当該反転部41a,41bにおいて反転動作を行うことなく、センタロボット5により当該未処理基板9が取り出される。当該未処理基板9は、いずれかの処理部61に搬入される。また、処理部61においてパターン面に対する処理が行われた基板9、すなわち、処理済み基板9は、センタロボット5により取り出され、第1または第2反転部41a,41bの取込スロット43に挿入される。そして、当該反転部41a,41bにおいて反転動作を行うことなく、インデクサロボット3により当該処理済み基板9が取り出され、収納容器Cに戻される。
In the above processing example, the back surface processing operation is performed on a plurality of
基板処理装置1では、パターン面処理動作と、裏面処理動作とが混在して行われてもよい。この場合に、高稼働状態において、次に処理部61へと搬送されるべき未処理基板9に対して裏面処理動作が行われる場合には、送出スロット42および取込スロット43に基板9が挿入されておらず、かつ、取込姿勢である第1または第2反転部41a,41bを、空反転により送出姿勢とすることが好ましい。送出姿勢とされた当該反転部41a,41bの送出スロット42には、インデクサロボット3により当該未処理基板9が挿入され、当該反転部41a,41bの反転動作が行われる。これにより、当該反転部41a,41bとセンタロボット5との間で、裏面が上方を向いた未処理基板9と、裏面またはパターン面が上方を向いた処理済み基板9との交換を行うことができ、複数の基板9を効率よく処理することができる。
In the
上記基板処理装置1では様々な変形が可能である。
Various modifications are possible in the
基板処理装置1では、各反転部41a,41bの取込姿勢において、取込スロット43が送出スロット42の上方に位置してもよい。これにより、取込姿勢の反転部41a,41bにおいて、処理済み基板9が未処理基板9の下方に配置されることを防止して、処理済み基板9が汚染されることを抑制することができる。加えて、各反転部41a,41bが、取込スロット43に処理済み基板9が挿入された状態で送出姿勢となる場合、すなわち、送出姿勢において取込スロット43が送出スロット42の下方に位置する場合に、インデクサロボット3により、取込スロット43の処理済み基板9が取り出された後、送出スロット42に未処理基板9が挿入されることが好ましい。これにより、送出姿勢の反転部41a,41bにおいて、処理済み基板9が未処理基板9の下方に配置されることを防止して、処理済み基板9が汚染されることを抑制することができる。
In the
また、各反転部41a,41bにおける送出姿勢および取込姿勢において、例えば、送出スロット42と取込スロット43とが水平方向に離れた位置に配置されてもよい。反転部41a,41bにおける送出姿勢では、インデクサロボット3による未処理基板9の挿入に対応付けられた任意の位置に送出スロット42が配置され、反転部41a,41bにおける取込姿勢では、センタロボット5による処理済み基板9の挿入に対応付けられた任意の位置に取込スロット43が配置されてよい。
Further, in the feeding posture and the feeding posture of each of the reversing
基板処理装置1において処理が行われる基板は半導体基板には限定されず、ガラス基板や他の基板であってもよい。また、基板処理装置1が、円板状とは異なる外形の基板の処理に用いられてもよい。
Substrates to be processed in the
上記実施の形態および各変形例における構成は、相互に矛盾しない限り適宜組み合わされてよい。 The configurations in the above embodiment and each modified example may be combined as appropriate as long as they do not contradict each other.
1 基板処理装置
2 容器載置部
3 インデクサロボット
5 センタロボット
6 処理ユニット
9 基板
41a 第1反転部
41b 第2反転部
42 送出スロット
43 取込スロット
45 反転機構
61 処理部
71 制御部
C 収納容器
S11,S12a~S14a,S12b~S14b,S15,S16,S17a~S19a,S17b~S19b,S21~S23 ステップ
REFERENCE SIGNS
Claims (7)
複数の基板を収納する収納容器が載置される容器載置部と、
それぞれが基板に対して処理を行う複数の処理部を有する処理ユニットと、
前記容器載置部と前記処理ユニットとの間に配置され、基板を反転する第1反転部と、
前記容器載置部と前記処理ユニットとの間に配置され、基板を反転する第2反転部と、
前記収納容器と前記第1および第2反転部との間で基板を搬送する容器側搬送部と、
前記第1および第2反転部と前記複数の処理部との間で基板を搬送する処理部側搬送部と、
前記第1反転部、前記第2反転部、前記容器側搬送部および前記処理部側搬送部を制御することにより、前記収納容器内の未処理の基板を前記第1または第2反転部で反転していずれかの処理部に搬入するとともに、前記処理部による処理済みの基板を前記第1または第2反転部で反転して前記収納容器内に戻す制御部と、
を備え、
各反転部が、
前記容器側搬送部により前記収納容器内の未処理の基板が挿入される送出スロットと、
前記処理部側搬送部により前記処理部による処理済みの基板が挿入される取込スロットと、
前記送出スロットおよび前記取込スロットを一体的に反転することにより、前記容器側搬送部による未処理の基板の挿入に対応付けられた位置に前記送出スロットを配置した送出姿勢と、前記処理部側搬送部による処理済みの基板の挿入に対応付けられた位置に前記取込スロットを配置した取込姿勢とを切り替える反転機構と、
を備え、
前記制御部の指令により、前記容器側搬送部が、前記収納容器内の未処理の基板を前記送出姿勢の前記第1または第2反転部の前記送出スロットに挿入し、前記処理部側搬送部が、前記処理部による処理済みの基板を前記取込姿勢の前記第1または第2反転部の前記取込スロットに挿入し、
いずれかの処理部における処理の完了を待って当該処理部へと搬送されるべき未処理の基板が前記収納容器内に存在する高稼働状態において、前記制御部が、前記送出スロットおよび前記取込スロットに基板が挿入されておらず、かつ、前記取込姿勢である前記第1または第2反転部を前記送出姿勢とし、前記送出姿勢とされた前記第1または第2反転部の前記送出スロットに、前記容器側搬送部により前記未処理の基板を挿入することを特徴とする基板処理装置。 A substrate processing apparatus,
a container placement section on which a storage container for storing a plurality of substrates is placed;
a processing unit having a plurality of processing units that each perform processing on a substrate;
a first reversing section disposed between the container mounting section and the processing unit for reversing the substrate;
a second reversing section disposed between the container mounting section and the processing unit for reversing the substrate;
a container-side transfer section that transfers substrates between the storage container and the first and second reversing sections;
a processing unit-side transport unit that transports the substrate between the first and second reversing units and the plurality of processing units;
By controlling the first reversing section, the second reversing section, the container-side transfer section, and the processing section-side transfer section, unprocessed substrates in the storage container are reversed by the first or second reversing section. a control unit for carrying the substrate processed by the processing unit into any one of the processing units, turning over the substrate processed by the processing unit by the first or second turning unit, and returning the substrate to the storage container;
with
Each inverting part is
a delivery slot into which unprocessed substrates in the storage container are inserted by the container-side transfer unit;
a loading slot into which a substrate processed by the processing unit is inserted by the processing unit-side transport unit;
By integrally reversing the delivery slot and the intake slot, a delivery posture in which the delivery slot is arranged at a position corresponding to insertion of an unprocessed substrate by the container-side transfer unit, and a processing unit side a reversing mechanism for switching between a loading posture in which the loading slot is arranged at a position associated with insertion of the processed substrate by the transport unit;
with
According to a command from the control unit, the container-side transport unit inserts an unprocessed substrate in the storage container into the delivery slot of the first or second reversing unit in the delivery posture, and the processing unit-side transport unit inserts the substrate processed by the processing unit into the take-in slot of the first or second reversing unit in the take-in posture;
In a high operation state in which unprocessed substrates to be transported to any processing section after completion of processing in the processing section exist in the storage container, the control section controls the delivery slot and the intake slot. The first or second reversing section in which no substrate is inserted into the slot and is in the taking-in posture is set as the delivery posture, and the delivery slot of the first or second reversing section in the delivery posture. (2) a substrate processing apparatus, wherein the unprocessed substrate is inserted by the container-side transfer section;
前記高稼働状態において、前記第1および第2反転部のうち、一方の反転部の前記送出スロットおよび前記取込スロットに基板が挿入されておらず、かつ、前記一方の反転部が前記取込姿勢となっており、さらに、他方の反転部の前記送出スロットに未処理の基板が挿入される場合に、前記制御部が、前記一方の反転部を前記送出姿勢とすることを特徴とする基板処理装置。 The substrate processing apparatus according to claim 1,
In the high operation state, the board is not inserted into the delivery slot and the intake slot of one of the first and second reversing sections, and the one reversing section is in the intake slot. Further, when an unprocessed substrate is inserted into the delivery slot of the other reversing section, the control section sets the one reversing section to the delivery posture. processing equipment.
前記各反転部の前記送出姿勢において、前記送出スロットが前記取込スロットの下方に位置する、または、前記各反転部の前記取込姿勢において、前記取込スロットが前記送出スロットの上方に位置することを特徴とする基板処理装置。 The substrate processing apparatus according to claim 1 or 2,
The delivery slot is located below the intake slot in the delivery posture of each of the inversions, or the intake slot is located above the delivery slot in the intake posture of each inversion. A substrate processing apparatus characterized by:
前記各反転部の前記送出姿勢において、前記送出スロットが前記取込スロットの下方に位置し、かつ、前記各反転部が、前記送出スロットに未処理の基板が挿入された状態で前記取込姿勢となる場合に、前記処理部側搬送部により、前記送出スロットの前記未処理の基板が取り出された後、前記取込スロットに処理済みの基板が挿入される、または、前記各反転部の前記取込姿勢において、前記取込スロットが前記送出スロットの上方に位置し、かつ、前記各反転部が、前記取込スロットに処理済みの基板が挿入された状態で前記送出姿勢となる場合に、前記容器側搬送部により、前記取込スロットの前記処理済みの基板が取り出された後、前記送出スロットに未処理の基板が挿入されることを特徴とする基板処理装置。 The substrate processing apparatus according to claim 3,
In the feeding posture of each reversing section, the feeding slot is positioned below the taking-in slot, and each reversing section is in the taking-in posture with an unprocessed substrate inserted in the delivery slot. In this case, the processed substrate is inserted into the take-in slot after the unprocessed substrate is taken out from the delivery slot by the processing unit-side transport unit, or the In the take-in posture, when the take-in slot is positioned above the take-out slot and each reversing portion is in the take-out posture with a processed substrate inserted in the take-in slot, A substrate processing apparatus according to claim 1, wherein an unprocessed substrate is inserted into the delivery slot after the processed substrate is taken out of the take-in slot by the container-side transfer section.
前記送出スロットおよび前記取込スロットの両方に基板が入った状態において、前記反転機構による反転動作が禁止されることを特徴とする基板処理装置。 The substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 4,
A substrate processing apparatus, wherein the reversing operation of the reversing mechanism is inhibited when the substrate is in both the delivery slot and the take-in slot.
前記複数の基板のそれぞれが、パターンが形成されたパターン面と、前記パターン面とは反対側の裏面とを有し、
前記収納容器において、前記複数の基板のそれぞれが前記パターン面を上方に向けて保持され、
前記複数の処理部において、基板の前記裏面に対して処理が行われることを特徴とする基板処理装置。 The substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 5,
each of the plurality of substrates has a pattern surface on which a pattern is formed and a back surface opposite to the pattern surface;
In the storage container, each of the plurality of substrates is held with the pattern surface facing upward,
A substrate processing apparatus, wherein the back surface of the substrate is processed in the plurality of processing units.
前記基板処理装置が、
複数の基板を収納する収納容器が載置される容器載置部と、
それぞれが基板に対して処理を行う複数の処理部を有する処理ユニットと、
前記容器載置部と前記処理ユニットとの間に配置され、基板を反転する第1反転部と、
前記容器載置部と前記処理ユニットとの間に配置され、基板を反転する第2反転部と、
前記収納容器と前記第1および第2反転部との間で基板を搬送する容器側搬送部と、
前記第1および第2反転部と前記複数の処理部との間で基板を搬送する処理部側搬送部と、
を備え、
各反転部が、
前記容器側搬送部により前記収納容器内の未処理の基板が挿入される送出スロットと、
前記処理部側搬送部により前記処理部による処理済みの基板が挿入される取込スロットと、
前記送出スロットおよび前記取込スロットを一体的に反転することにより、前記容器側搬送部による未処理の基板の挿入に対応付けられた位置に前記送出スロットを配置した送出姿勢と、前記処理部側搬送部による処理済みの基板の挿入に対応付けられた位置に前記取込スロットを配置した取込姿勢とを切り替える反転機構と、
を備え、
前記基板処理方法が、
a)前記容器側搬送部により、前記収納容器内の未処理の基板を前記送出姿勢のいずれかの反転部の前記送出スロットに挿入する工程と、
b)前記反転部を前記取込姿勢として前記基板を反転する工程と、
c)前記処理部側搬送部により、前記基板を前記反転部からいずれかの処理部に搬入する工程と、
d)前記処理部において前記基板に対して処理を行う工程と、
e)前記処理部による処理済みの前記基板を、前記処理部側搬送部により前記取込姿勢のいずれかの反転部の前記取込スロットに挿入する工程と、
f)前記反転部を前記送出姿勢として前記基板を反転する工程と、
g)前記容器側搬送部により、前記基板を前記反転部から前記収納容器内に戻す工程と、
h)前記a)ないしg)工程に部分的に並行しつつ、前記収納容器内の他の未処理の基板に対して前記a)ないしg)工程と同様の動作を行う工程と、
i)いずれかの処理部における処理の完了を待って当該処理部へと搬送されるべき未処理の基板が前記収納容器内に存在する高稼働状態において、前記送出スロットおよび前記取込スロットに基板が挿入されておらず、かつ、前記取込姿勢である前記第1または第2反転部を前記送出姿勢とする工程と、
j)前記i)工程において前記送出姿勢とされた前記第1または第2反転部の前記送出スロットに、前記容器側搬送部により前記未処理の基板を挿入する工程と、
を備えることを特徴とする基板処理方法。 A substrate processing method in a substrate processing apparatus,
The substrate processing apparatus
a container placement section on which a storage container for storing a plurality of substrates is placed;
a processing unit having a plurality of processing units that each perform processing on a substrate;
a first reversing section disposed between the container mounting section and the processing unit for reversing the substrate;
a second reversing section disposed between the container mounting section and the processing unit for reversing the substrate;
a container-side transfer section that transfers substrates between the storage container and the first and second reversing sections;
a processing unit-side transport unit that transports the substrate between the first and second reversing units and the plurality of processing units;
with
Each inverting part is
a delivery slot into which unprocessed substrates in the storage container are inserted by the container-side transfer unit;
a loading slot into which a substrate processed by the processing unit is inserted by the processing unit-side transport unit;
By integrally reversing the delivery slot and the intake slot, a delivery posture in which the delivery slot is arranged at a position corresponding to insertion of an unprocessed substrate by the container-side transfer unit, and a processing unit side a reversing mechanism for switching between a loading posture in which the loading slot is arranged at a position associated with insertion of the processed substrate by the transport unit;
with
The substrate processing method includes
a) inserting an unprocessed substrate in the storage container into the delivery slot of any reversal portion of the delivery posture by the container-side transfer section;
b) reversing the substrate with the reversing portion as the take-in posture;
c) carrying the substrate from the reversing section to one of the processing sections by the processing section-side transfer section;
d) processing the substrate in the processing section;
e) a step of inserting the substrate processed by the processing section into the loading slot of one of the reversing portions of the loading posture by the processing section side transfer section;
f) reversing the substrate with the reversing portion as the delivery posture;
g) returning the substrate from the reversing section to the storage container by the container-side transfer section;
h) partially parallel to steps a) to g), performing the same operations as steps a) to g) on other unprocessed substrates in the storage container;
i) in a high operation state in which unprocessed substrates to be transported to any processing section after completion of processing in the processing section exist in the storage container, the substrates are placed in the delivery slot and the intake slot; is not inserted and the first or second reversing portion, which is in the take-in posture, is set to the delivery posture;
j) inserting the unprocessed substrate by the container-side transfer section into the delivery slot of the first or second reversing section that has been set to the delivery posture in step i);
A substrate processing method comprising:
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018171502A JP7114424B2 (en) | 2018-09-13 | 2018-09-13 | SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS AND SUBSTRATE PROCESSING METHOD |
CN201980047542.5A CN112437977B (en) | 2018-09-13 | 2019-06-28 | Substrate processing apparatus and substrate processing method |
KR1020217006649A KR102449001B1 (en) | 2018-09-13 | 2019-06-28 | Substrate processing apparatus and substrate processing method |
PCT/JP2019/025957 WO2020054182A1 (en) | 2018-09-13 | 2019-06-28 | Substrate processing device and substrate processing method |
TW108123693A TWI723449B (en) | 2018-09-13 | 2019-07-05 | Substrate processing apparatus and substrate processing method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018171502A JP7114424B2 (en) | 2018-09-13 | 2018-09-13 | SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS AND SUBSTRATE PROCESSING METHOD |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020043292A JP2020043292A (en) | 2020-03-19 |
JP7114424B2 true JP7114424B2 (en) | 2022-08-08 |
Family
ID=69777104
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018171502A Active JP7114424B2 (en) | 2018-09-13 | 2018-09-13 | SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS AND SUBSTRATE PROCESSING METHOD |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7114424B2 (en) |
KR (1) | KR102449001B1 (en) |
CN (1) | CN112437977B (en) |
TW (1) | TWI723449B (en) |
WO (1) | WO2020054182A1 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112736002B (en) * | 2020-12-31 | 2022-06-07 | 至微半导体(上海)有限公司 | Wafer high-speed loading method for wafer cleaning equipment |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2009252888A (en) | 2008-04-03 | 2009-10-29 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | Substrate processing apparatus |
JP2012023195A (en) | 2010-07-14 | 2012-02-02 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | Substrate processing apparatus, and substrate transfer method |
JP2015122477A (en) | 2013-11-21 | 2015-07-02 | 株式会社Screenホールディングス | Substrate transportation method and substrate processing device |
WO2015107955A1 (en) | 2014-01-20 | 2015-07-23 | 株式会社Screenホールディングス | Substrate processing method and substrate processing device |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4744426B2 (en) * | 2006-12-27 | 2011-08-10 | 大日本スクリーン製造株式会社 | Substrate processing apparatus and substrate processing method |
JP4744425B2 (en) * | 2006-12-27 | 2011-08-10 | 大日本スクリーン製造株式会社 | Substrate processing equipment |
JP5102717B2 (en) * | 2008-08-13 | 2012-12-19 | 大日本スクリーン製造株式会社 | Substrate transport apparatus and substrate processing apparatus provided with the same |
JP5877016B2 (en) * | 2011-08-26 | 2016-03-02 | 株式会社Screenホールディングス | Substrate reversing apparatus and substrate processing apparatus |
JP6009832B2 (en) * | 2012-06-18 | 2016-10-19 | 株式会社Screenホールディングス | Substrate processing equipment |
JP6875722B2 (en) * | 2017-01-05 | 2021-05-26 | 三星ダイヤモンド工業株式会社 | Substrate processing equipment |
-
2018
- 2018-09-13 JP JP2018171502A patent/JP7114424B2/en active Active
-
2019
- 2019-06-28 WO PCT/JP2019/025957 patent/WO2020054182A1/en active Application Filing
- 2019-06-28 KR KR1020217006649A patent/KR102449001B1/en active IP Right Grant
- 2019-06-28 CN CN201980047542.5A patent/CN112437977B/en active Active
- 2019-07-05 TW TW108123693A patent/TWI723449B/en active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009252888A (en) | 2008-04-03 | 2009-10-29 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | Substrate processing apparatus |
JP2012023195A (en) | 2010-07-14 | 2012-02-02 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | Substrate processing apparatus, and substrate transfer method |
JP2015122477A (en) | 2013-11-21 | 2015-07-02 | 株式会社Screenホールディングス | Substrate transportation method and substrate processing device |
WO2015107955A1 (en) | 2014-01-20 | 2015-07-23 | 株式会社Screenホールディングス | Substrate processing method and substrate processing device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW202011508A (en) | 2020-03-16 |
KR20210039454A (en) | 2021-04-09 |
KR102449001B1 (en) | 2022-09-29 |
WO2020054182A1 (en) | 2020-03-19 |
TWI723449B (en) | 2021-04-01 |
CN112437977B (en) | 2024-03-29 |
JP2020043292A (en) | 2020-03-19 |
CN112437977A (en) | 2021-03-02 |
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