JP7179523B2 - 眼底撮像装置、眼底撮像方法およびプログラム - Google Patents

Description

本発明は、眼底撮像装置、眼底撮像方法およびプログラムに関する。

近年、眼科装置として、ＯＣＴ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）装置やＳＬＯ（Ｓｃａｎｎｉｎｇ Ｌａｓｅｒ Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ）装置等の照明光を走査して眼底を撮像する装置が広く用いられている。
特許文献１には、ＯＣＴ装置とＳＬＯ装置とを複合化して構成された眼科装置が提案されている。このような眼科装置によれば、一度の検査で眼底断層画像と眼底平面画像とを取得することができ、検査の効率化を図ることができる。

ところで、ＯＣＴ装置では測定光の波長の帯域が広いほど深さ方向の分解能が良くなる。しかし、波長の帯域が広くなると、被検眼や装置の光学系の色収差により、測定光の波長に応じた眼底上の焦点位置の差が大きくなってしまう。特に、補償光学ＯＣＴ装置で焦点深度が浅くなると、色収差による焦点位置の差が眼底画像の画質へ与える影響が無視できない。したがって、補償光学ＯＣＴ装置を用いて高分解能で高画質な眼底画像を取得するためには、被検眼や装置の光学系の色収差の補正が重要である。

このような問題に対して、特許文献２には、被検眼の色収差を補正するレンズを有する眼科装置が提案されている。特許文献２の眼科装置では、意図的に被検眼の色収差と反対の色収差にしたレンズを被検眼のすぐ前に配置した構成が開示されている。

特開２０１５－２２１０９１号公報 特表２００７－５２１８６６号公報

しかしながら、特許文献２の色収差を補正するレンズを被検眼のすぐ前に配置した構成では、特許文献１のようなＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系等の複数の光学系を複合化した構成に適用した場合に新たな課題が生じてしまう。具体的には、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系とでは波長の帯域が異なるために、全ての波長の帯域について色収差を補正しようとするとレンズの構成が複雑化してしまう。また、ＯＣＴ光学系の波長の帯域についてのみ色収差の補正を行うようにレンズを構成した場合には、ＳＬＯ光学系等の他の光学系の光学性能に悪影響を与えてしまう虞がある。

本発明は、上述したような問題点に鑑みて成されたものであり、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系とを有する構成において被検眼の色収差を補正することを目的とする。

本発明の眼底撮像装置は、ＯＣＴ測定光を用いて被検眼の断層情報を取得するＯＣＴ光学系と、ＳＬＯ測定光を用いて前記被検眼の眼底情報を取得するＳＬＯ光学系と、前記ＯＣＴ測定光の光路および前記ＳＬＯ測定光の光路のうち少なくとも一部を共有する、反射光学系で構成された共通光路と、前記共通光路に設けられた分岐手段により分岐された前記OCT測定光の戻り光の波面を測定する測定手段と、前記共通光路から分岐した前記ＯＣＴ測定光の光路に設けられ、前記被検眼における色収差を補正する色収差補正手段と、を有することを特徴とする。

本発明によれば、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系とを有する構成において被検眼の色収差を補正することができる。

第１の実施形態の眼底撮像装置の構成の一例を示す図である。 ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系の撮影範囲を概略的に示す図である。 第１の実施形態の眼底の撮影手順の一例を示すフローチャートである。 第２の実施形態の眼底撮像装置の構成の一例を示す図である。 第２の実施形態の眼底の撮影手順の一例を示すフローチャートである。

以下、本発明に係る実施形態について図面を参照して詳細に説明する。ただし、以下の実施形態で説明する寸法、材料、形状および構成要素の相対的な位置等は任意であり、本発明が適用される装置の構成または様々な条件に応じて変更できる。
なお、以下では、人眼の網膜を被検査物とするが、被検査物はこれに限られず、例えば、人眼の前眼部等を被検査物としてもよい。

＜第１の実施形態＞
図１～図３を参照しながら、被検眼の眼底等の画像の取得に用いられる、本発明の第１の実施形態に係る眼底撮像装置１００について説明する。
（装置構成）
図１は、眼底撮像装置１００の構成の一例を示す図である。
眼底撮像装置１００には、ＯＣＴ光学系、ＳＬＯ光学系、前眼観察光学系、固視灯光学系および制御部１９０（制御手段）が設けられる。なお、本実施形態では、光学系の全体は、主にミラーを用いた反射光学系で構成されている。
制御部１９０は、汎用のコンピュータを用いて構成してもよく、眼底撮像装置１００の専用のコンピュータとして構成してもよい。なお、制御部１９０は、ＯＣＴ光学系、ＳＬＯ光学系、前眼観察光学系および固視灯光学系を備えた撮像部と別個に構成してもよく、一体的に構成してもよい。

まず、眼底撮像装置１００のＯＣＴ光学系について説明する。
光源１０１は、光（低コヒーレント光）を発生させるための光源である。光源１０１は、ＯＣＴ光源の一例に対応する。本実施形態では、光源１０１として、中心波長が８３０ｎｍ、帯域が５０ｎｍであるＳＬＤ（Ｓｕｐｅｒ Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ Ｄｉｏｄｅ）を用いている。ただし、光源１０１はＳＬＤである場合に限られず、低コヒーレント光を出射できる光源であればよく、ＡＳＥ（Ａｍｐｌｉｆｉｅｄ Ｓｐｏｎｔａｎｅｏｕｓ Ｅｍｉｓｓｉｏｎ）等を用いてもよい。なお、光源１０１は制御部１９０に接続されて、制御部１９０によって制御される。

光源１０１から出射される光の波長は、眼を測定することを鑑みて近赤外光に対応する波長とすることができる。また、光源１０１から出射される光の波長は、得られる断層画像の横方向の分解能に影響するため、なるべく短波長とすることができる。本実施形態では中心波長が８３０ｎｍである。ただし、観察対象の測定部位によっては、他の波長を選んでもよい。なお、波長の帯域は広いほど深さ方向の分解能が良くなる。一般的に中心波長が８３０ｎｍの場合、５０ｎｍの帯域では６μｍの分解能、１００ｎｍの帯域では３μｍの分解能である。ただし、光源１０１の中心波長や帯域はこの場合に限られず、所望の構成に応じて変更することができる。

光源１０１から出射された光は、シングルモードファイバー１４２を通って光カプラー１４１に導かれる。光カプラー１４１は、分割手段の一例に対応する。光源１０１から出射された光は光カプラー１４１により強度比９０：１０で分割され、それぞれ参照光１０３およびＯＣＴ測定光１０４となる。ただし、分割の比率はこの場合に限られず、被検査物に合わせて適切に選択することができる。

次に、参照光１０３の光路について説明する。光カプラー１４１により分割された参照光１０３は、シングルモードファイバー１４３を通って、レンズ１５１に導かれ平行光として出射される。次に、参照光１０３は、分散補償用ガラス１５９を透過し、ミラー１１１，１１２によって、参照ミラーであるミラー１２４に導かれる。本実施形態では、参照ミラーとして平面ミラーを用いている。ミラー１２４で反射された光は、再び、ミラー１１２およびミラー１１１に順次反射され、分散補償用ガラス１５９を透過して、光カプラー１４１に導かれる。

分散補償用ガラス１５９は、ＯＣＴ測定光１０４が被検眼Ｅとレンズ１５４及び１１を往復したときの分散を、参照光１０３に対して補償することができる。
ミラー１２４は、電動ステージ１２５に搭載されることで光路長調整手段を構成する。電動ステージ１２５は、矢印で図示するように参照光１０３の光軸方向に移動可能である。電動ステージ１２５を移動させることでミラー１２４の位置を移動でき、参照光１０３の光路長を調整することができる。なお、電動ステージ１２５は制御部１９０によって制御される。

次に、ＯＣＴ測定光１０４の光路について説明する。光カプラー１４１により分割されたＯＣＴ測定光１０４は、シングルモードファイバー１４５を通って、レンズ１５４に導かれ平行光として出射される。レンズ１５４は、第２の光学手段の一例に対応する。平行光として出射されたＯＣＴ測定光１０４は色収差補正レンズ１０を透過する。色収差補正レンズ１０は、色収差補正手段の一例に対応する。

色収差補正レンズ１０は、ＯＣＴ測定光１０４が透過する順に平凸レンズ１０ａと平凹レンズ１０ｂとが接合された接合レンズであり、被検眼Ｅの色収差をキャンセルするよう被検眼Ｅと逆の色収差を生じさせている。ここで、色収差補正レンズ１０は、平凸レンズ１０ａをより低分散の硝種とし、平凹レンズ１０ｂをより高分散の硝種とし、屈折率を平凸レンズ１０ａと平凹レンズ１０ｂとで略等しい硝種としている。このような形状と硝種を用いることで、光学系の他の光学素子の配置や他の収差に影響を与えることなく、色収差のみを補正することができる。ただし、色収差補正レンズ１０の構成はこれに限られず、例えば、ＯＣＴ測定光１０４が透過する順に平凹レンズと平凸レンズとが接合された接合レンズであってもよい。また、両凸レンズや両凹レンズ、または、メニスカスレンズの接合レンズであってもよい。この場合、レンズ１５４と色収差補正レンズ１０との合成屈折力により、ＯＣＴ測定光１０４を平行光として出射する構成であってもよい。また、平凹レンズ、両凸レンズ、平凹レンズ等の３枚以上のレンズの接合レンズであってもよい。この場合、１つの色収差補正レンズでより大きな量の色収差を補正することができる。また、色収差補正レンズは光路中に２つ以上配置してもよい。この場合、更に大きな量の色収差を補正することができる。

ここで、本実施形態の色収差補正レンズ１０は、ＯＣＴ測定光の光路とＳＬＯ測定光の光路との共通光路から分岐したＯＣＴ測定光の専用光路に配置されている。ＳＬＯ測定光とＯＣＴ測定光とでは異なる波長を用いているため、被検眼Ｅの色収差の影響は異なる。また、ＯＣＴ光学系では深さ方向の分解能を上げるために波長の帯域を広くしているため、ＳＬＯ光学系よりも被検眼Ｅの色収差の影響が大きくなる。したがって、色収差補正レンズ１０をＯＣＴ測定光の光路に配置することで、ＳＬＯ光学系の光学性能に影響を与えることなく、被検眼Ｅの色収差が与えるＯＣＴ光学系への影響を抑制することができる。

次に、ＯＣＴ測定光１０４は、ダイクロイックミラー１７７に向かって出射され、ダイクロイックミラー１７７を透過する。ダイクロイックミラー１７７は、光の波長に応じて、光を透過あるいは反射させる。ダイクロイックミラー１７７は、ＯＣＴ測定光１０４およびＳＬＯ測定光１０６を共通光路に導く導光手段の一例である。また、ダイクロイックミラー１７７はＯＣＴ測定光１０４を透過させ、ＳＬＯ測定光１０６を反射させることで共通光路に導く第１の光学手段の一例に対応する。
ダイクロイックミラー１７７を透過したＯＣＴ測定光１０４は、ビームスプリッター１７１を透過し、ミラー１１３，１１４によって反射され、デフォーマブルミラー１８２に入射する。デフォーマブルミラー１８２はミラーデバイスであって、収差補正手段の一例に対応する。デフォーマブルミラー１８２は、波面センサ１８１により検知した収差に基づいて、ＯＣＴ測定光１０４とＯＣＴ戻り光１０５との収差をミラー形状を自在に変形させることで補正する。波面センサ１８１は収差測定手段の一例に対応する。波面センサ１８１には、例えばシャックハルトマン型の波面センサを用いることができる。
なお、収差の補正にはデフォーマブルミラー１８２を用いる場合に限られず、例えば、液晶を用いた空間光位相変調器等を用いてもよい。また、収差の測定には波面センサ１８１を用いる場合に限られず、例えば、既知の任意のセンサ等を用いてもよい。デフォーマブルミラー１８２および波面センサ１８１は、制御部１９０により制御される。

ＯＣＴ測定光１０４は、デフォーマブルミラー１８２によって反射された後、ミラー１１５，１１６によって反射され、ダイクロイックミラー１７３に入射する。ここで、ダイクロイックミラー１７３，１７４は、光の波長に応じて、光源１０１からの光を反射し、光源１０２からの光を透過させる。
ダイクロイックミラー１７３で反射されたＯＣＴ測定光１０４は、Ｘスキャナ１３２に入射する。Ｘスキャナ１３２は第２の走査手段の一例に対応する。Ｘスキャナ１３２は、例えばガルバノミラーを用いることができる。ＯＣＴ測定光１０４の中心はＸスキャナ１３２の回転中心と一致するように調整されている。Ｘスキャナ１３２を回転させることで、ＯＣＴ測定光１０４を用いて被検眼Ｅの網膜Ｅｒ上を光軸に対して垂直な方向にスキャンすることができる。なお、Ｘスキャナ１３２は、例えば、他の任意の偏向ミラーによって構成してもよい。Ｘスキャナ１３２は制御部１９０に接続され、制御部１９０によって制御される。

Ｘスキャナ１３２によって反射されたＯＣＴ測定光１０４は、ダイクロイックミラー１７４によって反射された後、ミラー１１７～１２０によって順次反射される。
ミラー１１９，１２０は、電動ステージ１２６に搭載されることで第１のフォーカス手段を構成する。電動ステージ１２６は、矢印で図示するように、ミラー１１８，１２１に近づいたり離れたりする方向に移動可能である。電動ステージ１２６は制御部１９０により制御される。ミラー１１９，１２０は、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系の共通光路に配置されている。したがって、電動ステージ１２６を移動させることでミラー１１９，１２０を移動して、被検眼Ｅの視度に対応してＯＣＴ測定光１０４およびＳＬＯ測定光１０６のフォーカス状態を調整することができる。

本実施形態では、電動ステージ１２６の移動範囲が１６０ｍｍであり、被検眼Ｅの－１２Ｄ～＋７Ｄの視度範囲に対応してＯＣＴ測定光１０４およびＳＬＯ測定光１０６のフォーカス位置を調整することができる。なお、電動ステージ１２６の移動範囲は所望の構成により任意に設定してもよい。
また、本実施形態では、第１のフォーカス手段としてのミラー１１９，１２０は、反射光学系によるバダル光学系によって構成される。反射光学系を用いることにより、波面センサ１８１へ不要な迷光が入ることを防ぐことができ、精度のよい収差測定および収差補正を行うことができる。

ミラー１２０によって反射されたＯＣＴ測定光１０４は、ミラー１２１，１２２によって反射され、レンズ１１に入射し、Ｙスキャナ１３３に入射する。Ｙスキャナ１３３は、第１の走査手段の一例に対応する。Ｙスキャナ１３３は、例えばガルバノミラーを用いることができる。ここで、レンズ１１は正の屈折力を有しており、Ｘスキャナ１３２で走査された光束を、より広い入射角範囲でＹスキャナ１３３に入射させている。したがって、Ｘスキャナ１３２の振り角を小さく抑えることができ、Ｘスキャナ１３２とＹスキャナ１３３の間の光学系が大型化することを抑制することができる。
また、網膜Ｅｒ上の走査範囲を確保しつつ、Ｙスキャナ１３３と光学的に共役な瞳孔Ｅｐへの結像倍率をより拡大倍率にしやすくなるため、装置と被検眼Ｅとの距離（ワーキングディスタンス）を確保するのに有利になる。なお、上述した色収差補正レンズ１０は、被検眼Ｅの色収差に加え、レンズ１１の色収差も合わせて補正するようにしてもよい。これにより、眼底上の波長に応じた焦点位置の差をより小さく抑えることができ、高分解能で高画質な眼底断層画像を取得するのに有利になる。すなわち、色収差補正レンズ１０はＯＣＴ測定光の波長の帯域について眼底上のフォーカス位置を揃えるように構成される。

ＯＣＴ測定光１０４の中心はＹスキャナ１３３の回転中心と一致するように調整されている。Ｙスキャナ１３３を回転させることで、ＯＣＴ測定光１０４を用いて網膜Ｅｒ上を光軸およびＸスキャナ１３２のスキャン方向に対して垂直な方向にスキャンすることができる。なお、Ｙスキャナ１３３は、他の任意の偏向ミラーによって構成してもよい。Ｙスキャナ１３３は制御部１９０に接続され、制御部１９０によって制御される。
Ｘスキャナ１３２およびＹスキャナ１３３は、ＯＣＴ測定光１０４を被検眼Ｅの眼底上で二次元方向に走査するＯＣＴ走査手段の一例に対応する。

Ｙスキャナ１３３によって反射されたＯＣＴ測定光１０４は、ミラー１２３によって反射され、ダイクロイックミラー１７５，１７６を透過し、被検眼Ｅへ入射する。Ｘスキャナ１３２、Ｙスキャナ１３３およびミラー１１７～１２３はＯＣＴ測定光１０４を用いて網膜ＥｒをスキャンするためのＯＣＴ光学系として機能する。当該光学系により、ＯＣＴ測定光１０４を用いて、瞳孔Ｅｐの付近を支点として網膜Ｅｒをスキャンすることができる。
ＯＣＴ測定光１０４は被検眼Ｅに入射すると、網膜Ｅｒによって反射または散乱され、ＯＣＴ戻り光１０５として、ＯＣＴ測定光１０４の光路を戻り、再び光カプラー１４１に導かれる。

参照光１０３とＯＣＴ戻り光１０５とは、光カプラー１４１にて合波され、干渉光となる。ここで、ＯＣＴ測定光１０４およびＯＣＴ戻り光１０５の光路長と参照光１０３の光路長とが略等しい状態となったときに、ＯＣＴ戻り光１０５と参照光１０３は互いに干渉し、干渉光となる。制御部１９０は電動ステージ１２５を制御してミラー１２４を移動させることで、被検眼Ｅの被測定部によって変わるＯＣＴ測定光１０４およびＯＣＴ戻り光１０５の光路長に参照光１０３の光路長を合わせることができる。合波された光１０８（干渉光）は、シングルモードファイバー１４４から空間光として出射され、レンズ１５２を通って透過型グレーティング１６１に導かれる。その後、光１０８は、透過型グレーティング１６１によって波長毎に分光され、レンズ１５３で集光され、ラインカメラ１９１に入射する。

ラインカメラ１９１に入射した光１０８は、ラインカメラ１９１上の位置（波長）毎に光強度に応じた電圧信号（干渉信号）に変換される。具体的には、ラインカメラ１９１上には波長軸上のスペクトル領域の干渉縞が観察されることになる。得られた電圧信号群はデジタル値に変換される。制御部１９０は、デジタル値に変換された干渉信号にデータ処理を施すことで、被検眼Ｅの断層画像を生成することができる。断層画像を生成する際のデータ処理は、干渉信号から断層画像を生成するための既知のデータ処理を用いることができる。制御部１９０は、生成した断層画像を不図示の表示部上に表示する。表示部は、例えば、任意のモニタを用いることができる。また、表示部は、撮像部や制御部１９０と別体であってもよく、一体的に構成されていてもよい。

なお、シングルモードファイバー１４２，１４３には、偏光調整用パドル１８３，１８４が設けられている。偏光調整用パドル１８３，１８４はシングルモードファイバー１４２，１４３を通る光の偏光を調整することができる。偏光調整用パドル１８３，１８４を用いることで、光源１０１からの光の偏光状態を調整したり、ＯＣＴ戻り光１０５と参照光１０３の偏光状態が一致するように、参照光１０３の偏光を調整したりすることができる。なお、偏光調整用パドル１８３，１８４を設ける位置はこの場合に限られず、シングルモードファイバー１４５等に設けてもよい。

ところで、ＯＣＴ戻り光１０５は、ＯＣＴ測定光１０４の光路を戻る際に、ビームスプリッター１７１によって分割され、一部が波面センサ１８１に入射する。波面センサ１８１は、入射したＯＣＴ戻り光１０５の収差を測定する。本実施形態では、ビームスプリッター１７１は、ＯＣＴ戻り光１０５の一部を反射し、後述するＳＬＯ戻り光１０７を透過させる。したがって、波面センサ１８１は、ＯＣＴ戻り光１０５の収差を選択的に測定することができる。波面センサ１８１は、制御部１９０に電気的に接続されている。

制御部１９０は、波面センサ１８１からの出力をツェルニケ多項式に当てはめることで、波面センサ１８１によって測定された被検眼Ｅの有する収差を把握する。制御部１９０は、ツェルニケ多項式のデフォーカスの成分について、電動ステージ１２６を用いてミラー１１９，１２０の位置を制御して、被検眼Ｅの視度を補正する。また、制御部１９０は、デフォーカス以外の成分については、デフォーマブルミラー１８２の表面形状を制御して補正する。したがって、制御部１９０は、高横分解能な断層画像を生成（取得）することができる。

ここで、瞳孔Ｅｐ、Ｘスキャナ１３２、Ｙスキャナ１３３、波面センサ１８１およびデフォーマブルミラー１８２が光学的に共役になるように、ミラー１１３～１２３が配置される。これにより、波面センサ１８１は被検眼Ｅの有する収差を測定することができる。

次に、ＳＬＯ光学系について説明する。
光源１０２は、光源１０１とは異なる波長の光を発生する。光源１０２は、ＳＬＯ光源の一例に対応する。本実施形態では、光源１０２として、波長７８０ｎｍのＳＬＤを用いている。ただし、光源１０２は、ＳＬＤである場合に限られず、ＬＤ（Ｌａｓｅｒ Ｄｉｏｄｅ）等を用いてもよい。また、光源１０２の波長も、この場合に限られず、所望の構成に応じて変更してもよい。なお、光源１０２は制御部１９０に接続されており、制御部１９０によって制御される。

光源１０２から出射された光は、レンズ１５５に導かれ平行光として出射される。レンズ１５５を透過した光はビームスプリッター１７２に導かれ、透過光と反射光（ＳＬＯ測定光１０６）の強度比が９０：１０で分割される。ビームスプリッター１７２によって反射されたＳＬＯ測定光１０６は、フォーカスレンズ１５７およびレンズ１５８を透過する。

フォーカスレンズ１５７は、電動ステージ１２７に搭載されることで第２のフォーカス手段を構成する。電動ステージ１２７は、矢印で図示するように、ＳＬＯ測定光１０６の光軸方向に移動可能である。電動ステージ１２７は制御部１９０によって制御される。フォーカスレンズ１５７は、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系の共通光路ではなくＳＬＯ光学系の専用光路に配置されている。したがって、電動ステージ１２７を移動させることでフォーカスレンズ１５７が移動して、ＳＬＯ測定光１０６のフォーカス状態を調整することができる。
すなわち、制御部１９０は、電動ステージ１２７を制御してフォーカスレンズ１５７を移動させることで、ＯＣＴ測定光１０４のフォーカス位置とは異なる所定の位置にＳＬＯ測定光１０６のフォーカス位置を合わせることができる。

本実施形態では、電動ステージ１２７の移動範囲が１０ｍｍであり、当該移動範囲は－２Ｄ～＋２Ｄの視度範囲に対応している。なお、電動ステージ１２７の移動範囲はこの場合に限られず、電動ステージ１２６の移動範囲よりも狭い任意の移動範囲に設定することができる。
本実施形態では、第１のフォーカス手段を用いてＯＣＴ測定光１０４およびＳＬＯ測定光１０６のフォーカス調整を行い被検眼Ｅの視度補正を行うために、第２のフォーカス手段のフォーカス調整範囲を狭く抑えることができる。すなわち、電動ステージ１２７の移動範囲は電動ステージ１２６の移動範囲よりも小さくすることができる。したがって、ＯＣＴ光学系およびＳＬＯ光学系の焦点位置をそれぞれ異なる位置に合わせるのに小型のステージを用いることができるために光学系を小型化することができる。

なお、図１ではフォーカスレンズ１５７を凸レンズ、レンズ１５８を凹レンズとしているが、フォーカスレンズ１５７およびレンズ１５８の構成はこの場合に限られない。例えば、フォーカスレンズ１５７を凹レンズ、レンズ１５８を凸レンズとしてもよく、両方を凸レンズにして、これらの間に中間像を形成する構成としてもよい。

フォーカスレンズ１５７およびレンズ１５８を透過した光は、ダイクロイックミラー１７７に向かって出射され、ダイクロイックミラー１７７を反射する。ダイクロイックミラー１７７で反射したＳＬＯ測定光１０６は、ＯＣＴ測定光１０４との共通光路を通って、ダイクロイックミラー１７３に入射する。ここで、ＳＬＯ測定光１０６とＯＣＴ測定光１０４の共通光路には、ダイクロイックミラー１７７、ビームスプリッター１７１、ミラー１１３，１１４、デフォーマブルミラー１８２、ミラー１１５，１１６およびダイクロイックミラー１７３を経由する光路を含む。

ダイクロイックミラー１７３，１７４は、光の波長に応じて、光源１０１からの光を反射させ、光源１０２からの光を透過させる。したがって、ミラー１１６で反射されたＳＬＯ測定光１０６は、ダイクロイックミラー１７３を透過し、Ｘスキャナ１３１に入射する。Ｘスキャナ１３１は、第３の走査手段の一例に対応する。Ｘスキャナ１３１は、例えば、共振ミラーを用いることができる。ＳＬＯ測定光１０６の中心はＸスキャナ１３１の回転中心と一致するように調整されている。Ｘスキャナ１３１を回転させることで、ＳＬＯ測定光１０６を用いて網膜Ｅｒ上を光軸に対して垂直な方向にスキャンすることができる。Ｘスキャナ１３１は制御部１９０に接続され、制御部１９０によって制御される。
Ｘスキャナ１３１およびＹスキャナ１３３はＳＬＯ測定光１０６を被検眼Ｅの眼底上で二次元方向に走査するＳＬＯ走査手段の一例に対応する。

本実施形態では、ダイクロイックミラー１７３によりＯＣＴ測定光１０４の光路とＳＬＯ測定光１０６の光路を分岐させ、ＯＣＴ測定光１０４のＸスキャナ１３２とＳＬＯ測定光１０６のＸスキャナ１３１を異なる位置に配置する構成である。ＯＣＴ測定光１０４のスキャン速度は、ラインカメラ１９１の読み出し速度によって制限される。一方、ＯＣＴ測定光１０４のＸスキャナ１３２とＳＬＯ測定光１０６のＸスキャナ１３１を異なる位置にすることでＳＬＯ測定光１０６のスキャン速度がＯＣＴスキャン速度に依存されずに、ＳＬＯ測定光１０６のスキャン速度を上げることができる。したがって、ＳＬＯ光学系を用いて眼底平面画像を取得するときのフレームレートを向上させることができる。なお、Ｘスキャナ１３１は、所望の構成に応じて任意の偏向ミラーによって構成してもよい。

Ｘスキャナ１３１で反射されたＳＬＯ測定光１０６は、ダイクロイックミラー１７４を透過し、再びＯＣＴ測定光１０４との共通光路を通って被検眼Ｅへ入射する。ここで、ＳＬＯ測定光１０６とＯＣＴ測定光１０４との共通光路には、ダイクロイックミラー１７４、ミラー１１７～１２２、Ｙスキャナ１３３、ミラー１２３およびダイクロイックミラー１７５，１７６を経由する光路が含まれる。
なお、ＳＬＯ測定光１０６とＯＣＴ測定光１０４との共通光路についてまとめる。当該共通光路には、ダイクロイックミラー１７７～ダイクロイックミラー１７３を経由する光路、および、ダイクロイックミラー１７４～ダイクロイックミラー１７６を経由する光路が含まれる。

ＳＬＯ測定光１０６は被検眼Ｅに入射すると、網膜Ｅｒによって反射または散乱され、ＳＬＯ戻り光１０７として、ＳＬＯ測定光１０６の光路を戻り、ダイクロイックミラー１７７で反射された後、ビームスプリッター１７２を透過する。ビームスプリッター１７２を透過したＳＬＯ戻り光１０７は、レンズ１５６で集光されピンホール板１７８を通過する。ピンホール板１７８のピンホール位置は眼底と共役な位置に調整されており、ピンホール板１７８は共役点以外からの不要な光を遮光する共焦点絞りとして作用する。

ピンホール板１７８を通過したＳＬＯ戻り光１０７は、受光素子１９２で受光される。受光素子１９２は、例えば、ＡＰＤ（Ａｖａｌａｎｃｈｅ Ｐｈｏｔｏ Ｄｉｏｄｅ）が用いられる。ただし、受光素子１９２は、所望の構成に応じて他の任意の受光素子が用いてもよい。受光素子１９２は受光した光を光強度に応じて電圧信号に変換する。得られた電圧信号群はデジタル値に変換される。制御部１９０はデジタル値に変換された受光素子１９２の出力信号にデータ処理を施し、眼底平面画像を生成することができる。眼底平面画像を生成する際のデータ処理は、受光素子１９２からの出力信号から眼底平面画像を生成するための既知のデータ処理を用いることができる。制御部１９０は、生成した眼底平面画像を不図示の表示部上に表示する。

次に、固視灯光学系について説明する。
固視灯光学系は、ダイクロイックミラー１７５および固視灯パネル１９４から構成される。
ダイクロイックミラー１７５は、光の波長に応じて、固視灯パネル１９４の可視光を反射し、光源１０１および光源１０２からの光を透過させる。したがって、固視灯パネル１９４に表示されるパターンがダイクロイックミラー１７５を介して被検眼Ｅの網膜Ｅｒに投影される。固視灯パネル１９４に所望のパターンを表示することで、被検眼Ｅの固視方向を指定し、撮像する網膜Ｅｒの範囲を設定することができる。固視灯パネル１９４は、例えば、有機ＥＬパネルが用いられる。ただし、固視灯パネル１９４は、他のディスプレイであってもよい。固視灯パネル１９４は制御部１９０に接続され、制御部１９０によって制御される。

次に、前眼観察光学系について説明する。
前眼観察光学系は、ダイクロイックミラー１７６、前眼観察カメラ１９３および不図示の前眼照明光源から構成される。
ダイクロイックミラー１７６は、光の波長に応じて、前眼照明光源の赤外光を反射させ、固視灯パネル１９４の可視光、光源１０１および光源１０２からの光を透過させる。前眼観察カメラ１９３の光軸は、ＯＣＴ光学系およびＳＬＯ光学系の光軸と一致するように調整されている。したがって、前眼観察カメラ１９３からの出力に基づく被検眼Ｅの前眼部の画像を表示部上で観察して基準位置に合わせることで、被検眼Ｅに対するＯＣＴ光学系およびＳＬＯ光学系のＸ方向およびＹ方向の位置合わせ（アライメント）を行うことができる。前眼観察カメラ１９３は制御部１９０に接続され、制御部１９０によって制御される。

また、前眼観察カメラ１９３のフォーカスは、ＯＣＴ光学系およびＳＬＯ光学系のワーキングディスタンス（Ｚ方向の作動距離）と一致したときに、被検眼Ｅの虹彩にピントが合うように調整されている。そのため、前眼部の画像における虹彩を表示部上で観察してピントを合わせることで、ＯＣＴ光学系およびＳＬＯ光学系のＺ方向の位置合わせを行うことができる。
本実施形態では、前眼照明光源は波長が９７０ｎｍのＬＥＤを用い、前眼観察カメラ１９３はＣＣＤカメラを用いる。ただし、前眼照明光源および前眼観察カメラは、この場合に限られず、他の光源や撮像素子等であってもよい。また、前眼照明光源の波長も、所望の構成に応じて変更してもよい。

（撮影範囲の関係）
次に、図２を参照して、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系の撮影範囲の関係について図２を参照して説明する。
図２では、実線がＯＣＴ光学系の撮影範囲２２０を示し、破線の枠内がＳＬＯ光学系の撮影範囲２１０を示している。ＯＣＴ光学系で１ライン撮影したときのＯＣＴ光学系の撮影範囲２２０とＳＬＯ光学系の撮影範囲２１０との関係を模式的に示している。
ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系では、Ｙスキャナ１３３を共通光路に配置しているため、Ｙ方向（図２の紙面上下方向）には同時にスキャンされる。一方、Ｘ方向（図２の紙面左右方向）では、Ｘスキャナ１３２とＸスキャナ１３１との別々のスキャナを用いてスキャンするために、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系のＸ方向における撮影範囲をそれぞれ独立に設定することができる。例えば、図２では、ＳＬＯ光学系の撮影範囲２１０の略中央にＯＣＴ光学系の撮影範囲２２０を設定しているが、Ｘ方向の撮影範囲の関係はこの場合に限られない。ＯＣＴ光学系の撮影範囲２２０はＳＬＯ光学系の撮影範囲２１０に関わらず、任意に設定してよい。

また、Ｘスキャナ１３１の共振ミラーは、Ｘスキャナ１３２のガルバノミラーよりスキャン速度が速いため、１回のＹ方向のスキャンの間に、ＳＬＯ測定光１０６はＸ方向に複数回スキャンされる。したがって、例えば、長さＬのＯＣＴ光学系の撮影範囲（１ライン）をｍ点のサンプリング（Ａスキャン）で撮影し、Ｌ×ＬのＳＬＯ撮影範囲をｍ回のＸスキャンで撮影することができる。これにより、ＯＣＴ光学系で長さＬの１ラインの断層画像を撮影する間に、ＳＬＯ光学系でＬ×Ｌの眼底平面画像（二次元画像）を取得することができる。なお、Ｌおよびｍの数値は、所望の構成に応じて任意に設定することができる。

また、３Ｄボリューム画像を撮影する場合は、Ｙスキャナ１３３のスキャンに加えて、Ｘスキャナ１３２でＯＣＴ測定光１０４をスキャンし、上述したＹ方向の１ラインの撮影をＸスキャナ１３２のスキャン位置を変更して繰り返す。例えば、Ｘ方向にＬの範囲でｍライン撮影することで、Ｌ×Ｌの３Ｄボリューム画像を取得することができる。また、この間にＳＬＯ光学系を用いてｍ枚のＬ×Ｌの眼底平面画像を取得することができる。

（トラッキングの手順）
次に、ＳＬＯ光学系を用いて取得した眼底平面画像に基づく位置ずれ補正（トラッキング）の方法について説明する。
本実施形態のトラッキング処理では、制御部１９０は、ＯＣＴ光学系を用いて同じ位置のライン断層画像を複数回撮影する際の１回目の撮影時に、ＳＬＯ光学系を用いて取得した被検眼Ｅの眼底情報（第１の眼底情報）に基づく眼底平面画像を参照画像とする。次に、制御部１９０は、ＯＣＴ光学系を用いた２回目以降の撮影時にＳＬＯ光学系を用いて取得した眼底情報（第２の眼底情報）に基づく眼底画像を位置ずれ検出のための対象画像とする。制御部１９０は、参照画像に対する対象画像の位置ずれ量を算出する。位置ずれ量の算出は、パターンマッチング等の画像処理で行うことができる。

制御部１９０は、算出された位置ずれ量を補正するように、Ｘスキャナ１３２およびＹスキャナ１３３を制御する。これにより、制御部１９０は、固視微動等による眼底の移動に基づく断層画像の撮影位置のずれを補正する眼底トラッキングを行うことができる。なお、取得された複数枚の同じ位置のライン断層画像は、重ね合わせによる断層画像のノイズ低減処理等に用いることができる。

この眼底トラッキングは、ＯＣＴ光学系を用いて３Ｄボリューム画像を取得する場合も同様に適用することができる。この場合には、上述のように、ＯＣＴ光学系を用いてＸ方向の位置を変えながらＹ方向の１ラインの断層画像を繰り返し取得する。このとき、制御部１９０は、１回目（１ライン目）の撮影時に取得した被検眼Ｅの眼底情報に基づく眼底平面画像を参照画像とする。また、制御部１９０は、２回目（２ライン目）以降の撮影時に取得した眼底情報に基づく眼底平面画像を対象画像とする。制御部１９０は、参照画像と対象画像の位置ずれ量を算出し、眼底トラッキングを行う。これにより、３Ｄボリューム画像を取得する場合にも、被検眼Ｅの網膜Ｅｒに対する断層画像の撮影位置のずれを補正することができる。

なお、参照画像として、ＯＣＴ光学系を用いた１回目の撮影時に、ＳＬＯ光学系を用いて取得した眼底平面画像の全域を用いてもよく、眼底平面画像の部分画像を用いてもよい。同様に、対象画像についても、ＳＬＯ光学系を用いて取得した眼底平面画像の全域を用いてもよく、眼底平面画像の部分画像を用いてもよい。なお、対象画像として眼底平面画像の部分画像を用いる場合には、対象画像の取得間隔を短縮することができ、眼底トラッキングの制御レートを上げることができる。したがって、眼底の速い動きによる位置ずれを補正しやすくなる。

なお、参照画像の画像サイズを対象画像の画像サイズより大きく設定してもよい。この場合、対象画像の画像サイズを小さく抑えて制御レートを維持しつつ、参照画像と対象画像の位置ずれ量が大きくても両画像の重なり領域を大きく確保しやすくなり、眼底の大きな動きによる位置ずれを補正しやすくなる。なお、眼底の動きが遅く、眼底トラッキングの制御レートに余裕がある場合は、対象画像の画像サイズを参照画像の画像サイズより大きく設定してもよい。この場合でも、眼底の大きな動きによる位置ずれの補正がしやすくなる。言い換えると、参照画像および対象画像の一方の画像サイズを他方の画像サイズより大きく設定することで、眼底の大きな動きによる位置ずれを補正しやすくなる。

（眼底の撮影手順）
次に、図３を参照して、眼底撮像装置１００における眼底の撮影手順について説明する。図３は、眼底の撮影手順の一例を示すフローチャートである。図３のフローチャートの処理は、制御部１９０がメモリに記憶されたプログラムを実行することにより実現する。
Ｓ３０１では、制御部１９０は、検者が表示部上に表示された前眼照明光源ボタンを押すことに応じて、不図示の前眼照明光源を点灯させる。制御部１９０は、前眼照明光源を点灯させると、前眼観察カメラ１９３の出力に基づいて被検眼Ｅの前眼部の画像を生成して、表示部上に表示する。

Ｓ３０２では、制御部１９０は、表示部上に表示された前眼部の画像に基づいて、ＯＣＴ光学系およびＳＬＯ光学系が設けられた撮像部を被検眼Ｅに対してＸ、ＹおよびＺ方向の位置合わせ（前眼ＸＹＺアライメント）を行う。
具体的には、検者が前眼部の画像を観察してアライメントの指示を入力する。制御部１９０は、検者の入力に応じて撮影部の不図示の駆動機構を制御して、被検眼Ｅに対して撮影部のアライメントを行う。上述したように、前眼観察カメラ１９３は、ＯＣＴ光学系およびＳＬＯ光学系に対してＸ、ＹおよびＺ方向の位置が調整されている。したがって、検者は表示部上に表示された前眼部の画像のＸＹ位置およびピント（Ｚ位置）が合うように撮像部のＸ、ＹおよびＺ方向の位置を調整することで、ＯＣＴ光学系およびＳＬＯ光学系のＸ、ＹおよびＺ方向の位置合わせを行うことができる。なお、撮影部の位置合わせは、検者が不図示の撮影部の駆動機構を操作することで行ってもよい。

Ｓ３０３では、制御部１９０は、検者が表示部上に表示された前眼照明光源ボタンを再度押すことに応じて、前眼照明光源を消灯させる。
Ｓ３０４では、制御部１９０は、検者が表示部上に表示された光源ボタン（不図示）を押すことに応じて、ＯＣＴ光学系の光源１０１およびＳＬＯ光学系の光源１０２を点灯させる。ただし、ＯＣＴ光学系の光源１０１を点灯するタイミングはこの場合に限られず、例えば、後述するＳ３０５のラフフォーカス調整の後に点灯してもよい。制御部１９０は、ＳＬＯ光学系の光源１０２を点灯させたら、受光素子１９２の出力に基づいて眼底平面画像を生成し、表示部に表示する。

Ｓ３０５では、制御部１９０は、表示部に表示される眼底平面画像に基づく検者の入力に応じて、ＳＬＯ光学系およびＯＣＴ光学系の大よそのフォーカス調整（ラフフォーカス調整）を行う。
具体的には、検者が眼底平面画像を観察し、表示部上に表示されるフォーカス調整バー（不図示）を動かす操作を行う。制御部１９０は検者の操作に応じて電動ステージ１２６を移動させる。電動ステージ１２６およびミラー１１９，１２０は、ＯＣＴ測定光１０４とＳＬＯ測定光１０６との共通光路に配置されている。したがって、ＳＬＯ測定光１０６のフォーカス調整を行うことにより、ＯＣＴ測定光１０４も同時にラフフォーカス調整が行われる。ここでは、眼底平面画像の輝度が最大になるようにフォーカス調整を行う。なお、このとき、制御部１９０は、ＳＬＯ光学系の電動ステージ１２７を予め設定された初期状態の位置に配置しておく。ここでは、電動ステージ１２７の初期状態の位置として、ＯＣＴ測定光１０４とＳＬＯ測定光１０６のフォーカス位置が略一致するような電動ステージ１２７の位置が設定されている。

Ｓ３０６では、制御部１９０は、表示部に表示される波面センサ１８１のハルトマン像の位置に基づく検者の入力に応じて、被検眼Ｅに対する撮影部のＸＹファインアライメントを行う。ＸＹファインアライメントでは、検者が表示部上に表示される波面センサ１８１のハルトマン像の位置を観察し、制御部１９０が検者の入力に応じて被検眼Ｅに対し撮影部のＸ方向およびＹ方向の細密な位置合わせを行う。
ここで、波面センサ１８１は、波面センサ１８１の中心位置がＯＣＴ光学系およびＳＬＯ光学系の光軸と合うように調整されている。そのため、検者はハルトマン像が波面センサ１８１の中心に合うように、被検眼Ｅに対して撮影部の位置を調整することで、ＯＣＴ光学系およびＳＬＯ光学系のＸ方向およびＹ方向の位置合わせを行うことができる。なお、表示部には、波面センサ１８１の中心位置に対応する指標等およびハルトマン像が表示されていてもよい。

Ｓ３０７では、制御部１９０は、検者が表示部上に表示された波面補正ボタンを押すことに応じて、デフォーマブルミラー１８２による波面補正を開始する。ここで、制御部１９０は、波面センサ１８１で測定された収差に基づいてデフォーマブルミラー１８２の形状を変形させ、デフォーカス成分以外の被検眼Ｅの収差を補正する。なお、デフォーマブルミラー１８２を用いた収差補正は、既知の手法を用いることができる。
デフォーマブルミラー１８２は、ＯＣＴ測定光１０４とＳＬＯ測定光１０６との共通光路に配置されている。したって、ＯＣＴ測定光１０４についてデフォーマブルミラー１８２の形状を変形させて被検眼Ｅの収差を補正することにより、ＳＬＯ測定光１０６についても被検眼Ｅの収差を補正することができる。

Ｓ３０８では、制御部１９０は波面補正を開始してから、参照光１０３の光路長を調整する。具体的には、検者が表示部上に表示された参照光路長調整バー（不図示）を動かす操作を行う。制御部１９０は検者の操作に応じて電動ステージ１２５を制御して参照光１０３の光路長を調整する。ここでは、制御部１９０は、ＯＣＴ光学系を用いて取得された断層画像を表示部上に表示し、検者による入力に応じて、断層画像における所望の層の像が断層画像表示領域内の所望の位置に合うように、参照光１０３の光路長を調整する。

Ｓ３０９では、制御部１９０はＯＣＴ光学系のファインフォーカス調整を行う。具体的には、検者が断層画像に基づいて、表示部上に表示されたフォーカス調整バー（不図示）を動かす操作を行う。制御部１９０は検者の操作に応じて電動ステージ１２６を制御してＯＣＴ光学系の細密なフォーカス調整を行う。高横分解能のＯＣＴ光学系では、眼底における測定光のＮＡ（Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ ａｐｅｒｔｕｒｅ）が大きく焦点深度が浅いため、網膜Ｅｒの深さ方向の全域にわたって同時にフォーカスを合わせることが困難である。そのため、Ｓ３０９では、特に撮影したい網膜Ｅｒの層にＯＣＴ測定光１０４のフォーカスが合うようにファインフォーカス調整を行う。例えば、網膜表層の血管を撮影したい場合、その部分の輝度が最大になるように、制御部１９０が電動ステージ１２６を制御してＯＣＴ測定光１０４のフォーカスを調整する。ファインフォーカス調整によりＯＣＴ測定光１０４を所望のフォーカス状態に調整したらＳ３１０に進む。

Ｓ３１０では、制御部１９０はＳＬＯ光学系を用いて取得された眼底平面画像に基づいてＳＬＯファインフォーカス調整を行う。具体的には、検者が表示部上に表示されたＳＬＯフォーカス調整バー（不図示）を動かす操作を行う。制御部１９０は検者の操作に応じて電動ステージ１２７を制御する。ここでは、表示部上に表示された眼底平面画像の視細胞のコントラストが高くなるように、フォーカス調整を行う。なお、ＳＬＯ光学系のフォーカスを合わせる位置は視細胞に限られない。ＳＬＯ光学系のフォーカスを合わせる位置は、所望のトラッキング精度が達成できる場合は、血管等、他の特徴点を有する位置であってもよい。

電動ステージ１２７に搭載されたフォーカスレンズ１５７は、ＯＣＴ光学系との共通光路から分岐したＳＬＯ光学系の専用光路に配置されている。したがって、電動ステージ１２７でフォーカスレンズ１５７の位置を変更することにより、ＯＣＴ光学系のフォーカス状態に影響を与えることなく、ＳＬＯ光学系のフォーカスを調整できる。
また、フォーカスレンズ１５７は、ＳＬＯ測定光１０６の光路とＳＬＯ戻り光１０７の光路のうち少なくとも一部を共有する共通光路に配置されている。したがって、ＳＬＯ測定光１０６の焦点位置を網膜Ｅｒの所望の位置に合わせると同時に、その位置からのＳＬＯ戻り光１０７の焦点位置をピンホール板１７８のピンホール位置に合わせることができる。
なお、ＳＬＯ光学系のフォーカス調整は、ＳＬＯ測定光１０６の専用光路に配置されたレンズ１５５およびＳＬＯ戻り光１０７の専用光路に配置されたレンズ１５６をそれぞれ光軸方向に移動させることで行うこともできる。しかしながら、その場合、レンズ１５５およびレンズ１５６の位置をそれぞれ制御する必要があり、装置構成および制御が複雑になる。これに対し、フォーカスレンズ１５７を用いてＳＬＯ光学系のフォーカス調整を行う場合には、装置構成および制御を簡単にすることができる。

Ｓ３１１では、制御部１９０は、検者が表示部に表示されたトラッキングボタン（不図示）を押すことに応じて、眼底トラッキングを開始する。制御部１９０は、上述のように、ＳＬＯ光学系を用いて取得した眼底平面画像の特徴点から位置ずれ量を算出し、算出したずれ量に基づいてＸスキャナ１３２およびＹスキャナ１３３を制御することにより眼底トラッキングを行う。したがって、制御部１９０は眼球運動検出手段として機能する。眼底をトラッキングすることにより、断層画像の重ね合わせによるノイズ処理に用いる複数の断層画像や、動画、３Ｄボリューム画像等を、位置ずれを小さく抑えて取得することができる。

Ｓ３１２では、制御部１９０はトラッキングを開始して、検者が表示部上に表示された撮影ボタン（不図示）を押すことに応じて、眼底断層画像および眼底平面画像を取得する。ＯＣＴ測定光１０４と参照光１０３との干渉光（光１０８）は、ラインカメラ１９１で受光され、電圧信号に変換される。更に、得られた電圧信号群はデジタル値に変換されて、制御部１９０にてデータの保存および処理が行われる。制御部１９０は干渉光に基づくデータを処理することで眼底断層画像を生成する。また、ＳＬＯ戻り光１０７は、受光素子１９２で受光され、電圧信号に変換される。更に、得られた電圧信号群はデジタル値に変換されて、制御部１９０にてデータの保存および処理が行われる。制御部１９０はＳＬＯ戻り光１０７に基づくデータを処理することで眼底平面画像を生成する。

本実施形態では、ＳＬＯ光学系により取得された眼底平面画像を用いて精度のよい眼底トラッキングを行いながら、ＯＣＴ光学系を用いて網膜Ｅｒの所望の層にフォーカスを合わせることで、高解像度でＳＮ比のよい眼底断層画像を撮影できる。また、ＳＬＯ光学系におけるフォーカスレンズ１５７の移動による収差変動がＯＣＴ光学系に影響しないため、精度よく収差補正を維持した状態でＯＣＴ光学系を用いた眼底断層画像を取得できる。

以上のように、本実施形態の眼底撮像装置１００は、ＯＣＴ測定光１０４を用いて被検眼Ｅの断層情報を取得するＯＣＴ光学系と、ＳＬＯ測定光１０６を用いて被検眼Ｅの眼底情報を取得するＳＬＯ光学系とを備える。また、眼底撮像装置１００は、ＯＣＴ測定光１０４の光路およびＳＬＯ測定光１０６の光路のうち少なくとも一部を共有する共通光路を備え、被検眼における色収差を補正する色収差補正レンズ１０が共通光路から分岐したＯＣＴ測定光１０４の光路に設けられる。具体的には、色収差補正レンズ１０が、共通光路から分岐したＯＣＴ測定光１０４の光路であってＯＣＴ測定光１０４を出射する光源１０１側に設けられる。ここで、ＯＣＴ測定光１０４はＳＬＯ測定光１０６よりも被検眼Ｅの色収差の影響が大きくなり易い波長であることから、ＯＣＴ測定光１０４の光路に設けた色収差補正レンズ１０によって被検眼の色収差を補正することができる。したがって、高分解能で高画質な眼底断層画像を取得することができる。一方、色収差補正レンズ１０は共通光路およびＳＬＯ測定光１０６の光路に設けられていないので、ＳＬＯ光学系の光学性能に与える影響を防ぐことができる。

また、眼底撮像装置１００は、ＯＣＴ測定光１０４およびＳＬＯ測定光１０６を共通光路にそれぞれ導く導光手段としてのダイクロイックミラー１７７を有し、色収差補正レンズ１０はＯＣＴ光学系の光源１０１とダイクロイックミラー１７７と間に設けられる。したがって、共通光路の途中で分岐させて色収差補正レンズ１０を設ける構成に比べて比較的に簡単な構成で、色収差補正レンズ１０をＯＣＴ測定光１０４の光路に設けることができる。

また、眼底撮像装置１００は、共通光路に設けられたミラー１１９，１２０により構成されるバダル光学系を備え、共通光路から分岐したＳＬＯ測定光１０６の光路にフォーカスレンズ１５７を備える。ここで、フォーカスレンズ１５７によるフォーカス調整範囲は、バダル光学系によるフォーカス調整範囲より狭い。
また、眼底撮像装置１００は、ＯＣＴ測定光１０４の戻り光の収差を測定する波面センサ１８１と、共通光路に設けられたデフォーマブルミラー１８２とを備える。制御部１９０は、波面センサ１８１により測定された収差に基づいてデフォーマブルミラー１８２の形状の変化を制御する。
更に、眼底撮像装置１００は、ＯＣＴ測定光１０４を眼底上で二次元方向に走査するＸスキャナ１３２およびＹスキャナ１３３を備える。制御部１９０はＳＬＯ光学系を用いて取得した被検眼Ｅの眼底情報に基づいて眼底の動きを検出し、検出した眼底の動きに基づいてＸスキャナ１３２およびＹスキャナ１３３を制御する。
このような構成から、眼底撮像装置１００は、コンパクトな構成でありながら、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系の焦点位置を異なる位置に合わせることができる。したがって、眼底撮像装置１００では、ＯＣＴ光学系の焦点位置を撮影したい層に合わせ、且つ、ＳＬＯ光学系の焦点位置を、眼底トラッキングのための位置検出に有利な特徴点の多い層に合わせることができる。したがって、ＳＬＯ光学系を用いて高精度な眼底トラッキングを行いながら、ＯＣＴ光学系で高横解像度な断層画像を撮影することができる。そのため、撮影中の位置ずれをより小さく抑えて、複数の断層画像、動画および３Ｄボリューム画像を取得することができる。

また、眼底撮像装置１００は、ＯＣＴ測定光１０４とＳＬＯ測定光１０６をＹ方向（第１の方向）に走査するＹスキャナ１３３と、ＯＣＴ測定光１０４をＹ方向に垂直なＸ方向（第２の方向）に走査するＸスキャナ１３２を備える。また、眼底撮像装置１００は、ＳＬＯ測定光１０６をＸ方向に走査するＸスキャナ１３１を備える。ここで、制御部１９０は、Ｘスキャナ１３２による一回の走査を行う間にＹスキャナ１３３によりＯＣＴ測定光１０４およびＳＬＯ測定光１０６を繰り返し走査させる。また、制御部１９０は、Ｙスキャナ１３３による一回の走査を行う間にＸスキャナ１３１によりＳＬＯ測定光１０６を繰り返し走査させる。
また、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系の共通光路は、ＯＣＴ測定光１０４およびＳＬＯ測定光１０６を分離するダイクロイックミラー１７３を備える。更に、共通光路は、ダイクロイックミラー１７３によって分離されたＯＣＴ測定光１０４およびＳＬＯ測定光１０６を結合するダイクロイックミラー１７４を備える。ここで、ダイクロイックミラー１７３により分離されたＯＣＴ測定光１０４の光路にＸスキャナ１３２が配置され、同様に分離されたＳＬＯ測定光１０６の光路にＸスキャナ１３１が配置される。
このような構成により、眼底撮像装置１００は、ＯＣＴ光学系およびＳＬＯ光学系においてＹスキャナ１３３を共有するため、それぞれの光学系に別個にＹスキャナを設ける場合に比べてコンパクトな構成とすることができる。また、眼底撮像装置１００は、Ｘスキャナ１３２とＸスキャナ１３１とで別々のＸスキャナを用いているため、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系のＸ方向の撮影範囲はそれぞれ独立に設定することができる。さらに、眼底撮像装置１００は、ＳＬＯ光学系およびＯＣＴ光学系におけるＸスキャナ１３１，１３２を異なる周期で回転させることができ、ＳＬＯ光学系の測定光の走査速度をＯＣＴ光学系における測定光の走査速度よりも速くすることができる。

＜第２の実施形態＞
次に、本発明の第２の実施形態による眼底撮像装置４００について説明する。
（装置構成）
図４は、眼底撮像装置４００の構成の一例を示す図である。ここでは、第１の実施形態の眼底撮像装置１００との相違点を中心に説明し、第１の実施形態の眼底撮像装置１００と同様の構成については、同一の符号を用いて説明を省略する。
眼底撮像装置４００の基本構成は、第１の実施形態に係る眼底撮像装置１００と同様である。ただし、眼底撮像装置４００は、ＳＬＯ光学系の専用光路に第２のフォーカス手段を配置せず、ＯＣＴ光学系の専用光路に第２のフォーカス手段を配置する点で、眼底撮像装置１００と異なる。眼底撮像装置４００では、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系との共通光路から分岐されたＯＣＴ光学系の専用光路に、第２のフォーカス手段としてフォーカスレンズ４５７が配置される。

本実施形態では、ＯＣＴ測定光１０４の光路における色収差補正レンズ１０とダイクロイックミラー１７７との間において、フォーカスレンズ４５７およびレンズ４５８が設けられている。ここで色収差補正レンズ１０の後にフォーカスレンズ４５７を設けることにより、フォーカス状態による光束の変化に影響されることなく被検眼の色収差を補正することができる。フォーカスレンズ４５７は電動ステージ４２７に搭載されている。電動ステージ４２７は、矢印で図示するように、ＯＣＴ測定光１０４の光軸方向に移動可能である。電動ステージ４２７は制御部１９０によって制御される。

なお、図４ではフォーカスレンズ４５７を凸レンズ、レンズ４５８を凹レンズとしているが、フォーカスレンズ４５７およびレンズ４５８の構成はこの場合に限られない。例えば、フォーカスレンズ４５７を凹レンズ、レンズ４５８を凸レンズとしてもよく、両方を凸レンズにして、これらの間に中間像を形成する構成としてもよい。

（眼底の撮影手順）
次に、図５を参照して、眼底撮像装置４００における眼底の撮影手順について説明する。図５は、眼底の撮影手順の一例を示すフローチャートである。図５のフローチャートの処理は、制御部１９０がメモリに記憶されたプログラムを実行することにより実現する。なお、Ｓ５０１～Ｓ５０７は第１の実施形態に係る撮影手順におけるＳ３０１～Ｓ３０７と同様であるため説明を省略する。
撮影が開始され、Ｓ５０１～Ｓ５０７において、第１の実施形態におけるＳ３０１～Ｓ３０７と同様に、アライメントやラフフォーカス調整、波面補正の開始が行われると、処理はＳ５０８に移行する。

Ｓ５０８では、制御部１９０はＳＬＯ光学系のファインフォーカス調整を行う。具体的には、検者が眼底平面像に基づいて、表示部上に表示されたフォーカス調整バー（不図示）を動かす操作を行う。制御部１９０は検者の操作に応じて電動ステージ１２６を制御してＳＬＯ光学系の細密なフォーカス調整を行う。ここでは、表示部上に表示された眼底平面画像の視細胞のコントラストが高くなるように、フォーカス調整を行う。なお、ＳＬＯ光学系のフォーカスを合わせる位置は視細胞に限られない。ＳＬＯ光学系のフォーカスを合わせる位置は、所望のトラッキング精度が達成できる場合は、血管等、他の特徴点を有する位置であってもよい。
また、このとき、制御部１９０は、ＯＣＴ光学系の電動ステージ４２７を予め設定された初期状態の位置に配置しておく。ここでは、電動ステージ４２７の初期状態の位置として、ＯＣＴ測定光１０４とＳＬＯ測定光１０６のフォーカス位置が略一致するような電動ステージ４２７の位置が設定されている。

Ｓ５０９では、制御部１９０は、第１の実施形態のＳ３１１と同様に、眼底トラッキングを開始する。
Ｓ５１０では、制御部１９０は、第１の実施形態のＳ３０８と同様に、参照光路長を調整する。
Ｓ５１１では、制御部１９０はＯＣＴファインフォーカス調整を行う。具体的には、検者が断層画像に基づいて、表示部上に表示されたＯＣＴフォーカス調整バー（不図示）を動かす操作を行う。制御部１９０は検者の操作に応じて電動ステージ４２７を制御してフォーカスレンズ４５７を移動させ、ＯＣＴ光学系の細密なフォーカス調整を行う。ここでは、表示部に表示された断層画像における撮影したい層の輝度が最大になるようにフォーカス調整が行われる。

本実施形態では、フォーカスレンズ４５７は、ＳＬＯ光学系との共通光路から分岐したＯＣＴ光学系の専用光路に配置されている。したがって、電動ステージ４２７でフォーカスレンズ４５７の位置を変更することにより、ＳＬＯ光学系のフォーカス状態に影響を与えることなく、ＯＣＴ光学系のフォーカスを調整できる。

Ｓ５１２では、制御部１９０は、第１の実施形態のＳ３１２と同様の手順で撮影を行う。
以上のように、本実施形態の眼底撮像装置４００は、共通光路から分岐したＯＣＴ測定光１０４の光路に第２のフォーカス手段であるフォーカスレンズ４５７が設けられている。すなわち、コンパクトな装置構成でありながら、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系の焦点位置を異なる位置に合わせることができる。したがって、本実施形態による眼底撮像装置４００は、第１の実施形態の眼底撮像装置１００と同様に、精度のよい眼底トラッキングを行いながら、ＯＣＴ光学系で所望の層にフォーカスを合わせて高解像度に撮影できる。また、眼底撮像装置４００は、ＳＬＯ光学系を用いた眼底トラッキングを行ったまま、ＯＣＴ光学系のフォーカスを異なる層に変更することができるため、例えば、ＯＣＴ光学系の複数のフォーカス位置で断層画像を撮影する場合等で操作が容易になる。

＜変形例１＞
第１、第２の実施形態では、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系の共通光路に配置された電動ステージ１２６に搭載されたミラー１１９，１２０を第１のフォーカス手段とし、これらを移動させることによりラフフォーカス調整およびファインフォーカス調整を行った。しかしながら、これらフォーカス調整に用いる第１のフォーカス手段は上述した構成に限られない。例えば、第１のフォーカス手段としてＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系の共通光路に配置されたデフォーマブルミラー１８２を用いることもできる。
特に、ファインフォーカス調整は、デフォーマブルミラー１８２を変形させることにより行ってもよい。この場合、制御部１９０は、波面センサ１８１の測定値に基づいたデフォーマブルミラー１８２の目標形状にデフォーカス成分のオフセットを与えて制御する。これにより、被検眼Ｅの収差を補正しつつ、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系のフォーカス位置を変更することができる。なお、ラフフォーカス調整においても、フォーカスの調整量が少なくて済む場合には、同様にデフォーマブルミラー１８２を用いることができる。
また、第１のフォーカス手段として、フォーカスレンズや電気光学素子、ピエゾ素子、液晶光学素子、可変形状ミラー等、他の任意のフォーカス手段を用いてもよい。

＜変形例２＞
また、第１、第２の実施形態では、第１のフォーカス手段と第２のフォーカス手段を独立に制御してフォーカス調整を行っているが、眼底撮像装置は第１のフォーカス手段と第２のフォーカス手段を連動させて制御するモードを有していてもよい。
この場合の装置構成は図１に示す眼底撮像装置１００と同様であり、眼底の撮影手順は図５のフローチャートと同様である。ただし、ＯＣＴファインフォーカス調整時（Ｓ５１１）に第１のフォーカス手段と第２のフォーカス手段を連動させて制御する点で異なる。

この場合、Ｓ５０８において、制御部１９０は電動ステージ１２６を制御しフォーカスレンズ１５７を移動させてＳＬＯ光学系のファインフォーカス調整を行う。その後、Ｓ５１１において、電動ステージ１２６を移動させてＯＣＴファインフォーカス調整を行うときに、電動ステージ１２６による調整を打ち消す方向に動作させるように、ＳＬＯ光学系の専用光路に配置された電動ステージ１２７を制御する。言い換えると、制御部１９０は、共通光路に配置された第１のフォーカス手段によるＯＣＴファインフォーカス調整時に、当該調整による影響を打ち消す方向に、専用光路に配置された第２のフォーカス手段を第１のフォーカス手段に連動させて動作させる。これにより、ＳＬＯ光学系のフォーカス状態を変えることなく、ＯＣＴ光学系のフォーカス調整をすることができる。

その後、ＯＣＴファインフォーカス調整により所望の層の輝度が最大になったら、制御部１９０は第１の実施形態におけるＳ３１２と同様に撮影を行う。
この場合でも、精度のよい眼底トラッキングを行いながら、ＯＣＴ光学系で所望の層にフォーカスを合わせて高解像度にＳＮ比がよい画像を撮影できる。また、ＳＬＯ光学系を用いて眼底トラッキングを行ったまま、ＯＣＴ光学系のフォーカスを異なる層に変更することができるため、例えば、複数のフォーカス位置で撮影を行う場合等で操作が容易になる。また、電動ステージ１２７に搭載されたフォーカスレンズ１５７の移動による収差変動がＯＣＴ光学系に影響しないため、精度よく収差補正を行ったままＯＣＴ光学系を用いて眼底断層画像を取得できる。また、眼底撮像装置４００の構成において、図３のフローチャートに記載された眼底の撮影手順を行う際に同様の処理を行うこともできる。

なお、第１のフォーカス手段としてデフォーマブルミラー１８２を変形させてフォーカス調整を行ってもよい。この場合、制御部１９０はデフォーマブルミラー１８２の目標形状にデフォーカス成分のオフセットを与えて制御し、そのオフセット量を打ち消すように第２のフォーカス手段である電動ステージ１２７を制御すればよい。
また、第１のフォーカス手段と第２のフォーカス手段を連動させるための連動機構を設けてもよい。この場合には、制御部１９０は連動機構を制御することにより、第１のフォーカス手段と第２のフォーカス手段を連動させることができる。また、連動機構は第１のフォーカス手段と第２のフォーカス手段の連動を解除可能に構成してもよく、この場合、制御部１９０は、連動機構による連動を解除して第１のフォーカス手段と第２のフォーカス手段を別々に制御することができる。

＜変形例３＞
また、第１の実施形態のＳ３０５および第２の実施形態のＳ５０５でラフフォーカス調整を行うとき、参照光路に設けられた光路長調整手段による光路長の調整と第１のフォーカス手段によるフォーカス調整を連動させて制御してもよい。
この場合、制御部１９０は、ラフフォーカス調整時のミラー１１９，１２０の移動による光路長変化量と、略同じだけ光路長が変化するように電動ステージ１２５を制御してミラー１２４を移動させる。これにより、ＯＣＴ測定光１０４と参照光１０３との光路長差を変えることなく、フォーカスを調整することができる。そのため、第１の実施形態のＳ３０８および第２の実施形態のＳ５１０で参照光路長調整を行う際のミラー１２４の移動量を小さく抑えることができる。電動ステージ１２５に搭載されるミラー１２４の移動量が小さいと光路長の調整時間を短縮することができ、操作開始から撮影完了までの合計の撮影時間を短縮することができるため、被検者の負担を軽減することができる。

また、光路長調整手段と第１のフォーカス手段とを連動させるための連動機構を設けてもよい。この場合には、制御部１９０は連動機構を制御することにより、電動ステージ１２５に搭載されるミラー１２４と第１のフォーカス手段を連動させることができる。また、連動機構は光路長調整手段と第１のフォーカス手段との連動を解除可能に構成してもよく、この場合、制御部１９０は、連動機構による連動を解除して光路長調整手段と第１のフォーカス手段を別々に制御することができる。
なお、第１、第２の実施形態では、光路長調整手段が参照光１０３の光路に設けられたミラー１２４によって構成される場合について説明したが、この場合に限られず、光路長調整手段はＯＣＴ測定光１０４の光路に設けてもよい。

＜変形例４＞
第１、第２の実施形態では、第２のフォーカス手段をＯＣＴ光学系の専用光路およびＳＬＯ光学系の専用光路の一方に設ける場合について説明した。しかしながら、第２のフォーカス手段はＯＣＴ光学系の専用光路およびＳＬＯ光学系の専用光路の両方に設けられてもよい。上述のように、第２のフォーカス手段は、第１のフォーカス手段に比べてフォーカス調整範囲が狭く、対応可能な被検眼Ｅの視度範囲が狭いため、各光学系のファインフォーカス調整に用いられる。そのため、本変形例では、撮像手順において、ラフフォーカス後のファインフォーカスは、ＯＣＴ光学系の専用光路およびＳＬＯ光学系の専用光路にそれぞれ設けられたそれぞれの第２のフォーカス手段によって別々に行われる。
このような場合であっても、第１のフォーカス手段と比べ、第２のフォーカス手段はフォーカス調整範囲が狭いため、例えばフォーカスレンズを搭載した電動ステージの移動範囲を狭くでき、従来の装置に比べて装置構成をコンパクトにできる。また、第２のフォーカス手段は、フォーカスレンズを搭載した電動ステージに限られない。例えば、タンタル酸ニオブ酸カリウムの結晶等の電気光学素子や、同様の効果を得ることが可能なその他のピエゾ素子、液晶光学素子、可変形状ミラー等によって第２のフォーカス手段を構成してもよい。この場合には、電動ステージの移動範囲を確保する必要がないため、装置構成をよりコンパクトにできる。

＜その他の変形例＞
なお、上述した実施形態および変形例では、検者の入力に応じて制御部１９０が各種アライメントや、光路長調整、フォーカス調整を行う場合について説明した。しかしながら、上述の各種アライメントや、光路長調整、フォーカス調整において用いられた前眼部の画像、眼底平面画像、ハルトマン像および断層画像等に基づいて、制御部１９０が自動的にこれらのアライメントや調整を行ってもよい。この場合には、例えば、制御部１９０が上述のアライメントや調整と同様に、眼底平面画像の輝度や撮影すべき層等に基づいて、これらのアライメントや調整を行うことができる。

また、上述した実施形態および変形例では、眼底撮像装置の干渉光学系としてマイケルソン型干渉計の構成を用いているが、干渉光学系の構成はこの場合に限られない。例えば、眼底撮像装置の干渉光学系はマッハツェンダー干渉計の構成を有していてもよい。また、上述した実施形態および変形例における、各ダイクロイックミラーによって反射する、または、透過させる光の波長は任意であり、上述した構成とは逆の光を反射する、または、透過させる構成としてもよい。

更に、上述した実施形態および変形例では、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系においてＹスキャナ１３３を共有しているが、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系に別々にＹスキャナを設けてもよい。また、共通光路に配置される第１のフォーカス手段は、Ｙスキャナ１３３とＸスキャナ１３１，１３２との間に配置される構成に限られない。例えば、被検眼Ｅと第１のフォーカス手段の間に、Ｘスキャナ１３１，１３２の少なくとも１つを設けてもよい。また、Ｙスキャナ１３３を被検眼Ｅと第１のフォーカス手段の間に設けなくてもよい。

更に、上述した実施形態および変形例では、ＯＣＴ光学系がＳＬＤを光源として用いたスペクトラルドメインＯＣＴ（ＳＤ－ＯＣＴ）光学系として構成されているが、この場合に限られない。出射光の波長を掃引することができる波長掃引光源を用いた波長掃引型ＯＣＴ（ＳＳ－ＯＣＴ）光学系等の他の任意の種類のＯＣＴ光学系を適用することができる。

＜その他の実施形態＞
本発明は、上述の実施形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。
以上、実施形態を参照して本発明について説明したが、本発明は上述した実施形態に限定されるものではない。本発明の趣旨に反しない範囲で変更された発明および本発明と均等な発明も本発明に含まれる。また、上述の各実施形態および変形例は、本発明の趣旨に反しない範囲で適宜組み合わせることができる。また、各実施形態および変形例で説明されている特徴の組み合わせの全てが本発明の解決手段に必須のものとは限らない。

１０：色収差補正レンズ、１００：眼底撮像装置、１０１，１０２：光源、１１９，１２０：ミラー、１２６，１２７：電動ステージ、１４１：光カプラー、１５４：レンズ １５７：フォーカスレンズ、１７３，１７４，１７７：ダイクロイックミラー、１９１：ラインカメラ、１９２：受光素子、４００：眼底撮像装置、４２６：電動ステージ、４５７：フォーカスレンズ、Ｅ：被検眼

Claims (18)

1. ＯＣＴ測定光を用いて被検眼の断層情報を取得するＯＣＴ光学系と、
   ＳＬＯ測定光を用いて前記被検眼の眼底情報を取得するＳＬＯ光学系と、
   前記ＯＣＴ測定光の光路および前記ＳＬＯ測定光の光路のうち少なくとも一部を共有する、反射光学系で構成された共通光路と、
   前記共通光路に設けられた分岐手段により分岐された前記ＯＣＴ測定光の戻り光の波面を測定する測定手段と、
   前記共通光路から分岐した前記ＯＣＴ測定光の光路に設けられ、前記被検眼における色収差を補正する色収差補正手段と、
   を有することを特徴とする眼底撮像装置。
2. 前記ＯＣＴ測定光および前記ＳＬＯ測定光を前記共通光路に導く導光手段を有し、
   前記色収差補正手段は、
   前記ＯＣＴ測定光を出射する光源と前記導光手段との間に設けられることを特徴とする請求項１に記載の眼底撮像装置。
3. 前記導光手段は、
   前記ＯＣＴ測定光および前記ＳＬＯ測定光のうち一方の測定光を透過し他方の測定光を反射する第１の光学手段であることを特徴とする請求項２に記載の眼底撮像装置。
4. 前記光源から出射された光を前記ＯＣＴ測定光と参照光とに分割する分割手段と、
   前記分割手段により分割された前記ＯＣＴ測定光を平行光にする第２の光学手段と、を有し、
   前記色収差補正手段は、
   前記第２の光学手段と前記導光手段との間に設けられることを特徴とする請求項２または３に記載の眼底撮像装置。
5. 前記共通光路に設けられる第１のフォーカス手段と、
   前記共通光路から分岐した前記ＳＬＯ測定光の光路、および、前記共通光路から分岐した前記ＯＣＴ測定光の光路のうち少なくとも一方に設けられる第２のフォーカス手段と、
   を有することを特徴とする請求項１ないし４の何れか１項に記載の眼底撮像装置。
6. 前記共通光路に設けられる第１のフォーカス手段と、
   前記共通光路から分岐した前記ＳＬＯ測定光の光路に設けられる第２のフォーカス手段と、を有し、
   前記第２のフォーカス手段は、
   前記ＳＬＯ測定光を出射する光源と前記導光手段との間に設けられることを特徴とする請求項２ないし４の何れか１項に記載の眼底撮像装置。
7. 前記第２のフォーカス手段は、
   前記ＳＬＯ測定光の光路、および、前記ＳＬＯ測定光が被検眼によって反射される戻り光の光路のうち少なくとも一部を共有する光路に設けられることを特徴とする請求項６に記載の眼底撮像装置。
8. 前記第１のフォーカス手段および前記第２のフォーカス手段を介して前記ＯＣＴ測定光および前記ＳＬＯ測定光が前記被検眼の所定の位置にフォーカスされるように制御する制御手段を有し、
   前記制御手段は、
   前記第１のフォーカス手段により前記ＯＣＴ測定光および前記ＳＬＯ測定光のフォーカスを制御した後に、前記第２のフォーカス手段により前記ＳＬＯ測定光のフォーカスを制御することを特徴とする請求項６または７に記載の眼底撮像装置。
9. 前記共通光路に設けられる第１のフォーカス手段と、
   前記共通光路から分岐した前記ＯＣＴ測定光の光路に設けられる第２のフォーカス手段と、を有し、
   前記第２のフォーカス手段は、
   前記ＯＣＴ測定光を出射する光源と前記導光手段との間に設けられることを特徴とする請求項２ないし４の何れか１項に記載の眼底撮像装置。
10. 前記測定手段が測定した波面に基づいて、前記ＯＣＴ測定光および前記ＳＬＯ測定光の波面を補正する補正手段を更に有し、
    前記補正手段は、
    前記分岐手段と前記被検眼との間に設けられることを特徴とする請求項１ないし９の何れか１項に記載の眼底撮像装置。
11. 前記第１のフォーカス手段および前記第２のフォーカス手段を介して前記ＯＣＴ測定光および前記ＳＬＯ測定光が前記被検眼の所定の位置にフォーカスされるように制御する制御手段を有し、
    前記制御手段は、
    前記第１のフォーカス手段により前記ＯＣＴ測定光および前記ＳＬＯ測定光のフォーカスを制御した後に、前記第２のフォーカス手段により前記ＯＣＴ測定光のフォーカスを制御することを特徴とする請求項９に記載の眼底撮像装置。
12. 前記第２のフォーカス手段のフォーカス調整範囲は、前記第１のフォーカス手段のフォーカス調整範囲よりも小さいことを特徴とする請求項５ないし９の何れか１項に記載の眼底撮像装置。
13. 前記共通光路に設けられた、前記ＯＣＴ測定光を光軸に対して垂直な第１の方向に走査する第１の走査手段と、
    前記共通光路に設けられた、前記ＯＣＴ測定光を前記光軸および前記第１の方向に対して垂直な第２の方向に走査する第２の走査手段と、
    前記第１の走査手段と前記第２の走査手段との間に設けられた、正の屈折力を有するレンズとを更に有し、
    前記レンズは、前記第１の走査手段により走査された前記ＯＣＴ測定光を、より広い入射角範囲で前記第２の走査手段に入射させることを特徴とする請求項１ないし１２の何れか１項に記載の眼底撮像装置。
14. 前記色収差補正手段は、
    前記ＯＣＴ測定光の波長の帯域について前記被検眼の眼底上のフォーカス位置を揃えることを特徴とする請求項１ないし１３の何れか１項に記載の眼底撮像装置。
15. 前記共通光路から分岐した前記ＳＬＯ測定光の光路に設けられ、前記ＳＬＯ測定光を光軸に対して垂直な前記第１の方向に走査する第３の走査手段を更に有し、
    前記第２の走査手段は、前記ＯＣＴ測定光および前記ＳＬＯ測定光を前記第２の方向に走査することを特徴とする請求項１３に記載の眼底撮像装置。
16. ＯＣＴ測定光を用いて被検眼の断層情報を取得するＯＣＴ光学系と、
    ＳＬＯ測定光を用いて前記被検眼の眼底情報を取得するＳＬＯ光学系と、
    前記ＯＣＴ測定光の光路および前記ＳＬＯ測定光の光路のうち少なくとも一部を共有する、反射光学系で構成された共通光路と、
    前記共通光路に設けられた分岐手段により分岐された前記ＯＣＴ測定光の戻り光の波面を測定する測定手段と、
    前記共通光路から分岐した前記ＯＣＴ測定光の光路に設けられ、前記被検眼における色収差を補正する色収差補正手段と、
    前記共通光路に設けられる第１のフォーカス手段と、
    前記共通光路から分岐した前記ＳＬＯ測定光の光路に設けられる第２のフォーカス手段と、を有する眼底撮像装置を用いた眼底撮像方法であって、
    前記第１のフォーカス手段により前記ＯＣＴ測定光および前記ＳＬＯ測定光のフォーカスを調整する第１のステップと、
    前記第１のステップの後に、前記第２のフォーカス手段により前記ＳＬＯ測定光のフォーカスを調整する第２のステップと、を有することを特徴とする眼底撮像方法。
17. ＯＣＴ測定光を用いて被検眼の断層情報を取得するＯＣＴ光学系と、
    ＳＬＯ測定光を用いて前記被検眼の眼底情報を取得するＳＬＯ光学系と、
    前記ＯＣＴ測定光の光路および前記ＳＬＯ測定光の光路のうち少なくとも一部を共有する、反射光学系で構成された共通光路と、
    前記共通光路に設けられた分岐手段により分岐された前記ＯＣＴ測定光の戻り光の波面を測定する測定手段と、
    前記共通光路から分岐した前記ＯＣＴ測定光の光路に設けられ、前記被検眼における色収差を補正する色収差補正手段と、
    前記共通光路に設けられる第１のフォーカス手段と、
    前記共通光路から分岐した前記ＯＣＴ測定光の光路に設けられる第２のフォーカス手段と、を有する眼底撮像装置を用いた眼底撮像方法であって、
    前記第１のフォーカス手段により前記ＯＣＴ測定光および前記ＳＬＯ測定光のフォーカスを調整する第１のステップと、
    前記第１のステップの後に、前記第２のフォーカス手段により前記ＯＣＴ測定光のフォーカスを調整する第２のステップと、を有することを特徴とする眼底撮像方法。
18. コンピュータに、請求項１６または１７に記載の各ステップを実行させるためのプログラム。

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