JP7038163B2 - 外観検査システム - Google Patents
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Description
本発明は、検査対象物の外観の良否を判定するための外観検査システムに関する。
外観に傷や打痕等の不良を含むコネクティングロッド(コンロッド)は、耐久性に懸念がある。そこで、従来より、コンロッドに光を照射して外観の良否を判定する外観検査を行い、合格品のみを内燃機関の組立工程に供給するようにしている。
外観検査を実施するための外観検査システムとしては、特許文献1、2に記載されたものが知られている。例えば、特許文献2記載の検査装置では、その図1に示されるように、先ず、コンロッドの上面側の外観検査が行われる。その後、コンロッドの上下が反転されて下面側の外観検査が行われる。特許文献3の図7Aに示されるように、コンロッドの搬送方向上流側で上面側の外観検査が終了したコンロッドを上下反転させ、搬送方向下流側で下面側の外観検査が行われることもある。
光が照射された後、カメラによってコンロッドの検査画像が撮影される。検査画像はコンピュータに送信され、該コンピュータは、該検査画像と、傷を含まない基準試料で得られた対照画像とを対比する。コンロッドが不良を含んでいる場合、その部位が対照画像よりも暗くなる。換言すれば、低照度となる。このことを認識したコンピュータは、検査対象のコンロッドを「不合格品」と判定する。
上記したような外観検査において、傷等の不良を含む検査対象物であるにも拘わらず、照度が低い部位が検出されずに「合格品である」と判定されることがある。そこで、この種の外観検査システムにおける検査結果の信頼性を向上させることが期待されている。
本発明は上記した問題を解決するためになされたもので、検査結果の信頼性が向上し、このために検査対象物の品質を保証し得る外観検査システムを提供することを目的とする。
前記の目的を達成するために、本発明の一実施形態によれば、検査対象物の撮影画像に基づいて前記検査対象物の外観の良否を判定する外観検査システムであって、
前記検査対象物を保持する保持具と、
前記保持具で保持された前記検査対象物に光を照射する照明装置と、
光が照射された前記検査対象物を撮影する撮像装置と、
前記撮像装置により得られた前記検査対象物の画像に基づいて、前記検査対象物の外観の良否を判定する判定部と、
を備え、
前記保持具の、前記照明装置が発した光が照射される被照射部位に受光装置が設けられ、
前記受光装置による照度の測定値が予め設定された基準値以下であるとき、前記判定部は、検査条件不成立であると判定する外観検査システムが提供される。
前記検査対象物を保持する保持具と、
前記保持具で保持された前記検査対象物に光を照射する照明装置と、
光が照射された前記検査対象物を撮影する撮像装置と、
前記撮像装置により得られた前記検査対象物の画像に基づいて、前記検査対象物の外観の良否を判定する判定部と、
を備え、
前記保持具の、前記照明装置が発した光が照射される被照射部位に受光装置が設けられ、
前記受光装置による照度の測定値が予め設定された基準値以下であるとき、前記判定部は、検査条件不成立であると判定する外観検査システムが提供される。
本発明の別の一実施形態によれば、検査対象物の撮影画像に基づいて前記検査対象物の外観の良否を判定する外観検査システムであって、
前記検査対象物を保持する保持具と、
前記保持具で保持された前記検査対象物に光を照射する照明装置と、
光が照射された前記検査対象物を撮影する撮像装置と、
前記撮像装置により得られた前記検査対象物の画像に基づいて、前記検査対象物の外観の良否を判定する判定部と、
を備え、
前記保持具の、前記照明装置が発した光が照射される被照射部位にグレースケールチャートが設けられ、
前記判定部は、前記撮像装置による前記グレースケールチャートの撮影画像から、該グレースケールチャートの照度ないし階調値を取得し、
取得された前記グレースケールチャートの照度ないし階調値が予め設定された基準値以下であるとき、前記判定部は、検査条件不成立であると判定する外観検査システムが提供される。
前記検査対象物を保持する保持具と、
前記保持具で保持された前記検査対象物に光を照射する照明装置と、
光が照射された前記検査対象物を撮影する撮像装置と、
前記撮像装置により得られた前記検査対象物の画像に基づいて、前記検査対象物の外観の良否を判定する判定部と、
を備え、
前記保持具の、前記照明装置が発した光が照射される被照射部位にグレースケールチャートが設けられ、
前記判定部は、前記撮像装置による前記グレースケールチャートの撮影画像から、該グレースケールチャートの照度ないし階調値を取得し、
取得された前記グレースケールチャートの照度ないし階調値が予め設定された基準値以下であるとき、前記判定部は、検査条件不成立であると判定する外観検査システムが提供される。
本発明によれば、保持具に受光装置又はグレースケールチャートを設け、これらに照射される光の照度等を求めるようにしている。そして、照度等が予め設定された基準値以下であるときには、「検査条件が既定を満たしておらず、検査条件不成立である」と判定する。
このようにすることにより、撮影された検査画像全体の照度が低く、検査対象物における不良と肌の区別が容易ではないとき等で、検査対象物を不合格品と同様に除外することができる。このために不合格品を「合格品である」と誤って判定することが回避されるので、検査結果の信頼性が向上する。また、これにより合格品の品質を保証することが容易となる。
しかも、この場合、保持具に受光装置又はグレースケールチャートを設ける程度でよく、さらなる機構を組み込んだり、設計変更や改造を行ったりする必要はない。従って、外観検査システムの構成が複雑になることが回避されるとともに、検査結果の信頼性を低コストで向上させることができる。
以下、本発明に係る外観検査システムにつき好適な実施の形態を挙げ、添付の図面を参照して詳細に説明する。なお、この実施の形態では、コネクティングロッド(コンロッド)を検査対象物とする場合を例示する。
はじめに、図1に示すコンロッド10につき概略説明する。このコンロッド10は、図示しないクランクシャフトが通される大挿通孔12が形成された大端部14と、図示しないピストンピンが通される小挿通孔16が形成された小端部18とを有する。大挿通孔12の内径及び外径は小挿通孔16に比して大であり、このため、大端部14は小端部18に比して幅広である。大端部14と小端部18の間には、略角柱形状のロッド部20が介在する。このような形状のコンロッド10は、例えば、鍛造によって作製される。
大端部14の左右両側部には、ロッド部20の延在方向に対して略平行に延在するボルト孔22が形成されている。大端部14は、クランクシャフトが通される前に、ロッド部20の延在方向に対して略直交する方向に沿って大挿通孔12が略2分割されるように破断される。そして、破断された部品同士でクランクシャフトを挟んだ後、前記ボルト孔22に図示しない連結ボルトが通され、さらに、該連結ボルトにナットが螺合される。これにより、大挿通孔12にクランクシャフトが通され且つ破断された部分同士が連結される。
次に、図2~図4を参照し、第1実施形態に係る外観検査システム30につき説明する。図2に示すように、外観検査システム30は、コンロッド10を搬送する搬送ライン32に設けられる。ここで、搬送ライン32は、搬入側コンベア34と搬出側コンベア36を有する。搬入側コンベア34は、複数個の第1ローラ38と、該第1ローラ38が回転することに伴って周回動作する第1ベルト40とを有し、外観検査システム30の上流側に位置する。
一方の搬出側コンベア36は、複数個の第2ローラ42と、該第2ローラ42が回転することに伴って周回動作する第2ベルト44とを有し、外観検査システム30の下流側に位置する。すなわち、外観検査システム30は、搬入側コンベア34と搬出側コンベア36とで挟まれる位置に配設される。搬入側コンベア34がコンロッド10を外観検査システム30に供給される方向に搬送するとともに、搬出側コンベア36がコンロッド10を外観検査システム30から払い出す方向に搬送することは勿論である。
特に図示はしないが、搬入側コンベア34と外観検査システム30の間、外観検査システム30と搬出側コンベア36との間には、第1移載ロボット、第2移載ロボットがそれぞれ配設される。
外観検査システム30は、太陽光や室内灯等の外部光を遮断するためのハウジング50を有する。ハウジング50の、搬入側コンベア34に臨む壁部、搬出側コンベア36に臨む壁部には、それぞれ、搬入口52、搬出口54が形成される。また、該ハウジング50の内部は、第1検査部56、反転部58、第2検査部60に大別される。さらに、ハウジング50内には、第1移動台62と、反転動作ロボット64と、第2移動台66とが設けられる。この中の第1移動台62は、搬入口52の近傍から第1検査部56のテーブル70(図3参照)まで、又はテーブル70から搬入口52の近傍まで移動することが可能である。
図3に示すように、テーブル70の、搬入口52に臨む側には受入口72が形成されるとともに、その略中央に貫通窓74が形成される。受入口72は、貫通窓74に至るまで延在する。
また、テーブル70には、保持具としてのチャック76を構成する第1把持爪78及び第2把持爪80が貫通窓74の縁部に対して接近又は離間可能に配設される。具体的には、テーブル70には、ロッド部20の延在方向(図2の紙面に直交する方向)に沿って延在する図示しない2個のリニアアクチュエータが、貫通窓74を挟んで同一軸線となるように埋設される。一方のリニアアクチュエータの第1スライダ82には第1把持爪78が設けられ、他方のリニアアクチュエータの第2スライダ84には第2把持爪80が設けられる。第1把持爪78と第2把持爪80は、第1スライダ82と第2スライダ84が案内レール85a、85bに沿って互いに接近又は離間するように移動することに伴い、互いに接近又は離間する。
第1把持爪78と第2把持爪80が互いに接近したとき、第1把持爪78がコンロッド10の大端部14を小端部18側に向かって押圧する一方、第2把持爪80が小端部18を大端部14側に向かって押圧する。その結果、コンロッド10が貫通窓74の上方で保持ないし位置決めされる。これに対し、第1把持爪78と第2把持爪80が互いに離間したときには、コンロッド10がチャック76による把持から解放される。
第1把持爪78は、第1スライダ82に連結される第1L型ブロック86と、該第1L型ブロック86の上端面に連結された第1ステーブロック88とを有する。第1ステーブロック88の、貫通窓74に臨む端部には、大端部14が載置される第1載置ブロック90と、第1載置ブロック90の上方に位置するとともに該第1載置ブロック90に対して所定間隔で離間した第1押圧ブロック92とが設けられる。大端部14は、第1載置ブロック90上に載置されるとともに、大挿通孔12の外周壁が第1押圧ブロック92の湾曲した先端面に当接する。
第1ステーブロック88の、貫通窓74に臨む先端部の裏面である後端面、ロッド部20の延在方向に沿って延在する両側面と、第1押圧ブロック92の上面には、グレースケールチャート94が掲示されたプレートがそれぞれ取り付けられる。すなわち、第1把持爪78には4個のグレースケールチャート94が設けられる。なお、各グレースケールチャート94は、例えば、白、反射率18%の灰(いわゆる18%グレー)、黒の3階調とすれば十分であるが、階調は特にこれに限定されるものではない。
第2把持爪80は、第1把持爪78と同様に構成される。すなわち、第2把持爪80は、第2スライダ84に連結される第2L型ブロック96と、該第2L型ブロック96の上端面に連結された第2ステーブロック98とを有する。第2ステーブロック98の、貫通窓74に臨む端部には、小端部18が載置される第2載置ブロック100と、第2載置ブロック100の上方に位置するととともに該第2載置ブロック100に対して所定間隔で離間した第2押圧ブロック102とが設けられる。小端部18は、第2載置ブロック100上に載置されるともに、小挿通孔16の外周壁が第2押圧ブロック102の湾曲した先端面に当接する。
第2ステーブロック98の、貫通窓74に臨む先端部の裏面である後端面、ロッド部20の延在方向に沿って延在する両側面と、第2押圧ブロック102の上面には、グレースケールチャート94が掲示されたプレートがそれぞれ取り付けられる。すなわち、第2把持爪80にも4個のグレースケールチャート94が設けられる。各グレースケールチャート94は、例えば、上記と同様に白、18%グレー、黒の3階調としてもよいし、それ以上の階調としてもよい。
図4に示すように、テーブル70の近傍には、照明装置110a~110qの各々と、撮像装置であるカメラ112a~112qの各々とが一体的に組み合わされた組立体が配設される。8個の照明装置110a~110hは、テーブル70と略同一の高さから水平方向に進行する光を照射する。また、1個の照明装置110iは、テーブル70の上方から、鉛直下方の貫通窓74に向かって光を照射する。そして、8個の照明装置110j~110qは、テーブル70に対する交差角度が略45°となる位置から、鉛直方向に対して略45°傾斜するように進行する光を照射する。すなわち、第1検査部56には17個の照明装置110a~110q及びカメラ112a~112qが設けられる。そして、全ての光は、チャック76によって貫通窓74の上方で位置決めされたコンロッド10に向かって進行する。
17個のカメラ112a~112qは、光が照射されたコンロッド10の検査画像を撮影する。換言すれば、カメラ112a~112qはコンロッド10の撮影画像を得る。ここで、第1把持爪78、第2把持爪80に設けられた各4個(合計8個)のグレースケールチャート94には、照明装置110a~110qからの光が照射される。すなわち、8個のグレースケールチャート94は、第1把持爪78及び第2把持爪80の被照射部位に配置されている。また、グレースケールチャート94は、カメラ112a~112qの撮影範囲内に位置する。結局、カメラ112a~112qがコンロッド10の検査画像を撮影するとき、光が照射された状態の8個のグレースケールチャート94の全てが、検査画像に写り込む。
コンロッド10及びグレースケールチャート94を含む検査画像は、判定部であるコンピュータ114に送信される。コンピュータ114のハードディスクドライブには、傷や打痕、肌荒れ等の不良が存在しない基準試料の対照画像が保存されている。コンピュータ114は、検査対象であるコンロッド10の検査画像と、基準試料の対照画像とを対比し、検査対象のコンロッド10に傷等の不良が存在するか否かを判定する。存在しない場合は「良(合格品)」であり、存在する場合は「否(不合格品)」である。なお、1台のコンピュータ114のみでは検査画像に基づく良否判定に時間を要するようであれば、コンピュータ114を複数個設け、良否判定を行う部位を分割するようにしてもよい。
第2検査部60にも同様に、反転部58からコンロッド10を受領するテーブル116が設けられる。第2移動台66は、テーブル116から搬出口54の近傍まで、又は搬出口54の近傍からテーブル116まで移動することが可能である。テーブル116の、搬出口54を臨む側には、貫通窓74に連なる退避口118が形成される。この退避口118から貫通窓74に第2移動台66が進入する一方、貫通窓74から退避口118を介して第2移動台66が進出する。
第2検査部60は、第1検査部56と同様に構成される。従って、第1検査部56の構成要素と同一の構成要素には同一の参照符号を付し、その図示及び詳細な説明を省略する。
第1検査部56と第2検査部60の間の反転部58には、前記反転動作ロボット64が配置されている。反転動作ロボット64の先端アームには挟持ハンド115が設けられており、該挟持ハンド115でコンロッド10の、例えば、ロッド部20を挟持することが可能となっている。勿論、先端アームは、180°以上回転することが可能である。
外観検査システム30は、図示しない除外コンベアをさらに有する。除外コンベアは、例えば、搬入側コンベア34及び搬出側コンベア36に対して略直交する方向に延在するように、ハウジング50に隣接する。除外コンベアは、不合格品であると判定されたコンロッド10を除外してハウジング50外に搬出するためのラインである。
第1実施形態に係る外観検査システム30は、基本的には以上のように構成されるものであり、次にその作用効果について説明する。なお、外観検査システム30の以下の動作は、該外観検査システム30を構成する制御部120の制御作用下に営まれる。
外観が検査されるコンロッド10は、搬入側コンベア34の第1ベルト40が周回動作することによってハウジング50まで搬送される。そして、ハウジング50の搬入口52近傍に到達したコンロッド10は、第1移載ロボットによって第1ベルト40から第1移動台62に移載される。
コンロッド10が載置された第1移動台62は、第1検査部56のテーブル70に向かって移動する。この移動により、コンロッド10がテーブル70に接近する。第1移動台62は、テーブル70に形成された受入口72から進入して貫通窓74に到達する。この際、第1把持爪78、コンロッド10及び第2把持爪80が略同一の高さ位置で略同一軸線上となるように配列される。この時点では、第1把持爪78とコンロッド10、コンロッド10と第2把持爪80は所定間隔で離間している。
次に、前記2個のリニアアクチュエータが同期して付勢され、第1スライダ82及び第2スライダ84が貫通窓74の縁部に向かい、且つ互いに接近するように、案内レール85a、82bに沿って移動する。この移動に伴い、第1把持爪78が大端部14に接近するとともに、第2把持爪80が小端部18に接近する。最終的に、大端部14が第1載置ブロック90上に載置され、且つ大挿通孔12の外周壁が第1押圧ブロック92の湾曲先端面に当接する。また、小端部18が第2載置ブロック100上に載置されるとともに、小挿通孔16の外周壁が第2押圧ブロック102の湾曲先端面に当接する。
その結果、第1把持爪78がコンロッド10の大端部14を小端部18側に向かって押圧するとともに、第2把持爪80が小端部18を大端部14側に向かって押圧する。これにより、コンロッド10がチャック76によって把持(保持)され、貫通窓74の上方で位置決め固定される。この時点で、第1移動台62を、搬入口52近傍の元の位置に戻すようにしてもよい。
次に、コンロッド10に対し、前記17個の照明装置110a~110qからコンロッド10に向けて光が照射される。上記したように、8個の照明装置110a~110hからは水平方向に進行する光、1個の照明装置110iからは鉛直下方に進行する光、残余の8個の照明装置110j~110qからは鉛直方向に対して略45°傾斜するように進行する光が発される(図4参照)。
同時に、カメラ112a~112qは、コンロッド10の上半分の検査画像を撮影する。この際、検査画像には、第1把持爪78に取り付けられたプレートと、該プレートに掲示されたグレースケールチャート94が写り込む。コンロッド10及びグレースケールチャート94を含む検査画像は、コンピュータ114に送信される。
図5は、コンロッド10に傷122が存在するときの検査画像の要部拡大図である。この図5に示すように、傷122は、傷122が存在しない肌に比して暗く写る。すなわち、傷122の照度は、予め設定された基準値以下となる。なお、打痕や肌荒れが存在する場合も、これと同様である。
このように検査画像中に照度が基準値以下である部位が存在するとき、このことを認識したコンピュータ114は、「コンロッド10に不良箇所が含まれている」と判定する。すなわち、この場合、「否(不合格品である)」との判定がなされる。不合格品であると判定されたコンロッド10は、チャック76による把持から解放された後、前記除外コンベアからハウジング50外に搬出される。
これに対し、傷122等の不良を含まないコンロッド10では、検査画像に、照度が基準値以下である部位が認められない。この場合、コンピュータ114は、一旦「良(合格品である)」と仮判定する。
第1実施形態では、検査画像に写り込んだ合計8個のグレースケールチャート94についても照度ないし階調値(以下、一括して「照度等」と表記する)が判定される。すなわち、グレースケールチャート94の照度等が予め設定された基準値以下であるか否かが判断される。なお、「基準値」は、対照として予め撮影されたグレースケールチャート94(対照チャート)における照度等である。換言すれば、コンピュータ114のハードディスクドライブには、対照チャートの照度等が保存されている。
そして、コンピュータ114は、検査画像に写り込んだグレースケールチャート94の照度等を対照チャートの照度等(基準値)と対比する。8個のグレースケールチャート94中の1個以上で「照度等が基準値以下である」との結果が得られたときには、コンピュータ114は、上記のようにコンロッド10の検査画像から「良」と仮判定した場合であっても、「検査条件不成立」と判定する。
すなわち、コンピュータ114は、グレースケールチャート94の照度等が基準値以下であれば、コンロッド10が合格品であるか否かに拘わらず、「照度等が規定された条件を満たしていない」と判定し、制御部120に判定結果(「検査条件不成立」)を情報信号として送る。この情報信号を受けた制御部120は、コンロッド10を除外コンベアから除外する制御を行う。
本発明者らは、不良が発生しており本来は不合格品であると判定されるべきコンロッド10が「合格品である」と判定される理由につき鋭意検討を行い、電圧変動やフリッカー現象に起因する可能性があると推察した。すなわち、照明装置110a~110qは同一の電源から電力を得、同一の周波数で高速点滅している。従って、電源の電圧が瞬間的に降下したときや、フリッカーによって照明装置110a~110qが一斉に消灯したときには、照明装置110a~110qの光度が瞬間的に小さくなる。このときに撮影された検査画像は、電圧が回復したときや、照明装置110a~110qが一斉に点灯したときの検査画像に比して全体が低照度となる。従って、不良と肌とのコントラスト比が小さくなり、このために不良が検出されなかった(「否」として判定されなかった)と考えられる。
そこで、第1実施形態では、上記のようにグレースケールチャート94の照度等を測定するようにしている。上記したようにグレースケールチャート94の照度等が基準値以下である(対照チャートよりも低照度である)ことは、照明装置110a~110qの光度が確保されていないことを意味する。この場合、コンピュータ114により「検査条件が満たされていない」との判定がなされ、コンロッド10は不合格品と同様に搬送ライン32から除外される。これにより、本来は不合格品であると判定されるべきであるにも拘わらず、照明装置110a~110qの光度が確保されていない状況下で検査され、且つ「合格品」と誤判断されたコンロッド10が搬送ライン32を介して次工程に供給されることが防止される。
このように、第1実施形態によれば、照明装置110a~110qの光度、ひいてはコンロッド10の照度が低下したと推察される状況が発生した場合であっても、コンピュータ114が不合格品を誤って合格品と判定することを回避することができる。また、上記とは逆に、グレースケールチャート94の照度等が基準値を上回る場合、コンピュータ114は「検査成立」と判定する。このようにして検査が成立したときに合格品と判定されたコンロッド10のみが、第2検査部60に送られる。従って、検査結果の信頼性が向上するとともに、次工程に供給されるコンロッド10の品質を保証することが可能となる。
検査が終了すると、前記2個のリニアアクチュエータが同期して付勢され、第1スライダ82及び第2スライダ84が案内レール85a、85bに沿って互いに離間する方向に移動する。この移動に伴って第1把持爪78、第2把持爪80が大端部14、小端部18からそれぞれ離間することで、コンロッド10がチャック76の把持から解放されて第1移動台62上に載置される。さらに、反転動作ロボット64が動作し、その挟持ハンド115でコンロッド10のロッド部20を挟持する。さらに、反転動作ロボット64の各アームが適宜動作し、コンロッド10の上下を反転させる。コンロッド10は、反転と同時に、第2検査部60のテーブル116に形成された貫通窓74の上方に位置する。
すなわち、第2検査部60に移動されたコンロッド10は、第1検査部56で鉛直下方を臨んでいた下面が鉛直上方を臨み、鉛直上方を臨んでいた上面が鉛直下方を臨む姿勢となっている。ただし、区別を容易にするべく、第1検査部56で鉛直下方を臨んでいた下面、上面のそれぞれを、第2検査部60でも下面、上面と指称する。このように、第1検査部56ではコンロッド10の上半分に対して検査が行われたのに対し、第2検査部60では、残余の下半分を、鉛直上方を臨む姿勢として検査が行われる。
以降は、第1検査部56での検査時と同様である。すなわち、チャック76によってコンロッド10が大端部14側及び小端部18側から把持され、その後、照明装置110a~110qから光が照射された状態で、コンロッド10の検査画像が撮影される。この場合においても、グレースケールチャート94の照度等に基づいて、照明装置110a~110qにおける光度が確保されているか否か、換言すれば、検査が成立しているか否かが判定される。
勿論、カメラ112a~112qによって撮影されたコンロッド10の検査画像から、傷等の不良の有無が判定される。検査条件不成立の場合や、検査が成立しても不合格品であると判定された場合、コンロッド10は、除外コンベアから除外される。一方、検査が成立したときに合格品であると判定されたコンロッド10は、チャック76の把持から解放された後、貫通窓74に予め位置していた第2移動台66に載置される。
その後、第2移動台66がテーブル116の退避口118から進出し、搬出口54に移動する。さらに、第2移動台66上のコンロッド10が、第2移載ロボットによって搬出側コンベア36の第2ベルト44上に載置される。第2ベルト44が周回動作していることから、コンロッド10が搬出側コンベア36によって次工程に搬送される。従って、この場合も、検査が成立したときに合格品であると判定されたコンロッド10のみが次工程、例えば、内燃機関の組立工程に供給される。
以上のようにすることにより、上面側(上半分)及び下面側(下半分)の検査が個別に行われ、不良が認められなかったコンロッド10のみを次工程に送ることができる。
また、第1実施形態によれば、第1把持爪78及び第2把持爪80の被照射部位にグレースケールチャート94(プレート)を設ける程度である。すなわち、既存の設備にさらなる機構を組み込む必要はなく、設計変更や改造を行う必要もない。従って、外観検査システム30の構成が複雑になることが回避されるとともに、低コストで検査結果の信頼性を向上させることができる。加えて、複数個のグレースケールチャート94で判定を行うようにしているので、信頼性が一層向上する。
なお、「検査条件不成立」との判定が過度に連続、又は過度に頻発するときには、その原因として、グレースケールチャート94が汚れていることが考えられる。このような場合には、グレースケールチャート94を清掃すればよい。又は、これを回避するべくグレースケールチャート94を定期的に清掃するようにしてもよい。
また、対照スケールと基準試料がともに写り込んだ対照画像を作成し、該対照画像と検査画像を対比させて検査画像中のグレースケールチャート94の照度等が対照チャートの照度等を下回るか否かを判定するようにしてもよい。このことによっても、検査が成立するか否かを判定することができる。
次に、第2実施形態に係る外観検査システムにつき説明する。図6は、第2実施形態に係る外観検査システムを構成する第1把持爪130、第2把持爪132の概略全体斜視図である。この場合、第1把持爪130及び第2把持爪132は、第1実施形態と同様の構成要素を有する。従って、図3に示される構成要素と同一の構成要素には同一の参照符号を付し、その詳細な説明を省略する。
第1把持爪130及び第2把持爪132には、グレースケールチャート94に代替し、受光装置134が被照射部位に設けられる。受光装置134としては、例えば、フォトダイオードを含んで構成される公知のものを採用すればよい。
この場合、第1検査部56及び第2検査部60において、照明装置110a~110qからコンロッド10に光が照射されると、複数個(この場合、8個)の受光装置134にも光が照射される。換言すれば、受光装置134が受光する。受光装置134を構成するフォトダイオードは、光を電気に変換する。照度が大であるほど、電気への変換量が大となる。従って、フォトダイオードによって生じた電気量に基づき、受光装置134に照射された光の照度を測定することができる。
この場合、コンピュータ114は、照度の測定値が予め設定された基準値以下であるときに「検査条件不成立」と判定し、結果を情報信号として制御部120に送る。この情報信号を受けた制御部120は、第1実施形態と同様に、コンロッド10を除外コンベアから除外する制御を行う。
これに対し、照度の測定値が予め設定された基準値を上回るときには、コンピュータ114は「検査成立」と判定する。この場合、合格品であれば次工程に供給され、不合格品であれば除外コンベアから除外される。従って、第2実施形態においても、第1実施形態と同様の効果が得られる。
本発明は、上記した第1実施形態及び第2実施形態に特に限定されるものではなく、本発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。
例えば、コンロッド10以外の構造物(部材)を検査対象物としてもよいことは勿論である。
また、この実施の形態では、コンピュータ114が判定を行っているが、コンピュータ114が検査結果を情報として制御部120に送信するとともに、該送信を受けた制御部120が判定を行うようにしてもよい。
さらに、傷122の有無を判定するよりも先に、グレースケールチャート94の照度等、又は受光装置134の照度の測定値に基づいて検査成立・不成立を判定するようにしてもよい。
10…コネクティングロッド(コンロッド) 14…大端部
18…小端部 20…ロッド部
32…搬送ライン 34…搬入側コンベア
36…搬出側コンベア 50…ハウジング
56…第1検査部 58…反転部
60…第2検査部 62…第1移動台
64…反転動作ロボット 66…第2移動台
70、116…テーブル 72…受入口
74…貫通窓 76…チャック
78、130…第1把持爪 80、132…第2把持爪
82…第1スライダ 84…第2スライダ
94…グレースケールチャート 110a~110q…照明装置
112a~112q…カメラ 114…コンピュータ
118…退避口 120…制御部
122…傷 134…受光装置
18…小端部 20…ロッド部
32…搬送ライン 34…搬入側コンベア
36…搬出側コンベア 50…ハウジング
56…第1検査部 58…反転部
60…第2検査部 62…第1移動台
64…反転動作ロボット 66…第2移動台
70、116…テーブル 72…受入口
74…貫通窓 76…チャック
78、130…第1把持爪 80、132…第2把持爪
82…第1スライダ 84…第2スライダ
94…グレースケールチャート 110a~110q…照明装置
112a~112q…カメラ 114…コンピュータ
118…退避口 120…制御部
122…傷 134…受光装置
Claims (5)
- 検査対象物の撮影画像に基づいて前記検査対象物の外観の良否を判定する外観検査システムであって、
前記検査対象物を保持する保持具と、
前記保持具で保持された前記検査対象物に光を照射する照明装置と、
光が照射された前記検査対象物を撮影する撮像装置と、
前記撮像装置により得られた前記検査対象物の画像に基づいて、前記検査対象物の外観の良否を判定する判定部と、
を備え、
前記保持具の、前記照明装置が発した光が照射される被照射部位に受光装置が設けられ、
前記受光装置による照度の測定値が予め設定された基準値以下であるとき、前記判定部は、検査条件不成立であると判定する外観検査システム。 - 請求項1記載のシステムにおいて、前記受光装置が前記保持具の複数箇所に設けられた外観検査システム。
- 検査対象物の撮影画像に基づいて前記検査対象物の外観の良否を判定する外観検査システムであって、
前記検査対象物を保持する保持具と、
前記保持具で保持された前記検査対象物に光を照射する照明装置と、
光が照射された前記検査対象物を撮影する撮像装置と、
前記撮像装置により得られた前記検査対象物の画像に基づいて、前記検査対象物の外観の良否を判定する判定部と、
を備え、
前記保持具の、前記照明装置が発した光が照射される被照射部位にグレースケールチャートが設けられ、
前記判定部は、前記撮像装置による前記グレースケールチャートの撮影画像から、該グレースケールチャートの照度ないし階調値を取得し、
取得された前記グレースケールチャートの照度ないし階調値が予め設定された基準値以下であるとき、前記判定部は、検査条件不成立であると判定する外観検査システム。 - 請求項3記載のシステムにおいて、前記グレースケールチャートが前記保持具の複数箇所に設けられた外観検査システム。
- 請求項1~4のいずれか1項に記載のシステムにおいて、前記検査対象物として、内燃機関を構成するコネクティングロッドに対する検査を行う外観検査システム。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020086523A JP7038163B2 (ja) | 2020-05-18 | 2020-05-18 | 外観検査システム |
US17/319,118 US11776106B2 (en) | 2020-05-18 | 2021-05-13 | Appearance inspection system |
CN202110540398.8A CN113686866A (zh) | 2020-05-18 | 2021-05-18 | 外观检查系统 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020086523A JP7038163B2 (ja) | 2020-05-18 | 2020-05-18 | 外観検査システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021181889A JP2021181889A (ja) | 2021-11-25 |
JP7038163B2 true JP7038163B2 (ja) | 2022-03-17 |
Family
ID=78512641
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020086523A Active JP7038163B2 (ja) | 2020-05-18 | 2020-05-18 | 外観検査システム |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11776106B2 (ja) |
JP (1) | JP7038163B2 (ja) |
CN (1) | CN113686866A (ja) |
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- 2020-05-18 JP JP2020086523A patent/JP7038163B2/ja active Active
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2021
- 2021-05-13 US US17/319,118 patent/US11776106B2/en active Active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20210358111A1 (en) | 2021-11-18 |
CN113686866A (zh) | 2021-11-23 |
JP2021181889A (ja) | 2021-11-25 |
US11776106B2 (en) | 2023-10-03 |
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|
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